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JP3572293B2 - Current introduction terminal and vacuum processing apparatus having the same - Google Patents
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JP3572293B2 - Current introduction terminal and vacuum processing apparatus having the same - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は電流導入端子及びこれを有する真空処理装置に関し、特にクリーニングガスのプラズマを発生させてそのラジカルによりSi膜等を除去するセルフクリーニング機能を有するプラズマCVD装置やドライエッチング装置等に適用して有用なものである。
【0002】
【従来の技術】
例えば太陽電池に用いるアモルファスシリコン膜の成膜を行う成膜装置としてプラズマCVD装置装置が知られている。従来技術に係るこの種のプラズマCVD装置の一例を図5に示す。同図に示すように、当該プラズマCVD装置は、真空容器1内に相対向して配設するとともに高周波電源2に接続した電極3、4を有している。そして、前記真空容器1内にこの場合の原料ガスとして主としてシランガス(SiH)を供給するとともに、両電極3、4間に高周波(例えば13.56MHz〜100MHz)電力を印加する。このことにより、電極3、4間に原料ガスであるシランガス(SiH)のプラズマを形成し、このとき生成する原料ガスのラジカル(主としてSiH ラジカル )を利用して基板5上にSi膜を形成する。
【0003】
ここで、当該プラズマCVD装置においては一方の電極3が原料ガスの供給手段としての機能も有する。すなわち、電極3は、外部から供給される原料ガスが流入する中空部を有するとともに、他方の電極4と相対向する面に形成した多数の孔3aを有しており、この孔3aを介して電極3、4間に原料ガスを供給するようになっている。
【0004】
他方の電極4はその表面に基板5を載置するとともに、この基板5の電極4との密着性を良好に保持するため、基板5の周辺部に当接してこれを電極4側に押圧する押え板6を有している。また、電極4はヒータ7で加温するように構成してある。電極4及び基板5を所定の温度に保持することにより基板5上の膜の形成を容易、且つ良好なものとするためである。ここで、ヒータ7は電極4の裏面側に相対向して配設してある。したがって、電極4はプラズマに対するヒータカバーとしても機能する。なお、図中、8は真空容器1内を真空に引く真空ポンプである。
【0005】
上記プラズマCVD装置において、高周波電源2は真空容器1の外部に、また電極3、4は真空容器1の内部に配設されているので、高周波電源2から電極3、4に至る電路は、真空容器1を貫通する必要がある。この貫通部分である電流導入端子部分の従来構造のものを抽出・拡大して図6に示す。同図は、図5のA部分を抽出・拡大したものである。
【0006】
図6に示すように、当該電流導入端子は、円板状の絶縁材である絶縁セラミックス11と、この絶縁セラミックス11の中央部を貫通する導電部材のロッドで形成したフィードスルー12とを有している。ここで絶縁セラミックス11はその外周面を介して導電部材である円筒状のスリーブ13の内周面に固着してあり、さらにスリーブ13はその外周面を介してフランジ部材14の中央部の孔に嵌め込んで固着してある。フランジ部材14はボルト15を介して真空容器1の壁面にその外部から固着してある。このとき、真空容器1の壁面にはその一部に孔1aが設けてあり、前記絶縁セラミックス11、フィードスルー12及びスリーブ13は前記孔1aを介して真空容器1の内部に臨んでいる。したがって、絶縁セラミックス11は、その一方の面が真空容器1の内部に臨むとともに他方の面が真空容器1の外部に臨んで、真空容器1に固定してある。また、フィードスルー12は、絶縁セラミックス11の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、その上端部及び下端部には、コネクタ(図示せず。)を介してそれぞれケーブル(図示せず。)が接続されており、これらのケーブルとともに高周波電源2(図5参照;以下同じ。)から電極3(図5参照;以下同じ。)に至る電路を構成している。また、大型の電極3では、高周波電力を均等に供給するために、ケーブル(図示せず。)を複数本用いており、このフィールドスルー12とケーブルは複数組設置してある。
【0007】
絶縁セラミックス11におけるフィードスルー12の貫通部分及び絶縁セラミックス11とスリーブ13との接触部分には、両者の密着性を良好に確保し、真空容器1内の気密を保持すべく両者を接合するためのロー付部16a、16bが形成してある。ロー付部16a、16bは、通常Ag−Cu系のろう材が使用され、しかも真空容器1の内部に臨む側(真空側)に形成される。真空側からの脱ガスを抑制するためである。なお、図6中、17はOリングで、真空容器1の気密性を確保すべくフランジ部材14と真空容器1の壁面との間に介在されている。
【0008】
上述の如きプラズマCVD装置における成膜時には、基板5以外の部分にもSi膜が成膜され、成膜処理回数を重ねる毎に成長し、真空容器1内の構成材との熱膨張率の差により剥がれ落ちて成膜中の膜の欠陥や不純物の原因となるので、定期的にクリーニング処理を行い、基板5以外の部分に付着したSi膜を除去してやる必要がある。このときのクリーニング方式の一つにセルフクリーニング方式と呼称される方式がある。このセルフクリーニング方式においては、、原料ガスの代わりにクリーニングガスである、例えばNF等のF系ガスを真空容器1内に供給して、真空容器1を開放することなく電極3、4間にそのプラズマを形成し、これにより生成するFラジカルをSi膜に作用させてSiFのガスを生成し、これを排気する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来技術に係るプラズマCVD装置におけるNFガスのプラズマを利用するクリーニング処理においては、Fラジカルが発生するが、このFラジカルが電流導入端子のロー付部16a、16bに直接作用する。ロー付部16a、16bは、真空側に臨んでいるからである。このとき、ロー付部16a、16bは、上述の如く、Ag−Cu系のろう材で形成してある。したがって、FラジカルがAgに作用してこのAgを蒸発させるばかりでなく、絶縁セラミックス11の真空容器1に臨む面(真空側の面)に薄膜として再付着し、これによりフィードスルー12とスリーブ13との間が短絡されてしまう等の不都合を生起する。すなわち、所定の絶縁を確保することができず、電気的なトラブルの原因となる。
【0010】
本発明は、上記従来技術に鑑み、真空容器内に発生するプラズマの影響を受けず長期に亘り安定した絶縁性能を保持し得る電流導入端子及びこれを有する真空処理装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明の構成は次の点を特徴とする。
【0012】
1) 基板に薄膜を形成するために所定の原料ガスを供給するか、又は真空容器内に付着した膜を除去するためのクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設けたこと。
【0013】
2) 所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらにロウ付部の表面にニッケルメッキを施したこと。
【0014】
3) 所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらにロウ付部を含む前記ロッドの表面に、このロッドを構成する材料よりも低抵抗の金属材料のメッキを施したこと。
【0015】
4) 上記3)に記載する電流導入端子において、
メッキは金メッキであること。
【0016】
5) 所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらに真空容器の外部でロッドの外周面に、内周面を密着させて配設するとともに内部に冷却媒体を流通させて前記ロッドを冷却する流路を有する絶縁材で形成した冷却ジャケットを設けたこと。
【0017】
