JP4162216B2 - How to attach and store the irradiation window unit - Google Patents
How to attach and store the irradiation window unit Download PDFInfo
- Publication number
- JP4162216B2 JP4162216B2 JP2003052291A JP2003052291A JP4162216B2 JP 4162216 B2 JP4162216 B2 JP 4162216B2 JP 2003052291 A JP2003052291 A JP 2003052291A JP 2003052291 A JP2003052291 A JP 2003052291A JP 4162216 B2 JP4162216 B2 JP 4162216B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- window unit
- irradiation window
- vacuum
- valve
- electron beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 64
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 22
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 8
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 2
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 description 2
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、電子線を被照射物に照射して、被照射物の架橋、改質、硬化、殺菌、その他の表面処理に用いる電子線照射装置を構成する電子線加速器の電子線取り出し部に、真空側と大気側とを分離する照射窓ユニットを取り付ける(実装する)方法、および、その取り付け前に当該照射窓ユニットを保管する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子線照射装置の一例を図4に示す。これと同様の電子線照射装置は、例えば特許文献1に記載されている。
【0003】
【特許文献1】
特開2002−243899号公報(段落番号0002〜0011、図6、図9)
【0004】
この電子線照射装置は、電子線16を走査することなく、X方向に相対的に短く、当該X方向と直交するY方向に相対的に長い平面形状(例えば矩形状)の電子線16を発生させる電子線加速器2を有しており、非走査型またはエリア型と呼ばれる。但し、この出願で説明している技術は、電子線を走査する走査型にも適用することができる。
【0005】
電子線加速器2は、前記Y方向に長い筒状の真空容器4を有している。この真空容器4の内部は真空排気される。
【0006】
真空容器4の内部には、前記Y方向に長くて前記平面形状の電子線16を発生させる電子線源8が収納されている。この電子線源8は、この例では、前記Y方向に並設された複数本のフィラメント10と、それから電子線16を引き出す引出し電極12と、それらを収納する筒状のシールド電極14とを有している。
【0007】
電子線加速器2の真空容器4の電子線取り出し部には、より具体的には当該電子線取り出し部のフランジ6には、真空容器4内側である真空側30と、真空容器4外側である大気側32とを分離する照射窓20が取り付けられている。大気側32は、文字どおり大気の場合もあるし、大気圧に近い不活性ガス雰囲気の場合もあるが、この明細書では両者を含めて大気側と呼んでいる。大気側32は、照射雰囲気側と呼ぶこともできる。
【0008】
照射窓20は、真空容器4の内外の雰囲気を分離すると共に電子線16を透過させる窓箔26と、この窓箔26を支える窓枠22と、この窓枠22に対して窓箔26の周縁部を押さえる押さえ枠28とを有している。窓箔26を境にして、それよりも真空容器4内側が真空側30であり、真空容器4外側が大気側32である。窓枠22と窓箔26との間は、パッキン(図5のパッキン36参照)によって真空シールされる。
【0009】
照射窓20は、この例では、前記Y方向に長い平面形状をしており、窓枠22には、図5も参照して、Y方向に並設されていて窓箔26を支えかつ冷却する複数の桟24が設けられている。但し、窓箔26の面積が小さい場合や前記走査型である等の場合には、桟24を設けない場合もある。
【0010】
照射窓20と真空容器4とは互いに同電位(通常は接地電位)であり、これらと電子線源8との間には、電子線源8から引き出された電子線16を加速する直流の加速電圧が印加される。加速された電子線16は、照射窓20を通して大気側32へ取り出されて、被照射物34に照射される。これによって、被照射物34に、架橋、改質、硬化、殺菌等の処理を施すことができる。被照射物34は、例えば、前記X方向に沿う方向(図4中の矢印A方向)に搬送される。
【0011】
ところで、上記窓箔26は、非常に薄い(例えば厚さが10〜50μm程度の)金属(例えばチタンまたはアルミニウム等)の箔であり、電子線16の透過損失による発熱等によって消耗するので、時々(例えば定期的に)交換する必要がある。
【0012】
従来の窓箔取り付け方法は、上記押さえ枠28上に窓箔26を貼り、この窓箔26を貼った押さえ枠28を、数十本という多数のボルト(図5のボルト38参照)を用いて窓枠22に取り付ける、という方法であった。窓枠22は、予め真空容器4(より具体的にはそのフランジ6)に取り付けられたままであった。
【0013】
このような方法では、上記多数のボルトの取り外しおよび再締め付けの作業が必要であるので、窓箔26の交換に長時間を要するという課題があった。
【0014】
このような課題を解決する手段として、特許文献2には、照射窓20をユニット式にする技術が記載されている。
【0015】
【特許文献2】
特開平11−38196号公報(段落番号0008〜0015、図2)
【0016】
照射窓20をユニット式にするというのは、図5も参照して、電子線加速器2の真空容器4とは別個に、上記のような窓枠22に窓箔26および押さえ枠28を取り付けて照射窓ユニット20aを形成しておき、窓箔26単体ではなく、この照射窓ユニット20aごとに交換するのである。即ち、照射窓ユニット20aを、電子線加速器2の真空容器4(より具体的にはそのフランジ6)に取り付けたり取り外したりするのである。これによれば、照射窓ユニット20aの取り付け用のボルト(図3のボルト60参照)は、押さえ枠28の取り付け用のボルト38の本数(例えば数十本)よりも遙かに少ない本数(例えば4〜6本程度)で済むので、交換の作業時間を大幅に短縮することができる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記のような照射窓ユニット20aを採用しても、次のような課題がなお存在する。
