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JP5561664B2 - Lift pin mechanism - Google Patents
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Description

本発明は、処理対象基板を処理するに際して、当該処理対象基板をその下側から支持するリフトピン機構に関し、特に液晶ディスプレイ用ガラス基板や半導体ウエハ等の熱処理に用いて好適なリフトピン機構に関する。   The present invention relates to a lift pin mechanism that supports a substrate to be processed from below when processing the substrate to be processed, and more particularly to a lift pin mechanism that is suitable for heat treatment of a glass substrate for a liquid crystal display, a semiconductor wafer, or the like.

液晶ディスプレイ用ガラス基板、フィルム基板、半導体ウエハ等の処理対象基板にあっては、その表面に塗布膜が形成されて乾燥処理が施される。この場合において、処理対象基板は、その熱処理等に際して、下側からリフトピンで支持される。   In the case of a substrate to be processed such as a glass substrate for liquid crystal display, a film substrate, or a semiconductor wafer, a coating film is formed on the surface thereof and subjected to a drying process. In this case, the substrate to be processed is supported by lift pins from the lower side during the heat treatment or the like.

例えば、液晶ディスプレイの製造においては、この液晶ディスプレイを構成するガラス基板に塗布膜が施されて乾燥されるが、この塗布膜の乾燥の際に、リフトピン機構を備えた塗布膜用乾燥炉が用いられる。この塗布膜用乾燥炉内でリフトピンによってガラス基板を支持して高温に加熱することで塗布膜を乾燥させるが、この際に、過熱されたリフトピンが、新たに処理される、冷えたガラス基板の裏面に当接して局部的に加熱することで塗布膜に悪影響を及ぼすことがある。   For example, in the manufacture of a liquid crystal display, a coating film is applied to a glass substrate constituting the liquid crystal display and dried. When drying the coating film, a coating film drying furnace having a lift pin mechanism is used. It is done. In this coating film drying furnace, the glass substrate is supported by the lift pins and heated to high temperature to dry the coating film. At this time, the overheated lift pins are newly processed and the cooled glass substrate is heated. Abutting on the back surface and locally heating may adversely affect the coating film.

このリフトピンの接触で起きる局部的な加熱による塗布膜への悪影響を除くための改良が種々提案されている。この例として、引用文献1がある。   Various improvements have been proposed to eliminate the adverse effects on the coating film due to local heating caused by the contact of the lift pins. An example of this is cited document 1.

この引用文献1に記載の従来の塗布膜用乾燥炉は、図2に示すように、塗布膜用乾燥炉1は、ホットプレートヒータ2と乾燥室3を順次配置して、5段の乾燥室3,3,・・・を形成している。そして、前記乾燥室3の側面には搬送口4が設けられて、この搬送口4を開閉する搬送扉5が設けられている。   As shown in FIG. 2, the conventional coating film drying furnace described in the cited document 1 includes a hot plate heater 2 and a drying chamber 3, which are sequentially arranged in a five-stage drying chamber. 3, 3, ... are formed. A transport port 4 is provided on the side surface of the drying chamber 3, and a transport door 5 for opening and closing the transport port 4 is provided.

前記乾燥室3へのガラス基板6の出し入れは、前工程から送られてくるガラス基板6を受け取った搬送ロボット7により行われる。この搬送ロボット7は各乾燥室3の搬送口4に合わせて上下に移動するとともに、搬送口4より乾燥室3内へ延びるアーム8を備えており、アーム8上にガラス基板6が裁置されて乾燥室3へ搬入される。   The glass substrate 6 is taken in and out of the drying chamber 3 by a transfer robot 7 that has received the glass substrate 6 sent from the previous process. The transfer robot 7 moves up and down according to the transfer port 4 of each drying chamber 3 and includes an arm 8 extending from the transfer port 4 into the drying chamber 3, and the glass substrate 6 is placed on the arm 8. Then, it is carried into the drying chamber 3.

前記ガラス基板6は、矩形状に形成されており、その上面6aに塗布膜9が印刷されている。   The glass substrate 6 is formed in a rectangular shape, and a coating film 9 is printed on the upper surface 6a thereof.

送り手段10は、図3に示すように、乾燥室3の底面である、ホットプレートヒータ2の上面に設けられている。送り手段10は、前記搬送口4から搬入されたガラス基板6の下面と当接して支持する支持ピン11と、移動ピン12とを備えている。この移動ピン12は、移動ピン12の先端12aを支持ピン11の先端11aよりも低い位置と高い位置とに垂直方向へ移動する垂直エアーシリンダー13に取り付けている。また、垂直エアーシリンダー13は水平方向へ移動する水平伸縮機構である水平エアーシリンダー14に取り付けている。   As shown in FIG. 3, the feeding means 10 is provided on the upper surface of the hot plate heater 2, which is the bottom surface of the drying chamber 3. The feeding means 10 includes a support pin 11 that is in contact with and supported by the lower surface of the glass substrate 6 carried in from the transport port 4, and a moving pin 12. The moving pin 12 is attached to a vertical air cylinder 13 that moves the tip 12a of the moving pin 12 vertically to a position lower and higher than the tip 11a of the support pin 11. The vertical air cylinder 13 is attached to a horizontal air cylinder 14 which is a horizontal expansion / contraction mechanism that moves in the horizontal direction.

これにより、ガラス基板6の乾燥作業は次のようにして行われる。   Thereby, the drying operation of the glass substrate 6 is performed as follows.

搬送ロボット7のアーム8上にガラス基板6が裁置されて乾燥室3へ搬入される。乾燥室3の搬送口4では搬入扉5が開放されている。アーム8上に支持されたガラス基板6は、搬送口4から乾燥室3内へ搬入され、アーム8が下降されてガラス基板6が支持ピン11上に載置される。次いで、搬入扉5が閉じられる(図3(a)の状態)。乾燥室3内は、ホットプレートヒータ2で設定温度に制御されている。   The glass substrate 6 is placed on the arm 8 of the transfer robot 7 and is carried into the drying chamber 3. A carry-in door 5 is opened at the transport port 4 of the drying chamber 3. The glass substrate 6 supported on the arm 8 is carried into the drying chamber 3 from the transport port 4, the arm 8 is lowered, and the glass substrate 6 is placed on the support pins 11. Next, the carry-in door 5 is closed (state shown in FIG. 3A). The inside of the drying chamber 3 is controlled to a set temperature by the hot plate heater 2.

次いで、垂直エアーシリンダー13によって移動ピン12が上昇されることになり、支持ピン11から移動ピン12(図3(b)の状態)へとガラス基板6の底面の当接が切り替わる。   Next, the moving pin 12 is raised by the vertical air cylinder 13, and the contact of the bottom surface of the glass substrate 6 is switched from the support pin 11 to the moving pin 12 (the state of FIG. 3B).

次いで、水平エアーシリンダー14によって垂直エアーシリンダー13及び移動ピン12を移動(図3(c)の右へ移動した状態)させてガラス基板6を移動させ、垂直エアーシリンダー13で移動ピン12を下降させて(図3(d)の状態)、ガラス基板6を支持ピン11上に載置させる。次いで、移動ピン12を元の位置(図3(e)の状態)へ戻す。   Next, the vertical air cylinder 13 and the moving pin 12 are moved by the horizontal air cylinder 14 (the state moved to the right in FIG. 3C) to move the glass substrate 6, and the moving pin 12 is lowered by the vertical air cylinder 13. (State of FIG. 3D), the glass substrate 6 is placed on the support pins 11. Next, the moving pin 12 is returned to the original position (the state shown in FIG. 3E).

この一連の動きを1サイクルとして乾燥時間中何回もこのサイクルを繰り返す。この1サイクルは移動ピン12の移動速度が早い程、ピン痕残りが発生し難いが、塗布膜の厚みにもよるがおおよそ4〜8秒で行われる。   This cycle is set as one cycle, and this cycle is repeated many times during the drying time. This cycle is less likely to occur as the moving pin 12 moves faster, but it takes about 4 to 8 seconds depending on the thickness of the coating film.

このサイクル又は逆サイクル(図3(e)→図3(d)→図3(c)→図3(b)→図3(a))を行って、ピンの痕跡が生じ難くなるようにしている。   Perform this cycle or reverse cycle (Fig. 3 (e)-> Fig. 3 (d)-> Fig. 3 (c)-> Fig. 3 (b)-> Fig. 3 (a)) so that the trace of the pin is less likely to occur. Yes.

また、リフトピンと固定ピンとで交互にガラス基板を支持してピン跡等が生じないようにしたものもある。このような例としては引用文献2に記載のものがある。具体的には、基板を処理室に搬入する際に、リフトピンを所定の位置まで上昇させて、基板をこのリフトピンに載置させ、このリフトピンを下降させる。リフトピンが下降していくと、固定ピンの上端部が基板の下面に当接する位置でリフトピンから固定ピンに基板が受け渡しされる。そして、リフトピンの上端部が基板の下面に接触しない位置で停止する。処理室の減圧が開始し、処理が終了すると、再びリフトピンが上昇して、固定ピンから基板を受け取り、所定の位置まで上昇させる。このように、基板の同じ位置をピンで保持し続けないようにして、ピン跡等が生じないようにしている。
特開2006−61755号公報 特開平10−76211号公報
In addition, there is also a glass substrate that is alternately supported by lift pins and fixing pins so that pin marks or the like are not generated. An example of this is described in cited document 2. Specifically, when the substrate is carried into the processing chamber, the lift pin is raised to a predetermined position, the substrate is placed on the lift pin, and the lift pin is lowered. When the lift pins are lowered, the substrate is transferred from the lift pins to the fixed pins at a position where the upper end portion of the fixed pins contacts the lower surface of the substrate. And the upper end part of a lift pin stops in the position which does not contact the lower surface of a board | substrate. When the decompression of the processing chamber is started and the processing is completed, the lift pin rises again, receives the substrate from the fixed pin, and raises it to a predetermined position. In this way, the same position of the substrate is not continuously held by the pins so that pin marks or the like are not generated.
JP 2006-61755 A JP-A-10-76211

しかしながら、前記特許文献1の塗布膜用乾燥炉では、移動ピン12でガラス基板6を持ち上げてずらして支持ピン11に載置するが、その一連の動作によって、加熱された支持ピン11及び移動ピン12が数秒間ガラス基板6の裏面に接触してガラス基板6を過熱することになる。   However, in the coating film drying furnace of Patent Document 1, the glass substrate 6 is lifted and shifted by the moving pin 12 and placed on the supporting pin 11, but the heated supporting pin 11 and moving pin are moved by the series of operations. 12 contacts the back surface of the glass substrate 6 for several seconds, and the glass substrate 6 is overheated.