6) 上記1)乃至5)に記載する何れか一つの電流導入端子を有すること。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。実施の形態としては電流導入端子部分のみを抽出して、当該部分についてのみ説明する。各実施の形態に係る電流導入端子は、何れも図5に示すA部分に適用され得る。すなわち、各実施の形態を適用する真空処理装置は、例えばプラズマCVD装置であり、しかもクリーニングガスであるNFガスを真空容器1内に供給して電極3、4間にそのプラズマを形成し、これにより生成するFラジカルを真空容器1内、特に電極3や基板押え板6付近に付着堆積したSi膜に作用させてSiFに変化させて真空容器1内から除去するセルフクリーニング処理を行う装置である。
【0019】
<第1の実施の形態>
図1は本発明の第1の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。同図に示すように、当該電流導入端子は、絶縁セラミックス21と導電体のロッドであるフィードスルー22との接合部及び絶縁セラミックス21とスリーブ23との接合部に、ロー付部26a、26bを設けたもので、しかもこれらのロー付部26a、26bを、真空容器1の外部側で設けたものである。他の基本的な構成は、図6に示す電流導入端子と同様である。
【0020】
すなわち、絶縁セラミックス21とフィードスルー22の接合部及び絶縁セラミックス21とスリーブ23との接合部には、両者の密着性を確保し、真空容器1の気密性を保持すべく、ロー付部26a、26bが形成してあるが、本形態におけるろう材ロー付部(通常Ag−Cu系の使用される。)26a、26bは、真空容器1の外部に臨む側(大気側)に形成してある。当該電流導入端子を適用するプラズマCVD装置では、真空ポンプ8(図5参照。)で真空容器1内を連続的に真空に引いており、絶縁セラミックス21とフィードスルー22の接合部の隙間が不純ガス溜りとなることがなく、ここからの脱ガス量を重要視する必要はないからである。
【0021】
なお、当該電流導入端子も、円板状の絶縁材である絶縁セラミックス21と、この絶縁セラミックス21の中央部を貫通する導電部材で形成したフィードスルー22とを有しており、さらに絶縁セラミックス21がその外周面を介して導電部材である円筒状のスリーブ23の内周面にロー付で固着してある。スリーブ23はその外周面を介してフランジ部材14の中央部の孔に嵌め込んで、点付け溶接にて固着してある。その他の構成は図6に示す電流導入端子と同様であるため、同一部分には、同一番号を付し、重複す説明は省略する。
【0022】
上述の如き本実施の形態に係る電流導入端子では、当該プラズマCVD装置のクリーニング時に真空側に形成されるFラジカルにロー付部26a、26bが接触することはなく、したがってこれが蒸発することもない。この結果、当該ロー付部26a、26bの長寿命化を図ることができる。
【0023】
<第2の実施の形態>
図2は本発明の第2の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。同図に示すように、当該電流導入端子は、図1に示す電流導入端子のロー付部26a、26bと同様のロー付部36a、36bの表面に、さらにNiメッキ38a、38bを施したものである。
【0024】
すなわち、絶縁セラミックス31とフィードスルー32の接合部及び絶縁セラミックス31とスリーブ33の接合部にはロー付部36a、36bが形成してあるが、本形態におけるろう材ロー付部36a、36bは、真空容器1の外部に臨む側(大気側)に形成してあるばかりでなく、これらロー付部36a、36bの表面に、さらにNiメッキ38a、38bを施してある。この場合のメッキ厚は周囲とのガスバリヤとして機能すれば良いので、1μm程度で十分である。なお、図2中、図1と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【0025】
本形態に係る電流導入端子では、図1に示す電流導入端子と同様にロー付部36a、36bがFラジカルに接触することはなく、これが蒸発することもないため、当該ロー付部36a、36bの長寿命化を図ることができる。また、ロー付部36a、36bには耐蝕性が高いNiメッキ38a、38bが施してあるので、さらにロー付部36a、36bが大気圧下で酸化等で劣化することを抑制して長寿命化を図ることができる。さらに、この場合のNiメッキ38aは、絶縁セラミックス31とフィードスルー32との間及び絶縁セラミックス31とスリーブ33との間の間隙にも入り込む。このことによっても真空側のロー付部36a、36bのFラジカルに対する耐蝕性を向上させることができる。
【0026】
<第3の実施の形態>
図3は本発明の第3の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。同図に示すように、当該電流導入端子は、図1に示す電流導入端子におけるロー付部26a、26bと同様のロー付部46a、46bの表面を含むフィードスルー42の表面及びスリーブ43の内周面に、さらにAuメッキ48a、48bを施したものである。
【0027】
すなわち、絶縁セラミックス41とフィードスルー42の接合部及び絶縁セラミックス41とスリーブ43の接合部にはロー付部46a、46bが形成してあるが、本形態におけるろう材ロー付部46a、46bは、真空容器1の外部に臨む側(大気側)に形成してあるばかりでなく、これらロー付部46a、46bの表面を含むフィードスルー42の表面及びスリーブ43の内周面に、さらにAuメッキ48a、48bが施してある。この場合のAuは化学的に安定であるばかりでなく、通常フィードスルー42よりも低抵抗である。フィードスルー42は、絶縁セラミックス41とのロー付による密着性を良好に確保すべく、通常Fe−Co系の合金で形成するからである。このように、本形態においては、原理的には、フィードスルー42よりも低抵抗の部材でメッキを施せば、特にAuメッキ48a、48bに限定する必要はない。したがって、Auメッキ48a、48bの代わりにAg、Cu、AI等のメッキでも良い。ただ、これらのメッキは、Auに比べFラジカル等に対する耐蝕性が劣る。すなわち、導電率及び耐蝕性の観点からAuメッキ48a、48bが最適である。この場合のメッキ厚は、高周波(13.56MHz〜100MHz)の高い側の周波数を印加するに際して、その表皮効果により導通抵抗を少なくするために、少なくとも10μm程度とするのが望ましい。なお、図3中、図1と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【0028】
本形態に係る電流導入端子では、図1に示す電流導入端子と同様に、真空側はロー付部46a、46bがFラジカルに接触することはなく、これが蒸発することもなく、また大気側部分が酸化することもないため、当該ロー付部46a、46bの長寿命化を図ることができる。また、ロー付部46a、46bの表面を含むフィードスルー42の表面及びスリーブ43の内周面にはフィードスルー42よりも低抵抗のAuメッキ48a、48bを施してあるので、この部分の抵抗を低減し得る。特に、高周波電源2(図5参照。)から供給される高周波電流の周波数が高くなると、表皮効果により電流がフィードスルー42の表面乃至スリーブ43の表面に集中するので、供給電流の周波数が高くなればなる程、顕著にAuメッキ48a、48bによる低抵抗化を図り得る。なお、このときAuメッキ48a、48bの範囲は、図3に示す範囲に限るものではなく、任意に選定し得る。また、フィードスルー42部分に対するAuメッキ48aのみならずスリーブ43の内周面に対してもAuメッキ48bを施したのは、フィードスルー42に接続するケーブル(図示せず。)としては、通常シールドケーブルが使用される点を考慮したものである。すなわち、当該シールドケーブルのシールド部がスリーブ43に接続される点を考慮したものである。
【0029】
<第4の実施の形態>
図4は本発明の第4の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。同図に示すように、当該電流導入端子は、図1に示す電流導入端子におけるロー付部26a、26bと同様のロー付部56a、56bの他に、真空容器1の外部でフィードスルー52を冷却する冷却ジャケット58を設けたものである。
【0030】
