JP3669553B2 - Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate - Google Patents
Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate Download PDFInfo
- Publication number
- JP3669553B2 JP3669553B2 JP32292398A JP32292398A JP3669553B2 JP 3669553 B2 JP3669553 B2 JP 3669553B2 JP 32292398 A JP32292398 A JP 32292398A JP 32292398 A JP32292398 A JP 32292398A JP 3669553 B2 JP3669553 B2 JP 3669553B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photosensitive drum
- substrate
- drum
- drum base
- drum substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光のような電磁波に対して感受性を有し、電子写真方式の複写機やプリンタ、ファクシミリ等に使用される感光体ドラムを構成するドラム基体、及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
感光体ドラムを用いる複写機等の画像形成装置によって形成される画像を鮮明かつ濃度が均一なものとするためには、感光体ドラム上の感光層の厚さが、アルミニウム等の導電性材料からなる感光体ドラム全面にわたって均一なことが必要である。そのため感光体ドラムとなるアルミニウム等のドラム基体表面をダイヤモンドバイト等により旋削加工して鏡面仕上げした後、表面粗さ計による断面曲線測定や目視による外観検査を行い、ドラム基体の平坦度の評価を行っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記の外観検査を伴う従来のドラム基体製造には、以下のような問題がある。まずドラム基体表面を旋削加工する場合、アルミニウム等の導電性材料の形状精度や均質性、加工機械の振動、加工治具の精度等が影響し、全面均一な面を得ることは困難である。つまり、ダイヤモンドバイト等による旋削で、基体の表面には微小な鏡面凹凸が形成されるが、この凹凸が規則的に交互に並んでいない異常表面部が形成され、不良品が流出することがある。
【0004】
不良品のドラム基体に感光層がコーティングされるという無駄をなくすため、表面粗さ計による断面曲線測定を行い、ドラム基体表面に要求される均一な面を評価するには、表面粗さ計の縦倍率を5千倍以上に拡大する必要があり、測定倍率が高いためドラム基体を保持する専用の保持具が必要で、測定時間も長くなるという問題がある。
【0005】
また、この表面粗さ計による測定は、その測定倍率からドラム基体表面全体の一部しか測定できず、表面粗さ計では、表面の異常箇所すべてを検出することが不可能で、結局不良品が流出する可能性があるという問題もある。
【0006】
一方、目視による外観検査の場合には、ドラム基体に使用されるアルミニウムの旋削加工には旋削加工油が必要で、旋削工程後のドラム基体表面には鏡面に旋削加工油が付着しており、目視では表面異常部の検出が難しく、やはり不良品が流出する可能性があるという問題がある。
【0007】
そこで、本発明の目的は、感光体ドラム基体の表面の異常の検査を容易に行うことができ、不良品の流出防止が容易で、不良コストの低減に通じる感光体ドラム基体を製造するのに用いるのに好適な表面検査方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の表面検査方法は、感光体ドラム基体の旋削で形成された凹凸からなる鏡面の少なくとも一部を旋削方向に対して直角方向に研磨して凸部のみを粗面化することにより、粗面部と鏡面部とが規則正しく配列されているか否かを観察し、感光体基体の表面の異常を検査することを特徴とする。
【0009】
上記目的を達成する感光体ドラム基体の製造方法は、基体の外周表面を旋削して凹凸からなる鏡面とする感光体ドラム基体の製造方法であって、上記鏡面の少なくとも一部を、その旋削方向に対し直角方向に研磨して上記凸部のみを粗面化することを特徴としている。
【0010】
上記凸部を、表面に研磨剤が固着された樹脂製フィルムにより研磨するとしてもよく、また、上記研磨剤として酸化アルミニウムを用いることができる。また、上記研磨剤の平均粒径を、11.5μm〜14.5μmとするとよい。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
図1は、本実施例の感光体ドラム基体を示す斜視図である。まず、ドラム基体1の材料となる押しだし引き抜きされたアルミニウム合金パイプを、ダイヤモンドバイトで旋削加工し、外周表面を高い精度で均一化して微小な凹凸からなる鏡面としたドラム基体1を形成する。そして、次に説明する粗面化工程によりドラム基体1表面を検査可能な状態とし、これを感光層のコーティング前のドラム基体1として用いる。
【0012】
検査のための研磨に使用する樹脂製フィルム2として、例えば住友スリーエム社製インペリアルラッピングフィルムで粒度12μmのもの等を用いることができる。この樹脂製フィルム2の研磨剤の平均粒径は、感光体ドラムとして11.5μm〜14.5μmとすることが好ましい。これは、感光体ドラムとしての機能に影響のない範囲で、後述の外観検査可能な程度に粗面化するためである。
【0013】
なお、ダイヤモンドバイトによるドラム基体1表面の旋削加工は、一般に旋削加工速度が10m/秒と非常に速い。本実施例では0.012秒/1回転で旋削しており、表面の異常部は基体を2〜3周することとなる。したがって、表面波形の乱れはドラム基体1の周方向一部を観察すればその全周の状態をつかむことができる。
【0014】
図1に示すように、検査のための研磨は、指先に樹脂製フィルム2を保持してドラム基体1の鏡面に対し軸方向に1回だけ行う。具体的には、ドラム基体1の表面に研磨剤が接着された樹脂製フィルム2を押し当て、ドラム基体1面の曲率に応じて変形させておき、これをドラム基体1の外周方向に沿う旋削方向(図中矢印方向X)に対して直角方向Yに移動させる。
【0015】
この樹脂製フィルム2の移動により、ドラム基体1の表面の微小凸部が粗面化される。粗面化された面は、鏡面から白色の面となる。図1中の符号3は鏡面部分を、符号4は白色部分が現れる部分を示す。なお、樹脂製フィルム2を用いるので紙粉の発生はなく、ドラム基体1に異物が付着することはないが、切粉の異物が付着するようであれば、洗浄で落としておけばよい。
【0016】
図2は、ドラム基体1の表面部を軸方向で切断した拡大断面図である。研磨により白色となる部分は、ドラム基体1表面の凸部5の頂点近傍部分5aのみで、凹部6内は粗面化されず鏡面のまま残る。また、頂点近傍部分5aを粗面化する研磨剤は樹脂製フィルム2に接着し固着されているため、研磨時に微小凹部6内に研磨剤が入り込むことはなく、凹部6の鏡面が白色化されることはない。
【0017】
この状態で研磨した表面を観察すると、正常な表面では凸部5の白色部分と凹部6の鏡面部分とが規則正しく交互に並ぶ状態が観察されるが、異常な表面では凸部5の白色部分と凹部6の鏡面部分とが不規則に並ぶ状態が見られる。このように一回の研磨により外観から容易に異常な表面部を検出できるようになった。
【0018】
粗面化される頂点近傍部分5aの大きさは、凸部5の大きさに比べて非常に小さいので、ドラム基体1表面への影響は僅かであり、図3に示すように、ドラム基体1の表面に感光層7をコーティングすれば、感光体ドラムとして十分使用可能である。
【0019】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、鏡面とした外周表面の少なくとも一部を、その旋削方向に対し直角方向に研磨することで上記鏡面の凹凸の凸部のみが粗面化されるので、凹部は粗面化されず鏡面のままとなり、正常な表面では凸部(粗面部)と凹部(鏡面部)とが規則正しく交互に並び、異常な表面では凸部(粗面部)と凹部(鏡面部)とが不規則に並ぶようになるので、このような凸部と凹部の並び状態を観察することでドラム基体表面の異常を容易に発見でき、不良品の流出を防止できる。また、不良なドラム基体への感光層のコーティングを未然に防止することにより不良コストを低減できる。
【0020】
本発明の表面検査方法によれば、凸部を表面に研磨剤が固着された樹脂製フィルムにより研磨することにすれば、樹脂製フィルムをドラム基体の曲率に応じて変形させることによって、ドラム基体表面の一部を均一に粗面化することができ、樹脂製フィルムを用いているので、紙粉の発生がなく、ドラム基体に異物の付着を防止でき、表面検査にとって好適である。
【0021】
また、上記研磨剤を酸化アルミニウムとすれば、ドラム基体のアルミニウム合金に対してダメージがなく、さらには酸化アルミニウムなので基体に残っても感光体ドラムとして問題なく使用できる。
【0022】
また、上記研磨剤の平均粒径を11.5μm〜14.5μmとすれば、ドラム基体表面の異常部の検出が容易に可能で、かつ、ドラム基体の一部を粗面化してもドラム基体表面の損傷がなく、感光層のコーティング後も感光体ドラムとして使用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】ドラム基体を粗面化する様子を示す斜視図である。
【図2】ドラム基体表面部を拡大して示す断面図である。
【図3】ドラム基体の表面に感光層をコーティングした状態の断面図である。
【符号の説明】
1 ドラム基体
2 樹脂製フィルム
3 鏡面
4 白色部分の現れる鏡面
5 ドラム基体表面の凸部
5a 凸部の頂点近傍部分(粗面化部分)
6 ドラム基体表面の凹部
7 感光層
X ドラム基体の旋削方向
Y 旋削方向に対する直角方向[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a drum substrate that is sensitive to electromagnetic waves such as light and that constitutes a photosensitive drum used in electrophotographic copying machines, printers, facsimiles, and the like, and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
In order to make an image formed by an image forming apparatus such as a copying machine using a photosensitive drum clear and uniform in density, the thickness of the photosensitive layer on the photosensitive drum is made of a conductive material such as aluminum. It is necessary to be uniform over the entire surface of the photosensitive drum. For this reason, the surface of a drum substrate such as aluminum, which becomes the photosensitive drum, is mirror-finished by turning with a diamond tool, etc., and then the cross-section curve measurement with a surface roughness meter and visual appearance inspection are performed to evaluate the flatness of the drum substrate Is going.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional drum base manufacturing with the above-described appearance inspection has the following problems. First, when the surface of a drum base is turned, it is difficult to obtain a uniform surface because of the influence of shape accuracy and homogeneity of a conductive material such as aluminum, vibration of a processing machine, accuracy of a processing jig, and the like. In other words, turning with a diamond tool or the like forms minute mirror surface irregularities on the surface of the substrate, but abnormal surface portions in which these irregularities are not regularly arranged alternately may be formed and defective products may flow out. .
[0004]
In order to eliminate the waste of the photosensitive layer being coated on the defective drum substrate, the surface roughness meter is used to measure the cross-section curve with a surface roughness meter. It is necessary to enlarge the vertical magnification to 5,000 times or more, and since the measurement magnification is high, a dedicated holding tool for holding the drum base is necessary, and there is a problem that the measurement time becomes long.
[0005]
In addition, this surface roughness meter can measure only a part of the entire drum base surface from the measurement magnification, and the surface roughness meter cannot detect all abnormal points on the surface, resulting in a defective product. There is also a problem that can be leaked.
[0006]
On the other hand, in the case of visual inspection, turning oil is required for turning aluminum used for the drum base, and the turning oil adheres to the mirror surface on the surface of the drum base after the turning process. There is a problem that it is difficult to detect an abnormal surface portion by visual observation, and there is a possibility that defective products may flow out.
[0007]
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to manufacture a photosensitive drum substrate that can easily inspect abnormalities on the surface of the photosensitive drum substrate, can easily prevent the outflow of defective products, and leads to a reduction in defective costs. The object is to provide a surface inspection method suitable for use .
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the surface inspection method according to the present invention comprises polishing at least a part of a mirror surface formed by unevenness of a photosensitive drum substrate in a direction perpendicular to the turning direction to roughen only the convex part. It is characterized by observing whether or not the rough surface portion and the mirror surface portion are regularly arranged by making the surface, and inspecting the surface of the photoreceptor substrate for abnormality.
[0009]
A method of manufacturing a photosensitive drum base that achieves the above-described object is a method of manufacturing a photosensitive drum base by turning the outer peripheral surface of the base to form a mirror surface having irregularities, wherein at least a part of the mirror surface has a turning direction. In this case, only the convex portion is roughened by polishing in a direction perpendicular to the surface.
[0010]
The convex portion may be polished with a resin film having an abrasive fixed on the surface, and aluminum oxide may be used as the abrasive. The average particle size of the abrasive is preferably 11.5 μm to 14.5 μm.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing a photosensitive drum substrate of this embodiment. First, the extruded and drawn aluminum alloy pipe, which is the material of the
[0012]
As the
[0013]
Note that the turning of the surface of the
[0014]
As shown in FIG. 1, polishing for inspection is performed only once in the axial direction with respect to the mirror surface of the
[0015]
By the movement of the
[0016]
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view in which the surface portion of the
[0017]
When the polished surface is observed in this state, a white surface portion of the convex portion 5 and a mirror surface portion of the concave portion 6 are regularly and alternately arranged on a normal surface, but on the abnormal surface, the white portion of the convex portion 5 is observed. It can be seen that the mirror surface portion of the recess 6 is irregularly arranged. Thus, an abnormal surface portion can be easily detected from the appearance by one polishing.
[0018]
Since the size of the portion 5a near the vertex to be roughened is very small compared to the size of the convex portion 5, the influence on the surface of the
[0019]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since at least a part of the outer peripheral surface as a mirror surface is polished in a direction perpendicular to the turning direction, only the convex and concave portions of the mirror surface are roughened. The concave portions are not roughened and remain in a mirror surface. On a normal surface, convex portions (rough surface portions) and concave portions (mirror surface portions) are regularly and alternately arranged, and on an abnormal surface, convex portions (rough surface portions) and concave portions (mirror surfaces). Therefore, by observing the arrangement of the projections and the recesses, it is possible to easily find an abnormality on the surface of the drum base and prevent the outflow of defective products. Further, the defective cost can be reduced by preventing the coating of the photosensitive layer onto the defective drum substrate.
[0020]
According to the surface inspection method of the present invention, when particular polished by a resin film which abrasive is fixed to the convex portion on the surface, by deforming in response to a resin film to the curvature of the drum base, the drum base Part of the surface can be uniformly roughened, and since a resin film is used, paper dust is not generated , and adhesion of foreign matter to the drum base can be prevented, which is suitable for surface inspection.
[0021]
If the abrasive is aluminum oxide, there is no damage to the aluminum alloy of the drum base, and since it is aluminum oxide, it can be used as a photosensitive drum without any problem even if it remains on the base.
[0022]
Further, if the average particle size of the abrasive is 11.5 μm to 14.5 μm, it is possible to easily detect an abnormal portion on the surface of the drum base, and the drum base even if a part of the drum base is roughened. There is no damage on the surface, and it can be used as a photosensitive drum even after coating of the photosensitive layer.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing how a drum substrate is roughened.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a drum base surface portion.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which a photosensitive layer is coated on the surface of a drum base.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
6 Drum base surface recess 7 Photosensitive layer X Drum base turning direction Y Perpendicular to turning direction
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32292398A JP3669553B2 (en) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32292398A JP3669553B2 (en) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000137343A JP2000137343A (en) | 2000-05-16 |
| JP3669553B2 true JP3669553B2 (en) | 2005-07-06 |
Family
ID=18149150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32292398A Expired - Fee Related JP3669553B2 (en) | 1998-10-29 | 1998-10-29 | Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3669553B2 (en) |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05307267A (en) * | 1992-04-28 | 1993-11-19 | Canon Inc | Production of electrophotographic sensitive body |
| JP3136210B2 (en) * | 1992-11-30 | 2001-02-19 | 昭和アルミニウム株式会社 | Photosensitive drum manufacturing method |
| JPH07199504A (en) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Kobe Steel Ltd | Electrophotographic photoreceptor drum substrate and its production |
| JPH081510A (en) * | 1994-06-27 | 1996-01-09 | Kobe Steel Ltd | Manufacture of aluminum pipe and electrophotographic photosensitive drum manufactured by this manufacturing method |
| JPH081502A (en) * | 1994-06-27 | 1996-01-09 | Kobe Steel Ltd | Manufacture of aluminum pipe and electrophotographic photosensitive drum manufactured by this manufacturing method |
| JP3704727B2 (en) * | 1994-09-12 | 2005-10-12 | 富士ゼロックス株式会社 | Photosensitive drum substrate, photosensitive drum, and manufacturing method thereof |
| JPH10123737A (en) * | 1996-10-25 | 1998-05-15 | Fuji Xerox Co Ltd | Production of electrophotographic photoreceptor, electrophotographic photoreceptor, apparatus for production of electrophotographic photoreceptor and image forming method |
-
1998
- 1998-10-29 JP JP32292398A patent/JP3669553B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000137343A (en) | 2000-05-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20040137828A1 (en) | Glass substrate for a mask blank, method of producing a glass substrate for a mask blank, mask blank, method of producing the mask blank, transfer mask, and method of producing a transfer mask | |
| JP3701477B2 (en) | Cylindrical surface inspection device | |
| JP3669553B2 (en) | Photosensitive drum substrate and method for manufacturing photosensitive drum substrate | |
| JPH08159745A (en) | Nondestructive property judgement of surface state of part | |
| CN112735964B (en) | Wafer surface defect detection and surface repair methods | |
| WO2006025603A1 (en) | Method for measuring circular shape, and method and device for measuring cylindrical shape | |
| EP1703274B1 (en) | Defect inspecting method | |
| JP7168962B2 (en) | Substrate surface defect inspection method | |
| JPH07128240A (en) | Inspection device of electrophotographic photoreceptor defect | |
| JPH07104497A (en) | Electroconductive substrate for electrophotographic photoreceptor and substrate surface shape evaluation method | |
| JP2000065749A (en) | Inspection device for component surface with U-shaped groove | |
| JP2006319217A (en) | Coating inspection method and immersion exposure method | |
| JPH02228513A (en) | Inspection of mold for honeycomb molding | |
| JPH07225198A (en) | Line inspection method of glass substrate | |
| JPH11271008A (en) | Cylindrical inspection object inspection equipment | |
| US6919146B2 (en) | Planar reticle design/fabrication method for rapid inspection and cleaning | |
| JPH03219266A (en) | Image forming device | |
| JP2004257906A (en) | Method for measuring distortion of roller-shaped molded product surface | |
| JP3847886B2 (en) | Inspection method and inspection apparatus for conductive elastic roll for image forming apparatus | |
| JPH11258904A (en) | Developing roll | |
| JP2005091290A (en) | Roller body runout measuring apparatus and roller body manufacturing method | |
| JP4135919B2 (en) | Conductive roller surface discrimination method | |
| JPH0792099A (en) | Surface layer defect detecting device | |
| JPH09189535A (en) | Surface defect inspection device | |
| JP7202861B2 (en) | Defect inspection method, mask blank, transfer mask, and semiconductor device manufacturing method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041021 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050111 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050309 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050405 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050407 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080422 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090422 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100422 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100422 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110422 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120422 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130422 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140422 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |