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JP4183382B2 - Microwave circuit - Google Patents
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JP4183382B2 JP2000383296A JP2000383296A JP4183382B2 JP 4183382 B2 JP4183382 B2 JP 4183382B2 JP 2000383296 A JP2000383296 A JP 2000383296A JP 2000383296 A JP2000383296 A JP 2000383296A JP 4183382 B2 JP4183382 B2 JP 4183382B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、FETやHEMT等のマイクロ波デバイスを実装したマイクロ波回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
衛星放送や衛星通信を受信して中間周波数信号に変換して出力する低雑音ダウンコンバータ(以下「LNB」という)の低雑音高周波増幅部(以下「LNA」という)は、基板上に形成されたマイクロストリップラインに素子が組み込まれたマイクロ波回路から成っている。
【0003】
LNAでは、アンテナにより受信された12GHz帯のRF信号が入力端子から入力される。入力信号は、マイクロストリップラインに組み込まれた2つのアンプにより増幅して出力される。該アンプはGaAsFET(ガリウムヒ素電界効果トランジスタ)やHEMT(High Electron Mobility Transistor:高電子移動度トランジスタ)等のマイクロ波デバイスから成っている。
【0004】
特に、HEMTは、化合物半導体のヘテロ接合面に蓄積する高移動度の電子をキャリアとした半導体デバイスであり、高周波増幅、高速演算に適しているため広く用いられる。
【0005】
HEMTを実装した従来のマイクロ波回路を図8に示すと、マイクロ波回路1は、絶縁体から成る基板2上に、所謂リードレス型のHEMT5が配置されている。HEMT5の裏面には、ゲート5G、ドレイン5D及び2つのソース5Sが露出している。
【0006】
基板2に形成されたマイクロストリップライン上にはゲート用ランド7及びドレイン用ランド8が設けられ、マイクロストリップラインの両側に2つのソース用ランド9a、9bが設けられている。ソース用ランド9a、9b内には、基板2を貫通するスルーホール10a、10bが形成され、基板2の裏面の略全面に形成されたグランドパターン(不図示)に連結されている。
【0007】
HEMT5のゲート5G、ドレイン5D及び2つのソース5Sはそれぞれゲート用ランド7、ドレイン用ランド8及びソース用ランド9a、9bにハンダ付けされている。この際にスルーホール10a、10bにはハンダが充填され、ソース用ランドa、bとグランドパターンとが導通される。これにより、HEMT5のソース5Sが接地されるようになっている。
【0008】
そして、HEMT5のゲート5G及びドレイン5Dにそれぞれ負電圧、正電圧のバイアス電圧が印加されると、ゲート5Gから入力した信号が増幅されてドレイン5Dから出力されるようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の従来のマイクロ波回路1によると、ソース用ランド9a、9b内にスルーホール10a、10bが設けられているため、ソース用ランド9a、9bに塗布されたハンダがスルーホール10a、10bを介して基板2の裏面に流出する。このため、ソース5Sの接合強度が弱くなり、マイクロ波回路1の信頼性が低い問題があった。
【0010】
ハンダの流出を抑制するために、図9に示すようにソース用ランド9a、9bの外側に接してスルーホール10a、10bを設ける方法が考えられる。しかし、この場合、HEMT5のソース5Gとスルーホール10a、10bとの距離L1、L2が長くなる。
【0011】
このため、HEMT5の取付位置やソース用ランド9a、9b大きさの違いにより距離L1、L2にばらつきがあると、インダクタンスの違いにより2つのソース5S間に電位差が生じる。その結果、HEMT5の異常発振を引き起こす問題がある。
【0012】
本発明は、異常発振を発生させることなくマイクロ波デバイスを強固に接合して信頼性を向上させることのできるマイクロ波回路を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明は、裏面にグランドパターンを形成した基板の表面にリードレス型HEMTのソース、ドレイン及びゲートをそれぞれハンダ付けするためのソース用ランド、ドレイン用ランド、ゲート用ランドを形成し、前記グランドパターンと連結するスルーホールを内側に設けた前記ソース用ランドに前記ソースをハンダ付けして接地するマイクロ波回路において、前記ドレイン用ランド及び前記ゲート用ランドの長手方向の長さよりも前記ソース用ランドの長手方向の長さを長くすることで、前記ソース用ランドの面積を前記ドレイン用ランド及び前記ゲート用ランドの面積よりも広くしたことを特徴としている。
【0021】
この構成によるとHEMTのドレイン及びゲートがそれぞれドレイン用ランド及びゲート用ランドにハンダ付けされる。HEMTのソースはドレイン用ランド及びゲート用ランドよりも面積が広く塗布されるハンダ量の多いソース用ランドにハンダ付けされる。そして、ソース用ランドと基板の裏面に形成されたグランドパターンとがソース用ランド内に形成されたスルーホール内のハンダにより導通されてHEMTのソースが接地される。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施形態を図面を参照して説明する。説明の便宜上、従来例の図8、図9と同一の部分については同一の符号を付している。図1は第1実施形態のマイクロ波回路を含むLNAを備えたLNBを示す構成図である。
【0023】
21はパラボラアンテナ(不図示)に連結されたフィードホーン(1次放射器)であり、フィードホーン21から伝送線路31にRF信号が取り出される。RF信号は12.25〜12.75GHz帯域内の信号であり、LNA22で増幅された後、バンドパスフィルタ23に伝送される。
【0024】
LNA22はRF信号を増幅するアンプ22a、22bから成っている。バンドパスフィルタ23を通過した信号は、混合増幅部(MMIC)24のミキサ25へ伝送される。ミキサ25は局部発信器(LO:Local Ocsillator)27から与えられる11.3GHzの局部発信信号と入力されたRF信号との周波数差の中間信号(IF)を出力する。このため、ミキサ25から出力される中間周波信号の周波数帯域は、950〜1450MHzとなる。
【0025】
ミキサ25の中間周波信号出力はアンプから成る中間周波増幅回路26で増幅された後、結合コンデンサC1を介して出力端子29へ導出される。出力端子29はチューナ(不図示)の入力端子に接続される。チューナでは入力された中間周波信号の1つを選択することによって選局が行われる。
【0026】
出力端子29には、チューナから15Vの直流電圧が印加されるようになっている。出力端子29には高周波チョークコイルLの一端が接続され、他端にパワーサプライ28が接続されている。パワーサプライ28は印加された直流電圧に基づいてLNA22、局部発信器27及び混合増幅部24に電源を供給するようになっている。
【0027】
LNA22のアンプ22a、22bはHEMTから成っている。図2、図3はこのHEMTを実装したマイクロ波回路を示す側面断面図及び平面図である。マイクロ波回路1は、絶縁体から成る基板2上に、所謂リードレス型のHEMT5が配置されている。HEMT5は、図4の裏面図に示すように、裏面にゲート5G、ドレイン5D及び2つのソース5Sが露出している。
【0028】
基板2に形成されたマイクロストリップライン上にはゲート用ランド7及びドレイン用ランド8が設けられ、マイクロストリップラインの両側に2つのソース用ランド9a、9bが設けられている。ソース用ランド9a、9b内には、基板2を貫通するスルーホール10a、10bが形成され、基板2の裏面の略全面に形成されたグランドパターン4に連結されている。
【0029】
HEMT5のゲート5G、ドレイン5D及び2つのソース5Sはそれぞれゲート用ランド7、ドレイン用ランド8及びソース用ランド9a、9bにハンダ付けされている。スルーホール10a、10bには導電性ペースト11が充填され、ソース用ランドa、bとグランドパターンが導通されている。これにより、HEMT5のソース5Sが接地されるようになっている。
【0030】
そして、HEMT5のゲート5G及びドレイン5Dにそれぞれ負電圧、正電圧のバイアス電圧がパワーサプライ28(図1参照)により印加されると、ゲート5Gから入力した信号が増幅されてドレイン5Dから出力されるようになっている。
【0031】
本実施形態によると、スルーホール10a、10bに導電性ペースト11が充填されているため、ソース用ランド9a、9bに塗布されたハンダはスルーホール10a、10bへの流入が導電性ペースト11により遮られる。従って、ハンダ量を十分確保してソース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性を向上させることができる。
【0032】
次に、図5は第2実施形態のマイクロ波回路を示す裏面図である。本実施形態は前述の図2、図3の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くとともに、基板2の裏面の略全面に形成されるグランドパターン4上に開口したスルーホール10a、10bの周囲にレジスト13を塗布している。その他の構成は第1実施形態と同一である。
【0033】
そして、ソース用ランド9a、9b上に塗布されたハンダによりHEMT5のソース5Sがハンダ付けされる。この時、スルーホール10a、10bにハンダが流入するが、基板2の裏面でレジスト13に遮られてスルーホール10a、10bからの流出を防止することができる。従って、ハンダ量を十分確保してソース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性を向上させることができる。
