JP3363066B2 - Logic circuit verification device - Google Patents
Logic circuit verification deviceInfo
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- JP3363066B2 JP3363066B2 JP14147197A JP14147197A JP3363066B2 JP 3363066 B2 JP3363066 B2 JP 3363066B2 JP 14147197 A JP14147197 A JP 14147197A JP 14147197 A JP14147197 A JP 14147197A JP 3363066 B2 JP3363066 B2 JP 3363066B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- state
- logic circuit
- output
- tri
- output pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路の設計を
支援するためのCAD装置等に用いられ、作成された電
子回路における論理回路が規約に従った正しい接続を行
なっているか否かを検証する論理回路検証装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体のチップ規模は飛躍的に上
昇しそれらを開発するに当たってはCAD装置を用いて
行なうのが主流となっている。更に、それらの接続規約
を人手でチェックするのは非常に困難であり、自動で検
証を行なうCAD装置を用いた手法が提唱されている。
【0003】図3は従来の論理回路検証装置の概略構成
を示すブロック図である。図3において、1はCAD装
置本体からなる論理回路図作成装置、2は論理回路相互
間の接続情報を示すネットリストを入力するネットリス
ト入力部、5は検証結果を出力するエラー/ワーニング
出力部、6は論理回路の検証ルールを記憶した検証ルー
ル記憶領域、9は検証部、10は論理回路の回路情報を
示すライブラリを入力するライブラリ入力部である。
【0004】この従来の論理回路検証装置は、論理回路
図作成装置1で作成された回路図から論理回路の接続状
態を示したネットリストを抽出し、それをネットリスト
入力部2に入力して検証部9へ論理回路の接続情報を伝
えていた。また、ハイインピーダンス制御の情報を持た
ないライブラリをライブラリ入力部10に入力し、各論
理回路ごとの情報を検証部9へ伝えていた。それらをも
とに検証部4では、検証ルール記憶領域6に保存されて
いる検証ルールに基づき、回路図中の論理回路の接続状
態が規約に従ったものかどうかを判定し、その結果をエ
ラー/ワーニング出力部5から出力していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のチェック方法では、フローティング及びショートチ
ェックを行なう場合に、ライブラリ中にはハイインピー
ダンス値が出力される可能性のあるピン、とだけしか記
入されておらず、そのピンからハイインピーダンス値を
出力する場合のコントロール端子の状態がわからないた
め、以下のような不具合が生じていた。
【0006】フローティングチェックに関しては、コン
トロール端子を直接接地あるいは直接電源に接続し、ト
ライステート出力ピンからハイインピーダンス値を出力
しないようにしている場合には、トライステート出力ピ
ンをバス構成しないで単独で使用しなければならない
が、単独で使用しているにも関わらず、フローティング
の疑似的エラーメッセージが出力されていた。例えば図
4に示す回路図のように、トライステート出力ピン12
をチェック対象ピンとし、そのトライステート出力ピン
12とそれを制御するコントロール端子13とを有した
論理回路11と、次段の論理回路14とが図のように接
続されていた場合には、コントロール端子13を直接接
地して、トライステート出力ピン12からハイインピー
ダンス値を出力しないように制御しているため、トライ
ステート出力ピン12をバス構成しないで、単独で次段
の論理回路14の1つの入力に接続しているにも関わら
ず、フローティングの疑似的エラーメッセージが出力さ
れていた。
【0007】更にショートエラーに関しては、ピンのタ
イプがトライステート出力ピンであった場合には、コン
トロール端子の状態如何を問わず、常にピンからハイイ
ンピーダンス値が出力されるものとみなしていたため、
ショートチェックの対象から外すようにしていた。その
ため、コントロール端子を直接接地あるいは直接電源に
接続し、トライステート出力ピンからハイインピーダン
ス値を出力しないようにしている場合には、本来トライ
ステート出力ピンをバス構成しないで単独で使用しなけ
ればならないにも関わらず、バス構成して使用していて
も、ショートエラーを表示せず、ショートエラーを拾う
ことができないといった問題があった。例えば図5に示
す回路図のように、トライステート出力ピン16をチェ
ック対象ピンとし、そのトライステート出力ピン16と
コントロール端子17とを有した論理回路15と、次段
の論理回路18とが図のように接続されていた場合に
は、コントロール端子17が接地されて、ハイインピー
ダンス値を出力しないように制御されているトライステ
ート出力ピン16と他のピン19とが結線されて、次段
の論理回路18へ接続されているため、ショートエラー
であるが、上述のようにこのようなショートエラーを拾
うことができなかった。
【0008】以上のようにピンのタイプがトライステー
ト出力ピンの場合には、論理回路検証装置によるフロー
ティング及びショートチェックが不可能であり、目視で
チェックしなければならず、そのため、設計期間の長期
化,作業効率の低下を招いていた。本発明は、従来目視
でチェックせざるを得なかったトライステート出力ピン
の接続チェックを自動で行なうことができ、設計期間の
短縮及び効率化が図れ、作業効率の向上を実現できる論
理回路検証装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の論理回路検証装
置は、論理回路相互間の接続情報を示すネットリストを
入力するネットリスト入力部と、論理回路の回路情報を
示すライブラリを入力するライブラリ入力部と、検証ル
ールを記憶する検証ルール記憶領域と、ネットリスト入
力部に入力されたネットリストとライブラリ入力部に入
力されたライブラリとを用いて検証ルール記憶領域に記
憶された検証ルールに基づいて論理回路の接続状態が正
しいか否かを判定する検証部と、検証部の検証結果を出
力するエラー/ワーニング出力部とを備えた論理回路検
証装置であって、検証部が、ライブラリ入力部に入力さ
れ、トライステート出力ピンについてハイインピーダン
ス状態、ハイレベル状態またはローレベル状態となるそ
れぞれの出力状態に応じたコントロール端子の接続状態
および極性を示すレベル状態が記述されたライブラリを
基に、チェック対象ピンがトライステート出力ピンであ
るかどうかを判断する第1のステップと、第1のステッ
プでチェック対象ピンがトライステート出力ピンである
と判断された場合、トライステート出力ピンのコントロ
ール端子の接続状態および極性をチェックし、このチェ
ック結果のコントロール端子の接続状態および極性に基
づいてトライステート出力ピンの出力状態がハイインピ
ーダンス状態であるか、ハイインピーダンス状態でない
かを判断する第2のステップと、トライステート出力ピ
ンが単独で次段の論理回路へ接続されているかどうかを
判断する第3のステップと、第2のステップでトライス
テート出力ピンの出力状態がハイインピーダンス状態で
あると判断され、かつ第3のステップで単独で次段の論
理回路へ接続されていると判断された場合に、トライス
テート出力ピンの次段の論理回路への接続状態がフロー
ティングエラーであると判定し、第2のステップでトラ
イステート出力ピンの出力状態がハイインピーダンス状
態であると判断され、かつ第3のステップで単独で次段
の論理回路へ接続されていないと判断された場合に、ト
ライステート出力ピンの次段の論理回路への接続状態が
正常であると判定し、第2のステップでトライステート
出力ピンの出力状態がハイインピーダンス状態でないと
判断され、かつ第3のステップで単独で次段の論理回路
へ接続されていると判断された場合に、トライステート
出力ピンの次段の論理回路への接続状態が正常であると
判定し、第2のステップでトライステート出力ピンの出
力状態がハイインピーダンス状態でないと判断され、か
つ第3のステッ プで単独で次段の論理回路へ接続されて
いないと判断された場合に、トライステート出力ピンの
次段の論理回路への接続状態がショートエラーであると
判定する第4のステップとで動作し、検証部の第4のス
テップの判定結果をエラー/ワーニング出力部が出力す
るものである。
【0010】この検証装置によれば、ライブラリに、ト
ライステート出力ピンの出力状態に応じたコントロール
端子のレベル状態を記述しておき、例えば、コントロー
ル端子の接続情報からコントロール端子がトライステー
ト出力ピンのハイインピーダンス状態に応じたレベル状
態にはならないと判断される場合で、トライステート出
力ピンのみが次段の論理回路の一つの入力に接続されて
いるときにはエラーと判定せず、トライステート出力ピ
ンとともに他のピンが次段の論理回路の同一入力に接続
されているときにショートエラーと判定することによ
り、コントロール端子およびトライステート出力ピンの
接続状態に応じたショートエラーのチェックを自動で行
うことができる。
【0011】また、コントロール端子の接続情報からコ
ントロール端子がトライステート出力ピンのハイインピ
ーダンス状態に応じたレベル状態になると判断される場
合で、トライステート出力ピンのみが次段の論理回路の
一つの入力に接続されているときにフローティングエラ
ーと判定し、トライステート出力ピンとともに他のピン
が次段の論理回路の同一入力に接続されているときには
エラーと判定しないようにすることにより、コントロー
ル端子およびトライステート出力ピンの接続状態に応じ
たフローティングエラーのチェックを自動で行うことが
できる。
【0012】このように、従来目視でチェックせざるを
得なかったトライステート出力ピンの接続チェックを自
動で行なえるようになり、設計期間の短縮及び効率化が
図れ、作業効率の向上を実現することができる。なお、
コントロール端子がトライステート出力ピンのハイイン
ピーダンス状態に応じたレベル状態になるか否かの判断
は、コントロール端子が負論理であり、かつ直接接地さ
れているときに、コントロール端子がトライステート出
力ピンのハイインピーダンス状態に応じたレベル状態に
ならないと判断し、コントロール端子が負論理であり、
かつ直接電源接続されているときに、コントロール端子
がトライステート出力ピンのハイインピーダンス状態に
応じたレベル状態になると判断し、コントロール端子が
正論理であり、かつ直接接地されているときに、コント
ロール端子がトライステート出力ピンのハイインピーダ
ンス状態に応じたレベル状態になると判断し、コントロ
ール端子が正論理であり、かつ直接電源接続されている
ときに、コントロール端子がトライステート出力ピンの
ハイインピーダンス状態に応じたレベル状態にならない
と判断することができる。
【0013】さらに、コントロール端子がトライステー
ト出力ピンのハイインピーダンス状態に応じたレベル状
態になるか否かの判断に、コントロール端子が正論理/
負論理に関わらず、コントロール端子が直接接地され
ず、かつ直接電源接続されていないときは、コントロー
ル端子がトライステート出力ピンのハイインピーダンス
状態に応じたレベル状態になると判断することを加える
こともできる。
【0014】このようにして、コントロール端子の極性
とコントロール端子の接続先によって、コントロール端
子のレベル状態を判断することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。図1は本発明の実施の形態
における論理回路検証装置の概略構成を示すブロック図
である。図1において、1はCAD装置本体からなる論
理回路図作成装置、2は論理回路相互間の接続情報を示
すネットリストを入力するネットリスト入力部、3は論
理回路の回路情報を示すライブラリを入力するライブラ
リ入力部、4は検証部、5は検証部4の検証結果を出力
するエラー/ワーニング出力部、6は論理回路の検証ル
ールを記憶した検証ルール記憶領域である。
【0016】この実施の形態における特徴は、ライブラ
リ入力部3へ入力するライブラリを改良し、トライステ
ート出力ピンに対しては、そのピンからハイインピーダ
ンス値あるいはハイ・ローレベルが出力されるときのコ
ントロール端子の値をライブラリに記述しておき、検証
部4で、検証ルール記憶領域6に記憶されている検証ル
ールに基づきトライステート出力ピンの接続チェックを
行なう場合に、コントロール端子およびトライステート
出力ピンの接続状態を考慮してフローティング及びショ
ートチェックを行なうようにしたものである。
【0017】以下、図2を参照しながら、トライステー
ト出力ピンのショート及びフローティングチェックの検
証方法について、詳細に説明する。図2は検証部4にお
けるトライステート出力ピンのショート及びフローティ
ングチェックの検証方法を示すフローチャートである。
検証部4では、まず、チェック対象ピンがトライステー
ト出力ピンか否かをライブラリを基に判断する(ステッ
プS1)。もしここでチェック対象ピンがトライステー
ト出力ピンではなく、通常の出力ピンである場合には、
通常の出力ピンの接続チェックを行う(ステップS1
8)。この場合、コントロール端子の接続状態や有無に
関わらず、その出力ピンが接続されているネット中に入
力ピン以外のピンが他にも存在したとき、すなわち、そ
の出力ピンが他のピンと結線されて次段の論理回路へ接
続されているときはショートエラーとなる。
【0018】ステップS1の結果、チェック対象ピンが
トライステート出力ピンである場合には、そのピンを制
