JP6330484B2 - Ceramic electronic components - Google Patents
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Description
この発明は、セラミック電子部品に関し、特に、例えば積層セラミックコンデンサや積層セラミックインダクタなどのセラミック電子部品に関する。 The present invention relates to a ceramic electronic component, and more particularly to a ceramic electronic component such as a multilayer ceramic capacitor or a multilayer ceramic inductor.
従来のセラミック電子部品として積層セラミックコンデンサの一例が、例えば特開2011−165935公報(特許文献1)に記載されている。このような積層セラミックコンデンサでは、複数の内部電極がセラミック層を介して重なり合うようにセラミック本体(セラミック焼結体)内に配置され、内部電極と導通する外部電極がセラミック本体の両端面側においてセラミック本体の端面、両主面および両側面に形成されている。このような積層セラミックコンデンサにおいて、通常、外部電極の断面形状は、セラミック本体の個々の面において、外部電極を構成する導電性ペーストの表面張力によって、外側に膨らんだ1つの山なり形状を有している。なお、この山なり形状は、外部電極の面積が大きくなるほど生じやすい。 An example of a multilayer ceramic capacitor as a conventional ceramic electronic component is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-165935 (Patent Document 1). In such a multilayer ceramic capacitor, a plurality of internal electrodes are arranged in a ceramic body (ceramic sintered body) so as to overlap with each other via a ceramic layer, and external electrodes that are electrically connected to the internal electrodes are ceramic on both end surfaces of the ceramic body. It is formed on the end surface, both main surfaces and both side surfaces of the main body. In such a multilayer ceramic capacitor, the cross-sectional shape of the external electrode usually has one peak shape that swells outward due to the surface tension of the conductive paste constituting the external electrode on each surface of the ceramic body. ing. This mountain shape tends to occur as the area of the external electrode increases.
このような従来の積層セラミックコンデンサでは、外部電極が1つの山なり形状を有しているので、外部電極を構成する導電性ペースト中に含まれる樹脂や溶剤が外部電極中に留まりやすいという問題がある。
すなわち、外部電極の焼成の際の脱脂工程において、樹脂や溶剤を構成する有機物が炭化した後に酸素と結合して炭酸ガスが発生する。この炭酸ガスは、通常、外部電極の端部の膜厚が薄い部分から外部電極の外に排出されることになるが、外部電極が1つの山なり形状で形成されている場合、その中央部の膜厚が一番厚い部分においては、炭酸ガスが上手く外部電極の外に排出されず、外部電極の膨れ、つまりブリスタという問題が発生することがある。
このようにブリスタが発生する問題は、上述の積層セラミックコンデンサだけでなく、そのような積層セラミックコンデンサの外部電極と同様な構造の外部電極を有する積層セラミックインダクタなどの他のセラミック電子部品においても発生することがある。
In such a conventional multilayer ceramic capacitor, since the external electrode has a single crest shape, there is a problem that the resin and solvent contained in the conductive paste constituting the external electrode tend to stay in the external electrode. is there.
That is, in the degreasing process at the time of firing the external electrode, organic substances constituting the resin and the solvent are carbonized and then combined with oxygen to generate carbon dioxide gas. This carbon dioxide gas is normally discharged out of the external electrode from the thin part at the end of the external electrode. When the external electrode is formed in one ridge shape, the central part In the thickest part of the film, the carbon dioxide gas is not successfully discharged out of the external electrode, which may cause a problem of blistering of the external electrode, that is, a blister.
The problem that blisters are generated in this way occurs not only in the above-mentioned multilayer ceramic capacitors but also in other ceramic electronic components such as multilayer ceramic inductors having external electrodes having the same structure as the external electrodes of such multilayer ceramic capacitors. There are things to do.
それゆえに、この発明の主たる目的は、ブリスタの発生を抑制することができるセラミック電子部品を提供することである。 Therefore, a main object of the present invention is to provide a ceramic electronic component capable of suppressing the generation of blisters.
この発明にかかるセラミック電子部品は、互いに対向する一対の主面、互いに対向する一対の側面および互いに対向する一対の端面を有するセラミック本体と、セラミック本体の内部に配置され、セラミック本体の端面に露出した露出部を有する内部電極と、内部電極の露出部と電気的に接続されるようにして、セラミック本体の一対の端面側において端面から少なくとも一対の主面にわたって形成される一対の外部電極と、外部電極上に形成されるめっき膜と、を有するセラミック電子部品であって、セラミック本体の一対の主面同士を結んだ方向における長さが、セラミック本体の主面に形成される外部電極の長さであってセラミック本体の一対の端面同士を結んだ方向における長さよりも短く形成され、セラミック本体の主面に形成される外部電極の中央部に窪みを有しているとともに、前記セラミック本体の前記端面に形成される前記外部電極に窪みを有していないことを特徴とする、セラミック電子部品である。
この発明にかかるセラミック電子部品では、例えば、セラミック本体の主面に形成される外部電極において、最も厚い部分に対する窪んだ部分の厚みが12%以上である。
また、この発明にかかるセラミック電子部品では、例えば、セラミック本体の主面に形成される外部電極の断面形状は、外部電極の中央部で窪んでおり、2つの山なり形状を有している。また、セラミック本体の端面に形成される外部電極の断面形状は、窪みを有していない。
A ceramic electronic component according to the present invention includes a ceramic body having a pair of main surfaces facing each other, a pair of side surfaces facing each other, and a pair of end surfaces facing each other, and is disposed inside the ceramic body and exposed to the end surface of the ceramic body. An internal electrode having an exposed portion, and a pair of external electrodes formed so as to be electrically connected to the exposed portion of the internal electrode from the end surface to at least a pair of main surfaces on the pair of end surface sides of the ceramic body, A ceramic electronic component having a plating film formed on the external electrode, wherein the length in the direction connecting the pair of main surfaces of the ceramic body is the length of the external electrode formed on the main surface of the ceramic body It is formed shorter than the length in the direction connecting the pair of end faces of the ceramic body and formed on the main surface of the ceramic body. Together have a depression in the central portion of the external electrode that is characterized by not having a recess in the external electrode formed on the end surface of the ceramic body, a ceramic electronic component.
In the ceramic electronic component according to the present invention, for example, in the external electrode formed on the main surface of the ceramic body, the thickness of the recessed portion with respect to the thickest portion is 12% or more.
In the ceramic electronic component according to the present invention, for example, the cross-sectional shape of the external electrode formed on the main surface of the ceramic body is recessed at the center of the external electrode, and has two crests. Moreover, the cross-sectional shape of the external electrode formed on the end surface of the ceramic body does not have a depression.
この発明にかかるセラミック電子部品では、セラミック本体の一対の主面同士を結んだ方向における長さが、セラミック本体の主面に形成される外部電極の長さであってセラミック本体の一対の端面同士を結んだ方向における長さよりも短く形成され、セラミック本体の主面に形成される外部電極の中央部に窪みを有しているため、外部電極を焼き付ける際の脱脂工程において、外部電極を構成する導電性ペースト中の樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスを排出しやすくなり、ブリスタの発生を抑制することができる。 In the ceramic electronic component according to the present invention, the length in the direction connecting the pair of main surfaces of the ceramic body is the length of the external electrode formed on the main surface of the ceramic body, and the pair of end surfaces of the ceramic body The external electrode is formed in the degreasing step when baking the external electrode because the central portion of the external electrode formed on the main surface of the ceramic body has a recess. Carbon dioxide generated with carbonization of the resin and solvent in the conductive paste can be easily discharged, and the generation of blisters can be suppressed.
この発明におけるブリスタ抑制メカニズムとしては、セラミック本体の主面に形成される外部電極において、外部電極の中央部を窪ませることで、樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスの逃げ道を、外部電極の端部における膜厚が一番薄くなる部分のみではなく、外部電極の中央部にも設けることにより、外部電極を焼き付ける際の脱脂工程において、炭酸ガスが外部電極の外に排出されやすくなる。したがって、外部電極を構成する導電性ペースト中に含まれる樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスを十分に外部電極の外に排出することができる。そして、脱脂後の外部電極の焼結時に外部電極の外に排出される炭酸ガスが存在しないため、ブリスタの発生を抑制することができる。 As a blister suppression mechanism in the present invention, in the external electrode formed on the main surface of the ceramic body, the central portion of the external electrode is recessed, so that the escape path of carbon dioxide gas generated with the carbonization of the resin or solvent is By providing not only the thinnest part at the end of the electrode but also the central part of the external electrode, carbon dioxide gas is easily discharged out of the external electrode in the degreasing step when baking the external electrode. Therefore, the carbon dioxide gas generated with the carbonization of the resin or solvent contained in the conductive paste constituting the external electrode can be sufficiently discharged out of the external electrode. And since the carbon dioxide gas discharged | emitted out of an external electrode does not exist at the time of sintering of the external electrode after degreasing | defatting, generation | occurrence | production of a blister can be suppressed.
また、この発明にかかるセラミック電子部品では、内部電極の露出部を有するセラミック本体の端面においては、セラミック本体の一対の主面間を小さくすることにより、すなわちセラミック本体の厚み寸法を薄くすることにより、セラミック本体の厚み寸法が厚い場合よりも外部電極の中央部の膜厚の厚い部分から外部電極の端部の膜厚が薄い部分までの距離が短くなるため、外部電極の中央部の外部電極内で発生する炭酸ガスを外部電極の外に排出しやすくなる。したがって、外部電極内の炭酸ガスを十分に外部電極の外に排出することができるため、脱脂後の外部電極の焼結時に外部電極の外に排出される炭酸ガスが存在せず、ブリスタの発生を抑制することができる。 In the ceramic electronic component according to the present invention, the end face of the ceramic body having the exposed portion of the internal electrode is made smaller by reducing the distance between the pair of main faces of the ceramic body, that is, by reducing the thickness dimension of the ceramic body. Because the distance from the thick part at the center of the external electrode to the thin part at the end of the external electrode is shorter than when the thickness of the ceramic body is thick, the external electrode at the center of the external electrode It becomes easy to discharge the carbon dioxide gas generated inside the outside electrode. Therefore, carbon dioxide in the external electrode can be exhausted sufficiently outside the external electrode, so there is no carbon dioxide exhausted outside the external electrode during sintering of the external electrode after degreasing, and blisters are generated. Can be suppressed.
さらに、この発明にかかるセラミック電子部品では、セラミック本体の側面において、外部電極を形成しても、セラミック本体の端面の外部電極と同様に、セラミック本体の厚み寸法が薄くなることにより、セラミック本体の厚み寸法が厚い場合よりも外部電極の中央部の膜厚の厚い部分から外部電極の端部の膜厚が薄い部分までの距離が短くなるため、外部電極の中央部の外部電極内の炭酸ガスを外部電極の外に排出しやすくなる。 Furthermore, in the ceramic electronic component according to the present invention, even if the external electrode is formed on the side surface of the ceramic body, the thickness of the ceramic body is reduced as in the case of the external electrode on the end surface of the ceramic body. Since the distance from the thick part at the center of the external electrode to the thin part at the end of the external electrode is shorter than when the thickness is thick, carbon dioxide in the external electrode at the center of the external electrode Can be easily discharged out of the external electrode.
また、この発明では、外部電極の複数の山なり形状をセラミック本体の端面において採用しないことにより、耐湿信頼性を維持することができる。
すなわち、内部電極の露出部を有するセラミック本体の端面においても、セラミック本体の主面における外部電極と同様に、外部電極の断面形状を複数の山なり形状として、炭酸ガスの逃げ道を増やす方策を取ることが考えられる。
しかしながら、セラミック本体の端面において、外部電極を複数の山なり形状にすると、外部電極の中央部において外部電極の厚みが薄くなるため、その部分からめっき液や大気中の水分が内部電極側に侵入しやすくなり、耐湿性の低下が懸念される。
そこで、この発明では、上記のような設計を取り、耐湿信頼性を維持しながらブリスタの発生を抑制する。そのため、この発明では、耐湿信頼性を維持しつつ、ブリスタの発生を抑制することができる。
Further, according to the present invention, moisture resistance reliability can be maintained by not adopting the plurality of crest shapes of the external electrode on the end face of the ceramic body.
That is, also on the end face of the ceramic body having the exposed portion of the internal electrode, in the same manner as the external electrode on the main surface of the ceramic body, the cross-sectional shape of the external electrode is made into a plurality of mountain shapes, and a measure for increasing the escape route of carbon dioxide gas is taken. It is possible.
However, if the external electrode is made into a plurality of peaks on the end face of the ceramic body, the thickness of the external electrode is reduced at the center of the external electrode, so that plating solution and moisture in the atmosphere enter the internal electrode side from that part. There is a concern that moisture resistance may be reduced.
Therefore, in the present invention, the design as described above is adopted, and the generation of blisters is suppressed while maintaining the moisture resistance reliability. Therefore, in this invention, generation | occurrence | production of a blister can be suppressed, maintaining moisture resistance reliability.
この発明によれば、ブリスタの発生を抑制することができるセラミック電子部品が得られる。 According to the present invention, a ceramic electronic component capable of suppressing the generation of blisters is obtained.
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための形態の説明から一層明らかとなろう。 The above-described object, other objects, features, and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments for carrying out the invention with reference to the drawings.
図1に示す積層セラミックコンデンサ10は、例えば直方体状の薄型のセラミック本体12を含む。セラミック本体12は、複数の積層されたセラミック層14からなり、互いに対向する一対の主面12a、12bと、互いに対向する一対の側面12c、12dと、互いに対向する一対の端面12e、12fとを有する。
なお、この実施の形態の積層セラミックコンデンサ10では、セラミック本体12が直方体状に形成されているが、セラミック本体12の形状は特に限定されない。
また、セラミック本体12は、コーナー部および稜部に丸みがつけられていることが好ましい。
A monolithic
In the multilayer
The
セラミック本体12は、セラミック本体12の一対の主面12a、12b同士を結んだ方向における長さ(厚み寸法DT:図1参照)が、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される後述の外部電極20a(20b)の長さであってセラミック本体12の一対の端面12e、12f同士を結んだ方向における長さ(電極部分寸法DE1(電極部分寸法DE2):図3参照)よりも短く形成されている。
セラミック本体12の寸法は、特に限定されないが、セラミック本体12は、図1に示すように、セラミック本体12の厚み寸法をDT、長さ寸法をDL、幅寸法をDWとしたときに、DT<DW<DL、(1/5)DW≦DT≦(1/2)DW、または、DT<0.3mmが満たされるような薄型のものであってもよい。特に、DT<DW<DLの場合、セラミック本体12の幅に比べて、セラミック本体12の厚みが薄く、セラミック本体12の長さが長い。また、(1/5)DW≦DT≦(1/2)DWの場合、セラミック本体12の厚みがセラミック本体12の幅の1/5〜1/2と薄い。具体的には、0.05mm≦DT<0.3mm、0.4mm≦DL≦1mm、0.3mm≦DW≦0.5mmであってもよい。
The ceramic
The dimensions of the
セラミック本体12のセラミック層14のセラミック材料としては、例えば、BaTiO3、CaTiO3、SrTiO3、CaZrO3などの主成分からなる誘電体セラミックを用いることができる。また、これらの主成分にMn化合物、Fe化合物、Cr化合物、Co化合物、Ni化合物などの副成分を添加したものを用いてもよい。
また、セラミック本体12のセラミック層14の厚みは、0.5μm〜10μmであることが好ましい。
As the ceramic material of the
The thickness of the
この実施の形態においては、セラミック本体12の各有効部では後述の内部電極16a、16bが誘電体セラミックからなるセラミック層14を介して対向することにより静電容量が形成されている。これにより、この実施の形態は、コンデンサとして機能する。
In this embodiment, in each effective portion of the
セラミック本体12の内部には、略矩形状の複数の第1および第2の内部電極16a、16bが、セラミック本体12の厚み方向に沿って等間隔に交互に配置されている。
第1および第2の内部電極16a、16bの一端部には、セラミック本体12の端面12e、12fに露出した露出部18a、18bを有する。具体的には、第1の内部電極16aの一端部の露出部18aは、セラミック本体12の第1の端面12eに露出している。また、第2の内部電極16bの一端部の露出部18bは、セラミック本体12の第2の端面12fに露出している。
さらに、第1および第2の内部電極16a、16bのそれぞれは、セラミック本体12の第1および第2の主面12a、12bと平行である。また、第1および第2の内部電極16a、16bは、セラミック本体12の厚み方向において、セラミック層14を介して、互いに対向している。
第1および第2の内部電極16a、16bのそれぞれの厚さは、例えば、0.2μm〜2μmとすることができる。しかしながら、第1および第2の内部電極16a、16bのそれぞれの厚さも、特に限定されない。
第1および第2の内部電極16a、16bは、適宜の導電材料により構成することができる。第1および第2の内部電極16a、16bは、例えば、Ni、Cu、Ag、Pd、Auなどの金属や、これらの金属の1種を含む例えばAg−Pd合金などの合金により構成することができる。
Inside the
The first and second
Further, each of the first and second
Each thickness of the 1st and 2nd
The first and second
セラミック本体12の端面12e、12f側には、第1および第2の外部電極20a、20bがそれぞれ形成されている。
第1の外部電極20aは、セラミック本体12の第1の端面12eから一対の主面12a、12bおよび一対の側面12c、12dにわたって形成されている。この場合、第1の外部電極20aは、第1の内部電極16aの露出部18aと電気的に接続される。
また、第2の外部電極20bは、セラミック本体12の第2の端面12fから一対の主面12a、12bおよび一対の側面12c、12dにわたって形成されている。この場合、第2の外部電極20bは、第2の内部電極16bの露出部18bと電気的に接続される。
First and second
The first
The second
セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)の長さであってセラミック本体12の一対の端面12e、12f同士を結んだ方向における長さ寸法DE(電極部分寸法DE1(電極部分寸法DE2))は、セラミック本体12の厚み寸法DTよりも長い。
セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)の長さ寸法DE(電極部分寸法DE1(電極部分寸法DE2))と、セラミック本体12の一対の主面12a、12b同士を結んだ方向における長さ寸法すなわちセラミック本体12の厚み寸法DTとについては、DE/DTの値が、1.5〜3.5であることが好ましい。これは、DE/DTが1.5より小さいと外部電極20a(20b)の端面でブリスタが発生しやすくなり、DE/DTが3.5を超えると、セラミック本体12と外部電極20a(20b)との間でマイグレーションが発生しやすくなるからである。
A length dimension DE (electrode part dimension DE1) in the direction of connecting the pair of end faces 12e, 12f of the
The length dimension DE (electrode part dimension DE1 (electrode part dimension DE2)) of the
さらに、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される第1の外部電極20aの中央部には、耐湿信頼性を維持しながらブリスタの発生を抑制するために、窪み部22a1、22a2がそれぞれ形成されている。それによって、セラミック本体12の主面12a(12b)に形成される第1の外部電極20aの断面形状が、外部電極20aの中央部で窪んでおり、全体で見たときに2つの山なり形状を有している。
同様に、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される第2の外部電極20bの中央部にも、耐湿信頼性を維持しながらブリスタの発生を抑制するために、窪み部22b1、22b2がそれぞれ形成されている。それによって、セラミック本体12の主面12a(12b)に形成される第2の外部電極20bの断面形状が、外部電極20bの中央部で窪んでおり、全体で見たときに2つの山なり形状を有している。
Further, in the central portion of the first
Similarly, depressions 22b1 and 22b2 are also formed in the central portion of the second
セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)の断面形状において、山なり形状を有する部分の一番高い部分の厚みに対する窪んだ部分の深さの割合は、12%以上であることが好ましい。すなわち、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)において、最も厚い部分に対する窪んだ部分の厚みが12%以上であることが好ましい。これは、その割合が12%より小さいと、外部電極20a(20b)の窪み部22a1、22a2(22b1、22b2)の深さが浅すぎて、ブリスタを抑制する効果が得られにくくなるからである。
In the cross-sectional shape of the
また、第1および第2の外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の高低差は、それぞれ、1.5μm以上であることが好ましい。これは、外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の高低差が1.5μmよりも小さい場合には、十分に局所的に薄い部分を形成することができず、外部電極20a、20b中から発生する炭酸ガスが十分に外部電極20a、20b中から排出することができず、ブリスタの抑制効果が得られないことがあるからである。また、外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の高低差の上限の値は、セラミック本体12の表面が露出しない範囲であればよい。
Moreover, it is preferable that the height difference of the recessed parts 22a1, 22a2, 22b1, 22b2 of the first and second
さらに、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される第1および第2の外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の位置は、それぞれ、幅方向および長さ方向において中央部に形成されていることが好ましい。これは、外部電極20a(20b)を構成する導電性ペースト中にセラミック本体12の端部を浸漬するディッピングによって、セラミック本体12の端部に導電性ペーストを塗布した場合、導電性ペーストの表面張力により外部電極20a(20b)の中央部の塗布厚が一番厚くなるためであり、その中央部に窪み部があることでより顕著な効果を発揮することができるからである。
Furthermore, the positions of the recesses 22a1, 22a2, 22b1, 22b2 of the first and second
また、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される第1および第2の外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の大きさは、それぞれ、直径10μm〜100μmであることが好ましい。これは、窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の直径が10mmより小さい場合、局所的に十分に薄い部分を形成することができず、外部電極20a、20b中の炭酸ガスが十分に外部電極20a、20b中から排出することができず、ブリスタの抑制効果が得られないことがあるからである。また、窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の直径が100mmより大きい場合、窪みの直径が大きくなるに伴って、窪みの深さも深くなるため、セラミック本体12の表面が露出し、外部電極20a、20b上に形成するめっき膜24a、24bのめっき付き不良が発生する場合があるからである。
なお、外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2の直径は、外部電極20a、20bの表面について、表面粗さ測定機で2次元の凹凸像を示し、高低差が1.5μm以上のものを窪み部として判断し、その直径を1次元化したデータから測定した。
In addition, the size of the recesses 22a1, 22a2, 22b1, 22b2 of the first and second
The diameters of the recesses 22a1, 22a2, 22b1, 22b2 of the
第1、第2の外部電極20a、20bは、ガラス成分と金属成分とを含む。
第1、第2の外部電極20a、20bの金属としては、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、Ag−Pd合金、Auなどを用いることができる。
第1、第2の外部電極20a、20bの金属成分を構成する金属粉の粒子径は、1μm〜2.5μmであることが好ましい。なお、本願において、金属粉の平均粒子径は、レーザー回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒子径をいう。
The first and second
As the metal of the first and second
The particle diameter of the metal powder constituting the metal component of the first and second
この発明にかかる実施の形態においては、外部電極20a、20b中の金属粉の平均粒子径を1μm〜2.5μmとし、外部電極ペースト中の樹脂の含有量を40〜55vol%とすることで、外部電極ペーストを塗布した後に乾燥する際の溶剤、樹脂の乾燥および流動に伴う金属粉の流動が起こりやすくし、この発明にかかる実施の形態の特徴である外部電極20a、20bの中央部が窪んでおり、全体で見たときに2つの山なり形状を実現している。具体的には、外部電極20a(20b)を形成する外部電極ペーストを乾燥する際、外部電極ペースト中の溶剤や樹脂は、塗布膜厚の薄い箇所の方が外部電極ペースト中の溶剤や樹脂が乾燥しやすく、膜厚の厚い箇所から薄い箇所へ溶剤や樹脂が流動する。その際に、下地電極(外部電極)を構成する金属粉の平均粒子径が小さくされていることにより、その溶剤や樹脂の流動と共に金属粉の流動も起こりやすくなる。よって、金属粉も膜厚の厚い中央部から膜厚の薄い外部電極20a(20b)の端部に金属粉が移動し、外部電極20a(20b)の中央部は窪んだ形状になる。
なお、この実施の形態では、セラミック本体12の厚みが薄いため、セラミック本体12の側面および端面では、外部電極20a、20bに窪み部ができない。
In the embodiment according to the present invention, the average particle diameter of the metal powder in the
In this embodiment, since the thickness of the
また、第1および第2の外部電極20a、20bの金属成分を構成する金属粉は、アスペクト比が8〜15であることが好ましい。これは、アスペクト比が8〜15の扁平粉を使用することにより、外部電極ペースト中の空隙率を上げることが可能になるため、外部電極20a、20bの焼成時の脱脂の工程において樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスを外部電極の外に排出しやすくするためである。このように扁平粉にするとペースト中の空隙率を上げることで外部電極20a、20bの脱脂工程の際に炭酸ガスが抜けやすくなる。
Moreover, it is preferable that the metal powder which comprises the metal component of the 1st and 2nd
第1および第2の外部電極20a、20b上には、第1および第2のめっき膜24a、24bがそれぞれ形成されている。この場合、第1および第2の外部電極20a、20bは、第1および第2のめっき膜24a、24bによって被覆されている。第1および第2のめっき膜24a、24bは、Cu、Ni、Sn、Pd、Au、Ag、Pt、BiおよびZnからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属、またはこれら金属のうち少なくとも1種の金属を含む合金により構成されていることが好ましい。
また、第1および第2のめっき膜24a、24bは、それぞれ1層のめっき膜のみにより構成されていてもよいし、2層以上のめっき膜により構成されていてもよい。めっき膜24a(24b)は、好ましくは、Niめっき膜およびSnめっき膜の2層構造であるとよい。この場合、Niめっき膜はバリア層として機能し、Snめっき膜ははんだ付け性を向上させるように機能する。
第1および第2のめっき膜24a、24bを構成するめっき層1層あたりの厚みは、例えば1μm〜15μm程度であることが好ましい。
なお、めっき膜24a、24bには、外部電極20a、20bの窪み部22a1、22a2、22b1、22b2に対応して、同様な窪み部26a1、26a2、26b1、26b2が形成される。しかしながら、めっき膜24a、24bには、窪み部は形成されなくてもよい。
First and
Further, each of the first and
The thickness per one plating layer constituting the first and
In the plating
次に、上述の積層セラミックコンデンサ10を製造する方法の一例について説明する。
Next, an example of a method for manufacturing the above-described multilayer
まず、セラミック本体12(セラミック層14)を構成するためのセラミック材料を含むセラミックグリーンシートを用意する。 First, a ceramic green sheet containing a ceramic material for constituting the ceramic body 12 (ceramic layer 14) is prepared.
次に、そのセラミックグリーンシートの上に、導電性ペーストを塗布することによって、導電パターンを形成する。なお、導電性ペーストの塗布は、例えば、スクリーン印刷法などの各種印刷法によって行うことができる。導電性ペーストは、導電性微粒子の他に、公知のバインダーや溶剤を含んでいてもよい。 Next, a conductive pattern is formed on the ceramic green sheet by applying a conductive paste. In addition, application | coating of an electrically conductive paste can be performed by various printing methods, such as a screen printing method, for example. Conductive paste, in addition to the conductive fine particles may include known bus Indah or solvents.
そして、導電パターンが形成されていない複数枚のセラミックグリーンシートと、第1または第2の内部電極に対応した形状の導電パターンが形成されているセラミックグリーンシートと、導電パターンが形成されていない複数枚のセラミックグリーンシートとをこの順番で積層し、積層方向にプレスすることによって、マザー積層体を作製する。 A plurality of ceramic green sheets on which no conductive pattern is formed; a ceramic green sheet on which a conductive pattern having a shape corresponding to the first or second internal electrode is formed; and a plurality of ceramic green sheets on which no conductive pattern is formed. The ceramic green sheets are laminated in this order and pressed in the laminating direction to produce a mother laminated body.
それから、マザー積層体の上の仮想のカットラインに沿ってマザー積層体をカッティングすることによって、マザー積層体から複数の生のセラミック積層体を作製する。なお、マザー積層体のカッティングは、ダイシングや押切によって行うことができる。生のセラミック積層体に対しては、バレル研磨などを施し、稜線部や角部を丸めてもよい。 Then, by cutting the mother laminate along a virtual cut line on the mother laminate, a plurality of raw ceramic laminates are produced from the mother laminate. Note that the cutting of the mother laminate can be performed by dicing or pressing. The raw ceramic laminate may be subjected to barrel polishing or the like to round the ridge line portion or the corner portion.
そして、生のセラミック積層体の焼成を行う。この焼成工程において、第1および第2の内部電極が焼成される。焼成温度は、使用するセラミック材料や導電性ペーストの種類により適宜設定することができる。焼成温度は、例えば、900℃〜1300℃とすることができる。 Then, the raw ceramic laminate is fired. In the firing step, the first and second internal electrodes are fired. The firing temperature can be appropriately set depending on the type of ceramic material and conductive paste used. The firing temperature can be, for example, 900 ° C. to 1300 ° C.
それから、ディッピングなどの方法によって、焼成後のセラミック積層体(セラミック本体)の両端部に導電性ペーストを塗布する。 Then, a conductive paste is applied to both ends of the fired ceramic laminate (ceramic body) by a method such as dipping.
次に、セラミック積層体に塗布した導電性ペーストを例えば60℃〜180℃の中で10分間熱風乾燥する。 Next, the conductive paste applied to the ceramic laminate is dried with hot air at 60 ° C. to 180 ° C. for 10 minutes, for example.
その後、乾燥した導電性ペーストを焼き付けて外部電極を形成する。外部電極の焼付けは、外部電極ペースト中の樹脂成分を脱脂する脱脂工程と、金属粉を液晶焼結させる焼結工程とを有している。上述の実施の形態の特徴は、特に脱脂工程において効果を発揮する。 Thereafter, the dried conductive paste is baked to form external electrodes. The baking of the external electrode has a degreasing process for degreasing the resin component in the external electrode paste and a sintering process for sintering the metal powder by liquid crystal. The characteristics of the above-described embodiment are particularly effective in the degreasing process.
外部電極の形成に用いる導電性ペーストは、ガラス粉、金属粉、バインダー、溶剤などを含んでいる。導電性ペースト中の金属粉のアスペクト比は、8〜15であることが好ましい。これにより、外部電極の乾燥過程において、外部電極ペースト中の空隙率を上げることが可能になるため、外部電極の焼成時の脱脂工程において樹脂や溶剤の成分を炭酸ガスとして外に排出しやすくしている。また、内部電極と外部電極との接続性も向上する。熱処理温度は、例えば、780℃〜870℃とすることが好ましい。熱処理温度が780℃よりも低くなる場合、外部電極の金属Cuが十分に焼結されず緻密性が低下するため、耐湿信頼性が低下する場合があるからである。一方、熱処理温度が870℃を超える場合、外部電極中のガラスの流動が顕著になり、外部電極の表面にガラスが浮き出ることがあるため、その後もめっき膜のめっき付き性が低下する場合があるからである。
なお、外部電極の焼成時の昇温速度は、150〜250℃/分であることが好ましい。
The conductive paste used for forming the external electrode contains glass powder, metal powder, a binder, a solvent, and the like. The aspect ratio of the metal powder in the conductive paste is preferably 8-15. This makes it possible to increase the porosity in the external electrode paste during the drying process of the external electrode, so that the resin and solvent components can be easily discharged as carbon dioxide in the degreasing process during firing of the external electrode. ing. In addition, the connectivity between the internal electrode and the external electrode is improved. The heat treatment temperature is preferably 780 ° C to 870 ° C, for example. This is because when the heat treatment temperature is lower than 780 ° C., the metal Cu of the external electrode is not sufficiently sintered and the denseness is lowered, so that the moisture resistance reliability may be lowered. On the other hand, when the heat treatment temperature exceeds 870 ° C., the flow of the glass in the external electrode becomes significant, and the glass may float on the surface of the external electrode. Because.
In addition, it is preferable that the temperature increase rate at the time of baking of an external electrode is 150-250 degreeC / min.
そして、外部電極上にめっき膜を施すことによって、積層セラミックコンデンサ10を製造することができる。
The multilayer
この積層セラミックコンデンサ10では、セラミック本体12は、セラミック本体12の一対の主面12a、12b同士を結んだ方向における長さ(厚み寸法DT)が、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)の長さであってセラミック本体12の一対の端面12e、12f同士を結んだ方向における長さ(電極部分寸法DE1(電極部分寸法DE2))よりも短く形成され、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)の断面形状が、外部電極20a(20b)の中央部で窪んでおり、全体で見たときに2つの山なり形状を有しているため、外部電極20a(20b)を焼き付ける際の脱脂工程において、外部電極20a(20b)を構成する導電性ペースト中の樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスを排出しやすくなり、ブリスタの発生を抑制することができる。
In the multilayer
このブリスタ抑制メカニズムとしては、セラミック本体12の主面12a、12bに形成される外部電極20a(20b)において、外部電極20a(20b)の中央部を窪ませ、外部電極20a(20b)の断面形状を2つの山なり形状とすることで、樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスの逃げ道を、外部電極20a(20b)の端部における膜厚が一番薄くなる部分のみではなく、外部電極20a(20b)の中央部にも設けることにより、外部電極20a(20b)を焼き付ける際の脱脂工程において、炭酸ガスが外部電極20a(20b)の外に排出されやすくなる。したがって、外部電極20a(20b)を構成する導電性ペースト中に含まれる樹脂や溶剤の炭化に伴い発生する炭酸ガスを十分に外部電極20a(20b)の外に排出することができる。そして、脱脂後の外部電極20a(20b)の焼結時に外部電極20a(20b)の外に排出される炭酸ガスが存在しないため、ブリスタの発生を抑制することができる。
As this blister suppression mechanism, in the
また、この積層セラミックコンデンサ10では、内部電極16a、16bの露出部18a、18bを有するセラミック本体12の端面12e、12fにおいては、セラミック本体12の一対の主面12a、12b間を小さくすることにより、すなわちセラミック本体12の厚み寸法DTを薄くすることにより、セラミック本体12の厚み寸法DTが厚い場合よりも外部電極20a(20b)の中央部の膜厚の厚い部分から外部電極20a(20b)の端部の膜厚が薄い部分までの距離が短くなるため、外部電極20a(20b)の中央部の外部電極20a(20b)内で発生する炭酸ガスを外部電極20a(20b)の外に排出しやすくなる。したがって、外部電極20a(20b)内の炭酸ガスを十分に外部電極20a(20b)の外に排出することができるため、脱脂後の外部電極20a(20b)の焼結時に外部電極20a(20b)の外に排出される炭酸ガスが存在せず、ブリスタの発生を抑制することができる。
In the multilayer
さらに、この積層セラミックコンデンサ10では、セラミック本体12の側面12c、12dの外部電極20a(20b)においても、セラミック本体12の端面12e、12fの外部電極20a(20b)と同様に、セラミック本体12の厚み寸法DTが薄くなることにより、セラミック本体12の厚み寸法DTが厚い場合よりも外部電極20a(20b)の中央部の膜厚の厚い部分から外部電極20a(20b)の端部の膜厚が薄い部分までの距離が短くなるため、外部電極20a(20b)の中央部の外部電極20a(20b)内の炭酸ガスを外部電極20a(20b)の外に排出しやすくなる。
Furthermore, in the multilayer
また、この積層セラミックコンデンサ10では、外部電極20a(20b)の2つの山なり形状をセラミック本体12の端面12e、12fにおいて採用しないことにより、耐湿信頼性を維持することができる。
すなわち、内部電極16a、16bの露出部18a、18bを有するセラミック本体12の端面12e、12fにおいても、セラミック本体12の主面12a、12bにおける外部電極20a(20b)と同様に、外部電極20a(20b)の断面形状を2つの山なり形状として、炭酸ガスの逃げ道を増やす方策を取ることが考えられる。
しかしながら、セラミック本体12の端面12e、12fにおいて、外部電極20a(20b)を2つの山なり形状にすると、外部電極20a(20b)の中央部において外部電極20a(20b)の厚みが薄くなるため、その部分からめっき液や大気中の水分が外部電極20a(20b)内に侵入しやすくなり、耐湿性の低下が懸念される。
そこで、この積層セラミックコンデンサ10では、上記のような設計を取り、耐湿信頼性を維持しながらブリスタの発生を抑制する。そのため、この積層セラミックコンデンサ10では、耐湿信頼性を維持しつつ、ブリスタの発生を抑制することができる。
Further, in this multilayer
That is, in the end surfaces 12e and 12f of the ceramic
However, if the
Therefore, the multilayer
さらに、この積層セラミックコンデンサ10では、セラミック本体12の側面12c、12dにも外部電極20a(20b)が形成されているので、耐湿信頼性を向上する効果がある。
Furthermore, in this multilayer
また、この積層セラミックコンデンサ10では、外部電極20a、20bに窪み部22a1、22a2、22b1、22b2が形成されているので、外部電極20a、20b上のめっき膜24a、24bが、外部電極20a、20bに強固に形成され、外部電極20a、20bから剥離されにくいという効果も奏する。
Further, in this multilayer
(実験例)
まず、実施例1、実施例2、実施例3として、上述の積層セラミックコンデンサ10において以下の電子部品の仕様となり、外部電極を構成する導電性ペーストをセラミック本体の両端面に塗布・乾燥し、焼き付けた後の形状が本発明の範囲内になるものを準備した。この場合、実施例1では外部電極の窪み部の高低差を1.5μmに狙い、実施例2では外部電極の窪み部の高低差を4μmに狙い、実施例3では外部電極の窪み部の高低差を6μmに狙って、実施例1〜3を準備した。
(Experimental example)
First, as Example 1, Example 2, and Example 3, it becomes the following electronic component specifications in the above-mentioned multilayer
実施例1〜3に用いた電子部品の仕様(個数n=20個)
チップサイズ:DL×DW×DT=1.0mm×0.5mm×0.15mm
外部電極の折り返し部分の寸法DE(セラミック本体の主面および側面上に形成される外部電極の電極部分寸法DE):200μm〜400μm(狙い値は300μm)
外部電極を構成する導電性ペースト中の金属:Cu
Cu(Cu粉)の平均粒子径:表1の金属粒子径を参照
Cu粉のアスペクト比:10(上記の粒子径のCu粉を叩いてこのアスペクト比にした)
外部電極を構成する導電性ペーストの乾燥条件:100℃で10分間の熱風乾燥
外部電極の焼成条件:昇温速度が196℃/分で焼成温度が835℃
外部電極の折り返し部分の厚み:8μm〜13μm(最厚部)(狙いは10μm)
外部電極の端面厚み:6μm〜12μm(最厚部)(狙いは9μm)
めっき膜:Niめっき(狙い3μm)およびSnめっき(狙い4μm)の2層
Specifications of electronic parts used in Examples 1 to 3 (number n = 20)
Chip size: DL x DW x DT = 1.0 mm x 0.5 mm x 0.15 mm
Dimension DE of external electrode folded part (electrode part dimension DE of external electrode formed on main surface and side surface of ceramic body): 200 μm to 400 μm (target value is 300 μm)
Metal in the conductive paste constituting the external electrode: Cu
Average particle diameter of Cu (Cu powder): Refer to the metal particle diameter in Table 1 Aspect ratio of Cu powder: 10 (This aspect ratio was obtained by hitting Cu powder having the above particle diameter)
Drying conditions of the conductive paste constituting the external electrode: hot air drying at 100 ° C. for 10 minutes External electrode baking conditions: temperature increase rate of 196 ° C./min and baking temperature of 835 ° C.
The thickness of the folded portion of the external electrode: 8 μm to 13 μm (thickest part) (target is 10 μm)
End face thickness of external electrode: 6 μm to 12 μm (thickest part) (target is 9 μm)
Plating film: Ni plating (target 3 μm) and Sn plating (target 4 μm)
さらに、比較例1として、外部電極を構成する導電性ペーストの乾燥後の形状が1つの山なり形状となるチップと、比較例2として、セラミック本体の幅寸法DWと厚み寸法DTとが同じである正4角柱状のチップ(外部電極の寸法は、セラミック本体の端面に形成される外部電極の部分の方がセラミック本体の主面に形成される外部電極の部分よりも長いもの)とを準備した。 Furthermore, as Comparative Example 1, the chip in which the shape of the conductive paste constituting the external electrode after drying is a single crest shape, and as Comparative Example 2, the width dimension DW and the thickness dimension DT of the ceramic body are the same. Prepared with a regular quadrangular columnar chip (external electrode dimensions are longer on the external electrode formed on the end surface of the ceramic body than on the external electrode formed on the main surface of the ceramic body) did.
なお、比較例1では、外部電極を構成する導電性ペースト中の金属粉の平均粒子径が3.5μmであり、その金属粉のアスペクト比が1である。また、比較例2は、チップサイズを正4角柱状(セラミック本体の厚み寸法DT=幅寸法DW=0.5mm)とした以外は、実施例3と同様の条件とした。
また、本発明の実施例1〜3においては、金属粒子径の値を振って窪み部の高低差を振った。
In Comparative Example 1, the average particle diameter of the metal powder in the conductive paste constituting the external electrode is 3.5 μm, and the aspect ratio of the metal powder is 1. In Comparative Example 2, the conditions were the same as in Example 3 except that the chip size was a regular quadrangular prism (ceramic body thickness dimension DT = width dimension DW = 0.5 mm).
Moreover, in Examples 1-3 of this invention, the value of the metal particle diameter was changed and the height difference of the hollow part was changed.
そして、比較例1〜2および実施例1〜3のサンプルについて、以下のようにして、窪み部の高低差、高低差/外部電極膜厚、電極の山の数、金属粒子径、ブリスタの発生率およびIRの劣化率などを調べた。 And about the sample of Comparative Examples 1-2 and Examples 1-3, the height difference of a hollow part, height difference / external electrode film thickness, the number of crests of an electrode, metal particle diameter, generation | occurrence | production of a blister are performed as follows. The rate and IR deterioration rate were examined.
窪み部の高低差について
窪み部の高低差の測定方法は、まず、サンプル(積層セラミックコンデンサ)の幅が1/2となる位置まで側面を研磨し、その研磨した断面における外部電極の2つの山の頂点を線で結ぶ。その後、その線を基準線として、基準線と平行になるように外部電極の窪み部の最下点を通る線を引く。最後に、基準線から窪み部の最下点を通る線までの距離を測定し、窪み部の高低差ないしは窪んだ部分の高低差とする。なお、測定値は、第1および第2の外部電極の4点を測った平均値とした。また、表1の窪み部の高低差の値は、各サンプル20個の平均値とした。
About the height difference of the dent part The method of measuring the height difference of the dent part is to first polish the side surface to a position where the width of the sample (multilayer ceramic capacitor) becomes 1/2, and then two peaks of the external electrode in the polished cross section. Connect vertices with a line. Thereafter, using the line as a reference line, a line passing through the lowest point of the recess of the external electrode is drawn so as to be parallel to the reference line. Finally, the distance from the reference line to the line passing through the lowest point of the depression is measured, and the difference in height of the depression or the difference in height of the depression is obtained. The measured value was an average value obtained by measuring four points of the first and second external electrodes. Moreover, the value of the height difference of the hollow part of Table 1 was made into the average value of 20 samples.
高低差/外部電極膜厚について
まず、外部電極膜厚として、サンプル(積層セラミックコンデンサ)の側面を長さ方向に沿って、サンプルの幅方向における中央位置まで研磨し、その研磨した断面における外部電極の最大厚みとなる部分を光学顕微鏡によって測定した。言い換えれば、外部電極膜厚は、セラミック本体の表面から外部電極の一番遠い部分(例えば2つの山のうちの高い方)までの距離、すなわち最大に厚い部分の厚みである。そして、外部電極についての上述の窪み部の高低差を外部電極膜厚の測定値で割って、高低差/外部電極膜厚とした。表1の高低差/外部電極膜厚の値は、各サンプル20個の平均値とした。
Height difference / external electrode film thickness First, as the external electrode film thickness, the side surface of the sample (multilayer ceramic capacitor) was polished along the length direction to the center position in the width direction of the sample, and the external electrode in the polished cross section The portion having the maximum thickness was measured with an optical microscope. In other words, the external electrode film thickness is the distance from the surface of the ceramic body to the farthest part of the external electrode (for example, the higher of the two peaks), that is, the thickness of the thickest part. And the height difference of the above-mentioned hollow part about an external electrode was divided by the measured value of the external electrode film thickness, and it was set as height difference / external electrode film thickness. The value of the height difference / external electrode film thickness in Table 1 was an average value of 20 samples.
電極の山の数について
まず、外部電極の表面について、表面粗さ測定機で2次元の凹凸像を示し、高低差が1.5μm以上のものを窪み部として判断した。そして、表1の電極の山の数は、窪み部がないものを1とし、1つの窪み部があるものを2とした。
Regarding the number of ridges of the electrode First, the surface of the external electrode was shown as a two-dimensional concavo-convex image with a surface roughness measuring machine, and the one having a height difference of 1.5 μm or more was judged as a depression. And the number of the crests of the electrode of Table 1 was set to 1 when there was no hollow part, and was set to 2 with one hollow part.
金属粒子径について
金属粒子径として、外部電極を構成する導電性ペースト中の金属粉の平均粒子径を測定した。金属粉の平均粒子径は、レーザー回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒子径をいう。
About metal particle diameter As a metal particle diameter, the average particle diameter of the metal powder in the electrically conductive paste which comprises an external electrode was measured. The average particle size of the metal powder refers to the particle size at an integrated value of 50% in the particle size distribution obtained by the laser diffraction / scattering method.
ブリスタの発生率について
実体顕微鏡を用いて、積層セラミックコンデンサの両主面の外部電極を倍率10倍で観察し、ブリスタの有無を確認した。なお、ブリスタの定義としては、直径が5μm以上のものをブリスタとした。サンプル数は20個であり、それらのついてのブリスタの発生率を調べた。
About the incidence of blisters Using a stereomicroscope, the external electrodes on both main surfaces of the multilayer ceramic capacitor were observed at a magnification of 10 to confirm the presence or absence of blisters. The blister is defined as a blister having a diameter of 5 μm or more. The number of samples was 20, and the incidence of blisters about them was examined.
IRの劣化率について
次の方法で耐湿負荷試験を行って耐候性を評価した。
サンプルを、共晶はんだを用いてガラスエポキシ基板に実装した。その後、各サンプルを、85℃、相対湿度85%RHの高温高湿槽内において、DC4V、500時間の条件で耐湿加速試験を行い、絶縁抵抗値(IR値)がLogIR<7のものを、IRないしは耐湿性が劣化したと判断した。サンプル数は20個であり、それらのついてのIRの劣化率を調べた。
About the deterioration rate of IR The moisture resistance load test was done with the following method and the weather resistance was evaluated.
The sample was mounted on a glass epoxy substrate using eutectic solder. Thereafter, each sample was subjected to a moisture resistance acceleration test under a condition of DC 4 V, 500 hours in a high-temperature and high-humidity tank at 85 ° C. and a relative humidity of 85% RH, and those having an insulation resistance value (IR value) of Log IR <7, The IR or moisture resistance was judged to have deteriorated. The number of samples was 20, and the deterioration rate of IR was investigated.
以上の測定結果を表1に示した。 The above measurement results are shown in Table 1.
表1の結果より、比較例1においては、ブリスタが発生する。その理由は、比較例1においては、外部電極の断面形状が1つの山なり形状を有するので、外部電極を構成する導電性ペースト中の樹脂や溶剤が炭化した後に酸素と結合して発生する炭酸ガスが外部電極の外に十分に排出することができず、ブリスタを引き起こすからである。 From the results shown in Table 1, blisters are generated in Comparative Example 1. The reason for this is that in Comparative Example 1, the cross-sectional shape of the external electrode has a single crest shape, so that carbon dioxide generated by combining with oxygen after the resin or solvent in the conductive paste constituting the external electrode is carbonized. This is because the gas cannot be sufficiently discharged out of the external electrode, causing a blister.
また、比較例2においては、IRの劣化が発生する。その理由は、比較例2においては、正4角柱状のセラミック本体の厚み寸法DTが幅寸法DWと同じとなるため、セラミック本体の端面の内部電極の引き出し面側においてもセラミック本体の主面側と同様に、外部電極の断面形状が2つの山なり形状となる。このように、セラミック本体の端面側においても外部電極の断面形状を2つの山なり形状にしてしまうと、外部電極の中央部において外部電極の厚みが薄くなるため、十分に内部電極の露出部をシールできなくなり、その部分からめっき液や大気中の水分が内部電極側に侵入しやすくなるためである。 Further, in Comparative Example 2, IR deterioration occurs. The reason for this is that, in Comparative Example 2, the thickness dimension DT of the regular quadrangular prism-shaped ceramic body is the same as the width dimension DW, so that the main surface side of the ceramic body is also the lead-out surface side of the internal electrode on the end surface of the ceramic body. Similarly, the cross-sectional shape of the external electrode has two peaks. As described above, if the cross-sectional shape of the external electrode is also formed in two peaks on the end face side of the ceramic body, the thickness of the external electrode is reduced at the center of the external electrode. This is because sealing cannot be performed, and the plating solution or moisture in the air easily enters the internal electrode side from the portion.
それに対して、この発明にかかる実施例1〜3においては、IRないしは耐湿信頼性を維持しつつ、ブリスタの発生を抑制することができる。
なお、チップサイズがDL×DW×DT=0.6mm×0.3mm×0.15mmであって、外部電極の折り返しの寸法(セラミック本体の主面および側面上に形成される外部電極の長さ(電極部分寸法DE)が180μm〜320μm(狙い値は250μm)である、この発明の範囲内のサンプルにおいても、同様の実験を行ったが、同様な効果を得ることができた。
On the other hand, in Examples 1 to 3 according to the present invention, it is possible to suppress the generation of blisters while maintaining IR or moisture resistance reliability.
It should be noted that the chip size is DL × DW × DT = 0.6 mm × 0.3 mm × 0.15 mm, and the dimension of the external electrode folded (the length of the external electrode formed on the main surface and side surface of the ceramic body) A similar experiment was performed on a sample within the range of the present invention in which (electrode part dimension DE) was 180 μm to 320 μm (target value was 250 μm), but similar effects could be obtained.
上述の実施の形態および実施例では、セラミック本体の材料として誘電体セラミックを用いたが、この発明では、セラミック電子部品の種類によっては、セラミック本体の材料として、PZT系セラミックなどの圧電体セラミック、スピネル系セラミックなどの半導体セラミック、フェライトなどの磁性体セラミックを用いることもできる。
セラミック電子部品のセラミック本体として、圧電体セラミックを用いた場合は圧電部品として機能し、半導体セラミックを用いた場合はサーミスタとして機能し、磁性体セラミックを用いた場合はインダクタとして機能する。ただし、インダクタとして機能させる場合には、内部電極はコイル状の導体となる。
In the above-described embodiments and examples, the dielectric ceramic is used as the material of the ceramic body. However, in the present invention, depending on the type of the ceramic electronic component, the material of the ceramic body may be a piezoelectric ceramic such as a PZT-based ceramic, Semiconductor ceramics such as spinel ceramics and magnetic ceramics such as ferrite can also be used.
As a ceramic body of a ceramic electronic component, when a piezoelectric ceramic is used, it functions as a piezoelectric component, when a semiconductor ceramic is used, it functions as a thermistor, and when a magnetic ceramic is used, it functions as an inductor. However, when functioning as an inductor, the internal electrode becomes a coiled conductor.
また、上述の実施の形態および実施例では、外部電極がセラミック本体の側面にも形成されているが、外部電極は、セラミック本体の側面には形成されなくてもよい。 In the above-described embodiments and examples, the external electrode is also formed on the side surface of the ceramic body. However, the external electrode may not be formed on the side surface of the ceramic body.
さらに、上述の実施の形態および実施例では、セラミック本体の一対の主面側において、それぞれ、外部電極の中央部に1つの窪み部が形成されているが、窪み部は、外部電極の端部以外の中間部に形成されてもよく、また、2つ以上の窪み部が形成されてもよい。この場合、外部電極の断面形状は、3つ以上の山なり形状を有する場合がある。 Furthermore, in the above-described embodiment and examples, one recess is formed in the center of the external electrode on each of the pair of main surfaces of the ceramic body. The recess is an end of the external electrode. It may be formed in an intermediate part other than the above, and two or more hollow parts may be formed. In this case, the cross-sectional shape of the external electrode may have three or more mountain shapes.
この発明にかかるセラミック電子部品は、特に例えば積層セラミックコンデンサや積層セラミックインダクタとして好適に用いられる。 The ceramic electronic component according to the present invention is particularly preferably used as, for example, a multilayer ceramic capacitor or a multilayer ceramic inductor.
10 積層セラミックコンデンサ
12 セラミック本体
12a、12b 主面
12c、12d 側面
12e、12f 端面
14 セラミック層
16a、16b 内部電極
18a、18b 露出部
20a、20b 外部電極
22a1、22a2、22b1、22b2 窪み部
24a、24b めっき膜
26a1、26a2、26b1、26b2 窪み部
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記セラミック本体の内部に配置され、前記セラミック本体の前記端面に露出した露出部を有する内部電極と、
前記内部電極の前記露出部と電気的に接続されるようにして、前記セラミック本体の前記一対の端面側において前記端面から少なくとも前記一対の主面にわたって形成される一対の外部電極と、
前記外部電極上に形成されるめっき膜と、を有するセラミック電子部品であって、
前記セラミック本体の前記一対の主面同士を結んだ方向における長さが、前記セラミック本体の前記主面に形成される前記外部電極の長さであって前記セラミック本体の前記一対の端面同士を結んだ方向における長さよりも短く形成され、
前記セラミック本体の前記主面に形成される前記外部電極の中央部に窪みを有しているとともに、前記セラミック本体の前記端面に形成される前記外部電極に窪みを有していないことを特徴とする、セラミック電子部品。 A ceramic body having a pair of main surfaces facing each other, a pair of side surfaces facing each other, and a pair of end surfaces facing each other;
An internal electrode disposed inside the ceramic body and having an exposed portion exposed at the end face of the ceramic body;
A pair of external electrodes formed so as to be electrically connected to the exposed portions of the internal electrodes and extending from at least the pair of main surfaces from the end surfaces on the pair of end surfaces of the ceramic body;
A ceramic electronic component having a plating film formed on the external electrode,
The length in the direction connecting the pair of main surfaces of the ceramic body is the length of the external electrode formed on the main surface of the ceramic body, and connects the pair of end surfaces of the ceramic body. Formed shorter than the length in the
The external electrode formed on the main surface of the ceramic body has a recess in the central portion, and the external electrode formed on the end surface of the ceramic body has no recess. Ceramic electronic components.
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