JP4924824B2 - 炭素被覆ニッケル粉末の製造方法 - Google Patents
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また、酸化物や硫黄の誘電体層への拡散を解決する手法として炭素でニッケル粉末を被覆する手法が提案されているが、MLCCに好適に用いられる粒子径50〜200nmの炭素被覆ニッケル粉末を調製することは困難であった。
本発明に係る炭素被覆ニッケル粉末の炭素含有量は1〜70wt%であり、より好ましくは10〜70wt%である。炭素含有量が1wt%未満では、炭素でニッケル粉末を完全に覆うことができないため、デラミネーションやクラックを抑制することが困難となる。また炭素含有量が70wt%より多いと、電極中のニッケル同士が接触しにくくなり、均一な電極層を形成することが困難となる。
本発明に係る炭素被覆ニッケル粉末の製造方法によって、粒子径50〜200nmの炭素被覆ニッケル粉末が得られる理由を本発明者は以下のように考えている。
このような本発明の製造方法によって得られる高分子分散剤を含有した炭酸ニッケル微粒子(塩基性炭酸ニッケル微粒子を含む)又は水酸化ニッケル微粒子を含有する反応溶液を乾燥することにより、高分子分散剤が炭酸ニッケル微粒子(塩基性炭酸ニッケル微粒子を含む)又は水酸化ニッケル微粒子などの粒子表面を被覆した状態の乾燥物が得られる。そして、その乾燥物を窒素中で焼成することによって炭酸ニッケル(塩基性炭酸ニッケルを含む)又は水酸化ニッケルは分解し酸化ニッケルとなり、また、高分子分散剤は炭化され炭素となる。生成した炭素の一部によって酸化ニッケルが還元されることにより、炭素被覆ニッケル粉末が調製されるものと考えている。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。溶性でんぷん(和光純薬製)5gを純水50mlに溶解してデンプン水溶液を調製した。塩化ニッケル水溶液とデンプン水溶液を混合撹拌した後、25%アンモニア水(和光純薬製)を5g添加した。この溶液に炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)1.0gを25mlの純水に溶解した水溶液を添加し、その後90℃で2時間加熱して、塩基性炭酸ニッケルを含有する溶液を調製した。その溶液を乾燥機に入れて80℃で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
得られた粒子はX線回折より、金属ニッケルとアモルファスカーボンで構成されていることが確認された。ニッケルの平均粒子径は71nmであり、標準偏差が14nmと粒度分布が狭い粒子であった。TEM観察を行ったところ、金属ニッケルの表面が炭素で完全に覆われていた。炭素含有量は粉末全体に対して67wt%であった。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。ワキシーアルファー(三和澱粉工業製)1gを純水50mlに溶解してデンプン水溶液を調製した。塩化ニッケル水溶液とデンプン水溶液を混合撹拌した後、25%アンモニア水(和光純薬製)を3g添加した。この溶液に炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)1gを25mlの純水に溶解した水溶液を添加し、その後90℃で2時間加熱して、塩基性炭酸ニッケルを含有する溶液を調製した。その溶液を乾燥機に入れて80℃で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
X線回折より、金属ニッケルとアモルファスカーボンで構成されていた。ニッケルの平均粒子径は68nmあり、標準偏差が13nmと粒度分布が狭い粒子であった。TEM観察を行ったところ、金属ニッケルの表面が炭素で完全に覆われていた。炭素含有量は粉末全体に対して32wt%であった。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。カチオン化でんぷん(三和澱粉工業製)0.3gを純水50mlに溶解してデンプン水溶液を調製した。塩化ニッケル水溶液とデンプン水溶液を混合撹拌した。この溶液に尿素(和光純薬製)5gを25mlの純水に溶解した水溶液を添加し、その後90℃で5時間加熱して、塩基性炭酸ニッケルを調製した。その溶液を乾燥機に入れて80℃で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
X線回折より、金属ニッケルとアモルファスカーボンで構成されていた。ニッケルの平均粒子径は106nmあり、標準偏差が47nmと粒度分布が狭い粒子であった。TEM観察を行ったところ、金属ニッケルの表面が炭素で完全に覆われていた。炭素含有量は粉末全体に対して8wt%であった。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。デンプン(和光純薬製)5gを純水50mlに溶解してデンプン水溶液を調製した。塩化ニッケル水溶液とデンプン水溶液を混合攪拌した。この溶液に炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)1.0gを25mlの純水に溶解した水溶液を添加すると、瞬時に炭酸ニッケルが生成した。この溶液を80℃の乾燥機で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
X線回折より、金属ニッケルとアモルファスカーボンで構成されていた。ニッケルの粒子は不定形であり、平均粒子径は327nmであり、標準偏差が198nmと粒度分布が広い粒子であった。TEM観察を行ったところ、金属ニッケルの表面が炭素で完全に覆われていた。炭素含有量は粉末全体に対して65wt%であった。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。デンプン(和光純薬製)5gを純水50mlに溶解してデンプン水溶液を調製した。塩化ニッケル水溶液とデンプン水溶液を混合攪拌した。この溶液に25%アンモニア水(和光純薬製)をpHが9になるまで滴下した後、90℃に加熱し5時間攪拌して、水酸化ニッケルを含有する溶液を調製した。この溶液を80℃の乾燥機で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
X線回折より、金属ニッケルとアモルファスカーボンで構成されていた。ニッケルの平均粒子径は8nmであり、標準偏差が3nmと粒度分布が狭い粒子であった。TEM観察を行ったところ、金属ニッケルの表面が炭素で完全に覆われていた。炭素含有量は粉末全体に対して67wt%であった。
塩化ニッケル(和光純薬製)1.3gを25mlの純水に溶解して塩化ニッケル水溶液を調製した。この溶液に25%アンモニア水(和光純薬製)を5g添加した。この溶液に炭酸水素ナトリウム(和光純薬製)1.0gを25mlの純水に溶解した水溶液を添加し、その後90℃で2時間加熱して、塩基性炭酸ニッケルを含有する溶液を調製した。その溶液を乾燥機に入れて80℃で20時間乾燥させた後、窒素雰囲気下で550℃で焼成した。
X線回折より、酸化ニッケルのみで構成されていた。TEM観察を行ったところ、酸化ニッケル粒子表面には炭素は確認できなかった。炭素含有量は粉末全体に対して0wt%であった。
Claims (3)
- 炭素を被覆したニッケル粉末の製造方法であって、ニッケル塩を溶解させた高分子分散剤水溶液にアンモニウムイオンを生成する化合物を添加してニッケルアンモニア錯体を形成させ、次いで、炭酸イオンを生成する化合物を添加して加熱した後、水分を除去して乾燥物とした後、窒素雰囲気下で該乾燥物を焼成することを特徴とする炭素被覆ニッケル粉末の製造方法。
- 炭素被覆ニッケル粉末の平均粒子径が50nm〜200nmである請求項1記載の炭素被覆ニッケル粉末の製造方法。
- 炭素被覆ニッケル粉末の炭素被覆量が1wt%〜70wt%である請求項1記載の炭素被覆ニッケル粉末の製造方法。
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