御するコントロール端子の極性および接続状態によって
エラー内容が異なるため、ライブラリからそのピンの出
力値を決定するコントロール端子名を検索し、まず、コ
ントロール端子の接続状態を調べる。すなわち、コント
ロール端子がどこに接続されているかを調べる(ステッ
プS2)。
【0019】ステップS2の結果、コントロール端子が
GND(グラウンド)に直接接続されている場合には、
コントロール端子の極性を調べる(ステップS3)。こ
こで、ステップS2,S3の結果、コントロール端子が
GNDに直接接続され、かつ正論理の場合には、トライ
ステート出力ピンからハイインピーダンス値が出力され
る可能性があると判断され、コントロール端子がGND
に直接接続され、かつ負論理の場合には、トライステー
ト出力ピンからハイインピーダンス値が出力されない状
態に固定されていると判断されている。
【0020】ステップS3の結果、コントロール端子が
正論理の場合、すなわちトライステート出力ピンからハ
イインピーダンス値が出力される可能性がある場合に
は、次に、そのピンがバス接続されずに、単独で次段の
論理回路へ接続されているかどうかを調べる(ステップ
S4)。ステップS4の結果、単独で次段の論理回路へ
接続されている場合には、貫通電流がチップに流れる可
能性があるため、フローティングエラーと判定する(ス
テップS5)。また、ステップS4の結果、単独で次段
の論理回路へ接続されていない場合は正常と判定する
(ステップS6)。
【0021】また、ステップS3の結果、コントロール
端子が負論理の場合、すなわちトライステート出力ピン
からハイインピーダンス値が出力されない状態に固定さ
れている場合にも、次に、そのピンがバス接続されず
に、単独で次段の論理回路へ接続されているかどうかを
調べる(ステップS7)。ステップS7の結果、トライ
ステート出力ピンが単独で次段の論理回路へ接続されて
いた場合には正常と判定する(ステップS8)。例え
ば、図4のように、コントロール端子13が直接接地さ
れていた時、ハイイピーダンス値が出力されない状態に
固定されていることになり、フローティングエラーの対
象外になるにもかかわらず、従来は、フローティングの
擬似的エラーメッセージが出力されていたが、ここで
は、ステップS2,S3で、フローティングエラーの対
象外とし、ステップS7で、トライステート出力ピン1
2が単独で次段の論理回路14に接続されているため、
ショートエラーにならないものとした。
【0022】また、ステップS7の結果、トライステー
ト出力ピンが単独で次段の論理回路へ接続されていない
場合、すなわち複数のトライステート出力ピンないしは
通常出力ピン、入出力ピン等と結線して次段の論理回路
へ接続されていた場合には、信号のぶつかりが発生する
ため、ショートエラーと判定する(ステップS9)。例
えば、図5のように、ハイインピーダンス値を出力しな
いようにコントロール端子17が直接接地され、トライ
ステート出力ピン16が他のピン19と結線されて、次
段の論理回路18へ接続されている場合には、ショート
となるため、ショートエラーと判定する。このように従
来行われていなかったトライステート出力ピンのショー
トチェックを行うことができる。
【0023】ステップS2の結果、コントロール端子が
VDD(電源)に直接接続されている場合にも、コント
ロール端子の極性を調べる(ステップS10)。ここ
で、ステップS2,S10の結果、コントロール端子が
VDDに直接接続され、かつ正論理の場合には、トライ
ステート出力ピンからハイインピーダンス値が出力され
ない状態に固定されていると判断され、コントロール端
子がVDDに直接接続され、かつ負論理の場合には、ト
ライステート出力ピンからハイインピーダンス値が出力
される可能性があると判断されている。
【0024】ステップS10の結果、コントロール端子
が正論理の場合、すなわちトライステート出力ピンから
ハイインピーダンス値が出力されない状態に固定されて
いる場合に、次に、そのピンがバス接続されずに、単独
で次段の論理回路へ接続されているかどうかを調べる
(ステップS11)。ステップS11の結果、トライス
テート出力ピンが単独で次段の論理回路へ接続されてい
た場合には正常と判定する(ステップS12)。また、
ステップS11の結果、トライステート出力ピンが単独
で次段の論理回路へ接続されていない場合には、信号の
ぶつかりが発生するため、ショートエラーと判定する
(ステップS13)。
【0025】また、ステップS10の結果、コントロー
ル端子が負論理の場合、すなわちトライステート出力ピ
ンからハイインピーダンス値が出力される可能性がある
場合にも、次に、そのピンがバス接続されずに、単独で
次段の論理回路へ接続されているかどうかを調べる(ス
テップS14)。ステップS14の結果、単独で次段の
論理回路へ接続されている場合には、貫通電流がチップ
に流れる可能性があるため、フローティングエラーと判
定する(ステップS15)。また、ステップS14の結
果、単独で次段の論理回路へ接続されていない場合は正
常と判定する(ステップS16)。
【0026】また、ステップS2の結果、コントロール
端子がVDD,GNDに直接接続されていない場合は、
擬似的なフローティングエラーとする(ステップS1
7)。このようにして検証部4で行なった検証結果は、
エラー/ワーニング出力部5から出力され、設計者が確
認できる。以上のようにこの実施の形態によれば、従来
設計者が目視で確認せざるを得なかったトライステート
出力ピンの接続チェックを自動で行なえるようになり、
論理シミュレーション実行以前にミスを見つけ、チェッ
クの見落しといった人為ミスを削減でき、更に確認工数
の削減が図れる。これにより、設計期間の短縮及び効率
化が図れ、作業効率の向上を実現することができる。
【0027】なお、図2では、ステップS2の結果、コ
ントロール端子がVDD,GNDに直接接続されていな
い場合には、擬似的なフローティングエラーとした(ス
テップS17)が、ステップS2の結果、コントロール
端子がVDD,GNDに直接接続されていない場合に、
コントロール端子の正論理/負論理の極性に関わらず、
トライステート出力ピンからハイインピーダンス値が出
力される可能性があると判断するようにして、トライス
テート出力ピンが単独で次段の論理回路へ接続されてい
るかどうかを調べ、単独で次段の論理回路へ接続されて
いる場合にはフローティングエラーと判定し、単独で次
段の論理回路へ接続されていない場合には正常と判定す
るようにしてもよい。なお、いずれにしても、この実施
の形態では、コントロール端子がVDD,GNDに直接
接続されていない場合、すなわち、コントロール端子
を、ゲートを介してVDDやGNDに接続している場合
や、完全にゲートを組み合わせて制御している場合に
は、トライステート出力ピンから出力される値が論理シ
ミュレーションを行なわないと判明しないため、正確な
エラーの検出をすることはできない。
【0028】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、コントロ
ール端子およびトライステート出力ピンの接続状態に応
じたショート及びフローティングチェックを自動で行う
ことができる。このように、従来目視でチェックせざる
を得なかったトライステート出力ピンの接続チェックを
自動で行なえるようになり、設計期間の短縮及び効率化
が図れ、作業効率の向上を実現することができる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is used in a CAD device or the like for supporting the design of an electronic circuit, and a logic circuit in the created electronic circuit complies with the rules. those related to the logic circuit verification equipment to verify whether performing the correct connection. 2. Description of the Related Art In recent years, the scale of semiconductor chips has increased dramatically, and the development of such semiconductor chips has become the mainstream using CAD devices. Further, it is very difficult to manually check those connection rules, and a method using a CAD device that performs automatic verification has been proposed. FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional logic circuit verification device. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes a logic circuit diagram creation device including a CAD device main body, 2 denotes a netlist input unit for inputting a netlist indicating connection information between logic circuits, and 5 denotes an error / warning output unit for outputting a verification result. Reference numeral 6 denotes a verification rule storage area that stores the verification rules of the logic circuit. Reference numeral 9 denotes a verification unit. Reference numeral 10 denotes a library input unit that inputs a library indicating circuit information of the logic circuit. This conventional logic circuit verification device extracts a netlist indicating connection states of logic circuits from a circuit diagram created by a logic circuit diagram creation device 1 and inputs it to a netlist input unit 2. The connection information of the logic circuit was transmitted to the verification unit 9. In addition, a library having no information on high impedance control is input to the library input unit 10 and information for each logic circuit is transmitted to the verification unit 9. Based on these, the verification unit 4 determines whether or not the connection state of the logic circuit in the circuit diagram complies with the rules based on the verification rules stored in the verification rule storage area 6, and determines the result as an error. / Warning output unit 5. [0005] However, according to such a conventional check method, when a floating or short check is performed, a pin to which a high impedance value may be output in a library is provided. Since only the information is written and the state of the control terminal when outputting a high impedance value from the pin is not known, the following problem has occurred. For the floating check, when the control terminal is directly connected to the ground or directly to the power supply so as not to output a high impedance value from the tri-state output pin, the tri-state output pin is not configured as a bus and is used alone. It had to be used, but a floating pseudo error message was output even though it was used alone. For example, as shown in the circuit diagram of FIG.
Is a pin to be checked, and a logic circuit 11 having a tri-state output pin 12 and a control terminal 13 for controlling the tri-state output pin 12 and a logic circuit 14 at the next stage are connected as shown in FIG. Since the terminal 13 is directly grounded so as not to output a high impedance value from the tri-state output pin 12, the tri-state output pin 12 is not configured as a bus, but is used alone as one of the logic circuits 14 in the next stage. The floating pseudo error message was output even though it was connected to the input. Further, regarding the short error, when the pin type is a tri-state output pin, it is assumed that a high impedance value is always output from the pin regardless of the state of the control terminal.
It was excluded from short check. Therefore, if the control terminal is connected directly to ground or directly to the power supply so as not to output a high impedance value from the tri-state output pin, the tri-state output pin must be used independently without a bus configuration. Nevertheless, there is a problem that short errors are not displayed and short errors cannot be picked up even when the bus is configured and used. For example, as shown in the circuit diagram of FIG. 5, a logic circuit 15 having a tristate output pin 16 as a check target pin and having the tristate output pin 16 and a control terminal 17 and a logic circuit 18 at the next stage are illustrated in FIG. In this case, the control terminal 17 is grounded, and the tri-state output pin 16 which is controlled not to output a high impedance value is connected to the other pin 19, so that the next stage is connected. Because of the connection to the logic circuit 18, a short error has occurred, but such a short error could not be picked up as described above. As described above, when the pin type is the tri-state output pin, the floating and short-circuit check cannot be performed by the logic circuit verification device and must be visually checked. And the efficiency of work has been reduced. The present invention can perform connection check tristate output pins had to check the conventional visual observation automatically, Hakare be shortened and the efficiency of the design period, the logic circuit verifying apparatus which can realize an improvement in working efficiency The purpose is to provide. [0009] A logic circuit verification device according to the present invention.
Is a netlist showing connection information between logic circuits.
Input the netlist input section and the circuit information of the logic circuit.
Library input section for inputting the library to be
Rules storage area for storing rules, and netlist entry
Input to the netlist and library input
Is written to the validation rule storage area using the
The connection state of the logic circuit is correct based on the
A verification unit that determines whether the
Logic circuit with error / warning output
Verification device, the verification unit input to the library input unit.
High impedance for tri-state output pins.
State, high level state, or low level state.
Control terminal connection status according to each output status
And a library describing the level state indicating polarity.
Based on this, the pin to be checked is a tri-state output pin.
A first step of determining whether the
Pin to be checked is a tri-state output pin
Is determined, the control of the tri-state output pin
Check the connection status and polarity of the
Based on the connection status and polarity of the control
Output state of the tri-state output pin
-Dance state or not high impedance state
A second step of determining whether the
Is connected to the next logic circuit by itself
The third step to judge and the second step to try
Tate output pin is in high impedance state
It is determined that there is, and the third step alone
If it is determined that the
The state of connection to the logic circuit at the next stage of the
Is determined to be a tracking error, and
Output state of the state output pin is high impedance
Is determined to be the state, and in the third step,
If it is determined that the circuit is not connected to the
The state of the connection of the Lystate output pin to the next logic circuit is
Determined to be normal, and tri-state in the second step
If the output state of the output pin is not in the high impedance state
The logic circuit of the next stage which is determined and is independently used in the third step
If it is determined to be connected to
If the connection status of the output pin to the next logic circuit is normal
Judgment and output of tri-state output pin in the second step
If the force state is determined not to be in the high impedance state,
One third in the steps are connected individually to the next stage of logic circuits
If it is determined that there is no
If the connection status to the next logic circuit is a short error
The fourth operation of the verification unit is performed in the fourth step of determining.
The error / warning output section outputs the judgment result of the step.
Things. According to this verification apparatus , the level state of the control terminal according to the output state of the tri-state output pin is described in the library. If it is determined that the level does not correspond to the high-impedance state and only the tri-state output pin is connected to one input of the next-stage logic circuit, it is not determined that an error has occurred. By judging a short error when another pin is connected to the same input of the next logic circuit, it is possible to automatically check for a short error according to the connection status of the control terminal and the tri-state output pin. it can. [0011] In the case where the control terminal from the connection information of the control terminal Ru to be determined na level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pins, only tri-state output pin of the next stage logic circuit- The control terminal determines that a floating error is detected when connected to one input and does not determine an error when another pin is connected to the same input of the next stage logic circuit together with the tri-state output pin. Also, a floating error check according to the connection state of the tri-state output pin can be automatically performed. As described above, the connection check of the tri-state output pin, which had to be visually checked conventionally, can be automatically performed, so that the design period can be shortened and the efficiency can be improved, and the work efficiency can be improved. be able to. In addition,
The determination as to whether the control terminal is in a level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pin is made when the control terminal has negative logic and is directly grounded. Judge that the level state does not correspond to the high impedance state, the control terminal is negative logic,
And when it is directly power connection, when the control terminal is determined to ing to the level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pins, a control terminal is a positive logic, and which is grounded directly, determines that the control terminal is ing the level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pin is a control pin positive logic, and when it is directly power connection, high control terminals of the tri-state output pins It can be determined that the level does not change according to the impedance state. Further, the control terminal determines whether or not the control terminal attains a level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pin.
Regardless of negative logic is not grounded control terminal directly, and when not directly power connection, adding to determine the control terminal ing the level state corresponding to the high impedance state of the tri-state output pins Can also. Thus, the level state of the control terminal can be determined based on the polarity of the control terminal and the connection destination of the control terminal. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a logic circuit verification device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a logic circuit diagram creation device including a CAD device main body, 2 denotes a netlist input unit for inputting a netlist indicating connection information between logic circuits, and 3 denotes a library indicating circuit information of the logic circuit. 4 is a verification unit, 5 is an error / warning output unit that outputs the verification result of the verification unit 4, and 6 is a verification rule storage area that stores the verification rules of the logic circuit. The feature of this embodiment is that the library input to the library input unit 3 is improved, and the control when a high impedance value or a high / low level is output from the tristate output pin is performed from the pin. The value of the terminal is described in the library, and when the connection of the tri-state output pin is checked by the verification unit 4 based on the verification rule stored in the verification rule storage area 6, the control terminal and the tri-state output pin are checked. The floating and short check are performed in consideration of the connection state. Hereinafter, a method of verifying the short-circuit of the tri-state output pin and the floating check will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart illustrating a method of verifying a short-circuit and a floating check of a tri-state output pin in the verification unit 4.
The verification unit 4 first determines whether the pin to be checked is a tri-state output pin based on the library (step S1). If the pin to be checked is not a tri-state output pin but a normal output pin,
A normal output pin connection check is performed (step S1).
8). In this case, regardless of the connection state or presence or absence of the control terminal, when there is another pin other than the input pin in the net to which the output pin is connected, that is, the output pin is connected to another pin. When connected to the next logic circuit, a short error occurs. As a result of step S1, if the pin to be checked is a tri-state output pin, the content of the error differs depending on the polarity and connection state of the control terminal for controlling the pin, so the output value of that pin is determined from the library. First, check the connection state of the control terminal. That is, it is checked where the control terminal is connected (step S2). As a result of step S2, if the control terminal is directly connected to GND (ground),
The polarity of the control terminal is checked (step S3). Here, as a result of steps S2 and S3, if the control terminal is directly connected to GND and the logic is positive, it is determined that a high impedance value may be output from the tristate output pin, and the control terminal is GND
Is connected directly to the input terminal, and in the case of negative logic, it is determined that the state is fixed such that a high impedance value is not output from the tristate output pin. As a result of step S3, if the control terminal is of a positive logic, that is, if there is a possibility that a high impedance value is output from the tristate output pin, then that pin is not connected to the bus but It is checked whether or not it is connected to the next stage logic circuit (step S4). As a result of step S4, if the logic circuit is independently connected to the next-stage logic circuit, it is determined that a floating error has occurred because a through current may flow through the chip (step S5). If it is determined in step S4 that the logic circuit is not independently connected to the next logic circuit, it is determined that the logic circuit is normal (step S6). Also, as a result of step S3, if the control terminal is of negative logic, that is, if the state where the high impedance value is not output from the tristate output pin is fixed, then the pin is not connected to the bus. Next, it is checked whether or not it is independently connected to the next-stage logic circuit (step S7). If the result of step S7 is that the tri-state output pin is independently connected to the next-stage logic circuit, it is determined that it is normal ( step S8 ). For example, as shown in FIG. 4, when the control terminal 13 is directly grounded, the high impedance value is fixed to a state where no high impedance value is output. Although a floating pseudo error message was output, here, in steps S2 and S3, the floating error is excluded, and in step S7, the tri-state output pin 1
2 is independently connected to the next-stage logic circuit 14,
It was decided not to cause a short error. As a result of step S7, if the tristate output pin is not connected to the next logic circuit alone, that is, a plurality of tristate output pins or normal output pins, input / output pins, etc. If it is connected to the logic circuit of the stage, it is determined that a short error has occurred because a signal collision occurs (step S9). For example, as shown in FIG. 5, the control terminal 17 is directly grounded so as not to output a high impedance value, the tristate output pin 16 is connected to another pin 19, and is connected to the logic circuit 18 in the next stage. In this case, a short circuit occurs, and thus a short error is determined. As described above, a short check of the tri-state output pin, which has not been conventionally performed, can be performed. As a result of step S2, even if the control terminal is directly connected to VDD (power supply), the polarity of the control terminal is checked (step S10). Here, as a result of steps S2 and S10, if the control terminal is directly connected to VDD and the logic is positive, it is determined that the state where the high impedance value is not output from the tristate output pin is fixed, and the control terminal is determined. Is directly connected to VDD and has negative logic, it is determined that a high impedance value may be output from the tri-state output pin. As a result of step S10, if the control terminal is of positive logic, that is, if the state where the high impedance value is not output from the tri-state output pin is fixed, then that pin is not connected to the bus but It is checked whether or not it is connected to the next stage logic circuit (step S11). If the result of step S11 is that the tri-state output pin is independently connected to the next-stage logic circuit, it is determined to be normal (step S12). Also,
If the result of step S11 is that the tri-state output pin is not independently connected to the next-stage logic circuit, a signal collision occurs, so that a short error is determined (step S13). Also, as a result of step S10, if the control terminal has negative logic, that is, if there is a possibility that a high impedance value is output from the tristate output pin, then that pin is not connected to the bus, but It is checked whether the logic circuit is independently connected to the next stage logic circuit (step S14). As a result of step S14, when the logic circuit is connected to the next stage alone, it is determined that a floating error has occurred because a through current may flow through the chip (step S15). If it is determined in step S14 that the logic circuit is not independently connected to the next logic circuit, it is determined that the logic circuit is normal (step S16). If the result of step S2 is that the control terminal is not directly connected to VDD or GND,
A pseudo floating error (step S1)
7). The verification result performed by the verification unit 4 in this manner is as follows:
It is output from the error / warning output unit 5 and can be confirmed by the designer. As described above, according to this embodiment, the connection check of the tri-state output pin, which had to be visually checked by the conventional designer, can be automatically performed.
An error can be found before the execution of the logic simulation, and a human error such as an oversight of a check can be reduced, and the number of confirmation steps can be further reduced. As a result, the design period can be shortened and the efficiency can be improved, and the work efficiency can be improved. In FIG. 2, when the control terminal is not directly connected to VDD and GND as a result of step S2, a pseudo floating error is determined (step S17). Is not directly connected to VDD, GND,
Regardless of the positive / negative logic polarity of the control terminal,
Determine whether the tri-state output pin is likely to output a high-impedance value from the tri-state output pin, and check whether the tri-state output pin is independently connected to the next-stage logic circuit. If it is connected to a circuit, it may be determined as a floating error, and if it is not independently connected to a next-stage logic circuit, it may be determined that it is normal. In any case, in this embodiment, when the control terminal is not directly connected to VDD or GND, that is, when the control terminal is connected to VDD or GND via a gate, or completely, When the gates are controlled in combination, the value output from the tri-state output pin cannot be determined unless a logic simulation is performed, so that an accurate error cannot be detected. As described above, according to the present invention, a short circuit and a floating check according to the connection state of the control terminal and the tristate output pin can be automatically performed. As described above, the connection check of the tri-state output pin, which had to be visually checked conventionally, can be automatically performed, so that the design period can be shortened and the efficiency can be improved, and the work efficiency can be improved. .
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における論理回路検証装置
の概略構成を示すブロック図。
【図2】本発明の実施の形態における論理回路検証装置
の検証動作を示すフローチャート。
【図3】従来の論理回路検証装置の概略構成を示すブロ
ック図。
【図4】従来の問題点を説明するための回路図。
【図5】従来の問題点を説明するための回路図。
【符号の説明】
1 論理回路図作成装置
2 ネットリスト入力部
3 ライブラリ入力部
4 検証部
5 エラー/ワーニング出力部
6 検証ルール記憶領域BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a logic circuit verification device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a logic circuit verification device according to an embodiment of the present invention.
9 is a flowchart showing the verification operation of FIG. FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional logic circuit verification device. FIG. 4 is a circuit diagram for explaining a conventional problem. FIG. 5 is a circuit diagram for explaining a conventional problem. [Description of Signs] 1 Logic circuit diagram creation device 2 Netlist input unit 3 Library input unit 4 Verification unit 5 Error / warning output unit 6 Verification rule storage area
Claims (1)
リストを入力するネットリスト入力部と、前記論理回路
の回路情報を示すライブラリを入力するライブラリ入力
部と、検証ルールを記憶する検証ルール記憶領域と、前
記ネットリスト入力部に入力された前記ネットリストと
前記ライブラリ入力部に入力された前記ライブラリとを
用いて前記検証ルール記憶領域に記憶された前記検証ル
ールに基づいて前記論理回路の接続状態が正しいか否か
を判定する検証部と、前記検証部の検証結果を出力する
エラー/ワーニング出力部とを備えた論理回路検証装置
であって、 前記検証部が、 前記ライブラリ入力部に入力され、トライステート出力
ピンについてハイインピーダンス状態、ハイレベル状態
またはローレベル状態となるそれぞれの出力状態に応じ
たコントロール端子の接続状態および極性を示すレベル
状態が記述された前記ライブラリを基に、チェック対象
ピンが前記トライステート出力ピンであるかどうかを判
断する第1のステップと、 前記第1のステップで前記チェック対象ピンが前記トラ
イステート出力ピンであると判断された場合、前記トラ
イステート出力ピンのコントロール端子の接続状態およ
び極性をチェックし、このチェック結果の前記コントロ
ール端子の接続状態および極性に基づいて前記トライス
テート出力ピンの出力状態がハイインピーダンス状態で
あるか、ハイインピーダンス状態でないかを判断する第
2のステップと、 前記トライステート出力ピンが単独で次段の論理回路へ
接続されているかどうかを判断する第3のステップと、 前記第2のステップで前記トライステート出力ピンの出
力状態がハイインピーダンス状態であると判断され、か
つ前記第3のステップで単独で次段の論理回路へ接続さ
れていると判断された場合に、前記トライステート出力
ピンの次段の論理回路への接続状態がフローティングエ
ラーであると判定し、前記第2のステッ プで前記トライ
ステート出力ピンの出力状態がハイインピーダンス状態
であると判断され、かつ前記第3のステップで単独で次
段の論理回路へ接続されていないと判断された場合に、
前記トライステート出力ピンの次段の論理回路への接続
状態が正常であると判定し、前記第2のステップで前記
トライステート出力ピンの出力状態がハイインピーダン
ス状態でないと判断され、かつ前記第3のステップで単
独で次段の論理回路へ接続されていると判断された場合
に、前記トライステート出力ピンの次段の論理回路への
接続状態が正常であると判定し、前記第2のステップで
前記トライステート出力ピンの出力状態がハイインピー
ダンス状態でないと判断され、かつ前記第3のステップ
で単独で次段の論理回路へ接続されていないと判断され
た場合に、前記トライステート出力ピンの次段の論理回
路への接続状態がショートエラーであると判定する第4
のステップとで動作し、 前記検証部の前記第4のステップの判定結果を前記エラ
ー/ワーニング出力部が出力する論理回路検証装置。 (57) [Claims] [Claim 1] A net indicating connection information between logic circuits
A netlist input unit for inputting a list, and the logic circuit
Library input to input a library showing the circuit information of
Part, a verification rule storage area for storing the verification rules, and
The netlist input to the netlist input section;
And the library input to the library input unit.
The verification rule stored in the verification rule storage area using
Whether the connection state of the logic circuit is correct based on the rule
And a verification unit for determining the verification result, and outputting a verification result of the verification unit.
Logic circuit verification device having error / warning output unit
A is, the verification unit is input to the library input unit, tri-state output
High impedance state, high level state for pins
Or according to each output state which becomes low level state
Level indicating the connection status and polarity of the control terminal
Check target based on the library where the status is described
Determine if a pin is the tri-state output pin
Disconnecting the pin to be checked in the first step.
If the output pin is determined to be
Connection state of the control terminal of the
And polarity, and check the control
Based on the connection status and polarity of the
Tate output pin is in high impedance state
And whether it is in a high impedance state
Step 2 and the tri-state output pin is used alone to the next logic circuit.
A third step of determining whether or not the connection is made; and outputting the tri-state output pin in the second step.
If the force state is determined to be high impedance,
In the third step, only the logic circuit of the next stage is independently connected.
The tri-state output
The connection status of the pin to the next logic circuit is floating
Determines that the error, the tri by the second steps
Output state of state output pin is high impedance state
And in the third step alone the next
If it is determined that it is not connected to the logic circuit of the stage,
Connection of the tristate output pin to the next stage logic circuit
It is determined that the state is normal, and in the second step,
Output state of tri-state output pin is high impedance
Is not in the standby state, and the third step
When it is judged that it is connected to the next logic circuit by itself
To the logic circuit at the next stage of the tristate output pin.
It is determined that the connection state is normal, and in the second step,
The output state of the tri-state output pin is high impedance.
It is determined that the user is not in the dance state and the third step
Is not connected to the next logic circuit by itself
The logic circuit at the next stage of the tri-state output pin.
4th judgment that the connection state to the road is a short error
And the verification unit determines the result of the fourth step as the error.
-/ Logic circuit verification device output by the warning output unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14147197A JP3363066B2 (en) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | Logic circuit verification device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14147197A JP3363066B2 (en) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | Logic circuit verification device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10334124A JPH10334124A (en) | 1998-12-18 |
| JP3363066B2 true JP3363066B2 (en) | 2003-01-07 |
Family
ID=15292667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14147197A Expired - Fee Related JP3363066B2 (en) | 1997-05-30 | 1997-05-30 | Logic circuit verification device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3363066B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4762045B2 (en) * | 2006-05-01 | 2011-08-31 | 株式会社東芝 | Semiconductor integrated circuit verification apparatus and verification method |
-
1997
- 1997-05-30 JP JP14147197A patent/JP3363066B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10334124A (en) | 1998-12-18 |
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