JP6279223B2 - 電子方位計及び電子方位計の調整方法 - Google Patents
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調整を簡便に行え、かつ地磁気シミュレータの占有時間は短時間となる。
Claims (9)
- 地磁気センサと、
アナログ表示を駆動する1以上のステップモータと、
前記地磁気センサと前記ステップモータを制御するコントローラと、
前記ステップモータのロータポジション毎に前記地磁気センサのオフセット補正値を記憶するオフセット補正値メモリと、
前記地磁気センサのオフセット調整を開始する条件であるオフセット調整開始条件を検出するオフセット調整開始条件検出部と、
を有する電子方位計であって、
前記コントローラは、オフセット調整開始条件検出部によるオフセット調整開始条件の検出により、前記ロータポジション毎に前記地磁気センサによる計測を行い、前記オフセット補正値を求め、前記オフセット補正値メモリに記憶させ、
前記オフセット調整開始条件は、前記電子方位計の外部から所定の操作をすることにより前記電子方位計自身が自動的にオフセット調整を開始しうる状態に設定された後、前記電子方位計を遮光性の磁気シールド内に収容することにより前記電子方位計の周辺の光量が閾値以下となる状態が所定の時間継続することを含み、
前記オフセット調整開始条件検出部は太陽電池である
電子方位計。 - さらに前記地磁気センサのゲイン補正値を記憶するゲイン補正値メモリを有し、
前記コントローラは、前記電子方位計の周辺の光量が閾値以上となることを検出する計測前明検出を行った後、前記電子方位計の周辺の光量が閾値以下となる計測前暗検出を行い、その後前記地磁気センサによる計測であるゲイン計測を行う
請求項1に記載の電子方位計。 - 前記コントローラは、前記計測前明検出、前記計測前暗検出及び前記ゲイン計測を所定の回数繰り返し、得られた計測値に基づいて前記ゲイン補正値を求め、前記ゲイン補正値メモリに記憶させる
請求項2に記載の電子方位計 - 前記コントローラは、前記電子方位計の周辺の光量が閾値以下となる状態が所定の時間継続することを前記太陽電池により検出する調整前暗検出を行った後、前記計測前明検出を行う
請求項2又は3に記載の電子方位計。 - 前記調整前暗検出における光量の検出周期は、前記計測前明検出又は前記計測前暗検出における光量の検出周期より長い
請求項4に記載の電子方位計。 - 地磁気センサと、
アナログ表示を駆動する1以上のステップモータと、
前記地磁気センサと前記ステップモータを制御するコントローラと、
前記ステップモータのロータポジション毎に前記地磁気センサのオフセット補正値を記憶するオフセット補正値メモリと、
前記地磁気センサのオフセット調整を開始する条件であるオフセット調整開始条件を検出するオフセット調整開始条件検出部と、
を有し、
前記コントローラは、オフセット調整開始条件検出部によるオフセット調整開始条件の検出により、前記ロータポジション毎に前記地磁気センサによる計測を行い、前記オフセット補正値を求め、前記オフセット補正値メモリに記憶させ、
前記オフセット調整開始条件は電子方位計の周辺の光量が閾値以下となることを含み、
前記オフセット調整開始条件検出部は太陽電池である、電子方位計のオフセット調整を行う電子方位計の調整方法であって、
前記電子方位計の外部から所定の操作をすることにより、前記電子方位計自身が自動的にオフセット調整を開始しうる状態に設定するステップと、
前記電子方位計を磁気シールド内に収容することにより、前記電子方位計が前記オフセット調整開始条件を検出するステップと、を有する電子方位計の調整方法。 - 前記磁気シールドは、高初透磁率材料製の容器であり、外光を遮断する請求項6に記載の電子方位計の調整方法。
- 請求項2乃至5のいずれか1項に記載の電子方位計のゲイン調整を行う電子方位計の調整方法であって、
前記電子方位計を地磁気シミュレータ内かつ暗所に配置することにより、前記電子方位計が自律的にゲイン調整を実行していく状態に設定するステップと、
前記地磁気シミュレータにより所定の磁場を発生するステップと、
前記電子方位計に光を照射した後、光の照射を取りやめるステップと、
を有する電子方位計の調整方法。 - さらに前記地磁気シミュレータにより発生する磁場を変更するステップと、
再度前記電子方位計に光を照射した後、光の照射を取りやめるステップと、
を有する請求項8に記載の電子方位計の調整方法。
Priority Applications (1)
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| JP2013064756A JP6279223B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 電子方位計及び電子方位計の調整方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2013064756A JP6279223B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 電子方位計及び電子方位計の調整方法 |
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| JP2017205202A Division JP6422554B2 (ja) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 電子方位計及び電子方位計の調整方法 |
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|---|---|
| JP2014190757A JP2014190757A (ja) | 2014-10-06 |
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ID=51837157
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| JP (1) | JP6279223B2 (ja) |
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| JP7070484B2 (ja) | 2019-03-20 | 2022-05-18 | カシオ計算機株式会社 | ウェアラブル機器、電子時計、磁気センサのキャリブレーション方法及びプログラム |
Family Cites Families (2)
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2013
- 2013-03-26 JP JP2013064756A patent/JP6279223B2/ja active Active
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| JP2014190757A (ja) | 2014-10-06 |
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