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JP4978477B2 - Substrate transfer device - Google Patents
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JP4978477B2 - Substrate transfer device - Google Patents

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Description

本発明は、基板搬送装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate transfer apparatus.

一般に、薄膜太陽電池等の製造工程において、ガラス基板にシリコンの成膜処理が行われており、複数のガラス基板を所定の間隔を空けて垂直に保持する基板搬送装置が使用されている。そして、複数の同一の基板処理装置が設けられた成膜処理装置内部に基板搬送装置が移動すると複数のガラス基板の間に各基板処理装置が配置されるようになっており、各ガラス基板に同一の成膜処理がなされるようになっている。   In general, in a manufacturing process of a thin film solar cell or the like, a silicon film is formed on a glass substrate, and a substrate transport apparatus that holds a plurality of glass substrates vertically at a predetermined interval is used. Then, when the substrate transfer apparatus moves inside the film forming apparatus provided with a plurality of identical substrate processing apparatuses, each substrate processing apparatus is arranged between the plurality of glass substrates. The same film forming process is performed.

従来、このような基板搬送装置として、特許文献1に開示されたような構成のものが知られている。これは、四角形状の外枠の左右に平行なガイドバーを鉛直に固定し、このガイドバーに両端の固定された支持板に基板の上端をクランプするクリップを取り付けるとともに、ガイドバーに両端が移動可能に取り付けられた支持板に基板の下端をクランプするクリップを取り付け、両端クリップで基板の上端及び下端をクランプするものである。
特許第3243044号公報
Conventionally, as such a substrate transfer apparatus, one having a configuration as disclosed in Patent Document 1 is known. This is because the guide bar parallel to the left and right of the rectangular outer frame is fixed vertically, and a clip that clamps the top edge of the board is attached to the fixed support plate at both ends, and both ends move to the guide bar. The clip which clamps the lower end of a board | substrate is attached to the support plate attached so that an upper end and a lower end of a board | substrate are clamped with a both-ends clip.
Japanese Patent No. 3243044

しかしながら、上記特許文献1の基板搬送装置においては、各基板の被処理面と基板処理装置とが一定の距離にならなければ薄膜が均一に成膜されず、基板搬送装置と各基板処理装置との距離を厳密に設計しなければならないという問題があった。   However, in the substrate transfer apparatus of Patent Document 1, a thin film is not uniformly formed unless the processing surface of each substrate and the substrate processing apparatus are at a certain distance, and the substrate transfer apparatus, each substrate processing apparatus, There has been a problem that the distance of must be strictly designed.

本発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、基板搬送装置と基板処理装置との距離が厳密に設計されたものでなくても薄膜を均一に成膜することができる基板搬送装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and provides a substrate transfer apparatus capable of uniformly forming a thin film even if the distance between the substrate transfer apparatus and the substrate processing apparatus is not strictly designed. The purpose is to do.

本発明に係る基板搬送装置では、上記課題を解決するために以下の手段を採用した。
本発明に係る基板搬送装置は、被処理面が露出するように基板を基板保持部に保持して該基板を基板処理装置まで搬送する基板搬送装置において、前記基板保持部を前記被処理面の略法線方向に進退可能であると共に、前記基板を前記基板処理装置に対して位置決め可能な基板進退機構を備えることを特徴とする。
これにより、前記基板と前記基板処理装置との距離が変化して、両者の位置が基板の処理に適切なものとなる。
The substrate transport apparatus according to the present invention employs the following means in order to solve the above problems.
The substrate transport apparatus according to the present invention is a substrate transport apparatus that transports the substrate to the substrate processing apparatus while holding the substrate on the substrate holding section so that the processing surface is exposed. A substrate advancing / retreating mechanism capable of moving back and forth in a substantially normal direction and positioning the substrate with respect to the substrate processing apparatus is provided.
As a result, the distance between the substrate and the substrate processing apparatus changes, and the positions of the two become appropriate for processing the substrate.

また、前記基板進退機構は、前記基板と前記基板処理装置とを当接させて位置決めすることを特徴とする。
これにより、基板と基板処理装置とを当接させれば、両者の位置が適切なものとなる。
The substrate advancing / retreating mechanism positions the substrate and the substrate processing apparatus in contact with each other.
Thereby, if a board | substrate and a substrate processing apparatus are contact | abutted, both position will become an appropriate thing.

前記基板進退機構は、前記基板と前記基板処理装置との当接により前記基板に生じる負荷を低減させる負荷調整機構を備えることを特徴とする。
これにより、基板処理装置に基板が押し付けられても基板に一定以上の負荷が生じることがない。
The substrate advance / retreat mechanism includes a load adjustment mechanism that reduces a load generated on the substrate due to contact between the substrate and the substrate processing apparatus.
Thus, even when the substrate is pressed against the substrate processing apparatus, a load exceeding a certain level does not occur.

本発明に係る基板搬送装置によれば、基板と基板処理装置との距離を変化させて、両者の位置が適切なものとなるので、基板搬送装置と基板処理装置との距離を厳密に設計しなくても、薄膜を均一に成膜することが可能となる。また、基板搬送装置の構成部材や基板処理装置の配置を変更することも可能となる。   According to the substrate transfer apparatus of the present invention, the distance between the substrate and the substrate processing apparatus is changed, and the positions of the two become appropriate. Therefore, the distance between the substrate transfer apparatus and the substrate processing apparatus is strictly designed. Even without this, a thin film can be formed uniformly. It is also possible to change the arrangement of the constituent members of the substrate transfer apparatus and the substrate processing apparatus.

また、前記基板進退機構が、基板と基板処理装置とが当接して、両者の位置が適切なものとなるので、基板進退機構を厳密に制御しなくても薄膜を均一に成膜することが可能となる。   Further, since the substrate advancing / retreating mechanism makes contact between the substrate and the substrate processing apparatus and the positions of both are appropriate, a thin film can be uniformly formed without strictly controlling the substrate advancing / retreating mechanism. It becomes possible.

また、基板に一定以上の負荷が生じることがないので、基板が基板搬送装置に押し付けられて破損することを防止することができる。   In addition, since a load exceeding a certain level does not occur on the substrate, it is possible to prevent the substrate from being damaged by being pressed against the substrate transfer device.

以下、本発明に係る基板搬送装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る基板搬送装置1を示す斜視図である。
Embodiments of a substrate transfer apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing a substrate transfer apparatus 1 according to an embodiment of the present invention.

図1に示すように、基板搬送装置1は、下部に車輪2aを有する台車2を備えており、製造ラインに沿って移動することができる。この基板搬送装置1は、基板搭載位置で複数の基板を搭載して成膜処理装置内部に移送し、基板にシリコン薄膜が形成された後、基板取り出し位置まで搬送するものである。   As shown in FIG. 1, the board | substrate conveyance apparatus 1 is provided with the trolley | bogie 2 which has the wheel 2a in the lower part, and can move along a manufacturing line. The substrate transport apparatus 1 is configured to mount a plurality of substrates at a substrate mounting position, transfer the substrates to the inside of a film forming processing apparatus, and transport the silicon thin film on the substrate to a substrate take-out position.

この基板搬送装置1は、6つの基板搭載ユニット3を備えており、この基板搭載ユニット3が走行方向に対して直交方向に所定の間隔を有するように配置されている。
基板搭載ユニット3は、台車2の進行方向に対向するように立設された二本の支柱4と、基板進退機構20を介して支柱4に支持されて基板を保持する基板保持部5と、二本の支柱4に設けられた基板進退機構20とから概略構成されている。
The substrate transport apparatus 1 includes six substrate mounting units 3 and the substrate mounting units 3 are arranged so as to have a predetermined interval in a direction orthogonal to the traveling direction.
The substrate mounting unit 3 includes two columns 4 that are erected so as to face the traveling direction of the carriage 2, a substrate holding unit 5 that is supported by the columns 4 via the substrate advance / retreat mechanism 20 and holds the substrate, A substrate advancing / retracting mechanism 20 provided on the two columns 4 is schematically configured.

図2は、基板搭載ユニット3の正面図であり、図3は、基板搭載ユニット3の後面図である。
図3に示すように、基板保持部5は、保持フレーム10と基板保持機構15とを備えている。
FIG. 2 is a front view of the board mounting unit 3, and FIG. 3 is a rear view of the board mounting unit 3.
As shown in FIG. 3, the substrate holding unit 5 includes a holding frame 10 and a substrate holding mechanism 15.

保持フレーム10は、基板Pより少し小さい開口部10aを有する矩形のものであって、四隅が、後述の基板進退機構20を介して、対抗する2本の支柱4に支持されている。この保持フレーム10は、開口部10aの下側の縁に基板Pが戴置される設置部10bと、四隅に基板進退機構20を取り付けるための長孔10c(図4,5参照)とを有している。   The holding frame 10 has a rectangular shape having an opening 10a slightly smaller than the substrate P, and the four corners are supported by two opposing struts 4 via a substrate advancement / retraction mechanism 20 described later. The holding frame 10 has an installation portion 10b on which the substrate P is placed on the lower edge of the opening 10a, and a long hole 10c (see FIGS. 4 and 5) for attaching the substrate advance / retreat mechanism 20 to the four corners. is doing.

基板保持機構15は、保持フレーム10に回動可能に支持されたクランプ軸16と、クランプ軸16に固定されて基板Pの縁を押圧するクランプアーム17と、このクランプアーム17を付勢するコイルバネ18とを備えている。   The substrate holding mechanism 15 includes a clamp shaft 16 that is rotatably supported by the holding frame 10, a clamp arm 17 that is fixed to the clamp shaft 16 and presses the edge of the substrate P, and a coil spring that biases the clamp arm 17. 18.

クランプ軸16は、開口部10aを形成する鉛直な縁に沿って配設されたものであって、保持フレーム10に回動可能に設けられている。また、クランプ軸16の上端は、保持フレーム10の上方まで延設されており、操作端部16aとなっている。
この操作端部16aは、基板Pの搭載位置又は取り出し位置において、外部の駆動手段によって回動操作されるものである。
The clamp shaft 16 is disposed along a vertical edge forming the opening 10a, and is rotatably provided on the holding frame 10. Further, the upper end of the clamp shaft 16 extends to above the holding frame 10 and serves as an operation end portion 16a.
The operation end portion 16a is rotated by an external driving means at the position where the substrate P is mounted or taken out.

クランプアーム17は、U字状の部材であり、クランプ軸16に所定の間隔で固定されている。なお、クランプアーム17の先端部には、基板Pの傷付防止のためにゴム等からなるリング状の部材が設けられている。   The clamp arm 17 is a U-shaped member and is fixed to the clamp shaft 16 at a predetermined interval. A ring-shaped member made of rubber or the like is provided at the tip of the clamp arm 17 to prevent the substrate P from being damaged.

コイルバネ18は、基板Pを押圧する方向にクランプアーム17をバネ付勢するものであり、初期ねじり角が与えられた状態で、一端がクランプ軸16に固定され、他端が保持フレーム10に固定されている。コイルバネ18は、常時クランプアーム17がクランプ軸16を中心として開口部10aに向かう方向に付勢しており、操作端部16aを外部の駆動手段によって操作した場合に、クランプアーム17がバネ力に抗して解放されるようになっている。   The coil spring 18 biases the clamp arm 17 in the direction of pressing the substrate P. One end is fixed to the clamp shaft 16 and the other end is fixed to the holding frame 10 with an initial torsion angle. Has been. The coil spring 18 always urges the clamp arm 17 in the direction toward the opening 10a with the clamp shaft 16 as a center. When the operation end 16a is operated by an external driving means, the clamp arm 17 is subjected to spring force. It is to be released against.

このような構成により、基板保持機構15は、操作端部16aを回動操作することにより、クランプアーム17の開閉が行えるようになっており、戴置台10bに設置された基板Pをクランプアーム17が保持フレーム10に押し付けるように押圧して、基板Pを保持するようになっている。   With such a configuration, the substrate holding mechanism 15 can open and close the clamp arm 17 by rotating the operation end portion 16a, and the substrate P placed on the mounting table 10b can be opened and closed. Is pressed against the holding frame 10 to hold the substrate P.

この基板保持部5は、2つの基板搭載ユニット3の正面が対抗するように設けられている(図1参照)。つまり、基板Pの被処理面p(図7参照)の裏面がクランプアーム12に押圧されて、被処理面pと基板搭載ユニット3の正面が同じ方向を向くようにして搭載されることにより、2枚の基板Pの被処理面pが対抗するようになっている。   This board | substrate holding | maintenance part 5 is provided so that the front of the two board | substrate mounting units 3 may oppose (refer FIG. 1). That is, the back surface of the processing surface p (see FIG. 7) of the substrate P is pressed against the clamp arm 12, and the processing surface p and the front surface of the substrate mounting unit 3 are mounted in the same direction. The processed surfaces p of the two substrates P are opposed to each other.

図4は、基板進退機構20の上部20aを示す構成図であり、図5は、基板進退機構20の下部20bを示す構成図である。
基板進退機構20は、支柱4に沿って回動可能に設けられた回動軸21と、回動軸21が挿通された状態でこれと連結されたコイルバネ22と、コイルバネ22に固定された回動円筒部23と、回動円筒部23と一体成型された支持腕24と、支柱4の上部に設けられたロック機構26とから概略構成されている。なお、コイルバネ22と回動円筒部23と支持腕24は上部20aと下部20bのそれぞれに設けられている。
4 is a configuration diagram showing the upper portion 20a of the substrate advance / retreat mechanism 20, and FIG. 5 is a configuration diagram showing the lower portion 20b of the substrate advance / retreat mechanism 20. As shown in FIG.
The substrate advancing / retracting mechanism 20 includes a rotating shaft 21 provided to be rotatable along the column 4, a coil spring 22 connected to the rotating shaft 21 in a state where the rotating shaft 21 is inserted, and a rotation fixed to the coil spring 22. The moving cylinder portion 23, a support arm 24 integrally formed with the rotating cylinder portion 23, and a lock mechanism 26 provided on the upper portion of the support column 4 are schematically configured. In addition, the coil spring 22, the rotation cylindrical part 23, and the support arm 24 are provided in each of the upper part 20a and the lower part 20b.

回動軸21は、支柱4に沿うように保持フレーム10側に配置されたものであって、上端側と下端側の二箇所において回動可能に支持されたものであり、上端には操作端部21aが形成されている。また、上端及び下端近傍には、コイルバネ22の一端が固定される固定部21bが設けられている。
操作端部21aは、直線状の凸部を有するものであり、基板搬送装置1が後述の成膜処理装置50の内部に移動したときに、成膜処理装置50に設けられたアクチュエータ54によって回動操作される。
The rotating shaft 21 is disposed on the holding frame 10 side along the support column 4 and is supported so as to be rotatable at two positions on the upper end side and the lower end side. A portion 21a is formed. A fixing portion 21b to which one end of the coil spring 22 is fixed is provided in the vicinity of the upper end and the lower end.
The operation end portion 21a has a linear convex portion, and is rotated by an actuator 54 provided in the film forming apparatus 50 when the substrate transport apparatus 1 is moved into the film forming apparatus 50 described later. Is operated.

コイルバネ22は、回動軸21が挿通された状態で一端が固定部21bに固定されている。このコイルバネ22は、クランプ軸16の付勢方向とは逆方向に回動軸21を付勢するように初期ねじり角が与えられて回動軸21に取り付けられている。   One end of the coil spring 22 is fixed to the fixing portion 21b in a state where the rotating shaft 21 is inserted. The coil spring 22 is attached to the rotating shaft 21 with an initial torsion angle so as to urge the rotating shaft 21 in a direction opposite to the urging direction of the clamp shaft 16.

回動円筒部23は、内部に回動軸21が挿通されて、コイルバネ22の他端に固定されている。
支持腕24は、回動円筒部23と一体的に形成されたものであって、回動円筒部23の中心軸と直交方向に突出するように形成されたものである。支持腕24の先端部には、回動円筒部23の中心軸の方向に突出するように形成された取付シャフト24aが備えられている。この取付シャフト24aは、保持フレーム10に形成された長孔10cに挿入されて、長孔10cの内壁に沿って移動することができるようになっている。
なお、回動軸21の下側に設けられた支持腕24は、回動円筒部23との間に補強部材24bが設けられている。
The rotating cylindrical portion 23 is fixed to the other end of the coil spring 22 with the rotating shaft 21 inserted therethrough.
The support arm 24 is formed integrally with the rotating cylindrical portion 23, and is formed so as to protrude in a direction orthogonal to the central axis of the rotating cylindrical portion 23. An attachment shaft 24 a formed so as to protrude in the direction of the central axis of the rotating cylindrical portion 23 is provided at the distal end portion of the support arm 24. The mounting shaft 24a is inserted into a long hole 10c formed in the holding frame 10 and can move along the inner wall of the long hole 10c.
Note that a reinforcing member 24 b is provided between the support arm 24 provided below the rotation shaft 21 and the rotation cylindrical portion 23.

ロック機構26は、支柱4の上端側に設けられたものであって、ピン26aが上側に突出した基準の位置では、回動軸21が回動不可能となっており、ピン26aを下側に押し込むと回動軸21が回動可能となるように構成されている。
また、支柱4には、コイルバネ22により付勢された基板保持部5を受ける当て止め27が取り付けられている。すなわち、当て止め27が保持フレーム10の一部に当接することにより、基板保持部5が基板保持部5を支持する2本の支柱4を結んだ直線上から後面方向へ移動することを制限している。
The lock mechanism 26 is provided on the upper end side of the support column 4, and at the reference position where the pin 26 a protrudes upward, the rotation shaft 21 is not rotatable, and the pin 26 a is placed on the lower side. The rotary shaft 21 is configured to be rotatable when it is pushed in.
Further, the support 4 is provided with a stopper 27 that receives the substrate holding portion 5 biased by the coil spring 22. That is, when the stopper 27 abuts a part of the holding frame 10, the movement of the substrate holding unit 5 from the straight line connecting the two support columns 4 supporting the substrate holding unit 5 to the rear surface direction is restricted. ing.

このような構成により、基板進退機構20は、回動軸21の回動がコイルバネ22、回動円筒部23及び支持腕24を介して間接的に基板保持部5に伝達されるようになっており、基板保持部5を保持フレーム5の正面方向に進退可能となっている。すなわち、基板Pを被処理面pの略法線方向に進退させることが可能である。   With such a configuration, the substrate advance / retreat mechanism 20 is configured such that the rotation of the rotation shaft 21 is indirectly transmitted to the substrate holding unit 5 via the coil spring 22, the rotation cylindrical portion 23, and the support arm 24. Thus, the substrate holding part 5 can be advanced and retracted in the front direction of the holding frame 5. That is, the substrate P can be moved back and forth in the direction of the normal line of the processing surface p.

また、基板保持部5に搭載された基板Pが後述の基板処理装置52に押し付けられてもコイルバネ22、回動円筒部23及び支持腕24がその負荷を低減させる。すなわち、コイルバネ22、回動円筒部23及び支持腕24は、負荷調整機構28として機能する。   Even if the substrate P mounted on the substrate holding unit 5 is pressed against a substrate processing apparatus 52 described later, the coil spring 22, the rotating cylindrical portion 23, and the support arm 24 reduce the load. That is, the coil spring 22, the rotating cylindrical portion 23, and the support arm 24 function as a load adjustment mechanism 28.

図6は、基板搬送装置1が成膜処理装置50内部に移動したときの状態を示す要部断面図であり、図7は、図6におけるI−I断面図である。
図6に示すように成膜処理装置50は、基板搬送装置1を収容できる内部空間50aを有しており、天井部51には鉛直方向に3つの基板処理装置52が平行するように一定の間隔で設けられている。この基板処理装置52は、基板搬送装置1が成膜処理装置50の内部に収容されたときに、正面が対抗する2つの基板保持ユニット3(被処理面p)に挟み込まれるように配置されている。
また、図7に示すように、天井部51には、搬入口53から搬出口54に向かって直線状の溝部51aが形成されており、この溝部51a上にはアクチュエータ54が設けられている。
FIG. 6 is a principal cross-sectional view showing a state when the substrate transfer apparatus 1 is moved into the film forming apparatus 50, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line II in FIG.
As shown in FIG. 6, the film forming apparatus 50 has an internal space 50 a in which the substrate transfer apparatus 1 can be accommodated, and the ceiling part 51 is fixed so that three substrate processing apparatuses 52 are parallel to each other in the vertical direction. It is provided at intervals. The substrate processing apparatus 52 is disposed so as to be sandwiched between two substrate holding units 3 (surface to be processed p) facing each other when the substrate transfer apparatus 1 is accommodated in the film forming apparatus 50. Yes.
Further, as shown in FIG. 7, a linear groove 51 a is formed in the ceiling 51 from the carry-in port 53 toward the carry-out port 54, and an actuator 54 is provided on the groove 51 a.

アクチュエータ54は、鉛直中心軸を中心として回動可能なものであり、溝部51aに連通可能な直線状の溝部54aを有するものである。アクチュエータ54は、基板搬送装置1が成膜処理装置50の内部に停止したときに操作端部16aが位置するように配置されており、基板搬送装置1の搬入・搬出のときに溝部54aと溝部51aとが連通するようになっている。そして、基板Pの成膜処理時に鉛直中心軸を中心として回動することにより、操作端部16aを回動操作するものである。   The actuator 54 is rotatable about a vertical center axis, and has a linear groove 54a that can communicate with the groove 51a. The actuator 54 is disposed so that the operation end portion 16a is positioned when the substrate transfer apparatus 1 stops inside the film forming apparatus 50. When the substrate transfer apparatus 1 is carried in / out, the groove 54a and the groove portion are arranged. 51a communicates. Then, the operation end portion 16a is rotated by rotating about the vertical center axis during the film forming process of the substrate P.

次に、以上のような構成を備える基板搬送装置1の作用について説明する。
基板搭載位置において、基板搬送装置1の操作端部16aが不図示の駆動手段により回動操作されて、クランプアーム17を解放し、不図示の基板搭載手段により基板Pが設置部10bに戴置される。そして、コイルバネ18に付勢されたクランプアーム17が基板Pを保持フレーム10に押圧して、基板Pが基板保持部5に押圧保持される。
このようにして、各基板搭載ユニット3に基板Pを搭載した基板搬送装置1は、製造ラインに沿って搬入口53から成膜処理装置50の内部に移動する。このとき、操作端部21aの直線状の凸部は、溝部51a及び溝部54aに沿うようにして移動する。
Next, the operation of the substrate transfer apparatus 1 having the above configuration will be described.
At the substrate mounting position, the operation end 16a of the substrate transport apparatus 1 is rotated by a driving means (not shown) to release the clamp arm 17, and the substrate P is placed on the installation portion 10b by the substrate mounting means (not shown). Is done. The clamp arm 17 biased by the coil spring 18 presses the substrate P against the holding frame 10, and the substrate P is pressed and held by the substrate holding unit 5.
In this way, the substrate transfer apparatus 1 in which the substrate P is mounted on each substrate mounting unit 3 moves from the carry-in port 53 into the film forming apparatus 50 along the production line. At this time, the linear convex portion of the operation end 21a moves along the groove 51a and the groove 54a.

図7に示すように、基板搬送装置1が成膜処理装置50の内部の所定の位置に停止すると、不図示のアクチュエータが作動してロック機構26のピン26aを下側に押し込む。そして、アクチュエータ54が回動して溝部54aに位置している操作端部21aの直線状の凸部が係合して、操作端部21aが回動される。
回動軸21の操作端部21aが回動すると、回動軸21が固定部21bと共に回動し、コイルバネ22がねじられて回動円筒部23が回動する。
As shown in FIG. 7, when the substrate transfer apparatus 1 stops at a predetermined position inside the film forming apparatus 50, an actuator (not shown) is operated to push the pin 26a of the lock mechanism 26 downward. Then, the actuator 54 rotates to engage the linear convex portion of the operation end 21a located in the groove 54a, and the operation end 21a is rotated.
When the operation end 21a of the rotation shaft 21 is rotated, the rotation shaft 21 is rotated together with the fixed portion 21b, the coil spring 22 is twisted, and the rotation cylindrical portion 23 is rotated.

図6に示すように、回動円筒部23が回動すると、回動円筒部23と一体的に形成された支持腕24の取付シャフト24aが回動軸21の軸線を中心にして回動し、保持フレーム10が被処理面pの略法線方向(基板処理装置52側)に移動して基板Pが基板処理装置52と当接する。基板Pが基板処理装置52に当接した後にアクチュエータ54が回動してもコイルバネ22がねじられるだけであり、基板Pに負荷が生じることはない。   As shown in FIG. 6, when the rotating cylindrical portion 23 rotates, the mounting shaft 24 a of the support arm 24 formed integrally with the rotating cylindrical portion 23 rotates about the axis of the rotating shaft 21. Then, the holding frame 10 moves in a substantially normal direction (on the substrate processing apparatus 52 side) of the processing surface p, and the substrate P comes into contact with the substrate processing apparatus 52. Even if the actuator 54 rotates after the substrate P comes into contact with the substrate processing apparatus 52, only the coil spring 22 is twisted, and no load is generated on the substrate P.

このような状態で、基板処理装置52が基板Pの被処理面pに成膜処理を行う。このとき、基板Pと基板処理装置52は当接しているために被処理面pと基板処理装置52の距離はどの部位においても均一なものとなっており、被処理面pには均一に薄膜が形成される。   In such a state, the substrate processing apparatus 52 performs a film forming process on the processing surface p of the substrate P. At this time, since the substrate P and the substrate processing apparatus 52 are in contact with each other, the distance between the surface to be processed p and the substrate processing apparatus 52 is uniform in any part, and a thin film is uniformly formed on the surface to be processed p. Is formed.

薄膜処理の終了後、不図示のアクチュエータが非作動状態になり、ピン26aが基準位置に戻る。そして、アクチュエータ54が逆方向に回動して基準の位置に戻ると溝部51aが再び連通すると共に保持フレーム10が当て止め27に当接して基準の位置に戻る。
その後、搬出口54から基板取り出し位置まで移動して、不図示の駆動手段及び基板搭載手段により、各基板Pが取り出される。
After the thin film processing is completed, an actuator (not shown) is deactivated, and the pin 26a returns to the reference position. When the actuator 54 rotates in the reverse direction and returns to the reference position, the groove 51a communicates again, and the holding frame 10 contacts the stopper 27 and returns to the reference position.
Thereafter, the substrate P is moved from the carry-out port 54 to the substrate take-out position, and each substrate P is taken out by a driving unit and a substrate mounting unit (not shown).

このように、基板搬送装置1によれば、基板進退機構20が基板Pと基板処理装置52との距離を変化させて、両者の位置が成膜処理に適したものとするので、基板搬送装置1と基板処理装置52との距離を厳密に設計しなくても、薄膜を均一に成膜することが可能となる。   As described above, according to the substrate transfer apparatus 1, the substrate advance / retreat mechanism 20 changes the distance between the substrate P and the substrate processing apparatus 52 so that the positions of both are suitable for the film forming process. Even if the distance between 1 and the substrate processing apparatus 52 is not strictly designed, a thin film can be formed uniformly.

また、基板進退機構20は、基板Pと基板処理装置52とを当接させて、基板Pと基板処理装置52との位置が適切なものとなるので、基板進退機構20を厳密に制御しなくても、薄膜を均一に成膜することが可能となる。
さらに、基板進退機構20は、基板Pに生じる負荷を低減させる負荷調整機構を備え、基板Pに一定以上の負荷が生じることがないので、基板Pが基板処理装置52に押し付けられて破損することを防止することができる。
Further, since the substrate advance / retreat mechanism 20 brings the substrate P and the substrate processing apparatus 52 into contact with each other, and the positions of the substrate P and the substrate processing apparatus 52 become appropriate, the substrate advance / retreat mechanism 20 is not strictly controlled. However, a thin film can be formed uniformly.
Further, the substrate advancing / retracting mechanism 20 includes a load adjusting mechanism that reduces the load generated on the substrate P, and the substrate P does not generate a load exceeding a certain level, so that the substrate P is pressed against the substrate processing apparatus 52 and is damaged. Can be prevented.

なお、上述した実施の形態において示した動作手順、あるいは各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。   Note that the operation procedure shown in the above-described embodiment, various shapes and combinations of the constituent members, and the like are examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.

例えば、上記の実施の形態では、基板処理装置52を一定の距離で配置したが、異なる距離で配置してもよい。また、基板Pが通過できる間隔が空いていれば、必ずしも並行状態で配置することはない。基板進退機構20を駆動すれば、両者の位置が適切なものとなるからである。   For example, in the above embodiment, the substrate processing apparatus 52 is disposed at a constant distance, but may be disposed at a different distance. Moreover, if the space | interval which can pass the board | substrate P is vacant, it will not necessarily arrange in a parallel state. This is because if the substrate advance / retreat mechanism 20 is driven, the positions of the two become appropriate.

また、上記の実施形態では、基板Pと基板処理装置52の位置を当接させることにより位置決めしたが、アクチュエータ54の回動を厳密に制御して両者を位置決めさせてもよい。さらに、負荷調整機構は必ずしも設ける必要はない。
なお、回動機構54の回動手段は、アクチュエータ54に限られないのは、当然である。
In the above-described embodiment, the substrate P and the substrate processing apparatus 52 are positioned by bringing them into contact with each other. However, the actuator 54 may be positioned by strictly controlling the rotation of the actuator 54. Furthermore, the load adjusting mechanism is not necessarily provided.
Of course, the rotation means of the rotation mechanism 54 is not limited to the actuator 54.

また、上記の実施形態のクランプ保持機構15に限られず、様々な構成のクランプ保持機構を用いることができる。   Further, the present invention is not limited to the clamp holding mechanism 15 of the above embodiment, and various configurations of clamp holding mechanisms can be used.

本発明の実施の形態に係る基板搬送装置1を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the board | substrate conveyance apparatus 1 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る基板搭載ユニット3の正面図である。It is a front view of the board | substrate mounting unit 3 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る基板搭載ユニット3の後面図である。It is a rear view of the board | substrate mounting unit 3 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る基板進退機構20の上部20aを示す図である。It is a figure which shows the upper part 20a of the board | substrate advance / retreat mechanism 20 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る基板進退機構20の下部20bを示す図である。It is a figure which shows the lower part 20b of the board | substrate advance / retreat mechanism 20 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る基板搬送装置1が成膜処理装置50内部に収容されたときの要部断面図である。4 is a cross-sectional view of a main part when the substrate transfer apparatus 1 according to the embodiment of the present invention is accommodated in the film forming apparatus 50. FIG. 図6におけるI−I断面図である。It is II sectional drawing in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1…基板搬送装置
5…基板保持部
20…基板進退機構
28…負荷調整機構
52…基板処理装置
P…基板
p…被処理面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate conveyance apparatus 5 ... Substrate holding part 20 ... Substrate advance / retreat mechanism 28 ... Load adjustment mechanism 52 ... Substrate processing apparatus P ... Substrate p ... Surface to be processed

Claims (2)

被処理面が露出するように基板を基板保持部に保持して基板処理装置まで搬送する基板搬送装置において、
前記基板保持部を前記被処理面の法線方向に進退可能であると共に、前記基板を前記基板処理装置に対して位置決め可能な基板進退機構と、
前記基板保持部及び前記基板進退機構が複数設置された台車と
を備え、
前記基板進退機構は、回動可能に設けられた回動軸と、当該回動軸の回動に伴って回動される回動円筒部と、当該回動円筒部と一体成型されると共に前記基板保持部に接続された支持腕と、を備え、前記回動軸の回動を前記回動円筒部及び前記支持椀を介して前記基板保持部に伝達することで前記基板保持部を移動させる
ことを特徴とする基板搬送装置。
In a substrate transfer apparatus that holds a substrate on a substrate holder so that the surface to be processed is exposed and transfers the substrate to the substrate processing apparatus,
A substrate advancing / retreating mechanism capable of moving the substrate holding portion in the normal direction of the surface to be processed and positioning the substrate with respect to the substrate processing apparatus ;
A carriage on which a plurality of the substrate holding part and the substrate advance / retreat mechanism are installed , and
The substrate advancing / retreating mechanism is integrally formed with a rotating shaft provided rotatably, a rotating cylindrical portion rotated with the rotation of the rotating shaft, and the rotating cylindrical portion. A support arm connected to the substrate holding portion, and the rotation of the rotation shaft is transmitted to the substrate holding portion via the rotating cylindrical portion and the support rod to move the substrate holding portion. A substrate transfer apparatus.
前記基板進退機構は、前記基板と前記基板処理装置とを当接させて位置決めすることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the substrate advancing / retreating mechanism positions the substrate and the substrate processing apparatus in contact with each other.
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