【0018】
(1)照射窓ユニット20aを真空容器4に取り付ける前は、照射窓ユニット20aの真空側30および大気側32共に大気圧状態であり圧力差はないので、窓箔26は、図5中に二点鎖線で示すように、張力がかからず緩んだ状態になっている。このときに、窓箔26の周縁部と窓枠22との間の隙間62や、窓箔26と桟24との間の隙間64に、ゴミが挟まることがある(これをゴミ噛みと呼ぶ)。
【0019】
一方、照射窓ユニット20aを電子線加速器2の真空容器4に取り付けてその内部を真空排気すると、図5中に実線で示すように、窓箔26は、真空側30と大気側32との間の圧力差(ほぼ大気圧)によって、真空側30に押し付けられて(換言すれば、引っ張られて。以下同様)膨らんだ状態になる。このとき、上記ゴミ噛みをしていると、窓箔26は前述したように非常に薄いので、窓箔26に穴があき、そこで真空リークを惹き起こす可能性がある。桟24を有している場合の方がゴミ噛みの可能性は高いけれども、桟24を有していない場合でも、上記隙間62におけるゴミ噛みの可能性は依然として存在している。
【0020】
このようなゴミ噛みによるリークのチェックを、照射窓ユニット20aの取り付け前に行う必要性およびその方法については、従来は検討されていなかった。前記特許文献2にも、記載も示唆もされていない。
【0021】
(2)窓箔26は前述したように金属箔であるので、照射窓ユニット20aを形成した後に、当該照射窓ユニット20aを大気中に保管しておくと、大気中の酸素や水分等によって、窓箔26が腐食する恐れがある。この腐食を防止するために、従来は、照射窓ユニット20aを専用の容器内に入れて不活性雰囲気中で保管していたが、そのためには専用容器が必要であり、その分コストが嵩むという問題がある。
【0022】
そこでこの発明は、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができ、しかもリークテスト後に新たなゴミ噛みを生じることがないようにした照射窓ユニットの取り付け方法を提供することを一つの目的としている。
【0023】
また、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができ、しかもリークテスト後に専用容器を用いることなく窓箔を不活性な雰囲気中に置いて保管することができるようにした照射窓ユニットの保管方法を提供することを他の目的としている。
【0024】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る照射窓ユニットの取り付け方法は、電子線加速器の真空容器の電子線取り出し部に、当該真空容器内側である真空側と当該真空容器外側である大気側とを分離する照射窓ユニットを取り付ける方法において、(a)窓枠に、電子線を透過させる窓箔およびそれを押さえる押さえ枠を取り付けて前記照射窓ユニットを形成する工程と、(b)次いで、前記照射窓ユニットの前記真空側に位置する面に、第1のバルブ付きの第1のフランジを取り付け、かつ同照射窓ユニットの前記大気側に位置する面に、第2のバルブ付きの第2のフランジを取り付ける工程と、(c)次いで、前記第1および第2のバルブを開いた状態で、前記第1のバルブを経由して前記照射窓ユニットの真空側の真空排気を行って真空度を確認する工程と、(d)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に検知用ガスを導入して、前記照射窓ユニットのリークテストを行う工程と、(e)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に、加圧された不活性ガスを導入した後に当該バルブを閉じて、前記照射窓ユニットの大気側を陽圧に保つ工程と、(f)次いで、前記第1のバルブ付きの第1のフランジを前記照射窓ユニットから取り外す工程と、(g)次いで、前記照射窓ユニットを前記電子線加速器の真空容器に取り付ける工程と、(h)次いで、前記電子線加速器の真空容器内を真空排気する工程と、(i)次いで、前記第2のバルブ付きの第2のフランジを前記照射窓ユニットから取り外す工程とを備えることを特徴としている(請求項1に対応)。
【0025】
この取り付け方法によれば、上記(c)の工程において、照射窓ユニットの真空側が真空排気されるので、窓箔は真空側と大気側との圧力差によって真空側に押し付けられた状態になる。これは、実装時と同じ状態である。この状態で、上記(d)の工程において、リークテストを行うので、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができる。従って、照射窓ユニットの実装前に、前記ゴミ噛みによるリークのチェックを行うことができる。
【0026】
しかも、リークテスト後は、上記(e)の工程によって照射窓ユニットの大気側が陽圧に保たれるので、上記(f)の工程において第1のバルブ付きの第1のフランジを取り外して照射窓ユニットの真空側を大気開放しても、上記陽圧によって窓箔は真空側に押し付けられた状態のままである。即ち、上記(d)の工程でリークテストを行った時とほぼ同じ状態であるので、窓箔の張り具合が緩むことはなく、従って新たにゴミ噛みを生じることはない。
【0027】
また、上記(g)の工程で照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に取り付けた後に、上記(h)の工程で当該真空容器内を真空排気するので、窓箔は真空側と大気側との圧力差によって真空側に押し付けられた状態になる。従ってその後に、上記(i)の工程で第2のバルブ付きの第2のフランジを取り外しても、窓箔の張り具合が緩むことはなく、従ってこの場合も、新たにゴミ噛みを生じることはない。
【0028】
この発明に係る保管方法は、電子線加速器の真空容器の電子線取り出し部に取り付けられて、当該真空容器内側である真空側と当該真空容器外側である大気側とを分離する照射窓ユニットを、その取り付け前に保管する方法において、(a)窓枠に、電子線を透過させる窓箔およびそれを押さえる押さえ枠を取り付けて前記照射窓ユニットを形成する工程と、(b)次いで、前記照射窓ユニットの前記真空側に位置する面に、第1のバルブ付きの第1のフランジを取り付け、かつ同照射窓ユニットの前記大気側に位置する面に、第2のバルブ付きの第2のフランジを取り付ける工程と、(c)次いで、前記第1および第2のバルブを開いた状態で、前記第1のバルブを経由して前記照射窓ユニットの真空側の真空排気を行って真空度を確認する工程と、(d)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に検知用ガスを導入して、前記照射窓ユニットのリークテストを行う工程と、(e)次いで、前記第1のバルブを閉じて、前記照射窓ユニットの真空側を真空状態に保つ工程と、(f)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に不活性ガスを導入した後に当該バルブを閉じて、前記照射窓ユニットの大気側を不活性ガス雰囲気に保つ工程とを備えることを特徴としている(請求項2に対応)。
