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JP7160992B2 - Mounting equipment - Google Patents
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JP7160992B2 - Mounting equipment - Google Patents

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Description

本発明は、実装装置に関する。 The present invention relates to a mounting device.

従来、部品を基板に実装する実装装置において、吸着ノズルに対する部品の吸着の有無を判定するものが知られている。例えば、特許文献1には、以下の処理を行う電子部品装着装置が記載されている。まず、ボイスコイルモータが吸着ノズルを所定距離だけ下降させた後に真空発生器を稼働させて、吸着ノズルの先端に部品を吸着させる動作を行う。続いて、さらに吸着ノズルを下降させ、このときのボイスコイルモータの電流値が所定電流を超えたか否かを判定する。吸着ノズルが部品を吸着している場合には、さらに吸着ノズルを下降させると負荷が増大してボイスコイルモータの電流値が増加するため、この電流値に基づいて部品の吸着の有無を判定できる。これにより、真空発生器のエア経路に取り付けられた圧力センサを用いて部品の吸着有無を判定する場合と比べて、迅速且つ正確に判定が行えるとされている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in a mounting apparatus for mounting components on a board, there is known one that determines whether or not a component is sucked by a suction nozzle. For example, Patent Literature 1 describes an electronic component mounting apparatus that performs the following processes. First, after the voice coil motor lowers the suction nozzle by a predetermined distance, the vacuum generator is operated to suck the component at the tip of the suction nozzle. Subsequently, the suction nozzle is further lowered, and it is determined whether or not the current value of the voice coil motor at this time has exceeded a predetermined current. When the suction nozzle is picking up a component, if the suction nozzle is lowered further, the load increases and the current value of the voice coil motor increases. . It is said that this makes it possible to make a quick and accurate judgment as compared with the case of judging whether or not a component is adsorbed using a pressure sensor attached to the air path of the vacuum generator.

特開平10-163686号公報JP-A-10-163686

しかし、特許文献1に記載の電子部品装着装置では、吸着ノズルが部品を吸着していないことの検出はできるが、それ以外の異常の検出については考慮されていなかった。例えば、吸着ノズルの下降時に吸着対象以外の異物を吸着した場合の検出については考慮されていなかった。また、例えば基板上に異物がある場合など、基板に部品を実装する際の異常の検出についても考慮されていなかった。 However, in the electronic component mounting apparatus described in Patent Document 1, although it is possible to detect that the suction nozzle does not pick up the component, detection of other abnormalities is not taken into consideration. For example, no consideration has been given to the detection of foreign objects other than objects to be sucked when the suction nozzle is lowered. In addition, no consideration has been given to the detection of abnormalities when mounting components on a board, such as when there is a foreign object on the board.

本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、保持部材の下降時の異物を検出することを主目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such problems, and its main object is to detect a foreign object when a holding member is lowered.

本発明は、上述した主目的を達成するために以下の手段を採った。 The present invention employs the following means in order to achieve the above main object.

本発明の実装装置は、
部品を採取して保持する保持部材を有し、保持した部品を基板に実装する実装ヘッドと、
前記保持部材を昇降させる昇降部と、
前記保持部材が他の物体に接触したことを検出する接触検出部と、
前記保持部材の下降時の正常な接触高さよりも上方又は正常な接触タイミングよりも早いタイミングの少なくとも一方において前記接触検出部が前記接触を検出した場合に異常と判定する判定処理を行う異常判定部と、
を備えたものである。
The mounting device of the present invention is
a mounting head that has a holding member that picks up and holds a component, and that mounts the held component on a substrate;
an elevating unit that elevates the holding member;
a contact detection unit that detects contact of the holding member with another object;
An abnormality determination unit that performs a determination process of determining an abnormality when the contact detection unit detects the contact at least at a timing higher than the normal contact height when the holding member is lowered or at a timing earlier than the normal contact timing. When,
is provided.

この実装装置では、保持部材の下降時に、保持部材が他の物体に接触したことを検出する。そして、下降時の正常な接触高さよりも上方又は下降時の正常な接触タイミングよりも早いタイミングの少なくとも一方において接触を検出した場合に異常と判定する。これにより、保持部材の下降時の異物を検出することができる。なお、「異物」には、保持対象の部品以外の物体や、保持対象ではあるが保持姿勢が異常な部品などを含む。また、「保持部材が他の物体に接触」には、保持部材が他の物体に直接的に接触する場合と間接的に接触する場合とを含む。保持部材が間接的に他の物体に接触する場合としては、例えば保持部材に付着した異物や保持部材が保持している部品が他の物体に接触する場合などが挙げられる。 In this mounting apparatus, when the holding member is lowered, it is detected that the holding member has come into contact with another object. Then, when contact is detected at least at a timing above the normal contact height during descent or earlier than the normal contact timing during descent, it is determined to be abnormal. This makes it possible to detect a foreign object when the holding member is lowered. Note that the "foreign matter" includes an object other than the part to be held, a part to be held but whose holding posture is abnormal, and the like. In addition, "the holding member comes into contact with another object" includes cases where the holding member comes into direct contact with another object and cases where the holding member comes into indirect contact with the other object. Examples of cases where the holding member indirectly contacts another object include, for example, cases where a foreign object adhering to the holding member or a component held by the holding member contacts another object.

本発明の実装装置において、前記異常判定部は、前記保持部材が部品を採取する際の該保持部材の下降時の前記接触に関して、前記判定処理を行ってもよい。こうすれば、保持部材が部品を採取する際の異物を検出することができる。 In the mounting apparatus of the present invention, the abnormality determination section may perform the determination process regarding the contact when the holding member descends when the holding member picks up the component. In this way, foreign matter can be detected when the holding member picks up the component.

この場合において、本発明の実装装置は、前記保持部材が部品を採取する際の前記判定処理において前記異常判定部が異常と判定した場合には、該保持部材による直近の実装対象と同じ種別の部品を該直近の実装対象の実装位置に実装するよう前記実装ヘッド及び前記昇降部を制御する実装制御部を備えていてもよい。ここで、保持部材が部品を採取する際に異物が検出された場合、保持部材が前の実装対象の部品を吸着したままになっている可能性がある。すなわち、基板上に部品を配置したあとに部品が保持部材から離れない現象(いわゆる持ち帰り現象)が生じている可能性がある。このような場合に、直近の実装対象と同じ種別の部品をその実装対象の実装位置に実装することで、持ち帰り現象が生じてしまい実装されなかった部品を基板上に適切に実装することができる。すなわち持ち帰り現象のリカバリーを行うことができる。 In this case, in the mounting apparatus of the present invention, when the abnormality determination unit determines that there is an abnormality in the determination process when the holding member picks up the component, the mounting apparatus of the present invention detects a component of the same type as the object to be mounted immediately by the holding member. A mounting control section may be provided for controlling the mounting head and the lifting section so that the component is mounted at the mounting position of the nearest mounting target. Here, if a foreign object is detected when the holding member picks up the component, there is a possibility that the holding member may still be sucking the previous component to be mounted. That is, there is a possibility that a phenomenon (so-called take-home phenomenon) occurs in which the component is not separated from the holding member after the component has been placed on the board. In such a case, by mounting a component of the same type as the most recent mounting target at the mounting position of that mounting target, the component that was not mounted due to the take-home phenomenon can be appropriately mounted on the board. . That is, the take-home phenomenon can be recovered.

本発明の実装装置において、前記異常判定部は、部品を保持した前記保持部材が前記基板に該部品を実装する際の該保持部材の下降時の前記接触に関して、前記判定処理を行ってもよい。こうすれば、基板に部品を実装する際の異物を検出することができる。 In the mounting apparatus of the present invention, the abnormality determination unit may perform the determination process regarding the contact when the holding member holding the component is lowered when the component is mounted on the substrate. . By doing so, it is possible to detect a foreign substance when a component is mounted on the board.

本発明の実装装置において、前記接触検出部は、前記保持部材の下降時に下方から該保持部材に加わる荷重を検出する荷重センサとしてもよい。こうすれば、保持部材に加わる荷重に基づいて、保持部材が他の物体に接触したことを適切に検出できる。 In the mounting apparatus of the present invention, the contact detection section may be a load sensor that detects a load applied to the holding member from below when the holding member is lowered. This makes it possible to appropriately detect that the holding member has come into contact with another object based on the load applied to the holding member.

実装システム10の一例を表す概略説明図。1 is a schematic explanatory diagram showing an example of a mounting system 10; FIG. 実装ヘッド22の構成を表す説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of a mounting head 22; 実装装置11の構成を表すブロック図。2 is a block diagram showing the configuration of the mounting apparatus 11; FIG. 実装処理ルーチンの一例を表すフローチャート。4 is a flowchart showing an example of an implementation processing routine; 接触高さ取得処理ルーチンの一例を表すフローチャート。4 is a flowchart showing an example of a contact height acquisition processing routine; 接触高さを測定する一例を表す説明図。Explanatory drawing showing an example which measures contact height. 接触高さH2を測定する一例を表す説明図。Explanatory drawing showing an example which measures the contact height H2. 変形例の実装ヘッド22Aの一例を表す部分断面図。FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing an example of a mounting head 22A of a modified example; 図8のC-C断面図。CC sectional view of FIG.

本発明の好適な実施形態を図面を参照しながら以下に説明する。図1は、実装システム10の一例を表す概略説明図である。図2は、実装ヘッド22の構成を表す説明図である。図3は、実装装置11の構成を表すブロック図である。実装システム10は、例えば、部品Pを基板Sに実装する処理を実行するシステムである。この実装システム10は、実装装置11と、管理コンピュータ50とを備えている。実装システム10は、部品Pを基板Sに実装する実装処理を実施する複数の実装装置11が上流から下流に配置されている。図1では、説明の便宜のため実装装置11を1台のみ示している。また、本実施形態において、左右方向(X軸)、前後方向(Y軸)及び上下方向(Z軸)は、図1に示した通りとする。 Preferred embodiments of the invention are described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory diagram showing an example of a mounting system 10. As shown in FIG. FIG. 2 is an explanatory diagram showing the configuration of the mounting head 22. As shown in FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the mounting apparatus 11. As shown in FIG. The mounting system 10 is a system that executes a process of mounting a component P on a substrate S, for example. This mounting system 10 includes a mounting device 11 and a management computer 50 . In the mounting system 10, a plurality of mounting apparatuses 11 that perform a mounting process of mounting a component P on a board S are arranged from upstream to downstream. In FIG. 1, only one mounting device 11 is shown for convenience of explanation. In this embodiment, the left-right direction (X-axis), the front-rear direction (Y-axis), and the up-down direction (Z-axis) are as shown in FIG.

実装装置11は、図1~3に示すように、基板搬送ユニット12と、実装ユニット13と、部品供給ユニット14と、撮像ユニット16と、制御装置40とを備えている。基板搬送ユニット12は、基板Sの搬入、搬送、実装位置での固定、搬出を行うユニットである。基板搬送ユニット12は、図1の前後に間隔を開けて設けられ左右方向に架け渡された1対のコンベアベルトを有している。基板Sはこのコンベアベルトにより搬送される。 The mounting apparatus 11 includes a board transfer unit 12, a mounting unit 13, a component supply unit 14, an imaging unit 16, and a control device 40, as shown in FIGS. The substrate transport unit 12 is a unit that carries in the substrate S, transports it, fixes it at the mounting position, and carries it out. The substrate transport unit 12 has a pair of conveyor belts that are spaced apart from each other in the front and rear of FIG. The substrate S is conveyed by this conveyor belt.

実装ユニット13は、部品Pを部品供給ユニット14から採取し、基板搬送ユニット12に固定された基板Sへ配置するものである。実装ユニット13は、ヘッド移動部20と、実装ヘッド22と、吸着ノズル28とを備えている。ヘッド移動部20は、ガイドレールに導かれてXY方向へ移動するスライダと、スライダを駆動するモータとを備えている。実装ヘッド22は、スライダに取り外し可能に装着されており、ヘッド移動部20によりXY方向へ移動する。実装ヘッド22の下面には、1つの吸着ノズル28が取り外し可能に装着されている。実装ヘッド22には、図2に示すように、長尺円筒状の1以上のシリンジ部材25が中心軸を中心に回転可能に且つ上下動可能に配設されている。このシリンジ部材25の下端に吸着ノズル28が取り外し可能に装着される。また、シリンジ部材25の上端には、ギア26が配設されている。実装ヘッド22は、ギア24を有するQ軸モータ23が配設されている。Q軸モータ23は、ギア24がギア26と噛み合っており、ギア26を介してシリンジ部材25を軸回転させることにより、吸着ノズル28に吸着された部品Pの角度を調整する。 The mounting unit 13 picks up the component P from the component supply unit 14 and places it on the board S fixed to the board transfer unit 12 . The mounting unit 13 includes a head moving section 20 , a mounting head 22 and a suction nozzle 28 . The head moving unit 20 includes a slider that is guided by guide rails and moves in the XY directions, and a motor that drives the slider. The mounting head 22 is detachably attached to the slider and is moved in the XY directions by the head moving section 20 . One suction nozzle 28 is detachably attached to the lower surface of the mounting head 22 . As shown in FIG. 2, one or more elongated cylindrical syringe members 25 are arranged on the mounting head 22 so as to be rotatable about a central axis and vertically movable. A suction nozzle 28 is detachably attached to the lower end of the syringe member 25 . A gear 26 is arranged at the upper end of the syringe member 25 . The mounting head 22 is provided with a Q-axis motor 23 having a gear 24 . The Q-axis motor 23 has a gear 24 meshing with a gear 26 , and adjusts the angle of the component P sucked by the suction nozzle 28 by rotating the syringe member 25 through the gear 26 .

吸着ノズル28は、圧力を利用して、ノズル先端に部品Pを吸着し、ノズル先端に吸着している部品Pを吸着解除する採取部材である。この吸着ノズル28は、円板状のフランジ29と、先端側に形成された管状部19とを有している(図2参照)。管状部19は、Z軸方向(上下方向)に摺動可能に吸着ノズル28の本体に配設されている。実装ヘッド22では、実装ヘッド22のY軸方向の先端側に位置する1カ所の昇降位置において、シリンジ部材25及び吸着ノズル28をZ軸方向に昇降する。なお、部品Pを採取して保持する保持部材は、ここでは吸着ノズル28として説明するが、部品Pの採取及び保持が可能であれば特に限定されず、部品Pを挟持して採取するメカニカルチャックなどとしてもよい。 The suction nozzle 28 is a picking member that uses pressure to suck the component P to the tip of the nozzle and release the suction of the component P that has been sucked to the tip of the nozzle. The suction nozzle 28 has a disc-shaped flange 29 and a tubular portion 19 formed on the tip side (see FIG. 2). The tubular portion 19 is arranged in the main body of the suction nozzle 28 so as to be slidable in the Z-axis direction (vertical direction). In the mounting head 22 , the syringe member 25 and the suction nozzle 28 are moved up and down in the Z-axis direction at one elevation position located on the tip side of the mounting head 22 in the Y-axis direction. Note that the holding member that picks up and holds the component P is here described as the suction nozzle 28, but is not particularly limited as long as it can pick up and hold the component P, and a mechanical chuck that clamps and picks up the component P is used. and so on.

実装ヘッド22は、図2に示すように、第1昇降駆動部30と、第2昇降駆動部34とを備えており、この第1昇降駆動部30や第2昇降駆動部34によってZ軸に沿って吸着ノズル28の高さを調整する。第1昇降駆動部30は、部品Pを採取する吸着ノズル28が装着されたシリンジ部材25の全体を昇降させるものである。第1昇降駆動部30は、第1リニアモータ31と、第1支持部材32とを備えている。第1リニアモータ31は、比較的大きな移動範囲A(図2参照)で第1支持部材32を上下動させる。第1支持部材32は、上下方向に形成された部材であり、第1リニアモータ31に支持されている。この第1支持部材32の下端に第2昇降駆動部34が配設されている。第1支持部材32の上端側にはシリンジ部材25に形成された円板状の水平部27と係合する第1係合部33が形成されている。第2昇降駆動部34は、シリンジ部材25のうち吸着ノズル28を昇降させるものである。第2昇降駆動部34は、第2リニアモータ35と、第2支持部材36と、第2係合部37と、検出部38とを備えている。第2リニアモータ35は、移動範囲Aに比して短い移動範囲B(図2参照)で第2支持部材36を上下動させる。第2支持部材36は、上下方向に形成された部材であり、第2リニアモータ35に支持されている。この第2支持部材36の下端に第2係合部37が形成されている。第2係合部37は、吸着ノズル28のフランジ29に係合している。第2昇降駆動部34は、第2リニアモータ35の駆動力により、第2係合部37及びフランジ29を介して直接的に吸着ノズル28を上下動させる。この第2支持部材36には、ロードセルである検出部38が配設されている。検出部38は、第2係合部37にかかる荷重を検出可能な荷重センサとして構成されている。実装ヘッド22は、第1昇降駆動部30により高速で吸着ノズル28を下降させ、第2昇降駆動部34により低速で吸着ノズル28を下降させ、検出部38での検出結果に基づき部品Pが基板Sに当接する際の駆動制御を行い、部品Pにかかる負荷を低減する。実装装置11は、高さの基準となる基準面が形成された基準部材17が配設されている。 As shown in FIG. 2, the mounting head 22 includes a first elevation drive section 30 and a second elevation drive section 34. The first elevation drive section 30 and the second elevation drive section 34 move along the Z axis. The height of the suction nozzle 28 is adjusted along the line. The first elevation driving section 30 raises and lowers the entire syringe member 25 to which the suction nozzle 28 for picking up the component P is mounted. The first elevation drive section 30 includes a first linear motor 31 and a first support member 32 . The first linear motor 31 vertically moves the first support member 32 within a relatively large movement range A (see FIG. 2). The first support member 32 is a member formed vertically and supported by the first linear motor 31 . A second elevation drive section 34 is arranged at the lower end of the first support member 32 . A first engaging portion 33 that engages with a disk-shaped horizontal portion 27 formed on the syringe member 25 is formed on the upper end side of the first supporting member 32 . The second elevation driving section 34 raises and lowers the suction nozzle 28 of the syringe member 25 . The second elevation drive section 34 includes a second linear motor 35 , a second support member 36 , a second engagement section 37 and a detection section 38 . The second linear motor 35 moves the second support member 36 up and down within a movement range B (see FIG. 2) that is shorter than the movement range A. As shown in FIG. The second support member 36 is a member that extends vertically and is supported by the second linear motor 35 . A second engagement portion 37 is formed at the lower end of the second support member 36 . The second engaging portion 37 is engaged with the flange 29 of the suction nozzle 28 . The second elevation driving section 34 directly moves the suction nozzle 28 vertically via the second engaging section 37 and the flange 29 by the driving force of the second linear motor 35 . A detector 38 that is a load cell is arranged on the second support member 36 . The detection portion 38 is configured as a load sensor capable of detecting the load applied to the second engaging portion 37 . The mounting head 22 lowers the suction nozzle 28 at high speed by the first elevation driving section 30 , lowers the suction nozzle 28 at low speed by the second elevation driving section 34 , and detects the part P on the board based on the detection result of the detection section 38 . The load applied to the part P is reduced by performing drive control when contacting the part S. The mounting apparatus 11 is provided with a reference member 17 having a reference surface as a height reference.

