JP6164944B2 - 測定方法 - Google Patents

Description

本発明は、記録媒体の状態の測定を行う測定方法に関する。

インクジェット記録装置は、記録媒体に正しく画像を形成するために、記録媒体の端部の位置を検出するための機能を備えている。しかしながら、記録媒体によっては、端部が印刷を行なうのには不適切な状態で、正しく画像が印刷できない場合がある。不適切な状態とは、例えば、先端部の汚れ、破れ、しわなどの記録媒体の破損や、端部付近に枠線などが印刷されている状態をいう。

そのような課題を解決するために、反射型光センサを用い、反射光量と位置との関係を示すプロファイルに基づいて記録媒体の端部の浮きの有無を検出する方法（特許文献１）が知られている。

特開２００６−２４０１３８号公報

特許文献１においては、反射型光センサによる測定範囲において全ての測定値をメモリに記憶する。従って、測定範囲全域に渡る記録媒体（測定対象物）の測定値を記憶するための容量を確保しておかなくてはならない。

本発明の目的は、このような従来の問題点を解決することにある。本発明は、上記の点に鑑み、測定値の格納領域への格納を効率化する測定方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するため、本発明に係る測定方法は、測定対象物に対してセンサを動かしながら前記測定対象物を測定する方法であって、所定のタイミングごとに、前記センサの測定値を示すデータを、メモリに割り当てられた第１格納領域の中でサイクリックに格納していき、前記測定値が所定の閾値を下回る又は上回ったら、前記測定値を格納する格納領域を、前記第１格納領域とは異なる前記メモリの第２格納領域に切り替え、前記測定値を示すデータを当該第２格納領域の中でサイクリックに格納していき、当該切り替えの後も、前記第１格納領域に前記測定値を格納することができる最大数よりも少ない所定の回数は、前記第１格納領域への前記測定値の格納を継続し、前記メモリに格納された前記測定値を示すデータに基づいて、前記測定対象物の位置または状態を判別する、ことを特徴とする。

本発明によれば、測定値の格納領域への格納を効率化することができる。

インクジェット記録装置の構成の概略を示す図である。 インクジェット記録装置の記録ヘッド周辺の構造の概略を示す図である。 タイミングチャートおよび状態遷移を示す図である。 境界周辺値の格納方法を説明するための図である。 境界周辺値の格納制御処理の手順を示す図である。

以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る本発明を限定するものでなく、また本実施形態で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。

〔第１の実施形態〕
図１は、本実施形態におけるインクジェット記録装置の内部の概略構成を示す図である。外部入力装置１００は、インクジェット記録装置２００と相互に通信可能であり、例えばＰＣである。ＣＰＵ１０１は、インクジェット記録装置２００全体を制御する。ＡＳＩＣ１０２は、記録ヘッド制御等、プリンタ特有のハードウェア制御を行なう。ＡＳＩＣ１０２は、外部インタフェース回路１０３、ＣＰＵインタフェース回路１０４、メモリ制御回路１０５、ＳＲＡＭ１０６を含む。また、ＡＳＩＣ１０２は、画像データ処理回路１０７、吐出画像生成回路１０８、記録ヘッドインタフェース回路１０９、転送タイミング制御回路１１０、装置本体駆動回路１１１、境界周辺値制御回路１１３、ＳＲＡＭ１１４（記憶部の一例）を含む。

ＡＳＩＣ１０２の動作について説明する。外部インタフェース回路１０３は、外部入力装置１００と接続される。外部インタフェース回路１０３には、ＵＳＢインタフェース回路やＬＡＮインタフェース回路やＩＤＥインタフェース回路等、外部入力装置１００と接続される各種インタフェース回路を含む。ＣＰＵインタフェース回路１０４は、ＣＰＵ１０１と接続され、ＣＰＵ１０１は、ＣＰＵインタフェース回路１０４を介して他の各ブロックを制御する。

メモリ制御回路１０５は、外部インタフェース回路１０３、ＳＲＡＭ１０６、画像データ処理回路１０７、吐出画像生成回路１０８、記録ヘッドインタフェース回路１０９、ＤＤＲ１１２と接続される。ＤＤＲ１１２は、ＤＤＲ（Ｄｏｕｂｌｅ Ｄａｔａ Ｍｅｍｏｒｙ）メモリである。メモリ制御回路１０５は、外部入力装置１００から入力される画像データをＳＲＡＭ１０６に転送する。また、メモリ制御回路１０５は、ＳＲＡＭ１０６とＤＤＲ１１２へのデータの読出制御や書込制御も行なう。ＳＲＡＭ１０６は、ワークバッファとしても使用され、例えば、印刷対象の画像データが特定サイズに分割されて格納される。ここで、ＳＲＡＭ１０６は、インク色数分やノズル数分、構成されても良い。

画像データ処理回路１０７は、ＳＲＡＭ１０６に格納された画像データに対して、各種の画像処理を実行する。画像処理とは、例えば、境界処理、エッジ処理、ＨＶ変換処理、スムージング処理、不吐出補間処理である。吐出画像生成回路１０８は、画像処理が実行された画像データを、記録ヘッド２０１のノズルから吐出させるためのデータ形式（以下、吐出画像データという）に変換する。転送タイミング制御回路１１０は、エンコーダセンサ２０６から入力される信号を逓倍することにより、吐出画像データの記録ヘッド２０１への転送タイミング信号を生成している。この転送タイミング制御回路１１０は、エンコーダセンサ２０６から入力される信号をカウントし、位置情報信号を生成する。記録ヘッドインタフェース回路１０９は、吐出画像データを、生成された転送タイミング信号に従って記録ヘッド２０１に転送する。ＤＤＲ１１２は、ＡＳＩＣ１０２に外付けされる受信バッファである。ＤＤＲ１１２には、画像補正処理が行なわれた画像データが格納される。装置本体駆動回路１１１は、インクジェット記録装置２００内部の各ハードウェアデバイスを制御する。例えば、装置本体駆動回路１１１は、搬送ローラ等を駆動するモータ１１５や、搬送路上の記録媒体の有無を検知するセンサ等（不図示）を制御する。

境界周辺値制御回路１１３は、測定値取得回路１２１、境界周辺値生成回路１２２、メモリ制御回路１２３を含む。光学センサ２０５により検知された反射光量と、転送タイミング制御回路１１０からの位置情報信号とが境界周辺値制御回路１１３に入力される。光学センサ２０５は、例えば、キャリッジの側面に配置され、反射光量を用いて紙間距離の測定や端部検出に使用される反射型光センサである。ここで、紙間距離とは、記録ヘッド２０１と記録媒体の表面までの距離をいい、キャリッジの走査方向にある複数のポイントで紙間距離を測定することにより、記録媒体の浮き状態等を検出することができる。なお、光学センサ２０５が検出する測定対象物は、記録媒体に限定するものではなく、記録媒体を搬送する搬送手段の表面などでも構わない。

ＣＰＵ１０１は、境界周辺値制御回路１１３に対して、記録媒体の側端部検出のための測定区間、測定に用いられる閾値（基準値ともいう）、閾値方向（後述）、測定値のＳＲＡＭ１１４への格納タイミング（格納周期）、境界周辺値格納数（後述）を設定する。ここで、測定値は、光学センサ２０５により検知された反射光量の値を表わす。反射光量の値は、Ａ／Ｄ変換（アナログデータからデジタルデータに変換）されたデジタル値が例えば０〜１０２３の範囲として４０ｕｓの周期で境界周辺値制御回路１１３に入力される。また、転送タイミング制御回路１１０から位置情報信号が、０．５ｍｓの周期で境界周辺値制御回路１１３に入力される。閾値とは、記録媒体の端部検出を行う際に設定され、例えば、記録媒体がない状態での反射光量の値や、記録媒体がないと判定できる反射光量の値や、記録媒体の厚みが最大の場合の反射光量の値が用いられる。また、閾値方向とは、測定値が閾値より小さくなること、若しくは、測定値が閾値より大きくなることを表わす。いずれの場合においても各時点で測定値は閾値を通過するように変化するが、本実施形態においては、測定値が閾値を通過したと判定するのはいずれの場合であるかについてＣＰＵ１０１が設定する。

測定値取得回路１２１は、位置情報信号に基づき、境界周辺値制御回路１１３と光学センサ２０５の駆動の開始及び終了を指示する。また、測定値取得回路１２１は、光学センサ２０５から入力したデジタル値から測定値を算出する。ここで、ノイズなどの影響によるデジタル値のばらつきを抑えるためにフィルタ処理が行われても良い。フィルタ処理として、例えば、複数のデジタル値の移動平均値が測定値とされても良い。また、測定値取得回路１２１は、測定値の変化が閾値を通過したかを検出する。閾値は、ＣＰＵ１０１により設定される。測定値取得回路１２１は、閾値の通過を検出した場合、境界周辺値生成回路１２２にその旨を通知する。つまり、測定値取得回路１２１は、測定値の変化が閾値を通過した事象が発生した場合、境界周辺値生成回路１２２にその旨を通知する。境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３の状態（後述）を管理している。また、ＣＰＵ１０１により設定される格納タイミングに従って測定値を保持し、メモリ制御回路１２３に転送する。以降、格納タイミングに従って保持される測定値を特に、「境界周辺値」という。境界周辺値制御回路１１３の状態は、測定値取得回路１２１からの閾値の通過の検出と境界周辺値格納数とに基づいて管理される。境界周辺値制御回路１１３の状態の管理については、図３（ａ）を参照して後述する。図３は、記録媒体の両側端（キャリッジの走査方向）のうちの一方の端部（即ち右端または左端）の測定を説明する図である。

メモリ制御回路１２３は、境界周辺値生成回路１２２から転送された境界周辺値をＳＲＡＭ１１４の所定の記憶領域に、格納タイミング信号に従って格納する。境界周辺値の記憶制御方法については、図４を参照して後述する。

本実施形態においては、ＳＲＡＭ１１４は、境界周辺値を格納するための領域（記憶領域）を３つ設有している。以下、ＳＲＡＭ１１４内の各領域をそれぞれ、第１の格納領域（第１の記憶領域）、第２の格納領域（第２の記憶領域）、第３の格納領域（第３の記憶領域）という。また、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域への格納は、第１の格納タイミング信号に従って行われる。また、第２の格納領域への格納は、第２の格納タイミング信号に従って行われる。また、第３の格納領域への格納は、第３の格納タイミング信号に従って行われる。第１〜第３の格納タイミング信号は、境界周辺値制御回路１１３の状態の変化に従って生成される。第１〜第３の格納タイミング信号は、境界周辺値生成回路１２２において生成される。

図２は、インクジェット記録装置２００の記録ヘッド周辺の構造の概略を示す図である。記録ヘッド２０１は、インクを吐出するノズルを１つあるいは複数個有する。記録ヘッド２０１は、キャリッジ２０２に搭載されて、記録媒体Ｐの搬送方向と交差する主走査方向に走査され、記録媒体Ｐに記録が行われる。キャリッジ軸２０３は、キャリッジ２０２が走査される際のガイド軸として機能する。エンコーダフィルム２０４は、記録ヘッド２０１による記録のタイミングを設定する際の位置情報を取得するために使用される。光学センサ２０５は、キャリッジ２０２の側面に設けられ、反射光量を用いて紙間距離の測定や記録媒体の端部検出に使用される。回復装置２０９は、記録ヘッド２０１のキャッピングや、ノズルのインク吐出面の払拭等、記録ヘッド２０１の回復処理を行う。記録ヘッドキャップ２１０は、記録ヘッド２０１のノズルをキャッピングして密閉し、インクの乾燥を防止する。

以上の構成により記録動作が開始されると、記録媒体Ｐは、給紙ローラ（不図示）により給紙位置まで給送され、搬送ローラ２０７により所定の記録開始位置まで搬送される。搬送ローラ２０７により記録可能領域に搬送された記録媒体Ｐは、その下方からプラテン２０８により支持される。そして、キャリッジ２０２は、キャリッジモータ（モータ１１５）により、記録領域を含む走査範囲を、矢印Ｑ１及びＱ２で示す主走査方向に沿って往復移動する。その往復移動の間に、キャリッジ２０２に搭載された記録ヘッド２０は、ノズルからその下方に位置する記録媒体Ｐに向けてインクを吐出し、１走査分の記録が行なわれる。また、１回の主走査が終了すると、記録媒体Ｐを矢印Ｒで示す副走査方向に一定量だけ記録媒体Ｐを搬送し、次の主走査を待機する。以上のような主走査と副走査を繰り返すことにより、１枚の記録媒体に記録が行なわれる。その際、キャリッジ２０２に搭載された光学センサ２０５により紙間距離が測定される。また、キャリッジ２０２に搭載されたエンコーダセンサ２０６によりエンコーダフィルム２０４上のスリットが読み取られ、キャリッジの移動に応じてエンコーダセンサ２０６から転送タイミング制御回路１１０へ信号が出力される。それらの測定値と位置情報により、記録ヘッド２０１による記録タイミングの制御や記録媒体の状態の判定が実行される。

図３は、境界周辺値をＳＲＡＭ１１４に格納するためのタイミングチャートおよび境界周辺値制御回路１１３の状態遷移を示す図である。図３（ａ）において、信号３０１は、キャリッジ２０２に搭載された光学センサ２０５により反射光量を測定する測定区間を示す測定区間信号である。また、信号３０２は、反射光量の測定周期を示す測定周期信号である。また、信号３０３は、転送タイミング制御回路１１０から入力される現在のキャリッジ２０２の位置情報を示す位置情報信号である。また、信号３０４は、光学センサ２０５により測定された測定値を示す信号である。また、信号３０６は、境界周辺値生成回路１２２において管理される境界周辺値制御回路１１３の状態遷移を示す状態遷移信号である。信号３０７は、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域への格納タイミングを示す第１の格納タイミング信号である。信号３０８は、ＳＲＡＭ１１４の第２の格納領域への格納タイミングを示す第２の格納タイミング信号である。信号３０９は、ＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域への格納タイミングを示す第３の格納タイミング信号である。第１〜第３の格納タイミング信号の各周期は同じである。閾値３０５は、上述の記録媒体の端部検出を行う際に、ＣＰＵ１０１により設定される値である。ここで、閾値方向は、測定値が閾値よりも小さくなった場合を示し、その場合に、閾値が通過したと判定することとする。つまり、ポイント３１０、３１１、３１２は、測定値が閾値を通過するポイントであり、以下、「閾値データ取得ポイント」という。図３（ａ）において、閾値データ取得ポイント１はポイント３１０に、閾値データ取得ポイント２はポイント３１１に、閾値データ取得ポイント３はポイント３１２に、それぞれ対応する。これら「閾値データ取得ポイント」は、測定値の変化が閾値を通過した事象の発生したポイントである。測定値の変化が閾値を通過した事象を所定の事象と表現する。

まず、転送タイミング制御回路１１０から入力される位置情報が予め設定された測定位置を示すと、測定区間信号３０１がハイレベル（Ｈ）に変化する。また、信号３０６は、ＩＤＬＥ状態からＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態に遷移する。ここで、ＩＤＬＥ状態とは、境界周辺値制御回路１１３の初期状態である。ＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイントに到達するより前に、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域に測定値を格納可能な状態ということである。信号３０２がハイレベルとなる周期で光学センサ２０５からデジタル値が入力され、測定値取得回路１２１により測定値が生成される。さらに、第１の格納タイミング信号が生成され、第１の格納タイミング信号が所定周期で、測定値が境界周辺値としてＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域に格納される。

測定値が閾値データ取得ポイント１に到達すると、その時点までの測定値と位置情報とを閾値データとしてＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域に格納する。ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域の各アドレスに、位置情報とその位置情報に対応する測定値が格納される。なお、測定値と位置情報は必ずしも、同じアドレスに格納する必要はなく、測定値と位置情報とが関連づけられていれば、測定値と位置情報を異なる記憶領域に格納しても構わない。また、ＳＲＡＭ１１４に格納するデータ量を削減するために、第１の格納領域に格納される代表的な位置情報を１つ格納する形態でも構わない。そして、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態からＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態に遷移させ、信号３０６も変化させる。ここで、ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント１に到達した後に、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域に測定値を所定数まで格納可能な状態ということである。ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態において第１の格納領域に格納可能な測定値の数は、第１の格納領域に設定された境界周辺値格納数により定められている。また、第１の格納タイミング信号に加え、第２の格納タイミング信号が所定周期で出力開始される。つまり、この時点では、測定値は、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域と第２の格納領域との両方に格納される。

測定値が閾値データ取得ポイント１に到達した後に測定値が第１の格納領域に境界周辺値格納数分格納されると、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ０＿ＰＯＳＴからＳＴＲ１＿ＰＲＥの状態に遷移させる。そして、境界周辺値生成回路１２２は、第１の格納タイミング信号３０７を停止する。これにより、第１の格納領域への格納は停止する。ここで、ＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント２に到達するより前に、ＳＲＡＭ１１４の第２の格納領域に測定値を格納可能な状態ということである。このＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態に遷移したときには、この第２の格納領域には、ＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態となる前のＳＴＲ０＿ＰＯＳＴの状態の測定値が格納されている。従って、このＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態では、ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴの状態において最後に格納されたアドレスの次のアドレスから順に測定値が格納される。また、図３のＳＴＲ２＿ＰＲＥ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント３に到達するより前に、ＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域に測定値を格納可能な状態ということである。このＳＴＲ２＿ＰＲＥ状態に遷移したときには、この第３の格納領域には、ＳＴＲ２＿ＰＲＥ状態となる前のＳＴＲ１＿ＰＯＳＴの状態の測定値が格納されている。従って、このＳＴＲ２＿ＰＲＥ状態では、ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴの状態において最後に格納されたアドレスの次のアドレスから順に測定値が格納される。ここで、ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント２に到達した後に、ＳＲＡＭ１１４の第２の格納領域に測定値を所定数、格納可能な状態ということである。また、ＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント３に到達した後に、ＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域に測定値を所定数、格納可能な状態ということである。
測定値が閾値データ取得ポイント２に到達すると、その時点までの測定値と位置情報とを閾値データとしてＳＲＡＭ１１４の第２の格納領域に格納する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態からＳＴＲ１＿ＰＯＳＴ状態に遷移させ、信号３０６も変化させる。ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴ状態において第１の格納領域に格納可能な測定値の数は、第２の格納領域に設定された境界周辺値格納数により定められている。また、第２の格納タイミング信号に加え、第３の格納タイミング信号が所定周期で出力開始される。つまり、この時点では、測定値は、ＳＲＡＭ１１４の第２の格納領域と第３の格納領域との両方に格納される。

測定値が閾値データ取得ポイント２に到達した後に測定値が第２の格納領域に境界周辺値格納数分格納されると、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ１＿ＰＯＳＴからＳＴＲ２＿ＰＲＥの状態に遷移する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、第２の格納タイミング信号３０８を停止する。これにより、第２の格納領域への格納は停止する。

測定値が閾値データ取得ポイント３に到達すると、その時点までの測定値と位置情報とを閾値データとしてＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域に格納する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ２＿ＰＲＥ状態からＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態に遷移する。ここで、ＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態とは、測定値が閾値データ取得ポイント３に到達した後に、ＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域に測定値を所定数、格納可能な状態ということである。ＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態において第３の格納領域に格納可能な測定値の数は、第３の格納領域に設定された境界周辺値格納数により定められている。また、第３の格納タイミング信号に加え、第１の格納タイミング信号が所定周期で出力開始される。つまり、この時点では、測定値は、ＳＲＡＭ１１４の第３の格納領域と第１の格納領域との両方に格納される。

測定値が閾値データ取得ポイント３に到達した後に測定値が第３の格納領域に境界周辺値格納数分格納されると、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３をＳＴＲ２＿ＰＯＳＴからＳＴＲ０＿ＰＲＥの状態に遷移する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、第３の格納タイミング信号３０９を停止する。これにより、第３の格納領域への格納は停止する。以降、閾値データ取得ポイントが出現する度に、上述の処理が繰り返される。つまり、測定値の閾値データ取得ポイントへの到達と、閾値通過後に測定値の境界周辺値格納数分の格納完了とをトリガとして、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３の状態を遷移する。そして、各状態に応じた測定値の格納タイミング信号の出力を開始して、測定値をＳＲＡＭ１１４の所定の格納領域に格納する。このような構成により、端部検出の測定区間において閾値データ取得ポイントの数がＳＲＡＭ１１４の格納領域数よりも多くなった場合でも、閾値データ取得ポイントにおける解析に必要な測定値を格納することができる。

図３（ｂ）は、測定値の変化の他の例を示す図である。図３（ｂ）に示すように、１回目の閾値データ取得ポイント１から、例えば、記録ヘッド２０１と記録媒体の表面までの距離が一定である区間の測定値は、一定の測定値付近の値を示す。また、記録ヘッド２０１と記録媒体の表面までの距離に大きく変化が生じると、２回目の閾値データ取得ポイント２が発生する。そのため、図３（ｂ）のように、複数発生する１回目と２回目の閾値データ取得ポイントの間が離れている場合もある。また、記録媒体の表面にしわ等がなく理想的な状態である場合には、閾値データ取得ポイントが２回（記録媒体の右端に対応する閾値データ取得ポイントと記録媒体の左端に対応する閾値データ取得ポイント）しか発生しないことも考えられる。

図４は、本実施形態における境界周辺値の格納制御処理の手順を示すフローチャートである。なお、図４に示す処理は、ＡＳＩＣ１０２がＲＯＭ（不図示）に格納されたプログラムを実行することにより実現される。

まず、インクジェット記録装置２００で印刷処理が開始されると、ＣＰＵ１０１は、測定区間、閾値、閾値方向、格納タイミング、境界周辺値格納数を設定する（Ｓ４０１）。次に、装置本体駆動回路１１１がモータ１１５を駆動し、キャリッジ２０２の走査を開始する。同時に、測定値取得回路１２１は、エンコーダセンサ２０６から位置情報を入力し始める。測定値取得回路１２１がエンコーダセンサ２０６から取得する位置情報が測定開始位置に到達すると（Ｓ４０２でＹＥＳ）、測定値取得回路１２１は、光学センサ２０５により検知された反射光量の入力を開始する（Ｓ４０３）。また、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３の状態をＳＴＲ＿ＰＲＥ状態に設定する（Ｓ４０３）。例えば、図３（ａ）において、ＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態に設定される。

境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３の状態を示す状態遷移信号３０６と、ＣＰＵ１０１により設定された格納タイミングとに応じて、第１〜第３の格納タイミング信号３０７〜３０９を生成する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、第１〜第３の格納タイミング信号とともに測定値をメモリ制御回路１２３に出力する。メモリ制御回路１２３は、第１〜第３の格納タイミング信号に従って、境界周辺値生成回路１２２から出力された測定値を境界周辺値として、ＳＲＡＭ１１４の対応する記憶領域に格納する（Ｓ４０４）。次に、測定値取得回路１２１は、エンコーダセンサ２０６から位置情報を入力するごとに、測定終了位置に到達したか否かを判定する（Ｓ４０５）。Ｓ４０５で、ＮＯの場合に、処理はＳ４０６へ進む。一方、Ｓ４０５でＹＥＳの場合に、Ｓ４１２へ進む。次に、閾値データ取得ポイントを通過しているか否かを判定する（Ｓ４０６）。Ｓ４０６でＹＥＳの場合、Ｓ４０７でフラグがセットされているか否かを判定する。Ｓ４０６でＮＯの場合、Ｓ４０９でＳＴＲ＿ＰＲＥ状態か否かを判定する。Ｓ４０７でＮＯの場合、閾値の通過の検出の旨を境界周辺値生成回路１２２に通知する。そして、境界周辺値生成回路１２２は、境界周辺値制御回路１１３の状態をＳＴＲ＿ＰＯＳＴ状態に遷移させ、フラグをセットする。また、Ｓ４０７でＹＥＳの場合、Ｓ４１０へ進む。また、Ｓ４０９でＹＥＳの場合、Ｓ４０４へ戻る。Ｓ４０９でＮＯの場合、Ｓ４１０へ進む。Ｓ４１０では、境界周辺値生成回路１２２は、ＳＴＲ＿ＰＯＳＴ状態において、メモリ制御回路１２３に転送した境界周辺値の数が、ＣＰＵ１０１により設定された閾値データポイント後格納数になったか判定する。前述したように、閾値データポイント後格納数は４である。Ｓ４１０でＹＥＳの場合、境界周辺値制御回路１１３の状態をＳＴＲ＿ＰＲＥ状態に遷移させ、フラグをリセットする（Ｓ４１１）。Ｓ４１０でＮＯの場合、Ｓ４０４へ戻る。

例えば、図３（ａ）において、閾値データ取得ポイント１を通過するまでは、Ｓ４０４〜Ｓ４０６、Ｓ４０９を遷移する。そして、閾値データ取得ポイント１を通過すると、Ｓ４０４〜Ｓ４０８と遷移して、境界周辺値制御回路１１３の状態はＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態に遷移する。その後、Ｓ４１０でＹＥＳになるまで、Ｓ４０４〜４０７、Ｓ４１０を繰り返し遷移する。Ｓ４１０でＹＥＳになると、境界周辺値制御回路１１３の状態はＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態に遷移する。そして、再び、閾値データ取得ポイント２を通過するまでは、Ｓ４０４〜Ｓ４０６、Ｓ４０９を遷移する。以下同様に遷移することで、境界周辺値制御回路１１３の状態は、図３（ａ）のように状態は遷移する。

Ｓ４１２において、測定値取得回路１２１は、光学センサ２０５からの反射光量の入力を終了する。

ＳＲＡＭ１１４に格納されている境界周辺値を解析して得られる情報は様々であるが、例えば、境界周辺値が図３（ｂ）に示すような測定値の分布であった場合とする。その場合、閾値データ取得ポイント１前後の測定値の分布から、光学センサ２０５が、プラテン２０８から記録媒体上に移動した（記録媒体の端部上に移動した）ことを検出できる。また、閾値データ取得ポイント２前後の測定値の分布から、反射光量が再度大きく変化していることを検出し、汚れ、破れ、しわなどの記録媒体の破損や、端部付近に枠線などが印刷されていると判定することができる。更に、閾値データ取得ポイント１の位置情報と閾値データ取得ポイント２の位置情報から、両者の距離を検出し、距離の大きさに基づいて記録媒体の状態を判別しても構わない。例えば、両者の距離が閾値より小さい場合には、エラーと判別しても構わない。ＣＰＵ１０１及びＡＳＩＣ１０２は、以上のような判定結果に基づき、記録装置の動作を制御する。ＣＰＵ１０１及びＡＳＩＣ１０２は、例えば、記録媒体の破損がひどければ記録媒体の排紙と使用者への通知を行い、記録媒体の破損がなければ記録ヘッドによる記録動作を実行する。

図５は、境界周辺値のＳＲＡＭ１１４への記憶制御方法を説明するための図である。図５（ａ）は、ＳＲＡＭ１１４の第１の格納領域（第１の記憶領域）５０４、第２の格納領域（第２の記憶領域）５０５、第３の格納領域（第３の記憶領域）５０６を示している。各格納領域の開始アドレス５０１、５０２、５０３は、ＣＰＵ１０１により設定される。また、各領域の終了アドレスは、各領域に設定された境界周辺値格納数により決定される。

図５では、ＳＲＡＭ１１４が３２ｂｉｔアライン構成とし、境界周辺値格納数が４、第１の格納開始アドレスが＋０ｈ、第２の格納開始アドレスが＋２０ｈ、第３の格納開始アドレスが＋４０ｈとする。そして、閾値データ取得ポイント前後で格納する境界周辺値格納数を等しいとし、例えば、閾値データ取得ポイント前格納数を４、閾値データ取得ポイント後格納数を４とする。つまり、図５（ｂ）に示すように、第１の格納領域５０４の終了アドレスは＋１Ｃｈとなり、第２の格納領域５０５の終了アドレスは＋３Ｃｈとなり、第３の格納領域５０６の開始アドレスは＋５Ｃｈとなる。以上のように、第１の格納領域５０４、第２の格納領域５０５、第３の格納領域５０６は、それぞれ、第１の個数（本例では８）の測定値を記憶できる。

図５（ｂ）は、境界周辺値制御回路１１３がＩＤＬＥ状態での各格納領域の状態を示している。ＩＤＬＥ状態では、図５（ｂ）に示すように、第１〜第３の格納領域５０４〜５０６には、無効なデータが格納されている。

Ｓ４０２で測定区間内となり、境界周辺値制御回路１１３がＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態では、第１の格納タイミング信号３０７に従い、測定値が、閾値データ取得ポイント前の境界周辺値として、第１の格納領域５０４の開始アドレス５０１から順に格納されていく。以下、閾値データ取得ポイント前の境界周辺値を、閾値前データともいう。ここで、図５（ｃ）の第１の格納領域５０４のように、閾値前データが既に終了アドレスまで格納された状態で入力された閾値前データは、再度、開始アドレス５０１から順に格納されていく。即ち、ＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態では、新しい閾値前データを含め８個前までの閾値前データを常に格納することができる。

図５（ｄ）は、境界周辺値制御回路１１３がＳＴＲ０＿ＰＲＥ状態からＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態となった場合の第１の格納領域５０４及び第２の格納領域５０５を示している。ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態では、最新のデータである閾値前データ１３を含む新しい４個（即ち、閾値前データ１０〜１３）が閾値前データとして保持されるように動作する。そのために、閾値データ取得ポイント通過時の最新のデータの次のアドレス（本例では＋１４ｈ）と、閾値前データ数（本例では４）とを保持する。閾値前データ数は、閾値データ取得ポイントと境界周辺値格納数の設定の関係次第で、境界周辺値格納数よりも少なくなり得るので、格納領域内で有効なデータ範囲を識別するために、閾値前データ数と最新のデータの次のアドレスとを保持するようにする。

図５（ｄ）では、第１の格納タイミング信号３０７と第２の格納タイミング信号３０８により、境界周辺値が、第１の格納領域５０４の閾値前データ６が格納されていたアドレス＋１４ｈに、閾値後データ１として格納される。また、閾値後データ１は、第２の格納領域５０５の開始アドレス＋２０ｈにも格納される。

図５（ｅ）は、ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態で境界周辺値格納数分の境界周辺値を格納した際の第１の格納領域５０４及び第２の格納領域５０５を示している。第１の格納領域５０４には、閾値データ取得ポイントを中心とする閾値前データと閾値後データとが各４個ずつ、つまり、閾値前データ１０〜１３と閾値後データ１〜４とが格納されている。また、第２の格納領域５０５には、閾値前データが４個、つまり、閾値前データ１〜４が格納されている。このように、事象が発生した後は、第２の個数（本例では４）の測定値が、第１の格納領域５０４及び第２の格納領域５０５に格納される。この第２の格納領域５０５は、第１の格納領域５０４の次の格納対象の格納領域である。

閾値後データを境界周辺値格納数分、取得後、境界周辺値制御回路１１３がＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態からＳＴＲ１＿ＰＲＥ状態に遷移し、第２の格納タイミング信号３０８に従って、第２の格納領域５０５に新たな閾値前データが格納されている。その場合、その新たな閾値前データは、ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態終了時の次のアドレス（＋３０ｈ）から格納されていく。閾値前データがアドレス＋３Ｃまで格納された後は、閾値前データは、第２の格納開始アドレス５０２から順に格納されていく。後続する閾値データ取得ポイント２においては、境界周辺値制御回路１１３がＳＴＲ１＿ＰＯＳＴに遷移し、閾値データ取得ポイント３においては、境界周辺値制御回路１１３がＳＴＲ２＿ＰＯＳＴに遷移する。ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴへの遷移とＳＴＲ２＿ＰＯＳＴへの遷移においても、同様に、閾値前データ数と最新のデータの次のアドレスとを保持する。

ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴ状態とＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態における動作も、ＳＴＲ０＿ＰＯＳＴ状態と同様である。つまり、ＳＴＲ１＿ＰＯＳＴ状態では、第２の格納領域５０５と第３の格納領域５０６に同じデータを格納し、ＳＴＲ２＿ＰＯＳＴ状態では、第３の格納領域５０６と第１の格納領域５０４に同じデータを格納する。このように、閾値データ取得ポイントごとに各格納領域に対してサイクリックに測定値を格納するように構成している。その際に、１回目の閾値データ取得ポイント１における境界周辺値が上書きされることになるが、２回目と３回目の閾値データ取得ポイント２及び３前後の境界周辺値は、第２の格納領域５０５と第３の格納領域５０６に格納されている。しかし、閾値データ取得ポイント１における境界周辺値が上書きされるまでに、以下に説明するように、ＳＲＡＭ１１４から読み出しを行えば、閾値データ取得ポイントの解析を行うことができる。ＳＲＡＭ１１４に格納された境界周辺値の読み出し制御について、補足説明する。ＳＲＡＭ１１４に格納された境界周辺値の読み出しは、例えば、図４のＳ４１１で行えばよい。この例では、閾値データ取得ポイント１の閾値後データの格納が完了した後で、閾値データ取得ポイント１の閾値前データと閾値後データを読み出す。他の閾値データ取得ポイントの読み出しも同様に行う。

以上のように、本実施形態によれば、記録媒体の端部検出を行う測定範囲における全ての測定値を保持する必要はなく、測定値を記憶する記憶容量を低減することができる。なお、ＳＲＡＭ１１４に割り当てた格納領域の数は、３つに限定することはない。例えば、閾値前データと閾値後データが格納された後、次に上書きされるまでに、閾値前データと閾値後データを読み出すことができれば（時間的余裕があれば）、格納領域の数は、２つであっても構わない。なお、閾値データ取得ポイントのデータが、上書きされても構わないのであれば、図４のＳ４１２の次のステップで、ＳＲＡＭ１１４に割り当てた格納領域から読み出しを行い、その後解析を行う。

本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (6)

1. 測定対象物に対してセンサを動かしながら前記測定対象物を測定する方法であって、
   所定のタイミングごとに、前記センサの測定値を示すデータを、メモリに割り当てられた第１格納領域の中でサイクリックに格納していき、
   前記測定値が所定の閾値を下回る又は上回ったら、前記測定値を格納する格納領域を、前記第１格納領域とは異なる前記メモリの第２格納領域に切り替え、前記測定値を示すデータを当該第２格納領域の中でサイクリックに格納していき、
   当該切り替えの後も、前記第１格納領域に前記測定値を格納することができる最大数よりも少ない所定の回数は、前記第１格納領域への前記測定値の格納を継続し、
   前記メモリに格納された前記測定値を示すデータに基づいて、前記測定対象物の位置または状態を判別する、
   ことを特徴とする測定方法。
2. 前記第１格納領域に対して、前記最大数を超える格納が続くときは、前記第１格納領域の中でサイクリックに前記測定値を示すデータを上書きする、ことを特徴とする請求項１に記載の測定方法。
3. 前記第２格納領域に前記測定値を格納しているときに再び前記測定値が前記所定の閾値を下回る又は上回ったら、前記測定値を格納する格納領域を、前記第１格納領域、もしくは前記第１および第２の格納領域とは異なる第３の格納領域に切り替え、
   当該切り替えの後も前記所定の回数は前記第２格納領域への格納を継続する、
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載の測定方法。
4. 前記測定値を示すデータとともに、前記センサの位置情報を前記メモリに格納する、ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の測定方法。
5. 前記センサは記録ヘッドを搭載して移動するキャリッジに設けられており、前記キャリッジを移動させながら、前記測定対象物である記録媒体からの反射光量を前記センサで測定する、ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の測定方法。
6. 前記メモリに格納された前記測定値を示すデータに基づいて、前記記録媒体の端部位置または前記記録媒体の浮き状態を判別する、ことを特徴とする請求項５に記載の測定方法。

Images