JP5875437B2 - 金属微粒子の製造方法 - Google Patents
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Description
第1工程にて、蒸発法により、表面が2エチルヘキサン酸及び2エチルヘキシルアミンで覆われた平均粒径4nmのAg微粒子(アルバック製の商品名「Agナノメタル分散インク」)を得た。本発明者の実験では、このAg微粒子を含むAg微粒子分散液は、150℃で焼成しても導通が得られないことを確認した。上記Ag微粒子をトルエンに分散させてAg分散液を20g得た。この分散液中のAg含有量は6gであり、Ag濃度を30wt%とした。このAg分散液20gにネオペンタン酸を1.2g(Ag固形分に対して、20wt%)添加し、混合し、氷浴状態で30分の超音波処理を行ってAg微粒子含有液を得た(第2工程)。このAg微粒子含有液1容量に対し、アセトンを10容量添加して上記洗浄工程を複数回繰り返し、遠心分離処理により溶媒を除去することで、Ag微粒子の表面を覆う2エチルヘキサン酸がネオペンタン酸に置換された。このようにネオペンタン酸に置換されたAg微粒子を、トルエン14g及びドデシルアミン1.2gと混合し、室温で1時間攪拌してAg微粒子含有液を得た(第3工程)。このAg微粒子含有液1容量に対してアセトンを10容量添加して行う上記洗浄工程を複数回繰り返し、遠心分離処理により溶媒を除去することで、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子が得られた。
本実施例2では、第2工程での超音波処理時間を1時間にすることを除き、実施例1と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を作製した。作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表2に示す。本実施例2によれば、焼成時間が30分以上の場合に、上記実施例1と同等の比抵抗値を有する低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
本実施例3では、第2工程での超音波処理時間を2時間にすることを除き、実施例1と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を作製した。作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表3に示す。本実施例3によれば、焼成時間が30分以上の場合に、上記実施例1と同等の比抵抗値を有する低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
本実施例4では、第2工程を2回繰り返して行う点以外は実施例1と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を作製した。作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表4に示す。本実施例4によれば、焼成時間が10分でも、比抵抗値が30μΩ・cm以下の低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。これは、ネオペンタン酸への置換率が上記実施例1〜3よりも高いためであると考えられる。
本実施例5では、第2工程を3回繰り返して行う点以外は上記実施例1と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を作製した。作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表4に示す。本実施例5によれば、上記実施例4よりも一層低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
本実施例6では、Ag微粒子を分散させる低極性溶媒としてトルエンの代わりにシクロペンチルメチルエーテルを用いる点以外は上記実施例2と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg分散液(濃度30wt%のAg微粒子インク)を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を塗布し、120℃又は150℃の温度で、焼成温度を変化させて作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表5に示す。本実施例6によれば、焼成温度が120℃の場合、焼成時間を60分以上とすることで比抵抗値が30μΩ・cm以下の低抵抗のAg薄膜が得られ、また、焼成時間が150℃の場合、焼成時間を30分以上とすることで比抵抗値が30μΩ・cm以下の低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
本実施例7では、第2工程にてネオペンタン酸1.2gと共にドデシルアミン2.4gを添加する点以外は実施例2と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を塗布し、焼成温度を100℃又は120℃とし、焼成時間を変化させて作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表6に示す。本実施例7によれば、焼成温度が100℃の場合には焼成時間を180分以上とすることで、また、焼成時間が120℃又は150℃の場合には焼成時間を30分以上とすることで、比抵抗値が30μΩ・cm以下の低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
本実施例8では、第2工程にてネオペンタン酸1.2gの代わりにネオペンタン酸1.2gとドデシルアミン2.4gとを反応させて得た反応物を添加する点以外は実施例2と同様の方法で、表面がネオペンタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を塗布し、焼成温度を100℃、120℃又は150℃とし、焼成時間を変化させて作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表7に示す。本実施例8によれば、焼成温度が100℃の場合には焼成時間を180分以上とすることで、また、焼成時間が120℃又は150℃の場合には焼成時間を30分以上とすることで、比抵抗値が30μΩ・cm以下の低抵抗のAg薄膜が得られることが判った。
(比較例1)
本比較例1では、ネオペンタン酸の代わりにオクタン酸を用いる点以外は実施例2と同様の方法で、表面がオクタン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg微粒子分散液を塗布し、150℃の温度で焼成時間を変化させてAg薄膜を作製した。作製したAg薄膜の比抵抗値の測定結果を以下の表8に示す。本比較例1によれば、焼成時間が60分、120分の場合、導通せず(比抵抗値を測定出来ず)、容易に低温焼成化を実現できないことが判った。
本比較例2では、ネオペンタン酸の代わりにオレイン酸を用いる点以外は実施例2と同様の方法で、表面がオレイン酸とドデシルアミンで覆われたAg微粒子を含むAg微粒子分散液を得て、インクジェット法を用いてAg薄膜を塗布し、150℃の温度で焼成して作製した。焼成時間を3時間としても、得られたAg薄膜は導通せず、比抵抗値を測定できなかった。
Claims (6)
- 直鎖又は分岐構造を有する炭素数6〜18の第1のカルボン酸と直鎖又は分岐構造を有する炭素数6〜18の第1のアミンで表面が覆われた金属微粒子を生成する第1工程と、
第1工程で生成された金属微粒子を、前記第1のカルボン酸とは異なる、ネオ分岐構造を有する炭素数5〜22の第2のカルボン酸と混合し、金属微粒子の表面を覆う第1のカルボン酸を第2のカルボン酸に置換する第2工程と、
表面が第2のカルボン酸と第1のアミンで覆われた金属微粒子を、前記第1のアミンとは異なる、直鎖又は分岐構造を有する炭素数4〜22の1級アミンである第2のアミンと混合し、表面が第2のカルボン酸及び第2のアミンで覆われた金属微粒子を得る第3工程と、を含むことを特徴とする金属微粒子の製造方法。 - 前記第2のカルボン酸が、ネオペンタン酸、ネオヘキサン酸、ネオへプタン酸、ネオオクタン酸、ネオノナン酸、ネオデカン酸、ネオトリデカン酸、ネオドデカン酸から選択された少なくとも1つであることを特徴とする請求項1記載の金属微粒子の製造方法。
- 前記第1のカルボン酸が、ヘキサン酸、2メチルヘプタン酸、オクタン酸、2エチルへキサン酸、ノナン酸、デカン酸、ウンデカン酸、ドデカン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、2へキシルデカン酸、ステアリン酸、オレイン酸、イソステアリン酸から選択された少なくとも1つであることを特徴とする請求項1または2記載の金属微粒子の製造方法。
- 前記第1のアミンが、へキシルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、テトラデシルアミン及びオレイルアミンから選択された少なくとも1つであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の金属微粒子の製造方法。
- 前記第2のアミンが、へキシルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、テトラデシルアミン及びオレイルアミンから選択された少なくとも1つであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の金属微粒子の製造方法。
- 前記金属が、Ag、Au、Ni、Pd、Rh、Ru、In、Sn、Cu及びPtから選択された少なくとも1種の金属又はこれらの金属の少なくとも2種からなる合金であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項記載の金属微粒子の製造方法。
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