すなわち、絶縁セラミックス51とフィードスルー52の接合部及び絶縁セラミックス51とスリーブ53の接合部にはロー付部56a、56bが形成してあるが、さらに冷却ジャケット58を有する。この冷却ジャケット58は、真空容器1の外部でフィードスルー52の外周面に、その内周面を密着させて配設するとともに、内部に冷却媒体(冷却水)を流通させる流路58aを有し、且つ電気的接触を防止できる絶縁材で形成してある。この場合の冷却ジャケット58は、フィードスルー42の表面が通電時のジュール熱により80°C程度の高温になる場合があるので、この程度の温度に対する耐熱性を有する絶縁材料で形成する。例えばポリイミド材及びPTFE(商品名;テフロン)が好適である。なお、図4中、図1と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【0031】
本形態に係る電流導入端子では、図1に示す電流導入端子と同様に、ロー付部56a、56bがFラジカルに接触することはなく、これが蒸発することもないため、当該ロー付部56a、56bの長寿命化を図ることができる。また、通電時には冷却ジャケット58の入口58bから流路58aに冷却水等の冷却媒体を供給し、出口58cを介して流出させることができるので、この冷却媒体によりフィードスルー52を効果的に冷却することができ、このフィードスルー52部分のロー付のある付近の全ての領域において、常時80°C以下に保持することができる。Fラジカルによる腐食は100°C以下では殆ど発生しないので、このように冷却することにより、さらに確実にロー付部56a、56bの耐蝕性を向上させることができる。
【0032】
なお、上記各実施の形態の何れか2つ乃至3つ以上を組み合わせた電流導入端子を構成することも当然可能である。そしてこの組み合わせにより、各実施の形態が有する作用・効果を重畳した作用・効果を得ることができる。
【0033】
また、プラズマCVD装置等の真空処理装置の中には、電極に対する給電点を複数箇所に設けたものがある。給電点を複数箇所に設けることにより、発生するプラズマの均一化を図るためである。この場合、給電用のケーブルも多導体として対応している。このためフィードスルーもこの場合の導体の数に対応させて、複数個必要になる場合もある。この場合には絶縁セラミックス21等に必要な数のフィードスルー22等を集中的に貫通して固着し、各実施の形態と同様に構成することにより、かかる多導体仕様の電流導入端子を良好に形成することができる。この場合、各フィードスルー22等を分散配置するよりも、当然占有面積の削減を図り、合理的な真空処理装置の構造とすることができる。
【0034】
さらに、上記各実施の形態に係る電流導入端子はプラズマCVD装置に限らず、プラズマを発生させて所定の処理を行う真空処理装置に一般的に適用し得る。例えば、ドライエッチング装置及びスパッタリング装置にも同様に適用し得る。
【0035】
【発明の効果】
以上実施の形態とともに具体的に説明した通り、〔請求項1〕に記載する発明は、基板に薄膜を形成するために所定の原料ガスを供給するか、又は真空容器内に付着した膜を除去するためのクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設けたので、
真空処理装置内で発生させるプラズマによるラジカルにロー付部が接触することはなく、したがってこれが蒸発することもない。
この結果、本発明によれば、前記ロー付部の長寿命化を図ることができる。
【0036】
〔請求項2〕に記載する発明は、所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、さらにロウ付部の表面にニッケルメッキを施したので、
〔請求項1〕に記載する発明の作用・効果に加え、ロー付部には耐蝕性が高いニッケルメッキによりさらにロー付部の長寿命化を図ることができる。さらに、この場合のニッケルメッキは、絶縁材とロッドとの間の間隙にも入り込むので、このことによってもロー付部の耐蝕性を向上させることができる。
【0037】
〔請求項3〕に記載する発明は、所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、さらにロウ付部を含む前記ロッドの表面に、このロッドを構成する材料よりも低抵抗の金属材料のメッキを施したので、
〔請求項1〕に記載する発明の作用・効果に加え、ロー付部の表面を含むロッドの表面にはロッドよりも低抵抗の金属材料のメッキを施してことにより、この部分の抵抗を低減し得る。特に、高周波電源から供給される高周波電流の周波数が高くなった場合の表皮効果による影響を除去して良好な通電を行うことができる。
【0038】
〔請求項4〕に記載する発明は、〔請求項3〕に記載する電流導入端子において、メッキは金メッキであるので、
〔請求項3〕に記載する発明におけるロッドの低抵抗を確保した上で化学的な安定性も最も優れたものとすることができる。すなわち、〔請求項3〕に記載する発明の効果を最も顕著に発揮させることができる。
【0039】
〔請求項5〕に記載する発明は、所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、さらに真空容器の外部でロッドの外周面に、内周面を密着させて配設するとともに内部に冷却媒体を流通させて前記ロッドを冷却する流路を有する絶縁材で形成した冷却ジャケットを設けたので、
〔請求項1〕に記載する発明の作用・効果に加え、通電時には冷却ジャケットの入口から流路に冷却水等の冷却媒体を供給し、出口を介して流出させることができる結果、この冷却媒体によりロッドを効果的に冷却することができ、このロッド部分を所定の低温に保持することができる。この結果、当該低温域では、ラジカルによる腐食が殆ど発生しないことを利用してさらに確実にロー付部の耐蝕性を向上させることができる。
【0040】
〔請求項6〕に記載する発明は、〔請求項1〕乃至〔請求項5〕に記載する何れか一つの電流導入端子を有するので、
〔請求項1〕乃至〔請求項5〕に記載する電流導入端子の作用・効果に基づき当該部分の寿命が伸びることにより、電気的なトラブルのない当該真空処理装置の運転を長期に亘り継続することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態に係る電流導入端子を示す断面図である。
【図5】従来技術に係るプラズマCVD装置を概念的に示す説明図である。
【図6】図5のA部分である従来構造の電流導入端子を抽出して断面図である。
【符号の説明】
1 真空容器
2 高周波電源
3、4 電極
22、32、42、52 フィードスルー
23、33、43、53 スリーブ
26a、36a、46a、56a ロー付部
26b、36b、46b、56b ロー付部
38a、38b Niメッキ
48a、48b Auメッキ
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a current introduction terminal and a vacuum processing apparatus having the same, and more particularly, to a plasma CVD apparatus or a dry etching apparatus having a self-cleaning function of generating plasma of a cleaning gas and removing a Si film or the like by radicals thereof. It is useful.
[0002]
[Prior art]
For example, a plasma CVD apparatus is known as a film forming apparatus for forming an amorphous silicon film used for a solar cell. FIG. 5 shows an example of this type of plasma CVD apparatus according to the related art. As shown in FIG. 1, the plasma CVD apparatus has electrodes 3 and 4 which are disposed in a vacuum vessel 1 so as to face each other and are connected to a high frequency power supply 2. In the vacuum vessel 1, silane gas (SiH) is mainly used as a source gas in this case. 4 ) And a high frequency (for example, 13.56 MHz to 100 MHz) power is applied between the electrodes 3 and 4. As a result, the silane gas (SiH 4 ) Is formed, and radicals (primarily SiH 3 A Si film is formed on the substrate 5 by utilizing a radical.
[0003]
Here, in the plasma CVD apparatus, one electrode 3 also has a function as a source gas supply unit. That is, the electrode 3 has a hollow portion into which a raw material gas supplied from the outside flows, and has a large number of holes 3a formed on a surface facing the other electrode 4, and through this hole 3a A source gas is supplied between the electrodes 3 and 4.
[0004]
The other electrode 4 places the substrate 5 on its surface and contacts the peripheral portion of the substrate 5 to press it toward the electrode 4 in order to maintain good adhesion between the substrate 5 and the electrode 4. It has a holding plate 6. The electrode 4 is configured to be heated by the heater 7. This is because by maintaining the electrode 4 and the substrate 5 at a predetermined temperature, the formation of a film on the substrate 5 is facilitated and excellent. Here, the heater 7 is disposed on the back side of the electrode 4 so as to face each other. Therefore, the electrode 4 also functions as a heater cover for plasma. In the figure, reference numeral 8 denotes a vacuum pump for evacuating the vacuum chamber 1.
[0005]
In the above-mentioned plasma CVD apparatus, since the high-frequency power supply 2 is provided outside the vacuum vessel 1 and the electrodes 3 and 4 are provided inside the vacuum vessel 1, the electric path from the high-frequency power supply 2 to the electrodes 3 and 4 is a vacuum. It is necessary to penetrate the container 1. FIG. 6 shows an extracted and enlarged view of the conventional structure of the current introduction terminal portion which is the penetrating portion. This figure is an extracted and enlarged part A of FIG.
[0006]
As shown in FIG. 6, the current introduction terminal has an insulating ceramic 11 which is a disc-shaped insulating material, and a feedthrough 12 formed by a rod of a conductive member penetrating the center of the insulating ceramic 11. ing. Here, the insulating ceramic 11 is fixed to the inner peripheral surface of a cylindrical sleeve 13 which is a conductive member via the outer peripheral surface, and the sleeve 13 is connected to the hole at the center of the flange member 14 via the outer peripheral surface. It is fitted and fixed. The flange member 14 is fixed to the wall surface of the vacuum vessel 1 from outside through a bolt 15. At this time, a hole 1a is provided in a part of the wall surface of the vacuum vessel 1, and the insulating ceramics 11, the feedthrough 12, and the sleeve 13 face the inside of the vacuum vessel 1 through the hole 1a. Therefore, the insulating ceramic 11 is fixed to the vacuum container 1 with one surface facing the inside of the vacuum container 1 and the other surface facing the outside of the vacuum container 1. The feedthrough 12 extends from the atmosphere side to the vacuum side through the central portion of the insulating ceramic 11, and has a cable (not shown) at its upper end and lower end via a connector (not shown). .) Are connected, and together with these cables, constitute an electric path from the high-frequency power supply 2 (see FIG. 5; the same applies hereinafter) to the electrode 3 (see FIG. 5; the same applies hereinafter). The large-sized electrode 3 uses a plurality of cables (not shown) in order to evenly supply high-frequency power, and a plurality of pairs of the field through 12 and the cables are provided.
[0007]
At the penetrating portion of the feed-through 12 in the insulating ceramic 11 and the contact portion between the insulating ceramic 11 and the sleeve 13, the two are joined to ensure good adhesion between them and maintain the airtight inside the vacuum vessel 1. Brazing portions 16a and 16b are formed. The brazing portions 16a and 16b are usually made of an Ag-Cu brazing material, and are formed on the side facing the inside of the vacuum vessel 1 (vacuum side). This is for suppressing outgassing from the vacuum side. In FIG. 6, reference numeral 17 denotes an O-ring, which is interposed between the flange member 14 and the wall surface of the vacuum vessel 1 in order to secure the airtightness of the vacuum vessel 1.
[0008]
At the time of film formation in the plasma CVD apparatus as described above, a Si film is also formed on a portion other than the substrate 5 and grows as the number of film forming processes is repeated. Therefore, it is necessary to periodically perform a cleaning process to remove the Si film adhering to portions other than the substrate 5 because the film is peeled off and causes defects and impurities in the film being formed. One of the cleaning methods at this time is a method called a self-cleaning method. In this self-cleaning method, a cleaning gas, such as NF, is used instead of the source gas. 3 Is supplied into the vacuum vessel 1 to form the plasma between the electrodes 3 and 4 without opening the vacuum vessel 1, and the F radicals generated thereby act on the Si film to produce SiF. 4 Gas is generated and exhausted.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
NF in the plasma CVD apparatus according to the above prior art 3 In the cleaning process using the gas plasma, F radicals are generated, and the F radicals directly act on the brazing portions 16a and 16b of the current introducing terminals. This is because the brazing portions 16a and 16b face the vacuum side. At this time, the brazing portions 16a and 16b are formed of an Ag-Cu brazing material as described above. Therefore, the F radicals not only act on the Ag to evaporate the Ag, but also re-adhere as a thin film on the surface of the insulating ceramic 11 facing the vacuum vessel 1 (the surface on the vacuum side). This causes inconveniences such as short-circuiting. That is, predetermined insulation cannot be ensured, which causes electrical trouble.
[0010]
In view of the above prior art, an object of the present invention is to provide a current introduction terminal capable of maintaining stable insulation performance for a long period without being affected by plasma generated in a vacuum vessel, and a vacuum processing apparatus having the same. I do.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The configuration of the present invention that achieves the above object has the following features.
[0012]
1) A predetermined raw material gas is supplied to form a thin film on a substrate, or a cleaning gas for removing a film adhered in a vacuum container is supplied between electrodes provided in a vacuum container. A vacuum processing apparatus for applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel to form a plasma of a source gas or a cleaning gas between the electrodes to perform a predetermined process such as film formation or cleaning. Current introduction terminal of
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove a gap between the insulating material and the rod, a brazing portion for joining the rod and the rod is provided outside the vacuum vessel.
[0013]
2) By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel to between the electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied, A current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs a predetermined process such as film formation or cleaning by forming a plasma of a source gas or a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
In addition, nickel plating was applied to the surface of the brazed part.
[0014]
3) By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel to between the electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined source gas or cleaning gas is supplied, A current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs a predetermined process such as film formation or cleaning by forming a plasma of a source gas or a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
Further, the surface of the rod including the brazed portion is plated with a metal material having a lower resistance than the material constituting the rod.
[0015]
4) In the current introduction terminal described in 3) above,
The plating shall be gold plating.
[0016]
5) By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel to between the electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied, A current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs a predetermined process such as film formation or cleaning by forming a plasma of a source gas or a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
Further, a cooling jacket formed of an insulating material having a flow path for cooling the rod by distributing a cooling medium therein and disposing a cooling medium inside was provided on the outer peripheral surface of the rod outside the vacuum vessel. thing.
[0017]
6) Having any one of the current introduction terminals described in 1) to 5) above.
[0018]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. As an embodiment, only the current introduction terminal portion is extracted, and only the relevant portion will be described. Each of the current introduction terminals according to the embodiments can be applied to the portion A shown in FIG. That is, the vacuum processing apparatus to which each embodiment is applied is, for example, a plasma CVD apparatus, and furthermore, NF which is a cleaning gas. 3 A gas is supplied into the vacuum vessel 1 to form a plasma between the electrodes 3 and 4, and the generated F radicals are deposited on the Si film deposited and deposited in the vacuum vessel 1, especially near the electrode 3 and the substrate holding plate 6. Act on SiF 4 This is a device for performing a self-cleaning process of removing from the inside of the vacuum vessel 1 by changing to
[0019]
<First embodiment>
FIG. 1 is a sectional view showing a current introduction terminal according to the first embodiment of the present invention. As shown in the figure, the current introduction terminal is provided with brazing portions 26a and 26b at a joining portion between the insulating ceramics 21 and the feedthrough 22 which is a conductor rod and a joining portion between the insulating ceramics 21 and the sleeve 23. The brazing portions 26a and 26b are provided outside the vacuum vessel 1. Other basic configurations are the same as those of the current introduction terminal shown in FIG.
[0020]
That is, at the joint between the insulating ceramics 21 and the feedthrough 22 and at the joint between the insulating ceramics 21 and the sleeve 23, the brazing portions 26a, Although the brazing material 26b is formed, the brazing material brazing portions (usually of an Ag-Cu type) 26a and 26b in the present embodiment are formed on the side facing the outside of the vacuum vessel 1 (atmosphere side). . In the plasma CVD apparatus to which the current introduction terminal is applied, the inside of the vacuum vessel 1 is continuously evacuated by the vacuum pump 8 (see FIG. 5), and the gap between the joint between the insulating ceramic 21 and the feedthrough 22 is impure. This is because there is no gas accumulation and there is no need to attach importance to the amount of degassing from here.
[0021]
The current introduction terminal also has an insulating ceramic 21 which is a disc-shaped insulating material, and a feedthrough 22 formed of a conductive member penetrating the center of the insulating ceramic 21. Is fixed to the inner peripheral surface of a cylindrical sleeve 23 which is a conductive member by brazing via the outer peripheral surface. The sleeve 23 is fitted into a hole at the center of the flange member 14 via its outer peripheral surface, and is fixed by spot welding. Other configurations are the same as those of the current introduction terminal shown in FIG. 6, and therefore, the same portions are denoted by the same reference numerals and overlapping description will be omitted.
[0022]
In the current introduction terminal according to the present embodiment as described above, the brazed portions 26a and 26b do not come into contact with the F radical formed on the vacuum side during the cleaning of the plasma CVD apparatus, and therefore, do not evaporate. . As a result, the life of the brazed portions 26a and 26b can be extended.
[0023]
<Second embodiment>
FIG. 2 is a sectional view showing a current introduction terminal according to the second embodiment of the present invention. As shown in the figure, the current introducing terminal is obtained by further applying Ni plating 38a, 38b on the surface of brazing portions 36a, 36b similar to the brazing portions 26a, 26b of the current introducing terminal shown in FIG. It is.
[0024]
That is, the brazing portions 36a and 36b are formed at the joint between the insulating ceramics 31 and the feed-through 32 and the joining portion between the insulating ceramics 31 and the sleeve 33. In addition to being formed on the side (atmosphere side) facing the outside of the vacuum vessel 1, Ni platings 38a and 38b are further applied to the surfaces of the brazed portions 36a and 36b. In this case, the plating thickness is sufficient to function as a gas barrier with the surroundings, so that about 1 μm is sufficient. In FIG. 2, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
[0025]
In the current introducing terminal according to the present embodiment, similarly to the current introducing terminal shown in FIG. 1, the brazed portions 36a and 36b do not come into contact with the F radicals and do not evaporate, so that the brazed portions 36a and 36b Life can be extended. Also, since the brazing portions 36a, 36b are coated with Ni plating 38a, 38b having high corrosion resistance, the brazing portions 36a, 36b are further prevented from being deteriorated by oxidation or the like under the atmospheric pressure, and the life is extended. Can be achieved. Further, the Ni plating 38a in this case also enters the gap between the insulating ceramics 31 and the feedthrough 32 and the gap between the insulating ceramics 31 and the sleeve 33. This also makes it possible to improve the corrosion resistance of the vacuum-side brazing portions 36a and 36b to F radicals.
[0026]
<Third embodiment>
FIG. 3 is a sectional view showing a current introduction terminal according to the third embodiment of the present invention. As shown in the drawing, the current introduction terminal is formed on the surface of the feedthrough 42 including the surfaces of the brazed portions 46a and 46b similar to the brazed portions 26a and 26b in the current introduction terminal shown in FIG. Au plating 48a, 48b is further applied to the peripheral surface.
[0027]
That is, the brazing portions 46a and 46b are formed at the joining portion between the insulating ceramics 41 and the feedthrough 42 and the joining portion between the insulating ceramics 41 and the sleeve 43. In addition to being formed on the side facing the outside of the vacuum vessel 1 (atmospheric side), Au plating 48a is further formed on the surface of the feedthrough 42 including the surfaces of the brazing portions 46a and 46b and the inner peripheral surface of the sleeve 43. , 48b. Au in this case is not only chemically stable, but also has a lower resistance than the normal feedthrough 42. This is because the feedthrough 42 is usually formed of an Fe—Co alloy in order to ensure good adhesion to the insulating ceramic 41 by brazing. In this manner, in the present embodiment, in principle, if plating is performed with a member having a lower resistance than the feedthrough 42, there is no need to particularly limit to the Au platings 48a and 48b. Therefore, plating of Ag, Cu, AI, or the like may be used instead of the Au plating 48a, 48b. However, these platings have lower corrosion resistance to F radicals and the like than Au. That is, the Au platings 48a and 48b are optimal from the viewpoints of conductivity and corrosion resistance. In this case, the plating thickness is desirably at least about 10 μm in order to reduce the conduction resistance by the skin effect when a high frequency (13.56 MHz to 100 MHz) is applied. In FIG. 3, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.
[0028]
In the current introducing terminal according to the present embodiment, similarly to the current introducing terminal shown in FIG. 1, the brazing portions 46a and 46b do not come into contact with the F radicals on the vacuum side, they do not evaporate, and the atmosphere side portion. Is not oxidized, so that the life of the brazed portions 46a and 46b can be extended. Also, Au plating 48a, 48b having a lower resistance than the feedthrough 42 is applied to the surface of the feedthrough 42 including the surfaces of the brazing portions 46a, 46b and the inner peripheral surface of the sleeve 43. Can be reduced. In particular, when the frequency of the high-frequency current supplied from the high-frequency power supply 2 (see FIG. 5) increases, the current concentrates on the surface of the feedthrough 42 or the surface of the sleeve 43 due to the skin effect, so that the frequency of the supplied current increases. The lower the resistance, the more significantly the Au plating 48a, 48b can reduce the resistance. At this time, the range of the Au platings 48a and 48b is not limited to the range shown in FIG. 3, but may be arbitrarily selected. Further, the Au plating 48b is applied not only to the Au plating 48a on the feedthrough 42 part but also to the inner peripheral surface of the sleeve 43 because the cable (not shown) connected to the feedthrough 42 is usually a shield. This takes into account that a cable is used. That is, the point that the shield part of the shielded cable is connected to the sleeve 43 is taken into consideration.
[0029]
<Fourth embodiment>
FIG. 4 is a sectional view showing a current introduction terminal according to the fourth embodiment of the present invention. As shown in the drawing, the current introduction terminal is connected to a feedthrough 52 outside the vacuum vessel 1 in addition to the brazing portions 56a and 56b similar to the brazing portions 26a and 26b in the current introduction terminal shown in FIG. A cooling jacket 58 for cooling is provided.
[0030]
That is, the brazing portions 56a and 56b are formed at the joint between the insulating ceramics 51 and the feedthrough 52 and the joint between the insulating ceramics 51 and the sleeve 53, and further have a cooling jacket 58. The cooling jacket 58 is disposed outside the vacuum vessel 1 on the outer peripheral surface of the feed-through 52 with its inner peripheral surface being in close contact with the feedthrough 52, and has a flow path 58a through which a cooling medium (cooling water) flows. And an insulating material capable of preventing electrical contact. In this case, the cooling jacket 58 is formed of an insulating material having heat resistance to about 80 ° C. because the surface of the feedthrough 42 may become high at about 80 ° C. due to Joule heat during energization. For example, a polyimide material and PTFE (trade name: Teflon) are suitable. In FIG. 4, the same portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.
[0031]
In the current introduction terminal according to the present embodiment, similarly to the current introduction terminal shown in FIG. 1, the brazed portions 56a and 56b do not come into contact with the F radicals and do not evaporate. The life of 56b can be extended. Further, at the time of energization, a cooling medium such as cooling water can be supplied from the inlet 58b of the cooling jacket 58 to the flow path 58a and discharged through the outlet 58c, so that the feedthrough 52 is effectively cooled by the cooling medium. The temperature can be kept at 80 ° C. or lower in all the areas near the brazing of the feedthrough 52 portion. Since corrosion due to F radicals hardly occurs at 100 ° C. or lower, by cooling in this way, the corrosion resistance of the brazed portions 56a and 56b can be more reliably improved.
[0032]
Note that it is naturally possible to configure a current introduction terminal in which any two to three or more of the above embodiments are combined. By this combination, it is possible to obtain the operation and effect obtained by superimposing the operation and effect of each embodiment.
[0033]
Some vacuum processing apparatuses such as a plasma CVD apparatus have a plurality of power supply points for electrodes. This is because, by providing the feeding points at a plurality of locations, the generated plasma is made uniform. In this case, the power supply cable also corresponds to a multiconductor. For this reason, a plurality of feedthroughs may be required in correspondence with the number of conductors in this case. In this case, the necessary number of feedthroughs 22 and the like are intensively penetrated and fixed to the insulating ceramics 21 and the like, and the configuration is the same as that of each embodiment. Can be formed. In this case, it is possible to reduce the occupied area and to obtain a reasonable structure of the vacuum processing apparatus, as compared with the case where the feedthroughs 22 and the like are distributed.
[0034]
Further, the current introduction terminal according to each of the above-described embodiments is not limited to a plasma CVD apparatus, but can be generally applied to a vacuum processing apparatus that performs a predetermined process by generating plasma. For example, the present invention can be similarly applied to a dry etching apparatus and a sputtering apparatus.
[0035]
【The invention's effect】
As described in detail with the above embodiments, the invention described in [Claim 1] supplies a predetermined source gas for forming a thin film on a substrate or removes a film adhered in a vacuum vessel. By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel to between the electrodes provided in a vacuum vessel to which a cleaning gas for supplying the cleaning gas is supplied, the source gas or cleaning is performed between the electrodes. A current introduction terminal of a vacuum processing apparatus for performing a predetermined process such as film formation or cleaning by forming a plasma of a gas, wherein one surface faces the inside of the vacuum container and the other surface faces the outside of the vacuum container. An insulating material fixed to the vacuum vessel and a conductor rod that penetrates the center of the insulating material, extends from the atmosphere side to the vacuum side, and becomes a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode. Yes Rutotomoni, the brazing portion joining both to eliminate the gap between the insulating member and the rod, since there is provided outside the vacuum vessel,
The brazed portion does not come into contact with radicals generated by plasma generated in the vacuum processing apparatus, and therefore does not evaporate.
As a result, according to the present invention, it is possible to extend the life of the brazed portion.
[0036]
[Claim 2] The invention according to claim 2, wherein a high-frequency voltage is supplied from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied. By applying a voltage, a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus for forming a plasma of a source gas or a cleaning gas between the electrodes and performing a predetermined process such as film formation or cleaning, and one surface of which is inside the vacuum vessel And the other surface faces the outside of the vacuum vessel and is fixed to the vacuum vessel, and the insulating material penetrates a central portion of the insulating material to reach the vacuum side from the atmosphere side. A conductor rod which is a part of an electric path leading to the conductor, and a brazing part for joining the insulating material and the rod to remove the gap between the rod and the rod is provided outside the vacuum vessel. of Since a nickel-plated on the surface,
In addition to the functions and effects of the invention described in [Claim 1], it is possible to further extend the life of the brazed portion by nickel plating having high corrosion resistance on the brazed portion. Further, since the nickel plating in this case also enters the gap between the insulating material and the rod, the corrosion resistance of the brazed portion can be improved also by this.
[0037]
The invention described in [Claim 3] is characterized in that a high frequency voltage is supplied from a high frequency power supply provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or cleaning gas is supplied. By applying a voltage, a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus for forming a plasma of a source gas or a cleaning gas between the electrodes and performing a predetermined process such as film formation or cleaning, and one surface of which is inside the vacuum vessel And the other surface faces the outside of the vacuum vessel and is fixed to the vacuum vessel, and the insulating material penetrates a central portion of the insulating material to reach the vacuum side from the atmosphere side. A conductor rod which is a part of an electric path leading to the conductor, and a brazing part for joining the insulating material and the rod to remove the gap between the rod and the rod is provided outside the vacuum vessel. To The surface free the rod, since plated with low-resistance metal material than the material constituting the rod,
In addition to the functions and effects of the invention described in [Claim 1], the surface of the rod including the surface of the brazed portion is plated with a metal material having a lower resistance than the rod, thereby reducing the resistance of this portion. I can do it. In particular, good energization can be performed by removing the influence of the skin effect when the frequency of the high-frequency current supplied from the high-frequency power supply increases.
[0038]
In the invention described in [Claim 4], the plating is gold plating in the current introducing terminal described in [Claim 3].
In the invention described in [Claim 3], it is possible to secure the low resistance of the rod and to make the rod the most excellent in chemical stability. That is, the effects of the invention described in [Claim 3] can be most remarkably exhibited.
