JP7241660B2 - レゾルバ補正装置およびレゾルバ補正装置の補正方法 - Google Patents

Description

本発明は、レゾルバ補正装置およびレゾルバ補正装置の補正方法に関し、例えば、ＲＤＣ（Resolver to Digital Converter）回路で生じる誤差を補正する技術に関する。

特許文献１には、レゾルバからの第１位相信号の位相をシフトする第１位相シフタと、レゾルバからの第２位相信号の位相をシフトする第２位相シフタとを備え、第１位相シフタのシフト量と第２位相シフタのシフト量との位相差を所定の位相差（９０°）に定めた状態で動作させる信号変換器が示される。特許文献２には、位相シフタのシフト量設定値をモータの回転速度に比例するように補正するレゾルバ補正装置が示される。

特開２０１７－３２４８０号公報 特開２０１８－３１６１９号公報

モータ等の回転角度（回転速度）を検出するセンサとして、レゾルバが知られている。レゾルバからの検出信号は、ＲＤＣ回路で処理される。ＲＤＣ回路の処理方式として、特許文献１に示されるように、２個の位相シフタを用いて所定の位相差（９０°）を作り出す方式が知られている。このような方式を用いると、２個の位相シフタのシフト量が信号周波数の変化に対して同程度に変化するため、ある程度の周波数帯で所定の位相差（９０°）に作り出すことができる。

ただし、信号周波数は、モータの回転速度等に応じて変調された値となる。このため、特許文献１の方式では、例えば、この周波数変調量が大きい場合に、位相差を所定の位相差（９０°）に保つことが困難となる恐れがある。この所定の位相差（９０°）に対して生じる誤差は、回転角度（回転速度）の検出誤差に繋がる。そこで、特許文献２に示されるように、位相シフタのシフト量設定値をモータの回転速度に比例するように補正することが考えられる。しかし、本来必要とされるシフト量設定値の補正量は、必ずしも、モータの回転速度に比例するとは限らない。

後述する実施の形態は、このようなことに鑑みてなされたものであり、その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。

一実施の形態によるレゾルバ補正装置は、第１および第２の位相シフタと、加算回路と、励磁信号供給回路と、位相差検出器と、シフト量探索回路と、記憶回路と、を有する。第１の位相シフタは、レゾルバの直交検出信号の一方である第１の検出信号の位相を第１のシフト量設定値に応じて第１のシフト量だけシフトすることで、第１の位相信号を出力する。第２の位相シフタは、直交検出信号の他方である第２の検出信号の位相を第２のシフト量設定値に応じて第２のシフト量だけシフトすることで、第２の位相信号を出力する。加算回路は、第１の位相信号と第２の位相信号とを加算することで第３の位相信号を出力する。励磁信号供給回路は、通常動作時に、レゾルバに対して励磁周波数の励磁信号を供給し、キャリブレーション動作時に、第１の位相シフタまたは第２の位相シフタに対して励磁周波数を含む複数の周波数の励磁信号を供給する。位相差検出器は、励磁信号供給回路からの励磁信号と加算回路からの第３の位相信号との位相差を検出することで、通常動作時にレゾルバの回転角度を検出し、キャリブレーション動作時に第１のシフト量または第２のシフト量を検出する。シフト量探索回路は、キャリブレーション動作時に、位相差検出器の検出結果を参照しながら、第１のシフト量が第１の規定量となるような第１のシフト量設定値を励磁信号の周波数毎に探索し、第２のシフト量が第１の規定量とは９０°異なる第２の規定量となるような第２のシフト量設定値を励磁信号の周波数毎に探索する。記憶回路は、シフト量探索回路の探索結果によって得られる励磁信号の周波数毎の第１のシフト量設定値および第２のシフト量設定値を補正テーブルとして保持する。

前記一実施の形態によれば、レゾルバによる回転角度（回転速度）の検出誤差が低減可能になる。

本発明の実施の形態１によるレゾルバ補正装置を含むモータシステムの構成例を示す概略図である。 図１における位相シフタの構成例を示す回路図である。 図１における補正テーブルの構成例を示す概略図である。 図１のレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［１］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 図１のレゾルバ補正装置における通常動作［１］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 本発明の実施の形態２によるレゾルバ補正装置を含むモータシステムの構成例を示す概略図である。 図６Ａの変形例を示す概略図である。 図６Ａにおける補正テーブルの構成例を示す概略図である。 図６Ａにおける検出結果補正器で用いる演算式を説明するための図である。 図６Ａのレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［２］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 図６Ａのレゾルバ補正装置における通常動作［２］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 図６Ａのレゾルバ補正装置を用いて補正を行う場合と行わない場合とで、モータの回転角度の検出誤差を比較したシミュレーション結果の一例を示す図である。 本発明の実施の形態３によるレゾルバ補正装置において、マイコンの構成例を示す概略図である。 図１２Ａの変形例を示す概略図である。 図１２Ａにおける補正テーブルの構成例を示す概略図である。 図１２Ａのレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［３］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 図１２Ａのレゾルバ補正装置における通常動作［３］時の処理内容の一例を示すフロー図である。 本発明の実施の形態４によるレゾルバ補正装置において、マイコンの構成例を示す概略図である。 図１６Ａの変形例を示す概略図である。 図１６Ａにおける補正要否判定回路の処理内容の一例を示すフロー図である。 （ａ）および（ｂ）は、図１における位相シフタの特性の一例を示す図である。

以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらは互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等（個数、数値、量、範囲等を含む）に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。

さらに、以下の実施の形態において、その構成要素（要素ステップ等も含む）は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。

また、実施の形態の各機能ブロックを構成する回路素子は、特に制限されないが、公知のＣＭＯＳ（相補型ＭＯＳトランジスタ）等の集積回路技術によって、単結晶シリコンのような半導体基板上に形成される。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。

（実施の形態１）
《レゾルバ補正装置の概略》
図１は、本発明の実施の形態１によるレゾルバ補正装置を含むモータシステムの構成例を示す概略図である。図１に示すモータシステムは、モータＭＴと、モータＭＴを駆動するドライバユニットＤＶＵと、レゾルバＲＳＶと、レゾルバディジタルコンバータＲＤＣと、マイクロコントローラ（マイコンと略す）ＭＣＵとを備える。実施の形態１のレゾルバ補正装置は、レゾルバディジタルコンバータＲＤＣおよびマイコンＭＣＵに該当する。

レゾルバディジタルコンバータＲＤＣおよびマイコンＭＣＵのぞれぞれは、例えば、個別の半導体チップ（ＩＣチップ）で構成される。ただし、実装形態は、これに限らず適宜変更可能である。また、マイコンＭＣＵに含まれる各種回路ブロックの一部または全ては、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等に置き換え可能である。すなわち、当該各種回路ブロックは、ハードウェア処理、ソフトウェア処理、あるいはその組み合わせを用いて適宜実装されればよい。

ドライバユニットＤＶＵは、例えば、３相インバータ等のドライバ回路ＤＶと、ドライバ回路ＤＶ内の各スイッチング素子（図示せず）を駆動するプリドライバ回路ＰＤＶとを備える。プリドライバ回路ＰＤＶは、例えば、マイコンＭＣＵから出力される３相のＰＷＭ（Pulse Width Modulation）信号ＰＷＭｕ，ＰＷＭｖ，ＰＷＭｗに基づいて、ドライバ回路ＤＶ内の各スイッチング素子をスイッチング制御する。

レゾルバＲＳＶは、例えば、モータＭＴの回転軸等に設置され、モータＭＴの回転角度θを検出し、回転角度θを反映した直交検出信号（位相が互いに９０°異なる信号）である検出信号Ｅ１，Ｅ２を出力する。レゾルバディジタルコンバータＲＤＣは、レゾルバＲＳＶからの検出信号Ｅ１，Ｅ２を処理する。具体的には、レゾルバディジタルコンバータＲＤＣは、励磁回路ＥＸＣと、差増増幅器ＡＭＰ１，ＡＭＰ２と、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２と、加算回路ＡＤＤＵとに加えて、選択スイッチＳＳＷを備える。

励磁回路ＥＸＣは、マイコンＭＣＵから供給される励磁周波数ｆｅｘｃの励磁クロック信号ＣＫｅを受けてフィルタ処理等を行うことで、励磁周波数ｆｅｘｃ（角速度ω＝２π×ｆｅｘｃ）の正弦波である励磁信号ＶＩＮ（∝ｓｉｎ（ωｔ））を出力する。レゾルバＲＳＶは、励磁信号ＶＩＮを選択スイッチＳＳＷを介して受け、検出信号Ｅ１，Ｅ２を出力する。この際に、モータＭＴの回転角度（電気角）θに応じて、検出信号Ｅ１は、“Ｅ１∝ｓｉｎ（θ）×ｓｉｎ（ωｔ）”となり、検出信号Ｅ２は、“Ｅ２∝ｃｏｓ（θ）×ｓｉｎ（ωｔ）”となる。

差増増幅器ＡＭＰ１，ＡＭＰ２は、それぞれ、レゾルバＲＳＶからの検出信号Ｅ１，Ｅ２を差動増幅し、位相信号Ｖ１，Ｖ２を出力する。位相シフタＰＳＦ１は、位相信号Ｖ１（ひいては検出信号Ｅ１）の位相をマイコンＭＣＵからのシフト量設定値ＳＳ１に応じて所定のシフト量だけシフトすることで、位相信号Ｖ１’を出力する。位相シフタＰＳＦ２は、位相信号Ｖ２（ひいては検出信号Ｅ２）の位相をマイコンＭＣＵからのシフト量設定値ＳＳ２に応じて所定のシフト量だけシフトすることで、位相信号Ｖ２’を出力する。

ここで、位相シフタＰＳＦ２のシフト量は、位相シフタＰＳＦ１のシフト量とは９０°（π／２）異なるように設定される。その結果、位相信号Ｖ１’を“Ｖ１’∝ｓｉｎ（θ）×ｓｉｎ（ωｔ）”とすると、位相信号Ｖ２’は、例えば、“Ｖ２’∝ｃｏｓ（θ）×ｓｉｎ（ωｔ－π／２）＝－ｃｏｓ（θ）×ｃｏｓ（ωｔ）”となる。

加算回路ＡＤＤＵは、位相シフタＰＳＦ１からの位相信号Ｖ１’と位相シフタＰＳＦ２からの位相信号Ｖ２’とを加算することで位相信号（検出クロック信号ＣＫｄ）を出力する。具体的には、加算回路ＡＤＤＵは、位相信号Ｖ１’と位相信号Ｖ２’とを加算する加算器ＡＤＤと、その加算結果である位相信号Ｖ３’（＝Ｖ１’＋Ｖ２’）を矩形波に変換するコンパレータＣＭＰとを備え、位相信号Ｖ３’をコンパレータＣＭＰを介して検出クロック信号ＣＫｄとして出力する。これにより、位相信号Ｖ３’（＝Ｖ１’＋Ｖ２’）は、“Ｖ３’∝ｃｏｓ（ωｔ＋θ）”となり、検出クロック信号ＣＫｄは、位相信号Ｖ３’の位相に同期する信号となる。

