JP3498950B2 - Multi target equipment for sputtering - Google Patents
Multi target equipment for sputteringInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、真空チャンバ内で
高エネルギーの粒子をターゲットに衝突し、これにより
ターゲットからそれを構成する材料分子を発射させるス
パッタリング装置において、複数のターゲットを順次ス
パッタ位置に供給し、スパッタすることができるように
したスパッタリング用マルチターゲット装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering apparatus in which high-energy particles are made to collide with a target in a vacuum chamber, and thereby the material molecules constituting the target are ejected, so that a plurality of targets are sequentially placed at sputtering positions. The present invention relates to a multi-target apparatus for sputtering which can be supplied and sputtered.
【0002】[0002]
【従来の技術】スパッタリング法により、半導体ウエハ
等の基板の上に多層の薄膜を形成する場合、真空チャン
バ内において、異なる材料からなるターゲットを順次ス
パッタ電極の上に載せてスパッタリングし、基板上に複
数の材料を成膜することが必要である。また、単一材料
の層を成膜する場合でも、基板が複数あって、多くの量
のターゲットが必要なときは、スパッタリングにより消
耗したターゲットを新たな別のターゲットと交換してス
パッタリングする必要がある。2. Description of the Related Art When a multi-layered thin film is formed on a substrate such as a semiconductor wafer by a sputtering method, targets made of different materials are sequentially placed on a sputtering electrode in a vacuum chamber and sputtered onto the substrate. It is necessary to deposit multiple materials. Even when depositing a single material layer, when there are multiple substrates and a large amount of target is required, it is necessary to replace the target consumed by sputtering with another target and perform sputtering. is there.
【0003】従来において、前述のように複数のターゲ
ットをスパッタリングして成膜する場合、高真空に維持
した真空チャンバの側部に設けたロードロックセルから
トランスファロッドの先端に設けたマニプレータを挿入
し、スパッタ電極上のスパッタ済みのターゲットを取り
出し、新しいターゲットをスパッタ電極上にセットし、
これを次にスパッタリングするという手段がとられてい
た。Conventionally, when depositing a plurality of targets by sputtering as described above, a manipulator provided at the tip of the transfer rod is inserted from a load lock cell provided at the side of a vacuum chamber maintained at a high vacuum. , Take out the sputtered target on the sputter electrode, set a new target on the sputter electrode,
The means of sputtering this was taken next.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、前
述のようにして高真空状態に維持した真空チャンバの外
部からターゲットを導入して交換する手段では、その都
度ロードロックセルを開閉してそのロードロックセルを
高真空に排気したり、大気圧に戻す操作が必要となり、
面倒な操作と時間が必要となる。また、ターゲットを交
換するのに時間がかかるため、各スパッタリング工程の
時間的な間隔が開きすぎて、成膜特性のうえで好ましく
ない。However, in the means for introducing and exchanging the target from the outside of the vacuum chamber maintained in the high vacuum state as described above, the load lock cell is opened and closed each time. Need to be evacuated to high vacuum or returned to atmospheric pressure.
Troublesome operation and time are required. Further, since it takes time to replace the target, the time intervals between the sputtering steps are too wide, which is not preferable in terms of film formation characteristics.
【0005】本発明は前記従来のマルチターゲットスパ
ッタリング手段における課題に鑑みてなされたもので、
その第一の目的は、真空チャンバ内で複数のターゲット
を効率よく短時間に交換して順次スパッタリングするこ
とができるスパッタリング用マルチターゲット装置を提
供することにある。さらに、その第二の目的は、スパッ
タリング電極とターゲットとの位置合わせを正確にし、
ターゲットを正確な位置に配置してスパッタリングでき
るようにすることにある。The present invention has been made in view of the problems in the conventional multi-target sputtering means,
It is a first object of the present invention to provide a sputtering multi-target apparatus capable of efficiently exchanging a plurality of targets in a vacuum chamber in a short time and sequentially performing sputtering. Furthermore, its second purpose is to make the alignment between the sputtering electrode and the target accurate,
The goal is to place the target in the correct position for sputtering.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
め、本発明では、真空チャンバ12内でターゲット9を
スパッタリングする位置の下に回転するターンテーブル
1を設け、このターンテーブル1の回転中心から一定の
距離の円周上に複数のターゲット9を配置し、ターンテ
ーブル1の回転と位置決め停止により、順次複数のター
ゲット9をスパッタリング位置の真下に搬送し、そこら
リフト11でターゲットをスパッタリングする位置まで
押し上げてスパッタリングするようにした。そしてター
ゲット9をスパッタリングした後は、リフト11により
ターゲット9を下降してターンテーブル1上に戻し、タ
ーンテーブル1の回転により次のターゲット9をスパッ
タリング位置の真下に搬送し、同様にしてスパッタリン
グ位置まで押し上げ、スパッタリングするものである。
これにより、真空チャンバの外部から複数のターゲット
9を順次導入することなく、真空チャンバの内部で複数
のターゲット9を順次交換することを可能とした。To achieve the above object, in the present invention, a rotating turntable 1 is provided below a position where a target 9 is sputtered in a vacuum chamber 12, and a rotation center of the turntable 1 is provided. A plurality of targets 9 are arranged on the circumference of a certain distance from the position, and by rotating the turntable 1 and stopping the positioning, the plurality of targets 9 are sequentially transported to directly below the sputtering position, and the target is sputtered by the lift 11 thereat. It was pushed up to sputtering. Then, after sputtering the target 9, the lift 9 lowers the target 9 back onto the turntable 1, and the rotation of the turntable 1 conveys the next target 9 directly below the sputtering position. It is pushed up and sputtered.
This makes it possible to sequentially replace the plurality of targets 9 inside the vacuum chamber without sequentially introducing the plurality of targets 9 from the outside of the vacuum chamber.
【0007】本発明によるスパッタリング用マルチター
ゲット装置は、真空チャンバ12内で水平に回転可能に
支持され、この回転中心から一定の距離の円周上にター
ゲット9より僅かに小さな径のリフト通過孔14が穿孔
されたターンテーブル1と、このターンテーブル1の上
に配置され、そのターンテーブル1のリフト通過孔14
が停止する位置の真上のスパッタ位置にターゲット9を
保持するターゲット保持部10を有するターゲット支持
板2と、前記ターンテーブル1のリフト通過孔14がタ
ーゲット保持部10の真下で停止したとき、このリフト
通過孔14の下から上昇し、そこに配置したターゲット
9を持ち上げてターゲット支持板2のターゲット保持部
10まで上昇させるリフト11とを有するものである。The multi-target apparatus for sputtering according to the present invention is rotatably supported horizontally in a vacuum chamber 12, and a lift passage hole 14 having a diameter slightly smaller than that of the target 9 is formed on a circumference of a certain distance from the center of rotation. Of the turntable 1 and a lift passage hole 14 of the turntable 1 which is arranged on the turntable 1.
When the target support plate 2 having the target holding part 10 for holding the target 9 at the sputter position just above the stop position and the lift passage hole 14 of the turntable 1 stop just below the target holding part 10, It has a lift 11 that rises from the bottom of the lift passage hole 14 and lifts the target 9 placed therein to the target holding portion 10 of the target support plate 2.
【0008】このマルチターゲット装置では、ターンテ
ーブル1のリフト通過孔14の上に、ターゲット9を配
置し、ターンテーブル1を回転させて、ターゲット9が
スパッタ位置の真下になるよう位置決めし、停止する。
この状態で、リフト11が上昇することにより、その上
にターゲット9を載せて上昇し、ターゲット支持板2の
ターゲット保持部10にターゲット9を配置する。この
状態で、真空チャンバ12内で発生したイオンをターゲ
ット9に衝突させて、ターゲット9をスパッタリングす
る。これにより、ターゲット9から分子が放出され、こ
れが基板上に凝着して成膜する。In this multi-target device, the target 9 is placed on the lift passage hole 14 of the turntable 1, the turntable 1 is rotated, and the target 9 is positioned directly below the sputter position and stopped. .
In this state, when the lift 11 rises, the target 9 is placed on the lift 11 and rises, and the target 9 is placed on the target holding portion 10 of the target support plate 2. In this state, the target 9 is sputtered by colliding the ions generated in the vacuum chamber 12 with the target 9. As a result, molecules are released from the target 9, and the molecules adhere to the substrate to form a film.
