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JP7165765B2 - Signal generator and its attenuation correction method - Google Patents
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Description

本発明は、所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置に関する。 The present invention relates to a signal generator that generates a modulated wave in a desired frequency band.

所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置として、例えば、任意信号発生器で生成された中間周波数信号をミキサなどで周波数変換し、所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置が知られている。 As a signal generator for generating a modulated wave in a desired frequency band, for example, there is a signal generator that generates a modulated wave in a desired frequency band by frequency-converting an intermediate frequency signal generated by an arbitrary signal generator using a mixer or the like. Are known.

このような信号発生装置は、例えば、移動体通信端末の試験を行なう移動端末試験装置などに組み込まれ、試験用の信号を生成して、出力するようになっている。 Such a signal generator is incorporated in, for example, a mobile terminal testing device for testing mobile communication terminals, and generates and outputs a signal for testing.

特許文献1には、送信スロット数と減衰量設定値と端子電圧制御値の関係を格納する記憶装置と、送信スロット数に基づいて選定された減衰量設定値に基づいて減衰量を制御する減衰器と、送信スロット数に基づいて選定された端子電圧制御値に基づいて送信信号の送信電力を制御する増幅器とを備え、増幅器の周辺の温度を用いて減衰量設定値と端子電圧制御値を重み付けすることが記載されている。 Patent Document 1 discloses a storage device that stores the relationship between the number of transmission slots, the attenuation setting value, and the terminal voltage control value, and an attenuation that controls the attenuation based on the attenuation setting value selected based on the number of transmission slots. and an amplifier that controls the transmission power of a transmission signal based on a terminal voltage control value selected based on the number of transmission slots, and uses the ambient temperature of the amplifier to adjust the attenuation setting value and the terminal voltage control value. Weighting is described.

このように、減衰器や増幅器などの半導体部品を用いている機器では、温度によってその特性が変化するものがある。 As described above, some devices using semiconductor components such as attenuators and amplifiers have characteristics that change depending on the temperature.

特開2006-80992号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-80992

このような、温度によりその特性が変化するような機器では、機器周辺の温度を計測し、その温度に基づいて特性を選択するが、選択した特性に一致しない場合もあり、特性を特定する調整に時間がかかっていた。特に非直線の特性を有する機器では、調整に時間を要していた。 For devices whose characteristics change with temperature, the temperature around the device is measured and the characteristics are selected based on the measured temperature. was taking a long time. In particular, equipment with non-linear characteristics requires time for adjustment.

そこで、本発明は、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる信号発生装置を提供することを目的としている。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a signal generator capable of correcting an output signal in a short period of time even if it is equipped with equipment whose characteristics change with temperature.

本発明の信号発生装置は、試験用信号を生成する信号生成部と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部と、前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の減衰量を制御する制御パラメータに対する前記減衰量の特性を求め、前記可変減衰器の前記制御パラメータを所定値としたときの前記レベル検出部の検出した信号レベルから前記可変減衰器の減衰量を求め、求めた減衰量と前記所定値とから前記可変減衰器の特性を補正する制御部と、を備えるものである。 A signal generator according to the present invention comprises a signal generator that generates a test signal, a variable attenuator that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change with temperature, and a signal attenuated by the variable attenuator. a level detection unit for detecting the level of the signal received from the variable attenuator; a temperature detection unit for detecting the temperature around the variable attenuator; obtaining the characteristic of the attenuation amount with respect to the parameter, obtaining the attenuation amount of the variable attenuator from the signal level detected by the level detection unit when the control parameter of the variable attenuator is set to a predetermined value, and obtaining the obtained attenuation amount and a control unit that corrects the characteristics of the variable attenuator based on the predetermined value.

この構成により、可変減衰器の周辺の温度に対応する特性が、制御パラメータを所定値としたときのレベル検出部の検出した信号レベルにより補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。 With this configuration, the characteristic corresponding to the ambient temperature of the variable attenuator is corrected by the signal level detected by the level detector when the control parameter is set to the predetermined value. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.

また、本発明の信号発生装置において、前記制御部は、補正した前記可変減衰器の前記制御パラメータに対する前記減衰量の特性に基づいて、所定量ごとの減衰量に対応する前記制御パラメータの値を求める調整を行なうものである。 Further, in the signal generator of the present invention, the control unit determines the value of the control parameter corresponding to each predetermined amount of attenuation based on the corrected characteristic of the attenuation amount with respect to the control parameter of the variable attenuator. Make the desired adjustments.

