JP4842549B2 - Short detection device - Google Patents
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Description
本発明は、対向して配置された一対の平板電極間のショート箇所の位置を検出するショート検出装置に関するものである。 The present invention relates to a short detection device that detects the position of a short portion between a pair of opposed flat plate electrodes.
この種のショート検出装置として、本願発明者は、特開2003−215190号公報に記載されたショート検出装置を既に提案している。このショート検出装置では、対向して配置された一対の平板電極のうちの一方の平板電極における所定の部位と他方の平板電極における所定の部位との間に電流供給部が電流を供給している状態において、電圧測定部が、所定のパターンで一方の平板電極上に規定された複数の測定位置と一方の平板電極上に規定された一つの基準点との間の各電位差を測定し、検出部が、各測定位置と所定の方向に沿って隣接する他の測定位置との間の各電圧勾配を、電圧測定部によって測定された各電位差に基づいて算出すると共に、算出した各電圧勾配に基づいて電圧極小点となる測定位置を一対の平板電極間におけるショート箇所の位置として検出する。したがって、このショート検出装置では、一対の平板電極間に複数のショート箇所が存在していたとしても、これらの各ショート箇所の位置を確実かつ同時に検出することが可能となっている。
ところが、発明者は、上述したショート検出装置について検討を行った結果、改善すべき点を発見した。すなわち、このショート検出装置では、隣接する2つの測定位置間の電圧勾配に基づいて電圧極小点となる測定位置を検出することにより、電圧極小点となる測定位置をショート位置と判別している。したがって、複数の測定位置のうちの一方の平板電極の外縁部に位置している測定位置では、その外側に他の測定位置が存在しないため、一対の平板電極が互いの外縁部でショートしているときであっても、極小点とはならないことがある。特に、平面形状が四角形等の多角形に形成されている一対の平板電極の場合、一方の平板電極の隅部に位置している測定位置では、一対の平板電極がこの隅部でショートしていたとしても極小点とはならない。このため、このショート検出装置には、一対の平板電極が互いの外縁部でショートしているときに、このショート箇所の位置を検出するのが困難であり、この点を解決するのが好ましい。 However, as a result of studying the above-described short detection device, the inventor has found a point to be improved. That is, in this short detection device, the measurement position that becomes the voltage minimum point is detected as the short position by detecting the measurement position that becomes the voltage minimum point based on the voltage gradient between two adjacent measurement positions. Therefore, at the measurement position located at the outer edge of one of the plurality of measurement positions, there is no other measurement position on the outer side, so the pair of plate electrodes are short-circuited at the outer edge of each other. Even when you are, it may not be a local minimum. In particular, in the case of a pair of flat electrodes whose planar shape is formed in a polygon such as a quadrangle, the pair of flat electrodes are short-circuited at the corner at the measurement position located at the corner of one flat electrode. Even if it does, it will not be a local minimum. For this reason, in this short detection device, it is difficult to detect the position of the shorted portion when the pair of flat plate electrodes are short-circuited at the outer edges of each other, and it is preferable to solve this point.
本発明は、かかる課題を解決するためになされたものであり、一対の平板電極が互いの外縁部でショートしていたとしても、ショート箇所の位置を確実に検出し得るショート検出装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made to solve such a problem, and provides a short detection device capable of reliably detecting the position of a shorted portion even if a pair of flat plate electrodes are short-circuited at the outer edge portions of each other. The main purpose.
上記目的を達成すべく請求項1記載のショート検出装置は、対向して配置された一対の平板電極のうちの一方の平板電極における所定の部位と他方の平板電極における所定の部位との間に電流を供給する電流供給部と、前記電流供給部によって電流が供給されている状態において、所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定された複数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定された一つの基準点との間の各電位差を電圧分布として測定する電圧測定部と、前記測定された電圧分布に基づいて前記各測定位置と所定の方向に沿って隣接する他の測定位置との間の各電圧勾配を算出すると共に当該算出した各電圧勾配に基づいて電圧極小点となる当該測定位置を前記一対の平板電極間における1つのショート箇所の位置として検出する検出部とを備え、前記検出部が1つのショート箇所の位置を検出した後に他のショート箇所の位置を検出するときに、前記電流供給部は、前記一方の平板電極における当該1つのショート箇所としての前記測定位置を新たな前記所定の部位として、当該新たな所定の部位と前記他方の平板電極における前記所定の部位との間に前記電流を供給し、前記電圧測定部は、前記新たな所定の部位を前記一つの基準点として、当該電流供給部によって前記電流が供給されている状態での前記電圧分布を測定し、当該検出部は、当該測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に、当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における前記他のショート箇所の位置として検出する。
In order to achieve the above object, a short detection device according to
請求項2記載のショート検出装置は、対向して配置された一対の平板電極のうちの一方の平板電極における所定の部位と他方の平板電極における所定の部位との間に電流を供給する電流供給部と、前記電流供給部によって電流が供給されている状態において、所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定された複数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定された一つの基準点との間の各電位差を電圧分布として測定する電圧測定部と、前記測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における1つのショート箇所の位置として検出する検出部とを備え、前記検出部が1つのショート箇所の位置を検出した後に他のショート箇所の位置を検出するときに、前記電流供給部は、前記一方の平板電極における当該1つのショート箇所としての前記測定位置を新たな前記所定の部位として、当該新たな所定の部位と前記他方の平板電極における前記所定の部位との間に前記電流を供給し、前記電圧測定部は、前記新たな所定の部位を前記一つの基準点として、当該電流供給部によって前記電流が供給されている状態での前記電圧分布を測定し、当該検出部は、当該測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に、当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における前記他のショート箇所の位置として検出する。
The short detection device according to
請求項1記載のショート検出装置によれば、検出部が、電圧勾配に基づいて電圧極小点となる測定位置を1つのショート位置として検出した後に他のショート位置を検出するときに、検出した1つのショート位置としての測定位置を新たな所定の部位として電流供給部に対して直流定電流を供給させている状態において電圧測定部によって測定されたこの新たな所定の部位を一つの基準点とする一方の平板電極表面の電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置を検出すると共に、検出した測定位置が一方の平板電極の外縁部に位置するときに、その測定位置を一対の平板電極間における他のショート位置とすることにより、一対の平板電極同士が外縁部における1箇所でショートし、かつ非外縁部における1箇所でショートしているときであっても、両ショート位置を確実に検出することができる。
According to the short detection device of
請求項2記載のショート検出装置によれば、検出部が、電圧測定部によって測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置を検出すると共にこの検出した測定位置が一方の平板電極の外縁部に位置するときには、検出した測定位置を1つのショート箇所の位置として検出し、さらに、検出した1つのショート位置としての測定位置を新たな所定の部位として電流供給部に対して直流定電流を供給させている状態において電圧測定部によって測定されたこの新たな所定の部位を一つの基準点とする一方の平板電極表面の電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置を検出すると共に、検出した測定位置が一方の平板電極の外縁部に位置するときに、その測定位置対の一対の平板電極間における他のショート位置とすることにより、一対の平板電極同士が外縁部における2箇所でショートしているときであっても、両ショート位置を確実に検出することができる。
According to the short detection device of
以下、添付図面を参照して、本発明に係るショート検出装置の最良の形態について説明する。 Hereinafter, the best mode of a short detection device according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、図1,2を参照して、ショート検出装置1の構成について説明する。
First, the configuration of the
このショート検出装置1は、図1に示すように、電流供給部2、電圧測定部3、駆動機構4、演算制御部(本発明における検出部)5、表示部6、複数のプローブ(電圧検出端子)7,7・・、および支持板8を備え、燃料電池内に配設された一対の平板電極EL1,EL2間にショート箇所が存在するときには、一対の平板電極EL1,EL2の面内におけるショート箇所の位置(以下、「ショート位置」ともいう)を検出可能に構成されている。本例では、各平板電極EL1,EL2は一例として同じ大きさの長方形にそれぞれ形成されているものとする。また、平板電極EL1,EL2間に介在する電解質膜ELFは、燃料電池内に実際に配置された状態では導電性を有するが、ショート位置検出対象体の状態では、乾燥して絶縁性を有している。
As shown in FIG. 1, the
電流供給部2は、演算制御部5の制御下で、電解質膜ELFを挟んで対向配置される一対の平板電極EL1,EL2のうちの一方の平板電極EL1における所定の部位と他方の平板電極EL2における所定の部位(一例として電流供給点B)との間に直流定電流を供給する。この場合、ショート検出装置1は、平板電極EL1に対する電流供給点である所定の部位については、後述するように、電流供給点Aまたは電流供給点A1など、平板電極EL1の表面における任意の位置に設定できるように構成されている。平板電極EL1に対する電流供給点を任意の位置に設定できるようにするための構成としては、電流供給部2に例えば3次元(X−Y−Z)移動機構(図示せず)を設けると共に、平板電極EL1に電流を供給するためのプローブ(図示せず)をこの3次元移動機構に取り付けて自動で移動させる構成を採用することができる。
Under the control of the
電圧測定部3は、基準点としての平板電極EL1における所定の部位(一例として電流供給点A(またはA1))と、各プローブ7をそれぞれ接触させた各部位との間の各電位差をそれぞれ測定して電圧データDvとして出力する。この場合、プローブ7を接触させる測定位置MPは、図2に示すように、本発明における所定のパターンの一例として、マトリックスにおける各交点位置に対応させて平板電極EL1上に合計121個(MP(i,j):i=1,2,3,・・・,9,a,b、j=1,2,3,・・・,9,a,b、以下、区別しないときには「測定位置MP」ともいう。)規定されている。これに対応して、これらの交点位置の数と同数のプローブ7が、各交点位置に対応するように同一平面上にマトリックス状に並設された状態で、平板電極EL1と平行に配置された支持板8に取り付けられている。
The
駆動機構4は、複数のプローブ7が取り付けられた支持板8を支持するためのアーム4aを備え、アーム4aを上下動させて支持板8を平板電極EL1に対して接離動させることにより、全プローブ7を平板電極EL1上の対応する測定位置MPに同時に接触させる。
The drive mechanism 4 includes an
演算制御部5は、電流供給部2、電圧測定部3および駆動機構4を制御する。また、演算制御部5は、電圧測定部3から出力される電圧データDvに基づいて第1および第2のショート位置検出処理を実行して、各平板電極EL1,EL2間のショート位置を検出する。また、演算制御部5は、演算制御部5によるショート位置検出の結果を表示部6に表示させる。
The
次に、ショート検出装置1による一対の平板電極EL1,EL2間のショート検出処理について、図3〜図5を参照して説明する。一例として図2において黒丸印で表示された測定位置MP(6,8)および測定位置MP(b,1)の2点においてショートしているときのショート位置の検出処理動作について説明する。なお、電解質膜ELFを挟んで対向して配置された一対の平板電極EL1,EL2は、図1に示す位置(測定位置)に予め配設されているものとする。
Next, short detection processing between the pair of flat plate electrodes EL1 and EL2 by the
まず、図3に示すように、演算制御部5は、駆動機構4を制御することにより、支持板8に取り付けた各プローブ7を、対応する平板電極EL1表面の各測定位置MPに接触させる(ステップ31)。続いて、演算制御部5は、図外の放電回路を作動させることにより、平板電極EL1,EL2に充電されている電荷を放電させる(ステップ32)。
First, as shown in FIG. 3, the
次いで、演算制御部5は、第1のショート位置検出処理を実行する(ステップ33)。この処理では、図4に示すように、演算制御部5は、電流供給部2を定電流動作させて、平板電極EL1の電流供給点Aと平板電極EL2の電流供給点Bとの間への直流定電流の供給を開始させる(ステップ41)。この場合、各電流供給点A,Bは、一例として、図1,2に示すように、各平板電極EL1,EL2における対向する一つの隅部(左下の隅部)にそれぞれ設定されている。次いで、演算制御部5は、電圧測定部3をスキャニング動作させて平板電極EL1表面の電圧分布を測定する(ステップ42)。具体的には、電圧測定部3は、各プローブ7を順次スキャニングして基準点(電流供給点A)と各測定位置MPとの間の電位差(基準点の電位を基準とした各測定位置MPの電圧)を電圧分布として測定し、測定した各測定位置MPにおける電位差を電圧データDvとして演算制御部5に出力する。演算制御部5は、この電圧データDvを順次取り込み、取り込んだ電圧データDvをその測定位置MPの位置に関連付けて内部メモリに順次記憶する。また、演算制御部5は、電圧分布の測定を完了した後、電流供給部2の定電流動作を停止させると共に、図外の放電回路を作動させることにより、平板電極EL1,EL2に充電されている電荷を放電させる。
Next, the
演算制御部5は、すべての測定位置MPに対する電圧データDvの取り込みを完了した後に、隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs(Vs1,Vs2)を算出する(ステップ43)。具体的には、まず、演算制御部5は、すべての電圧データDvのうちの最大値(絶対値が最大となる値)を検索し、検索した最大値を−100とする規格化を各電圧データDvに対して実行して規格化データDsを求めると共に、求めた規格化データDsを電圧データDvと同様にして、測定位置MP(i,j)に対応した行列形式で内部メモリに記憶する。次いで、演算制御部5は、所定の方向に沿って隣接する測定位置MP,MP同士の規格化データDsの差分と相互間の距離Lとに基づき、隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vsを算出する。一例として、演算制御部5は、まず、図2における左右方向(行方向)に沿って隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs1を所定の方向に位置する測定位置MPの規格化データDsを基準として算出する。具体的には、演算制御部5は、左方向に位置する測定位置MPの規格化データDsを基準として電圧勾配Vs1を算出する。つまり、演算制御部5は、測定位置MP(i,j+1)の規格化データDsから左隣の測定位置MP(i,j)の規格化データDsを減算し、この減算値を距離Lで除算して電圧勾配Vs1を求め、行列形式(本例では値(i,j)に対応させた10行10列の行列形式)で内部メモリに記憶する。また、演算制御部5は、図2における上下方向(列方向)に沿って隣接する測定位置MP,MP同士間の電圧勾配Vs2を所定の方向に位置する測定位置MPの規格化データDsを基準として算出する。具体的には、演算制御部5は、下方向に位置する測定位置MPの規格化データDsを基準として電圧勾配Vs2を算出する。つまり、演算制御部5は、測定位置MP(i+1,j)の規格化データDsから下隣の測定位置MP(i,j)の規格化データDsを減算し、この減算値を距離Lで除算して電圧勾配Vs2を求め、行列形式(本例では値(i,j)に対応させた10行10列の行列形式)で内部メモリに記憶する。
The
次いで、演算制御部5は、各電圧勾配Vs1,Vs2に基づき、電圧極小点となる測定位置MP(ショート位置)を検出する(ステップ44)。具体的には、演算制御部5は、行列形式で記憶されている電圧勾配Vs1に対して、行毎に例えば左方向から右方向に順次検索して、電圧勾配Vs1の極性が反転する測定位置MP(電圧極小点となる測定位置MP)を検出すると共に、行列形式で記憶されている電圧勾配Vs2に対して、列毎に例えば下方向から上方向に順次検索して、電圧勾配Vs2の極性が反転する測定位置MP(電圧極小点となる測定位置MP)を検出し、左右方向および上下方向の両方向の検索において共にショート位置として検出された測定位置MPを最終的なショート位置として特定する。
Next, the
この場合、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも高電位のときには、電流供給点Aから供給された電流は平板電極EL1上において電流供給点Aからショート位置に流れ込む。このため、ショート位置の周囲に位置する複数の測定位置MPについての電圧データDvの内ではショート位置に最も近接する特定の測定位置MPの規格化データDsが最も小さくなる。したがって、この特定の測定位置MPの規格化データDsから特定の測定位置MPの左隣に位置する測定位置MPの規格化データDsを減算して得られる差分と距離Lとに基づいて算出される電圧勾配Vs1の極性は常にマイナス極性となり、特定の測定位置MPの右隣に位置する測定位置MPの規格化データDsから特定の測定位置MPの規格化データDsを減算して得られる差分と距離Lとに基づいて算出される電圧勾配Vs1の極性は常にプラス極性となる。同様にして、この特定の測定位置MPの規格化データDsから特定の測定位置MPの下隣に位置する測定位置MPの規格化データDsを減算して得られる差分と距離Lとに基づいて算出される電圧勾配Vs1の極性は常にマイナス極性となり、特定の測定位置MPの上隣に位置する測定位置MPの規格化データDsから特定の測定位置MPの規格化データDsを減算して得られる差分と距離Lとに基づいて算出される電圧勾配Vs1の極性は常にプラス極性となる。したがって、演算制御部5は、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも高電位のときには、電圧勾配Vs1に対しては、行毎に左方向から右方向に順次検索して、電圧勾配Vs1の極性がマイナス極性からプラス極性に転じる測定位置MPを検出する。また、電圧勾配Vs2に対しては、列毎に下方向から上方向に順次検索して、電圧勾配Vs2の極性がマイナス極性からプラス極性に転じる測定位置MPを検出する。
In this case, when the potential at the current supply point A is higher than the potential at the current supply point B, the current supplied from the current supply point A flows from the current supply point A to the short position on the plate electrode EL1. For this reason, the normalized data Ds of the specific measurement position MP closest to the short position is the smallest among the voltage data Dv for the plurality of measurement positions MP located around the short position. Therefore, it is calculated based on the difference obtained by subtracting the normalized data Ds of the measurement position MP located on the left side of the specific measurement position MP from the normalized data Ds of the specific measurement position MP and the distance L. The polarity of the voltage gradient Vs1 is always negative, and the difference and distance obtained by subtracting the standardized data Ds of the specific measurement position MP from the standardized data Ds of the measurement position MP located immediately to the right of the specific measurement position MP. The polarity of the voltage gradient Vs1 calculated based on L is always positive. Similarly, calculation is performed based on the difference obtained by subtracting the normalized data Ds of the measurement position MP located immediately below the specific measurement position MP from the normalized data Ds of the specific measurement position MP and the distance L. The polarity of the applied voltage gradient Vs1 is always negative, and the difference obtained by subtracting the normalized data Ds of the specific measurement position MP from the normalized data Ds of the measurement position MP located immediately above the specific measurement position MP. The polarity of the voltage gradient Vs1 calculated based on the distance L is always positive. Therefore, when the potential at the current supply point A is higher than the potential at the current supply point B, the
一方、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも低電位のときには、逆に、平板電極EL1には平板電極EL2側からショート位置を介して電流が流れ込む。このため、平板電極EL1上におけるショート位置の周囲に位置する複数の測定位置MPの電圧データDvの内では、ショート位置に最も近接する特定の測定位置MPの規格化データDsが最も大きくなる。その結果、特定の測定位置MPの左右方向および上下方向に隣接する4つの測定位置MPと特定の測定位置MPとの間の電圧勾配Vs1,Vs2の各極性は、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも高電位のときとはそれぞれ逆極性になる。したがって、演算制御部5は、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも低電位のときには、電圧勾配Vs1に対しては、行毎に例えば左方向から右方向に順次検索して、電圧勾配Vs1の極性がプラス極性からマイナス極性に転じる測定位置MPを検出する。また、電圧勾配Vs2に対しては、列毎に例えば下方向から上方向に順次検索して、電圧勾配Vs2の極性がプラス極性からマイナス極性に転じる測定位置MPを検出する。この場合、電流供給点Aの電位が電流供給点Bの電位よりも高電位のため、演算制御部5は、電圧勾配Vs1,Vs2に対して、マイナス極性からプラス極性に転じる測定位置MPを検出する。
On the other hand, when the potential at the current supply point A is lower than the potential at the current supply point B, conversely, current flows into the plate electrode EL1 from the plate electrode EL2 side through the short position. For this reason, among the voltage data Dv of the plurality of measurement positions MP located around the short position on the plate electrode EL1, the standardized data Ds of the specific measurement position MP closest to the short position is the largest. As a result, the polarities of the voltage gradients Vs1 and Vs2 between the four measurement positions MP adjacent to the specific measurement position MP in the left-right direction and the vertical direction and the specific measurement position MP are as follows. The polarity is opposite to that when the potential is higher than the potential at the supply point B. Therefore, when the potential at the current supply point A is lower than the potential at the current supply point B, the
また、この例では、測定位置MP(6,8)において平板電極EL1,EL2同士がショートしているため、電圧勾配Vs1に対しては、10行10列の行列形式における6行目(i=6)において、7列目の電圧勾配Vs1(図2における7列目と8列目との間の電圧勾配Vs1)がマイナス極性になり、8列目の電圧勾配Vs1(図2における8列目と9列目との間の電圧勾配Vs1)がプラス極性になる。したがって、演算制御部5は、電圧勾配Vs1に関する電圧極小点として測定位置MP(6,8)を検出し、この測定位置MP(6,8)をショート位置の候補とする。また、電圧勾配Vs2に対しては、10行10列の行列形式における8列目(j=8)において、5行目の電圧勾配Vs2(図2における5行目と6行目との間の電圧勾配Vs2)がマイナス極性になり、6行目の電圧勾配Vs2(図2における6行目と7行目との間の電圧勾配Vs2)がプラス極性になる。したがって、演算制御部5は、電圧勾配Vs2に関する電圧極小点として測定位置MP(6,8)を検出し、この測定位置MP(6,8)をショート位置の候補とする。演算制御部5は、異なる2方向(互いに直交する左右方向および上下方向)に沿った電圧極小点(ショート位置)の検出結果を比較して、測定位置MP(6,8)が両方向の検索において共にショート位置として検出されているため、この測定位置MP(6,8)を最終的なショート位置として特定する。
In this example, since the plate electrodes EL1 and EL2 are short-circuited at the measurement position MP (6, 8), the sixth row (i = 10) in the 10 × 10 matrix format with respect to the voltage gradient Vs1. 6), the voltage gradient Vs1 in the seventh column (voltage gradient Vs1 between the seventh column and the eighth column in FIG. 2) has a negative polarity, and the voltage gradient Vs1 in the eighth column (the eighth column in FIG. 2). And the voltage gradient Vs1) between the 9th column becomes positive polarity. Therefore, the
次いで、演算制御部5は、検出した電圧極小点となる測定位置MP(6,8)に関する情報(位置や数の情報)を表示部6に表示させ(ステップ45)、第1のショート位置検出処理を終了する。なお、測定位置の分解能の関係上、電圧極小点となる測定位置MPそのものがショート位置となるとは限らないものの、少なくとも電圧極小点となる測定位置MPがすべての測定位置MPの中で実際のショート位置に最も近接している。したがって、両方向の検索において共にショート位置として検出した測定位置MPをショート位置と特定することにより、実質的に、この測定位置MPの極く近傍に存在する実際のショート位置が特定される。なお、測定位置MP(b,1)は平板電極EL1の外縁部(具体的には隅部)に位置しているため、隣接する測定位置MP(b,2),MP(a,1)よりも常に低電位となる。したがって、電圧極小点を検索する第1のショート位置検出処理では、測定位置MP(b,1)はショート位置として検出されない。
Next, the
次いで、演算制御部5は、図3に示すように、第1のショート位置検出処理においてショート位置を検出したか否か(ショート位置の有無)を判別し(ステップ34)、ショート位置を検出したときにはステップ35を実行して電流供給点を変更した後、ショート位置を検出しないときにはステップ35を実行することなく第2のショート位置検出処理(ステップ36)を実行することにより、平板電極EL1,EL2の外縁部に位置するショート位置を検出する。
Next, as shown in FIG. 3, the
本例では、第1のショート位置検出処理において測定位置MP(6,8)がショート位置として検出されているため、まず、第1のショート位置検出処理における電流供給点Aに代えて、図1,2に示すように、この第1のショート位置検出処理においてショート位置として検出した測定位置MP(6,8)を平板電極EL1に対する新たな電流供給点(本発明における新たな所定の部位)A1とする(ステップ35)。次いで、演算制御部5は、第2のショート位置検出処理(ステップ36)を実行する。具体的には、演算制御部5は、電流供給部2を定電流動作させて、図5に示すように、平板電極EL1の電流供給点A1と平板電極EL2の電流供給点Bとの間に対する直流定電流の供給を開始させる(ステップ51)。次いで、演算制御部5は、電圧測定部3をスキャニング動作させて平板電極EL1表面の電圧分布を測定する(ステップ52)。具体的には、電圧測定部3は、平板電極EL1の電流供給点A1を新たな基準点とすると共に、各プローブ7を順次スキャニングして新たな基準点(電流供給点A1)と各測定位置MPとの間の電位差(基準点を基準とした各測定位置MPの電圧)を電圧分布として測定し、測定した各測定位置MPの電位差を電圧データDvとして演算制御部5に出力する。演算制御部5は、この電圧データDvを順次取り込み、取り込んだ電圧データDvをその測定位置MPの位置に関連付けて内部メモリに順次記憶する。また、演算制御部5は、電圧分布の測定を完了した後に、電流供給部2の定電流動作を停止させると共に、図外の放電回路を作動させることにより、平板電極EL1,EL2に充電されている電荷を放電させる。
In this example, since the measurement position MP (6, 8) is detected as the short position in the first short position detection process, first, instead of the current supply point A in the first short position detection process, FIG. , 2, the measurement position MP (6, 8) detected as the short position in the first short position detection processing is used as a new current supply point (new predetermined portion in the present invention) A1 for the plate electrode EL1. (Step 35). Next, the
続いて、演算制御部5は、内部メモリに記憶した電圧データDvに基づいてショート位置を検出する(ステップ53)。具体的には、演算制御部5は、各測定位置MPについての電圧データDvを相互に比較して、電圧データDvの最も低い測定位置MPを検索する。ショート位置が存在しないときには、各測定位置MPの電圧データDvは若干ばらつくもののほぼ同じ値になる。したがって、演算制御部5は、各測定位置MPの電圧データDvがこのばらつきの範囲内にあるときにはショート位置が存在しないと判別し、このばらつきの範囲よりもさらに低い電圧データDvの測定位置MPが存在するときには、これらの測定位置MPのうちの最も低い電圧データDvの測定位置MPを検索する。次いで、演算制御部5は、このような測定位置MPを検索したときには、この測定位置MPが平板電極EL1の外縁部に位置する測定位置MPであるか否かを判別し、外縁部に位置する測定位置MPのときには、検索した測定位置MPをショート位置として検出する。この例では、電流供給部2は、ショート位置である測定位置MP(6,8)を電流供給点A1として平板電極EL1に電流を供給する。したがって、平板電極EL1から平板電極EL2への電流供給経路としては、電流供給点A1である最も電圧の高い測定位置MP(6,8)から平板電極EL2に直接的に流れる経路と、測定位置MP(6,8)から他のショート位置である測定位置MP(b,1)まで平板電極EL1上を流れた後にこの測定位置MP(b,1)から平板電極EL2に流れる経路との2つが存在する。このため、平板電極EL1の表面における電圧分布は、測定位置MP(6,8)がショート位置であるにも拘わらず電圧が最も高くなり、もう一つのショート位置である測定位置MP(b,1)の電圧が常に最も低くなる。したがって、演算制御部5は、平板電極EL1の外縁部に位置して、電圧の最も低い測定位置MP(b,1)をショート位置として検出する。
Subsequently, the
一方、平板電極EL1,EL2が、測定位置MP(6,8)以外でショートしていないときには、平板電極EL1から平板電極EL2への電流供給経路は、電流供給点A1である測定位置MP(6,8)から平板電極EL2に直接的に流れる経路のみとなる。この状態では、平板電極EL1上の電圧分布は、すべての測定位置MPにおける電位がほぼ同じ電位となる。したがって、演算制御部5は、検索の結果、最も電圧データDvの小さい測定位置MPが存在しないとき、言い換えれば、すべての測定位置MPにおける電圧データDvがほぼ等しいときには、測定位置MP(6,8)以外のショート位置が存在しないと判別する。次いで、演算制御部5は、ショート位置として検出した測定位置MPに関する情報を表示部6に表示させ(ステップ54)、第2のショート位置検出処理を終了する。この例では、演算制御部5は、測定位置MPに関する情報として、測定位置MP(b,1)の位置を表示部6に表示させ、ショート位置が存在しないと判別したときには、その旨を表示させる。なお、ステップ34においてショート位置を検出しないときには第2のショート位置検出処理(ステップ36)のステップ51,52を実行することなく上記のショート位置の検出(ステップ53)を実行することもできる。
On the other hand, when the plate electrodes EL1 and EL2 are not short-circuited except at the measurement position MP (6, 8), the current supply path from the plate electrode EL1 to the plate electrode EL2 is the measurement position MP (6) which is the current supply point A1. 8), and only the path that flows directly to the plate electrode EL2. In this state, the voltage distribution on the plate electrode EL1 has substantially the same potential at all measurement positions MP. Accordingly, when the measurement position MP having the smallest voltage data Dv does not exist as a result of the search, in other words, when the voltage data Dv at all the measurement positions MP is substantially equal, the
この第2のショート位置検出処理を終了した後、演算制御部5は、図3に示すように、第2のショート位置検出処理においてショート位置を検出したか否か(ショート位置の有無)を判別し(ステップ37)、ショート位置を検出していないと判別したきには各プローブ7を平板電極EL1から離間させる(ステップ39)。一方、演算制御部5は、ステップ37において、ショート位置を検出したと判別したときには、さらに電流供給点の変更を実施したか否かを判別し(ステップ38)、実施したと判別したときには各プローブ7を平板電極EL1から離間させ(ステップ39)、実施していないと判別したときには、ステップ35,36を再度実行することにより、平板電極EL1,EL2の外縁部に位置する他のショート位置を検出する。本例では、平板電極EL1,EL2は、測定位置MP(6,8)および測定位置MP(b,1)の2つの位置においてショートしているため、ステップ35において電流供給点が既に変更され、最初の第2のショート位置検出処理においてショート位置が既に検出されている。したがって、演算制御部5は、ステップ37においてショート位置を検出したと判別してステップ38に移行し、ステップ38において電流供給点が既に変更されたと判別してステップ39に移行する。最後に、演算制御部5は、ステップ39において、駆動機構4を制御することにより、各プローブ7を平板電極EL1から離間させる。これにより、すべてのショート検査が完了する。
After completing the second short position detection process, the
なお、一対の平板電極EL1,EL2が外縁部のみでショートしている場合、例えば、図2に示すように、黒三角印で表示された測定位置MP(3,b)および測定位置MP(b,b)の2点で各平板電極EL1,EL2がショートしているときには、第1のショート位置検出処理(ステップ33)では、ショート位置は検出されない。このようなときには、上記したように、ステップ35を実行することなく(電流供給点を変更することなく)、演算制御部5が第2のショート位置検出処理(ステップ36)を実行する。一例として、演算制御部5は、第2のショート位置検出処理により、測定位置MP(3,b)を最初のショート位置として検出したとする。次いで、演算制御部5は、ステップ37においてショート位置を検出したと判別すると共に、続くステップ38において電流供給点の変更を実施していないと判別してステップ35に移行する。ステップ35においては、最初に実行した第2のショート位置検出処理において最初のショート位置として検出された測定位置MP(3,b)を電流供給点Aに代えて平板電極EL1に対する新たな電流供給点とする。次いで、演算制御部5は、2回目の第2のショート位置検出処理を実行する(ステップ36)。演算制御部5は、この2回目の第2のショート位置検出処理において、測定位置MP(3,b)を平板電極EL1に対する新たな電流供給点として電流供給部2に直流定電流の供給を実施させ、この状態において最も電圧データDvの小さい測定位置MPを検出することにより、測定位置MP(b,b)を次のショート位置として検出する。次いで、演算制御部5は、ステップ37においてショート位置を検出したと判別すると共に、続くステップ38において電流供給点の変更を実施したと判別してステップ39に移行し、各プローブ7を平板電極EL1から離間させてすべてのショート検査を完了させる。
When the pair of plate electrodes EL1 and EL2 are short-circuited only at the outer edge portion, for example, as shown in FIG. 2, the measurement position MP (3, b) and the measurement position MP (b) displayed by black triangle marks , B) When the plate electrodes EL1, EL2 are short-circuited at two points, the short position is not detected in the first short position detection process (step 33). In such a case, as described above, the
また、一対の平板電極EL1,EL2が外縁部でショートしていない場合、第1のショート位置検出処理においてショート位置が検出されて電流供給点の変更が実施されたときであったとしても、また第1のショート位置検出処理においてショート位置が検出されずに電流供給点の変更が実施されないときであったとしても、演算制御部5が第2のショート位置検出処理(ステップ36)を実行したときの平板電極EL1上の電圧分布は、すべての測定位置MPにおける電位がほぼ同じ電位となり、第2のショート位置検出処理においてショート位置は検出されない。したがって、演算制御部5は、最初に第2のショート位置検出処理を実行した後のステップ37においてショート位置を検出していないと判別して、ステップ39に移行し、各プローブ7を平板電極EL1から離間させてすべてのショート検査を完了させる。
Further, when the pair of plate electrodes EL1 and EL2 are not short-circuited at the outer edge portion, even if the short-circuit position is detected and the current supply point is changed in the first short-position detection process, Even when the short-circuit position is not detected in the first short-position detection process and the current supply point is not changed, the
このように、このショート検出装置1によれば、演算制御部5が、1つのショート位置を検出した後に他のショート位置を検出するときに、一方の平板電極EL1における1つのショート位置に対応する測定位置MPを新たな所定の部位として電流供給部2に対して直流定電流を供給させている状態において電圧測定部3によって測定された一方の平板電極EL1表面の電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置MPを検出すると共に、検出した測定位置MPが一方の平板電極EL1の外縁部に位置するときに、その測定位置MPを一対の平板電極EL1,EL2間における他のショート位置とすることにより、他のショート位置を確実に検出することができる。
Thus, according to this
また、このショート検出装置1によれば、演算制御部5が、電圧勾配Vs1,Vs2に基づいて電圧極小点となる測定位置MPをショート位置として検出したときには、検出したショート位置に対応する測定位置MPを新たな所定の部位として電流供給部2に対して直流定電流を供給させている状態において電圧測定部3によって測定された平板電極EL1表面の電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置MPを検出すると共に、検出した測定位置MPが一方の平板電極EL1の外縁部に位置するときに、その測定位置MPを一対の平板電極EL1,EL2間における他のショート位置とすることにより、一対の平板電極EL1,EL2同士が外縁部における1箇所でショートし、かつ非外縁部における1箇所でショートしているときであっても、両ショート位置にそれぞれ対応する測定位置MPを確実に検出することができる。
Further, according to the
さらに、このショート検出装置1によれば、演算制御部5が、電圧測定部3によって測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置MPを検出すると共にこの検出した測定位置MPが平板電極EL1の外縁部に位置するときには、検出した測定位置MPを1つのショート箇所の位置として検出し、さらに、検出したショート位置に対応する測定位置MPを新たな所定の部位として電流供給部2に対して直流定電流を供給させている状態において電圧測定部3によって測定された一方の平板電極EL1表面の電圧分布に基づいて最も低い電圧の測定位置MPを検出すると共に、検出した測定位置MPが一方の平板電極EL1の外縁部に位置するときに、その測定位置MPを一対の平板電極EL1,EL2間における他のショート位置とすることにより、一対の平板電極EL1,EL2同士が外縁部における2箇所でショートしているときであっても、両ショート位置にそれぞれ対応する測定位置MPを確実に検出することができる。
Furthermore, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されず、適宜変更することが可能である。例えば、ショート検出装置1では、第1のショート位置検出処理と第2のショート位置検出処理とを実行する構成を採用したが、平板電極EL1,EL2が常に外縁部のみでショートするときには、第1のショート位置検出処理を実行せずに、第2のショート位置検出処理だけを実行する構成を採用することもできる。また、上記のショート検出装置1では、複数の測定位置MPに対応してプローブ7を複数配置する構成を採用しているが、1本のプローブ7を各測定位置MPに順次接触させて各測定位置MPにおける電位差を測定する構成を採用することもできる。この構成によれば、ショート位置を特定するまでの時間が長くなるものの、ショート検出装置1の構成を簡略化することができる結果、装置コストを低減することができる。また、ショート検出装置1では、左右、上下の2方向に沿った電圧勾配Vs1,Vs2に基づいて電圧極小点を検出してショート位置を特定しているが、斜め方向に沿った電圧勾配に基づいて電圧極小点を検出してショート位置を特定する構成を採用することもできる。また、左右、上下の2方向の電圧勾配Vs1,Vs2と斜め方向の電圧勾配との両者に基づいてショート位置を検出する構成を採用することもできる。この構成によれば、ショート位置の検出精度を一層高めることができる。
In addition, this invention is not limited to said structure, It can change suitably. For example, the
また、ショート検出装置1では、異なる2方向に沿った電圧勾配Vs1,Vs2に基づいてショート位置を検出する構成を採用して検出精度を高めているが、検出精度よりも検出速度を優先するときには、一方向に沿った電圧勾配Vsのみに基づいてショート位置を検出することもできる。また、ショート検出装置1では、電圧測定部3によって測定された電圧データDvを規格化した規格化データDsに基づいて電圧勾配Vs1,Vs2を算出する構成が採用されているが、この規格化処理を省いて、電圧データDvから電圧勾配Vs1,Vs2を直接的に算出する構成を採用することもできる。
The
また、ショート検出装置1では、プローブ7を接触させる複数の測定位置MP,MP・・を図2に示すようにマトリックス状のパターンで平板電極EL1上に規定しているが、正三角形、正方形、平行四辺形および正六角形などの多角形を隣接して配置し、各多角形の頂点に各測定位置MPを対応させることで、規則性を有するパターン上に各測定位置MPを配置することもできる。また、ショート検出装置1では、電圧測定部3による電圧データDvの測定時における基準点を平板電極EL1における電流供給点Aに設定する構成を採用しているが、この基準点を電流供給点Aとは異なる任意の点に設定することもできる。また、燃料電池における平板電極EL1,EL2間のショート位置を検出する例について説明したが、本発明は他の分野における一対の平板電極間に対するショート位置検出にも有効に適用することができる。また、ショート検出装置1では、電流供給部2と電圧測定部3とを別体に設ける構成を採用しているが、例えば、電圧測定部3内に直流定電流源として電流供給部2を配設すると共に、一点鎖線で示すように電圧測定部3内の電流供給部2と電流供給点Bとを接続し、かつ複数のプローブ7のうちの1本を電流供給用として電流供給部2に接続することにより、電圧測定部3から平板電極EL1,EL2間に直流定電流を供給する構成を採用することもできる。
Further, in the
1 ショート検出装置
2 電流供給部
3 電圧測定部
4 駆動機構
5 演算制御部(本発明における検出部)
7 プローブ
A,A1 電流供給点(平板電極EL1の所定の部位)
Dv 電圧データ
EL1,EL2 平板電極
MP 測定位置
DESCRIPTION OF
7 Probe A, A1 Current supply point (predetermined part of the plate electrode EL1)
Dv voltage data EL1, EL2 Plate electrode MP Measurement position
Claims (2)
前記電流供給部によって電流が供給されている状態において、所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定された複数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定された一つの基準点との間の各電位差を電圧分布として測定する電圧測定部と、
前記測定された電圧分布に基づいて前記各測定位置と所定の方向に沿って隣接する他の測定位置との間の各電圧勾配を算出すると共に当該算出した各電圧勾配に基づいて電圧極小点となる当該測定位置を前記一対の平板電極間における1つのショート箇所の位置として検出する検出部とを備え、
前記検出部が1つのショート箇所の位置を検出した後に他のショート箇所の位置を検出するときに、前記電流供給部は、前記一方の平板電極における当該1つのショート箇所としての前記測定位置を新たな前記所定の部位として、当該新たな所定の部位と前記他方の平板電極における前記所定の部位との間に前記電流を供給し、前記電圧測定部は、前記新たな所定の部位を前記一つの基準点として、当該電流供給部によって前記電流が供給されている状態での前記電圧分布を測定し、当該検出部は、当該測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に、当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における前記他のショート箇所の位置として検出するショート検出装置。 A current supply section for supplying a current between a predetermined portion of one flat plate electrode and a predetermined portion of the other flat plate electrode of the pair of flat plate electrodes disposed opposite to each other;
Between a plurality of measurement positions defined on the one plate electrode in a predetermined pattern and one reference point defined on the one plate electrode in a state where current is supplied by the current supply unit A voltage measuring unit for measuring each potential difference of the voltage as a voltage distribution;
A voltage gradient between each measurement position and another measurement position adjacent along a predetermined direction is calculated based on the measured voltage distribution, and a voltage minimum point is calculated based on the calculated voltage gradient. A detection unit that detects the measurement position as a position of one short portion between the pair of plate electrodes,
When the detection unit detects the position of one short part after detecting the position of one short part, the current supply unit newly sets the measurement position as the one short part in the one plate electrode. As the predetermined portion, the current is supplied between the new predetermined portion and the predetermined portion of the other flat plate electrode, and the voltage measuring unit assigns the new predetermined portion to the one predetermined portion. As a reference point , the voltage distribution in a state where the current is supplied by the current supply unit is measured, and the detection unit detects the measurement position of the lowest voltage based on the measured voltage distribution. In addition, when the detected measurement position is located at the outer edge portion of the one flat plate electrode, the detected measurement position is the position of the other shorted portion between the pair of flat plate electrodes. Short-circuit detection device that detected.
前記電流供給部によって電流が供給されている状態において、所定のパターンで前記一方の平板電極上に規定された複数の測定位置と当該一方の平板電極上に規定された一つの基準点との間の各電位差を電圧分布として測定する電圧測定部と、
前記測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における1つのショート箇所の位置として検出する検出部とを備え、
前記検出部が1つのショート箇所の位置を検出した後に他のショート箇所の位置を検出するときに、前記電流供給部は、前記一方の平板電極における当該1つのショート箇所としての前記測定位置を新たな前記所定の部位として、当該新たな所定の部位と前記他方の平板電極における前記所定の部位との間に前記電流を供給し、前記電圧測定部は、前記新たな所定の部位を前記一つの基準点として、当該電流供給部によって前記電流が供給されている状態での前記電圧分布を測定し、当該検出部は、当該測定された電圧分布に基づいて最も低い電圧の前記測定位置を検出すると共に、当該検出した測定位置が前記一方の平板電極の外縁部に位置するときに、当該検出した測定位置を前記一対の平板電極間における前記他のショート箇所の位置として検出するショート検出装置。 A current supply section for supplying a current between a predetermined portion of one flat plate electrode and a predetermined portion of the other flat plate electrode of the pair of flat plate electrodes disposed opposite to each other;
Between a plurality of measurement positions defined on the one plate electrode in a predetermined pattern and one reference point defined on the one plate electrode in a state where current is supplied by the current supply unit A voltage measuring unit for measuring each potential difference of the voltage as a voltage distribution;
Based on the measured voltage distribution, the measurement position of the lowest voltage is detected, and when the detected measurement position is located at an outer edge portion of the one plate electrode, the detected measurement position is set to the pair of flat plates. A detection unit that detects the position of one short spot between the electrodes,
When the detection unit detects the position of one short part after detecting the position of one short part, the current supply unit newly sets the measurement position as the one short part in the one plate electrode. As the predetermined portion, the current is supplied between the new predetermined portion and the predetermined portion of the other flat plate electrode, and the voltage measuring unit assigns the new predetermined portion to the one predetermined portion. As a reference point , the voltage distribution in a state where the current is supplied by the current supply unit is measured, and the detection unit detects the measurement position of the lowest voltage based on the measured voltage distribution. In addition, when the detected measurement position is located at the outer edge portion of the one flat plate electrode, the detected measurement position is the position of the other shorted portion between the pair of flat plate electrodes. Short-circuit detection device that detected.
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