JP4970852B2 - Visual inspection device - Google Patents
Visual inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4970852B2 JP4970852B2 JP2006156823A JP2006156823A JP4970852B2 JP 4970852 B2 JP4970852 B2 JP 4970852B2 JP 2006156823 A JP2006156823 A JP 2006156823A JP 2006156823 A JP2006156823 A JP 2006156823A JP 4970852 B2 JP4970852 B2 JP 4970852B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- display area
- defective
- camera
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title claims description 52
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 88
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 82
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
本発明は、プリント基板などの検査対象物を目視検査する目視検査装置に関し、より詳しくは、自動検査装置によって検査された検査対象物を効率よく目視で検査できるようにした目視検査装置に関するものである。 The present invention relates to a visual inspection apparatus that visually inspects an inspection object such as a printed circuit board, and more particularly to a visual inspection apparatus that enables an inspection object inspected by an automatic inspection apparatus to be efficiently visually inspected. is there.
一般に、プリント基板は、自動検査装置によってその形成状態が検査され、不良箇所の存在するおそれがあるものについては、目視による検査が行われる。 In general, a printed circuit board is inspected for its formation by an automatic inspection device, and a visual inspection is performed for those that may have a defective portion.
このような自動による検査と目視による検査を行うシステムとしては、例えば、下記の特許文献1に記載されるようなものが存在する。
As a system for performing such automatic inspection and visual inspection, for example, there is a system described in
特許文献1に示される外観検査システムについて詳細に説明すると、このシステムは自動検査装置と目視検査装置とを備えてなるもので、自動検査装置は、プリント基板に対して光を照射する発光部と、その反射光を受光する受光部と、その受光した画像から検査対象物の良否を判定する判定部とを備えている。この判定部は、パッドやパターン、シルク、レジストなどの形成状態と、あらかじめ記憶部に格納させておいた基準データとを比較することによって良否を判断する。そして、この判定部によって「不良」と判断されたプリント基板については、次に、目視による検査が行われる。目視検査装置は、自動検査装置のハードディスクなどに格納されている画像を読み出す読み出し部と、その不良と判断された箇所の画像をパーソナルコンピュータのディスプレイなどに表示させる表示部とを備えてなるもので、この表示部に表示された画像に基づいて目視判断を行えるようにしたものである。
The visual inspection system disclosed in
このような外観検査システムによれば、一次検査によって自動で検査を行うことができるために、検査の時間を短縮化して人件費を節約することができるとともに、目視による検査では機械によって判断できなかった細かな検査を行うことができるようになる。
しかしながら、このように目視で検査を行う場合においては、次のような問題を生ずる。すなわち、従来の目視検査装置では、ハードディスクなどに格納されている不良箇所の画像を読み出して表示するものであるため、撮影された画像が鮮明でない場合には、目視による検査を行ったとしても正確な検査を期待することができない。 However, when the visual inspection is performed as described above, the following problems occur. In other words, the conventional visual inspection apparatus reads out and displays an image of a defective portion stored in a hard disk or the like. Therefore, if the photographed image is not clear, it is accurate even if a visual inspection is performed. Can't expect a good inspection.
このため、近年では、不良と判定されたプリント基板を再びステージ上にセットして、別のカメラで不良箇所の画像を撮影できるようにしているが、このように、すべての不良箇所における画像を再び撮影し直すと、ステージ上にプリント基板をセットする時間や、不良箇所にカメラを移動させて撮影するために時間がかかり、短時間のうちに多くのプリント基板を目視検査できないという問題を生ずる。 For this reason, in recent years, a printed circuit board that has been determined to be defective is set on the stage again so that an image of the defective portion can be taken with another camera. If the image is taken again, it takes time to set the printed circuit board on the stage or to move the camera to a defective part and take an image, and there is a problem that many printed circuit boards cannot be visually inspected in a short time. .
そこで、本発明は上記課題に着目してなされたもので、目視による検査を行う場合においても、短時間で検査を行うことのでき、しかも、目視によって正確に検査することのできる目視検査装置を提供することを目的とするものである。 Therefore, the present invention has been made paying attention to the above problems, and even when visual inspection is performed, a visual inspection apparatus that can perform inspection in a short time and can be accurately inspected visually. It is intended to provide.
すなわち、本発明は上記課題を解決するために、第一カメラで取得された画像に基づいて検査対象物を自動で検査し、当該検査された検査対象物の不良箇所の画像と不良箇所の位置を記憶部に記憶させる自動検査装置と、当該自動検査装置で不良と判定された検査対象物をスタッカに集積し、ピックアップ機構を用いて検査対象物をピックアップし、検査対象物を搬送させて第二カメラで画像を取得し、当該取得された画像をディスプレイに表示させて目視検査させる目視検査装置を備えてなり、前記ディスプレイに、前記自動検査装置の第一カメラによって取得された画像を表示する第一の表示領域と、前記第二カメラによって取得された画像を表示する第二の表示領域と、基準となる検査対象物の画像を表示する第三の表示領域と、前記記憶された不良箇所の位置のリストを表示させる第四の表示領域と有するようにしておき、当該第四の表示領域の不良箇所の位置が選択された場合、当該不良箇所の画像を前記記憶部に記憶された画像を読み出して第一の表示領域に表示させるとともに、第三の表示領域に当該不良箇所と同じ領域の基準画像を表示させ、当該第一の表示領域の画像で良否に対する目視検査をすることができない場合、所定の入力を受け付けることによって、前記目視検査装置に集積された検査対象物をピックアップして搬送させて、不良箇所における位置の画像を前記第二カメラで撮影して前記第二の表示領域に表示させ、当該第二の表示領域に表示された画像に基づく目視検査の結果に基づいて前記記憶部に記憶された判断結果の情報を書き換え、前記第一の表示領域の画像で良否に対する目視検査をすることができる場合、所定の入力を受け付けることによって、前記スタッカから検査対象物をピックアップして前記第二カメラで撮影させることなく、前記第一の表示領域に表示された画像に基づく目視検査の結果に基づいて前記記憶部に記憶された判断結果の情報を書き換えるようにしたものである。 That is, in order to solve the above-described problem, the present invention automatically inspects an inspection object based on an image acquired by the first camera, and images of defective portions and positions of the defective portions of the inspected inspection object. Is stored in the storage unit, the inspection object determined to be defective by the automatic inspection apparatus is accumulated in the stacker, the inspection object is picked up by using the pickup mechanism, and the inspection object is transported. A visual inspection device is provided for acquiring an image with two cameras and displaying the acquired image on a display for visual inspection . The image acquired by the first camera of the automatic inspection device is displayed on the display. A first display area; a second display area for displaying an image acquired by the second camera; a third display area for displaying an image of a reference inspection object; A fourth display area for displaying a list of remembered positions of defective places is provided, and when a position of a defective place in the fourth display area is selected, an image of the defective place is stored in the storage unit. The image stored in is read out and displayed in the first display area, the reference image of the same area as the defective portion is displayed in the third display area, and the image of the first display area is visually inspected for pass / fail If it is not possible to pick up, the inspection object collected in the visual inspection device is picked up and conveyed by accepting a predetermined input, and an image of the position at the defective portion is taken by the second camera and Redisplaying the information of the determination result stored in the storage unit based on the result of the visual inspection based on the image displayed on the second display area and displayed on the second display area; When a visual inspection for pass / fail can be performed with the image of the display area, the first display can be performed without picking up the inspection object from the stacker and photographing with the second camera by receiving a predetermined input. The information of the determination result stored in the storage unit is rewritten based on the result of the visual inspection based on the image displayed in the area.
このようにすれば、自動検査装置で撮影された画像が鮮明である場合には、その画像によって目視判断を行うことができ、一方、自動検査装置で撮影された画像が不鮮明である場合は、別に設けられた第二カメラによって撮影し直して目視検査を行うことができるため、すべての不良プリント基板などを撮影し直す場合に比べて格段に再検査にかかる時間を短縮化することができるようになる。 In this way, when the image photographed by the automatic inspection apparatus is clear, it is possible to make a visual judgment based on the image, while when the image photographed by the automatic inspection apparatus is unclear, Since a second camera provided separately can be re-photographed and visually inspected, the time required for re-inspection can be significantly reduced compared to re-photographing all defective printed circuit boards. become.
本発明によれば、自動検査装置で撮影された画像が鮮明である場合には、その画像によって目視判断を行うことができ、一方、自動検査装置で撮影された画像が不鮮明である場合は、別に設けられた第二カメラによって撮影し直して目視検査を行うことができるため、すべての不良プリント基板などを撮影し直す場合に比べて格段に再検査にかかる時間を短縮化することができるようになる。 According to the present invention, when the image photographed by the automatic inspection apparatus is clear, it is possible to make a visual judgment based on the image, while when the image photographed by the automatic inspection apparatus is unclear, Since a second camera provided separately can be re-photographed and visually inspected, the time required for re-inspection can be significantly reduced compared to re-photographing all defective printed circuit boards. become.
以下、本発明の実施の形態における目視検査装置3について図面を参照して説明する。図1と図2は、本実施の形態における外観検査システム1の概略構成図とを示したものである。
Hereinafter, the
この外観検査システム1は、自動で検査対象物を検査するための自動検査装置2と、目視で検査対象物を検査するための目視検査装置3とを備えて構成される。図2は、外観検査システム1における自動検査装置2と目視検査装置3の機能構成図を示したものである。以下、外観検査システム1の詳細について説明する。
The
外観検査システム1を構成する自動検査装置2は、プリント基板4の表面に形成されたパッドや配線パターン、レジスト、シルクなどの形成状態を自動で検査できるようにしたもので、プリント基板4の表面に光を照射する発光部24と、その発光部24から照射された光によってプリント基板4の画像を取得するカメラ25と、そのカメラ25によって撮影されたプリント基板4の画像からパッドや配線パターンなどの形成状態を検査する判定部27とを備えている。
The
この自動検査装置2の概要について説明すると、まず、プリント基板4を検査する場合、検査対象となるプリント基板4をスタッカ21aに集積しておき、その最上部から一枚ずつプリント基板4をピックアップ機構22によってピックアップしてステージ23上に載置する。このステージ23にはプリント基板4が位置決めした状態で載せられる。この位置決めの方法としては、例えば、図3に示すように、ステージ23のコーナー部分に互いに直交する2枚の側壁230を設けておき、ステージ23の下方から爪231を立設させた状態でプリント基板4を押し当てることによってコーナー部分にプリント基板4を位置決めする。そして、このようにプリント基板4を載置したステージ23を水平方向に移動させ、その途中で発光部24やカメラ25の下方を通過させ、このときプリント基板4の画像を撮影する。その撮影された画像は、画像処理部によってパッドや配線パターン、レジスト、シルクなどの輝度領域に分離され、これらの画像毎にパッドや配線パターン、レジスト、シルクなど形成の良否が判定される。そして、パッドや配線パターンなどに不良箇所が存在していると判断された場合には、その不良箇所の画像と不良箇所の存在する位置を記憶部26に格納していく。すべての領域の検査が終わった段階でその不良箇所の存在していると判断されたプリント基板4については不良品用集積部21bに集積していき、一方、不良箇所が全く存在しないと判断されたプリント基板4については、良品用集積部(図示せず)に集積していく。
The outline of the
この判定部27は、例えば、一定の輝度領域毎に分離された微小ブロック毎に、輝度−画素数からなるヒストグラムを生成し、その微小ブロック内において、あらかじめ記憶部26に格納させておいた一定輝度幅の画素数とどれ位一致するか判断する。そして、この判定により、不良であると判定された場合には、そのプリント基板4に対して識別番号を割り当て、不良箇所の位置とその不良箇所を含む画像とを記憶部26に格納させていく。図4に、その記憶部26に格納された不良箇所のデータの概要を示す。図4において、「識別番号」は、不良箇所が存在すると判断されたプリント基板4のシリアル番号であり、不良品用集積部21bに下から順に集積されているプリント基板4の番号と一致するものである。また、不良箇所の「座標位置」は、例えば、ステージ23上に載置されたプリント基板4のコーナー部分を原点とした場合における(X,Y)座標の位置を示している。また、「距離d」は、不良箇所が隣接して複数存在している場合において、その中心位置から最も外側までの画素数を示すものであり、後に目視検査でマーキングMを施す際に用いられるものである。また、「不良箇所の画像」は、自動検査装置2のカメラ25で撮影された画像である。この画像は、カメラ25で撮影されたそのままの画像であってもよく、あるいは、画像処理によって所定の輝度幅毎に分離された画像であってもよい。また、これらのいずれか一方の画像だけでなく、撮影されたままの画像と所定輝度幅毎の画像の両方を記憶部26に記憶させておき、後で目視検査する際に、それぞれの画像を切り替えて不良箇所の良否を判断させるようにしてもよい。このように両方の画像を格納しておけば、画像処理された後の画像からは目視判断できないような場合であっても、撮影された状態の画像から目視判断を行うことができ、一方、画像処理された後の画像を表示させた場合には、目視判断の際に不要な輝度の画素を消去して検査することができるようになる。
For example, the
次に、目視検査装置3の構成について説明する。この目視検査装置3は、自動検査装置2によって検査されたプリント基板4を目視検査できるようにしたもので、自動検査装置2の記憶部26に記憶された情報を読み取るためのインターフェース部30と、プリント基板4の表面画像を撮影する第二カメラ32と、この第二カメラ32で撮影された画像を表示させるディスプレイ34と、ディスプレイ34に表示された画像に基づいて目視判断の結果などの入力を受け付ける入力部35とを備えている。
Next, the configuration of the
このうちインターフェース部30は、オンラインやオフラインなどによって自動検査装置2の記憶部26に記憶された情報を読み取るもので、オンラインの場合は、例えば、隣接して設けられた装置間の専用通信ケーブルやインターネットなどのネットワークを介して情報を読み取る。インターネットなどのネットワークを介して情報を読み取る場合には、無人による自動検査と有人による自動検査とを地理的に離れた位置に設けておき、それぞれの処理を行うことができる。一方、オフラインの場合には、例えば、不良箇所を示すデータをCDなどの記憶媒体に格納しておき、これを読み取るようにする。
Of these, the
この目視検査装置3には、自動検査装置2で不良と判定されたプリント基板4を載置するためのステージ31と、このステージ31や第二カメラ32を移動させる移動機構とを備えている。なお、この目視検査装置3には、自動検査装置2と同様にスタッカを設けるようにしてもよく、あるいは、手動によってステージ31上にプリント基板4を載置させるようにしてもよい。スタッカを設けた場合には、自動検査装置2の不良品用集積部21bに集積された逆の順序でプリント基板4を集積していく必要があり、また、手動で載置する場合には、作業者が一枚ずつプリント基板4を載置していく必要がある。一方、スタッカを設けた場合は、いちいち手動でプリント基板4を載置する必要がなく、また、手動でプリント基板4を載置する場合は、新たに第二カメラ32で撮影する必要のないプリント基板4までピックアップや搬送する必要がなくなるというメリットがある。スタッカを設けるか否かについては、検査が行われる環境に基づいて適宜判断される。なお、プリント基板4をステージ31上に載置する場合には、自動検査装置2の場合と同様に、爪231や側壁230などを用いてコーナー部分にプリント基板4を位置決めする。
The
このようにステージ31に載置されたプリント基板4は、第二カメラ32の下方まで移動され、そこで表面の画像が撮影される。このとき、第二カメラ32はステージ31と直交する方向に移動し、これによって不良箇所まで第二カメラ32を移動させて不良箇所の画像を撮影する。この第二カメラ32については、自動検査装置2よりも解像度の高いものが用いられ、しかも、ズームアップにより不良箇所の画像を拡大できる機能を有するものが用いられる。
The printed
ディスプレイ34は、自動検査装置2で撮影された画像や、第二カメラ32で撮影された画像を表示する。具体的には、このディスプレイ34には、図5に示すように、同一画面上に、自動検査装置2によって取得された画像を表示する第一の表示領域341と、目視検査装置3の第二カメラ32によって撮影された画像を表示する第二の表示領域342と、基準となるプリント基板4の同じ位置における画像を表示する第三の表示領域343とを有するように表示する。さらに、このディスプレイ34には、自動検査装置2によって不良と判断された不良箇所のリストを表示する第四の表示領域344が設けられる。この第四の表示領域344には、自動検査装置2で不良と判断されたプリント基板4の識別番号と、その識別番号に対応する不良箇所のリストが上下方向に並べて表示され、リストをマウスやキーなどによって選択を受け付けることによって、その不良箇所における画像を第一の表示領域341に表示させる。
The
これらの表示を行う場合において、第一の表示領域341に画像を表示する際には、リストで選択された不良箇所に丸いマーキングMを施し、これによって不良箇所を容易に特定できるようにする。このマーキングMを施す場合、例えば、所定画素数よりも小さな不良領域については既定の半径を有する大きさのマーキングMを施し、一方、所定画素数よりも大きな不良領域については、記憶部に記憶されている距離dの半径を有するマーキングMを施す。また、このマーキングMは、所定のキーが押下されることによって点滅あるいは消滅できるように設定されており、これによりマーキングMによって隠された部分の画像を目視できるようにしている。なお、このマーキングMについては、円形のマークだけでなく、例えば、不良と判断された箇所の輝度や色を変えるようにすることもできる。
When these displays are performed, when an image is displayed in the
ところで、この第一の表示領域341に不良箇所の画像を表示させた状態で、作業者が所定のキーを押下した場合、第二カメラ32によって撮影された不良箇所の画像を第二の表示領域342に表示させるようにしている。このとき、目視検査装置3は、選択された不良箇所の座標位置を読み取り、その読み取られた座標位置にステージ31を移動させるか、あるいは、第二カメラ32を移動させることによって不良箇所の画像を撮影する。この実施の形態では、第二カメラ32によって撮影された画像をそのまま第二の表示領域342に表示させるようにしているが、このとき、第一の表示画面で表示された同じ位置にマーキングMを施すようにしてもよい。この場合も同様に、そのマーキングMを点滅あるいは消去可能にしておき、マーキングMが目視検査に邪魔にならないようにしておくとよい。
By the way, when the operator presses a predetermined key in a state where the image of the defective portion is displayed in the
一方、第三の表示領域343には、基準となるプリント基板4における同じ座標の画像が表示される。これは、第一の表示領域341に表示されている画像が正規の状態とどの程度異なっているかを判断させるようにするためである。
On the other hand, in the
第二の表示部に画像を表示させる場合、ステージ31上への位置決め状態によって画像がずれている可能性がある。このため、例えば、第一の表示部に表示された画像との相関をとることなどによって画像の位置合わせを行い、第二の表示部に表示された画像をシフトさせて表示させるようにしてもよい。
When an image is displayed on the second display unit, the image may be shifted depending on the positioning state on the
入力部35は、前述の第二カメラ32での撮影を指示するとともに、第二の表示領域342に表示された画像に基づく目視検査の結果を受け付ける。この目視検査の結果については、あらかじめキーボードのファンクションキーに判断結果を割り当てておき、例えば、F1キーが押下された場合には「正常」であるとし、F2キーが押下された場合は「不良」であると設定する。そして、F1キーが押下された場合は、目視検査装置3に記憶された不良箇所などの情報を消去する。
The
次に、このように構成された外観検査システム1における自動検査と目視検査の動作状態について、図6のフローチャートを用いて説明する。
Next, operation states of the automatic inspection and the visual inspection in the
まず、自動検査装置2は、スタッカ21からプリント基板4をピックアップしてステージ23に載置し、そのステージ23を移動させることによってプリント基板4の画像を撮影する(ステップS1)。そして、この撮影された画像を、所定の輝度の閾値を用いてパッドや配線パターン、レジスト、シルクなどに分離し、各検査対象毎に微小ブロックに区切って輝度のヒストグラムを生成する。そして、記憶部26に格納させておいた所定輝度幅内の画素数と比較することによって該微小ブロックにおける形成状態を判定する(ステップS2)。このとき、例えば、微小ブロックに区切られたヒストグラムの所定輝度範囲内の画素数が少ない場合は「パッドに欠けを生じている」と判断し、また、所定輝度範囲内の画素数が多い場合は「パッドに膨らみを生じている」と判断する。そして、この判定によって不良箇所が存在していると判断された場合は、そのプリント基板4に対してシリアル番号を付与していくとともに、そのシリアル番号に対して不良箇所の座標位置と不良箇所の画像を記憶させる。また、不良箇所が隣接して複数存在する場合には、その中心位置と最も外側における不良箇所の座標位置までの距離dも記憶させる(ステップS3)。以下、他の領域や他のプリント基板4に対しても同様の検査を行い、不良箇所の存在するおそれのあるプリント基板4については、順次不良品用集積部21bに集積していく(ステップS4)。
First, the
次に、不良と判断されたプリント基板4について目視判断する場合、目視検査装置3は、オンラインやオフラインによって自動検査装置2の記憶部26に格納された不良箇所に関するデータを読み取り(ステップT1)、自己の記憶部33に格納させる(ステップT2)。そして、この記憶部33に格納された情報から最初のシリアル番号に対応する不良箇所に関する情報を読み出し(ステップT3)、不良箇所のリストを第四の表示領域344にリスト表示させる(ステップT4)。そして、作業者がこのリストのうち、いずれか一つを選択すると(ステップT5)、この選択された不良箇所の画像を第一の表示領域341に表示させるとともに、第三の表示領域343にも基準となる同じ領域の画像を表示させ(ステップT6)、作業者による目視判断の入力を受け付けられるようにする。ここで、作業者が第一の表示領域341に表示された画像に基づいて目視判断することができる場合は、F1(正常)やF2(不良)の入力を受け付け(ステップT10)、これによって記憶部33に格納された不良箇所における判断結果の情報を消去する(ステップT11)。一方、作業者が第一の表示領域341に表示された画像に基づいて目視判断することができない場合は、HOMEキーの入力を受け付け(ステップT7)、不良箇所における座標位置を読み出してステージ31や第二カメラ32を移動させる(ステップT8)。そして、第二カメラ32によって不良箇所における画像を撮影し、これを第二の表示領域342に表示させる(ステップT9)。そして、同様に、この第二の表示領域342に表示された画像に基づいて、F1(目視判断OK)やF2(目視判断NG)の入力を受け付け(ステップT10)、これによって記憶部に格納された不良箇所における判断結果の情報を書き換える(ステップT11)。
Next, when visually determining the printed
このように上記実施の形態によれば、自動検査装置2で撮影された画像が鮮明であるような場合には、その画像に基づいて目視判断することができ、一方、自動検査装置2で撮影された画像が不鮮明であるような場合には、第二カメラ32で画像を撮影して目視検査できるようにしたため、すべての不良箇所の画像を撮影し直す場合に比べて著しく再検査に要する時間を短縮することができるようになる。
As described above, according to the above-described embodiment, when the image taken by the
なお、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、種々の態様で実施することができる。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment, It can implement in a various aspect.
例えば、上記実施の形態において、目視検査装置3としてステージ31や第二カメラ32、ディスプレイ34、入力部35を有する装置を例に挙げて説明したが、これらの機能を分解し、例えば、ステージ31や第二カメラ32を自動検査装置2に隣接して設置するとともに、ディスプレイ34と入力部35とを遠隔地に設けるようにしてもよい。このような場合、自動検査装置2で不良と判断されたプリント基板4をその場所に居合わせた作業者に目視検査装置3まで運搬させ、そこでステージ31上に載置させる。そして、遠隔地の目視検査者によって、ステージ31や第二カメラ32を移動させ、不良箇所の画像を撮影して目視検査を行えるようにする。このようにすれば、例えば、自動検査装置2側に存在する作業者に単純な作業を行わせるとともに、遠隔地にいる目視検査の熟練者に目視検査を行ってもらうことができるようになる。なお、この場合において、目視検査装置3は、遠隔地と結ばれたシステムとして機能する。
For example, in the above embodiment, the
また、上記実施の形態では、検査対象物の例としてプリント基板4を挙げて説明したが、これに限らず、液晶基板、実装基板、印刷物など、他の検査対象物にも適用することができる。
In the above embodiment, the printed
1・・・外観検査システム
2・・・自動検査装置
3・・・目視検査装置
4・・・プリント基板
21・・・スタッカ
22・・・ピックアップ機構
23・・・ステージ
230・・・側壁
24・・・発光部
25・・・カメラ
26・・・記憶部
27・・・判定部
30・・・インターフェース部
31・・・ステージ
32・・・第二カメラ
33・・・記憶部
34・・・ディスプレイ
35・・・入力部
341・・・第一の表示領域
342・・・第二の表示領域
343・・・第三の表示領域
344・・・第四の表示領域
345・・・リスト表示領域
DESCRIPTION OF
Claims (1)
当該自動検査装置で不良と判定された検査対象物をスタッカに集積し、ピックアップ機構を用いて検査対象物をピックアップし、検査対象物を搬送させて第二カメラで画像を取得し、当該取得された画像をディスプレイに表示させて目視検査させる目視検査装置を備えてなり、The inspection object determined to be defective by the automatic inspection apparatus is accumulated in the stacker, the inspection object is picked up using a pickup mechanism, the inspection object is conveyed, and an image is acquired by the second camera. Provided with a visual inspection device that visually inspects the displayed image on a display,
前記ディスプレイに、On the display,
前記自動検査装置の第一カメラによって取得された画像を表示する第一の表示領域と、A first display area for displaying an image acquired by the first camera of the automatic inspection device;
前記第二カメラによって取得された画像を表示する第二の表示領域と、A second display area for displaying an image acquired by the second camera;
基準となる検査対象物の画像を表示する第三の表示領域と、A third display area for displaying an image of a reference inspection object;
前記記憶された不良箇所の位置のリストを表示させる第四の表示領域と、A fourth display area for displaying a list of positions of the stored defective locations;
有するようにしておき、To have,
当該第四の表示領域の不良箇所の位置が選択された場合、当該不良箇所の画像を前記記憶部に記憶された画像を読み出して第一の表示領域に表示させるとともに、第三の表示領域に当該不良箇所と同じ領域の基準画像を表示させ、When the position of the defective part of the fourth display area is selected, the image of the defective part is read out and displayed in the first display area and displayed in the third display area. Display a reference image of the same area as the defective part,
当該第一の表示領域の画像で良否に対する目視検査をすることができない場合、所定の入力を受け付けることによって、前記目視検査装置に集積された検査対象物をピックアップして搬送させて、不良箇所における位置の画像を前記第二カメラで撮影して前記第二の表示領域に表示させ、当該第二の表示領域に表示された画像に基づく目視検査の結果に基づいて前記記憶部に記憶された判断結果の情報を書き換え、When visual inspection for pass / fail cannot be performed with the image of the first display area, by accepting a predetermined input, the inspection object accumulated in the visual inspection apparatus is picked up and transported, and in the defective portion An image of a position is taken by the second camera and displayed in the second display area, and a determination stored in the storage unit based on a result of visual inspection based on the image displayed in the second display area Rewrite the resulting information,
前記第一の表示領域の画像で良否に対する目視検査をすることができる場合、所定の入力を受け付けることによって、前記スタッカから検査対象物をピックアップして前記第二カメラで撮影させることなく、前記第一の表示領域に表示された画像に基づく目視検査の結果に基づいて前記記憶部に記憶された判断結果の情報を書き換えるようにした、When visual inspection for pass / fail can be performed on the image of the first display area, by accepting a predetermined input, the inspection object is picked up from the stacker and is not photographed by the second camera. The information of the determination result stored in the storage unit is rewritten based on the result of the visual inspection based on the image displayed in the one display area.
ことを特徴とする外観検査システム。An appearance inspection system characterized by that.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006156823A JP4970852B2 (en) | 2006-06-06 | 2006-06-06 | Visual inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006156823A JP4970852B2 (en) | 2006-06-06 | 2006-06-06 | Visual inspection device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007327757A JP2007327757A (en) | 2007-12-20 |
| JP4970852B2 true JP4970852B2 (en) | 2012-07-11 |
Family
ID=38928330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006156823A Expired - Fee Related JP4970852B2 (en) | 2006-06-06 | 2006-06-06 | Visual inspection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4970852B2 (en) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009180579A (en) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nippon Avionics Co Ltd | Offline verification device |
| JP5356202B2 (en) * | 2009-12-09 | 2013-12-04 | 新明和工業株式会社 | Coated wire inspection device and wire processing machine equipped with the same |
| JP6287079B2 (en) * | 2013-11-05 | 2018-03-07 | 富士ゼロックス株式会社 | Inspection support device, inspection support system and program |
| JP6347962B2 (en) * | 2014-02-10 | 2018-06-27 | Wit株式会社 | Appearance inspection apparatus, appearance inspection method, and program |
| WO2015194048A1 (en) * | 2014-06-20 | 2015-12-23 | 上野精機株式会社 | Electronic-component inspection device |
| JP6571116B2 (en) * | 2015-01-20 | 2019-09-04 | 株式会社Fuji | Inspection support device |
| JP6367736B2 (en) * | 2015-02-23 | 2018-08-01 | シャープ株式会社 | Inspection support device |
| JP7280068B2 (en) * | 2019-03-12 | 2023-05-23 | 株式会社Screenホールディングス | Inspection device and inspection method |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62173731A (en) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Toshiba Corp | Inspection device for surface of article to be inspected |
| JPH0357241A (en) * | 1989-07-26 | 1991-03-12 | Hitachi Ltd | Automatic visual inspection equipment |
| JPH0375561A (en) * | 1989-08-17 | 1991-03-29 | Olympus Optical Co Ltd | Method for judging particle aggregation pattern |
| JPH07307599A (en) * | 1994-05-10 | 1995-11-21 | Shigeki Kobayashi | Inspection device and product manufacture |
| JPH0864999A (en) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Shigeki Kobayashi | Inspecting apparatus, measuring method for three-dimensional shape, and manufacture of product |
| JP3806461B2 (en) * | 1996-03-29 | 2006-08-09 | ジェネシス・テクノロジー株式会社 | Appearance inspection equipment |
| JPH10246704A (en) * | 1997-03-04 | 1998-09-14 | Nippon Steel Corp | Semiconductor wafer inspection method and semiconductor wafer inspection device |
| JP2001289733A (en) * | 2000-04-10 | 2001-10-19 | Toshiba Corp | Defect inspection system |
| JP2002005852A (en) * | 2000-06-22 | 2002-01-09 | Shigeki Kobayashi | Semi-automatic solder inspecting apparatus |
| JP2003194733A (en) * | 2001-12-26 | 2003-07-09 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | Visual inspection system |
| JP4746841B2 (en) * | 2004-01-23 | 2011-08-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device |
-
2006
- 2006-06-06 JP JP2006156823A patent/JP4970852B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2007327757A (en) | 2007-12-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4970901B2 (en) | Computer program for operating visual inspection device and review machine for visual inspection device | |
| US20130182942A1 (en) | Method for registering inspection standard for soldering inspection and board inspection apparatus thereby | |
| KR20100124653A (en) | Apparatus and method for visual inspection | |
| KR100697902B1 (en) | Inspection device for printed wiring board for electronic component mounting and pattern defect checking method | |
| JP4970852B2 (en) | Visual inspection device | |
| JP2018004272A (en) | Pattern inspection device and pattern inspection method | |
| JP4414533B2 (en) | Defect inspection equipment | |
| JP4392392B2 (en) | Visual inspection device | |
| JP2006049347A (en) | Component edge detection method, component edge detection program, and inspection apparatus | |
| JP3895334B2 (en) | Printed circuit board inspection equipment | |
| JP2003086919A (en) | Pattern inspection equipment | |
| WO2013124958A1 (en) | Visual inspection device equipped with eye position identification means | |
| JP4423130B2 (en) | Printed circuit board visual inspection method, printed circuit board visual inspection program, and printed circuit board visual inspection apparatus | |
| JP2018091771A (en) | Method for inspection, preliminary image selection device, and inspection system | |
| KR100673392B1 (en) | System and processing method for overdetection prevention in film, tape type printed circuit board inspection | |
| KR101228321B1 (en) | Method for inspecting semiconductor substrate optically and apparatus thereof | |
| JP4963284B2 (en) | Standard data creation method | |
| KR101664413B1 (en) | Method for detecting mount error of SMT machine | |
| JP2003139720A (en) | Verifying device | |
| JP2018173732A (en) | Inspection device, inspection method, inspection program, and recording medium | |
| JP4613662B2 (en) | Edge defect detection method, edge defect detection apparatus, edge defect detection program, recording medium | |
| JP2003004659A (en) | Inspection method and inspection device for multiple chamfered workpieces | |
| JP5755681B2 (en) | Bar code using direct image exposure apparatus, defective unit mark forming system and method thereof | |
| JP2020030057A (en) | Inspection device of electronic component and inspection method of electronic component | |
| JP2576147B2 (en) | Shortage inspection device for mounted parts |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090603 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110519 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110829 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120405 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4970852 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |