JP5474688B2 - High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels - Google Patents
High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels Download PDFInfo
- Publication number
- JP5474688B2 JP5474688B2 JP2010157854A JP2010157854A JP5474688B2 JP 5474688 B2 JP5474688 B2 JP 5474688B2 JP 2010157854 A JP2010157854 A JP 2010157854A JP 2010157854 A JP2010157854 A JP 2010157854A JP 5474688 B2 JP5474688 B2 JP 5474688B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- touch panel
- contact
- contact rod
- support base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 133
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003100 immobilizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Position Input By Displaying (AREA)
Description
本発明は、抵抗膜式タッチパネルの検査・評価方法に関する。さらに詳しくは、抵抗膜式タッチパネルの特性を、極めて高速でつまり短時間で検査し評価するための方法に関する。 The present invention relates to a resistance film type touch panel inspection / evaluation method. More specifically, the present invention relates to a method for inspecting and evaluating the characteristics of a resistive touch panel at an extremely high speed, that is, in a short time.
抵抗膜式タッチパネル(以下、単に“タッチパネル”と略称することがある。)は、構造が簡単でかつ安価であり、指入力が可能であるため、その生産量が年々増大している。その生産量の拡大に伴い、その品質を確保するための検査方法および手段の改良にせまられている。
タッチパネルの検査・評価の1つとして、ペン入力に対する応答特性試験がある。具体的な検査方法は、所定の位置を指に代わりペン(触圧棒)で入力し、検出されたX軸とY軸の位置情報をコンピューターに入力して、算出によりリニアリティーなどを調べることである。また、耐久性などは、触圧棒の往復運動を繰返して特性が維持される回数を調べる検査である。
Resistive touch panels (hereinafter sometimes simply referred to as “touch panels”) have a simple structure, are inexpensive, and allow finger input, so that their production is increasing year by year. Along with the expansion of the production volume, the inspection methods and means for ensuring the quality are being improved.
One of touch panel inspection and evaluation is a response characteristic test for pen input. A specific inspection method is to input a predetermined position with a pen (pressure bar) instead of a finger, input the detected X-axis and Y-axis position information into a computer, and check the linearity etc. by calculation. is there. The durability is an inspection for checking the number of times the characteristic is maintained by repeating the reciprocating motion of the contact rod.
タッチパネルの応答特性試験を効率よく、しかも確実に実施するためには、タッチ面の全体に亘って検査すること、触圧棒の往復運動を高速で行うこと、被検査試料の設置と検査を素早く行うことおよび検査機自体が安定して長時間作動することなどが必要となる。
タッチパネルを高速で検査・評価するための装置として特許文献1が提案されている。この装置は、往復運動するシリンダ部材と一体に連動し、被検査試料の平面を所定の間隔で打点する触圧ペンと、その触圧ペンが二次元的にマトリックス状に複数個配列されている評価装置である。この評価装置は、被検査試料が固定支持台上に固定され、シリンダ部材を駆動させながら、触圧ペンと試料表面を打点させる方式であり、可成の高速で試験をすることが可能である。
この装置は、シリンダ部材の駆動とシリンダ部材と一体化して連動する触圧ペンの駆動の2つの駆動部分を有し、評価すべき全面を検査するためには、一定の時間を要する。
In order to perform the response characteristic test of the touch panel efficiently and reliably, the entire touch surface is inspected, the reciprocating motion of the pressure bar is performed at high speed, and the specimen to be inspected is installed and inspected quickly. It is necessary that the inspection machine itself be operated stably for a long time.
Patent Document 1 has been proposed as an apparatus for inspecting and evaluating a touch panel at high speed. This device is integrally linked with a reciprocating cylinder member, and a plurality of tactile pressure pens that strike the plane of the sample to be inspected at predetermined intervals and two-dimensionally arranged in the form of a matrix. Evaluation device. This evaluation apparatus is a method in which a specimen to be inspected is fixed on a fixed support base, and a cylinder is driven while a pressure pen and a sample surface are spotted, and it is possible to perform a test at a reasonably high speed. .
This device has two drive parts, ie, a cylinder member drive and a stylus pen drive that is integrated with the cylinder member, and it takes a certain time to inspect the entire surface to be evaluated.
本発明者は、抵抗膜式タッチパネルの生産拡大に伴い応答特性試験をより高速で行うことができる装置、特に耐久性試験をより短い時間で実施できる装置の開発について研究を進めた。また可動部分が少なくかつ故障の少ない検査・評価装置の開発について研究を進めた。
従来の検査装置では、固定支持盤上に被検査試料(タッチパネル)を、検査面を上にして固定し、その検査面上に複数の触圧棒を往復運動させながら、検査位置を移動させていた。この従来の方式とは異なり、固定支持盤上に複数の触圧棒を上方に向けて一定の配列状態で配置すると共に、この配列された触圧棒群の上に、被検査試料の検査面が対向し接触するように配置した装置は、可動部分が各触圧棒の上下運動のみであり、故障が少なく極めて短時間で検査・評価を実施できることが見出され先に提案した(特願2009-216567号)。
The present inventor conducted research on the development of a device capable of performing a response characteristic test at a higher speed, particularly a device capable of performing a durability test in a shorter time, with the expansion of production of resistive touch panels. In addition, research on the development of inspection / evaluation equipment with few moving parts and few failures was conducted.
In a conventional inspection device, a sample to be inspected (touch panel) is fixed on a fixed support plate with the inspection surface facing upward, and the inspection position is moved while reciprocating a plurality of pressure bars on the inspection surface. It was. Unlike this conventional method, a plurality of contact rods are arranged in a fixed array on the fixed support plate in an upward direction, and the inspection surface of the sample to be inspected is placed on the array of contact rods. The device that was placed so that they face each other and contact each other was found to be able to carry out inspection and evaluation in a very short time with only a vertical movement of each contact rod, and there are few failures. 2009-216567).
この先に提案した装置は、下記(a)〜(e)の要件より構成されるタッチパネルの高速検査・評価装置である。
(a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
(c)被検査試料の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
(e)各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
The previously proposed apparatus is a touch panel high-speed inspection / evaluation apparatus configured by the following requirements (a) to (e).
(A) On the inspection support base, a contact rod array in which a large number of contact rods are linearly arranged in a line, and a contact rod multi-stage array in which the contact rod arrays are arranged in multiple stages,
(B) Each contact rod is installed on the support base so as to protrude upward from below to the inspection surface through a hole in the plate plate, which is installed at the top of the contact rod multi-stage array,
(C) having a sample arrangement means that can be arranged so that the inspection surface of the sample to be inspected faces downward and comes into contact with the contact rod;
(D) High speed inspection of a resistive touch panel having control means that each contact pressure bar hits at a predetermined interval and (e) determination means for determining the contact pressure position and the inspection result of each contact pressure bar・ Evaluation equipment.
この検査・評価装置は、固定支持盤上に多数の触圧棒が配置された触圧棒多段配列が設置され、その上に被検査試料(タッチパネル)が検査面を下方に向けて配置される構造であり、作動部分は事実上各触圧棒の上下往復運動の部分のみである。この装置では、前記触圧棒多段配列の上に被検査試料が配置されると、コンピューターにより制御された順序に従って触圧棒が所定の間隔で検査面を打点する。前記触圧棒多段配列は、検査面のほぼ全体を覆うことが望ましく、そうすることによって触圧棒やその配列を検査面に沿って移動する必要はない。例えば被検査試料の応答特性試験の場合、10秒以下の短い時間で検査することが可能である。しかも可動部分が触圧棒の上下運動のみであるから、故障が少なく消費電力は僅かであるという利点を有している。
前記した装置は、被検査試料(タッチパネル)の検査面の全体を制御された順序に従って触圧棒を作動し検査する装置であり、この装置の使用により検査・評価は極めて短時間で完了し、その検査・評価を判断することも短時間で終了する。
In this inspection / evaluation apparatus, a multi-stage arrangement of contact rods in which a large number of contact rods are arranged on a fixed support board is installed, and a sample to be inspected (touch panel) is arranged with the inspection surface facing downward. It is a structure, and an operation part is only the part of the up-and-down reciprocating motion of each contact rod. In this apparatus, when the sample to be inspected is arranged on the multi-stage arrangement of the pressure bar, the pressure bar hits the inspection surface at a predetermined interval according to the order controlled by the computer. It is desirable that the multi-stage arrangement of the pressure rods cover almost the entire inspection surface, so that it is not necessary to move the pressure rods and the arrangement along the inspection surface. For example, in the case of a response characteristic test of a sample to be inspected, it is possible to inspect in a short time of 10 seconds or less. Moreover, since the movable part is only the vertical movement of the pressure bar, there is an advantage that there is little failure and power consumption is small.
The above-described device is a device that operates and inspects the pressure bar according to a controlled order over the entire inspection surface of the sample to be inspected (touch panel). By using this device, inspection and evaluation are completed in a very short time, Judging the inspection / evaluation is also completed in a short time.
この装置を使用して実際にタッチパネルの検査・評価を行うに当り、概ね下記手順により操作が実施される。
(ア)前記装置の検査支持基盤上にタッチパネルの検査面を下方に向けて挿入し設置する。
(イ)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)を、判断手段に電気的に接続するコネクター接続する、
(ウ)タッチパネルの検査面に、検査支持基盤上に設けられた触圧棒を順序に従って作動させ打点する、
(エ)触圧棒の打点に基づいて、触圧棒の接触位置と検査結果とを判別手段により判定する、
(オ)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)と、判断手段に電気的に接続されているコネクターとの接続を解除する、
(カ)検査・評価装置からタッチパネルを取り出す、
検査・評価装置の作動効率化、つまり一台のタッチパネルの検査・評価に要する時間の短縮には、前記(ア)〜(カ)の各工程の合計時間を短縮することが肝要である。
When actually inspecting and evaluating the touch panel using this apparatus, the operation is generally performed according to the following procedure.
(A) Insert and install the inspection surface of the touch panel downward on the inspection support base of the device.
(A) A flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel is connected to a connector that electrically connects to the judging means.
(C) The touching bar provided on the inspection support base is operated according to the order on the inspection surface of the touch panel,
(D) Based on the striking point of the pressure bar, the contact position of the pressure bar and the inspection result are determined by the determining means.
(E) Release the connection between the flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel and the connector electrically connected to the judging means.
(F) Remove the touch panel from the inspection / evaluation device,
In order to improve the operation efficiency of the inspection / evaluation apparatus, that is, to shorten the time required for inspection / evaluation of one touch panel, it is important to reduce the total time of the steps (a) to (f).
前記した各工程のうち(ウ)と(エ)の工程は、極めて短時間で実施できる。前記工程の(ア)および(オ)は手動(マニュアル)で比較的簡単に操作でき、時間もそれほど要しない。ところが装置からタッチパネルを取り出す場合、タッチパネルの検査面が装置の支持基盤面上に密着して装着されているために、手動でタッチパネルを取り出すことは、度々手間を取ることがあり、場合によってはかなりの時間を要することがある。
タッチパネルを検査・評価装置から手動で取り出すために、手間取る理由の1つは、タッチパネルの検査面と装置の支持基盤面が密着し、両面の間に隙間がないことにある。
Of the steps described above, steps (c) and (d) can be performed in a very short time. Steps (a) and (e) can be operated manually (manually) relatively easily and do not require much time. However, when removing the touch panel from the device, since the inspection surface of the touch panel is closely attached to the support base surface of the device, manually removing the touch panel can be time-consuming, and in some cases it is quite Time may be required.
In order to manually remove the touch panel from the inspection / evaluation apparatus, one of the reasons is that the inspection surface of the touch panel and the support base surface of the apparatus are in close contact with each other, and there is no gap between both surfaces.
そこで本発明者は、検査・評価装置からタッチパネルを取り出すために、検査・評価装置の支持基盤面に触圧棒がプレートの孔を通して突出す構造である点に着目した。
すなわち、検査・評価装置のために触圧棒の打点が終了し、検査・評価装置の判断が終了した後、再び触圧棒を作動させて突出し、タッチパネルを押上げて、支持基盤面とタッチパネルとの間に1mm〜3mm程度の隙間を形成させると、その隙間を利用して手動でタッチパネルを容易に取り出すことが可能であることを見出し本発明に到達した。
Therefore, the present inventor paid attention to a structure in which a pressure bar protrudes through a hole in the plate on the support base surface of the inspection / evaluation apparatus in order to take out the touch panel from the inspection / evaluation apparatus.
That is, after the hitting point of the pressure bar for the inspection / evaluation device is completed and the determination of the inspection / evaluation device is completed, the pressure bar is actuated again to protrude, the touch panel is pushed up, the support base surface and the touch panel When a gap of about 1 mm to 3 mm is formed between the touch panel and the touch panel, it is found that the touch panel can be easily taken out manually using the gap, and the present invention has been achieved.
本発明は、かかる知見に基づいて達成されたものであり、本発明によれば下記のタッチパネルの高速検査・評価方法が提供される。
(a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
(c)被検査試料(タッチパネル)の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
(e)各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置を使用して、
タッチパネルを検査・評価する方法であって、
The present invention has been achieved based on such knowledge, and according to the present invention, the following high-speed inspection / evaluation method for a touch panel is provided.
(A) On the inspection support base, a contact rod array in which a large number of contact rods are linearly arranged in a line, and a contact rod multi-stage array in which the contact rod arrays are arranged in multiple stages,
(B) Each contact rod is installed on the support base so as to protrude upward from below to the inspection surface through a hole in the plate plate, which is installed at the top of the contact rod multi-stage array,
(C) having a sample arrangement means that can be arranged so that the inspection surface of the sample to be inspected (touch panel) is directed downward and in contact with the contact rod;
(D) High speed inspection of a resistive touch panel having control means that each contact pressure bar hits at a predetermined interval and (e) determination means for determining the contact pressure position and the inspection result of each contact pressure bar・ Using the evaluation device,
A method for inspecting and evaluating a touch panel,
(1)前記装置にタッチパネルを装着し、
(2)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)を判断手段に電気的に接続するコネクターに接続させ、
(3)検査支持基盤上に配置された触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させ、
(4)各触圧棒の接触位置と検査結果を判断手段で判定し、
(5)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子と判断手段に電気的に接続するコネクターとの接続を解除し、
(6)次いで検査支持基盤上に配置された触圧棒を突出しして検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させ、
(7)かくして形成された隙間を利用してタッチパネルを検査支持基盤から取り出す
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価方法。
(1) A touch panel is attached to the device,
(2) The flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel is connected to a connector that is electrically connected to the determination means,
(3) Touching the pressure bar placed on the inspection support base on the inspection surface of the touch panel at a predetermined interval,
(4) The contact position of each contact rod and the inspection result are determined by the determination means,
(5) Release the connection between the flexible circuit terminal at the end of the touch panel and the connector electrically connected to the judging means,
(6) Next, the contact rod arranged on the inspection support base is projected to form a gap between the inspection support base surface and the touch panel inspection surface,
(7) A high-speed inspection / evaluation method for a resistive touch panel, wherein the touch panel is taken out from the inspection support base using the gap formed in this way.
前記した本発明の高速検査・評価方法においては下記の態様(A−1)〜(A−3)であることが好ましい。
(A−1)前記検査・評価装置にタッチパネルを装着する場合、その装置の検査支持基盤上にコ字型またはL字型のガイド枠を設け、このガイド枠内にタッチパネルを定位置に収納すること、
(A−2)前記検査・評価装置の検査支持基盤上には、タッチパネルを装着した場合タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)の先端部が判断手段に電気的に接続するコネクターと接続するようにコネクターが設置されていること、
(A−3)前記検査・評価装置の支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させる場合、検査・評価のための触圧棒とは別個に或いは兼用して設けられた触圧棒を作動させてその触圧棒をタッチパネル検査面へ突出させること、
In the above-described high-speed inspection / evaluation method of the present invention, the following embodiments (A-1) to (A-3) are preferable.
(A-1) When a touch panel is mounted on the inspection / evaluation apparatus, a U-shaped or L-shaped guide frame is provided on the inspection support base of the apparatus, and the touch panel is stored in a fixed position in the guide frame. about,
(A-2) When the touch panel is mounted on the inspection support base of the inspection / evaluation apparatus, the tip of the flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel is connected to a connector that is electrically connected to the determination means. That the connector is installed,
(A-3) When a gap is formed between the support base surface of the inspection / evaluation apparatus and the touch panel inspection surface, the contact pressure provided separately or combined with the contact rod for inspection / evaluation Actuating the bar and projecting the pressure bar to the touch panel inspection surface,
本発明の方法によれば、検査・評価装置からタッチパネルを評価判断した後、触圧棒を作動させて前記装置の支持基盤面とタッチパネルの検査面との間に隙間を形成させ、この隙間を利用して手動によりタッチパネルを容易に取り出すことが可能となり、全体として1台のタッチパネルの検査面に要する時間を短縮することができる。 According to the method of the present invention, after evaluating and judging the touch panel from the inspection / evaluation apparatus, the contact rod is operated to form a gap between the support base surface of the apparatus and the inspection surface of the touch panel. It is possible to easily take out the touch panel manually, and the time required for the inspection surface of one touch panel as a whole can be shortened.
本発明の方法は、本発明者が先に提案したタッチパネルの高速検査・評価装置を使用して実施される。この装置は特願2009-216567号(平成21年9月19日出願)として既に出願されている。この装置について図面により先ず説明する。
図1は検査・評価装置の支持基盤1に固定して配置された触圧棒多段配列の上部に設置されたプレート板2を模式的に示した平面図である。この検査・評価装置は、支持基盤1上に触圧棒多段配列が固定され、この触圧棒多段配列は、触圧棒配列が多段で配列されている。
The method of the present invention is implemented using the touch panel high-speed inspection / evaluation apparatus previously proposed by the present inventor. This device has already been filed as Japanese Patent Application No. 2009-216567 (filed on Sep. 19, 2009). This apparatus will be described first with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view schematically showing a plate plate 2 installed on an upper part of a multistage arrangement of contact rods fixed to a support base 1 of an inspection / evaluation apparatus. In this inspection / evaluation apparatus, a multi-stage arrangement of contact rods is fixed on a support base 1, and the multi-stage arrangement of pressure bars is arranged in multiple stages.
触圧棒多段配列とは、多数の触圧棒が一列に直線状に配列された触圧棒配列が、多段で重ねられた状態で配列されたものを言う。触圧棒多段配列は、図1ではプレート板2と支持基盤1との間に配置されており、そのため図面上は示されていない。プレート板2の多数の孔3に対応して触圧棒が配置されている。図1では、説明を簡単にするために、支持基盤1、プレート板2およびプレート板2に設けられた孔の平面図が示されている。図1のプレート板2の多数の孔3の配置の状態から理解されるように、図1の場合、10個の触圧棒が一列(左右横方向)に直線状に配置された触圧棒配列が6段(上下縦方向)で配置されていることを示している。 The contact rod multi-stage arrangement refers to an arrangement in which a plurality of contact rods are arranged in a straight line in a row and arranged in a state of being stacked in multiple stages. The contact rod multi-stage arrangement is arranged between the plate plate 2 and the support base 1 in FIG. 1 and is therefore not shown in the drawing. Corresponding pressure rods are arranged corresponding to the numerous holes 3 of the plate plate 2. FIG. 1 shows a plan view of the support base 1, the plate plate 2, and the holes provided in the plate plate 2 for the sake of simplicity. As can be understood from the arrangement of a large number of holes 3 in the plate plate 2 in FIG. 1, in the case of FIG. 1, 10 pressure rods are arranged in a line (left and right lateral direction) in a straight line. It shows that the arrangement is arranged in six stages (vertical and vertical directions).
触圧棒多段配列の上面にプレート板2が設けられ、そのプレート板2に開けられた孔3を介して触圧棒の先端部が突出されているようになっている。つまり、プレート板2には触圧棒多段配列に存在する触圧棒の数と同じ数の孔が開けられている(図1では6×10の60個である)。
次にプレート板2について説明する。プレート板2の上面には、被検査試料(タッチパネル)の検査面が密着した状態で設置される。プレート板2のそれぞれの孔3から触圧棒が突出し検査面を押圧する。そのためプレート板2の孔3は、触圧棒が貫通することができるに充分な孔径を有しており、通常は、径が0.7mm〜1.5mm好ましくは0.8mm〜1.2mmが適当である。
A plate plate 2 is provided on the upper surface of the multi-stage contact rod, and the tip of the contact rod protrudes through a hole 3 formed in the plate plate 2. In other words, the plate plate 2 has the same number of holes as the number of the contact rods present in the contact rod multi-stage array (in FIG. 1, 60 holes of 6 × 10).
Next, the plate plate 2 will be described. On the upper surface of the plate plate 2, the inspection surface of the sample to be inspected (touch panel) is placed in close contact. The contact rod protrudes from each hole 3 of the plate plate 2 and presses the inspection surface. Therefore, the hole 3 of the plate plate 2 has a hole diameter sufficient to allow the contact rod to pass through. Usually, the diameter is 0.7 mm to 1.5 mm, preferably 0.8 mm to 1.2 mm. Is appropriate.
因みに、触圧棒の直径は、一般に0.9mm〜1.1mm程度であり、触圧棒の形状は円柱状であって、その最先端(頂部)はフラットでもよく、また半円形乃至ドーム形であってもよい。プレート板2に設けられている孔の位置は、検査面の位置を決める役割を負っている。そのため、プレート板2の孔3の配列位置は、触圧棒多段配列の位置に合致している。プレート板2はタッチパネルのリニアリティーの検査・評価のために、孔3が直線状でかつ等間隔で配置され、また多段配列においても同じ間隔となるように孔が設けられていることが望ましい。最も好ましくは、検査面の全体が覆われるようにかつ縦と横が同じ間隔となるように孔の位置を配列する。孔の間隔(ピッチ間隔)は3mm〜15mm、好ましくは4mm〜13mmであるのが有利である。このように孔の配列が直線状であり、縦方向および横方向の間隔が一定であるように配列することによって、触圧棒による感知の状態の判別を容易に行うことができる。 Incidentally, the diameter of the pressure rod is generally about 0.9 mm to 1.1 mm, the shape of the pressure rod is cylindrical, and the tip (top) thereof may be flat, or semicircular or dome-shaped. It may be. The positions of the holes provided in the plate plate 2 have a role of determining the position of the inspection surface. Therefore, the arrangement position of the holes 3 in the plate plate 2 matches the position of the contact rod multistage arrangement. In order to inspect and evaluate the linearity of the touch panel, the plate plate 2 is preferably provided with holes 3 so that the holes 3 are arranged in a straight line and at equal intervals, and the same interval is provided in a multistage arrangement. Most preferably, the positions of the holes are arranged so that the entire inspection surface is covered and the vertical and horizontal intervals are the same. The hole spacing (pitch spacing) is advantageously 3 mm to 15 mm, preferably 4 mm to 13 mm. Thus, by arranging the holes so that the holes are linear and the intervals in the vertical direction and the horizontal direction are constant, it is possible to easily determine the state of sensing by the pressure bar.
プレート板2は、平坦で表面が平滑なものが好ましく、プラスチック板または金属板(好ましくはアルミ板)が使用でき、その厚さは1mm〜5mm、好ましくは2mm〜4mmが望ましい。
図2は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
図2では、触圧棒配列における隣り合う2つの触圧棒の部分拡大図を示す。プレート板2の下部には、触圧棒が上下運動し検査面の表面を押圧するアクチュエーターが設置されている。触圧棒を上下運動させるアクチュエーターは、例えばソレノイド方式(電磁式)やピエゾ素子方式(圧電素子方式)を採用することができる。図2ではソレノイド方式で、触圧棒5を上下運動する態様が示されている。図2では触圧棒5の数に対応して、ソレノイド6が横方向に配列した状態が示されている。ソレノイド方式は、孔のピッチ間隔が約5mm以上の場合に適している。
The plate plate 2 is preferably flat and has a smooth surface, and a plastic plate or a metal plate (preferably an aluminum plate) can be used, and the thickness is desirably 1 mm to 5 mm, preferably 2 mm to 4 mm.
FIG. 2 shows an enlarged partial cross-sectional view of the contact rod arrangement.
FIG. 2 shows a partially enlarged view of two adjacent pressure rods in the pressure rod arrangement. An actuator is installed below the plate plate 2 so that the contact rod moves up and down and presses the surface of the inspection surface. For example, a solenoid system (electromagnetic system) or a piezo element system (piezoelectric element system) can be adopted as the actuator that moves the contact rod up and down. FIG. 2 shows a mode in which the contact rod 5 is moved up and down by a solenoid system. FIG. 2 shows a state in which the solenoids 6 are arranged in the horizontal direction corresponding to the number of the pressure rods 5. The solenoid system is suitable when the pitch interval of the holes is about 5 mm or more.
触圧棒5は、検査面へ接触するとき、その接圧が約30g〜250gとなるように設定される。被検査試料(タッチパネル)の検査面とプレート板2の表面とは密着し検査時に離れないように固定すべきである。被検査試料とプレート板との固定化手段は後で説明する。
1個の触圧棒が検査面に押圧した時の接触時間は、約0.1秒であれば充分である。従って本発明の装置において、1列が10個の触圧棒配列の場合、1列の検査に要する時間は約1秒である。図1のように6段に配列した場合60個の触圧棒を連続して作動させると約6秒で全面を検査できることになる。仮に100個の触圧棒を設置した場合、約10秒で検査をすることができる。従って本発明の検査・評価装置を使用して、タッチパネルの製品の適否を判別するには、装置の入れ換え時間が30秒であるとすれば、約40秒〜約50秒で検査が終了することになる。かくして本発明の検査・評価装置は、製品の機能が適格に作動するか否かの判別には極めて短時間で完了することになる。また、耐久性を調べる場合でも短時間で検査をすることが可能となる。
The contact pressure bar 5 is set so that the contact pressure is about 30 to 250 g when contacting the inspection surface. The inspection surface of the sample to be inspected (touch panel) and the surface of the plate plate 2 should be in close contact and fixed so as not to be separated during inspection. The means for immobilizing the sample to be inspected and the plate will be described later.
The contact time when one contact pressure bar is pressed against the inspection surface is sufficient if it is about 0.1 seconds. Therefore, in the apparatus of the present invention, when one row has ten contact rod arrays, the time required for one row inspection is about 1 second. As shown in FIG. 1, when sixty contact rods are continuously operated, the entire surface can be inspected in about 6 seconds. If 100 contact rods are installed, the inspection can be performed in about 10 seconds. Therefore, in order to determine the suitability of a touch panel product using the inspection / evaluation apparatus of the present invention, if the replacement time of the apparatus is 30 seconds, the inspection will be completed in about 40 seconds to about 50 seconds. become. Thus, the inspection / evaluation apparatus of the present invention can be completed in a very short time to determine whether the function of the product operates properly. Further, even when examining durability, it is possible to perform inspection in a short time.
図3は、被検査試料(タッチパネル)を、検査・評価装置に配置した状態における断面図を示す。支持基盤1上に触圧棒多段配列9が固定して載置されている。この触圧棒多段配列9はその上面にプレート板2が固定化されている。図3には、触圧棒多段配列9における触圧棒およびプレート板2における孔は、図面上省略されている。触圧棒は、プレート板の孔を通して、その先端が被検査試料の検査面へ押圧されるようになっている。プレート板の上面には、被検査試料がその検査面が密着した状態で重ねられている。
被検査試料8は、支持基盤1上に設けられたガイド枠10内に収納される状態で、定位置に固定化される。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which a sample to be inspected (touch panel) is arranged in an inspection / evaluation apparatus. A contact rod multi-stage array 9 is fixedly placed on the support base 1. The plate 2 is fixed to the upper surface of the contact rod multi-stage array 9. In FIG. 3, the contact rods in the contact rod multi-stage array 9 and the holes in the plate plate 2 are omitted in the drawing. The front end of the contact rod is pressed against the inspection surface of the sample to be inspected through the hole of the plate plate. A sample to be inspected is overlaid on the upper surface of the plate plate in a state where the inspection surface is in close contact therewith.
The specimen 8 to be inspected is fixed at a fixed position while being stored in a guide frame 10 provided on the support base 1.
図3は、検査・評価装置に、被検査試料8が配置されている状態を示し、被検査試料8は、検査面とプレート板が密着した状態で水平に設置されている。
本発明の方法で使用する検査・評価装置は、図3に示すように、被検査試料が固定して設置されると、電気的に可動する部分は触圧棒の上下運動のみであり、触圧棒多段配列9や被検査試料8は固定されたままである。検査・評価のために、触圧棒が上下に作動するので被検査試料8は上下に動かないように固定されているが、図3にはその固定手段は図示されていない。この固定手段は被検査試料8がそれ自体上下に動かない手段であればよく、図3の被検査試料の上から加重を加えておくなどの方法であってもよい。
FIG. 3 shows a state in which the sample 8 to be inspected is arranged in the inspection / evaluation apparatus, and the sample 8 to be inspected is installed horizontally with the inspection surface and the plate plate in close contact with each other.
As shown in FIG. 3, the inspection / evaluation apparatus used in the method of the present invention is such that when the sample to be inspected is fixed and installed, the electrically movable part is only the vertical movement of the pressure bar. The pressure rod multi-stage array 9 and the sample 8 to be inspected remain fixed. For inspection / evaluation, the contact rod moves up and down so that the sample 8 to be inspected is fixed so as not to move up and down, but the fixing means is not shown in FIG. The fixing means may be any means as long as the sample 8 to be inspected itself does not move up and down, and may be a method of applying a weight from above the sample to be inspected in FIG.
図2は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。図2では隣り合う2つの触圧棒配列とプレート板との位置関係が示されている。図2の触圧棒配列においては触圧棒の上下運動にソレノイド方式(電磁式)を使用した例が示されている。各触圧棒は、それぞれのソレノイドにより電磁的に上下する。触圧棒の上端部はプレート板が配置されそのプレート板の孔を通して触圧棒がプレート板の上面へ突出し、被検査試料の検査面を押圧する構造となっている。前述したように、試料の検査面はプレート板の上面と密接して設置されるが、図2では被検査試料は示されていない。 FIG. 2 shows an enlarged partial cross-sectional view of the contact rod arrangement. FIG. 2 shows a positional relationship between two adjacent contact rod arrangements and plate plates. In the contact rod arrangement of FIG. 2, an example is shown in which a solenoid system (electromagnetic system) is used for the vertical motion of the contact rod. Each contact rod is moved up and down electromagnetically by a respective solenoid. A plate plate is disposed at the upper end of the contact rod, and the contact rod protrudes to the upper surface of the plate plate through a hole in the plate plate to press the inspection surface of the sample to be inspected. As described above, the inspection surface of the sample is placed in close contact with the upper surface of the plate plate, but FIG. 2 does not show the inspection sample.
本発明の検査・評価装置を用いて、被検査試料(タッチパネル)を試験するに当たっては、プレート板2に設けられた孔の位置に対応してX軸およびY軸に基づいて、触圧棒を一端部から他端部へ、また一段目から多段へ連続的に押圧し、得られたX軸およびY軸の結果の差をコンピューターによって算出し、所定の基準値を基に整合性を判別することによって、リニアリティーの適否を評価することができる。
本発明の方法において使用する検査・評価装置は、下記(B−1)〜(B−7)の態様であることが好ましい。
(B−1)前記触圧棒多段配列は、被検査試料の検査面のほぼ全面を覆っていること、
(B−2)前記触圧棒配列は、各触圧棒が一定の間隔で配置されていること
(B−3)前記触圧棒多段配列は、各触圧棒配列が一定の間隔で配置されていること、
(B−4)各触圧棒は、各触圧棒配列において、一端から他端へ順次突出すように制御されていること、
(B−5)各触圧棒配列において、各触圧棒はソレノイド方式により上下に作動すること、
(B−6)各触圧棒配列において、触圧棒はピエゾ素子方式により上下に作動すること、
(B−7)各触圧棒配列において、各触圧棒は、3〜15mmの間隔で配置されていること、
When testing a sample to be inspected (touch panel) using the inspection / evaluation apparatus of the present invention, a contact rod is used based on the X-axis and Y-axis corresponding to the position of the hole provided in the plate plate 2. Pressing continuously from one end to the other and from the first stage to multiple stages, the difference between the obtained X-axis and Y-axis results is calculated by a computer, and consistency is determined based on a predetermined reference value Thus, the suitability of linearity can be evaluated.
The inspection / evaluation apparatus used in the method of the present invention preferably has the following aspects (B-1) to (B-7).
(B-1) The contact rod multi-stage array covers substantially the entire inspection surface of the sample to be inspected,
(B-2) In the contact rod arrangement, the contact rods are arranged at regular intervals. (B-3) In the contact rod multistage arrangement, the contact rod arrangements are arranged at regular intervals. is being done,
(B-4) Each contact rod is controlled to sequentially protrude from one end to the other end in each contact rod arrangement,
(B-5) In each contact rod arrangement, each contact rod is operated up and down by a solenoid system.
(B-6) In each contact rod arrangement, the contact rods are operated up and down by a piezo element method.
(B-7) In each contact rod arrangement, each contact rod is arranged at an interval of 3 to 15 mm,
図4は支持基盤1上に被検査試料8を設置した状態を上から見た平面図を示す。支持基盤1の上に設けられたガイド枠10内に被検査試料8が収納されている。この図4においてガイド枠10はコ字型を示しているがL字型であってもよい。好ましいガイド枠はコ字型である。図4において被検査試料8は検査のためにコ字型のガイド枠10の開放された下部から挿入される。挿入されると、被検査試料(タッチパネル)8の端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)の先端部12は、コネクター11に電気的に接続される。このコネクター11は電気的に判断手段(図示されていない)に接続されている。支持基盤1上に設けられたガイド枠10は被検査試料8を触圧棒配列4上の定位置に固定されること並びに被検査試料8の端部にあるFPCの先端部12の位置が適確にコネクター11と電気的に接触する位置に設置することのために重要な役割を果たす。 FIG. 4 shows a plan view of the state in which the sample 8 to be inspected is placed on the support base 1 as viewed from above. A sample 8 to be inspected is accommodated in a guide frame 10 provided on the support base 1. In FIG. 4, the guide frame 10 is U-shaped, but it may be L-shaped. A preferred guide frame is U-shaped. In FIG. 4, a sample 8 to be inspected is inserted from the open lower portion of the U-shaped guide frame 10 for inspection. When inserted, the tip 12 of the flexible circuit terminal (FPC) at the end of the sample to be inspected (touch panel) 8 is electrically connected to the connector 11. This connector 11 is electrically connected to determination means (not shown). The guide frame 10 provided on the support base 1 fixes the sample 8 to be inspected to a fixed position on the contact rod array 4 and the position of the front end portion 12 of the FPC at the end of the sample 8 to be inspected is appropriate. It plays an important role for installation in a position that is in electrical contact with the connector 11.
本発明の方法を実施するに当たっては、下記(1)〜(7)の手順より行われる。
(1)検査・評価装置に被検査試料(タッチパネル)を装着する。この際、検査・評価装置の支持基盤1上に、ガイド枠10を設け、このガイド枠10内にタッチパネルを収納させることが望ましい。
(2)タッチパネル8の端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)の先端部12を判断手段に電気的に接続するコネクター11に接続させる。このFPCの先端部12とコネクター11が所定の位置に位置づけされるように、両者の位置を正確に位置決めし、電気的に回路が接続されるようにすることが肝要である。
(3)FPCの先端部12とコネクター11との接続が完了すると、検査支持基盤1上に配置された触圧棒多段配列における触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させる。
(4)各触圧棒の接触位置と検査結果とを判断手段で判定する。
(5)判断手段で判定が終了すると、タッチパネル8の端部にあるFPCの先端部12と、判断手段に電気的に接続するコネクター11との接続を解除する。
(6)次いで検査基盤1上に配置された触圧棒を突出して検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させる。
(7)かくして形成された隙間を利用して検査支持基盤からタッチパネルを取り出す。
前記(6)および(7)の手順について、より具体的に説明する。検査支持基盤1上に装置されたタッチパネル8は、図3に示すようにタッチパネル8の検査面は、触圧棒多段配列の上にプレート板2を介して密着した状態で接触している。前記手段(4)および(5)を終わって検査・評価が完了すると、タッチパネル8は支持基盤上のプレート板2に密着しており、隙間が全くないためにタッチパネル8を支持基盤から素早く取り出すことは簡単ではない。
In carrying out the method of the present invention, the following procedures (1) to (7) are performed.
(1) A sample to be inspected (touch panel) is mounted on the inspection / evaluation apparatus. At this time, it is desirable to provide a guide frame 10 on the support base 1 of the inspection / evaluation apparatus, and store the touch panel in the guide frame 10.
(2) The tip 12 of the flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel 8 is connected to the connector 11 that is electrically connected to the determination means. It is important that the FPC tip 12 and the connector 11 are positioned at predetermined positions so that the positions of both are accurately positioned and the circuit is electrically connected.
(3) When the connection between the distal end portion 12 of the FPC and the connector 11 is completed, the contact rods in the contact rod multi-stage arrangement arranged on the inspection support base 1 are spotted on the inspection surface of the touch panel at a predetermined interval.
(4) The contact position of each contact pressure bar and the inspection result are determined by the determination means.
(5) When the determination is completed by the determination means, the connection between the front end portion 12 of the FPC at the end of the touch panel 8 and the connector 11 electrically connected to the determination means is released.
(6) Next, the contact rod arranged on the inspection substrate 1 is protruded to form a gap between the inspection support substrate surface and the touch panel inspection surface.
(7) The touch panel is taken out from the inspection support base using the gap thus formed.
The procedures (6) and (7) will be described more specifically. As shown in FIG. 3, the touch panel 8 installed on the test support base 1 is in contact with the test surface of the touch panel 8 in close contact via the plate plate 2 on the contact rod multi-stage array. When the inspection and evaluation are completed after the means (4) and (5) are completed, the touch panel 8 is in close contact with the plate 2 on the support base, and since there is no gap, the touch panel 8 is quickly removed from the support base. Is not easy.
そこで本発明では、検査・評価装置が支持基盤1上に、触圧棒多段配列9を有している構造であることに着眼し、検査・評価のための触圧棒の打点が終了し、判断が終了した後、再び触圧棒を作動し、突出させると、触圧棒が突出し棒として機能し、タッチパネルが押上げられ、タッチパネルの検査面とプレート板との間に隙間が生じ、この隙間を利用してタッチパネルを支持基盤から簡単に素早く取り出すことが可能となった。
触圧棒によって形成される隙間の幅は1〜3mm好ましくは1.5〜2.5mm程度であればよい。
またタッチパネルの検査面とプレート板との間の隙間の形成は、タッチパネルの検査面の全体であってもよいが必ずしもその必要はない。例えば:タッチパネルの片方の辺(図4で示すとタッチパネル8の下部の辺や図1で示すと触圧棒多段配列の下段の配列に対向するタッチパネルの辺)に隙間が形成されていてもよい。この場合、タッチパネル8の検査面の片方の辺(図4では下部)に隙間が形成され、この隙間を利用してタッチパネルを手で簡単に取り出すことが可能となる。
Therefore, in the present invention, attention is paid to the fact that the inspection / evaluation apparatus has a structure having the multi-stage contact rods 9 on the support base 1, and the hitting points of the contact rods for inspection / evaluation are completed. After the judgment is completed, when the pressure bar is operated again and protruded, the pressure bar functions as a protruding bar, the touch panel is pushed up, and a gap is created between the inspection surface of the touch panel and the plate plate. Using the gap, the touch panel can be easily and quickly removed from the support base.
The width of the gap formed by the contact rod may be about 1 to 3 mm, preferably about 1.5 to 2.5 mm.
The formation of the gap between the inspection surface of the touch panel and the plate plate may be the entire inspection surface of the touch panel, but it is not always necessary. For example: a gap may be formed on one side of the touch panel (the lower side of the touch panel 8 as shown in FIG. 4 or the lower side of the touch panel as shown in FIG. 1 facing the lower arrangement of the contact pressure bars). . In this case, a gap is formed on one side (lower part in FIG. 4) of the inspection surface of the touch panel 8, and the touch panel can be easily taken out by hand using this gap.
タッチパネルを押上げて隙間を形成させるための触圧棒は、検査・評価のための触圧棒の一部または全部であってよいし、一部の場合、一配列(殊に片方の下部の辺の一配列)であってもよい。
さらに、タッチパネルを押上げるための触圧棒は、検査・評価のために使用される触圧棒である必要はなく、押上げるために別個に設けた触圧棒(突上げ棒)であってもよい。すなわち、触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒(突上げ棒)を所定の位置(好ましくはタッチパネルの片方の下辺;図4では下部)に設置することができる。
The pressure bar for pushing up the touch panel to form a gap may be a part or all of the pressure bar for inspection / evaluation. An array of sides).
Furthermore, the pressure bar for pushing up the touch panel does not need to be a pressure bar used for inspection and evaluation, and is a pressure bar (push-up bar) provided separately for pushing up. Also good. That is, the contact rod (push-up rod) provided separately from the contact rod multi-stage array provided separately from the contact rod multi-stage array is in a predetermined position (preferably one lower side of the touch panel; lower part in FIG. 4). Can be installed.
この際、当然のことながら、プレート板には、この別個の触圧棒の先端部が突出るように孔を設けておくことが必要である。この別個に押上げ用の触圧棒を設けることによって、隙間を充分な間隔で形成させることが容易となる。
タッチパネルの検査面とプレート板との隙間を形成するために、触圧棒(或いは突上げ棒)の作動は、前記手段(5)において、FPCの先端部とコネクターと接続を解除した後に実施することができるが、手順(5)において前記接続を解除すると同時に、自動的に触圧棒(突上げ棒)を作動させることもできる。このように自動的に作動させることにより、タッチパネルの取り出すために要する時間を一層短縮することが可能となる。
In this case, as a matter of course, it is necessary to provide a hole in the plate plate so that the tip of the separate contact rod protrudes. By separately providing the pressure rod for pushing up, it becomes easy to form the gap at a sufficient interval.
In order to form a gap between the inspection surface of the touch panel and the plate plate, the operation of the contact rod (or push-up rod) is carried out after releasing the connection between the FPC tip and the connector in the means (5). However, it is also possible to automatically operate the contact rod (push-up rod) simultaneously with releasing the connection in the procedure (5). By automatically operating in this way, it is possible to further reduce the time required for taking out the touch panel.
1 支持基盤
2 プレート板
3 孔
4 触圧棒配列
5 触圧棒
6 ソレノイド
7 ソレノイド支持体
8 被検査試料
9 触圧棒多段配列
10 ガイド枠
11 コネクター
12 フレキシブル回路端子の先端部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support base | plate 2 Plate board 3 Hole 4 Contact rod arrangement | sequence 5 Contact rod 6 Solenoid 7 Solenoid support body 8 Sample to be inspected 9 Contact rod multi-stage arrangement | sequence 10 Guide frame 11 Connector 12 The front-end | tip part of a flexible circuit terminal
Claims (1)
(a)検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
(b)各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
(c)被検査試料(タッチパネル)の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
(d)各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
(e)各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置を使用して、
タッチパネルを検査・評価する方法であって、
(1)前記装置にタッチパネルを装着し、
(2)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子(FPC)を判断手段に電気的に接続するコネクターに接続させ、
(3)検査支持基盤上に配置された触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させ、
(4)各触圧棒の接触位置と検査結果を判断手段で判定し、
(5)タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子と判断手段に電気的に接続するコネクターとの接続を解除し、
(6)次いで検査支持基盤上に配置された触圧棒を突出しして検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させ、
(7)かくして形成された隙間を利用してタッチパネルを検査支持基盤から取り出す
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価方法。
Requirements (a) to (e) below (a) A contact rod array in which a large number of contact rods are linearly arranged in a line on the inspection support base, and the contact rod arrays are arranged in multiple stages. It has a multi-stage contact rod,
(B) Each contact rod is installed on the support base so as to protrude upward from below to the inspection surface through a hole in the plate plate, which is installed at the top of the contact rod multi-stage array,
(C) having a sample arrangement means that can be arranged so that the inspection surface of the sample to be inspected (touch panel) is directed downward and in contact with the contact rod;
(D) High speed inspection of a resistive touch panel having control means that each contact pressure bar hits at a predetermined interval and (e) determination means for determining the contact pressure position and the inspection result of each contact pressure bar・ Using the evaluation device,
A method for inspecting and evaluating a touch panel,
(1) A touch panel is attached to the device,
(2) The flexible circuit terminal (FPC) at the end of the touch panel is connected to a connector that is electrically connected to the determination means,
(3) Touching the pressure bar placed on the inspection support base on the inspection surface of the touch panel at a predetermined interval,
(4) The contact position of each contact rod and the inspection result are determined by the determination means,
(5) Release the connection between the flexible circuit terminal at the end of the touch panel and the connector electrically connected to the judging means,
(6) Next, the contact rod arranged on the inspection support base is projected to form a gap between the inspection support base surface and the touch panel inspection surface,
(7) A high-speed inspection / evaluation method for a resistive touch panel, wherein the touch panel is taken out from the inspection support base using the gap formed in this way.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010157854A JP5474688B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010157854A JP5474688B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012022382A JP2012022382A (en) | 2012-02-02 |
| JP5474688B2 true JP5474688B2 (en) | 2014-04-16 |
Family
ID=45776653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010157854A Expired - Fee Related JP5474688B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5474688B2 (en) |
-
2010
- 2010-07-12 JP JP2010157854A patent/JP5474688B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012022382A (en) | 2012-02-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4932871B2 (en) | Electrical contact element for forming a contact with an object to be inspected by a contact method, and the contact arrangement | |
| CN105247373B (en) | For detecting the display panel testing and its method of AMOLED panel | |
| JP2008243860A5 (en) | ||
| TWI591347B (en) | A probe unit, a substrate inspection apparatus, and a probe unit manufacturing method | |
| JP2007324340A5 (en) | ||
| CN101071140A (en) | Probe, testing head having a plurality of probes, and circuit board tester having the testing head | |
| JP2009162483A (en) | Electrical connection device | |
| KR20160126395A (en) | Probe Card with Wire Probes | |
| CN104937424A (en) | Probe unit, substrate inspection device, and method for assembling probe unit | |
| CN107656107B (en) | Probe module with cantilever type micro-electromechanical probe and manufacturing method thereof | |
| US20080048685A1 (en) | Probe card having vertical probes | |
| CN101281212B (en) | Assembled probe body | |
| JP5474688B2 (en) | High-speed inspection and evaluation methods for resistive touch panels | |
| KR101478714B1 (en) | Probe and electrical connection device | |
| JP5734783B2 (en) | Capacitive touch panel inspection / evaluation equipment | |
| JP5474467B2 (en) | Resistive touch panel inspection / evaluation equipment | |
| JP5523974B2 (en) | Resistive touch panel high-speed inspection and evaluation equipment | |
| JP2018004341A (en) | Hitting dot testing device, and hitting dot testing method | |
| CN102680752A (en) | Electric testing jig for flexible circuit board | |
| JP6576176B2 (en) | Probe unit and board inspection device | |
| JP5896878B2 (en) | Evaluation apparatus and evaluation method | |
| CN223526109U (en) | Performance test device for processing new energy automobile bearing | |
| CN201352221Y (en) | Array type lug for detection | |
| JP4678987B2 (en) | Circuit board suction device and circuit board inspection device | |
| JP2015145861A (en) | Circuit board inspection device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130703 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131212 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140128 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140205 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5474688 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |