JP3407789B2 - データパターン発生装置 - Google Patents
データパターン発生装置Info
- Publication number
- JP3407789B2 JP3407789B2 JP05324897A JP5324897A JP3407789B2 JP 3407789 B2 JP3407789 B2 JP 3407789B2 JP 05324897 A JP05324897 A JP 05324897A JP 5324897 A JP5324897 A JP 5324897A JP 3407789 B2 JP3407789 B2 JP 3407789B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- user
- specified
- control
- data pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Description
式において、試験対象装置に対して試験信号を発生する
データパターン発生装置に関する。
開平8−37485号公報に記載されたものが知られている。
図7はその従来のデータパターン発生装置の概略構成を
示すブロック図である。
したデータパターンを記憶するユーザ指定データメモ
リ、2はユーザ指定データメモリ1に記憶されたユーザ
指定データパターンに対してCRC(cyclic redundancy
check)演算部5で計算された演算結果を記憶するCR
Cデータメモリ、3はPN(パルス値)パターンあるいは
固定パターン「0または1」などを記憶する固定データ
メモリ、4はユーザ指定データメモリ1,CRCデータ
メモリ2,固定データメモリ3に記憶された各々のデー
タパターンを読み出すための読み出しアドレスデータを
記憶する読出アドレス記憶部、6はデータ出力回路であ
る。
生装置では、発生するデータパターンの種別によって、
読出アドレス記憶部4に記憶されている読み出し開始ア
ドレス/読み出し終了アドレスを変更することによっ
て、ユーザ指定データメモリ1,CRCデータメモリ
2,固定データメモリ3から各データパターンを順次読
み出して、データ出力回路6からデータパターンを発生
していた。
来のデータパターン発生装置の構成では、試験信号パタ
ーンに分類されるCRCデータやPNパターンのデータ
記憶手段や、各データパターンを読み出すための読出ア
ドレス記憶部などが、すべて記憶手段であるメモリによ
って構成されているため、メモリの記憶容量が増大する
傾向にあり、しかも読出アドレス記憶部によって各デー
タパターンの読み出しを制御しているため、読み出し制
御が複雑になるという問題を有していた。
解決するためのものであり、メモリ手段を少ない記憶容
量で構成でき、かつメモリ手段に対する書き込みおよび
読み出し制御を単純にしながらも、任意の試験信号パタ
ーンを発生することができるデータパターン発生装置を
提供することを第1の目的とする。
記憶することにより、メモリ手段の記憶容量を変えるこ
となく、かつメモリ手段に対する書き込みおよび読み出
し制御を単純にしながらも、任意のユーザ指定パターン
と試験信号パターンを組み合わせたデータパターンを発
生することができるデータパターン発生装置を提供する
ことを第2の目的とする。
るために、本発明のデータパターン発生装置は、以下の
ような構成である。すなわち、解析手段は発生させるデ
ータパターンの種別を認識してそのデータパターンの種
別に応じた制御信号を生成し、メモリ手段は解析手段が
生成した制御信号を記憶する。そして、試験信号パター
ン発生手段により、メモリ手段に記憶された制御信号を
基に試験対象装置に対して試験信号パターンを発生する
構成である。
明のデータパターン発生装置は、以下のような構成であ
る。すなわち、設定手段はユーザが外部から指定したユ
ーザ指定パターンを認識し、解析手段は発生させるデー
タパターンの種別を認識してそのデータパターンの種別
に応じた制御信号を生成し、メモリ手段に設定手段が認
識したユーザ指定パターンと解析手段が生成した制御信
号を記憶する。そして、試験信号パターン発生手段は、
メモリ手段に記憶されたユーザ指定パターンと制御信号
を使用して試験対象装置に対してユーザ指定パターンと
試験信号パターンを組み合わせたデータパターンを発生
する構成である。
は、発生させるデータパターンの種別を認識して、その
データパターンの種別ごとに対応させて制御信号を生成
する解析手段と、この解析手段が生成した制御信号を記
憶するメモリ手段と、このメモリ手段に対して前記制御
信号を書き込む書き込み制御と前記メモリ手段に記憶さ
れた前記制御信号を読み出す読み出し制御とを行う制御
手段と、前記メモリ手段に記憶された制御信号を使用し
て試験信号パターンを発生させる試験信号パターン発生
手段とを備えたものであり、この構成によって、様々な
データパターンの種別に応じて制御信号をメモリ手段に
書き込み、そして読み出すことを可能にし、試験信号パ
ターン発生手段を確実に制御できるようにして、試験対
象装置に対する任意の試験信号パターンを生成,発生す
る。
タパターンの種別を認識して、そのデータパターンの種
別ごとに対応させて制御信号を生成する解析手段と、ユ
ーザが指定したユーザ指定パターンを認識し、かつこの
ユーザ指定パターンを後記メモリ手段に書き込む設定手
段と、この設定手段が認識したユーザ指定パターンと前
記解析手段が生成した制御信号とを共に記憶するメモリ
手段と、このメモリ手段に記憶されたユーザ指定パター
ンおよび制御信号を使用してユーザ指定パターンと試験
信号パターンとを組み合わせたデータパターンを発生さ
せる試験信号パターン発生手段と、前記メモリ手段に対
して前記解析手段が生成した制御信号を書き込む書き込
み制御と、前記メモリ手段に記憶された前記解析手段が
生成した制御信号と前記設定手段が認識したユーザ指定
パターンとを読み出す読み出し制御を行う制御手段とを
備えたものであり、この構成によって、ユーザが指定し
たユーザ指定パターンと様々なデータパターンの種別に
応じて、ユーザ指定パターンと制御信号とをメモリ手段
に書き込み、そして読み出すことを可能にし、試験信号
パターン発生手段を確実に制御できるようにして、試験
対象装置に対する任意のユーザ指定パターンと試験信号
パターンとを組み合わせたデータパターンを生成,発生
する。
から図6を用いて説明する。
めのデータパターン発生装置の構成を示すブロック図、
図2は図1に示した試験信号パターン発生手段における
回路構成例を示すブロック図であり、データパターン発
生装置7において、10は外部から入力されたデータパタ
ーン種別信号14を認識してそのデータパターンの種別ご
とに対応した制御信号を生成する解析手段、11は解析手
段10が生成した制御信号16を記憶するメモリ手段、12は
メモリ手段11が記憶した制御信号16を使用してデータパ
ターン15を発生させる試験信号パターン発生手段、13は
メモリ手段11に対して書き込み制御および読み出し制御
を実行する制御手段である。
ン19a〜19nを発生する試験信号パターン(a〜n)発生回
路、18b〜18nはマルチプレクサである。
いて、図2および図3を参照して説明する。図3(a)は
メモリ手段11に記憶された制御信号の記憶内容を示す説
明図であり、図3(b)は試験信号パターン発生手段12か
ら発生されるデータパターン15のタイムチャートであ
る。タイムチャートで示したPTNa〜PTNnは、それぞれ制
御信号a〜nに対応し、試験信号パターン発生回路17a
〜17nで発生されたパターンを示す。
の種別に係るデータパターン種別信号14を解析手段10に
対して設定入力する。解析手段10では入力されたデータ
パターン種別信号14を解析して制御信号(a〜n)16を生
成する。解析手段10は生成した制御信号a〜nをメモリ
手段11に書き込むため、制御手段13に対して書き込み実
行指示を通知して、図3(a)に示す内容でメモリ手段11
に制御信号a〜nを書き込む。書き込みが完了すると、
解析手段10は制御手段13に対して読み出しの実行指示を
与える。
号a〜nが順次読み出される。読み出された制御信号a
〜nは、図2に示すように試験信号パターン(a〜n)発
生回路17a〜17nを有効にするか否かの信号であり、
“1”のとき、試験信号パターン(a〜n)発生回路17a
〜17nが有効になって、試験信号パターンa〜nすなわ
ちPTNa〜PTNnが発生される。
制御信号b〜nによって各々制御され、“1”のとき、
試験信号パターン(b〜n)発生回路17b〜17nからの試験
信号パターンを選択する。このことにより、試験信号パ
ターンPTNa〜PTNnが発生し、選択されることによりデー
タパターン15が得られる。
が必要とするデータパターン種別を解析して制御信号を
作成し、その制御信号をメモリ手段に書き込み、そして
読み出し可能にすることによって、試験信号パターン発
生手段における各々の試験信号パターン発生回路を確実
に制御することができるため、試験対象装置に対する任
意の試験信号パターンを発生することができるようにな
る。
めのデータパターン発生装置の構成を示すブロック図で
あり、第2実施形態におけるデータパターン発生装置8
では、図1に示すデータパターン発生装置7に加えて、
ユーザが指定したユーザ指定パターンを認識する設定手
段20を備えている。なお、以下において、図1〜図3を
参照して説明した部材と対応する部材には同一符号を付
して詳しい説明は省略する。
6を参照して説明する。図5は図4に示した試験信号パ
ターン発生手段における回路構成例を示すブロック図、
図6(a)はメモリ手段11に記憶されたユーザ指定パター
ン22と制御信号a〜nの記憶内容を示す説明図、図6
(b)は発生されるデータパターン19のタイムチャートで
ある。タイムチャートに示したPTNa〜PTNnは、それぞれ
制御信号(a〜n)16に対応し、試験信号パターン発生回
路17a〜17nで発生されたパターンを示す。USRa〜USRnは
ユーザが指定したユーザ指定パターン22である。
ンの種別に係るデータパターン種別信号14を解析手段10
に対して設定入力すると共に、ユーザ指定パターン信号
21を設定手段20に対して入力する。解析手段10では入力
されたデータパターン種別信号14を解析して制御信号
(a〜n)16を生成する。解析手段10は生成した制御信号
a〜nとユーザ指定パターン信号21によるユーザ指定パ
ターンUSRa〜USRnとをメモリ手段11に書き込むために、
制御手段13と設定手段20に対して書き込み実行指示を通
知して、図6(a)に示す内容でメモリ手段11にユーザ指
定パターンUSRa〜USRnと制御信号a〜nを書き込む。書
き込みが完了すると、解析手段10は制御手段13に対して
読み出しの実行指示を与える。
指定パターンUSRa〜USRnと制御信号a〜nが同時に順次
読み出される。図5に示すように読み出されたユーザ指
定パターン22は、マルチプレクサ18aに入力される。ま
た、読み出された制御信号a〜nは、試験信号パターン
(a〜n)発生回路17a〜17nを有効にするか否かの信号で
あり、“1”のとき、試験信号パターン(a〜n)発生回
路17a〜17nが有効になり試験信号パターンa〜nすなわ
ちPTNa〜PTNnが発生される。
制御信号a〜nによって各々制御され、“1”のとき、
試験信号パターン(a〜n)発生回路17a〜17nからの試験
信号パターンa〜nを選択する。このことにより、ユー
ザ指定パターンすなわちUSRa〜USRnと試験信号パターン
a〜nが選択されることによりデータパターン19が得ら
れる。
が必要とするユーザ指定パターンを入力して、制御信号
と同様にメモリ手段に書き込み、そして読み出すことに
よって試験信号パターン発生手段における各々の試験信
号パターン発生回路を確実に制御することができるの
で、ユーザ指定パターンと試験信号パターンを組み合わ
せた任意のデータパターンを発生することができる。
バースト形態のデータパターン発生装置について説明し
たが、連続形態のデータパターンを発生するようにして
もよく、この場合、制御手段13がメモリ手段11に対して
連続的に繰り返して読み出し制御を行うことによって実
現できる。
されるデータパターンは、ユーザ指定パターンと試験信
号パターンとの組み合わせデータを発生するデータパタ
ーン発生装置として説明したが、ユーザが指定したユー
ザ指定パターンのみを発生するようにしてもよく、この
場合、解析手段10が生成する制御信号を全て“0”とし
て生成してメモリ手段11に書き込めば、読み出したとき
の制御信号は全て“0”となるため、試験信号パターン
発生手段12における各々の試験信号パターンは発生され
ずに、ユーザ指定パターンのみがデータパターンとして
発生されることになる。
によって生成されたデータパターンの種別ごとに対応さ
せて制御信号をメモリ手段に記憶し、そして制御手段に
よって読み出すことにより試験信号パターン発生手段を
確実に制御することができるようにしたため、メモリの
少ない記憶容量で、かつ単純な制御によりデータパター
ンの種別に対応した任意データパターンを発生すること
ができる。
ユーザ指定パターンを入力し、解析手段によって生成さ
れたデータパターンの種別ごとに対応させて制御信号
と、前記ユーザ指定パターンとをメモリ手段に記憶し、
そして制御手段によって読み出すことにより試験信号パ
ターン発生手段を確実に制御することができるようにし
たため、メモリの少ない記憶容量で、かつ単純な制御に
よりユーザ指定パターンと試験信号パターンとを組み合
わせた任意データパターンを発生することができる。
パターン発生装置の構成を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
の記憶内容を示す説明図、(b)は図2の試験信号パター
ン発生手段から発生されるデータパターンのタイムチャ
ートである。
パターン発生装置の構成を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
の記憶内容を示す説明図、(b)は図5の試験信号パター
ン発生手段から発生されるデータパターンのタイムチャ
ートである。
すブロック図である。
11…メモリ手段、 12…試験信号パターン発生手段、
13…制御手段、 14…データパターン種別信号、15,19
…データパターン、 16…制御信号(a〜n)、 17a〜1
7n…試験信号パターン(a〜n)発生回路、 18a〜18n…
マルチプレクサ、 19a〜19n…試験信号パターン(PTNa
〜PTNn)、 20…設定手段、 21…ユーザ指定パターン
信号、 22…ユーザ指定パターン(USRa〜USRn)。
Claims (2)
- 【請求項1】 発生させるデータパターンの種別を認識
して、そのデータパターンの種別ごとに対応させて制御
信号を生成する解析手段と、この解析手段が生成した制
御信号を記憶するメモリ手段と、このメモリ手段に対し
て前記制御信号を書き込む書き込み制御と前記メモリ手
段に記憶された前記制御信号を読み出す読み出し制御と
を行う制御手段と、前記メモリ手段に記憶された制御信
号を使用して試験信号パターンを発生させる試験信号パ
ターン発生手段とを備えたことを特徴とするデータパタ
ーン発生装置。 - 【請求項2】 発生させるデータパターンの種別を認識
して、そのデータパターンの種別ごとに対応させて制御
信号を生成する解析手段と、ユーザが指定したユーザ指
定パターンを認識し、かつこのユーザ指定パターンを後
記メモリ手段に書き込む設定手段と、この設定手段が認
識したユーザ指定パターンと前記解析手段が生成した制
御信号とを共に記憶するメモリ手段と、このメモリ手段
に記憶されたユーザ指定パターンおよび制御信号を使用
してユーザ指定パターンと試験信号パターンとを組み合
わせたデータパターンを発生させる試験信号パターン発
生手段と、前記メモリ手段に対して前記解析手段が生成
した制御信号を書き込む書き込み制御と、前記メモリ手
段に記憶された前記解析手段が生成した制御信号と前記
設定手段が認識したユーザ指定パターンとを読み出す読
み出し制御を行う制御手段とを備えたことを特徴とする
データパターン発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05324897A JP3407789B2 (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | データパターン発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05324897A JP3407789B2 (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | データパターン発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10257126A JPH10257126A (ja) | 1998-09-25 |
| JP3407789B2 true JP3407789B2 (ja) | 2003-05-19 |
Family
ID=12937502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05324897A Expired - Lifetime JP3407789B2 (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | データパターン発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3407789B2 (ja) |
-
1997
- 1997-03-07 JP JP05324897A patent/JP3407789B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10257126A (ja) | 1998-09-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2673298B2 (ja) | セルフテスト機能付半導体集積回路 | |
| US20010054175A1 (en) | Program development support apparatus | |
| JPH11328995A (ja) | メモリ試験装置 | |
| JPH10144095A (ja) | 半導体メモリ試験装置用不良解析メモリ | |
| CN108920695B (zh) | 一种数据查询方法、装置、设备及存储介质 | |
| JP3407789B2 (ja) | データパターン発生装置 | |
| JP2001175500A (ja) | インサーキットエミュレータのトレース方法、トレース手順を記録した記録媒体およびトレース回路 | |
| KR970705758A (ko) | 시험 패턴 발생기(test pattern generator) | |
| GB2300286A (en) | IC card memory arrangement for recording and reproducing audio and/or video data concurrently and separately | |
| US20020083040A1 (en) | Data log acquisition circuit and data log acquisition method | |
| JP3284949B2 (ja) | 記憶装置へのバストレース格納装置と方法および記録媒体 | |
| JP2940207B2 (ja) | 圧縮パターン生成方式 | |
| SU792258A1 (ru) | Устройство дл тестового диагностировани | |
| JPH04367946A (ja) | デバッグ情報出力方式 | |
| JPH05158802A (ja) | メモリ回路制御方法およびメモリ制御回路 | |
| JP2000009816A (ja) | 半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 | |
| JPH05100654A (ja) | キヤラクタジエネレータアクセス制御回路 | |
| JPH0523449B2 (ja) | ||
| JPH10142100A (ja) | 光モジュールの試験機 | |
| JPH03177947A (ja) | メモリ装置の診断回路 | |
| JPH03119436A (ja) | マイクロ命令アドレストレーサ | |
| JPH03142536A (ja) | 記憶装置の診断方式 | |
| JPH05134018A (ja) | 擬障方式 | |
| JPH05209938A (ja) | 半導体試験装置のパターン発生器 | |
| JPH04215147A (ja) | 自動障害情報出力装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080314 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090314 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100314 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110314 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110314 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120314 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130314 Year of fee payment: 10 |