JP4288937B2 - Manufacturing method of electronic parts - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品本体に電極ペーストを塗布し、電極膜を形成する工程を備えた電子部品の製造方法に関し、より詳細には、電子部品本体を電極ペーストに浸漬し、引き上げる工程を備えた電子部品の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、積層セラミックコンデンサなどのチップ型電子部品の内部電極の形成に際しては、電子部品本体の端面に電極ペーストを塗布し、焼き付けることにより、電極が形成されている。この種の電極形成方法の一例が下記の特許文献1に開示されている。特許文献1に記載の電極形成方法では、規定の厚さレベルに設定された電極ペースト中に電子部品本体の端部が浸漬され、端部に電極ペーストが付着される。次に、電極ペーストが付着した電子部品本体が引き上げられ、電子部品本体の下端に電極ペーストが保持される。しかる後、端部に付着した電極ペーストの垂れ下がり部が定盤の上面に接触される。
【0003】
上記のように、電子部品本体の端部に電極ペーストを付着させた後、定盤の上面に電極ペーストの垂れ下がり部が接触されるため、電子部品本体の端面上の電極膜厚を均一化することができる。
【0004】
【特許文献1】
特開昭63−45813号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
特許文献1に記載の方法では、電子部品本体の端面における電極膜厚を均一化することができる。
【0006】
しかしながら、電子部品本体の端面形状によっては、付着された電極ペースト中に気泡がかみ込んだり、キャビテーションが生じることにより、ピンホールが生じることがあった。
【0007】
本発明の目的は、電極ペースト中に電子部品の端部を浸漬し、次に引き上げる工程を備えた電子部品の製造方法であって、電極中にピンホールが生じ難く、かつ電極の膜厚を端面上において均一化し得る電子部品の製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
図14(a)〜(d)は、電子部品本体を電極ペーストに浸漬する際にピンホールが発生するメカニズムを示す模式的断面図である。電子部品本体101を定盤105上の所定の厚みの電極ペースト102に電子部品本体101の端面101a側から浸漬した際に、図14(a)に示すように、電子部品本体101の端面形状によっては端面101aと、電極ペースト102との間に気泡103がかみ込むことがあった。そのため、図14(c)及び(d)に示すように、電子部品本体101を引き上げた後に、電子部品本体101の端面101a上に付着された電極ペースト102A中にピンホール103Aが生じることがあった。
【0009】
他方、図15(a)〜(d)に示す工程では、電子部品本体101の端面101aが電極ペースト102中に浸漬された際には、気泡のかみ込みは生じない。しかしながら、電子部品本体101を電極ペースト102から引き上げる際に、電子部品本体101の端面形状によっては電極ペースト102の内部にキャビテーション104が生じ、該キャビテーション104が、最終的にピンホール104Aの原因となることがあった。
【0010】
そこで、電子部品本体の端面と電極ペーストとの間の気泡のかみ込みあるいは上記キャビテーションの発生を抑制すれば、ピンホールの発生を抑制し得ると考え、本発明をなすに至った。
【0011】
本願の第1の発明は、端面を有する電子部品本体を用意する工程と、所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の前記端面を浸漬し、端面及びその近傍に電極ペーストを付着させる工程と、前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、前記電子部品本体の端面を降下させて電極ペーストに浸漬するにあたり、電子部品本体が配置されている側とは電極ペーストの反対側から電極ペースト内に直接入り込んだペースト突き上げ部材により電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを電子部品本体の端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面をさらに降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させていくことを特徴とする、電子部品の製造方法である。
【0013】
第1の発明の他の特定の局面では、前記ペースト突き上げ部材の先端が、前記電子部品本体の端面の外寸よりも小さい。従って、電子部品本体の端面の中央に向かってペースト突き上げ部材の先端を突出させることができる。
【0014】
第1の発明のさらに特定の局面では、前記ペースト突き上げ部材がペースト突き上げ板であり、複数の電子部品本体の端面に電極ペーストを先行して付着させるために、前記ペースト突き上げ板の上面が複数の電子部品本体の第1または第2の端面中央に向かって突き上げられ、かつ該ペースト突き上げ板の上面の幅方向寸法が、前記複数の電子部品本体の端面の外寸よりも小さくされている。この場合には、複数の電子部品本体の第1または第2の端面の中央にペースト突き上げ板を用いて電極ペーストを先行して付着させることができる。
【0015】
本願の第2の発明は、端面を有する電子部品本体を用意する工程と、所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の端面を浸漬し、端面に電極ペーストを付着させる工程と、前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、電極ペーストが付着している電子部品本体の端面の中央への電極ペーストの流動を抑制するために、一つのペースト流動抑制部材を端面中央に当接もしくは近接させた状態で前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、しかる後前記ペースト流動抑制部材を電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから分離することを特徴とする、電子部品の製造方法である。
【0016】
第2の発明のある特定の局面では、前記ペースト流動抑制部材の先端が、前記電子部品本体の端面の外寸よりも小さい。従って、ペースト流動抑制部材の先端を電子部品本体の端面中央に当接または近接させることにより、第1または第2の端面中央への電極ペーストのよりを確実に抑制することができる。
【0017】
第2の発明の他の特定の局面では、前記ペースト流動抑制部材が、ペースト流動抑制板であり、複数の電子部品本体の端面における電極ペーストの中央への流動を抑制するために、前記ペースト流動抑制板の上面が前記複数の電子部品本体の端面中央に当接または近接配置され、かつ該ペースト流動抑制板の上面の幅方向寸が前記端面の外寸よりも小さくされている。この場合には、複数の電子部品本体の第1または第2の端面においてペースト流動抑制板を用いて電極ペーストの中央へのよりを確実にかつ 能率よく抑制することができる。
【0018】
本願の第3の発明は、端面を有する電子部品本体を用意する工程と、所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の端面を浸漬し、該端面に電極ペーストを付着させる工程と、前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、前記電極ペーストに電子部品本体の端面を浸漬するにあたり、電子部品本体が配置されている側とは電極ペーストの反対側から電極ペースト内に直接入り込んだペースト突き上げ部材により電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面を降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させ、前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、前記突き上げ部材の先端を電子部品本体の端面の中央に当接または近接させた状態のまま電子部品本体を引き上げ、しかる後、電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから前記突き上げ部材を分離する。
【0019】
第1〜第3の発明のある特定の局面では、前記電子部品本体が電極ペーストから引き上げられて前記電極膜が形成される工程の後に、前記電子部品本体の端面に付着している電極ペーストの中央に、掻き取り部材を進入させ、しかる後、該掻き取り部材を電極ペーストから分離する工程がさらに備えられる。この場合には、掻き取り部材を電極ペーストの中央に進入させ、しかる後分離することにより、第1または第2の端面上における電極ペーストの膜厚をより一層均一にすることができる。
本発明に係る電子部品の製造装置は、スリットが設けられており、該スリット内に入り込むように所定の厚みに電極ペーストが上面に塗布される定盤と、前記スリット内に先端が入り込んでおり、かつ上下方向に移動可能なペースト突き上げ部材とを備え、前記スリットの幅が電子部品本体の端面の外寸よりも小さくされており、前記スリット内に入り込むように所定の厚みに前記定盤の上面に塗布された電極ペーストに電子部品本体の端面を浸漬するにあたり、スリット内の電極ペースト内に先端が直接入り込んだペースト突き上げ部材を上方向に移動させて電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを前記電子部品本体の端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面を降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させた後、前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、前記突き上げ部材の先端を前記電子部品本体の端面の中央に当接または近接させた状態のまま前記電子部品本体を引き上げ、しかる後、前記電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから前記ペースト突き上げ部材を分離することにより、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜が形成された電子部品を得ることを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施例を説明することにより本発明を明らかにする。
