Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP5287201B2 - Transparent conductive laminated film - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP5287201B2 - Transparent conductive laminated film - Google Patents

Transparent conductive laminated film Download PDF

Info

Publication number
JP5287201B2
JP5287201B2 JP2008316509A JP2008316509A JP5287201B2 JP 5287201 B2 JP5287201 B2 JP 5287201B2 JP 2008316509 A JP2008316509 A JP 2008316509A JP 2008316509 A JP2008316509 A JP 2008316509A JP 5287201 B2 JP5287201 B2 JP 5287201B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transparent conductive
thin film
film layer
layer
refractive index
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008316509A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010137447A (en
Inventor
英生 村上
寿幸 大谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyobo Co Ltd
Original Assignee
Toyobo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyobo Co Ltd filed Critical Toyobo Co Ltd
Priority to JP2008316509A priority Critical patent/JP5287201B2/en
Publication of JP2010137447A publication Critical patent/JP2010137447A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5287201B2 publication Critical patent/JP5287201B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Position Input By Displaying (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は透明プラスチックフィルムからなる基材の少なくとも片面上に組成傾斜薄膜層及び透明導電性薄膜層をこの順で積層した透明導電性フィルムに関するものである。特に静電容量式タッチパネル等のパターニングされた電極フィルムとして用いた場合、透明導電性薄膜層を有する部分と除去された部分での光学特性の差が小さいため、視認性を向上できる透明導電性フィルムに関するものである。   The present invention relates to a transparent conductive film in which a composition-graded thin film layer and a transparent conductive thin film layer are laminated in this order on at least one surface of a substrate made of a transparent plastic film. In particular, when used as a patterned electrode film such as a capacitive touch panel, the difference in optical properties between the portion having the transparent conductive thin film layer and the removed portion is small, so that the transparent conductive film that can improve visibility It is about.

透明プラスチックフィルムからなる基材上に、透明でかつ抵抗が小さい薄膜を積層した透明導電性フィルムは、その導電性を利用した用途、例えば、液晶ディスプレイやエレクトロルミネッセンス(ELと略記される場合がある)ディスプレイなどのようなフラットパネルディスプレイや、抵抗膜式タッチパネルの透明電極など、電気、電子分野の用途に広く使用されている。   A transparent conductive film obtained by laminating a transparent thin film with low resistance on a substrate made of a transparent plastic film is used for applications utilizing the conductivity, for example, a liquid crystal display or electroluminescence (EL may be abbreviated as EL). ) Widely used in electrical and electronic fields such as flat panel displays such as displays and transparent electrodes of resistive touch panels.

近年、静電容量式のタッチパネルが携帯電話、携帯音楽端末などのモバイル機器に搭載されるケースが増えてきた。このような静電容量式のタッチパネルではパターニングされた導体上に誘電体層を積層した構成を有し、指などでタッチすることにより、人体の静電容量を介して接地される。この際、パターニング電極と接地点との間の抵抗値に変化が生じ、位置入力を認識する。しかしながら従来の透明導電性フィルムを用いた場合、透明導電性薄膜層を有する部分と除去された部分での光学特性の差が大きいため、パターニングが強調され、液晶ディスプレイ等の表示体の前面に配置した際に視認性が低下するという問題があった。   In recent years, an increasing number of cases where a capacitive touch panel is mounted on a mobile device such as a mobile phone or a portable music terminal. Such a capacitive touch panel has a configuration in which a dielectric layer is laminated on a patterned conductor, and is touched with a finger or the like to be grounded via the capacitance of the human body. At this time, a change occurs in the resistance value between the patterning electrode and the ground point, and the position input is recognized. However, when a conventional transparent conductive film is used, the difference in optical characteristics between the portion having the transparent conductive thin film layer and the removed portion is large, so that patterning is emphasized and placed on the front surface of a display body such as a liquid crystal display. There has been a problem that the visibility is lowered when it is done.

透明導電性フィルムの透過率又は色目を向上させるために、反射防止加工等で用いられている屈折率の異なる層を積層させ光の干渉を利用する方法が提案されている。すなわち、透明導電性薄膜層と基材フィルムの間に屈折率の異なる層を設けて光学干渉を利用する方法が提案されている(特許文献1〜3)。
特開平11−286066号公報 特許第3626624号公報 特開2006−346878号公報
In order to improve the transmittance or color of the transparent conductive film, a method of using light interference by laminating layers having different refractive indexes used in antireflection processing or the like has been proposed. That is, a method of using optical interference by providing layers having different refractive indexes between a transparent conductive thin film layer and a base film has been proposed (Patent Documents 1 to 3).
Japanese Patent Laid-Open No. 11-286066 Japanese Patent No. 3626624 JP 2006-346878 A

しかしながら、これらの特許文献1〜3記載の透明導電性フィルムは、透明導電性フィルムとしての視認性の改善はできるものの、透明導電性薄膜層をパターニングした際、透明導電性薄膜が有る部分と無い部分とでの光学特性の差を小さくすることは考慮されておらず、パターニングした箇所が強調されてしまう。   However, although these transparent conductive films described in Patent Documents 1 to 3 can improve the visibility as a transparent conductive film, when the transparent conductive thin film layer is patterned, there is no portion with the transparent conductive thin film. It is not considered to reduce the difference in optical characteristics between the portions, and the patterned portions are emphasized.

すなわち、本発明の目的は、上記の従来の問題点に鑑み、透明導電性薄膜層を有する部分と除去された部分の光学特性の差を小さくすることによって、液晶ディスプレイ等に使用した際に視認性が良好で、かつパターニングが強調されない透明導電性積層フィルムを提供することにある。   That is, in view of the above-mentioned conventional problems, the object of the present invention is to visually recognize when used in a liquid crystal display or the like by reducing the difference in optical characteristics between the portion having the transparent conductive thin film layer and the removed portion. An object of the present invention is to provide a transparent conductive laminated film that has good properties and does not emphasize patterning.

本発明は、上記のような状況に鑑みなされたものであって、上記の課題を解決することができた透明導電性積層とは、以下の構成よりなる。
1. 透明プラスチックフィルムからなる基材の少なくとも片面に組成傾斜薄膜層及び透明導電性薄膜層をこの順に設けた透明導電性積層フィルムであって、組成傾斜薄膜層は厚さが20〜500nmであり、組成傾斜薄膜層の屈折率は厚さ方向で異なり、屈折率の最大値が1.70以上(透明導電性薄膜層の屈折率+0.30)以下であり、屈折率の最小値が1.30以上1.65以下であることを特徴とする透明導電性積層フィルム。
2. 組成傾斜薄膜層がMg、Si、Alから選ばれた少なくとも1元素、及びO、N、C、Fから選ばれた少なくとも2元素からなる無機薄膜層であることを特徴とする1.に記載の透明導電性積層フィルム。
3. 組成傾斜薄膜層の屈折率が基材から透明導電性薄膜層側に連続的に減少していることを特徴とする1.又は2.に記載の透明導電性積層フィルム。
4. 透明導電性薄膜層がインジウムを含有する金属酸化物薄膜からなることを特徴とする1.〜3.いずれかに記載の透明導電性積層フィルム。
5. 透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に屈折率1.52のアクリル系粘着層を有する二軸配向ポリエチレンテレフタレートフィルムを積層した状態において測定した透明導電性薄膜層を有する部分及び透明導電性薄膜層が無い部分の反射率が、下記(1)、(2)、及び(3)式を満たすことを特徴とする1.〜4.のいずれかに記載の透明導電性積層フィルム。
0≦|R1−R0|≦1.0 (1)
R1≦5.0 (2)
R0≦5.0 (3)
(R1:透明導電性薄膜層を有する部分のフィルムの反射率、R0:透明導電性薄膜層を有しない部分のフィルムの反射率)
6. 1.〜5.いずれかに記載の透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に、屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層を積層したことを特徴とする誘電体層付き透明導電性積層フィルム。
This invention is made | formed in view of the above situations, Comprising: The transparent conductive lamination which was able to solve said subject consists of the following structures.
1. A transparent conductive laminated film in which a composition gradient thin film layer and a transparent conductive thin film layer are provided in this order on at least one surface of a substrate made of a transparent plastic film, the composition gradient thin film layer having a thickness of 20 to 500 nm, The refractive index of the inclined thin film layer varies in the thickness direction, the maximum value of the refractive index is 1.70 or more (refractive index of the transparent conductive thin film layer +0.30) or less, and the minimum value of the refractive index is 1.30 or more. 1. A transparent conductive laminated film, which is 1.65 or less.
2. 1. The composition gradient thin film layer is an inorganic thin film layer comprising at least one element selected from Mg, Si, and Al and at least two elements selected from O, N, C, and F. The transparent conductive laminated film described in 1.
3. 1. The refractive index of the composition gradient thin film layer continuously decreases from the base material to the transparent conductive thin film layer side. Or 2. The transparent conductive laminated film described in 1.
4). 1. The transparent conductive thin film layer is composed of a metal oxide thin film containing indium. ~ 3. The transparent electroconductive laminated film in any one.
5. Transparent conductive thin film measured in a state where a biaxially oriented polyethylene terephthalate film having an acrylic adhesive layer having a refractive index of 1.52 is laminated on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive laminated film patterned with the transparent conductive thin film layer 1. The reflectance of the part which has a layer, and the part which does not have a transparent conductive thin film layer satisfy | fill the following (1), (2), and (3) Formula. ~ 4. The transparent conductive laminated film according to any one of the above.
0 ≦ | R1-R0 | ≦ 1.0 (1)
R1 ≦ 5.0 (2)
R0 ≦ 5.0 (3)
(R1: reflectivity of a film having a transparent conductive thin film layer, R0: reflectivity of a film having a transparent conductive thin film layer)
6). 1. ~ 5. A dielectric layer having a refractive index of 1.40 or more and 1.70 or less is laminated on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive thin film obtained by patterning the transparent conductive thin film layer of any one of the transparent conductive laminated films A transparent conductive laminated film with a dielectric layer.