【0029】
この保管方法によれば、上記(a)〜(d)の工程は、上記取り付け方法の上記(a)〜(d)の工程と同じであるので、前記と同様に、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができる。従って、照射窓ユニットの実装前ないし保管前に、前記ゴミ噛みによるリークのチェックを行うことができる。
【0030】
しかも、リークテスト後は、上記(e)の工程において第1のバルブを閉じることによって、窓箔の真空側を真空状態に保つことができる。真空状態は、窓箔にとって不活性な雰囲気である。また、上記(f)の工程において、不活性ガスを導入した後に第2のバルブを閉じることによって、窓箔の大気側を不活性ガス雰囲気に保つことができる。以上によって、専用容器を用いることなく、窓箔を不活性な雰囲気中に置いて照射窓ユニットを保管することができる。即ち、専用容器を用いることなく、窓箔の腐食を防止することができると共に、ゴミが入って前記ゴミ噛みが生じるのを防止することができる。
【0031】
【発明の実施の形態】
以下においては、図4および図5に示した従来例と同一または相当する部分に同一符号を付して、従来例との相違点を主に説明する。
【0032】
(1)まず、照射窓ユニットの取り付け方法の実施形態を、当該取り付け方法を構成する工程の順に説明する。
【0033】
(a)まず、図1に示すように、前記窓枠22に、電子線を透過させる前記窓箔26およびそれを押さえる前記押さえ枠28を取り付けて、前記照射窓ユニット20aを形成する。これを、当該照射窓ユニット20aを電子線加速器2の真空容器4に取り付ける(実装する)前に行う。パッキン36、ボルト38については、前記のとおりである。窓枠22の真空側30の面には、この例では、後述する(図2参照)パッキン44を収納するパッキン溝39が設けられている。
【0034】
(b)次いで、図2に示すように、照射窓ユニット20aの前記真空側30に位置する面に、第1のバルブ40付きの第1のフランジ42を取り付け、かつ同照射窓ユニット20aの前記大気側32に位置する面に、第2のバルブ50付きの第2のフランジ52を取り付ける。両フランジ42、52の取り付けは、この例では、ボルト46、56を用いて行う。フランジ42と窓枠22との間はパッキン44によって真空シールされ、フランジ52と押さえ枠28との間はパッキン54によってシールされる。パッキン36、44、54は、例えばOリングである。なお、上記ボルト38、46、56および後述する(図3参照)ボルト60は、互いに干渉しない位置に設けられる。
【0035】
(c)次いで、第1のバルブ40に適当な真空排気装置および真空計を接続して、第1および第2のバルブ40、50を開いた状態で、第1のバルブ40を経由して、矢印Bに示すように、照射窓ユニット20aの真空側30(より具体的には窓箔26から真空側30)の真空排気を行って、真空度を確認する。このとき、窓箔26は、真空側30と大気側32との圧力差によって、真空側30に押し付けられた状態になる(図5参照)。これは、実装時と同じ状態である。
【0036】
(d)次いで、第2のバルブ50を経由して照射窓ユニット20aの大気側32(より具体的には窓箔26の大気側32)に、ガス58として検知用ガス(例えば、ヘリウムガス等)を導入して、照射窓ユニット20aのリークテストを行う。これによって、リークがないことを確認する。リークテストは、上記検知用ガスの真空側30への漏れ(リーク)を検知するものであり、この検知には例えば分圧真空計を用いる。このリークテストによって、照射窓ユニット20aを電子線加速器2の真空容器4に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができる。従って、照射窓ユニット20aの実装前に、前記ゴミ噛みによるリークのチェックを行うことができる。
【0037】
(e)次いで、第2のバルブ50を経由して照射窓ユニット20aの大気側32に、ガス58として加圧された不活性ガス(例えば、窒素ガス、ヘリウムガス等)を導入した後に当該バルブ50を閉じて、照射窓ユニット20aの大気側32を陽圧に保つ。この陽圧によって、照射窓ユニット20aの窓箔26は、真空側30に押し付けられた状態になる。
【0038】
(f)次いで、第1のバルブ40付きの第1のフランジ42を照射窓ユニット20aから取り外す。これは、照射窓ユニット20aを電子線加速器2の真空容器4に取り付ける(図3参照)準備をするためである。このとき、第1のフランジ42等の取り外しによって照射窓ユニット20aの真空側30は大気開放されるけれども、上記(e)の工程によって照射窓ユニット20aの大気側32は陽圧に保たれているので、窓箔26は真空側30に押し付けられた状態のままである。即ち、上記(d)の工程でリークテストを行った時とほぼ同じ状態であるので、窓箔26の張り具合が緩むことはなく、従って新たにゴミ噛みを生じることはない。
【0039】
(g)次いで、図3に示すように、照射窓ユニット20aを、電子線加速器2の真空容器4(より具体的にはそのフランジ6)に、例えばボルト60を用いて取り付ける。このボルト60の本数は、例えば4本または6本である。
【0040】
(h)次いで、電子線加速器2の真空容器4内を、図示しない真空排気装置によって真空排気する。これによって、照射窓ユニット20aの窓箔26は、真空側30と大気側32との圧力差によって真空側30に押し付けられた状態になるけれども、上記(e)の工程で既に陽圧によって真空側30に押し付けられているので、窓箔26の状態に大きな変化は生じない。
【0041】
(i)次いで、第2のバルブ50付きの第2のフランジ52を照射窓ユニット20aから取り外す。これらを取り外しても、上記(h)の工程で窓箔26は真空側30と大気側32との圧力差によって真空側30に押し付けられているので、窓箔26の張り具合が緩むことはなく、従ってこの場合も、新たにゴミ噛みを生じることはない。この取り外しによって、照射窓ユニット20aの取り付け(実装)が完了し、図4に示したのと同じ状態になる。
【0042】
(2)次に、照射窓ユニットの保管方法の実施形態を説明する。この保管方法は、簡単に言えば、前記リークテストに用いた第1のバルブ40付きの第1のフランジ42および第2のバルブ50付きの第2のフランジ52を、取り外さずにそのまま取り付けておき、これらを保管用の専用容器の代わりに用いるものである。以下、工程の順に説明する。
【0043】
まず、上記取り付け方法の(a)〜(d)の工程と同じ工程を実施する。その内容および作用効果は上述のとおりである。これによって、照射窓ユニット20aのリークテストまでが完了する。
【0044】
(e)次いで、図2を参照して、第1のバルブ40を閉じて、照射窓ユニット20aの真空側30を真空状態に保つ。真空状態は、窓箔26にとって不活性な雰囲気である。
【0045】
(f)次いで、第2のバルブ50を経由して照射窓ユニット20aの大気側32に、ガス58として不活性ガス(例えば、窒素ガス、ヘリウムガス等)を導入した後に当該バルブ50を閉じて、照射窓ユニット20aの大気側32を不活性ガス雰囲気に保つ。このとき、照射窓ユニット20aの大気側32を不活性ガスによって陽圧に保つことは必要ではないが、陽圧に保っても良い。
【0046】
以上によって、専用容器を用いることなく、窓箔26を不活性な雰囲気中に置いて照射窓ユニット20aを保管することができる。即ち、専用容器を用いることなく、窓箔26の腐食を防止することができると共に、ゴミが入って前記ゴミ噛みが生じるのを防止することができる。
【0047】
なお、この保管後に照射窓ユニット20aを電子線加速器2の真空容器4に取り付けるときは、(ア)照射窓ユニット20aの大気側32を陽圧に保っていた場合は、上記取り付け方法の(f)の工程から始めれば良く、(イ)陽圧に保っていない場合は、上記取り付け方法の(e)の工程から始めれば良い。
【0048】
【発明の効果】
この発明は、上記のとおり構成されているので、次のような効果を奏する。
【0049】
請求項1に記載の発明によれば、窓箔を真空側に押し付けた状態でリークテストを行うので、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができる。従って、照射窓ユニットの実装前に、前記ゴミ噛みによるリークのチェックを行うことができる。
【0050】
しかも、リークテスト後も、照射窓ユニットの実装が完了するまで、窓箔を真空側に押し付けた状態を保つことができるので、新たにゴミ噛みを生じることはない。
【0051】
請求項2に記載の発明によれば、窓箔を真空側に押し付けた状態でリークテストを行うので、照射窓ユニットを電子線加速器の真空容器に実装する前に、実装時と同じ状態でリークテストを行うことができる。従って、照射窓ユニットの実装前ないし保管前に、前記ゴミ噛みによるリークのチェックを行うことができる。
【0052】
しかも、リークテスト後は、第1のバルブを閉じることによって窓箔の真空側を真空状態に保ち、不活性ガスを導入した後に第2のバルブを閉じることによって窓箔の大気側を不活性ガス雰囲気に保つことができるので、専用容器を用いることなく、窓箔を不活性な雰囲気中に置いて照射窓ユニットを保管することができる。即ち、専用容器を用いることなく、窓箔の腐食を防止することができると共に、ゴミが入って前記ゴミ噛みが生じるのを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】照射窓ユニットの一例を示す断面図である。
【図2】図1の照射窓ユニットに第1および第2のバルブ付きフランジをそれぞれ取り付けた状態を示す断面図である。
【図3】図1の照射窓ユニットを、第2のバルブ付きフランジと共に、電子線加速器の真空容器に取り付けた状態を示す断面図である。
【図4】電子線照射装置の一例を示す断面図である。
【図5】照射窓ユニットのY方向の拡大部分断面図である。
【符号の説明】
2 電子線加速器
4 真空容器
20a 照射窓ユニット
22 窓枠
26 窓箔
28 押さえ枠
30 真空側
32 大気側
40 第1のバルブ
42 第1のフランジ
50 第2のバルブ
52 第2のフランジ
58 ガス[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
In this invention, an electron beam is irradiated on an object to be irradiated, and the electron beam extraction unit of the electron beam accelerator constituting the electron beam irradiation apparatus used for crosslinking, modification, curing, sterilization, and other surface treatment of the object is used. The present invention relates to a method for mounting (mounting) an irradiation window unit that separates the vacuum side and the atmosphere side, and a method for storing the irradiation window unit before the mounting.
[0002]
[Prior art]
An example of an electron beam irradiation apparatus is shown in FIG. An electron beam irradiation apparatus similar to this is described in Patent Document 1, for example.
[0003]
[Patent Document 1]
JP 2002-243899 A (paragraph numbers 0002 to 0011, FIGS. 6 and 9)
[0004]
This electron beam irradiation apparatus generates an
[0005]
The
[0006]
An
[0007]
More specifically, the electron beam take-out portion of the
[0008]
The
[0009]
In this example, the
[0010]
The
[0011]
By the way, the
[0012]
In the conventional window foil mounting method, the
[0013]
In such a method, since it is necessary to remove and retighten the numerous bolts, there is a problem that it takes a long time to replace the
[0014]
As means for solving such a problem,