【0021】
(第1の実施例)
図1(a)〜(c)は、本発明の第1の実施例に係る電子部品の製造方法を説明するための模式的正面断面図である。
【0022】
本実施例では、先ず、電子部品本体1が用意される。電子部品本体1は、本実施例では、積層セラミックコンデンサ用のセラミック焼結体である。セラミック焼結体内には、複数の内部電極がセラミック層を介して重なり合うように配置されており、電子部品本体1の端面1aまたは1bに内部電極が引き出されている。
【0023】
上記電子部品本体1を構成する積層セラミックコンデンサ用セラミック焼結体は、周知の積層コンデンサの製造方法に従って得ることができる。
電子部品本体1の端面1aの下方には、スリット2aが設けられた定盤2が配置されている。定盤2の上面2bには、所定の厚みに電極ペースト3が塗布されている。
【0024】
なお、電極ペースト3は、スリット2a内にも入り込んでいる。定盤2のスリット2a内の下方には、定盤2の下面2cに開いた凹部2dが形成されている。凹部2dへの電極ペースト3の侵入を防止するために、シール部材4が配置されている。シール部材4には、貫通孔4aが形成されており、貫通孔4aは、スリット2aに臨むように配置されている。
【0025】
貫通孔4aを貫通するようにペースト突き上げ部材5が配置されている。ペースト突き上げ部材5は、貫通孔4aの上方に突出し、スリット2a内に入り込んでいる。ペースト突き上げ部材5は、本実施例では、円柱状の基部5aと基部5aの上端から上方に延ばされた円柱状の先端部5bとを有する。先端部5bが上記貫通孔4aを貫き、スリット2a内に入り込んでいる。
【0026】
また、先端部5bの先端は、図1(a)〜(c)では、全体が平坦面とされているが、好ましくは、図2(a)に示すように平坦面5b1の周縁が、矢印Aで示すように丸みが付けられている。先端の平坦面5b1の寸法は、上記電子部品本体1の端面1aの面積よりも小さくされている。すなわち、電子部品本体1の端面1aの外寸よりも、平坦面5b1の外寸が小さくされている。なお、先端部5bは、図2(b)に示すように、曲面状であってもよい。
【0027】
ペースト突き上げ部材5は、電子部品本体1とは独立に上下方向に往復駆動され得るように構成されている。すなわち、特に図示はしない往復駆動源にペースト突き上げ部材5が連結されており、それによってペースト突き上げ部材5は、上下方向に移動可能とされている。
【0028】
本実施例では、電子部品本体1の第1の端面1aに電極ペーストを付着させるに際し、図1(a)に示す状態から、図1(b)に示すように、電子部品本体1が降下される。すなわち、端面1aが電極ペースト3に向かって降下される。この際に、下方のペースト突き上げ部材5が上方に移動され、電極ペースト3の一部が突き上げ部材5の先端部5bにより上方に突き上げられる。そのため、電極ペースト3の一部が上方に突出する。
【0029】
この電極ペースト3の突出している部分3aは、電子部品本体1の端面1aの面積よりも小さい。また、ペースト突き上げ部分5の先端部5bが端面1aの中央の下方に配置されているため、突出部3aは、端面1aの中央に向かって突出している。
【0030】
従って、電子部品本体1を降下させると、先ず、端面1aの中央に電極ペースト3の突出部3aが先行して付着する。しかる後、電子部品本体1をさらに降下させるとともに、ペースト突き上げ部材5を降下させる。このようにして、図1(c)に示すように、電子部品本体1の端面1aがペースト中に浸漬され、端面1aの中央の外側の領域及び端面1aの周囲の側面部に電極ペースト3が付着される。
【0031】
しかる後、電子部品本体1を電極ペースト3から引き上げ、すなわち電子部品本体1を上方に移動させることにより、電子部品本体1の端面1aを含む端部に電極ペーストが保持される。このようにして、端面1a及びその周縁に電極ペーストからなる電極膜を形成した後、第2の端面1b側においても同様に電極ペーストからなる電極膜を形成する。しかる後、電子部品本体1の端面1a,1bに付着した電極膜を焼き付けることにより、端面1a,1b上に外部電極を形成することができ、積層セラミックコンデンサを得ることができる。
【0032】
本実施例の特徴は、上記のように電子部品本体1の端面1a,1bの中央に先行して電極ペーストを付着させ、続いて、端面1a,1bの中央の周囲に電極ペーストを付着させていくことにある。このように、端面1a,1bの中央に電極ペーストを先行させて付着させることにより、外部電極中のピンホールの発生を確実に抑制することができる。これを具体的な実験例に基づき説明する。
【0033】
電子部品本体1として、長さ4.5mm、幅3.2mm及び厚み2.0mmのセラミック焼結体を用意した。第1,第2の端面1a,1bは、3.2×2.0mmの寸法を有する。定盤2の上面2b上における電極ペースト3の塗布厚みは0.6mmとした。また、電子部品本体1を降下させる速度5mm/秒とし、電極ペースト3中に端面1aが浸漬される時間を5秒とし、電子部品本体1をペースト3から引き上げる速度は0.1mm/秒とした。
【0034】
電極ペーストとしては、Cu粉末含有導電ペーストからなり、粘度は25℃で30Pa・秒のものを用いた。
上記実施例に従って電極ペーストの端面1aへの付与を行ったが、ペースト突き上げ部材5の先端部5bの幅方向寸法は2mmまたは5mmとした。なお、幅方向寸法とは、電子部品本体の端面の幅方向に沿う寸法をいうものとする。また、先端面は全てが平坦面とされているもの、並びに図2(a)に示したように周縁に矢印Aで示す丸みが付けられているものを用いた。丸みが付けられたものとしては、曲率半径Rが15mmとされたもの、及びRが5mmとされた各突き上げ部材を用意した。このようにして用意された複数種のペースト突き上げ部材を用いて実験を行った。
【0035】
電極ペーストを突き上げ部材で上方に突出させる量、すなわちペースト突き上げ高さは0.5mmまたは1mmとした。ペースト突き上げ高さとは、定盤2の上面2bから、図1(b)に示されている先端部5bの上端までの高さをいうものとする。
【0036】
なお、電極ペーストへの電子部品本体の突入速度及び電子部品本体の引き上げ速度が1mm/秒以下と遅い場合には、泡かみによるピンホールの発生を抑制することができる。しかしながら、生産性が低下するため、上記のようにペースト浸漬突入速度は5mm/秒に設定した。もっとも、本実施例では、引き上げ時のピンホールの発生を防止し、電極ペースト浸漬突入時のピンホールの発生の有無のみを評価するために、ペーストからの電子部品本体の引き上げ速度は0.1mm秒とした。
【0037】
結果を、表1及び図3〜図5を参照して説明する。
【0038】
【表1】
【0039】
評価結果1
表1のNo.1は、従来法に相当し、ここでは、上記突き上げ部材を用いなかったことを除いては、No.2〜9と同様にしてペーストの塗布を行った。No.1とNo.2の各条件で外部電極を形成した後、ピンホールの発生の有無を評価した。なお、評価は、それぞれ、100個の積層コンデンサの外部電極のピンホールの有無を実体顕微鏡により検出することにより評価した。
【0040】
図3から明らかなように、従来法に相当するNo.1では、ピンホール発生率が35%と非常に高いのに対し、本発明の実施例に相当するNo.2では、2%と非常に低かった。これは、ペースト突き上げ部材5により電極ペーストを端面1aまたは1b上の中央に先行して付着させることにより、電子部品本体1の端面1aまたは1bが電極ペーストへ突入する際の気泡のかみ込みを抑制することができたことによると考えられる。
【0041】
評価結果2
次に、表1のNo.2〜5,7及び9の各条件で電子部品の外部電極を形成した場合のピンホール発生率を評価した。結果を下記の図4にまとめて示す。
【0042】
図4から明らかなように、幅2mmの突き上げ部材を用いた場合には、突き上げ部材5の先端が平端面である場合、並びにR=15mm及びR=5mmの丸みが付けられた場合のいずれにおいても、ピンホールの発生を確実に抑制し得ることがわかる。
【0043】
これに対して、突き上げ部材の幅が5mmの場合には、先端にR=5mm及び15mmの丸みが付けられている場合には、ピンホールの発生が抑制されること、またR=5mmの場合のほうがR=15mmの場合よりもピンホールを確実に抑制し得ることがわかる。幅が5mmの場合には、先端が平坦面の場合には、ピンホールの発生を抑制する効果が十分ではないことがわかる。すなわち、突き上げ部材の幅が5mm、言い換えれば電子部品本体1の端面の寸法3.2×2.0mmよりも突き上げ部材の先端の幅、すなわち外寸が大きい場合には、先端が平坦面であると、本発明による効果が得られない。
【0044】
これに対して、幅が5mmの突き上げ部材5を用いた場合でも、先端面の周囲に丸みが付けられており、先端の平坦面部分の外寸が、電子部品本体1の端面1a,1bの外寸よりも小さい場合には、本発明に従ってピンホールの発生を確実に抑制し得ることがわかる。また、R=5mmの場合に、R=15mmの場合よりも優れた効果が得られたのは、ペースト面が凸状となり、部品本体の端面中心よりペーストが均一に濡れなかったためであることによる。
【0045】
評価結果3
表1のNo.5〜No.8によりそれぞれ電極を形成した場合の結果を比較した。すなわち、ペースト突き上げ部材の突き上げ高さを異ならせた場合の変化を評価した。結果を図5に示す。
【0046】
図5から明らかなように、突き上げ高さが1mmに高められると、突き上げ部材5の先端面にR=15mmの丸みが付けられた場合には、R=5mmの丸みが付けられたペースト突き上げ部材や幅2mmのペースト突き上げ部材を用いた場合と同様に、ピンホール発生率を2〜3%と低めることができた。これに対して、先端が平坦面である突き上げ部材では、突き上げ高さを1mmに高めた場合であっても、ピンホールの発生を低減することはできなかった。
【0047】
上記評価結果1〜3から明らかなように、電子部品本体1の端面1aまたは1bを電極ペースト3に浸漬する前に、ペースト突き上げ部材5を用いて、ペースト3の一部に突出部3aを形成し、端面1aまたは1bに先行して電極ペーストを付着させることにより電極ペーストへの電子部品本体1の浸漬突入時の気泡のかみ込みを抑制し得ることがわかる。
【0048】
また、電子部品本体1の端面1a,1bの幅=3.2mmよりも狭い幅のペースト突き上げ部材を用いた場合には、先端面が平坦であっても、先端面の周囲にRが形成されていてもピンホールが確実に抑制され得ることがわかる。もっとも、電子部品本体の端面の幅3.2mmよりも広い、すなわち大きな外寸のペースト突き上げ部材5を用いた場合には、先端面の周囲にR=5mmの丸みを施した場合には、幅2mmのペースト突き上げ部材と同様の効果が得られ、R=15mmの丸みが付けられた場合には、突き上げ高さを高めることにより、同様にピンホールの発生率を低減することができる。
【0049】
しかしながら、電子部品本体1の端面1a,1bの外寸、すなわち幅=3.2mmよりも外寸が大きい突き上げ部材5を用いた場合には、突き上げ部材の先端面が平坦な場合には、電極ペースト突出部3aの上面が本体1の端面1a,1bよりも広がるため、従来法と同様にピンホールの発生がかなりの割合で生じる。
【0050】
(第2の実施例)
図6(a)〜(c)は、第2の実施例の電子部品の製造方法を説明するための模式的正面断面図である。
【0051】
第2の実施例においても、電子部品本体1として、第1の実施例と同様に積層セラミックコンデンサ用セラミック焼結体が用意される。
第2の実施例においても、第1の実施例と同様に、スリット2aが設けられた定盤2と、シール部材4とを備えた装置が用意される。定盤2の上面2b上に所定の厚みに電極ペースト3が塗布されている。
【0052】
第1の実施例と異なるところは、ペースト突き上げ部材5に代えて、ペーストの流動を抑制するためのペースト流動抑制部材6が配置されていることにある。もっとも、ペースト流動抑制部材6は、第1の実施例のペースト突き上げ部材5と同じ部材で構成することができる。
【0053】
ペースト流動抑制部材6は、本実施例では、基部6aと、基部6aの先端に設けられた先端部6bとを有する。先端部6bは、貫通孔4aを経て定盤2の上方に至るように配置されている。
【0054】
また、ペースト流動抑制部材6の先端部6bは、図6(a)に示すように、上方の電子部品本体1の端面1aに当接する高さ位置まで上動し得るように構成されている。
【0055】
本実施例では、先ず、従来法と同様にして、定盤2の上面2b上に所定の厚みに塗布された電極ペースト3に対して、電子部品本体1が端面1a側から降下され、端面1aが電極ペースト3に突入し、押し付けられる。この場合、ペースト流動抑制部材6の先端部6bの先端は、上端がスリット2a内に位置するように配置されている。
【0056】
もっとも、好ましくは、第1の実施例を適用することにより、すなわちペースト流動抑制部材6をペースト突き上げ部材5と同様にして動作させ、予めペースト3に突出部3aを形成し、電子部品本体1の端面1aの中央に電極ペーストを先行して付着させ、しかる後電極ペースト3に端面1aを突入させてもよい。
【0057】
すなわち、第2の実施例では、端面1aを電極ペースト3に突入させるまでの工程は、従来法に従って行われてもよく、あるいは第1の実施例に従って行われてもよい。第1の実施例に従って、電極ペースト3への端面1aの突入を行った場合には、第1の実施例と同様にペースト3への突入時の気泡のかみ込みを抑制することができる。
【0058】
第2の実施例の特徴は、電子部品本体1の端面1aが電極ペースト3に突入され、押し当てられた後、引き上げる工程にある。
すなわち、図6(a)に示すように、電子部品本体1を電極ペースト3から引き上げる際に、ペースト流動抑制部材6の先端部6bが上方に移動される。この場合、先端部6bが端面1aのほぼ中央に当接されたまま、電子部品本体1及びペースト流動抑制部材6が等しい速度で上方に移動される。
【0059】
従って、ペースト流動抑制部材6の先端部6bが端面1aのほぼ中央に当接さた状態において、電子部品本体1の端面1aに付着している電極ペーストが、定盤2の上面2b上に残存している電極ペースト3から分離される。そして、図6(b)に示すように、ペースト流動抑制部材6の先端部6bの上端の上昇が停止された後、電子部品本体1はさらに上方に移動される。従って、ペースト流動抑制部材6の先端部6bが、図6(c)に示すように、端面1aに付着された電極ペーストからなる電極膜3Aから分離される。
【0060】
本実施例では、上記のようにペースト流動抑制部材6が端面1aの中央に当接された状態のまま、定盤2の上面2b上の電極ペースト3から端面1aに付着している電極ペーストが分離される。従って、電極ペースト3と端面1aとの接触面積が、ペースト流動抑制部材6が端面1aに当接している部分だけ減少することになる。よって、この接触面積の減少により、図15に示したキャビテーションが生じ難い。よって、キャビテーションによる電極膜中のピンホールの発生を抑制することができる。
【0061】
また、端面1aに付着された電極ペーストからなる電極膜3Aからペースト流動抑制部材6の先端部6bが分離する際に、先端部6bの先端に電極ペースト3の一部が付着することになり、それによって端面1a上における電極膜厚を均一化することができる。
【0062】
すなわち、従来法では、端面1aに付着した電極ペーストが電子部品本体1を上昇させる際に端面1の中央に流動し、端面1の中央における電極膜厚が厚くなりがちであった。これに対して、本実施例では、電極ペースト流動抑制部材6が端面1aの中央に当接した状態で電子部品本体1が上方に移動して電極ペースト3から電子部品本体1が分離された後に、ペースト流動抑制部材が端面1aから分離される。従って、電子部品本体1が引き上げられている工程中における端面1a側へのペーストの流動が流動抑制部材6により抑制される。よって、端面1a上における電極ペーストの膜厚の均一化を図ることができる。これを具体的な実験例に基づき説明する。
【0063】
長さ4.5mm×幅3.2mm×厚み2.0mmの積層セラミックコンデンサ用セラミック焼結体を電子部品本体1として用意した。
定盤2上の電極ペースト3の塗布厚みは0.6mmとし、電極ペーストへの電子部品本体1の浸漬突入速度を0.1mm/秒、電極ペーストへの電子部品本体1の端面の押し付け・停止時間は5秒、電子部品本体1の引き上げ速度は2mm/秒、引き上げ高さは3mmとした。なお、引き上げ高さとは定盤2の上面2bから途中停止するまでの高さをいうものとする。
【0064】
また、本実施例では、ペースト流動抑制部材の突き上げ高さは2mmとした。ペースト流動抑制部材6の突き上げ高さとは、図6(a)及び(b)におけるペースト流動抑制部材6の上昇された位置における先端部分6bの上端の定盤2の上面2bからの高さをいうものとする。
【0065】
上記ペースト流動抑制部材6の先端部6bの幅方向寸法を2mmまたは5mmとし、かつ先端部6bの先端が平坦面、R=5mmの丸みが付けられたもの、またはR=15mmの丸みが付けられたものを用意した。さらに、ペースト3への電子部品本体1への浸漬は、第1の実施例と同様にして行った。すなわち、ペースト流動抑制部材6をペースト突き上げ部材5として用い、その突き上げ高さを0.5mmまたは1mmとした。
【0066】
下記の表2に示したNo.10〜16の各条件により、電極ペーストの塗布を行い、しかる後、電極ペーストを焼付け、外部電極を形成した。
【0067】
【表2】
【0068】
なお、電極ペーストから電子部品を引き上げる速度が5mm/秒と速い場合には、ペースト付着不良によりかすれが生じるため、2mm/秒とした。また、浸漬突入速度は、電子部品本体1の引き上げ時のピンホールの発生を評価するために、0.1mm/秒と遅くした。すなわち、浸漬突入速度が速いことによる浸漬時の気泡のかみ込みを防止した条件で実験を行った。
【0069】
評価結果4
表2のNo.10及び12の各条件に従って外部電極を形成した結果を図7に示す。
【0070】
No.10は、従来法に基づいて外部電極を形成した結果を示し、すなわちペースト流動抑制部材を用いず、またペースト突き上げ部材としても用いずに電極ペーストを塗布した場合の結果である。これに対してNo.12では、表2から明らかなように、先端部の幅が2mmであり、かつ先端部分の先端面にR=15mmの丸みが付けられたペースト流動抑制部材を用いた。
【0071】
図7から明らかなように、No.12の条件によれば、従来例に比べてピンホールの発生を大幅に低減し得ることがわかる。これは、ペースト流動抑制部材を用いることにより、図15に示したキャビテーションに起因するピンホールの発生を抑制し得ることによると考えられる。すなわち、ペースト流動抑制部材6の先端部分6bにより、電極ペースト3と端面1aとの接触面積を減らすことができ、それによってキャビテーションの発生が抑制されているためと考えられる。
【0072】
評価結果5
表2の各条件で、外部電極を形成した場合のピンホール発生率の変化を図8に示す。
【0073】
図8から明らかなように、先端部の幅が2mmのペースト流動抑制部材を用いた場合には、先端部分の形状の如何に係わらず、ピンホールを抑制し得ることがわかる。もっとも、先端部分に丸みが付けられている場合には、より一層ピンホールの発生を抑制し得ることがわかる。これは、ペースト流動抑制部材6の先端部6bと端面1aとの間の接触面積が小さいほどピンホール発生防止効果が大きいことを意味する。
【0074】
また、先端部の幅5mmのペースト流動抑制部材6を用いた場合には、先端部が平坦面の場合には、ピンホール発生の抑制効果がみられなかった。すなわち、ペースト流動抑制部材の先端部分の先端面は、端面1aの外寸よりも小さいことが必要であることがわかる。
【0075】
また、幅5mmのペースト流動抑制部材であって、さらに先端面にR=5mm及びR=15mmの丸みが付けられている場合には、先端面が端面1aの外寸よりも小さくなるため、本発明に従ってピンホールの発生を抑制し得ることがわかる。
【0076】
以上のように、第2の実施例においては、ペースト流動抑制部材を用いることとにより、電子部品本体1を電極ペースト3から引き上げる際のキャビテーションによるピンホールの発生を抑制し、かつ電極膜厚の均一化を図り得ることがわかる。
【0077】
評価結果6
第2の実施例のペースト流動抑制部材6を用いた方法は、上記のようにピンホールの発生を抑制し得るだけでなく、端面1a上における中央部分と周縁部分とにおける膜厚差を改善する効果をも有する。なお、膜厚差とは、図9に示すように電極膜3Aの中央と周縁部分の厚みの差をいうものとする。表2のNo.10及びNo.12に従って外部電極を形成した場合の上記膜厚差の評価結果を図10に示す。
【0078】
図10から明らかなように、従来例では、端面1a上における最終的に形成された外部電極の中央部分における膜厚と、周縁部分の膜厚との差は101μmであるのに対し、本発明に従って行われたNo.12では、膜厚差は39μmと著しく小さくなることがわかる。これは、ペースト流動抑制部材6により、端面1aの中央への電極ペーストの流動が抑制され、それによって膜厚差が小さい、均一な膜厚の外部電極を形成し得ることによる。
【0079】
(第3の実施例)
第3の実施例は、第1及び第2の実施例に従って電子部品本体1の端面1aまたは1bに電極ペーストを付着させて電極膜を形成した後に、さらにペースト掻き取り部材を用いて電極膜の膜厚を均一化する工程を備えることを特徴とする。
【0080】
図11(a)に示すように、電子部品本体1の端面1aに電極ペーストからなる電極膜3Aが形成されている。この電極膜3Aが付着されているまでは、前述した第1または第2の実施例に従って行われる。
【0081】
本実施例では、このようにして端面1aに電極膜3Aが形成された後に、図10(b)に示すように、定盤2から、掻き取り部材7の先端部7bを上方に突出させるとともに、電子部品本体1を再度降下させ、電極膜3A中に掻き取り部材7の先端部7bを進入させる。しかる後、図10(c)に示すように、電子部品本体1を上方に移動することにより、電極ペースト3Aから掻き取り部材7の先端部7bを分離させる。
【0082】
電子部品本体1の電極ペーストへの浸漬突入時の気泡のかみ込み、並びに電極ペーストからの電子部品本体1の引き上げ時のキャビテーションによるピンホールの発生は、第1または第2の実施例に従って抑制され得る。もっとも、最終的に電子部品本体1の端面1aに塗布された電極膜3A中にピンホールが存在することもある。このような場合、ピンホールは端面1aの中央に集まることが多い。従って、第3の実施例では、電極膜3Aの中央部に掻き取り部材7の先端部7bを押し当て、電極膜3Aの一部が取り去られるが、この際に、集まっていたピンホールが除去される。よって、第3の実施例を第1または第2の実施例に組み合わせることにより、最終的に形成された外部電極中のピンホールの発生をより確実に抑制することができる。
【0083】
また、上記掻き取り部材7の先端部7bにより、端面1a中央において電極膜の一部が除去されることになる。従って、端面1aの中央部分と周縁部分における電極の膜厚差をより一層小さくすることもできる。
【0084】
なお、本発明においては、より好ましくは、第1の実施例、第2の実施例及び第3の実施例を順に実施することが望ましく、それによってピンホールの発生をより一層低減することができるとともに、端面上における膜厚差の小さい外部電極をより確実に形成することができる。
【0085】
なお、上述してきた実施例では、1個の電子部品本体1に対し、1つのペースト突き上げ部材、ペースト流動抑制部材またはペースト掻き取り部材を用いていたが、本発明は、複数の電子部品本体に対し、同時にペースト突き上げ部材、ペースト流動抑制部材及び掻き取り部材を配置してもよい。すなわち、図12に略図的に示すように、板状のペースト突き上げ部材21を用意し、該ペースト突き上げ部材21の上面21aを複数の電子部品本体1の端面1aに向かって突き上げるように構成してもよい。このようなペースト突き上げ部材21は、図12に示すように、板状の部材、すなわちペースト突き上げ板として構成される。他のペースト流動抑制部材及びペースト掻き取り部材についても、同様に、板状の部材、すなわちペースト流動抑制板またはペースト掻き取り板として用意され得る。
【0086】
さらに、図13に斜視図で示すように、複数のペースト突き上げ部材21が一体化された治具22を用意してもよい。この場合には、治具22の上面に複数列のペースト突き上げ部材21が配置されており、その上方に、シール部材23、定盤24及びスキージ25が配置される。シール部材23及び定盤24は、複数列のペースト突き上げ部材21がこれらに形成されたスリットに入り込み得るように構成されている。スキージ25は、電極ペーストを所定の厚みに定盤24の上面に塗布するために用いられる。
【0087】
また、本発明が積層コンデンサだけでなく、端面を有する電子部品の該端面に電極ペーストを塗布し、電極を形成する工程を備えた様々な電子部品の製造に一般的に適用することができる。
【0088】
【発明の効果】
第1の発明によれば、電子部品本体を電極ペーストに浸漬するにあたり、電子部品本体の端面の中央に先行させて電極ペーストを付着させ、続いて、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させるため、電子部品本体の端面が電極ペーストに接触する際の気泡のかみ込みによりピンホールの発生を確実に抑制することができる。
【0089】
第2の発明によれば、電子部品本体を電極ペーストに浸漬した後引き上げるに際し、ペースト流動抑制部材が第1または第2の端面中央に当接された状態で電子部品本体が電極ペーストから引き上げられ、しかる後、第1または第2の端面に付着されている電極ペーストからペースト流動抑制部材が分離される。従って、前述したキャビテーションによるピンホールの発生を確実に抑制することができるとともに、端面中央部分と周縁部分とにおける電極膜の膜厚差を軽減することができる。
【0090】
第3の発明によれば、第1,第2の発明の工程に従って、電子部品本体の第1または第2の端面に電極ペーストが付着されるため、上述した電極ペーストへの電子部品の端面突入時の気泡のかみ込みによるピンホールの発生、並びに上記キャビテーションによるピンホールの発生の双方を確実に抑制することができる。
【0091】
よって、第1〜第3の発明によれば、ピンホールの少ない信頼性に優れた電子部品を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(c)は、本発明の第1の実施例の電子部品の製造方法を説明するための図であり、(a)〜(c)は、電極ペーストに電子部品本体を浸漬した後、引き上げる各工程を示す模式的断面図。
【図2】(a)及び(b)は、ペースト突き上げ部材の先端の形状の例を説明するための各部分切欠正面図。
【図3】従来法及び第1の実施例の方法に従って、電極を形成した場合のピンホール発生率を示す図。
【図4】第1の実施例において、突き上げ部材の先端部分の形状を変化させた場合のピンホール発生率の変化を示す図。
【図5】第1の実施例において突き上げ部材の突き上げ高さを変化させた場合のピンホール発生率の変化を示す図。
【図6】(a)〜(c)は、本発明の第2の実施例の電子部品の製造方法を説明するための図であり、(a)〜(c)は、電極ペーストに電子部品本体を浸漬した後、引き上げる各工程を示す模式的断面図。
【図7】第2の実施例及び従来法に従って電極を形成した場合のピンホール発生率を示す図。
【図8】第2の実施例において、突き上げ部材の先端部の形状を変化させた場合のピンホール発生率の変化を示す図。
【図9】端面上における電極膜の端面中央と周縁部における膜厚差を説明するための模式的正面断面図。
【図10】従来法及び第2の実施例において形成された各電極における端面中央部分及び周縁部分の電極膜厚差を示す図。
【図11】(a)〜(c)は、掻き取り部材を用いて電極中に形成されたピンホールを除去する工程を説明するための各模式的断面図。
【図12】複数の電子部品本体に用いられる板状のペースト突き上げ部材を説明するための模式的斜視図。
【図13】複数の突き上げ部材が一体化された治具と、該治具に対応したシール部材、定盤及びスキージを説明するための略図的分解斜視図。
【図14】(a)〜(d)は、従来法において、電子部品本体が電極ペーストに浸漬される際に気泡のかみ込みにより生じるピンホールの発生メカニズムを説明するための各模式的断面図。
【図15】(a)〜(d)は、従来法において、電子部品本体をペーストに浸漬した後引き上げるに際し、キャビテーションが生じることによるピンホール発生メカニズムを説明するための各模式的断面図。
【符号の説明】
1…電子部品本体
1a…第1の端面
1b…第2の端面
2…定盤
2a…スリット
2b…上面
2c…下面
2d…凹部
3…電極ペースト
3a…突出部
3A…電極膜
4…シール部材
5…ペースト突き上げ部材
5a…基部
5b…先端部
6…ペースト流動抑制部材
6a…基部
6b…先端部
7…ペースト掻き取り部材
7a…基部
7b…先端部
21…ペースト突き上げ部材
21a…上面
22…治具
23…シール部材
24…定盤
25…スキージ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method of manufacturing an electronic component including a step of applying an electrode paste to an electronic component body and forming an electrode film, and more specifically, includes a step of immersing and pulling up the electronic component body in the electrode paste. The present invention relates to a method for manufacturing an electronic component.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, when forming an internal electrode of a chip-type electronic component such as a multilayer ceramic capacitor, an electrode paste is applied to the end face of the electronic component main body and baked to form an electrode. An example of this type of electrode forming method is disclosed in
[0003]
As described above, after the electrode paste is attached to the end portion of the electronic component body, the sagging portion of the electrode paste is brought into contact with the upper surface of the surface plate, so that the electrode film thickness on the end surface of the electronic component body is made uniform. be able to.
[0004]
[Patent Document 1]
JP 63-45813 A
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In the method described in
[0006]
However, depending on the shape of the end face of the electronic component main body, pinholes may be generated due to the entrapment of bubbles in the attached electrode paste or the occurrence of cavitation.
[0007]
An object of the present invention is a method of manufacturing an electronic component that includes a step of immersing an end portion of the electronic component in an electrode paste and then pulling it up. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an electronic component that can be made uniform on an end face.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
14 (a) to 14 (d) are schematic cross-sectional views showing a mechanism in which pinholes are generated when an electronic component body is immersed in an electrode paste. When the electronic component
[0009]
On the other hand, in the steps shown in FIGS. 15A to 15D, when the end surface 101 a of the electronic component
[0010]
Accordingly, the inventors have considered that the generation of pinholes can be suppressed by suppressing the entrapment of bubbles between the end face of the electronic component main body and the electrode paste or the generation of the cavitation.
[0011]
The first invention of the present application includes a step of preparing an electronic component body having an end surface, a step of immersing the end surface of the electronic component body in an electrode paste having a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end surface and the vicinity thereof. A step of pulling up the electronic component body from the electrode paste and forming an electrode film made of the electrode paste on and near the end surface of the electronic component body. Let me down In soaking in the electrode paste, A part of the electrode paste is pushed up by the paste push-up member directly entering the electrode paste from the side opposite to the side where the electronic component main body is arranged, thereby Electrode paste is attached in advance to the center of the end face of the electronic component body, and then By further lowering the end face of the electronic component body and lowering the paste push-up member, An electronic component manufacturing method is characterized in that an electrode paste is adhered around the center of an end face.
[0013]
In another specific aspect of the first invention, the tip of the paste pushing-up member is smaller than the outer dimension of the end face of the electronic component main body. Therefore, the tip of the paste push-up member can be protruded toward the center of the end face of the electronic component main body.
[0014]
In a more specific aspect of the first invention, the paste push-up member is a paste push-up plate, and the upper surface of the paste push-up plate has a plurality of upper surfaces in order to attach the electrode paste to the end surfaces of the plurality of electronic component bodies in advance. Electronic components Book The paste is pushed up toward the center of the first or second end face of the body, and the width of the upper face of the paste push-up plate is made smaller than the outer dimensions of the end faces of the plurality of electronic component bodies. In this case, the electrode paste can be attached in advance using a paste push-up plate at the center of the first or second end face of the plurality of electronic component bodies.
[0015]
The second invention of the present application includes a step of preparing an electronic component body having an end surface, a step of immersing the end surface of the electronic component body in an electrode paste having a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end surface, and the electronic component A main body is lifted from the electrode paste, and an electrode film made of the electrode paste is formed on an end face of the electronic component main body and in the vicinity thereof, and the electrode paste adheres when the electronic component main body is lifted from the electrode paste In order to suppress the flow of the electrode paste to the center of the end face of the electronic component body, One The electronic component main body is pulled up from the electrode paste in a state where the paste flow suppressing member is in contact with or close to the center of the end surface, and then the paste flow suppressing member is attached to the end surface of the electronic component main body. Center It is separated from the electrode paste adhering to, The manufacturing method of an electronic component characterized by the above-mentioned.
[0016]
On the specific situation with 2nd invention, the front-end | tip of the said paste flow suppression member is smaller than the outer dimension of the end surface of the said electronic component main body. Therefore, the electrode paste at the center of the first or second end surface can be reliably suppressed by bringing the tip of the paste flow suppressing member into contact with or close to the center of the end surface of the electronic component main body.
[0017]
Second invention of In another specific aspect, the paste flow suppression member is a paste flow suppression plate, and the upper surface of the paste flow suppression plate is configured to suppress flow to the center of the electrode paste at the end surfaces of the plurality of electronic component bodies. The plurality of electronic components Book A width direction dimension of the upper surface of the paste flow suppressing plate is set in contact with or close to the center of the end face of the body, and is smaller than the outer dimension of the end face. In this case, it is possible to reliably and efficiently prevent the electrode paste from being centered by using the paste flow suppression plate at the first or second end face of the plurality of electronic component bodies.
[0018]
The third invention of the present application includes a step of preparing an electronic component body having an end surface, a step of immersing the end surface of the electronic component body in an electrode paste having a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end surface; A step of lifting the component main body from the electrode paste and forming an electrode film made of the electrode paste on and near the end surface of the electronic component main body, and immersing the end surface of the electronic component main body in the electrode paste. A part of the electrode paste is pushed up by a paste push-up member directly entering the electrode paste from the opposite side of the electrode paste from the side where the electrode paste is disposed, thereby causing the electrode paste to adhere to the center of the end face, and subsequently By lowering the end face of the electronic component body and lowering the paste push-up member, the center of the end face When the electronic component main body is pulled up from the electrode paste, the electronic component main body is pulled up with the tip of the push-up member in contact with or close to the center of the end surface of the electronic component main body. Thereafter, the push-up member is separated from the electrode paste attached to the center of the end face of the electronic component body.
[0019]
In a specific aspect of the first to third inventions, the electrode paste attached to the end face of the electronic component body after the step of pulling the electronic component body from the electrode paste and forming the electrode film A step of allowing the scraping member to enter the center and then separating the scraping member from the electrode paste is further provided. In this case, the thickness of the electrode paste on the first or second end face can be made more uniform by allowing the scraping member to enter the center of the electrode paste and then separating it.
The electronic component manufacturing apparatus according to the present invention is provided with a slit, a surface plate on which an electrode paste is applied to the upper surface to a predetermined thickness so as to enter the slit, and a tip enters the slit. And a paste push-up member movable in the vertical direction, The width of the slit is smaller than the outer dimension of the end face of the electronic component body, When immersing the end face of the electronic component main body in the electrode paste applied to the upper surface of the surface plate with a predetermined thickness so as to enter the slit, the paste push-up member whose tip directly enters the electrode paste in the slit is To move a part of the electrode paste, thereby causing the electrode paste to adhere in advance to the center of the end face of the electronic component body, By lowering the end face of the electronic component body and lowering the paste push-up member, the center of the end face When the electronic component main body is pulled up from the electrode paste after the electrode paste is attached to the periphery of the electronic component main body, the tip of the push-up member is in contact with or close to the center of the end surface of the electronic component main body. After that, by separating the paste push-up member from the electrode paste attached to the center of the end surface of the electronic component body, an electrode film made of electrode paste is formed on the end surface of the electronic component body and in the vicinity thereof. It is characterized by obtaining electronic parts.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be clarified by describing specific embodiments of the present invention with reference to the drawings.
[0021]
(First embodiment)
1A to 1C are schematic front sectional views for explaining a method for manufacturing an electronic component according to a first embodiment of the present invention.
[0022]
In this embodiment, first, the electronic component
[0023]
The ceramic sintered body for a multilayer ceramic capacitor constituting the
Below the end surface 1a of the electronic component
[0024]
Note that the
[0025]
Paste push-up
[0026]
Further, the tip of the tip portion 5b is a flat surface as a whole in FIGS. 1 (a) to 1 (c), but preferably the flat surface 5b as shown in FIG. 2 (a). 1 As shown by the arrow A, the peripheral edge is rounded. Flat surface 5b at the tip 1 Is smaller than the area of the end surface 1a of the electronic component
[0027]
The paste push-up
[0028]
In this embodiment, when the electrode paste is attached to the first end face 1a of the electronic component
[0029]
The protruding portion 3 a of the
[0030]
Therefore, when the electronic component
[0031]
Thereafter, the electronic component
[0032]
As described above, the feature of the present embodiment is that the electrode paste is attached to the center of the end faces 1a and 1b of the
[0033]
As the
[0034]
The electrode paste was made of a conductive paste containing Cu powder and had a viscosity of 30 Pa · sec at 25 ° C.
Although the application of the electrode paste to the end face 1a was performed according to the above embodiment, the width direction dimension of the tip 5b of the paste push-up
[0035]
The amount by which the electrode paste is protruded upward by the push-up member, that is, the paste push-up height was 0.5 mm or 1 mm. The paste push-up height refers to the height from the upper surface 2b of the
[0036]
In addition, when the rush speed of the electronic component main body to the electrode paste and the pulling speed of the electronic component main body are as low as 1 mm / second or less, the generation of pinholes due to foaming can be suppressed. However, since productivity decreases, the paste immersion rush speed is set to 5 mm / second as described above. However, in this example, in order to prevent the occurrence of pinholes at the time of pulling up and to evaluate only the presence or absence of pinholes at the time of electrode paste immersion, the pulling speed of the electronic component body from the paste is 0.1 mm. Seconds.
[0037]
The results will be described with reference to Table 1 and FIGS.
[0038]
[Table 1]
[0039]
No. 1 in Table 1 corresponds to the conventional method. Here, the paste was applied in the same manner as Nos. 2 to 9 except that the above-mentioned push-up member was not used. After forming the external electrodes under the conditions of No. 1 and No. 2, the presence or absence of pinholes was evaluated. The evaluation was performed by detecting the presence or absence of pinholes in the external electrodes of 100 multilayer capacitors using a stereomicroscope.
[0040]
As can be seen from FIG. 3, the pinhole generation rate of No. 1 corresponding to the conventional method is as high as 35%, while that of No. 2 corresponding to the embodiment of the present invention is as high as 2%. It was low. This is because the paste push-up
[0041]
Next, the pinhole generation rate when the external electrodes of the electronic component were formed under the conditions No. 2 to 5, 7 and 9 in Table 1 was evaluated. The results are summarized in FIG. 4 below.
[0042]
As is clear from FIG. 4, when a push-up member having a width of 2 mm is used, the tip of the push-up
[0043]
On the other hand, when the width of the push-up member is 5 mm, when the tip is rounded with R = 5 mm and 15 mm, the occurrence of pinholes is suppressed, and when R = 5 mm It can be seen that pinholes can be more reliably suppressed than when R = 15 mm. It can be seen that when the width is 5 mm, the effect of suppressing the generation of pinholes is not sufficient when the tip is a flat surface. That is, when the width of the push-up member is 5 mm, in other words, when the width of the tip of the push-up member is larger than the size 3.2 × 2.0 mm of the end face of the electronic component
[0044]
On the other hand, even when the push-up
[0045]
The results when electrodes were formed according to No. 5 to No. 8 in Table 1 were compared. That is, the change when the push-up height of the paste push-up member was varied was evaluated. The results are shown in FIG.
