JP4192076B2 - Power supply evaluation method, evaluation device and production facility - Google Patents
Power supply evaluation method, evaluation device and production facility Download PDFInfo
- Publication number
- JP4192076B2 JP4192076B2 JP2003388821A JP2003388821A JP4192076B2 JP 4192076 B2 JP4192076 B2 JP 4192076B2 JP 2003388821 A JP2003388821 A JP 2003388821A JP 2003388821 A JP2003388821 A JP 2003388821A JP 4192076 B2 JP4192076 B2 JP 4192076B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- supply device
- voltage
- output voltage
- parallel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
Description
本発明は、並列運転が可能な電源装置、並列電源が可能な電源装置を使用した電源システム、および、これらを使用した電子装置、並びに、これらの評価方法およびこれを使用した電源評価装置に関する。 The present invention relates to a power supply device capable of parallel operation, a power supply system using a power supply device capable of parallel power supply, an electronic device using them, an evaluation method thereof, and a power supply evaluation device using the same.
電子機器などに電力を供給する電源装置には、通常、保護機能が付加されており、その保護機能には過電圧保護機能が含まれているのが通常である。過電圧保護機能は、通常、部品損傷等の防止を目的として具備されていて、電源装置の出力電圧が異常に高くなった場合に、出力電圧を低下させたり、電源装置の動作を停止させたり、異常が発生したことを報告したりする。こうして、電源装置内部の部品、あるいは、電源装置に接続された負荷にある部品に、高い電圧がかかって、その部品が破損する、損傷する、あるいは異常になるなどを防止する。 A power supply device that supplies electric power to an electronic device or the like is usually provided with a protection function, and the protection function usually includes an overvoltage protection function. The overvoltage protection function is usually provided for the purpose of preventing component damage, etc., and when the output voltage of the power supply device becomes abnormally high, the output voltage is lowered, the operation of the power supply device is stopped, Or reporting that an anomaly has occurred. Thus, a high voltage is applied to the components inside the power supply device or the components in the load connected to the power supply device to prevent the components from being damaged, damaged or abnormal.
従って、過電圧保護機能があると部品の破損などの発生を減少させられるので、過電圧保護機能は製品安全と関係する重要な機能であり、電源装置の仕様には過電圧保護機能が挙げられているのが普通である。過電圧保護機能は、電源装置開発時に評価され、また、製品の出荷時に電源装置単体で全数試験が行われるのが普通である。 Therefore, if there is an overvoltage protection function, the occurrence of damage to parts can be reduced, so the overvoltage protection function is an important function related to product safety, and the overvoltage protection function is listed in the power supply specifications. Is normal. The overvoltage protection function is evaluated at the time of power supply device development, and it is common that all power supply devices are tested at the time of product shipment.
電源装置の過電圧保護機能の例は数多くあり、例えば非特許文献1「スイッチング電源ハンドブック第2版」原田耕介、日刊工業新聞社、122ページ、163ページなどに目的や回路例、仕様例などが記載されており、電源装置のカタログでは、例えば非特許文献2「スイッチング電源・ノイズフィルタ総合カタログ2002」デンセイ・ラムダ株式会社、B−38ページ、B−162ページ、および、非特許文献3「COSEL 2001/2002 POWER SUPPLIES」 COSEL Co.Ltd.,A−112ページなどに具体的な仕様が記載されている。これらの例によれば、過電圧保護回路の動作電圧は、電源装置の定格出力電圧よりも25%程度高い電圧であることが多い。また、非特許文献4「スイッチング電源・ノイズフィルタ総合カタログ2002」デンセイ・ラムダ株式会社、B−45ページに過電圧保護機能の動作の確認法が記載されており、図14に示すように、電源装置101は単体で、入力電源装置001と負荷002を接続し、出力電圧を上げる端子TRMに抵抗199を接続して出力電圧を上昇させている。
There are many examples of overvoltage protection functions of power supply devices. For example, Non-Patent Document 1 "Switching Power Supply Handbook 2nd Edition" Kosuke Harada, Nikkan Kogyo Shimbun, pages 122, 163, etc. describe purposes, circuit examples, specification examples, etc. For example, Non-Patent Document 2 “Switching Power Supply / Noise Filter General Catalog 2002”, Densei Lambda Corporation, B-38 page, B-162 page, and Non-Patent Document 3 “COSEL 2001”. / 2002 POWER SUPPLIES "COSEL Co. Ltd .. , A-112, etc., specific specifications are described. According to these examples, the operating voltage of the overvoltage protection circuit is often about 25% higher than the rated output voltage of the power supply device. Further,
他の保護機能として、低電圧保護機能がある場合があり、例えば、出力電圧が規定値より低下した場合に、その旨を報告や表示したり、電源装置の動作を停止させたりする場合があるが、これらも、過電圧保護機能と同様に、電源装置開発時に評価され、また、製品の出荷時に電源装置単体で試験が行われるのが普通である。低電圧保護機能の例は、例えば非特許文献5「スイッチング電源ハンドブック第2版」原田耕介、日刊工業新聞社、123ページに見ることができる。 There are cases where there is a low-voltage protection function as another protection function. For example, when the output voltage drops below a specified value, this may be reported or displayed, or the operation of the power supply may be stopped. However, as with the overvoltage protection function, these are also evaluated at the time of power supply device development, and tests are normally performed on the power supply device alone at the time of product shipment. An example of the low voltage protection function can be found in, for example, Non-Patent Document 5 “Switching Power Supply Handbook Second Edition”, Kosuke Harada, Nikkan Kogyo Shimbun, page 123.
電源システムの信頼性向上のために、並列冗長構成を採用する場合がある。これは、並列運転可能な電源装置を複数台並列接続し、必要台数より多い台数の電源装置を並列接続した構成にするもので、例えば、必要台数がN台のとき、N+1台あるいは2N台の電源装置を並列接続して運転した構成である。このようにすれば、電源装置が1台停止しても、他の電源装置で電力を供給することができる。このような、並列運転の技術、並列冗長運転の技術は、近年、研究開発が行われており、その例を、”スイッチング電源・ノイズフィルタ総合カタログ2002”デンセイ・ラムダ株式会社、A−178、179ページ、A−242ページ、”COSEL 2001/2002 POWER SUPPLIES” COSEL Co.Ltd.,A−125、126ページ、などに見ることができる。 A parallel redundant configuration may be employed to improve the reliability of the power supply system. This is a configuration in which a plurality of power supply devices that can be operated in parallel are connected in parallel and more power supplies than the required number are connected in parallel. For example, when the required number is N, N + 1 or 2N In this configuration, the power supply devices are connected in parallel. In this way, even if one power supply device is stopped, power can be supplied from another power supply device. In recent years, such parallel operation technology and parallel redundant operation technology have been researched and developed, and examples thereof include “Switching Power Supply / Noise Filter General Catalog 2002” Densei Lambda Corporation, A-178, 179 pages, A-242 pages, “COSEL 2001/2002 POWER SUPPLIES” COSEL Co. Ltd .. , A-125, page 126, etc.
並列冗長構成の電源システムにおいて、各電源装置の保護回路は、電源装置単体時に定められたとおりの動作をする。例えば、過電圧保護回路は、監視している出力電圧が所定の電圧に達したときに、電源装置を停止させる。複数の電源装置が並列接続されている場合には、製造バラツキのため、どの過電圧検出回路が最初に動作するかが不明な場合がある。そのため、過電圧の状態になった電源装置を選択的に停止させたい場合があり、そのための技術の開発が行われていて、この例を、特開平4−372525「スイッチング電源装置」や、特開平5−189065「並列運転時の過電圧検出方式」に見ることができる。 In the power supply system of the parallel redundant configuration, the protection circuit of each power supply device operates as determined for the power supply device alone. For example, the overvoltage protection circuit stops the power supply apparatus when the monitored output voltage reaches a predetermined voltage. When a plurality of power supplies are connected in parallel, for the manufacturing variations, which overvoltage detection circuit operates initially is unknown if. For this reason, there is a case where it is desired to selectively stop the power supply device in an overvoltage state, and a technology for that purpose has been developed. 5-189065 “Overvoltage detection method during parallel operation”.
同様に、低電圧の状態についても、同様に選択的に停止、検出あるいは状態を報告させたい場合がある。 Similarly, there is a case where it is desired to selectively stop, detect, or report the state of the low voltage state as well.
すなわち、並列冗長構成の電源システムにおいて、過電圧や低電圧のような電源装置の出力電圧の異常に対して、異常を生じた電源装置を選択的な停止などをさせたい場合がある。 That is, in a power supply system with a parallel redundant configuration, there is a case where it is desired to selectively stop the power supply device in which an abnormality has occurred in response to an abnormality in the output voltage of the power supply device such as an overvoltage or a low voltage.
従って、このような試験、評価を行うために、適切な試験方法、評価方法が必要とされる場合がある。すなわち、並列冗長構成の電源システムにおいて、出力電圧の異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの試験方法、評価方法が必要とされる場合がある。しかし、現時点では、このような方法は見当たらない。 Therefore, in order to perform such a test and evaluation, an appropriate test method and evaluation method may be required. In other words, in a power supply system with a parallel redundant configuration, a test method and an evaluation method for whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to an output voltage abnormality may be required. However, there is no such method at present.
更に、電源装置の過電圧の異常の状態や低電圧の異常の状態や、それに至る過程を分析して見ると、筆者らの研究によれば、部品の故障、異常、損傷には様々な原因があるため、その異常の発生速度、進展速度は様々となって、上記の試験や評価には、このように、異常の発生速度等に対応できるものが必要となる場合がある。しかし、現時点では、このような方法は見当たらない。 Furthermore, according to the authors' research, there are various causes of component failure, abnormality, and damage when analyzing the state of abnormalities of overvoltage and low voltage in the power supply and the process leading to it. For this reason, the occurrence speed and the development speed of the abnormality vary, and the above-described tests and evaluations may require a thing that can cope with the occurrence speed of the abnormality as described above. However, there is no such method at present.
本発明は、配線を電気的に切断するという手法、抵抗や電圧を変化させる手法を、電源装置の負帰還経路、基準電圧部、あるいは、パルス制御部に適用することにより、上記目的を実現するものである。 The present invention achieves the above object by applying a method of electrically disconnecting wiring and a method of changing resistance and voltage to a negative feedback path, a reference voltage unit, or a pulse control unit of a power supply device. Is.
本発明によれば、出力電圧を緩慢、急峻など任意の速度で変化させる手段を備えることにより、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢、急峻など任意の速度の異常に対して、該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否か、あるいは、出力電圧が所望の範囲に収まっているか否か、の試験方法、評価方法が実現できる。また、これを実行する試験装置が実現できる。さらに、この評価方法、試験方法、あるいは試験装置を用いて電源装置、電源システムあるいは電子装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 According to the present invention, by providing a means for changing the output voltage at an arbitrary speed such as slow or steep, the power supply apparatus of the parallel redundant configuration is applicable to any speed abnormality such as slow or steep output voltage. It is possible to realize a test method and an evaluation method of whether or not the power supply device is selectively detected or stopped, or whether or not the output voltage is within a desired range. In addition, a test apparatus that executes this can be realized. Furthermore, it is possible to increase the added value by testing or evaluating the power supply device, the power supply system, or the electronic device using this evaluation method, test method, or test apparatus.
以下、本発明を、実施の形態を用いて詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail using embodiments.
(実施例1)
図1は実施例1のブロック構成を示す図である。
(Example 1)
FIG. 1 is a diagram illustrating a block configuration of the first embodiment.
実施例1のブロック構成では、電源装置101と電源装置201の2台の電源装置で、入力端子+Vin、−Vinがそれぞれ共通に接続されて入力電源装置001に接続され電力の供給を受け、出力端子+Voと−Voがそれぞれ共通に接続されて負荷002に電力を供給している。並列運転のために、電源装置101と201は、電流バランス端子CBを互いに接続していて、互いの出力電流を観測しながら出力電圧を調整して、2台の電源装置の出力電流が等しくなるような制御が行われている。この実施例1は、冗長並列構成の電源装置であり、片方の電源装置が停止しても、他方の電源装置で負荷の電力をまかなう能力を持っている。
In the block configuration of the first embodiment, the two power supply devices, the
一般的に、電源装置には負帰還用の端子が設けられていることが多い。この端子はリモートセンス端子、検出端子などと呼ばれることがあり、この端子に接続される配線は、リモートセンス配線、あるいは、リモートセンス線と呼ばれることがある。電源装置は、このリモートセンス端子の電圧を監視して所定の電圧になるように動作する。すなわち、リモートセンス配線が出力端子に接続されていれば、出力端子の電圧が所定の値になるし、出力端子から負荷への配線が長くて電流による電圧降下が予想される場合などに、リモートセンス端子を負荷点に接続しておけば、負荷点の電圧が所定の値になるので、配線の電圧降下を補償することができる。図1では、電源装置101、201中の端子+RSと−RSがリモートセンス端子である。
In general, the power supply device is often provided with a terminal for negative feedback. This terminal may be referred to as a remote sense terminal, a detection terminal, or the like, and a wiring connected to this terminal may be referred to as a remote sense wiring or a remote sense line. The power supply device operates to monitor the voltage of the remote sense terminal so as to become a predetermined voltage. In other words, if the remote sense wiring is connected to the output terminal, the voltage at the output terminal will be a predetermined value, and if the wiring from the output terminal to the load is long and a voltage drop due to current is expected, If the sense terminal is connected to the load point, the voltage at the load point becomes a predetermined value, so that the voltage drop of the wiring can be compensated. In FIG. 1, terminals + RS and -RS in the
図1に示す実施例1では、電源装置101、201のリモートセンス端子+RSに接続されたリモートセンス線にスイッチ103、203を設けている。このスイッチを切断すると、監視電圧がなくなる、あるいは低下するので、電源装置101、201の出力電圧が上昇する。スイッチなどによる切断は急激な現象なので、電源装置101、201の出力電圧は電源装置101、201が持つ最大限の速度で上昇する。すなわち、出力電圧が急峻に上昇し、急峻な過電圧の発生の状態を模擬した状態になる。この条件下で過電圧保護回路の動作を確認すれば、冗長電源装置としての良否の評価を行うことができる。過電圧保護回路の動作の確認は各電源装置に応じた方法で行えば良く、電気的な報告を見る方法、回路の波形や電圧を見る方法、ランプの点灯や消灯を見る方法などで行えば良いが、図1には図示していない。
In the first embodiment illustrated in FIG. 1,
ここで、スイッチ103を断としてリモートセンス線を切断したとき、リモートセンス線を切断された電源装置101が停止すれば、冗長電源システムとして所望の動作をしたのだから、この評価に用いられた電源装置101または201あるいは両方は所望の動作をする電源装置だと判定できる。逆に、スイッチ103を断としてリモートセンス線を切断された電源装置101とは異なる電源装置201が停止すれば、冗長電源システムとして所望の動作をしなかったのだから、この評価に用いられた電源装置101、201は所望の動作をする冗長電源システム用に適した電源装置ではないと判定できる。
Here, when the
この評価作業を1回のみ行ったのでは、偶然に成功した可能性が排除できないとして心配な場合には、例えば、リモートセンス線を切断する電源装置を交代して同様の評価作業を行えば、その心配は排除あるいは低減することができる。すなわち、図1では、スイッチ103を断として評価作業を行い、更に、スイッチ203を断として評価作業を行い、それぞれの結果を総合的に評価すれば、偶然に成功した可能性は排除あるいは低減できる。
If this evaluation work is performed only once and there is a concern that the possibility of accidental success cannot be excluded, for example, if the same evaluation work is performed by replacing the power supply device that cuts the remote sense line, That concern can be eliminated or reduced. That is, in FIG. 1, if the evaluation work is performed with the
また、各電源装置101、201の出力電圧の設定を故意に変えておく方法がある。例えば、電源装置101の出力電圧設定を定格よりも1%低く、電源装置201の出力電圧設定を定格よりも1%高く設定しておいて、電源装置101のスイッチ103を断としてリモートセンス線を切断して評価作業を行う方法がある。逆の設定を試しても良い。このようにすれば、各電源装置の設定電圧の製造バラツキや経時変化その他を考慮した、より厳密な、あるいはより厳しい評価が可能になる。
There is also a method of intentionally changing the setting of the output voltage of each of the
図1中に示したスイッチ103、203は、機械的接点を持つスイッチでも、半導体スイッチでも、他のスイッチでも良い。スイッチの接続箇所も、+RS端子でなく、−RS他でも良い。
The
電源装置の並列接続、並列運転での要点は、出力端子が直接あるいは間接に共通に接続されていることであり、入力端子が共通に接続されているか否かは重要でない。 The main point in the parallel connection and parallel operation of the power supply devices is that the output terminals are connected directly or indirectly in common, and it is not important whether the input terminals are connected in common.
なお、図1の実施例1では、並列接続された電源装置は2台であるが、台数を増やして試験や評価を行うことは容易にできる。冗長並列構成の考え方には、必要台数Nに対して、N+1構成と2N構成の考え方があるが、明らかに、どの考え方にも対応できる。 In addition, in Example 1 of FIG. 1, although there are two power supply devices connected in parallel, it is easy to perform tests and evaluations by increasing the number of power supply devices. The concept of redundant parallel configuration includes N + 1 configuration and 2N configuration for the required number N, but obviously any concept can be handled.
このように、実施例1では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの判定により評価するものである。 As described above, in the first embodiment, in the power supply apparatus of the parallel redundant configuration, evaluation is performed by determining whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the steep abnormality of the output voltage.
(実施例2)
図2は実施例2のブロック構成を示す図である。
(Example 2)
FIG. 2 is a diagram illustrating a block configuration of the second embodiment.
実施例2の考え方は、実施例1の考え方と基本的には同じであり、電源装置101、201のリモートセンス端子+RSにスイッチ103、203が接続されている。この電源装置101、201は、過電圧検出端子+OVP、−OVPを持っていて、電源装置内部の過電圧保護回路に接続されているが、この過電圧検出端子+OVP、−OVPがそれぞれ負荷002の端子003と004に接続されている。また、各電源装置の正の出力端子+Voと負荷の端子003の間は、ダイオード103、203が接続されているが、これは、オア・ダイオードと呼ばれることもある、冗長並列構成の電源装置に良く見られるダイオードである。この図2の回路では、過電圧検出端子+OVP、−OVPは、電源装置の出力端子+Vo、−Voではなく、負荷002の端子003と004に接続されていて、負荷点での電圧を監視しながら過電圧を判定するような接続になっているので、負荷にとって、正確な過電圧の検出が可能になっている。
The idea of the second embodiment is basically the same as that of the first embodiment, and the
実施例2においても、実施例1と同様な試験、評価、すなわち、冗長電源装置としての過電圧保護回路の動作の良否の試験、評価を行うことができる。リモートセンス端子+RSへの接続にスイッチ103、203が挿入されている。スイッチを使っているので、実施例1と同様に、急峻な過電圧を模擬した試験、評価が可能である。
Also in the second embodiment, tests and evaluations similar to those in the first embodiment, that is, tests and evaluations of the quality of the operation of the overvoltage protection circuit as the redundant power supply device can be performed.
また、電源装置に、図2には図示されていないが、低電圧検出回路が付いている場合には、別の手段で電源装置を1台停止させて、正しい電源装置の低電圧検出回路が動作したか否かを確認すれば、冗長電源装置としての低電圧検出回路の動作の良否の試験、評価を行うことができる。 If the power supply device is not shown in FIG. 2, but has a low voltage detection circuit, one power supply device is stopped by another means, and the correct low voltage detection circuit for the power supply device is provided. If it is confirmed whether or not it has been operated, it is possible to test and evaluate the operation of the low-voltage detection circuit as a redundant power supply device.
このように、実施例2でも、実施例1と同様、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの判定により評価することができる。 As described above, in the second embodiment, similarly to the first embodiment, in the power supply apparatus in the parallel redundant configuration, evaluation is performed by determining whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the steep abnormality of the output voltage. can do.
(実施例3)
図3は実施例3のブロック構成を示す図である。
(Example 3)
FIG. 3 is a diagram illustrating a block configuration of the third embodiment.
実施例3のブロック構成は、図1に示す実施例1のブロック構成と本質的に同じであるが、実施例1のスイッチ103、203の代わりに、可変器抵抗器104、204を接続していることである。電源装置101、201のリモートセンス端子+RSの入力抵抗を考慮した適切な抵抗値を選べば、可変器抵抗器104、204の抵抗値を変化させることによって、リモートセンス端子+RSにかかる電圧を変化させて、スイッチ103、203を断とするのと類似の作用で各電源装置の出力電圧を変化させることができる。
The block configuration of the third embodiment is essentially the same as the block configuration of the first embodiment shown in FIG. 1, except that
この可変抵抗器の抵抗値が0のときは、電源装置は正規の出力電圧を出力する。この可変抵抗器の抵抗値を増大させると、電源装置の出力電圧は上昇する。電源装置はCB端子を経由して並列運転の接続が成されているので、電流バランス機能により、全電源装置の出力電圧が上昇する。更に抵抗値を増大させると、更に出力電圧が上昇し、過電圧保護回路が動作する。 When the resistance value of this variable resistor is 0, the power supply device outputs a normal output voltage. When the resistance value of the variable resistor is increased, the output voltage of the power supply device increases. Since the power supply devices are connected in parallel operation via the CB terminal, the output voltage of all the power supply devices increases due to the current balance function. When the resistance value is further increased, the output voltage further increases and the overvoltage protection circuit operates.
可変器抵抗器104の抵抗値を増大させたときに電源装置101が停止すれば、冗長電源システムとして所望の動作をしたのだから、この評価に用いられた電源装置101または201あるいは両方は所望の動作をする電源装置だと判定できるし、逆に、電源装置201が停止すれば、冗長電源システムとして所望の動作をしなかったのだから、この評価に用いられた電源装置は所望の動作をする電源装置ではないと判定できる。また、可変抵抗204に関しても、同様の試験、評価が行える。
If the
実施例3では、可変器抵抗器を使用しているため、ゆっくりと出力電圧を上昇させて、過電圧の状態に至らしめることが可能である。すなわち、緩慢な過電圧を発生させることができる。この発生速度、あるいは、出力電圧の上昇速度は、可変抵抗器の抵抗を変化させる速度で制御することができる。もし、1ヶ月のような長い時間をかけて出力電圧を上昇させれば、電源装置内の部品のゆっくりとした劣化を模擬することができるし、1秒、0.1秒のような、より早い故障を模擬することもできる。また、十分短い時間で変化させれば、スイッチ103、203を断とするのと同様、急峻な過電圧を発生させることもできる。
In the third embodiment, since the variable resistor is used, the output voltage can be slowly increased to reach an overvoltage state. That is, a slow overvoltage can be generated. The generation speed or the output voltage increase speed can be controlled by a speed at which the resistance of the variable resistor is changed. If the output voltage is increased over a long period of time such as one month, it is possible to simulate the slow deterioration of the components in the power supply device, such as 1 second and 0.1 second. It can also simulate early failure. If the change is made in a sufficiently short time, a steep overvoltage can be generated as in the case where the
実施例3の方法は、電源装置の出力電圧の設定を変更して、試験、評価を行う方法でもある。 The method of the third embodiment is also a method for performing testing and evaluation by changing the setting of the output voltage of the power supply device.
通常は、可変器抵抗器104の抵抗値を増大させる試験では、可変器抵抗器204の抵抗値はゼロにして置くのが基本となるが、電源装置201の定格電圧を定格より高く設定するのにも利用することができる。例えば、可変器抵抗器204の抵抗値を小さな値に設定して、電源装置201の出力電圧を定格より1%高く設定して置き、この条件下で、可変器抵抗器104の抵抗値を大きな値まで増大させて過電圧を発生させ、過電圧保護回路が所望の動作をするか否かを試験、評価することができる。
Normally, in the test to increase the resistance value of the
可変抵抗器には、手動のもの、電気的、電子的に可変のもの、ディジタル型のもの、その他を使用することができる。 As the variable resistor, a manual resistor, an electrically or electronically variable resistor, a digital resistor, or the like can be used.
このように、実施例3では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現できる。 As described above, in the third embodiment, it is possible to evaluate whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration.
(実施例4)
図4は実施例4のブロック構成を示す図である。
Example 4
FIG. 4 is a diagram illustrating a block configuration of the fourth embodiment.
実施例4では、電源装置101、201の内部回路の一部の具体例が書いてある。電源装置101において、リモートセンス端子+RSと−RSの間には、直列接続される分圧抵抗106、107が接続されており、この分圧された電圧と、基準電圧109の電圧が、誤差増幅器108で比較されて、パワー回路105に出力電圧を上昇させるか降下させるかの指令を出す。この抵抗106、107の配線を電源装置の外に引き出して、可変抵抗器110とスイッチ111の直列回路が接続されている。電源装置102においても同様である。
In the fourth embodiment, a specific example of a part of the internal circuit of the
実施例4の回路は、電気的には図1あるいは図2と同じであり、電気的な相違点はスイッチと可変抵抗器の直列回路が接続されていて、これを引き出す端子が設けられていることである。 The circuit of the fourth embodiment is electrically the same as that of FIG. 1 or FIG. 2, and the electrical difference is that a series circuit of a switch and a variable resistor is connected, and a terminal for drawing out this is provided. That is.
実施例4を用いれば、実施例1、3と同様な試験、評価、すなわち、冗長電源装置としての過電圧保護回路の動作の良否の試験、評価を行うことができる。可変抵抗器が付加されているので、緩慢な過電圧を起こすこともできるし、スイッチがついているので、急峻な過電圧を起こすこともできる。抵抗器の抵抗値は急激に変化させれば、スイッチがなくても、急峻な過電圧を起こすこともできるのは実施例3と同じである。 By using the fourth embodiment, it is possible to perform the same tests and evaluations as in the first and third embodiments, that is, test and evaluation of the quality of the operation of the overvoltage protection circuit as the redundant power supply device. Since a variable resistor is added, a slow overvoltage can be caused, and since a switch is attached, a steep overvoltage can be caused. If the resistance value of the resistor is changed abruptly, a steep overvoltage can be caused without a switch as in the third embodiment.
このように、実施例4では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現できる。また、分圧抵抗と並列にスイッチや抵抗などを接続すれば、低電圧に対する異常の評価が実現できる。 As described above, in the fourth embodiment, it is possible to evaluate whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration. In addition, if a switch or a resistor is connected in parallel with the voltage dividing resistor, it is possible to evaluate an abnormality for a low voltage.
(実施例5)
図5は実施例5のブロック構成を示す図である。
(Example 5)
FIG. 5 is a diagram illustrating a block configuration of the fifth embodiment.
実施例5では、実施例4と同様、電源装置101、201の内部回路の一部の具体例が書いてある。電源装置101において、リモートセンス端子+RSと−RSの間には、直列接続される分圧抵抗106、107が接続されており、この分圧された電圧と、基準電圧109の電圧が、誤差増幅器108で比較されて、パワー回路105に出力電圧を上昇させるか降下させるかの指令を出す点においては実施例4と同じである。この抵抗106、107の配線を電源装置の外に引き出して、端子を設けて、外部の電圧源112が接続されている。電圧源112の一端は電源装置101の−Vo端子に接続され、電圧源112の他端は分圧抵抗106、107の接続点に接続されている。電源装置201も同様である。
In the fifth embodiment, as in the fourth embodiment, a specific example of a part of the internal circuit of the
実施例5では、外部の電圧源112あるいは212を制御することにより、出力電圧の設定を任意に変更、制御することができる。ある程度大きな内部抵抗の電圧源を用いれば、分圧抵抗106、107の分圧回路の既存の動作に対して、外部電圧を加算する動作とすることもできるから、該当電源装置の出力電圧を上げることも下げることもできるようになり、その速度も任意に制御可能である。従って、急峻な過電圧、緩慢な過電圧、急峻な低電圧、緩慢な低電圧など、任意の速度で任意の状態を作ることができる。従って、実施例5用いれば、出力電圧の任意の速度の任意の状態に対して、冗長電源装置としての過電圧保護回路や低電圧検出回路の動作の良否の評価を行うことができる。
In the fifth embodiment, the output voltage setting can be arbitrarily changed and controlled by controlling the
このように、実施例5では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価を実現できる。 As described above, in the fifth embodiment, in the power supply apparatus of the parallel redundant configuration, it is possible to realize whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage.
(実施例6)
図6は実施例6のブロック構成を示す図である。
(Example 6)
FIG. 6 is a diagram illustrating a block configuration of the sixth embodiment.
実施例6では、実施例5と同様、電源装置101、201の内部回路の一部の具体例が書いてある。電源装置101において、リモートセンス端子+RSと−RSの間には、直列接続される分圧抵抗106、107が接続されており、この分圧された電圧と、基準電圧109の電圧が、誤差増幅器108で比較されて、パワー回路105に出力電圧を上昇させるか降下させるかの指令を出す点においては実施例5と同じである。しかし、端子を設けて、外部の電圧源114が接続され、電圧源114の一端が電源装置101の−Vo端子に接続され、電圧源114の他端が電圧加算回路113に接続されて、基準電圧109の電圧を修飾できる点において異なる。すなわち、誤差増幅器108は電圧源114の電圧で修飾された基準電圧109の電圧を基準として、直列接続された分圧抵抗106、107で分圧された電圧により、出力電圧を制御することになる。電源装置201も同様である。
In the sixth embodiment, as in the fifth embodiment, a specific example of a part of the internal circuit of the
実施例6では、実施例5と同様に、外部の電圧源114あるいは214を制御することにより、出力電圧の設定を任意に変更、制御することができる。実施例6を用いれば、出力電圧の任意の速度の任意の状態に対して、冗長電源装置としての過電圧保護回路や低電圧検出回路の動作の良否の評価を行うことができる。
In the sixth embodiment, as in the fifth embodiment, the setting of the output voltage can be arbitrarily changed and controlled by controlling the
このように、実施例6では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現できる。 As described above, in the sixth embodiment, it is possible to evaluate whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration.
(実施例7)
図7は実施例7のブロック構成を示す図である。
(Example 7)
FIG. 7 is a diagram illustrating a block configuration of the seventh embodiment.
実施例7では、実施例5と同様、電源装置101、201の内部回路の一部の具体例が書いてある。電源装置101において、リモートセンス端子+RSと−RSの間には、直列接続される分圧抵抗106、107が接続されており、この分圧された電圧と、基準電圧109の電圧が、誤差増幅器108で比較されて、パワー回路105に出力電圧を上昇させるか降下させるかの指令を出す点においては実施例5と同じである。しかし、実施例7では、電源装置101内の基準電圧源109に代えて、可変型の電圧源115になっており、制御線が引き出されて、外部に制御回路116が接続されている。可変型の電圧源には、ディジタル・アナログ変換器(DAコンバータ)などが使用できる。電源装置201も同様である。
In the seventh embodiment, as in the fifth embodiment, a specific example of a part of the internal circuit of the
実施例7では、外部の制御回路116あるいは216を制御することにより、電源装置101、201の出力電圧の設定を任意に変更、制御することができる。出力電圧を徐々に上げるように制御すれば、緩慢な過電圧の状態を起こせるし、急激に上げるように制御すれば、急峻な過電圧の状態を起こせる。定電圧も同様である。
In the seventh embodiment, by controlling the
従って、実施例7を用いれば、出力電圧の任意の速度の任意の状態に対して、冗長電源装置としての過電圧保護回路や低電圧検出回路の動作の良否の評価を行うことができる。 Therefore, if Example 7 is used, the quality of the operation of the overvoltage protection circuit or the low voltage detection circuit as the redundant power supply device can be evaluated for an arbitrary state of the output voltage at an arbitrary speed.
このように、実施例7では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現できる。 As described above, in the seventh embodiment, it is possible to evaluate whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration.
(実施例8)
図8は実施例8のブロック構成を示す図である。
(Example 8)
FIG. 8 is a diagram showing a block configuration of the eighth embodiment.
実施例8では、実施例6と同様、電源装置101、201の内部回路の一部の具体例が書いてある。電源装置101において、リモートセンス端子+RSと−RSの間には、直列接続される分圧抵抗106、107が接続されており、この分圧された電圧と、基準電圧109の電圧が、誤差増幅器108で比較されて、パワー回路105に出力電圧を上昇させるか降下させるかの指令を出す点においては実施例7と同じである。しかし、実施例8では、電源装置101がスイッチング電源装置であって、内部にパルス幅変調(Pulse Width Modulation)を行うPWM回路117を備えパワー回路105における電力変換と電圧調整を司っている。実施例6の基準電圧源109の制御に代えて、リモートセンス端子−RSに接続されたスイッチ118をPWM回路117から引き出した制御信号線に接続している。スイッチ118をオンまたはオフすると、電源装置101の出力電圧が最大値になるようにしてある。スイッチ118は急激にオンまたはオフするから、電源装置101の出力電圧は急激に上昇し、急峻な過電圧の状態が得られる。電源装置201も同様である。なお、PWM回路117とスイッチ118の接続によっては、急激な低電圧を作ることもできる。
In the eighth embodiment, as in the sixth embodiment, a specific example of a part of the internal circuit of the
実施例8の方法は、PWM回路117を介して、誤差増幅器108による出力電圧の制御を修飾するものと言うことができる。
It can be said that the method of the eighth embodiment modifies the control of the output voltage by the
従って、実施例8を用いれば、冗長電源装置としての過電圧保護回路や低電圧検出回路の動作の良否の評価を行うことができる。 Therefore, if Example 8 is used, the quality of the operation of the overvoltage protection circuit or the low voltage detection circuit as the redundant power supply device can be evaluated.
このように、実施例8では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現できる。 As described above, in the eighth embodiment, it is possible to evaluate whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration.
(実施例9)
図9は実施例9のブロック構成を示す図である。
Example 9
FIG. 9 is a diagram illustrating a block configuration of the ninth embodiment.
実施例9は、図1に示す実施例1に、オシロスコープ010と監視回路020を追加したものである。電源装置101と201にはアラーム端子ALARMがあって、異常を検出すると報告するので、この端子を監視回路020に接続して、異常の発生の検出を自動化することができる。また、オシロスコープ010は負荷002の端子003と004に接続して、出力波形を監視している。スイッチ103または203を断としたときに、監視回路020でどちらの電源装置が異常を報告するかを確認することができる。オシロスコープ010で波形を観測して、予め決めた所望の電圧以内に収まるかどうかの試験を行うことができる。このようにすれば、実施例1の試験、評価を自動で行うことができるし、また、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して出力電圧の変動を規定した、更に厳しい試験を行うことができる。一般に、電子回路の電源装置に対する要求項目は、電圧が所定の範囲内に収まっていることであるから、このように、出力電圧を監視して、所定の範囲内に収まっていたか否かを直接監視することは、試験方法、評価方法として有益である。
In the ninth embodiment, an
出力電圧の監視には、実施例9ではオシロスコープを用いたが、電圧比較回路など、他の手段を用いることができる。また、監視回路を取り除いて、波形の観測だけを判定対象にすることも可能である。すなわち、異常が発生した際には、特に過電圧の異常が発生した際には、誤った異常検出回路が動作して正常な電源装置を停止させると、異常が解決しないので更に電源装置が停止し、最終的に動作を継続する電源装置の台数が不足となって電源システム全体が停止するので、出力電圧の波形だけを観測すれば十分だという場合もある。このように、出力電圧の波形を観測すれば、過電圧保護回路や、低電圧検出回路などの、異常保護回路、異常検出回路の選択的な動作を確認したことになる場合もある。 For the output voltage monitoring, an oscilloscope is used in the ninth embodiment, but other means such as a voltage comparison circuit can be used. It is also possible to remove the monitoring circuit so that only the waveform observation is determined. In other words, when an abnormality occurs, especially when an overvoltage abnormality occurs, if the incorrect abnormality detection circuit operates and the normal power supply is stopped, the abnormality is not resolved and the power supply further stops. In some cases, it is sufficient to observe only the waveform of the output voltage because the number of power supply devices that continue to operate eventually becomes insufficient and the entire power supply system stops. Thus, by observing the waveform of the output voltage, the selective operation of the abnormality protection circuit or abnormality detection circuit such as the overvoltage protection circuit or the low voltage detection circuit may be confirmed.
このように、実施例9では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して、出力電圧が所定の範囲内に収まっていたか否かの評価が実現できる。 As described above, in the ninth embodiment, it is possible to evaluate whether or not the output voltage is within a predetermined range with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage in the power supply device of the parallel redundant configuration.
(実施例10)
図10は実施例10のブロック構成を示す図である。
(Example 10)
FIG. 10 is a diagram illustrating a block configuration of the tenth embodiment.
図10の回路は、電気的には図1に示す実施例1の回路と同じであるが、機械的には異なり、電源装置の試験に適用したものである。図10において、電源装置101が被試験物であり、試験装置300に接続されて、試験が行われる。試験装置300は、入力電源装置001、負荷002、電源装置201、スイッチ103、203他から構成されている。
The circuit of FIG. 10 is electrically the same as the circuit of the first embodiment shown in FIG. 1, but is mechanically different and applied to the test of the power supply apparatus. In FIG. 10, a
試験中は、電源装置101と201は並列接続されて、並列運転する。このときの電気的な機能は、実施例1と同じである。試験は、実施例1と同じ手順で行われる。例えば、スイッチ103を断としたとき、電源装置101内の過電圧保護回路が動作すれば、この電源装置101の冗長電源装置用の過電圧保護機能は合格である。合格した電源装置は付加価値が高いといえる。あるいは、スイッチ203を断として、電源装置101の過電圧保護回路は動作せず、電源装置201内の過電圧保護回路が動作することを確認することも必要な場合もあるが、これは試験の目的に応じて決めれば良い。
During the test, the
このように、実施例10によって試験あるいは評価を行えば、電源装置の冗長電源装置としての過電圧保護回路の動作の良否の評価を行うことができる。 As described above, when the test or evaluation is performed according to the tenth embodiment, it is possible to evaluate the quality of the operation of the overvoltage protection circuit as the redundant power supply device of the power supply device.
このように、実施例10では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現でき、これを実行する電源装置の試験装置が実現できる。また、この試験装置を用いて電源装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 As described above, in the power supply device of the parallel redundant configuration, the embodiment 10 can evaluate whether or not the power supply device is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage. A test device for the power supply to be executed can be realized. Further, it is possible to increase the added value by testing or evaluating the power supply device using this test device.
(実施例11)
図11は実施例11のブロック構成を示す図である。
(Example 11)
FIG. 11 is a diagram showing a block configuration of the eleventh embodiment.
実施例11の回路は、図10に示す実施例10と似ており、入力電源装置001を被試験物の電源装置101に専用とし、入力電源装置005は電源装置201専用としたものである。このように、入力電源装置が別々であっても、出力端子が直接あるいは間接に共通に接続されていれば、並列運転と呼ばれる。このようにすれば、試験一般がやりやすいほか、並列冗長運転時に、電源装置101の入力電圧がなくなったために出力電圧が低下した低電圧の条件において、低電圧検出回路が所望の動作するか否かの評価を行うことができるし、並列冗長運転時に、電源装置101の入力電圧が投入されたときに、出力電圧が急激に上昇して、過電圧状態あるいは低電圧状態になるような条件において、過電圧保護回路や低電圧検出回路が所望の動作するか否かの評価を行うことができる。
The circuit of the eleventh embodiment is similar to that of the tenth embodiment shown in FIG. 10, and the input
試験装置の回路の詳細は、必要に応じて設計すれば良く、実施例2で示したと同様のオア・ダイオードを設けるか否か、他の制御回路、検出回路が必要か否か、などは、個々の事情に合わせて設計すれば良い。 The details of the circuit of the test apparatus may be designed as necessary. Whether or not the same OR diode as shown in the second embodiment is provided, whether or not another control circuit and a detection circuit are necessary, Design according to individual circumstances.
このように、実施例11では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現でき、これを実行する電源装置の試験装置が実現できる。また、この試験装置を用いて電源装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 As described above, in the eleventh embodiment, in the power supply apparatus of the parallel redundant configuration, it is possible to realize whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage. A test device for the power supply to be executed can be realized. Further, it is possible to increase the added value by testing or evaluating the power supply device using this test device.
(実施例12)
図12は実施例12のブロック構成を示す図である。
(Example 12)
FIG. 12 is a diagram showing a block configuration of the twelfth embodiment.
実施例12の回路は、電気的には図1に示す実施例1の回路と同じであるが、機械的には異なり、電源システムの試験に適用した例である。図11において、電源システム400が被試験物であり、並列接続された電源装置101、201、入力電源装置001、などを含む。試験装置500は、負荷002、スイッチ103、203などを含み、電源システム400の出力端に負荷002が接続され、電源システム400の電源装置101、201のリモートセンス端子+RSに接続されたリモートセンス線にスイッチ103、203を設けている。
The circuit of the twelfth embodiment is electrically the same as the circuit of the first embodiment shown in FIG. 1, but is mechanically different and is an example applied to the test of the power supply system. In FIG. 11, a
実施例1で説明したのと同じ手順で試験が行われる。例えば、試験装置500のスイッチ103を断としたとき、電源装置101内の過電圧保護回路が動作し、スイッチ203を断としたとき、電源装置201内の過電圧保護回路が動作すれば、この電源システムの冗長電源装置用の過電圧保護機能は合格である。
The test is performed in the same procedure as described in Example 1. For example, when the
このように、実施例12によって試験あるいは評価を行えば、電源システムの冗長電源装置としての過電圧保護機能の動作の良否の評価を行うことができる。 As described above, by performing the test or evaluation according to the twelfth embodiment, it is possible to evaluate the quality of the operation of the overvoltage protection function as the redundant power supply device of the power supply system.
このように、実施例12では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現でき、これを実行する電源システムの試験装置が実現できる。また、この試験装置を用いて電源システムを試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 As described above, in the twelfth embodiment, in the power supply apparatus of the parallel redundant configuration, it is possible to realize whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage. A test device for the power supply system to be executed can be realized. Further, it is possible to increase the added value by testing or evaluating the power supply system using this test apparatus.
(実施例13)
図13は実施例13のブロック構成を示す図である。
(Example 13)
FIG. 13 is a diagram showing a block configuration of the thirteenth embodiment.
図13の回路は、電気的には図1に示す実施例1の回路と同じであるが、機械的には異なり、電子装置の試験に適用した例である。電子装置600は、実施例1に示したのと同様の並列冗長構成の電源システム601および負荷002に対応する電子回路602、場合によっては他の負荷603などを含む。例えば、コンピュータのように、電源システム、演算装置などを含む電子回路、冷却ファンなどの他の負荷、を含む電子装置を挙げることができる。試験装置700は、実施例1に示した103、203と同様のスイッチ701、702、703、および、場合によっては実施例9で説明した監視回路020と同様の監視回路710、などを含む。
The circuit of FIG. 13 is electrically the same as the circuit of the first embodiment shown in FIG. 1, but is mechanically different and is an example applied to a test of an electronic device. The
実施例1で説明したのと同じ手順で試験が行われる。例えば、スイッチ701を断としたとき、電源システム601内の該当する電源装置の過電圧保護回路が動作し、スイッチ702を断としたとき、電源システム601内の該当する電源装置の過電圧保護回路が動作し、スイッチ703についても同様に、所望の動作を確認すれば、この電子装置の冗長電源装置用の過電圧保護機能は合格である。
The test is performed in the same procedure as described in Example 1. For example, when the
このように、実施例13によって試験あるいは評価を行えば、電子装置の冗長電源装置としての過電圧保護機能の動作の良否の評価を行うことができる。 As described above, by performing the test or evaluation according to the thirteenth embodiment, it is possible to evaluate the quality of the operation of the overvoltage protection function as the redundant power supply device of the electronic device.
このように、実施例13では、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢あるいは急峻な異常に対して該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否かの評価が実現でき、これを実行する電子装置の試験装置が実現できる。また、試験装置を用いて電子装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 As described above, in the thirteenth embodiment, in the power supply apparatus of the parallel redundant configuration, it is possible to realize whether or not the corresponding power supply apparatus is selectively detected or stopped with respect to the slow or steep abnormality of the output voltage. A test device for the electronic device to be executed can be realized. Further, the added value can be increased by testing or evaluating the electronic device using the test device.
図1から図13に示した各実施例は、相互に組み合せが可能で、あらゆる組み合せで使用することができる。例えば、実施例2に示した回路を、実施例10に示した試験装置に適用することが可能だし、これを用いて電源装置を評価あるいは試験して出荷することが可能である。また、実施例9に示した、出力電圧波形を観測して出力電圧が所望の範囲に収まっているか否かの良否判定を行う方法を追加することも可能である。 The embodiments shown in FIGS. 1 to 13 can be combined with each other, and can be used in any combination. For example, the circuit shown in the second embodiment can be applied to the test apparatus shown in the tenth embodiment, and the power supply apparatus can be evaluated or tested using the circuit and shipped. Also, it is possible to add a method of observing the output voltage waveform and determining whether the output voltage is within a desired range as shown in the ninth embodiment.