[0015]
[Patent Document 2]
Japanese Patent Laid-Open No. 11-38196 (paragraph numbers 0008 to 0015, FIG. 2)
[0016]
Referring to FIG. 5 as well, the
[0017]
[Problems to be solved by the invention]
However, even if the
[0018]
(1) Before the
[0019]
On the other hand, when the
[0020]
Conventionally, the necessity and method for checking such a leak due to dust biting before attaching the
[0021]
(2) Since the
[0022]
Therefore, the present invention can perform a leak test in the same state as when the irradiation window unit is mounted on the vacuum container of the electron beam accelerator, and does not cause new dust biting after the leak test. An object of the present invention is to provide a method for attaching the irradiated window unit.
[0023]
In addition, before mounting the irradiation window unit in the electron beam accelerator vacuum container, a leak test can be performed in the same state as when mounted, and the window foil is placed in an inert atmosphere without using a dedicated container after the leak test. Another object of the present invention is to provide a storage method for an irradiation window unit that can be stored in a storage.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
In the method of attaching the irradiation window unit according to the present invention, an irradiation window unit for separating the vacuum side inside the vacuum container and the atmosphere side outside the vacuum container is provided in the electron beam extraction portion of the vacuum container of the electron beam accelerator. In the attaching method, (a) attaching a window foil that transmits an electron beam and a pressing frame that holds the window foil to the window frame to form the irradiation window unit; and (b) then, the vacuum side of the irradiation window unit. Attaching a first flange with a first valve to a surface located at the surface, and attaching a second flange with a second valve to a surface located on the atmosphere side of the irradiation window unit; c) Next, in a state where the first and second valves are opened, the vacuum side of the irradiation window unit is evacuated through the first valve to check the degree of vacuum; and d) Next, a step of introducing a detection gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve to perform a leak test of the irradiation window unit; and (e) Next, the second window Closing the valve after introducing pressurized inert gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via a valve, and maintaining the atmosphere side of the irradiation window unit at a positive pressure; (f) Removing the first flange with the first valve from the irradiation window unit; (g) then attaching the irradiation window unit to the vacuum vessel of the electron beam accelerator; and (h) then A step of evacuating the inside of the vacuum vessel of the electron beam accelerator; and (i) a step of removing the second flange with the second valve from the irradiation window unit. Correspondence).