【0009】一つのターゲット9のスパッタリングが完
了したら、リフト11が下降し、スパッタリング済みの
ターゲット9をターンテーブル1上の元の位置に戻す。
その後、ターンテーブル1を回転させて、次のターゲッ
ト9がスパッタ位置の真下になるよう位置決めし、停止
する。以下同様にして次のターゲット9をスパッタ位置
まで上昇し、スパッタする。このようにして、真空チャ
ンバ12内で複数のターゲット9を順次替えてスパッタ
リングを行う。When the sputtering of one target 9 is completed, the lift 11 descends to return the sputtered target 9 to the original position on the turntable 1.
After that, the turntable 1 is rotated, the next target 9 is positioned so as to be directly below the sputter position, and then stopped. In the same manner, the next target 9 is raised to the sputtering position and sputtered. In this way, sputtering is performed by sequentially changing the plurality of targets 9 in the vacuum chamber 12.
【0010】ここで、リフト11のターゲット9を載せ
る上端部分は、ターゲット9を負電位に維持するスパッ
タ電極4となっている。これにより、リフト11の上面
に載せたままターゲット9に負の電位を印加し、その電
圧によりイオンにエネルギーを与えて衝突させ、スパッ
タリングすることができる。Here, the upper end portion of the lift 11 on which the target 9 is placed serves as the sputtering electrode 4 which maintains the target 9 at a negative potential. As a result, it is possible to apply a negative potential to the target 9 while being placed on the upper surface of the lift 11, apply energy to the ions by the voltage, and cause the ions to collide, thereby performing sputtering.
【0011】また、ターゲット支持板2は、そのターゲ
ット保持部10以外の部分でその下のターンテーブル1
をイオン発生側に対して覆っている。これにより、スパ
ッタリングするターゲット9以外のターゲット9にイオ
ンが衝突してスパッタリングされてしまうことなく、目
的のターゲット9のみをスパッタリングすることができ
る。Further, the target support plate 2 is a portion other than the target holding portion 10 of the turntable 1 below the target holding portion 10.
To the ion generating side. As a result, only the target 9 can be sputtered without the ions colliding with the targets 9 other than the sputtering target 9 and being sputtered.
【0012】さらに、前記ターンテーブル1のリフト通
過孔14がターゲット保持部10の真下で停止したと
き、このターンテーブル1をその位置に位置決めする位
置決め機構を有する。この位置決め機構は、ターンテー
ブル1の周面のリフト通過孔14の位置に対応して設け
たプランジャ受7と、プランジャ受7に前後するプラン
ジャ6の先端を差し込んでターンテーブル1を位置決め
するアクチュエータ5とからなる。Further, when the lift passage hole 14 of the turntable 1 stops just below the target holding portion 10, there is provided a positioning mechanism for positioning the turntable 1 at that position. The positioning mechanism includes a plunger receiver 7 provided at a position corresponding to the position of the lift passage hole 14 on the peripheral surface of the turntable 1, and an actuator 5 for positioning the turntable 1 by inserting the tips of the plunger 6 in front of and behind the plunger receiver 7. Consists of.
【0013】このような位置決め機構を備えることで、
ターンテーブル1を必ず所定の位置で停止し、ターゲッ
ト9をリフト11で昇降できるため、リフト1とターン
テーブル1のリフト通過孔14、及びターゲット9とタ
ーゲット支持板2のターゲット保持部10との位置合わ
せを正確に行うことができる。これにより、リフト11
でターゲット9を昇降するとき、ターゲット9が破損し
たりしない。By providing such a positioning mechanism,
Since the turntable 1 is always stopped at a predetermined position and the target 9 can be lifted and lowered by the lift 11, the positions of the lift 1 and the lift passage hole 14 of the turntable 1, and the target 9 and the target holding portion 10 of the target support plate 2. The alignment can be done accurately. As a result, the lift 11
When moving up and down the target 9, the target 9 is not damaged.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】次に、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態について、具体的且つ詳細に説明する。
図1〜図4は、本発明の一実施形態によるスパッタリン
グ用マルチターゲット装置の概要を示す図であり、図1
には真空チャンバ12は示していない。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, embodiments of the present invention will be described specifically and in detail with reference to the drawings.
1 to 4 are diagrams showing an outline of a sputtering multi-target apparatus according to an embodiment of the present invention.
The vacuum chamber 12 is not shown in FIG.
【0015】これらの図に示すように、真空チャンバ1
2の中には、円板状のターゲット支持板2が水平に設置
されており、このターゲット支持板2には円形の孔を有
するターゲット保持部10が開設されている。このター
ゲット保持部10が設けられたのは、スパッタリングに
より薄膜を形成しようとする図示してない基板を設置す
る基板ホルダと対向する位置である。図示の例では、タ
ーゲット支持板2の2箇所にターゲット保持部10が設
けられているが、一方のターゲット保持部10は未使用
のため、その孔が蓋19で閉じられている。As shown in these figures, the vacuum chamber 1
2, a disk-shaped target support plate 2 is horizontally installed, and the target support plate 2 is provided with a target holding portion 10 having a circular hole. The target holding unit 10 is provided at a position facing a substrate holder on which a substrate (not shown) for forming a thin film by sputtering is placed. In the illustrated example, the target holding portions 10 are provided at two locations on the target support plate 2, but one target holding portion 10 is unused, so the hole is closed by the lid 19.
【0016】ターゲット支持板2の真下には、このター
ゲット支持板2と平行に円板状のターンテーブル1が配
置されている。このターンテーブル1の中心から一定の
距離にある一つの円周上に等間隔で円形のリフト通過孔
14が開設されている。図示の例では、リフト通過孔1
4が90゜間隔で4つ開設されているが、使用するター
ゲット9の数が多い場合は、それ以上のリフト通過孔1
4を設けてもよい。A disc-shaped turntable 1 is arranged directly below the target support plate 2 in parallel with the target support plate 2. Circular lift passage holes 14 are formed at equal intervals on one circumference at a constant distance from the center of the turntable 1. In the illustrated example, the lift passage hole 1
4 are opened at 90 ° intervals, but if the number of targets 9 used is large, more lift passage holes 1
4 may be provided.
【0017】ターンテーブル1の中心とリフト通過孔1
4の中心とを結ぶ仮想の直線の延長線上であって、ター
ンテーブル1の外周縁には、プランジャ受7が設けられ
ている。このプランジャ受7には、ターンテーブル1の
径方向にプランジャ差込穴8が設けられ、このプランジ
ャ差込穴8は手前より奥側が小径になるようなテーパが
設けられている。The center of the turntable 1 and the lift passage hole 1
A plunger receiver 7 is provided on the outer peripheral edge of the turntable 1 on an extension of an imaginary straight line connecting the center of the turntable 4. The plunger receiver 7 is provided with a plunger insertion hole 8 in the radial direction of the turntable 1, and the plunger insertion hole 8 is provided with a taper so that the diameter on the inner side is smaller than the diameter on the front side.
【0018】このターンテーブル1の中心は垂直な軸1
4に連結され、真空チャンバ12の外に設けた図示して
ない回転駆動源から回転導入機3とフランジ13を介し
てこの軸14に回転が導入され、ターンテーブル1が間
欠回転する。図示の例の場合、ターンテーブル1は、9
0゜間隔で間欠回転し、そのターンテーブル1が停止す
る位置は、各リフト通過孔14が前記ターゲット支持板
2のターゲット保持部10の真下に位置する所である。The center of this turntable 1 is the vertical axis 1.
4, a rotation driving source (not shown) provided outside the vacuum chamber 12 introduces rotation to the shaft 14 via the rotation introducing device 3 and the flange 13, and the turntable 1 rotates intermittently. In the illustrated example, the turntable 1 has 9
The position where the turntable 1 stops intermittently at 0 ° intervals is where the lift passage holes 14 are located directly below the target holding portion 10 of the target support plate 2.
