JP4827608B2 - Deposited film forming apparatus, deposited film forming method, and electrophotographic photoreceptor manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、被処理基体上に堆積膜、とりわけアモルファス状あるいは多結晶状等の非単結晶状の堆積膜を利用した光受容部材を形成するための堆積膜形成装置に関するものである。本発明は、特にプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法によって堆積膜を形成する堆積膜形成装置に関する。 The present invention relates to a deposited film forming apparatus for forming a photoreceptive member using a deposited film, particularly an amorphous or polycrystalline deposited film on a substrate to be processed. The present invention particularly relates to a deposited film forming apparatus for forming a deposited film by a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) method.
従来、アモルファス材料(本明細書では、以下、「アモルファス」は非単結晶であることを指す)で構成された半導体等用の堆積膜が提案され、その中のいくつかは実用に付されている。例えば水素およびハロゲン(例えばフッ素、塩素等)の少なくとも一方で補償されたアモルファスシリコン(以下、“a−Si”と略記す。)が光受容部材として用いられている。このような光受容部材は、例えば半導体デバイス、電子写真用感光体デバイス、画像入力用ラインセンサ、撮像デバイス、光起電力デバイス、その他各種エレクトロニクス素子、光学素子等に、素子部材として用いることができる。 Conventionally, a deposited film for a semiconductor or the like composed of an amorphous material (hereinafter referred to as “amorphous” refers to a non-single crystal) has been proposed, some of which have been put to practical use. Yes. For example, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as “a-Si”) compensated for at least one of hydrogen and halogen (for example, fluorine, chlorine, etc.) is used as the light receiving member. Such a light receiving member can be used as an element member in, for example, a semiconductor device, an electrophotographic photoreceptor device, an image input line sensor, an imaging device, a photovoltaic device, other various electronic elements, optical elements, and the like. .
この種の堆積膜を形成する際には、堆積膜の膜厚、膜特性の均一化が求められることが多い。そのために、原料ガスの供給方法を工夫したり、プラズマCVD法を用いる場合、プラズマを均一にする方策を採ったり、堆積膜が形成される被処理基体を回転させたりすることが有効であることが示されている。 In forming this kind of deposited film, it is often required to make the deposited film uniform in film thickness and film characteristics. Therefore, it is effective to devise a method for supplying a source gas or to use a plasma CVD method to take a uniform plasma or to rotate a substrate to be processed on which a deposited film is formed. It is shown.
また、原料ガスの供給手段および堆積膜形成用基板の配列と、排気方向を適切に規定し、原料ガスの利用効率の向上と、堆積膜の均一化を図った装置も提案されている(特許文献1参照)。 Also, an apparatus has been proposed in which the arrangement of the source gas supply means and the deposited film forming substrate and the exhaust direction are appropriately defined to improve the utilization efficiency of the source gas and make the deposited film uniform (patent). Reference 1).
また、電極を、原料ガスを吹き出す構成とし、原料ガス吹き出し口と排気口の方向を適切に規定して、膜厚分布の均一化を図った電子写真感光体製造装置も提案されている(特許文献2参照)。 There has also been proposed an electrophotographic photoreceptor manufacturing apparatus in which the electrode is configured to blow out source gas, the direction of the source gas outlet and the outlet is appropriately defined, and the film thickness distribution is made uniform (patent) Reference 2).
また、原料ガスの供給手段と、原料ガスを吹き出す電極の構成部品の材料と、被処理体の周辺近傍の吸い込み口のコンダクタンスを適切に規定して、プラズマ処理の均一化を図った装置も提案されている(特許文献3参照)。
従来、上記のような方策により堆積膜の均一化が図られてきた。しかし、近年、このような堆積膜を利用した装置の高機能化、例えば電子写真装置のデジタル化、カラー化に伴い、堆積膜の均一性が、従来以上に求められている。すなわち、例えば、電子写真プロセスを利用した近年の高画質カラー装置では、階調性が向上されているため、従来実用上の問題のなかった程度の、堆積膜の不均一性でも、形成画像に視覚可能なむらを生じさせる可能性が生じる。 Conventionally, the deposited film has been made uniform by the above-described measures. However, in recent years, the uniformity of the deposited film has been demanded more than ever with the enhancement of the function of the apparatus using such a deposited film, for example, the digitization and colorization of the electrophotographic apparatus. That is, for example, in recent high-quality color apparatuses using an electrophotographic process, the gradation is improved, so that even a non-uniformity of the deposited film, which has not been a practical problem in the past, can be displayed in the formed image. There is a possibility of causing visible unevenness.
この際、例えば電子写真感光体に見られるように、円筒状の堆積膜を形成する場合、その膜質の、長手方向での、さらなる均一性向上が求められている。これに関して、上述したような従来技術では、堆積膜形成装置における排気についての考慮が十分ではない。すなわち、ガスの排気速度を、堆積膜形成装置の長手方向で均一化すれば、プラズマ処理の均一性、特にガスの流れの均一性をさらに向上させることができることが期待される。 At this time, for example, when a cylindrical deposited film is formed as seen in an electrophotographic photosensitive member, further improvement in uniformity of the film quality in the longitudinal direction is required. In this regard, in the related art as described above, the exhaust gas in the deposited film forming apparatus is not sufficiently considered. That is, it is expected that the uniformity of the plasma processing, particularly the uniformity of the gas flow, can be further improved by making the gas exhaust speed uniform in the longitudinal direction of the deposited film forming apparatus.
また、堆積膜形成装置では、堆積膜形成時に粉状の副生成物が発生する。特に、電子写真用感光体のように比較的大面積で厚い堆積膜が要求される製品を製造する場合、副生成物はかなり多量になる場合がある。そこで、堆積膜形成装置の排気機構は、このような副生成物によって閉塞されたり、部分的に流れが悪くなって堆積膜形成中の排気速度分布や内圧分布に影響が生じたりしにくいものとすることが求められる。 In the deposited film forming apparatus, a powdery by-product is generated when the deposited film is formed. In particular, when a product such as an electrophotographic photoreceptor that requires a relatively large area and a thick deposited film is produced, the by-product may be considerably large. Therefore, the exhaust mechanism of the deposited film forming apparatus is less likely to be clogged by such by-products or to partially affect the exhaust velocity distribution and internal pressure distribution during the deposition film formation. It is required to do.
また、近年、例えば電子写真装置においては、電子写真特性をより一層向上させることができる堆積膜が要求されるようになり、その結果、堆積膜の層構成も多様化してきている。そのため、堆積膜形成条件も複雑化している。そこで、多品種生産を行う場合、各々の品種毎に堆積膜形成条件が異なるため、各品種に応じ堆積膜形成装置の最適化を行う必要がある。上記のような、ガスの排気速度の均一化に関しても、各品種に応じた調整が必要となることが考えられる。したがって、生産性の低下を抑制するため、そのような調整を簡便に行えるようにすることが求められる。 In recent years, for example, in an electrophotographic apparatus, a deposited film capable of further improving the electrophotographic characteristics has been required, and as a result, the layer configuration of the deposited film has been diversified. Therefore, the deposited film forming conditions are also complicated. Therefore, when multi-product production is performed, the deposition film forming conditions differ for each product, so it is necessary to optimize the deposited film forming apparatus according to each product. Regarding the uniform gas exhaust rate as described above, it may be necessary to make adjustments according to each product type. Therefore, in order to suppress a decrease in productivity, it is required to easily perform such adjustment.
本発明は、上記のような従来技術に鑑みてなされたものであり、膜厚や膜特性の均一性に優れた堆積膜を形成することができる堆積膜形成装置を提供することを目的とする。また、本発明は、厚い堆積膜を形成するような場合でも長時間に渡って安定した生産品質を保つことができる堆積膜形成装置を提供することも目的とする。 The present invention has been made in view of the prior art as described above, and an object of the present invention is to provide a deposited film forming apparatus capable of forming a deposited film having excellent uniformity in film thickness and film characteristics. . Another object of the present invention is to provide a deposited film forming apparatus capable of maintaining stable production quality for a long time even when a thick deposited film is formed.
上述した目的を達成するため、本発明に係る堆積膜形成装置は、減圧可能な反応容器と、反応容器内を減圧可能とする排気手段と、反応容器内に設置される基体を保持する基体保持手段と、反応容器内に堆積膜形成用の原料ガスを導入するための原料ガス導入手段と、原料ガスを励起させて励起種を生成する放電エネルギーを印加する印加手段とを備え、基体上に堆積膜を形成する堆積膜形成装置において、排気手段は、反応容器の側壁の、少なくとも一方向に形成された開口部を覆って取り付けられ、複数の穴が形成された排気筒取付板と、各穴に着脱可能に嵌め込まれた複数の排気筒と、を有する排気部を介して接続されており、複数の排気筒のうち少なくとも1つは他の排気筒とコンダクタンスが異なっていることを特徴とする。 In order to achieve the above-described object, a deposited film forming apparatus according to the present invention includes a reaction vessel that can be depressurized, an evacuation unit that can depressurize the reaction vessel, and a substrate holder that holds a substrate installed in the reaction vessel. Means, a source gas introduction means for introducing a source gas for forming a deposited film into the reaction vessel, and an application means for applying discharge energy to excite the source gas to generate excited species. In the deposited film forming apparatus for forming the deposited film, the exhaust means is attached so as to cover an opening formed in at least one direction of the side wall of the reaction vessel, and an exhaust tube mounting plate in which a plurality of holes are formed, A plurality of exhaust pipes detachably fitted in the holes, and is connected via an exhaust part, wherein at least one of the plurality of exhaust pipes has a conductance different from that of the other exhaust pipes. To do.
本発明によれば、堆積膜形成装置内のガスの流れの均一性が向上し、基体の、堆積膜形成面内における膜厚や膜特性の均一性に優れた堆積膜を長時間に渡って安定して形成することができる。 According to the present invention, the uniformity of the gas flow in the deposited film forming apparatus is improved, and a deposited film having excellent uniformity of film thickness and film characteristics in the deposited film forming surface of the substrate is obtained over a long period of time. It can be formed stably.
以下、本発明の具体的な実施形態について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、RF(Radio Frequency)−CVD(Chemical Vapor Deposition)法によって、電子写真用感光体を製造するための堆積膜形成装置110の一例を模式的に示した図である。図1(a)は縦断面図、図1(b)は横断面図である。
FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of a deposited
堆積膜形成装置110は、プラズマ処理によって円筒状基体112に堆積膜を形成する装置であり、減圧可能な反応空間を形成する反応容器111(円筒状反応容器111)と、反応容器内に円筒状基体112を保持する基体ホルダ(基体保持手段)117を有している。
Deposited
円筒状基体112は、使用目的に応じた材質を有するものであればよい。円筒状基体112の材質としては、例えば、銅、アルミニウム、金、銀、白金、鉛、ニッケル、コバルト、鉄、クロム、モリブデン、チタン、ステンレス等が、電気伝導率が良好であるため、好適である。中でも、加工性や製造コストを考慮すると、アルミニウムが最適である。この場合、円筒状基体112を形成するアルミニウムとしては、例えばAl−Mg系合金、Al−Mn系合金のいずれかを用いることが好ましい。
The
基体ホルダ117の内部には、加熱用ヒータ113が設けられている。加熱用ヒータ113は、真空中で使用可能なものであればどのようなものを用いてもよい。具体的には、シース状ヒータ、板状ヒータ、セラミックヒータ、カーボンヒータ等の電気抵抗発熱体や、ハロゲンランプ、赤外線ランプ等の熱放射ランプや、液体、気体等を熱媒とした熱交換手段が対象として挙げられる。加熱用ヒータ113の表面材料としては、ステンレス、ニッケル、アルミニウム、銅等の金属類や、セラミック、耐熱性高分子樹脂等を使用することができる。
A
また、円筒状反応容器111内には、円筒状反応容器111内に原料ガスを導入するための原料ガス導入管(原料ガス導入手段)114が設けられている。原料ガス導入管114は、保持される円筒状基体112の長手方向に平行に延びている。原料ガス導入管114は、不図示のガス供給系に接続されている。その接続配管には、原料ガスの流量を調整するためのマスフローコントローラ(不図示)を介在させたミキシング123と、原料ガス導入管114に供給する原料ガスの流量を調整するための原料ガス流入バルブ130が設けられている。
Further, in the
円筒状反応容器111の円筒状の側壁には、整合回路を有するマッチングボックス115を介して高周波電源(印加手段)116が電気的に接続されている。この側壁は、円筒状反応容器111の、アース面となる下プレート118および上蓋119から、セラミックスからなる絶縁体131により絶縁されている。
A high frequency power source (applying means) 116 is electrically connected to the cylindrical side wall of the
さらに、円筒状反応容器111の下部には、円筒状基体112を保持する基体ホルダ117を回転可能に支持する回転支持機構105が設けられている。この回転支持機構105は、基体ホルダ117が載置された回転台121と、この回転台121を支持する支軸122と、支軸122に接続され回転台121を回転させるためのモータ120とを有している。したがって、円筒状基体112は、基体ホルダ117上に装着された状態で、回転台121と共に支軸122を中心として回転させることができる。
Further, a
堆積膜形成装置110が備える排気系は、円筒状反応容器111に接続された排気部124と、排気部124に連通した排気配管128を有している。排気配管128には、真空ポンプユニット(排気手段)132が接続されており、排気メインバルブ129が設けられている。また、円筒状反応容器111には、その内部の圧力を測定する真空計133が取り付けられている。これらを用いて、円筒状反応容器111内を、各工程に適した所定の圧力に維持することができる。真空ポンプユニット132には、例えばロータリーポンプや、メカニカルブースターポンプ等を用いることができる。
The exhaust system included in the deposited
排気部124は、円筒状反応容器111の側壁のほぼ長方形の開口部125に、絶縁体131を介して接続されている。排気部124は中空構造で、絶縁体131側に、図3(a)に示す排気筒取付板126が開口部125を覆って取り付けられている。排気筒取付板126には、保持された円筒状基体112の長手方向、したがって、円筒状反応容器111の長手方向に略直線状に配列された複数の穴126A〜Iが貫通孔として形成されている。
The
これらの穴126A〜Iには、図3(c)に示す排気筒127が嵌め込まれている。排気筒127はつば付き構造で、円筒状反応容器111側から各穴126A〜Iに挿入して取り付けることができるようになっており、排気部124や排気配管128を取り外さなくても容易に交換可能である。排気筒127としては、外径が同一で、筒の長さと内径(開口面積)の少なくとも一方が違うものが用意されており、堆積膜形成条件に合わせて選択したものを、堆積膜形成前に設置する。また、穴126A〜Iのうちのいくつかを、図3(d)に示す栓301によって塞いで、排気筒127の設置個数を変化させることもできる。
An
本実施形態では、図1(a)に示すように、排気配管128は、排気部124の、円筒状基体112の長手方向の中央の位置に接続されている。この場合、穴126A〜Iのうち、排気配管128に最も近い中央のものに、コンダクタンスが最も小さい排気筒127を配置し、中央から離れるほど、コンダクタンスが大きい排気筒127を設ける。それによって、排気配管128に近い位置で排気速度が高くなりすぎないように抑えられ、遠い位置での排気速度が遅くなるのが抑制される。これを利用して、円筒状反応容器111内の圧力や、供給ガス流量などの堆積膜形成条件に応じて、適切な排気筒127を用いることによって、排気速度の、円筒状基体112の長手方向の均一性を向上させることができる。
In the present embodiment, as shown in FIG. 1A, the
図1(a)に示す例では、内径が同一で長さが異なる排気筒127が用いられており、中央のものが最も長く、中央から離れたものほど短くなっている。なお、図1(a)では、記載を簡潔にするため、排気筒127は少数のみを記載している。排気筒127としては、長さが同一で内径が異なるものを用いてもよく、この場合、中央に内径が最も小さいものを取り付け、中央から離れるほど内径の大きいものを取り付ける。また、長さと内径の両方を変化させた排気筒127を用いてもよい。
In the example shown in FIG. 1 (a), an
なお、排気筒取付板126は、円筒状反応容器111の長手方向に複数の穴が配列されていればよく、例えば、図3(b)のように、穴が千鳥状に配列されていてもよい。また、排気筒127は、ねじ等で固定してもよい。
The exhaust
以上のように構成された堆積膜形成装置110を用いて堆積膜を形成する手順の一例について以下説明する。
An example of a procedure for forming a deposited film using the deposited
まず、円筒状反応容器111内に、円筒状基体112が装着された基体ホルダ117を設置し、真空ポンプユニット132により円筒状反応容器111内を排気する。続いて円筒状反応容器111内に、ミキシング123、原料ガス流入バルブ130、および原料ガス導入管114を介して、円筒状基体112の加熱に必要な、例えばAr,He等のガスを導入する。そして、真空ポンプユニット132および排気メインバルブ129を用いて、円筒状反応容器111内を所定の圧力になるように真空計133を見ながら調整を行う。次に、所定の圧力になった後、加熱用ヒータ113により円筒状基体112の温度を200[℃]〜450[℃]程度、より好ましくは250[℃]〜350[℃]程度の所望の温度に制御する。
First, a
以上の手順によって堆積膜を形成する準備が完了した後、円筒状基体112上に光導電層の形成を行う。
After the preparation for forming the deposited film is completed by the above procedure, a photoconductive layer is formed on the
このために、まず、加熱用のガスと堆積膜形成用の原料ガスとをミキシング123を介して混合して導入し、導入ガスが所望の流量になるように調整する。その際、円筒状反応容器111内が13.3[mPa]〜1330[Pa]程度の所望の圧力になるように、真空計133を確認しながら真空ポンプユニット132と排気メインバルブ129を調整する。この調整は、例えば、真空ポンプユニット132のメカニカルブースターポンプの回転周波数を調整することによって行うことができる。
For this purpose, first, a heating gas and a raw material gas for forming a deposited film are mixed and introduced through a mixing 123, and the introduced gas is adjusted to have a desired flow rate. At that time, the
堆積膜形成時に使用する原料ガスとしては、シラン(SiH4)、ジシラン(Si2H6)、四フッ化珪素(SiF4)、六フッ化二珪素(Si2F6)等のアモルファスシリコン形成用の原料ガス、またはそれらの混合ガスを用いることができる。希釈ガスとしては、水素(H2)、アルゴン(Ar)、ヘリウム(He)等を用いることができる。また、堆積膜のバンドギャップ幅を変化させる等の特性改善ガスとして、窒素原子を含む元素、酸素原子を含む元素、炭化水素、またはフッ素化合物、あるいはこれらの混合ガスを併用してもよい。この際に用いる窒素原子を含む元素としては、窒素(N2)、アンモニア(NH3)等が挙げられる。酸素原子を含む元素としては、酸素(O2)、一酸化窒素(NO)、二酸化窒素(NO2)、酸化二窒素(N2O)、一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(CO2)等が挙げられる。炭化水素としては、メタン(CH4)、エタン(C2H6)、エチレン(C2H4)、アセチレン(C2H2)、プロパン(C3H8)等が挙げられる。フッ素化合物としては、四フッ化ゲルマニウム(GeF4)、フッ化窒素(NF3)等が挙げられる。また、ドーピング処理を目的として、ジボラン(B2H6)、フッ化硼素(BF3)、ホスフィン(PH3)等のドーパントガスを同時に放電空間に導入してもよい。 As a source gas used for forming a deposited film, amorphous silicon such as silane (SiH 4 ), disilane (Si 2 H 6 ), silicon tetrafluoride (SiF 4 ), and disilicon hexafluoride (Si 2 F 6 ) is formed. Raw material gas or a mixed gas thereof can be used. As the dilution gas, hydrogen (H 2 ), argon (Ar), helium (He), or the like can be used. Further, as a characteristic improving gas for changing the band gap width of the deposited film, an element containing a nitrogen atom, an element containing an oxygen atom, a hydrocarbon, a fluorine compound, or a mixed gas thereof may be used in combination. Examples of the element containing a nitrogen atom used at this time include nitrogen (N 2 ) and ammonia (NH 3 ). As an element containing an oxygen atom, oxygen (O 2 ), nitric oxide (NO), nitrogen dioxide (NO 2 ), dinitrogen oxide (N 2 O), carbon monoxide (CO), carbon dioxide (CO 2 ) Etc. Examples of the hydrocarbon include methane (CH 4 ), ethane (C 2 H 6 ), ethylene (C 2 H 4 ), acetylene (C 2 H 2 ), propane (C 3 H 8 ) and the like. Examples of the fluorine compound include germanium tetrafluoride (GeF 4 ) and nitrogen fluoride (NF 3 ). Further, for the purpose of doping treatment, a dopant gas such as diborane (B 2 H 6 ), boron fluoride (BF 3 ), or phosphine (PH 3 ) may be simultaneously introduced into the discharge space.
次に、円筒状反応容器111内の圧力が安定した後、高周波電源116を所望の電力に設定して、高周波電力を高周波マッチングボックス115を介して円筒状反応容器111に供給することで、高周波グロー放電を生起させる。供給電力は、例えば、13.56[MHz]〜45[MHz]程度のRF帯、特に13.56[MHz]の周波数とすることができる。この放電エネルギーによって、円筒状反応容器111内に導入された原料ガスが励起されて励起種が生成され、すなわち分解されて、円筒状基体112上に所望のシリコン原子を主成分とする堆積膜が形成される。
Next, after the pressure in the
均一な堆積膜を形成するために、堆積膜を形成するのと同時期、あるいは円筒状基体112を加熱する段階から、円筒状基体112を回転させる。この回転は、1[rpm]〜10[rpm]程度、例えば1[rpm]の回転速度とする。こうすることで、円筒状基体112の周方向に均一な堆積膜が形成される。
In order to form a uniform deposited film, the
以上のようにして円筒状基体112の外周面上に堆積膜が形成される。
As described above, a deposited film is formed on the outer peripheral surface of the
堆積膜が形成された後には、原料ガスおよび高周波電力の供給を停止し、円筒状反応容器111内を排気する。その後、円筒状反応容器111および原料ガス導入管114内をパージガス、例えばAr等の不活性ガスおよびN2の少なくとも一方を用いてパージ処理する。パージ処理完了後、円筒状反応容器111内をAr等の不活性ガスおよびN2ガスの少なくとも一方を用いて、大気圧まで戻し、円筒状基体112を円筒状反応容器111内から取り出す。
After the deposited film is formed, the supply of the source gas and the high frequency power is stopped and the inside of the
その後に、必要に応じて、堆積した粉状の副生成物をクリーニング処理する。その時の手順としては、まず、円筒状基体112の替わりに同一形状をしたクリーニング用のダミー基体(不図示)を、円筒状反応容器111内に設置し、真空ポンプユニット132により円筒状反応容器111内を排気する。続いて、円筒状反応容器111内にミキシング123および原料ガス導入管114を介してクリーニング処理に必要なクリーニング性ガスを導入する。そして、真空ポンプユニット132および排気メインバルブ129を用いて、円筒状反応容器111内を所定の圧力になるように真空計133を見ながら調整を行う。
Thereafter, the deposited powdery by-product is cleaned as necessary. As a procedure at that time, first, a dummy dummy substrate for cleaning (not shown) having the same shape is installed in the
クリーニング処理時に使用するクリーニング性ガスとしては、例えばCF4、CF4/O2、SF6、ClF3(三フッ化塩素)等が挙げられるが、本実施形態では、クリーニング時間を短縮する面から有効であるClF3を用いる。また、本実施形態においては、クリーニング性ガスの濃度を調整するためにも、希釈用の不活性ガスを用いることが有効である。この不活性ガスとしては、例えばHe、Ne、Arが挙げられるが、なかでもArを用いることが好ましい。 Examples of the cleaning gas used during the cleaning process include CF 4 , CF 4 / O 2 , SF 6 , and ClF 3 (chlorine trifluoride). In this embodiment, the cleaning time is shortened. Use ClF 3 which is effective. In the present embodiment, it is effective to use an inert gas for dilution in order to adjust the concentration of the cleaning gas. Examples of the inert gas include He, Ne, and Ar. Among them, it is preferable to use Ar.
円筒状反応容器111内の圧力が安定した後、高周波電源116を所望の電力に設定して、高周波電力を高周波マッチングボックス115を介して円筒状反応容器111に供給することで、高周波グロー放電を生起させる。供給電力は、例えば、13.56[MHz]〜45[MHz]程度のRF帯、特に13.56[MHz]の周波数とすることができる。この放電エネルギーによって、円筒状反応容器111内に導入されたクリーニング用の原料ガスが分解され、円筒状反応容器111内がクリーニング処理される。
After the pressure in the
次に、クリーニング処理後に高周波電力の供給を停止し、円筒状反応容器111内を排気する。その後、円筒状反応容器111および原料ガス導入管114内をパージガス、例えばAr等の不活性ガスおよびN2の少なくとも一方を用いてパージ処理する。パージ処理完了後、円筒状反応容器111内をAr等の不活性ガスおよびN2ガスの少なくとも一方を用いて、大気圧まで戻しクリーニング用のダミー基体(不図示)を円筒状反応容器111内から取り出す。
Next, the supply of high frequency power is stopped after the cleaning process, and the inside of the
以上のように構成された本実施形態の堆積膜形成装置110では、円筒状反応容器111の、円筒状基体112の長手方向に平行に延びる側壁の開口部125に排気部124を設け、排気部124に複数の排気筒127を設置している。そして、排気筒127として、少なくとも1つは他のものとコンダクタンスが異なるものを用いている。それにより、排気によってガスの流れが他の部位より速くなる部位の排気速度を遅くし、あるいは、ガスの流れが遅くなる部位の排気速度を速くして、円筒状反応容器111内におけるガスの流れの均一性を向上させることができる。
In the deposited
この際、特に、図1に図示した例のように、円筒状基体112の長手方向の位置に応じ、排気配管128からの距離に応じて、設置する排気筒127のコンダクタンスを変化させることが好ましい。この構成によれば、堆積膜形成条件に応じて適切な排気筒127を用いることによって、排気速度の、円筒状基体112の長手方向の分布の均一性を向上させることができる。それによって、円筒状反応容器111内におけるガスの流れの、円筒状基体112の長手方向での均一性を向上さることができる。その結果、厚い堆積膜を形成するような場合でも、形成される堆積膜の、円筒状基体112の長手方向での均一性を向上させることができる。
At this time, in particular, as in the example illustrated in FIG. 1, it is preferable to change the conductance of the
また、多品種生産を行う場合、形成する堆積膜の種類毎に異なる堆積膜形成条件に応じて、予め各堆積膜形成条件に合わせて選択された排気筒127への交換を行うだけで、同一の堆積膜形成装置110を用いて良好な生産が可能である。したがって、大幅な装置変更をしたり、堆積膜形成条件に合わせた複数の装置を用いたりする必要がなく、生産コストを抑えることができる。また、排気筒127は比較的簡単な構成であるため、装置コストを低減することができる。さらに、排気筒127の交換は容易に行うことができるので、生産性の面でも有利である。
In addition, when performing multi-product production, the same thing can be done by simply exchanging with the
また、コンダクタンスの調整に排気筒127を用いる構成では、前述のように、排気筒127の内径を小さくする以外にも、排気筒127を長くすることによって、コンダクタンスを小さくすることができる。したがって、開口やスリットの大きさのみでコンダクタンスを調整するのに比べて、排気筒127の内径は、比較的大きく設定することが可能である。さらに、排気速度分布は、排気筒127によって調整可能であるので、排気部124や排気配管128は、複雑な構成とする必要がなく、簡素な構成とすることができる。これらのことから、本実施形態によれば、堆積膜形成中に発生する粉状の副生成物が排気筒127、排気部124、および排気配管128に堆積して、排気コンダクタンスが変化したり、閉塞が発生したりするのを抑制することができる。したがって、電子写真用感光体のように比較的大面積で厚い堆積膜を長時間にわたって形成する場合でも、堆積膜形成初期におけるガスの流れを維持し、安定して堆積膜を形成することが可能となる。
Further, in the configuration in which the
なお、本実施形態において、排気部124の、円周方向の配置は、ガスの利用効率および装置の簡略化の面で、原料ガス導入管114に対して円筒状基体112を挟んで反対側とすることが望ましい。また、排気部124内における排気筒127の配置は、前述のように、円筒状基体112の長手方向に複数個配置すればよいが、長手方向の均一性の面から、長手方向にほぼ直線状に配置することが好ましい。
In the present embodiment, the
また、本実施形態において、排気部124の、円筒状基体112の長手方向の一端から他端までの距離(排気領域、図1中のL1)は、設置される円筒状基体112の長手方向の長さ(図1中のL2)の1倍以上であることが、長手方向の均一性の面から好ましい。但し、装置コスト及びガスの利用効率の面からは堆積膜形成装置110は小さいほうが好ましいため、「L1」は「L2」の2.5倍以下にすることが好ましい。
In the present embodiment, the distance (exhaust region, L1 in FIG. 1) from one end to the other end of the
また、本実施形態において、原料ガスを励起させて励起種を生成する放電エネルギーの給電点は、円筒状基体112を挟んで、排気部124と反対側に設けるのが、効率的に原料ガスに放電エネルギーを付与可能のため、好ましい。また、その結果、放電空間内のプラズマの均一性が向上する。
Further, in the present embodiment, the feeding point of the discharge energy for exciting the source gas to generate the excited species is provided on the opposite side of the
次に、本発明の別の、具体的な実施形態について、図2を参照して説明する。 Next, another specific embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図2は、図1と同様に、RF(Radio Frequency)−CVD(Chemical Vapor Deposition)法によって、電子写真用感光体を製造するための堆積膜形成装置210の一例を模式的に示した図である。図2(a)は縦断面図、図2(b)は横断面図である。図2において、図1と同じ部分には同じ番号が表記してあり、詳細な説明は省略する。
FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of a deposited
図2において、図1との違いは、排気部124への排気配管128の接続位置が異なる点である。すなわち、本実施形態では、排気配管128は、排気部124の、円筒状基体112の長手方向の一端面、図2に示す例では、図の下側の面に接続されている。この場合、排気筒127としては、図の下側ほどコンダクタンスが小さく、上側に行くにしたがってコンダクタンスが大きくなったものを用いる。
2 is different from FIG. 1 in that the connection position of the
本実施形態におけるように、排気部124の、円筒状基体112の長手方向の一端面に排気配管128を接続することで、円筒状基体112の長手方向、したがって円筒状反応容器111の長手方向に交差する方向に装置が大きくなるのを抑えることができる。その結果、堆積膜形成装置210が占める床面積を小さくすることができ、装置コストを抑えることが可能である。この構成でも、排気筒127の設置個数、各排気筒127の長さと内径の少なくとも一方を、堆積膜形成条件に合わせて選択すれば、堆積膜の長手方向均一性の向上が可能である。
As in the present embodiment, by connecting the
以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらによって何ら限定されるものではない。なお、以下の説明では上述した各実施形態において示したのと同じ部分に対しては同じ符号を用いて説明する。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by these. In the following description, the same reference numerals are used for the same portions as those shown in the above-described embodiments.
(実施例1)
図1に示す堆積膜形成装置110を用いて、アルミニウムよりなる直径80mm、長さ358mm、肉厚3mmの円筒状基体112上に、図8の表に示す条件で図4に示す層構成のアモルファスシリコン堆積膜(以下、電子写真感光体と略記する)の形成を行った。なお、図4中の符号401は円筒状基体112の構成部材を示し、符号402は下部阻止層(第1層)、符号403は光導電層(第2層)、404は表面層(第3層)をそれぞれ示す。
Example 1
The deposited
本実施例においては、図3(a)に示すように9箇所に排気筒取付穴のあいた排気筒取付板126に、排気筒127及び栓301を取り付けた。用いた排気筒127の内径は全て20mmで同一であり、排気コンダクタンスは、排気筒127の長さを変えることで調整した。排気筒127の配置を図9の表に示す。なお、図9の表における排気領域とは、取り付けた排気筒127のうち、長手方向の両端のもの同士の間の、長手方向の距離「L1」を示し、本実施例では、円筒状基体112の長さ「L2」と同じにしている。
In this embodiment, as shown in FIG. 3A, the
作製された電子写真感光体に関して、「膜厚母線ムラ」「Vd母線ムラ」「Vh母線ムラ」「白ポチ」の評価を以下のように実施した。また、「装置コスト」についても評価を行った。 With respect to the produced electrophotographic photosensitive member, evaluation of “thickness bus bar unevenness”, “Vd bus bar unevenness”, “Vh bus bar unevenness”, and “white spot” was performed as follows. In addition, “apparatus cost” was also evaluated.
「膜厚母線ムラ」の評価
膜厚計(フィッシャーインストルメンツ社FISHER SCOPE MMS)を用い、電子写真感光体の長手方向に10mm間隔の35点について膜厚を計測し、その35点での計測値の最大値と最小値の差を膜厚母線ムラとして評価した。この際、長手方向の各点での膜厚の値は、周方向に90度間隔の4点での計測値の平均値とした。評価は、後述する比較例1で得られた結果を100とした時の、相対評価で実施した。つまり、評価結果は数字が小さいほど良い。
Evaluation of “thickness bus line unevenness” Using a film thickness meter (Fisher Instruments, FISCO SCOPE MMS), the film thickness was measured at 35 points at 10 mm intervals in the longitudinal direction of the electrophotographic photosensitive member, and the measured values at the 35 points. The difference between the maximum value and the minimum value was evaluated as film thickness bus unevenness. At this time, the value of the film thickness at each point in the longitudinal direction was the average value of the measured values at four points at intervals of 90 degrees in the circumferential direction. Evaluation was carried out by relative evaluation when the result obtained in Comparative Example 1 described later was taken as 100. In other words, the smaller the number, the better the evaluation result.
「Vd母線ムラ」「Vh母線ムラ」の評価
これらの電子写真感光体特性の評価には、複写機(キヤノン社製iR5000)を用いた。図7にこの複写機の概略図を示した。図7において、電子写真感光体701は図の時計周りに回転駆動可能に支持されている。この電子写真感光体701の周りには、静電潜像を形成するための前露光器708、主帯電器702、電位センサー703、および潜像形成用露光器709が時計周り方向に順に配置されている。次に、静電潜像上にトナーを付着させて現像を行うための現像器704、トナー像を被記録媒体に転写するための転写帯電器705a、分離帯電器705bが配置されている。その後、残留トナーを除去するためのクリーニングローラー706及びクリーニングブレード707を具備したクリーナー710が配置されている。
Evaluation of “Vd bus line unevenness” and “Vh bus line unevenness” A copy machine (iR5000 manufactured by Canon Inc.) was used for evaluating these electrophotographic photosensitive member characteristics. FIG. 7 shows a schematic diagram of the copying machine. In FIG. 7, an electrophotographic
電子写真感光体特性を測定する際には、現像器704及びクリーナー710を取り外す。そして、現像器704の代わりに電子写真感光体の軸方向の所定の位置の電子写真特性を測定できる電位プローブ(TREK社製Model344、不図示)を装着し電子写真感光体の電子写真特性を測定する。この様にして測定した電子写真特性の評価を下記に示す基準で行った。
When measuring the characteristics of the electrophotographic photosensitive member, the developing
「Vd母線むら」
プロセススピード265mm/sec、前露光(波長680nmのLED)光量を4lx・sとし、電子写真感光体の長手方向の中位置の表面電位が、電位プローブで測定して450V(暗電位)になるように主帯電器702の電流値を調整する。その後、電位プローブを電子写真感光体の端部より軸方向に移動させて、長手方向に40mm間隔の9点で測定を行い、その9点での測定値の最大値と最小値の差をVd母線ムラとして評価した。評価は比較例1で得られた結果を100とした時の、相対評価で実施した。つまり、評価結果は数字が小さいほど良い。
"Vd bus line unevenness"
The process speed is 265 mm / sec, the amount of pre-exposure (LED with a wavelength of 680 nm) is 4 lx · s, and the surface potential at the middle position in the longitudinal direction of the electrophotographic photosensitive member is 450 V (dark potential) as measured by the potential probe. The current value of the
「Vh母線むら」
上記Vd母線むらと同じ手順で電子写真感光体の長手方向の中位置の表面電位が450V(暗電位)になるように主帯電器702の電流値を調整した。その後、像露光(波長660nmのレーザー)の照射を行い像露光光源の光量を調整して、電位プローブで測定した中位置の表面電位が200V(明電位)となるようにした。その後、電位プローブを電子写真感光体の端部より軸方向に移動させて、長手方向に40mm間隔の9点で測定を行い、その9点での測定値の最大値と最小値の差をVh母線ムラとして評価した。評価は比較例1で得られた結果を100とした時の、相対評価で実施した。つまり、評価結果は数字が小さいほど良い。
"Vh bus unevenness"
The current value of the
「白ポチ」の評価
キヤノン社製複写機iR5000を用い、A3サイズの全面を塗りつぶした原稿を複写して得られた画像を観察し、電子写真感光体1周分当たりの、直径0.10mm以上の白ポチ(画像が形成されなかった部分)の個数を数えた。評価は比較例1で得られた結果を100とした時の、相対評価で実施した。つまり、評価結果は数字が小さいほど良い。
Evaluation of “White Pochi” Using a Canon iR5000 copying machine, an image obtained by copying an A3-sized original was observed, and the diameter per electrophotographic photosensitive member was 0.10 mm or more. The number of white spots (portions where no image was formed) was counted. Evaluation was carried out by relative evaluation with the result obtained in Comparative Example 1 as 100. In other words, the smaller the number, the better the evaluation result.
「装置コスト」の評価
比較例4で得られた結果を100とした時の、相対評価で実施した。つまり、評価結果は数字が小さいほど良い。
Evaluation of “Device Cost” Relative evaluation was performed with the result obtained in Comparative Example 4 as 100. In other words, the smaller the number, the better the evaluation result.
各評価結果のランク付け
前記各評価結果に対して、以下に示す基準でランク付けを行った。
☆ ・・・60未満
◎ ・・・60以上80未満
○ ・・・80以上100未満
△ ・・・100(比較例1と同じ)
× ・・・100超
総合評価
上記5項目(「膜厚母線むら」「Vd母線むら」「Vh母線むら」「白ポチ」「装置コスト」)の評価結果に対し、以下の基準で総合評価を行った。
☆ ・・・各項目で☆レベルが4個以上
◎ ・・・各項目で◎レベル以上が4個以上
○ ・・・各項目で○レベル以上が4個以上
△ ・・・各項目で△レベル以上が4個以上
× ・・・各項目で△レベル以上が3個以下
但し、各項目で一つでも△があれば総合評価は△、各項目で一つでも×があれば総合評価は×とする。
Ranking of each evaluation result Each evaluation result was ranked according to the following criteria.
☆ ... less than 60 ◎ ... 60 or more and less than 80 ○ ... 80 or more and less than 100 △ ... 100 (same as Comparative Example 1)
× ... Over 100 Overall evaluation For the evaluation results of the above five items ("Thickness bus unevenness", "Vd bus unevenness", "Vh bus unevenness", "White potty", "Equipment cost") went.
☆ ・ ・ ・ Each item is 4 or more levels ◎ ・ ・ ・ Each item is ◎ 4 or more levels ○ ・ ・ ・ Each item is more than 4 levels △ ・ ・ ・ Each item is △ level 4 or more in the above × △
各評価および総合評価の結果を図11の表に示す。 The results of each evaluation and comprehensive evaluation are shown in the table of FIG.
(実施例2)
実施例1に対して、排気筒127及び栓301を図9の表に示す配置に変更し、排気領域を基体長さの1.5倍として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Example 2)
The
(実施例3)
実施例1に対して、排気筒127及び栓301を図9の表に示す配置に変更し、排気領域を基体長さの2倍として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Example 3)
The
(実施例4)
実施例1に対して、長さが全て20mmで同一の排気筒127を用い、排気筒127の内径で排気コンダクタンスを調整して図10の表に示す配置として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
Example 4
Compared to Example 1, the
(実施例5)
実施例1に対して、長さが全て80mmで同一の排気筒127を用い、排気筒127の内径で排気コンダクタンスを調整して図10の表に示す配置として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Example 5)
Compared to Example 1, the
(実施例6)
実施例1に対して、長さが全て150mmで同一の排気筒127を用い、排気筒127の内径で排気コンダクタンスを調整して図10の表に示す配置として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Example 6)
Compared to Example 1, the
(比較例1)
図5に示す堆積膜形成装置510を用いて、アルミニウムよりなる直径80mm、長さ358mm、肉厚3mmの円筒状基体512上に、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Comparative Example 1)
Using the deposited
本比較例において用いた堆積膜形成装置510は、図1に示す本発明に対応した実施形態の堆積膜形成装置110に対して、排気筒取付板126を、スリット状の開口部を有する板526で置き換えた点で異なっている。本比較例では、板526のスリットは、幅20mm、スリット長つまり排気領域は基体長さと同一とした。
The deposited
(比較例2)
実施例1に対して、排気筒127として、長さが全て40mmで同一のもの、したがって、内径も同一であるのでコンダクタンスが同一のものを用い、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Comparative Example 2)
Compared to the first embodiment, the
(比較例3)
実施例1に対して、長さが全て10mmで同一の排気筒127を用い、排気筒127の内径で排気コンダクタンスを調整して図10の表に示す配置として、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Comparative Example 3)
Compared to Example 1, the
(比較例4)
図6に示す堆積膜形成装置610を用いて、アルミニウムよりなる直径80mm、長さ358mm、肉厚3mmの円筒状基体512上に、電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行った。結果を図11の表に示す。
(Comparative Example 4)
Using the deposited
図6に示す堆積膜形成装置610の排気系は、円筒状反応容器111の側壁の、円筒状基体112の長手方向に離れた位置に接続された3本の排気配管601A〜Cを有している。排気配管601A〜Cのそれぞれには、コンダクタンスバルブ602A〜C、及びそれより円筒状反応容器511側の圧力を計測する圧力計604A〜Cが設けられている。排気配管601A〜Cは、共通の集合配管628に合流した後、排気メインバルブ129を介して真空ポンプユニット132に接続されている。
The exhaust system of the deposited
本比較例では、円筒状基体112の、長手方向の中央に対応する位置に排気配管601Bが配置され、両端に対応する位置に排気配管601A,Cが配置されている。つまり、排気領域は基体長さと同一である。
In this comparative example, the
また、本比較例では、堆積膜形成中に、各圧力計604A〜Cの圧力が同一となるようにコンダクタンスバルブの制御を行った。
In this comparative example, the conductance valve was controlled so that the pressures of the
図11の表から明らかなように、各母線ムラに関して、本発明により、反応容器の長手方向の排気コンダクタンスを調整することで、堆積膜の円筒状基体長手方向の均一性が大幅に向上することが判った(比較例1・2に対して、実施例1・4・5・6)。更に、設置する排気筒を増やし、排気領域を広げることで、均一性が向上した(実施例2)。但し、実施例2と実施例3では母線ムラに関しては同等の結果であり、基体長さに対して、排気領域を1.5倍より大きくしても効果は少ないことが判った。 As apparent from the table of FIG. 11, the uniformity of the deposited film in the longitudinal direction of the cylindrical substrate is greatly improved by adjusting the exhaust conductance in the longitudinal direction of the reaction vessel according to the present invention with respect to each bus unevenness. (Comparative Examples 1 and 2 versus Examples 1, 4, 5, and 6). Furthermore, the uniformity was improved by increasing the number of exhaust pipes to be installed and expanding the exhaust region (Example 2). However, in Example 2 and Example 3, the results were the same with respect to the bus line unevenness, and it was found that the effect was small even if the exhaust region was made larger than 1.5 times the base length.
本発明と同様に排気筒を使用し、排気筒の内径が12mmのものを使用した場合(比較例3)母線ムラは悪化した。これは、排気筒の内径が小さすぎるため、堆積膜形成中に副生成物が排気筒に堆積し、排気コンダクタンスが変化した結果である。内径が14mm以上ではこの現象は起きないことから、排気筒は内径14mm以上必要であることが判る。したがって、排気筒の内径が14mm以上になるよう排気筒の長さでコンダクタンスの調整をする必要がある。 When the exhaust tube was used in the same manner as in the present invention and the exhaust tube had an inner diameter of 12 mm (Comparative Example 3), the bus-line unevenness deteriorated. This is a result of a change in the exhaust conductance because the inner diameter of the exhaust tube is too small and by-products are deposited on the exhaust tube during the formation of the deposited film. Since this phenomenon does not occur when the inner diameter is 14 mm or more, it can be seen that the exhaust tube needs to have an inner diameter of 14 mm or more. Therefore, it is necessary to adjust the conductance by the length of the exhaust tube so that the inner diameter of the exhaust tube becomes 14 mm or more.
実施例5・6の様に内径を大きくしても母線ムラは良好であり、更に大きくすることも可能である。但し、排気筒設置の間隔によって排気筒の外径の大きさが制限され、したがって内径の大きさも制限され、排気部の深さによって排気筒の長さは制限される等、排気筒の内径の大きさおよび長さには、実用上、制限が生じる。なお、本実施例では、内径を最大80mmまで設定可能であるが、長さの制限よび排気コンダクタンス調整の容易さから内径は50mm以下が好ましい。 Even if the inner diameter is increased as in Examples 5 and 6, the bus bar unevenness is good and can be further increased. However, the outer diameter of the exhaust pipe is limited by the interval between the exhaust pipes, and thus the inner diameter is also limited. The length of the exhaust pipe is limited by the depth of the exhaust section, etc. There are practical limitations on the size and length. In the present embodiment, the inner diameter can be set up to a maximum of 80 mm, but the inner diameter is preferably 50 mm or less because of the limitation of the length and the ease of adjusting the exhaust conductance.
排気筒の長さについては、本発明の実施例では嵌め込み構造としていることから、嵌め込み時に安定するよう10mm以上とすることが好ましく、且つ交換時の容易さから300mm以下にすることが好ましい。 About the length of an exhaust pipe, since it is set as the fitting structure in the Example of this invention, it is preferable to set it as 10 mm or more so that it may become stable at the time of fitting, and it is preferable to set it as 300 mm or less from the ease at the time of replacement | exchange.
また、比較例4では本発明の実施例1・4・5・6と同等の効果が得られているが、堆積膜形成中にコンダクタンスバルブに副生成物が堆積するため、開度を徐々に大きくする必要があり、制御に難がある。 In Comparative Example 4, the same effects as those of Examples 1, 4, 5 and 6 of the present invention are obtained. However, since the by-product accumulates on the conductance valve during the formation of the deposited film, the opening degree is gradually increased. There is a need to increase the size and control is difficult.
白ポチに関しては、本発明により低減した(実施例1・4・5・6)。排気筒の数を増やし、排気領域を広げることで更に低減した(実施例2、実施例3)。この理由に関しては、以下のように推測される。第一に、前記のように本発明により、基体上の堆積膜の均一性が向上した一方、基体以外に堆積する堆積膜の均一性も向上していると推測される。その結果、従来生じていた堆積膜中の内部応力等の歪が減少したため、堆積膜の密着性が向上し、堆積膜形成中の、基体以外に堆積した堆積膜の膜剥れが減少したためと推測される。第二に、排気領域を広げると、円筒状反応容器111内上下の、ガスの流速が遅い領域が減少する。円筒状反応容器111内の、ガス流速が遅い上下領域は粉状副生成物が多く堆積するが、この領域が減少するため、粉状副生成物の堆積量が減り、堆積膜形成中の円筒状基体への付着が減少したものと推測される。
Regarding the white spot, it was reduced by the present invention (Examples 1, 4, 5, and 6). Further reduction was achieved by increasing the number of exhaust tubes and expanding the exhaust region (Example 2, Example 3). About this reason, it estimates as follows. First, as described above, according to the present invention, it is speculated that the uniformity of the deposited film on the substrate is improved, while the uniformity of the deposited film deposited on the substrate other than the substrate is also improved. As a result, the strain such as internal stress in the deposited film, which had been generated in the past, has been reduced, so the adhesion of the deposited film has been improved, and the film peeling of the deposited film deposited on the substrate other than the substrate during the formation of the deposited film has been reduced. Guessed. Secondly, if the exhaust region is widened, the regions where the gas flow rate is slow in the upper and lower portions of the
装置コストに関しては、比較例4は複雑な装置構成であるのに対し、母線ムラを同等以上に減少させることができた各実施例は、比較的簡素な装置構成で成り立っているため、本発明は、装置コストを抑える上でも有効であることが判る。 Regarding the apparatus cost, the comparative example 4 has a complicated apparatus configuration, whereas each example that can reduce the bus line unevenness to the same level or more is composed of a relatively simple apparatus structure. It can be seen that this is also effective in reducing the device cost.
111 反応容器
114 原料ガス導入管(原料ガス導入手段)
116 高周波電源(印加手段)
117 基体ホルタ(基体保持手段)
125 開口部
126 排気筒取付板
127 排気筒
126A〜I 穴
132 排気ポンプユニット(排気手段)
111
116 High frequency power supply (applying means)
117 Substrate holder (Substrate holding means)
125
Claims (7)
前記排気手段は、前記反応容器の側壁の、少なくとも一方向に形成された開口部を覆って取り付けられ、複数の穴が形成された排気筒取付板と、前記各穴に着脱可能に嵌め込まれた複数の排気筒と、を有する排気部を介して接続されており、
前記複数の排気筒のうち少なくとも1つは他の排気筒とコンダクタンスが異なっていることを特徴とする堆積膜形成装置。 A reaction vessel capable of depressurization, an evacuation unit capable of depressurizing the inside of the reaction vessel, a substrate holding unit for holding a substrate installed in the reaction vessel, and a raw material gas for forming a deposited film in the reaction vessel In a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on the substrate, comprising source gas introducing means for introducing and applying means for applying discharge energy for generating excited species by exciting the source gas,
The exhaust means is attached so as to cover an opening formed in at least one direction on the side wall of the reaction vessel, and is attached to an exhaust tube mounting plate in which a plurality of holes are formed, and is detachably fitted in the holes. A plurality of exhaust pipes, and connected via an exhaust part having
At least one of the plurality of exhaust cylinders has a conductance different from that of the other exhaust cylinders.
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