JP4800867B2 - 測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、処理選択スイッチの切替え操作によって各種の処理を実行可能に構成された測定装置に関するものである。

この種の測定装置として、出願人は、ファンクションスイッチ（ロータリースイッチ）の切替え操作によって各種の測定処理を実行可能に構成された電気測定器を特開平８−３１３５６１号公報に開示している。この電気測定器では、Ｖレンジ、ｍＡレンジおよびＡレンジの３つの測定レンジのうちからファンクションスイッチの切替え操作によって選択された測定レンジによる測定処理を実行可能に構成されている。具体的には、ファンクションスイッチによってＯＦＦレンジが選択されている状態において、例えば、測定対象体の両端電圧を測定する際には、まず、ファンクションスイッチを時計回りに４５°回転させてＶレンジを選択する。次いで、端子に接続されたテストリードを測定対象体に接続する。これにより、テストリードを介して測定対象体の両端電圧が測定される。
特開平８−３１３５６１号公報（第３−４頁、第１−６図）

ところが、出願人が開示している電気測定器には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、この種の電気測定器では、ファンクションスイッチを回転させて複数の種類の処理のうちから所望の処理を選択してその処理を実行する構成が採用されている。この場合、出願人が開示している電気測定器では、上記のファンクションスイッチのほかには処理選択スイッチを備えていないため、この電気測定器に例えば自動省電力遷移処理等の付加的な処理を実行させる機能を持たせて、スイッチ操作によって付加的な処理を実行させようとした場合、測定レンジを選択するための上記のファンクションスイッチの他に、付加的な処理を実行させるための専用の操作スイッチを別途に配設する必要が生じる。このため、操作スイッチの別途配設に起因して、電気測定器の製造コストが高騰するおそれがある。また、ファンクションスイッチの他に操作スイッチを配設する場合、そのスイッチの分だけ測定装置の操作パネルが大形化するおそれもある。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、製造コストの高騰および装置の大形化を招くことなく、付加的な処理を実行し得る測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、予め規定されている複数種類の測定処理のうちから選択された１つの測定処理と、当該複数種類の測定処理とは別に予め規定された付加的な処理とを実行可能に構成された測定装置であって、ロータリースイッチまたはスライドスイッチで構成された処理選択スイッチを有する操作部と、前記処理選択スイッチの切替え操作によって前記複数種類の測定処理から選択された１つの測定処理を実行する制御部とを備え、前記制御部は、前記処理選択スイッチによる前記切替え操作が実行されてから予め規定された所定時間内に当該処理選択スイッチによる次の切替え操作が実行されたときに、当該次の切替え操作によって選択された前記１つの測定処理を実行すると共に、前記付加的な処理を実行する。

また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記付加的処理は、自動省電力遷移処理、コンパレータ処理，ゼロアジャスト処理および平均化処理のいずれか１つに予め規定されている。

請求項１記載の測定装置によれば、処理選択スイッチによる切替え操作が実行されてから予め規定された所定時間内に処理選択スイッチによる次の切替え操作が実行されたときに、制御部が次の切替え操作によって選択された測定処理と予め規定された付加的な処理とを実行することにより、予め規定された付加的な処理を実行させるための専用の操作スイッチを別途配設することなく、処理選択スイッチの切替え操作によって、選択した測定処理と、予め規定された付加的な処理とを実行することができる。したがって、製造コストの高騰および装置の大形化を招くことなく、所望の付加的な処理を実行し得る測定装置を提供することができる。

また、請求項２記載の測定装置によれば、自動省電力遷移処理、コンパレータ処理、ゼロアジャスト処理および平均化処理のいずれか１つを付加的処理として実行させることができる。

以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。

図１に示す測定装置１は、本発明に係る測定装置の一例であって、測定部２、制御部３、操作部４および表示部５を備え、後述するように、直流電圧測定レンジ、交流電圧測定レンジ、抵抗測定レンジおよび導通測定レンジの４つの測定レンジのうちから切替え操作によって選択された任意の１つの測定レンジに対応する測定処理を実行可能に構成されている。また、この測定装置１は、自動省電力遷移処理を実行可能に構成され、予め規定された所定時間（一例として、３分間）に亘って無操作状態が続いたときに、自動的に電源を遮断する。

測定部２は、Ａ／Ｄコンバータおよび演算部などを備え（図示せず）、制御部３の制御に従って入力信号についての電気的パラメータ（電流値や電圧値）を所定の周期でサンプリングしてサンプリングデータを生成すると共に、生成したサンプリングデータに基づいて測定値を演算する。制御部３は、測定装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部３は、測定装置１に電源が投入された状態において図３に示す測定処理１０を実行し、操作部４の切替え操作によって選択された測定レンジで測定部２に測定処理を実行させると共に、測定部２による測定結果（サンプリングデータに基づく演算値）を表示部５に表示させる。

また、制御部３は、２種類の内部タイマを備え、ロータリスイッチ４ａの切替え操作が行われたときには、例えば１秒を計測する内部タイマを作動させて次の切替え操作までの時間間隔を計測すると共に次の切替え操作が１秒以内に行われたときには、後述するように付加的な処理を実行する。また、制御部３は、ロータリスイッチ４ａの切替え操作が行われたときには、例えば３分を計測する内部タイマを作動させて次の切替え操作までの時間間隔を計測すると共に次の切替え操作が３分以内に行われないとき、つまり無操作状態が３分続いたときには、測定装置１の電源を遮断する。なお、この測定装置１では、電源投入直後においては、自動省電力遷移処理がオフに設定されており、所定の条件を満たす切替え操作が実行されたときに、制御部３が自動省電力遷移処理をオンに設定するように構成されている。

操作部４は、図２に示すように、測定装置１の操作パネルに配設されたロータリスイッチ４ａを備え、ロータリスイッチ４ａの切替え操作に応じた出力信号を制御部３に出力する。この場合、ロータリスイッチ４ａは、本発明における処理選択スイッチの一例であって、前述した４つの測定レンジのうちから任意の１つの測定レンジを切替え操作可能に構成されている。表示部５は、制御部３の制御下で測定部２による測定結果（演算結果）を数値表示する。

この測定装置１を用いて、例えば任意の２点間の導通の有無を測定する際には、まず、図２に示すように電源遮断（「ＯＦＦ」）を選択している状態のロータリスイッチ４ａを矢印Ａ１の向きに回転させることにより、最も右端に位置する「導通測定レンジ」を選択する（本発明における切替え操作の一例）。この際に、測定装置１に電源が投入されて、制御部３は、図３に示す測定処理１０を開始する。この測定処理１０では、制御部３は、測定部２を制御することにより、ロータリスイッチ４ａの切替え操作によって選択された測定レンジ（この例では、導通測定レンジ）の測定処理を実行させる（ステップ１１）。これにより、テストプローブ（図示せず）を接触させている任意の２点間の導通の有無が測定部２によって測定されると共に、その測定結果が表示部５に表示される。次いで、制御部３は、ロータリスイッチ４ａが操作されたか否かを監視する（ステップ１２）。

一方、抵抗値を測定する際には、ロータリスイッチ４ａを図２に示す矢印Ａ２の向きに回転させることにより、左隣に位置する「抵抗測定レンジ」を選択する（本発明における切替え操作の他の一例）。この際に、制御部３は、切替え操作が実行されたと判別し（ステップ１２）、ロータリスイッチ４ａの切替え操作によって選択された測定レンジ（この例では、抵抗測定レンジ）の測定処理を実行させる（ステップ１３）。これにより、テストプローブ（図示せず）を接触させている任意の２点間の抵抗値が測定部２によって測定されると共に、その測定結果が表示部５に表示される。また、制御部３は、切替え操作が実行された時点において、１秒を計測する内部タイマからの出力信号の有無に基づき、その直前の切替え操作（この例では、「導通測定レンジ」を選択した切替え操作）から１秒以内の切替え操作であるか否かを判別する（ステップ１４）。この際には、１秒を超える時間が経過した後の切替え操作であると判別して、制御部３は、ロータリスイッチ４ａが操作されたか否かを監視する（ステップ１２）。

この際に、自動省電力遷移処理をオンに設定したうえで、再び抵抗値の測定を実行する場合には、一例として、ロータリスイッチ４ａを矢印Ａ２の向きに回転させることによって例えば左隣に位置する「交流電圧測定レンジ」を選択した後に（本発明における切替え操作の一例）、１秒が経過する以前に、ロータリスイッチ４ａを矢印Ａ１の向きに回転させることによって右隣に位置する「抵抗測定レンジ」を再び選択する（本発明における所定時間内に実行される切替え操作の一例）。この際に、制御部３は、１秒を計測する内部タイマの出力信号を監視することで、切替え操作が実行されたと判別し（ステップ１２）、ロータリスイッチ４ａの切替え操作によって選択された測定レンジ（この例では、抵抗測定レンジ）の測定処理を実行させる（ステップ１３）。これにより、テストプローブ（図示せず）を接触させている任意の２点間の抵抗値が測定部２によって測定されると共に、その測定結果が表示部５に表示される。

また、制御部３は、上記のステップ１２で切替え操作が実行されたと判別した時点において、その直前の切替え操作（この例では、「交流電圧測定レンジ」を選択した切替え操作）から１秒以内に「抵抗測定レンジ」を選択する切替え操作が行われたと判別し（ステップ１４）、自動省電力遷移処理をオンに設定する（予め規定された付加的な処理の実行：ステップ１５）。この際に、制御部３は、３分を計測する内部タイマの出力信号を監視して、ロータリスイッチ４ａに対する無操作状態が３分間に亘って続いたと判別したときに、測定装置１の電源を遮断する。これにより、電源の浪費が回避される。

このように、この測定装置１によれば、所定の条件を満たす切替え操作が実行されたときに、制御部３が切替え操作によって選択された処理（測定処理）と予め規定された処理（自動省電力遷移処理）とを実行することにより、予め規定された処理を実行させるための専用の操作スイッチを別途配設することなく、処理選択スイッチ（この例では、ロータリスイッチ４ａ）の切替え操作によって、選択した測定処理と、予め規定された付加的な処理（この例では、自動省電力遷移処理）とを実行することができる。したがって、製造コストの高騰および装置の大形化を招くことなく、所望の付加的な処理を実行し得る測定装置を提供することができる。

また、この測定装置１によれば、所定の切替え操作が実行されてから予め規定された所定時間内（この例では、１秒以内）に次の切替え操作が実行されたときに、制御部３が次の切替え操作を本発明における所定の条件を満たす切替え操作として各処理を実行することにより、予め規定された処理を実行させる切替え操作を煩雑化させることなく、所定時間内に切替え操作を行うだけで、予め規定された付加的な処理を実行させることができる。

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、上記の測定装置１では、本発明における処理選択スイッチとして、測定レンジを切替え操作するためのロータリスイッチ４ａを備えているが、この処理選択スイッチはこれに限定されず、ロータリスイッチ４ａに代えて、スライドスイッチ（図示せず）で構成することができる。この場合、スライドスイッチを採用した構成では、スイッチのスライド位置に応じて本発明における測定処理に対応する測定レンジが選択され、上記のロータリスイッチ４ａの操作時と同様にして、例えば１秒以内に他の測定処理（測定レンジ）が選択されたときに自動省電力遷移処理等の付加的な処理を実行する。

さらに、本発明において実行する付加的な処理については、自動省電力遷移処理に限定されるものではなく、コンパレータ処理、ゼロアジャスト処理（表示残りをキャンセルして強制的にゼロを表示する処理）、および平均化処理等の各種の処理を切替え操作に応じて付加する構成を採用することができる。また、上記の測定装置１では、測定レンジを切替え操作するためのロータリスイッチ４ａの操作によって予め規定した付加的な処理（この例では、自動省電力遷移処理）を実行する構成を採用しているが、本発明における処理選択スイッチは、これに限定されず、例えば、電圧測定時や電流測定時における分解能を切り替える切替えスイッチを有する測定装置においては、この切替えスイッチの切替え操作によって付加的な処理を実行させるように構成することもできる。

測定装置１の構成を示すブロック図である。 測定装置１の正面図である。 測定処理１０のフローチャートである。

符号の説明

１ 測定装置
３ 制御部
４ 操作部
４ａ ロータリスイッチ
１０ 測定処理

Claims (2)

1. 予め規定されている複数種類の測定処理のうちから選択された１つの測定処理と、当該複数種類の測定処理とは別に予め規定された付加的な処理とを実行可能に構成された測定装置であって、
   ロータリースイッチまたはスライドスイッチで構成された処理選択スイッチを有する操作部と、前記処理選択スイッチの切替え操作によって前記複数種類の測定処理から選択された１つの測定処理を実行する制御部とを備え、
   前記制御部は、前記処理選択スイッチによる前記切替え操作が実行されてから予め規定された所定時間内に当該処理選択スイッチによる次の切替え操作が実行されたときに、当該次の切替え操作によって選択された前記１つの測定処理を実行すると共に、前記付加的な処理を実行する測定装置。
2. 前記付加的処理は、自動省電力遷移処理、コンパレータ処理、ゼロアジャスト処理および平均化処理のいずれか１つに予め規定されている請求項１記載の測定装置。

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