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JP7035002B2 - Clock regeneration circuit, waveform observation device, clock regeneration method and waveform observation method - Google Patents
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JP7035002B2 - Clock regeneration circuit, waveform observation device, clock regeneration method and waveform observation method - Google Patents

Clock regeneration circuit, waveform observation device, clock regeneration method and waveform observation method Download PDF

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Description

本発明は、入力信号から該入力信号の波形観測に用いるクロック信号を再生する機能を有するクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法に関する。 The present invention relates to a clock reproduction circuit, a waveform observation device, a clock reproduction method and a waveform observation method having a function of reproducing a clock signal used for observing the waveform of the input signal from the input signal.

例えば、光トランシーバや光インターフェースなどの光デバイス(若しくは、光モジュール)の検査段階で使用する測定系として、図7に示すように、サンプリングオシロスコープ60を用いたシステム構成が知られている。 For example, as a measurement system used in an inspection stage of an optical device (or an optical module) such as an optical transceiver or an optical interface, a system configuration using a sampling oscilloscope 60 is known as shown in FIG.

図7において、被試験対象物(Device Under Test:DUT)70は、例えば光トランシーバであり、評価ボード70Aに装着(接続)して用いられる。図7に示すシステム構成において、信号発生装置(Pulse Pattern Generator:PPG)65は、DUT70に対してデータ信号を送出するとともに、サンプリングオシロスコープ60に対してクロック信号を送出する。DUT70は、PPG65からのデータ信号を入力し、そのデータ信号を光信号でサンプリングオシロスコープ60へ出力する。サンプリングオシロスコープ60は、PPG65から入力するクロック信号に基づきトリガ生成部62でトリガ信号を生成し、該トリガ信号に応じたサンプリングタイミングでサンプラー61がデータ信号をサンプリングして波形観測を行うようになっている。 In FIG. 7, the device under test (DUT) 70 is, for example, an optical transceiver, and is used by being mounted (connected) to the evaluation board 70A. In the system configuration shown in FIG. 7, the signal generator (PPG) 65 sends a data signal to the DUT 70 and also sends a clock signal to the sampling oscilloscope 60. The DUT 70 inputs a data signal from the PPG 65 and outputs the data signal as an optical signal to the sampling oscilloscope 60. In the sampling oscilloscope 60, the trigger generation unit 62 generates a trigger signal based on the clock signal input from the PPG 65, and the sampler 61 samples the data signal at the sampling timing corresponding to the trigger signal to observe the waveform. There is.

上記システム構成において、DUT70が送出するデータ信号がPPG65のクロック信号と同期しないものがある。具体的な例を挙げると、これまでは100GHzまではPPG65(ホスト側)とDUT70(受信側)が同期していたものが、近年、400GHz(PAM4信号)を扱う状況に至ってホスト側と受信側とが同期しない事態が生じ、クロックリカバリーが必要になっていた。 In the above system configuration, the data signal transmitted by the DUT 70 may not be synchronized with the clock signal of the PPG 65. To give a specific example, PPG65 (host side) and DUT70 (reception side) were synchronized up to 100GHz until now, but in recent years, 400GHz (PAM4 signal) has been handled, and the host side and reception side have come to handle. There was a situation where the clock was not synchronized with the clock, and clock recovery was required.

クロックリカバリー機能を有する従来のクロック再生装置としては、位相比較器が入力信号と再生クロック信号の位相差を検出すると、分解能が異なる2つの補正値のいずれかによりディジタル制御発振器で発振される再生クロックの位相をシフトさせることで、再生クロック信号の位相を入力信号の位相に合わせる閉ループ制御技術が特許文献1に提案されている(段落0008~0011、図1参照)。 As a conventional clock reproduction device having a clock recovery function, when the phase comparator detects the phase difference between the input signal and the reproduction clock signal, the reproduction clock is oscillated by the digitally controlled oscillator by one of the two correction values having different resolutions. Patent Document 1 proposes a closed-loop control technique for matching the phase of a reproduction clock signal with the phase of an input signal by shifting the phase of the above (see paragraphs 0008 to 0011, FIG. 1).

特開平11-205298号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 11-20528

ところで、光デバイスの検査段階(図7参照)においては、それぞれ伝送レートの規格が異なる信号を受け渡す多種類の光デバイスが波形観測対象(DUT70)として用いられるのが一般的である。 By the way, in the inspection stage of an optical device (see FIG. 7), it is general that many kinds of optical devices that pass signals having different transmission rate standards are used as waveform observation targets (DUT70).

このため、サンプリングオシロスコープ60と併用するクロックリカバリー回路についても、伝送レートが異なるDUT70を繋ぎかえて(交換して)、該DUT70からの入力信号の伝送レートに対応するクロック信号を再生できることが望まれている。 Therefore, it is desired that the clock recovery circuit used together with the sampling oscilloscope 60 can reproduce (replace) the DUT 70s having different transmission rates and reproduce the clock signal corresponding to the transmission rate of the input signal from the DUT 70. ing.

また、光デバイスの生産現場では、生産性向上の観点から、サンプリングオシロスコープ60による光デバイス1個当たりの波形観測時間をできる限り短縮することが求められている。 Further, at the production site of an optical device, from the viewpoint of improving productivity, it is required to shorten the waveform observation time per optical device by the sampling oscilloscope 60 as much as possible.

上述した要求に対し、特許文献1に記載の従来のクロック再生回路は、既知の伝送レートの信号を入力してそのレートに対応した周波数のクロック信号を再生することが前提であって、伝送レートが異なるDUT70を交換して、交換後のDUT70が個々に出力するそれぞれ異なる伝送レートの信号を選択的に入力し、その都度、その信号の伝送レートに対応した周波数を有するクロック信号を再生することはできなかった。 In response to the above-mentioned requirements, the conventional clock reproduction circuit described in Patent Document 1 is premised on inputting a signal having a known transmission rate and reproducing a clock signal having a frequency corresponding to that rate, and the transmission rate. Exchanges different DUT 70s, selectively inputs signals with different transmission rates individually output by the exchanged DUT 70, and reproduces a clock signal having a frequency corresponding to the transmission rate of the signal each time. I couldn't.

一方で、規格レートが不明な信号(任意の規格レートを有する信号)を入力し、該入力信号の規格レートに合致する周波数を有するクロック信号の再生を可能にする従来のクロック再生回路としては、例えば、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器と、入力信号とクロック信号との位相差信号を検出し、該位相差信号に応じた電圧をVCOに入力する位相比較器とを有するPLL(Phase-Locked Loop)を備え、PLLがロック状態となるまで、所定の電圧範囲内から網羅的に制御電圧(位相補正値)を順次設定し、該設定された位相補正値に基づいて、位相比較器に入力するクロック信号の位相を順次シフトさせる動作を繰り返してクロック信号を入力信号に同期させるものがあった。 On the other hand, as a conventional clock reproduction circuit that inputs a signal whose standard rate is unknown (a signal having an arbitrary standard rate) and enables reproduction of a clock signal having a frequency matching the standard rate of the input signal, For example, a phase comparison in which a voltage control oscillator that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, a phase difference signal between the input signal and the clock signal is detected, and the voltage corresponding to the phase difference signal is input to the VCO. A PLL (Phase-Locked Loop) having a device is provided, and a control voltage (phase correction value) is comprehensively and sequentially set from within a predetermined voltage range until the PLL is locked, and the set phase correction value is set. In some cases, the clock signal is synchronized with the input signal by repeating the operation of sequentially shifting the phase of the clock signal input to the phase comparator.

しかしながら、この従来のクロック再生回路では、任意の伝送レートを有する信号は勿論、伝送レートが既知の信号であっても、その信号が入力された際には、毎回、同様の変動パターンで制御電圧の掃引制御を繰り返し実施する必要があり、PLLのロック時間が長くならざるを得なかった。 However, in this conventional clock recovery circuit, not only a signal having an arbitrary transmission rate but also a signal having a known transmission rate, every time the signal is input, the control voltage has the same fluctuation pattern. It was necessary to repeatedly carry out the sweep control of the PLL, and the lock time of the PLL had to be long.

このため従来のクロック再生回路は、入力信号を出力する光デバイスなどの被測定対象物の1個当たりの波形観測に時間がかかり、結果として、被測定対象物の生産スループットが低下せざるを得なかった。 Therefore, in the conventional clock reproduction circuit, it takes time to observe the waveform of each object to be measured such as an optical device that outputs an input signal, and as a result, the production throughput of the object to be measured has to be reduced. I didn't.

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、既知の伝送レートを有する信号の入力に対するロック時間を短縮し、波形観測時間も短くすることが可能なクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve such a conventional problem, and is capable of shortening the lock time for input of a signal having a known transmission rate and shortening the waveform observation time. It is an object of the present invention to provide a circuit, a waveform observation device, a clock reproduction method, and a waveform observation method.

上記課題を解決するために、本発明の請求項1に係るクロック再生回路は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)を備え、前記PLL回路部がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生回路であって、伝送レートに対応して、前記入力信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納手段(6a)と、前記入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段(9)と、前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納手段に格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御手段(5e)と、を有する。 In order to solve the above problems, the clock reproduction circuit according to claim 1 of the present invention includes a voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, an input signal, and the clock signal. The PLL circuit unit (3e) is provided with a phase comparison means (3c) that outputs a voltage corresponding to the phase difference signal of the above as the input voltage to the voltage control oscillator, and the phase is locked so that the PLL circuit unit is locked. A clock reproduction circuit that performs phase shift control of the clock signal input to the comparison means to synchronize the clock signal with the input signal, and the input signal has the transmission rate corresponding to the transmission rate. The storage means (6a) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit, the transmission rate input means (9) for inputting the transmission rate in association with the input signal, and the transmission rate are associated with the input signal. In this case, it has a phase correction control means (5e) that executes the phase shift control using the locked voltage stored in the storage means corresponding to the transmission rate.

この構成により、本発明の請求項1に係るクロック再生回路は、伝送レートの規格に沿った入力信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって入力信号に関連付けられた伝送レートに対応するロック時電圧を格納手段から読み出して位相比較手段に入力するクロック信号の位相シフトを開始させることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部のロックまでの速度の向上が見込める。 With this configuration, the clock reproduction circuit according to claim 1 of the present invention is locked when the clock signal is reproduced from the input signal according to the standard of the transmission rate and corresponds to the transmission rate associated with the input signal by the user. By starting the phase shift of the clock signal that reads the voltage from the storage means and inputs it to the phase comparison means, the speed until the lock of the PLL circuit section is compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift. Is expected to improve.

また、本発明の請求項2に係るクロック再生回路において、前記格納手段は、前記伝送レートに対応して該伝送レートの規格をさらに格納し、前記伝送レート入力手段は、前記規格の選択を受付けて、該選択された規格に対応する前記伝送レートを入力する構成としてもよい。 Further, in the clock reproduction circuit according to claim 2 of the present invention, the storage means further stores the standard of the transmission rate corresponding to the transmission rate, and the transmission rate input means accepts the selection of the standard. Therefore, the transmission rate corresponding to the selected standard may be input.

この構成により、本発明の請求項2に係るクロック再生回路は、ユーザが規格を選択するだけで伝送レートの入力が行え、ユーザの操作性を高めることができる。 With this configuration, the clock recovery circuit according to claim 2 of the present invention can input the transmission rate only by the user selecting a standard, and can improve the operability of the user.

また、本発明の請求項3に係るクロック再生回路において、前記格納手段は、同一の前記伝送レートに対応して、異なる複数の前記ロック時電圧が格納される構成であってもよい。この構成により、請求項3に係るクロック再生回路は、例えば、複数の任意の伝送レートの信号を選択的に出力することが可能な誤り率測定装置等の機器からの被測定信号の入力時のロック時間短縮に有用なものとなる。 Further, in the clock recovery circuit according to claim 3 of the present invention, the storage means may be configured to store a plurality of different locked voltage according to the same transmission rate. With this configuration, the clock reproduction circuit according to claim 3 is, for example, at the time of inputting a signal to be measured from a device such as an error rate measuring device capable of selectively outputting a plurality of signals of arbitrary transmission rates. It will be useful for shortening the lock time.

また、本発明の請求項4に係るクロック再生回路において、前記入力信号は、PRBSパターンを有するNRZ信号、及びPAM信号であり、前記格納手段は、前記NRZ信号、及び前記PAM信号の伝送レートに対応する前記ロック時電圧を格納している構成とすることもできる。 Further, in the clock reproduction circuit according to claim 4 of the present invention, the input signal is an NRZ signal having a PRBS pattern and a PAM signal, and the storage means is used for the transmission rate of the NRZ signal and the PAM signal. It is also possible to have a configuration in which the corresponding locked voltage is stored.

この構成により、請求項4に係るクロック再生回路は、伝送レートを入力させたうえで、PRBSパターンを有するNRZ信号、及びPAM信号を入力信号として受け付けることで、該入力信号に対するロック時間を短縮することができる。 With this configuration, the clock regeneration circuit according to claim 4 receives a NRZ signal having a PRBS pattern and a PAM signal as input signals after inputting a transmission rate, thereby shortening the lock time for the input signal. be able to.

また、本発明の請求項5に係るクロック再生回路において、前記格納手段は、少なくとも100GbE、200GbE、400GbEの各伝送レート、若しくは25.5Gbaud~28.2Gbaudの伝送レート範囲内における任意の伝送レートにそれぞれ対応する前記ロック時電圧を格納している構成であってもよい。 Further, in the clock reproduction circuit according to claim 5 of the present invention, the storage means has a transmission rate of at least 100 GbE, 200 GbE, 400 GbE, or an arbitrary transmission rate within a transmission rate range of 25.5 Gbaud to 28.2 Gbaud. It may be configured to store the corresponding locked voltage.

この構成により、請求項5に係るクロック再生回路は、100GbE、200GbE、400GbEの各伝送レート、25.5Gbaud~28.2Gbaud内の任意の伝送レートを有する入力信号に対するロック時間を短縮することが可能となる。 With this configuration, the clock recovery circuit according to claim 5 can shorten the lock time for an input signal having a transmission rate of 100 GbE, 200 GbE, and 400 GbE, and an arbitrary transmission rate within 25.5 Gbaud to 28.2 Gbaud. Will be.

また、本発明の請求項6に係るクロック再生回路は、前記電圧制御発振器が出力する前記クロック信号の数を計数し、該計数による前記クロック信号の数の計数値が、前記入力信号に関連付けて入力されている前記規格に対応する期待値クロック数となったときに、前記PLL回路部がロックしたものと判定するロック判定手段(5e1)をさらに有する構成とすることができる。 Further, the clock reproduction circuit according to claim 6 of the present invention counts the number of the clock signals output by the voltage control oscillator, and the count value of the number of the clock signals by the counting is associated with the input signal. The configuration may further include a lock determination means (5e1) for determining that the PLL circuit unit is locked when the expected number of clocks corresponding to the input standard is reached.

この構成により、請求項6に係るクロック再生回路は、PLL回路部3eのロックを短時間かつ正確に検出することができ、ロック後の波形観測へと迅速に移行できる。 With this configuration, the clock regeneration circuit according to claim 6 can detect the lock of the PLL circuit unit 3e in a short time and accurately, and can quickly shift to the waveform observation after the lock.

また、本発明の請求項7に係る波形観測装置は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)を備え、前記PLL回路部がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生回路(3)を含み、被測定対象物(50)が出力する被測定信号を前記入力信号として前記クロック再生回路により再生される前記クロック信号に基づいて前記被測定信号の波形観測を行う波形観測装置であって、前記クロック再生回路は、伝送レートに対応して、前記被測定信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納手段(6a)と、前記被測定信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段(9)と、前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納手段に格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御手段(5e)と、を有することを特徴とする。 Further, the waveform observation device according to claim 7 of the present invention responds to a voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase difference signal between the input signal and the clock signal. The PLL circuit unit (3e) having a phase comparison means (3c) that outputs the input voltage to the voltage control oscillator, and inputs the voltage to the phase comparison means so that the PLL circuit unit locks. The clock reproduction circuit includes a clock reproduction circuit (3) that performs phase shift control of the clock signal to synchronize the clock signal with the input signal, and uses the measured signal output by the object to be measured (50) as the input signal. A waveform observation device that observes the waveform of the signal to be measured based on the clock signal reproduced by the clock reproduction circuit, when the signal to be measured has the transmission rate corresponding to the transmission rate. The storage means (6a) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit, the transmission rate input means (9) for inputting the transmission rate in association with the signal to be measured, and the transmission rate are associated with the input signal. If so, it is characterized by having a phase correction control means (5e) that executes the phase shift control using the locked voltage stored in the storage means corresponding to the transmission rate.

この構成により、本発明の請求項7に係る波形観測装置は、クロック再生回路で伝送レートの規格に沿った被測定信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって被測定信号に関連付けられた(選択的に入力された)伝送レートに対応するロック時電圧を用いることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部のロックまでの速度を短縮することができる。これにより、被測定信号を出力する被測定対象物1個当たりの波形観測時間を短縮できる。 With this configuration, the waveform observation device according to claim 7 of the present invention is associated with the measured signal by the user when the clock signal is reproduced from the measured signal in accordance with the transmission rate standard in the clock reproduction circuit. By using the lock voltage corresponding to the transmission rate (selectively input), the speed to lock of the PLL circuit section can be shortened as compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift. Can be done. As a result, the waveform observation time for each object to be measured that outputs the signal to be measured can be shortened.

また、本発明の請求項8に係るクロック再生方法は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生方法であって、伝送レートに対応して、前記入力信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、前記入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納ステップで格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、を含む構成を有している。 Further, the clock reproduction method according to claim 8 of the present invention corresponds to a voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase difference signal between the input signal and the clock signal. The phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means is controlled so that the PLL circuit unit (3e) having the phase comparison means (3c) that outputs the input voltage to the voltage control oscillator is locked. A storage step for storing the locked voltage of the PLL circuit unit when the input signal has the transmission rate, which is a clock reproduction method for synchronizing the clock signal with the input signal. (S1), a transmission rate input step (S2) for inputting a transmission rate in association with the input signal, and when the transmission rate is associated with the input signal, in the storage step corresponding to the transmission rate. It has a configuration including a phase correction control step (S5) for executing the phase shift control using the stored locked voltage.

この構成により、本発明の請求項8に係るクロック再生方法は、伝送レートの規格に沿った入力信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって入力信号に関連付けられた伝送レートに対応するロック時電圧を格納手段から読み出して位相比較器に入力するクロック信号の位相シフトを開始させることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部のロックまでの速度の向上が見込める。 With this configuration, the clock reproduction method according to claim 8 of the present invention, when reproducing a clock signal from an input signal according to a transmission rate standard, is locked when the clock signal corresponds to the transmission rate associated with the input signal by the user. By starting the phase shift of the clock signal that reads the voltage from the storage means and inputs it to the phase comparator, the speed until the lock of the PLL circuit section is compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift. Is expected to improve.

また、本発明の請求項9係る波形観測方法は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生方法を用い、被測定対象物(50)が出力する被測定信号を前記入力信号として前記クロック再生方法により再生される前記クロック信号に基づいて前記被測定信号の波形観測を行う波形観測方法であって、前記クロック再生方法は、伝送レートに対応して、前記被測定信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、前記被測定信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、入力する前記被測定信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納ステップで格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、を含む構成を有している。 Further, the waveform observation method according to claim 9 of the present invention corresponds to a voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase difference signal between the input signal and the clock signal. Phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means is performed so that the PLL circuit unit (3e) having the phase comparison means (3c) that outputs the voltage as the input voltage to the voltage control oscillator is locked. The clock reproduction method for synchronizing the clock signal with the input signal is used, and the measured signal output by the object to be measured (50) is used as the input signal, and the clock signal is reproduced based on the clock signal. It is a waveform observation method for observing the waveform of a signal to be measured, and the clock reproduction method stores the locked voltage of the PLL circuit unit when the signal to be measured has the transmission rate corresponding to the transmission rate. Storage step (S1) to be input, a transmission rate input step (S2) for inputting a transmission rate in association with the signal to be measured, and when the transmission rate is associated with the input signal to be measured, the transmission rate is set to the transmission rate. Correspondingly, it has a configuration including a phase correction control step (S5) for executing the phase shift control using the locked voltage stored in the storage step.

この構成により、本発明の請求項8に係る波形観測方法は、伝送レートの規格に沿った被測定信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって入力信号に関連付けられた伝送レートに対応するロック時電圧を用いることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部のロックまでの速度を短縮することができる。これにより、被測定信号を出力する被測定対象物1個当たりの波形観測時間を短縮することが可能値となる。 With this configuration, the waveform observation method according to claim 8 of the present invention locks the transmission rate associated with the input signal by the user when the clock signal is reproduced from the measured signal according to the transmission rate standard. By using the hour voltage, the speed to lock the PLL circuit unit can be shortened as compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift. This makes it possible to shorten the waveform observation time for each object to be measured that outputs the signal to be measured.

本発明は、既知の伝送レートを有する信号の入力に対するロック時間を短縮し、波形観測時間も短くすることが可能なクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法を提供することができる。 The present invention can provide a clock reproduction circuit, a waveform observation device, a clock reproduction method and a waveform observation method capable of shortening the lock time for an input of a signal having a known transmission rate and shortening the waveform observation time. can.

本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープの全体構成図である。It is an overall block diagram of the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープのクロックリカバリー回路の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the clock recovery circuit of the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープのクロックリカバリー回路での位相補正値の第2の掃引制御によるロック時間短縮効果を説明する図である。It is a figure explaining the lock time shortening effect by the 2nd sweep control of the phase correction value in the clock recovery circuit of the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープの制御部の機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the functional structure of the control part of the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープに実装される位相補正制御テーブルの一例を示す表図である。It is a table diagram which shows an example of the phase correction control table mounted on the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープのクロック再生処理動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the clock reproduction processing operation of the sampling oscilloscope which concerns on one Embodiment of this invention. 光デバイスの波形を観測するための従来のサンプリングオシロスコープの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the conventional sampling oscilloscope for observing the waveform of an optical device.

以下、本発明に係るクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法の実施形態について図面を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of a clock regeneration circuit, a waveform observation device, a clock regeneration method, and a waveform observation method according to the present invention will be described with reference to the drawings.

まず、本発明の一実施形態に係るサンプリングオシロスコープ1の構成について図1~図5を参照して説明する。サンプリングオシロスコープ1は、本発明に係る波形観測装置の一例であり、本発明に係るクロック再生回路としてのクロックリカバリー回路3を含む構成を有している。 First, the configuration of the sampling oscilloscope 1 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5. The sampling oscilloscope 1 is an example of the waveform observation device according to the present invention, and has a configuration including a clock recovery circuit 3 as a clock reproduction circuit according to the present invention.

図1に示すように、本実施形態に係るサンプリングオシロスコープ1は、光電変換器(O/E)2、クロックリカバリー回路3、波形観測部4、制御部5、記憶部6、操作部7、表示部8を備えている。 As shown in FIG. 1, the sampling oscilloscope 1 according to the present embodiment has a photoelectric converter (O / E) 2, a clock recovery circuit 3, a waveform observation unit 4, a control unit 5, a storage unit 6, an operation unit 7, and a display. The part 8 is provided.

サンプリングオシロスコープ1は、DUT50を接続し、該DUT50が出力するデータ信号を入力し、入力したデータ信号から該データ信号に同期するクロック信号を生成するとともに、生成したクロック信号に基づいてデータ信号の観測を行うものである。 The sampling oscilloscope 1 connects a DUT 50, inputs a data signal output by the DUT 50, generates a clock signal synchronized with the data signal from the input data signal, and observes the data signal based on the generated clock signal. Is to do.

DUT50としては、光信号を受け渡す機能を有する光トランシーバ等の各種光デバイスが用いられる。DUT50は、それぞれの規格が割り振られた複数の伝送レートのうちのいずれかの伝送レート(規格レート:規格が割り振られている伝送レート)を有する光信号を受け渡すことができる多種類のものが用意される。サンプリングオシロスコープ1は、各規格レートの光信号をそれぞれ受け渡すことが可能な多種類のDUT50を選択的に接続して、該DUT50が出力する光信号(被測定信号)の観測を行うようになっている。 As the DUT 50, various optical devices such as an optical transceiver having a function of passing an optical signal are used. There are many types of DUT50 that can transfer optical signals having one of a plurality of transmission rates to which each standard is assigned (standard rate: transmission rate to which the standard is assigned). Be prepared. The sampling oscilloscope 1 selectively connects various types of DUTs 50 capable of passing optical signals of each standard rate, and observes the optical signal (measured signal) output by the DUT50. ing.

図1に示すサンプリングオシロスコープ1の構成において、O/E2は、例えば光検出器としてのフォトダイオードを備え、DUT50が被測定信号(データ信号)として出力する光信号を電気信号に変換するものである。O/E2は、DUT50の仕様が電気信号の入力に基づいて光信号を出力するものである場合に必要なものであって、DUT50が光信号の入力に基づいて電気信号を出力する仕様のものである場合には不要である。 In the configuration of the sampling oscilloscope 1 shown in FIG. 1, the O / E2 includes, for example, a photodiode as a photodetector, and converts an optical signal output by the DUT 50 as a signal to be measured (data signal) into an electric signal. .. O / E2 is necessary when the specification of the DUT 50 is to output an optical signal based on the input of an electric signal, and the DUT 50 is a specification to output an electric signal based on the input of the optical signal. If it is, it is not necessary.

クロックリカバリー(CR)回路3は、O/E2で電気信号に変換されたデータ信号(Data)を入力し、該データ信号に同期したクロック信号(Clock)を再生して出力するものである。クロックリカバリー回路3は、例えば、図2に示すように、電圧制御発振器(Voltage Controlled Oscillator:VCO)3a、位相シフト回路(Phase Shifter:PS)3b、位相比較器(Phase Detector:PD)3c、ローパスフィルタ(Low-pass filter:LPF)3dを有している。 The clock recovery (CR) circuit 3 inputs a data signal (Data) converted into an electric signal by O / E2, and reproduces and outputs a clock signal (Clock) synchronized with the data signal. As shown in FIG. 2, for example, the clock recovery circuit 3 includes a voltage controlled oscillator (VCO) 3a, a phase shifter (PS) 3b, a phase detector (PD) 3c, and a low pass filter. It has a low-pass filter (LPF) 3d.

VCO3aは、入力電圧に応じた発振周波数の信号を出力するものである。本実施形態において、VCO3aは、DUT50から入力するデータ信号の位相と当該VCO3aが出力したクロック信号との位相誤差信号に対応する電圧を、位相比較器3cからLPF3dを介して入力し、該入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を再出力する。 The VCO3a outputs a signal having an oscillation frequency corresponding to the input voltage. In the present embodiment, the VCO3a inputs a voltage corresponding to a phase error signal between the phase of the data signal input from the DUT 50 and the clock signal output by the VCO3a from the phase comparator 3c via the LPF3d, and inputs the input voltage. The clock signal having the oscillation frequency corresponding to the above is output again.

位相シフト回路3bは、外部制御電圧入力用の端子3b1を有し、該端子3b1に対して制御部5から位相補正値として入力される直流制御電圧(DC入力)に基づいて、VCO3aからのクロック信号の位相をシフトさせ、該位相シフトされたクロック信号を位相比較器3cに入力するものである。 The phase shift circuit 3b has a terminal 3b1 for inputting an external control voltage, and a clock from the VCO 3a based on a DC control voltage (DC input) input as a phase correction value from the control unit 5 to the terminal 3b1. The phase of the signal is shifted, and the phase-shifted clock signal is input to the phase comparator 3c.

位相比較器3cは、DUT50からO/E2を介して入力されるデータ信号の位相と、位相シフト回路3bから位相シフト後に出力されるクロック信号の位相を比較し、両者の位相誤差信号を出力する。 The phase comparator 3c compares the phase of the data signal input from the DUT 50 via the O / E2 with the phase of the clock signal output from the phase shift circuit 3b after the phase shift, and outputs both phase error signals. ..

LPF3dは、位相比較器3cが出力する位相誤差信号を、規定の周波数以下の周波数だけを通し且つ平滑化するように濾波し、VCO3aに対する上記入力電圧として出力する。VCO3aは、LPF3dからの入力電圧に応じた周波数を有するクロック信号を再出力するようになっている。 The LPF3d filters the phase error signal output by the phase comparator 3c so as to pass through and smooth only frequencies below the specified frequency, and outputs the phase error signal as the input voltage to the VCO3a. The VCO3a is adapted to re-output a clock signal having a frequency corresponding to the input voltage from the LPF3d.

このように、クロックリカバリー回路3は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力するVCO3aと、入力するデータ信号とVCO3aが出力したクロック信号との位相差信号を検出し、該位相差信号に応じた電圧を入力電圧としてVCO3aに出力する位相比較器3cと、上記位相差信号に応じた電圧を生成するLPF3dと、を有するPLL回路部3eを備えている。そして、このクロックリカバリー回路3では、PLL回路部3eがロックするように、位相シフト回路3bが、位相比較器3cに入力するクロック信号の位相を制御電圧(DC入力値)に応じてシフトさせることにより、クロック信号を入力するデータ信号に同期させるようになっている。 In this way, the clock recovery circuit 3 detects the phase difference signal between the VCO3a that outputs the clock signal having the oscillation frequency corresponding to the input voltage and the input data signal and the clock signal output by the VCO3a, and the phase difference. It includes a PLL circuit unit 3e having a phase comparator 3c that outputs a voltage corresponding to a signal as an input voltage to the VCO3a, and an LPF3d that generates a voltage corresponding to the phase difference signal. Then, in this clock recovery circuit 3, the phase shift circuit 3b shifts the phase of the clock signal input to the phase comparator 3c according to the control voltage (DC input value) so that the PLL circuit unit 3e locks. Therefore, the clock signal is synchronized with the input data signal.

位相シフト回路3bでのクロック信号の位相シフトに関する制御は、制御部5によって行われる。この制御において、制御部5は、クロックリカバリー回路3にデータ信号が入力されると、位相シフト回路3bに対して端子3b1から入力する位相補正値(DC入力値)の掃引制御を、PLL回路部3eのロックが検出されるまで繰り返し実施する。より詳しくは、制御部5は、データ信号が入力されると、例えば、図3に示すように、DC入力値を、予め設定された掃引電圧範囲V0~V1(例えば、5V範囲)を、PLL回路部3eがロックするまで、所定の電圧幅V11(例えば、0.1V)で順次変動させて設定する制御を、毎回、同様のルーチンで繰り返し実施するようになっている。ここでの掃引制御によるDC入力値の順次変動設定は、既存装置で実施される「位相補正値を網羅的に設定する」ことに相当し、本実施形態での以下の説明においては第1の掃引制御ということがある。本実施形態において、第1の掃引制御は、DUT50から入力するデータ信号に関連して規格レートが入力されていない場合、あるいは伝送レートが規格外のデータ信号が入力された場合に実施されるようになっている。 The control unit 5 controls the phase shift of the clock signal in the phase shift circuit 3b. In this control, the control unit 5 controls the sweep control of the phase correction value (DC input value) input from the terminal 3b1 to the phase shift circuit 3b when the data signal is input to the clock recovery circuit 3. Repeat until the lock of 3e is detected. More specifically, when the data signal is input, the control unit 5 sets the DC input value to the preset sweep voltage range V0 to V1 (for example, 5V range), for example, as shown in FIG. Until the circuit unit 3e is locked, the control for sequentially varying and setting the predetermined voltage width V11 (for example, 0.1 V) is repeatedly performed by the same routine each time. The setting of the sequential fluctuation of the DC input value by the sweep control here corresponds to the "comprehensive setting of the phase correction value" performed in the existing device, and is the first in the following description in the present embodiment. Sometimes called sweep control. In the present embodiment, the first sweep control is performed when the standard rate is not input in relation to the data signal input from the DUT 50, or when the data signal whose transmission rate is out of the standard is input. It has become.

本実施形態ではまた、DC入力値の掃引制御について、DUT50から入力するデータ信号に関連して規格レートが入力されており、該規格レートに関する位相補正値が後述の位相補正制御テーブル6aに格納されている場合は、上述した網羅的な設定によらず、位相補正制御テーブル6aを用い、当該規格レートに対応する位相補正値(入力DC値)を位相シフト回路3bにダイレクトに設定する機能を有している。この掃引制御を、以下では、第2の掃引制御ということがある。ここで、規格レートに対応するDC入力値(位相補正値)は、その規格レートを有するデータ信号が入力されたときに、データ信号とクロック信号の位相差がない状態、つまり、PLL回路部3eのロック状態を確立し得る制御電圧値に相当する。 In the present embodiment, the standard rate is input in relation to the data signal input from the DUT 50 for the sweep control of the DC input value, and the phase correction value related to the standard rate is stored in the phase correction control table 6a described later. If so, there is a function to directly set the phase correction value (input DC value) corresponding to the standard rate in the phase shift circuit 3b by using the phase correction control table 6a, regardless of the comprehensive setting described above. is doing. In the following, this sweep control may be referred to as a second sweep control. Here, the DC input value (phase correction value) corresponding to the standard rate is a state in which there is no phase difference between the data signal and the clock signal when the data signal having the standard rate is input, that is, the PLL circuit unit 3e. Corresponds to the control voltage value that can establish the locked state of.

第2の掃引制御を実現すべく、サンプリングオシロスコープ1の記憶部6には位相補正制御テーブル6a(図5参照)が格納されている。位相補正制御テーブル6aの詳しい構成については後で詳述する。 In order to realize the second sweep control, the phase correction control table 6a (see FIG. 5) is stored in the storage unit 6 of the sampling oscilloscope 1. The detailed configuration of the phase correction control table 6a will be described in detail later.

波形観測部4は、O/E2が出力するデータ信号と、クロックリカバリー回路3が出力するクロック信号(PLL回路部3eのロック時に出力される)を入力とし、該クロック信号に基づきデータ信号を観測する信号処理機能を有する。 The waveform observation unit 4 inputs a data signal output by the O / E2 and a clock signal output by the clock recovery circuit 3 (output when the PLL circuit unit 3e is locked), and observes the data signal based on the clock signal. It has a signal processing function.

本実施形態において、波形観測部4は、トリガ生成部41、サンプラー42、信号波形処理部43を有している。トリガ生成部41は、クロックリカバリー回路3が出力するクロック信号に基づき、サンプラー42が動作するサンプリングタイミングとして用いられるストローブ信号を生成する。サンプラー42は、トリガ生成部41にて生成されるストローブ信号をサンプリングタイミングとして例えば数百kHzでスイッチング動作し、O/E2にて電気信号に変換された被測定信号(入力データ信号)をサンプリングする。信号波形処理部43は、サンプラー42からのサンプルデータに基づいて入力データ信号の波形を検出する処理を行う。 In the present embodiment, the waveform observation unit 4 has a trigger generation unit 41, a sampler 42, and a signal waveform processing unit 43. The trigger generation unit 41 generates a strobe signal used as a sampling timing for operating the sampler 42 based on the clock signal output by the clock recovery circuit 3. The sampler 42 performs switching operation at, for example, several hundred kHz with the strobe signal generated by the trigger generation unit 41 as the sampling timing, and samples the measured signal (input data signal) converted into an electric signal by O / E2. .. The signal waveform processing unit 43 performs processing for detecting the waveform of the input data signal based on the sample data from the sampler 42.

制御部5は、クロックリカバリー回路3でのクロック再生処理に係る動作制御、波形観測部4におけるデータ信号のサンプリング処理に係る動作制御等、サンプリングオシロスコープ1全体の動作を制御するものである。 The control unit 5 controls the operation of the entire sampling oscilloscope 1, such as operation control related to clock recovery processing in the clock recovery circuit 3 and operation control related to data signal sampling processing in the waveform observation unit 4.

制御部5は、図4に示すように、CPU5a、外部インターフェース(I/F)部5fを備えている。CPU5aは、例えば、記憶部6に記憶されているプログラムを実行することで設定制御部5b、測定制御部5c、表示制御部5d、位相補正制御部5e、などの各機能部を実現する。 As shown in FIG. 4, the control unit 5 includes a CPU 5a and an external interface (I / F) unit 5f. The CPU 5a realizes each functional unit such as a setting control unit 5b, a measurement control unit 5c, a display control unit 5d, and a phase correction control unit 5e by executing a program stored in the storage unit 6, for example.

設定制御部5bは、DUT50の測定(波形観測)のためのシミュレーション・パラメータの設定等の各種の設定処理を行うものである。 The setting control unit 5b performs various setting processes such as setting of simulation parameters for measurement (waveform observation) of the DUT 50.

測定制御部5cは、信号波形処理部43でのサンプルデータに基づく被測定信号の波形の検出処理等、被測定信号の測定(観測)に係る各部の制御を行う。 The measurement control unit 5c controls each unit related to the measurement (observation) of the measured signal, such as the detection processing of the waveform of the measured signal based on the sample data in the signal waveform processing unit 43.

表示制御部5dは、信号波形処理部43での被測定信号の波形の検出処理に基づいて、被測定信号の波形を表示部8に表示させるための表示制御を行う。表示制御部5dはまた、所望の伝送レートを選択的に入力するために用いる入力画面を表示部8に表示させる制御を行う。 The display control unit 5d performs display control for displaying the waveform of the measured signal on the display unit 8 based on the detection processing of the waveform of the measured signal by the signal waveform processing unit 43. The display control unit 5d also controls the display unit 8 to display an input screen used for selectively inputting a desired transmission rate.

位相補正制御部5eは、位相シフト回路3bに対して端子3b1を通してDC入力値を設定し、VCO3aから出力されるクロック信号の位相を、該設定された入力DC値に基づいて位相シフトさせる制御を行うものである。この位相シフトの制御に係る制御電圧(DC入力値)の掃引に関して、位相補正制御部5eは、上述したように、第1の掃引制御、及び第2の制御を適用可能な構成となっている。位相補正制御部5eには、PLL回路部3eがロックしたことを判定するロック判定部5e1が設けられる。 The phase correction control unit 5e sets a DC input value for the phase shift circuit 3b through the terminal 3b1, and controls to shift the phase of the clock signal output from the VCO 3a based on the set input DC value. It is something to do. As described above, the phase correction control unit 5e has a configuration in which the first sweep control and the second control can be applied to the sweep of the control voltage (DC input value) related to the control of the phase shift. .. The phase correction control unit 5e is provided with a lock determination unit 5e1 for determining that the PLL circuit unit 3e is locked.

外部I/F部5fは、ネットワーク10を介して外部機器にアクセスする際のインターフェース機能を有し、本実施形態では、サンプリングオシロスコープ1と外部の制御装置11(図1参照)間でネットワーク10を介して信号を送受する際のインターフェース機能も提供している。 The external I / F unit 5f has an interface function when accessing an external device via the network 10. In the present embodiment, the network 10 is connected between the sampling oscilloscope 1 and the external control device 11 (see FIG. 1). It also provides an interface function for sending and receiving signals via.

本実施形態において、サンプリングオシロスコープ1は、自装置の制御部5による制御による動作の他、ネットワーク10を介して外部の制御装置11からの指令で動作するシステム構成とすることもできる。この場合のシステム動作は、制御装置11の制御部(図示せず)に制御部5と同等の機能部を設けた構成とすることで実現可能である。 In the present embodiment, the sampling oscilloscope 1 may have a system configuration in which the sampling oscilloscope 1 is operated by a command from an external control device 11 via the network 10 in addition to the operation controlled by the control unit 5 of the own device. The system operation in this case can be realized by providing the control unit (not shown) of the control device 11 with a function unit equivalent to that of the control unit 5.

記憶部6は、CPU5aが設定制御部5b、測定制御部5c、表示制御部5d、位相補正制御部5eなどの各機能部を実現するために必要なプログラムに加えて、位相補正制御部5eがクロック再生処理時にDC入力値の掃引制御(第2の掃引制御)を行う際に用いる位相補正制御テーブル6aを記憶している。 The storage unit 6 includes a phase correction control unit 5e in addition to a program necessary for the CPU 5a to realize each functional unit such as a setting control unit 5b, a measurement control unit 5c, a display control unit 5d, and a phase correction control unit 5e. The phase correction control table 6a used when performing the sweep control (second sweep control) of the DC input value at the time of the clock reproduction processing is stored.

位相補正制御テーブル6aは、例えば、図5に示すように、DUT50が出力可能な被測定信号の伝送レートの規格A1、A2、A3、A4、・・・にそれぞれ対応付けて、伝送レートTr1、Tr2、Tr3、Tr4、・・・と、位相補正値V21、V22、V23、V24、・・・とが格納されたデータ内容を有している。ここで位相補正値(DC入力値)V21、V22、V23、V24、・・・は、それぞれ、例えば、0.1V(ボルト)、0.2V、0.3V、0.4V、・・・となっている。 As shown in FIG. 5, for example, the phase correction control table 6a corresponds to the transmission rate standards A1, A2, A3, A4, ... Of the signal to be measured that can be output by the DUT 50, and the transmission rate Tr1. It has data contents in which Tr2, Tr3, Tr4, ... And phase correction values V21, V22, V23, V24, ... Are stored. Here, the phase correction values (DC input values) V21, V22, V23, V24, ... Are, for example, 0.1V (volt), 0.2V, 0.3V, 0.4V, ..., respectively. It has become.

位相補正制御テーブル6aにおいて、規格A1、A2、A3、A4、・・・が割り振られる信号種別としては、それぞれ異なる信号パターンを有するNRZ(Non Return to Zero)信号、PAM(パルス振幅変調:Pulse-Amplitude Modulation)4及びPAM8等がある。上記信号パターンについては、NRZ信号の評価用としては、例えば、PRBS7(パターン長:27 -1)、PRBS9(パターン長:29 -1)、PRBS10(パターン長:210-1)、PRBS11(パターン長:211-1)、PRBS15(パターン長:215-1)、PRBS20(パターン長:220-1)等の擬似ランダム(PRBS(Pseudo Random Binary Sequence:PRBS)パターンが挙げられる。また、PAM評価用としては、PRBS13Q、PRQS10、SSPR等のパターンがある。 In the phase correction control table 6a, the signal types to which the standards A1, A2, A3, A4, ... Are assigned include NRZ (Non Return to Zero) signals having different signal patterns, and PAM (Pulse Amplitude Modulation: Pulse-). Amplitude Modulation) 4 and PAM8 and the like. Regarding the above signal pattern, for evaluation of the NRZ signal, for example, PRBS7 (pattern length: 2 7 -1), PRBS 9 (pattern length: 2 9 -1), PRBS 10 (pattern length: 2 10 -1), PRBS 11 Pseudo-random (PRBS (Pseudo Random Binary Sequence: PRBS) patterns such as (pattern length: 2 11 -1), PRBS 15 (pattern length: 2 15 -1), PRBS 20 (pattern length: 2 20 -1), etc. can be mentioned. Further, for PAM evaluation, there are patterns such as PRBS13Q, PRQS10, and SSPR.

また、位相補正制御テーブル6aにおいて、上記各規格に対応する伝送レートTr1、Tr2、Tr3、Tr4、・・・としては、例えば、イーサネット(登録商標)の規格である100GbE(Gigabit Ethernet:ギガビットイーサネット)、200GBe、400GBeなどが挙げられる。また、他の規格レートとしては、例えば、25.5Gbaud~28.2Gbaudの伝送レート範囲内の任意の伝送レートが挙げられる。 Further, in the phase correction control table 6a, the transmission rates Tr1, Tr2, Tr3, Tr4, ... Corresponding to each of the above standards are, for example, 100 GbE (Gigabit Ethernet: Gigabit Ethernet) which is a standard of Ethernet (registered trademark). , 200 GBe, 400 GBe and the like. Further, as another standard rate, for example, an arbitrary transmission rate within the transmission rate range of 25.5 Gbad to 28.2 Gbaud can be mentioned.

また、位相補正制御テーブル6aにおいて、位相補正値V21、V22、V23、V24、・・・は、上述した各規格レートのデータ信号が入力されたときに、該データ信号とVCO3aから出力されるクロック信号の位相差がなくなるとき、つまり、PLL回路部3eのロック時のDC入力値(ロック時電圧)に相当する。これらロック時電圧は、実際の波形観測に倣って事前に実施される模擬測定試験により取得することができる。すなわち、模擬測定試験においては、クロックリカバリー回路3に各規格レートの模擬データ信号を順番に入力しつつ、規格レートごとにDC入力値に関する第1の掃引制御を実施し、それぞれ、PLL回路部3eがロックしたときのDC入力値を取得する。そして、取得したDC入力値を保存しておき、後述するテーブル設定モードにおいて、保存しておいたDC入力値を各規格に対応付けて登録することで位相補正制御テーブル6a(図5参照)を設定(生成)することができる。 Further, in the phase correction control table 6a, the phase correction values V21, V22, V23, V24, ... Are the clocks output from the data signal and VCO3a when the data signal of each standard rate described above is input. This corresponds to the DC input value (locked voltage) when the phase difference of the signal disappears, that is, when the PLL circuit unit 3e is locked. These locked voltages can be obtained by a mock measurement test conducted in advance following actual waveform observation. That is, in the simulated measurement test, while the simulated data signals of each standard rate are sequentially input to the clock recovery circuit 3, the first sweep control regarding the DC input value is performed for each standard rate, and each of them is the PLL circuit unit 3e. Gets the DC input value when locked. Then, the acquired DC input value is saved, and in the table setting mode described later, the saved DC input value is registered in association with each standard to create the phase correction control table 6a (see FIG. 5). Can be set (generated).

なお、位相補正制御テーブル6aは、同一の規格レートに対して、1以上のロック時電圧(位相補正値)が登録されるデータ内容ものであってもよい。このような形式の位相補正制御テーブル6aは、DUT50として、例えば、複数の任意の伝送レートの信号を出力することが可能な誤り率測定装置や移動無線通信装置等の機器を用い、該機器から選択的に出力される信号の波形観測を行う場合におけるロック時間短縮に有用である。 The phase correction control table 6a may have data contents in which one or more locked voltages (phase correction values) are registered for the same standard rate. The phase correction control table 6a of this type uses, for example, a device such as an error rate measuring device or a mobile wireless communication device capable of outputting signals of a plurality of arbitrary transmission rates as the DUT 50, and is used from the device. It is useful for shortening the lock time when observing the waveform of a signal that is selectively output.

このように、位相補正制御テーブル6aは、クロックリカバリー回路3に対してDUT50から入力するデータ信号(NRZ信号、PAM4信号、PAM8信号等)の規格ごとに、当該規格のデータ信号(被測定信号)が入力されたときのロック時電圧を登録したものである。上述した第1の掃引制御に係る電圧範囲をV0~V1とした場合(図3参照)、位相補正制御テーブル6aに登録されているロック時電圧V21、V22、V23、V24、・・・は、当該V0~V1の電圧範囲内の電圧値である。 As described above, the phase correction control table 6a is a data signal (measured signal) of the standard for each data signal (NRZ signal, PAM4 signal, PAM8 signal, etc.) input from the DUT 50 to the clock recovery circuit 3. The locked voltage when is input is registered. When the voltage range related to the first sweep control described above is V0 to V1 (see FIG. 3), the locked voltages V21, V22, V23, V24, ... Registered in the phase correction control table 6a are It is a voltage value within the voltage range of V0 to V1.

操作部7は、例えばスイッチやボタンなどの操作パネルで構成される。操作パネルはタッチパネル機能を有するものであってもよい。操作部7は、DUT50の波形観測前に実施されるクロック再生処理の開始や停止の指示、その後におけるDUT50の波形観測の開始や停止の指示、表示部8に所望の表示を行うために必要な各種情報の設定を含め、DUT50の波形測定に必要な各種設定を選択的に実行可能な構成となっている。本実施形態において、操作部7は、表示部8での上述した入力画面の表示中、該入力画面に表示される複数の規格の中から所望の規格を選択するための選択操作を受付け、該選択操作により選択された規格に対応する伝送レートを入力することが可能な構成となっている。このように、操作部7は、表示部8及び表示制御部5dとともに、伝送レート入力手段9(図4参照)を構成している。 The operation unit 7 is composed of an operation panel such as a switch or a button. The operation panel may have a touch panel function. The operation unit 7 is necessary for instructing the start and stop of the clock regeneration process performed before the waveform observation of the DUT 50, instructing the start and stop of the waveform observation of the DUT 50 after that, and performing a desired display on the display unit 8. The configuration is such that various settings necessary for waveform measurement of the DUT 50, including settings of various information, can be selectively executed. In the present embodiment, the operation unit 7 receives a selection operation for selecting a desired standard from a plurality of standards displayed on the input screen while the above-mentioned input screen is displayed on the display unit 8, and the operation unit 7 receives the selection operation. The configuration is such that the transmission rate corresponding to the selected standard can be input by the selection operation. As described above, the operation unit 7 constitutes the transmission rate input means 9 (see FIG. 4) together with the display unit 8 and the display control unit 5d.

表示部8は、液晶パネルなどの表示器で構成され、クロック再生処理を含むDUT50の波形測定に係る種々の情報を表示するものである。本実施形態において、表示部8は、表示制御部5dの制御により上述した伝送レート入力手段9を構成する入力画面を表示するようになっている。 The display unit 8 is composed of a display such as a liquid crystal panel, and displays various information related to the waveform measurement of the DUT 50 including the clock recovery process. In the present embodiment, the display unit 8 displays the input screen constituting the transmission rate input means 9 described above under the control of the display control unit 5d.

次に、上述した構成を有するサンプリングオシロスコープ1の動作について説明する。このサンプリングオシロスコープ1は、テーブル設定モード、位相補正制御モード、及び波形観測モードを有する。テーブル設定モードでは、表示制御部5dにより、被測定信号の規格及び伝送レートを設定するためのUI画面が表示部8に表示され、該UI画面上で、例えば、操作部7での入力操作等により、上述した模擬測定試験で取得し保持しておいたDC入力値を使って位相補正制御テーブル6aの設定を行うことができる。 Next, the operation of the sampling oscilloscope 1 having the above-described configuration will be described. The sampling oscilloscope 1 has a table setting mode, a phase correction control mode, and a waveform observation mode. In the table setting mode, the display control unit 5d displays a UI screen for setting the standard and transmission rate of the signal to be measured on the display unit 8, and on the UI screen, for example, an input operation on the operation unit 7 or the like. Therefore, the phase correction control table 6a can be set using the DC input value acquired and held in the simulated measurement test described above.

位相補正制御モードではまず、DUT50から波形観測を行うデータ信号(被測定信号)を入力する前に、表示制御部5dにより、被測定信号の伝送レートを入力するための入力画面を表示部8に表示される。ユーザは、操作部7での所定の選択操作によって、該入力画面上の所望の規格を選択することで、該選択された規格に対応する伝送レートを被測定信号に関連付けて入力することができる。 In the phase correction control mode, first, before inputting the data signal (measured signal) for waveform observation from the DUT 50, the display control unit 5d displays an input screen for inputting the transmission rate of the measured signal on the display unit 8. Is displayed. By selecting a desired standard on the input screen by a predetermined selection operation on the operation unit 7, the user can input the transmission rate corresponding to the selected standard in association with the signal to be measured. ..

また、位相補正制御モードでは、上述した規格レートの選択後、ユーザが例えば操作部7において位相補正開始操作を行うことで、波形観測対象のDUT50からのデータ信号(被測定信号)の入力に合わせて、入力された伝送レートに対応して位相補正制御テーブル6aに格納されているロック時電圧を用いた上述の第2の掃引制御が開始される。 Further, in the phase correction control mode, after selecting the standard rate described above, the user performs a phase correction start operation, for example, in the operation unit 7, so that the data signal (measured signal) from the DUT 50 to be observed in the waveform is input. Then, the above-mentioned second sweep control using the locked voltage stored in the phase correction control table 6a corresponding to the input transmission rate is started.

この第2の掃引制御により、クロックリカバリー回路3では、入力するデータ信号に同期(シンボル同期)したクロック信号を短時間で再生することができ、ロック時間を短縮することが可能になる。シンボル同期は、サンプリングオシロスコープ1において、DUT50から入力するデータ信号を、波形観測部4の信号波形処理部43での信号処理を経て、アイパターンの最も開いた瞬間の波形を表示部8に表示可能な同期状態である。 By this second sweep control, the clock recovery circuit 3 can reproduce the clock signal synchronized with the input data signal (symbol synchronization) in a short time, and the lock time can be shortened. In the symbol synchronization, in the sampling oscilloscope 1, the data signal input from the DUT 50 is processed by the signal waveform processing unit 43 of the waveform observation unit 4, and the waveform at the most open moment of the eye pattern can be displayed on the display unit 8. Synchronized state.

位相補正制御モードでのクロック信号の再生時間が短縮されるのに合わせて、位相補正制御モードの後、波形観測モードへの迅速な移行が可能になる。波形観測モードでは、波形観測部4で、DUT50から入力するデータ信号を該データ信号に同期するクロック信号を用いて信号処理し、該処理後の信号の波形を表示部8に表示する処理が行われる。 As the reproduction time of the clock signal in the phase correction control mode is shortened, it becomes possible to quickly shift to the waveform observation mode after the phase correction control mode. In the waveform observation mode, the waveform observation unit 4 performs signal processing using a clock signal that synchronizes the data signal input from the DUT 50 with the data signal, and displays the waveform of the processed signal on the display unit 8. Will be.

以下、本実施形態に係るサンプリングオシロスコープ1のクロック再生処理動作について、図6に示すフローチャートを参照して説明する。このクロック再生処理においてはまず、テーブル設定モードを設定し、設定制御部5bは、操作部7からの操作入力に応じて、DC入力値の掃引制御に用いる位相補正制御テーブル6aを上述した方法で設定する(ステップS1)。 Hereinafter, the clock recovery processing operation of the sampling oscilloscope 1 according to the present embodiment will be described with reference to the flowchart shown in FIG. In this clock recovery process, first, the table setting mode is set, and the setting control unit 5b sets the phase correction control table 6a used for the sweep control of the DC input value according to the operation input from the operation unit 7 by the method described above. Set (step S1).

その後、位相補正制御モードが設定されると、位相補正制御部5eは、伝送レート入力手段9による伝送レートの入力、及び操作部7からの位相補正制御開始操作を受け付ける処理を行う(ステップS2)。 After that, when the phase correction control mode is set, the phase correction control unit 5e performs a process of receiving the transmission rate input by the transmission rate input means 9 and the phase correction control start operation from the operation unit 7 (step S2). ..

伝送レートの入力が受け付けられ、さらに位相補正制御開始操作が受け付けられると、位相補正制御部5eは、DUT50からの入力信号(被測定信号)の取込み(ステップS3)を開始する。 When the input of the transmission rate is accepted and the phase correction control start operation is further accepted, the phase correction control unit 5e starts taking in the input signal (measured signal) from the DUT 50 (step S3).

引き続き、位相補正制御部5eは、入力信号に対して伝送レートが関連付けられているか否かをチェックする。具体的に、位相補正制御部5eは、ステップS2で入力された伝送レートが位相補正制御テーブル6aに格納されている規格レートか否かを判定する(ステップS4)。 Subsequently, the phase correction control unit 5e checks whether or not the transmission rate is associated with the input signal. Specifically, the phase correction control unit 5e determines whether or not the transmission rate input in step S2 is a standard rate stored in the phase correction control table 6a (step S4).

ここで、入力された伝送レートが規格レートであると判定された場合(ステップS4でYES)、位相補正制御部5eは、その入力されている規格レートに対応して位相補正制御テーブル6aに格納されている位相補正値(ロック時電圧)を読み出して位相シフト回路3bに設定し、上述した第2の掃引制御を実施する(ステップS5)。 Here, when it is determined that the input transmission rate is the standard rate (YES in step S4), the phase correction control unit 5e stores in the phase correction control table 6a corresponding to the input standard rate. The phase correction value (locked voltage) is read out and set in the phase shift circuit 3b, and the above-mentioned second sweep control is performed (step S5).

第2の掃引制御において、位相補正制御部5eは、DC入力値として設定されたロック時電圧を基点に、VCO3aから出力されるクロック信号の位相をシフトさせて位相シフト回路3bに入力させるように位相シフト回路3bを制御する。ステップS5での第2の掃引制御の実施後、位相補正制御部5eは、ステップS7へ移行する。 In the second sweep control, the phase correction control unit 5e shifts the phase of the clock signal output from the VCO 3a from the lock voltage set as the DC input value as the base point, and causes the phase shift circuit 3b to input the phase. The phase shift circuit 3b is controlled. After performing the second sweep control in step S5, the phase correction control unit 5e shifts to step S7.

これに対し、入力された伝送レートが規格レートではないと(入力信号が任意の伝送レートである)判定された場合(ステップS4でNO)、位相補正制御部5eは、上述した第1の掃引制御を実施する(ステップS6)。 On the other hand, when it is determined that the input transmission rate is not the standard rate (the input signal is an arbitrary transmission rate) (NO in step S4), the phase correction control unit 5e uses the first sweep described above. Control is carried out (step S6).

この第1の掃引制御において、位相補正制御部5eは、位相シフト回路3bに対して上述した電圧範囲V0~V1内の電圧幅V11の各位相補正値を網羅的に順次設定する掃引制御を実施し、VCO3aから出力されるクロック信号の位相を順次設定された位相補正値に基づきシフトさせて位相比較器3cに入力させるようにシフト回路3bを制御する。ステップS6での第1の掃引制御の実施後、位相補正制御部5eは、ステップS7へ移行する。 In this first sweep control, the phase correction control unit 5e performs a sweep control for comprehensively and sequentially setting each phase correction value of the voltage width V11 in the voltage range V0 to V1 described above with respect to the phase shift circuit 3b. Then, the shift circuit 3b is controlled so that the phase of the clock signal output from the VCO 3a is sequentially shifted based on the set phase correction value and input to the phase comparator 3c. After performing the first sweep control in step S6, the phase correction control unit 5e shifts to step S7.

ステップS7において、位相補正制御部5eは、ステップS5での第2の掃引制御、若しくは、ステップS6での第1の掃引制御によってPLL回路部3eがロックしたか否かを判定するロック確認の処理を行う。 In step S7, the phase correction control unit 5e determines whether or not the PLL circuit unit 3e is locked by the second sweep control in step S5 or the first sweep control in step S6. I do.

ロックしたか否かの判定を可能にすべく、記憶部6には、位相補正制御テーブル6aの他、位相補正制御テーブル6aに登録されている伝送レート(規格レート)にそれぞれ対応するクロック信号の数(所定期間内の数)が期待値として事前に記憶されている。期待値は、データ信号の伝送レートによって変わる。 In order to enable determination as to whether or not the clock is locked, the storage unit 6 contains clock signals corresponding to the transmission rates (standard rates) registered in the phase correction control table 6a in addition to the phase correction control table 6a. The number (number within a predetermined period) is stored in advance as an expected value. The expected value depends on the transmission rate of the data signal.

ステップS6において、位相補正制御部5eのロック判定部5e1は、VCO3aから出力されるクロック信号をロック確認用クロック信号として取込んで計数し、所定期間内におけるロック確認用クロック信号の計数値が期待値に一致した場合にはロックが確立したと判定し、不一致の場合にはロックが確立していないと判定する。 In step S6, the lock determination unit 5e1 of the phase correction control unit 5e captures and counts the clock signal output from the VCO3a as the lock confirmation clock signal, and the count value of the lock confirmation clock signal within a predetermined period is expected. If the values match, it is determined that the lock has been established, and if they do not match, it is determined that the lock has not been established.

上記ロック確認用クロック信号の計数値に基づきPLL回路部3eがロックしていないと判定された場合(ステップS7でNO)、位相補正制御部5eは、当該ロック確認処理を続行する。 When it is determined that the PLL circuit unit 3e is not locked based on the count value of the lock confirmation clock signal (NO in step S7), the phase correction control unit 5e continues the lock confirmation process.

この間、PLL回路部3eがロックしたと判定された場合(ステップS7でYES)、位相補正制御部5eは、位相シフト回路3bの位相補正値をロックが確認されたときの値に固定し(ステップS8)、このときのVCO3aの出力をステップS2で入力されたデータ信号に同期したクロック信号としてクロックリカバリー回路3から出力させる制御を行う(ステップS8)。 During this period, if it is determined that the PLL circuit unit 3e is locked (YES in step S7), the phase correction control unit 5e fixes the phase correction value of the phase shift circuit 3b to the value at the time when the lock is confirmed (step). S8), control is performed so that the output of the VCO3a at this time is output from the clock recovery circuit 3 as a clock signal synchronized with the data signal input in step S2 (step S8).

ステップS7でロックが確認された後、サンプリングオシロスコープ1では、ユーザの波形観測モード設定操作により波形観測モードに移行し、波形観測部4において、クロックリカバリー回路3から供給されるクロック信号を用いて、クロックリカバリー回路3の前段で分岐されたデータ信号の波形観測処理(ステップS11)を実行可能となる。 After the lock is confirmed in step S7, the sampling oscilloscope 1 shifts to the waveform observation mode by the user's waveform observation mode setting operation, and the waveform observation unit 4 uses the clock signal supplied from the clock recovery circuit 3 to use the clock signal. The waveform observation process (step S11) of the data signal branched in the previous stage of the clock recovery circuit 3 can be executed.

図6に示す一連のクロック再生処理によれば、DUT50から入力されるデータ信号(被測定信号)に関連付けて伝送レートが入力されていない場合、ステップS6において、第1の掃引制御が実施される。第1の掃引制御では、例えば、図3に示すように、DC入力値を、例えば電圧範囲V0~V1内で、電圧幅V11ごとに変動させて網羅的に設定する制御が行われるため、ロック時電圧値が見つかるまでの時間(例えば、t1)が長くかかる傾向にある。 According to the series of clock regeneration processes shown in FIG. 6, when the transmission rate is not input in association with the data signal (measured signal) input from the DUT 50, the first sweep control is performed in step S6. .. In the first sweep control, for example, as shown in FIG. 3, control is performed in which the DC input value is comprehensively set by varying it for each voltage width V11 within the voltage range V0 to V1, for example. It tends to take a long time (for example, t1) to find the hourly voltage value.

これに対して、DUT50から入力される被測定信号に関連付けて伝送レートが入力されている場合には、ステップS5において第2の掃引制御が実施される。第2の掃引制御では、選択された伝送レートに対応するロック時電圧が位相補正制御テーブル6aから位相シフト回路3bにダイレクトに設定されるため、第1の掃引制御に係るDC入力値の網羅的な設定制御が不要となる。 On the other hand, when the transmission rate is input in association with the measured signal input from the DUT 50, the second sweep control is performed in step S5. In the second sweep control, the locked voltage corresponding to the selected transmission rate is set directly from the phase correction control table 6a to the phase shift circuit 3b, so that the DC input values related to the first sweep control are comprehensively set. No need for setting control.

ここで例えば、模擬測定試験により取得されている、ある規格の被測定信号を入力したときのPLL回路部3eのロック時電圧が例えば図3におけるV21であるものとしたとき、この被測定信号をDUT50から入力した際の図6に示すクロックリカバリー再生処理においては、ステップS5で、位相補正制御テーブル6aから当該ロック時電圧V21が位相シフト回路3bにダイレクトに設定される。このとき、PLL回路部3eがロックするまでの時間t2は、理想的には0(零)となり、第1の掃引制御によってロック時電圧値が見つかるまでの時間(例えば、t1)と比べて大幅に短縮されることとなる。 Here, for example, assuming that the locked voltage of the PLL circuit unit 3e when a signal to be measured of a certain standard, which is acquired by a simulated measurement test, is V21 in FIG. 3, this signal to be measured is used. In the clock recovery reproduction process shown in FIG. 6 when input from the DUT 50, the locked voltage V21 is directly set in the phase shift circuit 3b from the phase correction control table 6a in step S5. At this time, the time t2 until the PLL circuit unit 3e locks is ideally 0 (zero), which is significantly larger than the time until the locked voltage value is found by the first sweep control (for example, t1). Will be shortened to.

なお、上記実施形態では、位相補正制御テーブル6aの構成を図5に示すデータ構造とすることで、規格を入力(選択)することで被測定信号の伝送レートを入力する例を挙げているが、本発明は、これに限らず、被測定信号の伝送レートを直接入力する構成としてもよい。 In the above embodiment, an example is given in which the transmission rate of the signal to be measured is input by inputting (selecting) a standard by using the data structure shown in FIG. 5 for the configuration of the phase correction control table 6a. The present invention is not limited to this, and may be configured to directly input the transmission rate of the signal to be measured.

また、上記実施形態では、入力された規格または伝送レートに応じて当該規格または伝送レートに対応付けて格納されている位相補正値を設定する制御機能をサンプリングオシロスコープ1の制御部5に設けた構成例を挙げているが、これに限らず、当該制御機能を外部の制御装置11に実装し、該制御装置11からネットワーク10を介してサンプリングオシロスコープ1の位相補正制御を実施させる構成としてもよい。 Further, in the above embodiment, the control unit 5 of the sampling oscilloscope 1 is provided with a control function for setting a phase correction value stored in association with the standard or transmission rate according to the input standard or transmission rate. Although an example is given, the present invention is not limited to this, and the control function may be mounted on an external control device 11 and the phase correction control of the sampling oscilloscope 1 may be performed from the control device 11 via the network 10.

また、上記実施形態では、サンプリングオシロスコープ1がクロックリカバリー回路3を含む構成を例示しているが、クロックリカバリー回路3をサンプリングオシロスコープ1の外部に配置した構成であってもよい。 Further, in the above embodiment, the configuration in which the sampling oscilloscope 1 includes the clock recovery circuit 3 is exemplified, but the configuration may be such that the clock recovery circuit 3 is arranged outside the sampling oscilloscope 1.

また、上記実施形態では、主として光デバイスからの信号を処理する場合の例を主体に説明してきたが、本発明は、誤り率測定装置など、被測定信号を送出可能な種々のデバイスあるいはモジュールからの信号を入力し、該入力信号からのクロック再生処理並びに波形観測処理を行えるものである。 Further, in the above embodiment, an example of mainly processing a signal from an optical device has been mainly described, but the present invention has been made from various devices or modules capable of transmitting a signal to be measured, such as an error rate measuring device. It is possible to input the signal of the above and perform clock reproduction processing and waveform observation processing from the input signal.

上述したように、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力するVCO3aと、入力信号とクロック信号との位相差信号に応じた電圧を入力電圧としてVCO3aに出力する位相比較器3cとを有するPLL回路部3eを備え、PLL回路部3eがロックするように、位相比較器3cに入力するクロック信号の位相をシフトさせる制御を行ってクロック信号を入力信号に同期させるものであって、伝送レートに対応して、入力信号が該伝送レートを有するときのPLL回路部3eのロック時電圧(位相補正値)を格納する位相補正制御テーブル6aと、入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段9と、入力信号に伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して位相補正制御テーブル6aに格納されているロック時電圧を用いて位相比較器3cに入力するクロック信号の位相シフト制御を実行する位相補正制御部5eと、を有している。 As described above, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment inputs a VCO3a that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to the input voltage and a voltage corresponding to the phase difference signal between the input signal and the clock signal. A PLL circuit unit 3e having a phase comparator 3c to output to the VCO 3a is provided, and a control is performed to shift the phase of the clock signal input to the phase comparator 3c so that the PLL circuit unit 3e is locked to obtain a clock signal. A phase correction control table 6a that synchronizes with the input signal and stores the locked voltage (phase correction value) of the PLL circuit unit 3e when the input signal has the transmission rate corresponding to the transmission rate. When the transmission rate input means 9 for inputting the transmission rate in association with the input signal and the transmission rate are associated with the input signal, the locked voltage stored in the phase correction control table 6a corresponding to the transmission rate is used. It has a phase correction control unit 5e that executes phase shift control of a clock signal input to the phase comparator 3c.

この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、伝送レートの規格に沿った(伝送レートが関連付けられている)入力信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって入力信号に関連付けられた、つまり、選択的に入力された伝送レートに対応するロック時電圧を位相補正制御テーブル6aから読み出して位相比較器3cに入力するクロック信号の位相シフトを開始させることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部3eのロックまでの速度の向上が見込める。また、この構成によれば、位相シフトに用いる制御電圧に関する情報の記憶容量を抑制し、回路構成のコスト低減を図ることができる。 With this configuration, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment is associated with the input signal by the user when the clock signal is reproduced from the input signal according to the standard of the transmission rate (the transmission rate is associated). That is, the control voltage used for the phase shift is started by reading the locked lock voltage corresponding to the selectively input transmission rate from the phase correction control table 6a and starting the phase shift of the clock signal input to the phase comparator 3c. It is expected that the speed up to the lock of the PLL circuit unit 3e will be improved as compared with the method of comprehensively scanning. Further, according to this configuration, it is possible to suppress the storage capacity of information related to the control voltage used for the phase shift and reduce the cost of the circuit configuration.

また、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3において、位相補正制御テーブル6aは、伝送レートに対応して該伝送レートの規格をさらに格納し、伝送レート入力手段9は、規格の選択を受付けて、該選択された規格に対応する伝送レートを入力する構成である。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、ユーザが規格を選択するだけで伝送レートの入力が行え、ユーザの操作性を高めることができる。 Further, in the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment, the phase correction control table 6a further stores the standard of the transmission rate corresponding to the transmission rate, and the transmission rate input means 9 accepts the selection of the standard. The configuration is such that the transmission rate corresponding to the selected standard is input. With this configuration, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment can input the transmission rate only by the user selecting a standard, and can improve the operability of the user.

また、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3において、位相補正制御テーブル6aは、同一の伝送レートに対応して、異なる複数のロック時電圧が格納される構成としてもよい。この構成により、クロックリカバリー回路3では、例えば、複数の任意の伝送レートの信号を選択的に出力することが可能な誤り率測定装置等の機器からの被測定信号の入力時のロック時間短縮に有用なものとなる。 Further, in the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment, the phase correction control table 6a may be configured to store a plurality of different locked lock voltages corresponding to the same transmission rate. With this configuration, in the clock recovery circuit 3, for example, the lock time at the time of inputting a signal to be measured from a device such as an error rate measuring device capable of selectively outputting a plurality of signals of an arbitrary transmission rate can be shortened. It will be useful.

また、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3において、入力信号は、PRBSパターンを有するNRZ信号、及びPAM信号であり、位相補正制御テーブル6aは、NRZ信号、及びPAM信号の伝送レートに対応するロック時電圧を格納している構成を有する。 Further, in the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment, the input signals are an NRZ signal having a PRBS pattern and a PAM signal, and the phase correction control table 6a is a lock corresponding to the transmission rate of the NRZ signal and the PAM signal. It has a configuration that stores the hour voltage.

この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、伝送レートを入力させたうえで、PRBSパターンを有するNRZ信号、及びPAM信号を入力信号として受け付けることで、該入力信号に対するロック時間を短縮することができる。 With this configuration, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment receives the NRZ signal having the PRBS pattern and the PAM signal as the input signal after inputting the transmission rate, thereby shortening the lock time for the input signal. can do.

また、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3において、位相補正制御テーブル6aは、少なくとも100GbE、200GbE、400GbEの各伝送レート、若しくは25.5Gbaud~28.2Gbaudの伝送レート範囲内における任意の伝送レートにそれぞれ対応するロック時電圧を格納している。 Further, in the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment, the phase correction control table 6a has a transmission rate of at least 100 GbE, 200 GbE, and 400 GbE, or an arbitrary transmission rate within a transmission rate range of 25.5 Gbaud to 28.2 Gbaud. Each stores the corresponding locked voltage.

この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、100GbE、200GbE、400GbEの各伝送レート、25.5Gbaud~28.2Gbaud内の任意の伝送レートを有する入力信号に対するロック時間を短縮することが可能となる。 With this configuration, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment can shorten the lock time for an input signal having a transmission rate of 100 GbE, 200 GbE, or 400 GbE, and an arbitrary transmission rate within 25.5 Gbaud to 28.2 Gbaud. It will be possible.

また、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3において、制御部5及び位相補正制御部5eは、VCO3aが出力するクロック信号の数を計数し、該計数値が、入力信号に関連付けて入力されている伝送レート(規格)に対応する期待値クロック数となったときに、PLL回路部3eがロックしたものと判定するロック判定部5e1を有している。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリー回路3は、PLL回路部3eのロックを短時間かつ正確に検出することができ、ロック後の波形観測へ迅速に移行できる。 Further, in the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment, the control unit 5 and the phase correction control unit 5e count the number of clock signals output by the VCO 3a, and the counted values are input in association with the input signal. It has a lock determination unit 5e1 that determines that the PLL circuit unit 3e has locked when the expected value clock number corresponding to the transmission rate (standard) is reached. With this configuration, the clock recovery circuit 3 according to the present embodiment can detect the lock of the PLL circuit unit 3e in a short time and accurately, and can quickly shift to the waveform observation after the lock.

また、本実施形態に係るサンプリングオシロスコープ1は、上述した構成のクロックリカバリー回路3を含み、DUT50が出力する被測定信号を入力信号としてクロックリカバリー回路3により再生されるクロック信号に基づいてDUT50の波形観測を行うものであって、クロックリカバリー回路3は、伝送レートに対応して、DUT50が該伝送レートを有するときのPLL回路部3eのロック時電圧を格納する位相補正制御テーブル6aと、DUT50に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段9と、入力信号に伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して位相補正制御テーブル6aに格納されているロック時電圧を用いて位相シフト制御を実行する位相補正制御部5eと、を有する構成である。 Further, the sampling oscilloscope 1 according to the present embodiment includes the clock recovery circuit 3 having the above-described configuration, and the waveform of the DUT 50 is based on the clock signal reproduced by the clock recovery circuit 3 with the measured signal output by the DUT 50 as an input signal. The clock recovery circuit 3 is used for observation, and the clock recovery circuit 3 includes a phase correction control table 6a for storing the locked voltage of the PLL circuit unit 3e when the DUT 50 has the transmission rate, and the DUT 50. When the transmission rate input means 9 for inputting the transmission rate in association with the transmission rate and the transmission rate are associated with the input signal, the phase is used by using the locked voltage stored in the phase correction control table 6a corresponding to the transmission rate. It is configured to include a phase correction control unit 5e that executes shift control.

この構成により、本実施形態に係るサンプリングオシロスコープ1は、クロックリカバリー回路3において、伝送レートの規格に沿った(伝送レートが関連付けられている)被測定信号からクロック信号を再生するときに、ユーザによって入力信号に関連付けられた、つまり、選択的に入力された伝送レートに対応するロック時電圧を用いることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部3eのロックまでの速度を短縮することができる。これにより、被測定信号を出力するDUT50の1個当たりの波形観測時間を短縮し、該DUT50の生産スループットを向上させることが可能となる。また、この構成によれば、位相シフトに用いる制御電圧に関する情報の記憶容量を抑制し、回路構成のコスト低減を図ることができる。 With this configuration, the sampling oscilloscope 1 according to the present embodiment is used by the user when the clock signal is reproduced from the measured signal (with which the transmission rate is associated) in accordance with the transmission rate standard in the clock recovery circuit 3. The PLL circuit unit 3e is compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift by using the lock voltage associated with the input signal, that is, corresponding to the selectively input transmission rate. The speed to lock can be reduced. This makes it possible to shorten the waveform observation time per DUT 50 that outputs the signal to be measured and improve the production throughput of the DUT 50. Further, according to this configuration, it is possible to suppress the storage capacity of information related to the control voltage used for the phase shift and reduce the cost of the circuit configuration.

また、本実施形態に係るクロック再生方法は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力するVCO3aと、入力信号とクロック信号との位相差信号に応じた電圧を入力電圧としてVCO3aに出力する位相比較器3cとを有するPLL回路部3eがロックするように、位相比較器3cに入力するクロック信号の位相シフト制御を行ってクロック信号を入力信号に同期させるクロック再生方法であって、伝送レートに対応して、入力信号が該伝送レートを有するときのPLL回路部3eのロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、入力信号に伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して格納ステップで格納されているロック時電圧を用いて位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、を含む構成である。 Further, in the clock reproduction method according to the present embodiment, a VCO3a that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage and a voltage corresponding to a phase difference signal between the input signal and the clock signal are output to the VCO3a as an input voltage. This is a clock reproduction method in which the phase shift control of the clock signal input to the phase comparator 3c is performed to synchronize the clock signal with the input signal so that the PLL circuit unit 3e having the phase comparator 3c is locked. A storage step (S1) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit 3e when the input signal has the transmission rate corresponding to the rate, and a transmission rate input step (S2) for inputting the transmission rate in association with the input signal. ), And when a transmission rate is associated with the input signal, a phase correction control step (S5) that executes phase shift control using the locked lock voltage stored in the storage step corresponding to the transmission rate. It is a configuration including.

この構成により、本実施形態に係るクロック再生方法は、伝送レートの規格に沿った入力信号からクロック信号を再生するときに、選択された伝送レートに対応するロック時電圧を位相補正制御テーブル6aから読み出して位相比較器3cに入力するクロック信号の位相シフトを開始させることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部3eのロックまでの速度の向上が見込める。 With this configuration, in the clock reproduction method according to the present embodiment, when the clock signal is reproduced from the input signal according to the transmission rate standard, the locked voltage corresponding to the selected transmission rate is obtained from the phase correction control table 6a. By starting the phase shift of the clock signal read out and input to the phase comparator 3c, the speed up to the lock of the PLL circuit unit 3e is improved as compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the phase shift. You can expect it.

また、本実施形態に係る波形観測方法は、入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力するVCO3aと、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を入力電圧としてVCO3aに出力する位相比較器3cとを有するPLL回路部3eがロックするように、位相比較器3cに入力するクロック信号の位相シフト制御を行ってクロック信号を入力信号に同期させるクロック再生方法を用い、DUT50が出力する被測定信号を入力信号として上記クロック再生方法により再生されるクロック信号に基づいて被測定信号の波形観測を行う方法であって、クロック再生方法は、伝送レートに対応して、被測定信号が該伝送レートを有するときのPLL回路部3eのロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、被測定信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、入力する被測定信号に伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに入力された伝送レートに対応して格納ステップで格納されているロック時電圧を用いて位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、を含む構成を有している。 Further, in the waveform observation method according to the present embodiment, the VCO3a that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to the input voltage and the voltage corresponding to the phase difference signal between the input signal and the clock signal are used as input voltages in the VCO3a. A clock reproduction method is used in which the phase shift control of the clock signal input to the phase comparator 3c is performed so that the PLL circuit unit 3e having the phase comparator 3c to output is locked, and the clock signal is synchronized with the input signal. This is a method of observing the waveform of the measured signal based on the clock signal reproduced by the above clock reproduction method using the measured signal output by the clock as an input signal, and the clock reproduction method corresponds to the transmission rate and is measured. A storage step (S1) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit 3e when the signal has the transmission rate, a transmission rate input step (S2) for inputting the transmission rate in association with the signal to be measured, and a subject to be input. When a transmission rate is associated with the measurement signal, a phase correction control step (S5) that executes phase shift control using the locked lock voltage stored in the storage step corresponding to the transmission rate input to the transmission rate. ) And.

この構成により、本実施形態に係る波形観測方法は、伝送レートの規格に沿った被測定信号からクロック信号を再生するときに、選択された伝送レートに対応するロック時電圧を用いることで、位相シフトに用いる制御電圧を網羅的に走査する方法と比較して、PLL回路部3eのロックまでの速度を短縮することができる。これにより、被測定信号を出力するDUT50の1個当たりの波形観測時間を短縮し、該DUT50の生産スループットを向上させることが可能となる。また、この構成によれば、位相シフトに用いる制御電圧に関する情報の記憶容量を抑制し、回路構成のコスト低減を図ることができる。 With this configuration, the waveform observation method according to the present embodiment uses the locked voltage corresponding to the selected transmission rate when reproducing the clock signal from the measured signal according to the transmission rate standard, thereby performing the phase. Compared with the method of comprehensively scanning the control voltage used for the shift, the speed to lock the PLL circuit unit 3e can be shortened. This makes it possible to shorten the waveform observation time per DUT 50 that outputs the signal to be measured and improve the production throughput of the DUT 50. Further, according to this configuration, it is possible to suppress the storage capacity of information related to the control voltage used for the phase shift and reduce the cost of the circuit configuration.

以上のように、本発明に係るクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法、及び波形観測方法は、既知の伝送レートを有する信号の入力に対するロック時間を短縮し、波形観測時間も短くすることが可能であるという効果を奏し、被測定対象物から波形観測用の信号のみを入力し、該入力信号からクロック信号を再生して当該入力信号の波形観測を行うために用いるクロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法全般に有用である。 As described above, the clock reproduction circuit, the waveform observation device, the clock reproduction method, and the waveform observation method according to the present invention shorten the lock time for the input of a signal having a known transmission rate, and also shorten the waveform observation time. The clock reproduction circuit and waveform used to input only the waveform observation signal from the object to be measured, reproduce the clock signal from the input signal, and observe the waveform of the input signal. It is useful for observation equipment, clock reproduction methods, and waveform observation methods in general.

1 サンプリングオシロスコープ(波形観測装置)
3 クロックリカバリー回路(クロック再生回路)
3a 電圧制御発振器(VCO)
3b 位相シフト回路
3c 位相比較器(Phase Detector:PD)(位相比較手段)
3e PLL(Phase-Locked Loop)回路部
5 制御部
5e 位相補正制御部(位相補正制御手段)
5e1 ロック判定部(ロック判定手段)
6a 位相補正制御テーブル(格納手段)
9 伝送レート入力手段
50 被測定対象物(DUT)
1 Sampling oscilloscope (waveform observation device)
3 Clock recovery circuit (clock regeneration circuit)
3a Voltage Controlled Oscillator (VCO)
3b phase shift circuit 3c phase detector (PD) (phase comparison means)
3e PLL (Phase-Locked Loop) circuit unit 5 control unit 5e phase correction control unit (phase correction control means)
5e1 lock determination unit (lock determination means)
6a Phase correction control table (storage means)
9 Transmission rate input means 50 Object to be measured (DUT)

Claims (9)

入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)を備え、前記PLL回路部がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生回路であって、
伝送レートに対応して、前記入力信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納手段(6a)と、
前記入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段(9)と、
前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納手段に格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御手段(5e)と、
を有することを特徴とするクロック再生回路。
A voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase that outputs a voltage corresponding to a phase difference signal between the input signal and the clock signal to the voltage control oscillator as the input voltage. The PLL circuit unit (3e) having the comparison means (3c) is provided, and the phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means is performed so that the PLL circuit unit is locked, and the clock signal is input. It is a clock reproduction circuit that synchronizes with a signal.
A storage means (6a) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit when the input signal has the transmission rate corresponding to the transmission rate, and
A transmission rate input means (9) for inputting a transmission rate in association with the input signal, and
When the transmission rate is associated with the input signal, the phase correction control means (5e) that executes the phase shift control using the locked voltage stored in the storage means corresponding to the transmission rate. When,
A clock recovery circuit characterized by having.
前記格納手段は、前記伝送レートに対応して該伝送レートの規格をさらに格納し、
前記伝送レート入力手段は、前記規格の選択を受付けて、該選択された規格に対応する前記伝送レートを入力することを特徴とする請求項1に記載のクロック再生回路。
The storage means further stores the standard of the transmission rate corresponding to the transmission rate.
The clock recovery circuit according to claim 1, wherein the transmission rate input means accepts a selection of the standard and inputs the transmission rate corresponding to the selected standard.
前記格納手段は、同一の前記伝送レートに対応して、異なる複数の前記ロック時電圧が格納されていることを特徴とする請求項1または2に記載のクロック再生回路。 The clock recovery circuit according to claim 1 or 2, wherein the storage means stores a plurality of different locked voltage corresponding to the same transmission rate. 前記入力信号は、PRBSパターンを有するNRZ信号、及びPAM信号であり、
前記格納手段は、前記NRZ信号、及び前記PAM信号の伝送レートに対応する前記ロック時電圧を格納していることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のクロック再生回路。
The input signal is an NRZ signal having a PRBS pattern and a PAM signal.
The clock regeneration circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein the storage means stores the locked voltage corresponding to the transmission rate of the NRZ signal and the PAM signal.
前記格納手段は、少なくとも100GbE、200GbE、400GbEの各伝送レート、若しくは25.5Gbaud~28.2Gbaudの伝送レート範囲内における任意の伝送レートにそれぞれ対応する前記ロック時電圧を格納していることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載のクロック再生回路。 The storage means is characterized in that it stores the locked voltage corresponding to at least 100 GbE, 200 GbE, 400 GbE transmission rates, or any transmission rate within the transmission rate range of 25.5 Gbaud to 28.2 Gbaud. The clock regeneration circuit according to any one of claims 1 to 4. 前記電圧制御発振器が出力する前記クロック信号の数を計数し、該計数による前記クロック信号の数の計数値が、前記入力信号に関連付けて入力されている前記規格に対応する期待値クロック数となったときに、前記PLL回路部がロックしたものと判定するロック判定手段(5e1)をさらに有することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載のクロック再生回路。 The number of the clock signals output by the voltage controlled oscillator is counted, and the count value of the number of the clock signals by the counting becomes the expected value clock number corresponding to the standard input in association with the input signal. The clock reproduction circuit according to any one of claims 1 to 4, further comprising a lock determination means (5e1) for determining that the PLL circuit unit is locked. 入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)を備え、前記PLL回路部がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生回路(3)を含み、被測定対象物(50)が出力する被測定信号を前記入力信号として前記クロック再生回路により再生される前記クロック信号に基づいて前記被測定信号の波形観測を行う波形観測装置であって、
前記クロック再生回路は、
伝送レートに対応して、前記被測定信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納手段(6a)と、
前記被測定信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力手段(9)と、
前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納手段に格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御手段(5e)と、
を有することを特徴とする波形観測装置。
A voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase that outputs a voltage corresponding to a phase difference signal between the input signal and the clock signal to the voltage control oscillator as the input voltage. The PLL circuit unit (3e) having the comparison means (3c) is provided, and the phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means is performed so that the PLL circuit unit is locked, and the clock signal is input. The measured signal includes the clock reproduction circuit (3) synchronized with the signal, and the measured signal output by the object to be measured (50) is used as the input signal, and the measured signal is reproduced based on the clock signal reproduced by the clock reproduction circuit. It is a waveform observation device that observes waveforms.
The clock recovery circuit is
A storage means (6a) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit when the signal to be measured has the transmission rate corresponding to the transmission rate, and
A transmission rate input means (9) for inputting a transmission rate in association with the signal to be measured, and a transmission rate input means (9).
When the transmission rate is associated with the input signal, the phase correction control means (5e) that executes the phase shift control using the locked voltage stored in the storage means corresponding to the transmission rate. When,
A waveform observation device characterized by having.
入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生方法であって、
伝送レートに対応して、前記入力信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、
前記入力信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、
前記入力信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納ステップで格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、
を含むことを特徴とするクロック再生方法。
A voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase that outputs a voltage corresponding to a phase difference signal between the input signal and the clock signal to the voltage control oscillator as the input voltage. A clock reproduction method for synchronizing the clock signal with the input signal by performing phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means so that the PLL circuit unit (3e) having the comparison means (3c) is locked. And,
A storage step (S1) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit when the input signal has the transmission rate corresponding to the transmission rate,
A transmission rate input step (S2) for inputting a transmission rate in association with the input signal, and
When the transmission rate is associated with the input signal, the phase correction control step (S5) for executing the phase shift control using the locked voltage stored in the storage step corresponding to the transmission rate. When,
A clock recovery method characterized by including.
入力電圧に応じた発振周波数を有するクロック信号を出力する電圧制御発振器(3a)と、入力信号と前記クロック信号との位相差信号に応じた電圧を前記入力電圧として前記電圧制御発振器に出力する位相比較手段(3c)とを有するPLL回路部(3e)がロックするように、前記位相比較手段に入力する前記クロック信号の位相シフト制御を行って前記クロック信号を前記入力信号に同期させるクロック再生方法を用い、被測定対象物(50)が出力する被測定信号を前記入力信号として前記クロック再生方法により再生される前記クロック信号に基づいて前記被測定信号の波形観測を行う波形観測方法であって、
前記クロック再生方法は、
伝送レートに対応して、前記被測定信号が該伝送レートを有するときの前記PLL回路部のロック時電圧を格納する格納ステップ(S1)と、
前記被測定信号に関連付けて伝送レートを入力する伝送レート入力ステップ(S2)と、
入力する前記被測定信号に前記伝送レートが関連付けられている場合、該伝送レートに対応して前記格納ステップで格納されている前記ロック時電圧を用いて前記位相シフト制御を実行する位相補正制御ステップ(S5)と、
を含むことを特徴とする波形観測方法。
A voltage control oscillator (3a) that outputs a clock signal having an oscillation frequency corresponding to an input voltage, and a phase that outputs a voltage corresponding to a phase difference signal between the input signal and the clock signal to the voltage control oscillator as the input voltage. A clock reproduction method for synchronizing the clock signal with the input signal by performing phase shift control of the clock signal input to the phase comparison means so that the PLL circuit unit (3e) having the comparison means (3c) is locked. Is a waveform observation method for observing the waveform of the measured signal based on the clock signal reproduced by the clock reproduction method using the measured signal output by the object to be measured (50) as the input signal. ,
The clock recovery method is
A storage step (S1) for storing the locked voltage of the PLL circuit unit when the signal to be measured has the transmission rate corresponding to the transmission rate,
A transmission rate input step (S2) for inputting a transmission rate in association with the signal to be measured, and a transmission rate input step (S2).
When the transmission rate is associated with the input signal to be measured, the phase correction control step for executing the phase shift control using the locked voltage stored in the storage step corresponding to the transmission rate. (S5) and
A waveform observation method characterized by including.
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