[0046]
As is clear from FIG. 5, when the push-up height is increased to 1 mm, when the tip surface of the push-up
[0047]
As is clear from the
[0048]
Further, when a paste push-up member having a width smaller than 3.2 mm of the end faces 1a and 1b of the electronic component
[0049]
However, when the push-up
[0050]
(Second embodiment)
6A to 6C are schematic front sectional views for explaining a method for manufacturing an electronic component of the second embodiment.
[0051]
Also in the second embodiment, a ceramic sintered body for a multilayer ceramic capacitor is prepared as the
Also in the second embodiment, as in the first embodiment, an apparatus including the
[0052]
The difference from the first embodiment is that a paste
[0053]
In this embodiment, the paste
[0054]
Moreover, the front-end | tip part 6b of the paste
[0055]
In this embodiment, first, in the same manner as in the conventional method, the
[0056]
However, preferably, by applying the first embodiment, that is, the paste
[0057]
That is, in the second embodiment, the process until the end face 1a enters the
[0058]
The feature of the second embodiment resides in the step of pulling up after the end surface 1a of the electronic component
That is, as shown in FIG. 6A, when the electronic component
[0059]
Therefore, the electrode paste adhering to the end surface 1a of the electronic component
[0060]
In this embodiment, the electrode paste adhered to the end surface 1a from the
[0061]
Further, when the tip portion 6b of the paste
[0062]
That is, in the conventional method, the electrode paste attached to the end surface 1a tends to flow to the center of the
[0063]
A ceramic sintered body for a multilayer ceramic capacitor having a length of 4.5 mm, a width of 3.2 mm, and a thickness of 2.0 mm was prepared as the
The coating thickness of the
[0064]
In the present example, the push-up height of the paste flow suppressing member was 2 mm. The push-up height of the paste
[0065]
The width of the tip 6b of the paste
[0066]
The electrode paste was applied under the conditions No. 10 to 16 shown in Table 2 below, and then the electrode paste was baked to form external electrodes.
[0067]
[Table 2]
[0068]
In addition, when the speed | rate which pulls up an electronic component from an electrode paste is as fast as 5 mm / second, since it will be faded by paste adhesion defect, it was set to 2 mm / second. Further, the immersion rush speed was slowed to 0.1 mm / second in order to evaluate the occurrence of pinholes when the
[0069]
FIG. 7 shows the result of forming the external electrodes according to the conditions No. 10 and No. 12 in Table 2.
[0070]
No. 10 shows the result of forming the external electrode based on the conventional method, that is, the result of applying the electrode paste without using the paste flow suppressing member and without using it as the paste push-up member. On the other hand, in No. 12, as is clear from Table 2, a paste flow suppression member having a tip end width of 2 mm and a tip end surface rounded with R = 15 mm was used.
[0071]
As can be seen from FIG. 7, according to the condition of No. 12, the occurrence of pinholes can be greatly reduced as compared with the conventional example. This is considered to be because the use of the paste flow suppressing member can suppress the generation of pinholes due to the cavitation shown in FIG. That is, it is considered that the front end portion 6b of the paste
[0072]
FIG. 8 shows changes in the pinhole generation rate when external electrodes are formed under the conditions shown in Table 2.
[0073]
As can be seen from FIG. 8, when a paste flow suppression member having a tip width of 2 mm is used, pinholes can be suppressed regardless of the shape of the tip portion. However, it can be seen that the occurrence of pinholes can be further suppressed when the tip is rounded. This means that the smaller the contact area between the tip portion 6b of the paste
[0074]
Moreover, when the paste
[0075]
Further, when the paste flow suppressing member has a width of 5 mm and the tip surface is further rounded with R = 5 mm and R = 15 mm, the tip surface is smaller than the outer dimension of the end surface 1a. It can be seen that the generation of pinholes can be suppressed according to the invention.
[0076]
As described above, in the second embodiment, by using the paste flow suppressing member, the generation of pinholes due to cavitation when the
[0077]
The method using the paste
[0078]
As is apparent from FIG. 10, in the conventional example, the difference between the film thickness at the central portion of the external electrode finally formed on the end face 1a and the film thickness at the peripheral portion is 101 μm, whereas the present invention No. 12 performed according to No. 12 shows that the film thickness difference is remarkably as small as 39 μm. This is because the paste
[0079]
(Third embodiment)
In the third embodiment, after an electrode film is formed by attaching an electrode paste to the end face 1a or 1b of the
[0080]
As shown in FIG. 11A, an
[0081]
In this embodiment, after the electrode film 3A is formed on the end face 1a in this way, the tip portion 7b of the scraping
[0082]
According to the first or second embodiment, the occurrence of pinholes due to the entrapment of bubbles when the
[0083]
Further, a part of the electrode film is removed at the center of the end face 1a by the tip 7b of the scraping
[0084]
In the present invention, it is more preferable that the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment be performed in order, whereby the generation of pinholes can be further reduced. In addition, an external electrode with a small film thickness difference on the end surface can be formed more reliably.
[0085]
In the embodiment described above, one paste push-up member, paste flow suppressing member or paste scraping member is used for one electronic component
[0086]
Furthermore, as shown in a perspective view in FIG. 13, a
[0087]
In addition, the present invention can be generally applied not only to a multilayer capacitor but also to the manufacture of various electronic components including a step of forming an electrode by applying an electrode paste to the end surface of an electronic component having an end surface.
[0088]
【The invention's effect】
According to the first invention, when the electronic component main body is immersed in the electrode paste, the electrode paste is attached in advance of the center of the end face of the electronic component main body, and then the electrode paste is attached around the center of the end face. The occurrence of pinholes can be reliably suppressed by the entrapment of bubbles when the end face of the electronic component main body comes into contact with the electrode paste.
[0089]
According to the second invention, when the electronic component body is pulled up after being immersed in the electrode paste, the electronic component body is pulled up from the electrode paste in a state where the paste flow suppressing member is in contact with the center of the first or second end face. Thereafter, the paste flow suppressing member is separated from the electrode paste attached to the first or second end face. Therefore, the generation of pinholes due to the cavitation described above can be reliably suppressed, and the difference in film thickness of the electrode film between the center portion of the end surface and the peripheral portion can be reduced.
[0090]
According to the third invention, since the electrode paste is attached to the first or second end face of the electronic component main body according to the steps of the first and second inventions, the end face of the electronic component enters the electrode paste described above. It is possible to reliably suppress the generation of pinholes due to the entrapment of bubbles and the generation of pinholes due to the cavitation.
[0091]
Therefore, according to the first to third inventions, it is possible to provide an electronic component with few pinholes and excellent reliability.
[Brief description of the drawings]
FIGS. 1A to 1C are diagrams for explaining a method of manufacturing an electronic component according to a first embodiment of the present invention, and FIGS. The typical sectional view showing each process which pulls up after immersing a main part.
FIGS. 2A and 2B are partial cutaway front views for explaining an example of the shape of a tip of a paste push-up member. FIGS.
FIG. 3 is a diagram showing a pinhole generation rate when an electrode is formed according to the conventional method and the method of the first embodiment.
FIG. 4 is a diagram showing a change in pinhole occurrence rate when the shape of the tip portion of the push-up member is changed in the first embodiment.
FIG. 5 is a diagram showing a change in pinhole occurrence rate when the push-up height of the push-up member is changed in the first embodiment.
FIGS. 6A to 6C are views for explaining a method of manufacturing an electronic component according to a second embodiment of the present invention, and FIGS. The typical sectional view showing each process which pulls up after immersing a main part.
FIG. 7 is a diagram showing a pinhole generation rate when electrodes are formed according to the second embodiment and the conventional method.
FIG. 8 is a diagram showing a change in pinhole occurrence rate when the shape of the tip of the push-up member is changed in the second embodiment.
FIG. 9 is a schematic front cross-sectional view for explaining a film thickness difference between an end surface center and a peripheral portion of an electrode film on the end surface.
FIG. 10 is a diagram showing a difference in electrode film thickness between the center portion of the end face and the peripheral portion of each electrode formed in the conventional method and the second embodiment.
11A to 11C are schematic cross-sectional views for explaining a process of removing a pinhole formed in an electrode using a scraping member.
FIG. 12 is a schematic perspective view for explaining a plate-like paste push-up member used for a plurality of electronic component main bodies.
FIG. 13 is a schematic exploded perspective view for explaining a jig in which a plurality of push-up members are integrated, and a seal member, a surface plate, and a squeegee corresponding to the jig.
FIGS. 14A to 14D are schematic cross-sectional views for explaining a generation mechanism of pinholes caused by entrapment of bubbles when an electronic component body is immersed in an electrode paste in a conventional method. .
FIGS. 15A to 15D are schematic cross-sectional views for explaining a pinhole generation mechanism caused by cavitation when the electronic component main body is dipped in a paste and then pulled up in the conventional method.
[Explanation of symbols]
1. Electronic component body
1a ... 1st end surface
1b ... second end face
2 ... Surface plate
2a ... Slit
2b ... Upper surface
2c ... bottom surface
2d ... recess
3. Electrode paste
3a ... Projection
3A ... Electrode film
4. Seal member
5 ... Paste push-up member
5a ... Base
5b ... tip
6 ... Paste flow suppression member
6a ... Base
6b ... tip
7 ... Paste scraping member
7a ... Base
7b ... tip
21 ... Paste push-up member
21a ... upper surface
22 ... Jig
23 ... Sealing member
24 ... surface plate
25 ... Squeegee
Claims (9)
所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の前記端面を浸漬し、端面及びその近傍に電極ペーストを付着させる工程と、
前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、
前記電子部品本体の端面を降下させて電極ペーストに浸漬するにあたり、電極ペーストの電子部品本体が配置されている側とは反対側から電極ペースト内に直接入り込んだペースト突き上げ部材により電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを電子部品本体の端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面をさらに降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させていくことを特徴とする、電子部品の製造方法。A step of preparing an electronic component body having an end face;
Immersing the end face of the electronic component main body in an electrode paste of a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end face and the vicinity thereof;
A step of pulling up the electronic component body from the electrode paste and forming an electrode film made of the electrode paste on an end surface of the electronic component body and in the vicinity thereof,
When the end face of the electronic component body is lowered and immersed in the electrode paste, a part of the electrode paste is formed by a paste push-up member that directly enters the electrode paste from the side opposite to the side where the electronic component body of the electrode paste is disposed. And thus the electrode paste is attached to the center of the end face of the electronic component body in advance, and then the end face of the electronic component body is further lowered and the paste push-up member is lowered to the periphery of the end face center. A method for producing an electronic component, characterized by attaching an electrode paste.
所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の端面を浸漬し、端面に電極ペーストを付着させる工程と、
前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、
前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、電極ペーストが付着している電子部品本体の端面の中央への電極ペーストの流動を抑制するために、一つのペースト流動抑制部材を端面中央に当接もしくは近接させた状態で前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、しかる後前記ペースト流動抑制部材を電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから分離することを特徴とする、電子部品の製造方法。A step of preparing an electronic component body having an end face;
Immersing the end face of the electronic component body in an electrode paste of a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end face;
A step of pulling up the electronic component body from the electrode paste and forming an electrode film made of the electrode paste on an end surface of the electronic component body and in the vicinity thereof,
When pulling up the electronic component main body from the electrode paste, in order to suppress the flow of the electrode paste to the center of the end face of the electronic component main body to which the electrode paste is adhered, one paste flow suppression member is brought into contact with the center of the end face or The electronic component body is pulled up from the electrode paste in a state of being close to each other, and then the paste flow suppressing member is separated from the electrode paste attached to the center of the end surface of the electronic component body. Method.
所定の厚みの電極ペーストに前記電子部品本体の端面を浸漬し、該端面に電極ペーストを付着させる工程と、
前記電子部品本体を前記電極ペーストから引き上げ、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜を形成する工程とを備え、
前記電極ペーストに電子部品本体の端面を浸漬するにあたり、電子部品本体が配置されている側とは電極ペーストの反対側から電極ペースト内に直接入り込んだペースト突き上げ部材により電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面を降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させ、
前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、前記突き上げ部材の先端を電子部品本体の端面の中央に当接または近接させた状態のまま電子部品本体を引き上げ、しかる後、電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから前記突き上げ部材を分離する、電子部品の製造方法。A step of preparing an electronic component body having an end face;
Immersing the end face of the electronic component body in an electrode paste of a predetermined thickness, and attaching the electrode paste to the end face;
A step of pulling up the electronic component body from the electrode paste and forming an electrode film made of the electrode paste on an end surface of the electronic component body and in the vicinity thereof,
In immersing the end face of the electronic component main body in the electrode paste, a part of the electrode paste is pushed up by a paste push-up member directly entering the electrode paste from the side opposite to the side where the electronic component main body is arranged, Thereby, the electrode paste is attached in advance to the center of the end face, and then the end face of the electronic component body is lowered and the paste push-up member is lowered to attach the electrode paste around the center of the end face ,
When pulling up the electronic component main body from the electrode paste, the electronic component main body is lifted while the tip of the push-up member is in contact with or close to the center of the end surface of the electronic component main body. A method for manufacturing an electronic component, wherein the push-up member is separated from an attached electrode paste.
前記スリット内に先端が入り込んでおり、かつ上下方向に移動可能なペースト突き上げ部材とを備え、
前記スリットの幅が電子部品本体の端面の外寸よりも小さくされており、
前記スリット内に入り込むように所定の厚みに前記定盤の上面に塗布された電極ペーストに電子部品本体の端面を浸漬するにあたり、スリット内の電極ペースト内に先端が直接入り込んだペースト突き上げ部材を上方向に移動させて電極ペーストの一部を突き上げ、それによって電極ペーストを前記電子部品本体の端面の中央に先行して付着させ、続いて前記電子部品本体の端面を降下させるとともに前記ペースト突き上げ部材を降下させることにより、端面中央の周囲に電極ペーストを付着させた後、前記電子部品本体を電極ペーストから引き上げるに際し、前記突き上げ部材の先端を前記電子部品本体の端面の中央に当接または近接させた状態のまま前記電子部品本体を引き上げ、しかる後、前記電子部品本体の端面中央に付着されている電極ペーストから前記ペースト突き上げ部材を分離することにより、前記電子部品本体の端面及びその近傍に電極ペーストからなる電極膜が形成された電子部品を得ることを特徴とする、電子部品の製造装置。A slit is provided, and a surface plate on which an electrode paste is applied to the upper surface with a predetermined thickness so as to enter the slit,
A paste push-up member that has a tip entering the slit and is movable in the vertical direction,
The width of the slit is smaller than the outer dimension of the end face of the electronic component body,
When immersing the end face of the electronic component main body in the electrode paste applied to the upper surface of the surface plate with a predetermined thickness so as to enter the slit, the paste push-up member whose tip directly enters the electrode paste in the slit is The electrode paste is pushed forward to the center of the end face of the electronic component main body, and then the end face of the electronic component main body is lowered and the paste push-up member is moved downward. After the electrode paste is attached around the center of the end surface by lowering , when the electronic component body is pulled up from the electrode paste, the tip of the push-up member is brought into contact with or close to the center of the end surface of the electronic component body The electronic component main body is pulled up in a state, and then attached to the center of the end surface of the electronic component main body. By separating the paste up member from the electrode paste, characterized in that to obtain the electronic component electrode film made of the end surface and its vicinity of the electrode paste of the electronic component main body is formed, the electronic component manufacturing apparatus.
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