JP4467133B2 - 圧縮可能なフィルムを有するキャリアヘッド - Google Patents
圧縮可能なフィルムを有するキャリアヘッド Download PDFInfo
- Publication number
- JP4467133B2 JP4467133B2 JP2000122873A JP2000122873A JP4467133B2 JP 4467133 B2 JP4467133 B2 JP 4467133B2 JP 2000122873 A JP2000122873 A JP 2000122873A JP 2000122873 A JP2000122873 A JP 2000122873A JP 4467133 B2 JP4467133 B2 JP 4467133B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- carrier head
- substrate
- compressible
- rigid structure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/30—Work carriers for single side lapping of plane surfaces
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P50/00—Etching of wafers, substrates or parts of devices
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/30—Work carriers for single side lapping of plane surfaces
- B24B37/32—Retaining rings
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/16—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation taking regard of the load
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
【発明の背景】
本発明は、一般に、基板の化学的機械研磨に関し、より詳細には、化学的機械研磨のためのキャリアヘッドに関する。
【0002】
集積回路は、通常は、基板、特にシリコンウェーハ上に、導電性、半導体性、又は絶縁性の層の順次堆積により形成される。各層が堆積された後に、それはエッチングされ、回路フィーチャを生成する。一連の層が、順次堆積され、エッチングされるに従い、基板の外側又は最上面、即ち、基板の露出面は、次第に平面ではなくなる。この非平面は、集積回路製造プロセスのフォトリソグラフィックステップで問題を生じる。従って、基板面を定期的に平面化するニーズがある。
【0003】
化学的機械研磨(CMP)は、容認されている平面化方法の一つである。この平面化方法は、通常は、基板がキャリア又は研磨ヘッドへ搭載される必要がある。基板の露出面は、回転する研磨パッドに対して配置される。研磨パッドは、「標準」又は固定研磨剤のパッドであってよい。標準の研磨パッドは、耐久性のある粗面を有するのに対して、固定研磨剤のパッドは、包含媒体に保持される研磨剤粒子を有する。キャリアヘッド (carrier head) は、基板を研磨パッドに対して押付ける、制御可能な負荷、即ち圧力を提供する。幾つかのキャリアヘッドは、基板用の搭載面を提供する可撓な膜、及び基板を搭載面の下に保持する保持リングを含む。可撓膜の背後のチャンバの加圧、又は排気 (evacuation) が基板の負荷を制御する。標準のパッドが使用される場合、少なくとも一つの化学反応性の薬品(agent) と研磨剤粒子とを含む研磨スラリが、研磨パッドの表面へ供給される。
【0004】
CMPプロセスの有効性は、その研磨レートにより、及び基板面の結果の面仕上げ (finish)(小規模 (small scale) の粗さの欠如)及び平坦度(大規模のトポグラフィ (large scale topography) の欠如)によって測定できる。研磨レート、面仕上げ、及び平坦度は、パッドとスラリの組合せ、基板とパッド間の相対速度、及びパッドに対して基板を押付ける力により決定される。
【0005】
CMPで再々起こる問題は、不均一研磨、即ち、基板のある部分が、基板の他の部分と異なるレートで研磨される傾向である。この不均一研磨は、たとえ圧力が基板へ均等に加えられても起こり得る。
【0006】
【発明の概要】
一局面では、本発明は、ベースと、ベースの下に延在して第1の加圧可能なチャンバを形成する第1の可撓膜と、第1のチャンバに配置される支持構造体と、支持構造体の底面に隣接する圧縮可能なフィルムと、を有するキャリアヘッドに向けられる。第1の可撓膜の下面は、基板のための搭載面を提供する。圧縮可能なフィルムは、第1の可撓膜の上面へ圧力分布を確立するパターンに配列される複数の開口を有する。
【0007】
本発明の実施例は、以下の特徴を含むことができる。複数の開口パターンは、研磨の均一性を改善する不均一な圧力分布を提供するように選定できる。開口は、一般的に対称のパターンで配設でき、直径で約1/2インチ未満にできる。第2の可撓膜により形成される第2の加圧可能なチャンバは、支持構造体へ下向きの圧力を加えることができる。
【0008】
別の局面は、本発明は、ベースと、ベースの下に延在し、基板用の搭載面を備える可撓膜と、ベースと可撓膜との間の支持構造体と、支持構造体と可撓膜との間の圧縮可能なフィルムと、を有するキャリアヘッドに向けられる。圧縮可能なフィルムは、基板の面にわたって圧力分布を確立する複数の開口を含む。
【0009】
別の局面では、本発明は、ハウジングと、ハウジングへ移動可能に接続される剛構造体と、剛構造体の底面上に配置される圧縮可能なフィルムとを有するキャリアヘッドに向けられる。圧縮可能なフィルムは、研磨中に基板面にわたって圧力分布を生成するパターンに配列される複数の開口を有する。
【0010】
別の局面では、本発明は、ハウジングと、ハウジングへ移動可能に接続される剛構造体、剛構造体の底面に形成される複数の凹み (indentations)と、剛構造体の底面上に配置された圧縮可能なフィルムとを有するキャリアヘッドに向けられる。剛構造体での凹みは、研磨中に基板面にわたって圧力分布を生成するパターンに配列されている。
【0011】
別の局面では、本発明は、ハウジングと、ハウジングへ移動可能に接続される剛構造体と、剛構造体の底面上に配置される圧縮可能なフィルムとを有するキャリアヘッドに向けられる。圧縮可能なフィルムは、異なる圧縮性の複数の領域を含む。異なる圧縮性の領域は、研磨中に基板面にわたって圧力分布を生成するパターンに配列されている。
【0012】
先の三つの実施の形態の実施例は、以下を含むことができる。キャリアヘッドは、基板受取面を有する可撓膜を有することができる。フィルムは、剛構造体と可撓膜との間に配置できる。
【0013】
別の局面では、本発明は、キャリアヘッドで剛構造体の面へ取外し可能に固定されている圧縮可能なフィルムに向けられる。圧縮可能なフィルムは、研磨の均一性を改善するように、研磨中に基板上へ不均一な圧力分布を生成するよう配置される複数の開口を有する。
【0014】
別の局面では、本発明は、ハウジングとハウジングへ移動可能に接続される剛構造体を有するキャリアヘッドと、剛構造体の底面へ取外し可能に固定される圧縮可能なフィルムとを有するキットに向けられる。各圧縮可能なフィルムは、研磨中に基板上へ不均一な圧力分布を生成する複数の開口を有する。少なくとも2枚の圧縮可能なフィルムが、基板上に異なる圧力分布を生成する異なるパターンで配列される開口を有する。
