JP5628092B2 - 画像処理装置、放射線画像撮影システム、画像処理プログラム、及び画像処理装置の作動方法 - Google Patents
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Description
また、本実施の形態では、放射線源30が設けられた放射線照射部24を撮影位置(所定角度)に移動させて各撮影位置から放射線を被験者Wの乳房Nに対して照射させるよう放射線画像撮影装置10を構成しているがこれに限らず、例えば、撮影位置(所定角度)毎に放射線源30を設ける等、複数の放射線源30を備え、放射線照射部24を移動させることなく当該複数の放射線源30から放射線をそれぞれ照射させるように構成してもよい。
10 放射線画像撮影装置
42 放射線検出器
50 画像処理装置
62 画像表示指示部
64 指示受付部
66 断層画像生成部
68 画像解析部
70 断層画像検出部
72 記憶部
80 表示装置
N 乳房
W 被験者
Claims (12)
- 放射線画像検出器に対向して設けられた放射線照射部から前記放射線画像検出器上の被写体に対して異なる角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器により前記角度毎に撮影された複数の第1放射線画像を前記放射線画像検出器から取得し、取得した複数の前記第1放射線画像に基づいて、前記被写体の前記放射線画像検出器の検出面を基準として再構成した複数の断層画像を生成する断層画像生成手段と、
前記放射線照射部から前記放射線画像検出器上の前記被写体に対して予め定められた角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器から取得した第2放射線画像を表示手段に表示させる表示処理手段と、
前記表示手段に表示された前記第2放射線画像において関心物が含まれる関心領域が指定された場合は、前記関心領域の画像と前記断層画像の前記関心領域に対応する対応領域の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応領域の画像が前記関心領域の画像に類似した前記断層画像を検出し、前記第2放射線画像において前記関心物の関心位置が指定された場合は、前記関心位置の画像と前記関心物の関心位置に対応する前記断層画像の対応位置の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応位置の画像が前記関心位置の画像に類似した前記断層画像を検出する検出手段であって、指定された前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ未満の場合は、各画素の画素値が予め定められた画素値以上の前記対応領域の画像を前記関心領域の画像に類似しているとし、前記関心位置が指定された場合は、各画素の画素値が前記予め定められた画素値以上の前記対応位置の画像を前記関心位置の画像に類似しているとし、また、前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ以上の場合は、前記関心領域の画像の各画素の画素値と前記対応領域の画像の各画素の画素値とに基づいて画像解析を行う検出手段と、
を備えた画像処理装置。 - 前記予め定められた大きさは、予め得られている石灰化の画像に基づいて定められている、請求項1に記載の画像処理装置。
- 指定された前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ未満の場合は、
前記検出手段は、前記放射線画像検出器の検出面を基準とした位置において隣接している断層画像同士は、検出結果から除く、請求項1または請求項2に記載の画像処理装置。 - 指定された前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ未満の場合は、
前記検出手段は、類似している前記対応領域の画像を含む前記断層画像が複数ある場合は、前記対応領域を含む前記予め定められた大きさよりも大きな検出領域を設定し、設定した検出領域の画像の各画素の画素値と前記関心領域の画像の各画素の画素値とに基づいて画像解析を行い、類似している前記対応位置の画像を含む前記断層画像が複数ある場合は、前記対応位置の画像を含む前記検出領域を設定し、設定した前記検出領域の画像の各画素の画素値と前記関心位置の画像の各画素の画素値とに基づいて画像解析を行う、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記被写体に対して麻酔を行う場合は、前記対応領域を前記関心領域よりも大きく設定する、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記検出手段による画像解析の解析結果が、類似した前記対応領域の画像または前記対応位置の画像が存在していないことを示している場合は、前記断層画像生成手段は、スライス厚を小さくして前記断層画像を再構成する、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記検出手段により検出された前記断層画像を前記表示手段に表示させる表示処理手段を備えた、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記検出手段により検出された前記断層画像が複数ある場合は、前記表示処理手段は、類似度合いが高い順に前記断層画像を前記表示手段に表示させる、請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記予め定められた角度は、前記放射線画像検出器の検出面に交差する方向の角度である、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 放射線画像検出器に対向して設けられた放射線照射部から前記放射線画像検出器上の被写体に対して異なる角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器により前記角度毎に複数の放射線画像を撮影する放射線画像撮影装置と、
前記放射線画像撮影装置が撮影した複数の放射線画像から断層画像を生成する、前記請求項1から前記請求項9のいずれか1項に記載の画像処理装置と、
を備えた放射線画像撮影システム。 - コンピュータを、
放射線画像検出器に対向して設けられた放射線照射部から前記放射線画像検出器上の被写体に対して異なる角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器により前記角度毎に撮影された複数の第1放射線画像を前記放射線画像検出器から取得し、取得した複数の前記第1放射線画像に基づいて、前記被写体の前記放射線画像検出器の検出面を基準として再構成した複数の断層画像を生成する断層画像生成手段と、
前記放射線照射部から前記放射線画像検出器上の前記被写体に対して予め定められた角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器から取得した第2放射線画像を表示手段に表示させる表示処理手段と、
前記表示手段に表示された前記第2放射線画像において関心物が含まれる関心領域が指定された場合は、前記関心領域の画像と前記断層画像の前記関心領域に対応する対応領域の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応領域の画像が前記関心領域の画像に類似した前記断層画像を検出し、前記第2放射線画像において前記関心物の関心位置が指定された場合は、前記関心位置の画像と前記関心物の関心位置に対応する前記断層画像の対応位置の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応位置の画像が前記関心位置の画像に類似した前記断層画像を検出する検出手段であって、指定された前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ未満の場合は、各画素の画素値が予め定められた画素値以上の前記対応領域の画像を前記関心領域の画像に類似しているとし、前記関心位置が指定された場合は、各画素の画素値が前記予め定められた画素値以上の前記対応位置の画像を前記関心位置の画像に類似しているとし、また、前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ以上の場合は、前記関心領域の画像の各画素の画素値と前記対応領域の画像の各画素の画素値とに基づいて画像解析を行う検出手段と、
して機能させるための画像処理プログラム。 - 断層画像生成手段、表示処理手段、及び検出手段を備えた画像処理装置の作動方法であって、
前記断層画像生成手段により、放射線画像検出器に対向して設けられた放射線照射部から前記放射線画像検出器上の被写体に対して異なる角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器により前記角度毎に撮影された複数の第1放射線画像を前記放射線画像検出器から取得し、取得した複数の前記第1放射線画像に基づいて、前記被写体の前記放射線画像検出器の検出面を基準として再構成した複数の断層画像を生成する断層画像生成工程と、
前記表示処理手段により、前記放射線照射部から前記放射線画像検出器上の前記被写体に対して予め定められた角度から放射線を照射して前記放射線画像検出器から取得した第2放射線画像を表示手段に表示させる表示処理工程と、
前記検出手段により、前記表示手段に表示された前記第2放射線画像において関心物が含まれる関心領域が指定された場合は、前記関心領域の画像と前記断層画像の前記関心領域に対応する対応領域の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応領域の画像が前記関心領域の画像に類似した前記断層画像を検出し、前記第2放射線画像において前記関心物の関心位置が指定された場合は、前記関心位置の画像と前記関心物の関心位置に対応する前記断層画像の対応位置の画像とを画像解析により比較した解析結果に基づいて、前記対応位置の画像が前記関心位置の画像に類似した前記断層画像を検出する検出工程であって、指定された前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ未満の場合は、各画素の画素値が予め定められた画素値以上の前記対応領域の画像を前記関心領域の画像に類似しているとし、前記関心位置が指定された場合は、各画素の画素値が前記予め定められた画素値以上の前記対応位置の画像を前記関心位置の画像に類似しているとし、また、前記関心領域の大きさが予め定められた大きさ以上の場合は、前記関心領域の画像の各画素の画素値と前記対応領域の画像の各画素の画素値とに基づいて画像解析を行う検出工程と、
を備えた画像処理装置の作動方法。
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