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JP6966337B2 - Chemical analyzer and sonic stirring mechanism used in the chemical analyzer - Google Patents
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Description

本発明は、化学分析装置、及び、当該化学分析装置に用いる音波攪拌機構に関する。 The present invention relates to a chemical analyzer and a sonic stirring mechanism used in the chemical analyzer.

化学・医用分析の分野では、サンプルや試薬等の液の微量化が進んでいる。それに関連して、微量なサンプルと試薬の攪拌・混合技術として、特許文献1には、ヘラやスクリューを用いずに、サンプルと試薬を入れた容器の下方から容器の開放口に向けて超音波を照射してサンプルと試薬を非接触で攪拌・混合する技術が記載されている。この技術に係る装置は、容器の下方から容器の開放口に向けて超音波を照射する構成になっている。また、特許文献1には、容器の下方と容器の側方とから容器に向けて超音波を照射してサンプルと試薬を非接触で攪拌・混合する技術も記載されている。この技術に係る装置は、容器の下方と容器の側方とから容器に向けて超音波を照射する構成になっている。 In the field of chemical and medical analysis, the amount of liquids such as samples and reagents is becoming smaller. In relation to this, as a technique for stirring and mixing a small amount of sample and reagent, Patent Document 1 describes ultrasonic waves from below the container containing the sample and reagent toward the opening of the container without using a spatula or a screw. A technique for non-contact stirring and mixing of a sample and a reagent by irradiating with an ultrasonic wave is described. The device according to this technology is configured to irradiate ultrasonic waves from below the container toward the opening of the container. Further, Patent Document 1 also describes a technique of irradiating a container with ultrasonic waves from below the container and from the side of the container to stir and mix the sample and the reagent in a non-contact manner. The device according to this technology is configured to irradiate ultrasonic waves toward the container from below the container and from the side of the container.

また、特許文献2には、反応容器の外部に音源と反射板とを設けると共に、音源と反射板との間に反応容器を配置し、複数の方向から反応容器に向けて音波を間欠的に照射して反応容器内の液体を効率よく攪拌・混合する技術が記載されている。この技術に係る装置は、壁面摩擦の影響を受けない気液界面付近において音響放射圧が支配的な流動である音響流を利用して、反応容器内に水面に対して垂直方向の旋回流(攪拌流)を発生させる構成になっている。 Further, in Patent Document 2, a sound source and a reflector are provided outside the reaction vessel, and a reaction vessel is arranged between the sound source and the reflector, and sound waves are intermittently emitted from a plurality of directions toward the reaction vessel. A technique for efficiently stirring and mixing the liquid in the reaction vessel by irradiating it is described. The device related to this technology utilizes an acoustic flow, which is a flow in which acoustic radiation pressure is dominant near the gas-liquid interface that is not affected by wall friction, and swirls in the reaction vessel in the direction perpendicular to the water surface. It is configured to generate a stirring flow).

また、特許文献3には、サンプル内に音波発生体を浸漬させてサンプルと試薬を攪拌する技術が記載されている。また、特許文献1には、反応容器に音波発生体を接触させてサンプルと試薬を攪拌する技術も記載されている。これらの技術に係る装置は、圧電基板に櫛歯状電極が形成された音波発生体を用いている。そして、特許文献3には、攪拌性能を向上させるために、櫛歯状電極のピッチによって定義される基本周波数f0に対して1.5倍〜2.5倍の駆動周波数を櫛歯状電極に与えて高調波周波数を利用する技術も記載されている。ただし、特許文献3には、音響流の発生方向については説明されているものの、基本周波数と高調波周波数の発生タイミングと音響流による攪拌作用の関係性については説明されておらず、不明になっている。 Further, Patent Document 3 describes a technique of immersing a sound wave generator in a sample and stirring the sample and a reagent. Further, Patent Document 1 also describes a technique of bringing a sound wave generator into contact with a reaction vessel to stir the sample and the reagent. The device related to these techniques uses a sound wave generator in which a comb-shaped electrode is formed on a piezoelectric substrate. Further, in Patent Document 3, in order to improve the stirring performance, the comb-shaped electrode is provided with a driving frequency of 1.5 to 2.5 times the fundamental frequency f0 defined by the pitch of the comb-shaped electrode. Techniques for using the harmonic frequency given are also described. However, although Patent Document 3 describes the generation direction of the acoustic flow, it does not explain the relationship between the generation timing of the fundamental frequency and the harmonic frequency and the stirring action by the acoustic flow, and is unclear. ing.

特開平8−146007号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 8-146007 特開2006−234839号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-234839 特開2009−2918号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-2918

しかしながら、特許文献1に記載された従来技術は、サンプルや試薬等の液量が少ない場合に、強い攪拌力を得ようとして、下方の音波発生手段から強い超音波を照射すると、サンプルの液面が盛り上がり、サンプル液等が飛散する可能性があった。また、特許文献1に記載された従来技術は、サンプルや試薬等の液量が少ない場合に、下方の音波発生手段から照射する超音波が弱すぎると、十分な攪拌を行うことができない可能性があった。 However, in the prior art described in Patent Document 1, when the amount of liquid such as a sample or a reagent is small, when a strong ultrasonic wave is irradiated from a lower sound wave generating means in an attempt to obtain a strong stirring force, the liquid level of the sample is obtained. There was a possibility that the sample liquid and the like would scatter due to the swelling. Further, in the conventional technique described in Patent Document 1, when the amount of liquid such as a sample or a reagent is small, if the ultrasonic wave emitted from the lower sound wave generating means is too weak, sufficient stirring may not be possible. was there.

また、特許文献2に記載された従来技術は、強い攪拌力を得ることができるものである。しかしながら、それでも、特許文献2に記載された従来技術は、サンプルや試薬等の液量が少ない場合に、十分な旋回流の発生を得ることができず、十分な攪拌を行えない可能性があるため、攪拌性能の向上が望まれていた。 Further, the conventional technique described in Patent Document 2 can obtain a strong stirring force. However, even so, the prior art described in Patent Document 2 may not be able to obtain a sufficient swirling flow when the amount of liquid such as a sample or a reagent is small, and may not be able to sufficiently stir. Therefore, improvement in stirring performance has been desired.

また、特許文献3に記載された従来技術は、サンプル内に音波発生体を浸漬させる構成になっている場合に、他のサンプルへのキャリーオーバー(混入現象)が発生する可能性があった。また、特許文献3に記載された従来技術は、反応容器に音波発生体を接触させる構成になっている場合に、反応容器の数だけ音波発生体を用意したり、又は、反応容器に音波発生体を接触させるプロセスが増えたりする。そのため、特許文献3に記載された従来技術は、作業効率が低かった。また、特許文献3に記載された従来技術は、基本周波数f0に対して1.5倍〜2.5倍の駆動周波数を櫛歯状電極に与えて高調波周波数を利用する構成になっている場合に、基本周波数と高調波周波数の発生タイミングと音響流による攪拌作用の関係性については不明である。そのため、特許文献3に記載された従来技術は、攪拌性能を向上させる余地があった。 Further, in the prior art described in Patent Document 3, when the sound wave generator is immersed in the sample, carryover (mixing phenomenon) to another sample may occur. Further, in the prior art described in Patent Document 3, when the sound wave generator is brought into contact with the reaction vessel, as many sound wave generators as the number of reaction vessels are prepared, or the sound wave is generated in the reaction vessel. The process of contacting the body increases. Therefore, the conventional technique described in Patent Document 3 has low work efficiency. Further, the prior art described in Patent Document 3 has a configuration in which a driving frequency 1.5 to 2.5 times the fundamental frequency f0 is given to the comb-shaped electrode to utilize the harmonic frequency. In some cases, the relationship between the timing of fundamental frequency and harmonic frequency generation and the stirring action of the acoustic flow is unclear. Therefore, the prior art described in Patent Document 3 has room for improving the stirring performance.

本発明は、前記した課題を解決するためになされたものであり、液量の少ないサンプルや試薬等に対して良好に攪拌を行う化学分析装置、及び、当該化学分析装置に用いる音波攪拌機構を提供することを主な目的とする。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and includes a chemical analyzer that satisfactorily stirs a sample or a reagent having a small amount of liquid, and a sonic stirring mechanism used in the chemical analyzer. The main purpose is to provide.

前記目的を達成するため、本発明は、化学分析装置であって、分析対象となるサンプルと試薬が注入された反応容器に音波を照射して前記分析対象を攪拌する音波攪拌機構と、前記分析対象の物性を測定する測定器と、を備え、前記音波攪拌機構は、前記反応容器の側面に音波を照射する圧電素子と、前記圧電素子の厚み振動波形が基本周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第1波形発生器と、前記圧電素子の厚み振動波形が前記基本周波数よりも高い周波数である高調波周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第2波形発生器と、前記第1波形発生器及び前記第2波形発生器のいずれか一方の波形発生器に前記圧電素子の駆動を切り替える切替器と、有し、前記反応容器内の気液界面付近に音波を集中的に照射することができ、かつ、前記気液界面付近の凹部の位置に合わせて基本周波数の音波と高調波周波数の音波の発生タイミングを時間的に分離して出力強度を制御しながら音波を発振することにより、音響流の発生位置を制御する構成とする。
その他の手段は、後記する。
In order to achieve the above object, the present invention is a chemical analyzer, which is a sonic stirring mechanism that irradiates a reaction vessel into which a sample and a reagent to be analyzed are injected with a sound wave to stir the analysis target, and the analysis. A measuring instrument for measuring the physical properties of the object is provided, and the sonic stirring mechanism has a piezoelectric element that irradiates a side surface of the reaction vessel with a sound beam, and a thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform of a basic frequency. The first waveform generator that drives the piezoelectric element and the second waveform that drives the piezoelectric element so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform having a harmonic frequency that is higher than the fundamental frequency. a waveform generator, wherein the switching device for switching the drive of the piezoelectric element on either one of the waveform generator of the first waveform generator and the second waveform generator, possess, near the gas-liquid interface of the reaction vessel The output intensity is controlled by temporally separating the generation timing of the fundamental frequency sound wave and the harmonic frequency sound wave according to the position of the recess near the gas-liquid interface. By oscillating a sound wave while doing so, the position where the acoustic flow is generated is controlled .
Other means will be described later.

本発明によれば、液量の少ないサンプルや試薬等に対して良好に攪拌を行うことができる。 According to the present invention, it is possible to satisfactorily stir a sample, a reagent, or the like having a small amount of liquid.

実施形態1に係る化学分析装置の全体構成を概略的に示す構成図である。It is a block diagram which shows schematic the whole structure of the chemical analyzer which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る音波攪拌機構の構成を概略的に示す縦断面図である。It is a vertical sectional view schematically showing the structure of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る音波攪拌機構の駆動回路の構成を概略的に示す概略図である。It is a schematic diagram schematically showing the structure of the drive circuit of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る音波攪拌機構の切替器の構成を概略的に示す概略図である。It is a schematic diagram schematically showing the structure of the switch of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る音波攪拌機構の動作例を概略的に示す上面図である。It is a top view which shows the operation example of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 1. 実施形態1に係る音波攪拌機構による音響流の発生距離と共振周波数との関係を示すグラフ図である。It is a graph which shows the relationship between the generation distance of the acoustic flow by the sound wave agitation mechanism which concerns on Embodiment 1 and a resonance frequency. 実施形態2に係る音波攪拌機構の動作例の説明図である。It is explanatory drawing of the operation example of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 2. 実施形態3に係る音波攪拌機構の動作例の説明図である。It is explanatory drawing of the operation example of the sound wave stirring mechanism which concerns on Embodiment 3.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態(以下、「本実施形態」と称する)について詳細に説明する。なお、各図は、本発明を十分に理解できる程度に、概略的に示してあるに過ぎない。よって、本発明は、図示例のみに限定されるものではない。また、各図において、共通する構成要素や同様な構成要素については、同一の符号を付し、それらの重複する説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention (hereinafter referred to as “the present embodiments”) will be described in detail with reference to the drawings. It should be noted that each figure is merely shown schematically to the extent that the present invention can be fully understood. Therefore, the present invention is not limited to the illustrated examples. Further, in each figure, common components and similar components are designated by the same reference numerals, and duplicate description thereof will be omitted.

[実施形態1]
<化学分析装置の構成>
以下、図1を参照して、本実施形態1に係る化学分析装置1の構成について説明する。図1は、本実施形態1に係る化学分析装置1の全体構成を概略的に示す構成図である。
[Embodiment 1]
<Structure of chemical analyzer>
Hereinafter, the configuration of the chemical analyzer 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. 1. FIG. 1 is a configuration diagram schematically showing the overall configuration of the chemical analyzer 1 according to the first embodiment.

図1に示す例では、本実施形態1に係る化学分析装置1は、反応ディスク3と、恒温槽4と、反応ディスク用ターンテーブル5と、サンプル用ターンテーブル7と、試薬用ターンテーブル9と、サンプリング分注機構10と、試薬分注機構11と、音波攪拌機構12と、測光機構13と、洗浄機構14と、コンソール15と、コントローラ16と、を備えている。 In the example shown in FIG. 1, the chemical analyzer 1 according to the first embodiment includes a reaction disk 3, a constant temperature bath 4, a reaction disk turntable 5, a sample turntable 7, and a reagent turntable 9. A sampling dispensing mechanism 10, a reagent dispensing mechanism 11, a sonic stirring mechanism 12, a photometric mechanism 13, a cleaning mechanism 14, a console 15, and a controller 16 are provided.

反応ディスク3は、反応容器2を格納する格納部である。反応容器2は、分析対象(攪拌対象)となるサンプルや試薬等が注入される容器である。
恒温槽4は、反応ディスク3に格納されている反応容器2を恒温状態に保つ水槽である。反応ディスク3は、恒温槽4の内部に設置されている。
反応ディスク用ターンテーブル5は、反応ディスク3を回転自在に収納する収納部である。反応ディスク用ターンテーブル5は、反応ディスク3を回転させることにより、反応容器2の配置位置を変更する。
The reaction disk 3 is a storage unit for storing the reaction vessel 2. The reaction vessel 2 is a vessel into which a sample, a reagent, or the like to be analyzed (stirring target) is injected.
The constant temperature bath 4 is a water tank that keeps the reaction vessel 2 stored in the reaction disk 3 in a constant temperature state. The reaction disk 3 is installed inside the constant temperature bath 4.
The reaction disk turntable 5 is a storage unit for rotatably storing the reaction disk 3. The reaction disk turntable 5 changes the arrangement position of the reaction vessel 2 by rotating the reaction disk 3.

サンプル用ターンテーブル7は、サンプルカップ6を収納する収納部である。サンプルカップ6は、サンプルが収容されている容器である。
試薬用ターンテーブル9は、試薬ボトル8を収納する収納部である。試薬ボトル8は、試薬が収容されている容器である。
The sample turntable 7 is a storage unit for storing the sample cup 6. The sample cup 6 is a container in which a sample is housed.
The reagent turntable 9 is a storage unit for storing the reagent bottle 8. The reagent bottle 8 is a container in which the reagent is stored.

サンプリング分注機構10は、サンプルを反応容器2に分注(供給)する機構である。
試薬分注機構11は、試薬を反応容器2に分注(供給)する機構である。
音波攪拌機構12は、反応容器2内に分注されたサンプルと試薬の混合物を攪拌する機構である。音波攪拌機構12は、反応容器2に音波を照射することにより、反応容器2内に分注されたサンプルと試薬の混合物を非接触で攪拌することができる。反応容器2内に分注されたサンプルと試薬の混合物は、攪拌対象であると共に、分析対象でもある。
The sampling dispensing mechanism 10 is a mechanism for dispensing (supplying) a sample to the reaction vessel 2.
The reagent dispensing mechanism 11 is a mechanism for dispensing (supplying) the reagent to the reaction vessel 2.
The sonic stirring mechanism 12 is a mechanism for stirring a mixture of the sample and the reagent dispensed in the reaction vessel 2. The sound wave stirring mechanism 12 can stir the mixture of the sample and the reagent dispensed in the reaction vessel 2 in a non-contact manner by irradiating the reaction vessel 2 with sound waves. The mixture of the sample and the reagent dispensed into the reaction vessel 2 is not only an object of stirring but also an object of analysis.

なお、反応容器2内に分注されたサンプルと試薬の混合物は、液状になっている。サンプルと試薬は、共に液状になっている場合もあれば、いずれか一方又は双方が粉体になっていて、それが液状の溶剤に混入されている場合がある。 The mixture of the sample and the reagent dispensed in the reaction vessel 2 is in a liquid state. Both the sample and the reagent may be in liquid form, or one or both of them may be in powder form, which may be mixed in the liquid solvent.

測光機構13は、サンプルや試薬等の物性として、反応容器2内のサンプルと試薬の混合物(分析対象)の吸光度を測定する測定器である。測光機構13は、サンプルと試薬の反応過程中の吸光度及び反応後の吸光度を測定する。ただし、化学分析装置1は、測光機構13の代わりに、又は、測光機構13に加えて、サンプルや試薬等の物性を測定する他の測定器を備える構成であってもよい。 The photometric mechanism 13 is a measuring instrument that measures the absorbance of a mixture (analysis target) of a sample and a reagent in the reaction vessel 2 as a physical property of a sample or a reagent. The photometric mechanism 13 measures the absorbance of the sample and the reagent during the reaction process and the absorbance after the reaction. However, the chemical analyzer 1 may be configured to include, in place of the photometric mechanism 13, or in addition to the photometric mechanism 13, another measuring instrument for measuring the physical properties of a sample, a reagent, or the like.

洗浄機構14は、測定(分析)終了後の反応容器2を洗浄する機構である。
コンソール15は、分析項目や分析対象の液量等の情報を設定する設定部である。
コントローラ16は、各構成要素の動作をコントロールする制御部である。
The cleaning mechanism 14 is a mechanism for cleaning the reaction vessel 2 after the measurement (analysis) is completed.
The console 15 is a setting unit for setting information such as analysis items and the amount of liquid to be analyzed.
The controller 16 is a control unit that controls the operation of each component.

コンソール15では、測定(分析)を開始する前に、分析項目や分析対象の液量等の情報が設定される。コントローラ16は、設定された情報に基づいて、予め用意された制御プログラムに従って、各構成要素の動作を制御する。 On the console 15, information such as analysis items and the amount of liquid to be analyzed is set before starting measurement (analysis). The controller 16 controls the operation of each component according to a control program prepared in advance based on the set information.

<化学分析装置の動作>
係る構成において、化学分析装置1は、以下のように動作する。なお、ここでは、サンプルがサンプルカップ6に収容されていると共に、試薬が試薬ボトル8に収容されているものとして説明する。
<Operation of chemical analyzer>
In such a configuration, the chemical analyzer 1 operates as follows. Here, it is assumed that the sample is contained in the sample cup 6 and the reagent is contained in the reagent bottle 8.

まず、サンプリング分注機構10が、サンプルカップ6に収容されたサンプルを反応容器2内に分注する。
次に、反応ディスク用ターンテーブル5が、反応ディスク3を回転させて、サンプルが分注された反応容器2を試薬分注位置に配置する。
次に、試薬分注機構11が、試薬ボトル8に収容された試薬を反応容器2内に分注する。
First, the sampling dispensing mechanism 10 dispenses the sample contained in the sample cup 6 into the reaction vessel 2.
Next, the reaction disk turntable 5 rotates the reaction disk 3 to place the reaction vessel 2 into which the sample has been dispensed at the reagent dispensing position.
Next, the reagent dispensing mechanism 11 dispenses the reagent contained in the reagent bottle 8 into the reaction vessel 2.

次に、反応ディスク用ターンテーブル5が、反応ディスク3を回転させて、サンプルと試薬が分注された反応容器2を音波攪拌機構12の設置位置に配置する。
次に、音波攪拌機構12が、音波を反応容器2に照射して、反応容器2内のサンプルと試薬の攪拌混合を行う。
Next, the reaction disk turntable 5 rotates the reaction disk 3 and arranges the reaction vessel 2 into which the sample and the reagent are dispensed at the installation position of the sonic stirring mechanism 12.
Next, the sound wave stirring mechanism 12 irradiates the reaction vessel 2 with sound waves to stir and mix the sample and the reagent in the reaction vessel 2.

次に、反応ディスク用ターンテーブル5が、反応ディスク3を回転させて、サンプルと試薬の攪拌混合が行われた反応容器2を測光機構13の設置位置に配置する。
次に、測光機構13が、反応容器2内のサンプルと試薬の混合物(分析対象)の吸光度を測定する。測定は、攪拌が終了した時点から開始され、サンプルと試薬の反応が終了するまで行われる。
Next, the reaction disk turntable 5 rotates the reaction disk 3 and arranges the reaction vessel 2 in which the sample and the reagent are stirred and mixed at the installation position of the photometric mechanism 13.
Next, the photometric mechanism 13 measures the absorbance of the mixture (analysis target) of the sample and the reagent in the reaction vessel 2. The measurement is started from the time when the stirring is completed and is continued until the reaction between the sample and the reagent is completed.

次に、反応ディスク用ターンテーブル5が、反応ディスク3を回転させて、サンプルと試薬の混合物(分析対象)が収容された反応容器2を洗浄機構14の設置位置に配置する。
次に、洗浄機構14が、反応容器2内のサンプルと試薬の混合物(分析対象)を吸引して、反応容器2の洗浄処理を行う。
Next, the reaction disk turntable 5 rotates the reaction disk 3 to arrange the reaction vessel 2 containing the mixture of the sample and the reagent (analysis target) at the installation position of the cleaning mechanism 14.
Next, the cleaning mechanism 14 sucks the mixture (analysis target) of the sample and the reagent in the reaction vessel 2 to perform the cleaning treatment of the reaction vessel 2.

化学分析装置1は、コントローラ16の制御によって、このような一連のプロセスを複数のサンプルに対して逐一バッチ処理的に行う。 The chemical analyzer 1 performs such a series of processes for a plurality of samples in batch processing one by one under the control of the controller 16.

<音波攪拌機構の構成>
化学分析装置1は、以下に説明する音波攪拌機構12を備えることを特徴にしている。以下、図2乃至図4を参照して、音波攪拌機構12の構成について説明する。図2は、音波攪拌機構12の構成を概略的に示す縦断面図である。図3は、音波攪拌機構12の駆動回路25の構成を概略的に示す概略図である。図4は、音波攪拌機構12の切替器35の構成を概略的に示す概略図である。
<Structure of sonic stirring mechanism>
The chemical analyzer 1 is characterized by including a sound wave stirring mechanism 12 described below. Hereinafter, the configuration of the sound wave stirring mechanism 12 will be described with reference to FIGS. 2 to 4. FIG. 2 is a vertical sectional view schematically showing the configuration of the sound wave stirring mechanism 12. FIG. 3 is a schematic diagram schematically showing the configuration of the drive circuit 25 of the sound wave stirring mechanism 12. FIG. 4 is a schematic view schematically showing the configuration of the switch 35 of the sonic stirring mechanism 12.

図2に示すように、音波攪拌機構12は、恒温槽4と、音波発生手段20と、音波反射手段41と、を有している。 As shown in FIG. 2, the sound wave stirring mechanism 12 includes a constant temperature bath 4, a sound wave generating means 20, and a sound wave reflecting means 41.

恒温槽4は、内部に恒温水18が満たされる水槽である。恒温水18の中には、反応容器2の一部が沈め込まれている。恒温槽4は、恒温水18で反応容器2を恒温状態に保っている。
音波発生手段20は、反応容器2に照射される音波を発生する機構である。
音波反射手段41は、音波を反射する部材である。
The constant temperature bath 4 is a water tank in which the constant temperature water 18 is filled. A part of the reaction vessel 2 is submerged in the constant temperature water 18. The constant temperature bath 4 keeps the reaction vessel 2 in a constant temperature state with the constant temperature water 18.
The sound wave generating means 20 is a mechanism for generating a sound wave to be applied to the reaction vessel 2.
The sound wave reflecting means 41 is a member that reflects sound waves.

音波発生手段20は、攪拌素子21と、駆動回路25と、を有している。
攪拌素子21は、反応容器2に音波を照射する音源として機能する素子である。攪拌素子21は、その側面21fを音波の放射面とし、側面21fから音波を放射する。
駆動回路25は、攪拌素子21を駆動する回路である。駆動回路25は、恒温槽4の外部に配置され、配線を介して攪拌素子21と接続されている。
The sound wave generating means 20 includes a stirring element 21 and a drive circuit 25.
The stirring element 21 is an element that functions as a sound source for irradiating the reaction vessel 2 with sound waves. The stirring element 21 has its side surface 21f as a radiation surface of sound waves, and emits sound waves from the side surface 21f.
The drive circuit 25 is a circuit for driving the stirring element 21. The drive circuit 25 is arranged outside the constant temperature bath 4 and is connected to the stirring element 21 via wiring.

攪拌素子21は、圧電素子22と、アース側電極23と、セグメント電極24と、を有している。
圧電素子22は、電圧をかけると応力変化(厚み振動現象)を生じて、電機振動を機械振動に変換する素子である。攪拌素子21は、圧電素子22の厚み振動現象を利用して音波を発生させる。
アース側電極23は、アースに接続される側の電極である。
セグメント電極24は、複数に分割され、アレイ状に配置された電極である。セグメント電極24は、それぞれを独立して駆動することができる。
The stirring element 21 has a piezoelectric element 22, a ground side electrode 23, and a segment electrode 24.
The piezoelectric element 22 is an element that causes a stress change (thickness vibration phenomenon) when a voltage is applied and converts electric vibration into mechanical vibration. The stirring element 21 generates sound waves by utilizing the thickness vibration phenomenon of the piezoelectric element 22.
The ground side electrode 23 is an electrode on the side connected to the ground.
The segment electrode 24 is an electrode that is divided into a plurality of electrodes and arranged in an array. The segment electrodes 24 can be driven independently of each other.

本実施形態1では、アース側電極23は、単体電極として構成されており、圧電素子22の反応容器2に対向する側の面に配置されている。一方、セグメント電極24は、複数に分割された電極として構成されており、圧電素子22の反応容器2に対向しない側の面にアレイ状に配置されている。したがって、攪拌素子21は、片側電極が分割された構成になっている。 In the first embodiment, the ground side electrode 23 is configured as a single electrode and is arranged on the surface of the piezoelectric element 22 facing the reaction vessel 2. On the other hand, the segment electrode 24 is configured as a plurality of divided electrodes, and is arranged in an array on the surface of the piezoelectric element 22 on the side not facing the reaction vessel 2. Therefore, the stirring element 21 has a configuration in which one side electrode is divided.

攪拌素子21と音波反射手段41は、反応容器2を介して互いに対向するように、恒温水18が満たされた恒温槽4の内壁に沿って設けられている。 The stirring element 21 and the sound wave reflecting means 41 are provided along the inner wall of the constant temperature bath 4 filled with the constant temperature water 18 so as to face each other via the reaction vessel 2.

本実施形態1では、音波攪拌機構12は、攪拌素子21の圧電素子22で音波を発生させて、攪拌素子21の側面21fから反応容器2に向けて音波を照射すると共に、反応容器2を通過した音波を音波反射手段41で反射させて反応容器2に再び照射する構成になっている。 In the first embodiment, the sound wave stirring mechanism 12 generates sound waves by the piezoelectric element 22 of the stirring element 21, irradiates the sound waves from the side surface 21f of the stirring element 21 toward the reaction vessel 2, and passes through the reaction vessel 2. The sound wave is reflected by the sound wave reflecting means 41 and the reaction vessel 2 is irradiated again.

なお、音波反射手段41は、音波反射手段41で反射した音波の進行方向が液面のない方向になるように、反射面が傾斜された構成になっている。 The sound wave reflecting means 41 has a structure in which the reflecting surface is inclined so that the traveling direction of the sound wave reflected by the sound wave reflecting means 41 is a direction without a liquid surface.

攪拌素子21から照射された音波は、反応容器2の側面に向かって照射される。音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、反応容器2に伝達され、反応容器2内に入射する。また、反応容器2を通過した音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、音波反射手段41に到達し、音波反射手段41で反射する。そして、反射した音波は、反応容器2に再び照射される。このとき、反射した音波は、反応容器2の側面の下方側に向かって照射される。その際に、反射した音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、反応容器2に伝達され、反応容器2内に入射する。 The sound wave emitted from the stirring element 21 is emitted toward the side surface of the reaction vessel 2. The sound wave propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, is transmitted to the reaction vessel 2, and is incident on the reaction vessel 2. Further, the sound wave that has passed through the reaction vessel 2 propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, reaches the sound wave reflecting means 41, and is reflected by the sound wave reflecting means 41. Then, the reflected sound wave is again applied to the reaction vessel 2. At this time, the reflected sound wave is irradiated toward the lower side of the side surface of the reaction vessel 2. At that time, the reflected sound wave propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, is transmitted to the reaction vessel 2, and is incident on the reaction vessel 2.

反応容器2内に入射された音波は、反応容器2内に満たされている被測定液17の内部を伝搬して気液界面で音響流61(音響直進流)を発生させる。被測定液17は、攪拌対象(分析対象)となる、サンプルと試薬の混合物の液体である。音響流61は、被測定液17を白抜き矢印の方向に押圧することによって、位置62sで攪拌流62を生じさせる。攪拌流62は、被測定液17を実線矢印の方向に押圧することによって、被測定液17内のサンプルと試薬の攪拌を行う。 The sound wave incident on the reaction vessel 2 propagates inside the liquid to be measured 17 filled in the reaction vessel 2 to generate an acoustic flow 61 (acoustic straight flow) at the gas-liquid interface. The liquid to be measured 17 is a liquid of a mixture of a sample and a reagent to be agitated (analyzed). The acoustic flow 61 presses the liquid 17 to be measured in the direction of the white arrow to generate a stirring flow 62 at the position 62s. The stirring flow 62 stirs the sample and the reagent in the liquid to be measured 17 by pressing the liquid 17 to be measured in the direction of the solid arrow.

本実施形態1では、圧電素子22で発生される音波が1万6千HZ以上の超音波であり、音波攪拌機構12がその超音波を用いて反応容器2内のサンプルと試薬の混合物(攪拌対象)の攪拌を行うものとして説明する。ただし、音波攪拌機構12は、攪拌対象の攪拌を十分に行うことができるのであれば、超音波に限らず、1万6千HZ未満の音波も用いることができる。したがって、本発明は、1万6千HZ未満の音波を用いて攪拌対象の攪拌を行う場合を含むものである。 In the first embodiment, the sound wave generated by the piezoelectric element 22 is an ultrasonic wave of 16,000 Hz or more, and the sound wave stirring mechanism 12 uses the ultrasonic wave to mix (stir) the sample and the reagent in the reaction vessel 2. The subject) will be described as being agitated. However, the sound wave stirring mechanism 12 can use not only ultrasonic waves but also sound waves of less than 16,000 Hz as long as the stirring target can be sufficiently stirred. Therefore, the present invention includes the case where the stirring target is stirred using a sound wave of less than 16,000 Hz.

図3は、音波攪拌機構12の駆動回路25の具体的な構成を示している。図3に示すように、駆動回路25は、制御器31と、基本周波数波形発生器32と、高調波周波数波形発生器33と、増幅器34と、切替器35と、を有している。 FIG. 3 shows a specific configuration of the drive circuit 25 of the sound wave stirring mechanism 12. As shown in FIG. 3, the drive circuit 25 includes a controller 31, a fundamental frequency waveform generator 32, a harmonic frequency waveform generator 33, an amplifier 34, and a switch 35.

制御器31は、駆動回路25の全体の動作を制御する機能手段である。制御器31は、コントローラ16(図1参照)に接続されている。 The controller 31 is a functional means for controlling the overall operation of the drive circuit 25. The controller 31 is connected to the controller 16 (see FIG. 1).

基本周波数波形発生器32は、基本周波数の波形の電圧信号を発生する機能手段である。
高調波周波数波形発生器33は、基本周波数よりも高い高調波周波数の波形の電圧信号を発生する機能手段である。
増幅器34は、基本周波数波形発生器32又は高調波周波数波形発生器33から出力された電圧信号を増幅する機能手段である。
切替器35は、基本周波数波形発生器32及び高調波周波数波形発生器33のいずれか一方の波形発生器に圧電素子22の駆動を切り替える機能手段である。
The fundamental frequency waveform generator 32 is a functional means for generating a voltage signal having a fundamental frequency waveform.
The harmonic frequency waveform generator 33 is a functional means for generating a voltage signal having a waveform having a harmonic frequency higher than the fundamental frequency.
The amplifier 34 is a functional means for amplifying the voltage signal output from the fundamental frequency waveform generator 32 or the harmonic frequency waveform generator 33.
The switch 35 is a functional means for switching the drive of the piezoelectric element 22 to the waveform generator of either the fundamental frequency waveform generator 32 or the harmonic frequency waveform generator 33.

基本周波数波形発生器32は、圧電素子22の厚み振動波形が基本周波数の振動波形となるように、圧電素子22を駆動する第1波形発生器として機能する。
また、高調波周波数波形発生器33は、圧電素子22の厚み振動波形が基本周波数よりも高い周波数である高調波周波数の振動波形となるように、圧電素子22を駆動する第2波形発生器として機能する。
The fundamental frequency waveform generator 32 functions as a first waveform generator that drives the piezoelectric element 22 so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element 22 becomes the vibration waveform of the fundamental frequency.
Further, the harmonic frequency waveform generator 33 serves as a second waveform generator that drives the piezoelectric element 22 so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element 22 becomes a vibration waveform having a harmonic frequency having a frequency higher than the fundamental frequency. Function.

図4は、切替器35の具体的な構成を示している。図4に示すように、切替器35は、それぞれ複数の配線35aとスイッチ35bと配線35cとを有している。配線35a,35cとスイッチ35bのそれぞれは、攪拌素子21のセグメント電極24のそれぞれに対応しており、並列に配列されている。配線35aは、増幅器34とスイッチ35bとに接続されている。配線35c、スイッチ35bとセグメント電極24とに接続されている。 FIG. 4 shows a specific configuration of the switch 35. As shown in FIG. 4, the switch 35 has a plurality of wirings 35a, switches 35b, and wirings 35c, respectively. The wirings 35a and 35c and the switch 35b each correspond to each of the segment electrodes 24 of the stirring element 21 and are arranged in parallel. The wiring 35a is connected to the amplifier 34 and the switch 35b. It is connected to the wiring 35c, the switch 35b, and the segment electrode 24.

切替器35は、図示せぬ配線を介して制御器31から切替信号が入力されることにより、各スイッチ35bのON/OFFを切り替える。これにより、攪拌素子21の任意の箇所のセグメント電極24に電圧信号を出力(印加)する。なお、スイッチ35bは、MOSFET等のトランジスタが用いられる。 The switch 35 switches ON / OFF of each switch 35b by inputting a switching signal from the controller 31 via wiring (not shown). As a result, a voltage signal is output (applied) to the segment electrode 24 at an arbitrary position of the stirring element 21. A transistor such as a MOSFET is used for the switch 35b.

係る構成において、駆動回路25の制御器31は、コントローラ16(図1参照)から制御に関する情報101(図2参照)を受け取る。情報101(図2参照)は、例えば、反応容器2内の攪拌対象(分析対象)の液量(すなわち、反応容器2内に分注されているサンプルと試薬の量)や、攪拌対象(分析対象)を攪拌するタイミング等の情報である。 In such a configuration, the controller 31 of the drive circuit 25 receives control information 101 (see FIG. 2) from the controller 16 (see FIG. 1). Information 101 (see FIG. 2) includes, for example, the amount of liquid of the stirring target (analysis target) in the reaction vessel 2 (that is, the amount of the sample and the reagent dispensed in the reaction vessel 2) and the stirring target (analysis). Information such as the timing of stirring the target).

制御器31(図3及び図4参照)は、情報101(図2参照)から反応容器2内に満たされている攪拌対象(分析対象)である被測定液17(図2参照)の液面高さを計算し、その液面を含めた最適な音波51の照射領域52を決定する。 The controller 31 (see FIGS. 3 and 4) is the liquid level of the liquid to be measured 17 (see FIG. 2) which is the stirring target (analysis target) filled in the reaction vessel 2 from the information 101 (see FIG. 2). The height is calculated, and the optimum irradiation area 52 of the sound wave 51 including the liquid level is determined.

制御器31は、照射領域52を決定すると、複数のセグメント電極24の中から、照射領域52に対応するセグメント電極24を選択する。選択されたセグメント電極24は、音波を出力させる部位の電極である。制御器31は、攪拌素子21の圧電素子22に対し、選択されたセグメント電極24の部位を集中的に駆動する。 When the controller 31 determines the irradiation region 52, the controller 31 selects the segment electrode 24 corresponding to the irradiation region 52 from the plurality of segment electrodes 24. The selected segment electrode 24 is an electrode at a site where a sound wave is output. The controller 31 intensively drives the portion of the selected segment electrode 24 with respect to the piezoelectric element 22 of the stirring element 21.

制御器31は、照射領域52に対応するセグメント電極24を選択すると、基本周波数波形発生器32を制御して、所望のタイミングで基本周波数の電圧信号を生成させて増幅器34に出力させる。また、制御器31は、高調波周波数波形発生器33を制御して、所望のタイミングで高調波周波数の電圧信号を生成させて増幅器34に出力させる。 When the segment electrode 24 corresponding to the irradiation region 52 is selected, the controller 31 controls the fundamental frequency waveform generator 32 to generate a voltage signal of the fundamental frequency at a desired timing and output it to the amplifier 34. Further, the controller 31 controls the harmonic frequency waveform generator 33 to generate a voltage signal of the harmonic frequency at a desired timing and output it to the amplifier 34.

増幅器34は、基本周波数波形発生器32又は高調波周波数波形発生器33から出力された電圧信号を増幅して切替器35に出力する。制御器31は、切替器35を制御して、増幅器34から出力された電圧信号を、照射領域52に対応するセグメント電極24に出力(印加)させる。攪拌素子21の圧電素子22は、厚み振動現象により、電圧信号が入力(印加)されたセグメント電極24の配置箇所で振動する。これにより、攪拌素子21は、反応容器2(特に、照射領域52)に向けて音波を照射する。 The amplifier 34 amplifies the voltage signal output from the fundamental frequency waveform generator 32 or the harmonic frequency waveform generator 33 and outputs it to the switch 35. The controller 31 controls the switch 35 to output (apply) the voltage signal output from the amplifier 34 to the segment electrode 24 corresponding to the irradiation region 52. The piezoelectric element 22 of the stirring element 21 vibrates at the location where the segment electrode 24 to which the voltage signal is input (applied) is arranged due to the thickness vibration phenomenon. As a result, the stirring element 21 irradiates the reaction vessel 2 (particularly, the irradiation region 52) with sound waves.

攪拌素子21は、基本周波数波形発生器32から出力され増幅器34で増幅された基本周波数の電圧信号が入力(印加)されると、基本周波数の電圧信号の振幅に応じた波形の音波を照射する。以下、基本周波数の電圧信号の振幅に応じた波形の音波を照射する期間を「基本モード」と称する。 When the fundamental frequency voltage signal output from the fundamental frequency waveform generator 32 and amplified by the amplifier 34 is input (applied), the stirring element 21 irradiates a sound wave having a waveform corresponding to the amplitude of the fundamental frequency voltage signal. .. Hereinafter, the period of irradiating a sound wave having a waveform corresponding to the amplitude of a voltage signal having a fundamental frequency is referred to as a “basic mode”.

また、攪拌素子21は、高調波周波数波形発生器33から出力され増幅器34で増幅された高調波周波数の電圧信号が入力(印加)されると、高調波周波数の電圧信号の振幅に応じた波形の音波を照射する。以下、高調波周波数の電圧信号の振幅に応じた波形の音波を照射する期間を「高調波モード」と称する。 Further, when the harmonic frequency voltage signal output from the harmonic frequency waveform generator 33 and amplified by the amplifier 34 is input (applied), the stirring element 21 has a waveform corresponding to the amplitude of the harmonic frequency voltage signal. Irradiate the sound of. Hereinafter, the period of irradiating the sound wave of the waveform corresponding to the amplitude of the voltage signal of the harmonic frequency is referred to as “harmonic mode”.

駆動回路25から圧電素子22に入力(印加)される電圧信号は、基本モードと高調波モードとで、振幅変調された波形になっている。そのため、照射された音波の波形は、基本モードと高調波モードとで、電圧信号の振幅の変化に応じて変化したものとなっている。 The voltage signal input (applied) from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22 has an amplitude-modulated waveform in the basic mode and the harmonic mode. Therefore, the waveform of the irradiated sound wave changes in the basic mode and the harmonic mode according to the change in the amplitude of the voltage signal.

前記したように、攪拌素子21から照射された音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、反応容器2に伝達され、反応容器2内に入射する。また、反応容器2を通過した音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、音波反射手段41に到達し、音波反射手段41で反射する。そして、反射した音波は、反応容器2に再び照射される。その際に、反射した音波は、恒温槽4内の恒温水18の内部を伝搬して、反応容器2に伝達され、反応容器2内に入射する。 As described above, the sound wave irradiated from the stirring element 21 propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, is transmitted to the reaction vessel 2, and is incident on the reaction vessel 2. Further, the sound wave that has passed through the reaction vessel 2 propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, reaches the sound wave reflecting means 41, and is reflected by the sound wave reflecting means 41. Then, the reflected sound wave is again applied to the reaction vessel 2. At that time, the reflected sound wave propagates inside the constant temperature water 18 in the constant temperature bath 4, is transmitted to the reaction vessel 2, and is incident on the reaction vessel 2.

ところで、図2乃至図4に示すように、音波攪拌機構12は、一枚の圧電素子22に対して複数のセグメント電極24がアレイ状に配置された攪拌素子21を音源として用いる構成になっている。 By the way, as shown in FIGS. 2 to 4, the sound wave stirring mechanism 12 is configured to use a stirring element 21 in which a plurality of segment electrodes 24 are arranged in an array with respect to one piezoelectric element 22 as a sound source. There is.

そして、図3及び図4に示すように、音波攪拌機構12は、切替器35を用いて、所望の照射領域52に対応するセグメント電極24に選択的に電圧信号(発生波形)を印加することによって、圧電素子22の任意の箇所を選択的に振動させることができる。 Then, as shown in FIGS. 3 and 4, the sound wave stirring mechanism 12 selectively applies a voltage signal (generated waveform) to the segment electrode 24 corresponding to the desired irradiation region 52 by using the switch 35. It is possible to selectively vibrate any part of the piezoelectric element 22.

このような音波攪拌機構12は、単一の攪拌素子21で、複数の圧電素子22をアレイ状に配置した構成の音源と機能的に等価な音源を実現している。また、本実施形態1の攪拌素子21は、容易に量産することができると共に、スクリーン印刷等で電極パターンを成形すれば製作時間を短縮することも可能である。そのため、音波攪拌機構12は、低コスト化を実現することができる。 Such a sound wave stirring mechanism 12 is a single stirring element 21 and realizes a sound source functionally equivalent to a sound source having a configuration in which a plurality of piezoelectric elements 22 are arranged in an array. Further, the stirring element 21 of the first embodiment can be easily mass-produced, and the manufacturing time can be shortened by molding the electrode pattern by screen printing or the like. Therefore, the sound wave stirring mechanism 12 can realize cost reduction.

また、攪拌素子21は、構造が極めて単純であるため、音波攪拌機構12の信頼性を向上させることができる。また、攪拌素子21は、例えば、旧来のヘラ等の攪拌棒をロボットアームで動かす攪拌機構に比べてサイズが大幅に小型化されるため、音波攪拌機構12全体の小型化を実現することができる。 Further, since the stirring element 21 has an extremely simple structure, the reliability of the sound wave stirring mechanism 12 can be improved. Further, since the size of the stirring element 21 is significantly smaller than that of the stirring mechanism for moving a stirring rod such as a conventional spatula with a robot arm, the size of the entire sonic stirring mechanism 12 can be reduced. ..

<音響流が発生する原理>
ここで、反応容器2内で音響流61が発生する原理について説明する。
図2に示すように、音波が反応容器2内に入射されると、音波は、反応容器2内に満たされている被測定液17の内部を伝搬して気液界面(自由液面)に達する。一般に液体中を伝搬してきた音波が自由液面に達すると、液体には気体側に飛び出させる力(音響放射圧が主要因)が作用する。これにより、気液界面(自由液面)で音響流61が発生する。その音響流61は、さらに位置62sで攪拌流62を生じさせる。
<Principle of generating acoustic flow>
Here, the principle that the acoustic flow 61 is generated in the reaction vessel 2 will be described.
As shown in FIG. 2, when a sound wave is incident on the reaction vessel 2, the sound wave propagates inside the liquid to be measured 17 filled in the reaction vessel 2 and reaches the gas-liquid interface (free liquid surface). Reach. Generally, when a sound wave propagating in a liquid reaches the free liquid surface, a force (acoustic radiation pressure is the main factor) that causes the liquid to jump out to the gas side acts on the liquid. As a result, the acoustic flow 61 is generated at the gas-liquid interface (free liquid surface). The acoustic flow 61 further generates a stirring flow 62 at the position 62s.

なお、本実施形態に係る音波攪拌機構12は、基本モードと高調波モードとを切り替えて、音波の波形を変化させることにより、液体を気体側に飛び出させる力を制御することができる。 The sound wave stirring mechanism 12 according to the present embodiment can control the force of ejecting the liquid to the gas side by switching between the basic mode and the harmonic mode and changing the waveform of the sound wave.

音響流61の発生には、基本モードと高調波モードで発生する電圧信号を大振幅で励振することや、音波の伝搬過程で非線形現象により生じる気液界面の波形の歪みが大きくなるように高調波モードのエネルギー比率を高くすること等が必要である。 To generate the acoustic flow 61, the voltage signals generated in the basic mode and the harmonic mode are excited with a large amplitude, and the harmonics are generated so that the distortion of the waveform at the gas-liquid interface caused by the nonlinear phenomenon in the sound wave propagation process becomes large. It is necessary to increase the energy ratio of the wave mode.

ここで、音響流61の発生距離Xsは、以下の式(1)で与えられる。音響流61の発生距離Xsは、音波の放射面である攪拌素子21の側面21fから音響流61の発生位置までの距離である。発生距離Xsがどのような距離であるのかについては、図5と図6を用いて後記する。
Xs=C0/(βωM) …(1)
ここで、C0は伝搬媒質の音速である。また、βは非線形係数である。また、ωは角周波数(ただし、ω=2πf:fは音波の共振周波数)である。また、Mはマッハ数(音響マッハ数)である。
Here, the generation distance Xs of the acoustic flow 61 is given by the following equation (1). The generation distance Xs of the acoustic flow 61 is the distance from the side surface 21f of the stirring element 21, which is the radiation surface of the sound wave, to the generation position of the acoustic flow 61. The distance generated by Xs will be described later with reference to FIGS. 5 and 6.
Xs = C0 / (βωM)… (1)
Here, C0 is the speed of sound of the propagation medium. Also, β is a non-linear coefficient. Further, ω is an angular frequency (where ω = 2πf: f is the resonance frequency of the sound wave). Further, M is a Mach number (acoustic Mach number).

式(1)から分かるように、音響流61の発生距離Xsは、角周波数ω(すなわち、音波の共振周波数f)を変化させることにより、変化させることができる。 As can be seen from the equation (1), the generation distance Xs of the acoustic flow 61 can be changed by changing the angular frequency ω (that is, the resonance frequency f of the sound wave).

以下、図5と図6を参照して、音響流61の発生距離Xsと音波の共振周波数fとの関係について説明する。図5は、本実施形態1に係る音波攪拌機構12の動作例を概略的に示す上面図である。図6は、音波攪拌機構12による音響流61の発生距離Xsと音波の共振周波数fとの関係を示すグラフ図である。 Hereinafter, the relationship between the generation distance Xs of the acoustic flow 61 and the resonance frequency f of the sound wave will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG. 5 is a top view schematically showing an operation example of the sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment. FIG. 6 is a graph showing the relationship between the generation distance Xs of the acoustic flow 61 by the sound wave stirring mechanism 12 and the resonance frequency f of the sound wave.

図5は、上方から見た音波攪拌機構12の動作状態を示している。なお、図5に示す長方形は、反応容器2を模式的に示している。ここでは、攪拌素子21は、均一な厚みの圧電素子22を有しているものとして説明する。また、x方向を音波の伝搬方向とし、y方向を攪拌素子21(圧電素子22)の側面21f(音波の放射面)の延在方向として説明する。 FIG. 5 shows the operating state of the sound wave stirring mechanism 12 as seen from above. The rectangle shown in FIG. 5 schematically shows the reaction vessel 2. Here, the stirring element 21 will be described as having a piezoelectric element 22 having a uniform thickness. Further, the x direction will be described as the propagation direction of the sound wave, and the y direction will be described as the extending direction of the side surface 21f (radiating surface of the sound wave) of the stirring element 21 (piezoelectric element 22).

ここで、仮想的な比較例の音波攪拌機構として、駆動回路25から圧電素子22に基本周波数f1の1種類の電圧信号しか印加することができない構成の音波攪拌機構を想定したとする。 Here, as a sonic stirring mechanism of a virtual comparative example, it is assumed that a sonic stirring mechanism having a configuration in which only one type of voltage signal having a fundamental frequency f1 can be applied from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22.

このような仮想的な比較例の音波攪拌機構は、駆動回路25から圧電素子22に基本周波数f1の電圧信号を印加することにより、基本周波数f1に対応する波形の音波51を発振する。音波51は、x方向に同位相かつ同波長で反応容器2に照射される。 The sound wave stirring mechanism of such a virtual comparative example oscillates a sound wave 51 having a waveform corresponding to the fundamental frequency f1 by applying a voltage signal having a fundamental frequency f1 from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22. The sound wave 51 irradiates the reaction vessel 2 with the same phase and the same wavelength in the x direction.

このとき、比較例では、反応容器2の内部での音響流61の発生位置は、y方向の位置y1から位置y2に亘って、x方向に一定の位置x2となる。したがって、比較例では、攪拌素子21の側面21fから音響流61の発生位置x2までの距離Loldが、音響流61の発生距離Xsとなる。 At this time, in the comparative example, the position where the acoustic flow 61 is generated inside the reaction vessel 2 is a constant position x2 in the x direction from the position y1 in the y direction to the position y2. Therefore, in the comparative example, the distance Mold from the side surface 21f of the stirring element 21 to the generation position x2 of the acoustic flow 61 is the generation distance Xs of the acoustic flow 61.

これに対し、本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、駆動回路25から圧電素子22に基本周波数f1と高調波周波数f2との2種類の電圧信号を印加することができる構成になっている。 On the other hand, the sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment has a configuration in which two types of voltage signals having a fundamental frequency f1 and a harmonic frequency f2 can be applied from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22. ..

このような本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、基本モード時に、駆動回路25から圧電素子22に基本周波数f1の電圧信号を印加することにより、基本周波数f1に対応する波形の音波51を発振する。基本周波数f1に対応する波形の音波51は、x方向に同位相かつ同波長で反応容器2に照射される。また、本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、高調波モード時に、駆動回路25から圧電素子22に高調波周波数f2の電圧信号を印加することにより、高調波周波数f2に対応する波形の音波51を発振する。高調波周波数f2に対応する波形の音波51は、x方向に同位相かつ同波長で反応容器2に照射される。 Such a sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment applies a voltage signal having a fundamental frequency f1 from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22 in the basic mode to generate a sound wave 51 having a waveform corresponding to the fundamental frequency f1. It oscillates. The sound wave 51 having a waveform corresponding to the fundamental frequency f1 irradiates the reaction vessel 2 with the same phase and the same wavelength in the x direction. Further, the sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment applies a voltage signal having a harmonic frequency f2 from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22 in the harmonic mode, so that the sound wave has a waveform corresponding to the harmonic frequency f2. Oscillate 51. The sound wave 51 having a waveform corresponding to the harmonic frequency f2 irradiates the reaction vessel 2 with the same phase and the same wavelength in the x direction.

本実施形態1では、基本モード時において、比較例と同様に、反応容器2の内部での音響流61の発生位置は、y方向の位置y1から位置y2に亘って、x方向に一定の位置x2となる。したがって、比較例では、攪拌素子21の側面21fから音響流61の発生位置x2までの距離Loldが、音響流61の発生距離Xsとなる。 In the first embodiment, in the basic mode, the position where the acoustic flow 61 is generated inside the reaction vessel 2 is a constant position in the x direction from the position y1 in the y direction to the position y2, as in the comparative example. It becomes x2. Therefore, in the comparative example, the distance Mold from the side surface 21f of the stirring element 21 to the generation position x2 of the acoustic flow 61 is the generation distance Xs of the acoustic flow 61.

前記した通り、音響流61の発生距離Xsは、角周波数ω(すなわち、音波の共振周波数f)を変化させることにより、変化させることができる。音響流61の発生距離Xsと音波の共振周波数fとの関係は、図6に示すような関係になっている。つまり、音波の共振周波数fが高いほど、音響流61の発生距離Xsが短くなる関係になっている。 As described above, the generation distance Xs of the acoustic flow 61 can be changed by changing the angular frequency ω (that is, the resonance frequency f of the sound wave). The relationship between the generation distance Xs of the acoustic flow 61 and the resonance frequency f of the sound wave is as shown in FIG. That is, the higher the resonance frequency f of the sound wave, the shorter the generation distance Xs of the acoustic flow 61.

そのため、本実施形態1では、高調波モード時において、反応容器2の内部での音響流61の発生位置は、y方向の位置y1から位置y2に亘って、x方向に、位置x2よりも攪拌素子21(圧電素子22)に近い、一定の位置x1となる。したがって、本実施形態1では、攪拌素子21の側面21fから音響流61の発生位置x1までの距離Lnewが、音響流61の発生距離Xsとなる。 Therefore, in the first embodiment, in the harmonic mode, the position where the acoustic flow 61 is generated inside the reaction vessel 2 is agitated in the x direction from the position y1 in the y direction to the position y2, rather than the position x2. It is a fixed position x1 close to the element 21 (piezoelectric element 22). Therefore, in the first embodiment, the distance Lnew from the side surface 21f of the stirring element 21 to the generation position x1 of the acoustic flow 61 is the generation distance Xs of the acoustic flow 61.

したがって、図5に示すように、本実施形態1では、音響流61の発生距離Xsは、音波の共振周波数fが高いほど、攪拌素子21(圧電素子22)に近くなる。つまり、本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、高調波モード時に、基本モード時よりも音響流61の発生距離Xsを短くすることができる。その結果、本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、高調波モード時に、基本モード時よりも反応容器2の内部での音響流61の発生位置を攪拌素子21(圧電素子22)に近づけることができる。 Therefore, as shown in FIG. 5, in the first embodiment, the generation distance Xs of the acoustic flow 61 becomes closer to the stirring element 21 (piezoelectric element 22) as the resonance frequency f of the sound wave becomes higher. That is, the sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment can shorten the generation distance Xs of the acoustic flow 61 in the harmonic mode as compared with the basic mode. As a result, the sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment brings the position where the acoustic flow 61 is generated inside the reaction vessel 2 closer to the stirring element 21 (piezoelectric element 22) in the harmonic mode than in the basic mode. Can be done.

このような本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、駆動回路25から圧電素子22に印加する音波の周波数を基本周波数f1又は高調波周波数f2のいずれか一方に変更する。これにより、音波攪拌機構12は、基本モードと高調波モードとを使い分けることができる。そして、音波攪拌機構12は、基本モード時に、音響流61の発生位置を、攪拌素子21(圧電素子22)から遠い側の位置x2に設定することができる。また、音波攪拌機構12は、高調波モード時に、音響流61の発生位置を、攪拌素子21(圧電素子22)に近い遠い側の位置x1に設定することができる。 Such a sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment changes the frequency of the sound wave applied from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22 to either the fundamental frequency f1 or the harmonic frequency f2. Thereby, the sound wave stirring mechanism 12 can properly use the basic mode and the harmonic mode. Then, the sound wave stirring mechanism 12 can set the generation position of the acoustic flow 61 to the position x2 on the side far from the stirring element 21 (piezoelectric element 22) in the basic mode. Further, the sound wave stirring mechanism 12 can set the generation position of the acoustic flow 61 to the position x1 on the far side close to the stirring element 21 (piezoelectric element 22) in the harmonic mode.

このような本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、基本モードと高調波モードとを使い分けることにより、音響流61の発生距離Xsに幅を持たせることができる。例えば、一例として、攪拌素子21の側面21fを原点とし、側面21fからの位置x1が約7mmとなり、側面21fからの位置x2が約12mmとなる場合に、音波攪拌機構12は、音響流61の発生距離Xsに対して、「(x2−x1)」で約5mmの幅を持たせることができる。 The sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment can have a range in the generation distance Xs of the acoustic flow 61 by properly using the basic mode and the harmonic mode. For example, when the side surface 21f of the stirring element 21 is the origin, the position x1 from the side surface 21f is about 7 mm, and the position x2 from the side surface 21f is about 12 mm, the sound wave stirring mechanism 12 is the acoustic flow 61. With respect to the generation distance Xs, a width of about 5 mm can be provided by "(x2-x1)".

なお、本実施形態1において、駆動回路25から圧電素子22に印加される電圧信号の波形は、基本モードと高調波モードとでそれぞれ単一周波数f1,f2の波形であることが望ましい。また、高調波周波数が基本周波数の整数倍(例えば2倍)であることが望ましい。これにより、音波攪拌機構12は、攪拌に利用する音波エネルギーの変化量を効率よく制御することができ、攪拌力を向上させることができる。 In the first embodiment, it is desirable that the waveform of the voltage signal applied from the drive circuit 25 to the piezoelectric element 22 is a waveform of a single frequency f1 and f2 in the basic mode and the harmonic mode, respectively. Further, it is desirable that the harmonic frequency is an integral multiple (for example, twice) of the fundamental frequency. As a result, the sonic stirring mechanism 12 can efficiently control the amount of change in the sonic energy used for stirring, and can improve the stirring force.

このような本実施形態1に係る音波攪拌機構12は、基本モードと高調波モードとを使い分けることにより、音響流61の発生距離Xsを変化させて、反応容器2の内部での音響流61の発生位置を変化させることができる。これにより、音波攪拌機構12は、反応容器2の内部で十分な旋回流を得ることができる。その結果、音波攪拌機構12は、液量の少ないサンプルや試薬等に対して良好に攪拌を行うことができる。また、本実施形態1に係る化学分析装置1は、その音波攪拌機構12を用いることにより、液量の少ないサンプルや試薬等に対して良好に攪拌を行うことができる。 Such a sound wave stirring mechanism 12 according to the first embodiment changes the generation distance Xs of the acoustic flow 61 by properly using the basic mode and the harmonic mode, and the acoustic flow 61 inside the reaction vessel 2. The position of occurrence can be changed. As a result, the sonic stirring mechanism 12 can obtain a sufficient swirling flow inside the reaction vessel 2. As a result, the sonic stirring mechanism 12 can satisfactorily stir a sample, a reagent, or the like having a small amount of liquid. Further, the chemical analyzer 1 according to the first embodiment can satisfactorily stir a sample or a reagent having a small amount of liquid by using the sonic stirring mechanism 12.

なお、音波攪拌機構12は、運用次第で、基本モードと高調波モードとを交互に実行する構成にすることができる。また、音波攪拌機構12は、停止期間を間に挟みながら基本モードを断続的に連続して実行する構成にすることもできる。さらに、音波攪拌機構12は、停止期間を間に挟みながら高調波モードを断続的に連続して実行する構成にすることもできる。 The sound wave stirring mechanism 12 can be configured to alternately execute the basic mode and the harmonic mode depending on the operation. Further, the sonic stirring mechanism 12 may be configured to intermittently and continuously execute the basic mode with a stop period in between. Further, the sonic stirring mechanism 12 may be configured to intermittently and continuously execute the harmonic mode with a stop period in between.

以上の通り、本実施形態1に係る音波攪拌機構12及びその音波攪拌機構12を用いる化学分析装置1によれば、液量の少ないサンプルや試薬等に対して良好に攪拌を行うことができる。 As described above, according to the sonic stirring mechanism 12 according to the first embodiment and the chemical analyzer 1 using the sonic stirring mechanism 12, it is possible to satisfactorily stir a sample or a reagent having a small amount of liquid.

[実施形態2]
本実施形態2は、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17t(図7参照)の高さに合わせて、気液界面17t付近に集中的に音波を照射する音波攪拌機構12Aを提供するものである。
[Embodiment 2]
In the second embodiment, sound wave stirring is performed by intensively irradiating the vicinity of the gas-liquid interface 17t with sound waves in accordance with the height of the gas-liquid interface 17t (see FIG. 7) of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2. It provides the mechanism 12A.

以下、図7を参照して、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aの詳細について説明する。図7は、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aの動作例の説明図である。ここでは、x方向を音波の伝搬方向とし、z方向を上下方向(気液界面17tの高さ方向)として説明する。 Hereinafter, the details of the sound wave stirring mechanism 12A according to the second embodiment will be described with reference to FIG. 7. FIG. 7 is an explanatory diagram of an operation example of the sound wave stirring mechanism 12A according to the second embodiment. Here, the x direction is the propagation direction of the sound wave, and the z direction is the vertical direction (the height direction of the gas-liquid interface 17t).

本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、実施形態1の音波攪拌機構12(図1乃至図4参照)と同じ構成になっている。 The sonic stirring mechanism 12A according to the second embodiment has the same configuration as the sonic stirring mechanism 12 (see FIGS. 1 to 4) of the first embodiment.

ただし、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、実施形態1の音波攪拌機構12と異なり、攪拌素子21から音波を発振する方向を限定することができる。そして、図7に示すように、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17tの高さに合わせて、気液界面17t付近に集中的に音波を照射するように、攪拌素子21を駆動する。以下、攪拌素子21の中で集中的に駆動される部分を「集中駆動部21Co」と称する。 However, unlike the sound wave stirring mechanism 12 of the first embodiment, the sound wave stirring mechanism 12A according to the second embodiment can limit the direction in which the sound wave is oscillated from the stirring element 21. Then, as shown in FIG. 7, the sonic stirring mechanism 12A according to the second embodiment is in the vicinity of the gas-liquid interface 17t in accordance with the height of the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2. The stirring element 21 is driven so as to irradiate the sound wave intensively. Hereinafter, the portion of the stirring element 21 that is intensively driven is referred to as a “centralized drive unit 21Co”.

図7に示すように、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、集中駆動部21Coの攪拌素子21から反応容器2に向けて音波51を照射する。照射された音波51は、反応容器2に到達すると、反応容器2内に入射する。反応容器2内に入射された音波は、反応容器2内に満たされている被測定液17の内部をx方向の位置xb及びz方向の位置z1の方向に向けて伝搬する。そして、音波51は、被測定液17の気液界面17tに衝突して、気液界面17tで音響流61を発生させる。 As shown in FIG. 7, the sound wave stirring mechanism 12A according to the second embodiment irradiates the sound wave 51 from the stirring element 21 of the centralized drive unit 21Co toward the reaction vessel 2. When the irradiated sound wave 51 reaches the reaction vessel 2, it is incident on the reaction vessel 2. The sound wave incident on the reaction vessel 2 propagates inside the liquid to be measured 17 filled in the reaction vessel 2 toward the position xb in the x direction and the position z1 in the z direction. Then, the sound wave 51 collides with the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17, and an acoustic flow 61 is generated at the gas-liquid interface 17t.

このとき、被測定液17の気液界面17tに衝突した音波51は、被測定液17の気液界面17tを実線矢印の方向に押圧して被測定液17を効率的に圧縮する。これにより、被測定液17は、気液界面17t付近で圧縮状態になると共に、他の部分で非圧縮状態となる。その結果、圧縮状態の気液界面17t付近から非圧縮状態の反応容器2の底面付近に向けて、音響流61が流れ込む。これにより、音響流61の攪拌力が増大する。 At this time, the sound wave 51 that collides with the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 presses the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 in the direction of the solid arrow to efficiently compress the liquid to be measured 17. As a result, the liquid to be measured 17 is in a compressed state near the gas-liquid interface 17t and is in an uncompressed state in other parts. As a result, the acoustic flow 61 flows from the vicinity of the gas-liquid interface 17t in the compressed state toward the vicinity of the bottom surface of the reaction vessel 2 in the uncompressed state. As a result, the stirring force of the acoustic flow 61 is increased.

つまり、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、被測定液17の気液界面17t付近に音波を集中的に照射することにより、気液界面17tを効率よく揺らすことができる。そのため、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、実施形態1の音波攪拌機構12よりも攪拌力を向上させることができる。その結果、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aは、液量の少ないサンプルや試薬等に対して、実施形態1の音波攪拌機構12よりもさらに良好に攪拌を行うことができる。 That is, the sound wave stirring mechanism 12A according to the second embodiment can efficiently shake the gas-liquid interface 17t by intensively irradiating the vicinity of the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 with sound waves. Therefore, the sonic stirring mechanism 12A according to the second embodiment can improve the stirring power as compared with the sonic stirring mechanism 12 of the first embodiment. As a result, the sonic stirring mechanism 12A according to the second embodiment can stir the sample or reagent having a small amount of liquid more satisfactorily than the sonic stirring mechanism 12 according to the first embodiment.

以上の通り、本実施形態2に係る音波攪拌機構12Aによれば、液量の少ないサンプルや試薬等に対して、実施形態1の音波攪拌機構12よりもさらに良好に攪拌を行うことができる。 As described above, according to the sonic stirring mechanism 12A according to the second embodiment, it is possible to stir the sample or reagent having a small amount of liquid more satisfactorily than the sonic stirring mechanism 12 of the first embodiment.

[実施形態3]
本実施形態3は、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17tに形成される凹部Bt(図8参照)の位置に合わせて、異なる位置で音響流61を発生させる音波攪拌機構12Bを提供するものである。
[Embodiment 3]
In the third embodiment, the sound wave that generates the acoustic flow 61 at different positions according to the position of the recess Bt (see FIG. 8) formed at the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2. It provides a stirring mechanism 12B.

以下、図8を参照して、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bの詳細について説明する。図8は、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bの動作例の説明図である。ここでは、x方向を音波の伝搬方向とし、z方向を上下方向(気液界面17tの高さ方向)として説明する。 Hereinafter, the details of the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 8 is an explanatory diagram of an operation example of the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment. Here, the x direction is the propagation direction of the sound wave, and the z direction is the vertical direction (the height direction of the gas-liquid interface 17t).

本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、実施形態2の音波攪拌機構12Aと同じ構成になっている。 The sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment has the same configuration as the sonic stirring mechanism 12A of the second embodiment.

ただし、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、実施形態2の音波攪拌機構12Aと異なり、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17tに形成される凹部Btの位置に合わせて、異なる位置で音響流61を発生させる構成になっている。 However, unlike the sonic stirring mechanism 12A of the second embodiment, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment has the position of the recess Bt formed at the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2. The structure is such that the acoustic flow 61 is generated at different positions according to the above.

つまり、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、被測定液17の気液界面17tに形成される凹部Btの位置に合わせて、基本周波数f1の音波と高調波周波数f2の音波の発生タイミングを時間的に分離する。そして、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、音波の出力強度を制御しながら、音波を発振することにより、音響流61の発生位置を制御する構成になっている。 That is, in the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment, the generation timing of the sound wave of the fundamental frequency f1 and the sound wave of the harmonic frequency f2 is matched with the position of the recess Bt formed at the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17. Is separated in time. The sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment is configured to control the generation position of the acoustic flow 61 by oscillating the sound wave while controlling the output intensity of the sound wave.

例えば、図8(a)に示すように、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17tが揺れて、気液界面17tの凹部Btがx方向の位置xaとz方向の位置z1で発生したとする。x方向の位置xaとz方向の位置z1は、攪拌素子21に近い側の位置である。この場合に、音波攪拌機構12Bは、モードを高調波モードとし、高調波周波数f2の音波を発生させる。そして、音波攪拌機構12Bは、音響流61がx方向の位置xaとz方向の位置z1で発生するように、音波の発生タイミングと出力強度を制御する。 For example, as shown in FIG. 8A, the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2 sways, and the recess Bt of the gas-liquid interface 17t is located at the position xa in the x direction and in the z direction. It is assumed that it occurs at the position z1. The position xa in the x direction and the position z1 in the z direction are positions close to the stirring element 21. In this case, the sound wave stirring mechanism 12B sets the mode to the harmonic mode and generates a sound wave having a harmonic frequency f2. Then, the sound wave stirring mechanism 12B controls the sound wave generation timing and the output intensity so that the acoustic flow 61 is generated at the position xa in the x direction and the position z1 in the z direction.

なお、ここでは、音波攪拌機構12Bが、音波の周波数を高調波周波数f2に設定して、音波の発生タイミングを制御することで、音響流61の発生位置を制御している。しかしながら、音波攪拌機構12Bは、音波の発生タイミングに合わせて、音波の音圧を増大させることで、音響流61の発生位置を制御することもできる。 Here, the sound wave stirring mechanism 12B controls the generation position of the acoustic flow 61 by setting the frequency of the sound wave to the harmonic frequency f2 and controlling the generation timing of the sound wave. However, the sound wave stirring mechanism 12B can also control the generation position of the acoustic flow 61 by increasing the sound pressure of the sound wave in accordance with the sound wave generation timing.

また、例えば、図8(b)に示すように、反応容器2内に収容された被測定液17の気液界面17tが揺れて、気液界面17tの凹部Btがx方向の位置xcとz方向の位置z1で発生したとする。x方向の位置xcとz方向の位置z1は、攪拌素子21から遠い側の位置である。この場合に、音波攪拌機構12Bは、モードを基本モードとし、基本周波数f1の音波を発生させる。そして、音波攪拌機構12Bは、音響流61がx方向の位置xcとz方向の位置z1で発生するように、音波の発生タイミングと出力強度を制御する。 Further, for example, as shown in FIG. 8 (b), the gas-liquid interface 17t of the liquid to be measured 17 housed in the reaction vessel 2 shakes, and the recess Bt of the gas-liquid interface 17t is positioned at the x direction xc and z. It is assumed that it occurs at the position z1 in the direction. The position xc in the x direction and the position z1 in the z direction are positions far from the stirring element 21. In this case, the sound wave stirring mechanism 12B sets the mode as the basic mode and generates a sound wave having a fundamental frequency f1. Then, the sound wave stirring mechanism 12B controls the sound wave generation timing and the output intensity so that the acoustic flow 61 is generated at the position xc in the x direction and the position z1 in the z direction.

なお、ここでは、音波攪拌機構12Bが、音波の周波数を基本周波数f1に設定して、音波の発生タイミングを制御することで、音響流61の発生位置を制御している。しかしながら、音波攪拌機構12Bは、音波の発生タイミングに合わせて、音波の音圧を低減させることで、音響流61の発生位置を制御することもできる。 Here, the sound wave stirring mechanism 12B controls the generation position of the acoustic flow 61 by setting the frequency of the sound wave to the fundamental frequency f1 and controlling the generation timing of the sound wave. However, the sound wave stirring mechanism 12B can also control the generation position of the acoustic flow 61 by reducing the sound pressure of the sound wave in accordance with the sound wave generation timing.

このような本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、気液界面17tの凹部Btの位置(つまり、被測定液17の液面の形状)に合わせて、音響流61の発生位置を制御する。これにより、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、実施形態2の音波攪拌機構12Aよりもさらに攪拌力を向上させることができる。そのため、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、液量の少ないサンプルや試薬等に対して、実施形態2の音波攪拌機構12Aよりもさらに良好に攪拌を行うことができる。 The sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment controls the generation position of the acoustic flow 61 according to the position of the recess Bt of the gas-liquid interface 17t (that is, the shape of the liquid surface of the liquid 17 to be measured). .. As a result, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment can further improve the stirring power as compared with the sonic stirring mechanism 12A of the second embodiment. Therefore, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment can stir the sample or reagent having a small amount of liquid more satisfactorily than the sonic stirring mechanism 12A of the second embodiment.

なお、前記した特許文献2に記載された装置は、壁面摩擦の影響を受けない気液界面付近において音響放射圧が支配的な流動である音響流を利用して、気液界面が音響流の発生位置に収まった場合に、音波を照射させる構成になっている。 The device described in Patent Document 2 described above utilizes an acoustic flow in which the acoustic radiation pressure is dominant in the vicinity of the gas-liquid interface which is not affected by the wall surface friction, and the gas-liquid interface has an acoustic flow. It is configured to irradiate sound waves when it is within the generation position.

これに対し、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、気液界面17tの流動に合わせて、時間的に音波の共振周波数fを変化させる。これにより、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、前記した特許文献2に記載された装置よりも攪拌に利用する音波エネルギーを増大させることができる。そのため、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、前記した特許文献2に記載された装置よりも攪拌力を向上させることができる。 On the other hand, the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment changes the resonance frequency f of the sound wave in time according to the flow of the gas-liquid interface 17t. As a result, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment can increase the sonic energy used for stirring as compared with the apparatus described in Patent Document 2 described above. Therefore, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment can improve the stirring power as compared with the apparatus described in Patent Document 2 described above.

なお、気液界面17tの流動特性は、反応容器2の大きさや形状、被測定液17の音速や粘性、試薬の量等で決まる。そこで、本実施形態3では、事前に、これらの要因に応じて、音波の周波数や照射タイミング等の攪拌仕様情報が、コンソール15(図1参照)に入力されるものとする。そして、攪拌時に、コントローラ16(図1参照)が、コンソール15(図1参照)から攪拌仕様情報を適宜読み出して、読み出された攪拌仕様情報に基づいて、音波攪拌機構12Bに所望の攪拌制御を行わせる構成にするとよい。 The flow characteristics of the gas-liquid interface 17t are determined by the size and shape of the reaction vessel 2, the sound velocity and viscosity of the liquid to be measured 17, the amount of reagents, and the like. Therefore, in the third embodiment, it is assumed that the stirring specification information such as the frequency of the sound wave and the irradiation timing is input to the console 15 (see FIG. 1) in advance according to these factors. Then, at the time of stirring, the controller 16 (see FIG. 1) appropriately reads the stirring specification information from the console 15 (see FIG. 1), and based on the read stirring specification information, the sonic stirring mechanism 12B performs desired stirring control. It is advisable to configure it so that

又は、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、ハイスピードカメラ等で反応容器2の被測定液17の液面を検出する検出機構(図示せず)を設け、この検出機構で読み取った液面の情報を制御器31で処理して、音波の発振制御にフィードバックする構成してもよい。 Alternatively, the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment is provided with a detection mechanism (not shown) for detecting the liquid level of the liquid to be measured 17 in the reaction vessel 2 with a high-speed camera or the like, and the liquid read by this detection mechanism. The surface information may be processed by the controller 31 and fed back to the oscillation control of the sound wave.

なお、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、例えば、ハイスピードカメラ等で反応容器2内での気泡の位置を監視し、攪拌を終了する際に、反応容器2内での気泡の位置に合わせて、攪拌の最後に、基本周波数f1の音波又は高調波周波数f2の音波を照射する構成にするとよい。 The sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment monitors the position of bubbles in the reaction vessel 2 with, for example, a high-speed camera, and when the stirring is completed, the position of the bubbles in the reaction vessel 2 is reached. It is preferable to irradiate a sound wave having a fundamental frequency f1 or a sound wave having a harmonic frequency f2 at the end of stirring.

例えば、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、攪拌を終了する際に、反応容器2内において気泡が圧電素子22から遠い側に発生している場合に、基本周波数波形発生器32に圧電素子22を一時的に駆動させた後、駆動を停止する構成にするとよい。 For example, the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment is piezoelectric to the fundamental frequency waveform generator 32 when bubbles are generated in the reaction vessel 2 on the side far from the piezoelectric element 22 at the end of stirring. It is preferable to temporarily drive the element 22 and then stop the drive.

つまり、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、攪拌を終了する際に、反応容器2内において気泡が圧電素子22から遠い側に発生している場合に、最後に基本周波数f1で圧電素子22を振動させる構成にするとよい。 That is, in the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment, when the air bubbles are generated in the reaction vessel 2 on the side far from the piezoelectric element 22 at the end of stirring, the piezoelectric element is finally generated at the fundamental frequency f1. It is preferable to make the 22 vibrate.

また、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、攪拌を終了する際に、反応容器2内において気泡が圧電素子22に近い側に発生している場合に、高調波周波数波形発生器33に圧電素子22を一時的に駆動させた後、駆動を停止する構成にするとよい。 Further, the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment is used in the harmonic frequency waveform generator 33 when bubbles are generated in the reaction vessel 2 on the side close to the piezoelectric element 22 at the end of stirring. It is preferable to temporarily drive the piezoelectric element 22 and then stop the drive.

つまり、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、攪拌を終了する際に、反応容器2内において気泡が圧電素子22に近い側に発生している場合に、最後に高調波周波数f2で圧電素子22を振動させる構成にするとよい。 That is, the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment is finally piezoelectric at the harmonic frequency f2 when bubbles are generated in the reaction vessel 2 on the side close to the piezoelectric element 22 at the end of stirring. The element 22 may be vibrated.

これらの構成の場合に、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bは、攪拌を終了する際に、反応容器2内での気泡の位置に合わせて、攪拌の最後に、基本周波数f1の音波又は高調波周波数f2の音波を照射することができる。これにより、これらの構成の場合に、音波攪拌機構12Bは、気泡付近の液面に振動を集中的に与えることができるため、気泡を効率よく除去することができる。 In the case of these configurations, the sound wave stirring mechanism 12B according to the third embodiment adjusts to the position of the bubbles in the reaction vessel 2 at the end of the stirring, and at the end of the stirring, the sound wave of the fundamental frequency f1 or A sound wave having a harmonic frequency f2 can be irradiated. As a result, in the case of these configurations, the sound wave stirring mechanism 12B can intensively apply vibration to the liquid surface in the vicinity of the bubbles, so that the bubbles can be efficiently removed.

以上の通り、本実施形態3に係る音波攪拌機構12Bによれば、液量の少ないサンプルや試薬等に対して、実施形態2の音波攪拌機構12Aよりもさらに良好に攪拌を行うことができる。 As described above, according to the sonic stirring mechanism 12B according to the third embodiment, it is possible to stir the sample or reagent having a small amount of liquid more satisfactorily than the sonic stirring mechanism 12A of the second embodiment.

本発明は、前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は、本発明を分かり易く説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、実施形態の構成の一部を他の構成に置き換えることが可能であり、また、実施形態の構成に他の構成を加えることも可能である。また、各構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and includes various modifications. For example, the above-described embodiment has been described in detail in order to explain the present invention in an easy-to-understand manner, and is not necessarily limited to the one including all the described configurations. Further, it is possible to replace a part of the configuration of the embodiment with another configuration, and it is also possible to add another configuration to the configuration of the embodiment. In addition, it is possible to add / delete / replace a part of each configuration with another configuration.

また、例えば、音波攪拌機構12は、化学分析装置1以外の装置に用いることができる。
また、例えば、前記した実施形態では、攪拌素子21は、電圧素子22の反応容器2に近い側の面にアース側電極23を配置し、電圧素子22の反応容器2から遠い側の面にセグメント電極24を配置した構成になっている。しかしながら、攪拌素子21は、防水を十分に施すことができるのであれば、アース側電極(単体電極)とセグメント電極とを逆に配置することができる。つまり、攪拌素子21は、電圧素子22の反応容器2に近い側の面にセグメント電極24を配置し、電圧素子22の反応容器2から遠い側の面にアース側電極23を配置した構成することができる。
Further, for example, the sonic stirring mechanism 12 can be used for an apparatus other than the chemical analyzer 1.
Further, for example, in the above-described embodiment, in the stirring element 21, the ground side electrode 23 is arranged on the surface of the voltage element 22 on the side close to the reaction vessel 2, and the stirring element 21 is segmented on the surface of the voltage element 22 on the side far from the reaction vessel 2. The electrode 24 is arranged. However, in the stirring element 21, the ground side electrode (single electrode) and the segment electrode can be arranged in reverse as long as they can be sufficiently waterproofed. That is, the stirring element 21 is configured such that the segment electrode 24 is arranged on the surface of the voltage element 22 near the reaction vessel 2 and the ground side electrode 23 is arranged on the surface of the voltage element 22 far from the reaction vessel 2. Can be done.

1 化学分析装置
2 反応容器
3 反応ディスク
4 恒温槽(水槽)
5 反応ディスク用ターンテーブル
6 サンプルカップ
7 サンプル用ターンテーブル
8 試薬ボトル
9 試薬用ターンテーブル
10 サンプリング分注機構
11 試薬分注機構
12 音波攪拌機構
13 測光機構(測定器)
14 洗浄機構
15 コンソール
16 コントローラ
17 被測定液
17t 気液界面
18 恒温水
20 音波発生手段
21 攪拌素子(音源)
21co 集中駆動部
21f 音源の側面
22 圧電素子
23 アース側電極(単体電極)
24 セグメント電極
25 駆動回路
31 制御器
32 基本周波数波形発生器(第1波形発生器)
33 高調波周波数波形発生器(第2波形発生器)
34 増幅器
35 切替器
35a 配線
35b スイッチ
35c 配線
41 音波反射手段
51 音波
52 照射領域
61 音響流
62 攪拌流
62s 攪拌流の発生位置
101 情報
Bt 凹部
Lold 音響流の発生距離
Lnew 音響流の発生距離
1 Chemical analyzer 2 Reaction vessel 3 Reaction disk 4 Constant temperature bath (water tank)
5 Turntable for reaction disk 6 Sample cup 7 Turntable for sample 8 Reagent bottle 9 Turntable for reagent 10 Sampling dispensing mechanism 11 Reagent dispensing mechanism 12 Sonic stirring mechanism 13 Photometric mechanism (measuring instrument)
14 Cleaning mechanism 15 Console 16 Controller 17 Liquid to be measured 17t Air-liquid interface 18 Constant temperature water 20 Sound wave generating means 21 Stirring element (sound source)
21co Centralized drive unit 21f Side of sound source 22 Piezoelectric element 23 Ground side electrode (single electrode)
24 segment electrodes 25 drive circuit 31 controller 32 fundamental frequency waveform generator (first waveform generator)
33 Harmonic frequency waveform generator (second waveform generator)
34 Amplifier 35 Switch 35a Wiring 35b Switch 35c Wiring 41 Sound wave reflecting means 51 Sound wave 52 Irradiation area 61 Acoustic flow 62 Stirring flow 62s Stirring flow generation position 101 Information Bt Recessed Mold Sound wave generation distance Lnew Sound wave generation distance

Claims (4)

分析対象となるサンプルと試薬が注入された反応容器に音波を照射して前記分析対象を攪拌する音波攪拌機構と、
前記分析対象の物性を測定する測定器と、を備え、
前記音波攪拌機構は、
前記反応容器の側面に音波を照射する圧電素子と、
前記圧電素子の厚み振動波形が基本周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第1波形発生器と、
前記圧電素子の厚み振動波形が前記基本周波数よりも高い周波数である高調波周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第2波形発生器と、
前記第1波形発生器及び前記第2波形発生器のいずれか一方の波形発生器に前記圧電素子の駆動を切り替える切替器と、を有し、
前記反応容器内の気液界面付近に音波を集中的に照射することができ、かつ、前記気液界面付近の凹部の位置に合わせて基本周波数の音波と高調波周波数の音波の発生タイミングを時間的に分離して出力強度を制御しながら音波を発振することにより、音響流の発生位置を制御する
ことを特徴とする化学分析装置。
A sound wave stirring mechanism that agitates the analysis target by irradiating the reaction vessel into which the sample to be analyzed and the reagent are injected with sound waves.
A measuring instrument for measuring the physical properties of the analysis target is provided.
The sonic stirring mechanism is
A piezoelectric element that irradiates the side surface of the reaction vessel with sound waves,
A first waveform generator that drives the piezoelectric element so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform of a fundamental frequency.
A second waveform generator that drives the piezoelectric element so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform having a harmonic frequency that is higher than the fundamental frequency.
Have a, a switch for switching the driving of the piezoelectric element on either one of the waveform generator of the first waveform generator and the second waveform generator,
Sound waves can be intensively applied to the vicinity of the gas-liquid interface in the reaction vessel, and the timing of generation of the fundamental frequency sound wave and the harmonic frequency sound wave is set according to the position of the recess near the gas-liquid interface. A chemical analyzer characterized in that the position where an acoustic flow is generated is controlled by oscillating sound waves while controlling the output intensity by separating them.
請求項に記載の化学分析装置において、
前記音波攪拌機構は、攪拌を終了する際に、前記反応容器内において気泡が前記圧電素子から遠い側に発生している場合に、前記第1波形発生器に前記圧電素子を一時的に駆動させた後、駆動を停止する
ことを特徴とする化学分析装置。
In the chemical analyzer according to claim 1,
The sonic stirring mechanism temporarily causes the first waveform generator to temporarily drive the piezoelectric element when bubbles are generated in the reaction vessel on the side far from the piezoelectric element at the end of stirring. A chemical analyzer characterized by stopping the drive after the operation.
請求項又は請求項に記載の化学分析装置において、
前記音波攪拌機構は、攪拌を終了する際に、前記反応容器内において気泡が前記圧電素子に近い側に発生している場合に、前記第2波形発生器に前記圧電素子を一時的に駆動させた後、駆動を停止する
ことを特徴とする化学分析装置。
In the chemical analyzer according to claim 1 or 2.
The sonic stirring mechanism temporarily causes the second waveform generator to temporarily drive the piezoelectric element when bubbles are generated in the reaction vessel on the side close to the piezoelectric element at the end of stirring. A chemical analyzer characterized by stopping the drive after the operation.
攪拌対象が収容された反応容器の側面に音波を照射する圧電素子と、
前記圧電素子の厚み振動波形が基本周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第1波形発生器と、
前記圧電素子の厚み振動波形が前記基本周波数よりも高い周波数である高調波周波数の振動波形となるように、前記圧電素子を駆動する第2波形発生器と、
前記第1波形発生器及び前記第2波形発生器のいずれか一方の波形発生器に前記圧電素子の駆動を切り替える切替器と、を有し、
前記反応容器内の気液界面付近に音波を集中的に照射することができ、かつ、前記気液界面付近の凹部の位置に合わせて基本周波数の音波と高調波周波数の音波の発生タイミングを時間的に分離して出力強度を制御しながら音波を発振することにより、音響流の発生位置を制御する
ことを特徴とする音波攪拌機構。
A piezoelectric element that irradiates the side surface of the reaction vessel containing the object to be agitated with sound waves,
A first waveform generator that drives the piezoelectric element so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform of a fundamental frequency.
A second waveform generator that drives the piezoelectric element so that the thickness vibration waveform of the piezoelectric element becomes a vibration waveform having a harmonic frequency that is higher than the fundamental frequency.
Have a, a switch for switching the driving of the piezoelectric element on either one of the waveform generator of the first waveform generator and the second waveform generator,
Sound waves can be intensively applied to the vicinity of the gas-liquid interface in the reaction vessel, and the timing of generation of the fundamental frequency sound wave and the harmonic frequency sound wave is set according to the position of the recess near the gas-liquid interface. A sound wave stirring mechanism characterized in that the position where an acoustic flow is generated is controlled by oscillating a sound wave while controlling the output intensity by separating the sound waves.
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