【0015】
別の局面では、本発明は、ハウジングと、ハウジングへ移動可能に接続された剛構造体と、研磨中に基板へ圧力を転送するための剛構造体の面へ固定される圧縮可能なフィルムと、圧縮可能なフィルムから基板上に不均一な圧力分布を生成するための手段とを有するキャリアヘッドに向けられる。
【0016】
本発明の利点は、以下を含むことができる。不均一な圧力が基板の背面へ付加でき、研磨レートの不均一性を補正する。基板の不均一な研磨は、それにより低減され、結果として得られる基板の平坦度と仕上げが改善される。キャリアヘッドは、基板上に異なる圧力分布を提供するよう容易に変更できる。
【0017】
本発明の他の有利点及び特長は、図面及び特許請求の範囲を含む以下の詳細な説明から明らかとなるであろう。
【0018】
同じ部品を示すために、種々の図面で同じ参照番号を指定した。プライム記号付き(’)の参照番号、又は、文字の接尾語を有する参照番号は、要素が、変更された機能、動作、又は構造を有することを示す。
【0019】
【実施形態の詳細な説明】
図1を参照すると、1枚以上の基板10が、化学的機械研磨(CMP)装置20により研磨される。類似のCMP装置の説明は、米国特許第5,738,574号で見出すことができ、その開示の全体を本明細書に援用する。
【0020】
CMP装置20は、一連の研磨ステーション25及び基板をロードとアンロードするための転送ステーション27を含む。各研磨ステーション25は、研磨パッド32が設置される回転可能なプラテン30を含む。各研磨ステーション25は、更に、研磨パッドの研磨剤の状態を維持する付属のパッド調整装置40を含むことができる。
【0021】
反応性の薬品(例えば、酸化物研磨用の脱イオン水)及び化学反応性の触媒(例えば、酸化物研磨用の水酸化カリウム)を含有するスラリ50が、兼用のスラリ/リンスアーム52により研磨パッド32の面へ供給できる。研磨パッド32が標準のパッドの場合、スラリ50は、研磨剤粒子(例えば、酸化物研磨用の二酸化ケイ素)も含むことができる。通常は、スラリは、研磨パッド32の全体を覆い、湿らせるよう充分に供給される。スラリ/リンスアーム52は、各研磨及び調整サイクルの終わりに研磨パッド32の高圧すすぎ洗いを提供する幾つかの噴霧ノズル(図示せず)を含む。
【0022】
回転可能なマルチヘッドカルーセル (multi-head carousel) 60は、中央の柱62により支持され、カルーセルモータ組立体(図示せず)によりカルーセル軸64のまわりにその上で回転される。マルチヘッドカルーセル60は、カルーセル支持盤66上に搭載された四つのキャリアヘッドシステム70を含む。カルーセルモータは、キャリアヘッドシステム70とそこに取付けられた基板とを、研磨ステーションと転送ステーションとの間のカルーセル軸64のまわりに旋回できる。
【0023】
各キャリアヘッドシステム70は、研磨又はキャリアヘッド100を含む。各キャリアヘッド100は、独立してそれ自体の軸のまわりで回転し、カルーセルの支持盤66に形成された半径方向のスロット72で独立して横方向へ振動する。キャリア駆動シャフト74は、スロット72を通り延在し、(カルーセルカバー68の4分の1の除去により示す)キャリアヘッド回転モータ76をキャリアヘッド100へ接続する。各モータと駆動シャフトは、スライダ(図示せず)上に支持でき、それは、半径方向駆動モータによりスロットに沿って直線的に駆動でき、キャリアヘッドを横方向に振動させる。
【0024】
研磨中、キャリアヘッドの三つは、三つの研磨ステーションにおいて、及び、その上で配置される。各キャリアヘッド100は、基板を研磨パッド32と接触させるよう降下させる。一般に、キャリアヘッド100は、基板を研磨パッドに対向する位置に保持し、基板の背面にわたり力を配分する。キャリアヘッドは、トルクも駆動シャフトから基板へ転送する。
【0025】
図2を参照すると、キャリアヘッド100は、ハウジング102と、ベース104と、ジンバル機構106と、ローディングチャンバ108と、保持リング110と、基板裏打 (backing) 組立体112とを含む。類似のキャリアヘッドの説明は、Zuniga他による1996年11月8日出願の米国特許出願第08/745,670号、発明の名称「化学的機械研磨システム用の可撓膜を有するキャリアヘッド」で、本発明の譲受人へ譲渡された出願で見出され、その開示の全体を本明細書に組み込んで、これを引用する。キャリアヘッドの右半分のみを、図2に図示する。キャリアヘッドの左半分は、一般的に右半分と対称であるが、以下に検討する基板検知バルブを含まない。
【0026】
ハウジング102は、駆動シャフト74へ接続でき、研磨中に研磨パッドの表面へ実質的に垂直である回転軸107のまわりに研磨中にそれと共に回転する。ハウジング102は、一般的に研磨される基板の円形外形に相応する円形形状であり得る。垂直の穴 (bore) 130がハウジングを通して形成でき、二つの経路(一つの経路132のみを図示する)が、キャリアヘッドの圧搾空気制御のためにハウジングを通して延在できる。O−リング138は、ハウジングを通る経路と駆動シャフトを通る経路との間の防流体 (fluid-tight) シールを形成するのに使用できる。
【0027】
ベース104は、一般に、ハウジング102の下に位置する剛性のリング形状又は円盤形状体である。弾性のある、可撓膜140が、クランプリング142によりベース104の下面へ取付でき、ブラダ (bladder) 144を画成する。クランプリング142は、例えば、図示していないのねじ又はボルトによりベース104へ固定できる。経路156が、クランプリングとベースを通って延在でき、二つの取付具 (fixture) 148が、ハウジング102とベース104との間に可撓性チューブを接続する取付点を提供でき、経路132をブラダ144へ流体で結合する。加えて、バルブ158が、経路156をベース104の下のチャンバ120へ接続できる。バルブ158は、Boris Govzman他による1997年5月23日出願の米国特許出願第08/862,350号、発明の名称「化学的機械研磨システム用の基板検出システムを有するキャリアヘッド」で、本発明の譲受人へ譲渡された出願に説明されているように、基板の存在を検知するのに使用でき、その開示の全体を本明細書に組み込んで、これを引用する。第1のポンプ(図示せず)が、ブラダ144へ接続でき、流体、例えば、空気等ガスをブラダへ出し入れする。
【0028】
ジンバル機構106は、ベース104の一部と考えられるが、ハウジング102に対してベースを枢動することを可能にし、それによって、ベースは、研磨パッドの表面に実質的に平行に保たれる。ジンバル機構106は、垂直の穴130内へ嵌合するジンバルロッド150、及び、ベース104へ固定されるたわみリング (flexure ring) 152を含む。ジンバルロッド150は、穴130に沿って垂直に摺動でき、ベース104の垂直の移動を提供するが、ハウジング102に対するベース104の横方向のどんな移動も防止する。ジンバルロッド150は、ジンバルロッドの長さ方向に延在し、チャンバ120との流体連通を提供する経路154を含むことができる。
【0029】