本発明の透明導電性積層フィルムは、透明プラスチックフィルムからなる基材の少なくとも片面上に、組成傾斜薄膜層及び透明導電性薄膜層の順に積層した構成を有し、透明導電性薄膜層をパターニングした際、透明導電性薄膜層を有する部分と有しない部分の光学特性の差が小さいため、液晶ディスプレイ等の表示体の前面に配置しても透明導電性薄膜層のパターニングが見えないため視認性の低下を抑制できる。   The transparent conductive laminated film of the present invention has a configuration in which a composition gradient thin film layer and a transparent conductive thin film layer are laminated in this order on at least one surface of a substrate made of a transparent plastic film, and the transparent conductive thin film layer is patterned. In this case, since the difference in optical characteristics between the portion having the transparent conductive thin film layer and the portion not having the transparent conductive thin film layer is small, the patterning of the transparent conductive thin film layer cannot be seen even if it is arranged on the front surface of the display body such as a liquid crystal display. Reduction can be suppressed.

本発明の透明導電性積層フィルムは、透明プラスチックフィルムからなる基材の少なくとも片面上に、組成傾斜薄膜層及び透明導電性薄膜層をこの順に積層した構成を有する。
さらに、上記透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に、誘電体層を積層したことを特徴とする透明導電性積層フィルムである。
以下、各層別に詳細に説明する。
The transparent conductive laminated film of this invention has the structure which laminated | stacked the composition inclination thin film layer and the transparent conductive thin film layer in this order on the at least single side | surface of the base material which consists of a transparent plastic film.
Furthermore, it is a transparent conductive laminated film characterized by laminating a dielectric layer on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive laminated film obtained by patterning the transparent conductive thin film layer of the transparent conductive laminated film.
Hereinafter, each layer will be described in detail.

(透明プラスチックフィルムからなる基材)
本発明で用いる透明プラスチックフィルムからなる基材とは、有機高分子をフィルム状に溶融押出し又は溶液押出しをしてフィルム状に成形し、必要に応じ、長手方向及び/又は幅方向に延伸、熱固定、熱弛緩処理を施したフィルムである。有機高分子としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレン−2,6−ナフタレート、ポリプロピレンテレフタレート、ナイロン6、ナイロン4、ナイロン66、ナイロン12、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルサルファン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリカーボネート、ポリアリレート、セルロースプロピオネート、ポリ塩化ビニール、ポリ塩化ビニリデン、ポリビニルアルコール、ポリエーテルイミド、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンオキサイド、ポリスチレン、シンジオタクチックポリスチレン、ノルボルネン系ポリマーなどが挙げられる。
(Base material made of transparent plastic film)
The substrate made of a transparent plastic film used in the present invention is formed by forming an organic polymer into a film by melt extrusion or solution extrusion into a film, and if necessary, stretching in the longitudinal direction and / or the width direction, A film that has been fixed and heat-relaxed. Organic polymers include polyethylene, polypropylene, polyethylene terephthalate, polyethylene-2,6-naphthalate, polypropylene terephthalate, nylon 6, nylon 4, nylon 66, nylon 12, polyimide, polyamideimide, polyethersulfane, polyetheretherketone , Polycarbonate, polyarylate, cellulose propionate, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyvinyl alcohol, polyether imide, polyphenylene sulfide, polyphenylene oxide, polystyrene, syndiotactic polystyrene, norbornene-based polymer, and the like.

これらの有機高分子のなかで、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレンテレフタレート、ポリエチレン−2,6−ナフタレート、シンジオタクチックポリスチレン、ノルボルネン系ポリマー、ポリカーボネート、ポリアリレートなどが好適である。また、これらの有機高分子は他の有機重合体の単量体を少量共重合してもよいし、他の有機高分子をブレンドしてもよい。   Among these organic polymers, polyethylene terephthalate, polypropylene terephthalate, polyethylene-2,6-naphthalate, syndiotactic polystyrene, norbornene polymer, polycarbonate, polyarylate and the like are preferable. These organic polymers may be copolymerized with a small amount of other organic polymer monomers, or may be blended with other organic polymers.

本発明で用いる透明プラスチックフィルムからなる基材の厚みは、10〜300μmであることが好ましく、より好ましくは70〜260μmである。プラスチックフィルムの厚みが10μm未満では機械的強度が不足し、透明導電性薄膜のパターン形成工程でのハンドリングが難しくなるため好ましくない。一方、厚みが300μmを越えると、タッチパネルの厚みが厚くなりすぎるため、モバイル機器などには適さない。   It is preferable that the thickness of the base material which consists of a transparent plastic film used by this invention is 10-300 micrometers, More preferably, it is 70-260 micrometers. If the thickness of the plastic film is less than 10 μm, the mechanical strength is insufficient, and handling in the pattern forming process of the transparent conductive thin film becomes difficult, which is not preferable. On the other hand, if the thickness exceeds 300 μm, the thickness of the touch panel becomes too thick, which is not suitable for mobile devices.

本発明で用いる透明プラスチックフィルムからなる基材は、本発明の目的を損なわない範囲で、前記フィルムをコロナ放電処理、グロー放電処理、火炎処理、紫外線照射処理、電子線照射処理、オゾン処理などの表面活性化処理を施してもよい。   The substrate made of a transparent plastic film used in the present invention is a range that does not impair the purpose of the present invention, such as corona discharge treatment, glow discharge treatment, flame treatment, ultraviolet irradiation treatment, electron beam irradiation treatment, ozone treatment, etc. A surface activation treatment may be performed.

また、本発明で用いる透明プラスチックフィルムからなる基材には、組成傾斜薄膜層との密着性向上、耐薬品性の付与、オリゴマーなどの低分子量物の析出防止を目的として、硬化型樹脂を主たる構成成分とする硬化物層を設けてもよい。   In addition, the base material made of the transparent plastic film used in the present invention is mainly a curable resin for the purpose of improving adhesion to the composition gradient thin film layer, imparting chemical resistance, and preventing precipitation of low molecular weight substances such as oligomers. You may provide the hardened | cured material layer made into a structural component.

前記の硬化型樹脂は、加熱、紫外線照射、電子線照射などのエネルギー印加により硬化する樹脂であれば特に限定されなく、シリコーン樹脂、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂などが挙げられる。生産性の観点からは、紫外線硬化型樹脂を主成分とする硬化型樹脂が好ましい。   The curable resin is not particularly limited as long as it is a resin that is cured by application of energy such as heating, ultraviolet irradiation, electron beam irradiation, etc., and silicone resin, acrylic resin, methacrylic resin, epoxy resin, melamine resin, polyester resin, urethane Resin etc. are mentioned. From the viewpoint of productivity, a curable resin containing an ultraviolet curable resin as a main component is preferable.

このような紫外線硬化型樹脂としては、例えば、多価アルコールのアクリル酸又はメタクリル酸エステルのような多官能性のアクリレート樹脂、ジイソシアネート、多価アルコール及びアクリル酸又はメタクリル酸のヒドロキシアルキルエステルなどから合成されるような多官能性のウレタンアクリレート樹脂などを挙げることができる。必要に応じて、これらの多官能性の樹脂に単官能性の単量体、例えば、ビニルピロリドン、メチルメタクリレート、スチレンなどを加えて共重合させることができる。   Examples of such ultraviolet curable resins are synthesized from polyfunctional acrylate resins such as acrylic acid or methacrylic acid ester of polyhydric alcohol, diisocyanate, polyhydric alcohol and hydroxyalkyl ester of acrylic acid or methacrylic acid. Such polyfunctional urethane acrylate resins can be mentioned. If necessary, a monofunctional monomer such as vinyl pyrrolidone, methyl methacrylate, or styrene can be added to these polyfunctional resins for copolymerization.

また、組成傾斜薄膜層と硬化物層との付着力を向上するために、硬化物層を更に表面処理することが有効である。具体的な方法としては、グロー放電又はコロナ放電を照射する放電処理法を用いて、カルボニル基、カルボキシル基、水酸基を増加させる方法、酸又はアルカリで処理する化学薬品処理法を用いて、アミノ基、水酸基、カルボニル基などの極性基を増加させる方法、などが挙げられる。   In order to improve the adhesion between the composition gradient thin film layer and the cured product layer, it is effective to further treat the cured product layer. Specific methods include a discharge treatment method that irradiates glow discharge or corona discharge, a method of increasing carbonyl group, carboxyl group, hydroxyl group, a chemical treatment method of treating with acid or alkali, and an amino group. And a method of increasing polar groups such as a hydroxyl group and a carbonyl group.

紫外線硬化型樹脂は、通常、光重合開始剤を添加して使用される。光重合開始剤としては、紫外線を吸収してラジカルを発生する公知の化合物を特に限定なく使用することができ、このような光重合開始剤としては、例えば、各種ベンゾイン類、フェニルケトン類、ベンゾフェノン類などを挙げることができる。光重合開始剤の添加量は、紫外線硬化型樹脂100質量部に対して、1〜5質量部とすることが好ましい。   The ultraviolet curable resin is usually used by adding a photopolymerization initiator. As the photopolymerization initiator, known compounds that absorb ultraviolet rays and generate radicals can be used without any particular limitation. Examples of such photopolymerization initiators include various benzoins, phenyl ketones, and benzophenones. And the like. The addition amount of the photopolymerization initiator is preferably 1 to 5 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the ultraviolet curable resin.

塗布液中の樹脂成分の濃度は、コーティング法に応じた粘度などを考慮して適切に選択することができる。例えば、塗布液中に紫外線硬化型樹脂、光重合開始剤の合計量が占める割合は、通常は20〜80質量%である。また、この塗布液には、必要に応じて、その他の公知の添加剤、例えば、シリコーン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤などのレベリング剤などを添加してもよい。   The concentration of the resin component in the coating solution can be appropriately selected in consideration of the viscosity according to the coating method. For example, the proportion of the total amount of the ultraviolet curable resin and the photopolymerization initiator in the coating solution is usually 20 to 80% by mass. Moreover, you may add other well-known additives, for example, leveling agents, such as a silicone type surfactant and a fluorine type surfactant, to this coating liquid as needed.

本発明において、調製された塗布液は透明プラスチックフィルムからなる基材上にコーティングされる。コーティング法には特に限定されなく、バーコート法、グラビアコート法、リバースコート法などの従来から知られている方法を使用することができる。   In the present invention, the prepared coating solution is coated on a substrate made of a transparent plastic film. The coating method is not particularly limited, and conventionally known methods such as a bar coating method, a gravure coating method, and a reverse coating method can be used.

また、硬化物層の厚みは0.1〜15μmの範囲であることが好ましく、より好ましくは0.5〜10μm、特に好ましくは1〜8μmである。硬化物層の厚みが0.1μm未満の場合には、十分に架橋した構造が形成されにくくなるため、耐薬品性が低下しやすくなり、オリゴマーなどの低分子量による密着性の低下もおこりやすくなる。一方、硬化物層の厚みが15μmを超える場合には、生産性が低下する傾向がある。   Moreover, it is preferable that the thickness of a hardened | cured material layer is the range of 0.1-15 micrometers, More preferably, it is 0.5-10 micrometers, Most preferably, it is 1-8 micrometers. When the thickness of the cured product layer is less than 0.1 μm, it becomes difficult to form a sufficiently cross-linked structure, so that chemical resistance is likely to be lowered, and adhesion due to low molecular weight such as oligomer is also liable to occur. . On the other hand, when the thickness of the cured product layer exceeds 15 μm, the productivity tends to decrease.

(組成傾斜薄膜層)
本発明における組成傾斜薄膜層は、無機の薄膜であり、例えば、Mg、Si、Alから選ばれた少なくとも1元素、及びO、N、C、Fから選ばれた少なくとも2元素からなる無機薄膜層が挙げられる。組成傾斜薄膜層は、厚み方向で薄膜層を構成する各元素の組成が傾斜的に変化している。組成傾斜薄膜層の組成を厚み方向で傾斜的に変化させることによって、組成傾斜薄膜層の屈折率は、基材から透明導電性薄膜層側に連続的に減少している。
(Composition gradient thin film layer)
The composition gradient thin film layer in the present invention is an inorganic thin film, for example, an inorganic thin film layer comprising at least one element selected from Mg, Si, and Al and at least two elements selected from O, N, C, and F. Is mentioned. In the composition gradient thin film layer, the composition of each element constituting the thin film layer in the thickness direction changes in a gradient manner. By changing the composition of the composition gradient thin film layer in the thickness direction, the refractive index of the composition gradient thin film layer continuously decreases from the base material to the transparent conductive thin film layer side.

本発明における組成傾斜薄膜層の屈折率の最大値(以下、最大屈折率ともいう)は、1.70以上(透明導電性薄膜層の屈折率+0.30)以下である。好ましくは(透明導電性薄膜層の屈折率の値)以下である。さらに好ましくは(透明導電性薄膜層の屈折率−0.10)以下である。組成傾斜薄膜層の最大屈折率が(透明導電性薄膜層の屈折率+0.30)を越える場合、透明導電性薄膜層の有無部での反射率差は低下するものの、反射率の絶対値が大きくなり、視認性が低下する。一方、組成傾斜薄膜層中の屈折率の最小値(以下、最小屈折率ともいう)は1.30以上1.65以下である。組成傾斜薄膜層中の最小屈折率が1.30未満の場合、ポーラスな膜となるため、透明導電性薄膜を積層した場合、透明導電性薄膜層の電気特性を低下させてしまう。また、組成傾斜薄膜層中の最小屈折率が1.65を超える場合、透明導電性薄膜層の有無部での反射率差は低下するものの、反射率の絶対値が大きくなり、視認性が低下する。   The maximum value of the refractive index of the composition gradient thin film layer in the present invention (hereinafter also referred to as the maximum refractive index) is 1.70 or more (refractive index of the transparent conductive thin film layer +0.30) or less. Preferably, it is not more than (the value of the refractive index of the transparent conductive thin film layer). More preferably (refractive index of transparent conductive thin film layer -0.10) or less. When the maximum refractive index of the composition gradient thin film layer exceeds (refractive index of the transparent conductive thin film layer + 0.30), although the difference in reflectance at the presence or absence of the transparent conductive thin film layer decreases, the absolute value of the reflectance is It becomes large and visibility decreases. On the other hand, the minimum value of the refractive index (hereinafter also referred to as the minimum refractive index) in the composition gradient thin film layer is 1.30 or more and 1.65 or less. When the minimum refractive index in the composition gradient thin film layer is less than 1.30, a porous film is formed. Therefore, when a transparent conductive thin film is laminated, the electrical characteristics of the transparent conductive thin film layer are deteriorated. In addition, when the minimum refractive index in the composition gradient thin film layer exceeds 1.65, the reflectance difference in the presence / absence portion of the transparent conductive thin film layer decreases, but the absolute value of the reflectance increases and the visibility decreases. To do.