[0025]
According to this attachment method, since the vacuum side of the irradiation window unit is evacuated in the step (c), the window foil is pressed against the vacuum side due to the pressure difference between the vacuum side and the atmosphere side. This is the same state as when mounted. In this state, since the leak test is performed in the step (d), the leak test can be performed in the same state as when the irradiation window unit is mounted in the vacuum container of the electron beam accelerator. Therefore, it is possible to check for leaks due to the bite of dust before mounting the irradiation window unit.
[0026]
In addition, after the leak test, the atmospheric side of the irradiation window unit is maintained at a positive pressure by the step (e), so that the irradiation window is removed by removing the first flange with the first valve in the step (f). Even if the vacuum side of the unit is opened to the atmosphere, the window foil remains pressed against the vacuum side by the positive pressure. That is, since it is almost the same state as when the leak test was performed in the step (d), the tension of the window foil does not loosen, and therefore no new dust biting occurs.
[0027]
In addition, after the irradiation window unit is attached to the vacuum vessel of the electron beam accelerator in the step (g), the inside of the vacuum vessel is evacuated in the step (h). It will be in the state pressed against the vacuum side by the pressure difference. Therefore, after that, even if the second flange with the second valve is removed in the step (i) above, the tension of the window foil will not be loosened. Absent.
[0028]
The storage method according to the present invention is an irradiation window unit that is attached to an electron beam extraction portion of a vacuum container of an electron beam accelerator and separates a vacuum side inside the vacuum container and an atmosphere side outside the vacuum container, In the method of storing before the attachment, (a) a step of forming the irradiation window unit by attaching a window foil that transmits an electron beam and a pressing frame that holds the window foil to the window frame; and (b) the irradiation window. A first flange with a first valve is attached to a surface located on the vacuum side of the unit, and a second flange with a second valve is attached to a surface located on the atmosphere side of the irradiation window unit. (C) Next, with the first and second valves opened, the vacuum side of the irradiation window unit is evacuated through the first valve to check the degree of vacuum. And (d) a step of introducing a detection gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve and performing a leak test of the irradiation window unit; and (e) then, Closing the first valve and maintaining the vacuum side of the irradiation window unit in a vacuum state; and (f) Next, an inert gas is supplied to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve. A step of closing the valve after introduction and maintaining the atmosphere side of the irradiation window unit in an inert gas atmosphere (corresponding to claim 2).
[0029]
According to this storage method, the steps (a) to (d) are the same as the steps (a) to (d) of the attachment method. Before mounting in the accelerator vacuum vessel, a leak test can be performed in the same state as during mounting. Therefore, before the irradiation window unit is mounted or stored, it is possible to check for leakage due to the dust biting.
[0030]
Moreover, after the leak test, the vacuum side of the window foil can be kept in a vacuum state by closing the first valve in the step (e). The vacuum state is an inert atmosphere for the window foil. In the step (f), the air side of the window foil can be kept in an inert gas atmosphere by closing the second valve after introducing the inert gas. As described above, the irradiation window unit can be stored by placing the window foil in an inert atmosphere without using a dedicated container. That is, corrosion of the window foil can be prevented without using a dedicated container, and dust can be prevented from entering due to dust.
[0031]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
In the following, the same reference numerals are given to the same or corresponding parts as those in the conventional example shown in FIGS. 4 and 5, and differences from the conventional example will be mainly described.
[0032]
(1) First, an embodiment of the method for attaching the irradiation window unit will be described in the order of the steps constituting the attachment method.
[0033]
(A) First, as shown in FIG. 1, the
[0034]
(B) Next, as shown in FIG. 2, a
[0035]
(C) Next, an appropriate evacuation device and a vacuum gauge are connected to the first valve 40, and the first and
[0036]
(D) Next, a detection gas (for example, helium gas or the like) is supplied as a gas 58 to the
[0037]
(E) Next, after introducing an inert gas (for example, nitrogen gas, helium gas) as a gas 58 to the
[0038]
(F) Next, the
[0039]
(G) Next, as shown in FIG. 3, the
[0040]
(H) Next, the inside of the
[0041]
(I) Next, the
[0042]
(2) Next, an embodiment of an irradiation window unit storage method will be described. In short, the storage method is as follows. The
[0043]
First, the same steps as the steps (a) to (d) of the mounting method are performed. The contents and operational effects are as described above. This completes the leak test of the
[0044]
(E) Next, referring to FIG. 2, the first valve 40 is closed to keep the
[0045]
(F) Next, after introducing an inert gas (for example, nitrogen gas, helium gas, etc.) as the gas 58 to the
[0046]
As described above, the
[0047]
When the
[0048]
【The invention's effect】
Since this invention is comprised as mentioned above, there exist the following effects.
