JP7192599B2 - クロック乗せ換え回路、方法及びプログラム - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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Description
複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込む書込制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出す読出制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力する出力切替部と、
を備え、
前記所定のビット数を読み出す読出速度は、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度である。
複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込む書込制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出す読出制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力する出力切替部と、
を備え、
前記所定のビット数を読み出す読出速度は、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、全ての列データの前記所定のビット数のうちの有効なビット数の割合と、を乗じて得た速度である。
複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込むことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出すことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力することと、
前記所定のビット数を読み出す読出速度を、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度に設定することと、
を備える。
複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込むことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出すことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力することと、
前記所定のビット数を読み出す読出速度を、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度に設定することと、
をコンピュータに実行させる。
先ず、実施の形態に係るクロック乗せ換え回路の概要を説明する。
図1は、実施の形態に係るクロック乗せ換え回路を例示するブロック図である。
図2は、実施の形態に係るクロック乗せ換え回路を例示するブロック図である。
この例では、複数ビットであるK個のデータを、1フレームで2列(第1列データと第2列データ)入力し、クロック乗せ換えにより第1列データと第2列データを1フレームで出力することを説明する。ただし、Kは自然数とする。この例では、書込クロック(書込速度)は100メガヘルツとなり、読出クロック(読出速度)は200メガヘルツとなる。
図4は、実施の形態に係るクロック乗せ換え回路の読出動作を例示するタイミングチャートである。図4は、出力側(読出し側)のデータ処理を示す。
図5は、実施の形態に係るクロック乗せ換え回路の位相調整処理を例示するタイミングチャートである。
111…記憶部
1111…第1メモリ
1112…第2メモリ
1113…第3メモリ
1114…第4メモリ
112…書込制御部
1121…書込イネーブル生成部
1122…書込アドレスカウンタ
113…読出制御部
1131…読出アドレスカウンタ
114…出力切替部
115…パルスタイミング比較部
116…位相信号生成部
117…位相信号検出部
118…位相比較部
WA…書込アドレス信号
WE1、WE2、WE3、WE4…書込イネーブル信号
RA…読出アドレス信号
S1、S3…初期化信号
S2…位相信号の情報
Claims (7)
- 複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込む書込制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出す読出制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力する出力切替部と、
を備え、
前記所定のビット数を読み出す読出速度は、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度である、
クロック乗せ換え回路。 - 前記書込制御部は、
前記第1列データの最初の前記所定のビット数のデータを前記第1メモリに書き込み、前記第1列データの次の前記所定のビット数のデータを前記第3メモリに書き込み、
前記第2列データの最初の前記所定のビット数のデータを前記第2メモリに書き込み、前記第2列データの次の前記所定のビット数のデータを前記第4メモリに書き込む、
請求項1に記載のクロック乗せ換え回路。 - 前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれは、2ポートRAM(Random Access Memory)である、
請求項1又は2に記載のクロック乗せ換え回路。 - 前記書込速度は100メガヘルツであり、前記読出速度は200メガヘルツである、
請求項1乃至3のいずれか1つに記載のクロック乗せ換え回路。 - 複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込む書込制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出す読出制御部と、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力する出力切替部と、
を備え、
前記所定のビット数を読み出す読出速度は、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、全ての列データの前記所定のビット数のうちの有効なビット数の割合と、を乗じて得た速度である、
クロック乗せ換え回路。 - 複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込むことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出すことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力することと、
前記所定のビット数を読み出す読出速度を、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度に設定することと、
を備える方法。 - 複数のデータを含む第1列データを所定のビット数毎に第1メモリと第3メモリに交互に書き込むことと並行して、複数の別のデータを含む第2列データを前記所定のビット数毎に第2メモリと第4メモリに交互に書き込むことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、及び前記第4メモリのそれぞれから、前記所定のビット数を読み出すことと、
前記第1メモリ、前記第2メモリ、前記第3メモリ、前記第4メモリの順番で、前記読み出したデータを出力することと、
前記所定のビット数を読み出す読出速度を、前記所定のビット数を書き込む書込速度と、列データの数と、を乗じて得た速度に設定することと、
をコンピュータに実行させるプログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019052717A JP7192599B2 (ja) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | クロック乗せ換え回路、方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019052717A JP7192599B2 (ja) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | クロック乗せ換え回路、方法及びプログラム |
Publications (2)
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| JP2020154738A JP2020154738A (ja) | 2020-09-24 |
| JP7192599B2 true JP7192599B2 (ja) | 2022-12-20 |
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ID=72559193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2019052717A Active JP7192599B2 (ja) | 2019-03-20 | 2019-03-20 | クロック乗せ換え回路、方法及びプログラム |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP7192599B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001308832A (ja) | 2000-04-24 | 2001-11-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 速度変換装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015001986A (ja) * | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 富士通株式会社 | データ転送装置、バッファリング回路及びバッファリング方法 |
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2019
- 2019-03-20 JP JP2019052717A patent/JP7192599B2/ja active Active
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| JP2001308832A (ja) | 2000-04-24 | 2001-11-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 速度変換装置 |
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