このとき、ガラス基板6の厚さや材質等のために熱伝導率が悪くて、ガラス基板6の上側面の塗布膜9まで熱が伝わりづらい場合は問題ないが、ガラス基板6が薄かったり熱伝導率が良かったりすると、塗布膜9まで熱が伝わってしまい、乾燥ムラやピン痕等が生じてしまう。   At this time, there is no problem if the heat conductivity is poor due to the thickness or material of the glass substrate 6 and it is difficult to transfer heat to the coating film 9 on the upper surface of the glass substrate 6, but the glass substrate 6 is thin or heat conductive. If the rate is good, heat is transmitted to the coating film 9, resulting in uneven drying and pin marks.

また、特許文献2の減圧乾燥装置では、ガラス基板の下面の異なる位置を固定ピンとリフトピンとで交互に支持して乾燥するという構成であるが、二点で交互に支持しているだけなので、ガラス基板が薄かったり熱伝導率が良かったりすると、塗布膜まで熱が伝わってしまい、乾燥ムラやピン痕等の悪影響を及ぼしてしまう。   Moreover, in the vacuum drying apparatus of patent document 2, although it is the structure of supporting and drying different positions of the lower surface of a glass substrate alternately with a fixing pin and a lift pin, since it only supports alternately with two points, it is glass. If the substrate is thin or the thermal conductivity is good, the heat is transmitted to the coating film, which causes adverse effects such as uneven drying and pin marks.

本発明は、上述の問題点に考慮してなされたもので、接触して支持するピンによる処理対象基板への影響を最小限に抑えたリフトピン機構を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a lift pin mechanism that minimizes the influence on the substrate to be processed by the pins that are supported by contact.

かかる課題を解決するために、本発明は、処理対象基板をその下側から当接して支持する昇降ピンを備えたリフトピン機構であって、(1)前記処理対象基板に対する支持領域を異なるように前記処理対象基板の下方に配設された複数の昇降ピンユニットを備え、(2)前記各昇降ピンユニットが、(2−1)上下動可能に支持された複数の昇降ピンと、(2−2)前記各昇降ピンに対応してそれぞれ設けられ、対応する前記昇降ピンの下端部に当接して当該昇降ピンを昇降させるカム機構を備えて、上方に最も突出している昇降ピンが順々にかつ繰返し代わるように前記各昇降ピンの上下動を連動して行い、上方に最も突出している昇降ピンによって、前記処理対象基板を設定高さに支持する昇降手段と、(2−3)前記各カム機構を駆動して、前記昇降手段による前記各昇降ピンの上下動を駆動させる駆動部とを備え、(3)複数の前記昇降ピンユニットを間隔をおいて一列に配設すると共に、このような列を、列の直交方向に間隔をおいて複数列設け、(4)同一列の複数の前記昇降ピンユニットにおける駆動部がそれぞれ、共通する駆動源の運動を受けて、対応する昇降手段のカム機構を駆動することを特徴とする。 In order to solve such a problem, the present invention is a lift pin mechanism provided with lift pins for supporting a substrate to be processed from the lower side thereof, and (1) different support regions for the substrate to be processed. A plurality of elevating pin units disposed below the substrate to be processed; (2) each elevating pin unit is (2-1) a plurality of elevating pins supported so as to be vertically movable ; (2-2) A cam mechanism that is provided corresponding to each of the lifting pins and that lifts and lowers the lifting pins in contact with the corresponding lower end of the lifting pins. (2-3) Each cam , wherein the vertical movement of each of the lifting pins is interlocked so as to be repeated, and the substrate to be processed is supported at a set height by the lifting pins that protrude most upward. Drive mechanism And a drive unit that drives the vertical movement of each lifting pin by the lifting means , and (3) arranging the plurality of lifting pin units in a row at intervals, and A plurality of rows are provided at intervals in the orthogonal direction of the rows, and (4) the drive units of the plurality of lift pin units in the same row are each subjected to a common drive source motion, and corresponding cam mechanisms of the lift means are provided. It is characterized by being driven .

前記構成により、前記処理対象基板の下側に複数配設された昇降ピンユニットが、複数の昇降ピンを1ずつ又は2以上を同時に、かつ順々に昇降させて、各昇降ピンの上端を前記処理対象基板の下側面に当接させることで、この昇降ピンによって前記処理対象基板を支持する。   With the above configuration, the plurality of lifting pin units disposed below the substrate to be processed lifts the lifting pins one by one or two or more at the same time and sequentially, and the upper end of each lifting pin is By contacting the lower surface of the processing target substrate, the processing target substrate is supported by the lift pins.

前記処理対象基板が熱処理される場合には、加熱された昇降ピンによる熱が前記処理対象基板に伝わりにくくなり、前記処理対象基板の表面にムラやピン痕等が生じるのを確実に防止することができる。   When the substrate to be processed is heat-treated, heat from the heated elevating pins is not easily transmitted to the substrate to be processed, and it is possible to reliably prevent the surface of the substrate to be processed from becoming uneven or pin marks. Can do.

本発明の第1実施形態にかかるリフトピン機構を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the lift pin mechanism concerning 1st Embodiment of this invention. 従来の塗布膜用乾燥炉を示す概略側面図である。It is a schematic side view which shows the conventional drying furnace for coating films. 従来の塗布膜用乾燥炉の移動ピンの動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows operation | movement of the moving pin of the conventional drying furnace for coating films. 本発明の第1実施形態にかかるリフトピン機構を示す要部拡大図である。It is a principal part enlarged view which shows the lift pin mechanism concerning 1st Embodiment of this invention. 図4のA,B,C,D矢視断面を便宜的に各昇降ピンの間隔で並べて動作を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows operation | movement by arranging the A, B, C, D arrow cross section of FIG. 4 at the space | interval of each raising / lowering pin for convenience. 本発明の第1実施形態にかかるリフトピン機構をホットプレートの上側から見た平面図である。It is the top view which looked at the lift pin mechanism concerning 1st Embodiment of this invention from the upper side of the hot plate. 本発明の第1実施形態にかかるリフトピン機構を示す正面図である。It is a front view which shows the lift pin mechanism concerning 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態にかかるリフトピン機構のカム機構を示す要部拡大図である。It is a principal part enlarged view which shows the cam mechanism of the lift pin mechanism concerning 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態にかかるリフトピン機構の熱膨張吸収手段を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the thermal expansion absorption means of the lift pin mechanism concerning 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態の変形例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the modification of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態にかかるリフトピン機構を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the lift pin mechanism concerning 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態にかかるリフトピン機構を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the lift pin mechanism concerning 3rd Embodiment of this invention. 本発明の変形例に係る偏芯カムを示す側面図である。It is a side view which shows the eccentric cam which concerns on the modification of this invention. 本発明の変形例に係る直動カムを示す側面図である。It is a side view which shows the linear cam which concerns on the modification of this invention. 本発明の変形例に係るリフトピン機構を示す正面図である。It is a front view which shows the lift pin mechanism which concerns on the modification of this invention. 本発明の実施形態にかかるリフトピン機構のカム機構及び真空室を示す側面図である。It is a side view which shows the cam mechanism and vacuum chamber of the lift pin mechanism concerning embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

21 リフトピン機構、22 昇降ピンユニット、23 昇降ピン、24 昇降手段、25 駆動部、26 ガラス基板、27 軸部、28 頭部、29 スプリング、30 カム機構、31 連結軸、32 カップリング、34 容器、35 カムシャフト、36 偏芯カム、38 駆動モータ、39 モータ連結軸、40 制御部、43 ホットプレート、44 挿入穴、45 ベース板。   21 Lift Pin Mechanism, 22 Lift Pin Unit, 23 Lift Pin, 24 Lifting Means, 25 Drive Unit, 26 Glass Substrate, 27 Shaft Part, 28 Head, 29 Spring, 30 Cam Mechanism, 31 Connecting Shaft, 32 Coupling, 34 Container , 35 camshaft, 36 eccentric cam, 38 drive motor, 39 motor connecting shaft, 40 control unit, 43 hot plate, 44 insertion hole, 45 base plate.

以下に、本発明の実施形態について説明する。本発明のリフトピン機構は、処理対象基板に接触して当該処理対象基板を支持するピンによって当該処理対象基板に及ぶ影響を最小限に抑えるように改良した装置である。この影響としては、熱や静電気等が考えられる。ここでは、熱による影響を解消した例を説明する。具体的には、前記従来技術と同様の塗布膜用乾燥炉を例に説明する。このため、処理対象基板は、上側面に塗布膜が施されたガラス基板となる。なお、塗布膜用乾燥炉の全体構成は従来技術と同様であるため、ここでは、リフトピン機構を中心に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. The lift pin mechanism of the present invention is an apparatus improved so as to minimize the influence on the processing target substrate by the pins that contact the processing target substrate and support the processing target substrate. This effect may be heat, static electricity, or the like. Here, an example in which the influence of heat is eliminated will be described. Specifically, a coating film drying furnace similar to the prior art will be described as an example. For this reason, a process target board | substrate turns into a glass substrate by which the coating film was given to the upper surface. In addition, since the whole structure of the drying furnace for coating films is the same as that of a prior art, it demonstrates here centering on a lift pin mechanism.

[第1実施形態]
図1に示すように、リフトピン機構21は、ガラス基板26(図4参照)をその下側から支持するための機構である。このリフトピン機構21は、ガラス基板26の下側に、このガラス基板26の全域に亘って複数個配設された昇降ピンユニット22を備えて構成されている。
[First Embodiment]
As shown in FIG. 1, the lift pin mechanism 21 is a mechanism for supporting the glass substrate 26 (see FIG. 4) from below. The lift pin mechanism 21 includes a plurality of elevating pin units 22 arranged below the glass substrate 26 over the entire area of the glass substrate 26.

この昇降ピンユニット22は、4本の昇降ピン23を一組として当該一組の昇降ピン23のうちの1ずつ又は2以上を同時に、かつ順々に昇降させて各昇降ピン23の上端を前記ガラス基板26の下側面に当接させて支持するための装置である。   The lifting / lowering pin unit 22 includes four lifting / lowering pins 23 as a set, and raises or lowers one or more of the lifting / lowering pins 23 one by one or two at a time in order. It is an apparatus for abutting and supporting the lower surface of the glass substrate 26.

昇降ピンユニット22は具体的には、昇降ピン23と、昇降手段24と、駆動部25とから構成されている。   Specifically, the lifting pin unit 22 includes a lifting pin 23, a lifting means 24, and a drive unit 25.

昇降ピン23は、上下動可能に支持されると共に、ガラス基板26をその下側から支持するための材料である。この昇降ピン23は、軸部27と、頭部28とから構成されている。軸部27は、上下動可能に支持され、昇降手段24によって上下動する部分である。頭部28は、軸部27の下端部に一体的に設けられ、後述する昇降手段24の偏芯カム36に当接して、カム面に追従する部分である。頭部28が偏芯カム36のカム面に当接して追従することで、昇降ピン23がカム面の形状に沿って上下動する。昇降ピン23には、必要に応じてスプリング29(図4参照)が設けられる。このスプリング29は、偏芯カム36で押し上げられる昇降ピン23が、偏芯カム36のカム面に追従して上下動するように、昇降ピン23を下方へ付勢している。   The elevating pins 23 are a material for supporting the glass substrate 26 from below while being supported so as to be movable up and down. The elevating pin 23 includes a shaft portion 27 and a head portion 28. The shaft portion 27 is a portion that is supported so as to move up and down and moves up and down by the lifting means 24. The head portion 28 is a portion that is provided integrally with the lower end portion of the shaft portion 27 and that abuts on an eccentric cam 36 of the elevating means 24 described later and follows the cam surface. When the head portion 28 comes into contact with and follows the cam surface of the eccentric cam 36, the elevating pin 23 moves up and down along the shape of the cam surface. The lift pins 23 are provided with springs 29 (see FIG. 4) as necessary. The spring 29 urges the elevating pin 23 downward so that the elevating pin 23 pushed up by the eccentric cam 36 moves up and down following the cam surface of the eccentric cam 36.

昇降手段24は、昇降ピン23を上下動させるための装置である。この昇降手段24は、カム機構30と、連結軸31と、カップリング32とから構成されている。   The elevating means 24 is a device for moving the elevating pin 23 up and down. The elevating means 24 includes a cam mechanism 30, a connecting shaft 31, and a coupling 32.

カム機構30は、昇降ピン23の下端部の頭部28に当接してこの昇降ピン23を昇降させるための装置である。このカム機構30は、図1,4,5に示すように、容器34内に回転可能に支持されたカムシャフト35と、このカムシャフト35に4つ設けられた偏芯カム36とから構成されている。4つの偏芯カム36は、全て外周のカム面が円形で、その一端のカムから順々に90度ずつ偏芯方向を変えて配設されている。これにより、4本の昇降ピン23は、その一端から順々に1つずつ押し上げてガラス基板26の裏面に当接して支持するようになっている。   The cam mechanism 30 is a device for raising and lowering the lifting pin 23 by contacting the head 28 at the lower end of the lifting pin 23. As shown in FIGS. 1, 4, and 5, the cam mechanism 30 includes a camshaft 35 that is rotatably supported in the container 34, and four eccentric cams 36 provided on the camshaft 35. ing. All of the four eccentric cams 36 have a circular cam surface on the outer periphery, and are arranged by changing the eccentric direction by 90 degrees sequentially from the cam at one end thereof. Thus, the four elevating pins 23 are pushed up one by one from the one end in order, and are in contact with and supported by the back surface of the glass substrate 26.

連結軸31は、カムシャフト35に連結されて、駆動部25からのトルクを伝達するための軸である。   The connecting shaft 31 is connected to the camshaft 35 and is a shaft for transmitting torque from the drive unit 25.

カップリング32は、連結軸31同士や、後述する駆動モータ38のモータ連結軸39と連結軸31とを連結するための部材である。カップリング32は、円柱状の本体の中央に、前記モータ連結軸39や連結軸31が嵌合する連結穴32Aを備え、この連結穴32Aに連結軸31等を挿入してそれらの先端をネジ32Bで固定して連結する。   The coupling 32 is a member for connecting the connecting shafts 31 to each other and a motor connecting shaft 39 of the driving motor 38 to be described later and the connecting shaft 31. The coupling 32 includes a connecting hole 32A in which the motor connecting shaft 39 and the connecting shaft 31 are fitted in the center of the cylindrical main body. The connecting shaft 31 and the like are inserted into the connecting hole 32A and their tips are screwed. Fix and connect with 32B.

駆動部25は、駆動モータ38と、モータ連結軸39とから構成されている。駆動モータ38は、前記カム機構30のカムシャフト35を駆動するモータである。駆動モータ38は、この駆動モータ38を制御する制御部40に接続されている。この制御部40は、昇降手段24を駆動する速度を調整するための装置である。制御部40は、駆動モータ38のみを制御する独立した装置として構成されたり、塗布膜用乾燥炉の全体を制御する制御部(図示せず)の一部として組み込まれたりする。この制御部40は、駆動モータ38を制御して、カムシャフト35の偏芯カム36の回転数を調整できるようになっている。具体的には、制御部40で、偏芯カム36の回転数を、0.2秒/回〜数秒/回まで設定できるようになっている。この制御部40は、モータに印加する電圧や周波数等を細かく制御して回転数を調整するインバーター等のコントローラーを備えた構成されている。   The drive unit 25 includes a drive motor 38 and a motor connecting shaft 39. The drive motor 38 is a motor that drives the cam shaft 35 of the cam mechanism 30. The drive motor 38 is connected to a control unit 40 that controls the drive motor 38. The control unit 40 is a device for adjusting the speed at which the elevating means 24 is driven. The control part 40 is comprised as an independent apparatus which controls only the drive motor 38, or is integrated as a part of control part (not shown) which controls the whole drying furnace for coating films. The control unit 40 can control the drive motor 38 to adjust the rotational speed of the eccentric cam 36 of the camshaft 35. Specifically, the controller 40 can set the rotational speed of the eccentric cam 36 from 0.2 second / time to several seconds / time. The control unit 40 includes a controller such as an inverter that adjusts the number of rotations by finely controlling the voltage and frequency applied to the motor.

モータ連結軸39は、駆動モータ38とカムシャフト35とを連結するための軸である。モータ連結軸39は後述するベース板45の支持板46に回転可能に支持されている。駆動モータ38とカムシャフト35とは、モータ連結軸39とカップリング32と連結軸31を介して連結されている。   The motor connection shaft 39 is a shaft for connecting the drive motor 38 and the camshaft 35. The motor connecting shaft 39 is rotatably supported on a support plate 46 of a base plate 45 described later. The drive motor 38 and the camshaft 35 are connected via a motor connecting shaft 39, a coupling 32, and a connecting shaft 31.

以上の構成のリフトピン機構21は、図6及び図7に示すように、前記昇降ピンユニット22が1つのリフトピンを構成し、当該リフトピンとしての昇降ピンユニット22が塗布膜用乾燥炉の乾燥室内に設けられた処理対象基板としてのホットプレート43の下側に複数個配設されている。ホットプレート43は、その上側に設置されるガラス基板26を加熱するための加熱装置である。リフトピン機構21は、ホットプレート43の下側に設けられている。具体的には、リフトピン機構21のカム機構30が縦に5個ずつ、横に4個ずつ、合計で20個ほぼ等間隔に配設されている。ホットプレート43の各カム機構30に対応する位置には、4つの挿入穴44が設けられ、各挿入穴44に昇降ピンユニット22の昇降ピン23がそれぞれ挿入されるようになっている。
In the lift pin mechanism 21 having the above-described configuration, as shown in FIGS. 6 and 7, the lift pin unit 22 forms one lift pin, and the lift pin unit 22 as the lift pin is placed in the drying chamber of the coating film drying furnace. A plurality of substrates are disposed below the hot plate 43 as a processing target substrate . The hot plate 43 is a heating device for heating the glass substrate 26 installed on the upper side thereof. The lift pin mechanism 21 is provided below the hot plate 43. Specifically, the cam mechanism 30 of the lift pin mechanism 21 is disposed in a substantially equal interval, with a total of 20 cam mechanisms 30 in the vertical direction and 4 in the horizontal direction. Four insertion holes 44 are provided at positions corresponding to the cam mechanisms 30 of the hot plate 43, and the lifting pins 23 of the lifting pin unit 22 are inserted into the insertion holes 44, respectively.

各カム機構30は、カップリング32で連結されている。ここでは、ガラス基板26の大きさに対応して4個のカム機構30がカップリング32で連結されて、1つの駆動モータ38で駆動されるようになっている。そして、この4個連結されたカム機構30がガラス基板26の大きさに対応して並行に5列配設されて、ホットプレート43の下側面の全面に互いにほぼ均等間隔で配設されている。ホットプレート43の大きさに応じた個数のカム機構30をカップリング32で接続して、任意の大きさに自由に構成する。 Each cam mechanism 30 is connected by a coupling 32. Here, four cam mechanisms 30 corresponding to the size of the glass substrate 26 are connected by a coupling 32 and driven by one drive motor 38. The four linked cam mechanisms 30 are arranged in parallel in five rows corresponding to the size of the glass substrate 26, and are arranged at almost equal intervals on the entire lower surface of the hot plate 43. . A number of cam mechanisms 30 corresponding to the size of the hot plate 43 are connected by a coupling 32 to freely configure an arbitrary size.

ホットプレート43の上側面には、複数の固定ピン43Aが設けられている。この固定ピン43Aは、ガラス基板26をホットプレート43の近くに配置して加熱するために用いられるピンである。   A plurality of fixing pins 43 </ b> A are provided on the upper side surface of the hot plate 43. The fixing pin 43 </ b> A is a pin used for heating the glass substrate 26 placed near the hot plate 43.

リフトピン機構21は、ベース板45に取り付けられている。このベース板45は、昇降機構(図示せず)によって上下に移動可能に支持されている。この昇降機構でリフトピン機構21が昇降することで、塗布膜用乾燥炉の乾燥室内に挿入されて昇降ピン23で支持されたガラス基板26を、上下に移動させるようになっている。これにより、各乾燥工程に応じてガラス基板26とホットプレート43との距離を調整する。ベース板45上には、モータ連結軸39を回転可能に支持する支持板46が設けられている。   The lift pin mechanism 21 is attached to the base plate 45. The base plate 45 is supported by an elevating mechanism (not shown) so as to be movable up and down. When the lift pin mechanism 21 is moved up and down by this lifting mechanism, the glass substrate 26 inserted into the drying chamber of the coating film drying furnace and supported by the lifting pins 23 is moved up and down. Thereby, the distance of the glass substrate 26 and the hot plate 43 is adjusted according to each drying process. On the base plate 45, a support plate 46 that rotatably supports the motor connecting shaft 39 is provided.

[動作]
以上のように構成されたリフトピン機構21は次のように動作する。
[Operation]
The lift pin mechanism 21 configured as described above operates as follows.

まず、塗布膜用乾燥炉の乾燥室内のホットプレート43を設定温度に加熱する。これに伴って、ホットプレート43の挿入穴44に挿入された昇降ピン23も加熱される。   First, the hot plate 43 in the drying chamber of the coating film drying furnace is heated to a set temperature. Along with this, the elevating pins 23 inserted into the insertion holes 44 of the hot plate 43 are also heated.

この状態で、ガラス基板26が乾燥室内に挿入されて、ホットプレート43の上側面に延出している昇降ピン23上に載置される。   In this state, the glass substrate 26 is inserted into the drying chamber and placed on the lift pins 23 extending to the upper side surface of the hot plate 43.

このとき、駆動部25の駆動モータ38で昇降手段24の偏芯カム36が設定回転数で回転されている。この偏芯カム36の回転によって4本の昇降ピン23は、1つずつ、かつ順々に昇降する。4つの偏芯カム36は90度ずつずらされているため、カムシャフト35が90度回転する毎に、各昇降ピン23が順々に昇降して、昇降ピン23の先端がガラス基板26の裏面に当接してこのガラス基板26を支持する。   At this time, the eccentric cam 36 of the elevating means 24 is rotated at the set rotational speed by the drive motor 38 of the drive unit 25. By the rotation of the eccentric cam 36, the four lifting pins 23 are lifted and lowered one by one. Since the four eccentric cams 36 are shifted by 90 degrees, each time the camshaft 35 rotates 90 degrees, each lifting pin 23 moves up and down sequentially, and the tip of the lifting pin 23 is the back surface of the glass substrate 26. The glass substrate 26 is supported by contacting the glass substrate 26.

ここでは、カムシャフト35が0.2秒/回の速度回転されている。これにより、4本の昇降ピン23が順々に、かつ0.05秒毎にガラス基板26の裏面に当接して支持している。このカムシャフト35の回転数は、昇降ピン23の温度、昇降ピン23の本数、ガラス基板26の寸法等の諸条件に応じて、最適な値を選択する。   Here, the camshaft 35 is rotated at a speed of 0.2 seconds / time. Thereby, the four raising / lowering pins 23 are contacting and supporting the back surface of the glass substrate 26 in order and every 0.05 second. The rotation speed of the camshaft 35 is selected to be an optimum value according to various conditions such as the temperature of the elevating pins 23, the number of elevating pins 23, the dimensions of the glass substrate 26, and the like.

この動作は、ホットプレート43の下側に配設された20個のカム機構30すべてで行われ、ガラス基板26がその裏面の20箇所の位置で、0.05秒毎にガラス基板26との接触位置が変わる昇降ピン23で支持される。   This operation is performed by all of the 20 cam mechanisms 30 arranged on the lower side of the hot plate 43, and the glass substrate 26 is in contact with the glass substrate 26 every 0.05 seconds at 20 positions on the back surface thereof. It is supported by lifting pins 23 whose contact position changes.

これにより、冷えた状態で塗布膜用乾燥炉の乾燥室内に挿入されたガラス基板26は、過熱された昇降ピン23に直接接触してこの昇降ピン23で加熱されるが、1つの昇降ピン23とガラス基板26とは、1周0.2秒の中で0.05秒以内の一瞬だけ接触するため、昇降ピン23の熱がガラス基板26に伝わりづらく、ガラス基板26の上側面の塗布膜を局部的に加熱することが無くなる。   Thereby, the glass substrate 26 inserted in the drying chamber of the coating film drying furnace in a cooled state is in direct contact with the heated heating pin 23 and heated by the lifting pin 23. The glass substrate 26 is in contact with the glass substrate 26 for only a moment within 0.05 seconds within one round of 0.2 seconds, so that the heat of the elevating pins 23 is not easily transmitted to the glass substrate 26, and the coating film on the upper surface of the glass substrate 26 Is not heated locally.

ガラス基板26が加熱されて温度が上昇して昇降ピン23と同じ又は同じ程度になったら、カムシャフト35の回転数を遅くし、又は停止する。   When the glass substrate 26 is heated and the temperature rises to the same or the same level as the lift pins 23, the rotational speed of the camshaft 35 is slowed or stopped.

リフトピン機構21は、ベース板45の昇降機構で、各工程での設定高さに適宜調整される。例えば、乾燥工程の後半に、図5(a)の状態から図5(b)の固定ピン43Aに支持された状態にして、ガラス基板26をホットプレート43に近づけて加熱する。また、ガラス基板26をホットプレート43の上側面に直接置いて加熱する場合もある。   The lift pin mechanism 21 is a lifting mechanism for the base plate 45 and is appropriately adjusted to a set height in each process. For example, in the latter half of the drying process, the glass substrate 26 is heated close to the hot plate 43 from the state shown in FIG. 5A to the state supported by the fixing pins 43A shown in FIG. In some cases, the glass substrate 26 is directly placed on the upper surface of the hot plate 43 and heated.

塗布膜用乾燥炉での乾燥処理が終了すると、ガラス基板26は外部に搬出され、次のガラス基板26が搬入されて、乾燥処理が繰り返される。   When the drying process in the coating film drying furnace is completed, the glass substrate 26 is carried out to the outside, the next glass substrate 26 is carried in, and the drying process is repeated.

メンテナンス時には、任意の位置のカム機構30に対して、選択的に修理、交換等を行う。この場合は、メンテナンス対象のカム機構30の前後のカップリング32を外して、そのカム機構30の修理、交換等を行う。   During maintenance, the cam mechanism 30 at an arbitrary position is selectively repaired or replaced. In this case, the front and rear couplings 32 of the cam mechanism 30 to be maintained are removed, and the cam mechanism 30 is repaired or replaced.

[効果]
以上のように、ガラス基板26の下側に複数配設された昇降ピンユニット22のカム機構30が、4本の昇降ピン23を1本ずつ、かつ順々に昇降させて、各昇降ピン23の上端をガラス基板26の下側面に当接させてガラス基板26を支持するため、加熱された昇降ピン23による熱がガラス基板26に伝わりにくくなり、乾燥ムラやピン痕等が生じるのを確実に防止することができる。これにより、真空ベーク処理を省略できる。
[effect]
As described above, the cam mechanism 30 of the lifting pin unit 22 disposed on the lower side of the glass substrate 26 raises and lowers the four lifting pins 23 one by one in order, and each lifting pin 23 Since the glass substrate 26 is supported by contacting the upper end of the glass substrate 26 with the lower surface of the glass substrate 26, heat from the heated elevating pins 23 is less likely to be transmitted to the glass substrate 26, and it is ensured that uneven drying, pin marks, etc. occur Can be prevented. Thereby, the vacuum baking process can be omitted.

制御部40で駆動モータ38の回転数を制御して、偏芯カム36による昇降ピン23の上下への昇降速度を制御するため、昇降ピン23の上端とガラス基板26の下側面との当接時間を自由に調整することができる。これにより、諸条件に応じた最適な偏芯カム36の回転数に調整することができる。   Since the controller 40 controls the number of rotations of the drive motor 38 to control the up / down speed of the up / down pins 23 by the eccentric cam 36, the upper end of the up / down pins 23 and the lower surface of the glass substrate 26 are in contact with each other. Time can be adjusted freely. Thereby, it can adjust to the optimal rotation speed of the eccentric cam 36 according to various conditions.

リフトピン機構21は、複数のカム機構30をカップリング32で連結して構成することで、大きさの異なるホットプレート43に対して自由に大きさを調整することができる。カム機構30の配設密度も自由に調整することができる。   The lift pin mechanism 21 can be freely adjusted in size with respect to the hot plates 43 having different sizes by connecting a plurality of cam mechanisms 30 with couplings 32. The arrangement density of the cam mechanism 30 can also be adjusted freely.

さらに、昇降手段24のカム機構30が、ガラス基板26の大きさに対応した数(ここでは4個)だけカップリング32で連結され、かつガラス基板26の大きさに対応した数(ここでは5列)だけ並列に配設されるため、種々の大きさのガラス基板26に対して、カム機構30が最適な位置に配設されたリフトピン機構21を容易に構成することができる。カップリング32で連結された4個のカム機構30は1個の駆動モータ38で駆動されるため、駆動モータ38の数を減らせる。   Further, the cam mechanisms 30 of the elevating means 24 are connected by the coupling 32 by a number corresponding to the size of the glass substrate 26 (here, four), and the number corresponding to the size of the glass substrate 26 (here 5). Therefore, the lift pin mechanism 21 in which the cam mechanism 30 is disposed at an optimal position can be easily configured with respect to the glass substrates 26 of various sizes. Since the four cam mechanisms 30 connected by the coupling 32 are driven by one drive motor 38, the number of drive motors 38 can be reduced.

また、メンテナンス時には、メンテナンス対象のカム機構30の前後のカップリング32を取り外すことで、そのカム機構30を取り外してメンテナンスできるため、メンテナンス時の作業性が向上する。   Further, at the time of maintenance, the cam mechanism 30 can be removed and maintained by removing the couplings 32 before and after the cam mechanism 30 to be maintained, so that workability during maintenance is improved.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described.

本実施形態のリフトピン機構は、ホットプレート43の熱膨張に伴うズレを吸収する熱膨張吸収手段を備えたものである。従来は、昇降ピン23の挿入される穴を大きくして、ホットプレート43の熱膨張分を吸収するようにしていた。これに対して、本実施形態のリフトピン機構は、熱膨張吸収手段で吸収するようにしたものである。本実施形態のリフトピン機構では、熱膨張吸収手段以外の構成は、前記第1実施形態のリフトピン機構21と同様であるため、ここでは熱膨張吸収手段を中心に説明する。   The lift pin mechanism of the present embodiment is provided with a thermal expansion absorbing means that absorbs a shift caused by thermal expansion of the hot plate 43. Conventionally, the hole into which the elevating pin 23 is inserted is enlarged to absorb the thermal expansion of the hot plate 43. On the other hand, the lift pin mechanism of the present embodiment is adapted to be absorbed by the thermal expansion absorbing means. In the lift pin mechanism of the present embodiment, the configuration other than the thermal expansion absorbing means is the same as that of the lift pin mechanism 21 of the first embodiment, and therefore, the thermal expansion absorbing means will be mainly described here.

図8,9に示すように、熱膨張吸収手段51は、熱膨張に伴うズレを吸収する電磁石52によって構成されている。電磁石52は、上部駆動部53に組み込まれたコイル54と、電源55と、スイッチ56とから構成されている。昇降ピン23は磁性体で構成され、その頭部28が電磁石52と電磁的に結合するようになっている。上部駆動部53には連結棒57を介して下部駆動部58が設けられ、連結棒57が上下動可能に支持されて、下部駆動部58と共に上部駆動部53が偏芯カム36に追従して上下動するようになっている。   As shown in FIGS. 8 and 9, the thermal expansion absorbing means 51 is constituted by an electromagnet 52 that absorbs a shift due to thermal expansion. The electromagnet 52 includes a coil 54 incorporated in the upper drive unit 53, a power supply 55, and a switch 56. The lifting pin 23 is made of a magnetic material, and its head 28 is electromagnetically coupled to the electromagnet 52. The upper drive unit 53 is provided with a lower drive unit 58 via a connecting rod 57, the connecting rod 57 is supported so as to be movable up and down, and the upper drive unit 53 and the lower drive unit 58 follow the eccentric cam 36. It is designed to move up and down.

上部駆動部53の上側面と、昇降ピン23の頭部28の下側面とは、互いに平坦面状に形成されている。これにより、上部駆動部53と昇降ピン23の頭部28とが、互いに確実に、電磁的に結合することができると共に、互いの当接面に沿って容易にずらすことができるようになっている。   The upper side surface of the upper drive unit 53 and the lower side surface of the head 28 of the elevating pin 23 are formed in a flat surface shape. As a result, the upper drive unit 53 and the head portion 28 of the elevating pin 23 can be reliably electromagnetically coupled to each other and can be easily shifted along the contact surfaces. Yes.

以上のように構成されたリフトピン機構の熱膨張吸収手段51は、次のように動作する。   The thermal expansion absorbing means 51 of the lift pin mechanism configured as described above operates as follows.

熱処理に先立って、ホットプレート43が設定温度に加熱されるが、そのときホットプレート43は温度の上昇と共に熱膨張する。この熱膨張は、その中心位置からの距離に比例して大きくなる。具体的には、ホットプレート43の四隅のカム機構30の部分が最も大きくずれてしまう。これに対して、ホットプレート43の中心付近の昇降ピンユニット22の部分のずれは小さい。   Prior to the heat treatment, the hot plate 43 is heated to a set temperature. At that time, the hot plate 43 thermally expands as the temperature rises. This thermal expansion increases in proportion to the distance from the center position. Specifically, the cam mechanisms 30 at the four corners of the hot plate 43 are displaced the most. In contrast, the shift of the lifting pin unit 22 near the center of the hot plate 43 is small.

このため、ホットプレート43の加熱に伴って、スイッチ56をオフして、昇降ピン23の頭部28と電磁石52との電磁的結合を解除する。これにより、昇降ピン23の頭部28と上部駆動部53とが、図9のようにずれる。ホットプレート43が設定温度になったら、それ以上の熱膨張はないので、スイッチ56をオンして、昇降ピン23の頭部28と電磁石52とを電磁的に結合する。これにより、ホットプレート43の膨張を吸収する。   For this reason, with the heating of the hot plate 43, the switch 56 is turned off, and the electromagnetic coupling between the head 28 of the elevating pin 23 and the electromagnet 52 is released. Thereby, the head 28 and the upper drive part 53 of the raising / lowering pin 23 shift | deviate like FIG. When the hot plate 43 reaches the set temperature, since there is no further thermal expansion, the switch 56 is turned on to electromagnetically couple the head portion 28 of the elevating pin 23 and the electromagnet 52. Thereby, the expansion of the hot plate 43 is absorbed.

これ以外の動作は、前記第1実施形態のリフトピン機構21と同様である。   Other operations are the same as those of the lift pin mechanism 21 of the first embodiment.

以上のように、昇降ピン23の頭部28と電磁石52との電磁的結合を、ホットプレート43の加熱に伴って、このホットプレート43が設定温度になるまで一時的に解除するので、熱膨張に伴う昇降ピン23のずれを確実に吸収することができるようになる。   As described above, the electromagnetic coupling between the head 28 of the elevating pin 23 and the electromagnet 52 is temporarily released until the hot plate 43 reaches the set temperature as the hot plate 43 is heated. Therefore, it is possible to absorb the displacement of the lift pins 23 due to the above.

なお、ここでは、電磁石52を用いて、昇降ピン23の頭部28と電磁石52とを電磁的に結合するようにしたが、永久磁石を用いても良い。   Here, the electromagnet 52 is used to electromagnetically couple the head 28 of the lifting pin 23 and the electromagnet 52, but a permanent magnet may be used.

この場合は、図10に示すように、昇降ピン23の頭部28を、N極又はS極の永久磁石で構成する。さらに、前記上部駆動部53の部分は、コイル54の代わりに、S極又はN極の永久磁石で構成する。そして、互いの当接面は平坦面状になっている。   In this case, as shown in FIG. 10, the head 28 of the elevating pin 23 is composed of an N-pole or S-pole permanent magnet. Further, the upper drive unit 53 is composed of an S-pole or N-pole permanent magnet instead of the coil 54. The contact surfaces of each other are flat.

これにより、熱膨張に伴うズレを前記平坦面状の当接面の互いのズレで吸収する。これは、永久磁石の特性を利用したものである。N極とS極の永久磁石が互いに結合すると、これらを引き離す方向へは非常に強い力を必要とするが、当接面に沿う方向には僅かな力でずらすことができる。この平坦面状の当接面で互いに当接した永久磁石によって、熱膨張に伴うズレを前記平坦面状の当接面の互いのズレで吸収して、上下方向を確実に結合する。   Thereby, the shift | offset | difference accompanying thermal expansion is absorbed by the mutual shift | offset | difference of the said flat surface contact surface. This utilizes the characteristics of the permanent magnet. When the N-pole and S-pole permanent magnets are coupled to each other, a very strong force is required in the direction to separate them, but they can be shifted with a slight force in the direction along the contact surface. The permanent magnets that are in contact with each other on the flat surface-like contact surfaces absorb the displacement due to thermal expansion by the mutual displacement of the flat surface-like contact surfaces, thereby reliably connecting the upper and lower directions.

この場合も、前記第2実施形態と同様の作用、効果を奏することができる。   Also in this case, the same operations and effects as those of the second embodiment can be achieved.

なお、前記永久磁石は、昇降ピン23の頭部28側又は上部駆動部53側のいずれか一方のみに用いて、他方を磁性体にしても良い。   The permanent magnet may be used only on either the head 28 side or the upper drive unit 53 side of the lifting pin 23 and the other may be a magnetic body.

さらに、前記永久磁石の代わりに電磁石を用いても良い。この場合は、前記第2実施形態の場合と異なって、前記永久磁石と同様の態様で用いる。   Furthermore, an electromagnet may be used instead of the permanent magnet. In this case, unlike the case of the second embodiment, it is used in the same manner as the permanent magnet.

[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described.

本実施形態のリフトピン機構は、第1実施形態のカム機構30の偏芯カム36の代わりに、直動カムを用いたものである。   The lift pin mechanism of this embodiment uses a linear motion cam instead of the eccentric cam 36 of the cam mechanism 30 of the first embodiment.

図11及び図12に示すように、カム機構61は、直動カム62と、従動部63とから構成されている。   As shown in FIGS. 11 and 12, the cam mechanism 61 includes a linear cam 62 and a driven portion 63.

直動カム62は、水平方向に往復動する平板状の棒材で構成されている。この平板棒状の直動カム62の上側面に、昇降ピン23を上下動させるための山型のカム面が形成されている。この山型のカム面の形状を調整して、昇降ピン23の上下動の速度、移動量等を設定する。直動カム62は、連結棒65で駆動部(図示せず)に接続されている。この駆動部は、往復運動をする機構で構成され、直動カム62を往復動させる。   The linear motion cam 62 is composed of a flat bar that reciprocates in the horizontal direction. A mountain-shaped cam surface for moving the elevating pin 23 up and down is formed on the upper side surface of the flat bar-like linear motion cam 62. By adjusting the shape of the mountain-shaped cam surface, the speed and amount of movement of the elevating pins 23 are set. The linear cam 62 is connected to a drive unit (not shown) by a connecting rod 65. This drive part is comprised by the mechanism which reciprocates, and makes the linear motion cam 62 reciprocate.

従動部63は、ローラ部66と、上下動片部67とから構成されている。ローラ部66は上下動片部67の下端部に回転可能に支持されている。上下動片部67は、上下動可能に支持されている。これにより、ローラ部66が直動カム62の山型のカム面に沿って回転することで、上下動片部67が上下動して、昇降ピン23を昇降させるようになっている。   The driven portion 63 includes a roller portion 66 and a vertically moving piece portion 67. The roller part 66 is rotatably supported by the lower end part of the up-and-down moving piece part 67. The vertically moving piece 67 is supported to be vertically movable. Thereby, when the roller part 66 rotates along the mountain-shaped cam surface of the linear cam 62, the up-and-down moving piece part 67 moves up and down to raise and lower the lifting pin 23.

従動部63は、各昇降ピン23にそれぞれ取り付けられている。4本の昇降ピン23に合わせて、4個の従動部63が配設されている。   The follower 63 is attached to each lifting pin 23. Four followers 63 are arranged in accordance with the four lifting pins 23.

以上のように構成されたリフトピン機構では、前記駆動部で直動カム62が往復運動され、これに伴って従動部63のローラ部66が山型のカム面に沿って回転し、上下動片部67が上下動して、昇降ピン23を昇降させる。   In the lift pin mechanism configured as described above, the linear motion cam 62 is reciprocated by the drive portion, and the roller portion 66 of the driven portion 63 is rotated along the chevron-shaped cam surface along with this, and the vertical moving piece is moved. The part 67 moves up and down to raise and lower the elevation pin 23.

さらに、直動カム62は、往復動することで、4つの従動部63を順々に上下動させて、4本の昇降ピン23を順々に昇降させる。これにより、前記第1実施形態の昇降ピン23と同様に、ガラス基板26を支持する。   Further, the linear motion cam 62 reciprocates to move the four driven parts 63 up and down in order and to raise and lower the four lifting pins 23 in order. Thereby, the glass substrate 26 is supported like the raising / lowering pin 23 of the said 1st Embodiment.

この場合も、前記第1実施形態と同様の作用、効果を奏することができる。   Also in this case, the same operation and effect as the first embodiment can be obtained.

前記各実施形態では、塗布膜用乾燥炉内での加熱による乾燥作業を例に説明して、熱による影響を抑えるためのリフトピン機構について説明したが、昇降ピン23による影響としては、熱以外に、静電気等の他の要因も考えられる。静電気等の他の要因の場合も、前記各実施形態のリフトピン機構21により処理対象基板への悪影響を解消することができる。静電気の場合は、各昇降ピン23で電荷を分散させることができる。   In each of the above embodiments, the drying operation by heating in the coating film drying furnace has been described as an example, and the lift pin mechanism for suppressing the influence of heat has been described. Other factors such as static electricity are also conceivable. Even in the case of other factors such as static electricity, the adverse effect on the substrate to be processed can be eliminated by the lift pin mechanism 21 of each of the above embodiments. In the case of static electricity, the charge can be dispersed by the lift pins 23.

前記各実施形態では、昇降ピン23を4本設けた場合を例に説明したが、2本、3本又は5本以上でも良いことは言うまでもない。支持するガラス基板26の大きさやリフトピン機構21の設置数等の諸条件に応じて本数を決定する。この昇降ピン23の本数に応じて偏芯カム36の設置個数を調整する。   In each of the above-described embodiments, the case where four lifting pins 23 are provided has been described as an example, but needless to say, two, three, or five or more pins may be used. The number is determined according to various conditions such as the size of the glass substrate 26 to be supported and the number of lift pin mechanisms 21 installed. The number of eccentric cams 36 is adjusted according to the number of the lifting pins 23.

前記各実施形態では、昇降ピン23として、先端の尖った細いピンを用いたが、この昇降ピン23の形状としては、先端の尖った細いピンに限らず、昇降ピンユニット22で上下動させることができる既存の全てのピンを用いることができる。   In each of the embodiments described above, a thin pin with a sharp tip is used as the lift pin 23. However, the shape of the lift pin 23 is not limited to a thin pin with a sharp tip, and is moved up and down by the lift pin unit 22. All existing pins that can be used can be used.

前記第1実施形態では、昇降ピン23を昇降させる手段として回転カムを用い、第3実施形態では直動カムを用いたが、端面カム等の他のカム機構を用いてもよいことは言うまでもない。昇降ピン23を上下動できる構成のカム機構であれば、前記各実施形態同様の作用、効果を奏することができる。   In the first embodiment, a rotating cam is used as a means for moving the lifting pin 23 up and down. In the third embodiment, a linear cam is used, but it goes without saying that another cam mechanism such as an end face cam may be used. . If it is the cam mechanism of the structure which can move the raising / lowering pin 23 up and down, there can exist an effect | action and effect similar to said each embodiment.

なお、端面カムの場合は、各昇降ピン23は、前記各実施形態同様のように、直列に4本並ぶのではなく、円形に沿って配設されることになる。   In the case of an end face cam, the lift pins 23 are not arranged in series in the same manner as in the above embodiments, but are arranged along a circle.

また、前記第1実施形態では、偏芯カム36の外周のカム面を円形にしたが、楕円形等の他の形状でもよいことは言うまでもない。この偏芯カム36の形状を適宜調整して昇降ピン23の上下への移動量や動き方、ガラス基板26への接触時間等を適宜設定する。   Moreover, in the said 1st Embodiment, although the cam surface of the outer periphery of the eccentric cam 36 was circular, it cannot be overemphasized that other shapes, such as an ellipse, may be sufficient. By appropriately adjusting the shape of the eccentric cam 36, the amount of movement and movement of the elevating pin 23 up and down, the contact time with the glass substrate 26, and the like are appropriately set.

また、前記第1実施形態では、4本の昇降ピン23は、その一端から順々に1つずつガラス基板26の裏面に当接して支持するようにしたが、各昇降ピン23のうちの2以上を同時に、かつ順々に上下動させるようにしても良い。また、4本の昇降ピン23をその一端から順番に昇降させたが、昇降させる順番はバラバラでもよい。例えば、1本目、4本目、2本目、3本目の順番に順々に昇降させる等の他の順番で昇降させてもよい。昇降ピン23がガラス基板26の裏面に当接している時間も、偏芯カム36の形状を変えることで、容易に設定することができる。   In the first embodiment, the four elevating pins 23 are in contact with and supported by the back surface of the glass substrate 26 one by one from one end thereof. You may make it move the above up and down simultaneously and sequentially. Moreover, although the four raising / lowering pins 23 were raised / lowered in order from the one end, the order to raise / lower may be different. For example, you may raise / lower in other order, such as raising / lowering in order of 1st, 4th, 2nd, 3rd. The time during which the elevating pins 23 are in contact with the back surface of the glass substrate 26 can also be easily set by changing the shape of the eccentric cam 36.

また、前記第1実施形態では、制御部40で、偏芯カム36の回転数を、0.2秒/回〜数秒/回まで設定できるようにしたが、一般的には、カムシャフト35の回転数は極力高くして、1本の昇降ピン23のガラス基板26への接触時間を短くした方が望ましい。このため、カムシャフト35の回転を上げると共に、昇降ピン23の本数を増やす方が望ましい。   In the first embodiment, the controller 40 can set the rotational speed of the eccentric cam 36 from 0.2 seconds / time to several seconds / time. It is desirable to increase the number of rotations as much as possible to shorten the contact time of one lifting pin 23 to the glass substrate 26. For this reason, it is desirable to increase the number of lifting pins 23 while increasing the rotation of the camshaft 35.

前記実施形態では、偏芯カム36を真円の回転板を用いて構成したが、真円に限らず他の形状でもよい。例えば、図13に示すように、偏芯カム70を、その外周形状の一部に、回転中心と同心円の円弧部71を備えて構成しても良い。さらに、この円弧部71は、隣り合う偏芯カム70同士で一部重なるように設定される。   In the above-described embodiment, the eccentric cam 36 is configured using a perfect circular rotating plate, but is not limited to a perfect circle and may have other shapes. For example, as shown in FIG. 13, the eccentric cam 70 may be configured to include a circular arc portion 71 concentric with the rotation center in a part of the outer peripheral shape thereof. Further, the arc portion 71 is set so as to partially overlap the adjacent eccentric cams 70.

これにより、偏芯カム70が回転されると、この偏芯カム70の外周形状に沿って昇降ピン23が昇降する。具体的には、昇降ピン23は、偏芯カム70の回転により上昇し、円弧部71で上端位置となって止まり、円弧部71を過ぎると降下する。   Thereby, when the eccentric cam 70 is rotated, the elevating pins 23 are moved up and down along the outer peripheral shape of the eccentric cam 70. Specifically, the elevating pin 23 is raised by the rotation of the eccentric cam 70, stops at the upper end position at the arc portion 71, and descends after passing the arc portion 71.

4つの偏芯カム70が連結軸31で回転されると、隣接する2つの昇降ピン23の一方が、先行する偏芯カム70で上昇されて円弧部71の上端位置で止まり、円弧部71を過ぎると降下する。この降下の直前に、隣接する2つ昇降ピン23の他方が、後行する偏芯カム70で上昇されて、偏芯カム70の一部重なる部分で、2つの昇降ピン23が同時に上端位置まで上昇してガラス基板26を支持する。この直後、一方の昇降ピン23は降下し、他方の昇降ピン23は上端位置で止まり、円弧部71を過ぎると降下する。   When the four eccentric cams 70 are rotated by the connecting shaft 31, one of the two adjacent lifting pins 23 is raised by the preceding eccentric cam 70 and stops at the upper end position of the arc portion 71. After that it descends. Immediately before the lowering, the other of the two adjacent lifting pins 23 is lifted by the following eccentric cam 70, and the two lifting pins 23 are simultaneously moved to the upper end position at a portion where the eccentric cam 70 partially overlaps. Ascend to support the glass substrate 26. Immediately after this, one raising / lowering pin 23 descend | falls, the other raising / lowering pin 23 stops in an upper end position, and if it passes the circular arc part 71, it will descend | fall.

これを4つの昇降ピン23が隣同士で連携して行う。端部の昇降ピン23の場合は、一端部の昇降ピン23と他端部の昇降ピン23とが隣同士として連携し合う。これにより、隣り合う2つの昇降ピン23のうちのいずれかが必ずガラス基板26を支持することになる。この結果、複数の昇降ピン23のうちいずれか1本は必ずガラス基板26に接触して、ガラス基板26を安定して支持することができる。   This is done in cooperation with the four lift pins 23 adjacent to each other. In the case of the lift pin 23 at the end, the lift pin 23 at one end and the lift pin 23 at the other end cooperate with each other. As a result, one of the two adjacent lifting pins 23 always supports the glass substrate 26. As a result, any one of the plurality of lifting pins 23 always comes into contact with the glass substrate 26 and can stably support the glass substrate 26.

前記実施形態では、直動カム62を山型にしてその頂点を設け、昇降ピン23はこの頂点の手前で上昇して、頂点を過ぎると降下する構成にしたが、頂点部分を平坦にしても良い。具体的には、図14に示すように、直動カム72は、その山型形状の頂点部分に、平坦面部73が形成されている。   In the above-described embodiment, the linear cam 62 is formed in a mountain shape and the apex thereof is provided, and the elevating pin 23 rises before this apex and descends after the apex. good. Specifically, as shown in FIG. 14, the linear cam 72 has a flat surface portion 73 formed at the apex portion of the mountain shape.

さらに、平坦面部73は、複数配設された昇降ピン23のうち少なくとも隣接する2つの昇降ピン23のローラ部66に同時に接触し得る長さに設定されている。3つ以上の昇降ピン23のローラ部66が同時に接触し得る長さに設定しても良い。 Further, the flat surface portion 73 is set to a length that can simultaneously contact the roller portions 66 of at least two adjacent lifting pins 23 among the plurality of lifting pins 23 arranged. You may set to the length which the roller part 66 of the three or more raising / lowering pins 23 can contact simultaneously.

これにより、直動カム72を移動させると、各昇降ピン23が、直動カム72で昇降され、平坦面部73で上端位置となって止まり、ガラス基板26を支持する。各昇降ピン23は、平坦面部73を過ぎると再び降下する。このとき、隣り合う2つの昇降ピン23のローラ部66が平坦面部73の両端付近で同時に上端位置となって、2つの昇降ピン23が同時にガラス基板26を支持する。この直後、一方の昇降ピン23は降下し、他方の昇降ピン23は上端位置で止まり、平坦面部73を過ぎると降下する。   Accordingly, when the linear motion cam 72 is moved, each lifting pin 23 is lifted and lowered by the linear motion cam 72, stops at the upper surface position at the flat surface portion 73, and supports the glass substrate 26. Each lifting pin 23 descends again after passing the flat surface portion 73. At this time, the roller portions 66 of the two adjacent lifting pins 23 simultaneously become the upper end positions near both ends of the flat surface portion 73, and the two lifting pins 23 support the glass substrate 26 at the same time. Immediately after this, one raising / lowering pin 23 descend | falls, the other raising / lowering pin 23 stops in an upper end position, and if it passes the flat surface part 73, it will descend | fall.

これを4つの昇降ピン23が隣同士で連携して行う。これにより、隣り合う2つの昇降ピン23のうちのいずれかが必ずガラス基板26を支持することになる。この結果、複数の昇降ピン23のうちいずれか1本は必ずガラス基板26に接触して、ガラス基板26を安定して支持することができる。   This is done in cooperation with the four lift pins 23 adjacent to each other. As a result, one of the two adjacent lifting pins 23 always supports the glass substrate 26. As a result, any one of the plurality of lifting pins 23 always comes into contact with the glass substrate 26 and can stably support the glass substrate 26.

この場合も前記実施形態同様の作用、効果を奏することができる。   Also in this case, the same operations and effects as in the above embodiment can be achieved.

前記実施形態では、真空中での処理については考慮していないが、本願発明は真空中での処理にも適用できる。具体的には、図15に示すように、ホットプレート43のうち昇降ピン23の軸部27が通る穴の上下端部にOリング75をそれぞれ装着する。Oリング75は、リング溝やワッシャ等の既存の技術で固定する。Oリング75は、ホットプレート43の穴に挿入できる大きさの環状シール材で構成されている。このOリング75でホットプレート43の穴が密封されて、昇降ピン23の軸部27がOリング75の中央の孔に通される。   In the said embodiment, although the process in a vacuum is not considered, this invention is applicable also to the process in a vacuum. Specifically, as shown in FIG. 15, O-rings 75 are respectively attached to the upper and lower ends of the hole through which the shaft portion 27 of the lift pin 23 passes in the hot plate 43. The O-ring 75 is fixed by an existing technique such as a ring groove or a washer. The O-ring 75 is made of an annular sealing material that can be inserted into the hole of the hot plate 43. The hole of the hot plate 43 is sealed by the O-ring 75, and the shaft portion 27 of the elevating pin 23 is passed through the central hole of the O-ring 75.

ホットプレート43の上側には、側壁部76が一体的に設けられ、側壁部76の上端に天板77で取り付けられている。側壁部76と天板77との間は、Oリング78で密封されている。これにより、ホットプレート43と側壁部76と天板77とで真空室79が形成されている。この真空室79内で真空ベーキングや真空乾燥等の処理が行われる。   A side wall 76 is integrally provided on the upper side of the hot plate 43, and is attached to the upper end of the side wall 76 with a top plate 77. The side wall 76 and the top plate 77 are sealed with an O-ring 78. Thereby, a vacuum chamber 79 is formed by the hot plate 43, the side wall portion 76, and the top plate 77. Processing such as vacuum baking and vacuum drying is performed in the vacuum chamber 79.

この場合も前記実施形態同様の作用、効果を奏することができる。   Also in this case, the same operations and effects as in the above embodiment can be achieved.

前記実施形態では、リフトピン機構21を単独で備えた場合を例に説明したが、リフトピン機構21と既存の送り手段とを組み合わせて構成しても良い。既存の送り手段でガラス基板26を持ち上げて例えば1mmずつ移動させる。そして、リフトピン機構21の4本の昇降ピン23で交互にガラス基板26を支持する。これにより、ガラス基板26の裏面に接触する昇降ピン23の同じ場所への接触回数を減少させることができ、昇降ピン23の接触によるガラス基板26の裏面へのダメージを大幅に低減することができる。   In the above-described embodiment, the case where the lift pin mechanism 21 is provided alone has been described as an example. However, the lift pin mechanism 21 and the existing feeding unit may be combined. The glass substrate 26 is lifted by existing feeding means and moved by 1 mm, for example. Then, the glass substrates 26 are alternately supported by the four lifting pins 23 of the lift pin mechanism 21. Thereby, the frequency | count of contact to the same location of the raising / lowering pin 23 which contacts the back surface of the glass substrate 26 can be decreased, and the damage to the back surface of the glass substrate 26 by the contact of the raising / lowering pin 23 can be reduced significantly. .

特に、送り手段とリフトピン機構21を交互に作動させると、各昇降ピン23はガラス基板26の裏面の同じ場所に2回接触することがなくなり、昇降ピン23の接触によるガラス基板26の裏面へのダメージを最小限に抑えることができる。   In particular, when the feeding means and the lift pin mechanism 21 are operated alternately, the elevating pins 23 do not contact the same location on the back surface of the glass substrate 26 twice, so that the elevating pins 23 contact the back surface of the glass substrate 26. Damage can be minimized.

また、ガラス基板26を移動させる際に、移動ピッチを変えて往復させてもよい。例えば、送り手段で一方へ1mmピッチで移動させ、次いで他方へ0.8mmピッチで移動させてもよい。また、送り手段でガラス基板26を移動させる方向としては、前後方向だけでなく、左右方向も適宜組み合わせてガラス基板26を移動させてもよい。   Further, when the glass substrate 26 is moved, the glass substrate 26 may be reciprocated by changing the moving pitch. For example, it may be moved to the one side with a 1 mm pitch by the feeding means and then moved to the other side with a 0.8 mm pitch. Further, as a direction in which the glass substrate 26 is moved by the feeding unit, the glass substrate 26 may be moved by appropriately combining not only the front-rear direction but also the left-right direction.

Claims (9)

処理対象基板をその下側から当接して支持する昇降ピンを備えたリフトピン機構であって、
前記処理対象基板に対する支持領域を異なるように前記処理対象基板の下方に配設された複数の昇降ピンユニットを備え、
前記各昇降ピンユニットが、
上下動可能に支持された複数の昇降ピンと、
前記各昇降ピンに対応してそれぞれ設けられ、対応する前記昇降ピンの下端部に当接して当該昇降ピンを昇降させるカム機構を備えて、上方に最も突出している昇降ピンが順々にかつ繰返し代わるように前記各昇降ピンの上下動を連動して行い、上方に最も突出している昇降ピンによって、前記処理対象基板を設定高さに支持する昇降手段と、
前記各カム機構を駆動して、前記昇降手段による前記各昇降ピンの上下動を駆動させる駆動部とを備え
複数の前記昇降ピンユニットを間隔をおいて一列に配設すると共に、このような列を、列の直交方向に間隔をおいて複数列設け、
同一列の複数の前記昇降ピンユニットにおける駆動部がそれぞれ、共通する駆動源の運動を受けて、対応する昇降手段のカム機構を駆動する
ことを特徴とするリフトピン機構。
A lift pin mechanism having lifting pins that support and support the substrate to be processed from below,
A plurality of lifting pin units disposed below the processing target substrate so as to have different support areas for the processing target substrate;
Each lifting pin unit is
A plurality of lifting pins supported so as to be movable up and down ;
Provided corresponding to each of the lifting pins, and provided with a cam mechanism that contacts the lower end of the corresponding lifting pin and lifts the lifting pin, and the lifting pins that protrude most upward are sequentially and repeatedly. Ascending and descending movement of each of the elevating pins so as to replace, elevating means for supporting the substrate to be processed at a set height by the elevating pins protruding most upward ,
A drive unit that drives each cam mechanism and drives the vertical movement of each lift pin by the lift means ;
A plurality of the lifting pin units are arranged in a row at intervals, and such a row is provided in a plurality of rows at intervals in the orthogonal direction of the rows,
A lift pin mechanism characterized in that drive units in a plurality of the lift pin units in the same row each receive a motion of a common drive source and drive a cam mechanism of a corresponding lift means .
請求項に記載のリフトピン機構において、
前記昇降手段のカム機構が、回転板状の偏芯カムを備え、
当該偏芯カムが、その外周形状の一部に、回転中心からの距離が等しく対応する前記昇降ピンの突出量を維持させる円弧部を有することを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 1 ,
A cam mechanism of the elevating means includes a rotating plate-shaped eccentric cam;
A lift pin mechanism characterized in that the eccentric cam has a circular arc part for maintaining a protruding amount of the lifting pin corresponding to an equal distance from the rotation center at a part of an outer peripheral shape thereof.
請求項に記載のリフトピン機構において、
隣り合う偏芯カムの円弧部を一部重なるようにし、隣り合う前記昇降ピンの突出量を同じにしている期間を形成させることを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 2 ,
A lift pin mechanism characterized in that the arc portions of adjacent eccentric cams are partially overlapped to form a period in which the protruding amounts of adjacent lift pins are the same .
請求項に記載のリフトピン機構において、
前記昇降手段のカム機構が、直動カムを備え、
当該直動カムが、その山型形状の頂点部分に、平坦面部を有することを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 1 ,
A cam mechanism of the elevating means includes a linear cam;
The lift pin mechanism, wherein the linear cam has a flat surface portion at a peak portion of the mountain shape.
請求項に記載のリフトピン機構において、
隣り合う前記直動カムの平坦面部が、隣り合う前記昇降ピンに同時に接触し得る長さに設定され、隣り合う前記昇降ピンの突出量を同じにしている期間を形成させることを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 4 ,
The lift pins characterized in that the flat surface portions of the adjacent linear cams are set to a length that can be in contact with the adjacent lift pins at the same time, and a period in which the protruding amounts of the adjacent lift pins are the same is formed. mechanism.
請求項1に記載のリフトピン機構において、
前記駆動部が、前記昇降手段を駆動する速度を調整する制御部を備えたことを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 1,
A lift pin mechanism, wherein the drive unit includes a control unit that adjusts a speed of driving the elevating means.
請求項に記載のリフトピン機構において、
前記昇降ピンが、前記処理対象基板を加熱するホットプレートの熱膨張に伴う前記各昇降ピンの前記ホットプレートの面に沿う方向のズレを吸収する熱膨張吸収手段を備えたことを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 1 ,
Each said raising / lowering pin was equipped with the thermal expansion absorption means which absorbs the shift | offset | difference of the direction of the said raising / lowering pin along the surface of the said hot plate accompanying the thermal expansion of the hot plate which heats the said process target board | substrate. Lift pin mechanism.
請求項に記載のリフトピン機構において、
前記熱膨張吸収手段が、互いの当接面を平坦面状にして電磁的に結合し、熱膨張に伴って一時的に結合を解除して前記互いの当接面をずらすことで、前記処理対象基板を加熱するホットプレートの熱膨張に伴う対応する前記昇降ピンの前記ホットプレートの面に沿う方向のズレを吸収する電磁石を備えることを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 7 ,
The thermal expansion absorbing means electromagnetically couples the contact surfaces with each other with a flat surface, and temporarily disengages the thermal contact to displace the contact surfaces with each other. lift pin mechanism, wherein the benzalkonium comprises an electromagnet which absorbs said corresponding deviation in the direction along the surface of the hot plate of the lift pin due to thermal expansion of the hot plate which heats the target substrate.
請求項に記載のリフトピン機構において、
前記熱膨張吸収手段が、互いの当接面を平坦面状にしてその一方をN極、他方をS極として電磁的に結合し、前記処理対象基板を加熱するホットプレートの熱膨張に伴う対応する前記昇降ピンの前記ホットプレートの面に沿う方向のズレを前記平坦面状の当接面の互いのズレで吸収する永久磁石又は電磁石を備えて構成されたことを特徴とするリフトピン機構。
The lift pin mechanism according to claim 7 ,
Corresponding to the thermal expansion of a hot plate that heats the substrate to be processed, wherein the thermal expansion absorbing means is electromagnetically coupled with the contact surfaces thereof being flat and one of which is an N pole and the other is an S pole. A lift pin mechanism comprising a permanent magnet or an electromagnet that absorbs the displacement of the elevating pin in the direction along the surface of the hot plate by the displacement of the flat contact surface.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190011851A (en) * 2017-07-25 2019-02-08 세메스 주식회사 Lift pin unit and Unit for supporting substrate
KR20200081199A (en) * 2018-12-27 2020-07-07 닛신 이온기기 가부시기가이샤 Substrate holding apparatus
US11651990B2 (en) 2019-07-03 2023-05-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate processing apparatus and driving method thereof

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101074168B1 (en) * 2008-06-18 2011-10-17 주식회사 나래나노텍 An Improved Apparatus and Method for Lifting and Descending Glass Panel
JP5216669B2 (en) * 2009-04-03 2013-06-19 古河機械金属株式会社 Lift pin mechanism, member processing device
CN103052577B (en) * 2010-09-14 2015-04-01 古河机械金属株式会社 Processing device
CN102963578B (en) * 2012-11-23 2015-07-01 深圳市华星光电技术有限公司 Panel unpacking method and unpacking device
US11938563B2 (en) 2016-10-20 2024-03-26 Jsw Aktina System Co., Ltd. Annealed workpiece manufacturing method, laser anneal base stage, and laser anneal processing apparatus
JP7198694B2 (en) * 2019-03-18 2023-01-04 東京エレクトロン株式会社 SUBSTRATE LIFT MECHANISM, SUBSTRATE SUPPORTER, AND SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS
JP7438018B2 (en) * 2020-05-11 2024-02-26 東京エレクトロン株式会社 Substrate mounting method and substrate mounting mechanism
JP2022002274A (en) * 2020-06-22 2022-01-06 株式会社Screenホールディングス Substrate processing apparatus
USD990534S1 (en) * 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
CN115210859A (en) * 2021-02-01 2022-10-18 株式会社天谷制作所 Lift pin, semiconductor manufacturing apparatus, and lift pin manufacturing method

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02114547A (en) * 1988-10-24 1990-04-26 Mitsubishi Electric Corp Die pushing-up mechanism of semiconductor manufacturing apparatus
JPH1076211A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Device for drying under reduced pressure
JP2001093960A (en) * 1999-09-22 2001-04-06 Hitachi Techno Eng Co Ltd Wafer positioning device for processing equipment
JP2001274225A (en) * 2000-03-24 2001-10-05 Tokyo Electron Ltd Processing equipment
JP2002246450A (en) * 2001-02-20 2002-08-30 Nikon Corp Substrate holding device and substrate transfer method
JP2004228255A (en) * 2003-01-21 2004-08-12 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die pickup method and die pickup device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002079163A (en) * 2000-09-05 2002-03-19 Toppan Printing Co Ltd Slit coater
KR100966430B1 (en) * 2004-08-31 2010-06-28 엘지디스플레이 주식회사 Soft baking apparatus having a substrate support pin and soft baking method using the same

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02114547A (en) * 1988-10-24 1990-04-26 Mitsubishi Electric Corp Die pushing-up mechanism of semiconductor manufacturing apparatus
JPH1076211A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Device for drying under reduced pressure
JP2001093960A (en) * 1999-09-22 2001-04-06 Hitachi Techno Eng Co Ltd Wafer positioning device for processing equipment
JP2001274225A (en) * 2000-03-24 2001-10-05 Tokyo Electron Ltd Processing equipment
JP2002246450A (en) * 2001-02-20 2002-08-30 Nikon Corp Substrate holding device and substrate transfer method
JP2004228255A (en) * 2003-01-21 2004-08-12 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die pickup method and die pickup device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190011851A (en) * 2017-07-25 2019-02-08 세메스 주식회사 Lift pin unit and Unit for supporting substrate
KR102030471B1 (en) * 2017-07-25 2019-10-14 세메스 주식회사 Lift pin unit and Unit for supporting substrate
US11139195B2 (en) 2017-07-25 2021-10-05 Semes Co., Ltd. Lift pin unit and substrate supporting unit having the same
KR20200081199A (en) * 2018-12-27 2020-07-07 닛신 이온기기 가부시기가이샤 Substrate holding apparatus
US11651990B2 (en) 2019-07-03 2023-05-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate processing apparatus and driving method thereof
US11984345B2 (en) 2019-07-03 2024-05-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Substrate processing apparatus and driving method thereof

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