一般的にリング形状の回転ダイアフラム160の内側端は、内側クランプリング162によりハウジング102へクランプでき、外側クランプリング164が、回転ダイアフラム160の外側端をベース104へクランプできる。このように、回転ダイアフラム160は、ハウジング102とベース104との間のスペースを密封して、ローディングチャンバ108を画成する。第2のポンプ(図示せず)がハウジングで図示されていない経路によりローディングチャンバ108へ流体で接続でき、ローディングチャンバでの圧力及びベース104へ付加される負荷を制御する。研磨パッド32に対するベース104の垂直位置もローディングチャンバ108により制御される。
【0030】
保持リング110は、例えば、ボルト128によりベース104の外側端で固定される一般的に環状のリングであることができる。流体がローディングチャンバ108内へ圧送され、ベース104が下方へ押付けられる場合、保持リング110も下方へ押付けられ、研磨パッド32に負荷を加える。保持リング110の底面124は、実質的に平面であってもよく、又は、保持リングの外側から基板へのスラリの移送を容易にする複数のチャンネルを有してもよい。保持リング110の内側面126は、基板と係合し、それがキャリアヘッドの下から脱離するのを防止する。
【0031】
基板裏打組立体112は、支持構造体114、可撓部材又は膜118、及びスペーサリング116を含む。可撓膜118は、可撓性で、弾性のある材料から形成される一般的に円形のシートである。可撓膜118の中央部分210は、支持構造体114の下に延在して、基板のための搭載面122を提供する。可撓膜の周辺部分212は、支持構造体114とスペーサリング116との間に延在して、キャリアヘッド、例えば、ベース104又は保持リング110へ固定される。可撓膜118とベース104との間の密閉された容積は、加圧可能なチャンバ120を画成する。第3のポンプ(図示せず)が、経路154によってチャンバ120へ流体で接続して、チャンバ120での圧力を制御し、従って、基板上の搭載面の下向き力を制御してもよい。加えて、チャンバ120は、排気 (evacuated) されて、可撓膜118を上向きへ引張り、それにより基板をキャリアヘッドへ真空チャックしてもよい。可撓膜の周辺部分212は、支持構造体114とスペーサリング116との間に位置する比較的厚い部分216、及び中央部分210の端に位置するフラップ部分214を含む。チャンバ120が排気される場合、フラップ部分214は、Zuniga他の1998年8月31日出願の米国特許出願第09/149,806号、発明の名称「化学的機械研磨のためのキャリアヘッド」で、本発明の譲受人へ譲渡された出願に説明され、その開示の全体を本明細書に組み込んで、引用するように、基板10に抗して引張られて、シールを形成し、基板の真空チャッキングを改善する。
【0032】
スペーサリング116は、保持リング110と支持構造体114との間に配置される一般的に環状の部材である。詳細には、スペーサリング116は、可撓膜118のフラップ部分の上に位置できる。
【0033】
支持構造体114は、チャンバ120の内側に位置しており、基板のチャッキング中に基板のための支持を提供し、チャンバ120が排気される場合、基板と可撓膜の上方向の移動を限定し、可撓膜118の所望の形状を維持し、研磨中に局部で基板に対して追加の圧力を加える。詳細には、支持構造体114は、円盤形状プレート部分170と、プレート170から上方向へ延在する一般的に環状のフランジ部分174とを有する一般に剛性の部材であり得る。開口172が、プレート170を通って延在して、バルブ158を起動することを、可撓膜に可能にする。加えて、図示されていない複数の開口が、プレート部分を通して形成され、支持構造体114の上下にあるチャンバ120の部分間の流体の流れを提供する。これらの図示されていない開口は、プレート170のリム173近くに位置できる。加えて、プレート170は、その外側端で外側へ突出する舌状部176を有することができる。支持構造体114は、「自由浮動」、即ちキャリアヘッドの残部へ固定されておらず、可撓膜により所定の場所に保持できる。
【0034】
フランジ174は、ベース104から突出する棚部192の上へ延在する。研磨が完了し、ローディングチャンバ108が、排気されて、ベース104を研磨パッドから持上げる場合、及び、チャンバ120が、加圧又は排気のいずれか行われる場合、フランジ174の下面は、棚部192と係合して、支持構造体114の下方向の移動を限定し、可撓膜の過伸張を防止する堅固な止め (hard stop)として作用する。
【0035】
図3と4を参照すると、圧縮可能な裏打フィルム180が、プレート170の底面178へ付着される。裏打フィルム180は、圧縮可能な材料、例えば、Newark, Delaware の Rodel, Inc. から入手可能な DF200等の、キャリアフィルムから形成された薄いシートである。裏打材料は、約25ミルの厚さであってよい。接着層で裏打フィルムをプレート170へ固定できる。裏打フィルムは、一般的に平面の底面を有するプレートの領域、例えば、開口を有するプレートの領域の内側へ固定される一般的に円形のフィルムであり得る。
【0036】
ブラダ144が、Steven M. Zuniga他の1997年8月8日出願、米国特許出願第08/907,810号、発明の名称「化学的機械研磨装置用の局所的圧力制御を有するキャリアヘッド」で、本発明の譲受人へ譲渡された出願で検討され、その開示の全体を本明細書に組み込んで引用されるような、支持構造体114へ下向き力を加えるのに使用でき、それにより、裏打フィルム180が、可撓膜118の上面へ直接接触して、基板の選定された領域へ圧力を選択的に加える。
【0037】
ブラダが支持構造体上へ下向きに押付ける場合、裏打フィルムは、可撓膜の上面へ所望の圧力分布又はプロファイルを提供するよう「パターン化」される。詳細には、複数の穴即ち、開口182が、裏打フィルムを通し形成される。裏打フィルムで開口の間隔と大きさを適切に選択することにより、基板上への圧力増加の領域が、研磨性能を最適化するよう提供できる。裏打フィルムは、可撓膜に対して柔軟な接触の領域をも提供して基板への損傷を防止する。
【0038】
図5(a)と5(b)により示すように、ブラダが下向き力を支持構造体114上へ加える場合、可撓膜の上面に接触している裏打フィルム180の部分は、可撓膜118の上面に対して不連続の圧力分布を付加するであろう(この圧力分布のプロファイルを実線Aにより示す)。しかし、この圧力は、裏打フィルム、可撓膜、及び基板自体により配分され、散開され、基板の前面で比較的平滑な圧力分布を提供する(この圧力分布のプロファイルを、想像線 (phantom line) Bにより示す)。開口182の大きさと位置は、所望の圧力分布を提供するよう選定される。例えば、開口を互いにより密な間隔にすることにより、又は、開口を大きくすることにより、比較的小さい圧力が基板へ加えられるであろう。これに反して、開口をより遠く離れた間隔にすることにより、又は、開口を小さくすることにより、比較的大きい圧力が基板へ加えられるであろう。開口が、ほどよく均一に間隔をおき、臨界直径より小さい直径を有する場合、圧力は、基板前面にわたり有効に配分されるであろう。この圧力分布は、局所的には均一な、即ち、個々の開口の領域上では一般に均一であるが、グローバルには不均一な、即ち、基板にわたり変化する圧力分布を生成する。上記で検討した裏打フィルムに対して、臨界直径は、約1/2インチであるように見えるが、これは、研磨パラメータ、及び、膜、裏打フィルム、基板及び研磨パッドの組成に依存するであろう。開口は、臨界直径より小さくてよく、局所的には均一であるが、グローバルには不均一である圧力分布を提供する。
【0039】
記載のように、パターン化された裏打フィルムは、研磨の不均一性を補正するよう設計できる。例えば、ある研磨プロセスが、基板中央近辺で研磨不足である基板での結果を生じる場合、裏打フィルムは、フィルムの中央近辺で開口を少なくパターン化でき、それにより、基板の中央で圧力増加領域を生成する。これは、基板中央での研磨レートを増加させ、その結果、それが基板の他の領域での研磨レートと調和し、それによって、研磨の均一性を実質的に改善する。開口は一般に、裏打フィルムにわたり半径方向に対称のパターンを形成できる。
【0040】
動作中、流体が、チャンバ120内へ圧送され、可撓膜118により基板へ加えられる下向きの圧力を制御する。加えて、ブラダ144は、膨張させられ、フランジ174を接触させて、支持構造体114上へ下向きの圧力を及ぼす。このように、裏打フィルム180は、可撓膜の上面に対して押付けられ、基板上への圧力を局所的に増加させ、必要な際に不均一な研磨を補正する。
【0041】
この構成の有利点は、異なる開口パターンを有する多様な裏打フィルムが製作でき、使用できることである。支持構造体により生成される圧力分布を変更するために、単に1枚の裏打フィルムを支持構造体から取外し、別のものを取付けるだけである。異なる開口パターンを有する裏打フィルムは、キットにパッケージ化することができる。
【0042】
図6を参照すると、別の実施例では、圧縮可能な裏打フィルム180'が剛性のキャリアベース104'の下側へ付着される。裏打フィルム180'は、基板10の裏面へ直接接触して、基板へ力を加える。裏打フィルムは、基板又はキャリアベースでの小さな面欠陥を補正する。加えて、基板自体が、裏打フィルムにより生成された圧力分布を平滑化する緩衝物として作用する。裏打フィルムは、パターン化でき、基板の前面で所望の圧力分布を提供する。
【0043】
図7(a)を参照すると、別の実施例では、支持構造体114aの底面178(a)は、凹み 220を提供される。この実施例では、裏打フィルム180aは、必ずしも開口を含まない。支持構造体114aは、凹み220の領域では裏打フィルムへ圧力を加えない。しかし、支持構造体114aからの圧力は、裏打フィルム及び基板により再配分され、基板の前面で比較的平滑な圧力分布を生成する。加えて、支持構造体114aでの凹み220のパターンは、選定でき、基板の前面で所望の圧力分布を提供し、それによって研磨の均一性を改善する。
【0044】
図7(b)を参照すると、裏打フィルム180a'が基板10の上面に直接接触する場合、凹み220'は、キャリアベース104a'の底面178(a)'で形成でき、類似の効能を提供する。
【0045】
図8(a)を参照して、別の実施例では、裏打フィルム180bは、高圧縮性領域230と低圧縮性領域232をを含む。低圧縮性領域より、高圧縮性領域で、より大きな圧力が基板背面へ転送され、それにより、不均一圧力分布を生成する。圧力は、支持構造体114bから可撓膜118bと基板10により再配分され、基板の前面で比較的平滑な圧力分布を生成する。加えて、裏打フィルム180bでの高及び低圧縮性領域230及び232のパターンは、選定でき、基板の前面で所望の圧力分布を提供し、それにより研磨の均一性を改善する。
【0046】
図8(b)を参照すると、裏打フィルム180b'が基板10の上面に直接接触する場合、高及び低圧縮性領域230'及び232'が、類似の効能を提供する。
【0047】
本発明は、数多くの実施の形態に関して説明された。しかし、本発明は、図示され、説明された実施の形態に限定されない。むしろ、本発明の適用範囲は、添付の特許請求の範囲によって定義される。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、化学的機械研磨装置の分解斜視図である。
【図2】図2は、本発明によるキャリアヘッドの略断面図である。
【図3】図3は、図2のキャリアヘッドの裏打フィルムの、それぞれ拡大図と斜視図である。
【図4】図4は、図2のキャリアヘッドの裏打フィルムの、それぞれ拡大図と斜視図である。
【図5】(a)は、支持構造体、裏打フィルム、及び可撓膜を図示する断面線図であり、(b)は、図2のキャリアヘッドの使用から結果として得られる基板の前面と背面での圧力分布のグラフである。
【図6】図6は、裏打フィルムが基板に直接接触するキャリアヘッドの断面線図である。
【図7】(a)と(b)は、裏打フィルム、及び、凹みを有するそれぞれパターン化された支持構造体又はベースを含むキャリアヘッドの断面線図である。
【図8】(a)と(b)は、異なる圧縮性の領域を有する裏打フィルムを含むキャリアヘッドの断面線図である。
Claims (15)
- キャリアヘッドであって、
ベースと、
前記ベースの下に延在して第1の加圧可能なチャンバを形成する第1の可撓膜であって、前記第1の可撓膜の下面が、基板のための搭載面を備える第1の可撓膜と、
前記第1のチャンバに配置された支持構造体と、
前記支持構造体と前記可撓膜との間で、前記支持構造体の底面に取り付けられた圧縮可能なフィルムと、
を備え、
前記圧縮可能なフィルムが、前記第1の可撓膜の上面上に圧力分布を確立するパターンに配列された、前記フィルムを貫通した複数の開口を有する、キャリアヘッド。 - 前記複数の開口の前記パターンが、研磨の均一性を改善する不均一な圧力分布を提供するように選定される、請求項1記載のキャリアヘッド。
- 前記開口が、対称なパターンに配設される、請求項1記載のキャリアヘッド。
- 前記開口は、局所的には均一だが、全体的には不均一である前記基板上の圧力分布を提供するように、間隔をおいて配置された、請求項1記載のキャリアヘッド。
- 前記開口は、直径で約1.27cm未満である、請求項4記載のキャリアヘッド。
- 更に、前記支持構造体へ下向きの圧力を加える第2の加圧可能なチャンバを備えた、請求項1記載のキャリアヘッド。
- キャリアヘッドであって、
ベースと、
前記ベースの下に延在し、基板のための搭載面を備える可撓膜と、
前記ベースと前記可撓膜との間の支持構造体と、
前記支持構造体と前記可撓膜との間の圧縮可能なフィルムと、
を備え、
前記圧縮可能なフィルムは、前記基板の面にわたり圧力分布を確立する、前記フィルムを貫通した複数の開口を含む、キャリアヘッド。 - キャリアヘッドであって、
ハウジングと、
前記ハウジングに移動可能に接続される剛構造体と、
前記剛構造体の底面上に配置される圧縮可能なフィルムと、
を備え、
前記圧縮可能なフィルムは、研磨中に基板の面にわたり圧力分布を生成するために第1の領域と当該第1の領域よりも開口が互いに密な間隔であるか又は開口が大きい第2の領域とを有するパターンに配列される、前記フィルムを貫通した複数の開口を有する、キャリアヘッド。 - 更に、基板受納面を有する可撓膜を備え、前記フィルムは、前記剛構造体と前記可撓膜との間に配置される、請求項8記載のキャリアヘッド。
- キャリアヘッドであって、
ハウジングと、
前記ハウジングへ移動可能に接続される剛構造体と、
前記剛構造体の底面に形成される複数の凹みと、
前記剛構造体の前記底面上に配置される圧縮可能なフィルムと、
を備え、
前記剛構造体における前記凹みは、研磨中に基板の面にわたり圧力分布を生成するパターンに配設される、キャリアヘッド。 - 更に、基板受納面を有する可撓膜を備え、前記フィルムは、前記剛構造体と前記可撓膜との間に配置される、請求項10記載のキャリアヘッド。
- キャリアヘッドであって、
ハウジングと、
前記ハウジングへ移動可能に接続される剛構造体と、
前記剛構造体の底面上に配置される圧縮可能なフィルムと、
を備え、
前記圧縮可能なフィルムは、異なる圧縮性の複数の領域を含み、前記異なる圧縮性の領域は、研磨中に基板の面にわたり圧力分布を生成するパターンに配列される、キャリアヘッド。 - 更に、基板受納面を有する可撓膜を備え、前記フィルムは、前記剛構造体と前記可撓膜との間に配置される、請求項12記載のキャリアヘッド。
- キャリアヘッドにおける使用のための物品であって、前記キャリアヘッドにおける剛構造体の面に取外し可能に固定可能である圧縮可能なフィルムを備え、前記圧縮可能なフィルムは、研磨の均一性を改善するように、研磨中に基板上に不均一な圧力分布を生成するよう配置され、前記フィルムを貫通した複数の開口を有する、物品。
- キットであって、
ハウジング、及び前記ハウジングに移動可能に接続された剛構造体を含むキャリアヘッドと、
前記剛構造体の底面に取外し可能に固定可能な複数の圧縮可能なフィルムと、
を備え、
各圧縮可能なフィルムは、研磨中に基板上に不均一な圧力分布を生成する、前記フィルムを貫通した複数の開口を有し、前記圧縮可能なフィルムの少なくとも2枚は、前記基板上に異なる圧力分布を生成する異なるパターンに配設される開口を有する、キット。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/296937 | 1999-04-22 | ||
| US09/296,937 US6431968B1 (en) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | Carrier head with a compressible film |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001001250A JP2001001250A (ja) | 2001-01-09 |
| JP4467133B2 true JP4467133B2 (ja) | 2010-05-26 |
Family
ID=23144170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000122873A Expired - Fee Related JP4467133B2 (ja) | 1999-04-22 | 2000-04-24 | 圧縮可能なフィルムを有するキャリアヘッド |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6431968B1 (ja) |
| EP (1) | EP1048408A3 (ja) |
| JP (1) | JP4467133B2 (ja) |
| KR (1) | KR20010014805A (ja) |
Families Citing this family (48)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6431968B1 (en) | 1999-04-22 | 2002-08-13 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a compressible film |
| KR20010020807A (ko) | 1999-05-03 | 2001-03-15 | 조셉 제이. 스위니 | 고정 연마재 제품을 사전-조절하는 방법 |
| US6722963B1 (en) | 1999-08-03 | 2004-04-20 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for chemical-mechanical planarization of microelectronic substrates with a carrier and membrane |
| JP3683149B2 (ja) * | 2000-02-01 | 2005-08-17 | 株式会社東京精密 | 研磨装置の研磨ヘッドの構造 |
| US7374644B2 (en) | 2000-02-17 | 2008-05-20 | Applied Materials, Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US7029365B2 (en) | 2000-02-17 | 2006-04-18 | Applied Materials Inc. | Pad assembly for electrochemical mechanical processing |
| US6962524B2 (en) | 2000-02-17 | 2005-11-08 | Applied Materials, Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US7059948B2 (en) | 2000-12-22 | 2006-06-13 | Applied Materials | Articles for polishing semiconductor substrates |
| US7125477B2 (en) | 2000-02-17 | 2006-10-24 | Applied Materials, Inc. | Contacts for electrochemical processing |
| US7670468B2 (en) | 2000-02-17 | 2010-03-02 | Applied Materials, Inc. | Contact assembly and method for electrochemical mechanical processing |
| US7077721B2 (en) | 2000-02-17 | 2006-07-18 | Applied Materials, Inc. | Pad assembly for electrochemical mechanical processing |
| US7066800B2 (en) * | 2000-02-17 | 2006-06-27 | Applied Materials Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US7678245B2 (en) | 2000-02-17 | 2010-03-16 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for electrochemical mechanical processing |
| US7303662B2 (en) | 2000-02-17 | 2007-12-04 | Applied Materials, Inc. | Contacts for electrochemical processing |
| US6979248B2 (en) | 2002-05-07 | 2005-12-27 | Applied Materials, Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US6991528B2 (en) | 2000-02-17 | 2006-01-31 | Applied Materials, Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US7303462B2 (en) | 2000-02-17 | 2007-12-04 | Applied Materials, Inc. | Edge bead removal by an electro polishing process |
| US6884153B2 (en) * | 2000-02-17 | 2005-04-26 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for electrochemical processing |
| JP3816297B2 (ja) | 2000-04-25 | 2006-08-30 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置 |
| US6558232B1 (en) * | 2000-05-12 | 2003-05-06 | Multi-Planar Technologies, Inc. | System and method for CMP having multi-pressure zone loading for improved edge and annular zone material removal control |
| US6716084B2 (en) | 2001-01-11 | 2004-04-06 | Nutool, Inc. | Carrier head for holding a wafer and allowing processing on a front face thereof to occur |
| JP3611029B2 (ja) * | 2001-01-24 | 2005-01-19 | 三菱住友シリコン株式会社 | 半導体基板の研磨用保持板 |
| US7137879B2 (en) | 2001-04-24 | 2006-11-21 | Applied Materials, Inc. | Conductive polishing article for electrochemical mechanical polishing |
| US7344432B2 (en) | 2001-04-24 | 2008-03-18 | Applied Materials, Inc. | Conductive pad with ion exchange membrane for electrochemical mechanical polishing |
| US20030072639A1 (en) * | 2001-10-17 | 2003-04-17 | Applied Materials, Inc. | Substrate support |
| US6716093B2 (en) * | 2001-12-07 | 2004-04-06 | Lam Research Corporation | Low friction gimbaled substrate holder for CMP apparatus |
| US6755726B2 (en) * | 2002-03-25 | 2004-06-29 | United Microelectric Corp. | Polishing head with a floating knife-edge |
| US7842169B2 (en) * | 2003-03-04 | 2010-11-30 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for local polishing control |
| US20050121141A1 (en) * | 2003-11-13 | 2005-06-09 | Manens Antoine P. | Real time process control for a polishing process |
| US7186164B2 (en) * | 2003-12-03 | 2007-03-06 | Applied Materials, Inc. | Processing pad assembly with zone control |
| US7084064B2 (en) | 2004-09-14 | 2006-08-01 | Applied Materials, Inc. | Full sequence metal and barrier layer electrochemical mechanical processing |
| US7520968B2 (en) | 2004-10-05 | 2009-04-21 | Applied Materials, Inc. | Conductive pad design modification for better wafer-pad contact |
| US7427340B2 (en) | 2005-04-08 | 2008-09-23 | Applied Materials, Inc. | Conductive pad |
| US20070153453A1 (en) * | 2006-01-05 | 2007-07-05 | Applied Materials, Inc. | Fully conductive pad for electrochemical mechanical processing |
| US20070218587A1 (en) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Applied Materials, Inc. | Soft conductive polymer processing pad and method for fabricating the same |
| US20070235344A1 (en) * | 2006-04-06 | 2007-10-11 | Applied Materials, Inc. | Process for high copper removal rate with good planarization and surface finish |
| US20070251832A1 (en) * | 2006-04-27 | 2007-11-01 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for electrochemical mechanical polishing of cu with higher liner velocity for better surface finish and higher removal rate during clearance |
| US8012000B2 (en) * | 2007-04-02 | 2011-09-06 | Applied Materials, Inc. | Extended pad life for ECMP and barrier removal |
| JP5248127B2 (ja) * | 2008-01-30 | 2013-07-31 | 株式会社荏原製作所 | 研磨方法及び研磨装置 |
| US11267099B2 (en) | 2017-09-27 | 2022-03-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Chemical mechanical planarization membrane |
| KR102183616B1 (ko) * | 2017-09-27 | 2020-11-27 | 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 | 화학 기계적 평탄화 막 |
| US11325223B2 (en) * | 2019-08-23 | 2022-05-10 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with segmented substrate chuck |
