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JP6955753B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents
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Description

本発明は、被検査物にX線を照射して、被検査物の検査を行うX線検査装置に関する。 The present invention relates to an X-ray inspection apparatus that inspects an inspected object by irradiating the inspected object with X-rays.

小型荷物の検査に用いられるX線検査装置は、低エネルギーのX線を用いて被検査物を検査することがある。このようなX線検査装置では、特許文献1(特開2012−163485号公報)に開示されるように、被検査物の搬送方向において分割されている2つのコンベアを用いて、被検査物を搬送する。上流側のコンベアと下流側のコンベアとの間には隙間が開いており、当該隙間の上方にX線源が設けられ、当該隙間の下方に被検査物を透過したX線を検出するセンサが設けられている。コンベア間に隙間を設けることで、被検査物を透過したX線がコンベアに吸収されることが防止される。 X-ray inspection equipment used for inspecting small packages may inspect an object to be inspected using low-energy X-rays. In such an X-ray inspection apparatus, as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-163485), the inspected object is inspected by using two conveyors divided in the transport direction of the inspected object. Transport. There is a gap between the conveyor on the upstream side and the conveyor on the downstream side, an X-ray source is provided above the gap, and a sensor that detects X-rays that have passed through the object to be inspected is located below the gap. It is provided. By providing a gap between the conveyors, it is possible to prevent the X-rays that have passed through the object to be inspected from being absorbed by the conveyor.

しかし、このようなX線検査装置では、コンベア間の隙間からセンサの上に埃等の異物が落下すると、センサの出力に悪影響を与えるおそれがあるため、定期的にセンサに付着した異物を除去する必要がある。そのため、センサを清掃しやすい機構を備えるX線検査装置が求められている。 However, in such an X-ray inspection device, if foreign matter such as dust falls on the sensor through the gap between the conveyors, the output of the sensor may be adversely affected. Therefore, the foreign matter adhering to the sensor is periodically removed. There is a need to. Therefore, there is a demand for an X-ray inspection device having a mechanism that makes it easy to clean the sensor.

本発明の目的は、センサの清掃を容易にする機構を備えるX線検査装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus including a mechanism for facilitating cleaning of a sensor.

本発明に係るX線検査装置は、本体フレームと、搬送ユニットと、X線照射部と、X線検出部と、検査部とを備える。搬送ユニットは、本体フレームに取り付けられ、被検査物を搬送方向に搬送する。X線照射部は、搬送ユニットによって搬送されている被検査物にX線を照射する。X線検出部は、被検査物を透過したX線である透過X線を検出する。検査部は、透過X線に基づき被検査物を検査する。搬送ユニットは、第1コンベアと、第2コンベアと、支持部とを有する。第1コンベアおよび第2コンベアは、搬送方向において隙間を開けて配置されている。支持部は、第1コンベアおよび第2コンベアの少なくとも一方を支持する。X線検出部は、第1コンベアと第2コンベアとの間の隙間を通過した透過X線を検出可能な位置に配置される。支持部は、第1位置と第2位置との間を、第1コンベアおよび第2コンベアの少なくとも一方が移動可能なように設けられている。第2位置は、第1位置と比べてX線検出部からより離れている位置である。 The X-ray inspection apparatus according to the present invention includes a main body frame, a transport unit, an X-ray irradiation unit, an X-ray detection unit, and an inspection unit. The transport unit is attached to the main body frame and transports the object to be inspected in the transport direction. The X-ray irradiation unit irradiates the object to be inspected transported by the transport unit with X-rays. The X-ray detector detects transmitted X-rays, which are X-rays that have passed through the object to be inspected. The inspection unit inspects the object to be inspected based on transmitted X-rays. The transfer unit has a first conveyor, a second conveyor, and a support portion. The first conveyor and the second conveyor are arranged with a gap in the transport direction. The support portion supports at least one of the first conveyor and the second conveyor. The X-ray detection unit is arranged at a position where transmitted X-rays that have passed through the gap between the first conveyor and the second conveyor can be detected. The support portion is provided so that at least one of the first conveyor and the second conveyor can move between the first position and the second position. The second position is a position farther from the X-ray detector than the first position.

本発明に係るX線検査装置は、被検査物を透過したX線を検出するセンサ(X線検出部)を清掃する際に、センサの近傍に配置されているコンベアを、センサから一時的に離すための機構を備える。従って、本発明に係るX線検査装置は、センサの清掃を容易にする機構を備える。 In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, when cleaning a sensor (X-ray detection unit) that detects X-rays transmitted through an object to be inspected, a conveyor arranged in the vicinity of the sensor is temporarily removed from the sensor. Equipped with a mechanism for separating. Therefore, the X-ray inspection apparatus according to the present invention includes a mechanism that facilitates cleaning of the sensor.

また、支持部は、本体フレームに対して回転可能に設けられていることが好ましい。この場合、本体フレームからコンベアを取り外すことなくセンサを清掃できるので、安全性および保守性が向上する。 Further, it is preferable that the support portion is provided so as to be rotatable with respect to the main body frame. In this case, since the sensor can be cleaned without removing the conveyor from the main body frame, safety and maintainability are improved.

また、支持部は、搬送方向に直交する方向における両端部の一方を支点にして、両端部の他方を持ち上げることができるように、本体フレームに対して回転可能に設けられていることが好ましい。この場合、本体フレームからコンベアを取り外すことなくセンサを清掃できるので、安全性および保守性が向上する。 Further, it is preferable that the support portion is rotatably provided with respect to the main body frame so that one of both end portions in a direction orthogonal to the transport direction can be used as a fulcrum and the other end portion can be lifted. In this case, since the sensor can be cleaned without removing the conveyor from the main body frame, safety and maintainability are improved.

また、支持部は、第1コンベアの隙間側端部、および、第2コンベアの隙間側端部の少なくとも一方を持ち上げることができるように、本体フレームに対して回転可能に設けられていることが好ましい。隙間側端部は、第1コンベアおよび第2コンベアの搬送方向における端部であって、第1コンベアと第2コンベアとの間の隙間に近い方の端部である。この場合、センサを清掃する際に、センサの上部に、清掃に適した広い空間を確保することができるので、センサの清掃を効率的に行うことができる。 Further, the support portion is rotatably provided with respect to the main body frame so that at least one of the gap side end portion of the first conveyor and the gap side end portion of the second conveyor can be lifted. preferable. The gap-side end is an end in the transport direction of the first conveyor and the second conveyor, which is closer to the gap between the first conveyor and the second conveyor. In this case, when cleaning the sensor, a wide space suitable for cleaning can be secured above the sensor, so that the sensor can be efficiently cleaned.

また、支持部は、本体フレームに対して平行移動可能に設けられていることが好ましい。この場合、本体フレームからコンベアを取り外すことなくセンサを清掃できるので、安全性および保守性が向上する。 Further, it is preferable that the support portion is provided so as to be movable in parallel with the main body frame. In this case, since the sensor can be cleaned without removing the conveyor from the main body frame, safety and maintainability are improved.

また、支持部は、本体フレームに対して鉛直方向に移動可能に設けられていることが好ましい。この場合、センサを清掃する際に、センサの上部に、清掃に適した広い空間を確保することができるので、センサの清掃を効率的に行うことができる。 Further, it is preferable that the support portion is provided so as to be movable in the vertical direction with respect to the main body frame. In this case, when cleaning the sensor, a wide space suitable for cleaning can be secured above the sensor, so that the sensor can be efficiently cleaned.

また、X線検出部は、搬送方向に直交する方向に延びていることが好ましい。この場合、コンベア間の隙間に沿ってセンサが延びているので、コンベアを移動させた後のセンサの清掃が容易である。 Further, it is preferable that the X-ray detection unit extends in a direction orthogonal to the transport direction. In this case, since the sensor extends along the gap between the conveyors, it is easy to clean the sensor after moving the conveyor.

また、支持部は、第1コンベアおよび第2コンベアの両方を支持することが好ましい。この場合、センサを清掃する際に、センサの近傍に配置されている両方のコンベアをセンサから一時的に離すことができる。そのため、センサを清掃する際に、センサの上部に、清掃に適した広い空間を確保することができるので、センサの清掃を効率的に行うことができる。 Further, the support portion preferably supports both the first conveyor and the second conveyor. In this case, when cleaning the sensor, both conveyors located in the vicinity of the sensor can be temporarily separated from the sensor. Therefore, when cleaning the sensor, a wide space suitable for cleaning can be secured above the sensor, so that the sensor can be efficiently cleaned.

また、X線検査装置は、禁止部をさらに備えることが好ましい。禁止部は、第1コンベアおよび第2コンベアの少なくとも一方が第1位置にない場合に、X線照射部が被検査物にX線を照射することを禁止する。この場合、搬送ユニットは、第1コンベアおよび第2コンベアが第1位置にある場合に、被検査物を搬送可能である。この場合、センサの清掃中にX線源(X線照射部)からセンサに向かってX線が照射されることが防止されるので、安全性が向上する。 Further, it is preferable that the X-ray inspection apparatus further includes a prohibited portion. The prohibition unit prohibits the X-ray irradiation unit from irradiating the object to be inspected with X-rays when at least one of the first conveyor and the second conveyor is not in the first position. In this case, the transport unit can transport the object to be inspected when the first conveyor and the second conveyor are in the first position. In this case, since it is prevented that X-rays are emitted from the X-ray source (X-ray irradiation unit) toward the sensor during cleaning of the sensor, safety is improved.

また、X線検査装置は、判定部と、報知部とをさらに備えることが好ましい。判定部は、X線検出部の清掃の要否を判定する。報知部は、判定部がX線検出部の清掃が必要であると判定した場合に、その旨を報知する。この場合、X線検査装置は、必要な時にセンサの清掃を使用者に促すことができる。 Further, it is preferable that the X-ray inspection apparatus further includes a determination unit and a notification unit. The determination unit determines whether or not the X-ray detection unit needs to be cleaned. When the determination unit determines that the X-ray detection unit needs to be cleaned, the notification unit notifies that fact. In this case, the X-ray inspection device can prompt the user to clean the sensor when necessary.

本発明に係るX線検査装置は、センサの清掃を容易にする機構を備える。 The X-ray inspection apparatus according to the present invention includes a mechanism that facilitates cleaning of the sensor.

本発明の一実施形態であるX線検査装置10の外観を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the appearance of the X-ray inspection apparatus 10 which is one Embodiment of this invention. X線検査装置10が組み込まれる検査ライン100の概略図である。It is the schematic of the inspection line 100 in which the X-ray inspection apparatus 10 is incorporated. 搬送ユニット12の概略的な側面図である。It is a schematic side view of the transport unit 12. 搬送ユニット12の概略的な上面図である。It is a schematic top view of the transport unit 12. X線検査装置10のシールドボックス11の内部の概略図である。It is the schematic of the inside of the shield box 11 of the X-ray inspection apparatus 10. ラインセンサ30によって検出される透過X線の強度の例を示すグラフである。It is a graph which shows the example of the intensity of transmitted X-rays detected by a line sensor 30. 制御装置50のブロック図である。It is a block diagram of the control device 50. 本体フレーム10aおよび支持フレーム12dを露出させた状態の外観図を示す。The external view of the state where the main body frame 10a and the support frame 12d are exposed is shown. 本体フレーム10aおよび支持フレーム12dの概略的な側面図である。It is a schematic side view of the main body frame 10a and the support frame 12d. 図9の矢印Xから視た側面図である。通常時の支持フレーム12dを示す図である。It is a side view seen from the arrow X of FIG. It is a figure which shows the support frame 12d in a normal state. 図10と同様の側面図であって、支持フレーム12dの正面側が持ち上げられた状態を示す図である。保守時の支持フレーム12dを示す図である。It is the same side view as FIG. 10, and is the figure which shows the state which the front side of the support frame 12d is lifted. It is a figure which shows the support frame 12d at the time of maintenance. 変形例Aにおける、支持フレーム12dの回転機構を示す図である。通常時の支持フレーム12dを示す図である。It is a figure which shows the rotation mechanism of the support frame 12d in the modification A. It is a figure which shows the support frame 12d in a normal state. 変形例Aにおける、支持フレーム12dの回転機構を示す図である。保守時の支持フレーム12dを示す図である。It is a figure which shows the rotation mechanism of the support frame 12d in the modification A. It is a figure which shows the support frame 12d at the time of maintenance. 変形例Bにおける、支持フレーム12dの平行移動機構を示す図である。通常時の支持フレーム12dを示す図である。It is a figure which shows the parallel movement mechanism of the support frame 12d in the modification B. It is a figure which shows the support frame 12d in a normal state. 変形例Bにおける、支持フレーム12dの平行移動機構を示す図である。保守時の支持フレーム12dを示す図である。It is a figure which shows the parallel movement mechanism of the support frame 12d in the modification B. It is a figure which shows the support frame 12d at the time of maintenance. 変形例Cにおける、制御装置50のブロック図である。It is a block diagram of the control device 50 in the modification C.

本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。以下に説明される実施形態は、本発明の具体例の一つであって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。 An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The embodiments described below are one of the specific examples of the present invention and do not limit the technical scope of the present invention.

(1)X線検査装置の全体構成
図1は、本発明の一実施形態であるX線検査装置10の外観を示す斜視図である。図2は、X線検査装置10が組み込まれる検査ライン100の概略図である。検査ライン100は、被検査物Aの検査を行う。被検査物Aは、例えば、包装された食品である。検査ライン100において、被検査物Aは、前段コンベア60によってX線検査装置10まで搬送される。図2において、被検査物Aの搬送方向は、矢印で示されている。
(1) Overall Configuration of X-ray Inspection Device FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of the X-ray inspection device 10 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic view of an inspection line 100 in which the X-ray inspection apparatus 10 is incorporated. The inspection line 100 inspects the object A to be inspected. The object A to be inspected is, for example, a packaged food. In the inspection line 100, the object A to be inspected is conveyed to the X-ray inspection device 10 by the pre-stage conveyor 60. In FIG. 2, the transport direction of the object A to be inspected is indicated by an arrow.

X線検査装置10は、前段コンベア60によって連続的に搬送されてくる被検査物AにX線を照射することにより、被検査物Aの良否判断を行う。具体的には、X線検査装置10は、被検査物Aの異物混入検査を行い、検査結果に基づいて被検査物Aを良品または不良品に分類する。X線検査装置10による検査結果は、X線検査装置10の下流側に配置されている振り分け機構70に送られる。振り分け機構70は、X線検査装置10において良品と判断された被検査物Aを、良品を排出する後段コンベア80へ送る。振り分け機構70は、X線検査装置10において不良品と判断された被検査物Aを、不良品排出方向90,91に振分けて検査ライン100から排出する。 The X-ray inspection device 10 determines the quality of the inspected object A by irradiating the inspected object A continuously conveyed by the pre-stage conveyor 60 with X-rays. Specifically, the X-ray inspection device 10 inspects the inspected object A for foreign matter contamination, and classifies the inspected object A as a non-defective product or a defective product based on the inspection result. The inspection result by the X-ray inspection device 10 is sent to the distribution mechanism 70 arranged on the downstream side of the X-ray inspection device 10. The sorting mechanism 70 sends the object A to be inspected, which is determined by the X-ray inspection device 10 to be a non-defective product, to the post-stage conveyor 80 that discharges the non-defective product. The sorting mechanism 70 sorts the inspected object A determined to be a defective product by the X-ray inspection device 10 in the defective product discharge directions 90 and 91 and discharges it from the inspection line 100.

(2)X線検査装置の詳細説明
X線検査装置10は、主として、シールドボックス11と、搬送ユニット12と、X線照射器20と、ラインセンサ30と、モニタ40と、制御装置50とから構成される。
(2) Detailed Description of X-ray Inspection Device The X-ray inspection device 10 mainly consists of a shield box 11, a transport unit 12, an X-ray irradiator 20, a line sensor 30, a monitor 40, and a control device 50. It is composed.

(2−1)シールドボックス
シールドボックス11は、X線検査装置10のケーシングである。図1に示されるように、シールドボックス11の両側面には、被検査物Aを搬出入するための開口11aが形成されている。開口11aは、シールドボックス11の外部から内部に被検査物Aを搬入するため、または、シールドボックス11の内部から外部に被検査物Aを搬出するために用いられる。開口11aは、遮蔽のれん19により塞がれている。遮蔽のれん19は、シールドボックス11の内部から外部へのX線の漏洩を抑える。遮蔽のれん19は、タングステンシートから成形される。遮蔽のれん19は、被検査物Aが搬出入される時に被検査物Aによって押しのけられる。
(2-1) Shield Box The shield box 11 is a casing of the X-ray inspection device 10. As shown in FIG. 1, openings 11a for carrying in and out the object A to be inspected are formed on both side surfaces of the shield box 11. The opening 11a is used to carry the inspected object A from the outside to the inside of the shield box 11 or to carry out the inspected object A from the inside of the shield box 11 to the outside. The opening 11a is closed by the shielding goodwill 19. The shield goodwill 19 suppresses the leakage of X-rays from the inside to the outside of the shield box 11. The shielding goodwill 19 is formed from a tungsten sheet. The shield goodwill 19 is pushed away by the inspected object A when the inspected object A is carried in and out.

シールドボックス11の内部には、搬送ユニット12、X線照射器20、ラインセンサ30および制御装置50等が収容されている。シールドボックス11の正面上部には、モニタ40、入力用のキー、および、電源スイッチ等が配置されている。シールドボックス11の一部は、取り外し可能である。 Inside the shield box 11, a transport unit 12, an X-ray irradiator 20, a line sensor 30, a control device 50, and the like are housed. A monitor 40, an input key, a power switch, and the like are arranged on the upper part of the front surface of the shield box 11. A part of the shield box 11 is removable.

(2−2)搬送ユニット
搬送ユニット12は、シールドボックス11の内部を通過するように被検査物Aを搬送する。図1に示されるように、搬送ユニット12は、シールドボックス11の両側面に形成された開口11aを貫通するように配置されている。搬送ユニット12は、X線検査装置10の本体フレーム10aに取り付けられている。
(2-2) Conveying Unit The transporting unit 12 transports the object A to be inspected so as to pass through the inside of the shield box 11. As shown in FIG. 1, the transport unit 12 is arranged so as to penetrate through the openings 11a formed on both side surfaces of the shield box 11. The transport unit 12 is attached to the main body frame 10a of the X-ray inspection device 10.

図3は、搬送ユニット12の概略的な側面図である。図4は、搬送ユニット12の概略的な上面図である。図3および図4には、被検査物Aの搬送方向が矢印で示されている。 FIG. 3 is a schematic side view of the transport unit 12. FIG. 4 is a schematic top view of the transport unit 12. In FIGS. 3 and 4, the transport direction of the object A to be inspected is indicated by an arrow.

搬送ユニット12は、主として、コンベアモータ12aと、エンコーダ12bと、タイミングベルト12cと、支持フレーム12dと、第1コンベア13と、第2コンベア14とから構成される。第1コンベア13および第2コンベア14は、共に、被検査物Aを搬送方向に搬送するベルトコンベアである。第1コンベア13は、搬送方向の上流側に設置され、第2コンベア14は、搬送方向の下流側に設置される。第1コンベア13と第2コンベア14との間には、隙間が形成されている。以下、この隙間を、コンベア間隙間15と呼ぶ。また、第1コンベア13のコンベア間隙間15側(下流側)の端部を、第1隙間側端部16と呼び、第2コンベア14のコンベア間隙間15側(上流側)の端部を、第2隙間側端部17と呼ぶ。 The conveyor unit 12 is mainly composed of a conveyor motor 12a, an encoder 12b, a timing belt 12c, a support frame 12d, a first conveyor 13, and a second conveyor 14. Both the first conveyor 13 and the second conveyor 14 are belt conveyors that convey the object A to be inspected in the conveying direction. The first conveyor 13 is installed on the upstream side in the transport direction, and the second conveyor 14 is installed on the downstream side in the transport direction. A gap is formed between the first conveyor 13 and the second conveyor 14. Hereinafter, this gap is referred to as a conveyor-to-conveyor gap 15. Further, the end of the first conveyor 13 on the 15 side (downstream side) of the inter-conveyor gap is called the first gap side end portion 16, and the end of the second conveyor 14 on the 15 side (upstream side) of the inter-conveyor gap is referred to as the first gap side end portion 16. It is called the second gap side end portion 17.

第1コンベア13によって上流側の開口11aから第1隙間側端部16まで搬送された被検査物Aは、図3および図4に示されるように、コンベア間隙間15を跨ぐように第1コンベア13および第2コンベア14の両方に同時に載せられている状態になる。その後、被検査物Aは、第2コンベア14によって第2隙間側端部17から下流側の開口11aに向かって搬送される。コンベア間隙間15の搬送方向の寸法は、被検査物Aがコンベア間隙間15から落下しない程度に設定されている。 The object A to be inspected, which is conveyed from the opening 11a on the upstream side to the end portion 16 on the first gap side by the first conveyor 13, is the first conveyor so as to straddle the gap 15 between the conveyors as shown in FIGS. 3 and 4. It will be in a state of being mounted on both the 13 and the second conveyor 14 at the same time. After that, the object A to be inspected is conveyed by the second conveyor 14 from the second gap side end 17 toward the downstream opening 11a. The dimensions of the inter-conveyor gap 15 in the transport direction are set so that the object A to be inspected does not fall from the inter-conveyor gap 15.

第1コンベア13は、主として、第1上流側コンベアローラ13aと、第1下流側コンベアローラ13bと、第1無端状ベルト13cとから構成されている。第1上流側コンベアローラ13aは、第1下流側コンベアローラ13bよりも上流側に配置される。第1無端状ベルト13cは、第1上流側コンベアローラ13aおよび第1下流側コンベアローラ13bに掛け渡されている。 The first conveyor 13 is mainly composed of a first upstream side conveyor roller 13a, a first downstream side conveyor roller 13b, and a first endless belt 13c. The first upstream side conveyor roller 13a is arranged on the upstream side of the first downstream side conveyor roller 13b. The first endless belt 13c is hung on the first upstream side conveyor roller 13a and the first downstream side conveyor roller 13b.

第2コンベア14は、主として、第2上流側コンベアローラ14aと、第2下流側コンベアローラ14bと、第2無端状ベルト14cと、駆動ローラ14dと、従動ローラ14eとから構成されている。第2上流側コンベアローラ14aは、第2下流側コンベアローラ14bよりも上流側に配置される。第2無端状ベルト14cは、図3に示されるように、第2上流側コンベアローラ14a、第2下流側コンベアローラ14b、駆動ローラ14dおよび従動ローラ14eに掛け渡されている。駆動ローラ14dは、コンベアモータ12aによって駆動される。駆動ローラ14dの駆動により、第2無端状ベルト14cが回転し、第2無端状ベルト14c上の被検査物Aが搬送される。 The second conveyor 14 is mainly composed of a second upstream side conveyor roller 14a, a second downstream side conveyor roller 14b, a second endless belt 14c, a driving roller 14d, and a driven roller 14e. The second upstream side conveyor roller 14a is arranged on the upstream side of the second downstream side conveyor roller 14b. As shown in FIG. 3, the second endless belt 14c is hung on the second upstream side conveyor roller 14a, the second downstream side conveyor roller 14b, the driving roller 14d, and the driven roller 14e. The drive roller 14d is driven by the conveyor motor 12a. By driving the drive roller 14d, the second endless belt 14c is rotated, and the object A to be inspected on the second endless belt 14c is conveyed.

第1下流側コンベアローラ13bおよび第2上流側コンベアローラ14aは、一対のタイミングベルト12cで連結されている。一対のタイミングベルト12cは、図4に示されるように、第1下流側コンベアローラ13bおよび第2上流側コンベアローラ14aの両端部において掛け渡されている。一対のタイミングベルト12cにより、第2無端状ベルト14cの回転運動が第1無端状ベルト13cに伝達される。そのため、駆動ローラ14dの駆動により、第2無端状ベルト14cが回転すると、第1無端状ベルト13cも回転し、第1無端状ベルト13c上の被検査物Aが搬送される。 The first downstream side conveyor roller 13b and the second upstream side conveyor roller 14a are connected by a pair of timing belts 12c. As shown in FIG. 4, the pair of timing belts 12c are hung at both ends of the first downstream side conveyor roller 13b and the second upstream side conveyor roller 14a. The rotational movement of the second endless belt 14c is transmitted to the first endless belt 13c by the pair of timing belts 12c. Therefore, when the second endless belt 14c is rotated by the drive of the drive roller 14d, the first endless belt 13c is also rotated, and the object A to be inspected on the first endless belt 13c is conveyed.

搬送ユニット12による被検査物Aの搬送速度は、X線検査装置10の操作者によって入力された設定速度に応じて変動する。制御装置50は、設定速度に基づいてコンベアモータ12aをインバータ制御し、被検査物Aの搬送速度を細かく制御する。搬送ユニット12のエンコーダ12bは、被検査物Aの搬送速度を検出して制御装置50に送信する。 The transport speed of the object A to be inspected by the transport unit 12 varies according to the set speed input by the operator of the X-ray inspection device 10. The control device 50 controls the conveyor motor 12a with an inverter based on the set speed, and finely controls the transport speed of the object A to be inspected. The encoder 12b of the transport unit 12 detects the transport speed of the object A to be inspected and transmits it to the control device 50.

なお、搬送ユニット12は、搬送機構としてベルトコンベアを用いているが、ベルトコンベアの代わりにトップチェーンコンベア等を搬送機構として用いてもよい。 Although the conveyor unit 12 uses a belt conveyor as the conveyor, a top chain conveyor or the like may be used as the conveyor instead of the belt conveyor.

支持フレーム12dは、第1コンベア13および第2コンベア14の両方を支持する部材である。支持フレーム12dは、本体フレーム10aに取り付けられている。支持フレーム12dの詳細な構成については後述する。 The support frame 12d is a member that supports both the first conveyor 13 and the second conveyor 14. The support frame 12d is attached to the main body frame 10a. The detailed configuration of the support frame 12d will be described later.

(2−3)X線照射器
図5は、X線検査装置10のシールドボックス11の内部の概略図である。X線照射器20は、シールドボックス11内部の所定の位置まで搬送ユニット12によって搬送された被検査物AにX線を照射する。所定の位置とは、図3および図4に示されるように、被検査物Aの搬送方向においてコンベア間隙間15の位置である。すなわち、X線照射器20は、コンベア間隙間15の上にある被検査物AにX線を照射する。
(2-3) X-ray irradiator FIG. 5 is a schematic view of the inside of the shield box 11 of the X-ray inspection device 10. The X-ray irradiator 20 irradiates the object A to be inspected transported by the transport unit 12 to a predetermined position inside the shield box 11 with X-rays. The predetermined position is the position of the gap 15 between the conveyors in the transport direction of the object A to be inspected, as shown in FIGS. 3 and 4. That is, the X-ray irradiator 20 irradiates the object A to be inspected above the gap 15 between the conveyors with X-rays.

図5に示されるように、X線照射器20は、搬送ユニット12の上方に配置されている。X線照射器20は、搬送ユニット12の下方に配置されるラインセンサ30に向けて扇状のX線(放射光)を照射する。X線の照射範囲Xは、図5に示されるように、搬送ユニット12の搬送面に対して垂直であり、かつ、搬送ユニット12による被検査物Aの搬送方向に対して直交する方向に広がる。すなわち、X線照射器20から照射されるX線は、ベルト13c,14cの幅方向(コンベア間隙間15の長手方向)に広がる。 As shown in FIG. 5, the X-ray irradiator 20 is arranged above the transport unit 12. The X-ray irradiator 20 irradiates a fan-shaped X-ray (synchrotron radiation) toward the line sensor 30 arranged below the transport unit 12. As shown in FIG. 5, the X-ray irradiation range X extends in a direction perpendicular to the transport surface of the transport unit 12 and orthogonal to the transport direction of the object A to be inspected by the transport unit 12. .. That is, the X-rays emitted from the X-ray irradiator 20 spread in the width direction of the belts 13c and 14c (longitudinal direction of the gap 15 between conveyors).

(2−4)ラインセンサ
ラインセンサ30は、X線照射器20から照射されたX線を検出するセンサである。具体的には、ラインセンサ30は、搬送ユニット12によって搬送された被検査物Aを透過したX線である透過X線を検出する。透過X線は、コンベア間隙間15を通過してラインセンサ30に到達する。すなわち、透過X線は、第1コンベア13および第2コンベア14と衝突しないので、第1コンベア13および第2コンベア14に吸収されない。
(2-4) Line sensor The line sensor 30 is a sensor that detects X-rays emitted from the X-ray irradiator 20. Specifically, the line sensor 30 detects transmitted X-rays, which are X-rays transmitted through the object A to be inspected transported by the transport unit 12. The transmitted X-ray passes through the gap 15 between the conveyors and reaches the line sensor 30. That is, since the transmitted X-rays do not collide with the first conveyor 13 and the second conveyor 14, they are not absorbed by the first conveyor 13 and the second conveyor 14.

図5に示されるように、ラインセンサ30は、搬送ユニット12の下方に配置されている。ラインセンサ30は、複数のX線検出素子から構成されている。複数のX線検出素子は、搬送ユニット12による被検査物Aの搬送方向に直交する方向(ベルト13c,14cの幅方向)に沿って一直線に水平に配置されている。 As shown in FIG. 5, the line sensor 30 is arranged below the transport unit 12. The line sensor 30 is composed of a plurality of X-ray detection elements. The plurality of X-ray detection elements are arranged horizontally in a straight line along a direction orthogonal to the transport direction of the object A to be inspected by the transport unit 12 (width direction of the belts 13c and 14c).

ラインセンサ30は、透過X線を検出し、検出された透過X線の強度に応じた電圧を示すX線透過信号を出力する。X線透過信号は、後述するように、被検査物Aの透過画像の生成に用いられる。図6は、ラインセンサ30によって検出される透過X線の強度の例を示すグラフである。グラフの横軸は、ラインセンサ30上の位置を表す。グラフの縦軸は、ラインセンサ30が検出した透過X線の強度を表す。被検査物Aの透過画像では、透過X線の検出量の多いところが明るく(輝度が高く)表示され、透過X線の検出量が少ないところが暗く(輝度が低く)表示される。すなわち、被検査物Aの透過画像の明暗(輝度値)は、透過X線の検出量に依存する。図6に示されるように、被検査物Aを透過したX線の検出量は、被検査物Aを透過しなかったX線の検出量より低い。 The line sensor 30 detects transmitted X-rays and outputs an X-ray transmitted signal indicating a voltage corresponding to the intensity of the detected transmitted X-rays. The X-ray transmission signal is used to generate a transmission image of the object A to be inspected, as will be described later. FIG. 6 is a graph showing an example of the intensity of transmitted X-rays detected by the line sensor 30. The horizontal axis of the graph represents the position on the line sensor 30. The vertical axis of the graph represents the intensity of transmitted X-rays detected by the line sensor 30. In the transmitted image of the object A to be inspected, the part where the detected amount of transmitted X-rays is large is displayed brightly (high brightness), and the part where the detected amount of transmitted X-rays is small is displayed dark (low brightness). That is, the brightness (luminance value) of the transmitted image of the object A to be inspected depends on the amount of transmitted X-rays detected. As shown in FIG. 6, the detected amount of X-rays that have passed through the inspected object A is lower than the detected amount of X-rays that have not passed through the inspected object A.

また、ラインセンサ30は、被検査物AがX線の扇状の照射範囲X(図5参照)を通過するタイミングを検知するためのセンサとしても機能する。すなわち、ラインセンサ30は、搬送ユニット12によって搬送される被検査物Aがラインセンサ30の上方の位置(照射範囲Xと重なる位置)に来たとき、所定の閾値以下の電圧を示すX線透過信号(第1信号)を出力する。一方、ラインセンサ30は、被検査物Aが照射範囲Xを通過すると、所定の閾値を上回る電圧を示すX線透過信号(第2信号)を出力する。第1信号および第2信号が制御装置50に送られることにより、照射範囲Xにおける被検査物Aの有無が検出される。 The line sensor 30 also functions as a sensor for detecting the timing at which the object A to be inspected passes the X-ray fan-shaped irradiation range X (see FIG. 5). That is, the line sensor 30 transmits X-rays indicating a voltage equal to or lower than a predetermined threshold value when the object A to be transported by the transport unit 12 comes to a position above the line sensor 30 (a position overlapping the irradiation range X). Output a signal (first signal). On the other hand, when the object A to be inspected passes through the irradiation range X, the line sensor 30 outputs an X-ray transmission signal (second signal) indicating a voltage exceeding a predetermined threshold value. By sending the first signal and the second signal to the control device 50, the presence or absence of the object A to be inspected in the irradiation range X is detected.

(2−5)モニタ
モニタ40は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。モニタ40は、X線検査装置10の表示部および入力部として機能する。モニタ40には、被検査物Aの検査結果等が表示される。また、モニタ40には、初期設定、および、被検査物Aの良否判断に関するパラメータを入力するための画面等が表示される。
(2-5) Monitor The monitor 40 is a liquid crystal display with a touch panel function. The monitor 40 functions as a display unit and an input unit of the X-ray inspection device 10. The inspection result of the object A to be inspected and the like are displayed on the monitor 40. In addition, the monitor 40 displays a screen for inputting initial settings and parameters related to the quality determination of the object A to be inspected.

X線検査装置10の操作者は、モニタ40を操作して、検査パラメータおよび動作設定情報等を入力することができる。検査パラメータとは、被検査物Aの良否を判定するために必要なパラメータである。具体的には、検査パラメータは、被検査物Aに含まれる異物の有無を判定するために用いられる透過X線の強度の閾値等である。動作設定情報とは、被検査物Aの検査速度、および、搬送ユニット12の搬送方向等の情報である。 The operator of the X-ray inspection device 10 can operate the monitor 40 to input inspection parameters, operation setting information, and the like. The inspection parameter is a parameter necessary for determining the quality of the object A to be inspected. Specifically, the inspection parameter is a threshold value of the intensity of transmitted X-rays used for determining the presence or absence of foreign matter contained in the object A to be inspected. The operation setting information is information such as the inspection speed of the object A to be inspected and the transport direction of the transport unit 12.

モニタ40は、制御装置50に接続されており、制御装置50と信号の送受信を行う。モニタ40によって入力された検査パラメータおよび動作設定情報は、制御装置50の記憶部52に記憶される。 The monitor 40 is connected to the control device 50 and transmits / receives signals to / from the control device 50. The inspection parameters and operation setting information input by the monitor 40 are stored in the storage unit 52 of the control device 50.

(2−6)制御装置
制御装置50は、主として、CPU、ROM、RAMおよびHDD(ハードディスクドライブ)等によって構成されている。なお、HDDの代わりにSSD(ソリッドステートドライブ)が用いられてもよい。制御装置50は、図示されない表示制御回路、入力回路および通信ポート等も備えている。表示制御回路は、モニタ40の表示を制御する回路である。入力回路は、モニタ40のタッチパネルおよび入力キーを介して操作者によって入力された入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器、および、LAN等のネットワークとの接続を可能にするポートである。
(2-6) Control device The control device 50 is mainly composed of a CPU, a ROM, a RAM, an HDD (hard disk drive), and the like. An SSD (Solid State Drive) may be used instead of the HDD. The control device 50 also includes a display control circuit (not shown), an input circuit, a communication port, and the like. The display control circuit is a circuit that controls the display of the monitor 40. The input circuit is a circuit that captures input data input by the operator via the touch panel and input keys of the monitor 40. The communication port is a port that enables connection with an external device such as a printer and a network such as a LAN.

図7は、制御装置50のブロック図である。制御装置50は、主として、制御部51と、記憶部52とを有する。制御装置50は、コンベアモータ12a、エンコーダ12b、X線照射器20、ラインセンサ30およびモニタ40等に電気的に接続されている。制御装置50は、エンコーダ12bからコンベアモータ12aの回転数に関するデータを取得し、そのデータに基づいて被検査物Aの移動距離を算出する。制御装置50は、ラインセンサ30から出力されたX線透過信号を受信し、搬送ユニット12によって搬送されている被検査物AがX線の照射範囲Xに到達したタイミングを検出する。制御装置50は、透過X線の強度に基づいて、被検査物Aに含まれる異物の有無を判定して、被検査物Aの良否を判定する。 FIG. 7 is a block diagram of the control device 50. The control device 50 mainly has a control unit 51 and a storage unit 52. The control device 50 is electrically connected to a conveyor motor 12a, an encoder 12b, an X-ray irradiator 20, a line sensor 30, a monitor 40, and the like. The control device 50 acquires data on the rotation speed of the conveyor motor 12a from the encoder 12b, and calculates the moving distance of the object A to be inspected based on the data. The control device 50 receives the X-ray transmission signal output from the line sensor 30 and detects the timing when the object A to be inspected, which is being conveyed by the transfer unit 12, reaches the X-ray irradiation range X. The control device 50 determines the presence or absence of a foreign substance contained in the inspected object A based on the intensity of the transmitted X-ray, and determines the quality of the inspected object A.

(2−6−1)制御部
制御部51は、記憶部52に記憶されている各種プログラムを実行することにより、様々な機能を実現する。制御部51は、主として、検査部61を有する。
(2-6-1) Control unit The control unit 51 realizes various functions by executing various programs stored in the storage unit 52. The control unit 51 mainly has an inspection unit 61.

検査部61は、ラインセンサ30が出力したX線透過信号に基づいて、被検査物Aの透過画像を生成し、その透過画像に対して各種の画像処理を施し、最終画像を生成する。検査部61は、生成された最終画像を解析して、被検査物Aに関する良品/不良品の判定を行う。検査部61は、被検査物Aに異物が含まれていないと判断した場合に、被検査物Aを良品と判定する。一方、検査部61は、被検査物Aに異物が含まれていると判断した場合に、被検査物Aを不良品と判定する。検査部61は、例えば、輝度値が所定の値以下である画素領域(異物を表す画素領域)が、最終画像に含まれている場合に、被検査物Aに異物が含まれていると判断する。 The inspection unit 61 generates a transmission image of the object A to be inspected based on the X-ray transmission signal output by the line sensor 30, and performs various image processing on the transmission image to generate a final image. The inspection unit 61 analyzes the generated final image and determines whether the product A is a non-defective product or a defective product. When the inspection unit 61 determines that the inspected object A does not contain a foreign substance, the inspected object A determines the inspected object A as a non-defective product. On the other hand, when the inspection unit 61 determines that the inspected object A contains a foreign substance, the inspection unit 61 determines that the inspected object A is a defective product. The inspection unit 61 determines that the object A to be inspected contains a foreign substance, for example, when the final image contains a pixel area (a pixel area representing a foreign substance) whose luminance value is equal to or less than a predetermined value. do.

検査部61は、被検査物Aの良品/不良品を判定すると、被検査物Aが良品/不良品のいずれかであるのかに関する信号を出力する。検査部61によって出力された信号は、振り分け機構70に送られる。振り分け機構70は、検査部61による判定結果に基づき、良品である被検査物Aを後段コンベア80へ送り、または、不良品である被検査物Aを不良品排出方向90,91に振り分ける。 When the inspection unit 61 determines whether the inspected object A is a non-defective product or a defective product, the inspection unit 61 outputs a signal as to whether the inspected object A is a non-defective product or a defective product. The signal output by the inspection unit 61 is sent to the distribution mechanism 70. The sorting mechanism 70 sends the non-defective product A to be inspected to the subsequent conveyor 80 or sorts the defective product A in the defective product discharge directions 90 and 91 based on the determination result by the inspection unit 61.

(2−6−2)記憶部
記憶部52は、検査パラメータ、動作設定情報、および、制御部51が実行する各種プログラムを記憶する。検査パラメータおよび動作設定情報は、モニタ40のタッチパネル機等を用いて操作者によって入力される。
(2-6-2) Storage unit The storage unit 52 stores inspection parameters, operation setting information, and various programs executed by the control unit 51. The inspection parameters and operation setting information are input by the operator using the touch panel machine of the monitor 40 or the like.

また、記憶部52は、検査部61が生成、取得または使用する様々なデータを記憶する。記憶部52は、例えば、検査部61が生成した被検査物Aの透過画像および最終画像を記憶する。 Further, the storage unit 52 stores various data generated, acquired or used by the inspection unit 61. The storage unit 52 stores, for example, a transparent image and a final image of the object A to be inspected generated by the inspection unit 61.

(3)支持フレーム
次に、支持フレーム12dの詳細な構成について説明する。図8は、X線検査装置10からシールドボックス11の一部を取り外して、本体フレーム10aおよび支持フレーム12dを露出させた状態の外観図を示す。図9は、図8の状態における、本体フレーム10aおよび支持フレーム12dの概略的な側面図である。図9は、図3と同じ方向から視た側面図である。図9では、分かりやすくするために、図3に示されるコンベアモータ12a、タイミングベルト12cおよびX線照射器20は省略されている。図10は、図9の矢印Xから視た側面図である。以下において、正面側とは、図1においてX線検査装置10のモニタ40が存在する側を意味する。X線検査装置10の使用者は、X線検査装置10の正面側からモニタ40を操作する。また、背面側とは、搬送ユニット12を挟んで正面側の反対側を意味する。
(3) Support Frame Next, the detailed configuration of the support frame 12d will be described. FIG. 8 shows an external view of a state in which a part of the shield box 11 is removed from the X-ray inspection device 10 to expose the main body frame 10a and the support frame 12d. FIG. 9 is a schematic side view of the main body frame 10a and the support frame 12d in the state of FIG. FIG. 9 is a side view seen from the same direction as in FIG. In FIG. 9, the conveyor motor 12a, the timing belt 12c, and the X-ray irradiator 20 shown in FIG. 3 are omitted for the sake of clarity. FIG. 10 is a side view seen from the arrow X in FIG. In the following, the front side means the side where the monitor 40 of the X-ray inspection apparatus 10 exists in FIG. The user of the X-ray inspection device 10 operates the monitor 40 from the front side of the X-ray inspection device 10. Further, the back side means the opposite side of the front side with the transport unit 12 interposed therebetween.

支持フレーム12dは、第1・第2コンベア13,14を正面側および背面側で支持する。支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられている。具体的には、X線検査装置10の使用者は、図9および図10に示される回転軸Rの周りに、支持フレーム12dを回転させることができる。回転軸Rは、被検査物Aの搬送方向に平行である。回転軸Rは、X線検査装置10の背面側における、支持フレーム12dの幅方向の端部に位置している。支持フレーム12の正面側には、持ち手12eが取り付けられている。X線検査装置10の使用者は、持ち手12eを掴み、図10に示される矢印の方向に向かって持ち手12eを持ち上げることで、支持フレーム12dを回転軸R周りに回転させて、支持フレーム12dの正面側を持ち上げることができる。支持フレーム12dの正面側が持ち上げられた状態において、支持フレーム12dの背面側は、本体フレーム10aに連結されている。 The support frame 12d supports the first and second conveyors 13 and 14 on the front side and the back side. The support frame 12d is rotatably provided with respect to the main body frame 10a. Specifically, the user of the X-ray inspection apparatus 10 can rotate the support frame 12d around the rotation axis R shown in FIGS. 9 and 10. The rotation axis R is parallel to the transport direction of the object A to be inspected. The rotation axis R is located at the end of the support frame 12d in the width direction on the back side of the X-ray inspection device 10. A handle 12e is attached to the front side of the support frame 12. The user of the X-ray inspection apparatus 10 grabs the handle 12e and lifts the handle 12e in the direction of the arrow shown in FIG. 10 to rotate the support frame 12d around the rotation axis R to rotate the support frame 12e. The front side of 12d can be lifted. In a state where the front side of the support frame 12d is lifted, the back side of the support frame 12d is connected to the main body frame 10a.

図11は、図10と同様の側面図であって、支持フレーム12dの正面側が持ち上げられた状態を示す図である。図8に示されるように、本体フレーム10aには、引っ掛け部材12fが取り付けられている。引っ掛け部材12fは、正面側が持ち上げられた支持フレーム12dの持ち手12eを一時的に引っ掛けておくための部材である。言い換えると、引っ掛け部材12fは、正面側が持ち上げられた状態に支持フレーム12dを一時的に維持しておくための部材である。 FIG. 11 is a side view similar to FIG. 10, showing a state in which the front side of the support frame 12d is lifted. As shown in FIG. 8, a hooking member 12f is attached to the main body frame 10a. The hooking member 12f is a member for temporarily hooking the handle 12e of the support frame 12d whose front side is lifted. In other words, the hook member 12f is a member for temporarily maintaining the support frame 12d in a state where the front side is lifted.

図11に示されるように、支持フレーム12dの正面側が持ち上げられた状態では、ラインセンサ30と支持フレーム12d(第1・第2コンベア13,14)との間に、比較的広い空間が形成されている。そのため、後述するように、この状態は、ラインセンサ30の清掃に適している。以下、図10に示される支持フレーム12dの状態を「通常時」と呼び、図11に示される支持フレーム12dの状態を「保守時」と呼ぶ。 As shown in FIG. 11, when the front side of the support frame 12d is lifted, a relatively wide space is formed between the line sensor 30 and the support frames 12d (first and second conveyors 13, 14). ing. Therefore, as will be described later, this state is suitable for cleaning the line sensor 30. Hereinafter, the state of the support frame 12d shown in FIG. 10 is referred to as “normal time”, and the state of the support frame 12d shown in FIG. 11 is referred to as “maintenance time”.

支持フレーム12dが通常時の状態における第1・第2コンベア13,14の位置を「第1位置」とし、支持フレーム12dが保守時の状態における第1・第2コンベア13,14の位置を「第2位置」とする。第2位置は、第1位置と比べてラインセンサ30からより離れている。支持フレーム12dは、第1位置と第2位置との間を、第1コンベア13および第2コンベア14の少なくとも一方が移動可能なように設けられている。 The positions of the first and second conveyors 13 and 14 in the normal state of the support frame 12d are defined as the "first position", and the positions of the first and second conveyors 13 and 14 in the state of the support frame 12d in the maintenance state are defined as "first position". Second position ". The second position is farther away from the line sensor 30 than the first position. The support frame 12d is provided so that at least one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14 can move between the first position and the second position.

(4)特徴
(4−1)
X線検査装置10の搬送ユニット12は、第1コンベア13および第2コンベア14を駆動させて被検査物Aを搬送する。X線照射器20から照射されたX線が搬送ユニット12に吸収されることを防止するために、第1コンベア13と第2コンベア14との間には、X線照射器20から照射されたX線が通過するためのコンベア間隙間15が形成されている。しかし、コンベア間隙間15からラインセンサ30の上に埃等の異物が落下すると、ラインセンサ30の出力に悪影響を与え、被検査物Aが正常に検査されないおそれがある。そのため、ラインセンサ30を定期的に清掃して、ラインセンサ30に付着した異物を除去する必要がある。
(4) Features (4-1)
The transport unit 12 of the X-ray inspection device 10 drives the first conveyor 13 and the second conveyor 14 to transport the object A to be inspected. In order to prevent the X-rays emitted from the X-ray irradiator 20 from being absorbed by the transport unit 12, the X-ray irradiator 20 irradiates between the first conveyor 13 and the second conveyor 14. A gap 15 between conveyors is formed for X-rays to pass through. However, if foreign matter such as dust falls on the line sensor 30 from the gap 15 between the conveyors, the output of the line sensor 30 may be adversely affected and the object A to be inspected may not be inspected normally. Therefore, it is necessary to periodically clean the line sensor 30 to remove foreign matter adhering to the line sensor 30.

本実施形態のX線検査装置10は、被検査物Aを透過したX線を検出するラインセンサ30を清掃する際に、ラインセンサ30の近傍に配置されている第1コンベア13および第2コンベア14を、ラインセンサ30から一時的に離すための機構を備える。具体的には、X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30を清掃する際に、図10に示される通常時の支持フレーム12dの正面側を持ち上げて、図11に示される保守時の支持フレーム12dとすることで、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間に比較的広い空間を確保することができる。そのため、X線検査装置10の使用者は、支持フレーム12dが保守時の状態において、ラインセンサ30の清掃を効率的に行うことができる。一方、支持フレーム12dが通常時の状態では、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間の空間が狭いので、ラインセンサ30の清掃は困難である。従って、X線検査装置10は、ラインセンサ30の清掃を容易にする機構を備える。 The X-ray inspection device 10 of the present embodiment has the first conveyor 13 and the second conveyor arranged in the vicinity of the line sensor 30 when cleaning the line sensor 30 that detects the X-rays transmitted through the object A to be inspected. A mechanism for temporarily separating the 14 from the line sensor 30 is provided. Specifically, when cleaning the line sensor 30, the user of the X-ray inspection device 10 lifts the front side of the support frame 12d in the normal state shown in FIG. 10 and performs the maintenance time shown in FIG. By using the support frame 12d, a relatively wide space can be secured between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 can efficiently clean the line sensor 30 while the support frame 12d is in the state of maintenance. On the other hand, when the support frame 12d is in a normal state, the space between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14 is narrow, so that it is difficult to clean the line sensor 30. Therefore, the X-ray inspection device 10 includes a mechanism that facilitates cleaning of the line sensor 30.

(4−2)
X線検査装置10では、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられている。具体的には、図10および図11に示されるように、支持フレーム12dは、背面側において搬送方向に沿って延びている回転軸Rを中心にして、正面側を持ち上げることができるように、本体フレーム10aに取り付けられている。そのため、支持フレーム12dの状態を通常時から保守時に移行させる際に、本体フレーム10aから第1・第2コンベア13,14を取り外すことなく、第1・第2コンベア13,14をラインセンサ30から一時的に離すことができる。従って、ラインセンサ30の清掃時における安全性および保守性が向上する。
(4-2)
In the X-ray inspection apparatus 10, the support frame 12d is rotatably provided with respect to the main body frame 10a. Specifically, as shown in FIGS. 10 and 11, the support frame 12d can lift the front side around the rotation axis R extending along the transport direction on the back side. It is attached to the main body frame 10a. Therefore, when shifting the state of the support frame 12d from the normal time to the maintenance time, the first and second conveyors 13 and 14 are moved from the line sensor 30 without removing the first and second conveyors 13 and 14 from the main body frame 10a. Can be temporarily released. Therefore, the safety and maintainability of the line sensor 30 at the time of cleaning are improved.

(4−3)
X線検査装置10では、ラインセンサ30は、被検査物Aの搬送方向に直交する方向に延びている。すなわち、ラインセンサ30は、コンベア間隙間15の長手方向に沿って延びている。そのため、支持フレーム12dの状態を通常時から保守時に移行させた後において、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間には比較的広い空間が確保される。従って、X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30の各X線検出素子の上面であるX線検出面の清掃を容易に行うことができる。
(4-3)
In the X-ray inspection apparatus 10, the line sensor 30 extends in a direction orthogonal to the transport direction of the object A to be inspected. That is, the line sensor 30 extends along the longitudinal direction of the gap 15 between the conveyors. Therefore, after shifting the state of the support frame 12d from the normal time to the maintenance time, a relatively wide space is secured between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 can easily clean the X-ray detection surface which is the upper surface of each X-ray detection element of the line sensor 30.

(4−4)
X線検査装置10では、支持フレーム12dは、第1コンベア13および第2コンベア14の両方を支持する。そのため、ラインセンサ30を清掃する際に、ラインセンサ30の近傍に配置されている第1・第2コンベア13,14の両方を、ラインセンサ30から一時的に離すことができる。そのため、ラインセンサ30の清掃時において、ラインセンサ30の周囲に、清掃の障害となる物体が存在しない空間を大きく確保することができる。従って、X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30の清掃を効率的に行うことができる。
(4-4)
In the X-ray inspection apparatus 10, the support frame 12d supports both the first conveyor 13 and the second conveyor 14. Therefore, when cleaning the line sensor 30, both the first and second conveyors 13 and 14 arranged in the vicinity of the line sensor 30 can be temporarily separated from the line sensor 30. Therefore, when cleaning the line sensor 30, it is possible to secure a large space around the line sensor 30 in which no object that hinders cleaning does not exist. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 can efficiently clean the line sensor 30.

(5)変形例
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
(5) Modified Examples Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the invention.

(5−1)変形例A
実施形態では、図10および図11に示されるように、支持フレーム12dは、背面側において搬送方向に沿って延びる回転軸Rを中心にして、正面側を持ち上げることができる。しかし、ラインセンサ30の清掃時に第1・第2コンベア13,14をラインセンサ30から一時的に離すことができれば、支持フレーム12dは、他の機構によって、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられてもよい。
(5-1) Modification A
In the embodiment, as shown in FIGS. 10 and 11, the support frame 12d can lift the front side about the rotation axis R extending along the transport direction on the back side. However, if the first and second conveyors 13 and 14 can be temporarily separated from the line sensor 30 when cleaning the line sensor 30, the support frame 12d is rotatably provided with respect to the main body frame 10a by another mechanism. May be done.

図12および図13は、本変形例における、支持フレーム12dの回転機構を示す図である。図12および図13は、図9と同じ方向から視た側面図である。図12は、通常時の支持フレーム12dを示し、図13は、保守時の支持フレーム12dを示す。 12 and 13 are views showing the rotation mechanism of the support frame 12d in this modified example. 12 and 13 are side views viewed from the same direction as FIG. 9. FIG. 12 shows the support frame 12d during normal operation, and FIG. 13 shows the support frame 12d during maintenance.

本変形例の支持フレーム12dは、第1コンベア13の第1隙間側端部16、および、第2コンベア14の第2隙間側端部17の両方を持ち上げることができるように、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられている。本変形例では、支持フレーム12dは、第1コンベア13を支持する第1支持部12d1と、第2コンベア14を支持する第2支持部12d2とから構成されている。第1支持部12d1および第2支持部12d2は、それぞれ独立して、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられている。第1支持部12d1は、第1隙間側端部16の側に第1持ち手12e1を有する。第2支持部12d2は、第2隙間側端部17の側に第2持ち手12e2を有する。 The support frame 12d of this modification is attached to the main body frame 10a so that both the first gap side end portion 16 of the first conveyor 13 and the second gap side end portion 17 of the second conveyor 14 can be lifted. On the other hand, it is rotatably provided. In this modification, the support frame 12d is composed of a first support portion 12d1 that supports the first conveyor 13 and a second support portion 12d2 that supports the second conveyor 14. The first support portion 12d1 and the second support portion 12d2 are independently provided so as to be rotatable with respect to the main body frame 10a. The first support portion 12d1 has a first handle 12e1 on the side of the first gap side end portion 16. The second support portion 12d2 has a second handle 12e2 on the side of the second gap side end portion 17.

図12および図13に示されるように、第1コンベア13は、第1回転軸R1を中心にして、第1隙間側端部16の側を持ち上げることができ、第2コンベア14は、第2回転軸R2を中心にして、第2隙間側端部17の側を持ち上げることができる。第1回転軸R1は、搬送方向において第1隙間側端部16の反対側の端部に位置し、かつ、第1コンベア13の幅方向に平行な軸である。第2回転軸R2は、搬送方向において第2隙間側端部17の反対側の端部に位置し、かつ、第2コンベア14の幅方向に平行な軸である。 As shown in FIGS. 12 and 13, the first conveyor 13 can lift the side of the first gap side end portion 16 about the first rotation axis R1, and the second conveyor 14 has a second. The side of the second gap side end portion 17 can be lifted around the rotation shaft R2. The first rotation shaft R1 is an axis that is located at the end opposite to the first gap side end 16 in the transport direction and is parallel to the width direction of the first conveyor 13. The second rotation axis R2 is an axis located at the end opposite to the second gap side end 17 in the transport direction and parallel to the width direction of the second conveyor 14.

これにより、X線検査装置10の使用者は、第1持ち手12e1を掴み、図12に示される矢印の方向に向かって第1持ち手12e1を持ち上げることで、第1支持部12d1を第1回転軸R1周りに回転させて、第1隙間側端部16の側を持ち上げることができる。また、X線検査装置10の使用者は、第2持ち手12e2を掴み、図12に示される矢印の方向に向かって第2持ち手12e2を持ち上げることで、第2支持部12d2を第2回転軸R2周りに回転させて、第2隙間側端部17の側を持ち上げることができる。以上の2つの動作によって、X線検査装置10の使用者は、支持フレーム12dを通常時(図12)から保守時(図13)に移行させることができる。支持フレーム12dが保守時の状態において、第1支持部12d1は、第1隙間側端部16の搬送方向反対側において本体フレーム10aに連結され、第2支持部12d2は、第2隙間側端部17の搬送方向反対側において本体フレーム10aに連結されている。なお、支持フレーム12dが保守時の状態の間、タイミングベルト12cは、第1コンベア13および第2コンベア14の少なくとも一方から取り外されている。 As a result, the user of the X-ray inspection apparatus 10 grasps the first handle 12e1 and lifts the first handle 12e1 in the direction of the arrow shown in FIG. 12, so that the first support portion 12d1 is first. The side of the first gap side end portion 16 can be lifted by rotating around the rotation shaft R1. Further, the user of the X-ray inspection apparatus 10 grabs the second handle 12e2 and lifts the second handle 12e2 in the direction of the arrow shown in FIG. 12, thereby rotating the second support portion 12d2 in the second rotation. The side of the second gap side end portion 17 can be lifted by rotating around the shaft R2. By the above two operations, the user of the X-ray inspection apparatus 10 can shift the support frame 12d from the normal time (FIG. 12) to the maintenance time (FIG. 13). In the state where the support frame 12d is in maintenance, the first support portion 12d1 is connected to the main body frame 10a on the opposite side of the first gap side end portion 16 in the transport direction, and the second support portion 12d2 is connected to the second gap side end portion. 17 is connected to the main body frame 10a on the opposite side in the transport direction. While the support frame 12d is in the maintenance state, the timing belt 12c is removed from at least one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14.

X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30を清掃する際に、図12に示される通常時の支持フレーム12dの第1・第2コンベア13,14の第1・第2隙間側端部16,17側を持ち上げて、図13に示される保守時の支持フレーム12dとすることで、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間に比較的広い空間を確保することができる。そのため、X線検査装置10の使用者は、支持フレーム12dが保守時の状態で、ラインセンサ30の清掃を効率的に行うことができる。 When cleaning the line sensor 30, the user of the X-ray inspection device 10 uses the first and second gap side ends of the first and second conveyors 13 and 14 of the support frame 12d in the normal state shown in FIG. By lifting the 16th and 17th sides to form the support frame 12d at the time of maintenance shown in FIG. 13, it is possible to secure a relatively wide space between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14. can. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 can efficiently clean the line sensor 30 while the support frame 12d is in the state of maintenance.

なお、本変形例では、実施形態の引っ掛け部材12fと同様に、支持フレーム12dが保守時の状態において、第1支持部12d1の第1持ち手12e1、および、第2支持部12d2の第2持ち手12e2を一時的に引っ掛けておくための部材を、本体フレーム10aが有してもよい。 In this modified example, similarly to the hook member 12f of the embodiment, when the support frame 12d is in the state of maintenance, the first handle 12e1 of the first support portion 12d1 and the second handle of the second support portion 12d2 are held. The main body frame 10a may have a member for temporarily hooking the hand 12e2.

(5−2)変形例B
実施形態では、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して回転可能に設けられている。しかし、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して平行移動可能に設けられてもよい。例えば、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して鉛直方向に平行移動可能に設けられてもよい。
(5-2) Modification B
In the embodiment, the support frame 12d is rotatably provided with respect to the main body frame 10a. However, the support frame 12d may be provided so as to be able to translate with respect to the main body frame 10a. For example, the support frame 12d may be provided so as to be able to translate in the vertical direction with respect to the main body frame 10a.

図14および図15は、本変形例における、支持フレーム12dの平行移動機構を示す図である。図14および図15は、図9と同じ方向から視た側面図である。図14は、通常時の支持フレーム12dを示し、図15は、保守時の支持フレーム12dを示す。 14 and 15 are views showing the translation mechanism of the support frame 12d in this modification. 14 and 15 are side views viewed from the same direction as FIG. FIG. 14 shows the support frame 12d during normal operation, and FIG. 15 shows the support frame 12d during maintenance.

本変形例の支持フレーム12dは、第1コンベア13全体、および、第2コンベア14全体を鉛直方向に持ち上げることができるように、本体フレーム10aに対して平行移動可能に設けられている。例えば、支持フレーム12dは、支持レール(図示せず)を介して本体フレーム10aに取り付けられている。支持フレーム12dは、本体フレーム10aから取り外すことはできない。しかし、X線検査装置10の使用者は、支持フレーム12dを通常時から保守時に移行させる際に、支持フレーム12dを、支持レールに沿って鉛直方向上方に向かって移動させることができる。また、支持フレーム12dは、第1持ち手12e1と第2持ち手12e2とを有する。第1持ち手12e1は、第1コンベア13の側に設けられ、第2持ち手12e2は、第2コンベア14の側に設けられている。 The support frame 12d of this modification is provided so as to be movable in parallel with the main body frame 10a so that the entire first conveyor 13 and the entire second conveyor 14 can be lifted in the vertical direction. For example, the support frame 12d is attached to the main body frame 10a via a support rail (not shown). The support frame 12d cannot be removed from the main body frame 10a. However, the user of the X-ray inspection apparatus 10 can move the support frame 12d vertically upward along the support rail when the support frame 12d is shifted from the normal time to the maintenance time. Further, the support frame 12d has a first handle 12e1 and a second handle 12e2. The first handle 12e1 is provided on the side of the first conveyor 13, and the second handle 12e2 is provided on the side of the second conveyor 14.

これにより、X線検査装置10の使用者は、第1持ち手12e1および第2持ち手12e2を両手で掴み、図14に示される矢印の方向に向かって第1持ち手12e1および第2持ち手12e2を持ち上げることで、図15に示されるように、支持フレーム12d全体を鉛直方向上方に移動させることができる。 As a result, the user of the X-ray inspection apparatus 10 grasps the first handle 12e1 and the second handle 12e2 with both hands, and the first handle 12e1 and the second handle are held in the direction of the arrow shown in FIG. By lifting 12e2, as shown in FIG. 15, the entire support frame 12d can be moved upward in the vertical direction.

X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30を清掃する際に、図14に示される通常時の支持フレーム12dを持ち上げて、図15に示される保守時の支持フレーム12dとすることで、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間に比較的広い空間を確保することができる。そのため、X線検査装置10の使用者は、支持フレーム12dが保守時の状態で、ラインセンサ30の清掃を効率的に行うことができる。 When cleaning the line sensor 30, the user of the X-ray inspection apparatus 10 lifts the normal support frame 12d shown in FIG. 14 to obtain the maintenance support frame 12d shown in FIG. A relatively wide space can be secured between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 can efficiently clean the line sensor 30 while the support frame 12d is in the state of maintenance.

なお、本変形例では、実施形態の引っ掛け部材12fと同様に、支持フレーム12dが保守時の状態において、支持フレーム12dの第1持ち手12e1および第2持ち手12e2を一時的に引っ掛けておくための部材を、本体フレーム10aが有してもよい。 In this modified example, similarly to the hooking member 12f of the embodiment, the first handle 12e1 and the second handle 12e2 of the support frame 12d are temporarily hooked in the state at the time of maintenance. The main body frame 10a may have the member of the above.

また、本変形例では、支持フレーム12dが保守時の状態において、ラインセンサ30と第1・第2コンベア13,14との間に比較的広い空間を確保することができるのであれば、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して任意の方向に平行移動可能に設けられてもよく、また、支持フレーム12dは、本体フレーム10aに対して任意の方向に平行移動可能、かつ、回転可能に設けられてもよい。 Further, in this modification, if the support frame 12d can secure a relatively wide space between the line sensor 30 and the first and second conveyors 13 and 14 in the state at the time of maintenance, the support frame The 12d may be provided so as to be able to translate in any direction with respect to the main body frame 10a, and the support frame 12d may be provided so as to be able to translate and rotate in any direction with respect to the main body frame 10a. May be done.

(5−3)変形例C
実施形態では、制御装置50の制御部51は、主として、検査部61を有する。しかし、制御部51は、さらに、禁止部62、判定部63および報知部64の少なくとも一つを有してもよい。
(5-3) Modification C
In the embodiment, the control unit 51 of the control device 50 mainly has an inspection unit 61. However, the control unit 51 may further include at least one of a prohibition unit 62, a determination unit 63, and a notification unit 64.

図16は、本変形例における制御装置50のブロック図である。図16では、制御部51は、検査部61と、禁止部62と、判定部63と、報知部64とを有する。検査部61の機能は、実施形態のものと同じである。 FIG. 16 is a block diagram of the control device 50 in this modified example. In FIG. 16, the control unit 51 includes an inspection unit 61, a prohibition unit 62, a determination unit 63, and a notification unit 64. The function of the inspection unit 61 is the same as that of the embodiment.

禁止部62は、第1コンベア13および第2コンベア14の少なくとも一方が所定の位置にない場合に、X線照射器20が被検査物AにX線を照射することを禁止する。ここで、所定の位置とは、支持フレーム12dが通常時の状態(図10)における、第1・第2コンベア13,14の位置を意味する。この場合、搬送ユニット12は、第1コンベア13および第2コンベア14の両方が所定の位置にある場合に、被検査物Aを搬送可能である。言い換えると、禁止部62は、支持フレーム12dが保守時の状態の間、X線照射器20が被検査物AにX線を照射することを禁止する。支持フレーム12dが保守時の状態の間に、X線照射器20がX線を照射すると、ラインセンサ30を清掃している作業者が、X線照射器20から照射されるX線に曝されるおそれがある。そのため、禁止部62は、ラインセンサ30の清掃中にX線照射器20からX線が照射されることが防止されるので、安全性を向上させることができる。 The prohibition unit 62 prohibits the X-ray irradiator 20 from irradiating the object A to be inspected with X-rays when at least one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14 is not in a predetermined position. Here, the predetermined position means the positions of the first and second conveyors 13 and 14 when the support frame 12d is in a normal state (FIG. 10). In this case, the transport unit 12 can transport the object A to be inspected when both the first conveyor 13 and the second conveyor 14 are in predetermined positions. In other words, the prohibition unit 62 prohibits the X-ray irradiator 20 from irradiating the object A to be inspected with X-rays while the support frame 12d is in the maintenance state. When the X-ray irradiator 20 irradiates X-rays while the support frame 12d is in the maintenance state, the worker cleaning the line sensor 30 is exposed to the X-rays emitted from the X-ray irradiator 20. There is a risk of Therefore, the prohibition unit 62 is prevented from being irradiated with X-rays from the X-ray irradiator 20 during the cleaning of the line sensor 30, so that the safety can be improved.

判定部63は、ラインセンサ30の清掃の要否を判定する。判定部63は、例えば、ラインセンサ30の出力の低下を監視して、ラインセンサ30の出力が所定の値以下になった場合に、ラインセンサ30のX線検出素子の上面に異物が付着したと判定する。そのため、X線検査装置10の使用者は、ラインセンサ30の清掃の要否を判断するために、ラインセンサ30の状態を目視で確認する必要がない。 The determination unit 63 determines whether or not the line sensor 30 needs to be cleaned. The determination unit 63 monitors, for example, a decrease in the output of the line sensor 30, and when the output of the line sensor 30 falls below a predetermined value, foreign matter adheres to the upper surface of the X-ray detection element of the line sensor 30. Is determined. Therefore, the user of the X-ray inspection device 10 does not need to visually check the state of the line sensor 30 in order to determine whether or not the line sensor 30 needs to be cleaned.

報知部64は、ラインセンサ30の清掃が必要であることを、X線検査装置10の使用者に報知する。報知部64は、例えば、判定部63がラインセンサ30の清掃が必要であると判定した場合に、その旨をモニタ40に表示する。これにより、X線検査装置10は、必要な時にラインセンサ30の清掃を使用者に促すことができる。 The notification unit 64 notifies the user of the X-ray inspection device 10 that the line sensor 30 needs to be cleaned. For example, when the determination unit 63 determines that the line sensor 30 needs to be cleaned, the notification unit 64 displays that fact on the monitor 40. As a result, the X-ray inspection device 10 can urge the user to clean the line sensor 30 when necessary.

(5−4)変形例D
実施形態では、支持フレーム12dは、第1コンベア13および第2コンベア14の両方を支持する。しかし、支持フレーム12dは、第1コンベア13および第2コンベア14の一方のみを支持してもよい。すなわち、ラインセンサ30を清掃する際に、第1コンベア13および第2コンベア14の一方のみを、ラインセンサ30から一時的に離すことができてもよい。この場合、他方のコンベアは、被検査物Aを搬送可能な時と同じ位置にある。なお、本変形例では、支持フレーム12dが保守時の状態の間、タイミングベルト12cは、第1コンベア13および第2コンベア14の少なくとも一方から取り外されている。
(5-4) Modification D
In an embodiment, the support frame 12d supports both the first conveyor 13 and the second conveyor 14. However, the support frame 12d may support only one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14. That is, when cleaning the line sensor 30, only one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14 may be temporarily separated from the line sensor 30. In this case, the other conveyor is in the same position as when the object A to be inspected can be conveyed. In this modification, the timing belt 12c is removed from at least one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14 while the support frame 12d is in the maintenance state.

なお、変形例Aおよび変形例Bにおいても、支持フレーム12dは、第1コンベア13および第2コンベア14の一方のみを支持してもよい。すなわち、ラインセンサ30を清掃する際に、第1コンベア13および第2コンベア14の一方のみを、ラインセンサ30から一時的に離すことができてもよい。 In the modified example A and the modified example B, the support frame 12d may support only one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14. That is, when cleaning the line sensor 30, only one of the first conveyor 13 and the second conveyor 14 may be temporarily separated from the line sensor 30.

本発明に係るX線検査装置は、センサの清掃を容易にする機構を備えるので、保守作業を効率的に行うことができる点で有用である。 Since the X-ray inspection apparatus according to the present invention includes a mechanism that facilitates cleaning of the sensor, it is useful in that maintenance work can be performed efficiently.

10 X線検査装置
10a 本体フレーム
12 搬送ユニット
12d 支持フレーム(支持部)
13 第1コンベア
14 第2コンベア
15 コンベア間隙間(隙間)
16 第1隙間側端部(隙間側端部)
17 第2隙間側端部(隙間側端部)
20 X線照射器(X線照射部)
30 ラインセンサ(X線検出部)
61 検査部
62 禁止部
63 判定部
64 報知部
A 被検査物
10 X-ray inspection device 10a Main body frame 12 Conveyance unit 12d Support frame (support part)
13 1st conveyor 14 2nd conveyor 15 Gap between conveyors (gap)
16 First gap side end (gap side end)
17 Second gap side end (gap side end)
20 X-ray irradiator (X-ray irradiator)
30 line sensor (X-ray detector)
61 Inspection unit 62 Prohibition unit 63 Judgment unit 64 Notification unit A Inspected object

特開2012−163485号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-163485

Claims (10)

本体フレームと
前記本体フレームに取り付けられ、被検査物を搬送方向に搬送する搬送ユニットと、
前記搬送ユニットによって搬送されている前記被検査物にX線を照射するX線照射部と、
前記被検査物を透過した前記X線である透過X線を検出するX線検出部と、
前記透過X線に基づき前記被検査物を検査する検査部と、
を備え、
前記搬送ユニットは、
前記搬送方向において隙間を開けて配置されている第1コンベアおよび第2コンベアと、
前記第1コンベアおよび前記第2コンベアの少なくとも一方を支持する支持部と、
を有し、
前記X線検出部は、前記隙間を通過した前記透過X線を検出可能な位置に配置され、
前記支持部は、第1位置と、前記第1位置と比べて前記X線検出部からより離れている第2位置との間を、前記本体フレームから前記第1コンベアおよび前記第2コンベアの少なくとも一方を取り外すことなく移動可能なように設けられている、
X線検査装置。
A transport unit attached to the main body frame and the main body frame to transport the object to be inspected in the transport direction, and a transport unit.
An X-ray irradiation unit that irradiates the object to be inspected, which is conveyed by the transfer unit, with X-rays.
An X-ray detector that detects transmitted X-rays that have passed through the object to be inspected,
An inspection unit that inspects the object to be inspected based on the transmitted X-rays,
With
The transport unit is
The first conveyor and the second conveyor arranged with a gap in the transport direction,
A support portion that supports at least one of the first conveyor and the second conveyor, and
Have,
The X-ray detection unit is arranged at a position where the transmitted X-ray passing through the gap can be detected.
The support portion is located between the first position and the second position, which is farther from the X-ray detector than the first position, at least of the first conveyor and the second conveyor from the main body frame. It is provided so that it can be moved without removing one,
X-ray inspection equipment.
前記支持部は、前記本体フレームに対して回転可能に設けられている、
請求項1に記載のX線検査装置。
The support portion is rotatably provided with respect to the main body frame.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記支持部は、前記搬送方向に直交する方向における両端部の一方を支点にして、前記両端部の他方を持ち上げることができるように、前記本体フレームに対して回転可能に設けられている、
請求項2に記載のX線検査装置。
The support portion is rotatably provided with respect to the main body frame so that one of both end portions in a direction orthogonal to the transport direction can be used as a fulcrum and the other end portion can be lifted.
The X-ray inspection apparatus according to claim 2.
前記第1コンベアおよび前記第2コンベアは、前記搬送方向における端部であって、前記隙間に近い方の前記端部である隙間側端部を有し、
前記支持部は、前記第1コンベアの前記隙間側端部、および、前記第2コンベアの前記隙間側端部の少なくとも一方を持ち上げることができるように、前記本体フレームに対して回転可能に設けられている、
請求項2に記載のX線検査装置。
The first conveyor and the second conveyor have a gap-side end that is an end in the transport direction and is the end closer to the gap.
The support portion is rotatably provided with respect to the main body frame so that at least one of the gap-side end of the first conveyor and the gap-side end of the second conveyor can be lifted. ing,
The X-ray inspection apparatus according to claim 2.
前記支持部は、前記本体フレームに対して平行移動可能に設けられている、
請求項1に記載のX線検査装置。
The support portion is provided so as to be movable in parallel with the main body frame.
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記支持部は、前記本体フレームに対して鉛直方向に移動可能に設けられている、
請求項5に記載のX線検査装置。
The support portion is provided so as to be movable in the vertical direction with respect to the main body frame.
The X-ray inspection apparatus according to claim 5.
前記X線検出部は、前記搬送方向に直交する方向に延びている、
請求項1から6のいずれか1項に記載のX線検査装置。
The X-ray detector extends in a direction orthogonal to the transport direction.
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 6.
前記支持部は、前記第1コンベアおよび前記第2コンベアの両方を支持する、
請求項1から7のいずれか1項に記載のX線検査装置。
The support portion supports both the first conveyor and the second conveyor.
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 7.
前記搬送ユニットは、前記第1コンベアおよび前記第2コンベアが前記第1位置にある場合に、前記被検査物を搬送可能であり、
前記第1コンベアおよび前記第2コンベアの少なくとも一方が前記第1位置にない場合に、前記X線照射部が前記被検査物にX線を照射することを禁止する禁止部をさらに備える、
請求項1から8のいずれか1項に記載のX線検査装置。
The transport unit can transport the object to be inspected when the first conveyor and the second conveyor are in the first position.
The X-ray irradiation unit further includes a prohibition unit that prohibits the X-ray irradiation unit from irradiating the object to be inspected with X-rays when at least one of the first conveyor and the second conveyor is not in the first position.
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 8.
前記X線検出部の清掃の要否を判定する判定部と、
前記判定部が前記X線検出部の清掃が必要であると判定した場合に、その旨を報知する報知部と、
をさらに備える、
請求項1から9のいずれか1項に記載のX線検査装置。
A determination unit that determines the necessity of cleaning the X-ray detection unit, and
When the determination unit determines that the X-ray detection unit needs to be cleaned, a notification unit for notifying that fact and a notification unit
Further prepare,
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 9.
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