JP5266888B2 - 放射イミュニティ試験装置および放射イミュニティ試験方法 - Google Patents
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この発明の実施の形態1による放射イミュニティ試験装置は、複数のアンテナが架台に固定されてアレーアンテナを構成し、アレーアンテナからの放射電界分布が試験対象装置で均一となるような対応関係として、複数のアンテナと試験対象装置との間隔である試験間隔と試験信号の周波数との関係が対応付けられた制御データを記憶装置に記憶し、この制御データに基づいて、信号発生器で発生させる試験信号の周波数を制御するともに、この試験信号の周波数に応じて駆動機構で架台を移動させることにより試験間隔を制御するようにしたものである。これにより、試験信号の周波数を変えても、試験対象装置に均一な電界分布で電磁ノイズとしての試験信号を照射することが可能となり、試験信号の周波数を変えながら連続的な放射イミュニティ試験を容易に行えるようにすることができる。
この発明の実施の形態2による放射イミュニティ試験装置は、複数のアンテナがそれぞれ複数のエアシリンダに固定されてアレーアンテナを構成し、アレーアンテナからの放射電界分布が試験対象装置で均一となるような対応関係として、複数のアンテナと試験対象装置との間隔である試験間隔と試験信号の周波数との関係が対応付けられた制御データを記憶装置に記憶し、この制御データに基づいて、信号発生器で発生させる試験信号の周波数を制御するともに、この試験信号の周波数に応じて複数のエアシリンダで複数のアンテナをそれぞれ移動させることにより試験間隔を制御するようにしたものである。これにより、試験信号の周波数を変えても、試験対象装置に均一な電界分布で電磁ノイズとしての試験信号を照射することが可能となり、試験信号の周波数を変えながら連続的な放射イミュニティ試験を容易に行えるようにすることができる。
2 分配器
3 複数のアンプ
4 複数のアンテナ
5 架台
6、6a 駆動機構
7 制御装置
8 記憶装置
Claims (6)
- 電磁ノイズである試験信号を発生する信号発生器と、
前記信号発生器で発生した試験信号を分配する分配器と、
前記分配器で分配された試験信号をそれぞれ増幅する複数のアンプと、
前記複数のアンプで増幅された試験信号をそれぞれ放射する複数のアンテナと、
前記複数のアンテナと試験対象装置との間隔であって前記複数のアンテナから前記試験対象装置へ向かう方向の間隔である試験間隔を可変させる駆動機構と、
前記試験信号の周波数と前記試験間隔とが対応付けられた制御データを記憶する記憶装置と、
前記記憶装置で記憶された制御データに基づいて、前記信号発生器で発生させる試験信号の周波数を制御するとともに、この試験信号の周波数に応じて前記駆動機構により前記試験間隔を制御する制御装置と、
を備えたことを特徴とする放射イミュニティ試験装置。 - 前記記憶装置は、前記試験信号の電界分布が前記試験対象装置で略均一となるように前記試験信号の周波数と前記試験間隔との関係が対応付けられた制御データを記憶することを特徴とする請求項1に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 前記駆動機構は、前記複数のアンテナを移動させることにより前記試験間隔を可変させることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 前記駆動機構は、前記複数のアンテナが固定された架台を移動させることにより前記試験間隔を可変させることを特徴とする請求項3に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 前記駆動機構は、前記複数のアンテナをそれぞれ移動させることにより前記試験間隔を可変させることを特徴とする請求項3に記載の放射イミュニティ試験装置。
- 電磁ノイズである試験信号を発生する信号発生ステップと、
前記信号発生ステップで発生した試験信号を分配する分配ステップと、
前記分配ステップで分配された試験信号をそれぞれ増幅する増幅ステップと、
前記増幅ステップで増幅された試験信号を複数のアンテナでそれぞれ放射する放射ステップと、
前記複数のアンテナと試験対象装置との間隔であって前記複数のアンテナから前記試験対象装置へ向かう方向の間隔である試験間隔を可変させる駆動ステップと、
前記試験信号の周波数と前記試験間隔とが対応付けられた制御データを記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された制御データに基づいて、前記信号発生ステップで発生させる試験信号の周波数を制御するとともに、この試験信号の周波数に応じて前記駆動ステップにより前記試験間隔を制御する制御ステップと、
を備えたことを特徴とする放射イミュニティ試験方法。
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