部品供給ユニット14は、図1に示すように、複数のリールを備え、実装装置11の前側に着脱可能に取り付けられている。各リールには、テープが巻き付けられ、テープの表面には、複数の部品Pがテープの長手方向に沿って保持されている。このテープは、リールから後方に向かって巻きほどかれ、部品Pが露出した状態で、吸着ノズル28で吸着される採取位置にフィーダ部により送り出される。 The component supply unit 14 includes a plurality of reels and is detachably attached to the front side of the mounting device 11, as shown in FIG. A tape is wound around each reel, and a plurality of components P are held on the surface of the tape along the longitudinal direction of the tape. This tape is unwound rearward from the reel and fed by the feeder section to a pickup position where the parts P are picked up by the suction nozzle 28 in a state where the parts P are exposed.

撮像ユニット16は、部品Pを吸着した吸着ノズル28を側方から撮像するユニットである。この撮像ユニット16は、撮像素子と、ミラーと、画像処理部とを備えている。制御装置40は、撮像ユニット16により撮像された画像を用いて、部品Pの吸着位置のずれや部品Pの変形、破損の有無などを検出する。 The image pickup unit 16 is a unit that picks up an image of the suction nozzle 28 that has picked up the component P from the side. The image pickup unit 16 includes an image pickup device, a mirror, and an image processing section. The control device 40 uses the image captured by the imaging unit 16 to detect deviation of the pickup position of the component P, deformation of the component P, presence or absence of damage, and the like.

制御装置40は、図3に示すように、CPU41を中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムを記憶するROM42、各種データを記憶するHDD43、作業領域として用いられるRAM44、外部装置と電気信号のやり取りを行うための入出力インタフェース45などを備えており、これらはバス46を介して接続されている。この制御装置40は、基板搬送ユニット12、実装ユニット13、部品供給ユニット14、撮像ユニット16へ制御信号を出力し、実装ユニット13や部品供給ユニット14、撮像ユニット16からの信号を入力する。 As shown in FIG. 3, the control device 40 is configured as a microprocessor centered on a CPU 41, and includes a ROM 42 for storing processing programs, an HDD 43 for storing various data, a RAM 44 used as a work area, an external device and an electric It has an input/output interface 45 and the like for exchanging signals, and these are connected via a bus 46 . The control device 40 outputs control signals to the board transport unit 12 , the mounting unit 13 , the component supply unit 14 and the imaging unit 16 and receives signals from the mounting unit 13 , the component supply unit 14 and the imaging unit 16 .

管理コンピュータ50は、実装システム10の各装置の情報を管理するコンピュータである。管理コンピュータ50は、作業者が各種指令を入力するキーボード及びマウス等の入力装置52と、各種情報を表示するディスプレイ54とを備えている。 The management computer 50 is a computer that manages information on each device of the mounting system 10 . The management computer 50 includes an input device 52 such as a keyboard and a mouse for the operator to input various commands, and a display 54 for displaying various information.

次に、こうして構成された本実施形態の実装システム10の動作、具体的には、実装装置11が部品Pを基板Sに実装する実装処理について説明する。図4は、制御装置40のCPU41により実行される実装処理ルーチンの一例を表すフローチャートである。このルーチンは、制御装置40のHDD43にプログラムとして記憶され、作業者による開始指示により実行される。 Next, the operation of the mounting system 10 of this embodiment configured in this way, specifically, the mounting process in which the mounting apparatus 11 mounts the component P on the board S will be described. FIG. 4 is a flowchart showing an example of a mounting processing routine executed by the CPU 41 of the control device 40. As shown in FIG. This routine is stored as a program in the HDD 43 of the control device 40 and is executed by the operator's start instruction.

このルーチンを開始すると、制御装置40のCPU41は、まず、実装ジョブ情報を管理コンピュータ50から取得する(ステップS100)。実装ジョブ情報には、部品Pの実装順、実装対象の部品Pの種別(部品種)及び厚さ(高さ)などの大きさ、基板Sにおける部品Pの実装位置(XY座標)、部品Pを吸着する吸着ノズル28の情報などが含まれている。また、実装ジョブ情報には、実装対象の部品Pの各々に対して、後述する吸着ノズル28の接触高さH1,H2が正常か否かを判定するための高さ閾値H1ref,H2refの情報も含まれている。 When this routine starts, the CPU 41 of the control device 40 first acquires mounting job information from the management computer 50 (step S100). The mounting job information includes the mounting order of the components P, the type (type of component) and size such as thickness (height) of the component P to be mounted, the mounting position (XY coordinates) of the component P on the board S, the component P information of the suction nozzle 28 that sucks the . The mounting job information also includes height threshold values H1ref and H2ref for determining whether contact heights H1 and H2 of the suction nozzle 28, which will be described later, are normal for each component P to be mounted. include.

次に、CPU41は、吸着ノズル28が他の物体に接触した高さを取得する接触高さ取得処理を実行する(ステップS110)。ここでは、CPU41は、接触高さ取得処理を実行することで、後述する接触高さH1,H2の高さの基準となる基準高さRを取得する。図5は、接触高さ取得処理ルーチンの一例を表すフローチャートである。このルーチンは、制御装置40のHDD43にプログラムとして記憶されている。また、図6は、接触高さを測定する一例を表す説明図である。図6(a)は基準高さRの測定の一例を表す図であり、図6(b),(c)は接触高さH1の測定の一例を表す図である。 Next, the CPU 41 executes contact height acquisition processing for acquiring the height at which the suction nozzle 28 contacts another object (step S110). Here, the CPU 41 executes the contact height acquisition process to acquire a reference height R that serves as a reference for contact heights H1 and H2, which will be described later. FIG. 5 is a flow chart showing an example of a contact height acquisition processing routine. This routine is stored in the HDD 43 of the control device 40 as a program. Moreover, FIG. 6 is explanatory drawing showing an example which measures contact height. FIG. 6(a) is a diagram showing an example of measurement of the reference height R, and FIGS. 6(b) and (c) are diagrams showing an example of measurement of the contact height H1.

接触高さ取得処理ルーチンを開始すると、CPU41は、まず、接触高さの測定位置まで実装ヘッド22をXY方向に移動させる(ステップS300)。ステップS110の接触高さ取得処理では基準高さRを測定するため、CPU41は測定位置である基準部材17の上方まで実装ヘッド22を移動させる。続いて、CPU41は、第1昇降駆動部30により第1支持部材32を下降させて、シリンジ部材25及び吸着ノズル28の全体を下降させる(ステップS310)。次に、CPU41は、第2昇降駆動部34により第2支持部材36を下降させ(ステップS320)、検出部38が荷重を検出したか否かを検出部38の信号に基づいて判定する(ステップS330)。検出部38が荷重を検出していないときには、CPU41は、ステップS320の処理を継続し、検出部38が荷重を検出したときには、吸着ノズル28が他の物体(ここでは基準部材17の上面)に接触したものとして、このときの接触高さを取得しRAM44に記憶して(ステップS340)、本ルーチンを終了する。ここでは、CPU41は、このときの接触高さを基準高さR(図6(a)参照)として取得しRAM44に記憶する。基準高さRは、例えば、第1リニアモータ31のエンコーダ値及び第2リニアモータ35のエンコーダ値に基づく値とする。 When the contact height acquisition processing routine is started, the CPU 41 first moves the mounting head 22 in the XY directions to the contact height measurement position (step S300). In order to measure the reference height R in the contact height acquisition process of step S110, the CPU 41 moves the mounting head 22 above the reference member 17, which is the measurement position. Subsequently, the CPU 41 lowers the first support member 32 by the first elevation drive unit 30, thereby lowering the entire syringe member 25 and the suction nozzle 28 (step S310). Next, the CPU 41 causes the second lifting drive section 34 to lower the second support member 36 (step S320), and determines whether or not the detection section 38 has detected a load based on the signal of the detection section 38 (step S330). When the detection unit 38 does not detect the load, the CPU 41 continues the process of step S320. Assuming that there is contact, the contact height at this time is acquired and stored in the RAM 44 (step S340), and this routine ends. Here, the CPU 41 acquires the contact height at this time as the reference height R (see FIG. 6A) and stores it in the RAM 44 . The reference height R is, for example, a value based on the encoder value of the first linear motor 31 and the encoder value of the second linear motor 35 .