【0034】
次に、図6は第3実施形態のマイクロ波回路を示す平面図である。本実施形態は、前述の図2、図3の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くとともに、ゲート用ランド7及びドレイン用ランド8よりもソース用ランド9a、9bの面積を広くしている。その他の構成は第1実施形態と同一である。
【0035】
そして、ソース用ランド9a、9b上に塗布されたハンダによりHEMT5のソース5Sがハンダ付けされる。この時、ソース用ランド9a、9bの面積が広いためソース用ランド9a、9b上に塗布されたハンダ量が多くなる。これにより、スルーホール10a、10bを介して基板2の裏面にハンダが流出しても、十分な量のハンダによりソース5Sをハンダ付けすることができる。従って、ハンダ量を十分確保してソース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性を向上させることができる。
【0036】
次に、図7は第4実施形態のマイクロ波回路を示す平面図である。本実施形態は前述の図2、図3の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くとともに、スルーホール10a、10bをソース用ランド9a、9bの外周に接して設け、ソース用ランド9a、9bを導電性パターンから成る連結部9cにより連結している。その他の構成は第1実施形態と同様である。
【0037】
スルーホール10a、10bをソース用ランド9a、9bの外周に接して設けているので、ソース用ランド9a、9bに塗布されたハンダのスルーホール10a、10bへの流入が抑制される。また、ソース5Sとスルーホール10a、10bとの距離L1、L2が長くなり、HEMT5の取付位置やソース用ランド9a、9b大きさの違いにより距離L1、L2にばらつきがあると、距離L1、L2の間でインダクタンスの違いが生じる。
【0038】
しかし、連結部9cにより2つのソース5Sが同電位に維持される。従って、ハンダ量を十分確保してソース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性を向上させることができるとともに、HEMT5の異常発振を防止することができる。
【0039】
尚、第1〜第4実施形態において、リードレス型のHEMTを実装したマイクロ波回路について説明したが、ゲート、ドレイン及びソースからリードが延出されたリード付き型のHEMT、GaAsFET等の他のマイクロ波デバイスを実装したマイクロ波回路においても同様の構成により同様の効果を得ることができる。
【0043】
【発明の効果】
本発明によると、ゲート用ランド及びドレイン用ランドよりもソース用ランドの面積が広いため、ソース用ランド上に塗布されたハンダ量が多くなる。これにより、スルーホールを介して基板の裏面にハンダが流出しても、十分な量のハンダによりリードレス型HEMTのソースをハンダ付けすることができる。従って、ハンダ量を十分確保してソースを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を含むLNAを備えたLNBを示す構成図である。
【図2】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を示す側面断面図である。
【図3】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を示す平面図である。
【図4】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路のHEMTを示す裏面図である。
【図5】 本発明の第2実施形態のマイクロ波回路を示す裏面図である。
【図6】 本発明の第3実施形態のマイクロ波回路を示す平面図である。
【図7】 本発明の第4実施形態のマイクロ波回路を示す平面図である。
【図8】 従来のマイクロ波回路を示す平面図である。
【図9】 従来の他のマイクロ波回路を示す平面図である。
【符号の説明】
1 マイクロ波回路
2 基板
4 グランドパターン
5 HEMT
5G ゲート
5D ドレイン
5S ソース
7 ゲート用ランド
8 ドレイン用ランド
9a、9b ソース用ランド
9c 連結部
10a、10b スルーホール
11 導電性ペースト
13 レジスト
21 フィードホーン
22 LNA
23 バンドパスフィルタ
24 混合増幅部
25 ミキサ
26 中間周波増幅回路
27 局部発信器
28 パワーサプライ
29 出力端子
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a microwave circuit mounted with a microwave device such as an FET or HEMT.
[0002]
[Prior art]
A low-noise high-frequency amplifier (hereinafter referred to as “LNA”) of a low-noise down converter (hereinafter referred to as “LNB”) that receives satellite broadcast or satellite communication, converts it into an intermediate frequency signal, and outputs it is formed on a substrate. It consists of a microwave circuit with elements incorporated in the microstrip line.
[0003]
In the LNA, a 12 GHz band RF signal received by an antenna is input from an input terminal. The input signal is amplified and output by two amplifiers incorporated in the microstrip line. The amplifier is composed of a microwave device such as a GaAsFET (gallium arsenide field effect transistor) or a HEMT (High Electron Mobility Transistor).
[0004]
In particular, a HEMT is a semiconductor device that uses high mobility electrons accumulated on a heterojunction surface of a compound semiconductor as carriers, and is widely used because it is suitable for high frequency amplification and high speed computation.
[0005]
FIG. 8 shows a conventional microwave circuit on which a HEMT is mounted. In the microwave circuit 1, a so-called leadless type HEMT 5 is disposed on a substrate 2 made of an insulator. A gate 5G, a drain 5D, and two sources 5S are exposed on the back surface of the HEMT 5.
[0006]
On the microstrip line formed on the substrate 2, a gate land 7 and a drain land 8 are provided, and two source lands 9a and 9b are provided on both sides of the microstrip line. Through holes 10a and 10b penetrating the substrate 2 are formed in the source lands 9a and 9b, and are connected to a ground pattern (not shown) formed on substantially the entire back surface of the substrate 2.
[0007]
The gate 5G, the drain 5D, and the two sources 5S of the HEMT 5 are soldered to the gate land 7, the drain land 8, and the source lands 9a and 9b, respectively. Through holes 10a in this, 10b solder is filled in, and the source land 9 a, 9 b and the ground pattern is conducted. As a result, the source 5S of the HEMT 5 is grounded.
[0008]
When a negative voltage and a positive bias voltage are respectively applied to the gate 5G and the drain 5D of the HEMT 5, the signal input from the gate 5G is amplified and output from the drain 5D.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, according to the conventional microwave circuit 1 described above, since the through holes 10a and 10b are provided in the source lands 9a and 9b, the solder applied to the source lands 9a and 9b is prevented from passing through the through holes 10a and 10b. And flows out to the back surface of the substrate 2. For this reason, there is a problem that the bonding strength of the source 5S becomes weak and the reliability of the microwave circuit 1 is low.
[0010]
In order to suppress the outflow of solder, a method of providing through holes 10a and 10b in contact with the outside of the source lands 9a and 9b as shown in FIG. However, in this case, the distances L1 and L2 between the source 5G of the HEMT 5 and the through holes 10a and 10b become longer.
[0011]
For this reason, if the distances L1 and L2 vary due to differences in the installation position of the HEMT 5 and the sizes of the source lands 9a and 9b, a potential difference occurs between the two sources 5S due to a difference in inductance. As a result, there is a problem that causes abnormal oscillation of the HEMT 5.
[0012]
An object of the present invention is to provide a microwave circuit capable of improving reliability by firmly joining a microwave device without causing abnormal oscillation.
[0020]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a source land, a drain land, and a gate land for soldering a source, drain and gate of a leadless HEMT to the surface of a substrate having a ground pattern formed on the back surface. In the microwave circuit in which the source is soldered to the source land having a through hole connected to the ground pattern and grounded , the length of the drain land and the gate land in the longitudinal direction is The source land is longer than the source land, so that the area of the source land is larger than the areas of the drain land and the gate land.
[0021]
According to this configuration, the drain and gate of the HEMT are soldered to the drain land and the gate land, respectively. The source of the HEMT is soldered to the source land having a larger area than the drain land and the gate land and having a larger amount of solder. Then, the source land and the ground pattern formed on the back surface of the substrate are made conductive by the solder in the through hole formed in the source land, and the source of the HEMT is grounded.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. For convenience of explanation, the same reference numerals are given to the same portions as those in FIGS. 8 and 9 of the conventional example. FIG. 1 is a configuration diagram illustrating an LNB including an LNA including the microwave circuit according to the first embodiment.
[0023]
Reference numeral 21 denotes a feed horn (primary radiator) connected to a parabolic antenna (not shown), and an RF signal is extracted from the feed horn 21 to the transmission line 31. The RF signal is a signal in the 12.25 to 12.75 GHz band, and is amplified by the LNA 22 and then transmitted to the band pass filter 23.
[0024]
The LNA 22 includes amplifiers 22a and 22b that amplify the RF signal. The signal that has passed through the bandpass filter 23 is transmitted to the mixer 25 of the mixing amplification unit (MMIC) 24. The mixer 25 outputs an intermediate signal (IF) of a frequency difference between the 11.3 GHz local transmission signal given from a local oscillator (LO) 27 and the input RF signal. For this reason, the frequency band of the intermediate frequency signal output from the mixer 25 is 950 to 1450 MHz.
[0025]
The intermediate frequency signal output of the mixer 25 is amplified by an intermediate frequency amplifier circuit 26 comprising an amplifier, and then is output to an output terminal 29 via a coupling capacitor C1. The output terminal 29 is connected to an input terminal of a tuner (not shown). The tuner selects a channel by selecting one of the input intermediate frequency signals.
[0026]
A DC voltage of 15 V is applied to the output terminal 29 from the tuner. One end of the high frequency choke coil L is connected to the output terminal 29, and the power supply 28 is connected to the other end. The power supply 28 supplies power to the LNA 22, the local oscillator 27, and the mixing amplifier 24 based on the applied DC voltage.
[0027]
The amplifiers 22a and 22b of the LNA 22 are composed of HEMTs. 2 and 3 are a side sectional view and a plan view showing a microwave circuit in which the HEMT is mounted. In the microwave circuit 1, a so-called leadless type HEMT 5 is disposed on a substrate 2 made of an insulator. As shown in the rear view of FIG. 4, the HEMT 5 has a gate 5G, a drain 5D, and two sources 5S exposed on the rear surface.
[0028]
On the microstrip line formed on the substrate 2, a gate land 7 and a drain land 8 are provided, and two source lands 9a and 9b are provided on both sides of the microstrip line. Through holes 10a and 10b penetrating the substrate 2 are formed in the source lands 9a and 9b, and are connected to the ground pattern 4 formed on substantially the entire back surface of the substrate 2.
[0029]
The gate 5G, the drain 5D, and the two sources 5S of the HEMT 5 are soldered to the gate land 7, the drain land 8, and the source lands 9a and 9b, respectively. Through holes 10a, 10b conductive paste 11 is filled, the source land 9 a, 9 b and the ground pattern is conductive. As a result, the source 5S of the HEMT 5 is grounded.
[0030]
When a negative voltage and a positive bias voltage are respectively applied to the gate 5G and the drain 5D of the HEMT 5 by the power supply 28 (see FIG. 1), the signal input from the gate 5G is amplified and output from the drain 5D. It is like that.
[0031]
According to the present embodiment, since the through holes 10a and 10b are filled with the conductive paste 11, the solder applied to the source lands 9a and 9b is blocked from flowing into the through holes 10a and 10b by the conductive paste 11. It is done. Accordingly, the source 5S can be firmly soldered with a sufficient amount of solder, and the reliability of the microwave circuit 1 can be improved.
[0032]
Next, FIG. 5 is a back view showing the microwave circuit of the second embodiment. In the present embodiment, the conductive paste 11 is omitted from the first embodiment shown in FIGS. 2 and 3, and through holes 10 a and 10 b opened on the ground pattern 4 formed on substantially the entire back surface of the substrate 2. A resist 13 is applied around the substrate. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0033]
Then, the source 5S of the HEMT 5 is soldered by solder applied on the source lands 9a and 9b. At this time, the solder flows into the through holes 10a and 10b, but the back surface of the substrate 2 is blocked by the resist 13 and can be prevented from flowing out of the through holes 10a and 10b. Accordingly, the source 5S can be firmly soldered with a sufficient amount of solder, and the reliability of the microwave circuit 1 can be improved.
[0034]
Next, FIG. 6 is a plan view showing the microwave circuit of the third embodiment. In the present embodiment, the conductive paste 11 is omitted from the first embodiment shown in FIGS. 2 and 3, and the areas of the source lands 9a and 9b are made larger than those of the gate land 7 and the drain land 8. ing. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0035]
Then, the source 5S of the HEMT 5 is soldered by solder applied on the source lands 9a and 9b. At this time, since the areas of the source lands 9a and 9b are large, the amount of solder applied on the source lands 9a and 9b increases. Thereby, even if solder flows out to the back surface of the substrate 2 through the through holes 10a and 10b, the source 5S can be soldered with a sufficient amount of solder. Accordingly, the source 5S can be firmly soldered with a sufficient amount of solder, and the reliability of the microwave circuit 1 can be improved.
