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JP7363538B2 - Film pinhole inspection method, film manufacturing method, and film pinhole inspection device - Google Patents
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Description

本発明は、フィルム、特に電気絶縁性フィルムのピンホール(微細な貫通孔)の有無を検査するフィルムのピンホール検査方法、その検査方法を含むフィルム製造方法、及びそのフィルムのピンホール検査装置に関する。 The present invention relates to a film pinhole inspection method for inspecting the presence or absence of pinholes (fine through holes) in a film, particularly an electrically insulating film, a film manufacturing method including the inspection method, and a pinhole inspection device for the film. .

電気絶縁性フィルムは、品質管理のため製造過程でピンホールの有無が検査される。ピンホールとはフィルムの表裏面を貫通する微細孔であり、ピンホールが形成されたフィルムが電極間に配置され電圧が印加されると、その電極間が短絡してしまい電源が破損する可能性がある。そのため、フィルム製造ラインではピンホールが形成されたフィルムが最終製品として出荷されないようにピンホール検査が出荷前に行われる。
例えば、同一の製造ラインで生成されるフィルムが複数の巻回体(ロール)となるようにそれぞれ巻回され、その1つのロールが標本(サンプル)に選択される。そして、この標本でピンホールが検出され場合、この同一の製造ラインで製造された複数のフィルム全部が出荷から除外又は洗浄されたり製造し直されたりする。
Electrical insulating films are inspected for pinholes during the manufacturing process for quality control. A pinhole is a microscopic hole that penetrates the front and back surfaces of a film. If a film with a pinhole formed is placed between electrodes and a voltage is applied, there is a possibility that a short circuit will occur between the electrodes and damage the power supply. There is. Therefore, in film production lines, pinhole inspection is performed before shipment to prevent films with pinholes from being shipped as final products.
For example, films produced on the same production line are wound into a plurality of rolls, and one of the rolls is selected as a sample. If a pinhole is detected in this sample, all of the films produced on the same production line are removed from shipment, cleaned, or remanufactured.

フィルムのピンホール検査の従来技術として、搬送されるシートを挟んで対向配置される一対の電極間に高電圧を印加し、フィルムのピンホールに起因する放電電流を発光ダイオードにより光信号に変換するものが知られている(例えば特許文献1参照)。変換された光信号はフォトダイオードで受信・検出され電流信号に変換され、この電流信号が検出されることでピンホールの有無が判定される。また、他の従来技術として、搬送されるシートを挟んで平行に一対の電極板が配置され、この電極間に直流高電圧が印加され、この印加の際に発生する放電電流が検出されることでピンホールの有無が判定されるものも知られている(例えば特許文献2参照)。 Conventional technology for inspecting pinholes in film involves applying a high voltage between a pair of electrodes placed opposite each other with the sheet being conveyed in between, and converting the discharge current caused by the pinholes in the film into an optical signal using a light emitting diode. Some are known (for example, see Patent Document 1). The converted optical signal is received and detected by a photodiode and converted into a current signal, and the presence or absence of a pinhole is determined by detecting this current signal. In addition, as another conventional technique, a pair of electrode plates are arranged in parallel with the sheet being conveyed in between, a high DC voltage is applied between these electrodes, and the discharge current generated when this application is applied is detected. There is also known a method in which the presence or absence of a pinhole is determined by (for example, see Patent Document 2).

特開2000-111531号公報Japanese Patent Application Publication No. 2000-111531 特開2002-90346号公報Japanese Patent Application Publication No. 2002-90346

このように、上記特許文献1、2のいずれもフィルムに電圧を印加する際、その検査位置での絶縁破壊電圧が小さくなることを利用してピンホールを検出している。そして、この印加電圧や絶縁破壊電圧に関し、正常部分(ピンホールのない部分)の検出電圧とピンホール発生部分の検出電圧とのギャップ(差)、いわゆるウインドウが広いほど検出精度が高くなり、ピンホールの誤検出や見逃しを防止することが可能となる。 In this way, in both of Patent Documents 1 and 2, pinholes are detected by utilizing the fact that when a voltage is applied to the film, the dielectric breakdown voltage becomes small at the inspection position. Regarding this applied voltage and dielectric breakdown voltage, the wider the gap (difference) between the detection voltage of the normal part (the part without pinholes) and the detection voltage of the pinhole occurrence part, the wider the so-called window, the higher the detection accuracy. This makes it possible to prevent erroneous detection and oversight of holes.

しかしながら、電気自動車やスマートフォンなどにおいて電子機器の高集積化・高密度化などに伴い電気絶縁性フィルムの薄膜化が顕著となっており、電気絶縁性フィルムが薄膜化した場合、正常部分の検出電圧が低下しウインドウが縮小する傾向がある。換言すると、フィルムの薄膜化により、ピンホールが形成された箇所と形成されていな箇所との間において絶縁破壊電圧の差が小さくなる。その結果、検査精度が悪化する可能性がある。また、ロールの製作精度などに起因してそれぞれの検出電圧も検査部位によって変動し、場合によっては、正常部分の検出電圧がピンホール発生部分の検出電圧を下回り、誤検出(正常部分をピンホール部分と誤検知すること)が発生する可能性がある。上記特許文献1、2の検査方法ではフィルムの薄膜化に十分に対応できず、改善の余地があった。 However, with the increasing integration and density of electronic devices such as electric cars and smartphones, the thickness of electrically insulating films has become noticeably thinner. There is a tendency for the window to decrease and the window to shrink. In other words, by making the film thinner, the difference in dielectric breakdown voltage between a location where a pinhole is formed and a location where a pinhole is not formed becomes smaller. As a result, test accuracy may deteriorate. In addition, due to roll manufacturing accuracy, each detection voltage varies depending on the inspection part, and in some cases, the detection voltage of a normal part is lower than the detection voltage of a pinhole occurrence part, resulting in false detection (a normal part is replaced by a pinhole). false positive detection may occur. The inspection methods disclosed in Patent Documents 1 and 2 cannot sufficiently cope with thinning of the film, and there is room for improvement.

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、フィルムが薄膜化した場合でもピンホールの検出を精度良く行うことができるフィルムのピンホール検査方法、フィルム製造方法及びフィルムのピンホール検査装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to provide a method for inspecting pinholes in a film, a method for manufacturing a film, and a method for detecting pinholes in a film that can accurately detect pinholes even when the film is thinned. The purpose of the present invention is to provide a pinhole inspection device.

本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1)
フィルムに対しその両面を挟むように対向配置される一対の電極の間に直流電圧を印加する電圧印加工程と、
前記一対の電極の間に流れる電流または前記一対の電極の間の電圧降下を検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づき前記フィルムにおけるピンホールの有無を判定する判定工程と、を含み、
前記一対の電極のうち一方の第1電極は、前記フィルムの表面又は裏面である第1面に接触して配置され、
前記一対の電極のうち他方の第2電極は、前記第1面とは反対側の第2面に対し離間して配置され、
前記第2電極の印加電圧の極性は、前記第1電極とは相対的に負に設定される、
フィルムのピンホール検査方法。
(2) 前記第1電極と前記第2電極との離間距離が50μm~200μmの範囲に設定される、
(1)に記載のフィルムのピンホール検査方法。
(3) 前記一対の電極の間に前記フィルムを搬送する搬送工程をさらに含み、
前記第1電極は、その周面で前記フィルムの前記第1面に接触して前記フィルムを搬送する導電性ローラであり、前記搬送工程において前記フィルムを搬送しつつ電極としても機能する、
(1)又は(2)に記載のフィルムのピンホール検査方法。
(4) 前記第2電極は、円筒状に形成され、その長手方向が前記フィルムの搬送方向に垂直かつ前記フィルムの幅方向と平行になるように配置される、
(1)~(3)のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査方法。
(5) (1)~(4)のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査方法により前記フィルムに対しピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程が施された前記フィルムを巻回する巻回工程と、を含む、
フィルム製造方法。
(6) 同一の製造ラインで生成されるフィルムを複数の巻回体となるようにそれぞれ巻回する巻回工程と、
前記複数の巻回体のうち1つを標本に選択し、(1)~(4)のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査方法により前記標本の前記フィルムに対し前記ピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程において前記ピンホールが検出されない場合、前記複数の巻回体のうちその残部を最終製造物として出荷する出荷工程と、を含む、
フィルム製造方法。
(7) 前記標本を再度巻回する再巻回工程を更に含み、
前記出荷工程において、前記標本も含めて前記複数の巻回体の全部を出荷する、
(6)に記載のフィルム製造方法。
(8) 製造ラインで生成されるフィルムを巻回体となるように巻回する巻回工程と、
(1)~(4)のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査方法により前記巻回体のフィルムの一部に対し前記ピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程において前記ピンホールが検出されない場合、前記フィルムのうち前記ピンホールの有無を検査した箇所を切り取り、その残部を最終製造物として出荷する出荷工程と、を含む、
フィルム製造方法。
(9) 前記製造ラインは、
ポリオレフィン樹脂と可塑剤とを混練してポリオレフィン溶液を調製する溶液調製工程と、
前記ポリオレフィン溶液をダイから吐出するとともに冷却してゲル状シートを成形するシート成形工程と、
前記ゲル状シートを延伸して延伸シートを成形するシート延伸工程と、
前記延伸シートから可塑剤を除去して微多孔膜を得る可塑剤除去工程と、を含む、
(6)~(8)のいずれか1つに記載のフィルム製造方法。
(10) フィルムに対しその両面を挟むように対向配置される一対の電極と、
前記一対の電極の間に直流電圧を印加する電圧印加部と、
前記一対の電極の間に流れる電流または前記一対の電極の間の電圧降下を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づき前記フィルムにおけるピンホールの有無を判定する判定部と、を含み、
前記一対の電極のうち一方の第1電極は前記フィルムの表面又は裏面である第1面に接触して配置され、
前記一対の電極のうち他方の第2電極は前記第1面とは反対側の第2面に対し離間して配置され、
前記第2電極の印加電圧の極性は、前記第1電極とは相対的に負に設定される、
フィルムのピンホール検査装置。
(11) 前記第1電極と前記第2電極との離間距離が50μm~200μmの範囲に設定される、
(10)に記載のフィルムのピンホール検査装置。
(12) 前記電圧印加部に前記フィルムを搬送する搬送部をさらに含み、
前記第1電極は、その周面で前記フィルムの前記第1面に接触して前記フィルムを搬送する導電性ローラであり、前記搬送部と一体に設けられて前記フィルムを搬送しつつ電極としても機能する、
(10)又は(11)に記載のフィルムのピンホール検査装置。
(13) 前記第2電極は、円筒状に形成され、その長手方向が前記フィルムの搬送方向に垂直かつ前記フィルムの幅方向と平行になるように配置される、
(10)~(12)のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査装置。
The above object of the present invention is achieved by the following configuration.
(1)
a voltage application step of applying a DC voltage between a pair of electrodes arranged opposite to each other so as to sandwich both sides of the film;
a detection step of detecting a current flowing between the pair of electrodes or a voltage drop between the pair of electrodes;
a determination step of determining the presence or absence of a pinhole in the film based on the detection result of the detection step,
One of the first electrodes of the pair of electrodes is placed in contact with a first surface that is the front or back surface of the film,
The other second electrode of the pair of electrodes is spaced apart from a second surface opposite to the first surface,
The polarity of the voltage applied to the second electrode is set to be negative relative to the first electrode.
Film pinhole inspection method.
(2) the distance between the first electrode and the second electrode is set in a range of 50 μm to 200 μm;
The method for inspecting pinholes in a film according to (1).
(3) further comprising a conveying step of conveying the film between the pair of electrodes,
The first electrode is a conductive roller that conveys the film by contacting the first surface of the film with its peripheral surface, and also functions as an electrode while conveying the film in the conveying process.
The method for inspecting pinholes in a film according to (1) or (2).
(4) The second electrode is formed in a cylindrical shape and is arranged such that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film and parallel to the width direction of the film.
The method for inspecting pinholes in a film according to any one of (1) to (3).
(5) an inspection step of inspecting the film for the presence or absence of pinholes by the film pinhole inspection method according to any one of (1) to (4);
a winding step of winding the film subjected to the inspection step;
Film manufacturing method.
(6) a winding step of winding films produced on the same production line into a plurality of rolls;
One of the plurality of wound bodies is selected as a specimen, and the presence or absence of the pinhole is determined in the film of the specimen by the film pinhole inspection method according to any one of (1) to (4). an inspection process for inspecting the
a shipping step of shipping the remainder of the plurality of wound bodies as a final product if the pinhole is not detected in the inspection step;
Film manufacturing method.
(7) further comprising a re-winding step of re-winding the specimen;
In the shipping step, all of the plurality of rolled bodies including the specimen are shipped;
The film manufacturing method described in (6).
(8) a winding step of winding the film produced on the production line into a rolled body;
An inspection step of inspecting a part of the film of the rolled body for the presence or absence of the pinhole by the film pinhole inspection method according to any one of (1) to (4);
If the pinhole is not detected in the inspection step, the portion of the film that has been inspected for the presence or absence of the pinhole is cut off, and the remaining portion is shipped as a final product.
Film manufacturing method.
(9) The production line is
a solution preparation step of preparing a polyolefin solution by kneading a polyolefin resin and a plasticizer;
a sheet forming step of discharging the polyolefin solution from a die and cooling it to form a gel-like sheet;
a sheet stretching step of stretching the gel-like sheet to form a stretched sheet;
a plasticizer removal step of removing the plasticizer from the stretched sheet to obtain a microporous membrane;
The film manufacturing method according to any one of (6) to (8).
(10) a pair of electrodes arranged opposite to each other so as to sandwich both sides of the film;
a voltage application unit that applies a DC voltage between the pair of electrodes;
a detection unit that detects a current flowing between the pair of electrodes or a voltage drop between the pair of electrodes;
a determination unit that determines the presence or absence of a pinhole in the film based on the detection result of the detection unit,
One of the first electrodes of the pair of electrodes is placed in contact with the first surface, which is the front or back surface of the film,
The other second electrode of the pair of electrodes is spaced apart from a second surface opposite to the first surface,
The polarity of the voltage applied to the second electrode is set to be negative relative to the first electrode.
Film pinhole inspection device.
(11) The separation distance between the first electrode and the second electrode is set in a range of 50 μm to 200 μm.
The film pinhole inspection device according to (10).
(12) The voltage application unit further includes a transport unit that transports the film,
The first electrode is a conductive roller that conveys the film by contacting the first surface of the film with its circumferential surface, and is provided integrally with the conveyance section and serves as an electrode while conveying the film. Function,
The film pinhole inspection device according to (10) or (11).
(13) The second electrode is formed in a cylindrical shape and is arranged so that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film and parallel to the width direction of the film.
The film pinhole inspection device according to any one of (10) to (12).

なお、本発明に係るフィルムのピンホール検査方法に適用されるフィルムとしては、電気絶縁性フィルムが好適とされる。 Note that an electrically insulating film is suitable as the film to be applied to the film pinhole inspection method according to the present invention.

本発明によれば、一対の電極のうち一方の第1電極は、フィルムの表面又は裏面である第1面に接触して配置され、一対の電極のうち他方の第2電極は、第1面とは反対側の第2面に対し離間して配置され、第2電極の印加電圧の極性は、第1電極とは相対的に負に設定される。このため、検出のためのウインドウを広げることができるので、フィルムが薄膜化した場合でもピンホールの検出を精度良く行うことができる。 According to the present invention, one of the pair of electrodes, the first electrode, is disposed in contact with the first surface, which is the front or back surface of the film, and the other second electrode of the pair of electrodes is disposed on the first surface. The polarity of the voltage applied to the second electrode is set to be negative relative to the first electrode. Therefore, since the window for detection can be widened, pinholes can be detected with high accuracy even when the film is thinned.

以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。 The present invention has been briefly described above. Furthermore, the details of the present invention will be further clarified by reading the mode for carrying out the invention (hereinafter referred to as "embodiment") described below with reference to the accompanying drawings. .

図1は、本発明の実施形態に係るフィルム製造方法のうち製造ラインを説明するフローチャートである。FIG. 1 is a flowchart illustrating a production line of a film production method according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明の実施形態に係る検査ラインを実現するためのフィルムのピンホール検査装置を説明する模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a film pinhole inspection device for realizing an inspection line according to an embodiment of the present invention. 図3は、図2に示すフィルムのピンホール検査装置を上から視た模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram of the film pinhole inspection device shown in FIG. 2 viewed from above. 図4は、本発明の実施形態に係る検査ラインを説明するフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart illustrating the inspection line according to the embodiment of the present invention. 図5は、図4に示す検出工程の検出結果を説明する模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram illustrating the detection results of the detection step shown in FIG. 4. 図6は、本発明に係る実施例及び比較例の比較試験結果を示すグラフである。FIG. 6 is a graph showing comparative test results of Examples and Comparative Examples according to the present invention. 図7は、バー電極と導電性ローラの間の系を模式的に示すブロック図であり、図7(a)はフィルム正常部分、図7(b)はピンホール発生部分を示している。FIG. 7 is a block diagram schematically showing a system between a bar electrode and a conductive roller, with FIG. 7(a) showing a normal portion of the film and FIG. 7(b) showing a portion where a pinhole has occurred.

本発明のフィルムのピンホール検査方法、フィルム製造方法及びフィルムのピンホール検査装置に関する具体的な実施形態について、各図を参照しながら以下に説明する。
なお、図面は符号の向きに合わせてそれぞれ見るものとする。また、以下の説明において、下流側とは、成形されたフィルムが搬送及び巻回される方向であり、その搬送方向に沿って図2及び図3の紙面の左側を上流側、図2及び図3の紙面の右側を下流側ともいう。
Specific embodiments of the film pinhole inspection method, film manufacturing method, and film pinhole inspection apparatus of the present invention will be described below with reference to the respective figures.
Note that the drawings should be viewed according to the direction of the symbols. In addition, in the following explanation, the downstream side refers to the direction in which the formed film is transported and wound, and along the transport direction, the left side of the paper in FIGS. 2 and 3 is the upstream side, and the The right side of the paper in No. 3 is also called the downstream side.

また、各図及び以下の説明は、当業者が本開示を十分に理解するために提供されるのであって、これらにより特許請求の範囲に記載の主題を限定することは意図されていない。また、本発明に係る実施形態(以下「本実施形態」ともいう。)ではフィルムの一例として電気絶縁性フィルムであるポリオレフィン微多孔膜を挙げて説明するが、これに限定されない。電気絶縁性フィルムであれば種々のものを採用することができ、また電気絶縁性に限らずさまざまなフィルムにも適宜適用することが可能である。 Additionally, the figures and the following description are provided to enable those skilled in the art to fully understand the present disclosure, and are not intended to limit the claimed subject matter. Further, in the embodiment according to the present invention (hereinafter also referred to as "the present embodiment"), a microporous polyolefin film, which is an electrically insulating film, will be cited and explained as an example of the film, but the present invention is not limited thereto. Various electrically insulating films can be used, and the present invention is not limited to electrically insulating films, and can be applied to various other films as appropriate.

また、本実施形態に係るピンホール検査方法の検査対象であるピンホールは、ポリオレフィン微多孔膜の素材中に形成される微多孔よりもその径又は長さがはるかに大きい貫通孔である。そして、フィルムにピンホールが形成された場合、そのフィルムを挟むように一対の電極を配置して絶縁破壊電圧(直流電圧)を印加すると、その電圧が空気耐圧と略等しく低いため、放電電流が発生する。一方、ピンホールが形成されない正常の部分では、ピンホールが形成された部分よりも絶縁破壊電圧が高くなる。したがって、これらの絶縁破壊電圧の間の直流電圧をフィルムに印加すると、ピンホールが形成された部分においてのみ絶縁破壊が発生する。 Furthermore, the pinholes to be inspected by the pinhole inspection method according to the present embodiment are through-holes whose diameter or length is much larger than the micropores formed in the material of the microporous polyolefin membrane. If a pinhole is formed in the film, if a pair of electrodes is placed to sandwich the film and a dielectric breakdown voltage (DC voltage) is applied, the discharge current will be reduced because the voltage is approximately as low as the air withstand voltage. Occur. On the other hand, in a normal portion where no pinhole is formed, the dielectric breakdown voltage is higher than in a portion where a pinhole is formed. Therefore, when a DC voltage between these breakdown voltages is applied to the film, breakdown occurs only in the portion where the pinhole is formed.

本実施形態に係るフィルム製造方法は、電気絶縁性フィルム(以下「フィルム」ともいう。)を製造する製造ラインと、製造されたフィルムに対しピンホールの有無を検査する検査ライン(検査工程)と、を主に含んでいる。検査ラインは、製造ラインの後工程として実行される。また、検査ラインL2は、後述するように本実施形態のフィルムのピンホール検査装置(以下「検査装置」ともいう。)により実現される。 The film manufacturing method according to the present embodiment includes a manufacturing line for manufacturing an electrically insulating film (hereinafter also referred to as "film"), and an inspection line (inspection process) for testing the manufactured film for the presence or absence of pinholes. , mainly includes. The inspection line is executed as a post-process of the manufacturing line. In addition, the inspection line L2 is realized by a film pinhole inspection device (hereinafter also referred to as “inspection device”) of the present embodiment, as described later.

まず図1を参照して、本実施形態に係るフィルムF製造方法のうちフィルムFの製造ラインL1について説明する。図1は、本発明の実施形態に係るフィルム製造方法のうち製造ラインL1を説明するフローチャートである。 First, with reference to FIG. 1, a manufacturing line L1 for film F in the method for manufacturing film F according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a flowchart illustrating the production line L1 of the film production method according to the embodiment of the present invention.

製造ラインL1は、複数のローラがそれぞれ配設され、この複数のローラによってフィルムFを上流側から下流側に適宜搬送して、最終的に巻きずれなどなくコアに巻回してフィルム製品リール(最終製造物)を製造する。そして図1に示すように、製造ラインL1は、溶液調製工程(S11)と、シート成形工程(S12)と、シート延伸工程(S13)と、可塑剤除去工程(S14)と、熱固定工程(S15)と、巻回工程(S16)と、を含んでいる。 The production line L1 is equipped with a plurality of rollers, and these rollers suitably convey the film F from the upstream side to the downstream side, and finally wind it around the core without any winding deviation to form a film product reel (final Manufactured products). As shown in FIG. 1, the production line L1 includes a solution preparation process (S11), a sheet forming process (S12), a sheet stretching process (S13), a plasticizer removal process (S14), and a heat setting process ( S15) and a winding step (S16).

溶液調製工程では、ポリオレフィン樹脂と可塑剤とを混練してポリオレフィン溶液を調製する。シート成形工程では、溶液調製工程で調製されたポリオレフィン溶液を所定のダイから吐出するとともに冷却してゲル状シートを成形する。シート延伸工程では、シート成形工程で成形されたゲル状シートを延伸して延伸シートを成形する。 In the solution preparation step, a polyolefin resin and a plasticizer are kneaded to prepare a polyolefin solution. In the sheet forming step, the polyolefin solution prepared in the solution preparation step is discharged from a predetermined die and cooled to form a gel-like sheet. In the sheet stretching process, the gel-like sheet formed in the sheet forming process is stretched to form a stretched sheet.

ここで、延伸シート内部において可塑剤はポリオレフィン樹脂の内部に粒子状に多数散在しており、可塑剤除去工程では、シート延伸工程で延伸された延伸シートを洗浄して、延伸シートに含有される可塑剤を溶剤に置換する。そして、この溶剤に置換された延伸シートを乾燥させて溶剤を揮発させる。これにより、シート内部に微多孔が無数に形成される。すなわち、可塑剤除去工程によって、延伸シートから可塑剤が除去されてフィルムFが成形される。熱固定工程では、可塑剤が除去されたフィルムFに対し熱を加えて膜体として安定させる。熱固定工程での処理後、フィルムFは更に下流側に搬送され、所定の巻回手段(不図示)によってコアに巻回される(すなわち、巻回工程)。 Here, inside the stretched sheet, a large number of plasticizers are scattered in the form of particles inside the polyolefin resin, and in the plasticizer removal step, the stretched sheet stretched in the sheet stretching step is washed to remove the plasticizer contained in the stretched sheet. Replace plasticizer with solvent. Then, the stretched sheet substituted with this solvent is dried to volatilize the solvent. As a result, countless micropores are formed inside the sheet. That is, in the plasticizer removal step, the plasticizer is removed from the stretched sheet and the film F is formed. In the heat setting process, heat is applied to the film F from which the plasticizer has been removed to stabilize it as a film body. After the treatment in the heat setting process, the film F is further conveyed to the downstream side and is wound around the core by a predetermined winding means (not shown) (that is, a winding process).

巻回工程では、フィルムFの巻回によってフィルムFがロールR(巻回体)の径方向で積層され、原反としてフィルムFのロールRを得る。またこのとき、同一の製造ラインL1で生成されるフィルムFを複数のロールRとなるようにそれぞれ巻回する。そして、このように巻回された複数のロールRは、その1つが標本(サンプル)に選択され、後工程の検査ラインL2においてこの標本のフィルムFに対しピンホールの有無が検査される。後述するように、検査の結果、ピンホールが検出されないと判定された場合、複数のロールRのうち少なくともその残部はフィルム製品リール(最終製造物)としてバッテリーセパレータフィルムを使用するメーカー、例えば電池メーカーに出荷される。 In the winding process, the film F is laminated in the radial direction of the roll R (wound body) by winding the film F, and the roll R of the film F is obtained as a raw material. Also, at this time, the films F produced on the same production line L1 are wound into a plurality of rolls R, respectively. One of the plurality of rolls R wound in this manner is selected as a sample, and the film F of this sample is inspected for the presence or absence of pinholes in the inspection line L2 in the post-process. As will be described later, if it is determined that no pinholes are detected as a result of the inspection, at least the remainder of the plurality of rolls R is used as a film product reel (final product) by a manufacturer that uses battery separator film, such as a battery manufacturer. will be shipped to.

なお、フィルムFの製造方法は、上記のような湿式法に限定されず、溶融状態の樹脂フィルムを一軸延伸などにより延伸して孔を形成する乾式法を用いてもよい。また、上記湿式法や乾式法により製造されたフィルムFの表面に、例えば樹脂や無機粒子を含んだ樹脂被膜をコーティングしてもよい。この場合には、以下の工程が採られる。具体的には、上記のようにして巻回されたロールRからフィルムFを巻き出す。巻き出した後、樹脂や粒子を含有したスラリー内部にこのフィルムFを含浸し、あるいはフィルムFの表裏にスラリーを塗布し、その後乾燥工程を経ることにより、コーティングセパレータが得られる。 The method for producing the film F is not limited to the wet method as described above, but may also be a dry method in which a molten resin film is stretched by uniaxial stretching or the like to form holes. Further, the surface of the film F manufactured by the above-mentioned wet method or dry method may be coated with a resin film containing, for example, resin or inorganic particles. In this case, the following steps are taken. Specifically, the film F is unwound from the roll R wound as described above. After unrolling, a coated separator is obtained by impregnating the inside of the slurry containing resin and particles with the film F, or by applying the slurry to the front and back surfaces of the film F, and then performing a drying process.

次に図2及び図3を参照して、本実施形態に係るフィルム製造方法のうちフィルムFの検査ラインL2を実現するための検査装置10の構成について説明する。図2は、本実施形態に係る検査ラインL2を実現するための検査装置10を説明する模式図である。図3は、図2に示す検査装置10を上から視た模式図である。 Next, with reference to FIGS. 2 and 3, the configuration of the inspection apparatus 10 for realizing the inspection line L2 of the film F in the film manufacturing method according to the present embodiment will be described. FIG. 2 is a schematic diagram illustrating the inspection apparatus 10 for realizing the inspection line L2 according to this embodiment. FIG. 3 is a schematic diagram of the inspection apparatus 10 shown in FIG. 2 viewed from above.

図2及び図3に示すように、本実施形態の検査装置10は、フィルムFを搬送する導電性ローラ11(搬送部、第1電極)と、搬送されかつ導電性ローラ11と接触したフィルムFを挟んで導電性ローラ11とは反対側に配置されるバー電極12(第2電極)と、これらの電極間に直流電圧を印加する電圧印加部13と、これらの電極間に発生した放電電流に応じて流れる電流を検出する検出部(不図示)と、ピンホールの有無を判定する判定部(不図示)と、を含んでいる。 As shown in FIGS. 2 and 3, the inspection device 10 of this embodiment includes a conductive roller 11 (conveying section, first electrode) that conveys the film F, and a film F that is conveyed and in contact with the conductive roller 11. A bar electrode 12 (second electrode) placed on the opposite side of the conductive roller 11 with the bar electrode 12 in between, a voltage application section 13 that applies a DC voltage between these electrodes, and a discharge current generated between these electrodes. It includes a detection unit (not shown) that detects a current flowing in accordance with the current, and a determination unit (not shown) that determines the presence or absence of a pinhole.

導電性ローラ11は、フィルムFの裏面(第1面)に密着した状態で接触してフィルムFを搬送する。導電性ローラ11は、円筒状に形成され、金属部材、又は樹脂軸にその外周面に金属膜が被覆された導電性部材であり、少なくともその外周面が接地される。導電性ローラ11は、駆動ローラであり、フィルムFを搬送するための駆動力を生成する。導電性ローラ11は、その外周面でフィルムFの裏面に摩擦接触しながら、下流側にフィルムFを搬送する。また、図3に示すように、導電性ローラ11の幅方向寸法は、フィルムFの幅方向と略同一又はそれよりも大きく設けられる。 The conductive roller 11 conveys the film F by closely contacting the back surface (first surface) of the film F. The conductive roller 11 is formed into a cylindrical shape and is a conductive member having a metal member or a resin shaft whose outer peripheral surface is coated with a metal film, and at least its outer peripheral surface is grounded. The conductive roller 11 is a driving roller and generates a driving force for conveying the film F. The conductive roller 11 conveys the film F to the downstream side while frictionally contacting the back surface of the film F with its outer peripheral surface. Further, as shown in FIG. 3, the width direction dimension of the conductive roller 11 is set to be approximately the same as or larger than the width direction of the film F.

そして、導電性ローラ11とバー電極12とは、搬送されるフィルムFに対しその両面を挟むように対向配置されており、フィルムFに対し絶縁破壊電圧を印加するための一対の電極を構成する。すなわち、本実施形態では、一対の電極のうち一方の第1電極は、その周面でフィルムFの裏面(第1面)に接触してフィルムFを搬送する導電性ローラ11であり、フィルムFを搬送する搬送部と一体に設けられてフィルムFを搬送しつつ電極としても機能する。 The conductive roller 11 and the bar electrode 12 are arranged opposite to each other so as to sandwich both sides of the transported film F, and constitute a pair of electrodes for applying a dielectric breakdown voltage to the film F. . That is, in the present embodiment, one of the first electrodes of the pair of electrodes is the conductive roller 11 that conveys the film F by contacting the back surface (first surface) of the film F with its peripheral surface, and It is provided integrally with the transport unit that transports the film F, and functions as an electrode while transporting the film F.

一対の電極のうち他方のバー電極12は、搬送されるフィルムFの表面に対し離間して配置される。また、バー電極12は、円筒状に形成され、その長手方向がフィルムFの搬送方向に垂直かつフィルムFの幅方向と平行になるように配置される(図3参照)。バー電極12はその断面が円形状に形成され周方向に均一な形状となるため、バー電極12の周面のどの位置が導電性ローラ11に対向しても同様な電圧特性を得ることが可能となる。なお、バー電極12の断面形状が周方向で不均一であってもよいが、この場合、バー電極12のどの位置が導電性ローラ11に対向するかによって、一対の電極の間の空隙の距離が変化するため、バー電極12の導電性ローラ11に対する位置のみならずバー電極12の周方向の位置も精密に行わないと、絶縁破壊の電圧特性が変化し、検査精度が低下する可能性がある。 The other bar electrode 12 of the pair of electrodes is spaced apart from the surface of the film F being transported. Moreover, the bar electrode 12 is formed in a cylindrical shape and is arranged so that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film F and parallel to the width direction of the film F (see FIG. 3). Since the bar electrode 12 has a circular cross section and a uniform shape in the circumferential direction, it is possible to obtain the same voltage characteristics no matter which position on the circumferential surface of the bar electrode 12 faces the conductive roller 11. becomes. Note that the cross-sectional shape of the bar electrode 12 may be nonuniform in the circumferential direction, but in this case, the distance of the gap between the pair of electrodes depends on which position of the bar electrode 12 faces the conductive roller 11. changes, so if not only the position of the bar electrode 12 with respect to the conductive roller 11 but also the position of the bar electrode 12 in the circumferential direction is not precisely performed, the voltage characteristics of dielectric breakdown may change and the inspection accuracy may decrease. be.

本実施形態では、バー電極12の印加電圧の極性は、導電性ローラ11とは相対的に負に設定される。また、バー電極12の外周面と導電性ローラ11の表面との離間距離は、50μm~200μmの範囲に設定される。 In this embodiment, the polarity of the voltage applied to the bar electrode 12 is set to be negative relative to that of the conductive roller 11. Further, the distance between the outer peripheral surface of the bar electrode 12 and the surface of the conductive roller 11 is set in a range of 50 μm to 200 μm.

電圧印加部13は、直流電源14を有しており、この一対の電極を構成する導電性ローラ11とバー電極12の間に絶縁破壊電圧として直流電圧を印加する。そして、判定部は、この検出部の検出結果に基づきフィルムFにおけるピンホールの有無を判定する。
なお、判定部は、汎用のミニコンピュータなどで構成され、CPU(中央演算回路)、ROM(読み出し専用記憶回路)、及びRAM(書き込み可能な記憶回路)などを有している。
The voltage application unit 13 has a DC power supply 14 and applies a DC voltage as a dielectric breakdown voltage between the conductive roller 11 and the bar electrode 12 that constitute this pair of electrodes. Then, the determination section determines the presence or absence of a pinhole in the film F based on the detection result of the detection section.
Note that the determination unit is composed of a general-purpose minicomputer or the like, and includes a CPU (central processing circuit), ROM (read-only memory circuit), RAM (writable memory circuit), and the like.

次に図4及び図5を参照して、上述した検査装置10を用いて実現される、本実施形態に係る検査方法について説明する。図4は、発明の実施形態に係る検査ラインL2を説明するフローチャートである。図5は、図4に示す検出工程の検出結果を説明する模式図である。 Next, with reference to FIGS. 4 and 5, an inspection method according to the present embodiment, which is realized using the above-described inspection apparatus 10, will be described. FIG. 4 is a flowchart illustrating the inspection line L2 according to the embodiment of the invention. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating the detection results of the detection step shown in FIG. 4.

図4に示すように、検査ラインL2は、搬送工程(S21)と、電圧印加工程(S22)と、検出工程(S23)と、判定工程(S24)と、再巻回工程(S25)と、出荷工程(S26)と、を含んでいる。
なお、本実施形態では、同一の製造ラインL1で生成されるフィルムFは同じ特性を有していると推定されるので、上述したように複数のロールRのうち1つが標本に選択され、この標本が検査用に用いられる。それに対して標本を用いる代わりに、ロールRをそれぞれセットして、搬送開始されたフィルムFの最初の部分に対しピンホールの検査をそれぞれ行うように構成してもよい(インライン検査)。この場合、検査で用いた部分は検査後、切り取られ廃棄される。なお、ピンホールがない場合にはフィルムFに絶縁破壊が発生しないので、検査で用いた部分を切り取らず残すようにしてもよい。
As shown in FIG. 4, the inspection line L2 includes a transportation process (S21), a voltage application process (S22), a detection process (S23), a determination process (S24), a rewinding process (S25), The shipping process (S26) is included.
In addition, in this embodiment, since it is estimated that the films F produced on the same production line L1 have the same characteristics, one of the plurality of rolls R is selected as a sample as described above, and this Specimens are used for testing. On the other hand, instead of using a sample, the rolls R may be set and each pinhole inspection may be performed on the first portion of the film F that has started to be conveyed (in-line inspection). In this case, the part used in the test is cut out and discarded after the test. Note that if there are no pinholes, no dielectric breakdown will occur in the film F, so the portion used in the inspection may be left without being cut out.

搬送工程では、検査装置10の導電性ローラ11は、標本のロールRから巻き出したフィルムFを電圧印加部13に搬送する。同一の製造ラインL1で生成されたフィルムFの複数のロールRにおいて、その標本のフィルムFに対しピンホールの有無を検査することで、その複数のロールR全体の品質を判断・管理する。電圧印加工程では、搬送工程で搬送される標本のフィルムFに対し導電性ローラ11とバー電極12とにより構成される一対の電極の間に、検査装置10の電圧印加部13が直流電圧を印加する。この電圧は、フィルムFが正常である場合の絶縁破壊電圧(基材耐圧)とピンホールが発生している場合の絶縁破壊電圧(ピンホール耐圧)との間の値が予め設定されている。検出工程では、検査装置10の検出部が、電圧印加工程によって直流電圧が印加された際にフィルムFに発生する放電電流に応じた電流、すなわちフィルムFに絶縁破壊が発生した場合に流れる電流または電圧降下を検出する。 In the conveyance process, the conductive roller 11 of the inspection device 10 conveys the film F unwound from the sample roll R to the voltage application section 13. In a plurality of rolls R of film F produced on the same production line L1, the overall quality of the plurality of rolls R is judged and managed by inspecting the sample film F for the presence or absence of pinholes. In the voltage application process, the voltage application unit 13 of the inspection device 10 applies a DC voltage between a pair of electrodes constituted by the conductive roller 11 and the bar electrode 12 to the film F of the specimen being transported in the transport process. do. This voltage is preset to a value between the dielectric breakdown voltage (substrate breakdown voltage) when the film F is normal and the dielectric breakdown voltage (pinhole breakdown voltage) when pinholes are generated. In the detection process, the detection unit of the inspection device 10 detects a current corresponding to a discharge current generated in the film F when a DC voltage is applied in the voltage application process, that is, a current that flows when dielectric breakdown occurs in the film F, or Detect voltage drop.

そして、判定工程では、検査装置10の判定部は、検出部の検出結果に基づきフィルムFにおけるピンホールの有無を判定する。すなわち、判定部は、検出部において放電電流に応じた電流または電圧降下が検出された場合にはピンホールがあると判定し、放電電流に応じた電流または電圧降下が検出されない場合にはピンホールがないと判定する。このとき、本実施形態では、図5に示すように、フィルムFが薄膜化した場合でも、そのフィルムFの正常部分の絶縁破壊電圧(基材耐圧)とフィルムFのピンホール発生部分の絶縁破壊電圧(ピンホール耐圧)とのギャップ、すなわちウインドウを従来に比べ広く取ることが可能となる。そのため、電圧印加部13によりフィルムFに印加する直流電圧を、この広がったウインドウの中央付近に設定すれば、ピンホールが無いにもかかわらず絶縁破壊が発生したり、ピンホールが有るにもかかわらず絶縁破壊が発生しないという現象を抑制でき、検査装置10の判定部は、ピンホールの有無を精度良く判定することが可能となる。また、再巻回工程では、標本のフィルムFを再度巻回してロールR状態に再度巻き取る。 In the determination step, the determination section of the inspection device 10 determines the presence or absence of pinholes in the film F based on the detection result of the detection section. That is, the determination unit determines that there is a pinhole if the detection unit detects a current or voltage drop that corresponds to the discharge current, and determines that there is a pinhole if the current or voltage drop that corresponds to the discharge current is not detected. It is determined that there is no. At this time, in this embodiment, as shown in FIG. 5, even if the film F is thinned, the dielectric breakdown voltage (substrate breakdown voltage) of the normal part of the film F and the dielectric breakdown of the pinhole generated part of the film F are It is possible to make the gap, or window, with respect to the voltage (pinhole withstand voltage) wider than before. Therefore, if the DC voltage applied to the film F by the voltage applying section 13 is set near the center of this expanded window, dielectric breakdown may occur even though there are no pinholes, or even when there are pinholes. Therefore, the phenomenon that no dielectric breakdown occurs can be suppressed, and the determination unit of the inspection device 10 can accurately determine the presence or absence of a pinhole. In the re-winding step, the sample film F is re-wound to the roll R state.

ここで、判定工程でピンホールが検出された場合、所定の警報装置によって警報が出力される。そして、工程は停止して出荷工程には進まない。
なお、上述のインライン検査の際、ピンホールが検出された場合、前工程の装置の洗浄を開始したり前工程のロールRの付着物を除去するために洗浄を促したりする。
Here, if a pinhole is detected in the determination step, a predetermined alarm device outputs an alarm. The process then stops and does not proceed to the shipping process.
Note that if a pinhole is detected during the above-mentioned in-line inspection, cleaning of the equipment in the previous process is started, or cleaning is encouraged to remove deposits on the roll R in the previous process.

その一方、判定工程において標本のフィルムFにピンホールが検出されない場合、出荷工程に進む。出荷工程では、標本にピンホールが検出されないとして、複数のロールRのうち標本以外の残部をフィルム製品リールとして出荷する。
なお、標本は検査時に導電性ローラ11及びバー電極12による電圧印加によって帯電するが、ピンホールが検出されなければ品質上問題ないため、必要に応じて除電したうえで、この標本を含めて複数のロールRの全部をフィルム製品リールとして出荷してもよい。
また、ロールRから巻き出したフィルムFの一部に対し電圧を印加してピンホールの有無を判定し、ピンホールがないと判定された場合には、ロールRのうち検査に使用された箇所のフィルムFをカットし、残りの箇所をフィルム製品リールとして出荷してもよい。この場合、例えば、フィルムFの幅方向の一部に対しピンホールの有無を判定し、幅方向の残りの箇所をフィルム製品リール(スリット)としてもよく、あるいは、ロールRの長さ方向の一部のフィルムFに対しピンホールの有無を判定し、ロールRの残りの長さの部分をフィルム製品リールとしてもよい。
On the other hand, if no pinhole is detected in the specimen film F in the determination step, the process proceeds to the shipping step. In the shipping process, assuming that no pinholes are detected in the specimen, the remainder of the plurality of rolls R other than the specimen is shipped as a film product reel.
Note that during inspection, the specimen becomes charged due to the voltage applied by the conductive roller 11 and the bar electrode 12, but as long as no pinholes are detected, there is no quality problem. The entire roll R may be shipped as a film product reel.
In addition, a voltage is applied to a part of the film F unwound from the roll R to determine the presence or absence of a pinhole, and if it is determined that there is no pinhole, the part of the roll R used for the inspection is The film F may be cut and the remaining portion may be shipped as a film product reel. In this case, for example, the presence or absence of a pinhole may be determined in a part of the film F in the width direction, and the remaining part in the width direction may be used as a film product reel (slit), or one part in the length direction of the roll R may be used as a film product reel (slit). The presence or absence of pinholes may be determined for the part of the film F, and the remaining length of the roll R may be used as a film product reel.

以上説明したように、本実施形態によれば、一対の電極のうち一方の導電性ローラ11(第1電極)は、フィルムFの裏面(第1面)に接触して配置され、一対の電極のうち他方のバー電極12(第2電極)は、表面(第2面)に対し離間して配置され、バー電極12の印加電圧の極性は、導電性ローラ11とは相対的に負に設定される。このため、フィルムFにおける基材耐圧(正常部分の絶縁破壊電圧)とピンホール耐圧(ピンホール発生部分の絶縁破壊電圧)とのギャップ、すなわちウインドウを従来に比べ広く取ることができる。これにより、検出のためのウインドウを広げることができるので、フィルムFが薄膜化した場合でもピンホールの検出を精度良く行うことができる。 As explained above, according to the present embodiment, one of the conductive rollers 11 (first electrode) of the pair of electrodes is disposed in contact with the back surface (first surface) of the film F, and The other bar electrode 12 (second electrode) is arranged apart from the front surface (second surface), and the polarity of the voltage applied to the bar electrode 12 is set to be negative relative to the conductive roller 11. be done. Therefore, the gap, that is, the window, between the base material breakdown voltage (dielectric breakdown voltage in a normal portion) and the pinhole breakdown voltage (dielectric breakdown voltage in a pinhole generated portion) in the film F can be made wider than in the past. Thereby, the window for detection can be widened, so even if the film F is thinned, pinholes can be detected with high accuracy.

また本実施形態によれば、バー電極12(第2電極)と導電性ローラ11の表面との離間距離が50μm~200μmの範囲に設定されるため、ピンホールの検出をより精度良く行うことができる。 Further, according to the present embodiment, since the distance between the bar electrode 12 (second electrode) and the surface of the conductive roller 11 is set in the range of 50 μm to 200 μm, pinholes can be detected with higher accuracy. can.

また本実施形態によれば、導電性ローラ11(第1電極)は、その周面でフィルムFの裏面(第1面)に接触してフィルムFを搬送する導電性ローラ11であり、搬送工程(S21)においてフィルムFを搬送しつつ電極としても機能する。このため、フィルムFに対し効率良くピンホールの検査を行うことができる。 Further, according to the present embodiment, the conductive roller 11 (first electrode) is a conductive roller 11 that conveys the film F by contacting the back surface (first surface) of the film F with its circumferential surface. In (S21), it also functions as an electrode while transporting the film F. Therefore, the film F can be inspected for pinholes efficiently.

また本実施形態によれば、バー電極12(第2電極)は、円筒状に形成され、その長手方向がフィルムFの搬送方向に垂直かつフィルムFの幅方向と平行になるように配置される。このため、バー電極12はその断面が円形状に形成され周方向に均一な形状となるため、バー電極12の周面のどの位置が導電性ローラ11に対向しても同様な電圧特性を得て、ピンホールの検出精度の低下を防止することができる。 Further, according to this embodiment, the bar electrode 12 (second electrode) is formed in a cylindrical shape, and is arranged so that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film F and parallel to the width direction of the film F. . Therefore, since the bar electrode 12 has a circular cross section and a uniform shape in the circumferential direction, the same voltage characteristics can be obtained no matter which position on the circumferential surface of the bar electrode 12 faces the conductive roller 11. Therefore, it is possible to prevent a decrease in pinhole detection accuracy.

本発明の有効性を確認するために、絶縁破壊電圧を比較する比較試験を行った。本比較試験では比較例と実施例(上記実施形態相当)との検査装置(10)を用意した。比較例の検査装置(10)では、バー電極(第2電極、12)の印加電圧の極性が、導電性ローラ(第1電極、11)とは相対的に正に設定された。すなわち、比較例と実施例との間では第1電極及び第2電極が互いに逆に設定されており、それ以外の構成は同一とした。また、検査対象のフィルム(F)も同様に同一とした。そのときの比較試験結果を図6に示す。図6は、本発明に係る実施例及び比較例の比較試験結果を示すグラフである。 In order to confirm the effectiveness of the present invention, a comparative test was conducted to compare dielectric breakdown voltages. In this comparative test, inspection devices (10) of a comparative example and an example (corresponding to the above embodiment) were prepared. In the inspection device (10) of the comparative example, the polarity of the voltage applied to the bar electrode (second electrode, 12) was set to be positive relative to that of the conductive roller (first electrode, 11). That is, between the comparative example and the example, the first electrode and the second electrode were set to be opposite to each other, and the other configurations were the same. Furthermore, the film (F) to be tested was also the same. The comparative test results at that time are shown in FIG. FIG. 6 is a graph showing comparative test results of Examples and Comparative Examples according to the present invention.

図6に示すように、比較例と実施例との検出結果を比較すると、ピンホール耐圧は同等であるが、基材耐圧は実施例の方が約0.2kV程度上昇していることが分かる。つまり、実施例は比較例よりもウインドウが広くなっており、これによりピンホールの検出を精度良く行われることが分かる。すなわち、本比較試験によって本発明の有効性が実証された。ここで、印加電圧の極性によって基材耐圧のみが変化し、ピンホール耐圧が変化しなかった理由について図7を用いて説明する。図7はバー電極と導電性ローラの間の系をブロック図で模式的に示したものであり、図7(a)はフィルム正常部分の検査時、図7(b)はピンホール発生部分の検査時を示している。一般的に絶縁破壊現象は正負の極性で異なる挙動を示すことが判っているが、図7(a)では上下非対称の系であるため極性を反転させると系が変化し、基材耐圧には極性による差異が表れる。一方、図7(b)では上下対称の系であるため、極性を反転させても実質同一の系となり、ピンホール耐圧は極性による差異が表れないものと考えられる。 As shown in FIG. 6, when comparing the detection results of the comparative example and the example, it can be seen that the pinhole withstand voltage is the same, but the base material withstand voltage is about 0.2 kV higher in the example. . In other words, the window of the example is wider than that of the comparative example, and it can be seen that pinhole detection can be performed with high accuracy. In other words, this comparative test demonstrated the effectiveness of the present invention. Here, the reason why only the base material breakdown voltage changed and the pinhole breakdown voltage did not change depending on the polarity of the applied voltage will be explained using FIG. 7. Figure 7 is a block diagram schematically showing the system between the bar electrode and the conductive roller. Figure 7 (a) shows the inspection of a normal part of the film, and Figure 7 (b) shows the part where a pinhole has occurred. Shows the time of inspection. It is generally known that the dielectric breakdown phenomenon exhibits different behavior depending on the positive and negative polarities, but since the system in Figure 7(a) is vertically asymmetric, the system changes when the polarity is reversed, and the withstand voltage of the base material is Differences due to polarity appear. On the other hand, since the system shown in FIG. 7B is vertically symmetrical, the system remains substantially the same even if the polarity is reversed, and it is considered that the pinhole breakdown voltage does not differ depending on the polarity.

以上で具体的実施形態の説明を終えるが、本発明の態様は上記実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良などが可能である。
例えば、上記実施形態では、第2電極とフィルム(F)との間に何も介挿されなかったが、これらの間に誘電体を配置してもよい。したがって、例えば、外周に誘電体層を有するローラにより第2電極を構成してもよい。
This concludes the description of the specific embodiments, but the aspects of the present invention are not limited to the above embodiments, and modifications and improvements can be made as appropriate.
For example, in the above embodiment, nothing was inserted between the second electrode and the film (F), but a dielectric may be placed between them. Therefore, for example, the second electrode may be constituted by a roller having a dielectric layer on the outer periphery.

本発明の検査方法を適用する製造工程は、電気絶縁性フィルム(例えばポリオレフィン製バッテリーセパレータフィルム、コーティングセパレータ、不織布製バッテリーセパレータ、コンデンサ用フィルム等)のほか、高精度ろ過用途として用いられるポリオレフィン微多孔フィルム等の製造工程にも好適である。 The manufacturing process to which the inspection method of the present invention is applied is applicable to electrically insulating films (e.g., polyolefin battery separator films, coating separators, nonwoven fabric battery separators, capacitor films, etc.) as well as polyolefin microporous films used for high-precision filtration. It is also suitable for manufacturing processes of films and the like.

10 検査装置(フィルムのピンホール検査装置)
11 導電性ローラ(第1電極)
12 バー電極(第2電極)
13 電圧印加部
14 直流電源
F フィルム
L1 製造ライン
L2 検査ライン
10 Inspection device (film pinhole inspection device)
11 Conductive roller (first electrode)
12 Bar electrode (second electrode)
13 Voltage application section 14 DC power supply F Film L1 Production line L2 Inspection line

Claims (13)

フィルムに対しその両面を挟むように対向配置される一対の電極の間に直流電圧を印加する電圧印加工程と、
前記一対の電極の間に流れる電流または前記一対の電極の間の電圧降下を検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づき前記フィルムにおけるピンホールの有無を判定する判定工程と、を含み、
前記一対の電極のうち一方の第1電極は、前記フィルムの表面又は裏面である第1面に接触して配置され、
前記一対の電極のうち他方の第2電極は、前記第1面とは反対側の第2面に対し離間して配置され、
前記第2電極の印加電圧の極性は、前記第1電極とは相対的に負に設定される、
フィルムのピンホール検査方法。
a voltage application step of applying a DC voltage between a pair of electrodes arranged opposite to each other so as to sandwich both sides of the film;
a detection step of detecting a current flowing between the pair of electrodes or a voltage drop between the pair of electrodes;
a determination step of determining the presence or absence of a pinhole in the film based on the detection result of the detection step,
One of the first electrodes of the pair of electrodes is placed in contact with a first surface that is the front or back surface of the film,
The other second electrode of the pair of electrodes is spaced apart from a second surface opposite to the first surface,
The polarity of the voltage applied to the second electrode is set to be negative relative to the first electrode.
Film pinhole inspection method.
前記第1電極と前記第2電極との離間距離が50μm~200μmの範囲に設定される、
請求項1に記載のフィルムのピンホール検査方法。
A separation distance between the first electrode and the second electrode is set in a range of 50 μm to 200 μm,
The method for inspecting pinholes in a film according to claim 1.
前記一対の電極の間に前記フィルムを搬送する搬送工程をさらに含み、
前記第1電極は、その周面で前記フィルムの前記第1面に接触して前記フィルムを搬送する導電性ローラであり、前記搬送工程において前記フィルムを搬送しつつ電極としても機能する、
請求項1又は2に記載のフィルムのピンホール検査方法。
further comprising a conveying step of conveying the film between the pair of electrodes,
The first electrode is a conductive roller that conveys the film by contacting the first surface of the film with its peripheral surface, and also functions as an electrode while conveying the film in the conveying process.
The method for inspecting pinholes in a film according to claim 1 or 2.
前記第2電極は、円筒状に形成され、その長手方向が前記フィルムの搬送方向に垂直かつ前記フィルムの幅方向と平行になるように配置される、
請求項1~3のいずれか1項に記載のフィルムのピンホール検査方法。
The second electrode is formed in a cylindrical shape and arranged so that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film and parallel to the width direction of the film.
The method for inspecting pinholes in a film according to any one of claims 1 to 3.
請求項1~4のいずれか1項に記載のフィルムのピンホール検査方法により前記フィルムに対しピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程が施された前記フィルムを巻回する巻回工程と、を含む、
フィルム製造方法。
an inspection step of inspecting the film for the presence or absence of pinholes by the film pinhole inspection method according to any one of claims 1 to 4;
a winding step of winding the film subjected to the inspection step;
Film manufacturing method.
同一の製造ラインで生成されるフィルムを複数の巻回体となるようにそれぞれ巻回する巻回工程と、
前記複数の巻回体のうち1つを標本に選択し、請求項1~4のいずれか1項に記載のフィルムのピンホール検査方法により前記標本の前記フィルムに対し前記ピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程において前記ピンホールが検出されない場合、前記複数の巻回体のうちその残部を最終製造物として出荷する出荷工程と、を含む、
フィルム製造方法。
a winding step of winding films produced on the same production line into a plurality of rolls;
Selecting one of the plurality of wound bodies as a specimen, and inspecting the film of the specimen for the presence or absence of the pinhole by the film pinhole inspection method according to any one of claims 1 to 4. An inspection process to
a shipping step of shipping the remainder of the plurality of wound bodies as a final product if the pinhole is not detected in the inspection step;
Film manufacturing method.
前記標本を再度巻回する再巻回工程を更に含み、
前記出荷工程において、前記標本も含めて前記複数の巻回体の全部を出荷する、
請求項6に記載のフィルム製造方法。
further comprising a re-winding step of re-winding the specimen;
In the shipping step, all of the plurality of rolled bodies including the specimen are shipped;
The film manufacturing method according to claim 6.
製造ラインで生成されるフィルムを巻回体となるように巻回する巻回工程と、
請求項1~4のいずれか1つに記載のフィルムのピンホール検査方法により前記巻回体のフィルムの一部に対し前記ピンホールの有無を検査する検査工程と、
前記検査工程において前記ピンホールが検出されない場合、前記フィルムのうち前記ピンホールの有無を検査した箇所を切り取り、その残部を最終製造物として出荷する出荷工程と、を含む、
フィルム製造方法。
a winding step of winding the film produced on the production line into a rolled body;
an inspection step of inspecting a part of the film of the rolled body for the presence or absence of the pinhole by the film pinhole inspection method according to any one of claims 1 to 4;
If the pinhole is not detected in the inspection step, the portion of the film that has been inspected for the presence or absence of the pinhole is cut off, and the remaining portion is shipped as a final product.
Film manufacturing method.
前記製造ラインは、
ポリオレフィン樹脂と可塑剤とを混練してポリオレフィン溶液を調製する溶液調製工程と、
前記ポリオレフィン溶液をダイから吐出するとともに冷却してゲル状シートを成形するシート成形工程と、
前記ゲル状シートを延伸して延伸シートを成形するシート延伸工程と、
前記延伸シートから可塑剤を除去して微多孔膜を得る可塑剤除去工程と、を含む、
請求項6~8のいずれか1項に記載のフィルム製造方法。
The production line is
a solution preparation step of preparing a polyolefin solution by kneading a polyolefin resin and a plasticizer;
a sheet forming step of discharging the polyolefin solution from a die and cooling it to form a gel-like sheet;
a sheet stretching step of stretching the gel-like sheet to form a stretched sheet;
a plasticizer removal step of removing the plasticizer from the stretched sheet to obtain a microporous membrane;
The film manufacturing method according to any one of claims 6 to 8.
フィルムに対しその両面を挟むように対向配置される一対の電極と、
前記一対の電極の間に直流電圧を印加する電圧印加部と、
前記一対の電極の間に流れる電流または前記一対の電極の間の電圧降下を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づき前記フィルムにおけるピンホールの有無を判定する判定部と、を含み、
前記一対の電極のうち一方の第1電極は前記フィルムの表面又は裏面である第1面に接触して配置され、
前記一対の電極のうち他方の第2電極は前記第1面とは反対側の第2面に対し離間して配置され、
前記第2電極の印加電圧の極性は、前記第1電極とは相対的に負に設定される、
フィルムのピンホール検査装置。
a pair of electrodes arranged opposite to each other so as to sandwich both sides of the film;
a voltage application unit that applies a DC voltage between the pair of electrodes;
a detection unit that detects a current flowing between the pair of electrodes or a voltage drop between the pair of electrodes;
a determination unit that determines the presence or absence of a pinhole in the film based on the detection result of the detection unit,
One of the first electrodes of the pair of electrodes is placed in contact with the first surface, which is the front or back surface of the film,
The other second electrode of the pair of electrodes is spaced apart from a second surface opposite to the first surface,
The polarity of the voltage applied to the second electrode is set to be negative relative to the first electrode.
Film pinhole inspection device.
前記第1電極と前記第2電極との離間距離が50μm~200μmの範囲に設定される、
請求項10に記載のフィルムのピンホール検査装置。
A separation distance between the first electrode and the second electrode is set in a range of 50 μm to 200 μm,
The film pinhole inspection device according to claim 10.
前記電圧印加部に前記フィルムを搬送する搬送部をさらに含み、
前記第1電極は、その周面で前記フィルムの前記第1面に接触して前記フィルムを搬送する導電性ローラであり、前記搬送部と一体に設けられて前記フィルムを搬送しつつ電極としても機能する、
請求項10又は11に記載のフィルムのピンホール検査装置。
further including a conveyance section that conveys the film to the voltage application section,
The first electrode is a conductive roller that conveys the film by contacting the first surface of the film with its circumferential surface, and is provided integrally with the conveyance section and serves as an electrode while conveying the film. Function,
The film pinhole inspection device according to claim 10 or 11.
前記第2電極は、円筒状に形成され、その長手方向が前記フィルムの搬送方向に垂直かつ前記フィルムの幅方向と平行になるように配置される、
請求項10~12のいずれか1項に記載のフィルムのピンホール検査装置。
The second electrode is formed in a cylindrical shape and arranged so that its longitudinal direction is perpendicular to the transport direction of the film and parallel to the width direction of the film.
The film pinhole inspection device according to any one of claims 10 to 12.
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