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JP4887974B2 - 標本化装置及び標本化方法 - Google Patents
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JP4887974B2 - 標本化装置及び標本化方法 - Google Patents

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本発明は、標本化装置及び標本化方法に関する。
従来、各種被測定装置から出力される被測定信号を標本化して標本値のデータを取得、表示する標本化装置が実施されている(例えば、特許文献1〜3参照)。
また、交流(AC)結合された交流結合増幅手段と、2つの標本化手段と、を備える標本化装置装置も考えられている。図14に、従来の標本化装置100fの内部構成を示す。
図14に示すように、従来の標本化装置100fは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、2次標本化手段107と、AD変換手段108と、1次標本化信号発生手段110と、遅延手段129と、を備えて構成される。
交流結合増幅手段103は、交流結合された交流結合増幅手段であり、コンデンサ104と、アンプ105と、コンデンサ106と、を備えて構成される。DCバイアス手段102は、被測定信号S0に含まれる直流オフセット電圧を調整するための電圧を1次標本化手段101に供給する。
図15に、標本化装置100fの各種信号の時間特性を示す。先ず、被測定装置200から出力された被測定信号S0は、1次標本化手段101に入力される。図15に示すように、被測定信号S0は、例えば、0から所定値まで増加した後、一定値となる信号とする。
1次標本化手段101において、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、被測定信号S0が標本化され、1次標本値信号S2として出力される。1次標本値信号S2は、インパルス波形に近く、振幅が極めて小さいものである。このため、1次標本値信号S2を交流結合増幅手段103に通すことでインパルス波形を鈍らせつつ振幅をかせぐ。
交流結合増幅手段103において、2次標本化手段107に必要な振幅まで1次標本値信号S2が増幅されて増幅値信号S3として出力される。図15に示すように、増幅値信号S3は、1次標本値信号S2から遅延が発生している。遅延手段129において、交流結合増幅手段103の増幅時の遅延に対応する遅延量が、1次標本化信号S1に与えられて2次標本化信号S21として出力される。2次標本化手段107において、2次標本化信号S21に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、増幅値信号S3が標本化され、2次標本値信号S22として出力される。
アナログ信号である2次標本値信号S22は、2次標本化信号S21に同期して、AD変換手段108によりデジタル化(量子化)されデジタルの2次標本値信号S23として出力される。デジタル化された2次標本値信号は、例えば、図示しない外部機器に出力される。1次標本化手段101と、2次標本化手段107と、を組み合わせることにより、高速な被測定信号を低周波領域にダウンコンバートし、波形再生などに適した信号に変換していた。
特許第3444904号公報 特開2000−199769号公報 特許第3316583号公報
しかし、従来の標本化装置100fにおいて、図15に示す2次標本値信号S23は、被測定信号S0が一定にも関わらず、時間とともに減少していき、2次標本値信号S23の軌跡と、1次標本値信号S2のピーク値に対応する2次標本値信号S23の軌跡との間に誤差が生じていた。本来、この2つの軌跡は相似形になるはずである。
標本化装置100fでは、1次標本化手段101と2次標本化手段107との間に交流結合成分が存在し、2次標本値信号S23の振幅の平均値がゼロボルトになるように変化し定常状態に移行する。このため、被測定信号S0のように波高値が変化しない場合、若しくはその変化が交流結合成分の時定数に対して遅い場合に、2次標本値信号S23に誤差が発生していた。
2次標本値信号S23の誤差を解消するために、交流結合増幅手段103を直流増幅器に代えて交流結合部を削除する構成が考えられる。しかし、直流増幅器に代える構成では、次の4つの問題が残る。第1に、直流増幅器のオフセット電圧を補正する機構が必要になり、精度を高めるためには構成が複雑となる。第2に、1次標本化手段101の直流バイアス電圧により動作点が変化しないような構成をとる必要があり、構成が複雑になる。第3に、第1、第2の点により構成が複雑になると、設計工数及び交流結合増幅手段のコストが余計に必要となる。第4に、回路構成が複雑となるために雑音が大きくなる。
2次標本値信号S23における誤差の発生を別の観点から考察する。先ず、第1の原因を説明する。図16(a)に、1次標本値信号S2の周波数特性を示す。図16(b)に、交流結合増幅手段103の周波数特性を示す。図16(c)に、増幅値信号S3の周波数特性を示す。
1次標本化信号S1の周波数をサンプリング周波数fsとする。図16(a)に示すように、1次標本値信号S2のフーリエ変換後の周波数特性は、サンプリング周波数fsの高調波付近(サンプリング周波数fsの整数倍の周波数付近)にスペクトルを持つ。また、図16(b)に示すように、交流結合増幅手段103の周波数特性は、DC部(定数部)を含む低周波部及び高周波部をカットする特性である。
図16(c)に示すように、増幅値信号S3は、1次標本化信号S1のDC部(定数部)を含む低周波部及び高周波部がカットされる。増幅値信号S3を2次標本化手段107によりサンプリングすることで直流成分は再生される。しかし、本来の信号に含まれる直流成分がすべて再生されるわけではないので、この差が誤差となってしまう。
次いで、第2の原因を説明する。図17に、被測定信号周波数frc及びサンプリング周波数fsを示す。図18(a)に、1次標本化手段101の被測定信号周波数frcに対するゲイン特性を示す。図18(b)に、1次標本化手段101+交流結合増幅手段103の被測定信号周波数frcに対するゲイン特性を示す。
1次標本化手段101のゲイン特性は、測定周波数範囲においてフラットになることが好ましい。図17に示すように、1次標本化信号S1を一定とし、被測定信号S0を変化していくと、この2つの信号が同期する周波数が発生する。
図18(a)に示すように、被測定信号S0と1次標本化信号S1とが同期することで直流として見えるために第1の原因に示すような誤差となる。被測定信号S0の周波数をfrcとし、1次標本化信号S1の周波数をfsとした場合、次式(1)の条件で出力特性が下がることになる。
frc±fs×n=0(n=0〜∞) …(1)
但し、n:1次標本化手段101の帯域に依存する整数、である。
ここで、図18(a)で説明した1次標本化手段101のゲイン特性において、図16(b)で示した特性の交流結合増幅手段103を組み合わせて考える。すると、図18(b)に示すように、1次標本化手段101+交流結合増幅手段103のゲイン特性は、被測定信号周波数frcに対して、1次標本化手段101のゲイン特性に、交流結合の交流結合増幅手段103による低周波領域で振幅が減衰する減衰特性が加算され、式(1)の条件の周波数付近でディップ特性が発生する。このため、例えば、被測定信号周波数frcがサンプリング周波数のn倍になった場合と、そうでない場合とでは振幅レベルに差が出ていた。
上記第1及び第2の原因により、1次標本化手段101+交流結合増幅手段103は、低周波領域で振幅が減衰する周波数特性を有する。図19(a)に、PRBS(Pseudo Random Binary Sequence Code:擬似ランダムビット列)信号の被測定信号S0の波形を示す。図19(b)に、PRBS信号の被測定信号S0における2次標本値信号S23の振幅の減衰のイメージを示す。図19(c)に、PRBS信号における2次標本値信号S23のアイパターンを示す。
図19(a)に示すように、被測定信号S0としてPRBS信号を用いる場合に、図19(b)に示すように、2次標本値信号S23は、時間軸方向に減衰するような感じになる。また、通信信号のPRBS信号では、段数が上がるほど低周波成分を含む。このため、図19(c)に示すように、2次標本値信号S23のアイパターンは、ベースラインが太くなり、アイパターンがつぶれていく傾向になる。
本発明の課題は、交流結合増幅により発生する標本値の誤差を容易に低減することである。
上記課題を解決するため、請求項1に記載の発明の標本化装置は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
前記2次標本化信号発生手段は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の遅延信号とする第1の遅延手段と、
前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の遅延信号とする第2の遅延手段と、
前記第1及び第2の遅延信号の排他的論理和を算出し前記第2の標本化信号とする排他的論理和手段と、を備えることを特徴とする。
請求項2に記載の発明の標本化装置は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
前記2次標本化信号発生手段は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて遅延信号とする遅延手段と、
前記遅延信号の立ち上がりに同期して所定パルス幅の第1のパルス幅信号を発生する第1のパルス幅信号発生手段と、
前記遅延信号の立ち下がりに同期して所定パルス幅の第2のパルス幅信号を発生する第2のパルス幅信号発生手段と、
前記第1及び第2のパルス幅信号の論理和を算出し前記第2の標本化信号とする論理和手段と、を備えることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の標本化装置において、
前記2次標本値信号を量子化する量子化手段を備え、
前記演算手段は、前記量子化された2次標本値信号の前記ピーク値からベース値を減算して標本値信号とすることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1又は2に記載の標本化装置において、
前記標本値信号を量子化する量子化手段を備えることを特徴とする。
請求項に記載の発明の標本化装置は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
前記2次標本化信号発生手段は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の2次標本化信号とする第1の遅延手段と、
前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の2次標本化信号とする第2の遅延手段と、を備え、
前記2次標本化手段は、
前記第1の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第1の2次標本値信号とする第1の2次標本化手段と、
前記第2の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第2の2次標本値信号とする第2の2次標本化手段と、を備え、
前記演算手段は、前記第1の2次標本値信号から前記第2の2次標本値信号を減算して標本値信号とすることを特徴とする。
請求項に記載の発明は、請求項に記載の標本化装置において、
前記演算手段により減算された前記標本値信号の値が正しいタイミングを有する量子化信号を発生する量子化信号発生手段と、
前記量子化信号に同期して前記標本値信号を量子化する量子化手段と、を備えることを特徴とする。
請求項に記載の発明は、請求項からのいずれか一項に記載の標本化装置において、
情報を表示する表示手段と、情報を記録媒体に記録する記録手段と、の少なくとも一つを備え、
前記標本化信号を前記表示手段に表示させる制御及び前記記録手段に記録させる制御の少なくとも一つを行う制御手段と、を備えることを特徴とする。
請求項に記載の発明の標本化方法は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
前記2次標本化信号発生工程は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の遅延信号とする第1の遅延工程と、
前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の遅延信号とする第2の遅延工程と、
前記第1及び第2の遅延信号の排他的論理和を算出し前記第2の標本化信号とする排他的論理和工程と、を含むことを特徴とする。
請求項に記載の発明の標本化方法は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
前記2次標本化信号発生工程は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて遅延信号とする遅延工程と、
前記遅延信号の立ち上がりに同期して所定パルス幅の第1のパルス幅信号を発生する第1のパルス幅信号発生工程と、
前記遅延信号の立ち下がりに同期して所定パルス幅の第2のパルス幅信号を発生する第2のパルス幅信号発生工程と、
前記第1及び第2のパルス幅信号の論理和を算出し前記第2の標本化信号とする論理和工程と、を含むことを特徴とする。
請求項10に記載の発明の標本化方法は、
1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
前記2次標本化信号発生工程は、
前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の2次標本化信号とする第1の遅延工程と、
前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の2次標本化信号とする第2の遅延工程と、を備え、
前記2次標本化工程は、
前記第1の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第1の2次標本値信号とする第1の2次標本化工程と、
前記第2の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第2の2次標本値信号とする第2の2次標本化工程と、を含み、
前記演算工程は、前記第1の2次標本値信号から前記第2の2次標本値信号を減算して標本値信号とすることを特徴とする。
請求項1、2、8、9に記載の発明によれば、被測定信号の増幅値信号のピーク値及びベース値を標本化、そのピーク値からベース値を減算でき、交流結合増幅により発生する標本値の誤差を低減できる。また、増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を容易に発生できる。
請求項3に記載の発明によれば、量子化した標本値の誤差を低減できる。
請求項4に記載の発明によれば、標本値の誤差を低減できるとともに量子化できる。
請求項5、10に記載の発明によれば、被測定信号の増幅値信号のピーク値及びベース値を標本化し、そのピーク値からベース値を減算でき、交流結合増幅により発生する標本値の誤差を低減できる。また、第1の2次標本値信号から第2の2次標本値信号を減算して標本値信号を容易に取得できる。
請求項に記載の発明によれば、標本値信号から正しい値を量子化できる。
請求項に記載の発明によれば、標本値信号を、表示と記録媒体への記録との少なくとも一つを行うことができる。
以下、添付図面を参照して本発明に係る第1及び第2実施の形態、その変形例を詳細に説明する。ただし、発明の範囲は、図示例に限定されない。
(第1の実施の形態)
図1及び図2を参照して、本発明に係る第1の実施の形態を説明する。図1に、本実施の形態の標本化装置100aの内部構成を示す。図1に示すように、標本化装置100aは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、2次標本化手段107と、量子化手段としてのAD変換手段108と、演算手段109と、1次標本化信号発生手段110と、遅延手段111,112と、排他的論理和手段113と、を備えて構成される。2次標本化信号発生手段301は、第1の遅延手段としての遅延手段111と、第2の遅延手段としての遅延手段112と、排他的論理和手段113と、を備えて構成される。
交流結合増幅手段103は、コンデンサ104と、アンプ105と、コンデンサ106と、を備えて構成される。被測定装置200は、測定対象となる各種被測定信号S0を出力する装置である。
1次標本化手段101は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に同期して、被測定装置200から入力される被測定信号S0を標本化し、1次標本値信号S2として出力する。また、1次標本化手段101では、DCバイアス手段102から入力される直流バイアスに応じて被測定信号S0に含まれる直流オフセット電圧が調整される。DCバイアス手段102は、被測定信号S0に含まれる直流オフセット電圧を調整するための直流バイアスを出力する。
交流結合増幅手段103は、交流結合された増幅手段である。コンデンサ104は、1次標本化手段101から入力された1次標本値信号S2の直流成分を除去する。アンプ105は、コンデンサ104から入力された信号を増幅する。コンデンサ106は、アンプ105から入力された信号の直流成分を除去し、増幅値信号S3として出力する。
2次標本化手段107は、排他的論理和手段113から入力される2次標本化信号S6に同期して、交流結合増幅手段103から入力される増幅値信号S3を標本化し、2次標本値信号S7として出力する。AD変換手段108は、2次標本化手段107から入力される2次標本化信号S6に同期して、2次標本化手段107から入力されるアナログの2次標本値信号S7をデジタル化し、2次標本値信号S8として出力する。演算手段109は、AD変換手段108から入力される2次標本値信号S8に基づいて、時間的に隣り合うピーク値からベース値を減算する。演算手段109の演算結果としての標本値信号(データ)は、例えば、図示しない制御手段(信号処理手段)により各種信号処理が施されたあと、外部機器に送信される。
1次標本化信号発生手段110は、予めサンプリング間隔が設定された1次標本化信号S1を1次標本化手段101に出力する。遅延手段111は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、交流結合増幅手段103の増幅で発生する遅延に対応する遅延D1を与えて、遅延信号S4として出力する。遅延手段112は、遅延手段111から入力される遅延信号S4に、所定の遅延D2を与えて、遅延信号S5として出力する。遅延D1は、増幅値信号S3のピーク部分が遅延信号S4の立ち上がりとなるような遅延量である。遅延D2は、2次標本化信号S6のデュティー比を設定する遅延量である。
排他的論理和手段113は、遅延手段111から入力される遅延信号S4と、遅延手段112から入力される遅延信号S5と、に排他的論理和を施して、2次標本化信号S6として2次標本化手段107及びAD変換手段108に出力する。
次に、図2を参照して、標本化装置100aの動作を説明する。図2に、標本化装置100aの各種信号の時間特性を示す。
先ず、被測定装置200から出力された被測定信号S0は、1次標本化手段101に入力される。図2に示すように、被測定信号S0は、例えば、0から所定値まで増加した後、一定値となる信号とする。
1次標本化手段101において、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、被測定信号S0が標本化され、1次標本値信号S2として出力される。
交流結合増幅手段103において、2次標本化手段107に必要な振幅まで1次標本値信号S2が増幅されて増幅値信号S3として出力される。図2に示すように、増幅値信号S3は、1次標本値信号S2から遅延D1が発生している。遅延手段111において、遅延D1が1次標本化信号S1に与えられて遅延信号S4として出力される。遅延手段112において、遅延D2が遅延信号S4に与えられて2次標本化信号S5として出力される。排他的論理和手段113において、遅延信号S4及びS5に排他的論理和が施され、2次標本化信号S6として出力される。
2次標本化信号S6は、図2に示すように、信号の各立ち上がりが、増幅値信号S3のピーク値と、増幅値信号S3のベース値と、交互に一致するタイミングの信号となる。2次標本化手段107において、2次標本化信号S6に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、増幅値信号S3が標本化され、2次標本値信号S7として出力される。
アナログ信号である2次標本値信号S7は、AD変換手段108によりデジタル化(量子化)されデジタルの2次標本値信号S8として出力される。2次標本値信号S8は、増幅値信号S3のデジタルのピーク値ai,ベース値bi(i=1〜n…、n:整数)が時間経過で交互に並ぶ信号となる。そして、演算手段109により、2次標本値信号S8のピーク値ai,ベース値biを用いて、(ai−bi)が演算されて、その演算結果としての標本値信号が取得される。
図2に示すように、(ai−bi)の演算結果のデータは、2次標本値信号の時間経過による減衰(ピーク値からの誤差)が生じていないことが分かる。
以上、本実施の形態によれば、被測定信号S0を1次標本化手段101により標本化し、交流結合増幅手段103で増幅した後に、増幅値信号S3のピーク値及びベース値のタイミングを含む2次標本化信号S6に基づいて2次標本化手段107により増幅値信号S3を標本化し、演算手段109により2次標本値信号S8のピーク値からベース値を減算して標本値信号とするので、交流結合増幅手段103により発生する標本値の誤差を容易に低減できる。
また、AD変換手段108により、2次標本値信号を量子化できる。また、2次標本化信号発生手段301により、増幅値信号S3のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号S6を容易に発生できる。
(第1の変形例)
図3を参照して、上記第1の実施の形態の変形例としての第1の変形例を説明する。図3に、標本化装置100bの内部構成を示す。なお、本変形例において、第1の実施の形態と異なる部分を主として説明し、第1の実施の形態と同じ手段には、同じ符号を付与し、その説明を省略する。
本変形例の標本化装置100bは、オシロスコープとして機能する。図3に示すように、標本化装置100bは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、2次標本化手段107と、AD変換手段108と、演算手段109と、1次標本化信号発生手段110と、2次標本化信号発生手段301(遅延手段111,112、排他的論理和手段113)と、トリガ信号発生手段114と、制御手段115と、記録手段116と、表示手段117と、を備えて構成される。
トリガ信号発生手段114は、被測定装置200から入力される被測定信号S0に同期したトリガ信号S30を1次標本化信号発生手段110及び制御手段115に出力する。1次標本化信号発生手段110は、トリガ信号発生手段114から入力されるトリガ信号S30と同期して1次標本化信号を発生して1次標本化手段101及び遅延手段111に出力する。
演算手段109は、2次標本値信号S8のピーク値aiからベース値biを減算し、その演算結果を標本値信号(データ)S9として出力する。制御手段115は、トリガ信号発生手段114から入力されるトリガ信号S30をトリガとして、演算手段109から入力される標本値信号S9に各種信号処理を施し、制御信号とともに記録手段116及び表示手段117の少なくとも一方に出力する。
記録手段116は、記録媒体(記録紙)に画像を記録する印刷ユニットを備え、制御手段115から送信される制御信号及び標本値信号に基づいて、標本値の波形のグラフ等を記録紙に印刷する。表示手段117は、LCD(Liquid Crystal Display)等の表示ユニットを備え、制御手段115から送信される制御信号及び標本値信号に基づいて、標本値の波形のグラフ等を表示する。
以上、本変形例によれば、第1の実施の形態と同様の効果を奏するとともに、記録手段116及び表示手段117により、標本値信号の表示と記録媒体への記録とのうち少なくとも一つを行うことができる。また、トリガ信号発生手段114により、被測定信号S0に同期して1次標本化信号S1を発生させることができる。
(第2の変形例)
図4及び図5を参照して、上記第1の実施の形態の変形例としての第2の変形例を説明する。なお、本変形例において、第1の実施の形態と異なる部分を主として説明し、第1の実施の形態と同じ手段には、同じ符号を付与し、その説明を省略する。
図4に、2次標本化信号発生手段302の内部構成を示す。図4に示すように、本変形例の標本化装置は、第1の実施の形態の標本化装置100aにおいて、2次標本化信号発生手段301を2次標本化信号発生手段302に代えた構成である。
2次標本化信号発生手段302は、遅延手段118と、第1のパルス幅信号発生手段としての単安定マルチバイブレータ119と、第2のパルス幅信号発生手段としての単安定マルチバイブレータ120と、論理和手段121と、を備えて構成される。遅延手段118は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、交流結合増幅手段103の増幅で発生する遅延に対応する遅延D3を与えて遅延信号S10として出力する。
単安定マルチバイブレータ119は、入力信号の立ち上がりをトリガとして所定幅のパルスを出力する手段である。単安定マルチバイブレータ119は、遅延手段118から入力される遅延信号S10の立ち上がりに同期して、2次標本化手段107の標本化に必要なパルス幅のパルス幅信号S11を発生して出力する。単安定マルチバイブレータ120は、入力信号の立ち下がりをトリガとして所定幅のパルスを出力する手段である。単安定マルチバイブレータ120は、遅延手段118から入力される遅延信号S10の立ち下がりに同期して、2次標本化手段107の標本化に必要なパルス幅(例えば、パルス幅信号S11と同じパルス幅)のパルス幅信号S12を発生して出力する。
論理和手段121は、単安定マルチバイブレータ119から入力されるパルス幅信号S11と、単安定マルチバイブレータ120から入力されるパルス幅信号S12と、を論理和(OR演算)して、2次標本化信号S13として2次標本化手段107及びAD変換手段108に出力する。2次標本化手段107、AD変換手段108は、論理和手段121から入力される2次標本化信号S13を用いて、それぞれ、2次標本値信号S7,S8を生成して出力する。
図5に、2次標本化信号発生手段302における各種信号の時間特性を示す。図5に示すように、遅延信号S10は、遅延手段118により、1次標本化信号S1に遅延D3が与えられている。パルス幅信号S11は、遅延信号S10の立ち上がりに応じて、所定パルス幅がハイとなる。パルス幅信号S12は、遅延信号S10の立ち下がりに応じて、所定パルス幅がハイとなる。2次標本化信号S13は、パルス幅信号S11,S12のハイを加算した信号となる。
以上、本変形例によれば、第1の実施の形態と同様の効果を奏するとともに、2次標本化信号発生手段302により、増幅値信号S3のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号S6を容易に発生できる。
(第3の変形例)
図6及び図7を参照して、上記第1の実施の形態の変形例としての第3の変形例を説明する。なお、本変形例において、第1の実施の形態、第1の変形例と異なる部分を主として説明し、第1の実施の形態、第1の変形例と同じ手段には、同じ符号を付与し、その説明を省略する。
図6に、標本化装置100cの内部構成を示す。図6に示すように、標本化装置100cは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、第1の2次標本化手段としての2次標本化手段122と、第2の2次標本化手段としての2次標本化手段123と、演算手段124と、AD変換手段108と、1次標本化信号発生手段110と、2次標本化信号発生手段303と、量子化信号発生手段としての遅延手段127と、トリガ信号発生手段114と、制御手段115と、記録手段116と、表示手段117と、を備えて構成される。2次標本化信号発生手段303は、第1の遅延手段としての遅延手段125と、第2の遅延手段としての遅延手段126と、を備えて構成される。
2次標本化手段122は、遅延手段125から入力される2次標本化信号S14に同期して、交流結合増幅手段103から入力される増幅値信号S3を標本化し、2次標本値信号S17として出力する。2次標本化手段123は、遅延手段126から入力される2次標本化信号S15に同期して、交流結合増幅手段103から入力される増幅値信号S3を標本化し、2次標本値信号S18として出力する。
演算手段124は、2次標本化手段122から入力される2次標本値信号S17から、2次標本化手段123から入力される2次標本値信号S18を減算して、減算値信号S19として出力する。AD変換手段108は、遅延手段127から入力される量子化信号S16に同期して、演算手段124から入力されるアナログの減算値信号S19をデジタル化し、標本値信号S20として出力する。制御手段115は、トリガ信号発生手段114から入力されるトリガ信号S30をトリガとして、AD変換手段108から入力される標本値信号S20に各種信号処理を施し、制御信号とともに記録手段116及び表示手段117の少なくとも一方に出力する。
遅延手段125は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、交流結合増幅手段103の増幅で発生する遅延に対応する遅延D4を与えて、2次標本化信号S14として出力する。遅延手段126は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、所定の遅延D5を与えて、2次標本化信号S15として出力する。遅延手段127は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、所定の遅延D6を与えて、量子化信号S16として出力する。遅延D4は、増幅値信号S3のピーク部分が2次標本化信号S14の立ち上がりとなるような遅延量である。遅延D5は、増幅値信号S3のベース部分が2次標本化信号S15の立ち上がりとなるような遅延量である。
減算値信号S19は、増幅値信号S3のピーク値ai、ベース値biについて、(ai−bi)が正しい値となるが、(ai−b(i−1))と(ai−bi)とが時間経過とともに交互に並んでいる。このため、遅延D6は、演算手段124の減算値信号S19のうち値が正しいタイミングで量子化信号S16の立ち上がりとなるような遅延量である。
次いで、図7を参照して、標本化装置100cの動作を説明する。図7に、標本化装置100cの各種信号の時間特性を示す。
増幅値信号S3の発生までは、第1の実施の形態と同様である。遅延手段125において、遅延D4が1次標本化信号S1に与えられて2次標本化信号S14として出力される。遅延手段126において、遅延D5が1次標本化信号S1に与えられて2次標本化信号S15として出力される。遅延手段127において、遅延D6が1次標本化信号S1に与えられて量子化信号S16として出力される。
2次標本化信号S14は、図7に示すように、信号の各立ち上がりが、増幅値信号S3のピーク値に一致するタイミングの信号となる。2次標本化信号S15は、図7に示すように、信号の各立ち上がりが、増幅値信号S3のベース値に一致するタイミングの信号となる。量子化信号S16は、図7に示すように、信号の各立ち上がりが、減算値信号S19が正しい値となるタイミングの信号となる。
2次標本化手段122において、2次標本化信号S14に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、増幅値信号S3が標本化され、2次標本値信号S17として出力される。2次標本化手段123において、2次標本化信号S15に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、増幅値信号S3が標本化され、2次標本値信号S18として出力される。2次標本値信号S17,S18は、演算手段124により、2次標本値信号S17−2次標本値信号S18が算出され、減算値信号S19として出力される。
アナログ信号である減算値信号S19は、AD変換手段108により、量子化信号S16に同期してデジタル化(量子化)されデジタルの標本値信号S20として出力される。図7に示すように、標本値信号S20のデータは、2次標本値信号の時間経過による減衰(ピーク値からの誤差)が生じていないことが分かる。
以上、本変形例によれば、第1の実施の形態と同様の効果を奏するとともに、増幅値信号S3のピーク値及びベース値のタイミングを含む2次標本化信号S14,S15に基づいて2次標本化手段122,123により増幅値信号S3を別々に標本化し、演算手段124により2次標本値信号S17から2次標本値信号S18を減算して標本値信号とするので、2次標本値信号S17から2次標本値信号S18を減算して標本値信号を容易に取得できる。
また、AD変換手段108により、量子化信号S16に基づいて減算値信号S19を量子化するので、減算値信号S19(標本化信号)から正しい値を量子化できる。
(第2の実施の形態)
図8〜図12を参照して、本発明に係る第2の実施の形態を説明する。なお、本実施の形態において、第1の実施の形態と異なる部分を主として説明し、第1の実施の形態と同じ手段には、同じ符号を付与し、その説明を省略する。
図8に、本実施の形態の標本化装置100dの内部構成を示す。図8に示すように、標本化装置100dは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、2次標本化手段107と、AD変換手段108と、フィルタ128と、1次標本化信号発生手段110と、遅延手段129と、制御手段115と、を備えて構成される。
2次標本化手段107は、遅延手段129から入力される2次標本化信号S21に同期して、交流結合増幅手段103から入力される増幅値信号S3を標本化し、2次標本値信号S22として出力する。AD変換手段108は、2次標本化手段107から入力されるアナログの2次標本値信号S22をデジタル化し、2次標本値信号S23として出力する。フィルタ128は、2次標本値信号S23の減衰を打ち消すようなフィルタ特性を有するデジタルフィルタである。フィルタ128は、2次標本化手段107から入力される2次標本値信号S23をフィルタリングし、標本値信号S24として出力する。
制御手段115は、フィルタ128から入力される標本値信号S24に各種信号処理を施す。各種信号処理が施された標本値信号S24は、例えば、外部機器に送信される。遅延手段129は、1次標本化信号発生手段110から入力される1次標本化信号S1に、交流結合増幅手段103の増幅で発生する遅延D7を与えて、2次標本化信号S21として2次標本化手段107に出力する。遅延手段129の遅延D7は、増幅値信号S3のピーク部分が2次標本化信号S21の立ち上がりとなるような遅延量である。
次いで、図9を参照して、標本化装置100dの動作を説明する。図9に、標本化装置100dの各種信号の時間特性を示す。
増幅値信号S3の発生までは、第1の実施の形態と同様である。遅延手段129において、所定の遅延が1次標本化信号S1に与えられて2次標本化信号S21として出力される。2次標本化信号S21は、図9に示すように、信号の各立ち上がりが、増幅値信号S3のピーク値に一致するタイミングの信号となる。
2次標本化手段107において、2次標本化信号S21に同期して(立ち上がりエッジのタイミングで)、増幅値信号S3が標本化され、2次標本値信号S22として出力される。アナログ信号である2次標本化信号S21は、AD変換手段108により、デジタル化(量子化)されデジタルの2次標本値信号S23として出力される。そして、フィルタ128により、デジタルの2次標本値信号S23が、その減衰を打ち消すようにフィルタリングされ、標本値信号S24が制御手段115に出力される。図2に示すように、標本値信号S20のデータは、2次標本値信号の時間経過による減衰(ピーク値からの誤差)が生じていないことが分かる。
ここで、図10及び図11を参照して、フィルタ128の一例を説明する。図10に、フィルタ128に関する各信号の時間特性を示す。図11に、フィルタ128の内部構成を示す。
図10に示すように、被測定信号S0が与えられているものとする。また、2次標本値信号S23の波形をステップ応答(連続信号)とし、図10に示すように、値A,B及びサンプリング時間間隔Δtとする。すると、2次標本値信号S23は、
x(t)=(Ae(−Δt/T)+B)・u(t) …(2)
と置くことができる。但し、Tはステップの時定数である。
時間間隔が一定値で時定数がわかっている場合、式(2)のAe(−Δt/T)は底の変換公式によりAkmと置き換えることができ、式(2)は次式(3)のように表される。
x(t)=(Akm+B)・u(t) …(3)
但し、「m=0,1,2・・・n」、「0<k<1」とする。
この信号x(t)をZ変換(離散信号)すると、次式(4)のように変換ができる。
Figure 0004887974
さらに、式(4)を微分することで、次式(5)により伝達関数F(z)を求めることができる。
Figure 0004887974
式(5)が、Z領域における伝達関数F(z)になる。2次標本値信号S23の波形に、式(5)の逆数特性の伝達関数(ディジタルフィルタ)を掛けることで補正をかけ、本来のDCおよび低周波成分を復元することが可能になる。このフィルタ特性F (Z)'を次式(6)に示す。
Figure 0004887974
式(6)に示すフィルタ特性を有するフィルタ128の例を図11に示す。図11に示すフィルタ128は、遅延要素130と、-kの係数乗算器131と、加算器132と、A+Bの係数乗算器133と、加算器134と、遅延要素135と、(A+kB)/(A+B)の乗算器136と、を備えて構成される。
図12(a)に、被測定信号S0のアイパターンを示す。図12(b)に、2次標本値信号S23のアイパターンを示す。図12(c)に、標本値信号S24のアイパターンを示す。図12(a)に示すように、被測定信号S0は線が細いアイパターンとなるが、図12(b)に示すように、被測定信号S0を1次標本化手段101及び交流結合増幅手段103を介することにより、2次標本値信号S23のアイパターンは、ベースラインが太くなる。このため、2次標本値信号S23をフィルタ128によりフィルタリングをかけることで、標本値信号S24のアイパターンは、ベースラインが細くなり、アイパターンをつぶすことなく標本値信号を再生できる。
以上、本実施の形態によれば、被測定信号S0を1次標本化手段101により標本化し、交流結合増幅手段103で増幅した後に、2次標本化手段107により増幅値信号S3を標本化し、2次標本値信号S22に対してフィルタ128により、増幅値信号S3の減衰特性を低減するフィルタリングを施すので、交流結合した交流結合増幅手段103により発生する標本値の誤差を容易に低減できる。また、AD変換手段108により、標本値信号を量子化できる。
(第4の変形例)
図13を参照して、上記第2の実施の形態の変形例としての第4の変形例を説明する。なお、本変形例において、第2の実施の形態及び第1の変形例と異なる部分を主として説明し、第2の実施の形態及び第1の変形例と同じ手段には、同じ符号を付与し、その説明を省略する。
図13に、標本化装置100eの内部構成を示す。本変形例の標本化装置100eは、オシロスコープとして機能する。図13に示すように、標本化装置100eは、1次標本化手段101と、DCバイアス手段102と、交流結合増幅手段103と、2次標本化手段107と、AD変換手段108と、1次標本化信号発生手段110と、トリガ信号発生手段114と、遅延手段129と、フィルタ128と、制御手段115と、記録手段116と、表示手段117と、を備えて構成される。
制御手段115は、フィルタ128から入力される標本値信号S24に各種信号処理を施して、制御信号とともに記録手段116及び表示手段117の少なくとも一方に出力する。
本変形例によれば、第2の実施の形態と同様の効果を奏するとともに、記録手段116及び表示手段117により、標本化標本値信号の表示と記録媒体への記録、標本値信号の表示と記録媒体への記録のうち少なくとも一つを行うことができる。また、トリガ信号発生手段114により、被測定信号S0に同期して1次標本化信号S1を発生させることができる。
なお、上記各実施の形態及び各変形例における記述は、本発明に係る標本化装置及び標本化方法の一例であり、これに限定されるものではない。例えば、各実施の形態及び各変形例の構成の少なくとも2つを組み合わせて構成することとしてもよい。
また、上記第1の実施の形態において、演算手段109を備える構成としたが、これに限定されるものではなく、標本化装置100aにおいて2次標本値信号S7を外部に出力し、外部側において、2次標本値信号S7の、AD変換や、ピーク値からベース値の減算による演算を行う構成としてもよい。
また、上記第1の実施の形態及び第1,第2の変形例において、2次標本値信号S7をAD変換後に演算処理を施す構成としたが、これに限定されるものではなく、演算処理後にAD変換を行う構成としてもよい。
また、上記第1の実施の形態及び第1,第2の変形例において、2次標本化信号発生手段を、2次標本化信号発生手段301,302として構成したが、これに限定されるものではなく、他の構成により実現することしてもよい。
また、上記第3の変形例において、2次標本化信号S14,S15及び量子化信号S16を、並列に接続された遅延手段125〜127により発生する構成とししたが、これに限定されるものではなく、他の構成により実現することしてもよい。例えば、遅延手段125〜127を直列に接続する構成としてもよい。
また、上記第2の実施の形態及び第4の変形例においても、2次標本値信号S22をAD変換後にフィルタリングを施す構成としたが、これに限定されるものではなく、フィルタリング後にAD変換を行う構成としてもよい。この場合、AD変換手段108を標本化装置100dの外部側に備える構成としてもよい。
その他、上記各実施の形態及び各変形例における標本化装置100a〜100eの細部構成及び詳細動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
本発明に係る第1の実施の形態の標本化装置100aの内部構成を示すブロック図である。 標本化装置100aの各種信号を示すタイミングチャートである。 標本化装置100bの内部構成を示すブロック図である。 2次標本化信号発生手段302の内部構成を示すブロック図である。 2次標本化信号発生手段302における各種信号を示すタイミングチャートである。 標本化装置100cの内部構成を示すブロック図である。 標本化装置100cの各種信号を示すタイミングチャートである。 本発明に係る第2の実施の形態の標本化装置100dの内部構成を示すブロック図である。 標本化装置100dの各種信号を示すタイミングチャートである。 フィルタ128に関する各信号を示すタイミングチャートである。 フィルタ128の内部構成を示す図である。 (a)は、被測定信号S0のアイパターンを示す図である。(b)は、2次標本値信号S23のアイパターンを示す図である。(c)は、標本値信号S24のアイパターンを示す図である。 標本化装置100eの内部構成を示すブロック図である。 従来の標本化装置100fの内部構成を示すブロック図である。 標本化装置100fの各種信号を示すタイミングチャートである。 (a)は、1次標本値信号S2の周波数特性を示す図である。(b)は、交流結合増幅手段103の周波数特性を示す図である。(c)は、増幅値信号S3の周波数特性を示す図である。 被測定信号周波数frc及びサンプリング周波数fsを示す図である。 (a)は、1次標本化手段101の被測定信号周波数frcに対するゲイン特性を示す図である。(b)は、1次標本化手段101+交流結合増幅手段103の被測定信号周波数frcに対するゲイン特性を示す図である。 (a)は、PRBS信号の被測定信号S0の波形を示す図である。(b)は、PRBS信号の被測定信号S0における2次標本値信号S23の振幅の減衰のイメージを示す図である。(c)は、PRBS信号における2次標本値信号S23のアイパターンを示す図である。
符号の説明
100a,100b,100c,100d,100e,100f 標本化装置
101 1次標本化手段
102 DCバイアス手段
103 交流結合増幅手段
104,106 コンデンサ
105 アンプ
107,122,123 2次標本化手段
108 AD変換手段
109,124 演算手段
110 1次標本化信号発生手段
301,302,303 2次標本化信号発生手段
111,112,118,125,126,127,129 遅延手段
113 排他的論理和手段
114 トリガ信号発生手段
115 制御手段
116 記録手段
117 表示手段
119,120 単安定マルチバイブレータ
128 フィルタ
130,135 遅延要素
131,133,136 係数乗算器
132,134 加算器
200 被測定装置

Claims (10)

  1. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
    前記2次標本化信号発生手段は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の遅延信号とする第1の遅延手段と、
    前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の遅延信号とする第2の遅延手段と、
    前記第1及び第2の遅延信号の排他的論理和を算出し前記第2の標本化信号とする排他的論理和手段と、を備えることを特徴とする標本化装置。
  2. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
    前記2次標本化信号発生手段は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて遅延信号とする遅延手段と、
    前記遅延信号の立ち上がりに同期して所定パルス幅の第1のパルス幅信号を発生する第1のパルス幅信号発生手段と、
    前記遅延信号の立ち下がりに同期して所定パルス幅の第2のパルス幅信号を発生する第2のパルス幅信号発生手段と、
    前記第1及び第2のパルス幅信号の論理和を算出し前記第2の標本化信号とする論理和手段と、を備えることを特徴とする標本化装置。
  3. 前記2次標本値信号を量子化する量子化手段を備え、
    前記演算手段は、前記量子化された2次標本値信号の前記ピーク値からベース値を減算して標本値信号とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の標本化装置。
  4. 前記標本値信号を量子化する量子化手段を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の標本化装置。
  5. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生手段と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化手段と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅手段と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生手段と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化手段と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算手段と、を備え、
    前記2次標本化信号発生手段は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の2次標本化信号とする第1の遅延手段と、
    前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の2次標本化信号とする第2の遅延手段と、を備え、
    前記2次標本化手段は、
    前記第1の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第1の2次標本値信号とする第1の2次標本化手段と、
    前記第2の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第2の2次標本値信号とする第2の2次標本化手段と、を備え、
    前記演算手段は、前記第1の2次標本値信号から前記第2の2次標本値信号を減算して標本値信号とすることを特徴とする標本化装置。
  6. 前記演算手段により減算された前記標本値信号の値が正しいタイミングを有する量子化信号を発生する量子化信号発生手段と、
    前記量子化信号に同期して前記標本値信号を量子化する量子化手段と、を備えることを特徴とする請求項に記載の標本化装置。
  7. 情報を表示する表示手段と、情報を記録媒体に記録する記録手段と、の少なくとも一つを備え、
    前記標本化信号を前記表示手段に表示させる制御及び前記記録手段に記録させる制御の少なくとも一つを行う制御手段と、を備えることを特徴とする請求項からのいずれか一項に記載の標本化装置。
  8. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
    前記2次標本化信号発生工程は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の遅延信号とする第1の遅延工程と、
    前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の遅延信号とする第2の遅延工程と、
    前記第1及び第2の遅延信号の排他的論理和を算出し前記第2の標本化信号とする排他的論理和工程と、を含むことを特徴とする標本化方法。
  9. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
    前記2次標本化信号発生工程は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて遅延信号とする遅延工程と、
    前記遅延信号の立ち上がりに同期して所定パルス幅の第1のパルス幅信号を発生する第1のパルス幅信号発生工程と、
    前記遅延信号の立ち下がりに同期して所定パルス幅の第2のパルス幅信号を発生する第2のパルス幅信号発生工程と、
    前記第1及び第2のパルス幅信号の論理和を算出し前記第2の標本化信号とする論理和工程と、を含むことを特徴とする標本化方法。
  10. 1次標本化信号を発生する1次標本化信号発生工程と、
    前記1次標本化信号に同期して被測定信号を標本化して1次標本値信号とする1次標本化工程と、
    前記1次標本値信号を増幅して増幅値信号を出力する交流結合された交流結合増幅工程と、
    前記増幅値信号のピーク値及びベース値のタイミングを有する2次標本化信号を発生する2次標本化信号発生工程と、
    前記2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して2次標本値信号とする2次標本化工程と、
    前記2次標本値信号の前記ピーク値から前記ベース値を減算して標本値信号とする演算工程と、を含み、
    前記2次標本化信号発生工程は、
    前記増幅値信号のピーク値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第1の2次標本化信号とする第1の遅延工程と、
    前記増幅値信号のベース値に対応する遅延を前記1次標本化信号に与えて第2の2次標本化信号とする第2の遅延工程と、を備え、
    前記2次標本化工程は、
    前記第1の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第1の2次標本値信号とする第1の2次標本化工程と、
    前記第2の2次標本化信号に同期して前記増幅値信号を標本化して第2の2次標本値信号とする第2の2次標本化工程と、を含み、
    前記演算工程は、前記第1の2次標本値信号から前記第2の2次標本値信号を減算して標本値信号とすることを特徴とする標本化方法。
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