組成傾斜薄膜層の最大屈折率と最小屈折率の差は0.10以上0.80以下が好ましい。好ましくは0.15以上0.70以下、さらに好ましくは0.20以上0.60以下であり。組成傾斜薄膜層の最大屈折率と最小屈折率の差が0.10未満である場合、透明導電性薄膜層の有無部での反射率差を低下することが困難となる。一方、組成傾斜薄膜層の最大屈折率と最小屈折率の差が0.80を超える場合、反射率の絶対値が大きくなり、視認性が低下する。   The difference between the maximum refractive index and the minimum refractive index of the composition gradient thin film layer is preferably 0.10 or more and 0.80 or less. Preferably they are 0.15 or more and 0.70 or less, More preferably, they are 0.20 or more and 0.60 or less. When the difference between the maximum refractive index and the minimum refractive index of the composition gradient thin film layer is less than 0.10, it is difficult to reduce the reflectance difference in the presence or absence of the transparent conductive thin film layer. On the other hand, when the difference between the maximum refractive index and the minimum refractive index of the composition gradient thin film layer exceeds 0.80, the absolute value of the reflectance increases and the visibility decreases.

組成傾斜薄膜層の具体的素材としては、SiとOとNの元素からなる無機薄膜、AlとOとNの元素からなる無機薄膜、及びこれらの複合酸化物からなる無機薄膜などが挙げられる。また、光学特性を阻害しない範囲でこれらの無機薄膜にはC元素を含有していてもよい。   Specific materials for the composition gradient thin film layer include an inorganic thin film composed of Si, O, and N elements, an inorganic thin film composed of Al, O, and N elements, and an inorganic thin film composed of a composite oxide thereof. Further, these inorganic thin films may contain C element as long as the optical properties are not impaired.

組成傾斜薄膜層の膜厚は、20〜500nmであり、好ましくは、20〜250nmである。膜厚が20nm未満の場合、連続的な組成変化が困難となる。一方、膜厚が500nmを超える場合、組成傾斜薄膜層の応力が大きくなり、透明導電性薄膜層にクラックが発生しやすくなる。   The thickness of the composition gradient thin film layer is 20 to 500 nm, and preferably 20 to 250 nm. When the film thickness is less than 20 nm, it is difficult to change the composition continuously. On the other hand, when the film thickness exceeds 500 nm, the stress of the composition gradient thin film layer increases, and cracks are likely to occur in the transparent conductive thin film layer.

本発明における組成傾斜薄膜層は、真空蒸着法、スパッタリング法、CVD法、イオンプレーティング法、スプレー法などの成膜方法で成膜することができる。必要とする膜厚に応じて、前記の方法を適宜用いることができるが、膜厚のバラツキを低減するという観点からスパッタリング法が好ましい。   The composition gradient thin film layer in the present invention can be formed by a film forming method such as a vacuum deposition method, a sputtering method, a CVD method, an ion plating method, or a spray method. Depending on the required film thickness, the above method can be used as appropriate, but the sputtering method is preferred from the viewpoint of reducing variations in film thickness.

例えば、スパッタリング法でSi、O、Nの3元素からなる組成傾斜薄膜層を作製する場合は、シリコン(珪素)ターゲットを用いて窒素、酸素の流量比を連続的に変化させながらスパッタリングを行う方法が挙げられる。この際、成膜雰囲気中の窒素、酸素の比をモニタリングしながら行うことが好ましい。   For example, when producing a composition gradient thin film layer composed of three elements of Si, O, and N by sputtering, sputtering is performed while continuously changing the flow ratio of nitrogen and oxygen using a silicon (silicon) target. Is mentioned. At this time, it is preferable to perform the monitoring while monitoring the ratio of nitrogen and oxygen in the film forming atmosphere.

(透明導電性薄膜層)
本発明における透明導電性薄膜としては、酸化インジウム、酸化スズ、酸化亜鉛、インジウム−スズ複合酸化物、スズ−アンチモン複合酸化物、亜鉛−アルミニウム複合酸化物、インジウム−亜鉛複合酸化物などが挙げられる。これらのうち、環境安定性や回路加工性の観点から、インジウム−スズ複合酸化物が好適である。
本発明において透明導電性薄膜層を積層して、透明導電性積層フィルムの表面抵抗値を好ましくは50〜2000Ω/□、更に好ましくは100〜1500Ω/□とすることによって、透明導電性積層フィルムとしてタッチパネルなどに使用できる。表面抵抗値が50Ω/□未満であったり、2000Ω/□を超える場合、タッチパネルの位置認識精度が悪くなり、好ましくない。
(Transparent conductive thin film layer)
Examples of the transparent conductive thin film in the present invention include indium oxide, tin oxide, zinc oxide, indium-tin composite oxide, tin-antimony composite oxide, zinc-aluminum composite oxide, and indium-zinc composite oxide. . Of these, indium-tin composite oxides are preferable from the viewpoints of environmental stability and circuit processability.
In the present invention, a transparent conductive thin film layer is laminated, and the surface resistance value of the transparent conductive laminated film is preferably 50 to 2000 Ω / □, more preferably 100 to 1500 Ω / □. Can be used for touch panels. When the surface resistance value is less than 50Ω / □ or exceeds 2000Ω / □, the position recognition accuracy of the touch panel is deteriorated, which is not preferable.

透明導電性薄膜の膜厚は、4〜30nmの範囲が好ましく、更に好ましくは10〜25nmである。透明導電性薄膜の膜厚が4nm未満の場合、連続した薄膜になりにくく、良好な導電性が得られにくくなる。一方、透明導電性薄膜の膜厚が30nmよりも厚い場合、透明導電性薄膜層をパターニングした際、透明導電性薄膜層を有する部分と有しない部分の光学特性を近づけることが困難となる。   The thickness of the transparent conductive thin film is preferably in the range of 4 to 30 nm, more preferably 10 to 25 nm. When the film thickness of the transparent conductive thin film is less than 4 nm, it is difficult to form a continuous thin film, and it is difficult to obtain good conductivity. On the other hand, when the film thickness of the transparent conductive thin film is larger than 30 nm, when the transparent conductive thin film layer is patterned, it becomes difficult to make the optical characteristics of the portion having the transparent conductive thin film layer close to the portion not having the transparent conductive thin film layer.

透明導電性薄膜の層構造は、単層構造でもよいし、2層以上の積層構造でもよい。2層以上の積層構造を有する透明導電性薄膜の場合、各層を構成する前記の金属酸化物は同一でもよいし、異なっていてもよい。   The layer structure of the transparent conductive thin film may be a single layer structure or a laminated structure of two or more layers. In the case of a transparent conductive thin film having a laminated structure of two or more layers, the metal oxides constituting each layer may be the same or different.