【0019】ターゲット支持板2のターゲット保持部1
0の真下でターンテーブル1のリフト通過孔14が停止
する位置の真下には、リフト11が設けられている。こ
のリフト11は、その外径がリフト通過孔14より小さ
な円柱形のもので、その上面には負の電位に維持される
スパッタ電極4が設けられている。このリフト11は、
真空チャンバ12の下部に設けたポート17にフランジ
を介して取り付けた昇降機構15により、垂直方向に昇
降する。Target holding portion 1 of the target support plate 2
A lift 11 is provided just below the position where the lift passage hole 14 of the turntable 1 stops just below 0. The lift 11 has a columnar shape having an outer diameter smaller than that of the lift passage hole 14, and the sputter electrode 4 which is maintained at a negative potential is provided on the upper surface thereof. This lift 11
The elevating mechanism 15 attached to the port 17 provided in the lower portion of the vacuum chamber 12 via a flange moves up and down in the vertical direction.
【0020】さらに、真空チャンバ12の側方には、タ
ーンテーブル1の位置決め機構を構成するアクチュエー
タ5として、エアシリンダが設けられている。このアク
チュエータ5は、真空チャンバ12の側方に設けたポー
ト18にフランジを介して取り付けられている。このア
クチュエータ5は、前記ターンテーブル1の中心とター
ゲット支持板2のターゲット保持部10の真下で停止す
るターンテーブル1のリフト通過孔14の中心とを結ぶ
仮想の直線の延長線上に配置され、そのプランジャ6
は、その仮想の直線の延長線方向にストロークする。Further, on the side of the vacuum chamber 12, an air cylinder is provided as an actuator 5 constituting a positioning mechanism for the turntable 1. The actuator 5 is attached to a port 18 provided on the side of the vacuum chamber 12 via a flange. The actuator 5 is arranged on an extension line of a virtual straight line connecting the center of the turntable 1 and the center of the lift passage hole 14 of the turntable 1 which stops just below the target holding portion 10 of the target support plate 2, and Plunger 6
Makes a stroke in the direction of the extension of the virtual straight line.
【0021】図4は、アクチュエータ5のプランジャ6
の先端がプランジャ受7のプランジャ差込穴8に嵌合し
た状態を示す拡大図である。この図に示すように、プラ
ンジャ6の先端は、プランジャ受7のプランジャ差込穴
8に形成されたとのと同じ勾配のテーパが設けられてい
る。FIG. 4 shows the plunger 6 of the actuator 5.
FIG. 7 is an enlarged view showing a state in which a tip end of is fitted into a plunger insertion hole 8 of a plunger receiver 7. As shown in this figure, the tip of the plunger 6 is provided with a taper having the same slope as that formed in the plunger insertion hole 8 of the plunger receiver 7.
【0022】次に、このスパッタリング用マルチターゲ
ット装置の動作について以下に説明する。まず、真空チ
ャンバ12内において、ターンテーブル1のリフト通過
孔14の上に、それぞれターゲット9の周辺部を置いて
を配置する。この状態で、真空チャンバ12内を所要の
真空度に減圧する。Next, the operation of the sputtering multi-target device will be described below. First, in the vacuum chamber 12, the targets 9 are arranged on the lift passage holes 14 of the turntable 1 with the peripheral portions of the targets 9 placed. In this state, the inside of the vacuum chamber 12 is depressurized to a required degree of vacuum.
【0023】真空チャンバ12内を減圧した後、第一の
ターゲット9をスパッタリングするときは、まず、ター
ンテーブル1を回転させて、第一のターゲット9をター
ゲット支持板2のターゲット保持部10の真下に移動さ
せ、そこで停止する。ターンテーブル1が回転するとき
は、アクチュエータ5のプランジャ6は後退している
が、前記の位置にターンテーブル1が停止すると、アク
チュエータ5が作動し、そのプランジャ6が延伸し、そ
の先端がテーパに沿ってプランジャ受7のプランジャ差
込穴8に嵌合する。これにより、ターンテーブル1は、
第一のターゲット9がターゲット支持板2のターゲット
保持部10の真下に位置するよう正確に位置決めされ、
保持される。When the first target 9 is sputtered after the pressure in the vacuum chamber 12 is reduced, first, the turntable 1 is rotated so that the first target 9 is directly below the target holding portion 10 of the target support plate 2. Move to and stop there. When the turntable 1 rotates, the plunger 6 of the actuator 5 is retracted, but when the turntable 1 is stopped at the above-mentioned position, the actuator 5 is activated, the plunger 6 is extended, and the tip thereof is tapered. Along with this, it is fitted into the plunger insertion hole 8 of the plunger receiver 7. As a result, the turntable 1
The first target 9 is accurately positioned so as to be located directly below the target holding portion 10 of the target support plate 2,
Retained.
【0024】ターンテーブル1が回転するときは、リフ
ト11が最も下の位置にあり、その上面のスパッタ電極
4は、ターンテーブル1より下にある。前述のように、
ターンテーブル1上の第一のターゲット9がターゲット
支持板2のターゲット保持部10の真下に位置するよう
正確に位置決めされ、停止されると、リフト11が上昇
され、その上のスパッタ電極4上にターゲット9を載
せ、さらにリフト保持孔14を通って上昇し、ターゲッ
ト支持板2のターゲット保持部10にターゲット9を配
置する。この状態が図3である。When the turntable 1 rotates, the lift 11 is at the lowest position, and the sputter electrode 4 on its upper surface is below the turntable 1. As aforementioned,
When the first target 9 on the turntable 1 is accurately positioned so as to be located directly below the target holding portion 10 of the target support plate 2 and stopped, the lift 11 is lifted and is placed on the sputter electrode 4 thereon. The target 9 is placed, and then the target 9 is placed in the target holding portion 10 of the target support plate 2 by going up through the lift holding hole 14. This state is shown in FIG.
【0025】この状態で、真空チャンバ12内をアルゴ
ン等の希薄ガス雰囲気とし、真空チャンバ12内でグロ
ー放電等を発生させることにより、アルゴンを電離し、
イオンを発生させる。このとき、ターゲット9を載せた
スパッタ電極4は負の電圧に維持されており、発生した
イオンはこのスパッタ電極4の負の電圧によりエネルギ
ーを与えられ、ターゲット9に衝突し、ターゲット9を
スパッタリングする。これにより、ターゲット9からそ
のターゲット9を構成する材料の分子が放出され、これ
が基板上に凝着して成膜する。In this state, the vacuum chamber 12 is made to have a dilute gas atmosphere such as argon, and glow discharge or the like is generated in the vacuum chamber 12 to ionize the argon,
Generates ions. At this time, the sputter electrode 4 on which the target 9 is placed is maintained at a negative voltage, and the generated ions are given energy by the negative voltage of the sputter electrode 4, collide with the target 9, and sputter the target 9. . As a result, the molecules of the material forming the target 9 are released from the target 9, and the molecules of the material are deposited on the substrate to form a film.
【0026】こうして第一のターゲット9のスパッタリ
ングが完了したら、リフト11が下降し、スパッタリン
グ済みのターゲット9をターンテーブル1上の元の位置
に戻す。その後、ターンテーブル1を回転させて、次の
第二のターゲット9をスパッタリング位置の真下に移動
させる。そこで前記第一のターゲット9と同様にしてタ
ーンテーブル1を位置決めし、保持する。以下同様にし
てリフト11で第二のターゲット9をスパッタ位置まで
上昇し、スパッタした後、ターンテーブル11を元の位
置に戻す。以下、第三、第四のターゲット9も同様にし
て移動し、スパッタリングを行う。When the sputtering of the first target 9 is completed in this way, the lift 11 descends to return the sputtered target 9 to the original position on the turntable 1. Then, the turntable 1 is rotated to move the next second target 9 directly below the sputtering position. Therefore, the turntable 1 is positioned and held in the same manner as the first target 9. Similarly, the lift 11 raises the second target 9 to the sputtering position, and after the sputtering, the turntable 11 is returned to the original position. Hereinafter, the third and fourth targets 9 are similarly moved to perform sputtering.
【0027】このように、前記のスパッタリング用マル
チターゲット装置では、位置決め機構としてアクチュエ
ータ5を用い、これにより、ターンテーブル1を、各タ
ーゲット9がターゲット支持板2のターゲット保持部1
0の真下に位置するよう正確に位置決めし、保持するた
め、ターゲット9を正確な位置に配置してスパッタリン
グすることができる。特に、リフト11とターゲット9
との位置ずれが起こらないため、ターゲット9が破損す
るようなことがなく、安全に操作することができる。As described above, in the above-mentioned sputtering multi-target apparatus, the actuator 5 is used as the positioning mechanism, whereby the turntable 1 and the target holding portion 1 of each target 9 of the target support plate 2 are provided.
Since the target 9 is accurately positioned and held right below 0, the target 9 can be positioned and sputtered. In particular, the lift 11 and the target 9
Since there is no positional deviation between the target and the target, the target 9 is not damaged and can be operated safely.
【0028】なお、位置決め機構のアクチュエータ5と
して前述の例ではエアシリンダを使用したが、ソレノイ
ドや電磁クラッチ等、他の形式のアクチュエータを使用
しても同様の位置決めは可能である。また、ターンテー
ブル1は基本的に円周方向の位置決め、すなわちその回
転角の位置決めをすればよいので、プランジャ6を受け
る側の差込部分の形状は、テーパを形成したプランジャ
差込穴8に替えて、縦のV形溝に嵌め込むものであって
もよい。Although the air cylinder is used as the actuator 5 of the positioning mechanism in the above-described example, similar positioning can be performed by using an actuator of another type such as a solenoid or an electromagnetic clutch. Further, since the turntable 1 is basically positioned in the circumferential direction, that is, the rotation angle thereof is positioned, the shape of the insertion portion on the side receiving the plunger 6 is the tapered plunger insertion hole 8. Instead, it may be fitted in the vertical V-shaped groove.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によるスパッ
タリング用マルチターゲット装置では、真空チャンバ1
2内で複数のターゲット9を順次替えてスパッタリング
することができるので、複数のターゲット9を順次効率
よくスパッタリングすることが可能となる。これによ
り、時間をかけずに、能率よくスパッタリングを行うこ
とができる。As described above, in the sputtering multi-target device according to the present invention, the vacuum chamber 1
Since the plurality of targets 9 can be sequentially changed and sputtered within the unit 2, the plurality of targets 9 can be sequentially and efficiently sputtered. Thereby, the sputtering can be efficiently performed without taking time.
【0030】また、複数のターゲット9を時間を置かず
に順次スパッタリングして基板上に成膜できるため、そ
の間の基板の表面の汚れや変化が無く、高品質の膜を形
成することができる。さらに位置決め機構によるターン
テーブル1の位置決めにより、ターゲット9を載せたタ
ーンテーブル1を正確な位置に停止し、リフト11でタ
ーゲット9を昇降できるので、ターゲット9の破損等が
なく、安全に操作することが可能となる。Further, since a plurality of targets 9 can be sequentially sputtered without forming a time to form a film on the substrate, a high quality film can be formed without stains or changes on the surface of the substrate. Further, by positioning the turntable 1 by the positioning mechanism, the turntable 1 on which the target 9 is placed can be stopped at an accurate position and the target 9 can be lifted and lowered by the lift 11, so that the target 9 can be safely operated without being damaged. Is possible.
【図1】本発明の一実施形態によるスパッタリング用マ
ルチターゲット装置を示す真空チャンバ等を除き、ごく
主要の要素のみを示した斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing only the main components except a vacuum chamber and the like showing a sputtering multi-target apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】同実施形態によるスパッタリング用マルチター
ゲット装置を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a multi-target device for sputtering according to the same embodiment.
【図3】図2のA−A線断面図である。3 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
【図4】図3のターンテーブルの位置決め機構の部分を
示す要部拡大断面図である。FIG. 4 is an enlarged sectional view of an essential part showing a part of a positioning mechanism of the turntable of FIG.
