JP5948633B2 - Solder ball mounting method - Google Patents
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Description
本発明は、半導体素子を搭載するための配線基板における半導体素子接続パッド上に半田ボールを搭載する半田ボールの搭載方法に関するものである。 The present invention relates to a solder ball mounting method for mounting a solder ball on a semiconductor element connection pad in a wiring board for mounting a semiconductor element.
従来、例えば半導体素子をフリップチップ接続により搭載するための配線基板は、上面中央部に半導体素子が搭載される搭載部を有している。搭載部には半導体素子の電極端子が半田を介して接続される多数の半導体素子接続パッドが形成されており、この半導体素子接続パッドと半導体素子の電極端子とを半田を介して接続することにより半導体素子が配線基板上に実装される。半導体素子接続パッドは、例えば厚みが数〜数十μmの銅めっき層から形成されており、各々直径が50〜100μm程度の円形状に露出するようにして数十〜数千個が100〜200μmのピッチで格子状に並んで搭載部上に配置されている。 2. Description of the Related Art Conventionally, for example, a wiring board for mounting a semiconductor element by flip-chip connection has a mounting portion on which the semiconductor element is mounted at the center of the upper surface. A large number of semiconductor element connection pads to which the electrode terminals of the semiconductor element are connected via solder are formed on the mounting portion. By connecting the semiconductor element connection pads and the electrode terminals of the semiconductor element via solder, A semiconductor element is mounted on the wiring board. The semiconductor element connection pads are formed from, for example, a copper plating layer having a thickness of several to several tens of μm, and several tens to several thousands of the pads are exposed to a circular shape having a diameter of about 50 to 100 μm. Are arranged on the mounting portion in a grid pattern with a pitch of.
このような配線基板においては、半導体素子接続パッドと半導体素子の電極端子との半田を介した接続を容易かつ確実とするために、半導体素子接続パッド上に直径が50〜100μm程度の半田バンプを予め溶着させておくのが一般的である。半導体素子接続パッド上に半田バンプを溶着させる方法として、半田バンプの体積に対応する微小な半田ボールを半導体素子接続パッド上に搭載するとともに、この半田ボールを加熱溶融させることにより溶着する方法が多用されている。 In such a wiring board, a solder bump having a diameter of about 50 to 100 μm is formed on the semiconductor element connection pad in order to easily and surely connect the semiconductor element connection pad and the electrode terminal of the semiconductor element via solder. Generally, it is welded in advance. As a method for welding a solder bump on a semiconductor element connection pad, a method is often used in which a small solder ball corresponding to the volume of the solder bump is mounted on the semiconductor element connection pad and the solder ball is welded by heating and melting. Has been.
半田ボールを配線基板の半導体素子接続パッド上に搭載する方法としては、半田ボール搭載用のマスクを用いる方法が一般的である。マスクは一般的にステンレス製の薄い平板からできており、半導体素子接続パッドに対応する位置に半田ボールを1個ずつ収容可能な開口部が形成されている。そして、配線基板の半導体素子接続パッド上にマスクの開口部が位置するように配線基板上にマスクを位置合わせして載置するとともに、マスク上に半田ボールを例えば散布等により供給して半田ボールをマスクの開口部内に落し込んだ後、残余の半田ボールをマスク上から除去することにより半田ボールが半導体素子接続パッド上に搭載される。 As a method for mounting the solder ball on the semiconductor element connection pad of the wiring board, a method using a solder ball mounting mask is generally used. The mask is generally made of a thin flat plate made of stainless steel, and has an opening that can accommodate one solder ball at a position corresponding to the semiconductor element connection pad. Then, the mask is positioned and placed on the wiring board so that the opening of the mask is positioned on the semiconductor element connection pad of the wiring board, and solder balls are supplied onto the mask by, for example, spraying or the like. Then, the solder balls are mounted on the semiconductor element connection pads by removing the remaining solder balls from the mask.
しかしながら、マスク上に半田ボールを散布等により供給しただけでは、全ての半導体素子接続パッド上に半田ボールを搭載することは困難である。なぜなら、配線基板における半導体素子接続パッドの数は、数百〜数千にもおよび、しかも数十〜数百μmの狭いピッチで密に配列されている。したがって、これらの狭ピッチで多数個配列された半導体素子接続パッドに対応するマスクの開口部内の全てに半田ボールを落とし込むことが確率的にみて困難である。さらに、静電気の影響により半田ボールがマスクの開口部内に引っかかったままの状態となり配線基板の半導体素子接続パッド上に落下しない場合が発生したりする。 However, it is difficult to mount the solder balls on all the semiconductor element connection pads only by supplying the solder balls on the mask by spraying or the like. This is because the number of semiconductor element connection pads on the wiring board ranges from several hundred to several thousand, and is densely arranged at a narrow pitch of several tens to several hundreds μm. Therefore, it is difficult in terms of probability to drop the solder balls into all the openings of the mask corresponding to the semiconductor element connection pads arranged in large numbers at these narrow pitches. Furthermore, the case where the solder ball is stuck in the opening of the mask due to the influence of static electricity and does not fall on the semiconductor element connection pad of the wiring board may occur.
そこで、特開2009−272529号公報では、マスク上に半田ボールを散布した後、残余の半田ボールをマスク上から回転ブラシにより除去した後に、マスクの開口部内の半田ボールを押圧用ブラシにより配線基板側へ押圧する方法が提案されている。しかしながら、この方法によると、マスク上の残余の半田ボールは回転ブラシにより除去されるため、マスクの開口部内の半田ボールを押圧用ブラシにより押圧する際には、半田ボールが収容されてない開口部内へ半田ボールが入る機会はない。また、半田ボールがマスクの上面から突出せずに開口部の途中に引っかかった状態である場合、押圧用ブラシにより半田ボールを十分に押圧することができずに半田ボールが半導体素子接続パッド上に搭載されないことが発生する。 In Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-272529, after spraying solder balls on the mask, the remaining solder balls are removed from the mask with a rotating brush, and then the solder balls in the opening of the mask are connected to the wiring board with a pressing brush. A method of pressing to the side has been proposed. However, according to this method, the remaining solder balls on the mask are removed by the rotating brush. Therefore, when the solder balls in the mask opening are pressed by the pressing brush, the solder balls are not accommodated in the opening. There is no opportunity for solder balls to enter. Further, when the solder ball is not projected from the upper surface of the mask and is caught in the middle of the opening, the solder ball cannot be sufficiently pressed by the pressing brush and the solder ball is placed on the semiconductor element connection pad. It may not be installed.
本発明が解決しようとする課題は、配線基板の半導体素子接続パッド上に半田ボールを高い搭載率で搭載することが可能な半田ボールの搭載方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a solder ball mounting method capable of mounting solder balls on a semiconductor element connection pad of a wiring board at a high mounting rate.
本発明の半田ボールの搭載方法は、半導体素子の電極が接続される複数の半導体素子接続パッドを上面に有する配線基板の前記上面に、前記半導体素子接続パッドに対応する位置に各々1個ずつの半田ボールを収容可能な開口部を有する平板状の半田ボール搭載用のマスクを載置するとともに該マスク上の一端側に多数の半田ボールを寄せて配置する第1の工程と、前記マスク上を前記一端側から他端側に向けて、前記マスクの上面に平行な回転軸を中心にして前記半田ボールを前方に掃き出す方向に回転して前記半田ボールを押し均しながら移動する回転スキージーにより前記半田ボールを前記開口部内に落し込むとともに残余の半田ボールの一部を前記マスク上に分散した状態で残す第2の工程と、前記半田ボールが分散したマスク上を前記他端側から前記一端側に向けて、前記マスクの上面に平行な回転軸を中心にして前記分散した半田ボールを前方に掃き出す方向に回転して前記半田ボールを押し均しながら移動する回転スキージーにより前記半田ボールを前記開口内に落とし込むとともに残余の半田ボールの一部を前記マスク上に分散した状態で残す第3の工程と、前記半田ボールが分散された前記マスク上を、前記他端側から前記一端側へ向けて前記マスク上の半田ボールを押しやりながら移動する回収スキージーにより残余の前記半田ボールを前記一端側に掻き寄せる第4の工程とを行なうことを特徴とするものである。
According to the solder ball mounting method of the present invention, one solder ball is disposed on the upper surface of the wiring board having a plurality of semiconductor element connection pads to which the electrodes of the semiconductor element are connected, each at a position corresponding to the semiconductor element connection pad. A first step of placing a flat solder ball mounting mask having an opening capable of accommodating a solder ball and placing a large number of solder balls close to one end on the mask; The rotating squeegee that moves while sweeping the solder ball by rotating the solder ball forward in the direction from the one end side toward the other end side in a direction that sweeps the solder ball forward about a rotation axis parallel to the upper surface of the mask. a second step of leaving a portion of the remainder of the solder balls with on drop in the opening of the solder balls in a state of being dispersed on the mask, the upper mask the solder balls are dispersed Rotation that moves from the other end side toward the one end side while rotating the solder balls forward in the direction of sweeping the solder balls forward about a rotation axis parallel to the upper surface of the mask. A third step of dropping the solder ball into the opening by a squeegee and leaving a part of the remaining solder ball in a dispersed state on the mask; and the other end on the mask in which the solder ball is dispersed And a fourth step of scraping the remaining solder balls toward the one end side by a recovery squeegee that moves while pushing the solder balls on the mask from the side toward the one end side. .
本発明の半田ボールの搭載方法よれば、第2の工程において、マスク上の一端側に寄せて載置された半田ボールをマスクの一端側から他端側に向けて、マスクの上面に平行な回転軸を中心にして半田ボールを前方に掃き出す方向に回転して押し均しながら移動する回転スキージーによりマスクの開口部内に落し込むとともに残余の半田ボールの一部をマスク上に分散した状態で残し、次いで第3の工程において、半田ボールが分散したマスク上を他端側から一端側に向けて、マスクの上面に平行な回転軸を中心にして、分散した半田ボールを前方に掃き出す方向に回転して半田ボールを押し均しながら移動する回転スキージーにより半田ボールを開口内に落とし込むとともに残余の半田ボールの一部をマスク上に分散した状態で残し、さらに第4の工程において、半田ボールが分散されたマスク上をその他端側から一端側へ向けてマスク上の半田ボールを押しやりながら移動する回収スキージーにより残余の半田ボールをマスクの一端側に掻き寄せることから、第2の工程のみならず、第3および第4の工程においても半田ボールが収容されていない開口部内へ半田ボールが入る機会が与えられる。したがって、極めて高い確率でマスクの開口部内に半田ボールが収容される。また、半田ボールがマスクの開口部の途中に引っかかっているような場合であっても、マスク上に分散した残余の半田ボールが第4の工程における回収スキージーの移動により開口部内の半田ボールをその上から下方に押し付けるので、開口部の途中に引っかかった半田ボールを配線基板の半導体素子接続パッド上に確実に落下させることができる。したがって、配線基板の半導体素子接続パッド上に半田ボールを極めて高い搭載率で搭載することが可能である。 According to the solder ball mounting method of the present invention, in the second step, the solder ball placed close to one end on the mask is directed from one end to the other end of the mask and parallel to the upper surface of the mask. A rotating squeegee that moves while sweeping and rolling the solder balls forward about the rotation axis drops them into the mask opening and leaves a part of the remaining solder balls dispersed on the mask. Then, in the third step, the solder ball dispersed on the mask is directed from the other end side to the one end side, and the dispersed solder ball is rotated forward about the rotation axis parallel to the upper surface of the mask. The solder ball is dropped into the opening by a rotating squeegee that moves while pressing the solder ball, and a part of the remaining solder ball is left dispersed on the mask. In fourth step, the solder balls can scrape the solder balls remaining on the one end side of the mask by the collecting squeegee moving while forces the solder balls on the mask toward the upper mask dispersed from the other end side to one end side Thus, not only in the second step, but also in the third and fourth steps, an opportunity is given for the solder ball to enter the opening in which the solder ball is not accommodated. Therefore, the solder balls are accommodated in the openings of the mask with a very high probability. Even if the solder ball is caught in the middle of the opening of the mask, the remaining solder ball dispersed on the mask moves the solder ball in the opening by the movement of the recovery squeegee in the fourth step. By pressing downward from above, the solder balls caught in the middle of the opening can be reliably dropped onto the semiconductor element connection pads of the wiring board. Therefore, it is possible to mount the solder balls on the semiconductor element connection pads of the wiring board at an extremely high mounting rate.
次に、本発明の半田ボールの搭載方法における実施形態の一例を添付の図を参照して説明する。図1(a)〜(e)は、本発明の半田ボールの搭載方法における実施形態の一例を説明するための工程毎の断面模式図である。図1において、1は配線基板、2はマスク、7は回転スキージー、8は回収スキージーである。また、図2は回転スキージー7および回収スキージー8に用いられるスキージーユニットUの模式図である。
Next, an example of an embodiment of the solder ball mounting method of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1A to FIG. 1E are schematic cross-sectional views for each process for explaining an example of an embodiment of the solder ball mounting method of the present invention. In FIG. 1, 1 is a wiring board, 2 is a mask, 7 is a rotating squeegee, and 8 is a recovery squeegee. FIG. 2 is a schematic diagram of a squeegee unit U used for the rotary squeegee 7 and the
まず、図1(a)に示すように、配線基板1と半田ボール搭載用のマスク2とを準備する。配線基板1は、例えば周知のビルドアップ法により形成されており、その上面の中央部に多数の半導体素子接続パッド3を有している。半導体素子接続パッド3は、その直径が50〜100μm程度の円形であり、数十〜数千個が100〜200μmのピッチで例えば格子状の配列に並んでいる。また、マスク2は厚みが50〜120μmのステンレス製の平板から成り、ステンレス製のフレーム5の下面に張着されている。マスク2には、配線基板1の半導体素子接続パッド3に対応する位置に直径が70〜140μm程度の多数の開口部4が形成されているとともに、半導体素子接続パット3に対向する領域の下面が30〜50μmの深さに座刳られている。なお、この例では、簡便のため配線基板1の一個分について図示しているが、実際には、配線基板用のパネルの中に複数個の配線基板1を縦横の並びに一体的に形成した多数個取り配線基板の形態で準備される。
First, as shown in FIG. 1A, a
次に、図1(b)に示すように、配線基板1上にマスク2を、半導体素子接続パッド3とこれに対応する開口部4とが上面視で互いに重なり合うように載置するとともに、マスク2の上面の一端側に1千万〜2千万個の多数の半田ボール6を寄せて配置する。半田ボール6は、直径が50〜120μm程度であり、開口部4内に1個ずつが収容される大きさで略均一な直径を有している。なお、マスク2を載置する前に半導体素子接続パッド3上に粘性を有するフラックスを塗布しておくことが好ましい。
Next, as shown in FIG. 1B, the
次に、図1(c)に示すように、マスク2上をその一端側から他端側に向けて半田ボール6を押し均しながら移動する回転スキージー7により半田ボール6を開口部4内に落とし込む。このとき、回転スキージー7の後方のマスク2上に残余の半田ボール6の一部が分散した状態で残るようにする。これにより大部分の開口部4内に半田ボール6が収容される。そして、図1(d)に示すように、同様の動作をマスク2上の他端側から一端側へ向けて行なう。これにより開口部4内への半田ボールの収容率がさらに向上すとともに、マスク2上に残余の半田ボール6の一部が分散して残った状態となる。
Next, as shown in FIG. 1 (c), the
回転スキージー7は、マスク2の上面に平行な回転軸の周りにスキージーユニットUを複数本取り付けた構造をしており、回転軸を中心にして半田ボール6を前方に掃き出す方向に回転しながら移動する。回転スキージー7を構成するスキージーユニットUは、図2(a)に示すように、ステンレス製の支持ブロックBにステンレス製のスキージーワイヤWをかまぼこ状の配置となるように取着してなる。スキージーワイヤWは、図2(b)に示すように、幅が40mm程度で、厚みが0.1mm程度の薄いステンレス製のリボンにエッチング加工を施すことにより幅が0.1mm程度の多数のワイヤをリボンの長辺方向に対して約10度程度の角度を有するように0.1〜0.2mmの間隔で斜めに並べてなる。リボンの長辺方向に対するスキージーワイヤWの角度は、隣接するスキージーユニットU同士で互いに反対向きとなるように配置されている。なお、この回転スキージー7は、その回転数により半田ボール6の掃きだし具合を調整することができる。具体的には、回転スキージー7の回転数を上げると、その後方に半田ボール6が残らないように掃きだすことができ、逆に回転数を下げると、その後方に半田ボール6が分散されて残るように掃きだすことができる。
The rotary squeegee 7 has a structure in which a plurality of squeegee units U are mounted around a rotation axis parallel to the upper surface of the
次に、図1(e)に示すように、半田ボール6が分散して残ったマスク2上を、マスク2の他端側から一端側に向けてマスク2上の半田ボール6を押しやりながら移動する回収スキージー8により残余の半田ボール6をマスク2の一端側に掻き寄せる。なお、回収スキージー8は、回転スキージー7と同様のスキージーユニットUを複数本列に並べてなる。このとき、半田ボール6が収容されていない開口部4があれば、回収スキージー8の移動によりマスク2上の半田ボール6がその開口部4内に入る機会が与えられる。したがって、この動作により極めて高い確率でマスク2の開口部4内に半田ボール6が収容されることとなる。また、回転スキージー7の移動により開口部4内に収容された半田ボール6が静電気の影響等で開口部4の途中に引っかかっている場合があっても、回収スキージー8の移動によりマスク2の一端側に押しやられる残余の半田ボール6が開口部4内に引っかかった半田ボール6を上から下方に押し付けるので、開口部4の途中に引っかかった半田ボール6を配線基板1の半導体素子接続パッド3上に確実に落下させることができる。したがって、本発明の半田ボールの搭載方法によれば、配線基板1の半導体素子接続パッド3上に半田ボール6を極めて高い搭載率で搭載することが可能である。なお、回収スキージー8においても、リボンの長辺方向に対するスキージーワイヤWの角度は、隣接するスキージーユニットU同士で互いに反対向きとなるように配置されている。
Next, as shown in FIG. 1 (e), the
次に、本発明の実施例について説明する。まず、上面中央部に直径が85μmの半導体素子接続パッドを128μmのピッチで縦横に45列ずつの千鳥状の並びで1012個配列して成る23mm角の配線基板を、縦が295mm、横が245mmの配線基板用パネルの中に縦に12列、横に10列の配列で一体的に形成して成る多数個取り配線基板を準備した。また、この多数個取り配線基板における各配線基板の半導体素子接続パッドに対応する位置に直径が113μmの円形の開口部を有するステンレス製のマスクを準備した。マスクは、厚みを87μmとし、縦を730mm、横を730mmとした。なお、マスクには、多数個取り配線基板における各配線基板の半導体素子接続パッドが形成された領域に対向する下面に深さが42μmの座刳りを設けた。 Next, examples of the present invention will be described. First, a 23 mm square wiring substrate in which 1012 semiconductor element connection pads having a diameter of 85 μm are arranged in a staggered arrangement of 45 rows vertically and horizontally at a pitch of 128 μm at the center of the upper surface is 295 mm vertically and 245 mm horizontally. A multi-piece wiring board was prepared which was integrally formed in an array of 12 rows vertically and 10 rows horizontally in the panel for wiring board. In addition, a stainless steel mask having a circular opening having a diameter of 113 μm at a position corresponding to the semiconductor element connection pad of each wiring board in the multi-piece wiring board was prepared. The mask had a thickness of 87 μm, a length of 730 mm, and a width of 730 mm. In addition, the mask was provided with a counterbore with a depth of 42 μm on the lower surface of the multi-piece wiring board facing the region where the semiconductor element connection pads of each wiring board were formed.
次に、これらの多数個取り配線基板とマスクとを日立プラントテクノロジー社製のマイクロボール搭載機HB−07SBに配線基板の各半導体素子接続パッド上にマスクの対応する各開口が位置するようにセットした。このマイクロボール搭載機HB−07SBは、多数個取り配線基板を載置するためのテーブルと、マスクを保持するための保持機構を備えているとともに上述した回転スキージーおよび回収スキージーをマスクの短辺と平行な方向に延びるように備えている。これらのスキージーは、マスクの短辺と平行な方向に多数個取り配線基板の幅よりも広く、マスクの幅よりの狭い寸法を有しており、マスクの長辺に平行な方向に移動する。なお、多数個取り配線基板の各半導体素子接続パッド上には、粘性を有するフラックスを20μmの厚みに予め塗布しておいた。 Next, these multi-cavity wiring boards and masks are set in a microball mounting machine HB-07SB manufactured by Hitachi Plant Technology Co., Ltd. so that the corresponding openings of the mask are positioned on the respective semiconductor element connection pads of the wiring board. did. This microball mounting machine HB-07SB includes a table for placing a multi-piece wiring board and a holding mechanism for holding a mask, and the rotating squeegee and the recovery squeegee described above as a short side of the mask. It is provided to extend in a parallel direction. These squeegees have dimensions that are larger than the width of the multi-piece wiring substrate in a direction parallel to the short side of the mask and narrower than the width of the mask, and move in a direction parallel to the long side of the mask. Note that a viscous flux was previously applied to a thickness of 20 μm on each semiconductor element connection pad of the multi-piece wiring board.
次に、マスク上の長辺方向の一端側に直径が90μmの半田ボール約2千万個をスキージーの寸法よりもマスクの短辺方向に若干広い範囲に高さが10mm程度の低い山をつくるように帯状に寄せて配置した。 Next, about 20 million solder balls having a diameter of 90 μm are formed on one end of the long side direction on the mask, and a mountain having a height of about 10 mm is formed in a slightly wider range in the short side direction of the mask than the squeegee size. So as to be arranged like a band.
次に、回転スキージーを、その進行方向に半田ボールを掃きだす向きに毎分20回転で回転させながら秒速35mmの速さでマスク上を半田ボールが配置された長辺方向の一端側から他端側に向けて移動させることにより半田ボールをマスクの開口内に落し込むとともに回転スキージーの後方のマスク上に残余の半田ボールの一部が分散して残るように半田ボールを押し均した。さらに、同様の動作でマスクの長辺方向の他端側から一端側に向けて半田ボールを押し均しながら回転スキージーを移動させて一往復させた。これらの動作により回転スキージーが通過したマスク上には、残余の半田ボールの一部が略均一に分散して残った状態となった。 Next, the rotating squeegee is rotated at a rate of 35 mm / s while rotating the rotating squeegee at a rate of 20 revolutions per minute in the direction of sweeping out the solder balls. By moving the solder ball toward the side, the solder ball was dropped into the opening of the mask, and the solder ball was leveled so that a part of the remaining solder ball remained dispersed on the mask behind the rotating squeegee. Further, in the same operation, the rotary squeegee was moved and reciprocated once while pushing the solder balls from one end side to the other end side in the long side direction of the mask. Due to these operations, a part of the remaining solder balls remained substantially uniformly dispersed on the mask through which the rotating squeegee passed.
次に、回収スキージーを、マスクの長辺方向の他端側から一端側に向けてマスク上の半田ボールをその進行方向に押しやるようにして毎秒100mmの速さで移動させて半田ボールをマスクの長辺方向の一端側に掻き寄せることにより各半導体素子接続パッドへの半田ボールの搭載を終えた。 Next, the recovery squeegee is moved at a speed of 100 mm per second so that the solder ball on the mask is pushed in the direction of travel from the other end side in the long side direction of the mask toward the one end side. The solder balls were mounted on each semiconductor element connection pad by scraping to one end side in the long side direction.
次に、多数個取り配線基板をマイクロボール搭載機から取り出し、各半導体素子接続パッド上に半田ボールが載置されているかいないかを、画像認識装置を用いた自働検査により検査して半田ボールが搭載されていない半導体素子接続パッドの比率を求めた。 Next, the multi-piece wiring board is taken out from the microball mounting machine, and whether or not the solder ball is placed on each semiconductor element connection pad is inspected by an automatic inspection using an image recognition device. The ratio of the semiconductor element connection pads not mounted with was determined.
また比較のため、回転スキージーの回転速度を毎分35回転で回転させながら毎秒70mmの速さで移動させて回転スキージーの後方のマスク上に半田ボールが残らないように押し均した以外は上記と同様にして半田ボールを搭載した場合についても同様に半田ボールが搭載されていない半導体素子接続パッドの比率を求めた。 In addition, for comparison, the rotational speed of the rotating squeegee was rotated at a speed of 35 revolutions per minute while moving at a speed of 70 mm per second, and the soldering balls were smoothed so that no solder balls remained on the mask behind the rotating squeegee. Similarly, when the solder balls are mounted, the ratio of the semiconductor element connection pads on which the solder balls are not mounted is obtained.
その結果、比較のための方法では半田ボールが搭載されていない半導体素子接続パッドの比率が94ppmであったのに対し、本発明の実施例においては7ppmと大幅に改善され、配線基板の半導体素子接続パッド上に半田ボールを極めて高い搭載率で搭載することが可能であることが確認できた。 As a result, in the comparative method, the ratio of the semiconductor element connection pads on which the solder balls are not mounted was 94 ppm, whereas in the embodiment of the present invention, the ratio was significantly improved to 7 ppm. It was confirmed that it was possible to mount solder balls on the connection pads at an extremely high mounting rate.
1 配線基板
2 マスク
3 半導体素子接続パッド
4 開口部
6 半田ボール
7 回転スキージー
8 回収スキージー
DESCRIPTION OF
Claims (1)
On the upper surface of the wiring board having a plurality of semiconductor element connection pads to which electrodes of the semiconductor element are connected, an opening capable of accommodating one solder ball at each position corresponding to the semiconductor element connection pad is provided. A first step of placing a flat solder ball mounting mask and placing a large number of solder balls on one end side of the mask, and on the mask from the one end side to the other end side The solder ball is dropped into the opening by a rotating squeegee that rotates in a direction that sweeps the solder ball forward about a rotation axis parallel to the upper surface of the mask and pushes the solder ball. a second step of leaving a portion of the remainder of the solder balls in a state of being dispersed on the mask toward the upper mask the solder balls is dispersed to the one end from the other end The solder ball is dropped into the opening by a rotating squeegee that rotates in the direction of sweeping the dispersed solder balls forward about a rotation axis parallel to the upper surface of the mask and moves the solder balls. A third step of leaving a part of the remaining solder balls in a state of being dispersed on the mask, and the mask on which the solder balls are dispersed on the mask from the other end side toward the one end side. And a fourth step of scraping the remaining solder ball toward the one end side by a recovery squeegee that moves while pushing the solder ball.
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