マイコンＭＣＵは、ＰＷＭ信号生成器ＰＷＭＧと、アナログディジタル変換器ＡＤＣと、励磁信号供給回路ＥＳＳと、位相差検出器ＰＨＤを含むタイマＴＭＲと、プロセッサＣＰＵとに加えて、シフト量探索回路ＳＳＲと、シフト量補正回路ＳＣＲと、補正テーブルＣＴＢＬａを保持する記憶回路ＭＥＭとを備える。プロセッサＣＰＵは、プロセッサＣＰＵによるソフトウェア処理によって実装される位置検出器ＰＤＥＴ、速度検出器ＳＤＥＴおよび電流制御器ＰＩＣを備える。シフト量探索回路ＳＳＲ、シフト量補正回路ＳＣＲおよび補正テーブルＣＴＢＬａに関しては後述する。

励磁信号供給回路ＥＳＳは、例えば、タイマ等を用いて、励磁信号ＶＩＮの基となる励磁クロック信号ＣＫｅを生成し、レゾルバディジタルコンバータＲＤＣの励磁回路ＥＸＣへ供給する。位相差検出器ＰＨＤは、励磁クロック信号ＣＫｅと、加算回路ＡＤＤＵからの検出クロック信号ＣＫｄとの位相差をタイマＴＭＲのカウント値として検出する。位置検出器ＰＤＥＴは、この位相差検出器ＰＨＤで検出されたカウント値を角度に変換することでレゾルバＲＳＶの回転角度θを検出する。これにより、実質的に、位相差検出器ＰＨＤは、励磁信号供給回路ＥＳＳからの励磁信号ＶＩＮ（∝ｓｉｎ（ωｔ））と、加算回路ＡＤＤＵからの位相信号Ｖ３’（∝ｃｏｓ（ωｔ＋θ））との位相差を検出することで、レゾルバＲＳＶ（ひいてはモータＭＴ）の回転角度θを検出することになる。

速度検出器ＳＤＥＴは、位置検出器ＰＤＥＴ（実質的には位相差検出器ＰＨＤ）で検出されたレゾルバＲＳＶの回転角度θの変化率に基づいてレゾルバＲＳＶの回転速度（ｄθ／ｄｔ）を検出する。アナログディジタル変換器ＡＤＣは、例えば、ドライバ回路ＤＶ内の電流センサ（図示せず）を介して検出されたモータＭＴの駆動電流Ｉｍｔをディジタル値に変換する。

電流制御器ＰＩＣは、例えば、ＰＩ（比例（Ｐ）・積分（Ｉ））制御器等であり、目標回転速度と速度検出器ＳＤＥＴで検出された回転速度との誤差に基づいて目標電流を定め、当該目標電流と、アナログディジタル変換器ＡＤＣで変換された駆動電流Ｉｍｔとの誤差に基づいてＰＷＭ信号のデューティ比を定める。ＰＷＭ信号生成器ＰＷＭＧは、例えば、タイマ等で構成され、電流制御器ＰＩＣで定められたデューティ比に基づいて、ＰＷＭ信号ＰＷＭｕ，ＰＷＭｖ，ＰＷＭｗを生成する。

《位相シフタの構成》
図２は、図１における位相シフタの構成例を示す回路図である。位相シフタＰＳＦ１は、例えば、オールパスフィルタ（ＡＰＦ）であり、抵抗ユニットＲＵ１と、容量Ｃ１１と、複数の抵抗Ｒ１３～Ｒ１６と、スイッチＳＷ１２と、アンプＡＭＰ１１とを備える。抵抗ユニットＲＵ１および容量Ｃ１１は、ＲＣ回路を構成し、位相信号Ｖ１をアンプＡＭＰ１１の（＋）入力端子に伝送する。抵抗Ｒ１３，Ｒ１４は、入力抵抗であり、位相信号Ｖ１をスイッチＳＷ１２を介してアンプＡＭＰ１１の（－）入力端子に伝送する。抵抗Ｒ１５，Ｒ１６は、帰還抵抗であり、アンプＡＭＰ１１の出力端子をスイッチＳＷ１２を介してアンプＡＭＰ１１の（－）入力端子に負帰還する。

抵抗ユニットＲＵ１は、例えば、並列接続される複数の抵抗Ｒ１１，Ｒ１２と、抵抗Ｒ１１の有効／無効を切り替えるスイッチＳＷ１１とを備える。抵抗ユニットＲＵ１の実効抵抗は、スイッチＳＷ１１のオン／オフをシフト量設定値ＳＳ１に基づく所定の時間比率で切り替えることで制御される。すなわち、この例では、シフト量設定値ＳＳ１は、ＰＷＭ信号のデューティ比ＰＷＭＤ１であり、スイッチＳＷ１１のオン／オフは、当該デューティ比ＰＷＭＤ１を有するＰＷＭ信号によって制御される。このように、位相シフタＰＳＦ１は、ＲＣ回路（抵抗ユニットＲＵ１）内の複数の抵抗Ｒ１１，Ｒ１２の一部に対する有効／無効をＰＷＭ信号によって切り替えることで、ＲＣ回路の遅延量を制御し、ひいてはシフト量を制御する。

同様に、位相シフタＰＳＦ２は、例えば、オールパスフィルタ（ＡＰＦ）であり、抵抗ユニットＲＵ２と、容量Ｃ２１と、複数の抵抗Ｒ２３～Ｒ２６と、スイッチＳＷ２２～ＳＷ２４と、アンプＡＭＰ２１とを備える。抵抗ユニットＲＵ２および容量Ｃ２１は、ＲＣ回路を構成し、位相信号Ｖ２をアンプＡＭＰ２１の（＋）入力端子に伝送する。抵抗Ｒ２３～Ｒ２６は、アンプＡＭＰ２１の（－）入力端子に対する入力抵抗または帰還抵抗である。この入力抵抗と帰還抵抗の比率は、スイッチＳＷ２２～ＳＷ２４によって可変設定可能となっている。

抵抗ユニットＲＵ２は、抵抗ユニットＲＵ１の場合と同様に、並列接続される複数の抵抗Ｒ２１，Ｒ２２と、抵抗Ｒ２１の有効／無効を切り替えるスイッチＳＷ２１とを備える。シフト量設定値ＳＳ２は、ＰＷＭ信号のデューティ比ＰＷＭＤ２であり、スイッチＳＷ２１のオン／オフは、当該デューティ比ＰＷＭＤ２を有するＰＷＭ信号によって制御される。このように、位相シフタＰＳＦ２も、ＲＣ回路（抵抗ユニットＲＵ２）内の複数の抵抗Ｒ２１，Ｒ２２の一部に対する有効／無効をＰＷＭ信号によって切り替えることで、シフト量を制御する。

なお、抵抗ユニット内の複数の抵抗は、並列接続に限らず直列接続であってもよい。この場合、直列接続される抵抗の一部をバイパスするように、スイッチを設ければよい。また、ここでは、ＰＷＭ信号によって抵抗ユニットの実効抵抗を制御する方式を用いたが、これに限らず、様々な可変抵抗方式を用いることが可能である。ただし、ＰＷＭ制御方式を用いることで、ハードウェアを複雑化せずに実効抵抗の分解能を高めることが可能になる。すなわち、マイコンＭＣＵによるＰＷＭ信号のデューティ比の設定分解能が高いほど（ひいてはクロック周波数が高いほど）、実効抵抗の分解能も高まる。また、ここでは、ＲＣ回路内の抵抗を可変制御したが、代わりに、容量を可変制御してもよい。

《前提となる問題点》
図１８（ａ）および図１８（ｂ）は、図１における位相シフタの特性の一例を示す図である。図１８（ａ）および図１８（ｂ）において、横軸は、レゾルバＲＳＶからの検出信号Ｅ１，Ｅ２の出力周波数ｆｒｅｓ［ｋＨｚ］であり、縦軸は、２個の位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２間のシフト量の位相差［°］である。図１８（ａ）は、励磁周波数ｆｅｘｃ（この例では２０ｋＨｚ）における位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量がそれぞれ４５°，１３５°（すなわち位相差９０°）となるようにシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を定めた場合の特性である。図１８（ｂ）は、磁周波数ｆｅｘｃにおける位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量がそれぞれ５５°，１４５°（すなわち位相差９０°）となるようにシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を定めた場合の特性である。

図１８（ａ）および図１８（ｂ）において、例えば、モータＭＴ（レゾルバＲＳＶ）の回転速度ｆｍ［ｒｐｍ］がゼロの場合、出力周波数ｆｒｅｓは、励磁信号ＶＩＮの励磁周波数ｆｅｘｃ（＝ω／２π）に等しい値（２０ｋＨｚ）となる。この場合、図１８（ａ）および図１８（ｂ）に示されるように、２個の位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２間の位相差が９０°となるように各位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を定めれば、設定通りの位相差（９０°）が得られる。

一方、モータＭＴ（レゾルバＲＳＶ）の回転速度ｆｍ［ｒｐｍ］が非ゼロの場合、出力周波数ｆｒｅｓは、モータＭＴの回転速度ｆｍに応じて変調された値となる。その結果、出力周波数ｆｒｅｓは、励磁周波数ｆｅｘｃ（＝ω／２π）と、回転速度ｆｍと、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとを用いて、式（１）の値となる。これにより、出力周波数ｆｒｅｓは、例えば、励磁周波数ｆｅｘｃが２０ｋＨｚの場合、モータＭＴが正回転した際には２０ｋＨｚよりも高くなり、モータＭＴが逆回転した際には２０ｋＨｚよりも低くなる。
ｆｒｅｓ＝ｆｅｘｃ＋（ｆｍ／６０）×Ｎｐ …（１）

ここで、まず、前述した特許文献１の方式を用いた場合について説明する。特許文献１の場合と同様に２個の位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２を用いると、図１８（ａ）に示されるように、励磁周波数ｆｅｘｃ（２０ｋＨｚ）の近傍で位相差を略９０°に保つことができる。このため、モータＭＴの回転速度ｆｍが低い、または、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐが少ないことにより、２０ｋＨｚに対して±２ｋＨｚ程度の変調しか加わらない場合、位相差の設定誤差（この例では０．２°程度）は許容できることがある。しかし、モータＭＴの回転速度ｆｍが高い、または、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐが例えば５０極といったように多いことにより、２０ｋＨｚに対して±５ｋＨｚ程度の変調が加わる場合、位相差の設定誤差（この例では１．４°～２．２°程度）は、許容できないレベルとなり得る。

また、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２では、図１８（ａ）および図１８（ｂ）に示されるように、出力周波数ｆｒｅｓに対する位相差の設定誤差の特性は、各位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に対するシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２の値に応じて変化する。このため、位相差の設定誤差の特性を設計通りに定めるためには、シフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を精度良く定めることが求められる。しかし、各位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に所定のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を設定した状態で、実際のシフト量がシフト量設定値通りになっていることを検証するのは容易でない。その結果、設計通りの特性が得られずに、位相差の設定誤差を十分に低減できない恐れがある。

次に、前述した特許文献２の方式を用いた場合について説明する。特許文献２の方式では、例えば、図１８（ａ）において、モータＭＴの回転に応じて出力周波数ｆｒｅｓが変化した場合、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２の一方がモータＭＴの回転速度ｆｍに比例するように制御（補正）される。一例として、２０ｋＨｚ時にゼロ、２５ｋＨｚ時に－１．４°となるようなリニア特性を用いてシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２の一方を補正することで、出力周波数ｆｒｅｓが変化した場合でも位相差を略９０°に保つことができる。

しかし、本来必要とされるシフト量設定値の補正量は、必ずしも、モータＭＴの回転速度ｆｍに比例するとは限らない。すなわち、図１８（ａ）および図１８（ｂ）に示されるように、モータＭＴの回転速度ｆｍ（ひいては出力周波数ｆｒｅｓ）と、必要とされるシフト量設定値の補正量との関係性は、元々のシフト量設定値の大きさによっても異なる。このため、例えば、図１８（ａ）における２０ｋＨｚ～１５ｋＨｚの範囲でのシフト量設定値の補正量を図１８（ｂ）に適用した場合、図１８（ａ）と図１８（ｂ）とでは本来必要とされる補正量の極性が異なるため、逆に位相差の設定誤差を増大させることになる。

さらに、特許文献２の方式では、モータＭＴの回転速度ｆｍを検出したのちに位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量設定値を制御（補正）する必要がある。この場合、制御遅延が生じる。この制御遅延によっても、位相差の設定誤差を十分に低減できない恐れがある。

《シフト量の補正方式》
そこで、図１のレゾルバ補正装置は、シフト量探索回路ＳＳＲと、シフト量補正回路ＳＣＲと、補正テーブルＣＴＢＬａとを備える。シフト量探索回路ＳＳＲおよびシフト量補正回路ＳＣＲは、例えば、プロセッサＣＰＵによるソフトウェア処理によって実装されるが、他の実装形態であってもよい。選択スイッチＳＳＷは、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に基づいて、励磁回路ＥＸＣを介して励磁信号供給回路ＥＳＳから供給される励磁信号ＶＩＮをレゾルバＲＳＶ、位相シフタＰＳＦ１、位相シフタＰＳＦ２のいずれに供給するかを選択する。

ここで、図１のレゾルバ補正装置は、モータＭＴを回転駆動している際の回転角度θを検出する通常動作に加えて、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量を補正するキャリブレーション動作を実行する。シフト量探索回路ＳＳＲは、キャリブレーション動作時に活性化される。励磁信号供給回路ＥＳＳは、通常動作時には、励磁周波数ｆｅｘｃの励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を選択スイッチＳＳＷを介してレゾルバＲＳＶに対して供給する。一方、励磁信号供給回路ＥＳＳは、キャリブレーション動作時には、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に基づいて、励磁周波数ｆｅｘｃを含む複数の周波数の励磁信号ＶＩＮを選択スイッチＳＳＷを介して位相シフタＰＳＦ１または位相シフタＰＳＦ２に対して供給する。

位相差検出器ＰＨＤは、図１で述べたように、励磁信号供給回路ＥＳＳからの励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）と加算回路ＡＤＤＵからの検出クロック信号ＣＫｄ（ひいては位相信号Ｖ３’）との位相差を検出する。これにより、位相差検出器ＰＨＤは、通常動作時には、レゾルバＲＳＶの回転角度θを検出し、キャリブレーション動作時には、位相シフタＰＳＦ１のシフト量または位相シフタＰＳＦ２のシフト量を検出する。

すなわち、キャリブレーション動作時において、励磁信号ＶＩＮが選択スイッチＳＳＷを介して位相シフタＰＳＦ１に供給されている場合、加算回路ＡＤＤＵへの位相シフタＰＳＦ２からの位相信号Ｖ２’はゼロである。このため、位相差検出器ＰＨＤは、加算回路ＡＤＤＵからの位相信号Ｖ１’に対応する検出クロック信号ＣＫｄと励磁クロック信号ＣＫｅとの位相差を検出することで、位相シフタＰＳＦ１のシフト量を検出することができる。励磁信号ＶＩＮが選択スイッチＳＳＷを介して位相シフタＰＳＦ２に供給されている場合も同様である。

シフト量探索回路ＳＳＲは、キャリブレーション動作時に、励磁信号供給回路ＥＳＳに励磁信号ＶＩＮの周波数を指示し、周波数毎の位相差検出器ＰＨＤの検出結果を参照しながら、位相シフタＰＳＦ１のシフト量が規定量（例えば４５°）となるようなシフト量設定値ＳＳ１を周波数毎に探索する。同様にして、シフト量探索回路ＳＳＲは、位相シフタＰＳＦ２に対しても、位相シフタＰＳＦ２のシフト量が規定量（例えば１３５°）となるようなシフト量設定値ＳＳ２を励磁信号ＶＩＮの周波数毎に探索する。そして、シフト量探索回路ＳＳＲは、当該探索結果を補正テーブルＣＴＢＬａに登録する。

図３は、図１における補正テーブルの構成例を示す概略図である。図３に示されるように、補正テーブルＣＴＢＬａは、シフト量探索回路ＳＳＲの探索結果によって得られる励磁信号ＶＩＮの周波数毎のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を保持する。この例では、シフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２は、それぞれ、図２で述べたようにＰＷＭ信号のデューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２である。

また、キャリブレーション動作時において、励磁信号ＶＩＮの周波数は、図１８（ａ）および図１８（ｂ）で述べた出力周波数ｆｒｅｓとみなせる。励磁信号ＶＩＮの周波数の最大値は、“励磁周波数ｆｅｘｃ＋極数Ｎｐ×正回転最大回転速度［ｒｐｓ］”に対応する値であり、例えば、励磁周波数ｆｅｘｃを２０ｋＨｚとして２５ｋＨｚである。同様に、励磁信号ＶＩＮの周波数の最小値は、“励磁周波数ｆｅｘｃ－極数Ｎｐ×逆回転最大回転速度［ｒｐｓ］”に対応する値であり、例えば、１５ｋＨｚである。また、励磁信号ＶＩＮの周波数は、ここでは、最大値と最小値の間で１ｋＨｚ刻みに設定される。

図１において、シフト量補正回路ＳＣＲは、通常動作時に、速度検出器ＳＤＥＴで検出された回転速度（ｄθ／ｄｔ＝ｆｍ）と、励磁信号ＶＩＮの励磁周波数ｆｅｘｃと、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとを用いて、式（１）に基づいて出力周波数ｆｒｅｓを算出する。そして、シフト量補正回路ＳＣＲは、当該出力周波数ｆｒｅｓを検索キーとして補正テーブルＣＴＢＬａを参照することでシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を取得し、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２にそれぞれ設定する。この際に、シフト量補正回路ＳＣＲは、算出した出力周波数ｆｒｅｓが補正テーブルＣＴＢＬａに保持される複数の出力周波数ｆｒｅｓ（すなわち離散値）の間に位置する場合には、例えば、当該出力周波数ｆｒｅｓの間を線形補間することで対応するシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を定める。

なお、図１の例では、選択スイッチＳＳＷを設けることでキャリブレーション動作を行ったが、選択スイッチＳＳＷを設けない構成でキャリブレーション動作を行うことも可能である。具体的には、励磁信号供給回路ＥＳＳが励磁信号ＶＩＮをレゾルバＲＳＶに供給した状態で、モータＭＴ（レゾルバＲＳＶ）の回転が停止状態に制御されていればよい。この場合、検出信号Ｅ１，Ｅ２の出力周波数ｆｒｅｓは、励磁信号ＶＩＮの周波数に等しくなる。

この状態で、シフト量探索回路ＳＳＲは、例えば、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２の一方を非活性化すること等によって、位相信号Ｖ１’，Ｖ２’の一方を無効化する。その結果、加算回路ＡＤＤＵは、位相信号Ｖ１’，Ｖ２’の一方を位相信号Ｖ３’として出力することができる。ただし、この場合、位相差検出器ＰＨＤによって検出される位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量には、レゾルバＲＳＶの構成に依存した誤差が含まれ得る。このような誤差を排除する観点では、選択スイッチＳＳＷを設けることが望ましい。

《レゾルバ補正装置の動作》
図４は、図１のレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［１］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図４において、励磁信号供給回路ＥＳＳは、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に応じて、ｋ＝０として（ステップＳ１０１）、周波数ｆ［ｋ］の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ１０２）。続いて、選択スイッチＳＳＷは、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に応じて、励磁信号ＶＩＮを位相シフタＰＳＦ１に供給するためのキャリブレーションパス［１］を選択する（ステップＳ１０３）。

次いで、シフト量探索回路ＳＳＲは、シフト量設定値ＳＳ１（デューティ比ＰＷＭＤ１）を順次変更しながら、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは４５°）となるシフト量設定値ＳＳ１を探索する（ステップＳ１０４）。そして、シフト量探索回路ＳＳＲは、ステップＳ１０２の周波数ｆ［ｋ］とステップＳ１０４の探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１（デューティ比ＰＷＭＤ１）との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬａに登録する（ステップＳ１０５）。

続いて、ステップＳ１０６～Ｓ１０８において、励磁信号ＶＩＮを位相シフタＰＳＦ２に供給するためのキャリブレーションパス［２］を対象に、ステップＳ１０３～Ｓ１０５の場合と同様の処理が行われる。すなわち、選択スイッチＳＳＷは、キャリブレーションパス［２］を選択し（ステップＳ１０６）、シフト量探索回路ＳＳＲは、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは１３５°）となるシフト量設定値ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ２）を探索する（ステップＳ１０７）。そして、シフト量探索回路ＳＳＲは、周波数ｆ［ｋ］とシフト量設定値ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ２）との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬａに登録する（ステップＳ１０８）。

その後、シフト量探索回路ＳＳＲは、ｋを順次変更しながらｋ＝ｋｍａｘとなるまでステップＳ１０２～Ｓ１０８の処理を繰り返す（ステップＳ１０９，Ｓ１１０）。その結果、図３の補正テーブルＣＴＢＬａの例では、ステップＳ１０２の周波数ｆ［ｋ］は、１５ｋＨｚ～２５ｋＨｚの範囲で１ｋＨｚ刻みで変更され、当該周波数ｆ［ｋ］毎のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）が登録される。

図５は、図１のレゾルバ補正装置における通常動作［１］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図５において、励磁信号供給回路ＥＳＳは、選択スイッチＳＳＷを介してレゾルバＲＳＶに向けて、励磁周波数ｆｅｘｃ（例えば２０ｋＨｚ）の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ２０１）。続いて、位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）は、励磁クロック信号ＣＫｅと検出クロック信号ＣＫｄとの位相差を検出することで、レゾルバＲＳＶ（ひいてはモータＭＴ）の回転角度θを検出する（ステップＳ２０２）。速度検出器ＳＤＥＴは、当該回転角度θの変化率に基づいてモータＭＴの回転速度（ｄθ／ｄｔ＝ｆｍ）を検出する（ステップＳ２０３）。

次いで、シフト量補正回路ＳＣＲは、励磁周波数ｆｅｘｃと、ステップＳ２０３で検出された回転速度ｆｍと、予め定められるレゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとを用いて、前述した式（１）に基づいて検出信号Ｅ１，Ｅ２の出力周波数ｆｒｅｓを算出する（ステップＳ２０４）。そして、シフト量補正回路ＳＣＲは、ステップＳ２０４で算出された出力周波数ｆｒｅｓを検索キーとして補正テーブルＣＴＢＬａを参照することで、シフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）を取得する（ステップＳ２０５）。シフト量補正回路ＳＣＲは、ステップＳ２０５で取得したシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する（ステップＳ２０６）。

ここで、レゾルバ補正装置は、通常動作を行っている間は、ステップＳ２０２～Ｓ２０６の処理を、例えば、速度検出器ＳＤＥＴの制御周期毎に繰り返し実行する（ステップＳ２０７）。なお、ステップＳ２０５において、シフト量補正回路ＳＣＲは、出力周波数ｆｒｅｓの値に応じて、例えば、シフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を適宜線形補間する。図３の補正テーブルＣＴＢＬａを例として、出力周波数ｆｒｅｓが１５．５ｋＨｚであった場合、シフト量補正回路ＳＣＲは、デューティ比ＰＷＭＤ１を“（０．９＋０．５５）／２”に定め、デューティ比ＰＷＭＤ２を“（０．８＋０．７）／２”に定める。

《実施の形態１の主要な効果》
以上、実施の形態１のレゾルバ補正装置を用いることで、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２が規定のシフト量（４５°，１３５°）を維持するための出力周波数ｆｒｅｓ毎のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を、予めキャリブレーション動作時に取得することができる。これにより、モータＭＴの回転速度ｆｍ、または、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐに関わらず、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２間の位相差を高精度に９０°に保つことができる。その結果、レゾルバＲＳＶによる回転角度θ（回転速度ｄθ／ｄｔ）の検出誤差が低減可能になり、ひいては、モータＭＴを高精度に制御することが可能になる。

また、その他の効果として、既存の位相差検出器ＰＨＤを利用して位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量を検出することで、当該シフト量の検出に伴う面積オーバヘッドを低減できる。すなわち、例えば、シフト量検出用のダミーの位相シフタ等を設ける必要はない。また、特許文献２の方式と比較して、出力周波数ｆｒｅｓとシフト量設定値の補正量との関係性が比例特性でなく任意の特性を有する場合であっても、適切な補正量を定めることが可能になる。さらに、通常動作時には、キャリブレーション動作時に定めた補正テーブルＣＴＢＬａを参照すればよいため、補正に伴う制御遅延を低減できる。

（実施の形態２）
《レゾルバ補正装置の概略》
図６Ａは、本発明の実施の形態２によるレゾルバ補正装置を含むモータシステムの構成例を示す概略図である。図６Ａに示すレゾルバ補正装置は、図１におけるマイコンＭＣＵ内のシフト量探索回路ＳＳＲ、シフト量補正回路ＳＣＲおよび補正テーブルＣＴＢＬａの代わりに、シフト量誤差検出回路ＳＥＤ、シフト量設定回路ＳＳＴ、補正テーブルＣＴＢＬｂおよび検出結果補正器ＲＴＣを備える。検出結果補正器ＲＴＣは、例えば、プロセッサＣＰＵによるソフトウェア処理によって実装される。シフト量誤差検出回路ＳＥＤおよびシフト量設定回路ＳＳＴも、例えば、プロセッサＣＰＵによるソフトウェア処理によって実装される。ただし、これらは、他の実装形態であってもよい。

実施の形態２の方式では、実施の形態１の方式と異なり、通常動作時に、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２は、固定値に設定される。その代わりに、キャリブレーション動作時に、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２における規定量（例えば４５°，１３５°）からのシフト量誤差が出力周波数ｆｒｅｓ毎に検出される。この出力周波数ｆｒｅｓ毎のシフト量誤差が予め判っていると、通常動作時には、演算式を用いて、現在の出力周波数ｆｒｅｓに対応するシフト量誤差を補正することができ、真の回転角度θ（および回転速度（ｄθ／ｄｔ））を算出することが可能になる。

シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、キャリブレーション動作時に、規定量（例えば４５°）を基準として、位相差検出器ＰＨＤで検出された位相シフタＰＳＦ１のシフト量に含まれるシフト量誤差を励磁信号ＶＩＮの周波数毎に検出する。同様に、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、規定量（例えば１３５°）を基準として、位相差検出器ＰＨＤで検出された位相シフタＰＳＦ２のシフト量に含まれるシフト量誤差を励磁信号ＶＩＮの周波数毎に検出する。

補正テーブルＣＴＢＬｂは、シフト量誤差検出回路ＳＥＤで検出された励磁信号ＶＩＮの周波数毎の位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量誤差を保持する。図７は、図６Ａにおける補正テーブルの構成例を示す概略図である。図７に示されるように、補正テーブルＣＴＢＬｂは、図３の補正テーブルＣＴＢＬａと異なり、シフト量誤差検出回路ＳＥＤによって検出された励磁信号ＶＩＮの周波数（ひいては出力周波数ｆｒｅｓ）毎のシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を保持する。シフト量誤差Δφ_０は、位相シフタＰＳＦ１で生じた誤差を表し、シフト量誤差Δφ_１は、位相シフタＰＳＦ２で生じた誤差を表す。

シフト量設定回路ＳＳＴは、キャリブレーション動作時の初期動作として、励磁信号ＶＩＮを励磁周波数ｆｅｘｃ（例えば２０ｋＨｚ）に設定した状態で位相差検出器ＰＨＤの検出結果を参照しながら、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量が規定量（４５°，１３５°）となるようなシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を探索する。そして、シフト量設定回路ＳＳＴは、当該探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を、キャリブレーション動作時と通常動作時とで位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する。

検出結果補正器ＲＴＣは、通常動作時に、補正テーブルＣＴＢＬｂの保持内容と予め定められる演算式とに基づいて、位相差検出器ＰＨＤで検出されたレゾルバＲＳＶの回転角度を補正する。具体的には、検出結果補正器ＲＴＣは、まず、速度検出器ＳＤＥＴで検出された回転速度（見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ＝ｆｍ））と励磁信号ＶＩＮの励磁周波数ｆｅｘｃとレゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとに基づいて検出信号Ｅ１，Ｅ２の出力周波数ｆｒｅｓを算出する。

続いて、検出結果補正器ＲＴＣは、出力周波数ｆｒｅｓを検索キーとして補正テーブルＣＴＢＬｂを参照することで位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を取得する。そして、検出結果補正器ＲＴＣは、当該シフト量誤差Δφ_０，Δφ_１および位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）で検出されたレゾルバＲＳＶの回転角度（見かけ上の回転角度θ_０）をパラメータとする演算式に基づいてレゾルバＲＳＶの回転角度を補正し、真の回転角度θを算出する。電流制御器ＰＩＣは、当該真の回転角度θから得られる真の回転速度（ｄθ／ｄｔ）に基づいてデューティ比を定め、ＰＷＭ信号生成器ＰＷＭＧへ指示する。

図６Ｂは、図６Ａの変形例を示す概略図である。図６Ａの構成例では、電流制御器ＰＩＣは、真の回転角度θから得られる真の回転速度（ｄθ／ｄｔ）に基づいてデューティ比を定め、ＰＷＭ信号生成器ＰＷＭＧへ指示していた。ただし、回転角度θの誤差に比べて回転速度（ｄθ／ｄｔ）の誤差は非常に小さいため、電流制御器ＰＩＣは、図６Ｂに示されるように、補正前の見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ）に基づいてデューティ比を定めてもよい。この場合、回転角度から回転速度を算出する回数が１回で済むため、制御にかかる演算負荷を低減することができる。なお、図６Ｂ（図６Ａの場合も同様）において、検出結果補正器ＲＴＣによって算出される真の回転角度θは、例えば、モータＭＴのベクトル制御に伴う位置情報等として使用される。

《シフト量誤差を補正する演算式》
図８は、図６Ａにおける検出結果補正器で用いる演算式を説明するための図である。まず、レゾルバＲＳＶの検出結果から得られる位相信号Ｖ１，Ｖ２は、レゾルバＲＳＶの真の回転角度（電気角）θ、レゾルバＲＳＶの回転に伴う周波数変調後の角速度ω（＝ω_０＋ω_ｍ）を用いて式（２）および式（３）となる。“ω_０”は励磁周波数ｆｅｘｃに基づく角速度であり、“ω_ｍ”はレゾルバＲＳＶの角速度（電気角）である。
Ｖ１＝ｓｉｎθ×ｓｉｎωｔ …（２）
Ｖ２＝ｃｏｓθ×ｓｉｎωｔ …（３）

ここで、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２が位相信号Ｖ１を４５°（＝π／４）、位相信号Ｖ２を１３５°（＝３π／４）シフトさせる場合を想定する。この際に、図８に示されるように、位相信号Ｖ１側で生じるシフト量誤差をΔφ_０とし、位相信号Ｖ２側で生じるシフト量誤差を“Δφ_０＋Δφ_１”とする。この場合、位相信号Ｖ１のシフト後の位相信号Ｖ１’は、式（４）となる。一方、位相信号Ｖ２のシフト後の位相信号Ｖ２’は、式（５）となり、Δφ_１が十分に小さい前提での“ｃｏｓΔφ_１＝１－Δφ_１ ^２／２”および“ｓｉｎΔφ_１＝Δφ_１”の近似式を用いると式（６）となる。
Ｖ１’＝ｓｉｎθ×ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０） …（４）
Ｖ２’＝ｃｏｓθ×ｓｉｎ（ωｔ＋３π／４＋Δφ_０＋Δφ_１） …（５）
＝ｃｏｓθ｛ｃｏｓ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×ｃｏｓΔφ_１－ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×ｓｉｎΔφ_１｝
≒ｃｏｓθ｛ｃｏｓ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×（１－Δφ_１ ^２／２）－ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×Δφ_１｝ …（６）

加算回路ＡＤＤＵは、式（４）の位相信号Ｖ１’と式（６）の位相信号Ｖ２’とを加算することで、式（７）の位相信号Ｖ３’（＝Ｖ１’＋Ｖ２’）を出力する。
Ｖ３’＝ｓｉｎθｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）＋ｃｏｓθ｛ｃｏｓ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×（１－Δφ_１ ^２／２）－ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×Δφ_１｝
＝ｃｏｓ（（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）－θ）－ｃｏｓθ（Δφ_１ ^２／２＋ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×Δφ_１） …（７）

ここで、加算回路ＡＤＤＵは、式（７）の位相信号Ｖ３’をコンパレータＣＭＰを用いて矩形波（検出クロック信号ＣＫｄ）に変換する。この際に、コンパレータＣＭＰは、位相信号Ｖ３’の中点（振幅中心）で位相検出を行うため、位相は、“ｃｏｓ（（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）－θ）＝０”を満たす“ωｔ＝π／４－Δφ_０＋θ”として検出されることになる。そして、この位相検出時の位相信号Ｖ３’の誤差ΔＶ３’は、式（８）となる。
ΔＶ３’＝－ｃｏｓθ（Δφ_１ ^２／２＋ｓｉｎ（ωｔ＋π／４＋Δφ_０）×Δφ_１）
＝－ｃｏｓθ（Δφ_１ ^２／２＋ｓｉｎ（π／２＋θ）×Δφ_１）
＝ｃｏｓθ×Δφ_１×（Δφ_１／２＋ｃｏｓθ） …（８）

また、コンパレータＣＭＰによる位相検出時（“ωｔ＝π／４－Δφ_０＋θ”時）に、式（７）の位相信号Ｖ３’の時間微分は、“ｄ（Ｖ３’）／ｄｔ＝－ω（１－Δφ_１×ｃｏｓθｓｉｎθ）≒－ω”となる。このため、コンパレータＣＭＰによる位相検出時の時間換算誤差Δｔは、式（８）を用いて式（９）となる。
Δｔ＝ΔＶ３’／｛ｄ（Ｖ３’）／ｄｔ｝
＝－ｃｏｓθ×Δφ_１×（Δφ_１／２＋ｃｏｓθ）／ω …（９）

周波数変調後の周波数をｆ（＝ω／２π）として、式（９）の時間換算誤差Δｔを電気角換算誤差Δθに変換すると、コンパレータＣＭＰによる位相検出時の電気角換算誤差Δθは、式（１０）となる。
Δθ＝２π×Δｔ／（１／ｆ）＝－Δφ_１ｃｏｓθ（Δφ_１／２＋ｃｏｓθ） …（１０）

一方、位相差検出器ＰＨＤは、コンパレータＣＭＰによって検出された位相“ωｔ＝π／４－Δφ_０＋θ”に電気角換算誤差Δθが加わったものを見かけ上の回転角度θ_０として検出する。このため、真の回転角度θは、式（１１）で求められる。
θ＝θ_０－π／４－Δφ_０－Δθ …（１１）

式（１０）および式（１１）に基づき、最終的な電気角換算誤差Δθは、式（１２）となり、真の回転角度θは、式（１３）となる。
Δθ＝－Δφ_１ｃｏｓ（θ_０－π／４＋Δφ_０）（Δφ_１／２＋ｃｏｓ（θ_０－π／４＋Δφ_０）） …（１２）
θ＝θ_０－π／４－Δφ_０＋Δφ_１ｃｏｓ（θ_０－π／４＋Δφ_０）（Δφ_１／２＋ｃｏｓ（θ_０－π／４＋Δφ_０）） …（１３）

式（１３）に示されるように、真の回転角度θは、位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）によって検出されるレゾルバＲＳＶの見かけ上の回転角度θ_０と、この検出時に生じている位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１とに基づいて算出可能である。すなわち、検出結果補正器ＲＴＣは、現在の出力周波数ｆｒｅｓに対応するシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を補正テーブルＣＴＢＬｂから取得することで、式（１３）に基づいて真の回転角度θを算出できる。

《レゾルバ補正装置の動作》
図９は、図６Ａのレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［２］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図９のステップＳ２０１～Ｓ２０６では、キャリブレーション動作の前提となる初期動作が行われ、その後のステップＳ３０１～Ｓ３１０では、補正テーブルＣＴＢＬｂを生成するためのキャリブレーション動作が行われる。ステップＳ２０１において、励磁信号供給回路ＥＳＳは、励磁周波数ｆｅｘｃ（例えば２０ｋＨｚ）の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する。

続いて、選択スイッチＳＳＷは、シフト量設定回路ＳＳＴからの指示に応じて、キャリブレーションパス［１］（位相シフタＰＳＦ１へのパス）を選択する（ステップＳ２０２）。そして、シフト量設定回路ＳＳＴは、シフト量設定値ＳＳ１（デューティ比ＰＷＭＤ１）を順次変更しながら、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは４５°）となるシフト量設定値ＳＳ１を探索する（ステップＳ２０３）。

次いで、キャリブレーションパス［２］（位相シフタＰＳＦ２へのパス）を対象にステップＳ２０２，Ｓ２０３の場合と同様の処理が行われる。具体的には、選択スイッチＳＳＷは、キャリブレーションパス［２］を選択し（ステップＳ２０４）、シフト量設定回路ＳＳＴは、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは１３５°）となるシフト量設定値ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ２）を探索する（ステップＳ２０５）。シフト量設定回路ＳＳＴは、ステップＳ２０３，Ｓ２０５の探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）を位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する（ステップＳ２０６）。

続いて、励磁信号供給回路ＥＳＳは、シフト量誤差検出回路ＳＥＤからの指示に応じて、ｋ＝０として（ステップＳ３０１）、周波数ｆ［ｋ］の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ３０２）。次いで、選択スイッチＳＳＷは、シフト量誤差検出回路ＳＥＤからの指示に応じて、キャリブレーションパス［１］を選択する（ステップＳ３０３）。シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、位相差検出器ＰＨＤの検出結果に基づいてシフト量誤差Δφ_０（すなわち４５°との誤差）を検出する（ステップＳ３０４）。そして、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、ステップＳ３０２の周波数ｆ［ｋ］とステップＳ３０４の検出結果であるシフト量誤差Δφ_０との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬｂに登録する（ステップＳ３０５）。

次いで、ステップＳ３０６～Ｓ３０８において、キャリブレーションパス［２］を対象に、ステップＳ３０３～Ｓ３０５の場合と同様の処理が行われる。すなわち、選択スイッチＳＳＷは、キャリブレーションパス［２］を選択し（ステップＳ３０６）、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、シフト量誤差“Δφ_０＋Δφ_１”（すなわち１３５°との誤差）の検出を介してシフト量誤差Δφ_１を検出する（ステップＳ３０７）。そして、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、周波数ｆ［ｋ］とシフト量誤差Δφ_１との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬｂに登録する（ステップＳ３０８）。

その後、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、ｋを順次変更しながらｋ＝ｋｍａｘとなるまでステップＳ３０２～Ｓ３０８の処理を繰り返す（ステップＳ３０９，Ｓ３１０）。その結果、図７の補正テーブルＣＴＢＬｂの例では、ステップＳ３０２の周波数ｆ［ｋ］は、１５ｋＨｚ～２５ｋＨｚの範囲で１ｋＨｚ刻みで変更され、当該周波数ｆ［ｋ］毎のシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１が登録される。

図１０は、図６Ａのレゾルバ補正装置における通常動作［２］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図１０において、シフト量設定回路ＳＳＴは、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に、図９のステップＳ２０３，Ｓ２０５の探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）を設定する（ステップＳ４００）。また、励磁信号供給回路ＥＳＳは、選択スイッチＳＳＷを介してレゾルバＲＳＶに向けて、励磁周波数ｆｅｘｃ（例えば２０ｋＨｚ）の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ４０１）。

続いて、ステップＳ４０２～Ｓ４０４において、図５のステップＳ２０２～Ｓ２０４の場合と同様に、位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）は、レゾルバＲＳＶ（ひいてはモータＭＴ）の見かけ上の回転角度θ_０を検出し、速度検出器ＳＤＥＴは、モータＭＴの見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ＝ｆｍ）を検出する。次いで、検出結果補正器ＲＴＣは、励磁周波数ｆｅｘｃと、ステップＳ４０３で検出された回転速度ｆｍと、予め定められるレゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとを用いて、前述した式（１）に基づいて出力周波数ｆｒｅｓを算出する（ステップＳ４０４）。

続いて、検出結果補正器ＲＴＣは、ステップＳ４０４で算出された出力周波数ｆｒｅｓを検索キーとして補正テーブルＣＴＢＬｂを参照することで、シフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を取得する（ステップＳ４０５）。検出結果補正器ＲＴＣは、ステップＳ４０５で取得したシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１と、ステップＳ４０２で検出された見かけ上の回転角度θ_０とを用いて、式（１３）に基づく補正を行うことで真の回転角度θ（ひいては真の回転速度ｄθ／ｄｔ）を算出する（ステップＳ４０６）。

そして、レゾルバ補正装置は、通常動作を行っている間は、ステップＳ４０２～Ｓ４０６の処理を、例えば、速度検出器ＳＤＥＴの制御周期毎に繰り返し実行する（ステップＳ４０７）。なお、ステップＳ４０５において、検出結果補正器ＲＴＣは、詳細には、図５のステップＳ２０５の場合と同様に、出力周波数ｆｒｅｓの値に応じてシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を適宜線形補間する。

《実施の形態２の主要な効果》
以上、実施の形態２のレゾルバ補正装置を用いることで、実施の形態１の場合と同様の効果が得られる。特に、レゾルバＲＳＶによる回転角度θ（回転速度ｄθ／ｄｔ）の検出誤差が低減可能になり、ひいては、モータＭＴを高精度に制御することが可能になる。図１１は、図６Ａのレゾルバ補正装置を用いて補正を行う場合と行わない場合とで、モータの回転角度の検出誤差を比較したシミュレーション結果の一例を示す図である。ここでは、励磁周波数ｆｅｘｃは２０ｋＨｚであり、レゾルバＲＳＶの極数Ｎｐは５０極である場合を想定している。

図１１に示されるように、例えば、モータＭＴの回転速度が０～±３０００ｒｐｍの範囲において、補正を行わない場合には－５．３°～＋５．３°程度の検出誤差が生じ得るが、補正を行うことで検出誤差を＋０．３°～＋１．２°程度に低減できる。また、モータＭＴの回転速度が０～±６０００ｒｐｍの範囲において、補正を行わない場合には－１１．８°～＋１０．５°程度の検出誤差が生じ得るが、補正を行うことで検出誤差を－１．６～＋１．２°程度に低減できる。

また、実施の形態１の方式と比較して、通常動作時にシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）を可変制御する必要がないため、例えば、可変制御に伴う切り替えタイミング等の影響を考慮する必要がない。さらに、実施の形態１の方式では、検出誤差は、例えば、デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２の設定分解能等に依存するが、実施の形態２の方式では、このような依存性が生じ難い。

（実施の形態３）
《レゾルバ補正装置の概略》
図１２Ａは、本発明の実施の形態３によるレゾルバ補正装置において、マイコンの構成例を示す概略図である。実施の形態３の方式は、実施の形態１の方式と実施の形態２の方式とを組み合わせたようなものとなっている。すなわち、実施の形態２の方式では、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２は、固定値であったが、実施の形態３の方式では、実施の形態１の場合と同様に可変制御される。ただし、この場合、厳密には、シフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）の設定分解能等に応じて、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量にシフト量誤差が残存する。実施の形態３の方式は、当該残存誤差を実施の形態２の方式を用いて補正する。

図１２Ａに示すマイコンＭＣＵは、図１に示したシフト量探索回路ＳＳＲおよび図６Ａに示したシフト量誤差検出回路ＳＥＤを含むテーブル生成回路ＴＢＧと、図１に示したシフト量補正回路ＳＣＲと、図６Ａに示した検出結果補正器ＲＴＣと、補正テーブルＣＴＢＬｃとを備える。シフト量探索回路ＳＳＲは、実施の形態１で述べたように、キャリブレーション動作時に、励磁信号ＶＩＮの周波数毎のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を探索し、補正テーブルＣＴＢＬｃに登録する。

シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、キャリブレーション動作時に、シフト量探索回路ＳＳＲの探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を反映させた上で、位相差検出器ＰＨＤで検出された位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２のシフト量に残存しているシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を励磁信号ＶＩＮの周波数毎に検出する。そして、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、当該励磁信号ＶＩＮの周波数毎のシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を補正テーブルＣＴＢＬｃに登録する。

図１３は、図１２Ａにおける補正テーブルの構成例を示す概略図である。図１３に示されるように、補正テーブルＣＴＢＬｃは、図３の補正テーブルＣＴＢＬａと図７の補正テーブルＣＴＢＬｂとを組み合わせたような構成となっている。当該補正テーブルＣＴＢＬｃは、励磁信号ＶＩＮの周波数（ひいては出力周波数ｆｒｅｓ）毎のシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）と、シフト量誤差Δφ_０，Δφ_１とを保持する。

シフト量補正回路ＳＣＲは、実施の形態１の場合と同様に、通常動作時に、速度検出器ＳＤＥＴで検出された回転速度等に基づいて出力周波数ｆｒｅｓを算出し、対応するデューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２を補正テーブルＣＴＢＬｃから取得して位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する。検出結果補正器ＲＴＣは、実施の形態２の場合と同様に、通通常動作時に、速度検出器ＳＤＥＴで検出された回転速度（見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ））等に基づいて出力周波数ｆｒｅｓを算出し、対応するシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を補正テーブルＣＴＢＬｃから取得する。そして、検出結果補正器ＲＴＣは、当該シフト量誤差Δφ_０，Δφ_１と、位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）で検出された回転角度（見かけ上の回転角度θ_０）とを用いて、式（１３）の演算式に基づいて回転角度を補正し、真の回転角度θ（ひいては真の回転速度（ｄθ／ｄｔ））を算出する。

図１２Ｂは、図１２Ａの変形例を示す概略図である。図１２Ｂの構成例では、図１２Ａの構成例と異なり、電流制御器ＰＩＣは、前述した図６Ｂの場合と同様に、補正前の見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ）に基づいてデューティ比を定める。これにより、回転角度から回転速度を算出する回数が１回で済むため、制御にかかる演算負荷を低減することができる。

《レゾルバ補正装置の動作》
図１４は、図１２Ａのレゾルバ補正装置におけるキャリブレーション動作［３］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図１４において、励磁信号供給回路ＥＳＳは、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に応じて、ｋ＝０として（ステップＳ５０１）、周波数ｆ［ｋ］の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ５０２）。続いて、選択スイッチＳＳＷは、シフト量探索回路ＳＳＲからの指示に応じて、キャリブレーションパス［１］（位相シフタＰＳＦ１へのパス）を選択する（ステップＳ５０３）。

次いで、シフト量探索回路ＳＳＲは、シフト量設定値ＳＳ１（デューティ比ＰＷＭＤ１）を順次変更しながら、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは４５°）となるシフト量設定値ＳＳ１を探索する（ステップＳ５０４）。また、シフト量探索回路ＳＳＲは、当該探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１を位相シフタＰＳＦ１に設定する。

この状態で、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、位相差検出器ＰＨＤの検出結果に基づいて位相シフタＰＳＦ１のシフト量誤差Δφ_０（すなわち４５°との誤差）を検出する（ステップＳ５０５）。そして、テーブル生成回路ＴＢＧは、ステップＳ５０２の周波数ｆ［ｋ］と、ステップＳ５０４の探索結果であるシフト量設定値ＳＳ１（デューティ比ＰＷＭＤ１）と、ステップＳ５０５の検出結果であるシフト量誤差Δφ_０との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬｃに登録する（ステップＳ５０６）。

続いて、ステップＳ５０７～Ｓ５１０において、キャリブレーションパス［２］（位相シフタＰＳＦ２へのパス）を対象に、ステップＳ５０３～Ｓ５０６の場合と同様の処理が行われる。すなわち、選択スイッチＳＳＷは、キャリブレーションパス［２］を選択し（ステップＳ５０７）、シフト量探索回路ＳＳＲは、位相差検出器ＰＨＤによって検出されたシフト量が規定量（ここでは１３５°）となるシフト量設定値ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ２）を探索する（ステップＳ５０８）。

この探索結果が反映された状態で、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、位相差検出器ＰＨＤの検出結果に基づいて位相シフタＰＳＦ２のシフト量誤差“Δφ_０＋Δφ_１”（すなわち１３５°との誤差）の検出を介してシフト量誤差Δφ_１を検出する（ステップＳ５０９）。そして、テーブル生成回路ＴＢＧは、ステップＳ５０２の周波数ｆ［ｋ］と、ステップＳ５０８の探索結果であるシフト量設定値ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ２）と、ステップＳ５０９の検出結果であるシフト量誤差Δφ_１との対応関係を補正テーブルＣＴＢＬｃに登録する（ステップＳ５１０）。

その後、シフト量探索回路ＳＳＲは、ｋを順次変更しながらｋ＝ｋｍａｘとなるまでステップＳ５０２～Ｓ５１０の処理を繰り返す（ステップＳ５１１，Ｓ５１２）。その結果、図１３に示したような補正テーブルＣＴＢＬｃが生成される。

図１５は、図１２Ａのレゾルバ補正装置における通常動作［３］時の処理内容の一例を示すフロー図である。図１５において、励磁信号供給回路ＥＳＳは、選択スイッチＳＳＷを介してレゾルバＲＳＶに向けて、励磁周波数ｆｅｘｃ（例えば２０ｋＨｚ）の励磁クロック信号ＣＫｅ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給する（ステップＳ６０１）。

続いて、ステップＳ６０２～Ｓ６０４において、図５のステップＳ２０２～Ｓ２０４の場合と同様に、位相差検出器ＰＨＤ（位置検出器ＰＤＥＴ）は、レゾルバＲＳＶ（ひいてはモータＭＴ）の見かけ上の回転角度θ_０を検出し、速度検出器ＳＤＥＴは、モータＭＴの見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ＝ｆｍ）を検出する。次いで、シフト量補正回路ＳＣＲおよび検出結果補正器ＲＴＣは、励磁周波数ｆｅｘｃと、ステップＳ６０３で検出された回転速度ｆｍと、予め定められるレゾルバＲＳＶの極数Ｎｐとを用いて、前述した式（１）に基づいて出力周波数ｆｒｅｓを算出する（ステップＳ６０４）。

続いて、シフト量補正回路ＳＣＲは、算出した出力周波数ｆｒｅｓに対応するシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２（デューティ比ＰＷＭＤ１，ＰＷＭＤ２）を補正テーブルＣＴＢＬｃから取得し（ステップＳ６０５）、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する（ステップＳ６０６）。また、検出結果補正器ＲＴＣは、算出した出力周波数ｆｒｅｓに対応するシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を補正テーブルＣＴＢＬｃから取得する（ステップＳ６０７）。そして、検出結果補正器ＲＴＣは、取得したシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１と、ステップＳ６０２で検出された見かけ上の回転角度θ_０とを用いて、式（１３）に基づく補正を行うことで真の回転角度θ（ひいては真の回転速度ｄθ／ｄｔ）を算出する（ステップＳ６０８）。

そして、レゾルバ補正装置は、通常動作を行っている間は、ステップＳ６０２～Ｓ６０８の処理を、例えば、速度検出器ＳＤＥＴの制御周期毎に繰り返し実行する（ステップＳ６０９）。なお、ステップＳ６０５において、シフト量補正回路ＳＣＲは、詳細には、出力周波数ｆｒｅｓの値に応じてシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を適宜線形補間する。同様に、ステップＳ６０７において、検出結果補正器ＲＴＣは、詳細には、出力周波数ｆｒｅｓの値に応じてシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を適宜線形補間する。

《実施の形態３の主要な効果》
以上、実施の形態３のレゾルバ補正装置を用いることで、実施の形態１，２の場合と同様の効果が得られる。さらに、実施の形態１，２の場合と比較して、レゾルバＲＳＶによる回転角度θ（回転速度ｄθ／ｄｔ）の検出誤差がより低減可能になり、ひいては、モータＭＴをより高精度に制御することが可能になる。具体的には、実施の形態１の方式の場合、前述したように、検出誤差を低減するためには、シフト量設定値に伴うデューティ比の設定分解能（ひいてはクロック周波数）を高める必要がある。

一方、実施の形態２の方式の場合、例えば、前述した式（６）において、シフト量誤差Δφ_１が十分に小さいことを前提として“ｓｉｎΔφ_１＝Δφ_１”の近似式を用いているため、シフト量誤差Δφ_１が大きくなると補正誤差が増大する。具体例として、シフト量誤差Δφ_１が２０°程度になるとｓｉｎ（Δφ_１）＝０．３４２に対してΔφ_１＝０．３４９であり、２％程度の近似誤差が生じる。

そこで、実施の形態２の方式に実施の形態１の方式を組み合わせることで、シフト量誤差Δφ_１を例えば５°以下等に抑えることができる。この場合、ｓｉｎ（Δφ_１）＝０．０８７１に対してΔφ_１＝０．０８７２であり、近似誤差は０．１％程度に抑えられる。また、別の観点では、実施の形態１の方式に実施の形態２の方式を組み合わせることで、シフト量設定値に伴うデューティ比の設定分解能（クロック周波数）が低い場合でも、補正式を用いて回転角度θ（回転速度ｄθ／ｄｔ）の検出誤差を十分に低減することが可能になる。すなわち、マイコンＭＣＵの性能が低い場合であっても、十分な検出精度が得られる。

（実施の形態４）
《レゾルバ補正装置の概略》
図１６Ａは、本発明の実施の形態４によるレゾルバ補正装置において、マイコンの構成例を示す概略図である。図１６ＡのマイコンＭＣＵは、図１２Ａの構成例に対して、さらに、補正要否判定回路ＣＪＧを備える。補正要否判定回路ＣＪＧは、例えば、プロセッサＣＰＵによるソフトウェア処理で実装されるが、他の実装形態であってもよい。補正要否判定回路ＣＪＧは、例えば、モータＭＴの始動前等で、励磁信号供給回路ＥＳＳが位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に対して励磁周波数ｆｅｘｃの励磁信号ＶＩＮを供給し、シフト量補正回路ＳＣＲが補正テーブルＣＴＢＬｃに基づき励磁周波数ｆｅｘｃに対応するシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を設定した状態で動作する。

この状態で、補正要否判定回路ＣＪＧは、シフト量誤差検出回路ＳＥＤに、位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２における励磁周波数ｆｅｘｃに対応するシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を検出させる。そして、補正要否判定回路ＣＪＧは、当該検出結果であるシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１と、補正テーブルＣＴＢＬｃに保持されるシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１とを比較する。補正要否判定回路ＣＪＧは、当該比較結果に基づいて図１４に示したキャリブレーション動作［３］を行うか図１５に示した通常動作［３］を行うかを選択する。具体的には、補正要否判定回路ＣＪＧは、比較結果が一致した場合には通常動作［３］を行い、不一致の場合にはキャリブレーション動作［３］を行う。この際の一致／不一致の判定基準は、例えば、モータシステムの要求精度等に応じて定められる。

図１６Ｂは、図１６Ａの変形例を示す概略図である。図１６Ｂの構成例では、図１６Ａの構成例と異なり、電流制御器ＰＩＣは、前述した図６Ｂの場合と同様に、補正前の見かけ上の回転速度（ｄθ_０／ｄｔ）に基づいてデューティ比を定める。これにより、回転角度から回転速度を算出する回数が１回で済むため、制御にかかる演算負荷を低減することができる。

《レゾルバ補正装置の動作》
図１７は、図１６Ａにおける補正要否判定回路の処理内容の一例を示すフロー図である。図１７の処理は、例えば、モータＭＴの始動前、マイコンＭＣＵおよびレゾルバディジタルコンバータＲＤＣの電源投入直後、モータＭＴの待機期間中、または、ユーザからの指示を受けた時などに実行される。図１７において、補正要否判定回路ＣＪＧは、記憶回路ＭＥＭ内に補正テーブルＣＴＢＬｃを生成済みか否かを判定する（ステップＳ７００）。記憶回路ＭＥＭは、例えば、不揮発性メモリ等であってよい。

ステップＳ７００において補正テーブルＣＴＢＬｃが未生成の場合、補正要否判定回路ＣＪＧは、図１４のキャリブレーション動作［３］を起動する（ステップＳ７０６）。一方、ステップＳ７００において補正テーブルＣＴＢＬｃが生成済みの場合、補正要否判定回路ＣＪＧは、励磁信号供給回路ＥＳＳに励磁周波数ｆｅｘｃの励磁クロック信号ＣＫｄ（ひいては励磁信号ＶＩＮ）を供給させる（ステップＳ７０１）。

続いて、補正要否判定回路ＣＪＧは、シフト量補正回路ＳＣＲに指示を発行し、これに応じて、シフト量補正回路ＳＣＲは、補正テーブルＣＴＢＬｃから取得した励磁周波数ｆｅｘｃに対応するシフト量設定値ＳＳ１，ＳＳ２を位相シフタＰＳＦ１，ＰＳＦ２に設定する（ステップＳ７０２）。次いで、補正要否判定回路ＣＪＧは、シフト量誤差検出回路ＳＥＤに、シフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を検出させる（ステップＳ７０３）。具体的には、シフト量誤差検出回路ＳＥＤは、図９のステップＳ３０３，Ｓ３０４，Ｓ３０６，Ｓ３０７に示したように、キャリブレーションパスを切り替えながらシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１を検出する。

次いで、ステップＳ７０４において、補正要否判定回路ＣＪＧは、ステップＳ７０３で検出したシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１と、補正テーブルＣＴＢＬｃ内の励磁周波数ｆｅｘｃに対応するシフト量誤差Δφ_０，Δφ_１とを比較する。補正要否判定回路ＣＪＧは、ステップＳ７０４での比較結果が一致の場合には図１５の通常動作［３］を起動し（ステップＳ７０５）、不一致の場合には図１４のキャリブレーション動作［３］を起動する（ステップＳ７０６）。

なお、ここでは、補正要否判定回路ＣＪＧは、通常動作［３］またはキャリブレーション動作［３］を自動的に起動したが、この起動をユーザに委ねるような処理を行ってもよい。具体的には、補正要否判定回路ＣＪＧは、ステップＳ７００の“Ｎｏ”の場合と、ステップＳ７０４の“Ｙｅｓ”および“Ｎｏ”の場合とにそれぞれフラグを割り当て、当該フラグをユーザに通知する。ユーザは、当該フラグに基づいて、レゾルバ補正装置に通常動作［３］またはキャリブレーション動作［３］の実行を指示する。

《実施の形態４の主要な効果》
以上、実施の形態４のレゾルバ補正装置を用いることで、実施の形態３で述べた各種効果に加えて、キャリブレーション動作の回数を抑えつつ、レゾルバＲＳＶによる回転角度θ（回転速度ｄθ／ｄｔ）の検出誤差を低減することが可能になる。具体的には、キャリブレーション動作を頻繁に行うと、システムの稼働率が低下する恐れがある。一方、キャリブレーション動作の結果を長期間使用するような場合、例えば、システムの環境変化（温度等）や、回路素子の経年劣化等によって、検出誤差が増大する恐れがある。

実施の形態４の方式を用いると、キャリブレーション動作の要否を判定可能になるため、真に必要な場合のみでキャリブレーション動作を行えるようになる。また、このキャリブレーション動作の要否判定は、単一の励磁周波数ｆｅｘｃで行われるため、要否判定に要する時間も特に問題とならない。なお、この例では、図１２Ａの構成例に対して補正要否判定回路ＣＪＧを加えたが、同様にして、図６Ａの構成例に対して補正要否判定回路ＣＪＧを加えてもよい。

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。例えば、前述した実施の形態は、本発明を分かり易く説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施の形態の構成の一部を他の実施の形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施の形態の構成に他の実施の形態の構成を加えることも可能である。また、各実施の形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

ＡＤＤＵ 加算回路
Ｃ 容量
ＣＪＧ 補正要否判定回路
ＣＫｄ 検出クロック信号
ＣＫｅ 励磁クロック信号
ＣＴＢＬａ，ＣＴＢＬｂ，ＣＴＢＬｃ 補正テーブル
Ｅ１，Ｅ２ 検出信号
ＭＣＵ マイコン
ＭＥＭ 記憶回路
ＭＴ モータ
ＰＤＥＴ 位置検出器
ＰＨＤ 位相差検出器
ＰＳＦ１，ＰＳＦ２ 位相シフタ
ＰＷＭＤ デューティ比
Ｒ 抵抗
ＲＤＣ レゾルバディジタルコンバータ
ＲＳＶ レゾルバ
ＲＴＣ 検出結果補正器
ＲＵ 抵抗ユニット
ＳＣＲ シフト量補正回路
ＳＤＥＴ 速度検出器
ＳＥＤ シフト量誤差検出回路
ＳＳ シフト量設定値
ＳＳＲ シフト量探索回路
ＳＳＴ シフト量設定回路
ＳＳＷ 選択スイッチ
Ｖ１，Ｖ２，Ｖ１’～Ｖ３’ 位相信号
ＶＩＮ 励磁信号
ｆｅｘｃ 励磁周波数
ｆｍ 回転速度
ｆｒｅｓ 出力周波数
Δφ_０，Δφ_１ シフト量誤差
θ 回転角度

Claims (18)

1. レゾルバの直交検出信号の一方である第１の検出信号の位相を第１のシフト量設定値に応じて第１のシフト量だけシフトすることで、第１の位相信号を出力する第１の位相シフタと、
   前記直交検出信号の他方である第２の検出信号の位相を第２のシフト量設定値に応じて第２のシフト量だけシフトすることで、第２の位相信号を出力する第２の位相シフタと、
   前記第１の位相信号と前記第２の位相信号とを加算することで第３の位相信号を出力する加算回路と、
   通常動作時に、前記レゾルバに対して励磁周波数の励磁信号を供給し、キャリブレーション動作時に、前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数を含む複数の周波数の励磁信号を供給する励磁信号供給回路と、
   前記励磁信号供給回路からの前記励磁信号と前記加算回路からの前記第３の位相信号との位相差を検出することで、前記通常動作時に前記レゾルバの回転角度を検出し、前記キャリブレーション動作時に前記第１のシフト量または前記第２のシフト量を検出する位相差検出器と、
   前記キャリブレーション動作時に、前記位相差検出器の検出結果を参照しながら、前記第１のシフト量が第１の規定量となるような前記第１のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索し、前記第２のシフト量が前記第１の規定量とは９０°異なる第２の規定量となるような前記第２のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索するシフト量探索回路と、
   前記シフト量探索回路の探索結果によって得られる前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を補正テーブルとして保持する記憶回路と、
   前記通常動作時に、前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度の変化率に基づいて前記レゾルバの回転速度を検出する速度検出器と、
   前記通常動作時に、前記速度検出器で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を取得し、前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタに設定するシフト量補正回路と、
   を有する、
   レゾルバ補正装置。
2. 請求項１記載のレゾルバ補正装置において、
   前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタは、容量および複数の抵抗からなるＲＣ回路を含み、
   前記第１の位相シフタは、前記ＲＣ回路内の前記複数の抵抗の一部に対する有効／無効を第１のＰＷＭ信号によって切り替えることでシフト量を制御し、
   前記第２の位相シフタは、前記ＲＣ回路内の前記複数の抵抗の一部に対する有効／無効を第２のＰＷＭ信号によって切り替えることでシフト量を制御し、
   前記第１のシフト量設定値は、前記第１のＰＷＭ信号のデューティ比であり、
   前記第２のシフト量設定値は、前記第２のＰＷＭ信号のデューティ比である、
   レゾルバ補正装置。
3. 請求項１記載のレゾルバ補正装置において、
   前記キャリブレーション動作時に、前記励磁信号供給回路は前記励磁信号を前記レゾルバに供給し、前記レゾルバの回転は停止状態に制御され、前記加算回路は、前記第２の位相信号または前記第１の位相信号が無効化されることで、前記第３の位相信号として前記第１の位相信号または前記第２の位相信号を出力する、
   レゾルバ補正装置。
4. 請求項１記載のレゾルバ補正装置において、
   前記励磁信号供給回路からの前記励磁信号を前記レゾルバ、前記第１の位相シフタ、前記第２の位相シフタのいずれに供給するかを選択する選択スイッチを有する、
   レゾルバ補正装置。
5. レゾルバの直交検出信号の一方である第１の検出信号の位相を第１のシフト量設定値に応じて第１のシフト量だけシフトすることで、第１の位相信号を出力する第１の位相シフタと、
   前記直交検出信号の他方である第２の検出信号の位相を第２のシフト量設定値に応じて第２のシフト量だけシフトすることで、第２の位相信号を出力する第２の位相シフタと、
   前記第１の位相信号と前記第２の位相信号とを加算することで第３の位相信号を出力する加算回路と、
   通常動作時に、前記レゾルバに対して励磁周波数の励磁信号を供給し、キャリブレーション動作時に、前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数を含む複数の周波数の励磁信号を供給する励磁信号供給回路と、
   前記励磁信号供給回路からの前記励磁信号と前記加算回路からの前記第３の位相信号との位相差を検出することで、前記通常動作時に前記レゾルバの回転角度を検出し、前記キャリブレーション動作時に前記第１のシフト量または前記第２のシフト量を検出する位相差検出器と、
   前記キャリブレーション動作時に、前記位相差検出器の検出結果を参照しながら、前記第１のシフト量が第１の規定量となるような前記第１のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索し、前記第２のシフト量が前記第１の規定量とは９０°異なる第２の規定量となるような前記第２のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索するシフト量探索回路と、
   前記シフト量探索回路の探索結果によって得られる前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を補正テーブルとして保持する記憶回路と、
   前記キャリブレーション動作時に、前記シフト量探索回路の探索結果である前記第１のシフト量設定値と前記第２のシフト量設定値とを反映させた上で、前記位相差検出器で検出された前記第１のシフト量に残存している第１のシフト量誤差と、前記第２のシフト量に残存している第２のシフト量誤差とを前記励磁信号の周波数毎に検出するシフト量誤差検出回路と、
   検出結果補正器と、
   を有し、
   前記記憶回路は、前記補正テーブルに、前記シフト量誤差検出回路で検出された前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差をさらに保持し、
   前記検出結果補正器は、前記通常動作時に、前記補正テーブルの保持内容と予め定められる演算式とに基づいて、前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度を補正する、
   レゾルバ補正装置。
6. 請求項５記載のレゾルバ補正装置において、さらに、
   前記通常動作時に、前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度の変化率に基づいて前記レゾルバの回転速度を検出する速度検出器と、
   前記通常動作時に、前記速度検出器で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を取得し、前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタに設定するシフト量補正回路と、
   を有する、
   レゾルバ補正装置。
7. 請求項６記載のレゾルバ補正装置において、
   前記検出結果補正器は、前記速度検出器で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を取得し、前記第１のシフト量誤差、前記第２のシフト量誤差および前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度をパラメータとする前記演算式に基づいて前記レゾルバの回転角度を補正する、
   レゾルバ補正装置。
8. 請求項６記載のレゾルバ補正装置において、
   さらに、前記励磁信号供給回路が前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数の前記励磁信号を供給し、前記シフト量補正回路が前記励磁周波数に対応する前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を設定した状態で、前記シフト量誤差検出回路に前記励磁周波数に対応する前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を検出させ、検出結果である前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差と、前記補正テーブルに保持される前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差とを比較し、比較結果に基づいて前記キャリブレーション動作を行うか前記通常動作を行うかを選択する補正要否判定回路を有する、
   レゾルバ補正装置。
9. レゾルバの直交検出信号の一方である第１の検出信号の位相を第１のシフト量設定値に応じて第１のシフト量だけシフトすることで、第１の位相信号を出力する第１の位相シフタと、
   前記直交検出信号の他方である第２の検出信号の位相を第２のシフト量設定値に応じて第２のシフト量だけシフトすることで、第２の位相信号を出力する第２の位相シフタと、
   前記第１の位相信号と前記第２の位相信号とを加算することで第３の位相信号を出力する加算回路と、
   通常動作時に、前記レゾルバに対して励磁周波数の励磁信号を供給し、キャリブレーション動作時に、前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数を含む複数の周波数の励磁信号を供給する励磁信号供給回路と、
   前記励磁信号供給回路からの前記励磁信号と前記加算回路からの前記第３の位相信号との位相差を検出することで、前記通常動作時に前記レゾルバの回転角度を検出し、前記キャリブレーション動作時に前記第１のシフト量または前記第２のシフト量を検出する位相差検出器と、
   前記キャリブレーション動作時に、予め定められる第１の規定量を基準として、前記位相差検出器で検出された前記第１のシフト量に含まれる第１のシフト量誤差を前記励磁信号の周波数毎に検出し、前記第１の規定量とは９０°異なる第２の規定量を基準として、前記位相差検出器で検出された前記第２のシフト量に含まれる第２のシフト量誤差を前記励磁信号の周波数毎に検出するシフト量誤差検出回路と、
   前記シフト量誤差検出回路で検出された前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を補正テーブルとして保持する記憶回路と、
   前記通常動作時に、前記補正テーブルの保持内容と予め定められる演算式とに基づいて、前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度を補正する検出結果補正器と、
   を有する、
   レゾルバ補正装置。
10. 請求項９記載のレゾルバ補正装置において、
    さらに、前記キャリブレーション動作時の初期動作として、前記励磁信号を前記励磁周波数に設定した状態で前記位相差検出器の検出結果を参照しながら、前記第１のシフト量が前記第１の規定量となるような前記第１のシフト量設定値を探索し、前記第２のシフト量が前記第２の規定量となるような前記第２のシフト量設定値を探索するシフト量設定回路を有し、
    前記シフト量設定回路は、探索結果である前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を、前記キャリブレーション動作時と前記通常動作時とで前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタにそれぞれ設定する、
    レゾルバ補正装置。
11. 請求項９記載のレゾルバ補正装置において、
    さらに、前記通常動作時に、前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度の変化率に基づいて前記レゾルバの回転速度を検出する速度検出器を有し、
    前記検出結果補正器は、前記速度検出器で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を取得し、前記第１のシフト量誤差、前記第２のシフト量誤差および前記位相差検出器で検出された前記レゾルバの回転角度をパラメータとする前記演算式に基づいて前記レゾルバの回転角度を補正する、
    レゾルバ補正装置。
12. 請求項１０記載のレゾルバ補正装置において、
    前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタは、容量および複数の抵抗からなるＲＣ回路を含み、
    前記第１の位相シフタは、前記ＲＣ回路内の前記複数の抵抗の一部に対する有効／無効を第１のＰＷＭ信号によって切り替えることでシフト量を制御し、
    前記第２の位相シフタは、前記ＲＣ回路内の前記複数の抵抗の一部に対する有効／無効を第２のＰＷＭ信号によって切り替えることでシフト量を制御し、
    前記第１のシフト量設定値は、前記第１のＰＷＭ信号のデューティ比であり、
    前記第２のシフト量設定値は、前記第２のＰＷＭ信号のデューティ比である、
    レゾルバ補正装置。
13. 請求項９記載のレゾルバ補正装置において、
    前記キャリブレーション動作時に、前記励磁信号供給回路は前記励磁信号を前記レゾルバに供給し、前記レゾルバの回転は停止状態に制御され、前記加算回路は、前記第２の位相信号または前記第１の位相信号が無効化されることで、前記第３の位相信号として前記第１の位相信号または前記第２の位相信号を出力する、
    レゾルバ補正装置。
14. 請求項９記載のレゾルバ補正装置において、
    前記励磁信号供給回路からの前記励磁信号を前記レゾルバ、前記第１の位相シフタ、前記第２の位相シフタのいずれに供給するかを選択する選択スイッチを有する、
    レゾルバ補正装置。
15. 請求項１０記載のレゾルバ補正装置において、さらに、
    前記励磁信号供給回路が前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数の前記励磁信号を供給し、前記シフト量設定回路が前記励磁周波数に対応する前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を設定した状態で、前記シフト量誤差検出回路に前記励磁周波数に対応する前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を検出させ、検出結果である前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差と、前記補正テーブルに保持される前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差とを比較し、比較結果に基づいて前記キャリブレーション動作を行うか前記通常動作を行うかを選択する補正要否判定回路を有する、
    レゾルバ補正装置。
16. レゾルバの直交検出信号の一方である第１の検出信号の位相を第１のシフト量設定値に応じて第１のシフト量だけシフトすることで、第１の位相信号を出力する第１の位相シフタと、
    前記直交検出信号の他方である第２の検出信号の位相を第２のシフト量設定値に応じて第２のシフト量だけシフトすることで、第２の位相信号を出力する第２の位相シフタと、
    前記第１の位相信号と前記第２の位相信号とを加算することで第３の位相信号を出力する加算回路と、
    補正テーブルを保持する記憶回路と、
    を有するレゾルバ補正装置の補正方法であって、
    通常動作時に、前記レゾルバに対して励磁周波数の励磁信号を供給し、キャリブレーション動作時に、前記第１の位相シフタまたは前記第２の位相シフタに対して前記励磁周波数を含む複数の周波数の励磁信号を供給する第１の工程と、
    前記第１の工程で供給される前記励磁信号と前記加算回路からの前記第３の位相信号との位相差を検出することで、前記通常動作時に前記レゾルバの回転角度を検出し、前記キャリブレーション動作時に前記第１のシフト量または前記第２のシフト量を検出する第２の工程と、
    前記キャリブレーション動作時に、前記第２の工程の検出結果を参照しながら、前記第１のシフト量が第１の規定量となるような前記第１のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索し、前記第２のシフト量が前記第１の規定量とは９０°異なる第２の規定量となるような前記第２のシフト量設定値を前記励磁信号の周波数毎に探索する第３の工程と、
    前記第３の工程の探索結果によって得られる前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を前記補正テーブルに登録する第４の工程と、
    前記通常動作時に、前記第２の工程で検出された前記レゾルバの回転角度の変化率に基づいて前記レゾルバの回転速度を検出する第５の工程と、
    前記通常動作時に、前記第５の工程で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を取得し、前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタに設定する第６の工程と、
    を有する、
    レゾルバ補正装置の補正方法。
17. 請求項１６記載のレゾルバ補正装置の補正方法において、さらに、
    前記キャリブレーション動作時に、前記第３の工程の探索結果である前記第１のシフト量設定値と前記第２のシフト量設定値とを反映させた上で、前記第２の工程で検出された前記第１のシフト量に残存している第１のシフト量誤差と、前記第２のシフト量に残存している第２のシフト量誤差とを前記励磁信号の周波数毎に検出し、前記励磁信号の周波数毎の前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を前記補正テーブルに登録する第７の工程と、
    前記通常動作時に、前記補正テーブルの保持内容と予め定められる演算式とに基づいて、前記第２の工程で検出された前記レゾルバの回転角度を補正する第８の工程と、
    を有する、
    レゾルバ補正装置の補正方法。
18. 請求項１７記載のレゾルバ補正装置の補正方法において、さらに、
    前記通常動作時に、前記第２の工程で検出された前記レゾルバの回転角度の変化率に基づいて前記レゾルバの回転速度を検出する第９の工程と、
    前記通常動作時に、前記第９の工程で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量設定値および前記第２のシフト量設定値を取得し、前記第１の位相シフタおよび前記第２の位相シフタに設定する第１０の工程と、
    を有し、
    前記第８の工程は、前記第９の工程で検出された回転速度と前記励磁信号の前記励磁周波数とに基づいて前記第１の検出信号または前記第２の検出信号の出力周波数を算出し、前記出力周波数を検索キーとして前記補正テーブルを参照することで前記第１のシフト量誤差および前記第２のシフト量誤差を取得し、前記第１のシフト量誤差、前記第２のシフト量誤差および前記第２の工程で検出された前記レゾルバの回転角度をパラメータとする前記演算式に基づいて前記レゾルバの回転角度を補正する工程である、
    レゾルバ補正装置の補正方法。

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