[0039]
The invention described in [Claim 5] is characterized in that a high-frequency voltage is supplied from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied. By applying a voltage, a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus for forming a plasma of a source gas or a cleaning gas between the electrodes and performing a predetermined process such as film formation or cleaning, and one surface of which is inside the vacuum vessel And the other surface faces the outside of the vacuum vessel and is fixed to the vacuum vessel, and the insulating material penetrates a central portion of the insulating material to reach the vacuum side from the atmosphere side. A conductor rod which is a part of an electric circuit leading to the conductor, and a brazing portion for joining the insulating material and the rod to remove the gap between the rod and the conductor is provided outside the vacuum vessel. The outer peripheral surface of the rod section, since the cooling jacket formed of an insulating material having a flow path for cooling the rod by circulating the cooling medium in the interior as well as arranged in close contact with the inner peripheral surface provided,
In addition to the functions and effects of the invention described in claim 1, a cooling medium such as cooling water can be supplied to the flow path from the inlet of the cooling jacket at the time of energization, and can be discharged through the outlet. Thus, the rod can be cooled effectively, and the rod portion can be kept at a predetermined low temperature. As a result, in the low temperature range, the corrosion resistance of the brazed portion can be more reliably improved by utilizing the fact that corrosion due to radicals hardly occurs.
[0040]
Since the invention described in [Claim 6] has any one of the current introduction terminals described in [Claim 1] to [Claim 5],
The operation of the vacuum processing apparatus without electrical trouble is continued for a long period of time by extending the life of the portion based on the operation and effect of the current introduction terminal described in [Claim 1] to [Claim 5]. be able to.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a current introduction terminal according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a sectional view showing a current introduction terminal according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a sectional view showing a current introduction terminal according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a sectional view showing a current introduction terminal according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an explanatory view conceptually showing a plasma CVD apparatus according to a conventional technique.
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a current introduction terminal having a conventional structure, which is a portion A in FIG.
[Explanation of symbols]
1 vacuum container
2 High frequency power supply
3, 4 electrodes
22, 32, 42, 52 Feedthrough
23, 33, 43, 53 Sleeve
26a, 36a, 46a, 56a Brazing part
26b, 36b, 46b, 56b Brazing part
38a, 38b Ni plating
48a, 48b Au plating

Claims (6)

基板に薄膜を形成するために所定の原料ガスを供給するか、又は真空容器内に付着した膜を除去するためのクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設けたことを特徴とする電流導入端子。
A predetermined source gas is supplied to form a thin film on the substrate, or the vacuum is applied between electrodes provided in a vacuum container to which a cleaning gas for removing a film attached to the vacuum container is supplied. By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power supply provided outside the container, a plasma of a source gas or a cleaning gas is formed between the electrodes to perform a predetermined process such as film formation or cleaning. An introduction terminal,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
A current introduction terminal, wherein a brazing portion for joining the insulating material and the rod to remove a gap therebetween is provided outside the vacuum vessel.
所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらにロウ付部の表面にニッケルメッキを施したことを特徴とする電流導入端子。
By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied, the source gas is supplied between the electrodes. Or a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs predetermined processing such as film formation or cleaning by forming plasma of a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
A current introduction terminal characterized in that the surface of the brazed portion is plated with nickel.
所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらにロウ付部を含む前記ロッドの表面に、このロッドを構成する材料よりも低抵抗の金属材料のメッキを施したことを特徴とする電流導入端子。
By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied, the source gas is supplied between the electrodes. Or a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs predetermined processing such as film formation or cleaning by forming plasma of a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
A current introduction terminal, wherein a surface of the rod including a brazed portion is plated with a metal material having a lower resistance than a material constituting the rod.
〔請求項3〕に記載する電流導入端子において、
メッキは金メッキであることを特徴とする電流導入端子。
In the current introducing terminal according to claim 3,
A current introduction terminal characterized in that plating is gold plating.
所定の原料ガス又はクリーニングガスが供給される真空容器内に配設される電極間に、前記真空容器の外部に配設された高周波電源から高周波電圧を印加することにより、前記電極間に原料ガス又はクリーニングガスのプラズマを形成して成膜又はクリーニング等の所定の処理を行う真空処理装置の電流導入端子であって、
一方の面が前記真空容器内に臨むとともに他方の面が前記真空容器外に臨んでこの真空容器に固定された絶縁材と、
この絶縁材の中央部を貫通して大気側から真空側に至り、前記高周波電源から前記電極に至る電路の一部となる導電体のロッドとを有するとともに、
前記絶縁材とロッドとの間の間隙を除去するため両者を接合するロウ付部を、真空容器の外部に設け、
さらに真空容器の外部でロッドの外周面に、内周面を密着させて配設するとともに内部に冷却媒体を流通させて前記ロッドを冷却する流路を有する絶縁材で形成した冷却ジャケットを設けたことを特徴とする電流導入端子。
By applying a high-frequency voltage from a high-frequency power source provided outside the vacuum vessel between electrodes provided in a vacuum vessel to which a predetermined raw material gas or a cleaning gas is supplied, the source gas is supplied between the electrodes. Or a current introduction terminal of a vacuum processing apparatus that performs predetermined processing such as film formation or cleaning by forming plasma of a cleaning gas,
An insulating material fixed to the vacuum container with one surface facing the inside of the vacuum container and the other surface facing the outside of the vacuum container,
A conductor rod extending from the atmosphere side to the vacuum side through the center portion of the insulating material and serving as a part of an electric path from the high-frequency power supply to the electrode;
In order to remove the gap between the insulating material and the rod, a brazing portion that joins both is provided outside the vacuum vessel,
Further, a cooling jacket formed of an insulating material having a flow path for cooling the rod by distributing a cooling medium therein and disposing a cooling medium inside was provided on the outer peripheral surface of the rod outside the vacuum vessel. A current introduction terminal, characterized in that:
〔請求項1〕乃至〔請求項5〕に記載する何れか一つの電流導入端子を有することを特徴とする真空処理装置。[Claim 1] A vacuum processing apparatus having any one of the current introduction terminals according to any one of [1] to [5].
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