Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP5477236B2 - X-ray equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP5477236B2 - X-ray equipment - Google Patents

X-ray equipment Download PDF

Info

Publication number
JP5477236B2
JP5477236B2 JP2010199886A JP2010199886A JP5477236B2 JP 5477236 B2 JP5477236 B2 JP 5477236B2 JP 2010199886 A JP2010199886 A JP 2010199886A JP 2010199886 A JP2010199886 A JP 2010199886A JP 5477236 B2 JP5477236 B2 JP 5477236B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
field lamp
illumination field
ray
lighting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010199886A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012055421A (en
Inventor
雅大 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2010199886A priority Critical patent/JP5477236B2/en
Publication of JP2012055421A publication Critical patent/JP2012055421A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5477236B2 publication Critical patent/JP5477236B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

この発明は、被検体に向けてX線を照射するX線管と、このX線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するフラットパネルディテクタ等のX線検出部と、X線管と被検体との間に配設されX線管から被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構とを備えたX線撮影装置に関する。   The present invention relates to an X-ray tube that irradiates a subject with X-rays, an X-ray detector such as a flat panel detector that detects X-rays emitted from the X-ray tube and passed through the subject, and an X-ray The present invention relates to an X-ray imaging apparatus including a collimator mechanism that is disposed between a tube and a subject and adjusts an X-ray irradiation field irradiated from the X-ray tube toward the subject.

このようなX線撮影装置において、コリメータ機構を利用してX線管から被検体である患者に向けて照射されるX線照射野を調整するときには、コリメータ機構に対し患者とは逆側に配設された照視野ランプを点灯させることにより光照射野を形成し、この光照射野によりコリメータ機構により調整されたX線照射野を視認するようにしている。   In such an X-ray imaging apparatus, when adjusting the X-ray field irradiated from the X-ray tube toward the subject patient using the collimator mechanism, the collimator mechanism is arranged on the side opposite to the patient. A light irradiation field is formed by turning on the illumination field lamp provided, and the X-ray irradiation field adjusted by the collimator mechanism is visually recognized by this light irradiation field.

このような従来のX線撮影装置においては、照視野ランプの点灯スイッチを押した場合には、一定時間だけ照視野ランプが点灯する構成が採用されている。また、特許文献1には、照視野の調整作業が終了したことを検出して、その一定時間後に照視野ランプを消灯するようにしたX線撮影装置が開示されている。   In such a conventional X-ray imaging apparatus, when the lighting switch of the illumination field lamp is pressed, the illumination field lamp is lit only for a certain time. Further, Patent Document 1 discloses an X-ray imaging apparatus that detects the completion of the illumination field adjustment operation and turns off the illumination field lamp after a certain period of time.

特開2007−15733号公報JP 2007-15733 A

照視野ランプを長時間点灯させると、照視野ランプからの発熱により装置の温度が上昇し、オペレータや患者に火傷等の危険がある。このため、点灯時間が一定以上になったときや、サーモスタット等により装置の温度が一定以上となったことを検出したときには、安全装置が働いて照視野ランプの点灯が禁止される構成となっている。このような構成を採用した場合には、その後X線撮影を継続する場合には、装置の温度が一定以下となったタイミングを見計らって、撮影を再開する必要がある。このとき、装置の温度が一定以下となったか否かを認定することは困難である。また、装置に温度計を付設して装置の温度を測定することも可能ではあるが、装置の製造コストが上昇するという問題がある。   If the illumination field lamp is turned on for a long time, the temperature of the apparatus rises due to heat generated from the illumination field lamp, and there is a risk of burns or the like to the operator or patient. For this reason, when the lighting time exceeds a certain level, or when it is detected that the temperature of the device has exceeded a certain level by a thermostat or the like, the safety device is activated and lighting of the illumination field lamp is prohibited. Yes. In the case of adopting such a configuration, when X-ray imaging is continued thereafter, it is necessary to resume imaging at the timing when the temperature of the apparatus becomes below a certain level. At this time, it is difficult to determine whether or not the temperature of the apparatus has become below a certain level. Although it is possible to attach a thermometer to the apparatus and measure the temperature of the apparatus, there is a problem that the manufacturing cost of the apparatus increases.

この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、装置の製造コストを上昇させることなく、装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を再開することが可能なX線撮影装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and can prevent the temperature of the apparatus from exceeding a certain level without increasing the manufacturing cost of the apparatus, and the temperature of the apparatus can be equal to or less than a certain level. An object of the present invention is to provide an X-ray imaging apparatus capable of resuming X-ray imaging when it becomes.

請求項1に記載の発明は、被検体に向けてX線を照射するX線管と、前記X線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するX線検出部と、前記X線管と前記被検体との間に配設され、前記X線管から前記被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構と、前記コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認可能とするための照射野ランプと、を備えたX線撮影装置において、前記照射野ランプの点灯時間と温度上昇との関係、および、前記照視野ランプの消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶手段と、前記照射野ランプの点灯時間および消灯時間と前記温度昇降データとから、現在の照視野ランプの温度を演算する疑似温度カウンターと、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに前記照視野ランプの点灯を禁止するとともに、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部とを備えたことを特徴とする。   The invention according to claim 1 is an X-ray tube that irradiates a subject with X-rays, an X-ray detection unit that detects X-rays emitted from the X-ray tube and passed through the subject, and the X-rays A collimator mechanism that is disposed between the X-ray tube and the subject and adjusts an X-ray irradiation field irradiated from the X-ray tube toward the subject; and an X-ray irradiation field adjusted by the collimator mechanism In an X-ray imaging apparatus provided with an irradiation field lamp for enabling visual recognition, a relationship between a lighting time of the irradiation field lamp and a temperature increase, and a relationship between a lighting time of the illumination field lamp and a temperature decrease A storage means for storing temperature rise and fall data indicating, a pseudo temperature counter for calculating the current illumination lamp temperature from the lighting time and extinguishing time of the irradiation field lamp and the temperature rise and fall data, and the pseudo temperature counter Calculated lighting The lighting of the illumination field lamp is prohibited when the temperature of the field lamp exceeds a set temperature, and the illumination of the illumination field lamp is turned on when the temperature of the illumination field lamp calculated by the pseudo temperature counter is equal to or lower than the set temperature. And a lighting control unit that permits the above.

請求項1に記載の発明によれば、疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに照視野ランプの点灯を禁止するとともに、疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部の作用により、装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を再開することが可能となる。このとき、疑似温度カウンターを利用することから、装置に温度センサを設置する場合に比べ、装置の製造コストの上昇を防止することが可能となる。   According to the first aspect of the present invention, lighting of the illumination field lamp is prohibited when the temperature of the illumination field lamp calculated by the pseudo temperature counter exceeds the set temperature, and the illumination field lamp calculated by the pseudo temperature counter The temperature of the device can be prevented from becoming higher than a certain level by the action of the lighting control unit that permits the lighting of the illumination field lamp when the temperature is lower than the set temperature, and the temperature of the device is below a certain level. Then, X-ray imaging can be resumed. At this time, since the pseudo temperature counter is used, it is possible to prevent an increase in the manufacturing cost of the device as compared with the case where a temperature sensor is installed in the device.

この発明に係るX線撮影装置の概要図である。1 is a schematic diagram of an X-ray imaging apparatus according to the present invention. この発明に係るX線撮影装置におけるX線照射部3等の要部を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows principal parts, such as the X-ray irradiation part 3, etc. in the X-ray imaging apparatus which concerns on this invention. 制御部41におけるこの発明を実行するための主要な電気的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the main electric structures for implementing this invention in the control part. 記憶部44に記憶された温度昇降データを示すグラフである。3 is a graph showing temperature rise / fall data stored in a storage unit 44. 疑似温度カウンター45により演算された現在の照視野ランプ24の温度(疑似温度)を示すグラフである。It is a graph which shows the temperature (pseudo temperature) of the present illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45. FIG.

以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係るX線撮影装置の概要図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram of an X-ray imaging apparatus according to the present invention.

このX線撮影装置は、被検体である患者1を載置するテーブル2と、患者1に向けてX線を照射するX線管7を備えたX線照射部3と、X線検出部としてのフラットパネルディテクタ4と、複数の可動絞り6を備えるコリメータ機構とを備える。X線管7から照射されたX線は、患者1を透過してフラットパネルディテクタ4に入射する。フラットパネルディテクタ4は、入射したX線に対応した画像信号を出力する。   The X-ray imaging apparatus includes a table 2 on which a patient 1 as a subject is placed, an X-ray irradiation unit 3 including an X-ray tube 7 that emits X-rays toward the patient 1, and an X-ray detection unit. Flat panel detector 4 and a collimator mechanism including a plurality of movable diaphragms 6. X-rays irradiated from the X-ray tube 7 pass through the patient 1 and enter the flat panel detector 4. The flat panel detector 4 outputs an image signal corresponding to the incident X-ray.

なお、コリメータ機構は、矩形状の領域を形成するための4枚の可動絞り6を備える。X線撮影を行うときには、後述する照視野ランプ24を点灯した状態で、図示しない駆動モータの駆動で可動絞り6を各々移動させることにより、X線の曝射範囲を設定する。そして、この状態でX線管7からX線を照射することにより、4枚の可動絞り6により規定された曝射範囲にのみX線が照射される。   The collimator mechanism includes four movable diaphragms 6 for forming a rectangular region. When X-ray imaging is performed, an X-ray exposure range is set by moving the movable diaphragm 6 by driving a driving motor (not shown) in a state where an illumination field lamp 24 described later is turned on. In this state, by irradiating X-rays from the X-ray tube 7, X-rays are irradiated only to the exposure range defined by the four movable diaphragms 6.

図2は、この発明に係るX線撮影装置におけるX線照射部3等の要部を示す概要図である。   FIG. 2 is a schematic diagram showing the main parts of the X-ray irradiation unit 3 and the like in the X-ray imaging apparatus according to the present invention.

このX線照射部3は、複数種の付加フィルターが配設された回転板11と、この回転板11を回転させるモータ12とを備えた付加フィルター移動機構を有する。また、X線照射部3は、コリメータ機構に対し患者1とは逆側に配設され、コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認するための光照射野を形成する、光照射野形成手段としての照視野ランプ24およびミラー25を備える。この照視野ランプ24から照射された光は、ミラー25により反射され、コリメータ機構における複数の可動絞り6によりその照射領域を制限された後に、患者1に照射される。このとき、X線管7からミラー25を透過して患者1に照射されるX線と、照視野ランプ24からミラー25で反射されて患者1に照射される光とは、その光軸が一致しており、また、その焦点も一致している。このため、コリメータ機構により形成されるX線照射野と光照射野は一致する。   The X-ray irradiation unit 3 includes an additional filter moving mechanism including a rotating plate 11 in which a plurality of types of additional filters are disposed, and a motor 12 that rotates the rotating plate 11. The X-ray irradiation unit 3 is disposed on the side opposite to the patient 1 with respect to the collimator mechanism, and forms a light irradiation field for visually recognizing the X-ray irradiation field adjusted by the collimator mechanism. An illumination field lamp 24 and a mirror 25 are provided as means. The light irradiated from the illumination field lamp 24 is reflected by the mirror 25 and is irradiated to the patient 1 after the irradiation area is limited by the plurality of movable diaphragms 6 in the collimator mechanism. At this time, the X-rays transmitted from the X-ray tube 7 through the mirror 25 to the patient 1 and the light reflected from the illumination field lamp 24 by the mirror 25 and applied to the patient 1 have the same optical axis. And the focus is consistent. For this reason, the X-ray irradiation field and the light irradiation field formed by the collimator mechanism coincide.

回転板11を回転させるモータ12と照視野ランプ24とは、制御部41に連結されており、この制御部41により制御される。すなわち、この制御部41は、回転板11を回転させるモータ12を制御して、回転板11を回転させる。また、この制御部41は、照視野ランプ24の点灯状態を制御する。この制御部41には、オペレータが各種の情報を入力するための操作部42と、各種の情報を表示するための表示部43とが接続されている。   The motor 12 that rotates the rotating plate 11 and the illumination field lamp 24 are connected to the control unit 41 and controlled by the control unit 41. That is, the control unit 41 controls the motor 12 that rotates the rotating plate 11 to rotate the rotating plate 11. The control unit 41 controls the lighting state of the illumination field lamp 24. The control unit 41 is connected to an operation unit 42 for an operator to input various types of information and a display unit 43 for displaying various types of information.

図3は、制御部41におけるこの発明を実行するための主要な電気的構成を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram showing a main electrical configuration for carrying out the present invention in the control unit 41.

この制御部41は、照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係、および、照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶部44と、照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間と記憶部44に記憶した温度昇降データとから、現在の照視野ランプ24の温度を演算する疑似温度カウンター45と、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が設定温度を超えたときに照視野ランプ24の点灯を禁止するとともに、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が設定温度以下となったときに照視野ランプ24の点灯を許可する点灯制御部46とを備える。   The control unit 41 includes a storage unit 44 for storing temperature rise / fall data indicating the relationship between the lighting time of the irradiation field lamp 24 and the temperature rise, and the relationship between the turn-off time of the illumination field lamp 24 and the temperature drop, and an irradiation field. A pseudo temperature counter 45 for calculating the current temperature of the illumination field lamp 24 from the lighting time and extinguishing time of the lamp 24 and the temperature rise / fall data stored in the storage unit 44, and the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45. When the temperature exceeds the set temperature, the lighting of the illumination field lamp 24 is prohibited, and the illumination of the illumination field lamp 24 is permitted when the temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 falls below the set temperature. And a lighting control unit 46.

図4は、記憶部44に記憶された温度昇降データを示すグラフである。   FIG. 4 is a graph showing temperature increase / decrease data stored in the storage unit 44.

図4において実線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係は、照視野ランプ24を一定時間点灯させ、そのときの照視野ランプ24の温度を温度計で実際に測定することにより求められる。また、図4において破線で示す照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係は、一定温度まで上昇した照視野ランプ24を消灯し、そのときの照視野ランプ24の温度を温度計で実際に測定することにより求められる。これらの記憶部44に記憶された照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係、および、照視野ランプ24の消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データは、記憶部44に記憶される。   The relationship between the lighting time of the irradiation field lamp 24 and the temperature rise shown by the solid line in FIG. 4 is that the illumination field lamp 24 is lit for a certain period of time and the temperature of the illumination field lamp 24 at that time is actually measured with a thermometer. Desired. Further, the relationship between the turn-off time of the illumination field lamp 24 and the temperature drop indicated by the broken line in FIG. 4 is that the illumination field lamp 24 that has risen to a certain temperature is turned off, and the temperature of the illumination field lamp 24 at that time is It is calculated | required by measuring to. The temperature increase / decrease data indicating the relationship between the lighting time of the irradiation field lamp 24 and the temperature rise and the relationship between the turn-off time of the illumination field lamp 24 and the temperature drop stored in the storage unit 44 are stored in the storage unit 44. Is done.

以上のような構成を有するX線撮影装置によりX線撮影を行う場合において、光照射野を利用してX線照射野を確認するために照視野ランプ24を点灯させたときには、照射野ランプ24の温度が上昇する。疑似温度カウンター45は、このときの照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間と記憶部44に記憶した温度昇降データとから、現在の照視野ランプ24の温度を演算する。   When X-ray imaging is performed by the X-ray imaging apparatus having the above-described configuration, when the illumination field lamp 24 is turned on to check the X-ray irradiation field using the light irradiation field, the irradiation field lamp 24 is turned on. Temperature rises. The pseudo temperature counter 45 calculates the current temperature of the illumination field lamp 24 from the lighting time and extinguishing time of the irradiation field lamp 24 at this time and the temperature rise / fall data stored in the storage unit 44.

図5は、疑似温度カウンター45により演算された現在の照視野ランプ24の温度(疑似温度)を示すグラフである。   FIG. 5 is a graph showing the current temperature (pseudo temperature) of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45.

疑似温度カウンター45は、記憶部44に記憶した温度昇降データを利用し、照射野ランプ24の点灯時間および消灯時間に基づいて現在の照視野ランプ24の温度を演算する。すなわち、照視野ランプ24が点灯しているときには、図4において実線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度上昇との関係を利用して、疑似温度を上昇させる。一方、照視野ランプ24が消灯しているときには、図4において破線で示す照射野ランプ24の点灯時間と温度降下との関係を利用して、疑似温度を降下させる。これにより、図5において実線で示すように、照視野ランプ24の温度変化が疑似温度として常に観察されることになる。   The pseudo temperature counter 45 uses the temperature increase / decrease data stored in the storage unit 44 and calculates the current temperature of the illumination field lamp 24 based on the lighting time and extinguishing time of the irradiation field lamp 24. That is, when the illumination field lamp 24 is lit, the pseudo temperature is raised using the relationship between the lighting time of the irradiation field lamp 24 and the temperature rise shown by the solid line in FIG. On the other hand, when the illumination field lamp 24 is turned off, the pseudo temperature is lowered by utilizing the relationship between the lighting time of the irradiation field lamp 24 and the temperature drop shown by the broken line in FIG. Thereby, as shown by the solid line in FIG. 5, the temperature change of the illumination field lamp 24 is always observed as a pseudo temperature.

照視野ランプ24を連続して点灯し、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の疑似温度が第1の設定温度T1を越えたときには、点灯制御部46が照視野ランプの点灯を禁止する。そして、疑似温度カウンター45は、照視野ランプ24の消灯による照視野ランプ24の温度低下を常に演算して監視する。点灯制御部46は、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第2の設定温度T2以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する。これにより、再度、照視野ランプ24を点灯してX線照射野を確認することが可能となる。なお、照視野ランプ24の点灯の禁止および許可の状態は表示部43に表示され、オペレータが常に確認することが可能となっている。   When the illumination field lamp 24 is lit continuously and the pseudo temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 exceeds the first set temperature T1, the lighting control unit 46 prohibits the illumination field lamp from being lit. . The pseudo temperature counter 45 constantly calculates and monitors the temperature drop of the illumination field lamp 24 due to the illumination field lamp 24 being extinguished. The lighting control unit 46 permits the lighting of the illumination field lamp when the temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 becomes equal to or lower than the second set temperature T2. As a result, the illumination field lamp 24 can be turned on again to check the X-ray irradiation field. Note that the prohibition and permission states of the illumination field lamp 24 are displayed on the display unit 43, and the operator can always check them.

以上のように、この発明に係るX線撮影装置においては、照視野ランプ24の点灯により装置の温度が一定以上となることを防止することができ、また、装置の温度が一定以下となったときにはX線撮影を速やかに再開することが可能となる。また、照視野ランプ24の温度を測定するための温度計を設置する必要がないことから、装置の製造コストの上昇を防止することが可能となる。   As described above, in the X-ray imaging apparatus according to the present invention, it is possible to prevent the temperature of the apparatus from exceeding a certain level due to the lighting of the illumination field lamp 24, and the temperature of the apparatus has become a certain level or less. Sometimes X-ray imaging can be resumed quickly. In addition, since it is not necessary to install a thermometer for measuring the temperature of the illumination field lamp 24, it is possible to prevent an increase in the manufacturing cost of the apparatus.

なお、上述した実施形態においては、照視野ランプ24の点灯を許可するための第2の設定温度T2を、照視野ランプ24の点灯を禁止するための第1の設定温度T1より低い温度に設定している。しかしながら、照視野ランプ24の点灯を禁止するための第1の設定温度T1と、照視野ランプ24の点灯を許可するための第2の設定温度T2とは、必ずしも別の温度とする必要はなく、これらを同じ温度として設定してもよい。但し、これらの設定温度を同じ温度とした場合には、照視野ランプ24の点灯が禁止されて照視野ランプ24の温度が下がった直後に、再度、照視野ランプ24を点灯させた場合、短時間で照視野ランプ24の点灯が再び禁止されることになる。このため、このような場合には、照視野ランプ24の点灯が禁止されてから許可されるまでの間に、一定のタイムラグを設定する等の対応をとることが好ましい。   In the above-described embodiment, the second set temperature T2 for permitting lighting of the illumination field lamp 24 is set to a temperature lower than the first set temperature T1 for prohibiting illumination of the illumination field lamp 24. doing. However, the first set temperature T1 for prohibiting lighting of the illumination field lamp 24 and the second set temperature T2 for permitting lighting of the illumination field lamp 24 do not necessarily have to be different temperatures. These may be set as the same temperature. However, when these set temperatures are set to the same temperature, if the illumination field lamp 24 is turned on again immediately after the illumination field lamp 24 is turned off and the temperature of the illumination field lamp 24 is lowered, the short time is shortened. The lighting of the illumination field lamp 24 is prohibited again with time. Therefore, in such a case, it is preferable to take measures such as setting a certain time lag between the time when the illumination field lamp 24 is turned on and the time when it is permitted.

また、上述した実施形態においては、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1を越えたときに照視野ランプ24の点灯を禁止しているが、これにくわえて、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1に近づいたときに、照視野ランプ24の連続点灯可能時間を短縮するようにしてもよい。すなわち、照視野ランプ24の点灯操作を行ったときに30秒間の連続点灯で照視野ランプが消灯する設定となっていた場合に、疑似温度カウンター45により演算した照視野ランプ24の温度が第1の設定温度T1に近づくに従って、連続点灯時間を25秒または20秒程度に短縮して、照視野ランプ24の温度上昇を緩やかなものとするようにしてもよい。   In the above-described embodiment, the lighting of the illumination field lamp 24 is prohibited when the temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 exceeds the first set temperature T1. Thus, when the temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 approaches the first set temperature T1, the continuous lighting possible time of the illumination field lamp 24 may be shortened. In other words, when the illumination field lamp 24 is turned on, when the illumination field lamp is set to be extinguished by continuous lighting for 30 seconds, the temperature of the illumination field lamp 24 calculated by the pseudo temperature counter 45 is the first temperature. As the temperature approaches the preset temperature T1, the continuous lighting time may be shortened to about 25 seconds or 20 seconds, so that the temperature of the illumination field lamp 24 increases gradually.

1 患者
2 テーブル
3 X線照射部
4 フラットパネルディテクタ
6 可動絞り
7 X線管
11 回転板
12 モータ
24 照視野ランプ
25 ミラー
41 制御部
42 操作部
43 表示部
44 記憶部
45 疑似温度カウンター
46 点灯制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Patient 2 Table 3 X-ray irradiation part 4 Flat panel detector 6 Movable diaphragm 7 X-ray tube 11 Rotating plate 12 Motor 24 Illumination field lamp 25 Mirror 41 Control part 42 Operation part 43 Display part 44 Memory | storage part 45 Pseudo temperature counter 46 Lighting control Part

Claims (1)

被検体に向けてX線を照射するX線管と、
前記X線管から照射され前記被検体を通過したX線を検出するX線検出部と、
前記X線管と前記被検体との間に配設され、前記X線管から前記被検体に向けて照射されるX線照射野を調整するコリメータ機構と、
前記コリメータ機構により調整されたX線照射野を視認可能とするための照射野ランプと、
を備えたX線撮影装置において、
前記照射野ランプの点灯時間と温度上昇との関係、および、前記照視野ランプの消灯時間と温度降下との関係を示す温度昇降データを記憶する記憶手段と、
前記照射野ランプの点灯時間および消灯時間と前記温度昇降データとから、現在の照視野ランプの温度を演算する疑似温度カウンターと、
前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度を超えたときに前記照視野ランプの点灯を禁止するとともに、前記疑似温度カウンターにより演算した照視野ランプの温度が設定温度以下となったときに前記照視野ランプの点灯を許可する点灯制御部と、
を備えたことを特徴とするX線撮影装置。
An X-ray tube that irradiates the subject with X-rays;
An X-ray detector that detects X-rays irradiated from the X-ray tube and passed through the subject;
A collimator mechanism that is disposed between the X-ray tube and the subject and adjusts an X-ray irradiation field irradiated from the X-ray tube toward the subject;
An irradiation field lamp for making the X-ray irradiation field adjusted by the collimator mechanism visible;
In an X-ray imaging apparatus comprising:
Storage means for storing temperature rise / fall data indicating the relationship between the lighting time of the irradiation field lamp and the temperature rise, and the relationship between the turn-off time of the illumination field lamp and the temperature drop;
From the lighting time and extinguishing time of the irradiation field lamp and the temperature rise and fall data, a pseudo temperature counter that calculates the temperature of the current illumination field lamp,
When the temperature of the illumination field lamp calculated by the pseudo temperature counter exceeds a set temperature, the lighting of the illumination field lamp is prohibited, and the temperature of the illumination field lamp calculated by the pseudo temperature counter becomes equal to or lower than the set temperature. A lighting control unit that allows the lighting of the illumination field lamp sometimes,
An X-ray imaging apparatus comprising:
JP2010199886A 2010-09-07 2010-09-07 X-ray equipment Expired - Fee Related JP5477236B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010199886A JP5477236B2 (en) 2010-09-07 2010-09-07 X-ray equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010199886A JP5477236B2 (en) 2010-09-07 2010-09-07 X-ray equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012055421A JP2012055421A (en) 2012-03-22
JP5477236B2 true JP5477236B2 (en) 2014-04-23

Family

ID=46053252

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010199886A Expired - Fee Related JP5477236B2 (en) 2010-09-07 2010-09-07 X-ray equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5477236B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3351179A4 (en) * 2015-09-17 2018-08-29 Shimadzu Corporation Radiography apparatus
JP7329994B2 (en) * 2019-07-05 2023-08-21 富士フイルムヘルスケア株式会社 X-ray diagnostic equipment

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4615798B2 (en) * 2001-12-11 2011-01-19 株式会社島津製作所 X-ray equipment
JP4526958B2 (en) * 2005-01-17 2010-08-18 株式会社日立メディコ X-ray equipment
JP4911958B2 (en) * 2005-12-02 2012-04-04 株式会社日立メディコ X-ray equipment
JP2007151999A (en) * 2005-12-08 2007-06-21 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Medical image generation system and method
JP2008294634A (en) * 2007-05-23 2008-12-04 Canon Electronics Inc Image reader
JP2008305568A (en) * 2007-06-05 2008-12-18 Iwasaki Electric Co Ltd High pressure discharge lamp lighting device, light source device and control method thereof
JP5056628B2 (en) * 2008-07-04 2012-10-24 株式会社島津製作所 Radiation imaging apparatus and control program therefor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012055421A (en) 2012-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100992411B1 (en) Image sensor to determine whether subject is close
AU2014340370B2 (en) Surgical laser treatment temperature monitoring
JP6759195B2 (en) Devices and methods to protect users from blue light radiation
EP3429312A1 (en) Heating device with contactless temperature control
JP2013169332A5 (en) IMAGING DEVICE AND IMAGING DEVICE CONTROL METHOD
JP5477236B2 (en) X-ray equipment
JP4789245B2 (en) X-ray diagnostic imaging equipment
JP2010199728A5 (en)
JP2012010790A5 (en)
JP4532816B2 (en) Light source device for illumination in optical observation device and lamp replacement method for light source
JP6569736B2 (en) Radiation equipment
JP5835026B2 (en) X-ray equipment
US20150241763A1 (en) Image projection apparatus
US20130293847A1 (en) Ophthalmologic apparatus
JP5482585B2 (en) X-ray equipment
JP2007289581A (en) Endoscope light source device
JP2005189217A (en) Spectral characteristic measuring device
JP2009148339A (en) Ultrasonic diagnostic equipment
JP4946270B2 (en) Lighting device, camera system, and camera
JP2005204910A (en) Endoscope device
KR20150005313A (en) Infra-red Laser Device for inspection
JP2008216535A5 (en)
JP6045850B2 (en) Light source device and electronic endoscope system
JP5552257B2 (en) Display device in viewfinder of optical equipment
TW202536371A (en) Infrared ear temperature measurement device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121207

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130312

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130314

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140127

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5477236

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees