JP5244342B2 - Chip resistor - Google Patents
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Description
本発明は、チップ抵抗器に関するものであり、特に、耐サージ特性に優れたチップ抵抗器に関するものである。 The present invention relates to a chip resistor, and more particularly to a chip resistor excellent in surge resistance characteristics.
従来より、耐サージ特性に優れたチップ抵抗器として、図18に示すように、絶縁基板10上に蛇行状に形成された抵抗体20と、抵抗体20の端部の上面に設けられた一対の上面電極30、32とが設けられ、該一対の上面電極30、32は、これらが形成された辺部の長さよりも短い幅に形成されていることにより、上面電極30、32が形成されている辺部に沿ったスペースを抵抗体形成領域として有効に利用でき、抵抗体20の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ特性に優れたチップ抵抗器が存在する(特許文献1参照)。
しかし、図18に示すチップ抵抗器においては、側面電極60、62が上面電極形成側の辺部に沿って絶縁基板10の一方の端部から他方の端部にまで形成されており、また、辺部に沿ったスペースを有効利用した結果、抵抗体20は、絶縁基板10の辺部(長辺)近くにまで形成されていて、抵抗体が側面電極に近接して形成されているので、チップ抵抗器の両端に大きなサージ電圧が印加された場合に、抵抗体と側面電極との間に放電が発生するおそれがある。特に、上面電極が形成されている辺部に沿って該上面電極から離れた位置においては、側面電極との電位差が高くなっているので放電が発生するおそれがある。そのように抵抗体と側面電極間で放電が発生すると、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化してしまうおそれがある。
However, in the chip resistor shown in FIG. 18, the
そこで、一対の上面電極が、これらが形成された辺部の長さよりも短い幅に形成されていて、抵抗体が、絶縁基板における電極部形成側の辺部近くにまで形成されたチップ抵抗器において、チップ抵抗器の両端に大きなサージ電圧が印加された場合でも、抵抗体と側面電極との間に放電の発生を防ぐことができるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。 Therefore, a chip resistor in which the pair of upper surface electrodes are formed to have a width shorter than the length of the side portion on which these are formed, and the resistor is formed near the side portion on the electrode portion forming side of the insulating substrate. The purpose of the present invention is to provide a chip resistor capable of preventing the occurrence of discharge between the resistor and the side electrode even when a large surge voltage is applied to both ends of the chip resistor.
本発明は上記問題点を解決するために創作されたものであって、第1には、チップ抵抗器であって、略直方体形状を呈する基板(絶縁基板としてもよい。他においても同じ)と、基板の上面における互いに対向する長辺部に沿ってそれぞれ形成された一対の上面電極で、各上面電極の該長辺部に沿った方向の幅が該長辺部の長さよりも小さく形成され、該長辺部に沿った方向における中心位置を跨がないように偏って形成されている上面電極と、該一対の上面電極間に蛇行状に形成された抵抗体と、該基板の長辺部に沿った側方に形成され、該上面電極と接続して形成された側面電極で、基板の上面側に形成され上面電極と接続した上部構成部と、基板の側面側に形成された側部構成部と、基板の下面側に形成された下部構成部とを有し、断面略コ字状に形成された部分が該基板の長辺部に沿った領域における一部の領域のみに形成された側面電極と、を有し、基板の長辺部に沿った領域には、抵抗体における上面電極との接続領域以外の領域が最も長辺部に接近する最接近領域が設けられ、側面電極における断面略コ字状に形成された部分は、該最接近領域以外の領域に形成されていることを特徴とする。 The present invention has been created to solve the above problems . First, a chip resistor, which is a substrate having a substantially rectangular parallelepiped shape (may be an insulating substrate, and the same applies to other substrates). A pair of upper surface electrodes respectively formed along the opposing long side portions on the upper surface of the substrate, wherein the width of each upper surface electrode in the direction along the long side portion is smaller than the length of the long side portion. A top surface electrode formed so as not to cross the center position in the direction along the long side portion, a resistor formed in a meandering manner between the pair of top surface electrodes, and the long side of the substrate A side electrode formed on the side of the substrate and connected to the upper surface electrode, an upper component formed on the upper surface side of the substrate and connected to the upper surface electrode, and a side formed on the side surface of the substrate a Department component, and a lower structure portion formed on the lower surface side of the substrate possess, cross Has a side electrode formed only in a partial area in the region where substantially U-shaped portion formed is along the long side portion of the substrate, and a region along the long side portion of the substrate, The closest area where the area other than the connection area with the upper surface electrode in the resistor is closest to the long side portion is provided, and the portion formed in a substantially U-shaped cross section in the side electrode is located in an area other than the closest area. It is formed .
上記第1の構成のチップ抵抗器においては、側面電極における断面略コ字状に形成された部分が、該最接近領域以外の領域に形成されているので、抵抗体において側面電極との電位差の大きく、長辺部に最接近した部分は、側面電極とは対向しておらず、よって、チップ抵抗器の両端に大きなサージ電圧が印加された場合でも、側面電極と抵抗体間の放電が発生するのを防止することができ、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。 In the chip resistor having the first configuration, the portion of the side electrode formed in a substantially U-shaped cross section is formed in a region other than the closest region . rather large portion closest to the long side portion is not opposed to the side surface electrode, thus, even when a large surge voltage is applied across the chip resistor, the discharge between the side electrodes resistor It is possible to prevent the occurrence of this phenomenon, and the occurrence of discharge between the resistor and the side electrode prevents the electrical characteristics of the resistor from deteriorating, such as the resistance value change exceeding the allowable range. can do.
また、第2には、上記第1の構成において、側面電極において、断面略コ字状に形成された部分の長さは、基板の長辺部の方向の長さの30〜50%であることを特徴とする。よって、側面電極と抵抗体間の放電の防止と、上面電極との接続領域や配線基板に実装する際のハンダフィレットの領域の確保とを考慮して、適切な構成とすることができる。 Second, in the first configuration, in the side electrode, the length of the portion formed in a substantially U-shaped cross section is 30 to 50% of the length in the direction of the long side portion of the substrate. It is characterized by that. Therefore, an appropriate configuration can be obtained in consideration of prevention of discharge between the side electrode and the resistor and securing of a connection region with the upper surface electrode and a solder fillet region when mounted on the wiring board.
また、第3には、上記第1又は第2の構成において、側面電極における上記長辺部の方向の一方の端部から他方の端部までの全ての領域が、断面略コ字状に形成されていることを特徴とする。 Third, in the first or second configuration, the entire region from one end to the other end of the side electrode in the direction of the long side is formed in a substantially U-shaped cross section. It is characterized by being.
また、第4には、上記第1又は第2の構成において、側面電極が基板の長辺部の方向の一方の端部から他方の端部にまで形成され、断面略コ字状に形成された本体部と、上部構成部が形成されていない延出部とを有していることを特徴とする。 Fourth, in the first or second configuration, the side electrode is formed from one end to the other end in the direction of the long side of the substrate, and is formed in a substantially U-shaped cross section. A main body part and an extension part in which no upper constituent part is formed.
この第4の構成においては、延出部が設けられていることにより、配線基板に実装する際にフィレットを十分確保でき、配線基板との固着力を向上させることができる。 In the fourth configuration, since the extending portion is provided, a sufficient fillet can be secured when mounted on the wiring board, and the fixing force with the wiring board can be improved.
また、第5には、上記第4の構成において、延出部が、基板の長辺部に沿って本体部の両側に形成されていることを特徴とする。すなわち、側面電極の両側に延出部が設けられているので、側面電極の形成位置がずれた場合でも本来側面電極を形成しない領域に側面電極を形成してしまうのを防止することができる。 According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth configuration, the extending portions are formed on both sides of the main body portion along the long side portion of the substrate. In other words, since the extending portions are provided on both sides of the side electrode, it is possible to prevent the side electrode from being formed in a region where the side electrode is not originally formed even when the formation position of the side electrode is shifted.
また、第6には、上記第4又は第5の構成において、延出部は、基板の側部に形成された側部構成部を有し、延出部の該側部構成部の上端は、基板の上端よりも低く形成されていることを特徴とする。これにより、抵抗体との放電を十分防止することができる。 Sixthly, in the fourth or fifth configuration, the extension part has a side part forming part formed on a side part of the substrate, and an upper end of the side part forming part of the extension part is The substrate is formed lower than the upper end of the substrate. Thereby, the discharge with the resistor can be sufficiently prevented.
また、第7には、上記第4又は第5の構成において、延出部は、基板の側部に形成された側部構成部を有し、延出部の該側部構成部の上端は、基板の上端と同じ高さに形成されていることを特徴とする。 Seventhly, in the fourth or fifth configuration, the extension part has a side part forming part formed on the side part of the substrate, and the upper end of the side part forming part of the extension part is The substrate is formed at the same height as the upper end of the substrate.
また、第8には、上記第1から第7までのいずれかの構成において、基板の下面に一対の下面電極が設けられ、該一対の下面電極は、互いに対向して電極が形成される領域と、互いに対向して電極が形成されない領域とを有した構成となっていることを特徴とする。よって、互いに対向して電極が形成される領域により配線基板との接合強度を高めることができ、さらに、互いに対向して電極が形成されない領域により、基板と配線基板との熱膨張差が生じても、該領域に向かって基板の応力を逃すことができるので、チップ抵抗器と配線基板との間のはんだに応力が集中してはんだにクラックが入るのを防止することができる。 Eighth , in any one of the first to seventh configurations, a pair of lower surface electrodes is provided on the lower surface of the substrate, and the pair of lower surface electrodes are regions where the electrodes are formed to face each other. And a region where electrodes are not formed opposite to each other. Therefore, the bonding strength with the wiring substrate can be increased by the region where the electrodes are formed facing each other, and further, the thermal expansion difference between the substrate and the wiring substrate is generated by the region where the electrodes are not formed facing each other. However, since the stress of the substrate can be released toward the region, it is possible to prevent the stress from being concentrated on the solder between the chip resistor and the wiring substrate and cracking of the solder.
また、第9には、上記第1から第8までのいずれかの構成において、上記上面電極が互いに対角状に設けられていることを特徴とする。 Ninth , in any one of the first to eighth configurations, the upper surface electrodes are provided diagonally to each other.
また、第10には、上記第1から第8までのいずれかの構成において、上記上面電極が互いに対向して設けられていることを特徴とする。 According to a tenth aspect , in any one of the first to eighth configurations, the upper surface electrodes are provided to face each other.
また、以下の構成としてもよい。すなわち、第11の構成として、上記第1から第10までのいずれかの構成において、上記上面電極は、上記長辺部と直角の方向である第2方向に、基板の該第2方向の長さの半分以下の長さを有し、基板の該第2方向における中心位置を跨がないように形成されていることを特徴とする。よって、抵抗体の抵抗路の長さを長く取ることができ、抵抗値の高いチップ抵抗器に適している。 The following configuration may also be used. That is, as an eleventh configuration, in any one of the first to tenth configurations, the upper surface electrode has a length in the second direction of the substrate in a second direction which is a direction perpendicular to the long side portion. The length is less than half of the length, and the substrate is formed so as not to straddle the center position in the second direction of the substrate. Therefore, the length of the resistance path of the resistor can be increased, which is suitable for a chip resistor having a high resistance value.
また、第12の構成として、上記第1から第11までのいずれかの構成において、抵抗体における上面電極と重ならない部分の最大幅で、上記長辺部の方向と直角の方向である直角方向の最大幅が、上記一対の上面電極間の該直角方向の距離よりも長く形成されていることを特徴とする。これにより、上面電極が形成されている辺部に沿った領域も抵抗体形成領域に利用しているので、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れ、高電力化が可能なチップ抵抗器を得ることが可能となる。 Further, as a twelfth configuration, in any one of the first to eleventh configurations, a maximum width of a portion of the resistor that does not overlap with the upper surface electrode, a right angle direction that is a direction perpendicular to the direction of the long side portion. Is formed longer than the distance between the pair of upper surface electrodes in the perpendicular direction. As a result, since the region along the side where the upper surface electrode is formed is also used as the resistor forming region, the area of the resistor can be increased. It is possible to obtain a chip resistor that is excellent in surge characteristics and can increase power.
また、第13の構成として、上記第1から第12までのいずれかの構成において、上記上面電極と抵抗体の接続部分においては、上面電極が抵抗体の上側に形成されていることを特徴とする。このように、上面電極と抵抗体の接続部分においては、上面電極が抵抗体の上側に形成されているので、上面電極との接続部分において抵抗体が上面電極に覆われた状態となるので、側面電極との接続のために上面電極を保護膜から露出させた場合でも、抵抗体が露出しないので、メッキを良好に行うことが可能となる。 Further, as a thirteenth configuration, in any one of the first to twelfth configurations, the upper surface electrode is formed on the upper side of the resistor in the connection portion between the upper surface electrode and the resistor. To do. Thus, since the upper surface electrode is formed on the upper side of the resistor in the connection portion between the upper surface electrode and the resistor, the resistor is covered with the upper surface electrode in the connection portion with the upper surface electrode. Even when the upper surface electrode is exposed from the protective film for connection with the side electrode, the resistor is not exposed, so that plating can be performed satisfactorily.
また、第14の構成として、上記第13の構成において、上記チップ抵抗器が、抵抗体における上面電極から露出した部分を被覆する保護膜を有し、該保護膜は、上面電極の少なくとも一部が保護膜から露出するように形成されていることを特徴とする。このようにすることにより、抵抗体は、上面電極及び保護膜により完全に被覆されるので、抵抗体は完全に保護され、また、側面電極の表面に形成されるメッキが抵抗体に接することがないので、メッキを良好に行うことができる。なお、上面電極の少なくとも一部を保護膜から露出させるには、上面電極の形成位置に切欠部又は開口部を設けるのが好ましい。 As a fourteenth configuration, in the thirteenth configuration, the chip resistor has a protective film that covers a portion of the resistor exposed from the upper surface electrode, and the protective film is at least a part of the upper surface electrode. Is formed so as to be exposed from the protective film. By doing so, since the resistor is completely covered with the upper surface electrode and the protective film, the resistor is completely protected, and the plating formed on the surface of the side electrode may be in contact with the resistor. Therefore, plating can be performed satisfactorily. In order to expose at least part of the upper surface electrode from the protective film, it is preferable to provide a notch or an opening at the position where the upper surface electrode is formed.
また、第15の構成として、上記第14の構成において、上記保護膜における上面電極に対応する位置には、上面電極を保護膜から露出させるための切欠部又は開口部が形成されていて、該側面電極は、少なくとも該切欠部又は開口部により露出した上面電極と接続されていることを特徴とする。このように切欠部又は開口部が設けられていることにより、上面電極が露出して側面電極と接続された状態となっているので、側面電極と上面電極との接続状態を良好とすることができる。 As a fifteenth configuration, in the fourteenth configuration, a cutout or an opening for exposing the top electrode from the protective film is formed at a position corresponding to the top electrode in the protective film. The side surface electrode is connected to at least the upper surface electrode exposed through the notch or opening. By providing the notch or opening in this manner, the upper surface electrode is exposed and connected to the side electrode, so that the connection state between the side electrode and the upper surface electrode can be improved. it can.
また、第16の構成として、上記第1から第12までのいずれかの構成において、上記チップ抵抗器が、上記抵抗体を保護する保護膜を有し、上記上面電極と抵抗体の接続部分においては、抵抗体が上面電極の上側に形成されていて、抵抗体の上側には、抵抗体における保護膜から露出する部分を被覆するカバー電極が形成されていることを特徴とする。このようにカバー電極が設けられるので、抵抗体が露出することがなく、メッキを良好に行うことが可能となる。 As a sixteenth configuration, in any one of the first to twelfth configurations, the chip resistor includes a protective film that protects the resistor, and a connection portion between the upper surface electrode and the resistor is provided. Is characterized in that the resistor is formed on the upper surface electrode, and a cover electrode is formed on the upper side of the resistor to cover a portion of the resistor exposed from the protective film. Since the cover electrode is provided in this manner, the resistor is not exposed and plating can be performed satisfactorily.
また、第17の構成として、上記第1から第16までのいずれかの構成において、上記一対の上面電極における各上面電極の他方の上面電極側には、曲線状に湾曲した辺部である湾曲状部が形成されていることを特徴とする。よって、湾曲状部が形成されているので、上面電極間距離の差が小さくなり、また、該上面電極における他方の上面電極側には角部が形成されないので、上面電極における特定の領域への電流集中を軽減することができ、電気的特性、特に、負荷特性を向上させることが可能となる。 Further, as a seventeenth configuration, in any one of the first to sixteenth configurations, the other upper surface electrode side of the pair of upper surface electrodes has a curved portion that is a curved side portion. A shape portion is formed. Therefore, since the curved portion is formed, the difference in the distance between the upper surface electrodes is reduced, and no corner is formed on the other upper surface electrode side of the upper surface electrode, so that the upper surface electrode has a specific region. Current concentration can be reduced, and electrical characteristics, particularly load characteristics can be improved.
また、第18の構成として、上記第17の構成において、上記上面電極が、方形状の形状における他方の上面電極側の角部を含む領域を曲線状に切り欠くことにより、湾曲状部を有していることを特徴とする。 As an eighteenth configuration, in the seventeenth configuration, the upper surface electrode has a curved portion by cutting out a region including a corner portion on the other upper surface electrode side in a square shape into a curved shape. It is characterized by that.
また、第19の構成として、上記第1から第18までのいずれかの構成において、上記一対の上面電極における各上面電極の他方の上面電極側には、該他方の上面電極側に傾斜した辺部である傾斜状部が形成されていることを特徴とする。 As a nineteenth configuration, in any one of the first to eighteenth configurations, the other upper surface electrode side of the pair of upper surface electrodes has a side inclined toward the other upper surface electrode side. An inclined portion which is a portion is formed.
また、第20の構成として、上記第19の構成において、上記上面電極が、方形状の形状における他方の上面電極側の角部を含む領域を斜めに切り欠くことにより、傾斜状部を有していることを特徴とする。 As a twentieth configuration, in the nineteenth configuration, the upper surface electrode has an inclined portion by obliquely cutting out a region including a corner portion on the other upper surface electrode side in a square shape. It is characterized by.
本発明に基づくチップ抵抗器によれば、側面電極における断面略コ字状に形成された部分が、該最接近領域以外の領域に形成されているので、抵抗体において側面電極との電位差の大きく、長辺部に最接近した部分は、側面電極とは対向しておらず、よって、チップ抵抗器の両端に大きなサージ電圧が印加された場合でも、側面電極と抵抗体間の放電が発生するのを防止することができ、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。
According to the chip resistor according to the present invention, since the portion of the side electrode formed in a substantially U-shaped cross section is formed in a region other than the closest region , the potential difference between the resistor and the side electrode is large. In addition, the portion closest to the long side is not opposed to the side electrode. Therefore, even when a large surge voltage is applied to both ends of the chip resistor, discharge between the side electrode and the resistor occurs. The electrical characteristics of the resistor can be prevented from deteriorating, for example, by causing a discharge between the resistor and the side electrode to cause the resistance value change of the resistor to exceed an allowable range. be able to.
本発明においては、一対の上面電極が、これらが形成された辺部の長さよりも短い幅に形成されていて、抵抗体が、絶縁基板における電極部形成側の辺部近くにまで形成されたチップ抵抗器において、チップ抵抗器の両端に大きなサージ電圧が印加された場合でも、抵抗体と側面電極との間に放電の発生を防ぐことができるチップ抵抗器を提供するという目的を以下のようにして実現した。 In the present invention, the pair of upper surface electrodes are formed to have a width shorter than the length of the side portion on which the electrodes are formed, and the resistor is formed close to the side portion on the electrode portion forming side of the insulating substrate. The purpose of the chip resistor is to provide a chip resistor that can prevent discharge between the resistor and the side electrode even when a large surge voltage is applied to both ends of the chip resistor. And realized.
すなわち、本発明に基づく実施例におけるチップ抵抗器Aは、図1〜図5に示されるように構成され、絶縁基板(基板)10と、抵抗体(機能素子)20と、上面電極30、32と、保護膜40と、下面電極50、52と、側面電極60、62と、メッキ70、72と、を有している。
That is, the chip resistor A in the embodiment according to the present invention is configured as shown in FIGS. 1 to 5, and includes an insulating substrate (substrate) 10, a resistor (functional element) 20, and
なお、図1、図7〜図10はチップ抵抗器の斜視図であり、図2は、チップ抵抗器の平面図であるが、これらは、厳密には、メッキ70、72を除いた状態の図である。また、図4は、チップ抵抗器Aの平面図であるが、厳密には、保護膜40と側面電極60、62とメッキ70、72とを除いた状態の図である。また、図5、図11〜図13は、チップ抵抗器の底面図であるが、厳密には、メッキ70、72と側面電極60、62を除いた状態の図である。
1 and FIGS. 7 to 10 are perspective views of the chip resistor, and FIG. 2 is a plan view of the chip resistor. Strictly speaking, these are in a state in which the
また、図面において、Y1−Y2方向は、X1−X2方向に直角な方向であり、Z1−Z2方向は、X1−X2方向及びY1−Y2方向に直角な方向である。 In the drawings, the Y1-Y2 direction is a direction perpendicular to the X1-X2 direction, and the Z1-Z2 direction is a direction perpendicular to the X1-X2 direction and the Y1-Y2 direction.
ここで、上記絶縁基板10は、含有率96%程度のアルミナにて形成された絶縁体である。この絶縁基板10は、直方体形状を呈しており、平面視すると、略長方形形状を呈している。この絶縁基板10は、上記チップ抵抗器Aの基礎部材、すなわち、基体として用いられている。
Here, the insulating
また、抵抗体20は、絶縁基板10の上面に設けられていて、蛇行状に形成されている。つまり、この抵抗体20は、略N字状に形成されていて、帯状部20a、20cと、幅広部20bと、接続部20d、20eとを有している。すなわち、帯状部20aは、上面電極32と接続され、Y1−Y2方向(「縦方向」、「絶縁基板の短手方向」としてもよい)に帯状に形成されている。また、帯状部20cは、上面電極30と接続され、Y1−Y2方向に帯状に形成されている。また、幅広部20bは、帯状部20aと帯状部20cの中間の位置に設けられていて、方形状の相対する角部を斜めに欠切した形状を呈している。なお、この幅広部20bの形状は、相対する角部を斜めに欠切したものでなく、方形状の形状としてもよい。なお、この場合には、当然幅広部20bが上面電極30、32と接しない形状とする必要がある。また、接続部20dは、帯状を呈し、帯状部20aと幅広部20bとを接続し、また、接続部20eは、帯状を呈し、帯状部20cと幅広部20bとを接続する。また、幅広部20bには、トリミング溝Tが形成される。
The
また、上面電極30は、方形状を呈し、絶縁基板10の上面の一方の長辺側の辺部に沿って形成され、該長辺側の辺部における一方の短辺側に偏った位置に形成されている。つまり、上面電極30は、Y2側の長辺側の辺部に沿った領域であって、絶縁基板の上面の角部の近くに形成されている。より具体的には、上面電極30のX1−X2方向の中心位置と絶縁基板10のX1側の端部間の距離α1は、絶縁基板10のX1−X2方向(「横方向」、「絶縁基板の長手方向」、「長辺方向」としてもよい)の長さの半分よりも長くなっている。また、上面電極30のX1−X2方向の中心位置と絶縁基板10のX2側の端部間の距離α2は、当然絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分よりも短くなっている。また、上面電極30は、長辺に沿った方向に、絶縁基板の長辺の長さの半分以下(半分よりも小さいとしてもよい)の幅を有し、該長辺の中心位置(つまり、平面視の絶縁基板10の長辺方向における中心位置、この中心位置が上記「基板の該辺部に沿った方向における中心位置」に当たる)を跨がないように偏って形成されているといえる。これにより、上面電極30のX1側の端部と絶縁基板10のX1側の端部間の距離は、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分よりも長くなっている。また、上面電極30のX2側の端部と絶縁基板10のX2側の端部間には、隙間が設けられているが、この隙間が設けられない構成でもよい。
The
また、上面電極32は、上面電極30と点対称の構成である。つまり、上面電極32は、方形状を呈し、絶縁基板10の上面の他方の長辺側の辺部に沿って形成され、該長辺側の辺部における他方の短辺側に偏った位置に形成されている。つまり、上面電極32は、Y1側の長辺側の辺部に沿った領域であって、絶縁基板の上面の角部の近くに形成されている。上面電極32の具体的な構成は、点対称(チップ抵抗器Aの平面視における中心点を介して点対称。他においても同じ)である以外は、上面電極30と同様であるので詳しい説明を省略する。
The
また、上面電極30、32ともに、Y1−Y2方向の幅は、少なくとも絶縁基板10のY1−Y2方向の長さの半分以下(半分よりも小さいとしてもよい)となっていて、上面電極30、32は、平面視の絶縁基板10の短辺方向における中心位置を跨がないように形成されている。この場合のY1−Y2方向が第2方向となる。
In addition, both the
以上のように、上面電極30と上面電極32とは、ともに絶縁基板10の長辺に沿って形成されていて、上面電極30と上面電極32とは絶縁基板10の対角位置、つまり、絶縁基板10の平面視における中心位置を介して点対称の位置に形成されているといえる。なお、上面電極30及び上面電極32は、抵抗体20との接続部分においては、抵抗体20の上側に形成されている。
As described above, both the
また、保護膜40は、抵抗体20及び上面電極30、32の上面に設けられていて、方形状の形状に方形状の切欠部を2つ設けた形状を呈している。つまり、保護膜40は、方形状の形状に上面電極30、32の位置に対応する位置に方形状の切欠部42、44を形成した形状を呈し、抵抗体20が露出しないように形成されている。上記切欠部42、44は、凹状に形成されているといえる。つまり、保護膜40のX1−X2方向の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さよりも若干短く形成されているが、抵抗体20のX1−X2方向の最大幅よりも長く形成されているとともに、保護膜40のY1−Y2方向の長さは、絶縁基板10のY1−Y2方向の長さよりも若干短く形成されているが、抵抗体20のY1−Y2方向の最大幅よりも長く形成されている。なお、図4に示すように、保護膜40と抵抗体20とを平面視において比べると、帯状部20a、20cの端部は保護膜40からはみ出すようになっているが、この部分は上面電極30、32にカバーされているので、抵抗体20が露出することはない。なお、図1、図2、図4に示すように、平面視において、保護膜40の外形が絶縁基板10の外形よりも若干小さく形成されているが、これにより、分割時のバリを防止することができ、チップ抵抗器の形状が良好となる。なお、保護膜40は、絶縁基板10の端縁まで形成したものでもよい。
The
また、下面電極50と下面電極52とは、図3、図5に示すように、絶縁基板10の底面に形成されていて、帯状を呈している。つまり、下面電極50は、Y2側の長辺に沿ってX1−X2方向に帯状に形成されていて、X1側の端部からX2側の端部にまで形成されている。また、下面電極52は、Y1側の長辺に沿ってX1−X2方向に帯状に形成されていて、X1側の端部からX2側の端部にまで形成されている。なお、下面電極50、52の長辺方向の長さは、絶縁基板10の長辺の方向の長さよりも若干短くてもよい。
Further, the
また、側面電極60、62は、上面電極の一部と、下面電極の一部と、保護膜40の一部と、絶縁基板10の側面や上面の一部を被覆するように断面略コ字状に層状に形成されているが、長手方向の一部にのみ形成されている点が通常と異なる。すなわち、図1〜図4に示すように、側面電極60は、上面電極30の一部と、下面電極50の一部と、保護膜40の一部と、絶縁基板10の側面の一部や上面の一部を被覆するように断面略コ字状に層状に形成されており、側面電極60を構成する上部構成部60aと側部構成部60bと下部構成部60cとはそれぞれ帯状に形成されている。特に、側面電極60は、絶縁基板10の長手方向の辺部において、一部にのみ形成されていて、絶縁基板10の長手方向における上面電極30形成側の領域(X2側の領域)に偏って形成されている。つまり、側面電極60は、上面電極30形成側の端部(X2側の端部)から長手方向に途中位置まで形成されていて、側面電極60の一方の端部は絶縁基板10のX2側の端部の位置であり、他方の端部は絶縁基板10の長手方向の半分の位置を含めてX2側となっている。つまり、抵抗体20との放電を防止する意味では、上面電極30からの距離が長くなると電位差が大きくなるので、側面電極60のX1側の端部と絶縁基板10のX2側の端部との間の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの50%以下とする。より具体的には、側面電極60の他方の端部は、抵抗体20における絶縁基板10の長辺への最接近領域RよりもX2側に形成され、側面電極60は、該最接近領域Rには形成されていない。つまり、図1〜図4の例で、最接近領域RのX2側の端部は、絶縁基板10の長手方向の半分の位置よりもX2側となっているが、側面電極60のX1側の端部は、最接近領域RのX2側の端部よりもX2側となっている。なお、側面電極60のX1側の端部と絶縁基板10のX2側の端部との間の長さ(側面電極60の長さと同じ)は、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの50%以下であるが、45%未満であってもよい。また、上面電極との接続領域や配線基板に実装する際のハンダフィレットの領域を考えると、側面電極60の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの30%以上とするのが好ましい。
The
また、側面電極62は、側面電極60とは点対称に形成されていて、側面電極62は、上面電極32の一部と、下面電極52の一部と、保護膜40の一部と、絶縁基板10の側面の一部や上面の一部を被覆するように断面略コ字状に層状に形成されており、側面電極62を構成する上部構成部62aと側部構成部62bと下部構成部62cとはそれぞれ帯状に形成されている。つまり、側面電極62は、絶縁基板10の長手方向において、一部にのみ形成されていて、絶縁基板10の長手方向における上面電極32形成側の端部(X1側の端部)から長手方向に途中位置まで形成されていて、側面電極62の一方の端部は絶縁基板10のX1側の端部の位置であり、他方の端部は絶縁基板10の長手方向の半分の位置よりもX1側となっている。より具体的には、側面電極62の他方の端部は、抵抗体20における絶縁基板10の長辺への最接近領域RよりもX1側に形成され、側面電極62は、該最接近領域Rには形成されていない。
The
なお、絶縁基板10の上面側の長辺部に沿った領域において、側面電極60、62が形成されていない領域、つまり、図2におけるWに示す領域が上記非形成領域に当たる。
In the region along the long side portion on the upper surface side of the insulating
なお、図2に示すように、側面電極60は、保護膜40に形成された切欠部42の全てを被覆してはおらず、同様に、側面電極62は、保護膜40に形成された切欠部44の全てを被覆してはいない。これにより、上面電極30は側面電極60により全て被覆されているものではなく、また、上面電極32は側面電極62により全て被覆されているものではない。
As shown in FIG. 2, the
なお、図2に示す場合とは異なり、側面電極60、62の上部構成部の幅を大きくして、側面電極60が切欠部42を被覆し、側面電極層62が切欠部44を被覆するようにして、上面電極30、32が側面電極層60、62により被覆されるようにしてもよい。
In addition, unlike the case shown in FIG. 2, the width of the upper components of the
なお、保護膜40に切欠部42、44が形成されていて、上面電極30は切欠部42により保護膜40から露出し、上面電極32は切欠部44により保護膜40から露出しているので、側面電極60は確実に上面電極30と接続され、側面電極62は確実に上面電極32と接続されている。また、抵抗体20と上面電極30、32との接続部分においては、抵抗体20が上面電極30、32の下側に設けられているため、切欠部42、44からは上面電極が露出するので、側面電極との接続状態を良好とすることができる。つまり、抵抗体20と上面電極30、32との接続部分において、抵抗体20が上面電極30、32の上側に形成されていると、抵抗体20が切欠部42、44から露出する可能性があり、そうすると、メッキ形成に際して抵抗体20にメッキを施すことになり、抵抗体20とメッキ70、72の接合が良好でないことからメッキ形成が正しく行うことができないおそれがあるが、本実施例の場合には、そのようなおそれがない。
Since the
また、メッキ70は、ニッケルメッキ80と、錫メッキ90とから構成されていて、Y2側の端部にそれぞれ設けられている。ニッケルメッキ80は、保護膜40の一部と、上面電極30の一部と、側面電極60と、下面電極50の一部とを被覆するように形成されている。つまり、上面電極30と側面電極60と下面電極50の露出部分を被覆するように形成されている。このニッケルメッキ80は、電気メッキにより略均一の膜厚で配設されている。このニッケルメッキ80は、ニッケルにて形成されており、上面電極30等の内部電極のはんだ食われを防止するために形成されている。このニッケルメッキ80は、ニッケル以外にも銅メッキが用いられる場合もある。また、錫メッキ90は、ニッケルメッキ80の上面を被覆するように略均一の膜厚で配設されている。この錫メッキ90は、上記チップ抵抗器Aの配線基板へのはんだ付けを良好に行うために形成されている。なお、この錫メッキ90は、錫メッキ以外に、はんだが用いられる場合もある。
The
また、同様に、メッキ72は、ニッケルメッキ82と、錫メッキ92とから構成されていて、Y1側の端部にそれぞれ設けられている。ニッケルメッキ82は、保護膜40の一部と、上面電極32の一部と、側面電極62と、下面電極52の一部とを被覆するように形成されている。つまり、上面電極32と側面電極62と下面電極52の露出部分を被覆するように形成されている。このニッケルメッキ82の上記以外の構成はニッケルメッキ80と同様であるので説明を省略する。また、錫メッキ92は、ニッケルメッキ82の上面を被覆するように略均一の膜厚で配設されている。錫メッキ92の上記以外の構成は、錫メッキ90と同様であるの説明を省略する。
Similarly, the
上記チップ抵抗器Aの製造方法としては、通常のチップ固定抵抗器の製造方法とほぼ同様であるが、特に、上面電極30と上面電極32とを絶縁基板10上に対角状に形成するとともに、側面電極60、62を絶縁基板10の長手方向の一部にのみ形成する点が異なる。
The manufacturing method of the chip resistor A is almost the same as the manufacturing method of a normal chip fixed resistor. In particular, the
つまり、複数の絶縁基板10の大きさを有する大判の基板の下面に帯状に下面電極を形成する。次に、該基板の上面に所定の範囲に抵抗体を形成する。つまり、抵抗ペーストを印刷して乾燥した後に焼成することによって抵抗体20を形成する(抵抗層形成工程)。続いて、上面電極をその一部を抵抗体20に重ねるようにして形成する。つまり、上面電極ペーストをその一部を抵抗層20に重ねるようにして印刷して乾燥した後に焼成して上記上面電極30、32を形成する。なお、隣接するチップ抵抗器における上面電極とともに1つの印刷領域で形成するのが好ましい。
That is, the lower electrode is formed in a strip shape on the lower surface of a large-sized substrate having the size of the plurality of insulating
続いて、抵抗体20についてトリミングを行って抵抗値調整を行った後に、保護層40を形成し、基板を一次分割する。その後、側面電極を形成する。つまり、側面電極用ペーストを印刷して乾燥した後に焼成(焼成ではなく硬化としてもよい)することにより側面電極を形成する。なお、側面電極は、上記のように、絶縁基板10の長手方向の辺部において、一部にのみ形成されているが、そのように一部にのみ形成する方法としては、スクリーン印刷により形成する方法や、溝付きローラにより溝部分を側面電極を形成しない領域に対応させて印刷する方法や、スパッタ方式によりマスクを設けることにより選択的に側面電極を形成する方法等が考えられる。その後、二次分割を行い、個々のチップ片とした後に、メッキ70、72を形成する。
Subsequently, after trimming the
なお、このチップ抵抗器Aの実装に際しては、従来と同様に、配線基板にチップ抵抗器Aの側部にはんだにより形成したフィレットを設けることにより配線基板上のランドと接続させて実装を行う。なお、側面電極は絶縁基板10の長手方向の辺部の一部にのみ形成されているので、フィレットは、側面電極が形成されている領域のみに形成されることになる。
In mounting the chip resistor A, as in the prior art, the wiring board is mounted by being connected to the land on the wiring board by providing a fillet formed of solder on the side of the chip resistor A. Since the side electrode is formed only on a part of the side portion in the longitudinal direction of the insulating
上記構成のチップ抵抗器Aにおいては、側面電極が、絶縁基板10の長手方向の辺部において、一部にのみ形成されていて、絶縁基板10の長手方向における上面電極30形成側の領域に偏って形成されているので、抵抗体において側面電極との電位差の大きい部分は、側面電極とは対向しておらず、よって、側面電極と抵抗体間の放電が発生するのを防止することができる。特に、上記最接近領域Rは、側面電極との電位差が大きい領域であるが、その領域に側面電極が形成されておらず、側面電極と抵抗体とが近接していないので、側面電極と抵抗体間の放電が発生するのを防止することができる。よって、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。
In the chip resistor A having the above-described configuration, the side electrode is formed only on a part of the side in the longitudinal direction of the insulating
また、側面電極60、62の長さが、絶縁基板の長辺部の方向の長さの30〜50%に構成されているので、側面電極と抵抗体間の放電の防止と、上面電極との接続領域や配線基板に実装する際のハンダフィレットの領域の確保とを考慮して、適切な構成とすることができる。つまり、側面電極と抵抗体間の放電の防止のためには側面電極の長さは短い方がよく、一方、上面電極との接続領域やハンダフィレットの領域を確保するには側面電極は長い方がよいのであるが、側面電極60、62の長さを絶縁基板の長さの30〜50%とすることにより、双方のバランスをとって最適な構成とすることができる。
Moreover, since the length of the
また、上面電極が対角状に形成されているので、上面電極が形成されている辺部に沿ったスペースも抵抗体形成領域に有効に利用することができ、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れ、高電力化が可能なチップ抵抗器を得ることが可能となる。つまり、上面電極30も上面電極32も各上面電極が形成されている絶縁基板10の辺部においてその一部にのみ設けられているので、図6に示すように、上面電極30、32のX1−X2方向の領域、すなわち、ハッチングに示す領域を得ることができ、この領域を抵抗体形成領域として利用することができる。つまり、上面電極が小さく形成されているので、その分抵抗体を大きく形成できるといえる。特に、上面電極30は、X2側に偏った位置に設けられているので、上面電極30においては、上面電極30のX1側の領域を広く取ることができ、また、上面電極32は、X1側に偏った位置に設けられているので、上面電極32においては、上面電極32のX2側の領域を広く取ることができる。つまり、抵抗体の形成領域を広く確保できることによって、抵抗体20のY1−Y2方向(長辺部の方向と直角の方向である直角方向)の最大長N(より厳密には、抵抗体20において上面電極30、32と積層していない領域の最大長)は、上面電極32と上面電極30間のY1−Y2方向の距離Mよりも大きくすることができる。
In addition, since the upper surface electrode is formed diagonally, the space along the side where the upper surface electrode is formed can also be used effectively for the resistor formation region, and the area of the resistor is increased. Therefore, it is possible to obtain a chip resistor that is excellent in surge resistance and capable of increasing power while reducing the size of the chip resistor. That is, since both the
また、上面電極30と上面電極32とは対角状に設けられていて、絶縁基板10の平面視における中心位置を介して点対称の位置に設けられているので、180度の回転方向には同一の構成となり、トリミングに際して180度回転してしまった場合でも正しくトリミング溝を形成することができる。
Further, the
また、上記のように、保護膜40に切欠部42、44を設けることにより、上面電極30と側面電極60との接続及び上面電極32と側面電極62との接続を良好にすることができるとともに、保護膜40を絶縁基板10上に大きく形成することができるので、これに伴い、抵抗体20も大きく形成することができ、これによっても、耐サージ性を良好にすることができる。
Further, as described above, by providing the
なお、側面電極の構成は、上記の構成に限られず、以下の構成としてもよい。すなわち、図7に示すチップ抵抗器A1においては、側面電極160、162は、側面電極60、62と比べて、さらに、延出部が設けられている。側面電極160と側面電極162とは互いに点対称で同様の構成であるので、側面電極162を例にとって説明すると、側面電極162は、本体部162aと延出部162bとを有し、本体部162aは、上記側面電極62と同様の構成である。延出部162bは、本体部162aの端部から連設され、長手辺部に沿って絶縁基板10のX2側の端部位置にまで形成され、絶縁基板10の下面と側面とに形成されている。延出部162bにおける絶縁基板10の下側に形成された下部構成部は、本体部62における絶縁基板10の下側に形成された下部構成部と同じ幅に帯状に形成され、また、絶縁基板10の側部に形成された側部構成部は、絶縁基板10の下端から絶縁基板10の厚みより短い幅に形成され、延出部162bの上端は、絶縁基板10の上端よりも下側に設けられている。具体的には、延出部162bの上端は、絶縁基板10の側面の上下方向の略中間位置にある。このように、延出部162bは、断面略L字状を呈しているといえる。この延出部162bの領域が、上記非形成領域に当たる。
The configuration of the side electrode is not limited to the above configuration, and may be the following configuration. That is, in the chip resistor A <b> 1 shown in FIG. 7, the
上記の図7の構成においては、延出部162bが設けられているので、図1の例と比べて、配線基板に実装する際にフィレットを接続する領域を増やすことができ、配線基板との固着力を向上させることができる。なお、延出部162bの上端は、絶縁基板10の上端よりも低い位置にあり、抵抗体20とは十分離れているので、延出部162bと抵抗体20との放電のおそれを防止することができる。
In the configuration of FIG. 7 described above, since the extending
なお、チップ抵抗器A1における側面電極以外の構成は、チップ抵抗器Aと同様であるので詳しい説明を省略する。 Since the configuration of the chip resistor A1 other than the side electrodes is the same as that of the chip resistor A, detailed description thereof is omitted.
また、側面電極を図8に示すチップ抵抗器A2における側面電極260、262のような構成としてもよい。すなわち、側面電極260、262は、図7に示す側面電極と略同様の構成であるが、絶縁基板10の上面電極形成側の端部の上側に側面電極を形成しない構成となっている。つまり、側面電極260と側面電極262とは互いに点対称で同様の構成であるので側面電極262を例にとって説明すると、側面電極262は、本体部262aと延出部262bと延出部262cとを有し、本体部262aのX2側のみならずX1側にも延出部が設けられている。つまり、図7の構成と比べて、本体部262aは、162aよりも短く形成され、本体部262aに延出部262cが連設され、延出部262cは延出部262bと同様の構成であり、下部構成部と側部構成部とを有し、延出部262cの上端は、絶縁基板10の上端よりも下側に設けられ、具体的には、延出部262bの上端は、絶縁基板10の側面の上下方向の略中間位置にある。延出部262cの長さは、延出部262bの長さよりも短く形成されている。なお、この場合にも、本体部262aのX2側の端部と絶縁基板10のX1側の端部との間の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの50%以下となっていて、また、本体部262a自体の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの30%〜50%となっている。
Further, the side electrodes may be configured like the
上記のように構成することにより、図7に示す側面電極162の本体部162aの側部構成部の上側から上部構成部にかけて切欠部が形成された構成となっている。この延出部262bや延出部262cの領域が、上記非形成領域に当たる。
By configuring as described above, a cutout portion is formed from the upper side to the upper component of the side component of the
図8のような構成とすることにより、チップ抵抗器A2の製造に際して、側面電極の形成位置がずれた場合でも本来側面電極を形成しない領域に側面電極を形成してしまうのを防止することができる。つまり、チップ抵抗器の製造に際して、X1−X2方向にチップ抵抗器がつながった状態の短冊状部材に対して側面電極を形成する際に、側面電極が図7の側面電極162のような構成であるとすると、X1−X2方向に側面電極の形成位置がずれてしまった場合に、側面電極の本体部が、隣接するチップ抵抗器の延出部の領域に形成されてしまい、延出部の領域に絶縁基板10の上側まで伸びた部分が形成されてしまって、抵抗体との放電を発生させるおそれがあるが、図8のような構成とすることにより、側面電極がずれて形成された場合でも上記のようなおそれを防止することができる。
With the configuration as shown in FIG. 8, it is possible to prevent the side electrode from being formed in a region where the side electrode is not originally formed even when the position of the side electrode is shifted in manufacturing the chip resistor A2. it can. That is, when manufacturing the chip resistor, when the side electrode is formed on the strip-shaped member in which the chip resistor is connected in the X1-X2 direction, the side electrode is configured as the
なお、チップ抵抗器A2における側面電極以外の構成は、チップ抵抗器Aと同様であるので詳しい説明を省略する。 Since the configuration of the chip resistor A2 other than the side electrodes is the same as that of the chip resistor A, detailed description thereof is omitted.
また、側面電極を図9に示すチップ抵抗器A3における側面電極360、362のような構成としてもよい。すなわち、側面電極360、362は、図8に示す側面電極と略同様の構成であるが、側面電極360、362の長手方向の両端が絶縁基板10の端部にまで形成されておらず、側面電極360、362の長手方向の両端と絶縁基板10の端部には間隔が形成されている。つまり、側面電極360と側面電極362とは互いに点対称で同様の構成であるので側面電極362を例にとって説明すると、側面電極362は、本体部362aと延出部362bと延出部362cとを有し、側面電極360、362の長手方向の両端と絶縁基板10の端部には間隔が形成されている。なお、この場合にも、本体部362aのX2側の端部と絶縁基板10のX1側の端部との間の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの50%以下となっていて、また、本体部362a自体の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの30%〜50%となっている。この延出部362bや延出部362cの領域が、上記非形成領域に当たる。
Further, the side electrodes may be configured as the
なお、チップ抵抗器A3における側面電極以外の構成は、チップ抵抗器Aと同様であるので詳しい説明を省略する。チップ抵抗器A3の構成によれば、図8に示すチップ抵抗器A2の効果に加えて、短冊状のチップ抵抗器群を各チップ抵抗器ごとに分割する際に、側面電極がつながっていないため側面電極の端にバリが発生しないという効果がある。 Since the configuration of the chip resistor A3 other than the side electrodes is the same as that of the chip resistor A, detailed description thereof is omitted. According to the configuration of the chip resistor A3, in addition to the effect of the chip resistor A2 shown in FIG. 8, the side electrodes are not connected when the strip-shaped chip resistor group is divided for each chip resistor. There is an effect that no burr is generated at the end of the side electrode.
また、側面電極を図10に示すチップ抵抗器A4における側面電極460、462のような構成としてもよい。すなわち、側面電極460、462は、図8に示す側面電極と略同様の構成であるが、側面電極の側部構成部の上端が絶縁基板の上端の位置まで形成されている点が異なる。つまり、側面電極460と側面電極462とは互いに点対称で同様の構成であるので側面電極462を例にとって説明すると、側面電極462は、本体部462aと延出部462bとを有し、本体部462aは、上部構成部と側部構成部と下部構成部とから断面略コ字状に形成されていて、側部構成部と下部構成部のX1側の端部は絶縁基板10の端部にまで形成されているが、上部構成部のX1側の端部は絶縁基板10の端部と間隔が形成されている。また、延出部462bは、本体部462aの端部から連設されていて、長手辺部に沿って絶縁基板10のX2側の端部位置にまで形成され、絶縁基板10の下面と側面とに形成され、側面に形成された側部構成部の上端は、絶縁基板10の上端位置にまで形成されている。また、下面に形成された下部構成部は、本体部462aの下部構成部と同幅に連設されている。つまり、図10に示す側面電極の構成は、図18に示す従来の構成と比較すると、側面電極の上部構成部が上面電極32に対応した一部の領域のみに形成されているといえる。
Further, the side electrodes may be configured like the
上記の図10の構成においては、延出部462bが設けられているので、図1の例と比べて、配線基板に実装する際にフィレットと接続する領域を増やすことができ、図7〜図9の例と比べてもフィレットと接続する領域を増やすことができるので、配線基板との固着力を向上させることができる。なお、延出部462bの上端は、抵抗体20とは離れているので、延出部462bと抵抗体20との放電のおそれを防止することができる。
In the configuration of FIG. 10 described above, since the extending
また、上記の説明においては、下面電極は、図5に示すように、絶縁基板10の下面の長手辺に沿って絶縁基板10の一方の端部から他方の端部にまで形成されているとして説明したが、これには限られず、図11に示すように形成してもよい。
In the above description, the lower surface electrode is formed from one end of the insulating
すなわち、下面電極50と下面電極52とは、ともに、絶縁基板10の長辺に沿って長方形状に形成され、X1−X2方向の中心位置を跨いで形成されているものの、長手方向のいずれかに偏って形成されている。つまり、下面電極50と下面電極52とは互いに点対称で同様の構成であるので下面電極50を例にとって説明すると、下面電極50は、Y2側の長辺に沿ってX1−X2方向の中心位置を跨いでX2側に偏って形成されており、X2側の端部とも間隔が形成されている。つまり、下面電極50と絶縁基板10のX1側の端部との間隔γ1は、下面電極50と絶縁基板10のX2側の端部との間隔γ2よりも大きく形成されている。下面電極52は、下面電極50と点対称に形成されており、下面電極52は、X1側に偏って形成されている。なお、下面電極50、52は、Y1−Y2方向の中心位置を跨がずに形成されている。下面電極50は側面電極60(160、260、360、460)に接続され、下面電極52は側面電極62(162、262、362、462)に接続されている。
That is, the
下面電極50、52は上記のように形成されているので、図12に示すように、一対の下面電極は、互いに対向して電極が形成される領域M1と、互いに対向して電極が形成されない領域M2とを有した構成となる。よって、領域M1により配線基板との接合強度を高めることができ、さらに、領域M2により、チップ抵抗器絶縁基板と配線基板との熱膨張差が生じても、領域M2に向かって絶縁基板の応力を逃すことができるので、一対の電極における一方の電極が形成されていない角部領域に向かって相互に応力を逃すことができ、チップ抵抗器と配線基板との間のはんだに応力が集中してはんだにクラックが入るのを防止することができる。また、下面電極50、52は、絶縁基板10の長手方向の端部とは間隔を介して形成されているので、下面電極の形成に際して長手方向にずれて形成された場合でも隣接するチップ抵抗器に誤って形成されるのを防止することができる。
Since the
なお、図11の例では、下面電極がチップ抵抗器の長手辺に沿って形成されているとしたが、図13に示すように、短手辺に沿って形成するものとしてもよい。つまり、図13においては、下面電極50、52は、チップ抵抗器の短手辺に沿ってY1−Y2方向に長方形状に形成され、X1−X2方向の中心位置を跨がず、かつ、Y1−Y2方向の中心位置を跨いだ状態で長手方向のいずれかに偏って短辺とは間隔を介して形成されている。すなわち、下面電極50と下面電極52とは互いに点対称で同様の構成であるので下面電極50を例にとって説明すると、下面電極50は、X2側の短辺に沿って形成され、X1−X2方向には中心位置を跨がずにX2側に偏って形成されており、Y2側の端部は絶縁基板10の端部位置にあり、Y1側の端部は絶縁基板10のY1側の端部とは間隔を介して形成され、Y1−Y2方向の中心位置を跨いで形成されている。下面電極52は、下面電極50と点対称に形成されており、下面電極52は、X1側に偏って形成されている。下面電極50は側面電極60に接続され、下面電極52は側面電極62に接続されている。
In the example of FIG. 11, the bottom electrode is formed along the long side of the chip resistor. However, it may be formed along the short side as shown in FIG. That is, in FIG. 13, the
図13の構成において、下面電極50、52は上記のように形成されているので、図11の構成と同様に、一対の下面電極は、互いに対向して電極が形成される領域と、互いに対向して電極が形成されない領域とを有した構成となり、図11の構成の場合と同様の効果を得ることができ、また、下面電極50、52は、絶縁基板10の長手方向の端部とは間隔を介して形成されているので、下面電極の形成に際して長手方向にずれて形成された場合でも隣接するチップ抵抗器に誤って形成されるのを防止することができる。
In the configuration of FIG. 13, the
なお、上記チップ抵抗器Aにおいて、図1、図2、図4に示すように、トリミング溝Tを2つ設けるものとして説明したが、1つとしてもよいし、3つ以上としてもよい。また、図1等に示すトリミング溝により形成される溝部の1つをトリミング溝の代わりに印刷パターンにより形成し、他をトリミングにより形成する等一部を印刷パターンにより形成してもよい。 Although the chip resistor A has been described as having two trimming grooves T as shown in FIGS. 1, 2, and 4, the number may be one, or three or more. In addition, one of the groove portions formed by the trimming grooves shown in FIG. 1 or the like may be formed by a printing pattern instead of the trimming grooves, and the other portion may be formed by the printing pattern by trimming the others.
また、上記チップ抵抗器Aにおいて、保護膜40には切欠部42、44が形成されているとしたが、切欠部42、44を有しない構成としてもよい。すなわち、保護膜40を方形状としてもよい。この場合には、上面電極30、32を保護膜40から露出させる必要があるので、保護膜40の縦方向の幅は、図1、図2に示す場合よりも短くする必要がある。
In the chip resistor A, the
また、上記に示す例においては、側面電極60、62が保護膜40に接するものとして説明したが、側面電極60、62が保護膜40に接しない構成としてもよい。
In the example described above, the
また、上記で説明したチップ抵抗器においては、抵抗体20が縦方向に蛇行する形状であるとして説明したが、図14に示すように横方向に蛇行する方向としてもよい。
Further, in the chip resistor described above, the
つまり、図14に示すチップ抵抗器A11においては、抵抗体20は、帯状部120a、120b、120cと、接続部120dと、幅広部120eとが形成されていて、帯状部120a、120b、120cが横方向、すなわち、X1−X2方向に形成されていて、帯状部120aと帯状部120b間に接続部120dが形成され、帯状部120bと帯状部120c間に幅広部120eが形成されていることにより、抵抗体20が全体に蛇行状に形成されている。なお、この幅広部120eには、1本のトリミング溝Tが形成されている。
That is, in the chip resistor A11 shown in FIG. 14, the
このチップ抵抗器A11において抵抗体20以外の構成は上記チップ抵抗器Aと同様の構成であるので、詳しい説明を省略する。つまり、側面電極の構成は、図1に示す構成であるが、チップ抵抗器A1〜A4における側面電極のような構成であってもよく、また、下面電極は、図5に示す構成であるが、図11や図13に示す構成であってもよい。
Since the configuration of the chip resistor A11 other than the
このチップ抵抗器A11においても、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。また、上面電極が対角状に形成されているので、上面電極が形成されている辺部に沿ったスペースも抵抗体形成領域に有効に利用することができ、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れたチップ抵抗器を得ることが可能となる。 In this chip resistor A11 as well, it is possible to prevent the electrical characteristics of the resistor from deteriorating, such as a change in the resistance value of the resistor exceeding an allowable range due to the occurrence of discharge between the resistor and the side electrode. Can do. In addition, since the upper surface electrode is formed diagonally, the space along the side where the upper surface electrode is formed can also be used effectively for the resistor formation region, and the area of the resistor is increased. Therefore, it is possible to obtain a chip resistor having excellent surge resistance while reducing the size of the chip resistor.
また、抵抗体の形状として、図15に示すように、縦方向の蛇行と横方向の蛇行とを有する構成としてもよい。 Moreover, as a shape of a resistor, as shown in FIG. 15, it is good also as a structure which has the meander of a vertical direction and the meander of a horizontal direction.
すなわち、図15に示すチップ抵抗器A12における抵抗体20は、縦方向(Y1−Y2方向)に形成された帯状部220aと、縦方向に形成された帯状部220cと、横方向(X1−X2方向)に形成された帯状部220dと、横方向に形成された帯状部220fと、横方向に形成された帯状部220hと、帯状部220aと帯状部220c間を接続する帯状部220bと、帯状部220fと帯状部220hとを接続する接続部220gとを有して、抵抗体20は、全体に蛇行状に形成されている。これにより、抵抗体20には、帯状の溝部R1、R3やL字状の溝部R2が形成されている。なお、図15に示す例では、蛇行パターンは抵抗体ペーストを印刷することにより形成され、溝部R1、R2、R3も印刷により形成されているが、この溝部R1や溝部R2や溝部R3やそれらの一部を、抵抗値調整の際のトリミング溝により形成するようにしてもよい。
That is, the
このチップ抵抗器A12において抵抗体20以外の構成は上記チップ抵抗器Aと同様の構成であるので、詳しい説明を省略する。つまり、側面電極の構成は、図1に示す構成であるが、チップ抵抗器A1〜A4における側面電極のような構成であってもよく、また、下面電極は、図5に示す構成であるが、図11や図13に示す構成であってもよい。
Since the configuration of the chip resistor A12 other than the
このチップ抵抗器A12においても、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。また、上面電極が対角状に形成されているので、上面電極が形成されている辺部に沿ったスペースも抵抗体形成領域に有効に利用することができ、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れたチップ抵抗器を得ることが可能となる。 Also in this chip resistor A12, it is possible to prevent the electrical characteristics of the resistor from deteriorating due to the occurrence of discharge between the resistor and the side electrode, such that the resistance value change of the resistor exceeds the allowable range. Can do. In addition, since the upper surface electrode is formed diagonally, the space along the side where the upper surface electrode is formed can also be used effectively for the resistor formation region, and the area of the resistor is increased. Therefore, it is possible to obtain a chip resistor having excellent surge resistance while reducing the size of the chip resistor.
また、上記の各チップ抵抗器における抵抗体の説明においては、抵抗体が平面視において蛇行状であるとして説明したが、これには限られず、図16に示すように、方形状であってもよい。つまり、図16に示すチップ抵抗器A13においては、抵抗体20は、方形状(具体的には、長方形状)を呈し、対角線上の角部において上面電極30、32と接続している。なお、この場合においても、抵抗体20と上面電極30、32との接続部分においては、抵抗体20が上面電極30、32の下側となっている。また、側面電極60、62は、図1に示すチップ抵抗器Aの側面電極と同様の構成である。なお、側面電極の構成は、チップ抵抗器A1〜A4における側面電極と同様の構成としてもよい。また、図16において、保護膜40は方形状を呈し、切欠部が形成されていない形状として示しているが、上記チップ抵抗器Aのように対角位置に切欠部を設けるようにしてもよい。また、図16においては、上面電極30と接続している側面電極60や上面電極32と接続している側面電極62は、保護膜40と接していないが、側面電極60、62をよりY1−Y2方向の中央よりまで伸ばして、側面電極60、62が保護膜40の上面に接するような構成としてもよい。
Further, in the description of the resistor in each of the above chip resistors, the resistor has been described as having a meandering shape in plan view. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. Good. That is, in the chip resistor A13 shown in FIG. 16, the
また、上記の各チップ抵抗器においては、上面電極30、32のY1−Y2方向の長さは、絶縁基板10のY1−Y2方向の長さの半分以下(又は半分よりも小さい)として説明したが、絶縁基板10のY1−Y2方向の長さの半分以上(又は半分よりも長い)としてもよい。このような構成であっても、絶縁基板10の上面における長辺に沿った領域を抵抗体形成領域に利用することができ、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れたチップ抵抗器を得ることが可能となる。また、抵抗体が上面電極と接続する部分を長く取ることができるので、抵抗体全体を実質的な抵抗路として広く利用できるので、抵抗体における負荷を小さくすることができ、また、抵抗値の低いチップ抵抗器に適している。
Further, in each of the above chip resistors, the length of the
また、チップ抵抗器A12を除く上記各チップ抵抗器においては、対角状に設けられた上面電極は平面視において右上方向と左下方向に形成されているものとして説明したが、左上方向と右下方向に形成してもよい。また、上記チップ抵抗器A12においては、対角状に設けられた上面電極は平面視において左上方向と右下方向に形成されているものとして説明したが、右上方向と左下方向に形成してもよい。 Further, in each of the above chip resistors except for the chip resistor A12, the upper surface electrodes provided diagonally have been described as being formed in the upper right direction and the lower left direction in a plan view. You may form in a direction. In the chip resistor A12, the upper surface electrodes provided diagonally have been described as being formed in the upper left direction and the lower right direction in plan view, but may be formed in the upper right direction and the lower left direction. Good.
なお、図14〜図16は、チップ抵抗器の平面図であるが、厳密には、保護膜40と側面電極60、62とメッキ70、72とを除いた状態の図であるといえる。
14 to 16 are plan views of the chip resistor. Strictly speaking, it can be said that the
なお、上記の説明においては、上面電極30、32は、長辺に沿った方向に、絶縁基板の長辺の長さの半分以下(半分よりも小さいとしてもよい)の幅を有するとしたが、絶縁基板の長辺の長さの半分以上(半分を超えるとしてもよい)の幅を有し、該長辺の中心位置を跨ぐものとしてもよい。
In the above description, the
また、上面電極30のX1側の端部と絶縁基板10のX1側の端部間の距離は、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分よりも長くなっているとしたが、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分以下の長さであるとしてもよい。また、上面電極32のX2側の端部と絶縁基板10のX2側の端部間の距離は、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分よりも長くなっているとしたが、絶縁基板10のX1−X2方向の長さの半分以下の長さであるとしてもよい。
In addition, although the distance between the X1 side end of the
また、上記の説明において、2つの上面電極は互いに対角状に形成されているとしたが、対角状に形成されたものでなくてもよく、2つの上面電極が互いに対向する位置に設けられている場合でもよい。 In the above description, the two upper surface electrodes are diagonally formed. However, they may not be formed diagonally, and the two upper surface electrodes are provided at positions facing each other. It may be the case.
すなわち、図17に示すチップ抵抗器Bにおいては、上面電極30と上面電極32とは、互いに対向して設けられていて、上面電極32は、チップ抵抗器Aにおける上面電極32と同様の構成であり、上面電極30は、上面電極32に対して対向して形成されていて、上面電極32に対して線対称に形成されている。つまり、上面電極30は、X1−X2方向の中心線を介して線対称に形成されている。
That is, in the chip resistor B shown in FIG. 17, the
また、抵抗体20は、方形状に帯状の切欠部を横方向に設けた形状となっていて、上面電極30、32の下側に形成されている。
In addition, the
また、保護膜40は、抵抗体20及び上面電極30、32の上面に設けられていて、方形状の形状に方形状の切欠部を2つ設けた形状を呈している。つまり、保護膜40は、方形状の形状に上面電極30、32の位置に対応する位置に方形状の切欠部42、44を形成した形状を呈し、抵抗体20が露出しないように形成されている。上記切欠部42、44は、凹状に形成されているといえる。つまり、保護膜40のX1−X2方向の長さは、絶縁基板10のX1−X2方向の長さよりも若干短く形成されているが、抵抗体20のX1−X2方向の最大幅よりも長く形成されているとともに、保護膜40のY1−Y2方向の長さは、絶縁基板10のY1−Y2方向の長さよりも若干短く形成されているが、抵抗体20のY1−Y2方向の最大幅よりも長く形成されている。なお、図17に示すように、保護膜40と抵抗体20とを平面視において比べると、切欠部42、44の箇所は保護膜40からはみ出すようになっているが、この部分は上面電極30、32にカバーされているので、抵抗体20が露出することはない。なお、切欠部42と切欠部44とは、互いに対向した位置に設けられていて、X1−X2方向には同じ位置に設けられているといえる。
The
また、側面電極60、62は、上面電極に対応した領域に互いに対向して形成されていて、上面電極62は、チップ抵抗器Aにおける上面電極62と同様の構成である。また、上面電極60は、X1−X2方向の中心線を介して線対称に形成されている。
The
このチップ抵抗器Bにおいても、絶縁基板10の長手方向の辺部において、一部にのみ形成されていて、絶縁基板10の長手方向における上面電極30形成側の領域に偏って形成されているので、抵抗体において側面電極との電位差の大きい部分は、側面電極とは対向しておらず、よって、側面電極と抵抗体間の放電が発生するのを防止することができる。よって、抵抗体と側面電極間で放電が発生することにより、抵抗体の抵抗値変化が許容範囲を超えてしまう等抵抗体の電気的特性が劣化するのを防止することができる。
Also in this chip resistor B, it is formed only on a part of the side in the longitudinal direction of the insulating
また、側面電極60、62の長さが、絶縁基板の長辺部の方向の長さの30〜50%に構成されているので、側面電極と抵抗体間の放電の防止と、上面電極との接続領域や配線基板に実装する際のハンダフィレットの領域の確保とを考慮して、適切な構成とすることができる。
Moreover, since the length of the
また、上面電極が形成されている辺部において偏った位置に対向して形成されているので、上面電極が形成されている辺部に沿ったスペースも抵抗体形成領域に有効に利用することができ、抵抗体の面積を大きくすることができるので、チップ抵抗器のサイズを小型としつつ耐サージ性に優れ、高電力化が可能なチップ抵抗器を得ることが可能となる。 In addition, since it is formed so as to be opposed to a biased position in the side portion where the upper surface electrode is formed, the space along the side portion where the upper surface electrode is formed can also be effectively used for the resistor forming region. In addition, since the area of the resistor can be increased, it is possible to obtain a chip resistor that is excellent in surge resistance and capable of increasing power while reducing the size of the chip resistor.
なお、上記の説明においては、抵抗体と上面電極の接続部分においては、抵抗体が上面電極の下側に形成されるとして説明したが、抵抗体が上面電極の上側になるように形成してもよい。 In the above description, it has been described that the resistor is formed on the lower side of the upper surface electrode at the connection portion of the resistor and the upper surface electrode, but the resistor is formed on the upper side of the upper surface electrode. Also good.
また、上記の説明においては、上面電極は、方形状であるとして説明したが、方形状の一部を欠切して湾曲状や傾斜状にしてもよい。つまり、一対の上面電極において、一方の上面電極における他方の上面電極側を湾曲状又は傾斜状とする。この場合に、湾曲状とはR面を形成するものといえ、傾斜状とはC面を形成するものといえる。 In the above description, the upper surface electrode has been described as having a rectangular shape, but a part of the rectangular shape may be cut off to be curved or inclined. That is, in the pair of upper surface electrodes, the other upper surface electrode side of one upper surface electrode is curved or inclined. In this case, the curved shape can be said to form the R surface, and the inclined shape can be said to form the C surface.
つまり、対角状に設けられた一対の上面電極における各上面電極において、他方の上面電極側に湾曲状部が形成されているので、上面電極間距離の差が小さくなり、また、該上面電極における他方の上面電極側には角部が形成されないので、上面電極における特定の領域への電流集中を軽減することができ、電気的特性、特に、負荷特性をさらに向上させることが可能となる。すなわち、対角状に設けられた一対の上面電極が方形状である場合には、各上面電極において他方の上面電極側に角部が形成されていることから、上面電極間距離が差が大きく、上面電極間距離が短い部分に電流が集中し、また、角部が形成されていることから、角の部分に電流が集中する。これにより、上面電極における他方の上面電極側の角部の領域に電流が集中してしまい、電気特性が低下する場合があるが、上記のように、一対の上面電極において、一方の上面電極における他方の上面電極側を湾曲状又は傾斜状とすることにより、そのようなおそれを防止することができる。 That is, in each upper surface electrode of the pair of upper surface electrodes provided in a diagonal shape, a curved portion is formed on the other upper surface electrode side, so that the difference in the distance between the upper surface electrodes is reduced, and the upper surface electrode Since no corner is formed on the other upper surface electrode side, the current concentration in a specific region of the upper surface electrode can be reduced, and the electrical characteristics, in particular, the load characteristics can be further improved. That is, when a pair of upper surface electrodes provided in a diagonal shape are rectangular, each upper surface electrode has a corner portion on the other upper surface electrode side, so that the distance between the upper surface electrodes is greatly different. The current concentrates on the portion where the distance between the upper surface electrodes is short, and the current is concentrated on the corner portion because the corner portion is formed. As a result, the current concentrates on the corner region of the upper surface electrode on the other upper surface electrode side, and the electrical characteristics may deteriorate. However, as described above, in the pair of upper surface electrodes, By making the other upper surface electrode side curved or inclined, such a fear can be prevented.
A、A1、A2、A3、A4、A11、A12、A13、B チップ抵抗器
10 絶縁基板
20 抵抗体
30、32 上面電極
40 保護膜
50、52 下面電極
60、62、160、162、260、262、360、362、460、462 側面電極
70、72 メッキ
162a、262a、362a、462a 本体部
162b、262b、262c、362b、362c、462b 延出部
A, A1, A2, A3, A4, A11, A12, A13,
Claims (10)
略直方体形状を呈する基板と、
基板の上面における互いに対向する長辺部に沿ってそれぞれ形成された一対の上面電極で、各上面電極の該長辺部に沿った方向の幅が該長辺部の長さよりも小さく形成され、該長辺部に沿った方向における中心位置を跨がないように偏って形成されている上面電極と、
該一対の上面電極間に蛇行状に形成された抵抗体と、
該基板の長辺部に沿った側方に形成され、該上面電極と接続して形成された側面電極で、基板の上面側に形成され上面電極と接続した上部構成部と、基板の側面側に形成された側部構成部と、基板の下面側に形成された下部構成部とを有し、断面略コ字状に形成された部分が該基板の長辺部に沿った領域における一部の領域のみに形成された側面電極と、
を有し、
基板の長辺部に沿った領域には、抵抗体における上面電極との接続領域以外の領域が最も長辺部に接近する最接近領域が設けられ、側面電極における断面略コ字状に形成された部分は、該最接近領域以外の領域に形成されていることを特徴とするチップ抵抗器。 A chip resistor,
A substrate having a substantially rectangular parallelepiped shape;
A pair of upper surface electrodes respectively formed along the long side portions facing each other on the upper surface of the substrate, the width in the direction along the long side portion of each upper surface electrode is formed smaller than the length of the long side portion, An upper surface electrode formed so as not to cross the center position in the direction along the long side portion;
A resistor formed in a serpentine shape between the pair of upper surface electrodes;
A side electrode formed on a side along the long side of the substrate and connected to the upper surface electrode, an upper component formed on the upper surface of the substrate and connected to the upper electrode, and a side surface of the substrate one in the region in which the side structure portion formed, possess a lower structure portion formed on the lower surface side of the substrate, is formed partially in cross-section substantially U-shaped along the long side portion of the substrate to Side electrodes formed only in the region of the part,
Have
In the region along the long side portion of the substrate, a region other than the region connected to the upper surface electrode in the resistor is provided in the closest proximity region where the longest side portion is closest, and the side electrode is formed in a substantially U-shaped cross section. The chip resistor is formed in an area other than the closest area .
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