JP6566754B2 - 液体吐出ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
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Description
特許文献1に開示される製造方法では、吐出口、流路、吐出エネルギー発生素子等を有する記録素子基板をアルミナ等の支持プレートに張り付け、記録素子基板と電気配線部材としてのフレキシブル配線基板とを電気的に接合する。
次に、記録素子基板の側面をインクやゴミ等から保護するための周囲封止材を塗布する。その周囲封止材が硬化した後、その上から電気接続部を封止するILB(inner lead bonding)封止材(電気接続部封止材)の塗布を行う。
ここで使用される、記録素子基板の周囲を封止する周囲封止材と電気接続部封止材のそれぞれに求められる機能は次のとおりである。
周囲封止材としては、支持プレート上の部位と記録素子基板との間に形成される1mm弱の幅の隙間を短時間に流れ、すみやかに充填される事が要求される。加えて、インクやその他の要因から記録素子基板を保護することも求められる。
電気接続部封止材としては、電気接続部の封止を行うことはもちろんのこと、インク吐出口配設面を清掃するブレードやワイパー等によるこすりや紙ジャムによる紙等との接触によっても封止材が剥がれないことが求められる。
この方法により、周囲封止材と電気接続部封止材が同時に硬化しても、それぞれの封止材の硬化スピードの相違による両封止材間での硬化剤の奪い合い(硬化阻害)はなくなる。
本発明の目的は、上記課題を解決するものである。すなわち、本発明の目的は、リード上領域封止材とリード下領域封止材の線膨張係数を揃えることによって、電気接続部の封止材の耐久性を更に高め、液体吐出ヘッドの信頼性を更に向上させることにある。
液体を吐出する吐出口と該吐出口に液体を供給する流路を有する流路部材と、前記吐出口から液体を吐出するエネルギーを発生する吐出エネルギー発生素子を備える基板と、を有する記録素子基板と、
前記吐出エネルギー発生素子を駆動するための信号を送信するための電気配線部材と、
前記記録素子基板と前記電気配線部材とを電気的に接続する電気接続部と、
前記電気接続部の下部領域を封止する第1の封止材と、前記電気接続部の上部領域を封止する第2の封止材と、
を有する液体吐出ヘッドであって、
前記第1の封止材と前記第2の封止材が同一の主剤及び硬化剤と、50〜80質量%のフィラーとを含み、
前記第1の封止材がチクソ剤を含有せず、前記第2の封止材はチクソ剤を含有し、且つ、
前記第1の封止材の線膨張係数(α1)と前記第2の封止材の線膨張係数(α2)の比(α1/α2)が、1.2〜1.0である
ことを特徴とする。
液体を吐出する吐出口と該吐出口に液体を供給する流路を有する流路部材と、前記吐出口から液体を吐出するエネルギーを発生する吐出エネルギー発生素子を備える基板と、を有する記録素子基板と、
前記吐出エネルギー発生素子を駆動するための信号を送信するための電気配線部材と、
前記記録素子基板と前記電気配線部材とを電気的に接続する電気接続部と、
を有する液体吐出ヘッドの製造方法であって、
前記電気接続部の下部領域に第1の封止材を充填する工程と、
前記下部領域中に充填された第1の封止材上に、前記電気接続部の上部領域を封止する第2の封止材を、該電気接続部を被覆して積層する工程と、
前記第1の封止材及び第2の封止材の同時硬化を行う工程と、
を有し、
前記第1の封止材と前記第2の封止材が同一の主剤及び硬化剤と、50〜80質量%のフィラーとを含み、
前記第1の封止材がチクソ剤を含有せず、前記第2の封止材はチクソ剤を含有し、且つ、
前記第1の封止材の線膨張係数(α1)と前記第2の封止材の線膨張係数(α2)の比(α1/α2)が、1.2〜1.0である
ことを特徴とする。
記録素子基板は、液体を吐出する吐出口と吐出口に液体を供給する流路を有する流路部材と、吐出口から液体を吐出するエネルギーを発生する吐出エネルギー発生素子を備える。
吐出エネルギー素子の駆動は、電気配線部材からの電気信号を入力することにより行われる。記録素子基板内に配置された吐出エネルギー発生素子と、記録素子基板の外部の電気配線部材との電気接続部の形成は各種の接続方法を用いることができる。例えば、電気配線部材の有するリードと、記録素子基板内の吐出エネルギー発生素子に接続された配線の端子、例えば電極パッドやバンプとを電気的に接合することによって電気接続部を形成することができる。
電気接続部を封止する封止材は、電気接続部の下部領域を封止する第1の封止材と、上部領域を封止する第2の封止材とから形成されている。リードを利用して電気配線部材と記録素子基板の吐出エネルギー発生素子の配線端子との接合を行う場合には、リードより下の領域が電気接続部の下部領域であり、リードを覆う領域が電気接続部の上部領域である。記録素子基板周囲の側面を封止する周囲封止材を第1の封止材として利用することが好ましい。
本発明においては、第1の封止材と第2の封止材は、同一の主剤及び硬化剤を含み、且つ第1の封止材の線膨張係数(α1)と第2の封止材の線膨張係数(α2)の比(α1/α2)が、1.2〜1.0となるように調製される。
(実施形態)
図1(a)は、液体吐出ヘッドの一形態であるインクジェッド記録ヘッド(以下「記録ヘッド」という)をインクが吐出する方向よりみた模式的平面図である。図1(b)は図1(a)におけるA−A部分断面図である。図1(c)は、封止された電気接続部の構造を模式的に示すリードの配列方向に沿った部分断面図である。
図示した記録ヘッドは、一つの基板1に、二つインク供給口9を設け、流路部材4によって吐出口3が並んだ吐出口列を四列配置した構成を有する。ふたつのインク供給口9に充填された同一種のインクは、吐出エネルギー発生素子2からのエネルギー付与によって吐出口3から吐出される。
第2の封止材としての電気接続部封止材(リード上領域)13は、リード6を保護する機能を有する為に、硬化後に高い弾性率(高い硬度)を必要とする。そのため、シリカなどのフィラーを高充填している。又、リード6の上部に封止材を残すために、チクソ性を付与する必要がある。その上、ある程度の流動性をもたしたうえでチクソ性を付与する必要がある。従って、第2の封止材としての電気接続部封止材の粘度やチクソ性は、電気接続部封止材において用いられている高粘度の範囲や高チクソ性の範囲から選択することができる。
第1の封止材としての周囲封止材(リード下領域封止材)12は、リード下領域及び記録素子基板14の周囲に流れて行かなければならないので、低粘度、低チクソ性が要求される。従って、第1の封止材の粘度やチクソ性は、周囲封止材において用いられている低粘度の範囲や低チクソ性の範囲から選択することができる。
共通の主剤及び硬化剤を含む第1の封止材と第2の封止材が、上述したそれぞれの要求特性を満たすための方法としては、以下の方法を用いることができる。
(A)第2の封止材(電気接続部封止材)からチクソ剤を除き、粘度及びチクソ性を下げた第1の封止材を得る。
(B)フィラーの充填量を線膨張係数の差が先に規定した範囲内となるように第1の封止材と第2の封止材で調整し、かつフィラーの平均粒径を上げフィラーの比表面積を下げる事により第1の封止材の粘度を下げる。
(C)フィラーの充填量を線膨張係数の差が先に規定した範囲内となるように第1の封止材と第2の封止材で調整し、フィラーの低粒径部分をカットし、フィラーの比表面積を下げて第1の封止材の粘度を下げる。
(D)同一種のフィラーが同量充填された第1の封止材及び第2の封止材を調製する。その際、線膨張係数の差が先に規定した範囲内となるように各封止材に含まれるフィラーの平均粒径を同じとするか、あるいは第1の封止材に含まれるフィラーの平均粒径を第2の封止材に含まれるフィラーの平均粒径よりも高くする。
(E)第1の封止材及び第2の封止材に同一種のフィラーを充填する。その際、フィラーの充填量を第2の封止材よりも第1の封止材で多くし、第1の封止材に含まれるフィラーの平均粒径を第2の封止材に含まれるフィラーの平均粒径よりも高くする。
これらの方法は2以上を組み合わせることができる。
例えば、公知または市販の封止材、あるいは公知または市販の封止材用の主剤及び硬化剤の組合せに対して、上記の(A)〜(E)の少なくとも1つの方法を適用して、1種の封止材から、本発明に用いる第1及び第2の2種の封止材を得ることができる。
第1の封止材と第2の封止材における線膨張係数の比(α1/α2)を、1.2〜1.0とする方法としては、これらの封止材のそれぞれにおけるフィラーの充填量(封止材全体に対するフィラーの質量%)を調整する方法等を挙げることができる。封止材の線膨張係数は、主にフィラーの充填量により決まるので、フィラー充填量が同じである封止材の線膨張係数の比(α1/α2)は1未満にはならない。また、フィラー充填量を第1の封止材のよりも第2の封止材において多くすると、線膨張係数の比(α1/α2)は1以上となるが、本発明では線膨張係数の比(α1/α2)を1.2以下となるように第1の封止材及び第2の封止材のフィラー充填量を調整することが好ましい。
また、第1の封止材及び第2の封止材の両方について高充填量でフィラーを添加することは、周囲封止材としての第1の封止材においても結果的にフィラー充填量が高くなる為、耐インクや電気特性が向上するため好ましい。更に、フィラーの充填量を変えなくとも、フィラーの比表面積を下げる事により線膨張係数の上昇を抑える事が好ましい。
本発明においては、第1の封止材と第2の封止材の線膨張係数の比(α1/α2)が1.0〜1.2に抑えられていることで、第1の封止材と第2の封止材の間における加熱膨張に基づく応力の発生による界面の発生、更にはこれらの封止材間での剥がれなどが発生せず、長期耐久性を得ることができる。従って、吐出口を高密度で配列し、長尺化された記録素子基板でも、応力を与えず且つ電気接続部の耐久性が向上し、信頼性が高いので、高品位で良好な液体吐出性能を長期にわたり得ることが可能となる。
記録素子基板14を、支持部材7上に固定された横周囲封止部8により形成された開口部内の所定の位置に設置して固定する。次に、記録素子基板14の吐出エネルギー発生素子2に信号を送るための配線の端子10と電気配線部材5のリード6とを接合し、電気接続部を形成する。これらの接合には公知の方法を用いることができる。
この段階の状態を図2(a)の模式的平面図に示す。記録素子基板14の側面と電気配線部材5の下部に位置する横周囲封止部8の内側面との間には、これらの側面と支持部材7の表面とによって凹部11が形成されている。
この凹部11に第1の封止材12を充填する。リード6の下部領域には第1の封止材をディスペンサー等により直接充填できないので、リード6の横からリード6の下部領域中に第1の封止材を回り込ませて充填を行う。封止材12を充填した状態を図2(b)の模式的平面図に示す。
次に、端子10とリード6の接続部上、すなわち電気接続部上部領域を、図1(c)に示すように第2の封止材13で被覆する。この段階で第1の封止材上を第2の封止材が被覆し、第1の封止材の層と第2の封止材の層が積層された部分が生じる。
更に、第1の封止材12と第2の封止材13を同時に硬化させて、これらの封止材の硬化物からなる封止部を形成して封止作業を完了する。
第1の封止材12と第2の封止材13とは同じ主剤及び硬化剤を有しているため同一条件での同時硬化を行うことができ、硬化後にはこれらの封止材層の間に界面が発生せず、これらが一体化された封止部が電気接続部を包み込んだ構造を得ることができる。この封止部は、強固であり、また、長期耐久性にも優れており、液体吐出ヘッドの信頼性が向上する。
重合性基として少なくともエポキシ基を有する主剤は、耐薬品性に優れるため、特に好ましい。
好適には、酸無水物系硬化剤用いる事が出来、酸無水物系硬化剤としては、ドデセニル無水コハク酸(DDSA)等の脂肪族酸無水物、メチルテトラヒドロ無水フタル酸(Me−THPA)等の脂環式酸無水物、無水フタル酸(PA)等の芳香族酸無水物、無水ヘット酸(HET)等のハロゲン系酸無水物等を挙げることができる。
封止材におけるフィラーの充填量、すなわち、封止材全体に対するフィラーの含有量は、目的とする封止材の物性に応じて選択することができる。フィラーの種類、粒子形状、粒径等により異なるが、封止材全体に対して50〜80質量%の範囲から、目的とする封止材の特性に応じて選択することができる。
エポキシ樹脂酸無水物硬化系の封止材を用いて表1に示す各封止材を調製した。
先ず、比較封止材(周囲封止材)用の封止材4では、電気接続部封止材用の封止材5からチクソ剤を除きフィラー添加量を下げている。
次に、各実施例で用いる封止材について説明する。
封止材1では、電気接続部封止材用の封止材5からチクソ剤を除き、粘度、チクソ性を下げている。封止材1では、粘度がやや高いので封止材2では、フィラーのシリカの平均粒径を上げフィラーの比表面積を下げる事により粘度が低下している。
封止材1、2及び5では、フィラー充填量を変えていないので線膨張係数は同じになる。封止材3では、線膨張の材料ばらつきを考慮し、大幅にフィラー添加量を下げ粘度低下を図っている。
上記の様に、第1の封止材としての周囲封止(リード下領域封止材)用の封止材におけるフィラーの充填量は、第2の封止材としての電気接続部封止材(リード上領域封止材)のフィラーの充填量を上回る事がない。このため、周囲封止(リード下領域封止材)と電気接続部封止材(リード上領域封止材)の線膨張係数の比(α1/α2)は1を下回る事はない。
図1(c)、図2(b)、に示す様に、リードが接続された電気接続部に対して、表1に示す封止材を表2に示す組合せで用いて封止処理を行った。まず、表2に示す実施例1〜3及び比較例の周囲封止材を各々を用いて、図2(b)で示す様に塗布を行った。この時、スペースの関係上、リード6の下部にはディスペンサーにより直接塗布する事ができないため、リード部の横の領域に塗布し、リードの下部に封止材を流し込ませた。実施例1の周囲封止材では、実施例2、3及び比較例と較べ粘度が高いので若干リード下への周り込みに時間がかかった。
次に、電気接続部封止材(リード上領域)を図1(a)及び(c)に示す様に塗布し、封止材全体の加熱硬化を行った。
このようにして作製した記録ヘッド15に対して、封止材部をインクに浸漬した状態で、0℃1時間及び80℃1時間の熱処理を繰り返し行うヒートショック(H/S)試験を行った。得られた結果を表2に示す。
これは、比較例1の周囲封止材は、本発明にかかる実施例1〜3の周囲封止材に対して、インクにより膨潤する樹脂比率が高く、電気接続部封止材との線膨張係数差も大きいので加熱時にかかる応力が大きい為と考えられる。
これに対して、周囲封止(リード下領域封止材)としての第1の封止材と電気接続部封止材(リード上領域封止材)としての第2の封止材の、線膨張係数比(α1/α2)が実施例1〜3では1.2〜1.0となっている。その結果、比較例1におけるような応力が発生せず、実施例1〜3においては耐久性が向上したものと考えられる。すなわち、本発明によれば、周囲封止材と電気接続部封止材の線膨張係数の比を1.2〜1.0とすることにより、ヘッドの長期信頼性を高める事が出来る。周囲封止材は、結果的にフィラー含有量が高くなる為、耐インクや電気特性が向上する。又、実施例2で示した様に、フィラーの充填量を変えなくとも、フィラーの比表面積を下げる事により線膨張係数の上昇を抑える事が有効である。
2 吐出エネルギー発生素子
3 吐出口
4 流路部材
5 電気配線部材
6 リード
7 支持部材
8 横周囲封止部
9 供給口
10 端子
11 凹部
12 第1の封止材(周囲封止材、リード下領域封止材)
13 第2の封止材(電気接続部封止材、リード上領域封止材)
14 記録素子基板
15 記録ヘッド
Claims (12)
- 液体を吐出する吐出口と該吐出口に液体を供給する流路を有する流路部材と、前記吐出口から液体を吐出するエネルギーを発生する吐出エネルギー発生素子を備える基板と、を有する記録素子基板と、
前記吐出エネルギー発生素子を駆動するための信号を送信するための電気配線部材と、前記記録素子基板と前記電気配線部材とを電気的に接続する電気接続部と、
前記電気接続部の下部領域を封止する第1の封止材と、前記電気接続部の上部領域を封止する第2の封止材と、
を有する液体吐出ヘッドであって、
前記第1の封止材と前記第2の封止材が同一の主剤及び硬化剤と、50〜80質量%のフィラーとを含み、
前記第1の封止材がチクソ剤を含有せず、前記第2の封止材はチクソ剤を含有し、且つ、
前記第1の封止材の線膨張係数(α1)と前記第2の封止材の線膨張係数(α2)の比(α1/α2)が、1.2〜1.0である
ことを特徴とする液体吐出ヘッド。 - 前記主剤はエポキシ樹脂であり、前記硬化剤は酸無水物系硬化剤である請求項1に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第1の封止材及び前記第2の封止材が含むフィラーは共に同一種のフィラーである請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第1の封止材に含まれるフィラーの平均粒径を前記第2の封止材に含まれるフィラーの平均粒径よりも高くする請求項3に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記フィラーがシリカである請求項1乃至4のいずれかに記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第1の封止材に含まれる前記酸無水物系硬化剤と前記第2の封止材に含まれる前記酸無水物系硬化剤の量は、前記主剤のエポキシの当量に対して90〜99質量%である請求項2に記載の液体吐出ヘッド。
- 液体を吐出する吐出口と該吐出口に液体を供給する流路を有する流路部材と、前記吐出口から液体を吐出するエネルギーを発生する吐出エネルギー発生素子を備える基板と、を有する記録素子基板と、
前記吐出エネルギー発生素子を駆動するための信号を送信するための電気配線部材と、前記記録素子基板と前記電気配線部材とを電気的に接続する電気接続部と、
を有する液体吐出ヘッドの製造方法であって、
前記電気接続部の下部領域に第1の封止材を充填する工程と、
前記下部領域中に充填された第1の封止材上に、前記電気接続部の上部領域を封止する第2の封止材を、該電気接続部を被覆して積層する工程と、
前記第1の封止材及び第2の封止材の同時硬化を行う工程と、
を有し、
前記第1の封止材と前記第2の封止材が同一の主剤及び硬化剤と、50〜80質量%のフィラーとを含み、
前記第1の封止材がチクソ剤を含有せず、前記第2の封止材はチクソ剤を含有し、且つ、
前記第1の封止材の線膨張係数(α1)と前記第2の封止材の線膨張係数(α2)の比(α1/α2)が、1.2〜1.0である
ことを特徴とする液体吐出ヘッドの製造方法。 - 前記主剤はエポキシ樹脂であり、前記硬化剤は酸無水物系硬化剤である請求項7に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。
- 前記第1の封止材及び前記第2の封止材が含むフィラーは共に同一種のフィラーである請求項7または8に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。
- 前記第1の封止材に含まれるフィラーの平均粒径を前記第2の封止材に含まれるフィラーの平均粒径よりも高くする請求項9に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。
- 前記フィラーがシリカである請求項7乃至10のいずれかに記載の液体吐出ヘッドの製造方法。
- 前記第1の封止材に含まれる前記酸無水物系硬化剤と前記第2の封止材に含まれる前記酸無水物系硬化剤の量は、前記主剤のエポキシの当量に対して90〜99質量%である請求項8に記載の液体吐出ヘッドの製造方法。
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