この構成により、補正した可変減衰器の特性に基づいて、所定量ごとの減衰量に対応する制御パラメータの値が求められる。このため、非直線の特性を有する可変減衰器であっても、短時間で出力信号を補正することができる。 With this configuration, the value of the control parameter corresponding to each predetermined amount of attenuation is obtained based on the corrected characteristics of the variable attenuator. Therefore, even a variable attenuator having nonlinear characteristics can correct an output signal in a short time.

また、本発明の減衰量補正方法は、試験用信号を生成する信号生成部と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部と、を備える信号発生装置の減衰量補正方法であって、前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の減衰量を制御する制御パラメータに対する前記減衰量の特性を求めるステップと、前記可変減衰器の前記制御パラメータを所定値としたときの前記レベル検出部の検出した信号レベルから前記可変減衰器の減衰量を求めるステップと、求めた減衰量と前記所定値とから前記可変減衰器の特性を補正するステップと、を備えるものである。 Further, the attenuation amount correction method of the present invention includes a signal generation unit that generates a test signal, a variable attenuator that attenuates the signal generated by the signal generation unit and whose characteristics change depending on temperature, and the variable attenuator. and a temperature detector for detecting the temperature around the variable attenuator. a step of determining characteristics of the attenuation amount with respect to a control parameter for controlling the attenuation amount of the variable attenuator based on the ambient temperature; obtaining the attenuation amount of the variable attenuator from the obtained signal level; and correcting the characteristic of the variable attenuator from the obtained attenuation amount and the predetermined value.

この構成により、可変減衰器の周辺の温度に対応する特性が、制御パラメータを所定値としたときのレベル検出部の検出した信号レベルにより補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。 With this configuration, the characteristic corresponding to the ambient temperature of the variable attenuator is corrected by the signal level detected by the level detector when the control parameter is set to the predetermined value. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.

本発明は、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる信号発生装置を提供することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can provide a signal generator capable of correcting an output signal in a short period of time even if it is equipped with equipment whose characteristics change with temperature.

図1は、本発明の一実施形態に係る信号発生装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a signal generator according to one embodiment of the present invention. 図2は、本発明の一実施形態に係る信号発生装置の可変減衰器の特性の例を示すグラフである。FIG. 2 is a graph showing an example of characteristics of the variable attenuator of the signal generator according to one embodiment of the present invention. 図3は、本発明の一実施形態に係る信号発生装置の減衰量補正処理の手順を説明するフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart for explaining the procedure of attenuation amount correction processing of the signal generator according to one embodiment of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る信号発生装置について詳細に説明する。 Hereinafter, signal generators according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1において、本発明の一実施形態に係る信号発生装置1は、試験用信号を生成する信号生成部10と、信号生成部10によって生成された試験用信号を減衰させる可変減衰器11と、可変減衰器11によって減衰された試験用信号のレベルを検出するレベル検出部12と、可変減衰器11によって減衰された試験用信号を出力する出力ポート13と、可変減衰器11の周辺の温度を検出する温度検出部14と、ユーザの操作を受け付けたりユーザに情報を提供したりするユーザインターフェース部15と、装置各部を制御して信号発生装置1としての処理を実行させる制御部16とを含んで構成される。 In FIG. 1, a signal generator 1 according to an embodiment of the present invention includes a signal generator 10 that generates a test signal, a variable attenuator 11 that attenuates the test signal generated by the signal generator 10, A level detector 12 for detecting the level of the test signal attenuated by the variable attenuator 11, an output port 13 for outputting the test signal attenuated by the variable attenuator 11, and a temperature around the variable attenuator 11 are measured. A temperature detection unit 14 for detecting temperature, a user interface unit 15 for accepting a user's operation and providing information to the user, and a control unit 16 for controlling each part of the device to execute processing as the signal generation device 1. consists of

信号生成部10は、制御部16によって設定された強度及び周波数の試験用信号を生成するシグナルジェネレータによって構成される。可変減衰器11は、例えば、電圧制御タイプの可変減衰器によって構成される。可変減衰器11は、デジタル制御タイプの可変減衰器でもよい。 The signal generation unit 10 is configured by a signal generator that generates test signals having the intensity and frequency set by the control unit 16 . The variable attenuator 11 is configured by, for example, a voltage control type variable attenuator. The variable attenuator 11 may be a digital control type variable attenuator.

レベル検出部12は、可変減衰器11によって減衰された試験用信号のレベルを検出し、制御部16に出力する。温度検出部14は、可変減衰器11の周辺の温度を検出し、制御部16に出力する。 The level detector 12 detects the level of the test signal attenuated by the variable attenuator 11 and outputs it to the controller 16 . The temperature detector 14 detects the temperature around the variable attenuator 11 and outputs it to the controller 16 .

ユーザインターフェース部15は、ユーザからの操作入力を受け付ける入力部と、生成する試験用信号のパラメータの設定画面や各種メッセージなどを表示する表示部とを備えている。入力部は、タッチパッドやキーボードやプッシュボタンやロータリーノブなどによって構成される。表示部は、液晶表示装置などによって構成される。 The user interface unit 15 includes an input unit that receives an operation input from a user, and a display unit that displays a screen for setting parameters of test signals to be generated, various messages, and the like. The input unit is composed of a touch pad, keyboard, push buttons, rotary knob, and the like. The display unit is configured by a liquid crystal display device or the like.

制御部16は、図示しないCPU(Central Processing Unit)と、RAM(Random Access Memory)と、ROM(Read Only Memory)と、ハードディスク装置と、入出力ポートとを備えたコンピュータユニットによって構成されている。 The control unit 16 is configured by a computer unit including a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), a hard disk device, and an input/output port (not shown).

このコンピュータユニットのROM及びハードディスク装置には、各種制御定数や各種マップ等とともに、当該コンピュータユニットを制御部16として機能させるためのプログラムが記憶されている。すなわち、CPUがROM及びハードディスク装置に記憶されたプログラムを実行することにより、当該コンピュータユニットは、制御部16として機能する。なお、ハードディスク装置は、フラッシュメモリによるCF(Compact Flash)カード等であっても良い。 The ROM and hard disk device of the computer unit store programs for causing the computer unit to function as the control section 16 along with various control constants, various maps, and the like. That is, the computer unit functions as the control unit 16 by the CPU executing programs stored in the ROM and the hard disk device. The hard disk device may be a CF (Compact Flash) card based on flash memory.

制御部16の入出力ポートには、信号生成部10、可変減衰器11、レベル検出部12、温度検出部14、ユーザインターフェース部15が接続され、制御部16と各部は信号の送受信をできるようになっている。 The input/output ports of the controller 16 are connected to the signal generator 10, the variable attenuator 11, the level detector 12, the temperature detector 14, and the user interface 15, so that the controller 16 and each part can transmit and receive signals. It has become.

本実施形態において、可変減衰器11は、図2に示すように、非直線の特性を有している。また、可変減衰器11は、減衰させる信号の周波数により異なる特性を有している。図では、減衰させる信号の周波数が1.0GHz、5.0GHz、7.0GHzの場合を示している。 In this embodiment, the variable attenuator 11 has nonlinear characteristics as shown in FIG. Also, the variable attenuator 11 has different characteristics depending on the frequency of the signal to be attenuated. The figure shows the cases where the frequencies of the signals to be attenuated are 1.0 GHz, 5.0 GHz, and 7.0 GHz.

また、可変減衰器11は、可変減衰器11の温度により特性が変化する。制御部16のハードディスク装置には、例えば、可変減衰器11の所定の温度ごとの特性が記憶されている。制御部16は、温度検出部14により検出した可変減衰器11の周辺の温度に基づき、可変減衰器11の「基本となる特性」を求める。 Also, the characteristics of the variable attenuator 11 change depending on the temperature of the variable attenuator 11 . The hard disk device of the control unit 16 stores, for example, the characteristics of the variable attenuator 11 for each predetermined temperature. The control unit 16 obtains the “basic characteristics” of the variable attenuator 11 based on the temperature around the variable attenuator 11 detected by the temperature detection unit 14 .

制御部16は、求めた「基本となる特性」に基づき、所定の減衰量、例えば10dBになるような、可変減衰器11の制御パラメータである制御電圧を求め、その制御電圧で可変減衰器11の減衰量を設定する。 Based on the obtained "basic characteristics", the control unit 16 obtains a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator 11, such that a predetermined amount of attenuation, for example, 10 dB, is obtained. Sets the amount of attenuation for

制御部16は、信号生成部10により所定のレベルの信号を生成させ、レベル検出部12により検出された信号レベルから、可変減衰器11による減衰量を検出する。 The control unit 16 causes the signal generation unit 10 to generate a signal of a predetermined level, and detects the amount of attenuation by the variable attenuator 11 from the signal level detected by the level detection unit 12 .

制御部16は、検出した減衰量と制御電圧の関係から、「基本となる特性」を補正する。制御部16は、例えば、検出した減衰量での制御電圧の値が、設定した電圧値となるように、電圧値の値を補正する。制御部16は、例えば、検出した減衰量での制御電圧の値が、設定した電圧値となるように電圧値全体を移動させる補正を行なう。 The control unit 16 corrects the "basic characteristics" from the relationship between the detected attenuation amount and the control voltage. For example, the control unit 16 corrects the voltage value so that the control voltage value at the detected attenuation amount becomes the set voltage value. For example, the control unit 16 performs correction by moving the entire voltage value so that the value of the control voltage at the detected attenuation amount becomes the set voltage value.

制御部16は、「補正した特性」に基づいて、減衰量の25dB分を1dBステップで制御電圧を確認する。このとき、例えば、図2に示すような特性の場合、減衰量が25dBに満たなかった場合は、制御電圧をゼロ[V]に丸める。また、減衰量がゼロdBにならなかった場合は、制御電圧を2.5[V]に丸める。 The control unit 16 checks the control voltage for 25 dB of attenuation in 1 dB steps based on the "corrected characteristics". At this time, for example, in the case of the characteristics shown in FIG. 2, if the attenuation amount is less than 25 dB, the control voltage is rounded to zero [V]. Also, if the attenuation does not reach zero dB, the control voltage is rounded to 2.5[V].

以上のように構成された本実施形態に係る信号発生装置による減衰量補正処理について、図3を参照して説明する。なお、以下に説明する減衰量補正処理は、ユーザインターフェース部15への操作により出力レベル補正機能が選択されると実行される。 Attenuation amount correction processing by the signal generator according to the present embodiment configured as described above will be described with reference to FIG. Note that the attenuation correction process described below is executed when the output level correction function is selected by operating the user interface unit 15 .

ステップS1において、制御部16は、温度検出部14により可変減衰器11周辺の温度を検出し、この温度に対応する可変減衰器11の特性のマップを「基本となる特性」のマップとする。ステップS1の処理を実行した後、制御部16は、ステップS2の処理を実行する。 In step S1, the control unit 16 detects the temperature around the variable attenuator 11 by the temperature detection unit 14, and sets the characteristic map of the variable attenuator 11 corresponding to this temperature as the "basic characteristic" map. After executing the process of step S1, the control unit 16 executes the process of step S2.

ステップS2において、制御部16は、可変減衰器11の制御電圧を所定電圧とし、信号生成部10により所定のレベルの信号を生成させ、レベル検出部12により出力信号のレベルを検出する。ステップS2の処理を実行した後、制御部16は、ステップS3の処理を実行する。 In step S2, the control section 16 sets the control voltage of the variable attenuator 11 to a predetermined voltage, causes the signal generation section 10 to generate a signal of a predetermined level, and the level detection section 12 detects the level of the output signal. After executing the process of step S2, the control unit 16 executes the process of step S3.

ステップS3において、制御部16は、検出した出力信号のレベルから可変減衰器11の減衰量を求める。ステップS3の処理を実行した後、制御部16は、ステップS4の処理を実行する。 In step S3, the control unit 16 obtains the attenuation amount of the variable attenuator 11 from the level of the detected output signal. After executing the process of step S3, the control unit 16 executes the process of step S4.

ステップS4において、制御部16は、求めた減衰量と制御電圧として設定された所定電圧から、「基本となる特性」のマップを補正する。ステップS4の処理を実行した後、制御部16は、ステップS5の処理を実行する。 In step S4, the control unit 16 corrects the "basic characteristics" map from the obtained attenuation amount and the predetermined voltage set as the control voltage. After executing the process of step S4, the control unit 16 executes the process of step S5.

ステップS5において、制御部16は、補正したマップに基づいて、制御電圧を変えて、例えば、減衰量の1dBごとに対応する制御電圧を求めるなどの微調整を行なう。ステップS5の処理を実行した後、制御部16は、減衰量補正処理を終了する。 In step S5, the control unit 16 changes the control voltage based on the corrected map, and performs fine adjustment such as determining the control voltage corresponding to each 1 dB of attenuation. After executing the process of step S5, the control unit 16 ends the attenuation correction process.

このように、上述の実施形態では、制御部16は、可変減衰器11の周辺の温度に対応する特性を求め、可変減衰器11の制御電圧を所定電圧としたときのレベル検出部12の検出した信号レベルから可変減衰器11の減衰量を求め、この減衰量と所定電圧とから可変減衰器11の特性を補正する。 As described above, in the above-described embodiment, the control unit 16 obtains the characteristics corresponding to the temperature around the variable attenuator 11, and the level detection unit 12 detects when the control voltage of the variable attenuator 11 is set to a predetermined voltage. The attenuation amount of the variable attenuator 11 is obtained from the signal level thus obtained, and the characteristic of the variable attenuator 11 is corrected from this attenuation amount and the predetermined voltage.

これにより、可変減衰器11の周辺の温度に対応する特性が、制御電圧を所定電圧としたときのレベル検出部12の検出した信号レベルにより補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。 As a result, the characteristics corresponding to the temperature around the variable attenuator 11 are corrected by the signal level detected by the level detector 12 when the control voltage is set to the predetermined voltage. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.

また、制御部16は、補正した特性に基づいて、所定量ごとの減衰量に対応する制御電圧を求める調整を行なう。 Further, the control unit 16 performs adjustment to find a control voltage corresponding to the attenuation amount for each predetermined amount based on the corrected characteristics.

これにより、補正した特性に基づいて、所定量ごとの減衰量に対応する制御電圧が求められる。このため、非直線の特性を有する可変減衰器11であっても、短時間で出力信号を補正することができる。 Thereby, the control voltage corresponding to the attenuation amount for each predetermined amount is obtained based on the corrected characteristics. Therefore, even the variable attenuator 11 having nonlinear characteristics can correct the output signal in a short time.

本発明の実施形態を開示したが、当業者によっては本発明の範囲を逸脱することなく変更が加えられうることは明白である。すべてのこのような修正及び等価物が次の請求項に含まれることが意図されている。 Although embodiments of the present invention have been disclosed, it will be apparent that modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope of the invention. All such modifications and equivalents are intended to be included in the following claims.

1 信号発生装置
10 信号生成部
11 可変減衰器
12 レベル検出部
14 温度検出部
16 制御部
1 signal generator 10 signal generator 11 variable attenuator 12 level detector 14 temperature detector 16 controller

Claims (3)

試験用信号を生成する信号生成部(10)と、
前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器(11)と、
前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部(12)と、
前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部(14)と、
前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の減衰量を制御する制御パラメータに対する前記減衰量の特性を求め、前記可変減衰器の前記制御パラメータを所定値としたときの前記レベル検出部の検出した信号レベルから前記可変減衰器の減衰量を求め、求めた減衰量と前記所定値とから前記可変減衰器の特性を補正する制御部(16)と、を備える信号発生装置。
a signal generator (10) for generating a test signal;
a variable attenuator (11) that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change with temperature;
a level detector (12) for detecting the level of the signal attenuated by the variable attenuator;
a temperature detection unit (14) for detecting the temperature around the variable attenuator;
A characteristic of the attenuation amount with respect to a control parameter for controlling the attenuation amount of the variable attenuator is obtained based on the ambient temperature of the variable attenuator, and the level is detected when the control parameter of the variable attenuator is set to a predetermined value. a control section (16) for obtaining an attenuation amount of the variable attenuator from the signal level detected by the section, and correcting the characteristics of the variable attenuator from the obtained attenuation amount and the predetermined value.
前記制御部は、補正した前記可変減衰器の前記制御パラメータに対する前記減衰量の特性に基づいて、所定量ごとの減衰量に対応する前記制御パラメータの値を求める調整を行なう請求項1に記載の信号発生装置。 2. The control unit according to claim 1, wherein the control unit performs adjustment to obtain the value of the control parameter corresponding to each predetermined amount of attenuation based on the corrected characteristic of the attenuation amount with respect to the control parameter of the variable attenuator. Signal generator. 試験用信号を生成する信号生成部(10)と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器(11)と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部(12)と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部(14)と、を備える信号発生装置の減衰量補正方法であって、
前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の減衰量を制御する制御パラメータに対する前記減衰量の特性を求めるステップと、
前記可変減衰器の前記制御パラメータを所定値としたときの前記レベル検出部の検出した信号レベルから前記可変減衰器の減衰量を求めるステップと、
求めた減衰量と前記所定値とから前記可変減衰器の特性を補正するステップと、を備える減衰量補正方法。
A signal generator (10) that generates a test signal, a variable attenuator (11) that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change according to temperature, and a signal attenuated by the variable attenuator and a temperature detection unit (14) for detecting the temperature around the variable attenuator, comprising:
determining characteristics of the attenuation amount with respect to a control parameter for controlling the attenuation amount of the variable attenuator based on the ambient temperature of the variable attenuator;
obtaining an attenuation amount of the variable attenuator from the signal level detected by the level detector when the control parameter of the variable attenuator is set to a predetermined value;
and a step of correcting the characteristics of the variable attenuator from the obtained attenuation amount and the predetermined value.
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