[0036]
Next, FIG. 7 is a plan view showing the microwave circuit of the fourth embodiment. In the present embodiment, the conductive paste 11 is omitted from the first embodiment shown in FIGS. 2 and 3, and the through holes 10a and 10b are provided in contact with the outer periphery of the source lands 9a and 9b. 9b are connected by a connecting portion 9c made of a conductive pattern. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
[0037]
Since the through holes 10a and 10b are provided in contact with the outer peripheries of the source lands 9a and 9b, the solder applied to the source lands 9a and 9b is prevented from flowing into the through holes 10a and 10b. Further, when the distances L1 and L2 between the source 5S and the through holes 10a and 10b become long and the distances L1 and L2 vary due to the difference in the HEMT 5 mounting position and the size of the source lands 9a and 9b, the distances L1 and L2 Differences in inductance occur between the two.
[0038]
However, the two sources 5S are maintained at the same potential by the connecting portion 9c. Therefore, the source 5S can be firmly soldered with a sufficient amount of solder to improve the reliability of the microwave circuit 1, and abnormal oscillation of the HEMT 5 can be prevented.
[0039]
In the first to fourth embodiments, the microwave circuit on which the leadless HEMT is mounted has been described. However, other types of leads such as a HEMT and a GaAsFET with leads in which leads are extended from the gate, drain, and source are described. The same effect can be obtained with a similar configuration in a microwave circuit mounted with a microwave device.
[0043]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the area of the source land is larger than that of the gate land and the drain land, the amount of solder applied on the source land is increased. Thereby, even if solder flows out to the back surface of the substrate through the through hole, the source of the leadless HEMT can be soldered with a sufficient amount of solder. Therefore, a sufficient amount of solder can be secured to firmly solder the source, and the reliability of the microwave circuit can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an LNB including an LNA including a microwave circuit according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a side sectional view showing the microwave circuit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a plan view showing the microwave circuit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a back view showing the HEMT of the microwave circuit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a back view showing a microwave circuit according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a plan view showing a microwave circuit according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a plan view showing a microwave circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a plan view showing a conventional microwave circuit.
FIG. 9 is a plan view showing another conventional microwave circuit.
[Explanation of symbols]
1 Microwave circuit 2 Substrate 4 Ground pattern 5 HEMT
5G Gate 5D Drain 5S Source 7 Gate Land 8 Drain Land 9a, 9b Source Land 9c Connection Portion 10a, 10b Through Hole 11 Conductive Paste 13 Resist 21 Feed Horn 22 LNA
23 Band pass filter 24 Mixing amplifier 25 Mixer 26 Intermediate frequency amplifier 27 Local transmitter 28 Power supply 29 Output terminal

Claims (1)

裏面にグランドパターンを形成した基板の表面にリードレス型HEMTのソース、ドレイン及びゲートをそれぞれハンダ付けするためのソース用ランド、ドレイン用ランド、ゲート用ランドを形成し、前記グランドパターンと連結するスルーホールを内側に設けた前記ソース用ランドに前記ソースをハンダ付けして接地するマイクロ波回路において、
前記ドレイン用ランド及び前記ゲート用ランドの長手方向の長さよりも前記ソース用ランドの長手方向の長さを長くすることで、前記ソース用ランドの面積を前記ドレイン用ランド及び前記ゲート用ランドの面積よりも広くしたことを特徴とするマイクロ波回路。
A source land, a drain land, and a gate land for soldering the source, drain, and gate of a leadless HEMT are formed on the front surface of the substrate on which a ground pattern is formed on the back surface, and connected to the ground pattern. In the microwave circuit that solders the source to the source land provided with a hole inside and grounds the source land,
By making the length in the longitudinal direction of the source land longer than the length in the longitudinal direction of the drain land and the gate land, the area of the source land is reduced to the area of the drain land and the gate land. A microwave circuit characterized by being made wider.
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