| KR102737625B1 (ko) * | 2020-06-26 | 2024-12-04 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 변형가능한 기판 척 |
| US11724355B2 (en) | 2020-09-30 | 2023-08-15 | Applied Materials, Inc. | Substrate polish edge uniformity control with secondary fluid dispense |
| KR102719077B1 (ko) | 2020-10-13 | 2024-10-18 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 접촉 연장부 또는 조절가능한 정지부를 갖는 기판 연마 장치 |
| US11623321B2 (en) | 2020-10-14 | 2023-04-11 | Applied Materials, Inc. | Polishing head retaining ring tilting moment control |
| JP7642086B2 (ja) * | 2021-03-04 | 2025-03-07 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 変動的なエッジ制御を含む研磨キャリアヘッド |
| CN116038556B (zh) * | 2022-12-30 | 2025-09-26 | 华海清科股份有限公司 | 一种用于化学机械抛光的弹性膜和承载头 |
Family Cites Families (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2809274A1 (de) * | 1978-03-03 | 1979-09-13 | Wacker Chemitronic | Verfahren zur vergleichmaessigung des polierabtrages von scheiben beim polieren |
| US4918869A (en) | 1987-10-28 | 1990-04-24 | Fujikoshi Machinery Corporation | Method for lapping a wafer material and an apparatus therefor |
| JP2527232B2 (ja) | 1989-03-16 | 1996-08-21 | 株式会社日立製作所 | 研磨装置 |
| US5193316A (en) | 1991-10-29 | 1993-03-16 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor wafer polishing using a hydrostatic medium |
| US5205082A (en) | 1991-12-20 | 1993-04-27 | Cybeq Systems, Inc. | Wafer polisher head having floating retainer ring |
| US5643053A (en) | 1993-12-27 | 1997-07-01 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing apparatus with improved polishing control |
| US5624299A (en) | 1993-12-27 | 1997-04-29 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing apparatus with improved carrier and method of use |
| US5449316A (en) | 1994-01-05 | 1995-09-12 | Strasbaugh; Alan | Wafer carrier for film planarization |
| US5423716A (en) | 1994-01-05 | 1995-06-13 | Strasbaugh; Alan | Wafer-handling apparatus having a resilient membrane which holds wafer when a vacuum is applied |
| JP3158934B2 (ja) | 1995-02-28 | 2001-04-23 | 三菱マテリアル株式会社 | ウェーハ研磨装置 |
| US5908530A (en) * | 1995-05-18 | 1999-06-01 | Obsidian, Inc. | Apparatus for chemical mechanical polishing |
| US5643061A (en) | 1995-07-20 | 1997-07-01 | Integrated Process Equipment Corporation | Pneumatic polishing head for CMP apparatus |
| ATE228915T1 (de) | 1996-01-24 | 2002-12-15 | Lam Res Corp | Halbleiterscheiben-polierkopf |
| JP3663767B2 (ja) | 1996-09-04 | 2005-06-22 | 信越半導体株式会社 | 薄板の鏡面研磨装置 |
| US6183354B1 (en) | 1996-11-08 | 2001-02-06 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a flexible membrane for a chemical mechanical polishing system |
| US6146259A (en) | 1996-11-08 | 2000-11-14 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with local pressure control for a chemical mechanical polishing apparatus |
| US5851140A (en) * | 1997-02-13 | 1998-12-22 | Integrated Process Equipment Corp. | Semiconductor wafer polishing apparatus with a flexible carrier plate |
| US5957751A (en) * | 1997-05-23 | 1999-09-28 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a substrate detection mechanism for a chemical mechanical polishing system |
| US5964653A (en) | 1997-07-11 | 1999-10-12 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a flexible membrane for a chemical mechanical polishing system |
| US5964646A (en) * | 1997-11-17 | 1999-10-12 | Strasbaugh | Grinding process and apparatus for planarizing sawed wafers |
| JPH11226865A (ja) * | 1997-12-11 | 1999-08-24 | Speedfam Co Ltd | キャリア及びcmp装置 |
| JPH11262857A (ja) * | 1998-03-18 | 1999-09-28 | Rohm Co Ltd | 半導体ウェハの研磨装置 |
| JPH11300608A (ja) * | 1998-04-20 | 1999-11-02 | Nec Corp | 化学機械研磨装置 |
| US6113468A (en) * | 1999-04-06 | 2000-09-05 | Speedfam-Ipec Corporation | Wafer planarization carrier having floating pad load ring |
| US6431968B1 (en) | 1999-04-22 | 2002-08-13 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a compressible film |
-
1999
- 1999-04-22 US US09/296,937 patent/US6431968B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-22 KR KR1020000021466A patent/KR20010014805A/ko not_active Withdrawn
- 2000-04-24 JP JP2000122873A patent/JP4467133B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-04-25 EP EP00303428A patent/EP1048408A3/en not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-06-28 US US10/187,143 patent/US7001260B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001001250A (ja) | 2001-01-09 |
| US20020164938A1 (en) | 2002-11-07 |
| EP1048408A3 (en) | 2003-01-02 |
| KR20010014805A (ko) | 2001-02-26 |
| EP1048408A2 (en) | 2000-11-02 |
| US6431968B1 (en) | 2002-08-13 |
| US7001260B2 (en) | 2006-02-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4467133B2 (ja) | 圧縮可能なフィルムを有するキャリアヘッド | |
| US6277014B1 (en) | Carrier head with a flexible membrane for chemical mechanical polishing | |
| US6241593B1 (en) | Carrier head with pressurizable bladder | |
| US6368191B1 (en) | Carrier head with local pressure control for a chemical mechanical polishing apparatus | |
| US6979250B2 (en) | Carrier head with flexible membrane to provide controllable pressure and loading area | |
| US6776694B2 (en) | Methods for carrier head with multi-part flexible membrane | |
| US6494774B1 (en) | Carrier head with pressure transfer mechanism | |
| US6645044B2 (en) | Method of chemical mechanical polishing with controllable pressure and loading area | |
| JP4771592B2 (ja) | 化学機械研磨のためのエッジ制御付きキャリアヘッド | |
| US6358121B1 (en) | Carrier head with a flexible membrane and an edge load ring | |
| JP4516662B2 (ja) | 基板をケミカルメカニカルポリシングするためのキャリヤヘッド | |
| US6244942B1 (en) | Carrier head with a flexible membrane and adjustable edge pressure | |
| US6165058A (en) | Carrier head for chemical mechanical polishing | |
| US6361419B1 (en) | Carrier head with controllable edge pressure | |
| US20030181153A1 (en) | Polishing head with a floating knife-edge | |
| KR100636455B1 (ko) | 화학 기계적 연마를 위한 제어가능한 압력 및 부하 영역을갖는 캐리어 헤드 | |
| KR20040023228A (ko) | 화학적 기계적 평탄화 기계의 폴리싱 헤드 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070316 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091013 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100113 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100118 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100126 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100216 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100223 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130305 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130305 Year of fee payment: 3 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130305 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140305 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |