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JP7165766B2 - Signal generator and its attenuation correction method - Google Patents
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JP7165766B2 - Signal generator and its attenuation correction method - Google Patents

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Description

本発明は、所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置に関する。 The present invention relates to a signal generator that generates a modulated wave in a desired frequency band.

所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置として、例えば、任意信号発生器で生成された中間周波数信号をミキサなどで周波数変換し、所望の周波数帯の変調波を生成する信号発生装置が知られている。 As a signal generator for generating a modulated wave in a desired frequency band, for example, there is a signal generator that generates a modulated wave in a desired frequency band by frequency-converting an intermediate frequency signal generated by an arbitrary signal generator using a mixer or the like. Are known.

このような信号発生装置は、例えば、移動体通信端末の試験を行なう移動端末試験装置などに組み込まれ、試験用の信号を生成して、出力するようになっている。 Such a signal generator is incorporated in, for example, a mobile terminal testing device for testing mobile communication terminals, and generates and outputs a signal for testing.

特許文献1には、送信スロット数と減衰量設定値と端子電圧制御値の関係を格納する記憶装置と、送信スロット数に基づいて選定された減衰量設定値に基づいて減衰量を制御する減衰器と、送信スロット数に基づいて選定された端子電圧制御値に基づいて送信信号の送信電力を制御する増幅器とを備え、増幅器の周辺の温度を用いて減衰量設定値と端子電圧制御値を重み付けすることが記載されている。 Patent Document 1 discloses a storage device that stores the relationship between the number of transmission slots, the attenuation setting value, and the terminal voltage control value, and an attenuation that controls the attenuation based on the attenuation setting value selected based on the number of transmission slots. and an amplifier that controls the transmission power of a transmission signal based on a terminal voltage control value selected based on the number of transmission slots, and uses the ambient temperature of the amplifier to adjust the attenuation setting value and the terminal voltage control value. Weighting is described.

このように、減衰器や増幅器などの半導体部品を用いている機器では、温度によってその特性が変化するものがある。 As described above, some devices using semiconductor components such as attenuators and amplifiers have characteristics that change depending on the temperature.

特開2006-80992号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-80992

このような、温度によりその特性が変化するような機器では、機器周辺の温度を計測し、その温度に基づいて特性を選択するが、選択した特性に一致しない場合もあり、特性を特定する調整に時間がかかっていた。特に非直線の特性を有する機器では、調整に時間を要していた。 For devices whose characteristics change with temperature, the temperature around the device is measured and the characteristics are selected based on the measured temperature. was taking a long time. In particular, equipment with non-linear characteristics requires time for adjustment.

そこで、本発明は、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる信号発生装置を提供することを目的としている。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a signal generator capable of correcting an output signal in a short period of time even if it is equipped with equipment whose characteristics change with temperature.

本発明の信号発生装置は、試験用信号を生成する信号生成部と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部と、前記可変減衰器の減衰量の基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性と温度に対する減衰量の変化を示す傾きとを記憶し、前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性を補正する制御部と、を備え、前記制御部は、前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧の所定電圧毎の、前記傾きを記憶しているものである。 A signal generator according to the present invention comprises a signal generator that generates a test signal, a variable attenuator that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change with temperature, and a signal attenuated by the variable attenuator. a level detection unit for detecting the level of the signal received by the variable attenuator ; a temperature detection unit for detecting the temperature around the variable attenuator ; is a control parameter of the variable attenuator at the reference temperature of the attenuation of the variable attenuator based on the ambient temperature of the variable attenuator and a control section for correcting the characteristic with respect to the control voltage , wherein the control section stores the slope for each predetermined voltage of the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator .

この構成により、可変減衰器の減衰量の基準温度における可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性が、温度に対する減衰量の変化を示す傾きにより、可変減衰器の周辺の温度に基づいて補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。
また、可変減衰器の制御電圧に応じて温度に対する減衰量の傾きを変えて可変減衰器の減衰量の基準温度における可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性が補正される。このため、非直線の特性を有する可変減衰器であっても、精度よく出力信号を補正することができる。
With this configuration, the characteristics of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator, at the reference temperature are corrected based on the temperature around the variable attenuator based on the slope that indicates the change in the attenuation amount with respect to temperature. be done. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.
Further, the characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator, at the reference temperature is corrected by changing the slope of the attenuation amount with respect to temperature according to the control voltage of the variable attenuator. Therefore, even a variable attenuator having nonlinear characteristics can accurately correct an output signal.

