JP4669141B2 - A / D converter - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、積分型A/D変換装置に係り、特に、入力電圧に対するレンジ切り替えの迅速化を図ったものに関する。
【0002】
【従来の技術】
アナログ・ディジタル変換(A/D変換)には、種々の方式があるが、例えば、図7には、積分型A/D変換と称される公知・周知の変換方式を用いてなるA/D変換装置の構成例が示されている。
以下、同図を参照しつつこの従来装置について概括的に説明することとする。
まず、この従来の積分型A/D変換装置は、アッテネータ入力部201と、積分・比較部202と、計数・制御部203とに大別されて構成されたものとなっているものである。
かかる構成を有してなる積分型A/D変換装置において、アッテネータ入力部201に外部から入力されたアナログ信号値がディジタル信号値へ変換される変換動作は、ゼロ積分期間、入力積分期間、逆積分期間の3つの期間に区分することができるものとなっている。
すなわち、まず、ゼロ積分期間においては、計数・制御部203によりスイッチ21a,21bが開成される一方、スイッチ22が閉成されて、積分・比較部202へのアナログ入力信号が遮断されると共に、同時にスイッチ23が計数・制御部203により閉成されて、バッファアンプ24及び積分器25の反転入力端子がグランド電位に固定される。また、計数・制御部203によりスイッチ26a,26bが閉成されることにより、基準コンデンサ27が基準電源28に接続されて、逆積分用基準電圧Vrefに充電されることとなる。
【0003】
次いで、入力積分期間に入り、計数・制御部203によりスイッチ22及びスイッチ23が閉成される一方、スイッチ21a,21bが閉成されて、アッテネータ入力部201を介して外部からアナログ入力電圧Vxが印加されることとなる。このアナログ入力電圧Vxは、バッファアンプ24及び積分抵抗器29を介して積分コンデンサ30を有してなる積分器25へ一定期間(入力積分時間)の間印加される。ここで、アナログ入力電圧Vxを積分器25へ印加する時間、すなわち、入力積分時間をtoとし、積分抵抗器29の抵抗値をRとし、積分コンデンサ30の容量値をCとすると、積分器25による積分出力電圧Eoは、下記する式1の如くとなることは公知・周知の通りである。
【0004】
Eo=−{1/(CR)}∫Vx・dto・・・式1
【0005】
この式1は、入力積分時間toを一定とすれば、積分器25の出力電圧Eoは、アナログ入力電圧Vxに比例することを表している。
上述の入力積分期間が終了すると逆積分期間へ移行し、入力積分期間に積分された電圧が、逆積分用基準電圧Vrefにより逆積分されることとなる。すなわち、まず、計数・制御部203によりスイッチ21a,21bが開成されてアナログ入力電圧Vxの印加が遮断される一方、スイッチ23が閉成されて積分器25の非反転入力端子がグランド電位に固定されると共に、スイッチ31a,31b又はスイッチ32a,32bのいずれかが、入力積分期間の終了時における比較器33の極性に応じて閉成され、基準コンデンサ27のいずれか一方の端子がバッファアンプ24の非反転入力端子へ接続されることとなる。すなわち、比較器33の出力電圧が負の場合には、アナログ入力電圧Vxは、正の電圧と判断されて、スイッチ31a,31bが閉成される一方、比較器33の出力電圧が正の場合には、アナログ入力電圧Vxは、負の電圧と判断されて、スイッチ32a,32bが閉成されるようになっている。
【0006】
このようなアナログ入力電圧Vxの極性に応じた基準コンデンサ27の接続により、積分器25の出力電圧VAは、グランド電位に向かうように積分されることとなる。そして、比較器33において、グランド電位と積分器25の出力電圧E201とが比較され、出力電圧E201がグランド電位と交差した時に比較器33の出力信号VAの極性が反転し、逆積分期間の終了となる。
そして、この逆積分期間に要した時間を計測することによって、アナログ入力電圧値を時間に変換できることとなる。すなわち、換言すれば、アナログ入力電圧値がディジタル値に変換できることとなる。ここで、基準コンデンサ27に充電された逆積分用基準電圧をVrefと、逆積分期間が開始されてから比較器33の出力信号VAの極性が反転するまでの時間をtxとすると、逆積分期間における積分器25の出力電圧Eoxは、下記する式2のように表すことができる。
【0007】
Eox=−{1/(CR)}∫Vref・dtx・・・式2
【0008】
先の式1及び式2より、アナログ入力電圧Vxは、逆積分時間に要した時間txに比例するものであることが言える。
ここで、アナログ入力電圧Vxの最大値をVxmaxとすると、この入力電圧に対する積分器25の最大出力電圧Eomaxは、先の式1を用いて下記する式3のように表される。
【0009】
Eomax=−{1/(CR)}∫Vxmax・dto・・・式3
【0010】
ところで、この種の積分型A/D変換装置においては、通常、アナログ入力電圧の最大値Vxmaxによって最大測定範囲(フルスケール値)が調整されるものとなっている。したがって、積分器25の出力電圧Eoが上記Eomaxを越えるものである場合には、積分型A/D変換装置はいわゆるオーバーフロー状態となり、アナログ入力電圧に応じたディジタル値を得られないこととなる。
そこで、アナログ入力電圧Vxが測定可能範囲を越えてしまった場合、換言すれば、逆積分時間tx(max)を越えてしまった場合、計数・制御部203によりアッテネータ入力部201における入力電圧に対するアッテネータの大きさが切り替えられて、再度、一連のA/D変換動作が行われるようになっている。
【0011】
いわゆるディジタルテスタ等に用いられるA/D変換装置においては、変換速度は、一般に2回/秒から4回/秒程度であり、A/D変換装置の外部において、アッテネータの切り替えを行い、より広範囲の測定を可能とするものが多い。例えば、アッテネータを設けない状態におけるA/D変換装置自体の測定可能範囲が200mVであっても、ディジタル電圧計としての測定範囲は、A/D変換装置の外部に設けたアッテネータにより、200mVレンジから2000Vレンジまで5レンジの測定範囲の切り替えが可能な構成とされたものを挙げることができる。
図8には、このような構成を有してなる積分型A/D変換装置による変換例を示すタイミング図が示されており、以下、同図を参照しつつこの変換例について説明することとする。まず、この図8に示された変換例は、積分型A/D変換装置における変換速度を2回/秒とし、初期状態において測定レンジが200mVに設定されているものとし、+300Vの電圧を測定した場合における主要部のタイミングを示すものである。
【0012】
すなわち、まず、初期状態の200mVレンジにおいて、入力積分期間における積分器A202の出力電圧Eoは、先の式1で表されるものとなるが、入力電圧が過大であるために現実には、積分器A202の電源電圧(−V)に制限されることとなる(図8(A)参照)。そして、逆積分期間においては、積分電圧は逆積分用基準電圧Vrefによって逆積分されるが、積分電圧が過大であるため逆積分期間内に比較器33の出力信号の極性が反転するまでに至らない(図8(B)参照)。したがって、A/D変換結果はオーバーフローとなり、計数・制御部203によりアッテネータ入力部201におけるアッテネータの切り替えが行われ、測定レンジは一つ上のレンジである2Vとされることとなる。
この2Vの測定レンジにおいても、未だ入力電圧が過大であるために、上述の200mVの場合と同様にA/D変換結果はオーバーフローとなり、測定レンジの切り替えが行われることとなる。そして、同様にして、測定レンジは、20V、200V、2000Vと順に切り替えられてゆく(図8(A)及び同図(B)参照)。
そして、2000Vレンジに切り替えられた時点において、入力電圧が変換可能な範囲となり、正常に変換動作が行われることとなる(図8(A)及び同図(B)参照)。結局、この例の場合、初期状態の測定レンジから正常にA/Dが変換するまでに、2.5秒もの時間を要するものとなっている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
このように、入力電圧に対する従来のいわゆるレンジ切り替え機能を有する積分型A/D変換装置においては、アナログ入力電圧がA/D変換のオーバーフローを生ずるものであっても、逆積分が最後まで行われ、比較器33の出力信号の極性が反転せず、それによってオーバーフローであると判定されるまで測定レンジの切り替えが行われない構成であるために、測定レンジの切り替えに時間を要し、迅速な測定ができないという問題があった。
また、上記従来装置においては、測定レンジを順に一つずつ切り替えてゆく構成であるため、測定開始の際の測定レンジと、アナログ入力電圧の大きさに対応して設定されるべき本来の測定レンジとの間に大きな開きがある場合には、正確なA/D変換結果を得るまでに複数回の変換を経なければならず、迅速な測定ができないという問題があった。
【0014】
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、アナログ入力電圧に対する測定レンジの切り替え時間が短くて済み、A/D変換結果を迅速に得ることができるA/D変換装置を提供するものである。
本発明の他の目的は、アナログ入力電圧に対する測定レンジがその入力電圧に対して適切なものでない場合に、複数の測定レンジを経ることなく入力電圧の大きさに対応する測定レンジへの切り替えを可能としたA/D変換装置を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記本発明の目的を達成するため、本発明に係るA/D変換装置は、
外部からの制御に応じて入力電圧を降圧するアッテネータ入力部と、
外部からの制御に応じて、前記アッテネータ入力部の出力電圧の積分を行った後、その積分出力を逆積分用基準電圧の印加により零とする逆積分を行うよう構成されてなる積分回路と、
前記積分回路の出力電圧の判定を行う比較回路と、
前記比較回路の出力結果に応じて前記アッテネータ入力部の動作及び前記積分回路の動作を制御すると共に、前記積分回路における逆積分の開始時から当該逆積分の正常な終了と判定されるまでの時間経過を計数するよう構成されてなる計数・制御部と、を具備してなるA/D変換装置であって、
前記比較回路は、前記積分回路における積分中における出力電圧がレンジ切替判定用基準電圧を越えたか否かを判定し、その判定結果に応じた信号を出力する一方、前記積分回路における逆積分により前記積分回路の出力電圧が零となったか否かを判定し、その判定結果に応じた信号を出力し、
前記計数・制御部は、前記比較回路から前記積分回路における逆積分により前記積分回路の出力電圧が零となったとの判定結果に対応する信号が出力されたことをもって逆積分の正常な終了と判定する一方、
前記積分回路における積分開始の時点から、前記比較回路から前記積分回路における積分中における出力電圧が前記レンジ切替判定用基準電圧を越えたとの判定結果に対応する信号が出力されるまでの時間経過を計数し、当該計数結果が得られた場合に、前記アッテネータ入力部における入力電圧が、前記計数結果に応じた大きさに降圧されるよう前記アッテネータ入力部を制御するよう構成されてなるものである。
【0016】
かかる構成においては、比較回路により積分中における積分回路の出力電圧が、レンジ切替判定用基準電圧を越えたと判定された場合には、従来と異なり、逆積分を行うことなくアッテネータ入力部における入力電圧の降圧が計数・制御部により行われるよう構成されているので、アナログ入力電圧に対するいわゆる測定レンジの切り替えられるまでに要する時間が短縮化され、迅速にA/D変換結果を得ることができることとなるものである。
上記構成においては、例えば、比較回路は、積分回路における積分中における出力電圧が負極性のレンジ切替判定用第1の基準電圧又は正極性のレンジ切替判定用第2の基準電圧を越えたか否かを判定するように構成しても好適である。
【0017】
また、上記構成において、計数・制御部を、
前記比較回路から前記積分回路における逆積分により前記積分回路の出力電圧が零となったとの判定結果に対応する信号が出力されたことをもって逆積分の正常な終了と判定する一方、
前記積分回路における積分開始の時点から、前記比較回路から前記積分回路における積分中における出力電圧が前記レンジ切替判定用基準電圧を越えたとの判定結果に対応する信号が出力されるまでの時間経過を計数し、当該計数結果が得られた場合に、前記アッテネータ入力部における入力電圧が、基準となる積分時間に対する前記計数結果の比に応じた大きさに降圧されるよう前記アッテネータ入力部を制御するよう構成されてなるものとしても好適である。
【0018】
かかる構成においては、比較回路により積分中における積分回路の出力電圧が、レンジ切替判定用基準電圧を越えたと判定された場合には、逆積分を行うことなく、アッテネータ入力部における入力電圧が、計数・制御部の制御により積分開始時から先の判定が生ずるまでの時間に応じた大きさに降圧されるので、従来と異なり、複数回の入力電圧の降圧を経ることなく、即座に適切な大きさとされ、迅速にA/D変換結果を得ることができることとなるものである。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図1乃至図4を参照しつつ説明する。
なお、以下に説明する部材、配置等は本発明を限定するものではなく、本発明の趣旨の範囲内で種々改変することができるものである。
最初に、本発明の実施の形態における第1の構成例について、図1乃至図3を参照しつつ説明する。
まず、この第1の構成例におけるA/D変換装置の構成について説明すれば、このA/D変換装置は、アッテネータ入力部101と、積分・比較部102と、計数・制御部103とに大別されて構成されたものとなっており、例えば、いわゆるデジタルテスタ等に用いられるに適したものである。
アッテネータ入力部101は、外部から入力されるアナログ電圧に対して減衰を与えて後段の積分・比較部102の入力に適した大きさとして出力するもので、計数・制御部103からの制御に応じて図示されないアッテネータが切り替えられて減衰量が変化されるようになっている公知・周知の構成を有してなるもので、基本的には、従来装置におけるものと同様のものである。例えば、具体的には、抵抗器による分圧回路で構成したもの等が好適である。換言すれば、アッテネータ入力部101は、外部から入力されるアナログ電圧を、計数・制御部103からの制御に応じて、順次段階的に降圧して出力するよう構成されてなるものである。
【0020】
積分・比較部102は、アッテネータ入力部101を介して入力されたアナログ入力電圧にA/D変換のための2重積分を施すと共に、後述するように積分出力と所定の電圧との比較を行うもので、積分回路51と比較回路52とに大別された構成となっており、積分回路51の部分は、後述するように基本的に従来装置と同様の構成を有してなるものであるが、比較回路52の部分が従来構成と異なるものとなっている。
積分回路51は、演算増幅器を用いてなるバッファアンプ1と、演算増幅器2aを用いてなる積分器2とを主たる構成要素として構成されたものとなっている。すなわち、まず、バッファアンプ1は、例えば、演算増幅器を用いてなるもので、その反転入力端子と出力端子とが接続されると共に、その出力端子は、積分抵抗器3を介して積分器2の反転入力端子に接続されたものとなっている。一方、バッファアンプ1の非反転入力端子は、入力切替用第1のスイッチ4aを介してアッテネータ入力部101の一方の出力端子5aに接続されるようになっている。
【0021】
一方、積分器2の反転入力端子は、入力切替用第2のスイッチ4bを介してアッテネータ入力部101の他方の出力端子5bに接続されるようになっている。この入力切替用第2のスイッチ4bと先の入力切替用第1のスイッチ4aは、後述する計数・制御部103の制御によって連動して開閉成されるものとなっている。
また、積分器2は、その反転入力端子と出力端子との間に、積分コンデンサ6が接続されている一方、逆積分用基準電圧Vrefを保持するための基準電圧用コンデンサ7が次述するように接続される構成となっている。
【0022】
すなわち、まず、極性切替用第1乃至第4のスイッチ8a〜8dが、いわゆるブリッジ接続されたものとなっている。換言すれば、極性切替用第1のスイッチ8aの一端と極性切替用第4のスイッチ8dの一端が接続されると共に、その接続点は、基準電圧用コンデンサ7の一端に接続されたものとなっている。また、極性切替用第2のスイッチ8bの一端と極性切替用第3のスイッチ8cの一端が接続されると共に、その接続点は、基準電圧用コンデンサ7の他端に接続されたものとなっている。そして、極性切替用第1及び第2のスイッチ8a,8bの他端同士が接続されると共に、その接続点は、積分器2の非反転入力端子に接続されたものとなっている。また、極性切替用第3及び第4のスイッチ8c,8dの他端同士が接続されると共に、その接続点は、バッファアンプ1の非反転入力端子に接続されたものとなっている。ここで、極性切替用第1及び第3のスイッチ8a,8cと、極性切替用第2及び第4のスイッチ8b,8dは、後述するようにそれぞれ計数・制御部103の制御により連動して開閉成されるようになっているものである。
【0023】
さらに、基準電圧用コンデンサ7の一端は、充電用第1のスイッチ10aを介して所定の逆積分用基準電圧Vrefを発生する基準電源11の正極側に接続される一方、基準電圧用コンデンサ7の他端は、充電用第2のスイッチ10bを介して基準電源11の負極側に接続されるようになっている。ここで、充電用第1及び第2のスイッチ10a,10bも、後述するように計数・制御部103の制御により連動して開閉成されるようになっているものである。
またさらに、バッファアンプ1の非反転入力端子が接続された先の入力切替用第1のスイッチ4aの一端と、積分器2の非反転入力端子が接続された先の入力切替用第2のスイッチ4bの一端との間には、グランド電位固定用第1のスイッチ12aが設けられると共に、入力切替用第2のスイッチ4bの一端には、グランド電位固定用第2のスイッチ12bの一端が接続されており、このグランド電位固定用第2のスイッチ12bの他端は、アースに接続されたものとなっている。
【0024】
比較回路52は、3つの比較器13〜15を用いて構成されたものとなっている。すなわち、第1の比較器13及び第2のレンジ切替判定用比較器15の非反転入力端子と、第1のレンジ切替判定用比較器14の反転入力端子は、相互に接続されると共に、積分器2の出力端子に接続されたものとなっている。
また、第1の比較器13の反転入力端子は、アースに接続されたものとなっている。さらに、第1のレンジ切替判定用比較器14の非反転入力端子には、負極性の所定の電圧であるレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefが印加される一方、第2のレンジ切替判定用比較器15の反転入力端子には、正極性の所定の電圧であるレンジ切替判定用第2の基準電圧Emrefが印加されるようになっている。すなわち、本発明の実施の形態における比較回路52においては、レンジ切替判定用基準電圧は、正極側と負極側のそれぞれに設けられたものとなっている。なお、A/D変換装置の用途に応じて、レンジ切替判定用基準電圧は、勿論、正負いずれか一方のみ設定されたものであっても良いものである。
そして、これら第1の比較器13、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15の出力信号VA,VB,VCは、計数・制御部103へ入力されるようになっている。
【0025】
計数・制御部103は、第1の比較器13、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15の出力信号に基づいて、積分器2への入力電圧が適正な範囲、すなわち正常に計測可能な測定レンジ内にあるか否かを判定し、正常に計測可能な測定レンジ内にあると判定された場合には、第1の比較器13の出力信号VAに基づいて逆積分時間を計数し(詳細は後述)、その計数結果を図示されない外部の回路へ出力する一方、正常に計測可能な測定レンジ内にないと判定された場合には、測定レンジの切り替え、すなわち、アッテネータ入力部101のアッテネータの切り替えを行うものである。また、計数・制御部103は、後述するように入力切替用第1及び第2のスイッチ4a,4b等のスイッチの動作制御を行うものとなっている。
なお、上述のようにこの計数・制御部103から外部へ出力される逆積分時間の計数結果は、例えば、このA/D変換装置がデジタルテスタのようなものに用いられる場合には、表示回路(図示せず)へ入力されて測定値のディジタル表示に供されるものとなる。なお、このような機能を有する計数・制御部103は、いわゆるマイクロコンピュータを用いてソフトウェアを実行させることで所望の動作が得られるよう構成して実現することができ、そのような構成のものを用いてもよく、また、マイクロコンピュータを用いることなく回路構成したものであってもよいものである。
【0026】
次に、かかる構成における動作について、図2及び図3を参照しつつ説明する。
まず、本発明の実施の形態におけるA/D変換装置は、アナログ入力電圧に対する変換動作の過程を見ると、後述するようにアナログ入力電圧が測定レンジを越える場合を除けば、入力電圧が適切な測定レンジ内にある場合には、基本的には従来装置と同様に2重積分型A/D変換を行うものとなっている。すなわち、本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の動作は、ゼロ積分期間、入力積分期間及び逆積分期間に区分して説明することができるものとなっている。
まず、前提として、このA/D変換装置は、最も小さな測定レンジ、換言すれば、アッテネータ入力部101のアッテネータが最小値に設定された状態において、積分器2の最大出力は200mVであり、計数・制御部103による計数値として2000カウントのディジタル値が得られるものであるとする。そして、測定開始において、測定レンジは初期状態、すなわち、最も小さな測定レンジに設定されているものとする。
【0027】
かかる前提の下、最初に、ゼロ積分期間が開始されると、計数・制御部103により入力切替用第1及び第2のスイッチ4a,4bが開成されて、アッテネータ入力部101と積分・比較部102との接続が断たれ、積分・比較部102へのアナログ入力電圧の印加が遮断されることとなる。同時に、計数・制御部103によりグランド電位固定用第1及び第2のスイッチ12a,12bが閉成されて、バッファアンプ1の非反転入力端子及び積分器2の非反転入力端子がグランド電位(アース電位)に固定されることとなる。すなわち、積分・比較部102の入力がグランド電位に固定されることとなる。
さらに、このとき、計数・制御部103により充電用第1及び第2のスイッチ10a,10bが閉成されて、基準電源11が基準電圧用コンデンサ7と接続されて、基準電圧用コンデンサ7が逆積分用基準電圧Vrefまで充電されることとなる。
このゼロ積分期間においては、積分器2の出力電圧はゼロとなり、第1の比較器13、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15の出力は、共に論理値Highに対応した状態となる(図2(A)〜図2(D)におけるゼロ積分期間参照)。なお、極性切替用第1乃至第4のスイッチ8a〜8dは、このゼロ積分期間及び次述する入力積分期間を通していずれも開成状態とされるようになっている。
【0028】
基準電圧用コンデンサ7の充電が完了する所定時間が経過すると、次に入力積分期間となり、計数・制御部103によりグランド電位固定用第1及び第2のスイッチ12a,12bが開成される一方、入力切替用第1及び第2のスイッチ4a,4bが閉成されて、アッテネータ入力部101を介してアナログ入力電圧が積分・比較部102へ印加されることとなる。
アッテネータ入力部101の出力端子5a,5b間におけるアナログ入力電圧Vxは、バッファアンプ1及び積分抵抗器3を介して積分器2へ印加されて、一定時間の間、積分コンデンサ6の充電が開始されることとなる(図2(A)の入力積分期間参照)。例えば、ここで、アナログ入力電圧Vxが100mVであると仮定した場合、積分器2の出力電圧は、負側へ直線的に変化してゆき所定の電圧へ達することとなる(図2(A)の入力積分期間においてE(100)と表記された実線特性線参照)。なお、図2において、符号イの実線矢印は、アナログ入力電圧Vxが負極性の場合の積分器2の出力振幅方向を示し、また、符号ロの実線矢印は、アナログ入力電圧Vxが正極性の場合の積分器2の出力振幅方向を示すものである。
積分器2の出力電圧は、上述のように入力積分期間の開始と共に負側へ変化してゆくため、第1の比較器13、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15の出力電圧の極性は、入力積分期間の開始と同時にそれまでの論理値Highに対応する電位から論理値Lowに対応する電位へ反転することとなる(図2(B)乃至図2(D)参照)。
【0029】
一定の入力積分期間が経過すると、計数・制御部103により入力切替用第1及び第2のスイッチ4a,4bが開成されて、アッテネータ入力部101が積分・比較部102から切り離される一方、グランド電位固定用第2のスイッチ12bが閉成されて、積分器2の非反転入力端子がグランド電位に固定されることとなり、逆積分期間が開始される。
次いで、計数・制御部103によりアナログ入力電圧の極性に応じて極性切替用第1及び第3のスイッチ8a,8c又は極性切替用第2及び第4のスイッチ8b,8dのいずれか一方が閉成されることとなる。すなわち、アナログ入力電圧Vxが100mVである場合、積分器2の出力電圧は先に述べたように負極性となるので、これと反対極性で逆積分用基準電圧Vrefが印加されるように、極性切替用第1及び第3のスイッチ8a,8cが計数・制御部103により閉成状態とされることとなる。したがって、基準電圧用コンデンサ7は、正極側(充電用第1のスイッチ10aの一端が接続された側)が、極性切替用第1のスイッチ8a及びグランド電位固定用第2のスイッチ12bを介してアースに接続される一方、負極側(充電用第2のスイッチ10bの一端が接続された側)は、極性切替用第3のスイッチ8cを介してバッファアンプ1の非反転入力端子へ接続されることとなる。また、逆積分期間の開始と共に、計数・制御部103においては、時間の経過が計数されることとなる。
その結果、積分器2には、負の逆積分用基準電圧−Vrefが印加されて逆積分が開始されて、出力電圧はグランド電位へ向かってゆくこととなる(図2(A)の逆積分期間においてE(100)と表記された実線特性線参照)。
【0030】
そして、積分器2の出力電圧がグランド電位に達したところで、第1の比較器13の出力VAは、論理値Low(換言すれば所定の負電圧)から論理値High(換言ずれば所定の正電圧)へ反転し(図2(B)の逆積分期間の略中央付近参照)、これが計数・制御部103において逆積分期間の正常な終了と判定されて、この逆積分期間の時間(図2(A)においてt(100)と表記された区間の時間)の計数動作が終了され、その計数値がアナログ入力電圧のディジタル値として計数・制御部103から外部へ出力されることとなる。
【0031】
次に、例えば、アナログ入力電圧VxがこのA/D変換装置の最小測定レンジにおいて測定可能な最大値である200mVの場合の動作について説明すれば、まず、ゼロ積分期間は、上述したアナログ入力電圧Vxが100mVの場合と同様であるので、その説明を省略する。
ゼロ積分期間が終了すると、上述の例の場合と同様に入力積分期間が開始されることとなる。なお、ゼロ積分期間から入力積分期間へ移行する際の計数・制御部103による各々のスイッチの開閉成も基本的に上述の例と変わるところがないので、ここでの詳細な説明は省略することとする。
入力積分期間の開始と共に積分器2の出力電圧は、負極側へ直線的に変化してゆき、アナログ入力電圧Vxが印加された場合の積分器2の負極側の最大振幅電圧−Emaxへ達することとなる(図2(A)の入力積分期間においてE(200)と表記された実線特性線参照)。
ここで、積分器2の最大振幅電圧は、負側が−Emax、正側が+Emaxであり、これは、積分器2の電源電圧Vよりは低い値である。そして、このEmaxの大きさは、逆積分期間の時間と計数・制御部103における計数動作との関係から所定値に設定されるものである。すなわち、具体的には、後述するように図2(A)においてt(200)と表記された逆積分期間で正常に逆積分でき、計数・制御部103においてその逆積分期間に対応した正常な計数値を得ることのできる積分器2の出力電圧の最大値として定められるものである。
【0032】
積分器2の出力電圧が−Emaxに達したところで、入力積分期間が終了し、逆積分期間が開始されることとなる。なお、この入力積分期間から逆積分期間へ移行する際の計数・制御部103による各々のスイッチの開閉成も基本的に先のアナログ入力電圧Vxが100mVの例と変わるところがないので、ここでの詳細な説明は省略することとする。
逆積分期間の開始により、積分器2の出力電圧は、先の−Emaxからグランド電位へ向かって直線的に変化してゆくこととなる(図2(A)の逆積分期間においてE(200)と表記された実線特性線参照)。
そして、積分器2の出力電圧がグランド電位に達したところで、第1の比較器13の出力は、論理値Low(換言すれば所定の負電圧)から論理値High(換言すれば所定の正電圧)へ反転し、これが計数・制御部103において逆積分期間の終了と判定されて、この逆積分期間の時間(図2(A)においてt(200)と表記された区間の時間)の計数動作が終了され、その計数値がアナログ入力電圧のディジタル値として計数・制御部103から外部へ出力されることとなる。
【0033】
次に、積分器2の出力電圧が、最大振幅電圧−Emax又は+Emax越えることとなるようなアナログ入力電圧Vxが印加された場合、より具体的には、例えば、Vx=210mVの場合について説明する。なお、先の場合と同様に、計数・制御部103による各々のスイッチの開閉成については、基本的に変わるところがないので、ここでの詳細な説明は省略することとする。
ゼロ積分期間が終了し、入力積分期間が開始されると、積分器2の出力電圧は、負極側で直線的に変化してゆき(図2(A)の入力積分期間においてE(210)と表記された実線特性線参照)、先の−Emaxを越えて、入力積分期間内で到達し得る電圧まで達することとなる(なお、その際、積分器2の電源電圧は未だ越えないものとする)。
【0034】
ここで、仮に、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15がないとすると、入力積分期間において上述のように、積分器2の出力電圧がその最大振幅電圧を超えることとなっても、従来装置同様に第1の比較器13の出力電圧の極性は何ら変化することなく、逆積分期間へ移り、逆積分が開始されることとなる。しかし、この例の場合、入力積分期間の終了時における積分器2の出力電圧は、負側の最大振幅電圧−Emaxを越えるものであるため、逆積分期間においては逆積分が完了することなく、すなわち、換言すれば、第1の比較器13の出力電圧の極性は変化することなく逆積分期間が終了することとなる(図2(A)の逆積分期間においてE(210)と表記された実線特性線参照)。そして、計数・制御部103は、この逆積分期間の終了時までに第1の比較器13の出力電圧の極性変化のないことから入力電圧が測定レンジを越えており、いわゆるオーバーフロー状態であると判定して、アッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替え(測定レンジの切り替え)が行われることとなる。
【0035】
ところが、本発明においては、第1及び第2のレンジ切替判定用比較器14,15が設けられているために、入力積分期間において、積分器2の出力電圧が最大振幅電圧−Emaxを越え、さらに、第1のレンジ切替判定用比較器14の非反転入力端子に印加されているレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefを越えた際には、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧VBの極性が、それまでの論理値Lowの状態から論理値Highの状態へ反転することとなる(図2(F)参照)。換言すれば、第1のレンジ切替判定用比較器14は、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefを越えたことに対応する第1の切替判定信号を出力することとなる。
なお、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第2の基準電圧Emrefを越えた場合には、第2のレンジ切替判定用比較器15の出力電圧VBの極性が、それまでの論理値Lowの状態から論理値Highの状態へ反転することとなる。換言すれば、第2のレンジ切替判定用比較器15は、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第2の基準電圧Emrefを越えたことに対応する第2の切替判定信号を出力することとなる。
【0036】
ここで、第1のレンジ切替判定用比較器14のレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefは、積分器2の最大振幅電圧−Emaxより若干低い電圧、すなわち、−Emref=−Emax−αの関係となるように設定された値であり、第2のレンジ切替判定用比較器15のレンジ切替判定用第2の基準電圧Emrefは、積分器2の最大振幅電圧Emaxより若干大きな電圧、すなわち、Emref=Emax+αの関係となるように設定された値である。
計数・制御部103においては、この第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧の極性変化により、入力電圧が測定レンジを越えており、いわゆるオーバーフロー状態であると判定され、逆積分期間を経ることなく、アッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替え(測定レンジの切り替え)が行われることとなる。アッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替え、換言すれば、入力電圧の降圧は、例えば、200mV、2V、20V・・・の如くに、予め設定された降圧比で行われるようになっている。
【0037】
そして、アッテネータの切り替えが行われると同時にゼロ積分期間開始され、新たな測定レンジにおいて、再び測定が開始されることとなる。
例えば、このアッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替えにより、次に設定される測定レンジにおける測定可能な最大アナログ入力電圧Vxが2Vであると仮定すると、先の例に挙げた210mVのアナログ入力電圧Vxは、この測定レンジを越えないものであるため、この測定レンジにおいて測定可能となる。すなわち、この場合には、入力積分期間中に、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧の極性が変化することはなく、逆積分期間へ移行し、正常に逆積分されて第1の比較器13の出力電圧が論理値Lowの状態から論理値Highの状態へ反転したところで、逆積分期間の終了とされ、計数・制御部103からその逆積分期間の時間に対応する(換言すれば、アナログ入力電圧210mVに対応する)計数値が出力されることとなる。
【0038】
次に、図1に示された構成において、変換速度が2回/秒(なお、ここで、ゼロ積分期間の開始から逆積分期間の終了までを1回の変換とする)、アッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替えにより、測定レンジが200mV、2V、20V、2000Vと切り替え可能であるとして、+300Vを測定した場合におけるこのA/D変換装置の動作について図3を参照しつつ説明する。
測定開始においては、200mVの測定レンジに設定されているとして、測定が開始されると、先に述べたように、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emmaxを越えることとなるので、越えた時点において第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧の論理値Lowから論理値Highへの極性の変化が生じ(図3(A)乃至同図(C)参照)、それが計数・制御部103により検出されて、計数・制御部103の制御によりアッテネータ入力部101におけるアッテネータの切り替えが行われて、測定レンジが一つ上の測定レンジである2Vへ切り替えられることとなる。
【0039】
そして、この2Vの測定レンジにおいても、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emmaxを越えるため、入力積分期間終了後、逆積分期間となることなく、上述と同様にして測定レンジの切り替えが行われて20Vの測定レンジにおいてゼロ積分期間が開始されることとなる。以下、同様にして200V、2000Vと測定レンジが切り替えられてゆくこととなる(図3(A)乃至同図(C)参照)。そして、2000Vの測定レンジにおいては、積分器2の出力電圧は、レンジ切替判定用第1の基準電圧−Emmaxを越えることはなく、したがって、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧の極性変化は生じず(図3(A)及び図3(C)参照)、入力積分期間に続いて逆積分期間が開始されることとなる。逆積分期間では、正常に逆積分が行われ、積分器2の出力電圧がグランド電位を過ぎった時点で第1の比較器13の出力電圧の極性が論理値Lowの状態から論理値Highの状態へ反転し(図3(A)及び図3(B)参照)、これにより計数・制御部103において逆積分期間の終了と判定されて、この逆積分期間の時間に対応する計数値がアナログ入力電圧のディジタル値として計数・制御部103から外部へ出力されることとなる。結局、従来装置であれば、同様な測定条件下で正常な測定結果が得られるまでに約2.5秒もの時間を要したのに対して、本発明の実施の形態におけるA/D変換装置においては、その半分以下の約1秒で+300Vのアナログ入力電圧に対する測定結果が得られることとなる。
【0040】
次に、第2の構成例について図1及び図4を参照しつつ説明する。
この第2の構成例におけるいわゆるそのハードウェア構成は、後述するように計数・制御部103Aの動作が、先の第1の構成例における計数・制御部103と異なる点を除けば、図1に示されたものと基本的に変わることろはないものであるので、以下の説明においては適宜図1を参照することとする。なお、図1においては、第1の構成例における計数・制御部103の符号の脇に、この第2の構成例における計数・制御部103Aの符号を括弧で囲んで併記している。
。以下、この第2の構成例におけるA/D変換装置について、先の第1の構成例と異なる点を中心に説明することとする。
【0041】
まず、この第2の構成例におけるA/D変換装置の具体的な動作条件としては、先の第1の構成例の場合と同様に、最も小さな測定レンジ、換言すれば、アッテネータ入力部101のアッテネータが最小値に設定された状態において、積分器2の最大出力は200mVであり、計数・制御部103Aによる計数値として2000カウントのディジタル値が得られるものであるとする。そして、測定開始において、測定レンジは初期状態、すなわち、最も小さな測定レンジ(200mV)に設定されているものとする。
アナログ入力電圧Vxが測定レンジ内にある場合の動作は、先の第1の構成例の場合と同様であり、図4(A)においては、アナログ入力電圧Vxが100mVの場合及びアナログ入力電圧Vxが200mVの場合の入力積分期間における積分器2のそれぞれの出力電圧の変化を示す特性線が示されている(図4(A)においてE(100)と表記された実線特性線及びE(200)と表記された実線特性線参照)。
【0042】
次に、測定レンジを越える過大なアナログ入力電圧Vxが印加された場合、例えば、200mVの測定レンジにおいて2.5Vが印加された場合、入力積分期間が開始されると、積分器2の出力電圧は急激に負側へ低下してゆき、先の正常なアナログ入力電圧の場合に比して、入力積分期間の開始時から極短い時間で、レンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefを越えることとなる(図4(A)においてE(2500)と表記された実線特性線参照)。そして、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第2の基準電圧−Emrefを越えると同時に、第1のレンジ切替判定用比較器14の極性が、それまでの論理値Lowの状態から論理値Highの状態へ反転することとなる(図4(C)参照)のは、第1の構成例と同様である。
計数・制御部103Aにおいては、入力積分期間の開始時から積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefを越えるまでの時間(アナログ入力電圧Vxが負極性の場合には、入力積分期間の開始時から積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第2の基準電圧Emrefを越えるまでの時間)が計数され、その計数結果に応じて適切な測定レンジへの切り替えが行われることとなる。なお、図4においては、入力積分期間の開始時から積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emrefを越えるまでの時間が、Tint(2500)と表記されている。
【0043】
すなわち、まず、積分器2の出力電圧Eoは、従来技術で説明した式1のようにEo=−1/(CR)∫Vx・dtoと表されることは、公知・周知の通りである。ここで、Cは、積分コンデンサ6の容量値であり、Rは、積分抵抗器3の抵抗値であり、toは、入力積分時間である。
入力積分期間の開始時から積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emref(又は、レンジ切替判定用第2の基準電圧Emref)を越えるまでの時間をtint(Vx)とし、上述の式1を用いてアナログ入力電圧Vxが過大入力の場合のそのVxの大きさを表すと下記する式4の如くに表される。
【0044】
Vx=(to/tint(Vx))×Vfs・・・式4
【0045】
ここで、toは、通常の積分時間(入力積分期間)であり、Vfsは、積分器2のフルスケール値であり、先の第1の構成例において定義した積分器2の正極側の最大振幅電圧Emaxと同意義のもので、この例においては、200mVである。
この式4において、to及びVfsは、具体的な装置においては、既知の値であるので、計数・制御部103Aにおいては定数として扱うことができ、tint(Vx)が計数されれば、式4に基づいて、その計数結果と定数との乗算によりアナログ入力電圧Vxの大凡の値が算出されることとなる。
【0046】
そして、計数・制御部103Aにおいては、この算出されたアナログ入力電圧Vxに適する測定レンジが選択されて、アッテネータ入力部101へ対して選択された測定レンジとなるように計数・制御部103Aによるアッテネータの切り替え制御が行われるようになっている。この測定レンジの選択は、現実的には、to/tint(Vx)の比が計数・制御部103Aにおいて論理演算され、その算出結果に応じて行われるようになっている。
すなわち、まず、この第2の構成例においては、測定レンジが200mV、2V、20V、200V、2000Vとあるものとする。
そして、200mVの測定レンジにおいて、to/tint(Vx)が算出され、その算出値が、例えば、0.1<to/tint(Vx)<0.99の範囲内にあると判定された場合、換言すれば、tint(Vx)/toが1を越えて10倍未満であると判定された場合、一つ上の測定レンジ、すなわち、2Vの測定レンジへ切り替えを行うべく計数・制御部103Aからアッテネータ入力部101に対してアッテネータ切り替えのための制御信号が出力されるようにすればよい。また、to/tint(Vx)の値が0.01<to/tint(Vx)≦0.1の範囲内であると判定された場合、換言すれば、tint(Vx)/toが10倍以上で100倍未満と判定された場合には、2つ上の測定レンジ、すなわち、20Vの測定レンジへ切り替えを行うべく計数・制御部103Aからアッテネータ入力部101に対してアッテネータ切り替えのための制御信号が出力されるようにすればよい。
以下、同様にして、to/tint(Vx)の値に応じて、その値に適した測定レンジへ直接切り替えがなされるようになっている。
なお、先に述べたようにアナログ入力電圧Vxが2.5Vの場合、tint(Vx)の値は、大凡0.08×toとなり、計数・制御部103Aにおいて、to/tint(Vx)の値が0.01<to/tint(Vx)≦0.1の範囲内であると判定されるため、測定レンジは、上述のようにして20Vに切り替えられることとなる。
【0047】
次に、第3の構成例について、図5及び図6を参照しつつ説明する。
この第3の構成例は、先の第2の構成例が、積分器2の出力電圧がレンジ切替判定用第1の基準電圧−Emmax又はレンジ切替判定用第2の基準電圧Emmaxを越えるまでの時間tint(Vx)と通常の積分時間toとの比を論理演算により算出し、その算出結果に応じてレンジ切り替えを行うようにしたものであるのに対して、このような比の算出を回路上で行うことなく予め求めておき、入力積分期間の開始時から第1又は第2のレンジ切替判定用比較器14,15から第1又は第2のレンジ切替判定信号が出力されるまでの経過時間の計数値に対応させてレンジ切り替えを行うようにしたものである。
すなわち、まず、この第3の構成例は、先の第2の構成例における計数・制御部103Aの機能を次述するように代えることによって実現できるもので、図5には、特に、その主要部の回路構成例が示されている。なお、先の図1に示された構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明は省略し、以下、異なる点を中心に説明する。
【0048】
図5においては、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力信号に基づいてレンジ切替を行う場合のこの第3の構成例における計数・制御部103Bの主要部の構成が示されているが、第2のレンジ切替判定用比較器15についても同様の構成であるので、ここではその図示を省略してある。
第1のレンジ切替判定用比較器14の出力端子には、レベルシフタ41が接続されており、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力電圧が、後段の論理回路に適するものに変換されるようになっている。例えば、第1のレンジ切替判定用比較器14の出力レベルが+3Vと−3Vである場合、レベルシフタ41は、これを0Vと3Vとに変換するように構成されてなる公知・周知のものである。
【0049】
このレベルシフタ41の出力端子は、3個の2入力AND回路42〜44の一方の入力端子に接続されたものとなっている。
一方、第1の2入力AND回路42の他方の入力端子は、主カウンタ(図5においては「Main Counter」と表記)45の第1の計数出力端子E001に、第2の2入力AND回路43の他方の入力端子は、主カウンタ45の第2の計数出力端子E01に、第3の2入力AND回路44の他方の入力端子は、主カウンタ45の第3の計数出力端子E1に、それぞれ接続されたものとなっている。
そして、第1乃至第3の2入力AND回路42〜44のそれぞれの出力信号は、レンジ制御ロジック46へ入力されるようになっている。
ここで、主カウンタ45は、入力積分期間の開始時から、第1のレンジ切替判定用比較器14から第1のレンジ切替判定信号が出力されるまでの時間を計数するだけでなく、入力積分が正常な場合の時間計数も行うためのものである。
【0050】
次に、上記構成における動作について、図6を参照しつつ説明する。
まず、主カウンタ45は、100カウントのカウンタから構成され、入力積分期間が開始されると計数動作を開始すると共に、その開始時からの経過時間が、予め設定された正常時の入力積分期間(積分器2の出力電圧が−Emax又は+Emaxを越えることがない場合における入力積分期間)を100カウントとした場合に、1カウントに相当する時点となるまでの間、第1の計数出力端子E001を論理値Highに対応するレベルとするようになっている(図6(A)及び図6(B)参照)。次いで、主カウンタ45は、この1カウントの時点が計数されると同時に第1の計数出力端子E001を論理値Highから論理値Lowの状態とすると同時に第2の計数出力端子E01を論理値Highに対応するレベルとし、この状態を、入力積分期間の開始からの経過時間が、予め設定された正常時の入力積分期間を100カウントとした場合に、10カウントに相当する時点となるまでの間保持するようになっている(図6(A)〜図6(C)参照)。そして、主カウンタ45は、入力積分期間の開始からの経過時間が10カウントに相当する時点となると同時に、第2の計数出力端子E01を論理値Lowに対応するレベルとすると共に、第3の出力端子E1を論理値Highに対応するレベルとするようになっている(図6(A)〜図6(D)参照)。
さらに、主カウンタ45は、入力積分期間の開始時からの経過時間が、予め設定された正常時の入力積分期間の終了時点となると同時に、第3の計数出力端子E1を論理値Lowに対応するレベルとするようになっている((図6(A)及び図6(D)参照))。
【0051】
かかる前提条件の下、例えば、主カウンタ45の第1の計数出力端子E001が論理値Highに対応するレベルとされている間、第1のレンジ切替判定用比較器14から第1の切替判定信号が出力されると、第1の2入力AND回路42からは、両方の信号の論理積がいわばレンジアップ信号(図5においては「UP3」と表記)として出力されることとなる。そして、レンジ制御ロジック46においては、第1の2入力AND回路42からのレンジアップ信号であることを受けて、予め定められたレンジ切り替えがなされるよう、アッテネータ入力部101へ制御信号を出力することとなる。例えば、この場合のA/D変換装置の具体的な構成が、第2の構成例で例示したように、測定レンジが200mV、2V、20V、200V、2000Vの切り替え可能なものであって、200mVの測定レンジにおいて、アナログ入力電圧Vxが25Vあった場合には、第1の2入力AND回路42からのレンジアップ信号UP3に基づいて、レンジ制御ロジックは、アッテネータ入力部101において3つ上のレンジ(200Vの測定レンジ)への切り替えが行われるようアッテネータ入力部101を制御することとなる。
【0052】
また、主カウンタ45の第2の計数出力端子E01が論理値Highに対応するレベルとされている間、第1のレンジ切替判定用比較器14から第1の切替判定信号が出力されると、第2の2入力AND回路43から、両方の信号の論理積がいわばレンジアップ信号(図5においては「UP2」と表記)として出力されることとなる。
したがって、上述したような具体的な構成例にあって、例えば、アナログ入力電圧Vxが2.5Vであった場合に、第2の2入力AND回路43からのレンジアップ信号UP2がレンジ制御ロジック46へ入力されることにより、レンジ制御ロジック46は、アッテネータ入力部101において2つ上のレンジ(20Vの測定レンジ)への切り替えが行われるようアッテネータ入力部101を制御することとなる。
そして、同様にして、第3の2入力AND回路44からレンジアップ信号(図5においては「UP1」と表記)が出力された場合には、レンジ制御ロジックにより、アッテネータ入力部101において1つ上のレンジ(2Vの測定レンジ)への切り替えが行われることとなる。
【0053】
なお、主カウンタ45からレンジ制御ロジック46に対して、先の第1の計数出力端子E001が論理値Highから論理値Low状態となる直前の所定期間、第2の計数出力端子E01が論理値Highから論理値Low状態となる直前の所定期間、第3の計数出力端子E1が論理値Highから論理値Low状態となる直前の所定期間のそれぞれにおいて、イネーブル(ENABLE)信号を出力させ(図6(E)参照)、このイネーブル信号が入力された間のみレンジ制御ロジック46が動作可能となるように構成しても良い。
【0054】
なお、上述した例においては、説明を簡便にして理解を容易にするために、主カウンタ45のカウンタ値が比較的少ない、すなわち、ビット数の少ない構成として説明した。先の構成例2においては、入力積分期間(基準となる積分時間)と積分器出力が第1または第2の基準電圧を超えるまでの計数値との比を得るためには、除算器等が必要になり、そのため、論理回路を構成するいわゆる論理素子も増えて回路規模は大きくなる。
そのような観点から、この第3の構成例と先の第2の構成例とを比較すると、除算器等が必要ないので、第3の構成例の方が先の第2の構成例に比して構成が容易となり、より安価な装置を提供できるという利点がある。
【0055】
【発明の効果】
以上、述べたように、本発明によれば、いわゆる二重積分型のA/D変換を行うよう構成されてなり、アナログ入力電圧に対する測定レンジの切り替え機能を有するA/D変換装置において、測定レンジがアナログ入力電圧の大きさに適したものでない場合に、二重積分の結果が出力されるまで待つことなく、レンジの切り替えが行われるように構成することにより、測定レンジの切り替えまでに要する時間が短縮化され、迅速に正常なA/D変換結果を得ることができるという効果を奏するものである。
また、入力電圧の積分の際の積分出力電圧がレンジ切替判定用基準電圧を越える場合には、積分開始からそれまでの時間に基づいて測定レンジが適切なレンジへ切り替えられるように構成することにより、測定レンジに対する入力電圧が過大な場合に、従来と異なり、複数回のレンジ切り替えを経ることなく、即座に適切なレンジで正しいA/D変換結果を得ることができるので、レンジ切り替えが最小限で済み、迅速なA/D変換結果を得ることができるという効果を奏するものである。特に、入力電圧の積分の際の積分出力電圧がレンジ切替判定用基準電圧を越えるまでの時間を、基準となる積分時間に対する比として、その比の値で適切なレンジへの切り替えが行われるよう構成することで、複数回の入力電圧の降圧を経ることなく、即座に適切な測定レンジに切り替えられ、測定レンジの切り替えをより迅速に行えるA/D変換装置を提供することができるという効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の構成を示す回路図である。
【図2】本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の第1の構成例の動作を説明するための主要部のタイミング図であり、図2(A)は、アナログ入力電圧が100mV、200mV及び210mVの場合のそれぞれの積分器の出力電圧変化の様子を示すタイミング図、図2(B)は、アナログ入力電圧が100mVの場合の第1の比較器の出力変化を示すタイミング図、図2(C)は、アナログ入力電圧が100mVの場合の第1のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図、図2(D)は、アナログ入力電圧が100mVの場合の第2のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図、図2(E)は、アナログ入力電圧が210mVの場合の第1の比較器の出力変化を示すタイミング図、図2(F)は、アナログ入力電圧が210mVの場合の第1のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図、図2(G)は、アナログ入力電圧が210mVの場合の第2のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図である。
【図3】本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の第1の構成例において、+300Vの測定を行った場合の測定レンジの切り替えを説明するための主要部のタイミング図であり、図3(A)は、積分器の出力電圧の変化を示すタイミング図、図3(B)は、第1の比較器の出力変化を示すタイミング図、図3(C)は、第1のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図である。
【図4】本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の第2の構成例の動作を説明するための主要部のタイミング図であり、図4(A)は、アナログ入力電圧が100mV、200mV及び2.5Vの場合のそれぞれの入力積分期間における積分器の出力電圧変化の様子を示すタイミング図、図4(B)は、第1の比較器の出力変化を示すタイミング図、図4(C)は、第1のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図、図4(D)は、第2のレンジ切替判定用比較器の出力変化を示すタイミング図である。
【図5】本発明の実施の形態におけるA/D変換装置の第3の構成例における計数・制御部の主要部の構成例を示す構成図である。
【図6】図5に示された回路構成における動作を説明するための主要部のタイミング図であり、図6(A)は、アナログ入力電圧が100mV、200mV及び2.5Vの場合のそれぞれの入力積分期間における積分器の出力電圧変化の様子を示すタイミング図、図6(B)は、図5に示された構成例における主カウンタの第1の計数出力端子E001における出力タイミングを示すタイミング図、図6(C)は、図5に示された構成例における主カウンタの第2の計数出力端子E01における出力タイミングを示すタイミング図、図6(D)は、図5に示された構成例における主カウンタの第3の計数出力端子E1における出力タイミングを示すタイミング図、図6(E)は、図5に示された構成例における主カウンタからのイネーブル信号の出力タイミングを示すタイミング図である。
【図7】従来の2重積分型A/D変換装置の構成例を示す構成図である。
【図8】図7に示された従来装置の動作を説明するための主要部のタイミング図であり、図8(A)は、図7に示された2重積分型A/D変換装置内の積分器の出力電圧の変化を示すタイミング図、図8(B)は、図7に示された2重積分型A/D変換装置内の比較器の出力変化を示すタイミング図である。
【符号の説明】
2…積分器
6…積分コンデンサ
7…基準電圧用コンデンサ
11…基準電源
13…第1の比較器
14…第1のレンジ切替判定用比較器
15…第2のレンジ切替判定用比較器
51…積分回路
52…比較回路
101…アッテネータ入力部
102…積分・比較部
103…計数・制御部(第1の構成例)
103A…計数・制御部(第2の構成例)[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an integrating A / D converter, and more particularly, to an apparatus that speeds up range switching with respect to an input voltage.
[0002]
[Prior art]
There are various types of analog / digital conversion (A / D conversion). For example, FIG. 7 shows an A / D using a known and known conversion method called integral type A / D conversion. A configuration example of the conversion device is shown.
Hereinafter, this conventional apparatus will be described generally with reference to FIG.
First, this conventional integration type A / D conversion apparatus is roughly divided into an
In the integral A / D converter having such a configuration, the conversion operation in which an analog signal value input from the outside to the
That is, first, in the zero integration period, the counting /
[0003]
Next, an input integration period is entered, and the
[0004]
Eo =-{1 / (CR)} ∫Vx · dto...
[0005]
This
When the above-described input integration period ends, the process proceeds to the reverse integration period, and the voltage integrated during the input integration period is reverse-integrated by the reverse integration reference voltage Vref. That is, first, the
[0006]
By connecting the
Then, by measuring the time required for this inverse integration period, the analog input voltage value can be converted into time. In other words, the analog input voltage value can be converted into a digital value. Here, the reverse integration reference voltage charged in the
[0007]
Eox =-{1 / (CR)} ∫Vref · dtx... Formula 2
[0008]
From the
Here, assuming that the maximum value of the analog input voltage Vx is Vxmax, the maximum output voltage Eomax of the
[0009]
Eomax =-{1 / (CR)} ∫Vxmax · dto... Formula 3
[0010]
By the way, in this type of integral A / D converter, the maximum measurement range (full scale value) is usually adjusted by the maximum value Vxmax of the analog input voltage. Therefore, when the output voltage Eo of the
Therefore, if the analog input voltage Vx exceeds the measurable range, in other words, the inverse integration time tx (max)In this case, the count /
[0011]
In an A / D conversion device used for a so-called digital tester or the like, the conversion speed is generally about 2 times / second to 4 times / second, and the attenuator is switched outside the A / D conversion device for a wider range. There are many things that can be measured. For example, even if the measurable range of the A / D converter itself without an attenuator is 200 mV, the measurement range as a digital voltmeter can be reduced from the 200 mV range by an attenuator provided outside the A / D converter. Examples include a configuration in which the measurement range of 5 ranges up to 2000 V can be switched.
FIG. 8 shows a timing chart showing an example of conversion by the integral type A / D converter having such a configuration. Hereinafter, the conversion example will be described with reference to FIG. To do. First, in the conversion example shown in FIG. 8, the conversion speed in the integrating A / D converter is 2 times / second, the measurement range is set to 200 mV in the initial state, and a voltage of +300 V is measured. In this case, the timing of the main part is shown.
[0012]
That is, first, in the 200 mV range in the initial state, the output voltage Eo of the integrator A202 in the input integration period is represented by the
Even in the measurement range of 2 V, the input voltage is still excessive, so that the A / D conversion result overflows as in the case of 200 mV described above, and the measurement range is switched. Similarly, the measurement range is sequentially switched to 20 V, 200 V, and 2000 V (see FIGS. 8A and 8B).
When the voltage is switched to the 2000 V range, the input voltage is in a convertible range, and the conversion operation is normally performed (see FIGS. 8A and 8B). Eventually, in this example, it takes 2.5 seconds to properly convert the A / D from the initial measurement range.
[0013]
[Problems to be solved by the invention]
As described above, in the integration type A / D converter having the conventional so-called range switching function for the input voltage, even if the analog input voltage causes an A / D conversion overflow, the back integration is performed to the end. Since the polarity of the output signal of the
In addition, since the conventional apparatus is configured to sequentially switch the measurement ranges one by one, the measurement range at the start of measurement and the original measurement range that should be set according to the magnitude of the analog input voltage If there is a large gap between the two, a plurality of conversions must be performed before an accurate A / D conversion result is obtained, and there is a problem that rapid measurement cannot be performed.
[0014]
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an A / D conversion device that requires only a short measurement range switching time for an analog input voltage and can quickly obtain an A / D conversion result. is there.
Another object of the present invention is to switch to a measurement range corresponding to the magnitude of the input voltage without going through a plurality of measurement ranges when the measurement range for the analog input voltage is not appropriate for the input voltage. An object of the present invention is to provide an A / D conversion device that can be used.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object of the present invention, an A / D conversion device according to the present invention includes:
An attenuator input unit for stepping down the input voltage according to external control;
In accordance with control from the outside, after integrating the output voltage of the attenuator input unit, an integration circuit configured to perform reverse integration in which the integration output is set to zero by application of a reference voltage for reverse integration; and
A comparison circuit for determining the output voltage of the integration circuit;
Controls the operation of the attenuator input unit and the operation of the integration circuit according to the output result of the comparison circuit, and the time from the start of reverse integration in the integration circuit until the normal end of the reverse integration is determined. An A / D converter comprising: a counting / control unit configured to count progress;
The comparison circuit determines whether or not an output voltage during integration in the integration circuit exceeds a reference voltage for range switching determination, and outputs a signal according to the determination result, while the integration circuit performs reverse integration in the integration circuit. Determine whether the output voltage of the integration circuit has become zero, output a signal according to the determination result,
The counting / control unit determines that the reverse integration is normally completed when a signal corresponding to a determination result indicating that the output voltage of the integration circuit has become zero by the inverse integration in the integration circuit is output from the comparison circuit. While
The time elapsed from the start of integration in the integration circuit until the output of the signal corresponding to the determination result that the output voltage during integration in the integration circuit exceeds the reference voltage for range switching determination from the comparison circuit. Counting and when the counting result is obtained, the attenuator input unit is controlled so that the input voltage at the attenuator input unit is stepped down to a magnitude corresponding to the counting result.It is comprised as follows.
[0016]
In such a configuration, when it is determined by the comparison circuit that the output voltage of the integrating circuit during integration exceeds the reference voltage for range switching determination, unlike the conventional case, the input voltage at the attenuator input unit without performing reverse integration. Therefore, the time required for switching the so-called measurement range for the analog input voltage is shortened, and the A / D conversion result can be obtained quickly. Is.
In the above configuration, for example, the comparison circuit determines whether the output voltage during integration in the integration circuit exceeds the first reference voltage for negative range switching determination or the second reference voltage for positive range switching determination. It is also suitable to be configured to determine.
[0017]
In the above configuration, the counting / control unit is
While determining from the comparison circuit that the output corresponding to the determination result that the output voltage of the integration circuit has become zero by the inverse integration in the integration circuit is output, the reverse integration is normally terminated.
The time elapsed from the start of integration in the integration circuit until the output of the signal corresponding to the determination result that the output voltage during integration in the integration circuit exceeds the reference voltage for range switching determination from the comparison circuit. When the counting result is obtained, the attenuator input unit is controlled so that the input voltage at the attenuator input unit is stepped down to a magnitude corresponding to the ratio of the counting result to a reference integration time. It is suitable also as what is comprised in this way.
[0018]
In such a configuration, when the comparison circuit determines that the output voltage of the integration circuit during integration exceeds the reference voltage for range switching determination, the input voltage at the attenuator input unit is counted without performing back integration.・ Because it is stepped down to a magnitude according to the time from the start of integration until the previous judgment occurs under the control of the control unit, unlike the conventional case, it is instantly an appropriate magnitude without going through multiple steps of stepping down the input voltage. Thus, an A / D conversion result can be obtained quickly.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
The members and arrangements described below do not limit the present invention and can be variously modified within the scope of the gist of the present invention.
First, a first configuration example in the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
First, the configuration of the A / D conversion device in the first configuration example will be described. This A / D conversion device is largely divided into an
The
[0020]
The integration /
The integrating
[0021]
On the other hand, the inverting input terminal of the integrator 2 is connected to the
The integrator 2 has an integration capacitor 6 connected between its inverting input terminal and output terminal, while a reference voltage capacitor 7 for holding a reverse integration reference voltage Vref is described below. It is configured to be connected to.
[0022]
That is, first, the polarity switching first to
[0023]
Further, one end of the reference voltage capacitor 7 is connected to the positive side of the
Furthermore, one end of the first
[0024]
The
The inverting input terminal of the
The output signals V of the
[0025]
The counting /
As described above, the counting result of the reverse integration time output from the counting /
[0026]
Next, the operation in such a configuration will be described with reference to FIGS.
First, in the A / D converter according to the embodiment of the present invention, when the process of the conversion operation for the analog input voltage is viewed, the input voltage is appropriate unless the analog input voltage exceeds the measurement range as described later. When it is within the measurement range, the double integral type A / D conversion is basically performed as in the conventional apparatus. That is, the operation of the A / D converter according to the embodiment of the present invention can be described by being divided into a zero integration period, an input integration period, and a reverse integration period.
First, as a premise, this A / D conversion apparatus has a maximum output of 200 mV in the state where the attenuator of the
[0027]
Under this assumption, when the zero integration period is first started, the counting /
Further, at this time, the counting and
During this zero integration period, the output voltage of the integrator 2 becomes zero, and the outputs of the
[0028]
When a predetermined time for completing the charging of the reference voltage capacitor 7 elapses, an input integration period is reached, and the ground / potential fixing first and
The analog input voltage Vx between the
Since the output voltage of the integrator 2 changes to the negative side with the start of the input integration period as described above, the
[0029]
When a certain input integration period elapses, the counting /
Next, the counting /
As a result, the negative reverse integration reference voltage −Vref is applied to the integrator 2 to start the reverse integration, and the output voltage goes toward the ground potential (the reverse integration in FIG. 2A). (See the solid characteristic line labeled E (100) in the period).
[0030]
When the output voltage of the integrator 2 reaches the ground potential, the output V of the
[0031]
Next, for example, the operation when the analog input voltage Vx is 200 mV, which is the maximum value that can be measured in the minimum measurement range of the A / D converter, will be described. First, the zero integration period includes the analog input voltage described above. Since it is the same as the case where Vx is 100 mV, its description is omitted.
When the zero integration period ends, the input integration period starts as in the above example. Note that the opening / closing operation of each switch by the counting /
As the input integration period starts, the output voltage of the integrator 2 linearly changes to the negative side, and reaches the maximum amplitude voltage −Emax on the negative side of the integrator 2 when the analog input voltage Vx is applied. (Refer to the solid characteristic line labeled E (200) in the input integration period in FIG. 2A).
Here, the maximum amplitude voltage of the integrator 2 is −Emax on the negative side and + Emax on the positive side, which is lower than the power supply voltage V of the integrator 2. The magnitude of Emax is set to a predetermined value from the relationship between the time of the reverse integration period and the counting operation in the counting /
[0032]
When the output voltage of the integrator 2 reaches -Emax, the input integration period ends and the inverse integration period starts. Note that the switching operation of each switch by the counting /
By the start of the reverse integration period, the output voltage of the integrator 2 changes linearly from the previous −Emax toward the ground potential (E (200) in the reverse integration period of FIG. 2A). (See the solid characteristic line labeled).
When the output voltage of the integrator 2 reaches the ground potential, the output of the
[0033]
Next, when an analog input voltage Vx is applied so that the output voltage of the integrator 2 exceeds the maximum amplitude voltage −Emax or + Emax, for example, a case where Vx = 210 mV will be described. . As in the previous case, the opening / closing operation of each switch by the counting /
When the zero integration period ends and the input integration period starts, the output voltage of the integrator 2 changes linearly on the negative electrode side (E (210) in the input integration period in FIG. 2A). (Refer to the solid line characteristic line shown), the voltage that can be reached within the input integration period exceeds the previous -Emax (note that the power supply voltage of the integrator 2 has not yet exceeded) ).
[0034]
Here, if the first and second range switching
[0035]
However, in the present invention, since the first and second range switching
When the output voltage of the integrator 2 exceeds the second reference voltage Emref for range switching determination, the output voltage V of the second range switching determination comparator 15.BIs inverted from the previous logic value low state to the logic value high state. In other words, the second range switching
[0036]
Here, the first reference voltage −Emref for range switching determination of the first range switching
The counting /
[0037]
Then, simultaneously with the switching of the attenuator, the zero integration period is started, and the measurement is started again in the new measurement range.
For example, assuming that the maximum measurable analog input voltage Vx in the next set measurement range is 2 V by switching the attenuator in the
[0038]
Next, in the configuration shown in FIG. 1, the conversion rate is 2 times / second (here, the conversion from the start of the zero integration period to the end of the inverse integration period is one conversion), and the
At the start of measurement, assuming that the measurement range is set to 200 mV, when measurement is started, the output voltage of the integrator 2 exceeds the first reference voltage −Emmax for range switching determination as described above. Therefore, at the time of exceeding, the polarity change of the output voltage of the first range switching
[0039]
Also in this 2V measurement range, the output voltage of the integrator 2 exceeds the first reference voltage for range switching determination -Emmax. Therefore, after the input integration period ends, the reverse integration period does not occur and the same as described above. Thus, the measurement range is switched and the zero integration period is started in the measurement range of 20V. In the same manner, the measurement range is switched between 200 V and 2000 V in the same manner (see FIGS. 3A to 3C). In the measurement range of 2000 V, the output voltage of the integrator 2 does not exceed the first reference voltage −Emmax for range switching determination. Therefore, the output voltage of the first range switching
[0040]
Next, a second configuration example will be described with reference to FIGS.
The so-called hardware configuration in the second configuration example is shown in FIG. 1 except that the operation of the counting /
. Hereinafter, the A / D conversion device in the second configuration example will be described focusing on differences from the first configuration example.
[0041]
First, as a specific operation condition of the A / D conversion device in the second configuration example, as in the case of the first configuration example, the smallest measurement range, in other words, the
The operation when the analog input voltage Vx is within the measurement range is the same as in the case of the first configuration example. In FIG. 4A, the analog input voltage Vx is 100 mV and the analog input voltage Vx. A characteristic line indicating a change in the output voltage of each integrator 2 during the input integration period when the input voltage is 200 mV is shown (a solid line characteristic line denoted as E (100) in FIG. 4A and E (200 (See the solid characteristic line labeled)).
[0042]
Next, when an excessive analog input voltage Vx exceeding the measurement range is applied, for example, when 2.5 V is applied in the measurement range of 200 mV, when the input integration period starts, the output voltage of the integrator 2 Drops rapidly to the negative side and exceeds the first reference voltage −Emref for range switching determination in a very short time from the start of the input integration period compared to the case of the normal analog input voltage. (Refer to the solid characteristic line labeled E (2500) in FIG. 4A). Then, at the same time as the output voltage of the integrator 2 exceeds the second reference voltage -Emref for range switching determination, the polarity of the first range switching
In the counting /
[0043]
That is, first, the output voltage Eo of the integrator 2 is given by Eo = −1 / (CR) xVx · dt as shown in
The time from the start of the input integration period until the output voltage of the integrator 2 exceeds the first reference voltage for range switching determination −Emref (or the second reference voltage Emref for range switching determination) is t.int (Vx)When the analog input voltage Vx is an excessive input and the magnitude of Vx is expressed using the above-described
[0044]
Vx = (to/ Tint (Vx)) × Vfs... Formula 4
[0045]
Where toIs the normal integration time (input integration period) and VfsIs the full-scale value of the integrator 2 and has the same meaning as the maximum amplitude voltage Emax on the positive side of the integrator 2 defined in the first configuration example, and is 200 mV in this example.
In this equation 4, toAnd VfsIs a known value in a specific apparatus, and therefore can be treated as a constant in the counting /
[0046]
Then, in the counting /
That is, first, in the second configuration example, it is assumed that the measurement ranges are 200 mV, 2 V, 20 V, 200 V, and 2000 V.
And in the measurement range of 200 mV, to/ Tint (Vx)And the calculated value is, for example, 0.1 <to/ Tint (Vx)If it is determined that it is within the range of <0.99, in other words, tint (Vx)/ ToIs determined to be greater than 1 and less than 10 times, the attenuator switching is performed from the counting /
In the same manner, to/ Tint (Vx)Depending on the value of, the measurement range is switched directly to the measurement range suitable for that value.