[0049]
According to the first aspect of the present invention, the leak test is performed with the window foil pressed against the vacuum side. Therefore, before the irradiation window unit is mounted on the vacuum container of the electron beam accelerator, the leakage is performed in the same state as at the time of mounting. Test can be done. Therefore, it is possible to check for leaks due to the bite of dust before mounting the irradiation window unit.
[0050]
In addition, even after the leak test, the window foil can be kept pressed against the vacuum side until the mounting of the irradiation window unit is completed, so that no new dust biting occurs.
[0051]
According to the second aspect of the present invention, since the leak test is performed with the window foil pressed against the vacuum side, before the irradiation window unit is mounted on the vacuum container of the electron beam accelerator, the leakage is performed in the same state as when mounting. Test can be done. Therefore, before the irradiation window unit is mounted or stored, it is possible to check for leakage due to the dust biting.
[0052]
In addition, after the leak test, the vacuum side of the window foil is kept in a vacuum state by closing the first valve, and the inert side of the window foil is closed by closing the second valve after introducing the inert gas. Since the atmosphere can be maintained, the irradiation window unit can be stored by placing the window foil in an inert atmosphere without using a dedicated container. That is, corrosion of the window foil can be prevented without using a dedicated container, and dust can be prevented from entering due to dust.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of an irradiation window unit.
2 is a cross-sectional view showing a state in which first and second flanges with valves are respectively attached to the irradiation window unit of FIG. 1;
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which the irradiation window unit of FIG. 1 is attached to a vacuum container of an electron beam accelerator together with a second flange with a valve.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of an electron beam irradiation apparatus.
FIG. 5 is an enlarged partial cross-sectional view of the irradiation window unit in the Y direction.
[Explanation of symbols]
2
Claims (2)
(a)窓枠に、電子線を透過させる窓箔およびそれを押さえる押さえ枠を取り付けて前記照射窓ユニットを形成する工程と、
(b)次いで、前記照射窓ユニットの前記真空側に位置する面に、第1のバルブ付きの第1のフランジを取り付け、かつ同照射窓ユニットの前記大気側に位置する面に、第2のバルブ付きの第2のフランジを取り付ける工程と、
(c)次いで、前記第1および第2のバルブを開いた状態で、前記第1のバルブを経由して前記照射窓ユニットの真空側の真空排気を行って真空度を確認する工程と、
(d)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に検知用ガスを導入して、前記照射窓ユニットのリークテストを行う工程と、
(e)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に、加圧された不活性ガスを導入した後に当該バルブを閉じて、前記照射窓ユニットの大気側を陽圧に保つ工程と、
(f)次いで、前記第1のバルブ付きの第1のフランジを前記照射窓ユニットから取り外す工程と、
(g)次いで、前記照射窓ユニットを前記電子線加速器の真空容器に取り付ける工程と、
(h)次いで、前記電子線加速器の真空容器内を真空排気する工程と、
(i)次いで、前記第2のバルブ付きの第2のフランジを前記照射窓ユニットから取り外す工程とを備えることを特徴とする照射窓ユニットの取り付け方法。In the method of attaching an irradiation window unit for separating the vacuum side inside the vacuum container and the atmosphere side outside the vacuum container to the electron beam extraction part of the vacuum container of the electron beam accelerator,
(A) attaching to the window frame a window foil that transmits an electron beam and a holding frame that holds the window foil to form the irradiation window unit;
(B) Next, a first flange with a first valve is attached to a surface located on the vacuum side of the irradiation window unit, and a second surface is located on the atmosphere side of the irradiation window unit. Attaching a second flange with a valve;
(C) Next, in a state where the first and second valves are opened, a step of confirming the degree of vacuum by evacuating the vacuum side of the irradiation window unit through the first valve;
(D) Next, a step of introducing a detection gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve and performing a leak test of the irradiation window unit;
(E) Then, after introducing the pressurized inert gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve, the valve is closed, and the atmosphere side of the irradiation window unit is positively pressurized. The process of keeping
(F) Next, removing the first flange with the first valve from the irradiation window unit;
(G) Next, attaching the irradiation window unit to a vacuum container of the electron beam accelerator;
(H) Next, evacuating the inside of the vacuum vessel of the electron beam accelerator;
(I) Next, a step of removing the second flange with the second valve from the irradiation window unit, and a method of attaching the irradiation window unit.