本発明における透明導電性薄膜の成膜方法としては、真空蒸着法、スパッタリング法、CVD法、イオンプレーティング法、スプレー法などが知られており、必要とする膜厚に応じて、前記の方法を適宜用いることができる。
例えば、スパッタリング法の場合、酸化物ターゲットを用いた通常のスパッタリング法、あるいは、金属ターゲットを用いた反応性スパッタリング法等が用いられる。この時、反応性ガスとして、酸素、窒素、等を導入したり、オゾン添加、プラズマ照射、イオンアシスト等の手段を併用したりしてもよい。また、本発明の目的を損なわない範囲で、基板に直流、交流、高周波などのバイアスを印加してもよい。
As a method for forming a transparent conductive thin film in the present invention, a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, a CVD method, an ion plating method, a spray method, and the like are known. Can be used as appropriate.
For example, in the case of the sputtering method, a normal sputtering method using an oxide target, a reactive sputtering method using a metal target, or the like is used. At this time, oxygen, nitrogen, or the like may be introduced as a reactive gas, or means such as ozone addition, plasma irradiation, or ion assist may be used in combination. In addition, a bias such as direct current, alternating current, and high frequency may be applied to the substrate as long as the object of the present invention is not impaired.

(屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層(保護層))
本発明において屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層とは、表示体の部材として透明導電性積層フィルムを使用する際に透明導電性薄膜を保護するために積層する保護層としての目的と、指などでタッチした際の静電容量変化を大きくし、位置入力精度を向上させる目的を併せ持つ層である。
屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層としては、例えば、SiO、Alなどの透明金属酸化物及びSiO−Al等の複合金属酸化物、アクリル、シリコーン、ポリエステル系の樹脂からなる有機物等が用いられる。
(Dielectric layer (protective layer) having a refractive index of 1.40 to 1.70)
In the present invention, a dielectric layer having a refractive index of 1.40 or more and 1.70 or less is a protective layer that is laminated to protect a transparent conductive thin film when a transparent conductive laminated film is used as a display member. This layer has both the purpose of increasing the capacitance change when touched with a finger or the like and improving the position input accuracy.
The dielectric layer having a refractive index of 1.40 to 1.70 or less, for example, transparent metal oxide such as SiO 2, Al 2 O 3 and composite metal oxides such as SiO 2 -Al 2 O 3, acrylic, An organic material made of silicone or polyester resin is used.

(透明導電性積層フィルムの光学特性)
本願発明においては、透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層をパターニングしてから、屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層を透明導電性薄膜層側に積層した状態において、透明導電性薄膜層を有する部分と有しない部分の光学特性の差が少ないことと反射率が大きすぎないことが重要であり、透明導電性薄膜側に屈折率1.52のアクリル系粘着層を有する二軸配向ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製 A4340、厚さ188μm)を保護フィルムとして貼り合わせた状態において測定した透明導電性薄膜層を有する部分及び透明導電性薄膜層が無い部分の反射率の値が、下記(1)及び(2)、(3)式を満たすことが好ましい。
0≦|R1−R0|≦1.0 (1)
R1≦5.0 (2)
R0≦5.0 (3)
(R1:透明導電性薄膜層を有する部分のフィルムの反射率、
R0:透明導電性薄膜層を有しない部分のフィルムの反射率)
(Optical characteristics of transparent conductive laminated film)
In the present invention, after patterning the transparent conductive thin film layer of the transparent conductive laminated film, in a state where a dielectric layer having a refractive index of 1.40 or more and 1.70 or less is laminated on the transparent conductive thin film layer side, It is important that the difference in optical properties between the portion having the transparent conductive thin film layer and the portion not having the transparent conductive thin film layer and that the reflectance is not too large. An acrylic adhesive layer having a refractive index of 1.52 is provided on the transparent conductive thin film side. The reflectance of a portion having a transparent conductive thin film layer and a portion having no transparent conductive thin film layer measured in a state where a biaxially oriented polyethylene terephthalate film having A4340 (thickness: 188 μm, manufactured by Toyobo Co., Ltd.) is bonded as a protective film It is preferable that the value satisfies the following formulas (1), (2), and (3).
0 ≦ | R1-R0 | ≦ 1.0 (1)
R1 ≦ 5.0 (2)
R0 ≦ 5.0 (3)
(R1: reflectivity of the film having a transparent conductive thin film layer,
R0: Reflectance of the film of the portion having no transparent conductive thin film layer)

(誘電体層付き透明導電性積層フィルム)
本発明の誘電体層付き透明導電性積層フィルムは、上記本発明の透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に、上記の屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層を積層した誘電体層付き透明導電性積層フィルムである。
(Transparent conductive laminated film with dielectric layer)
The transparent conductive laminated film with a dielectric layer of the present invention has the above refractive index on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive laminated film obtained by patterning the transparent conductive thin film layer of the transparent conductive laminated film of the present invention. Is a transparent conductive laminated film with a dielectric layer in which dielectric layers of 1.40 to 1.70 are laminated.

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例によりなんら限定されるものではない。なお、透明導電性積層フィルムの性能は、下記の方法により測定した。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited at all by these Examples. In addition, the performance of the transparent conductive laminated film was measured by the following method.

(1)反射率
日立製分光光度計U3500の積分球測定モードで測定光のサンプルへの入射角度を10度とし、透明導電性積層フィルムサンプルの裏面側に市販の黒色スプレーを用いて遮光層を形成し、サンプルの裏面反射や裏面側からの光の入射がない状態で波長550nmの反射率を測定した。
なお、(1)式及び(2)、(3)式におけるR1、R0は、透明導電性積層フィルムにエッチングレジストを印刷した後、1N塩酸中に浸漬し、更にアルカリ(1N−水酸化ナトリウム水溶液)浸漬により、5×5cmのパターンを形成した。パターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜側に屈折率1.52のアクリル系粘着層を有する二軸配向ポリエチレンテレフタレートフィルム(東洋紡績社製 A4340、厚さ188μm)を保護フィルムとして貼り合わせた状態において測定した透明導電性薄膜層を有する部分及び透明導電性薄膜層が無い部分の反射率の値を測定した。
(1) Reflectance In the integrating sphere measurement mode of Hitachi spectrophotometer U3500, the incident angle of the measurement light to the sample is set to 10 degrees, and a light shielding layer is applied to the back side of the transparent conductive laminated film sample using a commercially available black spray. The reflectance at a wavelength of 550 nm was measured in a state where there was no back surface reflection of the sample and no light was incident from the back surface side.
R1 and R0 in the formulas (1), (2) and (3) are printed on the transparent conductive laminated film with an etching resist, immersed in 1N hydrochloric acid, and further alkali (1N-sodium hydroxide aqueous solution). ) A 5 × 5 cm pattern was formed by immersion. A biaxially oriented polyethylene terephthalate film (A4340 manufactured by Toyobo Co., Ltd., thickness 188 μm) having an acrylic adhesive layer with a refractive index of 1.52 was bonded to the transparent conductive thin film side of the patterned transparent conductive laminated film as a protective film. The reflectance values of the portion having the transparent conductive thin film layer and the portion having no transparent conductive thin film layer measured in the state were measured.

(2)表面抵抗値
JIS−K7194に準拠し、4端子法にて透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層の表面抵抗値を測定した。測定器は、三菱油化(株)製、Lotest AMCP−T400を用いた。
(2) Surface resistance value Based on JIS-K7194, the surface resistance value of the transparent conductive thin film layer of a transparent conductive laminated film was measured by the 4-terminal method. As a measuring instrument, Lotest AMCP-T400 manufactured by Mitsubishi Oil Chemical Co., Ltd. was used.

(3)視認性評価
透明導電性積層フィルムにエッチングレジストを印刷した後、1N塩酸中に浸漬し、更にアルカリ(1N−水酸化ナトリウム水溶液)浸漬により、1×3cmのパターンを形成した。透明導電性薄膜側に屈折率1.52のアクリル系粘着層を有する二軸配向ポリエチレンテレフタレート(以下PETと略記する)フィルム(東洋紡績社製 A4340、厚さ188μm)を保護フィルムとして貼り合わせた。富士通社製FMV−BIBLOLOOX T70M/Tを用いて画面を白色表示にし、保護フィルムを貼り合わせたフィルムをその前に置いて、様々な角度からパターニングの見え方を評価した。
○: パターニングがほとんどみえない。
△: パターニングが少しみえる。
×: パターニングがみえる。
(3) Visibility evaluation After an etching resist was printed on the transparent conductive laminated film, it was immersed in 1N hydrochloric acid, and further a 1 × 3 cm pattern was formed by immersion in an alkali (1N-sodium hydroxide aqueous solution). A biaxially oriented polyethylene terephthalate (hereinafter abbreviated as PET) film (A4340 manufactured by Toyobo Co., Ltd., thickness 188 μm) having an acrylic adhesive layer having a refractive index of 1.52 on the transparent conductive thin film side was bonded as a protective film. Using FMV-BIBLOLOOX T70M / T manufactured by Fujitsu Ltd., the screen was displayed in white, and a film on which a protective film was bonded was placed in front of it, and the appearance of patterning was evaluated from various angles.
○: Patterning is hardly seen.
Δ: Patterning is slightly visible.
X: Patterning is visible.

(4)組成傾斜薄膜層、透明導電性薄膜層の膜厚
組成傾斜薄膜層、透明導電性薄膜層を積層したフィルム試料片を1mm×10mmの大きさに切り出し、電子顕微鏡用エポキシ樹脂に包埋した。これをウルトラミクロトームの試料ホルダに固定し、包埋した試料片の短辺に平行な断面薄切片を作製した。次いで、この切片の薄膜の著しい損傷がない部位において、透過型電子顕微鏡(JEOL社製、JEM−2010)を用い、加速電圧200kV、明視野で観察倍率1万倍にて写真撮影を行って得られた写真から膜厚を求めた。
(4) Film thickness of composition gradient thin film layer and transparent conductive thin film layer A film sample piece obtained by laminating a composition gradient thin film layer and a transparent conductive thin film layer is cut into a size of 1 mm × 10 mm and embedded in an epoxy resin for an electron microscope. did. This was fixed to a sample holder of an ultramicrotome, and a cross-sectional thin section parallel to the short side of the embedded sample piece was produced. Next, in a section where the thin film of this section is not significantly damaged, a transmission electron microscope (manufactured by JEOL, JEM-2010) is used to obtain a photograph at an acceleration voltage of 200 kV and a bright field at an observation magnification of 10,000 times. The film thickness was determined from the photograph taken.

(5)組成傾斜薄膜層に用いる薄膜層、透明導電性薄膜層の屈折率
ガラス(corning7059)上に組成傾斜薄膜層に用いる薄膜層、透明導電性薄膜層をそれぞれ同成膜条件にて作製した試料について分光エリプソメーター(大塚電子株式会社製、FE−5000)を用いて550nmの屈折率を測定した。
(5) Refractive index of the thin film layer used for the composition gradient thin film layer and the transparent conductive thin film layer The thin film layer used for the composition gradient thin film layer and the transparent conductive thin film layer were produced on glass (corning 7059) under the same film formation conditions. The sample was measured for refractive index at 550 nm using a spectroscopic ellipsometer (FE-5000, manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.).

(6)パターニング後の透明導電性薄膜の端部間の抵抗
透明導電性積層フィルムにエッチングレジストを印刷した後、1N塩酸中に浸漬し、更にアルカリ(1N−水酸化ナトリウム水溶液)浸漬により、1×3cmのパターンを形成した。このようにして作製したパターンの端部間(2.6cm)の抵抗を測定した。
(6) Resistance between edge portions of transparent conductive thin film after patterning After etching resist is printed on the transparent conductive laminated film, it is immersed in 1N hydrochloric acid and further immersed in alkali (1N-sodium hydroxide aqueous solution). A pattern of 3 cm was formed. The resistance between the end portions (2.6 cm) of the pattern thus produced was measured.

〔実施例1〕
光重合開始剤含有紫外線硬化型アクリル系樹脂(大日精化工業社製、セイカビームEXF−01J)100質量部に、溶剤としてトルエン/MEK(80/20:質量比)の混合溶媒を、固形分濃度が50質量%になるように加え、撹拌して均一に溶解し塗布液を調製した。
[Example 1]
A mixed solvent of toluene / MEK (80/20: mass ratio) as a solvent was added to 100 parts by mass of a photopolymerization initiator-containing ultraviolet curable acrylic resin (manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd., Seika Beam EXF-01J). Was added so as to be 50% by mass, and stirred to dissolve uniformly to prepare a coating solution.

両面に易接着層を有する二軸配向透明PETフィルム(東洋紡績社製、A4340、厚み188μm)に、塗膜の厚みが5μmになるように、調製した塗布液を、マイヤーバーを用いて塗布した。80℃で1分間乾燥を行った後、紫外線照射装置(アイグラフィックス社製、UB042−5AM−W型)を用いて紫外線を照射(光量:300mJ/cm)し、塗膜を硬化させた。次いで、反対面についても同様に塗膜を設けた後、180℃で1分間の加熱処理を施して、揮発成分の低減を行った。 The prepared coating solution was applied to a biaxially oriented transparent PET film (Toyobo Co., Ltd., A4340, thickness 188 μm) having an easy-adhesion layer on both sides using a Meyer bar so that the coating thickness was 5 μm. . After drying at 80 ° C. for 1 minute, the coating film was cured by irradiating with ultraviolet rays (light quantity: 300 mJ / cm 2 ) using an ultraviolet ray irradiation device (UB042-5AM-W type, manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.). . Next, after a coating film was similarly provided on the opposite surface, a heat treatment was performed at 180 ° C. for 1 minute to reduce volatile components.

また、この硬化物層を積層した二軸配向透明PETフィルムを真空暴露するために、真空チェンバー中で巻き返し処理を行った。このときの圧力は0.002Paであり、暴露時間は20分とした。また、センターロールの温度は40℃とした。   Moreover, in order to expose the biaxially oriented transparent PET film on which the cured product layer was laminated in a vacuum, a rewinding process was performed in a vacuum chamber. The pressure at this time was 0.002 Pa, and the exposure time was 20 minutes. The temperature of the center roll was 40 ° C.

次に、この硬化物層上に組成傾斜薄膜層として珪素(Si)、酸素(O)、及び窒素(N)の元素からなる膜を成膜した。このとき、スパッタリング前の圧力を0.0001Paとし、ターゲットとして珪素を用いて、DC電力を印加した。また、放電ガスとしてArガスを導入した。N、Oガスの比率(N/O)を成膜時間とともに徐々に減少させながら、0.4Paの雰囲気下でDCマグネトロンスパッタリング法を用いて成膜した。また、センターロール温度は0℃として、スパッタリングを行った。 Next, a film composed of silicon (Si), oxygen (O), and nitrogen (N) elements was formed as a composition gradient thin film layer on the cured product layer. At this time, the pressure before sputtering was 0.0001 Pa, silicon was used as a target, and DC power was applied. Further, Ar gas was introduced as a discharge gas. The film was formed using a DC magnetron sputtering method in an atmosphere of 0.4 Pa while gradually decreasing the ratio of N 2 and O 2 gas (N 2 / O 2 ) with the film formation time. The center roll temperature was 0 ° C. and sputtering was performed.

また、雰囲気の窒素、酸素分圧をスパッタプロセスモニター(LEYBOLD INFICON社製、XPR2)にて常時観測しながら、薄膜中の窒素、酸素比が所定の比率になるように窒素、酸素ガスの流量計にフィートバックした。以上のようにして、最大屈折率が1.95、最小屈折率が1.48、厚さ52nmのSi、O、及びNの元素からなる組成傾斜薄膜層を堆積させた。   In addition, while constantly monitoring the nitrogen and oxygen partial pressure in the atmosphere with a sputter process monitor (manufactured by LEYBOLD INFICON, XPR2), a nitrogen and oxygen gas flowmeter is used so that the nitrogen and oxygen ratio in the thin film becomes a predetermined ratio Back to the foot. As described above, a composition gradient thin film layer made of Si, O, and N elements having a maximum refractive index of 1.95, a minimum refractive index of 1.48, and a thickness of 52 nm was deposited.

次に、この組成傾斜薄膜層上にインジウム−スズ複合酸化物からなる透明導電性薄膜を成膜した。このとき、スパッタリング前の圧力を0.0001Paとし、ターゲットとして酸化スズを10質量%含有した酸化インジウム(住友金属鉱山社製、密度7.1g/cm)に用いて、2W/cmのDC電力を印加した。また、Arガスを130sccm、Oガスを表面抵抗値が最小となる流速で流し、0.4Paの雰囲気下でDCマグネトロンスパッタリング法を用いて成膜した。また、センターロール温度は10℃として、スパッタリングを行った。 Next, a transparent conductive thin film made of indium-tin composite oxide was formed on the composition gradient thin film layer. At this time, the pressure before sputtering and 0.0001 Pa, indium oxide tin oxide as a target containing 10 mass% (Sumitomo Metal Mining Co., density 7.1 g / cm 3) used to, the 2W / cm 2 DC Power was applied. Further, Ar gas was flowed at 130 sccm and O 2 gas was flowed at a flow velocity at which the surface resistance value was minimized, and a film was formed by DC magnetron sputtering in an atmosphere of 0.4 Pa. The center roll temperature was 10 ° C. and sputtering was performed.

また、雰囲気の酸素分圧をスパッタプロセスモニター(LEYBOLD INFICON社製、XPR2)にて常時観測しながら、インジウム−スズ複合酸化物薄膜中の酸化度が一定になるように酸素ガスの流量計及びDC電源にフィートバックした。以上のようにして、厚さ20nm、屈折率1.99のインジウム−スズ複合酸化物からなる透明導電性薄膜を堆積させた。   Also, while constantly monitoring the oxygen partial pressure of the atmosphere with a sputtering process monitor (manufactured by LEYBOLD INFICON, XPR2), an oxygen gas flow meter and a DC are provided so that the degree of oxidation in the indium-tin composite oxide thin film becomes constant I went back to power. As described above, a transparent conductive thin film made of an indium-tin composite oxide having a thickness of 20 nm and a refractive index of 1.99 was deposited.

〔実施例2〕
ターゲットを珪素からアルミニウムに変更する以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。このようにして最大屈折率が1.98、最小屈折率が1.65、厚さ59nmのAl、O、及びN元素からなる組成傾斜薄膜層を堆積させた。
[Example 2]
A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the target was changed from silicon to aluminum. In this manner, a composition gradient thin film layer composed of Al, O, and N elements having a maximum refractive index of 1.98, a minimum refractive index of 1.65, and a thickness of 59 nm was deposited.

〔実施例3〕
ターゲットを珪素−アルミニウム(30:70)に変更する以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。このようにして最大屈折率が1.96、最小屈折率が1.55、厚さ59nmのSi、Al、O、及びNの元素からなる組成傾斜薄膜層を堆積させた。
Example 3
A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the target was changed to silicon-aluminum (30:70). In this manner, a composition gradient thin film layer composed of Si, Al, O, and N elements having a maximum refractive index of 1.96, a minimum refractive index of 1.55, and a thickness of 59 nm was deposited.

〔比較例1〕
組成傾斜薄膜層を設けない以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。
[Comparative Example 1]
A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the composition gradient thin film layer was not provided.

〔比較例2〕
組成傾斜薄膜層の厚さを700nmにした以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。
[Comparative Example 2]
A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the composition gradient thin film layer was changed to 700 nm.

〔比較例3〕
組成傾斜薄膜層の厚さを15nmにした以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。
[Comparative Example 3]
A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the composition gradient thin film layer was 15 nm.

〔比較例4〕
組成傾斜薄膜層を作製する際に、ターゲットとして珪素、チタン(Ti)の2枚のターゲットを用いた。放電ガスとしてArガスを、反応性ガスとしてOガスを導入し、0.4Paの雰囲気下でACマグネトロンスパッタリング法を用いて成膜した。また、センターロール温度は0℃として、フィルムをセンターロール上に沿って搬送することにより厚み方向に組成の傾斜した組成傾斜薄膜層を作製した。以上のようにして、最大屈折率が2.35、最小屈折率が1.48、厚さ41nmのTi、Si、及びOの元素からなる組成傾斜薄膜層を堆積させた。組成傾斜薄膜層以外は実施例1と同様にして透明導電性積層フィルムを作製した。
[Comparative Example 4]
When producing the composition gradient thin film layer, two targets of silicon and titanium (Ti) were used as targets. Ar gas was introduced as a discharge gas, O 2 gas was introduced as a reactive gas, and a film was formed using an AC magnetron sputtering method in an atmosphere of 0.4 Pa. Moreover, the center roll temperature was 0 degreeC, and the composition inclination thin film layer which the composition inclined in the thickness direction was produced by conveying a film along a center roll. As described above, a composition gradient thin film layer made of Ti, Si, and O elements having a maximum refractive index of 2.35, a minimum refractive index of 1.48, and a thickness of 41 nm was deposited. A transparent conductive laminated film was produced in the same manner as in Example 1 except for the composition gradient thin film layer.

表1の結果より、本願発明の範囲を満足する実施例1〜記載の透明導電性積層フィルムは、透明導電性薄膜層をパターニングしても、パターニングされた部分が強調されることがないため、液晶ディスプレイ等の表示体の前面に配置して用いた際に、視認性に優れるものであった。
一方、組成傾斜薄膜層の屈折率が適切でない、又は膜厚が適切でない比較例1〜4に記載の透明導電性積層フィルムは、パターニングされた部分とされていない部分の差が見えるために視認性が劣った。
From the results of Table 1, the transparent conductive laminated films described in Examples 1 to 3 that satisfy the scope of the present invention are not emphasized even when the transparent conductive thin film layer is patterned. When used in the front of a display body such as a liquid crystal display, it was excellent in visibility.
On the other hand, the transparent conductive laminated film according to Comparative Examples 1 to 4 in which the refractive index of the composition gradient thin film layer is not appropriate or the film thickness is not appropriate is visible because the difference between the patterned portion and the non-patterned portion is visible. Inferior.

本発明の透明導電性積層フィルムは、透明導電性薄膜層のパターニング部と非パターニング部の光学特性の差が小さく、液晶ディスプレイ等の表示体の前面に配置した際、視認性に優れるため、静電容量式のタッチパネル用の電極フィルムとして特に好適である。   The transparent conductive laminated film of the present invention has a small difference in optical properties between the patterned portion and the non-patterned portion of the transparent conductive thin film layer, and has excellent visibility when placed on the front surface of a display body such as a liquid crystal display. It is particularly suitable as an electrode film for a capacitive touch panel.

本発明の透明導電性積層フィルムの説明図である。It is explanatory drawing of the transparent conductive laminated film of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10:透明導電性フィルム
11:透明プラスチックフィルム(基材)
12:硬化物層
13:組成傾斜薄膜層
14:透明導電性薄膜層
20:誘電体層
10: Transparent conductive film 11: Transparent plastic film (base material)
12: Hardened material layer 13: Composition gradient thin film layer 14: Transparent conductive thin film layer 20: Dielectric layer

Claims (6)

透明プラスチックフィルムからなる基材の少なくとも片面に組成傾斜薄膜層及び透明導電性薄膜層をこの順に設けた透明導電性積層フィルムであって、組成傾斜薄膜層は厚さが20〜500nmであり、組成傾斜薄膜層の屈折率は厚さ方向で異なり、屈折率の最大値が1.70以上(透明導電性薄膜層の屈折率+0.30)以下であり、屈折率の最小値が1.30以上1.65以下であることを特徴とする透明導電性積層フィルム。   A transparent conductive laminated film in which a composition gradient thin film layer and a transparent conductive thin film layer are provided in this order on at least one surface of a substrate made of a transparent plastic film, the composition gradient thin film layer having a thickness of 20 to 500 nm, The refractive index of the inclined thin film layer varies in the thickness direction, the maximum value of the refractive index is 1.70 or more (refractive index of the transparent conductive thin film layer +0.30) or less, and the minimum value of the refractive index is 1.30 or more. 1. A transparent conductive laminated film, which is 1.65 or less. 組成傾斜薄膜層がMg、Si、Alから選ばれた少なくとも1元素、及びO、N、C、Fから選ばれた少なくとも2元素からなる無機薄膜層であることを特徴とする請求項1に記載の透明導電性積層フィルム。   The composition gradient thin film layer is an inorganic thin film layer composed of at least one element selected from Mg, Si, and Al and at least two elements selected from O, N, C, and F. Transparent conductive laminated film. 組成傾斜薄膜層の屈折率が基材から透明導電性薄膜層側に連続的に減少していることを特徴とする請求項1又は2に記載の透明導電性積層フィルム。   The transparent conductive laminated film according to claim 1 or 2, wherein the refractive index of the composition gradient thin film layer continuously decreases from the base material to the transparent conductive thin film layer side. 透明導電性薄膜層がインジウムを含有する金属酸化物薄膜からなることを特徴とする請求項1〜3いずれかに記載の透明導電性積層フィルム。   The transparent conductive laminated film according to claim 1, wherein the transparent conductive thin film layer comprises a metal oxide thin film containing indium. 透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に屈折率1.52のアクリル系粘着層を有する二軸配向ポリエチレンテレフタレートフィルムを積層した状態において測定した透明導電性薄膜層を有する部分及び透明導電性薄膜層が無い部分の反射率が、下記(1)、(2)、及び(3)式を満たすことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の透明導電性積層フィルム。
0≦|R1−R0|≦1.0 (1)
R1≦5.0 (2)
R0≦5.0 (3)
(R1:透明導電性薄膜層を有する部分のフィルムの反射率、R0:透明導電性薄膜層を有しない部分のフィルムの反射率)
Transparent conductive thin film measured in a state where a biaxially oriented polyethylene terephthalate film having an acrylic adhesive layer having a refractive index of 1.52 is laminated on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive laminated film patterned with the transparent conductive thin film layer The reflectance of the part which has a layer, and the part which does not have a transparent conductive thin film layer satisfy | fills following (1), (2), and (3) Formula, The one in any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned. Transparent conductive laminated film.
0 ≦ | R1-R0 | ≦ 1.0 (1)
R1 ≦ 5.0 (2)
R0 ≦ 5.0 (3)
(R1: reflectivity of a film having a transparent conductive thin film layer, R0: reflectivity of a film having a transparent conductive thin film layer)
請求項1〜5いずれかに記載の透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層をパターニングした透明導電性積層フィルムの透明導電性薄膜層側に、屈折率が1.40以上1.70以下の誘電体層を積層したことを特徴とする誘電体層付き透明導電性積層フィルム。   The refractive index is 1.40 or more and 1.70 or less on the transparent conductive thin film layer side of the transparent conductive laminated film obtained by patterning the transparent conductive thin film layer of the transparent conductive laminated film according to claim 1. A transparent conductive laminated film with a dielectric layer, wherein a dielectric layer is laminated.
JP2008316509A 2008-12-12 2008-12-12 Transparent conductive laminated film Active JP5287201B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008316509A JP5287201B2 (en) 2008-12-12 2008-12-12 Transparent conductive laminated film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008316509A JP5287201B2 (en) 2008-12-12 2008-12-12 Transparent conductive laminated film

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010137447A JP2010137447A (en) 2010-06-24
JP5287201B2 true JP5287201B2 (en) 2013-09-11

Family

ID=42348012

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008316509A Active JP5287201B2 (en) 2008-12-12 2008-12-12 Transparent conductive laminated film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5287201B2 (en)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5244950B2 (en) * 2011-10-06 2013-07-24 日東電工株式会社 Transparent conductive film
JP5887118B2 (en) * 2011-12-05 2016-03-16 日東電工株式会社 Adhesive layer for transparent conductive film, transparent conductive film with adhesive layer, transparent conductive laminate, and touch panel
JP5775471B2 (en) * 2012-02-07 2015-09-09 積水化学工業株式会社 Light transmissive conductive film, method for producing the same, and use thereof
JP2014067711A (en) * 2012-09-07 2014-04-17 Sekisui Nano Coat Technology Co Ltd Light transmitting conductive film and capacitance type touch panel containing the same
JP6170288B2 (en) * 2012-09-11 2017-07-26 富士フイルム株式会社 Transfer material, method for manufacturing capacitive input device, capacitive input device, and image display device including the same
JP2015001672A (en) * 2013-06-17 2015-01-05 株式会社オプトラン Antireflection film and manufacturing method thereof
WO2015002089A1 (en) * 2013-07-01 2015-01-08 積水化学工業株式会社 Inorganic film and laminate
CN103680687A (en) * 2013-09-27 2014-03-26 汕头万顺包装材料股份有限公司光电薄膜分公司 Transparent conductive film and touch panel with conductive film
JP2015138179A (en) * 2014-01-23 2015-07-30 王子ホールディングス株式会社 MICROSTRUCTURE AND METHOD FOR PRODUCING MICROSTRUCTURE
WO2015159804A1 (en) * 2014-04-15 2015-10-22 旭硝子株式会社 Laminate, conductive laminate and electronic device
JP6310316B2 (en) * 2014-04-24 2018-04-11 積水化学工業株式会社 Barrier film
JP2016124219A (en) * 2015-01-05 2016-07-11 積水化学工業株式会社 Stacked inorganic film, and barrier film
JP6639098B2 (en) * 2015-03-20 2020-02-05 富士フイルム株式会社 Touch panel member, touch panel, and touch panel display device
JP6313255B2 (en) * 2015-03-20 2018-04-18 富士フイルム株式会社 Touch panel member, touch panel and touch panel display device
JP6325019B2 (en) * 2016-05-16 2018-05-16 富士フイルム株式会社 Transfer material, method for manufacturing capacitive input device, capacitive input device, and image display device including the same
WO2023220839A1 (en) * 2022-05-20 2023-11-23 Koehly Rodolphe Electrically functional cellulose-based sheet, methods of production thereof, and applications thereof

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6410507A (en) * 1987-07-02 1989-01-13 Optrex Kk Transparent conductive film and its manufacture
JPH08240800A (en) * 1995-03-03 1996-09-17 Asahi Glass Co Ltd Resin substrate for liquid crystal display
JP3626624B2 (en) * 1999-04-19 2005-03-09 帝人株式会社 Transparent conductive laminate and transparent tablet
JP2001288562A (en) * 2000-04-03 2001-10-19 Nippon Sheet Glass Co Ltd Silicon compound thin film deposition method, and article obtained by using it
JP4004025B2 (en) * 2001-02-13 2007-11-07 日東電工株式会社 Transparent conductive laminate and touch panel
US8603611B2 (en) * 2005-05-26 2013-12-10 Gunze Limited Transparent planar body and transparent touch switch
JP4874145B2 (en) * 2007-03-27 2012-02-15 グンゼ株式会社 Transparent sheet and transparent touch switch

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010137447A (en) 2010-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5287201B2 (en) Transparent conductive laminated film
JP4661995B2 (en) Transparent conductive laminated film
JP4844692B2 (en) Transparent conductive laminated film
JP2010015861A (en) Transparent conductive laminate film
JP4775728B2 (en) Production apparatus and production method for transparent conductive film
KR101826379B1 (en) Transparent conductive film and method for producing same
TWI595508B (en) Transparent conductive film and image display device
WO2013081106A1 (en) Transparent conductive film
US20010037935A1 (en) Transparent conductive film, transparent conductive sheet and touchpanel
WO2011048647A1 (en) Electrically conductive transparent film, and touch panel comprising same
JP7639836B2 (en) Transparent Conductive Film
JP2010269504A (en) Transparent conductive laminated film, transparent conductive laminated sheet, and touch panel
JP7663075B2 (en) Transparent Conductive Film
WO2011046094A1 (en) Transparent conductive laminate film
JP5481992B2 (en) Transparent conductive film
JP2001273817A (en) Transparent conductive film, transparent conductive sheet and touch panel
JP5509683B2 (en) Transparent conductive film
JP3627864B2 (en) Transparent conductive film, transparent conductive sheet and touch panel
TW201114602A (en) Transparent electrically conductive laminated film
JP4543292B2 (en) Transparent conductive film, transparent conductive sheet and touch panel
JP2003151365A (en) Transparent conductive film, transparent conductive sheet and touch panel

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111021

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130520

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5287201

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250