図1から図9に示した方法は、いずれも、電源装置の、出力電圧の設定を変更する方法でもある。いずれの場合も、並列冗長構成の電源装置において、出力電圧の緩慢、急峻など任意の速度の異常に対して、該当電源装置が選択的に検出あるいは停止するか否か、あるいは、出力電圧が所望の範囲に収まっているか否か評価方法が実現でき、これを実行する試験装置が実現できる。また、この試験装置を用いて電源装置、電源システムあるいは電子装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる。 Each of the methods shown in FIGS. 1 to 9 is also a method of changing the setting of the output voltage of the power supply device. In any case, in the power supply device of the parallel redundant configuration, whether or not the corresponding power supply device is selectively detected or stopped with respect to an abnormality in an arbitrary speed such as slow or steep output voltage, or the output voltage is desired. It is possible to realize an evaluation method for determining whether or not it falls within the range, and to realize a test apparatus that executes the evaluation method. Further, it is possible to increase the added value by testing or evaluating a power supply device, a power supply system, or an electronic device using this test apparatus.
従って、この試験装置、評価装置を備えた生産設備は、電源装置、電源システムあるいは電子装置を試験あるいは評価して付加価値を高めることができる効果を持つから、これも当然本発明の実施例である。 Accordingly, the production facility equipped with the test device and the evaluation device has an effect of increasing the added value by testing or evaluating the power supply device, the power supply system, or the electronic device. is there.
001,005…入力電源装置、002…負荷、003,004…負荷の端子、101,201…電源装置、102,202…オア・ダイオード、103,203,111,211,118,218,701,702,703…スイッチ、104,204,110,210…可変抵抗器、105,205…パワー回路、106,107,206,207…分圧抵抗、108,208…誤差増幅器、109,209…基準電圧、1121,212,114,214…電圧源、113,213…電圧加算回路、115,215…可変型の電圧源、116,216…制御回路、117,217…PWM回路、010…オシロスコープ、020,710…監視回路、300,500,700…試験装置、400,601…電源システム、600…電子装置、602…電子回路、603…他の負荷。 001,005 ... Input power supply, 002 ... Load, 003,004 ... Load terminal, 101,201 ... Power supply, 102,202 ... Or diode, 103,203, 111,211,118,218,701,702 , 703 ... switch, 104, 204, 110, 210 ... variable resistor, 105, 205 ... power circuit, 106, 107, 206, 207 ... voltage dividing resistor, 108, 208 ... error amplifier, 109, 209 ... reference voltage, 1121, 212, 114, 214 ... voltage source, 113, 213 ... voltage addition circuit, 115, 215 ... variable voltage source, 116, 216 ... control circuit, 117, 217 ... PWM circuit, 010 ... oscilloscope, 020, 710 ... Monitoring circuit, 300,500,700 ... Test equipment, 400,601 ... Power supply system, 600 ... Electronics Location, 602 ... electronic circuit, 603 ... other loads.
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003388821A JP4192076B2 (en) | 2003-11-19 | 2003-11-19 | Power supply evaluation method, evaluation device and production facility |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003388821A JP4192076B2 (en) | 2003-11-19 | 2003-11-19 | Power supply evaluation method, evaluation device and production facility |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005147975A JP2005147975A (en) | 2005-06-09 |
| JP4192076B2 true JP4192076B2 (en) | 2008-12-03 |
Family
ID=34695747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003388821A Expired - Fee Related JP4192076B2 (en) | 2003-11-19 | 2003-11-19 | Power supply evaluation method, evaluation device and production facility |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4192076B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105067902B (en) * | 2015-07-07 | 2019-08-16 | 艾德克斯电子(南京)有限公司 | A kind of OVP of extension, short-circuit test circuit and test method |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010057244A (en) * | 2008-08-27 | 2010-03-11 | Yokogawa Electric Corp | Dc power unit and control method |
| JP5347795B2 (en) * | 2009-07-21 | 2013-11-20 | 富士通株式会社 | Power supply device, power supply unit diagnosis device, and control method for power supply device |
| JP2015042029A (en) * | 2013-08-20 | 2015-03-02 | 東芝シュネデール・インバータ株式会社 | Inverter device |
| JP6923568B2 (en) * | 2019-01-08 | 2021-08-18 | Necプラットフォームズ株式会社 | Voltage controller, power supply, power supply and voltage control method |
-
2003
- 2003-11-19 JP JP2003388821A patent/JP4192076B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105067902B (en) * | 2015-07-07 | 2019-08-16 | 艾德克斯电子(南京)有限公司 | A kind of OVP of extension, short-circuit test circuit and test method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005147975A (en) | 2005-06-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7254004B2 (en) | Systems and methods for fault-based power signal interruption | |
| JP5903261B2 (en) | Testing transient voltage protection devices | |
| US8598899B2 (en) | Built-in test for an overvoltage protection circuit | |
| US6943558B2 (en) | System and method for remotely detecting electric arc events in a power system | |
| JP4926015B2 (en) | Earth leakage relay | |
| EP2632009B1 (en) | Self-test of over-current fault detection | |
| KR101509619B1 (en) | Training apparatus for motor failure simulation | |
| EP2513657B1 (en) | Circuit for controlling current to light-emitting diode (led) | |
| CN109787573B (en) | Input circuit for fail-safe reading of analog input signals | |
| KR20160089225A (en) | Dc overload and combined arc interruption device | |
| CN110940898A (en) | Insulation and voltage resistance testing device for electric connector | |
| JP4192076B2 (en) | Power supply evaluation method, evaluation device and production facility | |
| US6304089B1 (en) | Parallel termination apparatus and method for ground-check monitors | |
| DE102011107734B4 (en) | Circuit arrangement for switching a relay to a safe switching state | |
| US7400227B2 (en) | Fire alarm notification power supply with configurable notification appliance circuits and auxiliary power circuits apparatus and method | |
| JP5357729B2 (en) | Computer circuit and fault inspection method | |
| US6850083B2 (en) | Burn in board having a remote current sensor | |
| EP3317741B1 (en) | A safety circuit, a safety circuit operation method and an electrically operated motor comprising a safety circuit | |
| EP1308803B1 (en) | Power supply diagnostic system | |
| US9852036B2 (en) | Configurable input/output sub-channels for optimized diagnostics | |
| CN101135718B (en) | a driver circuit | |
| CN108933425B (en) | A kind of protection circuit, protection system and guard method | |
| JP2007189844A (en) | Semiconductor element protection circuit | |
| CN224164623U (en) | Power protection circuits and power supply equipment | |
| CN222850689U (en) | Device for monitoring neutral point grounding resistor cabinet and resistor cabinet |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060111 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20060111 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080403 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080610 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080807 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080826 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080919 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110926 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120926 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120926 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130926 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |