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JP6100725B2 - Suspension substrate manufacturing method - Google Patents
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Description

本発明は、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板に関する。   The present invention relates to a suspension substrate having excellent connection terminal strength.

HDD(ハードディスクドライブ)に用いられる回路基板として、磁気ヘッドスライダ等の素子を実装するサスペンション用基板が知られている。サスペンション用基板は、通常、金属支持基板(例えばSUS)、絶縁層(例えばポリイミド樹脂)、配線層(例えばCu)がこの順に積層された基本構造を有し、通常は、一方の先端に、素子を実装する素子実装領域を備え、他方の先端に、外部回路基板との接続を行う外部回路基板接続領域を備える。   2. Description of the Related Art A suspension board on which elements such as a magnetic head slider are mounted is known as a circuit board used for an HDD (Hard Disk Drive). The suspension substrate usually has a basic structure in which a metal support substrate (for example, SUS), an insulating layer (for example, polyimide resin), and a wiring layer (for example, Cu) are laminated in this order. And an external circuit board connection area for connecting to an external circuit board at the other end.

素子および外部回路基板等との電気的な接続を行うために、サスペンション用基板には、通常、接続端子を含む接続端子領域が形成されている。この接続端子は、通常、金属支持基板から突出したフライング構造を有している。これには種々の理由があるが、その理由の一つとして、接続端子がフライング構造を有していないと、はんだ接合時に、接続端子の下に位置する絶縁層が熱により溶融し、接続端子と金属支持基板とがショートする可能性がある点が挙げられる。一方、フライング構造の接続端子は、金属支持基板による支えがないため、機械的強度が弱く、変形しやすいという問題がある。   In order to make an electrical connection between the element and an external circuit board, the suspension board is usually provided with a connection terminal region including a connection terminal. This connection terminal usually has a flying structure protruding from the metal support substrate. There are various reasons for this. One of the reasons is that if the connecting terminal does not have a flying structure, the insulating layer located under the connecting terminal is melted by heat during soldering, and the connecting terminal And the metal support substrate may be short-circuited. On the other hand, since the connection terminal of the flying structure is not supported by the metal support substrate, there is a problem that the mechanical strength is low and the connection terminal is easily deformed.

ここで、特許文献1においては、回路パターンに、磁気ヘッドの端子と接続するための接続用端子となるパターン終端部が形成され、該パターン終端部の端面が、その直下の絶縁層の端面と揃っているか、または該絶縁層の端面よりも先端方向へ張り出している回路付サスペンション用基板が開示されている。この技術は、絶縁層を特定の形状にすることで、レーザー光が半田ボールの周囲に照射されても、絶縁層にレーザー光が照射されにくい構造とするものである。しかしながら、後述するように、特許文献1に記載された方法では、絶縁層の加工を高精度で行うことができず、パターン終端部の端面と、絶縁層の端面とを揃えることは困難であると考えられる。その結果、パターン終端部では、絶縁層による支えがなくなり、変形が生じやすくなるという問題がある。   Here, in Patent Document 1, a pattern termination portion serving as a connection terminal for connection to a terminal of a magnetic head is formed in a circuit pattern, and an end surface of the pattern termination portion is an end surface of an insulating layer immediately below the pattern termination portion. There is disclosed a suspension board with circuit that is aligned or protrudes in the distal direction from the end face of the insulating layer. In this technique, the insulating layer has a specific shape so that the insulating layer is not easily irradiated with laser light even when laser light is irradiated around the solder balls. However, as described later, in the method described in Patent Document 1, the insulating layer cannot be processed with high accuracy, and it is difficult to align the end face of the pattern termination portion and the end face of the insulating layer. it is conceivable that. As a result, there is a problem that the pattern end portion is not supported by the insulating layer and is likely to be deformed.

また、特許文献2には、ポリイミドフィルムのエッチング方法において、まず、ポリイミドフィルムの両面に感光性樹脂層を配置し、露光現像を行うことで、レジストパターンを形成し、次に、得られたレジストパターンに更なる紫外線照射を行い、レジストパターンの硬度を向上させることが記載されている。この技術は、絶縁層の材料として有用なポリイミド樹脂の加工に関するものであり、更なる紫外線照射によってレジストパターンのエッチング耐性の向上を図ったものである。しかしながら、レジストパターンのエッチング耐性の向上を図ったとしても、後述するように、ポリイミド樹脂およびレジストパターンの密着性は十分ではないため、両者の間にエッチング液の染み込みが生じ、絶縁層の加工を高精度で行うことができないという問題がある。   Further, in Patent Document 2, in the polyimide film etching method, first, a photosensitive resin layer is arranged on both sides of the polyimide film, and exposure development is performed to form a resist pattern, and then the obtained resist It is described that the pattern is further irradiated with ultraviolet rays to improve the hardness of the resist pattern. This technique relates to processing of a polyimide resin useful as a material for an insulating layer, and is intended to improve the resist pattern etching resistance by further ultraviolet irradiation. However, even if the etching resistance of the resist pattern is improved, the adhesion between the polyimide resin and the resist pattern is not sufficient, as described later, so that the etching solution penetrates between the two, and the insulating layer is processed. There is a problem that it cannot be performed with high accuracy.

特開2006−120288号公報JP 2006-120288 A 特開2001−305750号公報JP 2001-305750 A

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and has as its main object to provide a suspension substrate having excellent connection terminal strength.

上記課題を解決するために、本発明においては、金属支持基板と、上記金属支持基板上に形成された絶縁層と、上記絶縁層上に形成された配線層とを有し、接続端子領域において、上記配線層は、上記金属支持基板の端部よりも突出し、接続端子を構成する配線層突出部を有し、上記接続端子領域において、上記絶縁層は、上記金属支持基板の端部よりも突出し、上記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有し、上記配線層突出部の端部および上記絶縁層突出部の端部が、一致していることを特徴とするサスペンション用基板を提供する。   In order to solve the above problems, in the present invention, a metal support substrate, an insulating layer formed on the metal support substrate, and a wiring layer formed on the insulating layer are provided. The wiring layer protrudes from the end of the metal support substrate and has a wiring layer protrusion that constitutes a connection terminal. In the connection terminal region, the insulating layer is more than the end of the metal support substrate. A suspension substrate, characterized in that it has an insulating layer protruding portion that protrudes and supports the wiring layer protruding portion, and an end portion of the wiring layer protruding portion and an end portion of the insulating layer protruding portion are coincident with each other. provide.

本発明によれば、配線層突出部の端部および絶縁層突出部の端部が一致していることから、配線層突出部を絶縁層突出部で効果的に補強することができ、外力等による配線層突出部の変形を抑制することができる。その結果、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板とすることができる。   According to the present invention, since the end of the wiring layer protrusion matches the end of the insulating layer protrusion, the wiring layer protrusion can be effectively reinforced by the insulating layer protrusion, and external force, etc. It is possible to suppress the deformation of the wiring layer protrusion due to. As a result, a suspension substrate with excellent connection terminal strength can be obtained.

上記発明においては、上記接続端子領域が、素子と接続するための領域であることが好ましい。   In the above invention, the connection terminal region is preferably a region for connecting to an element.

上記発明においては、上記絶縁層突出部から露出する上記配線層突出部の露出幅が、3μm以下であることが好ましい。   In the above invention, it is preferable that the exposed width of the wiring layer protrusion exposed from the insulating layer protrusion is 3 μm or less.

上記発明においては、上記絶縁層突出部の端部が、下端部が上端部よりも突出したテーパー形状であることが好ましい。絶縁層突出部の上端部における絶縁層突出部の厚さを大きくすることができ、効果的に、配線層突出部の変形を防止することができるからである。   In the said invention, it is preferable that the edge part of the said insulating-layer protrusion part is a taper shape in which the lower end part protruded rather than the upper end part. This is because the thickness of the insulating layer protrusion at the upper end of the insulating layer protrusion can be increased, and the deformation of the wiring layer protrusion can be effectively prevented.

上記発明において、上記絶縁層は、上記絶縁層突出部と、上記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部とを有し、上記絶縁層突出部および上記絶縁層支持部の交点が、曲線形状であることが好ましい。変形が生じやすい絶縁層突出部の根元を曲線形状にすることで、接続端子の強度をさらに向上させることができるからである。   In the above invention, the insulating layer has the insulating layer protruding portion and an insulating layer supporting portion that supports the root of the insulating layer protruding portion, and the intersection of the insulating layer protruding portion and the insulating layer supporting portion is A curved shape is preferred. This is because the strength of the connection terminal can be further improved by making the base of the protruding portion of the insulating layer that easily deforms into a curved shape.

上記発明において、上記絶縁層は、上記絶縁層突出部と、上記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部とを有し、上記絶縁層支持部の端部が、上記金属支持基板の端部よりも突出していることが好ましい。   In the above invention, the insulating layer includes the insulating layer protruding portion and an insulating layer supporting portion that supports a base of the insulating layer protruding portion, and an end portion of the insulating layer supporting portion is formed on the metal supporting substrate. It is preferable to protrude from the end.

また、本発明においては、接続端子領域を形成する位置に、金属支持部材と、上記金属支持部材上に形成された絶縁部材と、上記絶縁部材上に形成された配線層とを有する積層体を準備する積層体準備工程と、上記配線層において、接続端子を構成する配線層突出部となる部分をレジストとして用いて、上記絶縁部材をウェットエッチングし、上記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有する絶縁層を形成する絶縁部材エッチング工程と、上記絶縁部材エッチング工程の後に、上記金属支持部材をエッチングし、金属支持基板を形成し、上記配線層突出部および上記絶縁層突出部を上記金属支持基板の端部よりも突出させる金属支持部材エッチング工程と、を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法を提供する。   In the present invention, a laminate having a metal support member, an insulating member formed on the metal supporting member, and a wiring layer formed on the insulating member at a position where the connection terminal region is formed. The layered body preparation step to be prepared and the insulating layer protrusion that supports the wiring layer protruding portion by wet-etching the insulating member by using, as a resist, the wiring layer protruding portion constituting the connection terminal in the wiring layer. After the insulating member etching step for forming an insulating layer having a portion and the insulating member etching step, the metal supporting member is etched to form a metal supporting substrate, and the wiring layer protruding portion and the insulating layer protruding portion are There is provided a method for manufacturing a suspension substrate, comprising: a metal support member etching step that protrudes from an end portion of the metal support substrate.

本発明によれば、配線層の配線層突出部となる部分をレジストとして用い、かつ、金属支持部材をエッチングする前に、絶縁部材のエッチングを行うことにより、配線層突出部の端部および絶縁層突出部の端部が一致したサスペンション用基板を得ることができる。   According to the present invention, the end of the wiring layer protruding portion and the insulating layer are etched by using the portion of the wiring layer that becomes the wiring layer protruding portion as a resist and etching the insulating member before etching the metal supporting member. A suspension substrate in which the end portions of the layer protrusions coincide can be obtained.

上記発明においては、上記絶縁部材エッチング工程において、上記絶縁層突出部と、上記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部との交点に、曲線形状が形成されるように、レジストパターンを形成し、上記絶縁部材をウェットエッチングすることが好ましい。変形が生じやすい絶縁層突出部の根元を曲線形状にすることで、接続端子の強度をさらに向上させることができるからである。   In the above invention, in the insulating member etching step, the resist pattern is formed so that a curved shape is formed at the intersection of the insulating layer protruding portion and the insulating layer supporting portion supporting the base of the insulating layer protruding portion. It is preferable to form and wet-etch the insulating member. This is because the strength of the connection terminal can be further improved by making the base of the protruding portion of the insulating layer that easily deforms into a curved shape.

上記発明においては、上記金属支持部材エッチング工程において、上記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部が、上記金属支持基板の端部よりも突出するように、上記金属支持部材をエッチングすることが好ましい。   In the above invention, in the metal support member etching step, the metal support member is etched so that the insulating layer support portion that supports the base of the insulating layer protrusion portion protrudes from the end portion of the metal support substrate. It is preferable.

また、本発明においては、上述したサスペンション用基板を含むことを特徴とするサスペンションを提供する。   The present invention also provides a suspension including the above-described suspension substrate.

本発明によれば、上述したサスペンション用基板を用いることで、接続安定性に優れたサスペンションとすることができる。   According to the present invention, a suspension having excellent connection stability can be obtained by using the suspension substrate described above.

また、本発明においては、上述したサスペンションと、上記サスペンションの素子実装領域に実装された素子と、を有することを特徴とする素子付サスペンションを提供する。   The present invention also provides an element-equipped suspension comprising the above-described suspension and an element mounted in an element mounting region of the suspension.

本発明によれば、上述したサスペンションを用いることで、接続安定性に優れた素子付サスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension, a suspension with an element having excellent connection stability can be obtained.

また、本発明においては、上述した素子付サスペンションを含むことを特徴とするハードディスクドライブを提供する。   The present invention also provides a hard disk drive including the above-described suspension with an element.

本発明によれば、上述した素子付サスペンションを用いることで、より高機能化されたハードディスクドライブとすることができる。   According to the present invention, a hard disk drive with higher functionality can be obtained by using the above-described suspension with an element.

本発明においては、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板を得ることができるという効果を奏する。   In the present invention, there is an effect that a suspension substrate having excellent connection terminal strength can be obtained.

本発明のサスペンション用基板の一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板を説明する概略平面図である。It is a schematic plan view explaining the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンション用基板の製造方法の一例を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the board | substrate for suspensions of this invention. 従来のサスペンション用基板の製造方法と、本発明のサスペンション用基板の製造方法との違いを説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining the difference between the manufacturing method of the conventional suspension board | substrate, and the manufacturing method of the suspension board | substrate of this invention. 本発明のサスペンション用基板の製造方法を説明する模式図である。It is a schematic diagram explaining the manufacturing method of the board | substrate for suspensions of this invention. 本発明のサスペンションの一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the suspension of this invention. 本発明の素子付サスペンションの一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the suspension with an element of this invention. 本発明のハードディスクドライブの一例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows an example of the hard disk drive of this invention. 比較例のサスペンション用基板の製造方法を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the board | substrate for suspensions of a comparative example.

以下、本発明のサスペンション用基板、サスペンション用基板の製造方法、サスペンション、素子付サスペンションおよびハードディスクドライブについて詳細に説明する。   The suspension substrate, suspension substrate manufacturing method, suspension, suspension with element, and hard disk drive of the present invention will be described in detail below.

A.サスペンション用基板
まず、本発明のサスペンション用基板について説明する。本発明のサスペンション用基板は、金属支持基板と、上記金属支持基板上に形成された絶縁層と、上記絶縁層上に形成された配線層とを有し、接続端子領域において、上記配線層は、上記金属支持基板の端部よりも突出し、接続端子を構成する配線層突出部を有し、上記接続端子領域において、上記絶縁層は、上記金属支持基板の端部よりも突出し、上記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有し、上記配線層突出部の端部および上記絶縁層突出部の端部が、一致していることを特徴とするものである。
A. First, the suspension substrate of the present invention will be described. The suspension substrate of the present invention includes a metal support substrate, an insulating layer formed on the metal support substrate, and a wiring layer formed on the insulating layer. In the connection terminal region, the wiring layer is A wiring layer protruding portion that protrudes from an end portion of the metal support substrate and constitutes a connection terminal. In the connection terminal region, the insulating layer protrudes from an end portion of the metal support substrate, and the wiring layer An insulating layer protruding portion that supports the protruding portion is provided, and an end portion of the wiring layer protruding portion and an end portion of the insulating layer protruding portion coincide with each other.

図1は、本発明のサスペンション用基板の一例を示す概略平面図である。なお、便宜上、絶縁層およびカバー層の記載は省略している。図1に示されるサスペンション用基板20は、ヘッド部側に形成され、素子を実装する素子実装領域11と、テール部側に形成され、外部回路基板との接続を行う外部回路基板接続領域12と、素子実装領域11および外部回路基板接続領域12の間を電気的に接続する配線層13(13a〜13d)と、を有するものである。なお、配線層13aおよび13b、並びに、配線層13cおよび13dはそれぞれ配線対を形成し、一方が記録用であり、他方が再生用である。   FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of the suspension substrate of the present invention. For convenience, the description of the insulating layer and the cover layer is omitted. A suspension substrate 20 shown in FIG. 1 is formed on the head portion side, an element mounting region 11 for mounting elements, and an external circuit substrate connection region 12 formed on the tail portion side for connection to an external circuit substrate. And wiring layers 13 (13a to 13d) for electrically connecting the element mounting region 11 and the external circuit board connection region 12. The wiring layers 13a and 13b and the wiring layers 13c and 13d form a wiring pair, one for recording and the other for reproduction.

図2(a)は、図1のヘッド部周辺を拡大した拡大図である。なお、便宜上、カバー層の記載は省略している。図2(a)に示すように、配線層13a〜13dは、素子実装領域11に実装される素子と接続できるように形成される。また、図2(b)は、図2(a)のA−A断面図である。図2(b)に示されるサスペンション用基板は、金属支持基板1と、金属支持基板1上に形成された絶縁層2と、絶縁層2上に形成された配線層3とを有するものである。さらに、接続端子領域Xにおいて、配線層3は、金属支持基板1の端部1aよりも突出し、接続端子を構成する配線層突出部3Aを有する。また、接続端子領域Xにおいて、絶縁層2は金属支持基板1の端部1aよりも突出し、配線層突出部3Aを支持する絶縁層突出部2Aを有する。さらに、配線層突出部3Aの端部3aおよび絶縁層突出部2Aの端部2aの端部の位置は、一致している。なお、本発明における「一致」とは、完全な一致を意味するのみならず、ある程度の広がりを有する概念である。   FIG. 2A is an enlarged view in which the periphery of the head portion in FIG. 1 is enlarged. For convenience, the cover layer is not shown. As illustrated in FIG. 2A, the wiring layers 13 a to 13 d are formed so as to be connected to elements mounted in the element mounting region 11. Moreover, FIG.2 (b) is AA sectional drawing of Fig.2 (a). The suspension substrate shown in FIG. 2B has a metal support substrate 1, an insulating layer 2 formed on the metal support substrate 1, and a wiring layer 3 formed on the insulating layer 2. . Further, in the connection terminal region X, the wiring layer 3 has a wiring layer protruding portion 3A that protrudes from the end portion 1a of the metal support substrate 1 and constitutes a connection terminal. Further, in the connection terminal region X, the insulating layer 2 has an insulating layer protrusion 2A that protrudes from the end 1a of the metal support substrate 1 and supports the wiring layer protrusion 3A. Furthermore, the positions of the end 3a of the wiring layer protrusion 3A and the end 2a of the insulating layer protrusion 2A are the same. Note that “match” in the present invention is not only a complete match but also a concept having a certain extent.

図2(c)は、接続端子領域Xの周辺を示す拡大図である。本発明においては、絶縁層突出部2Aから露出する配線層突出部3Aの露出幅Wが、3μm以下であることが好ましい。また、本発明において、絶縁層突出部2Aの端部2aは、下端部22が上端部21よりも突出したテーパー形状であることが好ましい。   FIG. 2C is an enlarged view showing the periphery of the connection terminal region X. In the present invention, the exposed width W of the wiring layer protruding portion 3A exposed from the insulating layer protruding portion 2A is preferably 3 μm or less. In the present invention, the end 2 a of the insulating layer protrusion 2 </ b> A preferably has a tapered shape in which the lower end 22 protrudes from the upper end 21.

なお、図3に示すように、接続端子領域Xにおける配線層突出部3Aと、素子実装領域11に実装された素子24の接続端子23とは、半田ボール25によって電気的に接続される。   As shown in FIG. 3, the wiring layer protrusion 3 </ b> A in the connection terminal area X and the connection terminal 23 of the element 24 mounted in the element mounting area 11 are electrically connected by solder balls 25.

本発明によれば、配線層突出部の端部および絶縁層突出部の端部が一致していることから、配線層突出部を絶縁層突出部で効果的に補強することができ、外力等による配線層突出部の変形を抑制することができる。その結果、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板とすることができる。   According to the present invention, since the end of the wiring layer protrusion matches the end of the insulating layer protrusion, the wiring layer protrusion can be effectively reinforced by the insulating layer protrusion, and external force, etc. It is possible to suppress the deformation of the wiring layer protrusion due to. As a result, a suspension substrate with excellent connection terminal strength can be obtained.

また、上述した特許文献1の図3(a)には、配線層突出部の端部と、絶縁層突出部の端部とが一致したサスペンション用基板が記載されているが、その具体的な製造方法については何ら記載がない。さらに、後述するエッチング液の染み込みの問題があり、従来の方法では、配線層突出部の端部と、絶縁層突出部の端部とを一致させることは困難である。そのため、特許文献1には、配線層突出部の端部と、絶縁層突出部の端部とが一致したサスペンション用基板は、実質的には開示されていないものと考えられる。エッチング液の染み込みの問題については、後述する図8で詳細に説明を行う。   Further, in FIG. 3A of Patent Document 1 described above, a suspension substrate in which the end of the wiring layer protruding portion and the end of the insulating layer protruding portion coincide is described. There is no description about the manufacturing method. Furthermore, there is a problem of penetration of the etching solution described later, and it is difficult to match the end of the wiring layer protrusion with the end of the insulating layer protrusion by the conventional method. Therefore, it is considered that Patent Document 1 does not substantially disclose a suspension substrate in which the end of the wiring layer protrusion and the end of the insulating layer protrusion match. The problem of the penetration of the etching solution will be described in detail with reference to FIG.

また、本発明のサスペンション用基板は、配線層突出部の端部の位置まで、絶縁層突出部が存在することに大きな特徴を有する。配線層突出部の端部の位置まで絶縁層突出部が存在することにより、厚み方向において配線層突出部の端部まで良好な形状保持性を発揮できるため、図3に示すように、素子との接続における高さ方向の位置精度を向上させることができるという利点もある。
以下、本発明のサスペンション用基板について、サスペンション用基板の部材と、サスペンション用基板の構成とに分けて説明する。
In addition, the suspension substrate of the present invention has a great feature in that the insulating layer protruding portion exists up to the position of the end portion of the wiring layer protruding portion. Since the insulating layer protrusions exist up to the end of the wiring layer protrusions, good shape retention can be achieved up to the ends of the wiring layer protrusions in the thickness direction. There is also an advantage that the positional accuracy in the height direction in the connection can be improved.
Hereinafter, the suspension substrate of the present invention will be described separately for the suspension substrate member and the suspension substrate configuration.

1.サスペンション用基板の部材
まず、本発明のサスペンション用基板の部材について説明する。本発明のサスペンション用基板は、少なくとも金属支持基板、絶縁層および配線層を有するものである。
1. First, members of the suspension substrate of the present invention will be described. The suspension substrate of the present invention has at least a metal support substrate, an insulating layer, and a wiring layer.

本発明における金属支持基板は、通常、サスペンション用基板の支持基板として用いられるものである。金属支持基板の材料は、特に限定されるものではないが、ばね性を有する金属であることが好ましい。金属支持基板の材料としては、例えばSUS等を挙げることができる。また、金属支持基板の厚さは、その材料の種類により異なるものであるが、例えば10μm〜20μmの範囲内である。   The metal support substrate in the present invention is usually used as a support substrate for a suspension substrate. The material of the metal support substrate is not particularly limited, but is preferably a metal having a spring property. Examples of the material for the metal support substrate include SUS. Moreover, although the thickness of a metal support substrate changes with kinds of the material, it exists in the range of 10 micrometers-20 micrometers, for example.

本発明における絶縁層は、金属支持基板上に形成される層である。絶縁層の材料としては、例えばポリイミド樹脂(PI)等を挙げることができる。また、絶縁層の材料は、感光性材料であっても良く、非感光性材料であっても良い。また、絶縁層の厚さは、例えば5μm〜10μmの範囲内である。   The insulating layer in the present invention is a layer formed on a metal support substrate. Examples of the material for the insulating layer include polyimide resin (PI). In addition, the material of the insulating layer may be a photosensitive material or a non-photosensitive material. Moreover, the thickness of an insulating layer exists in the range of 5 micrometers-10 micrometers, for example.

本発明における配線層は、絶縁層上に形成されるものである。配線層の材料としては、例えば金属を挙げることができ、中でも銅(Cu)が好ましい。また、配線層の厚さとしては、例えば5μm〜18μmの範囲内であり、中でも9μm〜12μmの範囲内であることが好ましい。本発明における配線層は、めっき部により被覆されていても良い。めっき部の一例としては、金めっき部を挙げることができる。また、金めっき部の下地としてニッケルめっき部が形成されていても良い。めっき部の厚さは、例えば0.1μm〜4.0μmの範囲内である。   The wiring layer in the present invention is formed on the insulating layer. Examples of the material for the wiring layer include metals, and copper (Cu) is preferable among them. The thickness of the wiring layer is, for example, in the range of 5 μm to 18 μm, and preferably in the range of 9 μm to 12 μm. The wiring layer in this invention may be coat | covered with the plating part. An example of the plating part is a gold plating part. Moreover, the nickel plating part may be formed as a foundation | substrate of a gold plating part. The thickness of the plating portion is, for example, in the range of 0.1 μm to 4.0 μm.

また、本発明のサスペンション用基板は、配線層を覆うカバー層を有していることが好ましい。カバー層の材料としては、例えばポリイミド樹脂(PI)等を挙げることができる。また、カバー層の材料は、感光性材料であっても良く、非感光性材料であっても良い。カバー層の厚さは、特に限定されるものではないが、例えば2μm〜30μmの範囲内であることが好ましく、2μm〜10μmの範囲内であることがより好ましい。   The suspension substrate of the present invention preferably has a cover layer that covers the wiring layer. Examples of the material for the cover layer include polyimide resin (PI). The material of the cover layer may be a photosensitive material or a non-photosensitive material. Although the thickness of a cover layer is not specifically limited, For example, it is preferable to exist in the range of 2 micrometers-30 micrometers, and it is more preferable to exist in the range of 2 micrometers-10 micrometers.

2.サスペンション用基板の構成
次に、本発明のサスペンション用基板の構成について説明する。本発明のサスペンション用基板は、接続端子領域を有するものである。この接続端子領域は、図2に示すように素子と接続するための領域であっても良く、中継基板等の外部回路基板と接続するための領域であっても良い。前者の場合、接続端子領域は、例えばサスペンション用基板のヘッド部側に形成され、後者の場合、接続端子領域は、例えばサスペンション用基板のテール部側に形成される。また、サスペンション用基板に実装される素子としては、例えば、磁気ヘッドスライダ、アクチュエータ、半導体等を挙げることができる。また、上記アクチュエータは、磁気ヘッドを有するものであっても良く、磁気ヘッドを有しないものであっても良い。
2. Next, the configuration of the suspension substrate of the present invention will be described. The suspension substrate of the present invention has a connection terminal region. The connection terminal area may be an area for connecting to an element as shown in FIG. 2 or an area for connecting to an external circuit board such as a relay board. In the former case, the connection terminal region is formed on the head portion side of the suspension substrate, for example, and in the latter case, the connection terminal region is formed on the tail portion side of the suspension substrate, for example. Examples of the element mounted on the suspension substrate include a magnetic head slider, an actuator, and a semiconductor. The actuator may have a magnetic head or may not have a magnetic head.

本発明においては、図2(c)に示すように、絶縁層突出部2Aから露出する配線層突出部3Aの露出幅をWとした場合、Wは3μm以下であることが好ましく、2μm以下であることがより好ましく、1μm以下であることがさらに好ましく、0.5μm以下であることが特に好ましい。より効果的に、配線層突出部3Aの変形を防止することができるからである。   In the present invention, as shown in FIG. 2C, when the exposed width of the wiring layer protrusion 3A exposed from the insulating layer protrusion 2A is W, W is preferably 3 μm or less, and preferably 2 μm or less. More preferably, it is more preferably 1 μm or less, and particularly preferably 0.5 μm or less. This is because the deformation of the wiring layer protrusion 3A can be prevented more effectively.

また、本発明においては、図2(c)に示すように、絶縁層突出部2Aの端部2aが、下端部22が上端部21よりも突出したテーパー形状であることが好ましい。絶縁層突出部2Aの上端部21における絶縁層突出部2Aの厚さを大きくすることができ、効果的に、配線層突出部3Aの変形を防止することができるからである。このテーパー角度をαとした場合、テーパー角αは、45°以上であることが好ましく、45°〜85°の範囲内であることがより好ましい。また、本発明においては、図4に示すように、絶縁層突出部2Aの下端部22は、配線層突出部3Aの端部3aよりも突出していても良い。この場合、配線層突出部3Aの端部3aにおける絶縁層突出部2Aの厚さを十分に大きくすることができ、より効果的に、配線層突出部3Aの変形を防止することができる。   In the present invention, as shown in FIG. 2C, the end 2 a of the insulating layer protrusion 2 </ b> A preferably has a tapered shape in which the lower end 22 protrudes from the upper end 21. This is because the thickness of the insulating layer protrusion 2A at the upper end 21 of the insulating layer protrusion 2A can be increased, and the deformation of the wiring layer protrusion 3A can be effectively prevented. When this taper angle is α, the taper angle α is preferably 45 ° or more, and more preferably in the range of 45 ° to 85 °. In the present invention, as shown in FIG. 4, the lower end 22 of the insulating layer protrusion 2A may protrude beyond the end 3a of the wiring layer protrusion 3A. In this case, the thickness of the insulating layer protrusion 2A at the end 3a of the wiring layer protrusion 3A can be sufficiently increased, and deformation of the wiring layer protrusion 3A can be prevented more effectively.

接続端子領域において、配線層および絶縁層は、それぞれ、金属支持基板の端部よりも突出する配線層突出部および絶縁層突出部を有する。ここで、図5(a)は本発明における接続端子領域の周辺を示す概略断面図であり、図5(b)は図5(a)を配線層3側から観察した概略平面図であり、図5(c)は図5(a)を金属支持基板1側から観察した概略平面図である。本発明においては、図5(a)に示すように、配線層突出部3Aが金属支持基板1の端部1aから突出する長さLが、例えば25μm〜80μmの範囲内であることが好ましい。また、図5(b)に示すように、配線層突出部3Aの幅Wは、例えば25μm〜80μmの範囲内であることが好ましい。 In the connection terminal region, the wiring layer and the insulating layer have a wiring layer protruding portion and an insulating layer protruding portion that protrude from the end portion of the metal support substrate, respectively. Here, FIG. 5A is a schematic sectional view showing the periphery of the connection terminal region in the present invention, FIG. 5B is a schematic plan view of FIG. 5A observed from the wiring layer 3 side, FIG. 5C is a schematic plan view of FIG. 5A observed from the metal support substrate 1 side. In the present invention, as shown in FIG. 5A, the length L 3 from which the wiring layer protruding portion 3A protrudes from the end portion 1a of the metal support substrate 1 is preferably in the range of 25 μm to 80 μm, for example. . Further, as shown in FIG. 5 (b), the width W 3 of the wiring layer protruding section 3A, for example, preferably in the range of 25Myuemu~80myuemu.

また、図5(b)および図5(c)を比較すると分かるように、本発明においては、絶縁層突出部2Aの形状は、平面視上、対応する配線層突出部3Aの形状と略同一になる。さらに、絶縁層突出部2Aの長さ方向Xのみならず、絶縁層突出部2Aの幅方向Yについても、配線層突出部3Aの形状と略同一になる。このような形状が得られるのは、後述するように、絶縁層突出部2Aをレジストとして用いることで、エッチング液の染み込みを防止でき、絶縁層の加工を高精度で行うことができるからである。   Further, as can be seen by comparing FIG. 5B and FIG. 5C, in the present invention, the shape of the insulating layer protrusion 2A is substantially the same as the shape of the corresponding wiring layer protrusion 3A in plan view. become. Furthermore, not only the length direction X of the insulating layer protrusion 2A but also the width direction Y of the insulating layer protrusion 2A is substantially the same as the shape of the wiring layer protrusion 3A. The reason why such a shape is obtained is that, as will be described later, by using the insulating layer protrusion 2A as a resist, the penetration of the etching solution can be prevented, and the processing of the insulating layer can be performed with high accuracy. .

また、本発明においては、図5(c)に示すように、絶縁層2が、絶縁層突出部2Aと、絶縁層突出部2Aの根元を支持する絶縁層支持部2Bとを有し、絶縁層支持部2Bの端部2bが、金属支持基板1の端部1aよりも突出していることが好ましい。このような構造にすることにより、例えば曲げ加工時に、配線層突出部3Aと金属支持基板1とが接触しショートすることを防止できるからである。加えて、配線層突出部3Aの変形を防止することもできる。また、絶縁層支持部2Bの端部2bが金属支持基板1の端部1aよりも突出していない場合、曲げ加工時に、配線層突出部3Aおよび金属支持基板1が接触しショートする可能性や、曲げ加工後のはんだ接合時に同じくショートする可能性がある。そのため、曲げ加工を行いやすくするという観点から、先端部(突出部)の金属支持基板1は除去し、フライング構造とすることが好ましい。ここで、絶縁層突出部2Aが金属支持基板1の端部1aから突出する長さをLとした場合、Lは、絶縁層突出部2Aの長さL21と、絶縁層支持部2Bの長さL22との和で表現することができる。L22/Lは、例えば50%以上であることが好ましく、50%〜80%の範囲内であることがより好ましい。L22は、例えば40μm以上であることが好ましく、40μm〜80μmの範囲内であることがより好ましい。一方、L21は、例えば20μm〜60μmの範囲内であることが好ましく、20μm〜40μmの範囲内であることがより好ましい。なお、図5(c)においては、絶縁層2が絶縁層支持部2Bを有するものを例示したが、本発明における絶縁層2は、絶縁層支持部2Bを有しないものであっても良い。 Further, in the present invention, as shown in FIG. 5C, the insulating layer 2 has an insulating layer protruding portion 2A and an insulating layer supporting portion 2B that supports the base of the insulating layer protruding portion 2A. It is preferable that the end portion 2 b of the layer support portion 2 </ b> B protrudes from the end portion 1 a of the metal support substrate 1. This is because such a structure can prevent the wiring layer protrusion 3A and the metal supporting board 1 from coming into contact with each other and short-circuiting during, for example, bending. In addition, the deformation of the wiring layer protrusion 3A can be prevented. Further, when the end portion 2b of the insulating layer support portion 2B does not protrude from the end portion 1a of the metal support substrate 1, the wiring layer protrusion portion 3A and the metal support substrate 1 may come into contact with each other and be short-circuited during bending, There is also a possibility of short-circuiting when soldering after bending. Therefore, from the viewpoint of facilitating bending, it is preferable to remove the metal support substrate 1 at the tip (protrusion) to form a flying structure. Here, if the length of the insulating layer protrusion 2A protrudes from the end portion 1a of the metal supporting board 1 was L 2, L 2 is the length L 21 of the insulating layer protrusion 2A, the insulating layer supporting section 2B it can be expressed as the sum of the length L 22 of. L 22 / L 2 is, for example, preferably 50% or more, and more preferably in the range of 50% to 80%. L 22 is preferably 40 μm or more, for example, and more preferably in the range of 40 μm to 80 μm. On the other hand, L 21 is preferably in the range of 20 μm to 60 μm, for example, and more preferably in the range of 20 μm to 40 μm. In addition, in FIG.5 (c), although the insulating layer 2 illustrated what has the insulating layer support part 2B, the insulating layer 2 in this invention may not have the insulating layer support part 2B.

また、図6(a)は、図5(c)と同様に、接続端子領域を金属支持基板1側から観察した概略平面図であり、図6(b)は、接続端子領域を配線層3側から観察した概略平面図である。本発明においては、図6(a)、(b)に示すように、絶縁層2が、絶縁層突出部2Aと、絶縁層突出部2Aの根元を支持する絶縁層支持部2Bとを有し、絶縁層突出部2Aおよび絶縁層支持部2Bの交点が、曲線形状Cであることが好ましい。変形が生じやすい絶縁層突出部2Aの根元を曲線形状にすることで、接続端子の強度をさらに向上させることができるからである。さらに、この曲線形状Cは、円弧状であることが好ましく、その半径は、例えば3μm〜30μmの範囲内であることが好ましい。   6A is a schematic plan view of the connection terminal region observed from the metal support substrate 1 side, as in FIG. 5C. FIG. 6B shows the connection terminal region of the wiring layer 3. It is the schematic plan view observed from the side. In the present invention, as shown in FIGS. 6A and 6B, the insulating layer 2 has an insulating layer protrusion 2A and an insulating layer support 2B that supports the base of the insulating layer protrusion 2A. The intersection of the insulating layer protrusion 2A and the insulating layer support 2B is preferably a curved shape C. This is because the strength of the connection terminal can be further improved by making the base of the insulating layer protruding portion 2A that easily deforms into a curved shape. Furthermore, the curved shape C is preferably an arc shape, and the radius thereof is preferably in the range of 3 μm to 30 μm, for example.

B.サスペンション用基板の製造方法
次に、本発明のサスペンション用基板の製造方法について説明する。本発明のサスペンション用基板の製造方法は、接続端子領域を形成する位置に、金属支持部材と、上記金属支持部材上に形成された絶縁部材と、上記絶縁部材上に形成された配線層とを有する積層体を準備する積層体準備工程と、上記配線層において、接続端子を構成する配線層突出部となる部分をレジストとして用いて、上記絶縁部材をウェットエッチングし、上記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有する絶縁層を形成する絶縁部材エッチング工程と、上記絶縁部材エッチング工程の後に、上記金属支持部材をエッチングし、金属支持基板を形成し、上記配線層突出部および上記絶縁層突出部を上記金属支持基板の端部よりも突出させる金属支持部材エッチング工程と、を有することを特徴とするものである。
B. Next, a method for manufacturing a suspension substrate according to the present invention will be described. According to the suspension board manufacturing method of the present invention, a metal support member, an insulating member formed on the metal support member, and a wiring layer formed on the insulating member are formed at positions where the connection terminal regions are formed. A laminate preparation step for preparing a laminate having the wiring layer, and a portion of the wiring layer that becomes a wiring layer protrusion constituting the connection terminal as a resist, and wet etching the insulating member to support the wiring layer protrusion An insulating member etching step for forming an insulating layer having an insulating layer protrusion, and after the insulating member etching step, the metal support member is etched to form a metal support substrate, and the wiring layer protrusion and the insulating layer And a metal supporting member etching step for causing the protruding portion to protrude from the end portion of the metal supporting substrate.

図7は、本発明のサスペンション用基板の製造方法の一例を説明する概略断面図である。図7におけるサスペンション用基板の製造方法においては、まず、接続端子領域を形成する位置に、金属支持部材1Xと、金属支持部材1X上に形成された絶縁部材2Xと、絶縁部材2X上に形成された配線部材3Xとを有する積層部材を準備する(図7(a))。次に、配線部材3Xの上に、DFR(ドライフィルムレジスト)を用いてレジストパターンを作製し、そのレジストパターンから露出する配線部材3Xをウェットエッチングすることにより、配線層3を形成する(図7(b))。なお、この際、図示しない部分の金属支持部材1Xのエッチングを同時に行っても良い。次に、配線層3上に、配線層突出部3Aとなる部分の少なくとも一部が露出するように、カバー層4を形成する。これにより、本発明における積層体を得る(図7(c))。   FIG. 7 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of a method for manufacturing a suspension substrate according to the present invention. In the suspension board manufacturing method in FIG. 7, first, the metal support member 1X, the insulating member 2X formed on the metal support member 1X, and the insulating member 2X are formed at positions where the connection terminal regions are formed. A laminated member having the wiring member 3X prepared is prepared (FIG. 7A). Next, a resist pattern is produced on the wiring member 3X using DFR (dry film resist), and the wiring member 3X exposed from the resist pattern is wet-etched to form the wiring layer 3 (FIG. 7). (B)). At this time, etching of the metal support member 1X in a portion not shown may be performed at the same time. Next, the cover layer 4 is formed on the wiring layer 3 so that at least a part of the portion that becomes the wiring layer protrusion 3A is exposed. Thereby, the laminated body in this invention is obtained (FIG.7 (c)).

その後、配線層3上に、配線層突出部3Aとなる部分の少なくとも一部が露出するように、レジストパターン9を形成する(図7(d))。このレジストパターン9は、主に、複数の配線層3の間から露出する絶縁部材2Xを保護するためのものである。次に、配線層3の配線層突出部3Aとなる部分をレジストとして用いて、絶縁部材2Xをウェットエッチングし、配線層突出部3Aを支持する絶縁層突出部2Aを有する絶縁層2を形成する(図7(e))。次に、レジストパターン9を剥離し(図7(f))、露出する配線層3にめっき部5を形成する(図7(g))。最後に、接続端子領域を形成する位置の金属支持部材1Xを、ウェットエッチングで除去することにより、金属支持基板1を形成し、サスペンション用基板20を得る(図7(h))。   Thereafter, a resist pattern 9 is formed on the wiring layer 3 so as to expose at least a part of the portion that becomes the wiring layer protrusion 3A (FIG. 7D). The resist pattern 9 is mainly for protecting the insulating member 2X exposed from between the plurality of wiring layers 3. Next, the insulating member 2X is wet-etched using a portion of the wiring layer 3 that becomes the wiring layer protrusion 3A as a resist, and the insulating layer 2 having the insulating layer protrusion 2A that supports the wiring layer protrusion 3A is formed. (FIG. 7 (e)). Next, the resist pattern 9 is peeled off (FIG. 7F), and the plated portion 5 is formed on the exposed wiring layer 3 (FIG. 7G). Finally, the metal support member 1X at the position where the connection terminal region is formed is removed by wet etching to form the metal support substrate 1 to obtain the suspension substrate 20 (FIG. 7 (h)).

本発明によれば、配線層の配線層突出部となる部分をレジストとして用い、かつ、金属支持部材をエッチングする前に、絶縁部材のエッチングを行うことにより、配線層突出部の端部および絶縁層突出部の端部が一致したサスペンション用基板を得ることができる。このサスペンション用基板は、配線層突出部の端部および絶縁層突出部の端部が一致していることから、配線層突出部を絶縁層突出部で効果的に補強することができ、外力等による配線層突出部の変形を抑制することができる。その結果、接続端子の強度に優れたサスペンション用基板とすることができる。   According to the present invention, the end of the wiring layer protruding portion and the insulating layer are etched by using the portion of the wiring layer that becomes the wiring layer protruding portion as a resist and etching the insulating member before etching the metal supporting member. A suspension substrate in which the end portions of the layer protrusions coincide can be obtained. In this suspension substrate, since the end of the wiring layer protrusion and the end of the insulating layer protrusion coincide with each other, the wiring layer protrusion can be effectively reinforced with the insulating layer protrusion. It is possible to suppress the deformation of the wiring layer protrusion due to. As a result, a suspension substrate with excellent connection terminal strength can be obtained.

次に、従来のサスペンション用基板の製造方法と、本発明のサスペンション用基板の製造方法との違いについて、図8を用いて説明する。図8(a)に示すように、従来の製造方法では、金属支持部材をエッチングし、金属支持基板1を形成した後に、絶縁部材2Xのエッチングを行う。そのため、通常は、レジストパターン9を、エッチング対象物の両面に形成する。この際、レジストパターン9の材料としては、典型的には、溶剤型フォトレジストまたはアルカリ現像剥離型フォトレジストが用いられる。ここで、絶縁部材2Xおよびレジストパターン9の密着性は高くないことから、図中のYで示した部分から、絶縁部材2Xのエッチング液(典型的にはアルカリエッチング液)が染み込んでしまう。その結果、図8(b)に示すように、過度にエッチングされた絶縁層2が形成してしまう。   Next, the difference between the conventional method for manufacturing a suspension substrate and the method for manufacturing a suspension substrate of the present invention will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 8A, in the conventional manufacturing method, after the metal support member is etched to form the metal support substrate 1, the insulating member 2X is etched. Therefore, usually, the resist pattern 9 is formed on both surfaces of the object to be etched. At this time, as a material of the resist pattern 9, a solvent type photoresist or an alkali development peeling type photoresist is typically used. Here, since the adhesion between the insulating member 2X and the resist pattern 9 is not high, the etching solution (typically an alkaline etching solution) of the insulating member 2X penetrates from the portion indicated by Y in the drawing. As a result, as shown in FIG. 8B, the insulating layer 2 that is excessively etched is formed.

これに対して、図8(c)に示すように、本発明においては、金属支持部材1Xをエッチングする前に、絶縁部材2Xのエッチングを行う。絶縁部材2Xおよび金属支持部材1Xの密着性は高いことから、絶縁部材2Xのエッチング液(典型的にはアルカリエッチング液)が染み込むことを防止できる。その結果、配線層突出部3Aの端部3aと、絶縁層突出部2Aの端部2aとが一致したサスペンション用基板を得ることができる。また、金属支持部材1Xはエッチング前の状態であることから、液流によってテーパー形状の絶縁層2が生じやすい傾向にある。このテーパー形状は、従来の製造方法では形成できないものと考えられる。
以下、本発明のサスペンション用基板の製造方法について、工程毎に説明する。
On the other hand, as shown in FIG. 8C, in the present invention, the insulating member 2X is etched before the metal supporting member 1X is etched. Since the adhesiveness between the insulating member 2X and the metal support member 1X is high, it is possible to prevent the etching solution (typically an alkaline etching solution) of the insulating member 2X from being infiltrated. As a result, a suspension substrate in which the end 3a of the wiring layer protrusion 3A and the end 2a of the insulating layer protrusion 2A coincide with each other can be obtained. Further, since the metal support member 1X is in a state before etching, the tapered insulating layer 2 tends to be easily generated by the liquid flow. It is considered that this tapered shape cannot be formed by a conventional manufacturing method.
Hereinafter, the method for manufacturing a suspension substrate according to the present invention will be described step by step.

1.積層体準備工程
本発明における積層体準備工程は、接続端子領域を形成する位置に、金属支持部材と、上記金属支持部材上に形成された絶縁部材と、上記絶縁部材上に形成された配線層とを有する積層体を準備する工程である(図7(a)〜(c))。
1. Laminate Preparation Step In the laminate preparation step of the present invention, a metal support member, an insulating member formed on the metal support member, and a wiring layer formed on the insulating member are formed at positions where connection terminal regions are formed. (A) to (c)).

積層体の形成方法は、所望の積層体を得ることができる方法であれば特に限定されるものではない。積層体の形成方法の一例としては、図7(a)〜(c)に示すように、積層部材を用いる方法を挙げることができる。   The method for forming the laminate is not particularly limited as long as the desired laminate can be obtained. As an example of the method for forming the laminated body, as shown in FIGS. 7A to 7C, a method using a laminated member can be exemplified.

金属支持部材、絶縁部材および配線部材を有する積層部材を用いる場合、配線部材をエッチングすることにより、配線層を形成する。配線部材をエッチングする方法は特に限定されるものでないが、具体的には、ウェットエッチング等を挙げることができる。ウェットエッチングに用いるエッチング液の種類は、配線部材の種類に応じて適宜選択することが好ましく、例えば、配線部材の材料が銅である場合は、塩化鉄系エッチング液等を用いることができる。また、本発明においては、通常、DFR等を用いてレジストパターンを形成し、そのレジストパターンから露出する配線部材をエッチングする。   When using a laminated member having a metal support member, an insulating member, and a wiring member, the wiring layer is formed by etching the wiring member. Although the method for etching the wiring member is not particularly limited, specific examples include wet etching. The type of etchant used for wet etching is preferably selected as appropriate according to the type of wiring member. For example, when the material of the wiring member is copper, an iron chloride-based etching solution or the like can be used. In the present invention, a resist pattern is usually formed using DFR or the like, and the wiring member exposed from the resist pattern is etched.

また、本発明における積層体は、配線層を覆うカバー層をさらに有していても良い。カバー層の形成方法は、カバー層の材料の種類によって適宜選択することが好ましい。例えば、カバー層の材料が感光性材料である場合は、露光・現像によって、所定のパターンを有するカバー層を形成することができる。一方、カバー層の材料が非感光性材料である場合は、レジストパターンを介したエッチングによって、所定のパターンを有するカバー層を形成することができる。   Moreover, the laminated body in this invention may further have a cover layer which covers a wiring layer. The method for forming the cover layer is preferably selected as appropriate depending on the material type of the cover layer. For example, when the material of the cover layer is a photosensitive material, the cover layer having a predetermined pattern can be formed by exposure and development. On the other hand, when the material of the cover layer is a non-photosensitive material, the cover layer having a predetermined pattern can be formed by etching through the resist pattern.

なお、積層体に用いられる各部材については、上記「A.サスペンション用基板」に記載した内容と同様である。また、本発明においては、アディティブ法により積層体を形成しても良い。   In addition, about each member used for a laminated body, it is the same as that of the content described in the said "A. suspension board | substrate". In the present invention, a laminate may be formed by an additive method.

2.絶縁部材エッチング工程
次に、本発明における絶縁部材エッチング工程について説明する。本発明における絶縁部材エッチング工程は、上記配線層において、接続端子を構成する配線層突出部となる部分をレジストとして用いて、上記絶縁部材をウェットエッチングし、上記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有する絶縁層を形成する工程である(図7(d)〜(f))。
2. Insulating Member Etching Step Next, the insulating member etching step in the present invention will be described. In the insulating member etching step according to the present invention, in the wiring layer, the insulating layer is formed by wet-etching the insulating member using a portion serving as a wiring layer protruding portion constituting the connection terminal as a resist, and supporting the wiring layer protruding portion. This is a step of forming an insulating layer having a protrusion (FIGS. 7D to 7F).

絶縁部材のウェットエッチングに用いるエッチング液の種類は、絶縁層の種類に応じて適宜選択することが好ましく、例えば絶縁部材の材料がポリイミド樹脂である場合は、アルカリ系エッチング液等を用いることができる。   The type of the etching solution used for wet etching of the insulating member is preferably selected as appropriate according to the type of the insulating layer. For example, when the material of the insulating member is a polyimide resin, an alkaline etching solution or the like can be used. .

本発明においては、配線層の配線層突出部となる部分をレジストとして用いることを一つの特徴とする。上述したように、配線層および絶縁部材の密着性は、DFR等を用いたレジストパターンおよび絶縁層の密着性よりも高いため、エッチング液の染み込みを防止することができ、配線層突出部と略同一の形状を有する絶縁層突出部を形成することができる。また、配線層は、通常、絶縁部材用のエッチング液ではエッチングされないため、絶縁部材のレジストとして有用である。   One feature of the present invention is that the portion of the wiring layer that becomes the wiring layer protrusion is used as a resist. As described above, since the adhesion between the wiring layer and the insulating member is higher than the adhesion between the resist pattern using DFR or the like and the insulating layer, the penetration of the etching solution can be prevented, which is substantially the same as the wiring layer protruding portion. Insulating layer protrusions having the same shape can be formed. Further, since the wiring layer is not usually etched by the etching solution for the insulating member, it is useful as a resist for the insulating member.

また、本発明においては、絶縁部材エッチング工程において、絶縁層突出部と、絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部との交点に、曲線形状が形成されるように、レジストパターンを形成し、絶縁部材をウェットエッチングすることが好ましい。変形が生じやすい絶縁層突出部の根元を曲線形状にすることで、接続端子の強度をさらに向上させることができるからである。具体的には、図9(a)、(b)に示すように、配線層3上に形成されたレジストパターン9に、曲線形状Cを設けることが好ましい。この曲線形状Cは、レジストパターン9を形成する際に、所定の露光・現像を行うことにより得ることができる。   In the present invention, in the insulating member etching process, a resist pattern is formed so that a curved shape is formed at the intersection of the insulating layer protrusion and the insulating layer support that supports the base of the insulating layer protrusion. In addition, it is preferable to wet-etch the insulating member. This is because the strength of the connection terminal can be further improved by making the base of the insulating layer protruding portion that is likely to be deformed into a curved shape. Specifically, as shown in FIGS. 9A and 9B, it is preferable to provide a curved shape C in the resist pattern 9 formed on the wiring layer 3. The curved shape C can be obtained by performing predetermined exposure and development when forming the resist pattern 9.

3.金属支持部材エッチング工程
次に、本発明における金属支持部材エッチング工程について説明する。本発明における金属支持部材エッチング工程は、上記絶縁部材エッチング工程の後に、上記金属支持部材をエッチングし、金属支持基板を形成し、上記配線層突出部および上記絶縁層突出部を上記金属支持基板の端部よりも突出させる工程である(図7(h))。
3. Metal Support Member Etching Step Next, the metal support member etching step in the present invention will be described. In the metal support member etching step of the present invention, after the insulating member etching step, the metal support member is etched to form a metal support substrate, and the wiring layer protruding portion and the insulating layer protruding portion are formed on the metal supporting substrate. This is a step of projecting from the end (FIG. 7 (h)).

金属支持部材をエッチングする方法は特に限定されるものでないが、具体的には、ウェットエッチング等を挙げることができる。ウェットエッチングに用いるエッチング液の種類は、金属支持部材の種類に応じて適宜選択することが好ましく、例えば金属支持部材の材料がSUSである場合は、塩化鉄系エッチング液等を用いることができる。また、本発明においては、通常、DFR等を用いてレジストパターンを形成し、そのレジストパターンから露出する金属支持部材をエッチングする。   Although the method for etching the metal support member is not particularly limited, specific examples include wet etching. The type of etchant used for wet etching is preferably selected as appropriate according to the type of metal support member. For example, when the material of the metal support member is SUS, an iron chloride-based etchant or the like can be used. In the present invention, a resist pattern is usually formed using DFR or the like, and the metal support member exposed from the resist pattern is etched.

本発明においては、金属支持部材エッチング工程において、絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部が、金属支持基板の端部よりも突出するように、金属支持部材をエッチングすることが好ましい。このような構造にすることにより、例えば曲げ加工時に、配線層突出部と金属支持基板とが接触しショートすることを防止できるからである。   In the present invention, in the metal support member etching step, it is preferable that the metal support member is etched so that the insulating layer support portion that supports the base of the insulating layer protrusion portion protrudes from the end portion of the metal support substrate. This is because such a structure can prevent the wiring layer protruding portion and the metal supporting board from coming into contact with each other and short-circuiting during bending, for example.

4.その他の工程
本発明においては、上述した工程の他に、接続端子領域において露出する配線層の表面に、めっき部を形成するめっき部形成工程を有することが好ましい(図7(g))。めっき部を形成する方法としては、例えば、電解めっき法を挙げることができる。また、本発明により得られるサスペンション用基板については、上記「A.サスペンション用基板」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。
4). Other Steps In the present invention, in addition to the steps described above, it is preferable to have a plating portion forming step for forming a plating portion on the surface of the wiring layer exposed in the connection terminal region (FIG. 7G). Examples of the method for forming the plating portion include an electrolytic plating method. Further, the suspension substrate obtained by the present invention is the same as the content described in the above-mentioned “A. Suspension substrate”, and therefore description thereof is omitted here.

C.サスペンション
次に、本発明のサスペンションについて説明する。本発明のサスペンションは、上述したサスペンション用基板を含むことを特徴とするものである。
C. Suspension Next, the suspension of the present invention will be described. The suspension of the present invention includes the above-described suspension substrate.

本発明によれば、上述したサスペンション用基板を用いることで、接続安定性に優れたサスペンションとすることができる。   According to the present invention, a suspension having excellent connection stability can be obtained by using the suspension substrate described above.

図10は、本発明のサスペンションの一例を示す概略平面図である。図10に示されるサスペンション50は、上述したサスペンション用基板20と、素子実装領域11が形成されている表面とは反対側のサスペンション用基板20の表面に備え付けられたロードビーム40とを有するものである。   FIG. 10 is a schematic plan view showing an example of the suspension of the present invention. A suspension 50 shown in FIG. 10 includes the above-described suspension substrate 20 and a load beam 40 provided on the surface of the suspension substrate 20 opposite to the surface on which the element mounting region 11 is formed. is there.

本発明のサスペンションは、少なくともサスペンション用基板を有し、通常は、さらにロードビームを有する。サスペンション用基板については、上記「A.サスペンション用基板」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、ロードビームは、一般的なサスペンションに用いられるロードビームと同様のものを用いることができる。   The suspension of the present invention has at least a suspension substrate, and usually further has a load beam. The suspension substrate is the same as the content described in “A. Suspension substrate”, and therefore, the description thereof is omitted here. The load beam can be the same as the load beam used for a general suspension.

D.素子付サスペンション
次に、本発明の素子付サスペンションについて説明する。本発明の素子付サスペンションは、上述したサスペンションと、上記サスペンションの素子実装領域に実装された素子と、を有することを特徴とするものである。
D. Next, the suspension with an element of the present invention will be described. A suspension with an element of the present invention includes the above-described suspension and an element mounted in an element mounting region of the suspension.

本発明によれば、上述したサスペンションを用いることで、接続安定性に優れた素子付サスペンションとすることができる。   According to the present invention, by using the above-described suspension, a suspension with an element having excellent connection stability can be obtained.

図11は、本発明の素子付サスペンションの一例を示す概略平面図である。図11に示される素子付サスペンション60は、上述したサスペンション50と、サスペンション50の素子実装領域11に実装された素子51とを有するものである。   FIG. 11 is a schematic plan view showing an example of the suspension with an element of the present invention. A suspension 60 with an element shown in FIG. 11 includes the suspension 50 described above and an element 51 mounted on the element mounting region 11 of the suspension 50.

本発明の素子付サスペンションは、少なくともサスペンションおよび素子を有するものである。サスペンションについては、上記「C.サスペンション」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。   The suspension with an element of the present invention has at least a suspension and an element. The suspension is the same as the content described in “C. Suspension”, and therefore, the description thereof is omitted here.

E.ハードディスクドライブ
次に、本発明のハードディスクドライブについて説明する。本発明のハードディスクドライブは、上述した素子付サスペンションを含むことを特徴とするものである。
E. Next, the hard disk drive of the present invention will be described. The hard disk drive of the present invention is characterized by including the above-described suspension with an element.

本発明によれば、上述した素子付サスペンションを用いることで、より高機能化されたハードディスクドライブとすることができる。   According to the present invention, a hard disk drive with higher functionality can be obtained by using the above-described suspension with an element.

図12は、本発明のハードディスクドライブの一例を示す概略平面図である。図12に示されるハードディスクドライブ70は、上述した素子付サスペンション60と、素子付サスペンション60がデータの書き込みおよび読み込みを行うディスク61と、ディスク61を回転させるスピンドルモータ62と、素子付サスペンション60の素子を移動させるアーム63およびボイスコイルモータ64と、上記の部材を密閉するケース65とを有するものである。   FIG. 12 is a schematic plan view showing an example of the hard disk drive of the present invention. The hard disk drive 70 shown in FIG. 12 includes the above-described suspension 60 with an element, a disk 61 on which the element suspension 60 writes and reads data, a spindle motor 62 that rotates the disk 61, and the elements of the suspension 60 with an element. Arm 63 and voice coil motor 64, and a case 65 for sealing the above members.

本発明のハードディスクドライブは、少なくとも素子付サスペンションを有し、通常は、さらにディスク、スピンドルモータ、アームおよびボイスコイルモータを有する。素子付サスペンションについては、上記「D.素子付サスペンション」に記載した内容と同様であるので、ここでの記載は省略する。また、その他の部材についても、一般的なハードディスクドライブに用いられる部材と同様のものを用いることができる。   The hard disk drive of the present invention has at least a suspension with an element, and usually further includes a disk, a spindle motor, an arm, and a voice coil motor. The suspension with an element is the same as that described in the above “D. Suspension with an element”, and therefore description thereof is omitted here. As other members, the same members as those used in a general hard disk drive can be used.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と、実質的に同一の構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなる場合であっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the technical idea described in the claims of the present invention has substantially the same configuration and exhibits the same function and effect regardless of the case. It is included in the technical scope of the invention.

以下、実施例を用いて、本発明をさらに具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples.

[実施例]
図7に示す方法と同様の方法で、サスペンション用基板を作製した。まず、厚さ20μmのステンレス鋼(SST)である金属支持部材1Xと、厚さ10μmのポリイミド樹脂である絶縁部材2Xと、厚さ9μmのめっき銅である配線部材3Xとを有する積層部材を準備した(図7(a))。次に、積層部材の配線部材3Xの表面をアクリル系感光性ドライフィルムで覆い、露光・現像を行うことにより、所定のレジストパターンを形成し、その後、レジストパターンから露出する配線部材3Xを、塩化鉄系エッチング液を用いてウェットエッチングすることにより、配線層3を形成した(図7(b))。次に、特開2008−310946号公報に記載された非感光性のポリイミド樹脂を用いて、カバー層4を形成した(図7(c))。
[Example]
A suspension substrate was produced in the same manner as shown in FIG. First, a laminated member having a metal supporting member 1X that is 20 μm thick stainless steel (SST), an insulating member 2X that is 10 μm thick polyimide resin, and a wiring member 3X that is 9 μm thick plated copper is prepared. (FIG. 7A). Next, the surface of the wiring member 3X of the laminated member is covered with an acrylic photosensitive dry film, and exposure / development is performed to form a predetermined resist pattern. Thereafter, the wiring member 3X exposed from the resist pattern is chlorinated. Wiring layer 3 was formed by wet etching using an iron-based etchant (FIG. 7B). Next, the cover layer 4 was formed using the non-photosensitive polyimide resin described in JP2008-310946A (FIG. 7C).

その後、得られた積層体の配線層3の表面に、アクリル系の感光性ドライフィルム(厚さ38μm)を配置し、フォトマスクを用いて高圧水銀灯より照射量150mJ/cmの紫外線を照射し、さらに、濃度1wt%のNaCO水溶液を用いてスプレー現像することで、所定のレジストパターン9を形成した(図7(d))。次に、有機アルカリエッチング液にて、エッチング槽の上部側面よりエッチング液をオーバーフローさせながら、80℃3分の条件で、絶縁部材2Xをエッチングした(図7(e))。次に、50℃に加熱した濃度1wt%の水酸化ナトリウム水溶液を、スプレー圧1kg/cmでスプレーし、レジストパターン9を剥離した(図7(f))。その後、めっき部5を形成し、金属支持部材1Xのエッチングを行った(図7(g)、(h))これにより、サスペンション用基板を得た。 Thereafter, an acrylic photosensitive dry film (thickness 38 μm) is placed on the surface of the wiring layer 3 of the obtained laminate, and ultraviolet rays with an irradiation amount of 150 mJ / cm 2 are irradiated from a high pressure mercury lamp using a photomask. Further, a predetermined resist pattern 9 was formed by spray development using an aqueous Na 2 CO 3 solution having a concentration of 1 wt% (FIG. 7D). Next, the insulating member 2X was etched with an organic alkali etching solution under the condition of 80 ° C. for 3 minutes while allowing the etching solution to overflow from the upper side surface of the etching tank (FIG. 7E). Next, a 1 wt% sodium hydroxide aqueous solution heated to 50 ° C. was sprayed at a spray pressure of 1 kg / cm 2 to peel off the resist pattern 9 (FIG. 7F). Then, the plating part 5 was formed, and the metal support member 1X was etched (FIGS. 7G and 7H). Thus, a suspension substrate was obtained.

得られたサスペンション用基板は、絶縁層突出部の端部が、下端部が上端部よりも突出したテーパー形状であり、そのテーパー角は79°であった。また、絶縁層突出部から露出する配線層突出部の露出幅は1μmであった。さらに、絶縁層突出部の膜厚変化は生じておらず、当初の膜厚を維持できた。また、配線層突出部にシワ(変形)が生じた割合を実体顕微鏡で測定したところ、変形発生率は0%であった。   The obtained suspension substrate had a tapered shape in which the end portion of the insulating layer protruding portion protruded from the upper end portion at the lower end portion, and the taper angle was 79 °. Further, the exposed width of the wiring layer protrusion exposed from the insulating layer protrusion was 1 μm. Further, the film thickness change of the protruding portion of the insulating layer did not occur, and the original film thickness could be maintained. Further, when the ratio of occurrence of wrinkles (deformation) in the wiring layer protruding portion was measured with a stereomicroscope, the deformation occurrence rate was 0%.

[比較例]
図13に示す方法で、サスペンション用基板を作製した。まず、厚さ20μmのステンレス鋼(SST)である金属支持部材1Xと、厚さ10μmのポリイミド樹脂である絶縁部材2Xと、厚さ9μmのめっき銅である配線部材3Xとを有する積層部材を準備した(図13(a))。次に、積層部材の両面をアクリル系感光性ドライフィルムで覆い、露光・現像を行うことにより、所定のレジストパターンを形成し、その後、レジストパターンから露出する配線部材3Xおよび金属支持部材1Xを、塩化鉄系エッチング液を用いてウェットエッチングすることにより、配線層3および金属支持基板1を形成した(図13(b))。次に、特開2008−310946号公報に記載された非感光性のポリイミド樹脂を用いて、カバー層4を形成した(図13(c))。
[Comparative example]
A suspension substrate was produced by the method shown in FIG. First, a laminated member having a metal supporting member 1X that is 20 μm thick stainless steel (SST), an insulating member 2X that is 10 μm thick polyimide resin, and a wiring member 3X that is 9 μm thick plated copper is prepared. (FIG. 13A). Next, both surfaces of the laminated member are covered with an acrylic photosensitive dry film, and a predetermined resist pattern is formed by performing exposure and development, and then the wiring member 3X and the metal support member 1X exposed from the resist pattern are The wiring layer 3 and the metal support substrate 1 were formed by wet etching using an iron chloride-based etchant (FIG. 13B). Next, the cover layer 4 was formed using the non-photosensitive polyimide resin described in JP2008-310946A (FIG. 13C).

その後、得られた積層体の両面に、アクリル系の感光性ドライフィルム(厚さ38μm)を配置し、フォトマスクを用いて高圧水銀灯より照射量150mJ/cmの紫外線を照射し、さらに、濃度1wt%のNaCO水溶液を用いてスプレー現像することで、所定のレジストパターン9を形成した(図13(d))。このとき、金属支持基板1の開口部は、レジストパターン9で保護した。次に、有機アルカリエッチング液にて、エッチング槽の上部側面よりエッチング液をオーバーフローさせながら、80℃3分の条件で、絶縁部材2Xをエッチングした(図13(e))。次に、50℃に加熱した濃度1wt%の水酸化ナトリウム水溶液を、スプレー圧1kg/cmでスプレーし、レジストパターン9を剥離した(図13(f))。その後、めっき部5を形成し、サスペンション用基板を得た(図13(g))。 Thereafter, an acrylic photosensitive dry film (thickness: 38 μm) is arranged on both sides of the obtained laminate, irradiated with ultraviolet rays with a dose of 150 mJ / cm 2 from a high-pressure mercury lamp using a photomask, A predetermined resist pattern 9 was formed by spray development using a 1 wt% Na 2 CO 3 aqueous solution (FIG. 13D). At this time, the opening of the metal support substrate 1 was protected by the resist pattern 9. Next, the insulating member 2X was etched with an organic alkali etching solution under conditions of 80 ° C. for 3 minutes while allowing the etching solution to overflow from the upper side surface of the etching tank (FIG. 13E). Next, a 1 wt% sodium hydroxide aqueous solution heated to 50 ° C. was sprayed at a spray pressure of 1 kg / cm 2 to peel off the resist pattern 9 (FIG. 13F). Then, the plating part 5 was formed and the board | substrate for suspensions was obtained (FIG.13 (g)).

得られたサスペンション用基板は、絶縁層突出部の端部が、上端部が下端部よりも突出した逆テーパー形状であり、そのテーパー角は40°であった。また、絶縁層突出部から露出する配線層突出部の露出幅は5μmであった。さらに、絶縁層突出部の膜厚はエッチングにより減少しており、絶縁層突出部の端部から10μm程度までの範囲で、膜厚は当初の半分以下となった。また、配線層突出部にシワ(変形)が生じた割合を実体顕微鏡で測定したところ、変形発生率は3.5%であった。   The obtained suspension substrate had an inverted taper shape in which the end portion of the insulating layer protruding portion protruded from the lower end portion, and the taper angle was 40 °. Further, the exposed width of the wiring layer protrusion exposed from the insulating layer protrusion was 5 μm. Furthermore, the film thickness of the insulating layer protruding portion was reduced by etching, and the film thickness became half or less of the initial value in the range from the end of the insulating layer protruding portion to about 10 μm. Further, when the ratio of occurrence of wrinkles (deformation) in the wiring layer protruding portion was measured with a stereomicroscope, the deformation occurrence rate was 3.5%.

1…金属支持基板、1X…金属支持部材、2…絶縁層、2A…絶縁層突出部、2X…絶縁部材、3…配線層、3A…配線層突出部、3X…配線部材、4…カバー層、5…めっき部、11…素子実装領域、12…外部回路基板接続領域、13…配線層、20…サスペンション用基板、21…絶縁層突出部の上端部、22…絶縁層突出部の下端部、23…素子の接続端子、24…素子、25…半田ボール、30…積層体、X…接続端子領域   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Metal support board, 1X ... Metal support member, 2 ... Insulating layer, 2A ... Insulating layer protrusion part, 2X ... Insulating member, 3 ... Wiring layer, 3A ... Wiring layer protrusion part, 3X ... Wiring member, 4 ... Cover layer DESCRIPTION OF SYMBOLS 5 ... Plating part, 11 ... Element mounting area | region, 12 ... External circuit board connection area | region, 13 ... Wiring layer, 20 ... Suspension board | substrate, 21 ... Upper end part of insulating layer protrusion part, 22 ... Lower end part of insulating layer protrusion part , 23 ... element connection terminals, 24 ... element, 25 ... solder balls, 30 ... laminate, X ... connection terminal area

Claims (3)

接続端子領域を形成する位置に、金属支持部材と、前記金属支持部材上に形成された絶縁部材と、前記絶縁部材上に形成された配線層とを有する積層体を準備する積層体準備工程と、
前記配線層において、接続端子を構成する配線層突出部となる部分をレジストとして用いて、前記絶縁部材および前記配線層突出部となる部分が前記金属支持部材に支持されている状態において、前記絶縁部材をウェットエッチングし、前記金属支持部材側の端部が前記配線層側の端部よりも突出したテーパー形状であり、前記配線層突出部を支持する絶縁層突出部を有する絶縁層を形成する絶縁部材エッチング工程と、
前記絶縁部材エッチング工程の後に、前記金属支持部材をエッチングし、金属支持基板を形成し、前記配線層突出部および前記絶縁層突出部を前記金属支持基板の端部よりも突出させる金属支持部材エッチング工程と、
を有することを特徴とするサスペンション用基板の製造方法。
A laminate preparation step of preparing a laminate having a metal support member, an insulating member formed on the metal support member, and a wiring layer formed on the insulating member at a position where the connection terminal region is formed; ,
In the wiring layer, the insulating layer and the wiring layer protruding portion are supported by the metal support member using the portion that becomes the wiring layer protruding portion constituting the connection terminal as a resist. The member is wet-etched to form an insulating layer having an insulating layer protruding portion that supports the wiring layer protruding portion and has a tapered shape in which the end portion on the metal supporting member side protrudes from the end portion on the wiring layer side. Insulating member etching step;
After the insulating member etching step, the metal support member is etched to form a metal support substrate, and the wiring layer protrusion and the insulating layer protrusion are protruded from the end of the metal support substrate. Process,
A method for manufacturing a suspension substrate, comprising:
前記絶縁部材エッチング工程において、前記絶縁層突出部と、前記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部との交点に、曲線形状が形成されるように、レジストパターンを形成し、前記絶縁部材をウェットエッチングすることを特徴とする請求項1に記載のサスペンション用基板の製造方法。 In the insulating member etching step, a resist pattern is formed so that a curved shape is formed at an intersection of the insulating layer protruding portion and an insulating layer supporting portion that supports a base of the insulating layer protruding portion, and the insulating The method for manufacturing a suspension substrate according to claim 1, wherein the member is wet-etched. 前記金属支持部材エッチング工程において、前記絶縁層突出部の根元を支持する絶縁層支持部が、前記金属支持基板の端部よりも突出するように、前記金属支持部材をエッチングすることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のサスペンション用基板の製造方法。 In the metal support member etching step, the metal support member is etched so that an insulating layer support portion supporting a base of the insulating layer protrusion portion protrudes from an end portion of the metal support substrate. The manufacturing method of the board | substrate for suspensions of Claim 1 or Claim 2.
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