As described above, when the analog input voltage Vx is 2.5 V, tint (Vx)The value of is approximately 0.08 × toIn the counting /
[0047]
Next, a third configuration example will be described with reference to FIGS.
This third configuration example is different from the second configuration example until the output voltage of the integrator 2 exceeds the first reference voltage −Emmax for range switching determination or the second reference voltage Emmax for range switching determination. Time tint (Vx)And normal integration time toThe ratio is calculated by a logical operation and the range is switched according to the calculation result. On the other hand, the ratio is calculated in advance without performing it on the circuit. Range switching is performed in correspondence with the count value of the elapsed time from the start of the integration period until the first or second range switching
That is, first, the third configuration example can be realized by replacing the function of the counting /
[0048]
In FIG. 5, the configuration of the main part of the counting / control unit 103B in the third configuration example in the case of performing range switching based on the output signal of the first range switching
The
[0049]
The output terminal of the
On the other hand, the other input terminal of the first two-input AND
The output signals of the first to third 2-input AND
Here, the
[0050]
Next, the operation in the above configuration will be described with reference to FIG.
First, the
Further, the
[0051]
Under such preconditions, for example, while the first count output terminal E001 of the
[0052]
Further, when the first switching determination signal is output from the first range switching
Therefore, in the specific configuration example as described above, for example, when the analog input voltage Vx is 2.5 V, the range up signal UP2 from the second 2-input AND
Similarly, when a range up signal (indicated as “UP1” in FIG. 5) is output from the third 2-input AND
[0053]
Note that the second counter output terminal E01 is set to the logic value High for a predetermined period immediately before the first counter output terminal E001 changes from the logic value High to the logic value Low state with respect to the
[0054]
In the above-described example, in order to simplify the explanation and facilitate understanding, the counter value of the
From such a point of view, when the third configuration example is compared with the previous second configuration example, a divider or the like is not necessary, and therefore the third configuration example is more in comparison with the previous second configuration example. Thus, there is an advantage that the configuration becomes easy and a cheaper device can be provided.
[0055]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in an A / D conversion apparatus configured to perform a so-called double integration type A / D conversion and having a function of switching a measurement range with respect to an analog input voltage, If the range is not suitable for the magnitude of the analog input voltage, it is necessary to switch the measurement range by configuring the range to be switched without waiting until the double integration result is output. The time is shortened, and a normal A / D conversion result can be obtained quickly.
In addition, if the integrated output voltage at the time of input voltage integration exceeds the reference voltage for range switching determination, the measurement range can be switched to an appropriate range based on the time from the start of integration to When the input voltage for the measurement range is excessive, unlike the conventional case, the correct A / D conversion result can be obtained immediately in the appropriate range without going through multiple range switching. This is advantageous in that a quick A / D conversion result can be obtained. In particular, the time until the integrated output voltage when the input voltage is integrated exceeds the reference voltage for range switching is set as a ratio to the reference integration time so that switching to an appropriate range is performed with the value of the ratio. By configuring, it is possible to provide an A / D conversion device that can be switched to an appropriate measurement range immediately without stepping down the input voltage multiple times and that can switch the measurement range more quickly. It is what you play.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an A / D conversion device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a timing diagram of a main part for explaining the operation of the first configuration example of the A / D converter according to the embodiment of the present invention. FIG. 2A shows an analog input voltage of 100 mV, FIG. 2B is a timing diagram showing changes in the output voltage of the first comparator when the analog input voltage is 100 mV, and FIG. 2B is a timing diagram showing changes in the output voltage of the respective integrators at 200 mV and 210 mV. 2 (C) is a timing chart showing an output change of the first range switching determination comparator when the analog input voltage is 100 mV, and FIG. 2 (D) is a second range when the analog input voltage is 100 mV. FIG. 2 (E) is a timing diagram showing the output change of the first comparator when the analog input voltage is 210 mV, and FIG. 2 (F) is an analog diagram. FIG. 2G is a timing chart showing the output change of the first range switching determination comparator when the force voltage is 210 mV, and FIG. 2G shows the output of the second range switching determination comparator when the analog input voltage is 210 mV. It is a timing diagram which shows a change.
FIG. 3 is a timing diagram of a main part for explaining switching of a measurement range when +300 V is measured in the first configuration example of the A / D converter according to the embodiment of the present invention. 3 (A) is a timing diagram showing the change in the output voltage of the integrator, FIG. 3 (B) is a timing diagram showing the change in the output of the first comparator, and FIG. 3 (C) is the first range switching. It is a timing diagram which shows the output change of the comparator for determination.
FIG. 4 is a timing diagram of the main part for explaining the operation of the second configuration example of the A / D converter according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 (A) shows an analog input voltage of 100 mV, FIG. 4B is a timing diagram showing how the output voltage of the integrator changes during the respective input integration periods in the case of 200 mV and 2.5 V. FIG. 4B is a timing diagram showing the output change of the first comparator. FIG. 4C is a timing diagram showing an output change of the first range switching determination comparator, and FIG. 4D is a timing diagram showing an output change of the second range switching determination comparator.
FIG. 5 is a configuration diagram showing a configuration example of a main part of a counting / control unit in a third configuration example of the A / D conversion device according to the embodiment of the present invention.
6 is a timing diagram of the main part for explaining the operation in the circuit configuration shown in FIG. 5, and FIG. 6 (A) shows the respective cases when the analog input voltage is 100 mV, 200 mV, and 2.5 V. FIG. FIG. 6B is a timing diagram showing the output voltage change of the integrator during the input integration period, and FIG. 6B is a timing diagram showing the output timing at the first count output terminal E001 of the main counter in the configuration example shown in FIG. 6C is a timing chart showing the output timing at the second count output terminal E01 of the main counter in the configuration example shown in FIG. 5, and FIG. 6D is the configuration example shown in FIG. FIG. 6E is a timing chart showing the output timing at the third count output terminal E1 of the main counter in FIG. 5, and FIG. 6E is an enable signal from the main counter in the configuration example shown in FIG. It is a timing diagram which shows the output timing.
FIG. 7 is a configuration diagram showing a configuration example of a conventional double integration type A / D conversion device.
8 is a timing chart of the main part for explaining the operation of the conventional apparatus shown in FIG. 7, and FIG. 8 (A) is a diagram in the double integral type A / D converter shown in FIG. 7; FIG. 8B is a timing chart showing the output change of the comparator in the double integration type A / D converter shown in FIG.
[Explanation of symbols]
2 ... integrator
6 ... Integral capacitor
7 ... Reference voltage capacitor
11 ... Reference power supply
13: First comparator
14 ... First range switching comparator
15 ... Second range switching comparator
51. Integration circuit
52. Comparison circuit
101 ... Attenuator input section
102: Integration / comparison unit
103 ... Counting / controlling unit (first configuration example)
103A ... Counting / controlling unit (second configuration example)
Claims (2)
外部からの制御に応じて、前記アッテネータ入力部の出力電圧の積分を行った後、その積分出力を逆積分用基準電圧の印加により零とする逆積分を行うよう構成されてなる積分回路と、
前記積分回路の出力電圧の判定を行う比較回路と、
前記比較回路の出力結果に応じて前記アッテネータ入力部の動作及び前記積分回路の動作を制御すると共に、前記積分回路における逆積分の開始時から当該逆積分の正常な終了と判定されるまでの時間経過を計数するよう構成されてなる計数・制御部と、を具備してなるA/D変換装置であって、
前記比較回路は、前記積分回路における積分中における出力電圧がレンジ切替判定用基準電圧を越えたか否かを判定し、その判定結果に応じた信号を出力する一方、前記積分回路における逆積分により前記積分回路の出力電圧が零となったか否かを判定し、その判定結果に応じた信号を出力し、
前記計数・制御部は、前記比較回路から前記積分回路における逆積分により前記積分回路の出力電圧が零となったとの判定結果に対応する信号が出力されたことをもって逆積分の正常な終了と判定する一方、
前記積分回路における積分開始の時点から、前記比較回路から前記積分回路における積分中における出力電圧が前記レンジ切替判定用基準電圧を越えたとの判定結果に対応する信号が出力されるまでの時間経過を計数し、当該計数結果が得られた場合に、前記アッテネータ入力部における入力電圧が、前記計数結果に応じた大きさに降圧されるよう前記アッテネータ入力部を制御するよう構成されてなることを特徴とするA/D変換装置。An attenuator input unit for stepping down the input voltage according to external control;
In accordance with control from the outside, after integrating the output voltage of the attenuator input unit, an integration circuit configured to perform reverse integration in which the integration output is set to zero by application of a reference voltage for reverse integration; and
A comparison circuit for determining the output voltage of the integration circuit;
Controls the operation of the attenuator input unit and the operation of the integration circuit according to the output result of the comparison circuit, and the time from the start of reverse integration in the integration circuit until the normal end of the reverse integration is determined. An A / D converter comprising: a counting / control unit configured to count progress;
The comparison circuit determines whether or not an output voltage during integration in the integration circuit exceeds a reference voltage for range switching determination, and outputs a signal according to the determination result, while the integration circuit performs reverse integration in the integration circuit. Determine whether the output voltage of the integration circuit has become zero, output a signal according to the determination result,
The counting / control unit determines that the reverse integration is normally completed when a signal corresponding to a determination result indicating that the output voltage of the integration circuit has become zero by the inverse integration in the integration circuit is output from the comparison circuit. While
The time elapsed from the start of integration in the integration circuit until the output of the signal corresponding to the determination result that the output voltage during integration in the integration circuit exceeds the reference voltage for range switching determination from the comparison circuit. When the counting result is obtained, the attenuator input unit is controlled so that the input voltage at the attenuator input unit is stepped down to a magnitude corresponding to the counting result. A / D conversion device.
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