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JP3472865B2 - Manufacturing method of gas rate sensor - Google Patents
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JP3472865B2 - Manufacturing method of gas rate sensor - Google Patents

Manufacturing method of gas rate sensor

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JP3472865B2 JP09980498A JP9980498A JP3472865B2 JP 3472865 B2 JP3472865 B2 JP 3472865B2 JP 09980498 A JP09980498 A JP 09980498A JP 9980498 A JP9980498 A JP 9980498A JP 3472865 B2 JP3472865 B2 JP 3472865B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、センサ本体に作用する
角速度に応じたガス流の偏向状態を電気的に検出するマ
イクロマシニング加工によるガスレートセンサの製造方
法に関する。 【0002】 【従来の技術】一般に、ガスレートセンサにあっては、
ポンプによって、センサ本体におけるノズル孔からガス
通路内の左右に設けられた感熱抵抗素子からなるヒート
センサに向けてガスを噴出させておき、外部から角速度
運動が加わってガス通路内を流れるガス流が左右方向に
偏向したときに、ヒートセンサに生じた抵抗値の変化状
態に応じた電気信号をとり出して、そのときセンサ本体
に作用している角速度の向きおよび大きさを検出するよ
うにしている。 【0003】従来、この種のガスレートセンサとして、
ノズル孔、ガス通路およびそのガス通路内に設けられる
ヒートセンサからなるセンサ本体が、IC製造技術を利
用した半導体基板のマイクロマシニング加工によって形
成された超小形のものが開発されている(特開平5−2
027号公報参照)。 【0004】そのガスレートセンサにおけるセンサ本体
としては、図4ないし図6に示すように、ガス整流用の
溝31、ノズル用の小溝40、ガス通路用の溝51およ
びセンサーブリッジ6が半導体基板のマイクロマシニン
グ加工によって形成された下側基板1′と、ガス整流用
の溝32、ガス通路用の溝52が半導体基板をエッチン
グすることによって形成された上側基板2′とを、それ
ぞれの溝31と32および51と52をつき合せるよう
に重ねて、両者を接着させることによって、ポンプ(図
示せず)から送り込まれるガスを整流する整流室(溝3
1,32によって形成される室)、ノズル孔4およびガ
ス通路5が形成される。そして、ガス通路5にかかるよ
うにセンサブリッジ6が配されるようになっている。図
中、10は整流壁、11はガス導入口、12はガス排出
口である。 【0005】センサブリッジ6の上面には、左、右一対
のヒートセンサ71,72が薄膜によってパターン形成
されている。図中、9はヒートセンサ71,72の各電
極である。 【0006】しかして、このような半導体基板のマイク
ロマシニング加工によって形成されるガスレートセンサ
にあっては、特に、ガス通路にかかるセンサブリッジの
加工精度がそのままガスレートセンサにおける角速度の
検出精度につながるものとなっている。 【0007】また、量産に際してコストダウンを図るた
めの常套手段として、半導体基板のチップサイズをより
小さくしてウエハ当りのチップの採れ数を多くすること
が考えられるが、チップサイズをあまり小さくすると動
作原理上からして性能が劣化することになり、安易にチ
ップサイズを小さくすることができないものになってい
る。 【0008】 【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、半導体基板を用いて上側基板および下側基板を形
成するのでは、半導体基板のチップサイズが大きくなっ
てウエハ当りのチップの採れ数が少なくなり、コスト高
になっていることである。 【0009】また、量産時に、所要のマイクロマシニン
グ加工が連続的に複数施された半導体基板をダイシング
することによって下側基板を得るに際して、ダイシング
時に微細構造のセンサブリッジ部分が破壊されやすいも
のになっていることである。 【0010】 【課題を解決するための手段】本発明は、マイクロマシ
ニング加工によってガスレートセンサのセンサ本体を製
造するに際して、センサブリッジ部分の加工精度を高く
保持しながら使用する半導体チップのサイズを小さくす
るとともに、センサ本体を加工性良く製造することがで
きるようにするべく、ノズル孔およびガス通路からなる
流路部分とガス通路にかかるセンサブリッジからなるセ
ンサ部分とを接合することによってセンサ本体を製造す
るようにしたうえで、半導体基板のマイクロマシニング
加工によって溝上にまたがるセンサブリッジが複数並設
された下側基板と、溝が複数並設された上側基板とを、
両基板の溝をつき合わせるようにして接着したものをダ
イシングすることによってセンサ部分を形成するように
して、特に加工精度が要求されるセンサ部の下側基板の
みを半導体基板のマイクロマシニング加工によって形成
し、他の構成部分をセラミックなどの他の材料による成
型体とすることができるようにしている。 【0011】 【実施例】図1および図2は本発明によって製造される
ガスレートセンサのセンサ本体を示している。 【0012】ここでは、角速度が作用したときのセンサ
本体におけるノズル孔からガス通路内に噴出されている
ガス流の偏向状態を、ガス通路にかかるセンサブリッジ
における感熱抵抗の変化として電気的に検出するガスレ
ートセンサにあって、ノズル孔およびガス通路からなる
流路部分1とガス通路にかかるセンサブリッジからなる
センサ部分2とを接合することによってセンサ本体を製
造するようにしている。 【0013】流路部分1としては、ガス整流用の溝3
1,ノズル用の小溝40およびガス通路用の溝51が設
けられた下側基抜1Aと、ガス整流用の溝32およびガ
ス通路用の溝52が設けられた上側基板1Bとを、それ
ぞれの溝31と32および51と52をつき合せるよう
に重ねて、両者を接着させることによって、整流室(溝
31,32によって形成される室)、ノズル孔4および
ガス通路5が形成されるようになっている。 【0014】下側基板1Aおよび上側基板1Bは、それ
がセラミック材料、金属材料または合成樹脂材料による
成型体がらなっている。 【0015】なお、流路部分1としては、それが下側基
板1Aと上側基1Bとの接合構造に限らず、一体的な抜
き型構造のものであってもよい。 【0016】センサ部分2としては、半導体基板のマイ
クロマシニング加工によってガス通路用の溝51上にセ
ンサブリッジ6がまたがるように形成された下側基板2
Aと、半導体基板のエッチングあるいはセラミックなど
の成型体によってガス通路用の溝52が形成された上側
基板2Bとを、それぞれの溝51と52をつき合せるよ
うに重ねて両者を接着させることによって、ガス通路5
にセンサブリッジ6がかかるように形成される。 【0017】下側基板2Aは、例えば、シリコン基板上