(a)窓枠に、電子線を透過させる窓箔およびそれを押さえる押さえ枠を取り付けて前記照射窓ユニットを形成する工程と、
(b)次いで、前記照射窓ユニットの前記真空側に位置する面に、第1のバルブ付きの第1のフランジを取り付け、かつ同照射窓ユニットの前記大気側に位置する面に、第2のバルブ付きの第2のフランジを取り付ける工程と、
(c)次いで、前記第1および第2のバルブを開いた状態で、前記第1のバルブを経由して前記照射窓ユニットの真空側の真空排気を行って真空度を確認する工程と、
(d)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に検知用ガスを導入して、前記照射窓ユニットのリークテストを行う工程と、
(e)次いで、前記第1のバルブを閉じて、前記照射窓ユニットの真空側を真空状態に保つ工程と、
(f)次いで、前記第2のバルブを経由して前記照射窓ユニットの大気側に不活性ガスを導入した後に当該バルブを閉じて、前記照射窓ユニットの大気側を不活性ガス雰囲気に保つ工程とを備えることを特徴とする照射窓ユニットの保管方法。In a method of storing an irradiation window unit attached to an electron beam take-out portion of a vacuum container of an electron beam accelerator and separating a vacuum side inside the vacuum container and an atmosphere side outside the vacuum container before the attachment ,
(A) attaching to the window frame a window foil that transmits an electron beam and a holding frame that holds the window foil to form the irradiation window unit;
(B) Next, a first flange with a first valve is attached to a surface located on the vacuum side of the irradiation window unit, and a second surface is located on the atmosphere side of the irradiation window unit. Attaching a second flange with a valve;
(C) Next, in a state where the first and second valves are opened, a step of confirming the degree of vacuum by evacuating the vacuum side of the irradiation window unit through the first valve;
(D) Next, a step of introducing a detection gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve and performing a leak test of the irradiation window unit;
(E) Next, closing the first valve and maintaining the vacuum side of the irradiation window unit in a vacuum state;
(F) Next, after introducing an inert gas to the atmosphere side of the irradiation window unit via the second valve, the valve is closed to keep the atmosphere side of the irradiation window unit in an inert gas atmosphere. And a storage method for the irradiation window unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003052291A JP4162216B2 (en) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | How to attach and store the irradiation window unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003052291A JP4162216B2 (en) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | How to attach and store the irradiation window unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004258011A JP2004258011A (en) | 2004-09-16 |
| JP4162216B2 true JP4162216B2 (en) | 2008-10-08 |
Family
ID=33117192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003052291A Expired - Lifetime JP4162216B2 (en) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | How to attach and store the irradiation window unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4162216B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6343154B2 (en) * | 2014-02-20 | 2018-06-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | Window foil protection unit and maintenance method of electron beam irradiation device |
| JP6731328B2 (en) | 2016-11-09 | 2020-07-29 | 日立造船株式会社 | Electron beam irradiation device |
| JP7414269B2 (en) * | 2020-04-01 | 2024-01-16 | 株式会社Nhvコーポレーション | How to assemble an electron beam irradiation device |
-
2003
- 2003-02-28 JP JP2003052291A patent/JP4162216B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004258011A (en) | 2004-09-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0651429A1 (en) | Enclosure for load lock interface | |
| JPWO2008107961A1 (en) | Medical container | |
| JP4162216B2 (en) | How to attach and store the irradiation window unit | |
| EP2881969A1 (en) | X-ray tube and method of manufacturing the same | |
| US4631444A (en) | Readily attachable and detachable electron-beam permeable window assembly | |
| JP2002347115A (en) | Mounting method of diaphragm in laminating apparatus and laminating apparatus using this method | |
| JP4767574B2 (en) | Processing chamber and processing apparatus | |
| JPH10335399A (en) | Sample processing apparatus and method | |
| JP4491795B2 (en) | Article exchange mechanism and article exchange method | |
| JP2746179B2 (en) | Vacuum processing apparatus and vacuum processing method | |
| EP0104938B1 (en) | Readily attachable and detachable electron-beam permeable window assembly | |
| JPH05140743A (en) | Vacuum treating device | |
| JP3289987B2 (en) | Impurity doping method and apparatus used therefor | |
| JP2681028B2 (en) | Evacuation system | |
| JPH08288361A (en) | Vacuum processing device | |
| JP3958698B2 (en) | Molecular beam epitaxial growth apparatus cleaning method, molecular beam epitaxial growth apparatus, and substrate manufacturing method using the apparatus | |
| JP2002246374A (en) | Plasma processing apparatus and its maintenance method | |
| JPH032700A (en) | Device for electron beam irradiation | |
| JP4048997B2 (en) | Electron beam emission tube | |
| JP3217844B2 (en) | Etching damage prevention method | |
| KR0176344B1 (en) | Getter detachable device for CRT | |
| WO2024058821A3 (en) | System and method for improved vacuum in compact packages | |
| JPH05294788A (en) | Method and vessel for storing molecular beam cell | |
| JPH025531Y2 (en) | ||
| JPH04219391A (en) | Molecular beam crystal growth device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051215 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20061226 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20061226 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20061226 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070302 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080715 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080718 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110801 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4162216 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120801 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120801 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130801 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130801 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130801 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130801 Year of fee payment: 5 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |