JP7112833B2 - カード処理装置、料金収受機、カード処理装置評価方法及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、カード処理装置、料金収受機、カード処理装置評価方法及びプログラムに関する。

通常、有料道路の料金所内には、ＩＣカード（クレジットカード等）による支払いに対応するため、カード処理装置（ＩＣカードリーダ；ＩＣＣＲ）が設置されている。ＩＣカードリーダは、挿入口から挿入されたＩＣカードを内部に引き込んで搬送するための搬送機構を有している。一般的に、この搬送機構には複数の消耗部品が使われる。

近年、有料道路における設備の多様化に伴い、通常の料金所から離れた位置にもＩＣカードリーダが設置されるようになっている。この場合、料金所から離れた箇所に配置されたＩＣカードリーダにトラブル（故障）が発生した場合、料金所で待機する係員、又は、保守基地で待機する保守員が現地へ出向く必要があるため、復旧までに時間を要する。
そのため、実際にトラブルが生じる前に適切に部品交換等を行えるよう、故障予測可能なＩＣカードリーダが検討されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２００６－２２８０５０号公報

ＩＣカードリーダの搬送機構には搬送ベルト（平ベルト）などの消耗部品が用いられている。そのため、搬送機構の劣化に起因する故障を予測することが求められている。

本発明の目的は、搬送機構の劣化に起因する故障を予測可能なカード処理装置、料金収受機、カード処理装置評価方法及びプログラムを提供することにある。

本発明の第１の態様によれば、カード処理装置（１）は、搬送機構（１２０）によって搬送されるカード（Ｔ）の搬送速度を取得する搬送速度取得部（１０４）と、複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブル（Ｄ）を生成する搬送速度情報記録処理部（１０５）と、生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価部（１０６）と、を備える。
このようにすることで、複数のカードの搬送速度の代表値を用いて搬送機構の劣化（搬送ベルトの消耗）の度合いを判定する。これにより、特異な形状を有する一つのカード（例えば、反りが大きいカード）の搬送速度の影響を受けにくくなり、搬送ベルトの消耗に起因する故障の予兆を精度良く検出することができる。
以上より、搬送機構の劣化に起因する故障を予測できる。

また、本発明の第２の態様によれば、上述のカード処理装置は、前記搬送機構によって搬送されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定部（１０７）を更に備え、前記劣化評価部は、異なる複数のカードについての前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する。
このようにすることで、カード処理装置は、異なる複数のカードについての搬送速度の代表値に基づいて搬送機構の劣化の度合いを評価する。これにより、カード固有の形状に依存して生じる搬送速度の偏りを低減することができる。したがって、搬送速度の代表値に基づいて、搬送ベルトの消耗の度合いを一層精度よく評価することができる。

また、本発明の第３の態様によれば、前記同一カード判定部は、前記カードに対し磁気データの読取処理を行った結果に基づいて、前記判定を行う。
ここで、通常、磁気データの内容は、カード別に異なっている。したがって、今回取得された磁気データが、既に搬送速度とともに記録されている磁気データのいずれかと一致するか否かを判定することで、今回新たに挿入されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定することができる。

また、本発明の第４の態様によれば、前記同一カード判定部は、前記カードから前記磁気データを読み取れなかった場合に、ＩＣチップ（Ｔ２）に基づく判定結果に基づいて、前記判定を行う。
このようにすることで、磁気データが読み取れなかった場合であっても、ＩＣチップに基づく判定結果を用いて、今回新たに挿入されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定することができる。

また、本発明の第５の態様によれば、前記劣化評価部は、複数のカードについての前記搬送速度のうち、所定の範囲から外れた搬送速度を除外して前記搬送機構の劣化の度合いを評価する。
このようにすることで、例えば、カードが大きく歪んでいたために著しく低下した搬送速度などを、代表値の演算に用いないようにすることができる。

また、本発明の第６の態様によれば、前記搬送速度取得部は、前記カードが前記搬送機構の搬送経路のうちの特定領域を搬送されている間における搬送速度を取得する。ここで、前記特定領域は、利用者が挿入口（Ｉ）から前記カードに触ることができない領域である。
このようにすることで、カードの搬送速度を計測している間に、利用者が当該カードに触れることを防止することができる。したがって、利用者がカードを手で掴む強さの違いなどによって搬送速度の計測結果が変動することを防止できる。これにより、搬送速度の代表値に基づいて、搬送ベルトの消耗の度合いを精度よく評価することができる。

また、本発明の第７の態様によれば、料金収受機（１Ａ）は、上述のカード処理装置を備える。

また、本発明の第８の態様によれば、カード処理装置評価方法は、搬送機構によって搬送されるカードの搬送速度を取得する搬送速度取得ステップと、複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルを生成する搬送速度情報記録処理ステップと、生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価ステップと、を有する。

また、本発明の第９の態様によれば、プログラムは、カード処理装置のコンピュータを、搬送機構によって搬送されるカードの搬送速度を取得する搬送速度取得部、複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルを生成する搬送速度情報記録処理部、生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価部、として機能させる。

上述のカード処理装置、料金収受機、カード処理装置評価方法及びプログラムによれば、搬送機構の劣化に起因する故障を予測できる。

第１の実施形態に係る料金収受機の全体構成を示す図である。 第１の実施形態に係るカード処理装置の構造を示す図である。 第１の実施形態に係る制御部の機能構成を示す図である。 第１の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部の機能を説明する図である。 第１の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第１の図である。 第１の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第２の図である。 第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部の機能を説明する第１の図である。 第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部の機能を説明する第２の図である。 第２の実施形態に係るカード処理装置の機能構成を示す図である。 第２の実施形態に係る故障予測用コンパレータの機能を説明する図である。 第２の実施形態に係る制御部の機能構成を示す図である。 第２の実施形態に係る電圧振幅情報記録処理部の機能を説明する図である。 第２の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第１の図である。 第２の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第２の図である。 第２の実施形態の変形例に係る制御部の処理フローを示す図である。

＜第１の実施形態＞
以下、第１の実施形態に係るカード処理装置について、図１～図８を参照しながら説明する。

（料金収受機の全体構成）
図１は、第１の実施形態に係る料金収受機の全体構成を示す図である。
本実施形態に係る料金収受機１Ａは、有料道路（高速道路）の料金所に設置されている。具体的には、図１に示すように、料金収受機１Ａは、料金所における車線Ｌの路側（アイランド）に設置される。車線Ｌを走行する車両の運転者（有料道路の利用者）は、この料金収受機１Ａとの間で料金収受処理を行う。
図１に示すように、料金収受機１Ａは、ＩＣカード（クレジットカード等）による支払いを可能とするため、カード処理装置１を内蔵している。カード処理装置１は、料金収受処理に際し、利用者が有するＩＣカードに記録された情報の読み出し及び書き込みを行う、いわゆるリーダライタ装置である。料金収受機１Ａは、カード処理装置１を通じて読み出されたＩＣカードに対し、利用日時、走行履歴、収受金額等を含む利用明細情報を記録する。
なお、料金収受機１Ａは、有料道路の本線上に設けられた通常の料金所だけでなく、例えば、サービスエリア、パーキングエリア、バスストップから乗り降りができるように設けられた料金所（いわゆるスマートインターチェンジ）に設置されていてもよい。
また、他の実施形態においては、料金収受機１Ａは利用者が直接操作するタイプの料金収受機（料金自動収受機）ではなく、有人ブースに待機する収受員によって操作されるタイプの料金収受機であってもよい。

（カード処理装置の構造）
図２は、第１の実施形態に係るカード処理装置の構造を示す図である。
図２に示すように、カード処理装置１は、制御部１０と、記録媒体１１と、搬送機構１２０と、磁気ヘッド１２１と、ＩＣコンタクト１２２と、を備えている。
制御部１０は、カード処理装置１全体の動作を司るプロセッサであり、例えば、予め読み込まれたプログラムに従って動作することで後述する種々の機能を発揮する。
記録媒体１１は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）等であって、カード処理装置１に内蔵された記憶デバイスである。
搬送機構１２０は、挿入口Ｉから挿入されたカードＴを内部に引き込んで、各種処理を可能な位置に搬送する駆動機構である。搬送機構１２０は、各種処理を完了したカード型媒体を挿入口Ｉまで戻す搬送も行う。搬送機構１２０の構造については後述する。
磁気ヘッド１２１は、カードＴに付されている磁気ストライプＴ１から磁気データを読み取るための機構である。磁気ヘッド１２１は、カードＴが搬送機構１２０によって搬送されている間に、磁気ストライプＴ１から磁気データを読み取る。
ＩＣコンタクト１２２は、カードＴに搭載されているＩＣチップＴ２と電気的接点をとるデバイスである。カードＴが搬送機構１２０によって適切な位置に搬送されることでＩＣコンタクト１２２の位置とＩＣチップＴ２の位置とが整合し、電気的接点が形成される。

なお、以下の説明において、カードＴは、ＩＣカードのみに限定されない。本実施形態においては、カードＴは、カード処理装置１の搬送機構１２０が搬送可能な規格サイズ（例えば、縦５４ｍｍ、横８５ｍｍ、厚さ０．７６ｍｍ）程度に形成されたカードであれば、如何なる態様のものが含まれる。即ち、カードＴには、その種類によっては磁気ストライプＴ１、ＩＣチップＴ２の一方又はその両方を具備しないものも含まれる。

次に、搬送機構１２０の構造について説明する。
搬送機構１２０は、挿入口Ｉから挿入されたカードＴを料金収受機１Ａの内部側（図２の＋Ｘ方向）に引き込むように搬送動作を行う。なお、以下の説明において、搬送機構１２０が形成するカードＴの搬送経路のうち、挿入口Ｉに近い側を「上流側」とも表記し、挿入口Ｉから離れている側（ＩＣコンタクト１２２に近い側）を「下流側」とも表記する。

図２に示すように、搬送機構１２０は、ＤＣモータＭと、プーリＰと、３個の搬送ローラＲ１、Ｒ２、Ｒ３と、押さえローラＲｐと、平ベルトである２個の搬送ベルトＢ１、Ｂ２と、を有してなる。
ＤＣモータＭは、制御部１０からの指令信号に基づいて回転動作する。ＤＣモータＭの動力は、プーリＰを通じて搬送ローラＲ３に伝達される。
３個の搬送ローラＲ１、Ｒ２、Ｒ３は、挿入口ＩからカードＴの搬送方向（±Ｘ方向）に沿って配置されている。各搬送ローラＲ１、Ｒ２、Ｒ３は、２個の搬送ベルトＢ１、Ｂ２によって連結されている。
搬送ベルトＢ１は、搬送ローラＲ１と搬送ローラＲ２とを連結するゴム製の平ベルトであり、搬送ベルトＢ２は、搬送ローラＲ２と搬送ローラＲ３とを連結するゴム製の平ベルトである。上述のＤＣモータＭによって搬送ローラＲ３が回転すると、その動力が搬送ベルトＢ２及び搬送ベルトＢ１を通じて搬送ローラＲ２、Ｒ１を回転させる。
挿入口Ｉから挿入されたカードＴは、各搬送ローラＲ１、Ｒ２、Ｒ３を連結しながら回転移動する平ベルト（搬送ベルトＢ１、Ｂ２）の面との摩擦を通じて搬送される。

また、図２の下段に示すように、搬送ローラＲ１、搬送ローラＲ２の上側（＋Ｚ方向側）には押さえローラＲｐが設けられている。押さえローラＲｐは、搬送ベルトＢ１、Ｂ２上を移動するカードＴを、搬送ローラＲ１、搬送ローラＲ２との間で厚さ方向（±Ｚ方向）に挟み込みながら回転する。これにより、カードＴのカード面が歪んでいたり反っていたりする場合であっても、当該歪み、反りを矯正しながら搬送することができる。

搬送機構１２０は、更に、カードＴの搬送経路上の異なる地点に配置された４個の検知センサＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４を有している。
各検知センサＳ１～Ｓ４は、各々の場所にカードＴが存在しているか否かを検知可能とする。例えば、検知センサＳ１～Ｓ４は、高さ方向（±Ｚ方向）に並べられた投光素子と受光素子との対からなり、この投光素子と受光素子との間にカードＴが存在する場合、投光素子から投光される検知光が受光素子に到達しなくなる。したがって、その検知センサ（Ｓ１～Ｓ４）が配されている地点にカードＴが存在することを把握できる。なお、検知センサＳ１～Ｓ４の具体的な態様は上記に限定されない。

検知センサＳ１は、搬送経路のうち最も上流側（－Ｘ方向側）に配置される。検知センサＳ１は、挿入口ＩにカードＴが挿入されたか否かを検知するためのセンサである。即ち、制御部１０は、利用者によって挿入口ＩにカードＴが差し込まれ、検知センサＳ１がカードＴの存在を検知したことを契機としてＤＣモータＭを回転駆動させる。ＤＣモータＭが回転駆動すると、搬送ベルトＢ１との摩擦によってカードＴが内部（＋Ｘ方向）に引き込まれる。
検知センサＳ２は、検知センサＳ１の下流側に配置される。また、検知センサＳ３は、検知センサＳ２の更に下流側に配置される。検知センサＳ２及び検知センサＳ３は、主に、搬送機構１２０の搬送動作に異常がないか否かを検知するために設けられている。例えば、搬送機構１２０によるカードＴの搬送中に“カード詰まり”などが発生することが想定される。このような不具合を想定して、制御部１０は、検知センサＳ２でカードＴが検知されてから一定時間内に検知センサＳ３でカードＴが検知されなかった場合、“カード詰まり”が発生したものみなし、係員等に向けて異常の通報を行う。
検知センサＳ４は、最も下流側（＋Ｘ方向側）に配置される。検知センサＳ４は、検知センサＳ３の検知信号との組み合わせで、カードＴが目的の位置（即ち、ＩＣコンタクト１２２とＩＣチップＴ２との間で電気的接点を得ることができる位置）に到達したか否かを判断するために設けられている。具体的には、制御部１０は、検知センサＳ３、Ｓ４の両方が「オン」の状態（カードＴを検知している状態）から、検知センサＳ３のみが「オフ」の状態（カードＴを検知していない状態）に遷移した場合に、カードＴが目的の位置に到達したものと判断する。

（制御部の機能構成）
図３は、第１の実施形態に係る制御部の機能構成を示す図である。
図３に示すように、制御部１０は、センサ情報取得部１００、モータ制御部１０１、磁気データ取得部１０２、ＩＣチップ処理部１０３、搬送速度取得部１０４、搬送速度情報記録処理部１０５、劣化評価部１０６及び同一カード判定部１０７としての機能を発揮する。
センサ情報取得部１００は、検知センサＳ１～Ｓ４（図２参照）の各々から検知信号を受け付けて、当該検知信号が示す情報（「オン」又は「オフ」）を判定する。
モータ制御部１０１は、ＤＣモータＭの動作を制御する。例えば、センサ情報取得部１００が検知センサＳ１から「オン」の検知信号を受け付けた場合、モータ制御部１０１は、ＤＣモータＭを正転させる制御を行う。これにより、挿入口Ｉに差し込まれたカードＴが内部に引き込まれる。また、ＩＣチップ処理部１０３（後述）がカードＴに対する一連の読み出し処理及び書き込み処理を完了した場合、モータ制御部１０１は、ＤＣモータＭを逆転させる制御を行う。これにより、ＩＣチップ処理部１０３による一連の読み出し、書込み処理が完了したカードＴが挿入口Ｉに戻される。
磁気データ取得部１０２は、磁気ヘッド１２１を通じてカードＴに付された磁気ストライプＴ１に記録されている磁気データを読み出して取得する。
ＩＣチップ処理部１０３は、ＩＣコンタクト１２２を通じてカードＴに付されたＩＣチップＴ２に対する読み出し、書き込み処理を行う。ＩＣチップ処理部１０３は、更に、ＩＣコンタクト１２２を通じて通電を試み、その結果に基づいて、カードＴにＩＣチップＴ２が搭載されているか否かを判定する処理も行う。
搬送速度取得部１０４は、搬送機構１２０によって搬送されるカードＴの搬送速度を取得する。搬送速度取得部１０４の具体的な処理については後述する。
搬送速度情報記録処理部１０５は、複数のカードＴについての搬送速度を記録媒体１１に記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルＤを生成する。具体的には、搬送速度情報記録処理部１０５は、挿入された複数のカードＴそれぞれについての搬送速度を、逐次、搬送速度情報テーブルＤに追加記録していく。
劣化評価部１０６は、記録媒体１１に生成された搬送速度情報テーブルＤに含まれる複数の搬送速度の代表値に基づいて搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する。ここで、本実施形態において、搬送機構１２０の劣化の度合いとは、搬送機構１２０に用いられる消耗部品の一つである搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗の度合いである。また、劣化評価部１０６は、劣化の評価結果が所定の条件を満たした場合（劣化の度合いが所定値を上回った場合）に、そのことを係員に通報する通報機能を有している。
同一カード判定部１０７は、今回新たに挿入されたカードＴ（搬送機構１２０によって搬送されるカードＴ）が、過去に挿入されたカードであって既に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する。

次に、本実施形態に係る搬送速度取得部１０４の機能について、図２を参照しながら具体的に説明する。
搬送速度取得部１０４は、検知センサＳ２～Ｓ４から受け付ける検知信号に基づいてカードＴの搬送速度を取得する。例えば、搬送速度取得部１０４は、検知センサＳ２がカードＴの存在を検知してから検知センサＳ３がカードＴの存在を検知するまでの時間（検知時間差Δｔ２３）を計測する。そして、搬送速度取得部１０４は、検知センサＳ２と検知センサＳ３との間の搬送方向（±Ｘ方向）における距離を、当該検知時間差Δｔ２３で除算することで搬送速度を取得する。
なお、他の実施形態においては、搬送速度取得部１０４は、検知センサＳ３がカードＴの存在を検知してから検知センサＳ４がカードＴの存在を検知するまでの時間（検知時間差Δｔ３４）を計測してもよい。この場合、搬送速度取得部１０４は、検知センサＳ３と検知センサＳ４との間の搬送方向（±Ｘ方向）における距離を、当該検知時間差Δｔ３４で除算することで搬送速度を取得する。
なお、搬送速度取得部１０４が搬送速度を取得する態様は上記に限定されない。他の変形例については、図７、図８を用いながら後に説明する。

（搬送速度情報記録処理部の機能）
図４は、第１の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部の機能を説明する図である。
次に、図４を参照しながら、搬送速度情報記録処理部１０５の機能について具体的に説明する。
挿入口ＩからカードＴが挿入され、所定の条件（図５の処理フローを参照）が満たされた場合、搬送速度情報記録処理部１０５は、カードＴについて取得された搬送速度等を示す各種情報を記録媒体１１（図２、図３）に追加記録していき、図４に示すような搬送速度情報テーブルＤを生成する。
具体的には、搬送速度情報記録処理部１０５は、磁気データ取得部１０２が取得した磁気データ（磁気ストライプＴ１に記録された磁気データ）のハッシュ値と、ＩＣチップ処理部１０３によるＩＣチップＴ２の有無の判定結果と、搬送速度取得部１０４が取得した搬送速度とを収集する。そして、搬送速度情報記録処理部１０５は、カードＴについて収集されたこれらの各種情報を、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて記録媒体１１に記録する。
その結果、搬送速度情報テーブルＤには、カードＴの挿入時刻、磁気データのハッシュ値、ＩＣチップＴ２の有無の判定結果、及び、搬送機構１２０によるカードＴの搬送速度の各々が記録される（図４参照）。

なお、磁気ストライプＴ１に記録されている磁気データが破損している場合、又は、カードＴが磁気ストライプＴ１そのものを具備しないタイプのものであった場合、磁気データ取得部１０２は、当該カードＴから磁気データを取得することができない。この場合、図４に示すように、搬送速度情報記録処理部１０５は、当該カードＴの磁気データに関する情報として“読取不可”との情報を記録する。また、後述の処理フローで詳細に説明するが、搬送速度情報記録処理部１０５は、磁気データが“読取不可”であった場合のみ、ＩＣチップ処理部１０３によるＩＣチップの有無の判定結果を記録する。

（制御部の処理フロー）
図５、図６は、それぞれ、第１の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第１の図、第２の図である。
図５に示す処理フローは、挿入口Ｉ（図２）にカードＴが挿入された時点から開始される。
制御部１０のセンサ情報取得部１００が検知センサＳ１（図２）によってカードＴの挿入が検知されると、制御部１０のモータ制御部１０１は、ＤＣモータＭ（図２）を制御して搬送機構１２０による搬送を開始する（ステップＳＴ００）。
センサ情報取得部１００は、搬送機構１２０がカードＴを搬送している間に、逐次、検知センサＳ２、Ｓ３、Ｓ４（図２）から出力される検知信号を取得する。搬送速度取得部１０４は、上述の検知時間差Δｔ２３（検知時間差Δｔ３４）の計測結果に基づいて、搬送速度を演算して取得する（ステップＳＴ０１）。
他方、磁気データ取得部１０２は、搬送機構１２０がカードＴを搬送している間に、磁気ヘッド１２１を通じて磁気データの読取処理を行う（ステップＳＴ０２）。

ステップＳＴ０２の読取処理の結果、カードＴ（磁気ストライプＴ１）から正しく磁気データを読み取れた場合（ステップＳＴ０３：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、当該読み取った磁気データのハッシュ値を算出するとともに、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤから過去に記録されている複数の磁気データのハッシュ値を参照する。そして、同一カード判定部１０７は、搬送速度情報テーブルＤに、今回新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値が既に記録されているか否かを判定する（ステップＳＴ０４）。
搬送速度情報テーブルＤに、今回読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値がなかった場合（ステップＳＴ０４：ＮＯ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれとも同一でないと判定する。この場合、搬送速度情報記録処理部１０５は、同一カード判定部１０７による“同一でない”との判定結果に基づき、ステップＳＴ０１で取得した新たな搬送速度と、ステップＳＴ０２で取得した新たな磁気データのハッシュ値とを、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録する（ステップＳＴ０５）。なお、この場合、今回挿入されたカードＴについての「ＩＣチップの有無」の判定結果は記録されない。
他方、搬送速度情報テーブルＤに、今回読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値があった場合（ステップＳＴ０４：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれかと同一であると判定する。搬送速度情報記録処理部１０５は、同一カード判定部１０７による“同一である”との判定結果に基づき、今回挿入されたカードＴについて取得された搬送速度等の記録を行うことなく処理を終了する。

また、ステップＳＴ０２の読取処理の結果、カードＴから正しく磁気データを読み取れなかった場合（ステップＳＴ０３：ＮＯ）、次に、ＩＣチップ処理部１０３は、ＩＣコンタクト１２２を通じて、挿入されたカードＴにＩＣチップＴ２が搭載されているか否か（ＩＣチップの有無）を判定する（ステップＳＴ０６）。
次に、同一カード判定部１０７は、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤから過去に記録されている「ＩＣチップの有無」の判定結果を参照する。そして、同一カード判定部１０７は、搬送速度情報テーブルＤに、今回新たに挿入されたカードＴに対するＩＣチップＴ２の有無の判定結果と一致する判定結果が既に記録されているか否かを判定する（ステップＳＴ０７）。
搬送速度情報テーブルＤに、今回の判定結果と一致する判定結果がなかった場合（ステップＳＴ０７：ＮＯ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれとも同一でないと判定する。この場合、搬送速度情報記録処理部１０５は、同一カード判定部１０７による“同一でない”との判定結果に基づき、ステップＳＴ０１で取得した新たな搬送速度と、ステップＳＴ０６で取得した「ＩＣチップの有無」についての新たな判定結果とを、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録する（ステップＳＴ０５）。なお、この場合、搬送速度情報記録処理部１０５は、磁気データを取得できなかったことを示す情報（“読取不可”との情報）も併せて記録する。
他方、搬送速度情報テーブルＤに、今回の判定結果と一致する判定結果があった場合（ステップＳＴ０７：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれかと同一であると判定する。搬送速度情報記録処理部１０５は、同一カード判定部１０７による“同一である”との判定結果に基づき、今回挿入されたカードＴについて取得された搬送速度等の記録を行うことなく処理を終了する。

カード処理装置１は、制御部１０の以上のような処理フローにより、同一のカードＴについての搬送速度が搬送速度情報テーブルＤに複数個記録されることを防止する。

次に、図６を参照しながら、制御部１０の劣化評価部１０６の処理フローについて詳細に説明する。
図６に示す処理フローは、例えば、搬送速度情報記録処理部１０５によって新たな搬送速度等の情報が記録媒体１１に記録される度に実行される。ただし、他の実施形態においてはこの態様に限定されず、例えば、図６に示す処理フローは、予め定められた規定時間の経過ごとに実行される態様であってもよい。

劣化評価部１０６は、記録媒体１１に記録された搬送速度情報テーブルＤの挿入時刻を参照して、最近に挿入されたカードＴのうち、予め規定された複数枚分（例えば、１０枚分）のカードＴについての搬送速度を参照する（ステップＳＴ１１）。
次に、劣化評価部１０６は、ステップＳＴ１１で参照した複数の搬送速度のうち、予め規定された範囲に属さない搬送速度を異常値とみなし、当該異常値を除外する処理を行う（ステップＳＴ１２）。ここで、予め規定された範囲は、例えば、搬送機構１２０が如何なる状態であっても生じ得ないであろうと想定される搬送速度の上限値及び下限値によって規定されてもよい。また、他の実施形態においては、取得された複数枚分の搬送速度の分散値等に基づいて規定されてもよい。
劣化評価部１０６は、異常値を除外した後、残りの搬送速度から代表値（本実施形態においては平均値）を演算する（ステップＳＴ１３）。
劣化評価部１０６は、ステップＳＴ１３で求めた平均値が予め規定された判定閾値を下回っているか否かを判定する（ステップＳＴ１４）。
ステップＳＴ１３で求めた平均値が予め規定された判定閾値を下回っている場合（ステップＳＴ１３：ＹＥＳ）、異なる複数の（１０枚の）カードＴ全てについて、搬送速度が低下していると判断できる。したがって、この場合は、搬送ベルトＢ１、Ｂ２（図２）が消耗し、例えば、その張力が低下した（ゴムが伸びた等）ことに起因して、搬送速度が全体的に低下していると推察される。そこで、劣化評価部１０６は、搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗に起因する機器故障の予兆があることを示す通報処理（遠隔の係員等に通報する処理）を行う（ステップＳＴ１５）。
他方、ステップＳＴ１３で求めた平均値が予め規定された判定閾値を下回っていない場合（ステップＳＴ１３：ＮＯ）、通報処理を行うことなく処理を終了する。

（作用、効果）
以上の通り、第１の実施形態に係るカード処理装置１は、搬送機構１２０によって搬送されるカードＴの搬送速度を取得する搬送速度取得部１０４と、複数のカードＴについての搬送速度を記録して搬送速度情報テーブルＤを生成する搬送速度情報記録処理部１０５と、生成された搬送速度情報テーブルＤに含まれる複数の搬送速度の代表値（平均値）に基づいて搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する劣化評価部１０６と、を備えている。
ここで、平ベルト（搬送ベルトＢ１、Ｂ２）が消耗してゴムの張力が低下する（ゴムが伸びる）と、カードＴの表面との摩擦力が落ち、当該カードＴの搬送速度が低下する。この相関性を利用して、カードＴの搬送速度の計測結果に基づいて、平ベルトの消耗の度合いを推量することができる。
しかしながら、搬送機構１２０におけるカードＴの搬送速度は、平ベルトの張力ばかりでなく、当該カードＴ固有の形状（歪み、反りなど）にも起因して変化し得る。例えば、反り幅が大きいカードＴは、搬送ローラＲ１、Ｒ２と押さえローラＲｐ（図２）とによってカードＴに印加される力（反りを矯正するための押圧力）が増大するため、反り幅が小さいカードＴに比べて搬送速度が遅くなる傾向がある。
そこで、上記のような態様を有するカード処理装置１によれば、複数のカードＴの搬送速度の代表値（平均値）を用いて搬送機構１２０の劣化の度合いを判定する。これにより、特異な形状を有する一つのカードＴ（例えば、反りが大きいカードＴ）の搬送速度の影響を受けにくくなり、搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗に起因する故障の予兆を精度良く検出することができる。
以上より、第１の実施形態に係るカード処理装置１によれば、搬送機構１２０の劣化に起因する故障を予測できる。

また、第１の実施形態に係るカード処理装置１は、搬送機構１２０によって搬送されたカードＴが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定部１０７を更に備えている。そして、劣化評価部１０６は、異なる複数のカードＴについての搬送速度の代表値（平均値）に基づいて搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する。
ここで、カード処理装置１は、利用者により同一のカードＴが複数回挿入される場合がある。例えば、何らかの理由でカードＴに対する料金収受処理が正常に行われなかった場合、利用者は、その不具合が突発的な要因によるものか否かを確かめるために、再度、同一のカードＴをカード処理装置１に挿入することが想定される。
一つのカードＴがカード処理装置１に複数回挿入され、当該カードＴの搬送速度が複数個記録されると、当該複数の搬送速度の代表値（平均値）は、複数回挿入された一つのカードＴ固有の形状（歪み、反り）に対する依存度が大きくなる。そうすると、搬送機構１２０における搬送速度の低下が、搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗に起因するものか、単に（複数回挿入された）カードＴ固有の形状に依存するものか、を判別できなくなり、劣化評価の信頼性の低下を招く。
そこで、上記のような態様とすることで、カード処理装置１は、異なる複数のカードＴについての搬送速度の代表値（平均値）に基づいて搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する。これにより、搬送速度の代表値に対する、カードＴ固有の特性（カードＴ固有の形状等）の影響度を低減することができる。したがって、搬送速度の代表値に基づいて、搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗の度合いを一層精度よく評価することができる。

また、第１の実施形態に係るカード処理装置１によれば、同一カード判定部１０７は、カードＴに対し磁気データの読取処理を行った結果に基づいて、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する（図５のステップＳＴ０４参照）。
通常、磁気データの内容は、カードＴ別に異なっている。したがって、今回取得された磁気データのハッシュ値が、既に搬送速度情報テーブルＤに記録されている磁気データのハッシュ値のいずれかと一致するか否かを判定することで、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定することができる。

また、同一カード判定部１０７は、カードＴから磁気データを読み取れなかった場合に、当該カードＴにＩＣチップＴ２が搭載されているか否かの判定結果に基づいて、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する（図５のステップＳＴ０３、ＳＴ０６、ＳＴ０７参照）。
カードＴから磁気データを読み取れなかった場合、磁気データに基づいて今回挿入されたカードＴと過去に搬送速度を記録したカードとが同一か否かを判定することができない。しかし、磁気データによって判定できなかったとしても、ＩＣチップＴ２の搭載の有無が異なれば、当該カードＴは、過去に挿入されたカードＴとは異なるカードであると判断することができる。したがって、上記のような態様とすることで、ＩＣチップＴ２の有無の判定結果を用いて、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定することができる。

また、第１の実施形態に係るカード処理装置１によれば、劣化評価部１０６は、複数のカードＴについての搬送速度のうち、所定の範囲から外れた搬送速度を除外して搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する（図６のステップＳＴ１２参照）。
このようにすることで、例えば、カードＴが大きく歪んでいたために著しく低下した搬送速度などを、代表値（平均値）の演算に用いないようにすることができる。

以上、第１の実施形態に係るカード処理装置１について詳細に説明したが、カード処理装置１の具体的な態様は、上述のものに限定されることはなく、要旨を逸脱しない範囲内において種々の設計変更等を加えることは可能である。

第１の実施形態においては、検知センサＳ２がカードＴの存在を検知してから検知センサＳ３がカードＴの存在を検知するまでの時間（検知時間差Δｔ２３）、又は、検知センサＳ３がカードＴの存在を検知してから検知センサＳ４がカードＴの存在を検知するまでの時間（検知時間差Δｔ３４）を計測する例を説明した。しかし、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。

（変形例に係る搬送速度取得部の機能）
図７、図８は、それぞれ、第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部の機能を説明する第１の図、第２の図である。
図７（ａ）、（ｂ）はともに、搬送機構１２０がカードＴを下流側（＋Ｘ方向側）に搬送している状態を示している。
図７（ａ）は、検知センサＳ２がオン状態（カードＴを検知している状態）からオフ状態（カードＴを検知していない状態）に遷移した直後の状態を示している。また、図７（ｂ）は、検知センサＳ３がオン状態（カードＴを検知している状態）からオフ状態（カードＴを検知していない状態）に遷移した直後の状態を示している。
第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部１０４は、カードＴを下流側に搬送する段階で、検知センサＳ２がオン状態からオフ状態に遷移したタイミング（図７（ａ））から、検知センサＳ３がオン状態からオフ状態に遷移したタイミング（図７（ｂ））までの時間差Δｔ２３’を計測して搬送速度を取得してもよい。

図８（ａ）、（ｂ）はともに、搬送機構１２０がカードＴを上流側（－Ｘ方向側）に搬送している状態を示している。
図８（ａ）は、検知センサＳ３がオフ状態（カードＴを検知していない状態）からオン状態（カードＴを検知している状態）に遷移した直後の状態を示している。また、図８（ｂ）は、検知センサＳ２がオフ状態（カードＴを検知していない状態）からオン状態（カードＴを検知している状態）に遷移した直後の状態を示している。
第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部１０４は、カードＴを上流側に搬送する段階で、検知センサＳ３がオフ状態からオン状態に遷移したタイミング（図８（ａ））から、検知センサＳ２がオフ状態からオン状態に遷移したタイミング（図８（ｂ））までの時間差Δｔ３２を計測して搬送速度を取得してもよい。

ここで、図７（ａ）、（ｂ）に示す状態の場合、搬送速度取得部１０４は、搬送機構１２０の搬送経路のうち利用者がカードＴに触ることができない領域の搬送中に搬送速度を計測する。
具体的には、搬送機構１２０がカードＴを下流側（＋Ｘ方向側）に搬送している場合において、カードＴの上流側の券端が検知センサＳ２から検知センサＳ３まで移動している間は、カードＴ全体がカード処理装置１の内部に入り込んでいる（カードＴの一部が挿入口Ｉから露出していない）。したがって、利用者は、搬送中のカードＴを挿入口Ｉから触ることができない。

図８（ａ）、（ｂ）に示す状態の場合も同様である。
具体的には、搬送機構１２０がカードＴを上流側（－Ｘ方向側）に搬送している場合において、カードＴの上流側の券端が検知センサＳ３から検知センサＳ２まで移動している間は、カードＴ全体がカード処理装置１の内部に入り込んでいる。したがって、利用者は、搬送中のカードＴを挿入口Ｉから触ることができない。

以上のように、第１の実施形態の変形例に係る搬送速度取得部１０４は、カードＴが搬送機構１２０の搬送経路のうちの特定領域を搬送されている間における搬送速度を取得する。ここで、「特定領域」とは、利用者が挿入口から前記カードに触ることができない領域である（図７、図８参照）。
このようにすることで、カードＴの搬送速度を計測している間に、利用者が当該カードＴに触れることを防止することができる。したがって、利用者がカードＴを手で掴む強さの違いなどによって搬送速度の計測結果が変動することを防止できる。これにより、搬送速度の代表値に基づいて、搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗の度合いを精度よく評価することができる。

また、第１の実施形態においては、「代表値」とは、複数の搬送速度の平均値であるものとして説明したが、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。「代表値」は、例えば、複数の搬送速度の中央値、又は、最頻値であってもよい。
また、他の実施形態において、「代表値」は、計測された搬送速度が予め規定された閾値を下回った（若しくは、上回った）カードＴの枚数等であってもよい。例えば、他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、カードＴの搬送速度が「予め規定された閾値以上か否か」を示す判定結果のみを搬送速度情報テーブルＤに記録する。そして、劣化評価部１０６は、搬送速度の「代表値」として、搬送速度が閾値未満であったカードＴの枚数をカウントし、当該「代表値」に基づいて搬送ベルトＢ１、Ｂ２の消耗の度合いを評価する態様であってもよい。

また、第１の実施形態において、搬送速度情報記録処理部１０５は、同一のカードＴ（重複する磁気データ等を有するカードＴ）を搬送速度情報テーブルＤに記録しないものとして説明したが（図５のステップＳＴ０４、０７等を参照）、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。
他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、挿入された全てのカードＴに対して磁気データの読取処理の結果、ＩＣチップＴ２の有無の判定結果、及び、搬送速度を搬送速度情報テーブルＤに記録してもよい。ただし、この場合、劣化評価部１０６は、搬送速度情報テーブルＤの中から、磁気データの読取処理の結果及びＩＣチップＴ２の有無の判定結果が互いに重複しない複数枚（例えば１０枚）のカードＴを選択する。そして、劣化評価部１０６は、当該選択した複数枚のカードＴについての搬送速度の代表値（例えば、平均値）を演算して劣化評価を行うものとする。

また、第１の実施形態に係る同一カード判定部１０７は、搬送速度情報テーブルＤに、今回新たに挿入されたカードＴに対するＩＣチップＴ２の“有”、“無”の判定結果と一致する判定結果が既に記録されているか否かを判定する（ステップＳＴ０７）ものとして説明した。しかし、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。例えば、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴのＩＣチップＴ２から読み取られたＩＣチップデータが既に記録されているか否かを判定するものとしてもよい。
具体的には、同一カード判定部１０７は、図５のステップＳＴ０７において、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤのうち、過去に記録されている複数のＩＣチップデータを参照する。そして、同一カード判定部１０７は、搬送速度情報テーブルＤに、今回新たに挿入されたカードＴから読み取ったＩＣチップデータと一致するＩＣチップデータが既に記録されているか否かを判定する。そして、搬送速度情報テーブルＤに、今回の読み取ったＩＣチップデータと一致するＩＣチップデータがなかった場合（ステップＳＴ０７：ＮＯ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれとも同一でないと判定する。他方、搬送速度情報テーブルＤに、今回読み取ったＩＣチップデータと一致するＩＣチップデータがあった場合（ステップＳＴ０７：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に搬送速度が記録されたカードのいずれかと同一であると判定する。搬送速度情報記録処理部１０５は、同一カード判定部１０７による“同一である”との判定結果に基づき、今回挿入されたカードＴについて取得された搬送速度等の記録を行うことなく処理を終了する。

また、搬送速度取得部１０４は、センサＳ２、Ｓ３、Ｓ４から出力される検知信号の検知時間差の計測結果に基づいて搬送速度を演算する態様として説明したが、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。各センサ間の距離は固定であるから、検知時間差そのものを劣化判定に利用してもよい。この場合、搬送速度取得部１０４が取得した検知時間差は、「搬送速度」の概念に含まれるものとする。

＜第２の実施形態＞
次に、第２の実施形態に係るカード処理装置について、図９～図１５を参照しながら説明する。

（カード処理装置の機能構成）
図９は、第２の実施形態に係るカード処理装置の機能構成を示す図である。
また、図１０は、第２の実施形態に係る故障予測用コンパレータの機能を説明する図である。
第２の実施形態に係るカード処理装置の構造は、第１の実施形態（図２）と同様であるため説明を省略する。

図９に示すように、第２の実施形態に係るカード処理装置１は、磁気ヘッド１２１と、検波用コンパレータ１３０と、制御部１０とを備えている。
検波用コンパレータ１３０は、磁気ヘッド１２１から出力される電圧波形Ｗ（カードＴの磁気ストライプＴ１（図２）から磁気データを読み出す際に出力される電圧波形。図１０参照）を入力して、デジタル値（「０」又は「１」）に変換する。具体的には、検波用コンパレータ１３０は、入力される電圧が所定の閾値Ｖｔ１以上の場合に「１」に相当する電圧信号を出力し、入力される電圧が所定の閾値Ｖｔ１未満の場合に「０」に相当する電圧信号を出力する。制御部１０（磁気データ取得部１０２（図３））は、検波用コンパレータ１３０から出力される電圧信号に示されるデジタル値を磁気データとして取得する。
なお、検波用コンパレータ１３０は、第１の実施形態で説明したカード処理装置１も含め、通常のカード処理装置に搭載される。

第２の実施形態に係るカード処理装置１は、上述の検波用コンパレータ１３０に加え、更に、故障予測用コンパレータ１３１を備えている。
故障予測用コンパレータ１３１は、検波用コンパレータ１３０と同様に、磁気ヘッド１２１から出力される電圧波形Ｗを入力してデジタル値（「０」又は「１」）に変換する。ただし、故障予測用コンパレータ１３１が有する閾値Ｖｔ２は、検波用コンパレータ１３０が有する閾値Ｖｔ１よりも高い値に設定されている（図１０参照）。
制御部１０は、故障予測用コンパレータ１３１から出力される電圧信号（デジタル値）に基づいて、電圧波形Ｗの電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上か否かを判断する。

（制御部の機能構成）
図１１は、第２の実施形態に係る制御部の機能構成を示す図である。
図１１に示すように、制御部１０は、センサ情報取得部１００、モータ制御部１０１、磁気データ取得部１０２、ＩＣチップ処理部１０３、劣化評価部１０６、同一カード判定部１０７、電圧振幅取得部１０８及び電圧振幅情報記録処理部１０９としての機能を発揮する。
センサ情報取得部１００、モータ制御部１０１、磁気データ取得部１０２及びＩＣチップ処理部１０３の機能については、第１の実施形態と同様であるため説明を省略する。
電圧振幅取得部１０８は、故障予測用コンパレータ１３１を通じて、磁気ヘッド１２１から出力される電圧波形の振幅（電圧振幅）を取得する。
電圧振幅情報記録処理部１０９は、複数のカードＴについての電圧振幅を記録して当該電圧振幅を含む電圧振幅情報テーブルＥを生成する。
また、第２の実施形態に係る劣化評価部１０６は、記録媒体１１に生成された電圧振幅情報テーブルＥに含まれる複数の電圧振幅に基づいて磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを評価する。また、劣化評価部１０６は、劣化の評価結果が所定の条件を満たした場合（劣化の度合いが所定値を上回った場合）に、そのことを係員に通報する通報機能を有している。
同一カード判定部１０７は、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に挿入されたカードであって既に電圧振幅を記録したカードと同一か否かを判定する。

次に、本実施形態に係る電圧振幅取得部１０８の機能について、図１０を参照しながら具体的に説明する。
電圧振幅取得部１０８は、電圧波形Ｗを入力した故障予測用コンパレータ１３１から受け付ける電圧信号（デジタル値）に基づいてカードＴの電圧振幅を取得する。例えば、故障予測用コンパレータ１３１から受け付ける電圧信号に「１」を示すもので含まれる場合、電圧振幅取得部１０８は、電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上であると判定する。また、故障予測用コンパレータ１３１から受け付ける電圧信号の全てが「０」を示すものであった場合、電圧振幅取得部１０８は、電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満であると判定する。
なお、上述した通り、故障予測用コンパレータ１３１が有する閾値Ｖｔ２は、実際に磁気データの読取を行う検波用コンパレータ１３０が有する閾値Ｖｔ１よりも高く設定されている（図１０参照）。したがって、電圧波形Ｗの電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ１以上であって、かつ、閾値Ｖｔ２よりも低かった場合は、電圧振幅取得部１０８は、電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満であると判定するものの、磁気データ取得部１０２は正しく磁気データを取得することができる。

（電圧振幅情報記録処理部の機能）
図１２は、第２の実施形態に係る電圧振幅情報記録処理部の機能を説明する図である。
次に、図１２を参照しながら、電圧振幅情報記録処理部１０９の機能について具体的に説明する。
挿入口ＩからカードＴが挿入され、所定の条件（図１３の処理フローを参照）が満たされた場合、電圧振幅情報記録処理部１０９は、カードＴについて取得された電圧振幅等を示す各種情報を記録媒体１１（図２、図３）に追加記録していき、図１２に示すような電圧振幅情報テーブルＥを生成する。
具体的には、電圧振幅情報記録処理部１０９は、磁気データ取得部１０２が取得した磁気データ（磁気ストライプＴ１に記録された磁気データ）のハッシュ値と、電圧振幅取得部１０８が取得した電圧振幅（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上か、閾値Ｖｔ２未満かの判定結果）を示す情報とを収集する。そして、電圧振幅情報記録処理部１０９は、カードＴについて収集されたこれらの各種情報を、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて記録媒体１１に記録する。
その結果、電圧振幅情報テーブルＥには、カードＴの挿入時刻、磁気データのハッシュ値、及び、電圧振幅についての情報の各々が記録される（図１２参照）。

なお、磁気ストライプＴ１に記録されている磁気データが破損している場合、又は、カードＴが磁気ストライプＴ１そのものを具備しないタイプのものであった場合、磁気データ取得部１０２は、当該カードＴから磁気データを取得することができない。この場合、電圧振幅情報記録処理部１０９は、磁気データを読み取れないカードＴについての電圧振幅を記録しないものとする。

（制御部の処理フロー）
図１３、図１４は、それぞれ、第２の実施形態に係る制御部の処理フローを示す第１の図、第２の図である。
図１３に示す処理フローは、挿入口Ｉ（図２）にカードＴが挿入された時点から開始される。
制御部１０のセンサ情報取得部１００が検知センサＳ１（図２）によってカードＴの挿入が検知されると、制御部１０のモータ制御部１０１は、ＤＣモータＭ（図２）を制御して搬送機構１２０による搬送を開始する（ステップＳＴ２０）。
磁気データ取得部１０２は、搬送機構１２０がカードＴを搬送している間に、磁気ヘッド１２１及び検波用コンパレータ１３０を通じて取得された電圧信号（デジタル値）を読み取って磁気データの読取処理を行う（ステップＳＴ２１）。
また、電圧振幅取得部１０８は、搬送機構１２０がカードＴを搬送している間に、磁気ヘッド１２１及び故障予測用コンパレータ１３１を通じて取得された電圧信号（デジタル値）を読み取って電圧振幅（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上か否かを示す情報）を取得する（ステップＳＴ２２）。

ステップＳＴ０２の読取処理の結果、カードＴ（磁気ストライプＴ１）から正しく磁気データを読み取れた場合（ステップＳＴ２３：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、記録媒体１１の電圧振幅情報テーブルＥから過去に記録されている複数の磁気データのハッシュ値を参照する。そして、同一カード判定部１０７は、当該読み取った磁気データのハッシュ値を算出するとともに、電圧振幅情報テーブルＥに、今回新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値が既に記録されているか否かを判定する（ステップＳＴ２４）。
電圧振幅情報テーブルＥに、今回読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値がなかった場合（ステップＳＴ２４：ＮＯ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に電圧振幅が記録されたカードのいずれとも同一でないと判定する。
この場合、電圧振幅情報記録処理部１０９は、同一カード判定部１０７による“同一でない”との判定結果に基づき、ステップＳＴ２２で取得した新たな電圧振幅と、ステップＳＴ２１で取得した新たな磁気データのハッシュ値とを、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて、記録媒体１１の電圧振幅情報テーブルＥに追加記録する（ステップＳＴ２５）。
他方、電圧振幅情報テーブルＥに、今回読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値があった場合（ステップＳＴ２４：ＹＥＳ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に電圧振幅が記録されたカードのいずれかと同一であると判定する。電圧振幅情報記録処理部１０９は、同一カード判定部１０７による“同一である”との判定結果に基づき、今回挿入されたカードＴについて取得された電圧振幅等の記録を行うことなく処理を終了する。

また、ステップＳＴ２１の読取処理の結果、カードＴから正しく磁気データを読み取れなかった場合（ステップＳＴ２３：ＮＯ）、今回挿入されたカードＴには磁気ストライプＴ１が付されていないものとみなし、取得された電圧振幅等の記録を行うことなく処理を終了する。

カード処理装置１は、制御部１０の以上のような処理フローにより、同一のカードＴについての電圧振幅が電圧振幅情報テーブルＥに複数個記録されることを防止する。

次に、図１４を参照しながら、制御部１０の劣化評価部１０６の処理フローについて詳細に説明する。
図１４に示す処理フローは、例えば、電圧振幅情報記録処理部１０９によって新たな電圧振幅等の情報が記録媒体１１に記録される度に実行される。ただし、他の実施形態においてはこの態様に限定されず、例えば、図１４に示す処理フローは、予め定められた規定時間の経過ごとに実行される態様であってもよい。

劣化評価部１０６は、記録媒体１１に記録された電圧振幅情報テーブルＥの挿入時刻を参照して、最近に挿入されたカードＴのうち、予め規定された複数枚分（例えば、１０枚分）のカードＴについての電圧振幅（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上か否かを示す情報）を参照する（ステップＳＴ３１）。そして、劣化評価部１０６は、電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満となっているカードＴの枚数をカウントする（ステップＳＴ３２）。
劣化評価部１０６は、ステップＳＴ３２で求めた枚数が予め規定された規定枚数以上か否かを判定する（ステップＳＴ３３）。
ステップＳＴ３２で求めた枚数が予め規定された規定枚数以上であった場合（ステップＳＴ３３：ＹＥＳ）、異なる複数の（１０枚の）カードＴ全てについて、電圧振幅が低下していると判断できる。したがって、この場合は、磁気ヘッド１２１（図２）がカードＴとの摩擦で摩耗し、その読取感度が低下したことに起因して電圧振幅が全体的に低下していると推察される。そこで、劣化評価部１０６は、磁気ヘッド１２１の摩耗（劣化）に起因する機器故障の予兆があることを示す通報処理（遠隔の係員等に通報する処理）を行う（ステップＳＴ３４）。
他方、ステップＳＴ３２で求めた枚数が予め規定枚数未満であった場合（ステップＳＴ３３：ＮＯ）、通報処理を行うことなく処理を終了する。

（作用、効果）
以上の通り、第２の実施形態に係るカード処理装置１は、カードＴから磁気データを読み取る磁気ヘッド１２１から出力される電圧波形Ｗの振幅（電圧振幅）を取得する電圧振幅取得部１０８と、複数のカードＴについての電圧振幅を記録して電圧振幅情報テーブルＥを生成する電圧振幅情報記録処理部１０９と、生成された電圧振幅情報テーブルＥに含まれる複数の電圧振幅の代表値（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満となったカードＴの枚数）に基づいて磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを評価する劣化評価部１０６と、を備えている。
ここで、磁気ヘッド１２１がカードＴの磁気ストライプＴ１の読取処理を継続すると、徐々に端子が摩耗して読取感度が低下し、電圧波形Ｗの電圧振幅が低下する。この相関性を利用して、電圧波形Ｗの電圧振幅の計測結果に基づいて、磁気ヘッド１２１の摩耗の度合いを推量することができる。
しかしながら、磁気ヘッド１２１から出力される電圧波形Ｗの電圧振幅は、磁気ヘッド１２１の摩耗ばかりでなく、磁気ストライプＴ１固有の特性や、カードＴの搬送機構１２０による搬送速度等にも起因して変化し得る。ここで、第１の実施形態で説明した通り、搬送機構１２０によるカードＴの搬送速度は、当該カードＴ固有の形状（歪み、反りなど）に応じて変化する。
そこで、上記のような態様を有するカード処理装置１によれば、複数のカードＴの電圧振幅の代表値（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満であるカードＴの枚数）を用いて搬送機構１２０の劣化の度合いを判定する。これにより、特異な形状を有し（例えば、反りが大きく）搬送速度が極端に遅い一つのカードＴの電圧振幅の影響を受けにくくなり、磁気ヘッド１２１の摩耗に起因する故障の予兆を精度良く検出することができる。
以上より、第２の実施形態に係るカード処理装置１によれば、磁気ヘッド１２１の劣化に起因する故障を予測できる。

また、第２の実施形態に係るカード処理装置１は、磁気ヘッド１２１を通じて磁気データを読み取られたカードＴが、過去に電圧振幅を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定部１０７を更に備えている。そして、劣化評価部１０６は、異なる複数のカードＴについての電圧振幅に基づいて搬送機構１２０の劣化の度合いを評価する。
ここで、カード処理装置１は、利用者により同一のカードＴが複数回挿入される場合がある。
一つのカードＴがカード処理装置１に複数回挿入され、当該カードＴの電圧振幅が複数個記録されると、その複数の電圧振幅の代表値は、複数回挿入された一つのカードＴ固有の特性（磁気ストライプＴ１固有の特性、当該カードＴ固有の形状など）に対する依存度が大きくなる。そうすると、磁気ヘッド１２１における電圧波形Ｗの電圧振幅の低下が、磁気ヘッド１２１の摩耗に起因するものか、単に（複数回挿入された）カードＴ固有の特性に依存するものか、を判別できなくなり、劣化評価の信頼性の低下を招く。
そこで、上記のような態様とすることで、カード処理装置１は、異なる複数のカードＴについての電圧振幅の代表値（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２未満であるカードＴの枚数）に基づいて磁気ヘッド１２１の摩耗（劣化）の度合いを評価する。これにより、電圧振幅の代表値に対する、カードＴ固有の特性（カードＴ固有の形状等）の影響度を低減することができる。したがって、電圧振幅の代表値に基づいて、磁気ヘッド１２１の摩耗の度合いを一層精度よく評価することができる。

また、第２の実施形態に係るカード処理装置１によれば、同一カード判定部１０７は、カードＴに対し磁気データの読取処理を行った結果に基づいて、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に電圧振幅を記録したカードと同一か否かを判定する（図１３のステップＳＴ２４参照）。
今回取得された磁気データが、既に電圧振幅情報テーブルＥに記録されている磁気データのいずれかと一致するか否かを判定することで、今回新たに挿入されたカードＴが、過去に電圧振幅（電圧振幅Ｖｍが閾値Ｖｔ２以上か否かを示す判定結果）を記録したカードと同一か否かを判定することができる。

以上、第２の実施形態に係るカード処理装置１について詳細に説明したが、カード処理装置１の具体的な態様は、上述のものに限定されることはなく、要旨を逸脱しない範囲内において種々の設計変更等を加えることは可能である。

（変形例に係る搬送速度取得部の機能）
図１５は、第２の実施形態の変形例に係る制御部の処理フローを示す図である。
第２の実施形態の変形例に係る制御部１０（劣化評価部１０６）は、電圧振幅情報テーブルＥに記録された複数のカードＴについての電圧振幅のうち、搬送速度が所定の範囲（規定搬送速度範囲）から外れたカードＴの電圧振幅を除外して、磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを評価する。
具体的には、制御部１０は、図１４に示す処理フローに代えて、図１５に示す処理フローを実行する。なお、図１５に示す処理フローのうち、図１４に示す処理フローと同一の処理については、同じ符号を付してその説明を省略する。

ステップＳＴ２０（搬送機構１２０によるカードＴの搬送開始）の後、制御部１０（搬送速度取得部１０４）は、カードＴの搬送速度を取得する（ステップＳＴ２０’）。ここで、搬送速度取得部１０４は、第１の実施形態と同様の手法で搬送速度を取得してもよい。

また、電圧振幅情報テーブルＥに、今回読み取った磁気データのハッシュ値と一致する磁気データのハッシュ値がなかった場合（ステップＳＴ２４：ＮＯ）、同一カード判定部１０７は、今回挿入されたカードＴが、過去に電圧振幅が記録されたカードのいずれとも同一でないと判定する。
この場合、第２の実施形態の変形例に係る電圧振幅情報記録処理部１０９は、ステップＳＴ２０’で取得されたカードＴの搬送速度を参照する。そして、当該搬送速度が予め定められた規定搬送速度範囲内に属しているか否かを判定する（ステップＳＴ２４’）。
カードＴの搬送速度が規定搬送速度範囲内に属している場合（ステップＳＴ２４’：ＹＥＳ）、電圧振幅情報記録処理部１０９は、ステップＳＴ２２で取得した新たな電圧振幅と、ステップＳＴ２１で取得した新たな磁気データのハッシュ値とを、カードＴの挿入時刻とともに関連付けて、記録媒体１１の電圧振幅情報テーブルＥに追加記録する（ステップＳＴ２５）。
他方、カードＴの搬送速度が規定搬送速度範囲内に属していない場合（ステップＳＴ２４’：ＮＯ）、電圧振幅情報記録処理部１０９は、このカードＴについての電圧振幅等の情報を記録しない。

ここで、磁気ヘッド１２１による磁気ストライプＴ１からの情報を読み出しには電磁誘導の技術が利用されている。そのため、上述したように、磁気ヘッド１２１から取得される電圧波形Ｗ（図１０）の電圧振幅Ｖｍは、カードＴの搬送速度にも依存して増減する。具体的には、磁気ストライプＴ１が磁気ヘッド１２１を通過する速度が速いと、当該磁気ヘッド１２１から出力される電圧振幅が大きくなり、また、磁気ストライプＴ１が磁気ヘッド１２１を通過する速度が遅いと、電圧振幅が小さくなる。
このような特性により、搬送速度が極端に遅い、又は、極端に早いカードＴの電圧振幅は、磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを評価するための指標に適さないことが想定される。そこで、本変形例のように、電圧振幅情報記録処理部１０９は、計測された搬送速度が予め規定された所定の範囲（規定搬送速度範囲）内に属していなかった場合は、そのカードＴの電圧振幅を除外して、磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを評価する。このようにすることで、搬送速度に起因する電圧振幅のばらつきの要素を排することができ、磁気ヘッド１２１の劣化の度合いを精度よく推定することができる。

また、第２の実施形態においては、「代表値」とは、電圧振幅Ｖｍが予め規定された閾値Ｖｔ２を下回った（若しくは、上回った）カードＴの枚数であるものとして説明したが、他の実施形態ではこの態様に限定されない。
例えば、他の実施形態において、「代表値」は、例えば、複数の電圧の平均値、中央値、又は、最頻値などであってもよい。ただし、この場合、第２の実施形態に係るカード処理装置１は、故障予測用コンパレータ１３１の代わりに、Ａ／Ｄコンバータを有しているのが好ましい。そして、電圧振幅情報記録処理部１０９は、Ａ／Ｄコンバータを通じて取り込まれた電圧振幅値そのものを電圧振幅情報テーブルＥに記録するものとする。

また、第１、第２の実施形態において、搬送速度情報記録処理部１０５は、新たに挿入されたカードＴの搬送速度と、当該カードＴから読み取った磁気データのハッシュ値とを、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録するものとして説明した。また、同一カード判定部１０７は、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データのハッシュ値を算出し、当該ハッシュ値と搬送速度情報テーブルＤに既に登録されているハッシュ値とを比較するものとして説明した。しかし、他の実施形態においてはこの態様に限定されない。
例えば、他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、新たに挿入されたカードＴの搬送速度と、当該カードＴから読み取った磁気データのハッシュ値の一部（例えば、上位側７バイト）とを、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録するものとしてもよい。また、この場合、他の実施形態に係る同一カード判定部１０７は、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データのハッシュ値を算出し、当該ハッシュ値の一部（上位側７バイト）と搬送速度情報テーブルＤに既に登録されているハッシュ値の一部（上位側７バイト）とを比較するものとしてもよい。
また、他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、新たに挿入されたカードＴの搬送速度と、当該カードＴから読み取った磁気データのＣＲＣ（Clinical Research Coordinator）値とを、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録するものとしてもよい。また、この場合、他の実施形態に係る同一カード判定部１０７は、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データのＣＲＣ値を算出し、当該ＣＲＣ値と搬送速度情報テーブルＤに既に登録されているＣＲＣ値とを比較するものとしてもよい。
また、他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、新たに挿入されたカードＴの搬送速度と、当該カードＴから読み取った磁気データのうち予め定められた一部（例えば、磁気データのデータ配列から抽出した所定の４ケタのデータ配列）とを、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤに追加記録するものとしてもよい。また、この場合、他の実施形態に係る同一カード判定部１０７は、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データの一部（所定の４ケタのデータ配列）と、搬送速度情報テーブルＤに既に登録されている磁気データの一部（所定の４ケタのデータ配列）とを比較するものとしてもよい。この場合、実際には異なるカードでもあるにかかわらず“同一”と判定されてしまう可能性が上がるが、劣化判定に使う枚数（１０枚程度）に比べて十分に確率が低いので、実用上の問題は生じない。
また、他の実施形態に係る搬送速度情報記録処理部１０５は、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データを、カード処理装置１の上位装置（別装置）に記録するものとし、記録媒体１１の搬送速度情報テーブルＤには、上位装置における当該磁気データの参照先（アドレス）のみを記録する態様としてもよい。この場合、他の実施形態に係る同一カード判定部１０７は、搬送速度情報テーブルＤに記録された“参照先”に基づいて、既に上位装置に記録されている磁気データを読み出すとともに、当該上位装置から読み出した磁気データと、新たに挿入されたカードＴから読み取った磁気データとを比較するものとしてもよい。

また、カード処理装置１は、第１の実施形態に係る構成と第２の実施形態に係る構成との両方を具備するものであってもよい。即ち、カード処理装置１は、搬送速度取得部１０４、搬送速度情報記録処理部１０５及び搬送速度情報テーブルＤの組み合わせ（図３参照）と、電圧振幅取得部１０８、電圧振幅情報記録処理部１０９及び電圧振幅情報テーブルＥの組み合わせ（図１１参照）と、の両方を具備する態様であってもよい。これにより、カード処理装置１は、搬送機構１２０の劣化に起因する故障予測と、磁気ヘッド１２１の劣化に起因する故障予測と、の両方が可能となる。

なお、上述の各実施形態においては、上述した制御部１０の各種処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって上記各種処理が行われる。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。

上記プログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、上述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。更に、制御部１０は、それぞれ、１台のコンピュータで構成されていても良いし、通信可能に接続された複数のコンピュータで構成されていてもよい。

以上のとおり、本発明に係るいくつかの実施形態を説明したが、これら全ての実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態及びその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１Ａ 料金収受機
１ カード処理装置
１０ 制御部
１００ センサ情報取得部
１０１ モータ制御部
１０２ 磁気データ取得部
１０３ ＩＣチップ処理部
１０４ 搬送速度取得部
１０５ 搬送速度情報記録処理部
１０６ 劣化評価部
１０７ 同一カード判定部
１０８ 電圧振幅取得部
１０９ 電圧振幅情報記録処理部
１１ 記録媒体
１２０ 搬送機構
１２１ 磁気ヘッド
１２２ ＩＣコンタクト
１３０ 検波用コンパレータ
１３１ 故障予測用コンパレータ
Ｉ 挿入口
Ｍ ＤＣモータ
Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３ 搬送ローラ
Ｒｐ 押さえローラ
Ｂ１、Ｂ２ 搬送ベルト
Ｐ プーリ
Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４ 検知センサ
Ｔ カード
Ｔ１ 磁気ストライプ
Ｔ２ ＩＣチップ
Ｄ 搬送速度情報テーブル
Ｅ 電圧振幅情報テーブル

Claims (6)

1. 搬送機構によって搬送されるカードの搬送速度を取得する搬送速度取得部と、
   複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルを生成する搬送速度情報記録処理部と、
   生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価部と、
   前記搬送機構によって搬送されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定部と、
   を備え、
   前記劣化評価部は、前記同一カード判定部によって互いに同一ではないと判定された異なる複数のカードについての前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価し、
   前記同一カード判定部は、前記カードの磁気ストライプに記録された情報が一致するか否かによって前記判定を行い、前記カードの磁気ストライプから情報を読み取れなかった場合に、前記カードにおけるＩＣチップの有無が一致するか否かによって前記判定を行う、
   カード処理装置。
2. 前記劣化評価部は、複数のカードについての前記搬送速度のうち、所定の範囲から外れた搬送速度を除外して前記搬送機構の劣化の度合いを評価する
   請求項１に記載のカード処理装置。
3. 前記搬送速度取得部は、前記カードが前記搬送機構の搬送経路のうちの特定領域を搬送されている間における搬送速度を取得し、
   前記特定領域は、利用者が挿入口から前記カードに触ることができない領域である
   請求項１または請求項２に記載のカード処理装置。
4. 請求項１から請求項３の何れか一項に記載のカード処理装置を備える料金収受機。
5. 搬送機構によって搬送されるカードの搬送速度を取得する搬送速度取得ステップと、
   複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルを生成する搬送速度情報記録処理ステップと、
   生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価ステップと、
   前記搬送機構によって搬送されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定ステップと、
   を有し、
   前記劣化評価ステップは、前記同一カード判定ステップによって互いに同一ではないと判定された異なる複数のカードについての前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価し、
   前記同一カード判定ステップは、前記カードの磁気ストライプに記録された情報が一致するか否かによって前記判定を行い、前記カードの磁気ストライプから情報を読み取れなかった場合に、前記カードにおけるＩＣチップの有無が一致するか否かによって前記判定を行う、
   カード処理装置評価方法。
6. カード処理装置のコンピュータを、
   搬送機構によって搬送されるカードの搬送速度を取得する搬送速度取得部、
   複数の前記カードについての前記搬送速度を記録して当該搬送速度を含む搬送速度情報テーブルを生成する搬送速度情報記録処理部、
   生成された前記搬送速度情報テーブルに含まれる複数の前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価する劣化評価部、
   前記搬送機構によって搬送されたカードが、過去に搬送速度を記録したカードと同一か否かを判定する同一カード判定部、
   として機能させるプログラムであって、
   前記劣化評価部は、前記同一カード判定部によって互いに同一ではないと判定された異なる複数のカードについての前記搬送速度の代表値に基づいて前記搬送機構の劣化の度合いを評価し、
   前記同一カード判定部は、前記カードの磁気ストライプに記録された情報が一致するか否かによって前記判定を行い、前記カードの磁気ストライプから情報を読み取れなかった場合に、前記カードにおけるＩＣチップの有無が一致するか否かによって前記判定を行う、
   プログラム。

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