にブリッジ8となるシリコン窒化膜を設け、そのシリコ
ン窒化膜上に白金による左、右一対のヒートセンサ7
1,72をパターン形成したうえで、シリコン基板を所
定にエッチングすることによって形成される。 【0018】下側基板2Aには、センサブリッジ6にお
ける各ヒートセンサ71,72の電極部9がそれぞれ一
体的にパターン形成されている。 【0019】下側基板1Aのガス整流用の溝31内に
は、整流室に送り込まれるガスを分流して整流させるた
めの整流壁10が一体的に形成されている。 【0020】上側基板1Bには、整流室内にポンプ(図
示ぜず)によっでガスを送り込むガス導入口11が設け
られている。 【0021】また、センサ部分2には、ガス通路5を流
れるガスの排出口12が設けられている。 【0022】このようにしてな製造されるガスレートセ
ンサのセンサ本体によれば、半導体基板のマイクロマシ
ニング加工によってガス通路5にかかるセンサブリッジ
6の加工精度を確保して、整流室、ノズル孔4およびガ
ス通路5を形成するための上側基板1および下側基板2
を半導体以外のセラミック材料などの成型体とすること
ができるようになる。 【0023】したがって、マイクロマシニング加工によ
ってセンサ本体を製造するに際して、角速度の検出精度
を充分に高めながら、使用する半導体チップのサイズを
極限に小さくすることができ、ウエハ当りのチップの採
れ数が飛躍的に増大する。また、製造プロセスが容易に
なる。 【0024】このようなガスレートセンサの製造方法に
あって、特に本発明では、量産に際して、図3に示すよ
うに、半導体(シリコン)基板のマイクロマシニグ加工
によってガス通路用の溝51およびその溝51上にまた
がるセンサブリッジ6が一連となるように複数並設され
た下側基板21(同図・a)上に、ガス通路用の溝52
が複数並設された上側基板22を、両基板の溝51,5
2をつき合わせるようにして接着した(同図・b)うえ
で、それをダイヤモンドカッターやレーザカッターなど
を用いてダイシングすることによって各センサ部分2を
分離形成する(同図・c)ようにしている。 【0025】したがって、本発明によれば、マイクロマ
シニング加工によってガス通路用の溝51およびその溝
51上にまたがるセンサブリッジ6が一連となるように
複数並設された半導体基板(下側基扱21)をダイシン
グするに際して、上側基板22をかぶせた状態でダイシ
ングするようにているため、微細構造のセンサブリッジ
6部分が上側基板2によって保護されて、ダイシング時
の水圧によって破壊されることを確実に防止できる。 【0026】 【発明の効果】以上、本発明によるガスレートセンサの
製造方法にあっては、マイクロマシニング加工によって
ガスレートセンサのセンサ本体を製造するに際して、ノ
ズル孔およびガス通路からなる流路部分とガス通路にか
かるセンサブリッジからなるセンサ部分とを接合するこ
とによってセンサ本体を製造するようにしたうえで、半
導体基板のマイクロマシニング加工によって溝上にまた
がるセンサブリッジが複数並設された下側基板と、溝が
複数並設された上側基板とを、両基板の溝をつき合わせ
るようにして接着したものをダイシングすることによっ
てセンサ部分を形成するようにしたもので、センサブリ
ッジ部分の加工精度を高く保持しながら使用する半導体
チップのサイズを小さくするとともに、センサ本体を加
工性良く製造することができるという利点を有してい
る。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of a gas rate sensor by a micromachining process for electrically detecting a deflection state of a gas flow according to an angular velocity acting on a sensor body. About the method. [0002] Generally, in a gas rate sensor,
A gas is ejected from a nozzle hole in the sensor main body to a heat sensor composed of thermosensitive resistance elements provided on the left and right sides of the gas passage by a pump, and a gas flow flowing in the gas passage due to an external angular velocity motion is applied. When deflected in the left-right direction, an electric signal corresponding to the change state of the resistance value generated in the heat sensor is taken out, and the direction and magnitude of the angular velocity acting on the sensor body at that time are detected. . Conventionally, as this type of gas rate sensor,
There has been developed an ultra-small sensor body including a nozzle hole, a gas passage, and a heat sensor provided in the gas passage formed by micromachining a semiconductor substrate using an IC manufacturing technique (Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 5-1993). -2
027). As shown in FIGS. 4 to 6, the gas rate sensor includes a gas rectifying groove 31, a nozzle small groove 40, a gas passage groove 51, and a sensor bridge 6 as shown in FIGS. The lower substrate 1 ′ formed by micromachining and the upper substrate 2 ′ formed by etching the semiconductor substrate with the gas rectifying groove 32 and the gas passage groove 52 are combined with the respective grooves 31. The rectifying chamber (groove 3) for rectifying the gas supplied from a pump (not shown) is formed by superposing the 32 and 51 and 52 so as to abut each other and bonding them together.
1, 32), a nozzle hole 4 and a gas passage 5 are formed. The sensor bridge 6 is arranged so as to cover the gas passage 5. In the figure, 10 is a rectifying wall, 11 is a gas inlet, and 12 is a gas outlet. A pair of left and right heat sensors 71 and 72 are formed on the upper surface of the sensor bridge 6 by a thin film pattern. In the figure, 9 is each electrode of the heat sensors 71 and 72. However, in such a gas rate sensor formed by micromachining a semiconductor substrate, the processing accuracy of the sensor bridge on the gas passage is directly linked to the angular velocity detection accuracy of the gas rate sensor. It has become something. As a conventional means for reducing the cost in mass production, it is conceivable to reduce the chip size of the semiconductor substrate to increase the number of chips to be obtained per wafer. In principle, the performance is degraded, and the chip size cannot be easily reduced. [0008] The problem to be solved is that, when the upper substrate and the lower substrate are formed using a semiconductor substrate, the chip size of the semiconductor substrate increases and the chip size per wafer increases. And the cost is high. Further, in mass production, when a lower substrate is obtained by dicing a semiconductor substrate on which a plurality of required micro-machining processes are continuously performed, a sensor bridge portion having a fine structure is easily broken at the time of dicing. That is. According to the present invention, when manufacturing a sensor body of a gas rate sensor by micromachining, the size of a semiconductor chip used can be reduced while maintaining high processing accuracy of a sensor bridge portion. In addition, in order to be able to manufacture the sensor main body with good workability, the sensor main body is manufactured by joining a flow path portion including a nozzle hole and a gas passage and a sensor portion including a sensor bridge related to the gas passage. After that, the lower substrate in which a plurality of sensor bridges spanning the groove by micromachining processing of the semiconductor substrate, and the upper substrate in which a plurality of grooves are arranged,
The sensor part is formed by dicing the bonded parts so that the grooves of both substrates are aligned, and only the lower substrate of the sensor part, where processing accuracy is particularly required, is formed by micromachining processing of the semiconductor substrate However, the other components can be formed into a molded body of another material such as ceramic. FIGS. 1 and 2 show a sensor body of a gas rate sensor manufactured according to the present invention. Here, the deflection state of the gas flow ejected from the nozzle hole in the sensor body into the gas passage when the angular velocity acts is electrically detected as a change in the thermal resistance of the sensor bridge in the gas passage. In the gas rate sensor, a sensor main body is manufactured by joining a flow path portion 1 including a nozzle hole and a gas passage and a sensor portion 2 including a sensor bridge over the gas passage. The flow path portion 1 includes a gas rectifying groove 3
1, a lower base 1A provided with a small groove 40 for nozzle and a groove 51 for gas passage, and an upper substrate 1B provided with a groove 32 for gas rectification and a groove 52 for gas passage, respectively. By superimposing the grooves 31 and 32 and 51 and 52 so as to abut each other and bonding them together, a rectifying chamber (a chamber formed by the grooves 31 and 32), a nozzle hole 4 and a gas passage 5 are formed. Has become. The lower substrate 1A and the upper substrate 1B are formed by molding a ceramic material, a metal material, or a synthetic resin material. The flow path portion 1 is not limited to the joint structure between the lower substrate 1A and the upper base 1B, but may have an integral punching structure. As the sensor portion 2, the lower substrate 2 formed so that the sensor bridge 6 extends over the gas passage groove 51 by micromachining processing of a semiconductor substrate.
A and the upper substrate 2B in which the gas passage grooves 52 are formed by etching of a semiconductor substrate or a molded body of ceramic or the like are overlapped so that the grooves 51 and 52 are brought into contact with each other. Gas passage 5
The sensor bridge 6 is formed so as to cover the sensor bridge 6. As the lower substrate 2A, for example, a silicon nitride film serving as a bridge 8 is provided on a silicon substrate, and a pair of left and right heat sensors 7 made of platinum are formed on the silicon nitride film.
After patterning 1, 72, it is formed by etching the silicon substrate in a predetermined manner. The electrode portions 9 of the heat sensors 71 and 72 in the sensor bridge 6 are integrally formed on the lower substrate 2A in a pattern. In the gas rectifying groove 31 of the lower substrate 1A, a rectifying wall 10 for diverting and rectifying the gas sent into the rectifying chamber is integrally formed. The upper substrate 1B is provided with a gas inlet 11 for sending gas into the rectification chamber by a pump (not shown). The sensor portion 2 is provided with an outlet 12 for gas flowing through the gas passage 5. According to the sensor body of the gas rate sensor manufactured in this manner, the processing accuracy of the sensor bridge 6 on the gas passage 5 is ensured by the micromachining of the semiconductor substrate, and the rectifying chamber and the nozzle hole 4 are secured. Substrate 1 and lower substrate 2 for forming gas passage 5
Can be formed into a molded body such as a ceramic material other than a semiconductor. Therefore, when the sensor body is manufactured by micromachining, the size of the semiconductor chip to be used can be minimized while the detection accuracy of the angular velocity is sufficiently increased, and the number of chips obtained per wafer is greatly increased. Increase. Further, the manufacturing process becomes easy. In the method of manufacturing such a gas rate sensor, particularly in the present invention, in mass production, as shown in FIG. 3, a groove 51 for a gas passage and a groove 51 for the gas passage are formed by micromachining a semiconductor (silicon) substrate. A plurality of gas bridge grooves 52 are formed on the lower substrate 21 (FIG. 3A) in which a plurality of sensor bridges 6 extending over the grooves 51 are arranged in series.
Are mounted on the upper substrate 22 in which the grooves 51 and 5 of both substrates are arranged.
Then, the two sensor parts 2 are separated from each other by dicing using a diamond cutter or a laser cutter (FIG. 3C). I have. Therefore, according to the present invention, a plurality of semiconductor substrates (the lower base 21) in which a plurality of gas passage grooves 51 and sensor bridges 6 spanning the grooves 51 are arranged in series by micromachining. In the dicing, since the upper substrate 22 is covered with dicing, the microstructured sensor bridge 6 is protected by the upper substrate 2 and is surely broken by the water pressure at the time of dicing. Can be prevented. As described above, in the method of manufacturing a gas rate sensor according to the present invention, when manufacturing the sensor body of the gas rate sensor by micromachining, the flow path portion including the nozzle hole and the gas passage is required. A lower substrate in which a plurality of sensor bridges spanning a groove are formed by micromachining a semiconductor substrate, after the sensor body is manufactured by joining a sensor portion including a sensor bridge over a gas passage, The sensor part is formed by dicing the upper substrate with a plurality of grooves arranged side by side so that the grooves of both substrates are attached to each other, so that the processing accuracy of the sensor bridge part is kept high. While reducing the size of the semiconductor chip used and making the sensor body workable. It has the advantage that it can be manufactured well.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明によって製造されるガスレートセンサの
センサ本体を示す分解斜視図である。 【図2】本発明によって製造されるガスレートセンサの
センサ本体における流路部分とセンサ部分とを切り離し
た状態を示す斜視図である。 【図3】本発明によるセンサ部分の製造プロセスを示す
図である。 【図4】従来のガスレートセンサの下側半導体基板の平
面図である。 【図5】従来のガスレートセンサの上側半導体基板の平
面図である。 【図6】従来のガスレートセンサのノズル孔部分の正断
面図である。 【符号の説明】 1 流路部分 2 センサ部分 4 ノズル孔 5 ガス通路 6 センサブリッジ 71 ヒートセンサ 72 ヒートセンサ 8 ブリッジ 21 下側基板 22 上側基板
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an exploded perspective view showing a sensor main body of a gas rate sensor manufactured according to the present invention. FIG. 2 is a perspective view showing a state in which a flow path part and a sensor part in a sensor main body of a gas rate sensor manufactured by the present invention are separated. FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process of a sensor part according to the present invention. FIG. 4 is a plan view of a lower semiconductor substrate of a conventional gas rate sensor. FIG. 5 is a plan view of an upper semiconductor substrate of a conventional gas rate sensor. FIG. 6 is a front sectional view of a nozzle hole portion of a conventional gas rate sensor. [Description of Signs] 1 flow path portion 2 sensor portion 4 nozzle hole 5 gas passage 6 sensor bridge 71 heat sensor 72 heat sensor 8 bridge 21 lower substrate 22 upper substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01P 9/00 G01C 19/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01P 9/00 G01C 19/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 角速度が作用したときのセンサ本体にお
けるノズル孔からガス通路内に噴出されているガス流の
偏向状態を、ガス通路にかかるセンサブリッジにおける
感熱抵抗の変化として電気的に検出するガスレートセン
サの製造方法において、ノズル孔およびガス通路からな
る流路部分とガス通路にかかるセンサブリッジからなる
センサ部分とを接合することによってセンサ本体を製造
するようにしたうえで、半導体基板のマイクロマシニン
グ加工によって溝上にまたがるセンサブリッジが複数並
設された下側基板と、溝が複数並設された上側基板と
を、両基板の溝をつき合わせるようにして接着したもの
をダイシングすることによってセンサ部分を形成するよ
うにしたことを特徴とするガスレートセンサの製造方
法。
(57) [Claim 1] The state of deflection of a gas flow ejected from a nozzle hole in a sensor body into a gas passage when an angular velocity is applied is determined by a heat-sensitive resistance in a sensor bridge applied to the gas passage. In a method of manufacturing a gas rate sensor that electrically detects as a change in the sensor body, a sensor main body is manufactured by joining a flow path portion including a nozzle hole and a gas passage and a sensor portion including a sensor bridge related to the gas passage. Then, the lower substrate with multiple sensor bridges spanning the groove and the upper substrate with multiple grooves are bonded together by micromachining the semiconductor substrate so that the grooves on both substrates meet. Manufacturing method of a gas rate sensor, characterized in that a sensor portion is formed by dicing the product. .
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