図4の実装処理ルーチンの説明に戻る。ステップS110で基準高さRを取得すると、CPU41は、基板Sの搬送及び固定処理を行い(ステップS120)、実装ジョブ情報に基づいて実装対象の部品種を設定する(ステップS130)。次に、CPU41は、実装対象の部品種の部品Pの吸着時における吸着ノズル28の接触高さH1を取得する接触高さ取得処理を実行する(ステップS140)。CPU41は、この処理を、図5のステップS300で部品供給ユニット14における部品Pの採取位置に実装ヘッド22を移動させる点、及び検出部38が荷重を検出したときの接触高さをステップS340において接触高さH1として取得する点以外は、上述したステップS110と同様にして行う。これにより、例えば図6(b)に示すように、フィーダ部61に送り出されたテープ62上の実装対象の部品P1に吸着ノズル28の下端が接触したときの接触高さを、接触高さH1として取得する。なお、CPU41は、第1リニアモータ31のエンコーダ値及び第2リニアモータ35のエンコーダ値に基づいて、基準高さRから吸着ノズル28の先端までの高さとして接触高さH1を測定する。 Returning to the description of the mounting processing routine in FIG. After obtaining the reference height R in step S110, the CPU 41 carries out the process of transporting and fixing the board S (step S120), and sets the component type to be mounted based on the mounting job information (step S130). Next, the CPU 41 executes contact height acquisition processing for acquiring the contact height H1 of the suction nozzle 28 when the component P of the component type to be mounted is suctioned (step S140). The CPU 41 performs this processing by moving the mounting head 22 to the picking position of the component P in the component supply unit 14 in step S300 of FIG. The above-described step S110 is performed in the same manner as in step S110 except that the contact height H1 is obtained. As a result, for example, as shown in FIG. 6B, the contact height when the lower end of the suction nozzle 28 contacts the component P1 to be mounted on the tape 62 fed to the feeder portion 61 is defined as the contact height H1. to get as The CPU 41 measures the contact height H1 as the height from the reference height R to the tip of the suction nozzle 28 based on the encoder value of the first linear motor 31 and the encoder value of the second linear motor 35 .

ステップS140で接触高さH1を取得すると、CPU41は、接触高さH1が高さ閾値H1refを超えているか否かを判定する接触高さ判定処理を行う(ステップS150)。高さ閾値H1refは、吸着ノズル28による吸着時の部品Pへの接触高さが正常とみなせる範囲の上限として例えば実験により予め定められた値である。高さ閾値H1refは、例えば実装対象の部品種毎に定められた値であり、各部品種の部品Pの上面の高さにマージンを持たせた値として設定されている。例えば、図6(b)に示すように、吸着ノズル28に異物が付着しておらず吸着ノズル28が実装対象の部品P1に正常に接触した場合には、ステップS140で取得した接触高さH1は高さ閾値H1ref以下となる。一方、図6(c)に示すように、吸着ノズル28に異物として例えば実装対象ではない他の部品P0が付着していた場合には、接触高さH1は部品P0の厚さ分だけ大きい値になり、高さ閾値H1refを超えた値になる。このように、CPU41は、吸着ノズル28の下降時の接触高さH1が正常な接触高さよりも上方に位置するか否かにより、吸着時の異常の有無すなわち異物の有無を判定するのである。 After acquiring the contact height H1 in step S140, the CPU 41 performs contact height determination processing to determine whether or not the contact height H1 exceeds the height threshold value H1ref (step S150). The height threshold value H1ref is a value predetermined, for example, by experiment as the upper limit of the range in which the contact height of the component P during suction by the suction nozzle 28 can be regarded as normal. The height threshold H1ref is, for example, a value determined for each component type to be mounted, and is set as a value with a margin for the height of the upper surface of the component P of each component type. For example, as shown in FIG. 6B, when no foreign matter adheres to the suction nozzle 28 and the suction nozzle 28 normally contacts the component P1 to be mounted, the contact height H1 acquired in step S140 is is equal to or less than the height threshold H1ref. On the other hand, as shown in FIG. 6(c), if a foreign object such as another component P0 that is not to be mounted is adhered to the suction nozzle 28, the contact height H1 is a value that is greater by the thickness of the component P0. , which exceeds the height threshold value H1ref. In this manner, the CPU 41 determines whether there is an abnormality during suction, that is, whether there is a foreign object, based on whether the contact height H1 of the suction nozzle 28 when it is lowered is higher than the normal contact height.

ステップS150で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えていないときには、CPU41は、吸着ノズル28の下端に負圧を作用させて部品Pを吸着させる(ステップS160)。これにより、接触高さ取得処理(ステップS140)で吸着ノズル28に接触した実装対象の部品Pが吸着ノズル28に吸着される。続いて、CPU41は、撮像ユニット16に吸着ノズル28を側方から撮像させ、撮像された画像を用いて吸着ノズル28に吸着された部品Pの吸着異常の有無を判定する(ステップS170)。CPU41は、例えば、吸着位置のずれや部品Pの変形、破損の有無などを判定する。 When the contact height H1 does not exceed the height threshold value H1ref in step S150, the CPU 41 applies negative pressure to the lower end of the suction nozzle 28 to suck the component P (step S160). As a result, the suction nozzle 28 sucks the component P to be mounted that has come into contact with the suction nozzle 28 in the contact height acquisition process (step S140). Subsequently, the CPU 41 causes the imaging unit 16 to take an image of the suction nozzle 28 from the side, and uses the imaged image to determine whether there is an abnormality in the suction of the component P sucked by the suction nozzle 28 (step S170). The CPU 41 determines, for example, the presence or absence of displacement of the pick-up position, deformation of the component P, damage, and the like.

ステップS170で吸着異常がないときには、CPU41は、実装対象の部品種の部品Pの基板Sへの実装時における吸着ノズル28の接触高さH2を取得する接触高さ取得処理を実行する(ステップS180)。CPU41は、この処理を、図5のステップS300で基板Sの実装位置に実装ヘッド22を移動させる点、及び検出部38が荷重を検出したときの接触高さをステップS340において接触高さH2として取得する点以外は、上述したステップS110と同様にして行う。図7は、接触高さH2を測定する一例を表す説明図である。図7(a)は基板Sの実装位置に異物がない場合の図であり、図7(b)は基板Sの実装位置に異物Fがある場合の図である。なお、CPU41は、第1リニアモータ31のエンコーダ値及び第2リニアモータ35のエンコーダ値に基づいて、基準高さRからの吸着ノズル28先端までの高さとして接触高さH2を測定する。 When there is no suction abnormality in step S170, the CPU 41 executes contact height acquisition processing for acquiring the contact height H2 of the suction nozzle 28 when the component P of the component type to be mounted is mounted on the board S (step S180). ). The CPU 41 performs this process by moving the mounting head 22 to the mounting position of the substrate S in step S300 of FIG. Except for the point of acquiring, it is performed in the same manner as in step S110 described above. FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of measuring the contact height H2. FIG. 7(a) is a diagram when there is no foreign matter at the mounting position of the substrate S, and FIG. 7(b) is a diagram when there is a foreign matter F at the mounting position of the substrate S. FIG. The CPU 41 measures the contact height H2 as the height from the reference height R to the tip of the suction nozzle 28 based on the encoder value of the first linear motor 31 and the encoder value of the second linear motor 35 .

ステップS230で接触高さH2を取得すると、CPU41は、接触高さH2が高さ閾値H2refを超えているか否かを判定する接触高さ判定処理を行う(ステップS190)。高さ閾値H2refは、基板Sの実装位置に部品Pを実装する際の接触高さが正常とみなせる範囲の上限として例えば実験により予め定められた値である。高さ閾値H2refは、例えば基板Sの実装位置の上面の高さ及び実装対象の部品種に応じて定められた値であり、基板Sに実装した際の各部品種の部品Pの上面の高さにマージンを持たせた値として設定されている。例えば、図7(a)に示すように、基板Sの実装位置に異物が存在せず吸着ノズル28に吸着された実装対象の部品P1が基板Sに正常に接触した場合には、ステップS180で取得した接触高さH2は高さ閾値H2ref以下となる。一方、図7(b)に示すように、基板Sに異物Fが存在している場合には、接触高さH2は異物Fの厚さ分だけ大きい値になり、高さ閾値H2refを超えた値になる。このように、CPU41は、吸着ノズル28の下降時の接触高さH2が正常な接触高さよりも上方に位置するか否かにより、実装時の異常の有無すなわち異物の有無を判定するのである。 After acquiring the contact height H2 in step S230, the CPU 41 performs contact height determination processing to determine whether or not the contact height H2 exceeds the height threshold value H2ref (step S190). The height threshold value H2ref is a value predetermined by experiment, for example, as the upper limit of the range in which the contact height when mounting the component P on the mounting position of the board S can be regarded as normal. The height threshold value H2ref is a value determined according to, for example, the height of the upper surface of the mounting position on the board S and the type of component to be mounted, and the height of the upper surface of the component P of each component type when mounted on the board S. is set as a value with a margin for For example, as shown in FIG. 7A, when there is no foreign matter at the mounting position of the board S and the component P1 to be mounted which is sucked by the suction nozzle 28 normally contacts the board S, in step S180 The acquired contact height H2 is equal to or less than the height threshold value H2ref. On the other hand, as shown in FIG. 7B, when the foreign matter F exists on the substrate S, the contact height H2 becomes a value larger by the thickness of the foreign matter F and exceeds the height threshold value H2ref. be a value. In this manner, the CPU 41 determines whether there is an abnormality during mounting, that is, whether there is a foreign object, depending on whether the contact height H2 when the suction nozzle 28 is lowered is higher than the normal contact height.

ステップS190で接触高さH2が高さ閾値H2refを超えていないときには、CPU41は、所定の装着荷重となるように第2昇降駆動部34を制御するとともに部品Pの吸着解除を行う(ステップS200)。これにより、実装対象の部品Pが基板Sに実装される。部品Pを吸着解除すると、CPU41は、現基板の実装処理が完了したか否かを判定し(ステップS210)、完了していないときには、ステップS130以降の処理を実行する。即ち、CPU41は、次の実装対象の部品種を設定し、実装ユニット13を制御して接触高さH1,H2に基づく異常の判定を行いながら部品Pの基板Sへの配置を行う。一方、ステップS210で現基板の実装処理が完了したときには、CPU41は、実装完了した基板Sを基板搬送ユニット12に排出させ(ステップS220)、生産完了したか否かを判定する(ステップS230)。生産完了していないときには、CPU41は、ステップS120以降の処理を実行する。すなわち、CPU41は、新たな基板Sを搬送、固定し、ステップS130以降の処理を実行する。一方、ステップS230で生産完了したときには、CPU41は、そのまま本ルーチンを終了する。 When the contact height H2 does not exceed the height threshold value H2ref in step S190, the CPU 41 controls the second lifting drive unit 34 so as to achieve a predetermined mounting load and releases the suction of the component P (step S200). . As a result, the component P to be mounted is mounted on the board S. As shown in FIG. When the component P is released from suction, the CPU 41 determines whether or not the mounting process for the current board has been completed (step S210). That is, the CPU 41 sets the type of component to be mounted next, controls the mounting unit 13, and places the component P on the board S while determining abnormality based on the contact heights H1 and H2. On the other hand, when the mounting process of the current board is completed in step S210, the CPU 41 discharges the board S on which the mounting is completed to the board transport unit 12 (step S220), and determines whether or not the production is completed (step S230). When the production has not been completed, the CPU 41 executes the processing from step S120. That is, the CPU 41 transports and fixes a new substrate S, and executes the processes after step S130. On the other hand, when the production is completed in step S230, the CPU 41 ends this routine as it is.

一方、ステップS150で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えているときには、CPU41は、吸着ノズル28が現在の基板Sへの実装を行った直近の実装対象(実装順序が1つ前の実装対象)があるか否かを実装ジョブ情報に基づいて判定し(ステップS240)、ある場合には直近の実装対象の部品種を現在の実装対象に設定する(ステップS250)。ここで、例えば実装対象の部品P1の接触高さH1に異常がある場合、図6(c)に示したように異物として他の部品P0が吸着ノズル28に付着している可能性がある。すなわち、基板S上に部品P0を配置したあとに部品P0が吸着ノズル28から離れない現象(いわゆる持ち帰り現象)が生じており、そのまま次の実装対象の部品P1を吸着しようとしている可能性がある。このような場合、吸着ノズル28による直近の実装対象(ここでは部品P0)の基板Sへの実装は完了していない。そこで、CPU41は、直近の実装対象(部品P0と同じ部品種)を再度実装対象に設定することで、持ち帰り現象のリカバリーを行うのである。なお、このような持ち帰り現象が起きる原因としては、例えば吸着ノズル28の先端に静電気が発生している場合などが考えられる。 On the other hand, when the contact height H1 exceeds the height threshold value H1ref in step S150, the CPU 41 determines the most recent mounting object (the mounting order one before) to which the suction nozzle 28 has mounted on the current board S. It is determined based on the mounting job information whether or not there is an object) (step S240), and if there is, the component type of the most recent mounting object is set as the current mounting object (step S250). Here, for example, if there is an abnormality in the contact height H1 of the component P1 to be mounted, there is a possibility that another component P0 adheres to the suction nozzle 28 as a foreign substance as shown in FIG. 6(c). That is, there is a phenomenon that the component P0 does not leave the suction nozzle 28 after the component P0 is placed on the substrate S (so-called take-home phenomenon), and there is a possibility that the next component P1 to be mounted is going to be sucked as it is. . In such a case, mounting of the most recent mounting target (in this case, the component P0) on the board S by the suction nozzle 28 is not completed. Therefore, the CPU 41 recovers from the take-out phenomenon by setting the most recent mounting target (the same component type as the component P0) as the mounting target again. It should be noted that, for example, static electricity generated at the tip of the suction nozzle 28 can be considered as a cause of such a take-away phenomenon.

次に、CPU41は、吸着ノズル28に付着している持ち帰り部品を廃棄する廃棄処理を行う(ステップS260)。具体的には、CPU41は、吸着ノズル28の下端に負圧を作用させ、実装ヘッド22を図示しない廃棄ボックス上に移動させてから負圧を解除する。そして、CPU41は、ステップS250で実装対象に設定した部品種の部品PについてステップS140と同様に接触高さH1を取得し(ステップS270)、ステップS150と同様に接触高さH1が高さ閾値H1refを超えているか否かを判定する接触高さ判定処理を行う(ステップS280)。ステップS280で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えていないときには、CPU41はステップS160以降の処理を行う。すなわち、CPU41は、接触高さ取得処理(ステップS270)で吸着ノズル28に接触した実装対象の部品Pを吸着ノズル28に吸着させ、吸着異常の確認や接触高さH2に基づく異常判定を行いつつ吸着した部品Pを基板Sに実装する。 Next, the CPU 41 performs a discarding process of discarding the take-home component adhering to the suction nozzle 28 (step S260). Specifically, the CPU 41 applies negative pressure to the lower end of the suction nozzle 28, moves the mounting head 22 onto a disposal box (not shown), and then releases the negative pressure. Then, the CPU 41 obtains the contact height H1 of the component P of the component type set as the mounting target in step S250 (step S270), similarly to step S140. is performed (step S280). When the contact height H1 does not exceed the height threshold value H1ref in step S280, the CPU 41 performs the processes after step S160. That is, in the contact height acquisition process (step S270), the CPU 41 causes the suction nozzle 28 to suck the component P to be mounted that has come into contact with the suction nozzle 28, confirms the suction abnormality, and determines the abnormality based on the contact height H2. The sucked component P is mounted on the board S.

また、ステップS170で吸着異常があるときには、CPU41はステップS260以降の処理を実行する。すなわち、CPU41は、吸着異常のある部品Pを廃棄し、実装対象の部品Pについて吸着時の接触高さH1に基づく異常判定を再度行う。 Further, when there is an adsorption abnormality in step S170, the CPU 41 executes the processes after step S260. In other words, the CPU 41 discards the component P having the adsorption abnormality, and performs again the abnormality determination for the component P to be mounted based on the contact height H1 at the time of adsorption.

一方、ステップS240で直近の実装対象がないとき、ステップS280で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えているとき、又はステップS190で接触高さH2が高さ閾値H2refを超えているときには、CPU41は、作業者に異常を報知して(ステップS290)、実装処理を中断し本ルーチンを終了する。例えば、CPU41は、異物が存在する旨の画面を図示しない実装装置11の表示パネルに表示したり、警告音や異物が存在する旨の音声を出力したりする。なお、ステップS280で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えている場合としては、例えば吸着ノズル28の先端にはんだが付着していることで持ち帰り部品PやステップS160で異常と判定された部品P等が離れず廃棄できなかった場合が考えられる。あるいは、吸着ノズル28に部品以外の異物が付着している場合が考えられる。また、ステップS190で接触高さH2が高さ閾値H2refを超えている場合には、基板Sに異物が付着していることが考えられる。これらのような場合には実装処理を継続せず作業者が吸着ノズル28や基板Sの状態を確認することが望ましいため、実装処理を中止して異常を報知するのである。 On the other hand, when there is no immediate mounting target in step S240, when the contact height H1 exceeds the height threshold H1ref in step S280, or when the contact height H2 exceeds the height threshold H2ref in step S190, The CPU 41 notifies the operator of the abnormality (step S290), interrupts the mounting process, and ends this routine. For example, the CPU 41 displays a screen indicating the presence of a foreign object on the display panel of the mounting apparatus 11 (not shown), or outputs a warning sound or a voice indicating the presence of a foreign object. In addition, when the contact height H1 exceeds the height threshold value H1ref in step S280, for example, solder adheres to the tip of the suction nozzle 28, which is the take-home part P or the part determined to be abnormal in step S160. It is conceivable that P etc. could not be discarded without being separated. Alternatively, it is conceivable that the suction nozzle 28 may have adhered foreign matter other than the component. Further, when the contact height H2 exceeds the height threshold value H2ref in step S190, it is conceivable that a foreign object is attached to the substrate S. In such cases, it is desirable for the operator to check the state of the suction nozzle 28 and the substrate S without continuing the mounting process, so the mounting process is stopped and the abnormality is notified.

なお、持ち帰り現象のリカバリー(ステップS240~S280)を行った場合でも、実際には持ち帰り現象が生じておらず吸着ノズル28の先端に異物が付着している場合もある。このような場合でも、ステップS170又はステップS280の少なくとも一方において、CPU41は異常を検出することができる。また、異物が実装対象の部品Pの形状に近いことでステップS170又はステップS280で異常が検出できない場合でも、持ち帰り現象ではない場合には直近の実装対象は基板Sに実装済みであり、リカバリーにより実装済みの部品Pと同じ実装位置で接触高さH2を測定することになる。この場合、接触高さH2は実装済みの部品Pに異物の高さを加えた値になるため、CPU41はステップS190で異常を検出することができる。 It should be noted that even when the take-home phenomenon is recovered (steps S240 to S280), there is a case where the take-home phenomenon does not actually occur and foreign matter adheres to the tip of the suction nozzle . Even in such a case, the CPU 41 can detect an abnormality in at least one of step S170 and step S280. Further, even if an abnormality cannot be detected in step S170 or step S280 because the foreign matter is close to the shape of the component P to be mounted, if it is not a carry-out phenomenon, the nearest mounting target has already been mounted on the board S, and recovery is performed. The contact height H2 is measured at the same mounting position as the component P that has already been mounted. In this case, the contact height H2 is a value obtained by adding the height of the foreign matter to the mounted component P, so the CPU 41 can detect an abnormality in step S190.

ここで、本実施形態の構成要素と本発明の構成要素との対応関係を明らかにする。本実施形態の吸着ノズル28が本発明の保持部材に相当し、実装ヘッド22が実装ヘッドに相当し、第1昇降駆動部30及び第2昇降駆動装置34が昇降部に相当し、検出部38が接触検出部に相当し、制御装置40が異常判定部に相当する。また、制御装置40が実装制御部に相当する。 Here, correspondence relationships between the components of the present embodiment and the components of the present invention will be clarified. The suction nozzle 28 of this embodiment corresponds to the holding member of the present invention, the mounting head 22 corresponds to the mounting head, the first lifting drive section 30 and the second lifting drive device 34 correspond to the lifting section, and the detection section 38 corresponds to the contact detection section, and the control device 40 corresponds to the abnormality determination section. Also, the control device 40 corresponds to the mounting control unit.

以上説明した実施形態の実装装置11は、部品Pを吸着して保持する吸着ノズル28を有し吸着した部品Pを基板Sに実装する実装ヘッド22と、吸着ノズル28を昇降させる第1昇降駆動部30及び第2昇降駆動装置34と、吸着ノズル28が他の物体に接触したことを検出する検出部38と、を備えている。そして、この実装装置11では、制御装置40は、吸着ノズル28の下降時の正常な接触高さよりも上方において検出部38が吸着ノズル28と他の物体との接触を検出した場合に異常と判定する接触高さ判定処理を行う。これにより、吸着ノズル28の下降時の異物を検出することができる。 The mounting apparatus 11 of the embodiment described above includes a mounting head 22 having a suction nozzle 28 for sucking and holding a component P, and a mounting head 22 for mounting the sucked component P on a substrate S, and a first lifting drive for raising and lowering the suction nozzle 28. 30, a second up-and-down drive device 34, and a detection unit 38 for detecting contact of the suction nozzle 28 with another object. In this mounting apparatus 11, the control device 40 determines that there is an abnormality when the detection unit 38 detects contact between the suction nozzle 28 and another object above the normal contact height when the suction nozzle 28 descends. contact height determination processing is performed. As a result, foreign matter can be detected when the suction nozzle 28 is lowered.

また、制御装置40は、吸着ノズル28が部品Pを吸着する際の吸着ノズル28の下降時の接触に関してステップS150,S200の接触高さ判定処理を行う。これにより、吸着ノズル28が部品Pを吸着する際の異物を検出することができる。また、上述した持ち帰り現象が生じているときに、吸着ノズル28が持ち帰った部品(例えば図6(c)の部品P0)と実装対象の部品(例えば図6(c)の部品P1)とが定数違いの同じ形状の部品である場合がある。この場合、ステップS170における撮像ユニット16を用いた判定では部品P0と部品P1とを区別できず、異常を検出できない場合がある。本実施形態では、このような場合でも、制御装置40がステップS150の接触高さ判定処理を行うことで、持ち帰り現象に起因する異常を検出することができる。 Further, the control device 40 performs the contact height determination processing in steps S150 and S200 regarding the contact during the downward movement of the suction nozzle 28 when the suction nozzle 28 picks up the component P. FIG. As a result, foreign matter can be detected when the suction nozzle 28 picks up the component P. FIG. Also, when the take-out phenomenon described above occurs, the component (for example, the component P0 in FIG. 6C) brought back by the suction nozzle 28 and the component to be mounted (for example, the component P1 in FIG. 6C) are constant. They may be parts of the same shape with differences. In this case, the judgment using the image pickup unit 16 in step S170 may not be able to distinguish between the parts P0 and P1, and may not be able to detect an abnormality. In this embodiment, even in such a case, the control device 40 performs the contact height determination process in step S150, thereby detecting an abnormality caused by the carry-out phenomenon.

さらに、制御装置40は、吸着ノズル28が部品Pを吸着する際のステップS150の接触高さ判定処理において異常と判定した場合には、ステップS240~S280の処理を行う。すなわち、制御装置40は、吸着ノズル28による直近の実装対象と同じ種別の部品Pを直近の実装対象の実装位置に実装するよう実装ヘッド22,第1昇降駆動部30及び第2昇降駆動装置34を制御する。これにより、持ち帰り現象が生じてしまい実装されなかった部品Pを基板S上に適切に実装することができる。すなわち持ち帰り現象のリカバリーを行うことができる。 Furthermore, when the control device 40 determines that the contact height determination process of step S150 when the suction nozzle 28 picks up the component P is abnormal, the control device 40 performs the processing of steps S240 to S280. That is, the control device 40 controls the mounting head 22, the first elevation driving section 30, and the second elevation driving device 34 so as to mount the component P of the same type as the most recent mounting target by the suction nozzle 28 at the mounting position of the most recent mounting target. to control. As a result, the component P that has not been mounted due to the carry-out phenomenon can be properly mounted on the board S. That is, the take-home phenomenon can be recovered.

さらにまた、制御装置40は、部品Pを保持した吸着ノズル28が基板Sに部品Pを実装する際の吸着ノズル28の下降時の接触に関してステップS190の接触高さ判定処理を行う。これにより、基板Sに部品Pを実装する際の異物を検出することができる。 Furthermore, the control device 40 performs the contact height determination process of step S190 regarding the contact when the suction nozzle 28 holding the component P mounts the component P on the substrate S when the suction nozzle 28 descends. As a result, foreign matter when the component P is mounted on the substrate S can be detected.

そしてまた、検出部38は、吸着ノズル28の下降時に下方から吸着ノズル28に加わる荷重を検出する荷重センサである。これにより、吸着ノズル28に加わる荷重に基づいて、吸着ノズル28が他の物体に接触したことを適切に検出できる。 Further, the detection unit 38 is a load sensor that detects the load applied to the suction nozzle 28 from below when the suction nozzle 28 is lowered. Thereby, based on the load applied to the suction nozzle 28, it is possible to appropriately detect that the suction nozzle 28 has come into contact with another object.

なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。 It goes without saying that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be implemented in various forms as long as they fall within the technical scope of the present invention.

例えば、上述した実施形態では、検出部38は荷重センサとしたが、吸着ノズル28が他の物体に接触したことを検出できれば、これに限られない。例えば、タッチセンサとしてもよい。あるいは、検出部38を省略し、第2リニアモータ35の負荷電流の増大に基づいて制御装置40が接触を検出してもよい。また、下降時に吸着ノズルが他の物体に接触すると吸着ノズルが備える複数の部材が相対移動するようにし、この相対移動の有無により接触を検出してもよい。図8は、この場合の変形例の実装ヘッド22Aの一例を表す部分断面図である。図9は、図8のC-C断面図である。実装ヘッド22Aは、第2昇降駆動装置34が検出部38を備えておらず、代わりに検出部70を備えている。また、吸着ノズル28Aは、管状部19に代えて管状部81,スプリング82,吸着部83を備えている点以外は、吸着ノズル28と同じ構成をしている。管状部81は、管状部19と同様に第1昇降駆動部30や第2昇降駆動装置34によって上下に昇降する。吸着部83は、スプリング82を介して管状部81に接続された円筒状の部材であり、先端(下端)に部品Pを吸着可能である。吸着部83は、内周面が管状部81の外周面に接触しており、管状部81に対して相対的に上下に摺動可能である。また、吸着部83は、上端に円筒状の遮蔽部84を有している。検出部70は、投光器71と受光器72とを備えた光学センサとして構成されている。この実装ヘッド22Aは、吸着部83の下端に他の物体が接触していない状態では、スプリング82の弾性力によって管状部81と吸着部83との相対位置が保たれており、投光器71から受光器72への光軸Lは遮蔽されない。一方、吸着ノズル28Aが下降して吸着部83の下端に他の物体が接触すると、吸着部83が管状部81に対して上方に相対移動して、光軸Lを遮蔽部84が遮蔽する。そのため、制御装置40は、受光器72が投光器71からの光軸を受光しなくなったことによって、吸着ノズル28Aが他の物体に接触したことを検出できる。このように吸着ノズルが備える複数の部材の上下の相対移動を検出する場合でも、上述した実施形態と同様に、吸着ノズルの下降時の異物を検出することができる。なお、吸着ノズルが備える複数の部材が相対移動の検出を行う検出部は、図8,9に示した検出部70の例に限られない。例えばフランジ29の下部に投光器及び受光器を取り付け、投光器からの光を遮蔽部84の上面で反射させ、受光器が反射光を受光することでフランジ29と遮蔽部84と相対移動の検出を行ってもよい。 For example, in the embodiment described above, the detection unit 38 is a load sensor, but it is not limited to this as long as it can detect that the suction nozzle 28 has come into contact with another object. For example, it may be a touch sensor. Alternatively, the detection unit 38 may be omitted and the control device 40 may detect contact based on an increase in the load current of the second linear motor 35 . Further, when the suction nozzle comes into contact with another object during descent, a plurality of members included in the suction nozzle may move relative to each other, and contact may be detected based on the presence or absence of this relative movement. FIG. 8 is a partial cross-sectional view showing an example of a mounting head 22A of a modified example in this case. 9 is a cross-sectional view taken along line CC of FIG. 8. FIG. The mounting head 22</b>A does not include the detection section 38 in the second elevation drive device 34 , and instead includes the detection section 70 . The suction nozzle 28A has the same structure as the suction nozzle 28, except that it has a tubular portion 81, a spring 82, and a suction portion 83 instead of the tubular portion 19. As shown in FIG. The tubular portion 81 is raised and lowered by the first elevation driving portion 30 and the second elevation driving device 34 in the same manner as the tubular portion 19 . The suction portion 83 is a cylindrical member connected to the tubular portion 81 via a spring 82, and is capable of sucking the component P at its tip (lower end). The suction portion 83 has an inner peripheral surface in contact with the outer peripheral surface of the tubular portion 81 and is slidable up and down relative to the tubular portion 81 . In addition, the adsorption section 83 has a cylindrical shielding section 84 at its upper end. The detector 70 is configured as an optical sensor including a light projector 71 and a light receiver 72 . In this mounting head 22A, the relative position between the tubular portion 81 and the suction portion 83 is maintained by the elastic force of the spring 82 when the lower end of the suction portion 83 is not in contact with another object, and the light from the light projector 71 is received. The optical axis L to the device 72 is not blocked. On the other hand, when the suction nozzle 28A descends and another object comes into contact with the lower end of the suction portion 83, the suction portion 83 moves upward relative to the tubular portion 81, and the optical axis L is shielded by the shielding portion 84. Therefore, the controller 40 can detect that the suction nozzle 28A has come into contact with another object when the light receiver 72 no longer receives the optical axis from the light projector 71 . Even when detecting the vertical relative movement of a plurality of members included in the suction nozzle in this way, it is possible to detect a foreign object when the suction nozzle is lowered, as in the above-described embodiment. Note that the detection unit that detects the relative movement of the plurality of members included in the suction nozzle is not limited to the example of the detection unit 70 shown in FIGS. For example, a light emitter and a light receiver are attached to the lower part of the flange 29, the light from the light emitter is reflected on the upper surface of the shielding part 84, and the light receiver receives the reflected light, thereby detecting the relative movement between the flange 29 and the shielding part 84. may

上述した実施形態では、制御装置40は、吸着ノズル28の下降時の正常な接触高さよりも上方において検出部38が吸着ノズル28と他の物体との接触を検出した場合に異常と判定したが、これに限られない。制御装置40は、吸着ノズル28の下降時の正常な接触タイミングよりも早いタイミングで検出部38が吸着ノズル28と他の物体との接触を検出した場合に異常と判定してもよい。例えば、制御装置40は、第1昇降駆動部30及び第2昇降駆動装置34による吸着ノズル28の下降を開始してから検出部38が荷重を検出するまでの時間を下降時間として測定し、測定した時間が所定の時間閾値よりも短い場合に異常と判定してもよい。こうしても、上述した実施形態と同様に、吸着ノズルの下降時の異物を検出することができる。 In the above-described embodiment, the control device 40 determines that there is an abnormality when the detection unit 38 detects contact between the suction nozzle 28 and another object above the normal contact height when the suction nozzle 28 descends. , but not limited to this. The control device 40 may determine that there is an abnormality when the detection unit 38 detects contact between the suction nozzle 28 and another object at a timing earlier than the normal contact timing when the suction nozzle 28 descends. For example, the control device 40 measures the time from the start of the descent of the suction nozzle 28 by the first lift drive unit 30 and the second lift drive device 34 to the detection of the load by the detection unit 38 as the fall time. It may be determined as abnormal when the time taken is shorter than a predetermined time threshold. Also in this way, as in the above-described embodiment, it is possible to detect a foreign object when the suction nozzle is lowered.

上述した実施形態において、ステップS150で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えているときには、制御装置40はステップS240~S280の処理を行わずにステップS290で異常を報知してもよい。すなわち、持ち帰り現象のリカバリーを行わなくてもよい。ここで、持ち帰り現象が生じた場合、持ち帰り部品は一度基板S上に配置する処理を行っているため、このときに基板Sのはんだが部品によってつぶされている場合がある。このような状態の製品を作業者が望まない場合には、リカバリーを行わない方が好ましい。また、図示しない操作部を介して作業者から入力した指示に基づいて、制御装置40がリカバリーを行うか否かを切り替えるようにしてもよい。また、持ち帰り部品のリカバリーを行わない場合でも、ステップS170で吸着異常がある場合には制御装置40はステップS260以降の処理を行ってもよい。 In the embodiment described above, when the contact height H1 exceeds the height threshold value H1ref in step S150, the control device 40 may notify an abnormality in step S290 without performing the processes of steps S240 to S280. That is, it is not necessary to recover the take-home phenomenon. Here, when the take-home phenomenon occurs, the take-home component has been placed on the board S once, so the solder on the board S may be crushed by the component at this time. If the operator does not want the product in such a state, it is preferable not to perform the recovery. Alternatively, the control device 40 may switch whether to perform recovery based on an instruction input by the operator via an operation unit (not shown). Also, even if the recovery of the take-home component is not performed, the control device 40 may perform the processing from step S260 onward when there is an adsorption abnormality in step S170.

上述した実施形態では、制御装置40は、吸着時の異物の検出(ステップS140,S150)と実装時の異物の検出(ステップS180,S190)とを行ったが、これらのいずれか一方を省略してもよい。こうしても、吸着時と実装時との少なくとも一方において吸着ノズル28の下降時の異物を検出することはできる。 In the above-described embodiment, the control device 40 detects foreign matter during suction (steps S140 and S150) and detects foreign matter during mounting (steps S180 and S190). may Even in this way, foreign matter can be detected when the suction nozzle 28 is lowered during at least one of suction and mounting.

上述した実施形態では、実装ヘッド22は第1昇降駆動部30と第2昇降駆動装置34との2つの昇降駆動部を備えるものとしたが、吸着ノズル28を昇降させることができればこれに限られない。例えば実装ヘッド22が備える昇降駆動部が1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。 In the above-described embodiment, the mounting head 22 is provided with two elevation driving units, the first elevation driving unit 30 and the second elevation driving device 34, but is limited to this as long as the suction nozzle 28 can be moved up and down. do not have. For example, the mounting head 22 may have one elevation driving unit, or may have three or more.

上述した実施形態では、吸着ノズル28は1つとして説明したが、1以上であればよく、例えば実装ヘッド22が複数の吸着ノズル28を備えていてもよい。この場合、ステップS240で実装対象に設定する「直近の実装対象」は、単に実装順序が1つ前の実装対象ではなく、複数の吸着ノズル28のうちステップS150で異常が判定された吸着ノズル28による直近の実装対象である。また、実装ヘッド22が複数の吸着ノズル28を備えている場合、制御装置40は接触高さ判定処理で異常が検出された吸着ノズル28以外の吸着ノズル28を用いて持ち帰り部品のリカバリーを行ってもよい。あるいは、制御装置40は接触高さ判定処理で異常が判定された吸着ノズル28を以降の処理では使用しないようにしてもよい。 In the above-described embodiment, the number of suction nozzles 28 is one, but the number may be one or more. For example, the mounting head 22 may include a plurality of suction nozzles 28 . In this case, the "immediate mounting target" set as the mounting target in step S240 is not simply the mounting target that is one ahead in the mounting order, but the suction nozzle 28 determined to be abnormal in step S150 among the plurality of suction nozzles 28. It is the most recent implementation target by When the mounting head 22 has a plurality of suction nozzles 28, the control device 40 recovers the take-home component by using the suction nozzles 28 other than the suction nozzles 28 for which an abnormality was detected in the contact height determination process. good too. Alternatively, the control device 40 may prevent the suction nozzle 28 determined to be abnormal in the contact height determination process from being used in subsequent processes.

上述した実施形態では、制御装置40は持ち帰り部品のリカバリーを行う場合もステップS260で部品Pを一度廃棄したが、廃棄しなくてもよい。すなわち、ステップS150で接触高さH1が高さ閾値H1refを超えている場合には、持ち帰り現象により吸着ノズル28に直近の実装対象の部品Pが吸着されているとみなして、制御装置40はステップS250を実行し、ステップS270以降の処理を実行してもよい。こうしても、持ち帰り現象のリカバリーを行うことはできる。 In the above-described embodiment, the control device 40 once discarded the part P in step S260 even when recovering the take-home part, but it does not have to be discarded. That is, when the contact height H1 exceeds the height threshold value H1ref in step S150, it is assumed that the pick-up nozzle 28 is picking up the component P to be mounted closest to the pick-up nozzle 28 due to the take-out phenomenon, and the control device 40 proceeds to step S150. S250 may be executed and the processing after step S270 may be executed. Even in this way, the take-home phenomenon can be recovered.

上述した実施形態では、基準高さRは基準部材17の上面の高さとしたが、これに限られない。例えば、吸着ノズル28の初期高さ(第1昇降駆動部30と第2昇降駆動装置34とを最大まで上昇させた時の高さなど)を基準高さRとしてもよいし、基板Sの上面の高さを基準高さRとしてもよい。 In the embodiment described above, the reference height R is the height of the upper surface of the reference member 17, but it is not limited to this. For example, the initial height of the suction nozzle 28 (such as the height when the first lifting drive unit 30 and the second lifting drive device 34 are lifted to the maximum) may be used as the reference height R, or the upper surface of the substrate S may be may be used as the reference height R.

上述した実施形態では、高さ閾値H2refは予め定められた値としたが、これに限られない。例えば、制御装置40は、基板Sの上面の高さや実装対象の部品Pの厚さ(高さ)を実測して、実測した値に基づいて高さ閾値H2refを設定してもよい。例えば、制御装置40は、吸着ノズル28が部品Pを吸着しない状態で基板S上に実装ヘッド22を移動して接触高さ取得処理ルーチンを行うことで、基板Sの上面の高さを測定してもよい。また、制御装置40は、吸着ノズル28が部品Pを吸着した状態で基準部材17上に実装ヘッド22を移動して接触高さ取得処理ルーチンを行うことで、部品Pの厚さを測定してもよい。あるいは、制御装置40は、撮像ユニット16が撮像した画像に基づいて部品Pの厚さを測定してもよい。 In the embodiment described above, the height threshold value H2ref is a predetermined value, but it is not limited to this. For example, the control device 40 may actually measure the height of the upper surface of the substrate S and the thickness (height) of the component P to be mounted, and set the height threshold H2ref based on the measured values. For example, the control device 40 measures the height of the upper surface of the board S by moving the mounting head 22 onto the board S while the suction nozzle 28 does not pick up the component P and performing the contact height acquisition processing routine. may Further, the control device 40 measures the thickness of the component P by moving the mounting head 22 above the reference member 17 while the component P is being sucked by the suction nozzle 28 and performing the contact height acquisition processing routine. good too. Alternatively, the control device 40 may measure the thickness of the component P based on the image captured by the imaging unit 16 .

上述した実施形態では、接触高さH2は吸着ノズル28の下端の高さとしたが、吸着ノズル28に吸着されているであろう実装対象の部品Pの下端の高さを接触高さH2としてもよい。この場合、例えば吸着ノズル28の下端の高さから実装対象の部品Pの厚さを減じた値を接触高さH2とすればよい。また、この場合の高さ閾値H2refは基板Sの実装位置の上面の高さに応じて定めておけばよい。 In the above-described embodiment, the contact height H2 is the height of the lower end of the suction nozzle 28, but the height of the lower end of the component P to be mounted, which is likely to be suctioned by the suction nozzle 28, may be the contact height H2. good. In this case, for example, the contact height H2 may be obtained by subtracting the thickness of the component P to be mounted from the height of the lower end of the suction nozzle 28 . Further, the height threshold value H2ref in this case may be determined according to the height of the upper surface of the board S at the mounting position.

上述した実施形態では、CPU41は、接触高さ判定処理(ステップS150,S280)において接触高さH1が高さ閾値H1refを超えていないときに、ステップS160で部品Pを吸着したが、これに限られない。例えば、接触高さ取得処理(ステップS140,S270)のステップS320において、CPU41は第2支持部材36を下降させると共に吸着ノズル28の下端に負圧を作用させて、ステップS330での荷重の検出と同時に部品Pが吸着ノズル28に吸着されるようにしてもよい。 In the embodiment described above, the CPU 41 picks up the part P in step S160 when the contact height H1 does not exceed the height threshold value H1ref in the contact height determination process (steps S150 and S280). can't For example, in step S320 of the contact height acquisition process (steps S140 and S270), the CPU 41 lowers the second support member 36 and applies a negative pressure to the lower end of the suction nozzle 28, thereby detecting the load in step S330. The part P may be sucked by the suction nozzle 28 at the same time.

本発明は、部品を基板上に実装する実装処理を行う装置に利用可能である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for a device that performs mounting processing for mounting components on a substrate.

10 実装システム、11 実装装置、12 基板搬送ユニット、13 実装ユニット、14 部品供給ユニット、16 撮像ユニット、17 基準部材、19 管状部、20 ヘッド移動部、22,22A 実装ヘッド、23 Q軸モータ、24,26 ギア、25 シリンジ部材、27 水平部、28,28A 吸着ノズル、29 フランジ、30 第1昇降駆動部、31 第1リニアモータ、32 第1支持部材、33 第1係合部、34 第2昇降駆動部、35 第2リニアモータ、36 第2支持部材、37 第2係合部、38 検出部、40 制御装置、41 CPU、42 ROM、43 HDD、44 RAM、45 入出力インタフェース、46 バス、50 管理コンピュータ、52 入力装置、54 ディスプレイ、61 フィーダ部、62 テープ、70 検出部、71 投光器、72 受光器、81 管状部、82 スプリング、83 吸着部、84 遮蔽部、A,B 移動範囲、F 異物、H1,H2 接触高さ、H1ref,H2ref 高さ閾値、L 光軸、P,P0,P1 部品、R 基準高さ、S 基板。 10 Mounting System 11 Mounting Apparatus 12 Board Transfer Unit 13 Mounting Unit 14 Component Supply Unit 16 Imaging Unit 17 Reference Member 19 Tubular Section 20 Head Moving Section 22, 22A Mounting Head 23 Q-axis Motor 24, 26 gear, 25 syringe member, 27 horizontal portion, 28, 28A suction nozzle, 29 flange, 30 first lifting drive section, 31 first linear motor, 32 first support member, 33 first engaging section, 34 second 2 lifting drive section, 35 second linear motor, 36 second support member, 37 second engagement section, 38 detection section, 40 control device, 41 CPU, 42 ROM, 43 HDD, 44 RAM, 45 input/output interface, 46 bus, 50 management computer, 52 input device, 54 display, 61 feeder section, 62 tape, 70 detection section, 71 floodlight, 72 light receiver, 81 tubular section, 82 spring, 83 suction section, 84 shield section, A, B movement range, F foreign object, H1, H2 contact height, H1ref, H2ref height threshold, L optical axis, P, P0, P1 component, R reference height, S substrate.

Claims (1)

部品を採取して保持する保持部材を有する実装ヘッドにより、前記保持部材が保持した部品を基板に実装する実装装置であって、
前記保持部材を昇降させる昇降部と、
投光器と受光器とを備えた光学センサと、
前記保持部材が他の物体に接触したときの前記光学センサに対する相対移動により、前記光学センサの光軸を遮蔽する遮蔽部と、
前記保持部材の下降時の正常な接触高さよりも上方において前記遮蔽部が前記光学センサの光軸を遮蔽した場合に異常と判定する判定処理を行う異常判定部と、
を備え
前記異常判定部は、実測した前記基板上面の高さの値に基づいて設定された高さ閾値に基づいて前記判定処理を行う、
実装装置。
A mounting apparatus that mounts a component held by a holding member on a substrate by means of a mounting head having a holding member that picks up and holds the component,
an elevating unit that elevates the holding member;
an optical sensor comprising a light emitter and a light receiver;
a shielding portion that shields the optical axis of the optical sensor by relative movement with respect to the optical sensor when the holding member comes into contact with another object;
an abnormality determination unit that performs a determination process of determining an abnormality when the shielding unit blocks the optical axis of the optical sensor above a normal contact height when the holding member is lowered;
with
The abnormality determination unit performs the determination process based on a height threshold set based on the actually measured value of the height of the upper surface of the substrate.
mounting equipment.
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