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JP7327663B2 - probe - Google Patents
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Description

本発明は、コネクタの特性検査を行うためのプローブに関する。 The present invention relates to a probe for inspecting characteristics of connectors.

従来より、被検査体であるコネクタの特性検査を行うためのプローブが開示されている(例えば、特許文献1参照)。 2. Description of the Related Art Conventionally, a probe for inspecting characteristics of a connector, which is an object to be inspected, has been disclosed (see, for example, Patent Document 1).

特許文献1のプローブは、同軸コネクタの特性検査を行うためのプローブであり、特に、複数信号を流すように複数の端子が設けられた多極コネクタの特性検査を行うものである。特許文献1のプローブは、多極コネクタの複数の端子に対して同時に接触可能な複数の中心導体を備えている。 The probe disclosed in Patent Document 1 is a probe for inspecting the characteristics of a coaxial connector, and in particular, it is used for inspecting the characteristics of a multipolar connector provided with a plurality of terminals so as to pass a plurality of signals. The probe of Patent Literature 1 has a plurality of center conductors capable of simultaneously contacting a plurality of terminals of a multipolar connector.

国際公開第2016/072193号公報International Publication No. 2016/072193

コネクタのプローブにおいては、端子の特性検査の精度を向上させることが求められている。特許文献1のプローブのように、複数の端子に対して複数の中心導体を同時に接触させる場合には、端子と中心導体の位置ずれが生じて、特性検査の精度が低下しやすい。特許文献1に開示されるようなプローブを含めて、端子の特性検査をより精度良く行うことができる技術の開発が求められている。 In connector probes, it is required to improve the accuracy of characteristic inspection of terminals. When a plurality of center conductors are brought into contact with a plurality of terminals at the same time as in the probe of Patent Document 1, the positions of the terminals and the center conductors are misaligned, and the accuracy of characteristic inspection tends to decrease. There is a demand for the development of techniques, including probes as disclosed in Patent Document 1, that are capable of more accurately inspecting the characteristics of terminals.

従って、本発明の目的は、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができるプローブを提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a probe capable of more accurately inspecting the characteristics of connector terminals.

上記目的を達成するために、本発明のプローブは、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有するフランジと、軸方向に貫通する収容空間を形成し、前記フランジの前記貫通孔に対して前記収容空間を連通させた状態で前記フランジの下面に一端部が取り付けられ、他端部が内側に突出した内方突出部を有するハウジングと、前記ハウジングの前記収容空間に収容される本体部と、前記本体部から前記ハウジングの他端側に延びて前記収容空間の外側に突出する突出部とを有し、前記突出部の底部からプローブピンを突出させたプランジャと、前記フランジの前記貫通孔および前記ハウジングの前記収容空間に配置され、前記プローブピンに電気的に接続される伝送線路と、を備え、前記ハウジングの前記内方突出部は、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの一端側に移動可能な状態で受けて保持する保持面を有する。 In order to achieve the above object, the probe of the present invention is a probe for inspecting the characteristics of a connector, comprising a flange having a through hole and a housing space axially penetrating therethrough; a housing having one end attached to the lower surface of the flange in a state in which the housing space communicates with the hole, and an inward projecting portion having the other end projecting inward; and a protrusion extending from the main body to the other end side of the housing and protruding outside the housing space, a plunger having a probe pin protruding from the bottom of the protrusion, and the flange and a transmission line disposed in the through hole of the housing and the receiving space of the housing and electrically connected to the probe pin, wherein the inwardly protruding portion of the housing extends the main body portion of the plunger into the One end of the housing has a holding surface for movably receiving and holding.

本発明のプローブによれば、コネクタの端子の特性検査をより精度良く行うことができる。 According to the probe of the present invention, it is possible to more accurately inspect the characteristics of the terminal of the connector.

実施の形態1におけるプローブの斜視図FIG. 2 is a perspective view of the probe according to Embodiment 1; 実施の形態1におけるプローブの分解斜視図1 is an exploded perspective view of a probe according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1におけるプローブの分解斜視図1 is an exploded perspective view of a probe according to Embodiment 1. FIG. 実施の形態1におけるプローブの一部を拡大した縦断面図FIG. 2 is an enlarged longitudinal sectional view of a part of the probe according to Embodiment 1; 実施の形態1におけるプランジャの底部を拡大した斜視図FIG. 2 is an enlarged perspective view of the bottom portion of the plunger according to Embodiment 1; 実施の形態1におけるプランジャおよびハウジングの他端部を拡大した縦断面図FIG. 2 is an enlarged vertical cross-sectional view of the plunger and the other end of the housing according to the first embodiment; 実施の形態1におけるハウジングの縦断面を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing a longitudinal section of the housing according to Embodiment 1; 実施の形態1におけるハウジングの平面図Plan view of the housing according to the first embodiment 実施の形態1におけるプランジャの斜視図A perspective view of a plunger according to Embodiment 1 実施の形態1におけるプランジャの斜視図A perspective view of a plunger according to Embodiment 1 実施の形態1におけるプローブを用いてコネクタの端子の特性検査を行う方法を説明するための縦断面図FIG. 4 is a vertical cross-sectional view for explaining a method for inspecting the characteristics of a terminal of a connector using the probe according to the first embodiment; 実施の形態1におけるプローブを用いてコネクタの端子の特性検査を行う方法を説明するための縦断面図FIG. 4 is a vertical cross-sectional view for explaining a method for inspecting the characteristics of a terminal of a connector using the probe according to the first embodiment; 実施の形態1におけるプローブを用いてコネクタの端子の特性検査を行う方法を説明するための縦断面図FIG. 4 is a vertical cross-sectional view for explaining a method for inspecting the characteristics of a terminal of a connector using the probe according to the first embodiment; 実施の形態1におけるプローブを用いてコネクタの端子の特性検査を行う方法を説明するための縦断面図FIG. 4 is a vertical cross-sectional view for explaining a method for inspecting the characteristics of a terminal of a connector using the probe according to the first embodiment; 実施の形態2におけるプローブの一部を拡大した縦断面図FIG. 4 is an enlarged longitudinal sectional view of a part of the probe according to the second embodiment;

本発明の第1態様によれば、コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔を有するフランジと、軸方向に貫通する収容空間を形成し、前記フランジの前記貫通孔に対して前記収容空間を連通させた状態で前記フランジの下面に一端部が取り付けられ、他端部が内側に突出した内方突出部を有するハウジングと、前記ハウジングの前記収容空間に収容される本体部と、前記本体部から前記ハウジングの他端側に延びて前記収容空間の外側に突出する突出部とを有し、前記突出部の底部からプローブピンを突出させたプランジャと、前記フランジの前記貫通孔および前記ハウジングの前記収容空間に配置され、前記プローブピンに電気的に接続される伝送線路と、を備え、前記ハウジングの前記内方突出部は、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの一端側に移動可能な状態で受けて保持する保持面を有する、プローブを提供する。 According to the first aspect of the present invention, there is provided a probe for inspecting the characteristics of a connector, comprising a flange having a through hole and a housing space penetrating in the axial direction. a housing having an inwardly protruding portion with one end attached to the lower surface of the flange and the other end protruding inward in a state in which the accommodating space is communicated; and a main body portion accommodated in the accommodating space of the housing. a plunger with a probe pin projecting from the bottom of the protrusion; and the through hole of the flange. and a transmission line disposed in the accommodation space of the housing and electrically connected to the probe pin, wherein the inward protrusion of the housing moves the main body of the plunger to one end side of the housing. A probe is provided having a retaining surface for receiving and retaining the probe in a movable manner.

このような構成によれば、コネクタの姿勢に追従するようにプランジャの姿勢を変更することができ、コネクタ端子とプローブピンを精度良く接触させて特性検査の精度を向上させることができる。 According to such a configuration, the posture of the plunger can be changed so as to follow the posture of the connector, and the connector terminal and the probe pin can be brought into contact with high precision, thereby improving the precision of the characteristic inspection.

本発明の第2態様によれば、前記ハウジングの前記収容空間に配置され、一端部が前記フランジの前記下面に接し、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの他端側に向けて付勢する付勢部材をさらに備える、第1態様に記載のプローブを提供する。このような構成によれば、付勢部材をハウジングの収容空間に配置することで、ハウジングの外側に配置する場合に比べてプローブの小型化を実現しやすい。 According to the second aspect of the present invention, the plunger is arranged in the accommodation space of the housing, has one end in contact with the lower surface of the flange, and biases the main body of the plunger toward the other end of the housing. A probe according to the first aspect is provided, further comprising a biasing member. According to such a configuration, by arranging the urging member in the accommodation space of the housing, it is easier to realize miniaturization of the probe as compared with the case of arranging it outside the housing.

本発明の第3態様によれば、前記プランジャの前記本体部は、前記ハウジングの内周面に向かって外側に突出した外方突出部を備え、前記外方突出部は、上面および下面を有し、前記上面は前記付勢部材に接触し、前記下面は前記ハウジングの前記保持面に接触する、第2態様に記載のプローブを提供する。このような構成によれば、外方突出部の上面を付勢部材の付勢力を受ける面としながら、下面を保持面に保持される被保持面とすることで、外方突出部に異なる2つの機能を持たせることができる。 According to the third aspect of the present invention, the main body portion of the plunger has an outward protrusion that protrudes outward toward the inner peripheral surface of the housing, and the outward protrusion has an upper surface and a lower surface. and wherein said upper surface contacts said biasing member and said lower surface contacts said retaining surface of said housing. According to such a configuration, the upper surface of the outwardly protruding portion is a surface that receives the biasing force of the biasing member, while the lower surface is a surface that is held by the holding surface. can have one function.

本発明の第4態様によれば、前記フランジの前記下面は、前記ハウジングの前記一端部と前記付勢部材の一端部とを配置する凹部を有する、第2態様又は第3態様に記載のプローブを提供する。このような構成によれば、ハウジングの端部と付勢部材の端部を同じ凹部に配置することができる。 According to a fourth aspect of the present invention, the probe according to the second or third aspect, wherein the lower surface of the flange has a recess for disposing the one end of the housing and one end of the biasing member. I will provide a. With such a configuration, the end of the housing and the end of the biasing member can be arranged in the same recess.

本発明の第5態様によれば、前記ハウジングの前記内方突出部は、前記保持面の内側から前記ハウジングの他端側に向かって内側に窄まるように傾斜した第1傾斜面を有し、前記プランジャの前記本体部は、前記第1傾斜面に接触する角部を有する、第1態様から第4態様のいずれか1つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、本体部の角部が第1傾斜面に接触するとプランジャが内側に案内され、プランジャを元の位置に案内することができる。 According to the fifth aspect of the present invention, the inward projecting portion of the housing has a first inclined surface that is inclined so as to taper inward from the inside of the holding surface toward the other end side of the housing. , the probe according to any one of the first to fourth aspects, wherein the main body of the plunger has a corner contacting the first inclined surface. According to such a configuration, when the corner of the main body comes into contact with the first inclined surface, the plunger is guided inward and can be guided to its original position.

本発明の第6態様によれば、前記プランジャの前記本体部は、前記ハウジングの前記内方突出部の角部に接触する接触面を有し、前記接触面は、前記ハウジングの他端側に向かって内側に窄まるように傾斜した第2傾斜面である、第1態様から第5態様のいずれか1つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、本体部の接触面が内方突出部の角部に接触するとプランジャが内側に案内され、プランジャを元の位置に案内することができる。 According to the sixth aspect of the present invention, the main body portion of the plunger has a contact surface that contacts a corner portion of the inwardly projecting portion of the housing, and the contact surface is located on the other end side of the housing. Provide the probe according to any one of the first to fifth aspects, wherein the second inclined surface is inclined so as to narrow inwardly. According to such a configuration, when the contact surface of the main body comes into contact with the corner of the inward projection, the plunger is guided inward and can be guided to its original position.

本発明の第7態様によれば、前記フランジの前記貫通孔に配置され、前記貫通孔を通過する前記伝送線路を前記フランジに固定する固定部材をさらに備える、第1態様から第6態様のいずれか1つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、伝送線路が上から引っ張られる際に生じる引っ張り力が下側の部材へ伝達しないようにすることができ、プランジャを安定的に動作させることができる。 According to the seventh aspect of the present invention, any one of the first aspect to the sixth aspect, further comprising a fixing member arranged in the through hole of the flange and fixing the transmission line passing through the through hole to the flange. or a probe according to one. According to such a configuration, it is possible to prevent the pulling force generated when the transmission line is pulled from above to be transmitted to the lower member, and it is possible to stably operate the plunger.

本発明の第8態様によれば、前記伝送線路は、同軸ケーブルの伝送線路である、第1態様から第7態様のいずれか1つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、伝送線路を簡易な構成で実現することができる。 An eighth aspect of the present invention provides the probe according to any one of the first to seventh aspects, wherein the transmission line is a coaxial cable transmission line. With such a configuration, the transmission line can be realized with a simple configuration.

本発明の第9態様によれば、前記伝送線路は、フレキシブル基板の伝送線路である、第1態様から第7態様のいずれか1つに記載のプローブを提供する。このような構成によれば、伝送線路を同軸ケーブル以外の形態で実現することができる。 According to a ninth aspect of the present invention, there is provided the probe according to any one of the first to seventh aspects, wherein the transmission line is a flexible substrate transmission line. With such a configuration, the transmission line can be realized in a form other than a coaxial cable.

以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1~図4は、実施の形態1におけるプローブ2の概略構成を示す図である。図1は、プローブ2の斜視図であり、図2、図3は、プローブ2の分解斜視図であり、図4は、プローブ2の一部を拡大した縦断面図である。
(Embodiment 1)
1 to 4 are diagrams showing a schematic configuration of the probe 2 according to Embodiment 1. FIG. FIG. 1 is a perspective view of the probe 2, FIGS. 2 and 3 are exploded perspective views of the probe 2, and FIG.

プローブ2は、コネクタ3の特性検査を行う検査器具である。実施の形態1のコネクタ3は、複数の端子(図示せず)を有する多極コネクタである。図1~図4では、コネクタ3を模式的に示している。 The probe 2 is an inspection instrument for inspecting the characteristics of the connector 3 . The connector 3 of Embodiment 1 is a multipolar connector having a plurality of terminals (not shown). 1 to 4 schematically show the connector 3. FIG.

図1~図4に示すプローブ2は、フランジ4と、ハウジング6と、プランジャ8と、同軸ケーブル10と、付勢部材12(図2~図4)と、測定コネクタ14と、キャップ16とを備える。 The probe 2 shown in FIGS. 1-4 includes a flange 4, a housing 6, a plunger 8, a coaxial cable 10, a biasing member 12 (FIGS. 2-4), a measurement connector 14 and a cap 16. Prepare.

フランジ4は、プローブ2を所定の設備(図示せず)に取り付けるための部材である。設備は例えば、コネクタ3が実装されたプリント基板をコネクタ3の特性検査の結果に基づいて選別するための選別機である。フランジ4は、設備の治具(図示せず)に対してネジ止め等によって固定される。 The flange 4 is a member for attaching the probe 2 to predetermined equipment (not shown). The equipment is, for example, a sorting machine for sorting printed circuit boards on which the connectors 3 are mounted based on the results of characteristic inspections of the connectors 3 . The flange 4 is fixed by screwing or the like to a jig (not shown) of the equipment.

図2に示すように、フランジ4は厚み方向に貫通する貫通孔20を有する。貫通孔20には、後述するキャップ16および同軸ケーブル10が配置される。 As shown in FIG. 2, the flange 4 has a through-hole 20 penetrating in the thickness direction. A cap 16 and a coaxial cable 10 , which will be described later, are arranged in the through hole 20 .

ハウジング6は、プランジャ8、同軸ケーブル10および付勢部材12を収容する部材である。ハウジング6は軸方向Aに延びる筒状の形状を有し、その内部に収容空間21を形成する。収容空間21は、ハウジング6の一端部22から他端部24まで軸方向Aに貫通する。 The housing 6 is a member that accommodates the plunger 8 , coaxial cable 10 and biasing member 12 . The housing 6 has a tubular shape extending in the axial direction A, and forms an accommodation space 21 therein. The housing space 21 penetrates in the axial direction A from one end 22 to the other end 24 of the housing 6 .

ハウジング6の一端部22は、フランジ4の下面28(図3、図4)に取り付けられる。下面28には凹部30が形成されており、一端部22は凹部30に圧入して固定される。ハウジング6の一端部22の開口面積は、フランジ4の貫通孔20の断面積よりも大きい。 One end 22 of the housing 6 is attached to the underside 28 of the flange 4 (FIGS. 3, 4). A concave portion 30 is formed in the lower surface 28, and the one end portion 22 is press-fitted into the concave portion 30 and fixed. The opening area of one end 22 of the housing 6 is larger than the cross-sectional area of the through hole 20 of the flange 4 .

プランジャ8は、ハウジング6の収容空間21に部分的に収容される部材であり、後述する複数のプローブピン9(図4)を保持する。 The plunger 8 is a member that is partially housed in the housing space 21 of the housing 6, and holds a plurality of probe pins 9 (FIG. 4) to be described later.

図4に示すように、プランジャ8は、本体部32と、突出部34とを有する。本体部32と突出部34は一体的に構成される。 As shown in FIG. 4 , the plunger 8 has a main body portion 32 and a projecting portion 34 . The body portion 32 and the projecting portion 34 are integrally configured.

本体部32は、ハウジング6の収容空間21に収容される部分であり、複数の同軸ケーブル10が挿通される。本体部32はハウジング6の他端部24で受けられており、ハウジング6の一端側A1へ移動可能な状態で保持されている。 The main body portion 32 is a portion accommodated in the accommodation space 21 of the housing 6, and multiple coaxial cables 10 are inserted therethrough. The body portion 32 is received by the other end portion 24 of the housing 6 and is held in a movable state toward the one end side A1 of the housing 6 .

突出部34は、本体部32からハウジング6の他端側A2に突出して収容空間21の外側へ延びる部分である。突出部34は、付勢部材12が縮んでいないときにハウジング6から外側に突出する。突出部34はプランジャ8の底部を構成する部分であり、複数のプローブピン9を下方へ突出させる。 The protruding portion 34 is a portion that protrudes from the main body portion 32 to the other end side A2 of the housing 6 and extends to the outside of the accommodation space 21 . Projection 34 projects outwardly from housing 6 when biasing member 12 is not compressed. The protruding portion 34 is a portion forming the bottom portion of the plunger 8 and causes the plurality of probe pins 9 to protrude downward.

プローブピン9は、コネクタ3の端子に接触して電気的に導通する部材である。プローブピン9は導電性の材料で形成されており、その先端がプランジャ8の突出部34から突出している。2本のプローブピン9はプランジャ8の内部に圧入して固定されている。 The probe pins 9 are members that come into contact with the terminals of the connector 3 and are electrically connected. The probe pin 9 is made of a conductive material, and its tip protrudes from the projecting portion 34 of the plunger 8 . Two probe pins 9 are press-fitted and fixed inside the plunger 8 .

図5は、プランジャ8の下方斜視図である。図5に示すように、プランジャ8の突出部34はプローブピン9の先端を突出させるとともに、ガイド面36を形成する。ガイド面36は、ハウジング6の一端側A1へ向かって内側に窄まるように傾斜した傾斜面である。コネクタ3がガイド面36に接触すると、コネクタ3は内側に案内され、コネクタ端子とプローブピン9が接触する位置で位置決めされる。 FIG. 5 is a bottom perspective view of the plunger 8. FIG. As shown in FIG. 5, the protruding portion 34 of the plunger 8 protrudes the tip of the probe pin 9 and forms a guide surface 36 . The guide surface 36 is an inclined surface that tapers inward toward the one end side A<b>1 of the housing 6 . When the connector 3 contacts the guide surface 36, the connector 3 is guided inward and positioned at a position where the connector terminals and the probe pins 9 contact each other.

図4に戻ると、プローブピン9のそれぞれには同軸ケーブル10が接続されている。同軸ケーブル10はその内部に伝送線路(図示せず)を有し、伝送線路はプローブピン9に電気的に接続されている。同軸ケーブル10は軟質の材料で構成されており、形状が容易に変化する。 Returning to FIG. 4, a coaxial cable 10 is connected to each of the probe pins 9 . The coaxial cable 10 has a transmission line (not shown) inside it, and the transmission line is electrically connected to the probe pin 9 . The coaxial cable 10 is made of a soft material and easily changes its shape.

同軸ケーブル10の周囲には付勢部材12が配置される。付勢部材12は、プランジャ8の本体部32をハウジング6の他端側A2に向けて付勢するための部材である。付勢部材12は同軸ケーブル10とともに収容空間21に配置される。実施の形態1の付勢部材12はコイルバネである。 A biasing member 12 is arranged around the coaxial cable 10 . The biasing member 12 is a member for biasing the body portion 32 of the plunger 8 toward the other end side A2 of the housing 6 . The biasing member 12 is arranged in the housing space 21 together with the coaxial cable 10 . The biasing member 12 of Embodiment 1 is a coil spring.

図4に示すように、付勢部材12は、一端部38と他端部40とを有する。 As shown in FIG. 4, biasing member 12 has one end 38 and another end 40 .

一端部38は、フランジ4の下面28に接触しており、前述したハウジング6の一端部22とともにフランジ4の凹部30に配置される。ハウジング6の一端部22が凹部30に圧入して固定されるのに対して、付勢部材12の一端部38は圧入されずにフランジ4の凹部30に配置される。一端部38は凹部30に配置された状態で、フランジ4の主面に沿った方向である横方向Bに移動可能であってもよい。 One end 38 contacts the lower surface 28 of the flange 4 and is placed in the recess 30 of the flange 4 together with the one end 22 of the housing 6 described above. One end 22 of housing 6 is press-fitted into recess 30 and fixed, while one end 38 of biasing member 12 is placed in recess 30 of flange 4 without being press-fitted. The one end portion 38 may be movable in the lateral direction B along the main surface of the flange 4 while being positioned in the recess 30 .

一端部38がフランジ4の下面28に接触するのに対して、他端部40はプランジャ8の本体部32に接触する。他端部40はプランジャ8の本体部32に対してハウジング6の他端側A2に向かって接触して、プランジャ8を他端側A2に向けて付勢する。プランジャ8を他端側A2に付勢することで、プランジャ8の底部にコネクタ3が接触したときに反発力を発生させて、コネクタ端子とプローブピン9の接触状態を保つことができる。また、ハウジング6の他端部24から浮き上がったプランジャ8を元の位置へ戻す復元力を生じさせることができる。 One end 38 contacts the lower surface 28 of the flange 4 while the other end 40 contacts the body portion 32 of the plunger 8 . The other end portion 40 contacts the body portion 32 of the plunger 8 toward the other end side A2 of the housing 6, and biases the plunger 8 toward the other end side A2. By urging the plunger 8 toward the other end A2, a repulsive force is generated when the connector 3 contacts the bottom of the plunger 8, and the contact state between the connector terminal and the probe pin 9 can be maintained. In addition, a restoring force can be generated to return the plunger 8 lifted from the other end 24 of the housing 6 to its original position.

図1~図3に示すように、同軸ケーブル10のそれぞれには測定コネクタ14が接続されている。測定コネクタ14は、同軸ケーブル10を外部の測定器(図示せず)に接続するためのコネクタである。 As shown in FIGS. 1-3, each coaxial cable 10 is connected to a measurement connector 14 . The measurement connector 14 is a connector for connecting the coaxial cable 10 to an external measuring device (not shown).

キャップ16は、同軸ケーブル10の一部をフランジ4に固定するための固定部材である。キャップ16はフランジ4の貫通孔20に配置されるとともに、図4に示すように、貫通孔20を通過する同軸ケーブル10の一部を固定することで同軸ケーブル10をフランジ4に固定する。 A cap 16 is a fixing member for fixing a portion of the coaxial cable 10 to the flange 4 . The cap 16 is placed in the through hole 20 of the flange 4 and fixes the coaxial cable 10 to the flange 4 by fixing a portion of the coaxial cable 10 passing through the through hole 20 as shown in FIG.

同軸ケーブル10の一部をフランジ4に固定することで、同軸ケーブル10が上から引っ張られる場合でも、その引っ張り力がキャップ16の下方の部材へ伝達しないようにすることができる。これにより、プランジャ8の動作が阻害されることを防止することができ、プランジャ8を安定的に動作させることができる。 By fixing a portion of the coaxial cable 10 to the flange 4 , even if the coaxial cable 10 is pulled from above, the pulling force can be prevented from being transmitted to the members below the cap 16 . Thereby, it is possible to prevent the operation of the plunger 8 from being hindered, and to operate the plunger 8 stably.

次に、プランジャ8およびハウジング6の周辺構成について、図6~図10を用いて説明する。 Next, the configuration around the plunger 8 and the housing 6 will be described with reference to FIGS. 6 to 10. FIG.

図6は、プランジャ8およびハウジング6の一部を拡大した縦断面図であり、図7、図8は、ハウジング6の縦断面を示す斜視図、平面図であり、図9、図10は、プランジャ8の斜視図である。 FIG. 6 is a longitudinal sectional view enlarging a part of the plunger 8 and the housing 6, FIGS. 7 and 8 are a perspective view and a plan view showing longitudinal sections of the housing 6, and FIGS. 3 is a perspective view of a plunger 8; FIG.

図6~図8に示すように、ハウジング6の他端部24は内方突出部50を有する。内方突出部50は、ハウジング6の他端部24が径方向内側B1に向かって突出する部分である。 The other end 24 of the housing 6 has an inward projection 50, as shown in FIGS. The inward protruding portion 50 is a portion from which the other end portion 24 of the housing 6 protrudes radially inward B1.

内方突出部50は、プランジャ8の本体部32を受けて保持する保持面52を有する。保持面52は、内方突出部50の上面であって横方向Bに延在する。保持面52は、プランジャ8の本体部32に設けられた外方突出部60(図6、図9、図10)を保持する。 The inward projection 50 has a retaining surface 52 that receives and retains the body portion 32 of the plunger 8 . The holding surface 52 is the upper surface of the inward protrusion 50 and extends in the lateral direction B. As shown in FIG. The holding surface 52 holds an outward projection 60 (FIGS. 6, 9 and 10) provided on the main body 32 of the plunger 8. As shown in FIG.

外方突出部60は、プランジャ8の本体部32においてハウジング6の内周面に向かって径方向外側B2に突出する部分である。図9、図10に示すように、外方突出部60は円筒状の外形を有する。 The outward projecting portion 60 is a portion of the body portion 32 of the plunger 8 that projects radially outward B2 toward the inner peripheral surface of the housing 6 . As shown in FIGS. 9 and 10, the outward protrusion 60 has a cylindrical outer shape.

外方突出部60は、上面62(図10)と、下面64(図9)とを有する。 Outward projection 60 has an upper surface 62 (FIG. 10) and a lower surface 64 (FIG. 9).

図6に示すように、外方突出部60の上面62は付勢部材12の他端部40に接触しており、付勢部材12の付勢力を受ける面として機能する。一方で、外方突出部60の下面64はハウジング6の保持面52に接触しており、保持面52に保持される被保持面として機能する。このように、外方突出部60は上面62および下面64においてそれぞれ異なる機能を有している。 As shown in FIG. 6 , the upper surface 62 of the outward protrusion 60 is in contact with the other end 40 of the biasing member 12 and functions as a surface that receives the biasing force of the biasing member 12 . On the other hand, the lower surface 64 of the outward protrusion 60 is in contact with the holding surface 52 of the housing 6 and functions as a surface to be held by the holding surface 52 . Thus, the outwardly projecting portion 60 has different functions on the upper surface 62 and the lower surface 64, respectively.

図7に示すように、内方突出部50における保持面52の内側には第1ガイド面54が形成される。第1ガイド面54は、保持面52の内縁部から径方向内側B1に延びた面であり、ハウジング6の他端側A2に向かって内側に窄まるように傾斜した傾斜面である。 As shown in FIG. 7 , a first guide surface 54 is formed inside the holding surface 52 of the inward projection 50 . The first guide surface 54 is a surface extending radially inward B1 from the inner edge portion of the holding surface 52 and is an inclined surface that tapers inward toward the other end side A2 of the housing 6 .

第1ガイド面54の下方には第2ガイド面56が形成される。第2ガイド面56は、第1ガイド面54の内縁部からハウジング6の他端側A2へ軸方向Aに延びる鉛直面である。 A second guide surface 56 is formed below the first guide surface 54 . The second guide surface 56 is a vertical surface extending in the axial direction A from the inner edge portion of the first guide surface 54 toward the other end side A2 of the housing 6 .

第1ガイド面54および第2ガイド面56はともに、軸方向Aから見たときに、略正方形状の輪郭を有する。正方形に限らず、その他の多角形であってもよい。 Both the first guide surface 54 and the second guide surface 56 have a substantially square contour when viewed in the axial direction A. As shown in FIG. Not limited to squares, other polygons may be used.

第1ガイド面54は、プランジャ8の本体部32に設けられた接触面66(図9、図6)に接触してプランジャ8を内側に案内する。第2ガイド面56は、第1ガイド面54に接触して内側へ案内された本体部32を所定位置に位置決めする。第1ガイド面54および第2ガイド面56によって、プランジャ8を元の位置に案内して位置決めすることができる。 The first guide surface 54 contacts a contact surface 66 (FIGS. 9 and 6) provided on the body portion 32 of the plunger 8 to guide the plunger 8 inward. The second guide surface 56 contacts the first guide surface 54 and positions the body portion 32 guided inward at a predetermined position. The first guide surface 54 and the second guide surface 56 can guide and position the plunger 8 to its original position.

図9に示す接触面66は、プランジャ8の本体部32に設けられた角部であって、ハウジング6の他端側A2に向かって内側に窄まるように傾斜した傾斜面である。 A contact surface 66 shown in FIG. 9 is a corner portion provided on the body portion 32 of the plunger 8 and is an inclined surface that tapers inwardly toward the other end side A2 of the housing 6 .

上述した構成を有するプローブ2の動作について、図11A~図11Dを用いて説明する。図11A~図11Dは、プローブ2を用いてコネクタ3の端子の特性検査を行う方法を説明するための縦断面図である。 The operation of the probe 2 having the configuration described above will be described with reference to FIGS. 11A to 11D. 11A to 11D are longitudinal sectional views for explaining a method of inspecting the characteristics of the terminals of the connector 3 using the probe 2. FIG.

図11Aに示すように、コネクタ3がプランジャ8の底部に接触する前の状態において、プランジャ8の外方突出部60の下面64(符号の図示省略)がハウジング6の保持面52に接触している。プランジャ8の本体部32はハウジング6の一端側A1へ向かって移動可能な状態で保持されている。本体部32はさらに、前述した第2ガイド面56によって囲まれる領域内に位置決めされている。 As shown in FIG. 11A , before the connector 3 contacts the bottom of the plunger 8 , the lower surface 64 (not shown) of the outward projection 60 of the plunger 8 contacts the holding surface 52 of the housing 6 . there is A body portion 32 of the plunger 8 is held so as to be movable toward one end A1 of the housing 6 . The body portion 32 is further positioned within the area surrounded by the second guide surface 56 described above.

外方突出部60の上面62に接触している付勢部材12は圧縮状態にあり、本体部32をハウジング6の他端側A2へ向けて常時付勢する(付勢力F1)。 The biasing member 12 in contact with the upper surface 62 of the outward projecting portion 60 is in a compressed state, and constantly biases the body portion 32 toward the other end side A2 of the housing 6 (biasing force F1).

この状態で、コネクタ3をプランジャ8の底部に近付ける(矢印C1)。コネクタ3はプランジャ8の底部に設けられたガイド面36との接触を開始する。 In this state, the connector 3 is brought closer to the bottom of the plunger 8 (arrow C1). The connector 3 begins to make contact with the guide surface 36 provided on the bottom of the plunger 8 .

ガイド面36は内側に窄まるように傾斜したテーパ形状を有するため、コネクタ3はガイド面36によって内側に向かって案内される。図11Bに示すように、コネクタ3は、コネクタ端子がプローブピン9の先端に当接した状態で位置決めされる。コネクタ端子とプローブピン9が導通することにより、同軸ケーブル10を介してコネクタ端子の特性検査が実行可能となる。 Since the guide surface 36 has an inwardly tapered shape, the connector 3 is guided inward by the guide surface 36 . As shown in FIG. 11B, the connector 3 is positioned with the connector terminal in contact with the tip of the probe pin 9 . The electrical connection between the connector terminal and the probe pin 9 makes it possible to inspect the characteristics of the connector terminal through the coaxial cable 10 .

コネクタ3との接触によってプローブピン9およびプランジャ8に対して上方への外力F2が作用する。外力F2が付勢力F1よりも大きくなると、本体部32に接触している付勢部材12が軸方向Aに圧縮される。付勢部材12の圧縮に伴ってプランジャ8およびプローブピン9などの部材がハウジング6の他端部24に対して一体的に上昇する(矢印D1)。 An upward external force F2 acts on the probe pin 9 and the plunger 8 due to the contact with the connector 3 . When the external force F2 becomes larger than the biasing force F1, the biasing member 12 in contact with the body portion 32 is compressed in the axial direction A. As the biasing member 12 is compressed, members such as the plunger 8 and the probe pin 9 rise integrally with respect to the other end portion 24 of the housing 6 (arrow D1).

プランジャ8の上昇によってプランジャ8の本体部32とハウジング6の他端部24との嵌合が解除される。これにより、プランジャ8およびプローブピン9は横方向Bに移動可能、且つ軸方向Aを中心とする周方向Rに回転可能となる。コネクタ3の姿勢に追従するようにプランジャ8およびプローブピン9の姿勢が変更可能となる。 As the plunger 8 rises, the engagement between the body portion 32 of the plunger 8 and the other end portion 24 of the housing 6 is released. As a result, the plunger 8 and the probe pin 9 are movable in the lateral direction B and rotatable in the circumferential direction R about the axial direction A. The attitudes of the plunger 8 and the probe pin 9 can be changed so as to follow the attitude of the connector 3 .

コネクタ3との接触によってプランジャ8が浮き上がっても、同軸ケーブル10は軟質であるため、同軸ケーブル10の形状が容易に変化してプローブピン9との接続状態が保たれる。 Even if the plunger 8 floats due to contact with the connector 3, the shape of the coaxial cable 10 is easily changed because the coaxial cable 10 is flexible, and the connection state with the probe pin 9 is maintained.

コネクタ端子の特性検査が完了すると、図11Cに示すように、コネクタ3がプランジャ8の底部から離される(矢印C2)。これにより上方への外力F2がなくなり付勢部材12の付勢力F1が残るため、プランジャ8およびプローブピン9などの部材がハウジング6の他端側A2に向かって一体的に下降する(矢印D2)。 When the connector terminal characteristic inspection is completed, the connector 3 is separated from the bottom of the plunger 8 (arrow C2), as shown in FIG. 11C. As a result, the upward external force F2 disappears and the biasing force F1 of the biasing member 12 remains, so that the members such as the plunger 8 and the probe pin 9 integrally descend toward the other end side A2 of the housing 6 (arrow D2). .

プランジャ8が横方向Bに移動していた場合、プランジャ8の本体部32は接触面66を内方突出部50の第1ガイド面54に接触させる。第1ガイド面54はハウジング6の他端側A2に向かって内側に窄まるように傾斜しているため、プランジャ8の本体部32は中心側に向かって案内される(矢印E)。前述したように第1ガイド面54と接触面66の両方が同方向に傾斜した傾斜面であるため、プランジャ8が横方向Bに位置ずれする場合でも第1ガイド面54と接触面66が接触可能な水平方向の許容範囲が広くなっており、両面をより確実に接触させることができる。 When the plunger 8 is moving in the lateral direction B, the body portion 32 of the plunger 8 brings the contact surface 66 into contact with the first guide surface 54 of the inward projection 50 . Since the first guide surface 54 is inclined so as to narrow inward toward the other end A2 of the housing 6, the body portion 32 of the plunger 8 is guided toward the center (arrow E). As described above, since both the first guide surface 54 and the contact surface 66 are inclined surfaces inclined in the same direction, the first guide surface 54 and the contact surface 66 are in contact even when the plunger 8 is displaced in the lateral direction B. The wider possible horizontal tolerance allows for more reliable contact between the two sides.

第1ガイド面54によって中心側に案内されたプランジャ8の本体部32は、図11Dに示すようにハウジング6の第2ガイド面56によって囲まれる領域内に配置され、位置決めされる。 The body portion 32 of the plunger 8 guided toward the center by the first guide surface 54 is arranged and positioned within the area surrounded by the second guide surface 56 of the housing 6 as shown in FIG. 11D.

図11Dに示す状態では、外方突出部60の下面64(符号の図示省略)が内方突出部50の保持面52に接触して、プランジャ8はハウジング6の一端側A1に移動可能な状態で保持される。すなわち、図11Aに示す状態に戻る。このように、コネクタ3の特性検査を1回終えるごとにプランジャ8を元の位置に戻すことができ、コネクタ3の特性検査を繰り返し実行することができる。 In the state shown in FIG. 11D , the lower surface 64 (not shown) of the outwardly projecting portion 60 is in contact with the holding surface 52 of the inwardly projecting portion 50 , and the plunger 8 is movable toward the one end side A1 of the housing 6 . is held in That is, it returns to the state shown in FIG. 11A. In this manner, the plunger 8 can be returned to its original position each time the characteristic inspection of the connector 3 is completed, and the characteristic inspection of the connector 3 can be repeatedly performed.

上述した動作を行うプローブ2によれば、図11A、図11Dに示すコネクタ3との接触前の状態において、プランジャ8は保持面52によりハウジング6の一端側A1に移動可能な状態で保持されている。プランジャ8の底部にコネクタ3が接触して上方への外力F2が生じると、付勢部材12が圧縮されるとともに、プランジャ8がハウジング6に対して浮き上がり、プランジャ8の姿勢が変更可能となる。コネクタ3の姿勢に応じてプランジャ8およびプローブピン9の姿勢を追従させることができ、プローブピン9とコネクタ端子を精度良く接触させて、コネクタ端子の特性検査の精度を向上させることができる。 According to the probe 2 that operates as described above, the plunger 8 is movably held on the one end side A1 of the housing 6 by the holding surface 52 before contact with the connector 3 shown in FIGS. 11A and 11D. there is When the connector 3 contacts the bottom of the plunger 8 and an upward external force F2 is generated, the biasing member 12 is compressed and the plunger 8 is lifted from the housing 6 so that the posture of the plunger 8 can be changed. The postures of the plunger 8 and the probe pin 9 can be made to follow the posture of the connector 3, and the probe pin 9 and the connector terminal can be brought into contact with each other with high accuracy, thereby improving the accuracy of the characteristic inspection of the connector terminal.

またコネクタ3との接触時に動作する動作部分は主に、プランジャ8とプローブピン9であり、ハウジング6はフランジ4の下面28に取り付けられているため、ハウジング6はプランジャ8とともに動作しない。ハウジング6がプランジャ8とともに動作する構成と比較して、動作部分が小さく軽量化されているため、コネクタ3への追従性を向上させることができる。 Also, the moving parts that move when contacting the connector 3 are mainly the plunger 8 and the probe pin 9 , and the housing 6 is attached to the lower surface 28 of the flange 4 , so the housing 6 does not move together with the plunger 8 . Compared to the structure in which the housing 6 moves together with the plunger 8, the moving parts are smaller and lighter, so the ability to follow the connector 3 can be improved.

動作部分が軽量化されることで、付勢部材12に必要な付勢力F1も小さくできるため、付勢部材12の小型化を図ることができる。特に実施の形態1では付勢部材12をハウジング6の収容空間21に配置しているため、ハウジング6の外側にコイルバネを巻回する構成と比較して付勢部材12の小型化を実現しやすい。これにより、付勢部材12に必要な機能を確保しながら付勢部材12を小型化することが可能である。 By reducing the weight of the operating portion, the biasing force F1 required for the biasing member 12 can be reduced, so that the size of the biasing member 12 can be reduced. In particular, since the biasing member 12 is arranged in the housing space 21 of the housing 6 in the first embodiment, it is easier to reduce the size of the biasing member 12 compared to a structure in which a coil spring is wound around the outside of the housing 6. . Thereby, it is possible to reduce the size of the biasing member 12 while ensuring the necessary functions of the biasing member 12 .

またプランジャ8の外方突出部60において、上面62を付勢部材12の他端部40に接触させながら下面64をハウジング6の保持面52に接触させることで、外方突出部60に異なる2つの機能を持たせている。外方突出部60はプランジャ8において横方向Bに広がった面積の広い部分であるため、面積の広い外方突出部60を保持面52に保持される被保持面とすることで、コネクタ3との接触によってプランジャ8の保持位置が変化する場合でもプランジャ8の角度ずれの影響を小さくすることができる。 Further, in the outwardly protruding portion 60 of the plunger 8, by bringing the lower surface 64 into contact with the holding surface 52 of the housing 6 while the upper surface 62 is in contact with the other end portion 40 of the urging member 12, the outwardly protruding portion 60 has two different shapes. It has one function. Since the outwardly projecting portion 60 is a portion of the plunger 8 that spreads in the horizontal direction B and has a large area, by using the outwardly projecting portion 60 with a large area as a surface to be held by the holding surface 52, the connector 3 and the Even if the holding position of the plunger 8 changes due to the contact of , the influence of the angular displacement of the plunger 8 can be reduced.

上述したように、実施の形態1のプローブ2は、コネクタ3の特性検査を行うためのプローブであって、貫通孔20を有するフランジ4と、ハウジング6と、プランジャ8と、同軸ケーブル10と、を備える。ハウジング6は、軸方向Aに貫通する収容空間21を形成する部材であり、フランジ4の貫通孔20に対して収容空間21を連通させた状態でフランジ4の下面28に一端部22が取り付けられる。また、ハウジング6の他端部24は内側に突出した内方突出部50を有する。プランジャ8は、ハウジング6の収容空間21に収容される本体部32と、本体部32からハウジング6の他端側A2に延びて収容空間21の外側に突出する突出部34とを有し、突出部34の底部からはプローブピン9が突出する。同軸ケーブル10は、フランジ4の貫通孔20およびハウジング6の収容空間21に配置され、プローブピン9に電気的に接続される。当該構成において、ハウジング6の内方突出部50は、プランジャ8の本体部32をハウジング6の一端側A1に移動可能な状態で受けて保持する保持面52を有する。 As described above, the probe 2 of Embodiment 1 is a probe for inspecting the characteristics of the connector 3, and includes a flange 4 having a through hole 20, a housing 6, a plunger 8, a coaxial cable 10, Prepare. The housing 6 is a member that forms an accommodation space 21 penetrating in the axial direction A, and one end portion 22 is attached to a lower surface 28 of the flange 4 in a state in which the accommodation space 21 communicates with the through hole 20 of the flange 4 . . Also, the other end 24 of the housing 6 has an inward projection 50 projecting inward. The plunger 8 has a body portion 32 that is housed in the housing space 21 of the housing 6, and a projecting portion 34 that extends from the body portion 32 to the other end side A2 of the housing 6 and projects outside the housing space 21. A probe pin 9 protrudes from the bottom of the portion 34 . The coaxial cable 10 is arranged in the through hole 20 of the flange 4 and the accommodation space 21 of the housing 6 and electrically connected to the probe pin 9 . In this configuration, the inward projecting portion 50 of the housing 6 has a holding surface 52 that receives and holds the main body portion 32 of the plunger 8 on the one end side A1 of the housing 6 in a movable manner.

このような構成によれば、プランジャ8がハウジング6の一端側A1に移動可能な状態で保持面52に保持されることで、コネクタ3がプランジャ8の底部に接触したときにプローブピン9とともにプランジャ8が浮き上がり、プランジャ8の姿勢が変更可能となる。コネクタ3の姿勢に応じてプランジャ8およびプローブピン9の姿勢を追従させることができ、コネクタ端子とプローブピン9を精度良く接触させて特性検査の精度を向上させることができる。またハウジング6はフランジ4の下面28に取り付けられているため、コネクタ3がプランジャ8の底部に接触したときにハウジング6はプランジャ8とともに動作しない。ハウジング6もプランジャ8と一体的に動作する構成の場合に比べてコネクタ接触時の動作部分が小さく、軽量化されているため、コネクタ3への追従性を向上させることができる。 According to such a configuration, the plunger 8 is held on the holding surface 52 in a movable state toward the one end A1 of the housing 6, so that when the connector 3 contacts the bottom of the plunger 8, the probe pin 9 and the plunger are pushed together. 8 is lifted up, and the posture of the plunger 8 can be changed. The postures of the plunger 8 and the probe pins 9 can be followed according to the posture of the connector 3, and the connector terminals and the probe pins 9 can be accurately brought into contact with each other to improve the precision of the characteristic inspection. Also, since the housing 6 is attached to the lower surface 28 of the flange 4 , the housing 6 does not move with the plunger 8 when the connector 3 contacts the bottom of the plunger 8 . Since the housing 6 also has a smaller moving portion and is lighter in weight than in the case where the housing 6 is configured to move integrally with the plunger 8, it is possible to improve followability to the connector 3.

さらに、実施の形態1のプローブ2は、付勢部材12をさらに備える。付勢部材12は、ハウジング6の収容空間21に配置され、一端部38がフランジ4の下面28に接し、プランジャ8の本体部32をハウジング6の他端側A2に向けて付勢する。このような構成によれば、付勢部材12をハウジング6の収容空間21に配置することで、ハウジング6の外側に配置する場合に比べてプローブ2の小型化が図りやすい。また、コネクタ接触時の動作部分が軽量化されており、付勢部材12に必要とされる付勢力F1も小さく済むため、付勢部材12の機能を確保しながら付勢部材12の小型化を実現することが可能である。 Furthermore, the probe 2 of Embodiment 1 further includes a biasing member 12 . The biasing member 12 is arranged in the accommodation space 21 of the housing 6 , one end 38 contacts the lower surface 28 of the flange 4 , and biases the main body 32 of the plunger 8 toward the other end A2 of the housing 6 . According to such a configuration, by arranging the biasing member 12 in the accommodation space 21 of the housing 6 , the probe 2 can be made more compact than when it is arranged outside the housing 6 . In addition, since the portion that operates when the connector is in contact is lightened, and the biasing force F1 required for the biasing member 12 can be reduced, it is possible to reduce the size of the biasing member 12 while ensuring the function of the biasing member 12. It is possible.

さらに、実施の形態1のプローブ2では、プランジャ8の本体部32は、ハウジング6の内周面に向かって外側に突出した外方突出部60を備える。外方突出部60は、上面62および下面64を有し、上面62は付勢部材12に接触し、下面64はハウジング6の保持面52に接触する。このような構成によれば、外方突出部60の上面62を付勢部材12の付勢力F1を受ける面としながら、下面64を保持面52に保持される被保持面とすることで、外方突出部60に異なる2つの機能を持たせることができる。また、外方突出部60は本体部32で面積が広くなった部分であるため、このような面積の広い外方突出部60を被保持面とすることで、プランジャ8がコネクタ3との接触を繰り返してプランジャ8の保持位置が変化する場合でも、プランジャ8の角度ずれの影響を小さくすることができる。 Furthermore, in the probe 2 of Embodiment 1, the main body portion 32 of the plunger 8 has an outward projection portion 60 that projects outward toward the inner peripheral surface of the housing 6 . Outward projection 60 has an upper surface 62 and a lower surface 64 , with upper surface 62 contacting biasing member 12 and lower surface 64 contacting retaining surface 52 of housing 6 . According to such a configuration, the upper surface 62 of the outward protrusion 60 is used as a surface for receiving the biasing force F1 of the biasing member 12, and the lower surface 64 is used as a surface to be retained by the retaining surface 52. The side protrusion 60 can have two different functions. Further, since the outwardly projecting portion 60 is a portion of the main body portion 32 with a large area, by using such an outwardly projecting portion 60 with such a large area as a surface to be held, the plunger 8 can be brought into contact with the connector 3. is repeated to change the holding position of the plunger 8, the influence of the angular displacement of the plunger 8 can be reduced.

さらに、実施の形態1のプローブ2では、ハウジング6の内方突出部50は、保持面52の内側からハウジング6の他端側A2に向かって内側に窄まるように傾斜した第1傾斜面としての第1ガイド面54を有する。プランジャ8の本体部32は、第1ガイド面54に接触する角部としての接触面66を有する。このような構成によれば、接触面66が第1ガイド面54に接触するとプランジャ8の本体部32が内側に案内され、プランジャ8を元の位置に案内することができる。 Furthermore, in the probe 2 of Embodiment 1, the inward projecting portion 50 of the housing 6 serves as a first inclined surface that is inclined so as to narrow inwardly from the inside of the holding surface 52 toward the other end side A2 of the housing 6. has a first guide surface 54 of . The body portion 32 of the plunger 8 has a contact surface 66 as a corner portion that contacts the first guide surface 54 . According to such a configuration, when the contact surface 66 comes into contact with the first guide surface 54, the body portion 32 of the plunger 8 is guided inward, and the plunger 8 can be guided to its original position.

さらに、実施の形態1のプローブ2では、プランジャ8の本体部32が有する接触面66は、ハウジング6の他端側A2に向かって内側に窄まるように傾斜した第2傾斜面である。このような構成によれば、本体部32の接触面66が内方突出部50の角部である第1ガイド面54に接触するとプランジャ8が内側に案内され、プランジャ8を元の位置に案内することができる。また、本体部32の接触面66と内方突出部50の第1ガイド面54を同方向に傾斜した傾斜面とすることで、本体部32が横方向Bに位置ずれする場合でも2つの角部同士が接触可能な水平方向の許容範囲を広くとることができる。 Furthermore, in the probe 2 of Embodiment 1, the contact surface 66 of the main body portion 32 of the plunger 8 is a second inclined surface that is tapered inward toward the other end side A2 of the housing 6 . According to such a configuration, when the contact surface 66 of the main body portion 32 contacts the first guide surface 54, which is the corner portion of the inward projection portion 50, the plunger 8 is guided inward and guided to the original position. can do. In addition, by forming the contact surface 66 of the main body portion 32 and the first guide surface 54 of the inwardly projecting portion 50 as inclined surfaces that are inclined in the same direction, even if the main body portion 32 is displaced in the lateral direction B, the two corners can be aligned. It is possible to widen the allowable horizontal range in which the parts can contact each other.

さらに、実施の形態1のプローブ2では、フランジ4の下面28は凹部30を有し、凹部30にはハウジング6の一端部22と付勢部材12の一端部38が配置される。このような構成によれば、ハウジング6の一端部22と付勢部材12の一端部38を同じ凹部30に配置することができる。 Furthermore, in the probe 2 of Embodiment 1, the lower surface 28 of the flange 4 has a recess 30 in which the one end 22 of the housing 6 and the one end 38 of the biasing member 12 are arranged. With such a configuration, the one end 22 of the housing 6 and the one end 38 of the biasing member 12 can be arranged in the same recess 30 .

さらに、実施の形態1のプローブ2は、キャップ16をさらに備える。キャップ16は、フランジ4の貫通孔20に配置され、貫通孔20を通過する同軸ケーブル10をフランジ4に固定する固定部材である。このような構成によれば、同軸ケーブル10が上から引っ張られる場合でも、その引っ張り力がキャップ16の下側の部材へ伝達しないようにすることができ、プランジャ8の動作に影響を与えないようにしてプランジャ8を安定的に動作させることができる。 Furthermore, the probe 2 of Embodiment 1 further includes a cap 16 . The cap 16 is a fixing member that is arranged in the through hole 20 of the flange 4 and fixes the coaxial cable 10 passing through the through hole 20 to the flange 4 . With such a configuration, even if the coaxial cable 10 is pulled from above, the pulling force can be prevented from being transmitted to the member below the cap 16, so that the operation of the plunger 8 is not affected. , the plunger 8 can be operated stably.

さらに、実施の形態1のプローブ2では、プローブピン9に接続される伝送線路として、同軸ケーブル10の伝送線路を用いている。このような構成によれば、簡易な構成で伝送線路を実現することができる。 Furthermore, in the probe 2 of Embodiment 1, the transmission line of the coaxial cable 10 is used as the transmission line connected to the probe pin 9 . With such a configuration, a transmission line can be realized with a simple configuration.

(実施の形態2)
本発明に係る実施の形態2のプローブ100について、図12を用いて説明する。なお、実施の形態2では、主に実施の形態1と異なる点について説明する。また、同一又は同等の構成については同じ符号を付して説明を省略する。
(Embodiment 2)
A probe 100 according to Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to FIG. Note that in the second embodiment, differences from the first embodiment will be mainly described. Also, the same or equivalent configurations are denoted by the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

実施の形態2のプローブ100は、同軸ケーブル10に代えて、フレキシブル基板102を用いる点が、実施の形態1のプローブ2と異なる。 The probe 100 of the second embodiment differs from the probe 2 of the first embodiment in that a flexible substrate 102 is used instead of the coaxial cable 10 .

図12は、実施の形態2のプローブ100を拡大して示す縦断面図である。図12に示すように、実施の形態2のプローブ100はフレキシブル基板102を備える。フレキシブル基板102はその内部に伝送線路を有し、伝送線路はプローブピン9に電気的に接続されている。フレキシブル基板102は、伝送線路としての信号導体と、グランド導体(図示せず)とを有する。 FIG. 12 is a longitudinal sectional view showing an enlarged probe 100 according to the second embodiment. As shown in FIG. 12, the probe 100 of the second embodiment has a flexible substrate 102. As shown in FIG. The flexible substrate 102 has a transmission line inside, and the transmission line is electrically connected to the probe pin 9 . The flexible substrate 102 has a signal conductor as a transmission line and a ground conductor (not shown).

同軸ケーブル10の場合は本数が増えるとそれに比例してケーブルの影響が大きくなるが、フレキシブル基板102を用いることで信号ラインを集約して集積化することができる。 In the case of the coaxial cable 10, as the number of cables increases, the effect of the cable increases proportionally.

実施の形態2のプローブ100によれば、プローブピン9に接続される伝送線路として、フレキシブル基板102の伝送線路を用いている。このような構成によれば、同軸ケーブル10以外の形態で伝送線路を実現することができるとともに、同軸ケーブル10と比較して設計の自由度を向上させることができる。 According to the probe 100 of Embodiment 2, the transmission line of the flexible substrate 102 is used as the transmission line connected to the probe pin 9 . According to such a configuration, it is possible to realize a transmission line in a form other than the coaxial cable 10 and to improve the degree of freedom in design compared to the coaxial cable 10 .

以上、上述の実施の形態1、2を挙げて本発明を説明したが、本発明は上述の実施の形態1、2に限定されない。例えば、上記実施の形態1では、プローブピン9および同軸ケーブル10を2つずつ設ける場合について説明したが、このような場合に限らない。プローブピン9および同軸ケーブル10の数は特性検査が望まれるコネクタ3の端子の数等に応じて変更してもよく、例えば3個以上としてもよい。 Although the present invention has been described above with reference to the first and second embodiments, the present invention is not limited to the first and second embodiments. For example, in Embodiment 1, the case where two probe pins 9 and two coaxial cables 10 are provided has been described, but the present invention is not limited to such a case. The number of probe pins 9 and coaxial cables 10 may be changed according to the number of terminals of the connector 3 whose characteristics are desired to be inspected, and may be three or more, for example.

また上記実施の形態1、2では、第1ガイド面54および接触面66をともに同方向に傾斜した傾斜面とする場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、第1ガイド面54および接触面66のうちの一方を、鉛直面と水平面を接続して構成される角部に変更してもよい。 Further, in the first and second embodiments, the case where both the first guide surface 54 and the contact surface 66 are inclined in the same direction has been described, but the present invention is not limited to such a case. For example, one of the first guide surface 54 and the contact surface 66 may be changed to a corner formed by connecting a vertical surface and a horizontal surface.

本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。また、各実施の形態における要素の組合せや順序の変化は、本開示の範囲及び思想を逸脱することなく実現し得るものである。 Although the present disclosure has been fully described in connection with preferred embodiments and with reference to the accompanying drawings, various variations and modifications will become apparent to those skilled in the art. Such variations and modifications are to be included therein insofar as they do not depart from the scope of the present disclosure by the appended claims. Also, combinations and order changes of elements in each embodiment can be implemented without departing from the scope and spirit of the present disclosure.

なお、上記様々な実施の形態1、2および変形例のうちの任意の実施の形態あるいは変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。 It should be noted that by appropriately combining any of the above various first and second embodiments and modifications, the respective effects can be obtained.

本発明は、コネクタの特性検査を行うプローブであれば適用可能である。 The present invention can be applied to any probe for inspecting characteristics of connectors.

2 プローブ
3 コネクタ
4 フランジ
6 ハウジング
8 プランジャ
9 プローブピン
10 同軸ケーブル
12 付勢部材
14 測定コネクタ
16 キャップ(固定部材)
20 貫通孔
21 収容空間
22 一端部
24 他端部
28 下面
30 凹部
32 本体部
34 突出部
36 ガイド面
38 一端部
40 他端部
50 内方突出部
52 保持面
54 第1ガイド面(第1傾斜面、角部)
56 第2ガイド面
60 外方突出部
62 上面
64 下面
66 接触面(第2傾斜面、角部)
A 軸方向
A1 一端側
A2 他端側
B 横方向
B1 径方向内側
B2 径方向外側
F1 付勢力
F2 外力
R 周方向
2 probe 3 connector 4 flange 6 housing 8 plunger 9 probe pin 10 coaxial cable 12 biasing member 14 measurement connector 16 cap (fixing member)
20 through hole 21 housing space 22 one end 24 other end 28 lower surface 30 recess 32 main body 34 protrusion 36 guide surface 38 one end 40 other end 50 inward protrusion 52 holding surface 54 first guide surface (first inclined face, corner)
56 Second guide surface 60 Outward protrusion 62 Upper surface 64 Lower surface 66 Contact surface (second inclined surface, corner)
A Axial direction A1 One end side A2 Other end side B Lateral direction B1 Radial direction inner side B2 Radial direction outer side F1 Biasing force F2 External force R Circumferential direction

Claims (8)

コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、
貫通孔を有するフランジと、
軸方向に貫通する収容空間を形成し、前記フランジの前記貫通孔に対して前記収容空間を連通させた状態で前記フランジの下面に一端部が取り付けられ、他端部が内側に突出した内方突出部を有するハウジングと、
前記ハウジングの前記収容空間に収容される本体部と、前記本体部から前記ハウジングの他端側に延びて前記収容空間の外側に突出する突出部とを有し、前記突出部の底部からプローブピンを突出させたプランジャと、
前記フランジの前記貫通孔および前記ハウジングの前記収容空間に配置され、前記プローブピンに電気的に接続される伝送線路と、を備え、
前記ハウジングの前記内方突出部は、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの一端側に移動可能な状態で受けて保持する保持面を有し、
前記ハウジングの前記収容空間に配置され、一端部が前記フランジの前記下面に接し、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの他端側に向けて付勢する付勢部材をさらに備える、プローブ。
A probe for inspecting characteristics of a connector,
a flange having a through hole;
An accommodating space is formed that penetrates in the axial direction, one end is attached to the lower surface of the flange in a state in which the accommodating space communicates with the through hole of the flange, and the other end protrudes inward. a housing having a protrusion;
A main body portion accommodated in the accommodation space of the housing, and a protrusion extending from the main body portion to the other end side of the housing and protruding outside the accommodation space. and a plunger projecting
a transmission line disposed in the through hole of the flange and the housing space of the housing and electrically connected to the probe pin;
the inward projecting portion of the housing has a holding surface that receives and holds the body portion of the plunger in a movably movable state toward one end of the housing;
The probe, further comprising a biasing member arranged in the accommodation space of the housing, having one end in contact with the lower surface of the flange, and biasing the main body of the plunger toward the other end of the housing.
コネクタの特性検査を行うためのプローブであって、A probe for inspecting characteristics of a connector,
貫通孔を有するフランジと、a flange having a through hole;
軸方向に貫通する収容空間を形成し、前記フランジの前記貫通孔に対して前記収容空間を連通させた状態で前記フランジの下面に一端部が取り付けられ、他端部が内側に突出した内方突出部を有するハウジングと、An accommodating space is formed that penetrates in the axial direction, one end is attached to the lower surface of the flange in a state in which the accommodating space communicates with the through hole of the flange, and the other end protrudes inward. a housing having a protrusion;
前記ハウジングの前記収容空間に収容される本体部と、前記本体部から前記ハウジングの他端側に延びて前記収容空間の外側に突出する突出部とを有し、前記突出部の底部からプローブピンを突出させたプランジャと、A main body portion accommodated in the accommodation space of the housing, and a protrusion extending from the main body portion to the other end side of the housing and protruding outside the accommodation space. a plunger projecting from
前記フランジの前記貫通孔および前記ハウジングの前記収容空間に配置され、前記プローブピンに電気的に接続される伝送線路と、を備え、a transmission line disposed in the through hole of the flange and the housing space of the housing and electrically connected to the probe pin;
前記ハウジングの前記内方突出部は、前記プランジャの前記本体部を前記ハウジングの一端側に移動可能な状態で受けて保持する保持面を有し、the inward projecting portion of the housing has a holding surface that receives and holds the body portion of the plunger in a movably movable state toward one end of the housing;
前記フランジの前記貫通孔に配置され、前記貫通孔を通過する前記伝送線路を前記フランジに固定する固定部材をさらに備える、プローブ。The probe further comprises a fixing member arranged in the through hole of the flange and fixing the transmission line passing through the through hole to the flange.
前記プランジャの前記本体部は、前記ハウジングの内周面に向かって外側に突出した外方突出部を備え、
前記外方突出部は、上面および下面を有し、前記上面は前記付勢部材に接触し、前記下面は前記ハウジングの前記保持面に接触する、請求項1又は2に記載のプローブ。
the main body portion of the plunger includes an outwardly protruding portion that protrudes outward toward the inner peripheral surface of the housing;
3. The probe of claim 1 or 2, wherein the outwardly projecting portion has an upper surface and a lower surface, the upper surface contacting the biasing member and the lower surface contacting the retaining surface of the housing.
前記フランジの前記下面は、前記ハウジングの前記一端部と前記付勢部材の一端部とを配置する凹部を有する、請求項1から3のいずれか1つに記載のプローブ。 4. A probe according to any one of claims 1 to 3 , wherein the lower surface of the flange has a recess that locates the one end of the housing and one end of the biasing member. 前記ハウジングの前記内方突出部は、前記保持面の内側から前記ハウジングの他端側に向かって内側に窄まるように傾斜した第1傾斜面を有し、
前記プランジャの前記本体部は、前記第1傾斜面に接触する角部を有する、請求項1から4のいずれか1つに記載のプローブ。
the inward projecting portion of the housing has a first inclined surface that is inclined so as to narrow inwardly from the inside of the holding surface toward the other end side of the housing;
The probe according to any one of claims 1 to 4, wherein the main body portion of the plunger has a corner portion that contacts the first inclined surface.
前記プランジャの前記本体部は、前記ハウジングの前記内方突出部の角部に接触する接触面を有し、前記接触面は、前記ハウジングの他端側に向かって内側に窄まるように傾斜した第2傾斜面である、請求項1から5のいずれか1つに記載のプローブ。 The main body portion of the plunger has a contact surface that contacts a corner portion of the inwardly projecting portion of the housing, and the contact surface is inclined so as to narrow inward toward the other end of the housing. 6. A probe according to any one of claims 1 to 5, which is a second inclined surface. 前記伝送線路は、同軸ケーブルの伝送線路である、請求項1からのいずれか1つに記載のプローブ。 7. The probe of any one of claims 1 to 6 , wherein the transmission line is a coaxial cable transmission line. 前記伝送線路は、フレキシブル基板の伝送線路である、請求項1からのいずれか1つに記載のプローブ。 7. The probe of any one of claims 1 to 6 , wherein the transmission line is a flexible substrate transmission line.
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