1 ターンテーブル 2 ターゲット支持板 4 スパッタ電極 5 アクチュエータ 7 プランジャ受 9 ターゲット 10 ターゲット支持板のターゲット保持部 11 リフト 12 真空チャンバ 14 ターンテーブルのリフト通過孔 1 turntable 2 Target support plate 4 Sputtering electrode 5 actuators 7 Plunger receiving 9 targets 10 Target holding part of target support plate 11 lift 12 vacuum chamber 14 Turntable lift passage hole
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開2000−273631(JP,A) 特開 平10−147863(JP,A) 特開 平9−3640(JP,A) 特開 平7−318577(JP,A) 特開 平7−286268(JP,A) 特開 平5−70952(JP,A) 特開 平5−39567(JP,A) 実開 昭61−189453(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C23C 14/34 H01L 21/203 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP 2000-273631 (JP, A) JP 10-147863 (JP, A) JP 9-3640 (JP, A) JP 7-318577 (JP, A) JP-A-7-286268 (JP, A) JP-A-5-70952 (JP, A) JP-A-5-39567 (JP, A) Actual development Sho-61-189453 (JP, U) (JP, A) 58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) C23C 14/34 H01L 21/203
Claims (5)
グ位置にスパッタリング用の複数のターゲット(9)を
順次供給するスパッタリング用マルチターゲット装置に
おいて、真空チャンバ(12)内で水平に回転可能に支
持され、その回転中心から一定の距離の円周上にターゲ
ット(9)より僅かに小さな径のリフト通過孔(14)
が穿孔されたターンテーブル(1)と、このターンテー
ブル(1)の上に配置され、そのターンテーブル(1)
のリフト通過孔(14)が停止する位置の真上のスパッ
タ位置にターゲット(9)を保持するターゲット保持部
(10)を有するターゲット支持板(2)と、前記ター
ンテーブル(1)のリフト通過孔(14)がターゲット
保持部(10)の真下で停止したとき、このリフト通過
孔(14)の下から上昇し、そこに配置したターゲット
(9)を持ち上げてターゲット支持板(2)のターゲッ
ト保持部(10)まで上昇させるリフト(11)とを有
することを特徴とするスパッタリング用マルチターゲッ
ト装置。1. A sputtering multi-target device for sequentially supplying a plurality of sputtering targets (9) to a sputtering position in a vacuum chamber (12), which is rotatably supported horizontally in the vacuum chamber (12), A lift passage hole (14) having a diameter slightly smaller than the target (9) on the circumference of a certain distance from the center of rotation.
With a perforated turntable (1) and the turntable (1) placed on the turntable (1)
Target supporting plate (2) having a target holding part (10) for holding the target (9) at a sputter position immediately above the position where the lift passage hole (14) of the turntable (1) stops, and the lift passage of the turntable (1). When the hole (14) stops just below the target holding part (10), it rises from below the lift passage hole (14) and lifts the target (9) arranged there to lift the target of the target support plate (2). A multi-target apparatus for sputtering, comprising: a lift (11) for raising the holder (10).
せる上端部分は、ターゲット(9)を負電位に維持する
スパッタ電極(4)となっていることを特徴とする請求
項1に記載のスパッタリング用マルチターゲット装置。2. The upper part of the lift (11) on which the target (9) is placed is a sputtering electrode (4) for maintaining the target (9) at a negative potential. Multi-target device for sputtering.
ット保持部(10)以外の部分でその下のターンテーブ
ル(1)をイオン発生側に対して覆っていることを特徴
とする請求項1または2に記載のスパッタリング用マル
チターゲット装置。3. The target supporting plate (2) covers the turntable (1) below the target supporting part (10) with respect to the ion generating side at a part other than the target holding part (10). Alternatively, the multi-target device for sputtering according to the item 2.
孔(14)がターゲット保持部(10)の真下で停止し
たとき、このターンテーブル(1)をその位置に位置決
めする位置決め機構を有することを特徴とする請求項1
〜3の何れかに記載のスパッタリング用マルチターゲッ
ト装置。4. A positioning mechanism for positioning the turntable (1) at that position when the lift passage hole (14) of the turntable (1) stops immediately below the target holding portion (10). Claim 1 characterized by
A multi-target device for sputtering according to any one of 3 to 3.
の周面のリフト通過孔(14)の位置に対応して設けた
プランジャ受(7)と、このプランジャ受(7)に前後
するプランジャ(6)の先端を差し込んでターンテーブ
ル(1)を位置決めするアクチュエータ(5)とを備え
ることを特徴とする請求項4に記載のスパッタリング用
マルチターゲット装置。5. The turntable 1 comprises the positioning mechanism.
Positioning the turntable (1) by inserting the plunger receiver (7) provided corresponding to the position of the lift passage hole (14) on the peripheral surface of the and the front end of the plunger (6) forward and backward to the plunger receiver (7). The sputtering multi-target device according to claim 4, further comprising:
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|---|---|---|---|---|
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2001
- 2001-02-28 JP JP2001053385A patent/JP3498950B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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