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JP4392392B2 - Visual inspection device - Google Patents
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JP4392392B2 - Visual inspection device - Google Patents

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Description

本発明は、検査対象物を目視によって検査できるようにした目視検査装置に関するものであり、より詳しくは、自動検査装置による検査データを有効活用して、目視検査の効率性を向上させるようにした目視検査装置に関する。   The present invention relates to a visual inspection apparatus that can inspect an inspection object by visual inspection. More specifically, the inspection data obtained by an automatic inspection apparatus is effectively used to improve the efficiency of visual inspection. It relates to a visual inspection device.

従来より、プリント基板を目視によって検査できるようにした装置として、特許文献1や特許文献2などに記載される装置が多々存在している。これらの検査装置は、一般的に、検査対象となるプリント基板から撮像した画像を表示するとともに、正規のプリント基板の画像(以下、「基準画像」と称する)を表示し、これらの画像を目視で比較することによって検査を行えるようにしたものである。
特開2004−333288号公報 特開2002−009500号公報
2. Description of the Related Art Conventionally, there are many devices described in Patent Document 1, Patent Document 2, and the like as devices capable of visually inspecting a printed circuit board. In general, these inspection apparatuses display an image captured from a printed circuit board to be inspected, display an image of a regular printed circuit board (hereinafter referred to as “reference image”), and visually check these images. The inspection can be performed by comparing with the above.
JP 2004-333288 A JP 2002-009500 A

しかしながら、このような従来の目視検査装置は、一般的に自動検査装置とは完全に独立して設けられているため、目視によって検査を行う場合は、新たに一から検査を行わなければならない。このため、検査の効率性に欠けるといった問題があり、しかも、パターンが細かく複雑なプリント基板を精密に検査しようとすると、その検査に時間がかかり、検査者の集中力が低下して検査の質を低下させてしまうおそれがある。   However, since such a conventional visual inspection apparatus is generally provided completely independently of an automatic inspection apparatus, when inspection is performed by visual inspection, it is necessary to newly perform an inspection from scratch. For this reason, there is a problem that inspection efficiency is lacking. Moreover, when trying to inspect a printed circuit board with a fine pattern and a complicated pattern, it takes time, and the concentration of the inspector is reduced, resulting in the quality of the inspection. May be reduced.

そこで、本発明は上記課題に着目してなされたもので、自動検査装置によって検査された検査データを活用して目視検査の効率を向上させるようにした目視検査装置を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention has been made paying attention to the above-described problems, and an object thereof is to provide a visual inspection apparatus that improves inspection efficiency by utilizing inspection data inspected by an automatic inspection apparatus. .

すなわち、本発明は上記課題を解決するために、検査対象物を目視によって検査するための目視検査装置において、自動検査装置によって検査された検査対象物の検査データを格納したデータベースから検査日時を含む履歴情報および検査対象物の不良箇所の位置データを読み出す読出手段と、当該読出手段によって読み出された履歴情報を選択可能にディスプレイに表示し、当該表示された履歴情報のいずれかが選択されることによって、当該選択された検査対象物の不良箇所の位置データの一覧を選択可能に表示する項目選択手段と、当該項目選択手段によって不良箇所の位置データが選択された場合、当該選択された検査対象物の全体画像を表示するとともに、当該選択された不良箇所の矩形領域を表示する全体画像表示手段と、当該全体画像中における矩形領域の拡大画像を第一の画面に表示する第一の表示手段と、前記項目選択手段で選択された位置データから基準画像を読み出し、第一の画面に表示された不良箇所の画像の拡大率およびスクロールに連動させて前記矩形領域の基準画像を第二の画面に表示する第二の表示手段とを備えるようにしたものである。 That is, in order to solve the above-mentioned problem, the present invention includes an inspection date and time from a database storing inspection data of an inspection object inspected by an automatic inspection apparatus in a visual inspection apparatus for visually inspecting an inspection object. Reading means for reading the history information and position data of the defective part of the inspection object, and the history information read by the reading means are displayed on the display so as to be selectable, and any of the displayed history information is selected. Thus, when the item selection means for displaying the list of position data of the defective portion of the selected inspection object in a selectable manner and the position data of the defective portion are selected by the item selection means, the selected inspection An overall image display means for displaying an entire image of the object and displaying a rectangular area of the selected defective portion; A first display means for displaying an enlarged image of a rectangular area in the body image on the first screen, and a defective portion displayed on the first screen by reading the reference image from the position data selected by the item selection means And a second display means for displaying the reference image of the rectangular area on the second screen in conjunction with the enlargement ratio and scrolling of the image .

このように自動検査装置の検査データを活用して、不良と判定された部分のみを表示するようにすれば、その不良箇所のみを目視検査できるので、検査の効率性を向上させることができるようになる。また、この際、不良箇所の画像だけでなく、検査対象物の全体画像も表示するとともに、不良箇所として第一の画面に表示されている画像が全体画像のどの部分であるのかを全体画像中に表示するようにしたので、現在目視検査を行っている部分が、全体のどの部分であるかを知ることができ、作業工程の全体像を把握することができるようになる。 In this way, if the inspection data of the automatic inspection apparatus is utilized to display only the portion determined to be defective, only the defective portion can be visually inspected, so that the inspection efficiency can be improved. become. At this time, not only the image of the defective portion but also the entire image of the inspection object is displayed, and the portion of the entire image that is displayed on the first screen as the defective portion is displayed in the entire image. In this way, it is possible to know which part of the whole is currently being visually inspected, and to grasp the overall image of the work process.

本発明では、検査対象物を目視によって検査するための目視検査装置において、自動検査装置によって検査された検査対象物の検査データを格納したデータベースから検査日時を含む履歴情報および検査対象物の不良箇所の位置データを読み出す読出手段と、当該読出手段によって読み出された履歴情報を選択可能にディスプレイに表示し、当該表示された履歴情報のいずれかが選択されることによって、当該選択された検査対象物の不良箇所の位置データの一覧を選択可能に表示する項目選択手段と、当該項目選択手段によって不良箇所の位置データが選択された場合、当該選択された検査対象物の全体画像を表示するとともに、当該選択された不良箇所の矩形領域を表示する全体画像表示手段と、当該全体画像中における矩形領域の拡大画像を第一の画面に表示する第一の表示手段と、前記項目選択手段で選択された位置データから基準画像を読み出し、第一の画面に表示された不良箇所の画像の拡大率およびスクロールに連動させて前記矩形領域の基準画像を第二の画面に表示する第二の表示手段とを備えるようにしたので、自動検査装置の検査データを有効活用して目視による検査の効率性を向上させることができるようになる。また、この際、不良箇所の画像だけでなく、検査対象物の全体画像も表示するとともに、不良箇所として第一の画面に表示されている画像が全体画像のどの部分であるのかを全体画像中に表示するようにしたので、現在目視検査を行っている部分が、全体のどの部分であるかを知ることができ、作業工程の全体像を把握することができるようになる。 In the present invention, in the visual inspection apparatus for visually inspecting the inspection object, history information including the inspection date and time from the database storing the inspection data of the inspection object inspected by the automatic inspection apparatus, and the defective part of the inspection object Reading means for reading the position data, and history information read by the reading means is selectably displayed on the display, and one of the displayed history information is selected, whereby the selected inspection object An item selection means for displaying a list of position data of defective parts of the object in a selectable manner, and when the position data of the defective part is selected by the item selection means, the whole image of the selected inspection object is displayed. A whole image display means for displaying a rectangular area of the selected defective portion, and an enlargement of the rectangular area in the whole image A first display means for displaying an image on the first screen, and a reference image is read from the position data selected by the item selection means, and the enlargement ratio and scroll of the image of the defective portion displayed on the first screen In conjunction with the second display means for displaying the reference image of the rectangular area on the second screen, the inspection data of the automatic inspection apparatus is effectively used to improve the efficiency of visual inspection. Will be able to. At this time, not only the image of the defective portion but also the entire image of the inspection object is displayed, and the portion of the entire image that is displayed on the first screen as the defective portion is displayed in the entire image. In this way, it is possible to know which part of the whole is currently being visually inspected, and to grasp the overall image of the work process.

以下、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施の形態における外観検査システム1の概要を示したものであり、図2は、その外観検査システム1を構成する自動検査装置10と目視検査装置20の機能ブロック図を示したものである。また、図3は、目視検査装置20のディスプレイ20aに表示される目視検査のための画面構成例を示したものであり、図4および図5はプリント基板2を一次検査(自動検査)および二次検査(目視検査)する際のフローチャートを示したものである。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an outline of an appearance inspection system 1 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a functional block diagram of an automatic inspection device 10 and a visual inspection device 20 constituting the appearance inspection system 1. Is shown. FIG. 3 shows an example of a screen configuration for visual inspection displayed on the display 20a of the visual inspection apparatus 20, and FIGS. 4 and 5 show primary inspection (automatic inspection) and second inspection of the printed circuit board 2. FIG. The flowchart at the time of the next inspection (visual inspection) is shown.

この実施の形態における外観検査システム1は、プリント基板2の表面に形成されたパッドやレジストなどの形成状態を自動で検査する自動検査装置10と、この自動検査装置10によって得られた検査データを用いて目視で検査できるようにした目視検査装置20とを備えて構成される。   The appearance inspection system 1 in this embodiment includes an automatic inspection device 10 that automatically inspects the formation state of pads, resists, and the like formed on the surface of the printed circuit board 2 and inspection data obtained by the automatic inspection device 10. And a visual inspection device 20 that can be visually inspected.

まず、この外観検査システム1における自動検査装置10について説明すると、自動検査装置10は、図1に示すように、プリント基板2を積層するスタッカ11と、このスタッカ11から一枚ずつプリント基板2を取り出して検査用のステージ13上に載置するピックアップ機構12と、このピックアップ機構12によってステージ13に載置されたプリント基板2を照明装置14や受光装置15側まで移動させ、そこで取得されたプリント基板2の画像を検査する検査装置17と、この検査装置17による判定結果に基づいてプリント基板2を良否ごとに振り分けて回収する回収機構16とを備えている。   First, the automatic inspection apparatus 10 in the appearance inspection system 1 will be described. As shown in FIG. 1, the automatic inspection apparatus 10 stacks the printed circuit boards 2 and stacks the printed circuit boards 2 one by one from the stacker 11. The pickup mechanism 12 taken out and placed on the stage 13 for inspection, and the printed circuit board 2 placed on the stage 13 by the pickup mechanism 12 are moved to the illumination device 14 or the light receiving device 15 side, and the print obtained there An inspection device 17 that inspects an image of the substrate 2 and a recovery mechanism 16 that distributes and recovers the printed circuit boards 2 according to the quality based on the determination result by the inspection device 17 are provided.

この自動検査装置10の作用について説明すると、スタッカ11に積層されたプリント基板2は図示しないリフターによって持ち上げられ、順次ピックアップ機構12によって上から取り出される。このピックアップ機構12は、複数の吸着部材を下向きに備えてなるもので、プリント基板2のスルーホール以外の部分に吸着することによってプリント基板2を吸着して持ち上げる。このピックアップ機構12によって持ち上げられたプリント基板2は、そのままステージ13まで移動され、そこで下降されてステージ13上に載置される。このステージ13の表面にはプリント基板2を固定しておくための図示しない吸着機構が設けられており、プリント基板2をステージ13上に吸着させることによって移動中のプリント基板2のずれを防止できるようにしている。なお、図1において、ステージ13は紙面の奥行き方向に2つ設けられ、プリント基板2を載置した状態で移動し、帰路においては、そのステージ13を下げた状態でそれぞれ干渉しないように移動できるようにしている。次に、このように移動されたプリント基板2は、半円弧状に構成された照明装置14の下方まで移動させられ、そこで表面の画像が取得される。この照明装置14は、半円弧状ににLEDを配列させてなるもので、プリント基板2に複数の角度から光を照射して、その反射光をラインセンサなどで構成された受光装置15に受光させる。そして、その受光された画像を、検査装置17によってその自動検査させる。   The operation of the automatic inspection apparatus 10 will be described. The printed circuit board 2 stacked on the stacker 11 is lifted by a lifter (not shown) and sequentially taken out from above by the pickup mechanism 12. The pickup mechanism 12 is provided with a plurality of suction members facing downward, and sucks and lifts the printed circuit board 2 by sucking it to a portion other than the through hole of the printed circuit board 2. The printed circuit board 2 lifted by the pickup mechanism 12 is moved to the stage 13 as it is, and is lowered there and placed on the stage 13. A suction mechanism (not shown) for fixing the printed circuit board 2 is provided on the surface of the stage 13, and the printed circuit board 2 being moved can be prevented from being displaced by sucking the printed circuit board 2 onto the stage 13. I am doing so. In FIG. 1, two stages 13 are provided in the depth direction of the paper surface, and the stage 13 moves with the printed circuit board 2 placed thereon. On the return path, the stage 13 is lowered and can move without interfering with each other. I am doing so. Next, the printed circuit board 2 moved in this way is moved to below the illumination device 14 configured in a semicircular arc shape, and an image of the surface is acquired there. The illuminating device 14 is formed by arranging LEDs in a semicircular arc shape. The illuminating device 14 irradiates the printed circuit board 2 with light from a plurality of angles and receives the reflected light by a light receiving device 15 constituted by a line sensor or the like. Let Then, the received image is automatically inspected by the inspection device 17.

この検査装置17は、具体的には、CPUやメモリなどを備えたパーソナルコンピュータによって構成されるもので、これらを協働させて図2に示すような、前処理手段170と、記憶手段171と、良否判定手段173と、出力手段174とを機能させるようにしている。   Specifically, the inspection device 17 is constituted by a personal computer equipped with a CPU, a memory, and the like. The preprocessing means 170 and the storage means 171 as shown in FIG. The pass / fail judgment means 173 and the output means 174 are made to function.

このうち前処理手段170は、受光装置15によって取得されたグレースケールの256階調の画像をA/D変換して記憶手段171に格納する。このA/D変換の際には、取得された256階調の画像の輝度平均値などを用い、その平均輝度値よりも大きい輝度を有するピクセルについて「1」を設定し、平均輝度値よりも小さい輝度を有するピクセルについては「0」を設定する。もちろん、このような二値化処理をすることなく、256階調のままで検査を行うようにしてもよく、また、カラー画像のまま検査するようにしてもよい。   Among these, the preprocessing unit 170 performs A / D conversion on the 256 grayscale image acquired by the light receiving device 15 and stores the image in the storage unit 171. At the time of this A / D conversion, the average luminance value of the acquired 256-gradation image is used, and “1” is set for a pixel having a luminance higher than the average luminance value. “0” is set for a pixel having a small luminance. Of course, the inspection may be performed with 256 gradations without performing such binarization processing, or the color image may be inspected.

また、記憶手段171の一部を構成するデーターベースには、前処理手段170によって二値化されたプリント基板2の画像の他に、後に行われる目視検査のために、256階調によって取得された全体画像がそのまま格納される。   In addition to the image of the printed circuit board 2 binarized by the preprocessing unit 170, the database constituting a part of the storage unit 171 is acquired with 256 gradations for visual inspection to be performed later. The entire image is stored as it is.

この前処理手段170によって二値化処理が行われると、次に、その二値化画像に基づいてプリント基板2の良否判定が行われる。良否判定手段173は、その検査対象となるプリント基板2の二値化画像と、あらかじめ記憶手段171に格納されている基準画像とを比較することによって良否の判定を行う。具体的には、パターンやレジスト、パッド、シルクの形成状態を検査する場合、検査対象領域として矩形状に区切られた小さな領域の平均輝度とそれに対応する基準画像領域の平均輝度との差を求め、その平均輝度差が一定値よりも大きい場合には、その検査対象領域を不良と判定する。この輝度差による良否判定は、パターンやシルク、レジストごとに行われ、パターンの検査については金属色の輝度、シルクである場合は白色の輝度、また、レジストの検査については緑色の輝度に基づいて判定される。なお、判定方法については、このような判定方法だけに限らず、他の判定方法を適宜用いるようにしてもよい。そして、このような判定方法によって良否判定された検査データは、記憶手段171に記憶されるとともに、後に行われる目視検査のためにデーターベース172にも格納される。このデーターベース172に格納される情報としては、例えば、このプリント基板2を自動検査した日付・時間や、何枚目のプリント基板であるかの枚数情報(以下、「履歴情報」と称する)、不良箇所と判断された位置の情報、この不良部分の拡大画像などである。   After the binarization processing is performed by the preprocessing unit 170, next, the pass / fail judgment of the printed circuit board 2 is performed based on the binarized image. The pass / fail judgment means 173 judges pass / fail by comparing the binarized image of the printed circuit board 2 to be inspected with a reference image stored in the storage means 171 in advance. Specifically, when inspecting the formation status of patterns, resists, pads, and silk, the difference between the average luminance of a small area divided into rectangles as the inspection target area and the average luminance of the corresponding reference image area is obtained. If the average luminance difference is larger than a certain value, the inspection target area is determined to be defective. The pass / fail judgment based on the brightness difference is performed for each pattern, silk, and resist. Based on the brightness of the metal color for the pattern inspection, the brightness of the white for the silk, and the brightness of the green for the resist inspection. Determined. Note that the determination method is not limited to such a determination method, and other determination methods may be used as appropriate. The inspection data determined to be acceptable by such a determination method is stored in the storage unit 171 and also stored in the database 172 for visual inspection performed later. Information stored in the database 172 includes, for example, date / time when the printed circuit board 2 is automatically inspected, information on the number of printed circuit boards (hereinafter referred to as “history information”), Information on the position determined as a defective portion, an enlarged image of the defective portion, and the like.

出力手段174は、プリント基板2のすべての領域の検査が終了した場合に、最終的なプリント基板2の良否の判定結果を報知可能に出力する。例えば、プリント基板2に不良箇所が存在しない場合は緑色のランプを点灯し、また、プリント基板2に所定数以上の不良箇所が存在している場合は赤色などを点灯させる。また、不良箇所が少ない場合であっても、その重要度に応じて赤色を点灯させる。また、ランプ以外にも音で判定結果を報知可能に出力することも可能である。   The output means 174 outputs the final determination result of the quality of the printed circuit board 2 in a reportable manner when the inspection of all areas of the printed circuit board 2 is completed. For example, when there is no defective portion on the printed circuit board 2, a green lamp is turned on, and when there are more than a predetermined number of defective portions on the printed circuit board 2, red light is turned on. Moreover, even if there are few defective parts, red is lit according to the importance. In addition to the lamp, it is also possible to output the determination result by sound so as to be notified.

次に、目視検査装置20の構成について説明する。目視検査装置20は、上記自動検査装置10と一体をなすコンピュータや、若しくは、別に設けられたパーソナルコンピュータによって構成されるもので、少なくとも、自動検査装置10のデーターベース172に接続される。この接続方法としては、一般的には、LANなどの通信回線を介して接続されるが、CDやDVDなどの携帯可能な記憶媒体を目視検査装置20に取り込むことによって検査データを取得できるようにしてもよい。   Next, the configuration of the visual inspection apparatus 20 will be described. The visual inspection device 20 is constituted by a computer integrated with the automatic inspection device 10 or a personal computer provided separately, and is connected to at least the database 172 of the automatic inspection device 10. This connection method is generally connected via a communication line such as a LAN. However, inspection data can be acquired by taking a portable storage medium such as a CD or DVD into the visual inspection device 20. May be.

この目視検査装置20の詳細について説明すると、この目視検査装置20は、装置内部に組み込まれたCPUやメモリ、ディスプレイ20aやキーボード20bなどによって、読出手段21、項目選択手段22、全体画像表示手段23、第一の表示手段24、第二の表示手段25、記憶手段26、目視結果入力手段27などを機能させる。   The visual inspection apparatus 20 will be described in detail. The visual inspection apparatus 20 includes a CPU, a memory, a display 20a, a keyboard 20b, and the like incorporated in the apparatus, a reading unit 21, an item selection unit 22, and an entire image display unit 23. The first display unit 24, the second display unit 25, the storage unit 26, the visual result input unit 27, and the like are caused to function.

このうち、読出手段21は、自動検査装置10のデーターベース172に接続されて検査データを読み出す。また、LANなどの通信回線が接続されていない場合は、CDドライブやDVDドライブを介して、検査データを格納した記憶媒体からその検査データを読み取る。   Among these, the reading means 21 is connected to the database 172 of the automatic inspection apparatus 10 and reads the inspection data. When a communication line such as a LAN is not connected, the inspection data is read from a storage medium storing the inspection data via a CD drive or a DVD drive.

項目選択手段22は、この読出手段21によって読み出された検査データのうち、不良と判定されたプリント基板2の検査結果をディスプレイ20aに表示する。この表示に際しては、図3の右側に示すように、自動検査装置10によって検査された日時の他、検査されたプリント基板が何枚目のプリント基板であるかの履歴情報も表示する。図3においては、2005年7月16日に自動検査された44枚目のプリント基板を選択した状態を示している。そして、この画面に表示された情報のうち、所望のプリント基板がマウスなどによってクリックされると、次に、そのプリント基板2の不良箇所の位置データの一覧を上側に表示する。この位置データは、不良箇所と判定された箇所の座標で表示され、プリント基板2の基準マークを(x、y)=(0、0)を原点とした場合におけるx方向、y方向のピクセル単位で示される。   The item selection means 22 displays the inspection result of the printed circuit board 2 determined to be defective among the inspection data read by the reading means 21 on the display 20a. At the time of this display, as shown on the right side of FIG. 3, in addition to the date and time of inspection by the automatic inspection apparatus 10, history information as to which printed circuit board is inspected is also displayed. FIG. 3 shows a state in which the 44th printed circuit board automatically inspected on July 16, 2005 is selected. When a desired printed board is clicked with a mouse or the like in the information displayed on this screen, a list of position data of defective portions of the printed board 2 is displayed on the upper side. This position data is displayed in coordinates of a location determined as a defective location, and is a pixel unit in the x and y directions when the reference mark of the printed circuit board 2 is (x, y) = (0, 0) as the origin. Indicated by

全体画像表示手段23は、前記項目選択手段22によって選択されたプリント基板2の全体画像をディスプレイ20aの左側に表示する。この全体画像は、プリント基板2の全体における不良箇所を把握しやすくするために、比較的小さな拡大率で表示される。そして、項目選択手段22によって目視検査したい不良箇所が選択さると、その不良箇所を含む小さな矩形領域23aを表示するなどして検査者に不良箇所を分かりやすくする。   The whole image display means 23 displays the whole image of the printed circuit board 2 selected by the item selection means 22 on the left side of the display 20a. This whole image is displayed with a relatively small enlargement ratio in order to make it easy to grasp a defective portion in the whole printed circuit board 2. When the item selection means 22 selects a defective portion to be visually inspected, a small rectangular area 23a including the defective portion is displayed to make it easy for the inspector to understand the defective portion.

第一の表示手段24は、この全体画像中で矩形領域23aの拡大画像を第一の画面24aに表示する。この第一の表示手段24によって不良箇所の画像を表示する場合、自動検査装置10のデーターベース172に格納されている拡大画像を取得し、その画像に丸印を付す処理などを行って第一の画面24aに表示する。これにより、検査者に目視検査の対象部分を把握しやすいようにする。   The first display means 24 displays an enlarged image of the rectangular area 23a in the entire image on the first screen 24a. When an image of a defective part is displayed by the first display means 24, an enlarged image stored in the database 172 of the automatic inspection apparatus 10 is acquired, and a process of attaching a circle to the image is performed. Is displayed on the screen 24a. This makes it easy for the inspector to grasp the target portion of the visual inspection.

第二の表示手段25は、この第一の画面24aに表示されている画像に対応する基準画像を表示する。ここで、「基準画像」とは、不良箇所を含まないプリント基板の画像をいう。この基準画像は、あらかじめデーターベース172に格納されているが、データーベース172に格納されない場合は、目視検査装置20の記憶手段26に記憶させておくようにしてもよい。この第二の表示手段25によって基準画像を第二の画面25aに表示する場合、項目選択手段22によって選択された不良箇所の座標から基準画像の拡大画像を読み出し、その拡大画像をディスプレイ20aに表示させる。このとき、第二の画面25aに表示される画像と第一の画面24aに表示される画像の拡大率は同一に設定される。そして、いずれか一方の画面がスクロールされた場合には、そのスクロールに連動させて他方の画面もスクロールさせ、また、このスクロールに対応して、全体画像表示手段23に表示されている矩形領域23aの位置についても同様に移動させる。   The second display means 25 displays a reference image corresponding to the image displayed on the first screen 24a. Here, the “reference image” refers to an image of a printed board that does not include a defective portion. This reference image is stored in the database 172 in advance, but if it is not stored in the database 172, it may be stored in the storage means 26 of the visual inspection apparatus 20. When the reference image is displayed on the second screen 25a by the second display means 25, an enlarged image of the reference image is read from the coordinates of the defective part selected by the item selection means 22, and the enlarged image is displayed on the display 20a. Let At this time, the enlargement ratio of the image displayed on the second screen 25a and the image displayed on the first screen 24a are set to be the same. When either one of the screens is scrolled, the other screen is also scrolled in conjunction with the scroll, and the rectangular area 23a displayed on the entire image display means 23 corresponding to the scroll. The same position is also moved.

一方、目視結果入力手段27は、本発明における第一の入力手段や第二の入力手段をなすもので、前記第一の表示手段24によって表示された不良箇所のうち、目視によって検査された判定結果の入力を受け付ける。この目視による判定結果の入力は、例えば、キーボード20bの所定のファンクションキーが押下されることによって行われ、例えば、自動検査装置10によって不良と判断された検査データが虚報である場合は、「虚報」である旨の入力がなされ、また、自動検査装置10による検査データが実際に不良である場合は、その不良となった原因、例えば、パッドである場合は、「傷、打痕、突起、変色」などの情報、穴であれば「詰まり、過大」などの情報、レジストである場合は「傷・剥げ、付着」などの情報、シルクであれば「傷・剥げ、付着」などの入力がなされる。これらの情報は、目視検査装置20の記憶手段26に逐次記憶されていき、後に統計情報として出力できるようにしている。   On the other hand, the visual result input means 27 constitutes the first input means and the second input means in the present invention, and among the defective portions displayed by the first display means 24, the determination is made by visual inspection. Accept input of results. The visual input of the determination result is performed, for example, by pressing a predetermined function key of the keyboard 20b. For example, if the inspection data determined to be defective by the automatic inspection apparatus 10 is false, If the inspection data by the automatic inspection apparatus 10 is actually defective, for example, if the inspection data is a pad, “scratches, dents, protrusions, Information such as "discoloration", information such as "clogging and overloading" if it is a hole, information such as "scratch / peeling and adhesion" if it is a resist, and information such as "scratching / peeling and adhesion" if it is silk Made. These pieces of information are sequentially stored in the storage means 26 of the visual inspection apparatus 20 so that they can be output as statistical information later.

次に、このように構成された外観検査システム1を用いてプリント基板2を検査する場合のフローチャートについて図4および図5を用いて説明する。   Next, a flowchart in the case of inspecting the printed circuit board 2 using the appearance inspection system 1 configured as described above will be described with reference to FIGS.

まず、プリント基板2を検査する場合、一次検査として自動検査装置10を用いる。自動検査を行う場合、あらかじめ検査対象となるプリント基板2をスタッカ11に積層しておき、自動検査装置10の電源をオンにする。すると、スタッカ11内のプリント基板2はリフターなどによって持ち上げられ(ステップT1)、最上部から一枚ずつピックアップ機構12によってプリント基板2が取り出される(ステップT2)。この取り出されたプリント基板2は、途中、図示しない位置決め機構などによって位置決めされ(ステップT3)、ステージ13上まで運ばれる。ステージ13上にプリント基板2が載置されると(ステップT4)、今度はステージ13とともに水平方向に移動され(ステップT5)、照明装置14や受光装置15の下方まで移動されて表面画像が取得される(ステップT6)。この取得された画像は、256階調の画像としてデーターベース172や記憶手段171に格納され(ステップT7)、また、二値化処理手段によって二値化された(ステップT8)画像も記憶手段171に格納される。そして、この二値化された画像と、あらかじめ記憶手段171に記憶された基準画像とを比較アルゴリズムによって比較判断し、不良箇所の有無を検査する(ステップT9)。ここで、不良箇所が存在していると判断された場合には(ステップT10)、プリント基板2の履歴情報とともにその不良箇所の座標や不良箇所を含む領域の拡大画像をデーターベース172に格納していく(ステップT11)。そして、プリント基板2のすべての領域が検査が行われた場合、不良ピクセルが所定数以上存在する場合は(ステップT12)、不良品である旨の出力を行い(ステップT13)、一方、不良ピクセルが所定数よりも少ない場合は、良品である旨の出力を行う(ステップT14)。そして、その良否判定結果に基づき、回収機構16によってそのプリント基板2を振り分けて回収する。   First, when inspecting the printed circuit board 2, the automatic inspection apparatus 10 is used as a primary inspection. When performing the automatic inspection, the printed circuit board 2 to be inspected is stacked on the stacker 11 in advance, and the automatic inspection apparatus 10 is turned on. Then, the printed circuit board 2 in the stacker 11 is lifted by a lifter or the like (step T1), and the printed circuit board 2 is taken out one by one from the top by the pickup mechanism 12 (step T2). The taken out printed circuit board 2 is positioned on the way by a positioning mechanism (not shown) or the like (step T3) and is carried onto the stage 13. When the printed circuit board 2 is placed on the stage 13 (step T4), it is moved horizontally along with the stage 13 (step T5), and moved to below the illumination device 14 and the light receiving device 15 to obtain a surface image. (Step T6). The acquired image is stored in the database 172 and the storage unit 171 as a 256-gradation image (step T7), and the image binarized by the binarization processing unit (step T8) is also stored in the storage unit 171. Stored in Then, the binarized image and the reference image stored in advance in the storage unit 171 are compared and determined by a comparison algorithm, and the presence / absence of a defective portion is inspected (step T9). If it is determined that a defective part exists (step T10), the coordinates of the defective part and the enlarged image of the area including the defective part are stored in the database 172 together with the history information of the printed circuit board 2. (Step T11). When all areas of the printed circuit board 2 have been inspected and there are more than a predetermined number of defective pixels (step T12), an output indicating that the defective pixels are defective is output (step T13). Is less than the predetermined number, an output indicating that the product is non-defective is performed (step T14). The printed circuit board 2 is sorted and collected by the collection mechanism 16 based on the pass / fail judgment result.

次に、二次検査として目視による検査を行う場合、まず、目視検査装置20を自動検査装置10のデーターベース172に接続し(ステップS1)、そのデーターベース172に格納されている検査データのうち、まず、不良と判定されたプリント基板2の検査データを読み出して(ステップS2)ディスプレイ20aに日時や枚数に関する履歴情報を表示する(ステップS3)。そして、検査者によって所定の履歴情報が選択されると(ステップS4)、今度は、そのプリント基板2の不良箇所に関するデータが選択可能にディスプレイ20aに一覧表示される(ステップS5)。そこで、検査者が所定の不良箇所を目視検査用に選択すると(ステップS6)、ディスプレイ20aにそのプリント基板2の全体画像が表示される、また、その不良箇所にマーキング24bを付したプリント基板2の拡大画像が第一の画面24aに表示され、また、この第一の画面24aに対応する基準画像が第二の画面25aに表示される(ステップS7)。そして、この第一の画面24aと第二の画面25aに表示された画像よって、検査者が不良箇所を比較較判断できるようにする。   Next, when visual inspection is performed as a secondary inspection, first, the visual inspection device 20 is connected to the database 172 of the automatic inspection device 10 (step S1), and among the inspection data stored in the database 172, First, the inspection data of the printed circuit board 2 determined to be defective is read (step S2), and history information regarding the date and time and the number of sheets is displayed on the display 20a (step S3). When predetermined history information is selected by the inspector (step S4), data related to the defective portion of the printed circuit board 2 is now displayed in a list on the display 20a (step S5). Therefore, when the inspector selects a predetermined defective portion for visual inspection (step S6), the entire image of the printed board 2 is displayed on the display 20a, and the printed board 2 with the marking 24b attached to the defective portion. Is displayed on the first screen 24a, and a reference image corresponding to the first screen 24a is displayed on the second screen 25a (step S7). Then, the image displayed on the first screen 24a and the second screen 25a enables the inspector to compare and determine the defective portion.

そして、このように全体画像や第一の画面24a、第二の画面25aに表示された画像に基づいて、検査者が不良箇所に対する目視判断の結果を入力すると(ステップS8)、その結果を目視検査装置20の記憶手段26に逐次格納していき(ステップS9)、全ての項目の目視検査が完了(ステップS10)することによって総合的にプリント基板2の良否を判断する。   Then, when the inspector inputs the result of the visual judgment on the defective portion based on the whole image and the image displayed on the first screen 24a and the second screen 25a in this way (step S8), the result is visually checked. The data is sequentially stored in the storage means 26 of the inspection device 20 (step S9), and the visual inspection of all items is completed (step S10), so that the quality of the printed circuit board 2 is comprehensively determined.

このように上記実施の形態によれば、プリント基板2を目視検査する場合、自動検査装置10によって検査されたプリント基板2の検査データを格納したデーターベース172から検査日時を含む履歴情報および検査対象物の不良箇所の位置データを読み出し、この履歴情報のいずれかが選択されることによって、その選択されたプリント基板2の不良箇所の位置データの一覧を選択可能に表示するとともに、不良箇所の位置データが選択された場合には、その選択された不良箇所の矩形領域23aを含むプリント基板2の全体画像と、その矩形領域23aの拡大画像と、その位置データに対応する基準画像とを表示させるようにしたので、自動検査装置10の検査データを活用して効率よく目視検査を行うことができるようになる。また、この際、プリント基板2の全体画像と、不良箇所を含む部分領域の拡大画像とを表示するようにしたので、プリント基板2におけるどの部分を目視検査しているのかを把握することができ、作業工程の全体像を把握することができるようになる。 As described above, according to the above-described embodiment, when the printed circuit board 2 is visually inspected, the history information including the inspection date and the inspection object are stored from the database 172 storing the inspection data of the printed circuit board 2 inspected by the automatic inspection apparatus 10. The position data of the defective part of the object is read, and by selecting any of the history information, a list of position data of the defective part of the selected printed circuit board 2 is displayed in a selectable manner, and the position of the defective part is displayed. When data is selected, an entire image of the printed circuit board 2 including the rectangular area 23a of the selected defective portion, an enlarged image of the rectangular area 23a, and a reference image corresponding to the position data are displayed. As a result, the visual inspection can be efficiently performed using the inspection data of the automatic inspection apparatus 10. At this time, since the entire image of the printed circuit board 2 and the enlarged image of the partial area including the defective part are displayed, it is possible to grasp which part of the printed circuit board 2 is visually inspected. The overall picture of the work process can be grasped.

なお、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、種々の態様で実施することができる。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can implement in a various aspect.

すなわち、上記実施の形態では、プリント基板2を検査する場合について説明したが、これに限らず、取得された画像に基づいて検査を行うような装置、例えば、液晶パネルの検査装置などにも適用することができる。もちろん、プリント基板や液晶パネル以外の分野にも適用することができる。   That is, in the above-described embodiment, the case where the printed circuit board 2 is inspected has been described. However, the present invention is not limited to this. can do. Of course, it can be applied to fields other than printed circuit boards and liquid crystal panels.

また、上記実施の形態では、不良箇所のマーキング24bとして丸印を付すようにしているが、これに限らずバツ印や四角印などによって不良箇所を特定できるようにしてもよい。また、このように印を付すのではなく、不良箇所の画像を赤色に変化させるなどして表示するようにしてもよい。この場合、本発明との関係において、赤色に表示された画像部分がマーキングに該当する。   Moreover, in the said embodiment, although the round mark is attached as the marking 24b of a defective location, you may enable it to specify a defective location by not only this but a cross mark, a square mark, etc. FIG. Further, instead of marking in this way, the image of the defective part may be displayed in red. In this case, in the relationship with the present invention, the image portion displayed in red corresponds to marking.

さらに、上記実施の形態では、自動検査装置10側で不良箇所周辺の拡大画像をデーターベース172に格納するようにしているが、全体画像の解像度を高くしても記憶容量に問題がなければ、高い解像度で取得された画像をデーターベース172に格納しておくようにしてもよい。   Further, in the above embodiment, the enlarged image around the defective part is stored in the database 172 on the automatic inspection apparatus 10 side. However, even if the resolution of the whole image is increased, there is no problem in the storage capacity. An image acquired at a high resolution may be stored in the database 172.

また、上記実施の形態では、データーベースとして、自動検査装置10の記憶手段171の一部に設けられたデーターベース172を例に挙げて説明したが、これに限らず、自動検査装置10とは独立した位置に設けられるデーターベースであってもよい。この場合、自動検査装置10による検査データは、LANなどを介してデーターベースに格納され、また、読出手段21を介して目視検査装置20に読み出される。   In the above embodiment, the database 172 provided as part of the storage unit 171 of the automatic inspection apparatus 10 has been described as an example of the database. However, the present invention is not limited to this, and the automatic inspection apparatus 10 is not limited thereto. It may be a database provided at an independent position. In this case, the inspection data from the automatic inspection apparatus 10 is stored in the database via the LAN or the like, and is read out to the visual inspection apparatus 20 via the reading means 21.

本発明の一実施の形態における外観検査システムの概要を示す図The figure which shows the outline | summary of the external appearance inspection system in one embodiment of this invention 同形態における外観検査システムの機能ブロック図Functional block diagram of an appearance inspection system in the same form 同形態における目視検査装置の画面構成例Screen configuration example of visual inspection device in the same form 同形態におけるプリント基板を自動検査する際のフローチャートFlow chart for automatic inspection of printed circuit board in the same form 同形態におけるプリント基板を目視検査する際のフローチャートFlow chart for visual inspection of printed circuit board in the same form

1・・・外観検査システム
2・・・プリント基板
10・・・自動検査装置
17・・・検査装置
172・・・データーベース
173・・・良否判定手段
174・・・出力手段
20・・・目視検査装置
21・・・読出手段
22・・・項目選択手段
23・・・全体画像表示手段
23a・・・矩形領域
24・・・第一の表示手段
24a・・・第一の画面
24b・・・マーキング
25・・・第二の表示手段
25a・・・第二の画面
26・・・記憶手段
27・・・目視結果入力手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Appearance inspection system 2 ... Printed circuit board 10 ... Automatic inspection apparatus 17 ... Inspection apparatus 172 ... Database 173 ... Pass / fail judgment means 174 ... Output means 20 ... Visual inspection Inspection device 21 ... Reading means 22 ... Item selection means 23 ... Whole image display means 23a ... Rectangle area 24 ... First display means 24a ... First screen 24b ... Marking 25 ... second display means 25a ... second screen 26 ... storage means 27 ... visual result input means

Claims (1)

検査対象物を目視によって検査するための目視検査装置において、
自動検査装置によって検査された検査対象物の検査データを格納したデータベースから検査日時を含む履歴情報および検査対象物の不良箇所の位置データを読み出す読出手段と、
当該読出手段によって読み出された履歴情報を選択可能にディスプレイに表示し、当該表示された履歴情報のいずれかが選択されることによって、当該選択された検査対象物の不良箇所の位置データの一覧を選択可能に表示する項目選択手段と、
当該項目選択手段によって不良箇所の位置データが選択された場合、当該選択された検査対象物の全体画像を表示するとともに、当該選択された不良箇所の矩形領域を表示する全体画像表示手段と、
当該全体画像中における矩形領域の拡大画像を第一の画面に表示する第一の表示手段と、
前記項目選択手段で選択された位置データから基準画像を読み出し、第一の画面に表示された不良箇所の画像の拡大率およびスクロールに連動させて前記矩形領域の基準画像を第二の画面に表示する第二の表示手段と、
を備えたことを特徴とする目視検査装置。
In a visual inspection device for visually inspecting an inspection object,
Reading means for reading the position data of the defective portion of the history information and the inspection object including from the database examination date storing the inspection data of the inspection object which is inspected by automatic inspection device,
The history information read by the reading means is displayed on the display so as to be selectable, and any one of the displayed history information is selected, so that a list of position data of defective portions of the selected inspection object is displayed. An item selection means for displaying a selectable item,
When the position data of the defective part is selected by the item selection means, the whole image display means for displaying the entire image of the selected inspection object and displaying the rectangular area of the selected defective part;
First display means for displaying an enlarged image of a rectangular area in the whole image on the first screen;
A reference image is read from the position data selected by the item selection means, and the reference image of the rectangular area is displayed on the second screen in conjunction with the enlargement ratio and scroll of the image of the defective part displayed on the first screen. A second display means for
A visual inspection apparatus characterized by comprising:
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