また、本発明の信号発生装置において、前記制御部は、前記可変減衰器の所定の前記制御電圧毎の、前記可変減衰器で減衰させる信号の周波数をパラメータとした算出式により前記傾きを求めるものである。 Further, in the signal generating device of the present invention, the control unit obtains the slope by a calculation formula using the frequency of the signal to be attenuated by the variable attenuator as a parameter for each of the predetermined control voltages of the variable attenuator. is.

この構成により、温度に対する減衰量の傾きが可変減衰器で減衰させる信号の周波数に応じて求められ、可変減衰器の特性が補正される。このため、周波数に応じて特性が変わる可変減衰器であっても、精度よく出力信号を補正することができる。 With this configuration, the slope of the attenuation amount with respect to temperature is obtained according to the frequency of the signal to be attenuated by the variable attenuator, and the characteristics of the variable attenuator are corrected. Therefore, even a variable attenuator whose characteristics change according to the frequency can accurately correct the output signal.

また、本発明の減衰量補正方法は、試験用信号を生成する信号生成部と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部と、を備える信号発生装置の減衰量補正方法であって、前記可変減衰器の周辺の温度を検出するステップと、前記可変減衰器の減衰量の基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性と、前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧の所定電圧毎の、温度に対する前記減衰量の変化を示す傾きと、前記基準温度と前記可変減衰器の周辺の温度との温度差と、に基づいて前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性の補正量を求めるステップと、求めた補正量により前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性を補正するステップと、を備えるものである。 Further, the attenuation amount correction method of the present invention includes a signal generation unit that generates a test signal, a variable attenuator that attenuates the signal generated by the signal generation unit and whose characteristics change depending on temperature, and the variable attenuator. and a temperature detector for detecting the temperature around the variable attenuator. a step of detecting ambient temperature; a characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator, at a reference temperature; and the temperature difference between the reference temperature and the ambient temperature of the variable attenuator . obtaining a correction amount of the characteristic of the control voltage, which is the control parameter of the attenuator; and obtaining the characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator, at the reference temperature based on the obtained correction amount. and a step of correcting the

この構成により、可変減衰器の減衰量の基準温度における可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性が、温度に対する減衰量の変化を示す傾きにより、基準温度と可変減衰器の周辺の温度の温度差に基づいて補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。
また、可変減衰器の制御電圧に応じて温度に対する減衰量の傾きを変えて可変減衰器の減衰量の基準温度における可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性が補正される。このため、非直線の特性を有する可変減衰器であっても、精度よく出力信号を補正することができる。
With this configuration, the characteristics of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator, at the reference temperature can be changed from the reference temperature to the temperature around the variable attenuator by the slope showing the change in the attenuation amount with respect to temperature. Corrected based on temperature difference. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.
Further, the characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator, at the reference temperature is corrected by changing the slope of the attenuation amount with respect to temperature according to the control voltage of the variable attenuator. Therefore, even a variable attenuator having nonlinear characteristics can accurately correct an output signal.

本発明は、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる信号発生装置を提供することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can provide a signal generator capable of correcting an output signal in a short period of time even if it is equipped with equipment whose characteristics change with temperature.

図1は、本発明の一実施形態に係る信号発生装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a signal generator according to one embodiment of the present invention. 図2は、本発明の一実施形態に係る信号発生装置の減衰量補正処理の手順を説明するフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart for explaining the procedure of attenuation amount correction processing of the signal generator according to one embodiment of the present invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る信号発生装置について詳細に説明する。 Hereinafter, signal generators according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1において、本発明の一実施形態に係る信号発生装置1は、試験用信号を生成する信号生成部10と、信号生成部10によって生成された試験用信号を減衰させる可変減衰器11と、可変減衰器11によって減衰された試験用信号のレベルを検出するレベル検出部12と、可変減衰器11によって減衰された試験用信号を出力する出力ポート13と、可変減衰器11の周辺の温度を検出する温度検出部14と、ユーザの操作を受け付けたりユーザに情報を提供したりするユーザインターフェース部15と、装置各部を制御して信号発生装置1としての処理を実行させる制御部16とを含んで構成される。 In FIG. 1, a signal generator 1 according to an embodiment of the present invention includes a signal generator 10 that generates a test signal, a variable attenuator 11 that attenuates the test signal generated by the signal generator 10, A level detector 12 for detecting the level of the test signal attenuated by the variable attenuator 11, an output port 13 for outputting the test signal attenuated by the variable attenuator 11, and a temperature around the variable attenuator 11 are measured. A temperature detection unit 14 for detecting temperature, a user interface unit 15 for accepting a user's operation and providing information to the user, and a control unit 16 for controlling each part of the device to execute processing as the signal generation device 1. consists of

信号生成部10は、制御部16によって設定された強度及び周波数の試験用信号を生成するシグナルジェネレータによって構成される。可変減衰器11は、例えば、電圧制御タイプの可変減衰器によって構成される。 The signal generation unit 10 is configured by a signal generator that generates test signals having the intensity and frequency set by the control unit 16 . The variable attenuator 11 is configured by, for example, a voltage control type variable attenuator.

レベル検出部12は、可変減衰器11によって減衰された試験用信号のレベルを検出し、制御部16に出力する。温度検出部14は、可変減衰器11の周辺の温度を検出し、制御部16に出力する。 The level detector 12 detects the level of the test signal attenuated by the variable attenuator 11 and outputs it to the controller 16 . The temperature detector 14 detects the temperature around the variable attenuator 11 and outputs it to the controller 16 .

ユーザインターフェース部15は、ユーザからの操作入力を受け付ける入力部と、生成する試験用信号のパラメータの設定画面や各種メッセージなどを表示する表示部とを備えている。入力部は、タッチパッドやキーボードやプッシュボタンやロータリーノブなどによって構成される。表示部は、液晶表示装置などによって構成される。 The user interface unit 15 includes an input unit that receives an operation input from a user, and a display unit that displays a screen for setting parameters of test signals to be generated, various messages, and the like. The input unit is composed of a touch pad, keyboard, push buttons, rotary knob, and the like. The display unit is configured by a liquid crystal display device or the like.

制御部16は、図示しないCPU(Central Processing Unit)と、RAM(Random Access Memory)と、ROM(Read Only Memory)と、ハードディスク装置と、入出力ポートとを備えたコンピュータユニットによって構成されている。 The control unit 16 is configured by a computer unit including a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), a hard disk device, and an input/output port (not shown).

このコンピュータユニットのROM及びハードディスク装置には、各種制御定数や各種マップ等とともに、当該コンピュータユニットを制御部16として機能させるためのプログラムが記憶されている。すなわち、CPUがROM及びハードディスク装置に記憶されたプログラムを実行することにより、当該コンピュータユニットは、制御部16として機能する。なお、ハードディスク装置は、フラッシュメモリによるCF(Compact Flash)カード等であっても良い。 The ROM and hard disk device of the computer unit store programs for causing the computer unit to function as the control section 16 along with various control constants, various maps, and the like. That is, the computer unit functions as the control unit 16 by the CPU executing programs stored in the ROM and the hard disk device. The hard disk device may be a CF (Compact Flash) card based on flash memory.

制御部16の入出力ポートには、信号生成部10、可変減衰器11、レベル検出部12、温度検出部14、ユーザインターフェース部15が接続され、制御部16と各部は信号の送受信をできるようになっている。 The input/output ports of the controller 16 are connected to the signal generator 10, the variable attenuator 11, the level detector 12, the temperature detector 14, and the user interface 15, so that the controller 16 and each part can transmit and receive signals. It has become.

本実施形態において、可変減衰器11は、非直線の特性を有している。また、可変減衰器11は、減衰させる信号の周波数により異なる特性を有している。 In this embodiment, the variable attenuator 11 has nonlinear characteristics. Also, the variable attenuator 11 has different characteristics depending on the frequency of the signal to be attenuated.

また、可変減衰器11は、可変減衰器11の温度により特性が変化する。制御部16のハードディスク装置には、所定の基準温度での所定周波数毎の可変減衰器11の特性が記憶されている。可変減衰器11の特性としては、例えば、基準温度における、所定周波数毎の、所定減衰量毎の、可変減衰器11の制御パラメータである制御電圧が記憶される。 Also, the characteristics of the variable attenuator 11 change depending on the temperature of the variable attenuator 11 . The hard disk device of the control unit 16 stores the characteristics of the variable attenuator 11 for each predetermined frequency at a predetermined reference temperature. As the characteristics of the variable attenuator 11, for example, a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator 11, is stored for each predetermined frequency and predetermined attenuation amount at a reference temperature.

制御部16は、温度検出部14により検出した可変減衰器11の周辺の温度に基づき、可変減衰器11の特性を補正する。 The control unit 16 corrects the characteristics of the variable attenuator 11 based on the temperature around the variable attenuator 11 detected by the temperature detection unit 14 .

制御部16は、例えば、可変減衰器11の制御電圧の所定電圧毎の、温度の変化に対する減衰量の変化を示す傾きを記憶している。 The control unit 16 stores, for example, the slope of the control voltage of the variable attenuator 11, which indicates the change in the amount of attenuation with respect to the change in temperature, for each predetermined voltage.

制御部16は、例えば、可変減衰器11の所定の制御電圧毎の、減衰させる信号の周波数をパラメータとして温度に対する減衰量の傾きを算出する算出式を記憶している。 The control unit 16 stores, for example, a calculation formula for calculating the slope of the attenuation amount with respect to temperature for each predetermined control voltage of the variable attenuator 11, using the frequency of the signal to be attenuated as a parameter.

この算出式は、例えば、減衰させる信号の周波数を変えて測定した減衰量の変化を多項式近似により求める。算出式は、例えば、3次の多項式になる。 This calculation formula obtains, for example, a change in the amount of attenuation measured by changing the frequency of the signal to be attenuated, by polynomial approximation. The calculation formula is, for example, a third-order polynomial.

制御部16は、例えば、基準温度と温度検出部14により検出した温度の差に基づいて可変減衰器11の特性の補正値を算出する。 The control unit 16 calculates a correction value for the characteristics of the variable attenuator 11 based on the difference between the reference temperature and the temperature detected by the temperature detection unit 14, for example.

制御部16は、補正した特性に基づき、可変減衰器11の制御パラメータである制御電圧を設定し、信号生成部10により所定のレベルの信号を生成させ、レベル検出部12により検出された信号レベルから、可変減衰器11による減衰量を検出し、可変減衰器11の制御電圧を変えて、補正した特性を微調整するとよい。 Based on the corrected characteristics, the control unit 16 sets the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator 11, causes the signal generation unit 10 to generate a signal of a predetermined level, and determines the signal level detected by the level detection unit 12. Therefore, it is preferable to detect the amount of attenuation by the variable attenuator 11 and change the control voltage of the variable attenuator 11 to finely adjust the corrected characteristics.

また、制御部16は、温度検出部14により検出した可変減衰器11の周辺の温度に基づき、可変減衰器11の特性を補正して、所定の減衰量を減衰させる可変減衰器11の制御電圧を求めることもできる。 Further, the control unit 16 corrects the characteristics of the variable attenuator 11 based on the temperature around the variable attenuator 11 detected by the temperature detection unit 14, and provides a control voltage for the variable attenuator 11 that attenuates a predetermined amount of attenuation. can also be asked for.

例えば、周波数が0.4GHzの信号の減衰量を-10.5dBとする可変減衰器11の制御電圧を求める場合を説明する。 For example, a case will be described in which the control voltage of the variable attenuator 11 is obtained so that the attenuation of a signal with a frequency of 0.4 GHz is -10.5 dB.

制御部16は、基準温度での可変減衰器11の特性から、周波数が0.4GHzの信号の減衰量を-10.5dBとする制御電圧を求める。一致する減衰量が無い場合は、前後の値から線形補間により求めればよい。ここでは、周波数が0.4GHzの信号の減衰量を-10.5dBとする制御電圧を3.23Vとする。 Based on the characteristics of the variable attenuator 11 at the reference temperature, the control unit 16 obtains a control voltage that makes -10.5 dB attenuation for a signal with a frequency of 0.4 GHz. If there is no matching attenuation amount, it can be obtained by linear interpolation from the previous and subsequent values. Here, it is assumed that the control voltage is 3.23V for the attenuation of a signal with a frequency of 0.4 GHz of -10.5 dB.

制御部16は、制御電圧が3.23Vにおける、温度の変化に対する減衰量の変化を示す傾きを求める。ここで、減衰させる信号の周波数をパラメータとして、温度に対する減衰量の傾きを算出する算出式が、制御電圧が3.20Vと3.30Vの場合のものしかない場合、3.20Vと3.30Vの場合の傾きから、線形補間により3.23Vでの傾きを求める。 The control unit 16 obtains the slope indicating the change in the amount of attenuation with respect to the change in temperature when the control voltage is 3.23V. Here, using the frequency of the signal to be attenuated as a parameter, if the calculation formula for calculating the slope of the attenuation amount with respect to temperature is only for the control voltages of 3.20V and 3.30V, the slope for 3.20V and 3.30V is , find the slope at 3.23V by linear interpolation.

例えば、制御電圧が3.20Vと3.30Vのときの、周波数xでの傾きyを求める算出式が以下のとおりであるとする。なお、以下の式は浮動小数点形式で表記している。
3.20V:y=-1.27000E-04 × x3 + 1.47100E-03 × x2 - 1.48300E-03 × x - 1.73000E-02
3.30V:y=-1.20000E-04 × x3 + 1.42900E-03 × x2 - 1.94300E-03 × x - 1.65000E-02
For example, assume that the formula for calculating the slope y at the frequency x when the control voltage is 3.20V and 3.30V is as follows. The following formulas are written in floating point format.
3.20V: y=-1.27000E-04 x x3 + 1.47100E-03 x x2 - 1.48300E - 03 x x - 1.73000E-02
3.30V: y=-1.20000E-04 x x3 + 1.42900E-03 x x2 - 1.94300E - 03 x x - 1.65000E-02

この式から、それぞれ傾きを求める。
3.20V:y=-1.27000E-04×(0.4)3+1.47100E-03×(0.4)2-1.48300E-03×(0.4)-1.73000E-02
=-1.766596800000000E-02
3.30V:y=-1.20000E-04×(0.4)3+1.42900E-03×(0.4)2-1.94300E-03×(0.4)-1.65000E-02
=-1.705624000000000E-02
ここでは、計算途中は倍精度浮動小数点で計算する。
From this formula, each slope is obtained.
3.20V: y=-1.27000E-04×(0.4) 3 +1.47100E-03×(0.4) 2 -1.48300E-03×(0.4)-1.73000E-02
=-1.766596800000000E-02
3.30V: y=-1.20000E-04×(0.4) 3 +1.42900E-03×(0.4) 2 -1.94300E-03×(0.4)-1.65000E-02
=-1.705624000000000E-02
Here, the calculation is performed in double-precision floating point during the calculation.

この値から、3.23Vでの傾きを求める。
3.23V:y= ((3.23 - 3.20)/(3.30 - 3.20))×((-1.705624000000000E-02) - (-1.766596800000000E-02)) + (-1.766596800000000E-02)
= -1.748304960000000E-02
From this value, determine the slope at 3.23V.
3.23V: y= ((3.23 - 3.20)/(3.30 - 3.20)) x ((-1.705624000000000E-02) - (-1.766596800000000E-02)) + (-1.766596800000000E-02)
= -1.748304960000000E-02

制御部16は、基準温度と温度検出部14により検出した可変減衰器11の周辺の温度との差により、可変減衰器11の周辺の温度でのレベル変動量を求める。 The control unit 16 obtains the level fluctuation amount at the temperature around the variable attenuator 11 from the difference between the reference temperature and the temperature around the variable attenuator 11 detected by the temperature detection unit 14 .

例えば、基準温度が25.3℃、温度検出部14により検出した可変減衰器11の周辺の温度が45.0℃である場合、レベル変動量は以下のようになる。
レベル変動量(dB)= (45.0 - 25.3) × (-1.748304960000000E-02)
= -3.444160771200000E-01
For example, when the reference temperature is 25.3° C. and the temperature around the variable attenuator 11 detected by the temperature detection section 14 is 45.0° C., the level fluctuation amount is as follows.
Level variation (dB) = (45.0 - 25.3) × (-1.748304960000000E-02)
= -3.444160771200000E-01

制御部16は、求めた傾きから、可変減衰器11の周辺の温度において所定の減衰量を減衰させる可変減衰器11の制御電圧を求める。 The control unit 16 obtains a control voltage for the variable attenuator 11 that attenuates a predetermined amount of attenuation at the ambient temperature of the variable attenuator 11 from the obtained slope.

レベル変動量がマイナスの場合は、基準温度での可変減衰器11の特性の減衰量の少ないほうの制御電圧の値から線形補間で制御電圧を求める。 If the amount of level fluctuation is negative, the control voltage is obtained by linear interpolation from the value of the control voltage with the smaller amount of attenuation in the characteristics of the variable attenuator 11 at the reference temperature.

レベル変動量がプラスの場合は、基準温度での可変減衰器11の特性の減衰量の多いほうの制御電圧の値から線形補間で制御電圧を求める。 When the amount of level fluctuation is positive, the control voltage is obtained by linear interpolation from the value of the control voltage with the greater amount of attenuation in the characteristics of the variable attenuator 11 at the reference temperature.

ここでは、レベル変動量がマイナスとなるので、基準温度の特性から、例えば、-10.5dBよりも減衰量の少ない-10.1dBのときの制御電圧が3.24Vであるとして計算する。 Here, since the amount of level fluctuation is negative, the control voltage is calculated to be 3.24 V at -10.1 dB, which is less attenuation than -10.5 dB, based on the characteristics of the reference temperature.

制御電圧= ((-3.444160771200000E-01)/((-10.5) - (-10.1)))×(3230 - 3240) + 3230
= 3221[mV]
Control voltage = ((-3.444160771200000E-01)/((-10.5) - (-10.1))) x (3230 - 3240) + 3230
= 3221[mV]

なお、制御電圧はmV単位で示しており、最後の制御電圧は整数として、小数点以下第1位を四捨五入した。 The control voltage is shown in units of mV, and the final control voltage is an integer rounded off to the first decimal place.

このようにすることで、可変減衰器11の周辺の温度が分かれば、計算により所定の減衰量を減衰させる可変減衰器11の制御電圧を求めることができる。 By doing so, if the temperature around the variable attenuator 11 is known, the control voltage of the variable attenuator 11 that attenuates a predetermined amount of attenuation can be obtained by calculation.

以上のように構成された本実施形態に係る信号発生装置による減衰量補正処理について、図2を参照して説明する。なお、以下に説明する減衰量補正処理は、ユーザインターフェース部15への操作により出力レベル補正機能が選択されると実行される。 Attenuation amount correction processing by the signal generator according to the present embodiment configured as described above will be described with reference to FIG. Note that the attenuation correction process described below is executed when the output level correction function is selected by operating the user interface unit 15 .

ステップS1において、制御部16は、温度検出部14により可変減衰器11周辺の温度を検出する。ステップS1の処理を実行した後、制御部16は、ステップS2の処理を実行する。 In step S<b>1 , the controller 16 detects the temperature around the variable attenuator 11 using the temperature detector 14 . After executing the process of step S1, the control unit 16 executes the process of step S2.

ステップS2において、制御部16は、温度検出部14により検出した温度と基準温度との温度差を算出する。ステップS2の処理を実行した後、制御部16は、ステップS3の処理を実行する。 In step S2, the controller 16 calculates the temperature difference between the temperature detected by the temperature detector 14 and the reference temperature. After executing the process of step S2, the control unit 16 executes the process of step S3.

ステップS3において、制御部16は、測定する周波数と可変減衰器11の制御電圧での、温度に対する減衰量の傾きを算出式により算出する。ステップS3の処理を実行した後、制御部16は、ステップS4の処理を実行する。 In step S<b>3 , the control unit 16 calculates the slope of the attenuation amount with respect to the temperature at the frequency to be measured and the control voltage of the variable attenuator 11 using a calculation formula. After executing the process of step S3, the control unit 16 executes the process of step S4.

ステップS4において、制御部16は、求めた減衰量の傾きと温度差から、可変減衰器11の特性の補正量を算出する。ステップS4の処理を実行した後、制御部16は、ステップS5の処理を実行する。 In step S4, the control unit 16 calculates a correction amount for the characteristics of the variable attenuator 11 from the obtained slope of the attenuation amount and the temperature difference. After executing the process of step S4, the control unit 16 executes the process of step S5.

ステップS5において、制御部16は、求めた補正量により可変減衰器11の特性のマップを補正する。ステップS5の処理を実行した後、制御部16は、ステップS6の処理を実行する。 In step S5, the control unit 16 corrects the map of the characteristics of the variable attenuator 11 using the obtained correction amount. After executing the process of step S5, the control unit 16 executes the process of step S6.

ステップS6において、制御部16は、可変減衰器11の制御電圧を所定電圧とし、信号生成部10により所定のレベルの信号を生成させ、レベル検出部12により出力信号のレベルを検出して可変減衰器11の減衰量を測定する。ステップS6の処理を実行した後、制御部16は、ステップS7の処理を実行する。 In step S6, the control unit 16 sets the control voltage of the variable attenuator 11 to a predetermined voltage, causes the signal generation unit 10 to generate a signal of a predetermined level, and detects the level of the output signal by the level detection unit 12 to perform variable attenuation. Measure the attenuation of the device 11. After executing the process of step S6, the control unit 16 executes the process of step S7.

ステップS7において、制御部16は、補正したマップに基づいて、制御電圧を変えて、例えば、減衰量の1dBごとに対応する制御電圧を求めるなどの微調整を行なう。ステップS7の処理を実行した後、制御部16は、減衰量補正処理を終了する。 In step S7, the control unit 16 changes the control voltage based on the corrected map, and performs fine adjustment such as determining the control voltage corresponding to each 1 dB of attenuation. After executing the process of step S7, the control unit 16 ends the attenuation correction process.

このように、上述の実施形態では、制御部16は、可変減衰器11の基準温度における特性と温度に対する減衰量の変化を示す傾きとを記憶し、可変減衰器11の周辺の温度に基づいて可変減衰器11の基準温度における特性を補正する。 Thus, in the above-described embodiment, the control unit 16 stores the characteristics of the variable attenuator 11 at the reference temperature and the slope indicating the change in the attenuation amount with respect to temperature, and based on the temperature around the variable attenuator 11, The characteristics of the variable attenuator 11 at the reference temperature are corrected.

これにより、可変減衰器11の基準温度における特性が、温度に対する減衰量の変化を示す傾きにより、可変減衰器11の周辺の温度に基づいて補正される。このため、温度により特性が変化する機器を備えていても、短時間で出力信号を補正することができる。 As a result, the characteristic of the variable attenuator 11 at the reference temperature is corrected based on the ambient temperature of the variable attenuator 11 according to the slope indicating the change in attenuation with respect to temperature. Therefore, even if a device whose characteristics change with temperature is provided, the output signal can be corrected in a short period of time.

また、制御部16は、可変減衰器11の制御パラメータである制御電圧の所定電圧毎の、温度に対する減衰量の傾きを記憶する。 The control unit 16 also stores the slope of the attenuation amount with respect to the temperature for each predetermined voltage of the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator 11 .

これにより、可変減衰器11の制御電圧に応じて温度に対する減衰量の傾きを変えて可変減衰器11の特性が補正される。このため、非直線の特性を有する機器を備えていても、精度よく出力信号を補正することができる。 As a result, the characteristic of the variable attenuator 11 is corrected by changing the slope of the attenuation amount with respect to temperature according to the control voltage of the variable attenuator 11 . Therefore, even if a device having non-linear characteristics is provided, it is possible to accurately correct the output signal.

また、制御部16は、可変減衰器11の所定の制御電圧毎の、可変減衰器11で減衰させる信号の周波数をパラメータとした算出式により傾きを求める。 Further, the control unit 16 obtains the slope by a calculation formula using the frequency of the signal to be attenuated by the variable attenuator 11 as a parameter for each predetermined control voltage of the variable attenuator 11 .

これにより、温度に対する減衰量の傾きが可変減衰器11で減衰させる信号の周波数に応じて求められ、可変減衰器11の特性が補正される。このため、周波数に応じて特性が変わる機器を備えていても、精度よく出力信号を補正することができる。 As a result, the slope of the attenuation amount with respect to temperature is obtained according to the frequency of the signal to be attenuated by the variable attenuator 11, and the characteristics of the variable attenuator 11 are corrected. Therefore, even if a device whose characteristics change according to the frequency is provided, the output signal can be corrected with high accuracy.

本発明の実施形態を開示したが、当業者によっては本発明の範囲を逸脱することなく変更が加えられうることは明白である。すべてのこのような修正及び等価物が次の請求項に含まれることが意図されている。 Although embodiments of the present invention have been disclosed, it will be apparent that modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope of the invention. All such modifications and equivalents are intended to be included in the following claims.

1 信号発生装置
10 信号生成部
11 可変減衰器
12 レベル検出部
14 温度検出部
16 制御部
1 signal generator 10 signal generator 11 variable attenuator 12 level detector 14 temperature detector 16 controller

Claims (3)

試験用信号を生成する信号生成部(10)と、
前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器(11)と、
前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部(12)と、
前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部(14)と、
前記可変減衰器の減衰量の基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性と温度に対する前記減衰量の変化を示す傾きとを記憶し、前記可変減衰器の周辺の温度に基づいて前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性を補正する制御部(16)と、を備え
前記制御部は、前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧の所定電圧毎の、前記傾きを記憶している信号発生装置。
a signal generator (10) for generating a test signal;
a variable attenuator (11) that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change with temperature;
a level detector (12) for detecting the level of the signal attenuated by the variable attenuator;
a temperature detection unit (14) for detecting the temperature around the variable attenuator;
A characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator at a reference temperature with respect to a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator, and a slope indicating a change in the attenuation amount with respect to temperature are stored, and based on the ambient temperature of the variable attenuator. a control unit (16) for correcting the characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator at the reference temperature ,
The control section stores the slope for each predetermined voltage of the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator .
前記制御部は、前記可変減衰器の所定の前記制御電圧毎の、前記可変減衰器で減衰させる信号の周波数をパラメータとした算出式により前記傾きを求める請求項に記載の信号発生装置。 2. The signal generating device according to claim 1 , wherein the control unit obtains the slope by a calculation formula using, as a parameter, the frequency of the signal to be attenuated by the variable attenuator for each predetermined control voltage of the variable attenuator. 試験用信号を生成する信号生成部(10)と、前記信号生成部によって生成された信号を減衰させる、温度によって特性が変化する可変減衰器(11)と、前記可変減衰器で減衰された信号のレベルを検出するレベル検出部(12)と、前記可変減衰器の周辺の温度を検出する温度検出部(14)と、を備える信号発生装置の減衰量補正方法であって、
前記可変減衰器の周辺の温度を検出するステップと、
前記可変減衰器の減衰量の基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性と、前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧の所定電圧毎の、温度に対する前記減衰量の変化を示す傾きと、前記基準温度と前記可変減衰器の周辺の温度との温度差と、に基づいて前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性の補正量を求めるステップと、
求めた補正量により前記可変減衰器の前記減衰量の前記基準温度における前記可変減衰器の制御パラメータである制御電圧に対する特性を補正するステップと、を備える減衰量補正方法。
A signal generator (10) that generates a test signal, a variable attenuator (11) that attenuates the signal generated by the signal generator and whose characteristics change according to temperature, and a signal attenuated by the variable attenuator and a temperature detection unit (14) for detecting the temperature around the variable attenuator, comprising:
detecting the temperature around the variable attenuator;
A characteristic of the attenuation amount of the variable attenuator with respect to a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator, at a reference temperature, and a change in the attenuation amount with respect to temperature for each predetermined voltage of the control voltage, which is the control parameter of the variable attenuator. and a temperature difference between the reference temperature and the ambient temperature of the variable attenuator, the control voltage being a control parameter of the variable attenuator at the reference temperature of the attenuation amount of the variable attenuator a step of obtaining a characteristic correction amount for
and a step of correcting a characteristic of the attenuation of the variable attenuator at the reference temperature with respect to a control voltage, which is a control parameter of the variable attenuator, using the obtained correction amount.
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