JP6135427B2 - 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 - Google Patents
薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6135427B2 JP6135427B2 JP2013202152A JP2013202152A JP6135427B2 JP 6135427 B2 JP6135427 B2 JP 6135427B2 JP 2013202152 A JP2013202152 A JP 2013202152A JP 2013202152 A JP2013202152 A JP 2013202152A JP 6135427 B2 JP6135427 B2 JP 6135427B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- thin film
- film transistor
- transistor array
- interlayer insulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/466—Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136227—Through-hole connection of the pixel electrode to the active element through an insulation layer
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/01—Manufacture or treatment
- H10D86/021—Manufacture or treatment of multiple TFTs
- H10D86/0231—Manufacture or treatment of multiple TFTs using masks, e.g. half-tone masks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/01—Manufacture or treatment
- H10D86/021—Manufacture or treatment of multiple TFTs
- H10D86/0241—Manufacture or treatment of multiple TFTs using liquid deposition, e.g. printing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/80—Constructional details
- H10K10/82—Electrodes
- H10K10/84—Ohmic electrodes, e.g. source or drain electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/124—Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/1201—Manufacture or treatment
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
(比較例1)
11・・・ゲート絶縁膜
12・・・半導体層
13・・・封止層
14・・・層間絶縁膜
15・・・凹部
16・・・ビア部
21・・・ゲート電極
22・・・ゲート配線
23・・・キャパシタ電極
24・・・キャパシタ配線
25・・・画素電極
26・・・ドレイン電極
27・・・ソース電極
28・・・ソース配線
29・・・上部画素電極
30・・・グラビアオフセット印刷用版
31・・・ビア部に対応する凸部
32・・・凹部に対応する凸部
Claims (5)
- 基板上に形成されたゲート電極と、前記ゲート電極上に形成されたゲート絶縁層と、前記ゲート絶縁層上に形成されたソース電極及び画素電極に接続されたドレイン電極と、前記ソース電極及び前記ドレイン電極の間に形成された半導体層と、前記半導体層を覆うように形成された封止層と、前記ソース電極、前記ドレイン電極、前記封止層及び前記画素電極の一部を覆うように形成された層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成され、前記画素電極に接続された上部画素電極とを有する薄膜トランジスタをマトリクス状に配置し、前記ゲート電極をゲート配線に、前記ソース電極をソース配線にそれぞれ接続した薄膜トランジスタアレイであって、
前記層間絶縁膜が、平面視で前記上部画素電極に挟まれた領域に、ストライプ状または格子状の凹部を有していることを特徴とする薄膜トランジスタアレイ。 - 前記凹部が下層まで貫通していることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- ストライプ状の前記凹部が、前記ソース配線に平行であることを特徴とする請求項1または2に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 前記半導体層が前記ソース配線に平行なストライプ形状であることを特徴とする請求項1に記載の薄膜トランジスタアレイ。
- 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の薄膜トランジスタアレイの製造方法であって、前記層間絶縁膜がグラビアオフセット印刷法により形成されることを特徴とする薄膜トランジスタアレイの製造方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013202152A JP6135427B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 |
| CN201480053259.0A CN105580121B (zh) | 2013-09-27 | 2014-09-04 | 薄膜晶体管阵列及其制造方法 |
| EP14847642.7A EP3051578A4 (en) | 2013-09-27 | 2014-09-04 | Thin film transistor array and production method therefor |
| PCT/JP2014/004564 WO2015045287A1 (ja) | 2013-09-27 | 2014-09-04 | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 |
| TW103133405A TWI610423B (zh) | 2013-09-27 | 2014-09-26 | 薄膜電晶體陣列及其製造方法 |
| US15/082,078 US9735381B2 (en) | 2013-09-27 | 2016-03-28 | Thin film transistor array and manufacturing method of the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013202152A JP6135427B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015070075A JP2015070075A (ja) | 2015-04-13 |
| JP6135427B2 true JP6135427B2 (ja) | 2017-05-31 |
Family
ID=52742462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013202152A Expired - Fee Related JP6135427B2 (ja) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9735381B2 (ja) |
| EP (1) | EP3051578A4 (ja) |
| JP (1) | JP6135427B2 (ja) |
| CN (1) | CN105580121B (ja) |
| TW (1) | TWI610423B (ja) |
| WO (1) | WO2015045287A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104934330A (zh) * | 2015-05-08 | 2015-09-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示面板 |
| JP6627437B2 (ja) * | 2015-11-10 | 2020-01-08 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法 |
| CN112701046B (zh) | 2020-12-29 | 2021-11-23 | 华南理工大学 | 钝化层及其制备方法、柔性薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5286826B2 (ja) * | 2007-03-28 | 2013-09-11 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタアレイ、薄膜トランジスタアレイの製造方法、およびアクティブマトリスクディスプレイ |
| JP5272342B2 (ja) * | 2007-07-13 | 2013-08-28 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタ基板の製造方法及び画像表示装置 |
| JP5292805B2 (ja) * | 2007-12-26 | 2013-09-18 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタアレイ及びその製造方法 |
| JP4466763B2 (ja) * | 2008-05-14 | 2010-05-26 | ソニー株式会社 | パターン形成方法、半導体装置の製造方法、および表示装置の製造方法 |
| JP5157825B2 (ja) * | 2008-10-29 | 2013-03-06 | ソニー株式会社 | 有機elディスプレイの製造方法 |
| TWI535037B (zh) * | 2008-11-07 | 2016-05-21 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置和其製造方法 |
| JP4752967B2 (ja) * | 2009-01-27 | 2011-08-17 | カシオ計算機株式会社 | 多層膜の形成方法及び表示パネルの製造方法 |
| WO2010107027A1 (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-23 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタアレイおよび薄膜トランジスタアレイを用いた画像表示装置 |
| JP2011037999A (ja) | 2009-08-12 | 2011-02-24 | Dic Corp | 導電性インキ及び導電性パターン形成方法 |
| KR101623956B1 (ko) * | 2010-01-15 | 2016-05-24 | 삼성전자주식회사 | 트랜지스터와 그 제조방법 및 트랜지스터를 포함하는 전자소자 |
| JP5677435B2 (ja) * | 2010-08-06 | 2015-02-25 | パナソニック株式会社 | 有機el表示パネルとその製造方法 |
| TW202414842A (zh) * | 2011-05-05 | 2024-04-01 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
| JP2013004649A (ja) * | 2011-06-15 | 2013-01-07 | Sony Corp | 膜の製造方法および表示装置の製造方法 |
| KR101801349B1 (ko) * | 2011-09-06 | 2017-11-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
| JP5990889B2 (ja) * | 2011-09-29 | 2016-09-14 | 凸版印刷株式会社 | 電気泳動ディスプレイ及びその製造方法 |
| JP2013105950A (ja) | 2011-11-15 | 2013-05-30 | Sony Corp | 半導体装置および電子機器 |
| CN103456740B (zh) * | 2013-08-22 | 2016-02-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 像素单元及其制造方法、阵列基板和显示装置 |
-
2013
- 2013-09-27 JP JP2013202152A patent/JP6135427B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-09-04 CN CN201480053259.0A patent/CN105580121B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-04 EP EP14847642.7A patent/EP3051578A4/en not_active Withdrawn
- 2014-09-04 WO PCT/JP2014/004564 patent/WO2015045287A1/ja not_active Ceased
- 2014-09-26 TW TW103133405A patent/TWI610423B/zh not_active IP Right Cessation
-
2016
- 2016-03-28 US US15/082,078 patent/US9735381B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP3051578A1 (en) | 2016-08-03 |
| US9735381B2 (en) | 2017-08-15 |
| WO2015045287A1 (ja) | 2015-04-02 |
| CN105580121B (zh) | 2019-05-10 |
| TWI610423B (zh) | 2018-01-01 |
| CN105580121A (zh) | 2016-05-11 |
| EP3051578A4 (en) | 2017-06-07 |
| TW201519417A (zh) | 2015-05-16 |
| US20160211474A1 (en) | 2016-07-21 |
| JP2015070075A (ja) | 2015-04-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6323055B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 | |
| JP2008235861A (ja) | 薄膜トランジスタアレイ、薄膜トランジスタアレイの製造方法、および薄膜トランジスタアレイを用いたアクティブマトリクス型ディスプレイ | |
| JP6229658B2 (ja) | 薄膜トランジスタ及びその製造方法、画像表示装置 | |
| JP6070073B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイ | |
| JP6135427B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 | |
| US20170221968A1 (en) | Thin-film transistor array and method of manufacturing the same | |
| JP2015197633A (ja) | 薄膜トランジスタアレイおよびその製造方法 | |
| JP2016163029A (ja) | 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイの製造方法及び画素表示装置 | |
| JP2013074191A (ja) | 薄膜トランジスタアレイ、薄膜トランジスタアレイの製造方法、画像表示装置 | |
| JP6217162B2 (ja) | 薄膜トランジスタ及びその製造方法並びに画像表示装置 | |
| JP6123413B2 (ja) | 薄膜トランジスタアレイおよび画像表示装置 | |
| JP5359032B2 (ja) | 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイ及び画像表示装置 | |
| JP6390122B2 (ja) | 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイの製造方法及び画像表示装置 | |
| JP6244812B2 (ja) | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに画像表示装置 | |
| JP6428126B2 (ja) | 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイの製造方法、及び画像表示装置 | |
| JP2017059702A (ja) | 薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイの製造方法及び画像表示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160823 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170110 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170308 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170328 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170410 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6135427 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |