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JP7389130B2 - Measuring equipment, mounting machine, clamp status acquisition equipment - Google Patents
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JP7389130B2 - Measuring equipment, mounting machine, clamp status acquisition equipment - Google Patents

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JP7389130B2 JP2021551997A JP2021551997A JP7389130B2 JP 7389130 B2 JP7389130 B2 JP 7389130B2 JP 2021551997 A JP2021551997 A JP 2021551997A JP 2021551997 A JP2021551997 A JP 2021551997A JP 7389130 B2 JP7389130 B2 JP 7389130B2
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Description

本開示は、一対のクランプ部材による対象物のクランプ状態を取得するクランプ状態取得装置に関するものである。 The present disclosure relates to a clamp state acquisition device that acquires the clamp state of an object by a pair of clamp members.

特許文献1には、対象物がアームによってクランプされた状態において、対象物に溶接が行われる場合において、対象物がアームによってクランプされた状態にあるか否かを監視する監視装置が記載されている。この監視装置において、対象物がクランプされた状態にある場合の予め定められた領域内にあるアームの撮像画像であるマスタ画像を予め取得し、そのマスタ画像と実際のアームの撮像画像との比較により、対象物がアームによってクランプされた状態にあるか否かが監視される。 Patent Document 1 describes a monitoring device that monitors whether or not an object is clamped by an arm when welding is performed on the object while the object is clamped by the arm. There is. In this monitoring device, a master image, which is a captured image of the arm within a predetermined area when the object is in a clamped state, is acquired in advance, and the master image is compared with the actual captured image of the arm. This monitors whether or not the object is clamped by the arm.

特開2006-115978号公報Japanese Patent Application Publication No. 2006-115978

開示の概要Disclosure summary

本開示が解決しようとする課題Issues that this disclosure seeks to solve

本開示の課題は、一対のクランプ部材による対象物のクランプ状態を、一対のクランプ部材の間の距離に基づいて取得することである。 An object of the present disclosure is to obtain the clamping state of an object by a pair of clamp members based on the distance between the pair of clamp members.

課題を解決するための手段、作用および効果Means, actions and effects for solving problems

本開示に係るクランプ状態取得装置において、一対のクランプ部材の間の距離が取得され、取得された距離に基づいて一対のクランプ部材による対象物のクランプ状態が取得される。例えば、実際の一対のクランプ部材の間の距離が、一対のクランプ部材により対象物がクランプされた状態における一対のクランプ部材の間の距離である基準距離に比較して小さい場合には、対象物がクランプされていない状態にあり、ほぼ基準距離にある場合には、対象物が正常にクランプされた状態にあると取得することができる。また、実際の一対のクランプ部材の間の距離が基準距離で決まる設定範囲から外れた場合には、正規の対象物とは異なる対象物または異物がクランプされた状態、または、正規の対象物が正常な姿勢でクランプされていない状態にあると取得することができる。 In the clamp state acquisition device according to the present disclosure, the distance between the pair of clamp members is acquired, and the clamp state of the object by the pair of clamp members is acquired based on the acquired distance. For example, if the actual distance between the pair of clamp members is smaller than the reference distance, which is the distance between the pair of clamp members when the target is clamped by the pair of clamp members, the target If the object is not clamped and is approximately at the reference distance, it can be determined that the object is normally clamped. In addition, if the actual distance between the pair of clamp members deviates from the set range determined by the reference distance, an object other than the original object or a foreign object may be clamped, or the original object may be clamped. It can be acquired when the body is in a normal posture and not clamped.

正規の対象物とは、一対のクランプ部材によりクランプされるものであると予め決められたものをいう。正常な姿勢とは、対象物が一対のクランプ部材によりクランプされる場合の対象物の予め決められた姿勢(対象物の向きと考えることもできる)をいう。 A regular object is an object that is predetermined to be clamped by a pair of clamp members. The normal posture refers to a predetermined posture (which can also be considered as the orientation of the object) of the object when the object is clamped by a pair of clamp members.

対象物のクランプ状態には、例えば、一対のクランプ部材により対象物がクランプされた状態、クランプされていない状態が含まれる。詳細には、対象物のクランプ状態には、一対のクランプ部材により、正規の対象物が正常な姿勢でクランプされた状態、正規の対象物とは異なる対象物あるいは異物がクランプされた状態または正規の対象物が正常な姿勢でクランプされていない状態、物体がクランプされていない状態等のうちの1つ以上が含まれる。 The clamped state of the object includes, for example, a state where the object is clamped by a pair of clamp members and a state where the object is not clamped. In detail, the clamped state of an object includes a state in which a regular target is clamped in a normal posture by a pair of clamp members, a state in which an object different from the regular target or a foreign object is clamped, or a state in which a foreign object is clamped by a pair of clamp members. This includes one or more of the following: a state in which the object is not clamped in a normal posture, a state in which the object is not clamped, etc.

本開示の実施例1に係る測定装置を含む実装機の斜視図である。測定装置には、本開示の一実施形態であるクランプ状態取得装置が含まれる。FIG. 1 is a perspective view of a mounting machine including a measuring device according to Example 1 of the present disclosure. The measurement device includes a clamp state acquisition device that is an embodiment of the present disclosure. 上記測定装置の要部の斜視図である。It is a perspective view of the main part of the above-mentioned measuring device. 上記測定装置の要部の断面図である。FIG. 3 is a sectional view of a main part of the measuring device. 上記測定装置に含まれるエア回路図である。It is an air circuit diagram included in the above-mentioned measuring device. 上記実装機の制御装置を概念的に示す図である。It is a figure conceptually showing the control device of the above-mentioned mounting machine. 上記測定装置の要部の平面図である(部品が保持台に載置された状態)。FIG. 3 is a plan view of the main parts of the measuring device (with components placed on a holding stand). 上記測定装置の要部の平面図である(正規の部品が正常な姿勢でクランプされた状態)。FIG. 2 is a plan view of the main parts of the measuring device (regular parts are clamped in a normal posture). 上記測定装置の要部の平面図である(部品がクランプされていない状態)。FIG. 3 is a plan view of the main parts of the measuring device (with no parts clamped). 上記測定装置の要部の平面図である(正規の部品が異常な姿勢でクランプされた状態)。FIG. 2 is a plan view of the main parts of the measuring device (normal parts are clamped in an abnormal posture). 上記制御装置の記憶部に記憶されたLCR測定プログラムを表すフローチャートである。3 is a flowchart representing an LCR measurement program stored in a storage unit of the control device. 上記LCR測定プログラムの一部を表すフローチャートである。It is a flow chart showing a part of the above-mentioned LCR measurement program. 上記測定装置の作動を示す図である。(12A)初期状態を示す図であり、(12B)接近状態を示す図であり、(12C)測定状態を示す図であり、(12D)廃棄状態を示す図である。It is a figure showing operation of the above-mentioned measuring device. (12A) A diagram showing an initial state, (12B) a diagram showing an approach state, (12C) a diagram showing a measurement state, and (12D) a diagram showing a discarding state. 本開示の実施例2に係る測定装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a measuring device according to Example 2 of the present disclosure. 上記測定装置の距離センサの構造を概念的に示す図である。FIG. 3 is a diagram conceptually showing the structure of a distance sensor of the measuring device.

本開示の実施形態Embodiments of the present disclosure

以下、本開示の一実施形態である測定装置を含む実装機について図面に基づいて詳細に説明する。
図1に示す実装機は、部品を回路基板に装着するものであり、装置本体2,回路基板搬送保持装置4,部品供給装置6,ヘッド移動装置8,測定装置10等を含む。
回路基板搬送保持装置4は、回路基板(以下、基板と略称する)Pを水平な姿勢で搬送して保持するものであり、図1において、基板Pの搬送方向をx方向、基板Pの幅方向をy方向、基板Pの厚み方向をz方向とする。y方向、z方向は、それぞれ、実装機の前後方向、上下方向である。これら、x方向、y方向、z方向は互いに直交する。
Hereinafter, a mounting machine including a measuring device that is an embodiment of the present disclosure will be described in detail based on the drawings.
The mounting machine shown in FIG. 1 mounts components onto a circuit board, and includes a device main body 2, a circuit board conveying and holding device 4, a component supply device 6, a head moving device 8, a measuring device 10, and the like.
The circuit board transport and holding device 4 transports and holds a circuit board (hereinafter abbreviated as a board) in a horizontal position. In FIG. 1, the transport direction of the board P is the x direction, and the width of the board P is The direction is the y direction, and the thickness direction of the substrate P is the z direction. The y direction and the z direction are the front-back direction and the up-down direction of the mounting machine, respectively. These x, y, and z directions are orthogonal to each other.

部品供給装置6は、基板Pに装着される電子部品(以下、部品と略称する)sを供給するものであり、複数のテープフィーダ14等を含む。ヘッド移動装置8は、ヘッド16を保持してx、y方向へ移動させるものであり、ヘッド16は、部品保持具としての吸着ノズル18と、撮像装置としての第1カメラ19と、これらをヘッド本体に対してz方向に移動させる昇降装置とを有する。吸着ノズル18は、部品sを吸着して保持するものであり、第1カメラ19は、基板Pに設けられた基準マークMp等を撮像するものであり、マークカメラと称することができる。本実施例において、ヘッド16およびヘッド移動装置8等により作業装置20が構成される。 The component supply device 6 supplies electronic components (hereinafter abbreviated as components) s to be mounted on the board P, and includes a plurality of tape feeders 14 and the like. The head moving device 8 holds the head 16 and moves it in the x and y directions, and the head 16 includes a suction nozzle 18 as a component holder, a first camera 19 as an imaging device, and It has a lifting device that moves the main body in the z direction. The suction nozzle 18 is for suctioning and holding the component s, and the first camera 19 is for taking an image of the reference mark Mp etc. provided on the substrate P, and can be called a mark camera. In this embodiment, a working device 20 is composed of the head 16, the head moving device 8, and the like.

測定装置10は、対象物の一例である部品sの電気的特性を測定するものである。測定装置10は、廃棄箱26を介して回路基板搬送保持装置4の本体に設けられる。廃棄箱26と測定装置10とは廃棄通路28によって接続されるが、電気的特性が測定された部品sが、廃棄通路28を経て廃棄箱26に収容される。 The measuring device 10 measures the electrical characteristics of a component s, which is an example of a target object. The measuring device 10 is installed in the main body of the circuit board conveying and holding device 4 via a waste box 26 . The waste box 26 and the measuring device 10 are connected by a waste passage 28, and the parts s whose electrical characteristics have been measured are stored in the waste box 26 via the waste passage 28.

測定装置10は、図2,3に示すように、本体30、部品sを保持可能な保持台32、固定子34および可動子36から成る一対のクランプ部材(一対の把持部材と称することもできる)としての測定子37、保持台32を移動させる保持台移動装置40、可動子36を固定子34に対して接近・離間させる可動子移動装置41、電気的特性測定部としてのLCR測定部42、エア供給装置43等を含む。本実施例において、部品sは、図6に示すように、両端部に電極p1,p2を有し、一対の測定子37によってクランプ可能なものとすることができる。部品sとしては、例えば、角チップと称するものが該当する。 As shown in FIGS. 2 and 3, the measuring device 10 includes a main body 30, a holding table 32 capable of holding a component s, a stator 34, and a movable member 36. ), a holding table moving device 40 for moving the holding table 32, a moving piece moving device 41 for moving the mover 36 toward and away from the stator 34, and an LCR measuring section 42 as an electrical characteristic measuring section. , air supply device 43, etc. In this embodiment, the component s has electrodes p1 and p2 at both ends, as shown in FIG. 6, and can be clamped by a pair of probes 37. An example of the component s is a so-called square chip.

本実施例において、本体30は廃棄箱26に対して相対移動可能に設けられ、図3に示すように底部には、廃棄通路28と連通する貫通孔30aが設けられる。 In this embodiment, the main body 30 is provided so as to be movable relative to the waste box 26, and as shown in FIG. 3, a through hole 30a communicating with the waste passage 28 is provided at the bottom.

保持台32は、部品載置部44と、部品載置部44を保持する載置部保持体46とを含む。部品載置部44の上面にはV溝44cが形成され、部品sが載せられる。
部品載置部44は、導電性、耐摩耗性を有し、かつ、酸化が進み難い材料で製造されたものとすることができる。部品載置部44は、複数の導電性を有する部材を介して本体30に電気的に接続されるが、本体30が接地されることにより、部品載置部44も接地される。本実施例においては、部品載置部44が載置部保持体46に当接し、かつ、締結部47によって固定されるとともに、載置部保持体46が本体30にストッパ80(図3参照)を介して当接する。そして、載置部保持体46、ストッパ80、本体30、締結部47等は導電性を有するものである。したがって、部品載置部44は接地されるのである。
このように、部品載置部44が導電性を有する材料で製造され、かつ、接地されることにより、部品載置部44に載置させられた部品sの除電を行うことができる。例えば、部品載置部44は、アルミニウム合金またはステンレス材料等によって製造されたものとすることができる。保持台32にはカバー部50が取り付けられる。カバー部50については後述する。
The holding table 32 includes a component placement section 44 and a placement section holder 46 that holds the component placement section 44 . A V-groove 44c is formed on the upper surface of the component placement section 44, and the component s is placed thereon.
The component placement portion 44 may be made of a material that has conductivity, wear resistance, and is resistant to oxidation. The component mounting section 44 is electrically connected to the main body 30 via a plurality of conductive members, and when the main body 30 is grounded, the component mounting section 44 is also grounded. In this embodiment, the component placement part 44 contacts the placement part holder 46 and is fixed by the fastening part 47, and the placement part holder 46 is attached to the main body 30 by the stopper 80 (see FIG. 3). contact through. The placing part holder 46, the stopper 80, the main body 30, the fastening part 47, etc. are electrically conductive. Therefore, the component mounting section 44 is grounded.
In this way, by making the component mounting section 44 from a conductive material and grounding it, static electricity can be removed from the component s placed on the component mounting section 44. For example, the component mounting portion 44 may be made of aluminum alloy, stainless steel, or the like. A cover portion 50 is attached to the holding base 32. The cover portion 50 will be described later.

固定子34、可動子36は、互いに接近・離間可能に設けられる。固定子34は固定子保持体55を介して本体30に固定される。可動子36は一端部(後退側の端部)において可動子保持体56に保持され、可動子保持体56と一体的に移動可能とされる。
固定子34、可動子36は、それぞれ、互いに対向する対向面34f、36fを有し、これら一対の対向面34f、36fによって部品sがクランプ(把持)される。本実施例において、対向面36fは、断面が概して三角形状を成し、V溝44cに沿って移動可能とされる。換言すれば、可動子36の対向面36fの形状は、ほぼV溝44cに対応する形状とされ、可動子36の対向面36f、固定子34の対向面34fおよび保持台32のV溝44cは、ほぼ同一高さに位置する。そのため、部品sがV溝44c内のいずれにあっても、一対の対向面34f、36fによって部品sがクランプ可能とされる。
The stator 34 and the movable element 36 are provided so as to be able to approach and separate from each other. The stator 34 is fixed to the main body 30 via a stator holder 55. The movable element 36 is held by a movable element holder 56 at one end (the end on the retreating side) and is movable integrally with the movable element holder 56.
The stator 34 and the movable element 36 each have opposing surfaces 34f and 36f that face each other, and the component s is clamped (held) by these pair of opposing surfaces 34f and 36f. In this embodiment, the opposing surface 36f has a generally triangular cross section and is movable along the V-groove 44c. In other words, the shape of the facing surface 36f of the movable element 36 is made to correspond approximately to the V-groove 44c, and the facing surface 36f of the movable element 36, the facing surface 34f of the stator 34, and the V-groove 44c of the holding base 32 are , located at almost the same height. Therefore, no matter where the component s is in the V-groove 44c, the component s can be clamped by the pair of opposing surfaces 34f, 36f.

また、可動子36は、本実施例において、y方向(移動方向)に伸びた長手部材であり、対向面36fを含む先端部36aと、先端部36aより後端側の部分である後部36bとを含む。後部36bは、先端部36aの底部が切り欠かれた形状を成す。そのため、保持台32と可動子36とは互いに相対移動可能とされる。さらに、固定子34、可動子36の各々の上面の予め定められた部分には、マークMa,Mbが設けられる。マークMa,Mbについては後述する。 Further, in this embodiment, the movable member 36 is a longitudinal member extending in the y direction (movement direction), and has a distal end portion 36a including a facing surface 36f, and a rear portion 36b that is a portion on the rear end side from the distal end portion 36a. including. The rear portion 36b has a shape in which the bottom of the tip portion 36a is cut out. Therefore, the holding base 32 and the movable element 36 are allowed to move relative to each other. Furthermore, marks Ma and Mb are provided on predetermined portions of the upper surfaces of each of the stator 34 and the movable element 36. Marks Ma and Mb will be described later.

LCR測定部42は、部品sのL(inductance),C(capacity),R(resistance)等の電気的特性を測定するものであり、LCR測定部42、可動子36と固定子34とから成る一対の測定子37、図示を省略する電源装置等を含む電気回路58が形成される。例えば、これら固定子34と可動子36との間に流れた電流が検出され、検出された電流等に基づいて部品sのL,C,R等の電気的特性が測定される。なお、図2,3の符号58a,58bは、一対の測定子37の電気回路58への接続部である。 The LCR measurement section 42 measures electrical characteristics such as L (inductance), C (capacity), and R (resistance) of the component s, and is composed of the LCR measurement section 42, a mover 36, and a stator 34. An electric circuit 58 including a pair of probes 37, a power supply device (not shown), etc. is formed. For example, the current flowing between the stator 34 and the movable element 36 is detected, and the electrical characteristics such as L, C, and R of the component s are measured based on the detected current. Note that reference numerals 58a and 58b in FIGS. 2 and 3 are connection portions of the pair of probes 37 to the electric circuit 58.

保持台移動装置40は、保持台32を移動させるものであり、駆動源としてのエアシリンダ64を含む。図4に示すように、エアシリンダ64において、ハウジングの内部がピストンによって2つのエア室64a、64bに仕切られ、ピストンのピストンロッド66に載置部保持体46が連結される。2つのエア室64a、64bと、エア源68、エア供給装置43のエア通路60、フィルタ(大気)との間には電磁弁装置69が設けられる。電磁弁装置69は、複数の電磁弁を含むものであり、電磁弁装置69の制御により、保持台32が前進、後退させられる。具体的には、エア室64aにエア通路60が連通させられ、エア室64bにエア源68が連通させられることにより、保持台32が前進させられ、エア室64bに大気が連通させられ、エア室64aにエア源68が連通させられることにより、保持台32が後退させられる。このように、保持台32の前進時にエア通路60にエアが供給される。 The holding table moving device 40 moves the holding table 32 and includes an air cylinder 64 as a driving source. As shown in FIG. 4, in the air cylinder 64, the inside of the housing is partitioned into two air chambers 64a and 64b by a piston, and the mounting portion holder 46 is connected to a piston rod 66 of the piston. A solenoid valve device 69 is provided between the two air chambers 64a and 64b, the air source 68, the air passage 60 of the air supply device 43, and the filter (atmosphere). The solenoid valve device 69 includes a plurality of solenoid valves, and the holding base 32 is moved forward and backward under control of the solenoid valve device 69. Specifically, the air passage 60 is communicated with the air chamber 64a, and the air source 68 is communicated with the air chamber 64b, so that the holding table 32 is moved forward, the atmosphere is communicated with the air chamber 64b, and the air source 68 is communicated with the air chamber 64a. By communicating the air source 68 with the chamber 64a, the holding table 32 is moved backward. In this way, air is supplied to the air passage 60 when the holding table 32 moves forward.

可動子移動装置41は、可動子36を移動させるものであり、駆動源としてのエアシリンダ70を含む。エアシリンダ70においても同様に、ハウジングの内部には、ピストンによって仕切られた2つのエア室70a、70bが形成され、ピストンのピストンロッド71に可動子保持体56が連結される。2つのエア室70a、70bには、電磁弁装置72を介して、エア源68、エア通路60、フィルタ(大気)が接続される。電磁弁装置72の制御により、可動子36が前進、後退させられる。なお、エア室70aにエア源68が、エア室70bにエア通路60が、それぞれ、連通させられることにより可動子36が後退させられ、エア室70bにエア源68が、エア室70aに大気が、それぞれ、連通させられることにより可動子36が後退させられる。可動子36の後退に伴ってエア通路60にエアが供給されるのである。 The movable element moving device 41 moves the movable element 36 and includes an air cylinder 70 as a driving source. Similarly, in the air cylinder 70, two air chambers 70a and 70b partitioned by a piston are formed inside the housing, and the movable element holder 56 is connected to the piston rod 71 of the piston. An air source 68, an air passage 60, and a filter (atmosphere) are connected to the two air chambers 70a and 70b via a solenoid valve device 72. The movable element 36 is moved forward and backward under the control of the electromagnetic valve device 72. Note that by communicating the air source 68 with the air chamber 70a and the air passage 60 with the air chamber 70b, the mover 36 is retracted, and the air source 68 is communicated with the air chamber 70b and the atmosphere is communicated with the air chamber 70a. , are brought into communication with each other, thereby causing the movable element 36 to retreat. Air is supplied to the air passage 60 as the movable element 36 retreats.

電磁弁装置69,72は、図4に示すように、複数の流量制御弁、方向切換弁等を含むものであるが、それに限らない。例えば、複数の開閉弁を含むものとすること等ができる。 As shown in FIG. 4, the electromagnetic valve devices 69 and 72 include a plurality of flow control valves, directional switching valves, etc., but are not limited thereto. For example, it may include a plurality of on-off valves.

エア供給装置43は、可動子36の対向面36fにエアを供給するものであり、上述のエアシリンダ64,70、エア通路60、イオナイザ62等を含む。エア通路60は、固定子側の部材{例えば、固定子34の上部または固定子保持体55の固定子34の上方の部分または本体30}に設けられ、図3に示すように、エアシリンダ64,70に接続された主通路60h、主通路60hに連通させられ、固定子側の部材の段面に、可動子36の対向面36fに対向して開口する開口60aを有するエア噴出通路60s等を含む。エア噴出通路60sは、図3に示すように概してy方向に伸び、延長線kが、可動子36が固定子34から離間した位置にある場合に、可動子36の対向面36fの部分Rの上方または部分R内に達する状態で伸びたものである。部分Rは、可動子36の対向面36fの部品sをクランプする頻度が高い部分であり、クランプ部と称することができる。エアは、対向面36fの延長線kが交差する部分に、斜め上方から当たる。また、エア通路60のエアシリンダ64,70の下流側の部分にはイオナイザ62が設けられる。イオナイザ62は、コロナ放電を生起させて空気をイオン化するものであり、対向面36fにイオン化された空気が供給され得る。なお、イオナイザ62は不可欠ではない。 The air supply device 43 supplies air to the facing surface 36f of the movable element 36, and includes the above-mentioned air cylinders 64, 70, air passage 60, ionizer 62, and the like. The air passage 60 is provided in a member on the stator side {for example, the upper part of the stator 34 or the upper part of the stator 34 of the stator holder 55 or the main body 30}, and as shown in FIG. , 70, and an air jet passage 60s that communicates with the main passage 60h and has an opening 60a in a stepped surface of a member on the stator side facing the facing surface 36f of the movable element 36. including. The air jet passage 60s generally extends in the y direction as shown in FIG. It extends upward or into part R. The portion R is a portion where the component s of the facing surface 36f of the movable element 36 is frequently clamped, and can be referred to as a clamp portion. The air hits the portion where the extension line k of the opposing surface 36f intersects from diagonally above. Further, an ionizer 62 is provided in a portion of the air passage 60 on the downstream side of the air cylinders 64 and 70. The ionizer 62 generates corona discharge to ionize air, and ionized air can be supplied to the opposing surface 36f. Note that the ionizer 62 is not essential.

図2,3に示すように、本体30または固定子保持体55と可動子保持体56との間には、y方向に伸びた一対のガイドロッド74,75が設けられ、保持台32と可動子保持体56との間には、y方向に伸びた一対のガイドロッド76,77が設けられる。これらガイドロッド74,75、76,77により固定子34と可動子36とがy方向に互いに相対移動(接近・離間)可能とされるとともに、保持台32と可動子36とは互いにy方向に相対移動可能とされる。
また、可動子保持体56の固定子側にはストッパ82が設けられ、本体30の固定子保持体55を保持する部分にはストッパ80が設けられる。ストッパ82は、可動子保持体56と保持台32(載置部保持体46)との接近限度を規定するものであり、ストッパ80は、固定子34(本体30)と保持台32(載置部保持体46)との接近限度を規定するものである。
本実施例において、ガイドロッド74~77は、保持台移動装置40、可動子移動装置41に共有され、ストッパ80,82は保持台移動装置40の構成要素であると考えることができる。
As shown in FIGS. 2 and 3, a pair of guide rods 74 and 75 extending in the y direction are provided between the main body 30 or the stator holder 55 and the movable element holder 56. A pair of guide rods 76 and 77 extending in the y direction are provided between the child holder 56 and the child holder 56 . These guide rods 74, 75, 76, and 77 allow the stator 34 and the mover 36 to move relative to each other in the y direction (approach/separate), and the holding table 32 and the mover 36 can move relative to each other in the y direction. Allows relative movement.
Further, a stopper 82 is provided on the stator side of the movable element holder 56, and a stopper 80 is provided in a portion of the main body 30 that holds the stator holder 55. The stopper 82 defines the approach limit between the movable element holder 56 and the holding base 32 (mounting part holder 46), and the stopper 80 defines the approach limit between the movable element holder 56 and the holding base 32 (mounting part holder 46). This defines the approach limit to the part holder 46).
In this embodiment, the guide rods 74 to 77 are shared by the holding table moving device 40 and the mover moving device 41, and the stoppers 80 and 82 can be considered to be components of the holding table moving device 40.

なお、符号90は第1カメラ19とは別個の第2カメラを示す。第2カメラ90は、吸着ノズル18によって保持された部品sを撮像するものであり、第2カメラ90によって撮像された画像に基づいて、部品sが回路基板Pに装着される予定のものであるか否かが判定される。 Note that the reference numeral 90 indicates a second camera separate from the first camera 19. The second camera 90 is for capturing an image of the component s held by the suction nozzle 18, and the component s is scheduled to be mounted on the circuit board P based on the image captured by the second camera 90. It is determined whether or not.

当該実装機は制御装置100を含む。制御装置100は、図5に示すように、コンピュータを主体とするコントローラ102と、複数の駆動回路104とを含む。コントローラ102は、実行部110、記憶部112、入出力部114等を含み、入出力部114には、基板搬送保持装置4、部品供給装置6、ヘッド移動装置8が、それぞれ、駆動回路104を介して接続されるとともに、保持台移動装置40、可動子移動装置41の電磁弁装置69,72等が接続される。また、LCR測定部42、ディスプレイ116、可動子位置センサ118、保持台位置センサ120、ノズル高さセンサ122、第1カメラ19,第2カメラ90等が接続される。記憶部112には、図10のフローチャートで表されるLCR測定プログラム等の複数のプログラム、テーブル等が記憶されている。また、コントローラ102に設けられたタイマ124によって時間の計測が行われる。可動子位置センサ118は、可動子保持体56が後退端位置にある場合にON信号を出力するものであり、保持台位置センサ120は保持台32が前進端位置にある場合にON信号を出力するものであり、ノズル高さセンサ122は、ノズル18の高さを検出するものである。 The mounting machine includes a control device 100. As shown in FIG. 5, the control device 100 includes a controller 102 mainly composed of a computer, and a plurality of drive circuits 104. The controller 102 includes an execution section 110, a storage section 112, an input/output section 114, and the like. At the same time, the electromagnetic valve devices 69 and 72 of the holding table moving device 40 and the movable element moving device 41 are also connected. Further, the LCR measuring section 42, the display 116, the movable element position sensor 118, the holding table position sensor 120, the nozzle height sensor 122, the first camera 19, the second camera 90, etc. are connected. The storage unit 112 stores a plurality of programs such as the LCR measurement program shown in the flowchart of FIG. 10, tables, and the like. Further, time is measured by a timer 124 provided in the controller 102. The movable element position sensor 118 outputs an ON signal when the movable element holder 56 is at the backward end position, and the holder position sensor 120 outputs an ON signal when the holder 32 is at the forward end position. The nozzle height sensor 122 detects the height of the nozzle 18.

本実施例においては、部品sが一対の測定子37によりクランプされたと推定された状態において、第1カメラ19により一対の測定子37が撮像される。第1カメラ19は、前述のように基板Pに形成されたマークMpを撮像するものであり、被写界深度が浅いものである。被写界深度(Depth of field)とは、焦点がほぼ合っている被写体側の距離の範囲をいい、焦点が、ほぼ基板Pと第1カメラ19のレンズとの間の距離に合わせてある。一方、可動子36、固定子34の上面と第1カメラ19のレンズとの間の距離は、基板Pと第1カメラ19のレンズとの間の距離とほぼ同じである。そのため、第1カメラ19の高さ調整を行うことなく(第1カメラ19の高さをほぼ一定に保ったままで)、基板PのマークMpも、一対の測定子37に形成されたマークMa,Mbも良好に撮像することができる。 In this embodiment, the first camera 19 captures an image of the pair of probes 37 in a state in which the component s is estimated to be clamped by the pair of probes 37 . The first camera 19 images the mark Mp formed on the substrate P as described above, and has a shallow depth of field. The depth of field refers to the distance range on the subject side that is approximately in focus, and the focus is approximately aligned with the distance between the substrate P and the lens of the first camera 19. On the other hand, the distance between the upper surfaces of the movable element 36 and the stator 34 and the lens of the first camera 19 is approximately the same as the distance between the substrate P and the lens of the first camera 19. Therefore, without adjusting the height of the first camera 19 (while keeping the height of the first camera 19 almost constant), the mark Mp on the substrate P can also be changed from the mark Ma formed on the pair of probes 37 to Mb can also be imaged well.

また、第1カメラ19により部品sを撮像することもできるが、部品sは可動子36の部分Rにおいてクランプされることが多く、部品sとレンズとの間の距離は、基板Pとレンズとの間の距離とは異なる。そのため、第1カメラ19の高さを調整することなく、部品sを良好に撮像することは困難である。
また、撮像画像に基づいて部品sを特定するためには、作業者は、正規の部品sの形状、色彩等のデータを予め入力しておくという作業が必要となる。しかも、光の照射状況により、撮像画像に基づいて部品sの色彩等を認識することが困難な場合がある。それに対して、一対の測定子37についての撮像画像に基づけば、マークMa,Mbを高い精度で認識することができる。
以上により、一対の測定子37にそれぞれマークMa,Mbを形成し、マークMa,Mbを認識することにより、マークMa、Mbの間の距離を取得することは妥当なことである。
なお、正規の部品sとは、電気的特性を測定する対象物としての部品であると予め決められた部品をいう。
Further, the component s can be imaged by the first camera 19, but the component s is often clamped at the portion R of the mover 36, and the distance between the component s and the lens is determined by the distance between the substrate P and the lens. It is different from the distance between. Therefore, it is difficult to properly image the component s without adjusting the height of the first camera 19.
Furthermore, in order to specify the part s based on the captured image, the operator is required to input data such as the shape and color of the regular part s in advance. Moreover, depending on the light irradiation conditions, it may be difficult to recognize the color etc. of the component s based on the captured image. On the other hand, the marks Ma and Mb can be recognized with high accuracy based on the captured images of the pair of probes 37.
As described above, it is appropriate to form the marks Ma and Mb on the pair of tracing stylus 37, respectively, and to obtain the distance between the marks Ma and Mb by recognizing the marks Ma and Mb.
Note that the regular part s refers to a part that is predetermined to be an object whose electrical characteristics are to be measured.

図7~9に示すように、本実施例においては、保持台32上で一対の測定子37が接近させられ、その後、保持台32が後退させられた状態で、第1カメラ19により一対の測定子37が撮像され、撮像画像が、コントローラ102に供給される。コントローラ102において、撮像画像に基づいて一対の測定子37に設けられたマークMa,Mbが認識され、これらマークMa,Mbの間の距離Dが取得される。一方、マークMa,Mbは、固定子34、可動子36の各々の予め定められた位置に設けられる。例えば、対向面34f、36fとマークMa,Mbの間の距離c、mは既知である。そのため、マークMa,Mbの間の距離Dが分かると、一対の対向面34f、36fの間の距離dsも分かる。一対の対向面34f、36の間の距離dsは部品sの両極p1、p2の間の長さに対応する。そのため、一対のマークMa,Mbの間の距離Dを取得することは、一対の測定子37に部品sがクランプされている場合において、その部品sの両極p1、p2の間の長さdsを測定することに対応することであると考えることができる。 As shown in FIGS. 7 to 9, in this embodiment, a pair of probes 37 are brought close to each other on a holding base 32, and then, with the holding base 32 being moved back, the first camera 19 detects a pair of probes 37. The tracing stylus 37 is imaged, and the captured image is supplied to the controller 102. The controller 102 recognizes the marks Ma and Mb provided on the pair of tracing stylus 37 based on the captured image, and obtains the distance D between these marks Ma and Mb. On the other hand, marks Ma and Mb are provided at predetermined positions on each of the stator 34 and the movable element 36. For example, the distances c and m between the opposing surfaces 34f and 36f and the marks Ma and Mb are known. Therefore, when the distance D between the marks Ma and Mb is known, the distance ds between the pair of opposing surfaces 34f and 36f is also known. The distance ds between the pair of opposing surfaces 34f and 36 corresponds to the length between the poles p1 and p2 of the part s. Therefore, in order to obtain the distance D between the pair of marks Ma and Mb, when the part s is clamped by the pair of probes 37, the length ds between the poles p1 and p2 of the part s can be obtained. It can be thought of as corresponding to what is measured.

このように、部品sが角チップである場合には、部品sが一対の測定子37により電気的特性を測定可能な姿勢、すなわち、一対の電極p1,p2が、それぞれ、一対の測定子37の各々の対向面34f,36fに接触する姿勢が、部品sの正常な姿勢に対応する。 In this way, when the component s is a square chip, the component s is placed in a position where the electrical characteristics can be measured by the pair of probes 37, that is, the pair of electrodes p1 and p2 are placed in the position of the probe 37, respectively. The posture in which the component s contacts the opposing surfaces 34f and 36f corresponds to the normal posture of the component s.

そして、距離Dが、正規の部品sの一対の電極p1,p2の間の長さ等に基づいて決まる設定距離Dthより短いか否か、正規の部品sで決まる設定範囲Da~Db内にあるか否かが判定される。設定距離Dthは、例えば、部品sが一対の測定子37によりクランプされていない場合の一対のマークMa,Mbの間の距離および正規の部品sが一対の測定子37によりクランプされている場合の一対のマークMa,Mbの間の距離等に基づいて決まり、設定範囲Da~Dbは、正規の部品sがクランプされた状態の一対のマークMa,Mbの間の距離および正規の部品sの上述の長さのバラツキ等に基づいて決めることができる。 Then, whether the distance D is shorter than the set distance Dth determined based on the length between the pair of electrodes p1 and p2 of the regular part s, or is within the set range Da to Db determined by the regular part s. It is determined whether or not. The set distance Dth is, for example, the distance between the pair of marks Ma and Mb when the component s is not clamped by the pair of probes 37, and the distance between the pair of marks Ma and Mb when the regular component s is clamped by the pair of probes 37. It is determined based on the distance between the pair of marks Ma and Mb, and the setting range Da to Db is determined based on the distance between the pair of marks Ma and Mb when the regular part s is clamped and the above-mentioned value of the regular part s. It can be determined based on the variation in length, etc.

図7に示すように、撮像画像に基づいて測定された一対のマークMa,Mbの間の距離Dが設定範囲内にある場合(Da<D<Db)には、正規の部品sが正常な姿勢でクランプされた状態にあると判定される。図8に示すように、距離Dが設定距離Dthより小さい場合(D<Dth)には、正規の部品sがクランプされていない状態にあると判定される。図9に示すように、距離Dが設定距離Dthより大きく、かつ、設定範囲Da~Dbから外れている場合(Da>D>DthまたはD>Db)には、正規の部品sではない部品または異物がクランプされた状態、または、正規の部品sが正常な姿勢でクランプされていない状態にあると判定される。 As shown in FIG. 7, if the distance D between the pair of marks Ma and Mb measured based on the captured image is within the set range (Da<D<Db), the genuine part s is normal. It is determined that the object is in a clamped state. As shown in FIG. 8, when the distance D is smaller than the set distance Dth (D<Dth), it is determined that the regular part s is not clamped. As shown in FIG. 9, if the distance D is larger than the set distance Dth and is outside the set range Da to Db (Da>D>Dth or D>Db), the part is not a regular part s or It is determined that the foreign object is in a clamped state or that the regular part s is not clamped in a normal posture.

なお、本実施例においては、制御装置100によって実装機全体が制御される場合について説明したが、基板搬送保持装置4、部品供給装置6、ヘッド移動装置8、測定装置10等がそれぞれ互いに個別の制御装置によって制御されるようにすることもできる。 In this embodiment, a case has been described in which the entire mounting machine is controlled by the control device 100, but the board transfer and holding device 4, the component supply device 6, the head moving device 8, the measuring device 10, etc. are each controlled separately from each other. It can also be controlled by a control device.

以下、実装機の作動について説明する。
部品sの電気的特性を取得する要求がある場合に、測定装置10により部品sの電気的特性が測定される。
The operation of the mounting machine will be explained below.
When there is a request to acquire the electrical characteristics of the component s, the measuring device 10 measures the electrical characteristics of the component s.

部品sの電気的特性は、図10のフローチャートで表されるLCR測定プログラムの実行により測定される。本実施例においては、保持台位置センサ120,可動子位置センサ118の出力、タイマ124による計測時間等を利用して、電磁弁装置69,72が制御され、保持台32、可動子36がそれぞれ前進、後退させられる。 The electrical characteristics of the component s are measured by executing the LCR measurement program shown in the flowchart of FIG. In this embodiment, the solenoid valve devices 69 and 72 are controlled by using the output of the holding table position sensor 120, the movable element position sensor 118, the time measured by the timer 124, etc., and the holding table 32 and the movable element 36 are controlled respectively. Being moved forward and backward.

測定装置10は、常には、図12Aに示す初期状態にある。可動子36は後退端位置にあり、保持台32は前進端位置、すなわち、ストッパ80に当接した位置にある。この状態において、部品載置部44は、内部導通等によりアースされた状態にある。保持台32のV溝44cの上方に可動子36が存在せず、部品sを載置可能な状態にある。
ステップ1(以下、S1と略称する。他のステップについても同様とする)において、部品sの電気的特性の測定指令が出されたか否かが判定される。S1の判定がYESである場合には、S2において、ヘッド16が移動させられ、例えば、テープフィーダ14によって供給された部品sが吸着ノズル18によってピックアップされて、保持台32のV溝44c上に載せられる。吸着ノズル18が下降させられ、部品sが開放されることにより、部品sがV溝44c上に載置させられたことがわかる。
The measuring device 10 is always in the initial state shown in FIG. 12A. The movable element 36 is at the backward end position, and the holding base 32 is at the forward end position, that is, at a position where it abuts against the stopper 80. In this state, the component mounting portion 44 is grounded due to internal conduction or the like. The movable element 36 does not exist above the V-groove 44c of the holding table 32, and the component s can be placed thereon.
In step 1 (hereinafter abbreviated as S1; the same applies to other steps), it is determined whether a command to measure the electrical characteristics of component s has been issued. If the determination in S1 is YES, the head 16 is moved in S2, and, for example, the component s fed by the tape feeder 14 is picked up by the suction nozzle 18 and placed on the V-groove 44c of the holding table 32. It will be posted. It can be seen that the suction nozzle 18 is lowered and the component s is released, so that the component s is placed on the V-groove 44c.

その後、吸着ノズル18が上昇端に達すると、S3において、電磁弁装置72の制御により可動子36が前進させられる。可動子36の先端の対向面36fは、部品載置部44のV溝44cに沿って前進させられる(図12B)。部品sは、対向面36fと固定子34の対向面34fとによってクランプされる(把持される)はずである。可動子36が前進させられた状態を接近状態と称することができる。 Thereafter, when the suction nozzle 18 reaches the rising end, the movable element 36 is moved forward under the control of the electromagnetic valve device 72 in S3. The opposing surface 36f at the tip of the movable element 36 is moved forward along the V-groove 44c of the component placement section 44 (FIG. 12B). The component s is supposed to be clamped (held) by the opposing surface 36f and the opposing surface 34f of the stator 34. The state in which the mover 36 is advanced can be referred to as an approach state.

S4において、電磁弁装置69の制御により保持台32が後退させられ、保持台32は、ストッパ82に当接するまで後退させられる(図12C)。保持台32が部品sから離間することにより、部品載置部44が部品sの近傍に位置することに起因して生じる電気的特性の測定誤差を小さくすることができる。また、保持台32が可動子36の先端部36aより後方に位置することにより、保持台32を可動子36から良好に離間させることができる。 In S4, the holding stand 32 is moved backward under the control of the electromagnetic valve device 69, and the holding stand 32 is moved back until it abuts against the stopper 82 (FIG. 12C). By separating the holding table 32 from the component s, it is possible to reduce measurement errors in electrical characteristics caused by the component mounting section 44 being located near the component s. Furthermore, by positioning the holding base 32 behind the tip end 36a of the movable element 36, the holding base 32 can be spaced apart from the movable element 36 in a favorable manner.

S5において、一対の測定子37による部品のクランプ状態が取得され、S6において、後述するようにフラグの状態に基づいて、一対の測定子37により正規の部品sが正常な姿勢でクランプされているか否かが判定される。S5については後述する。 In S5, the clamping state of the component by the pair of probes 37 is acquired, and in S6, based on the state of the flag as described later, it is determined whether the regular component s is clamped in a normal posture by the pair of probes 37. It is determined whether or not. S5 will be described later.

S7において、部品sがV溝44c上に載せられた時から、設定時間である除電時間が経過するのが待たれる。部品sに帯電されている電荷が保持台32を介して除電され、保持台32が後退させられた後は空中に放電される。部品sについて除電に要する時間は、部品sの特性や大きさ等で決まり、予め決められている。除電時間が経過して、判定がYESとなると、S8において、電気的特性が測定される。この状態が測定状態である。 In S7, it is waited for the static elimination time, which is a set time, to elapse from the time when the component s is placed on the V-groove 44c. The charge on the component s is removed via the holding stand 32, and after the holding stand 32 is moved back, it is discharged into the air. The time required to remove static electricity from the component s is determined by the characteristics, size, etc. of the component s, and is determined in advance. When the neutralization time has elapsed and the determination becomes YES, the electrical characteristics are measured in S8. This state is the measurement state.

測定時間が経過し、部品sの電気的特性の測定が終了すると、S9において、電磁弁装置72の制御により可動子36が後退させられ、S10において、電磁弁装置69の制御により、保持台32がストッパ82に当接するまで後退させられる(図12D)。保持台32は、可動子36の対向面36fより後方に位置し、一対の対向面34f、36fの間の下方に存在しない。落下した部品sは開口30a、廃棄通路28を経て廃棄箱26に収容される。この状態が廃棄状態である。
また、可動子36の後退時には、噴出通路60sの開口60aからエアが噴出させられ、可動子36の部分Rに当たる。また、カバー部50により、一対の対向面34f、36fの間の空間がx方向から覆われる。その結果、対向面36fから部品sを良好に落下させることができ、かつ、部品sの飛散を防止することができる。
When the measurement time has elapsed and the measurement of the electrical characteristics of the component s is completed, the mover 36 is moved backward under the control of the solenoid valve device 72 in S9, and the holding table 32 is moved backward under the control of the solenoid valve device 69 in S10. is retracted until it abuts against the stopper 82 (FIG. 12D). The holding base 32 is located behind the facing surface 36f of the movable element 36, and does not exist below between the pair of facing surfaces 34f and 36f. The fallen parts s are stored in the waste box 26 through the opening 30a and the waste passage 28. This state is the discarded state.
Furthermore, when the movable element 36 is retreating, air is ejected from the opening 60a of the ejection passage 60s and hits the portion R of the movable element 36. Further, the cover portion 50 covers the space between the pair of opposing surfaces 34f and 36f from the x direction. As a result, the component s can be dropped from the opposing surface 36f favorably, and the component s can be prevented from scattering.

S11において、電磁弁装置69の制御により保持台32が前進させられ、図12Aに示す初期状態に戻される。また、保持台32の前進に伴ってエアが可動子36の対向面36fに供給される。それにより、可動子36の対向面36fの除電を良好に図ることができる。 In S11, the holding base 32 is moved forward under the control of the electromagnetic valve device 69 and returned to the initial state shown in FIG. 12A. Further, as the holding table 32 moves forward, air is supplied to the facing surface 36f of the movable element 36. Thereby, the static electricity on the facing surface 36f of the movable element 36 can be effectively eliminated.

S5のクランプ状態の取得は、図11のフローチャートに従って実行される。
S31において、ヘッド16が移動させられ、第1カメラ19により一対の測定子37が撮像され、S32において、その撮像画像に基づいて一対のマークMa,Mbの間の距離Dが取得される。そして、S33において、距離Dが設定距離Dthより小さいか否か、S34において、距離Dが設定範囲Da~Dbの間にあるか否かが判定される。S33の判定がNO,S34の判定がYESである場合には、S35において、フラグ1がセットされ、一対の測定子37により正規の部品sが正常な姿勢でクランプされた状態にあると判定される。それに対して、S33の判定がYESである場合には、S36において、フラグ2がセットされ、正規の部品sがクランプされていない状態にあると判定される。例えば、部品sのクランプに失敗したと判定される。S33,S34の判定がNOである場合には、S37において、フラグ3がセットされ、正規の部品がクランプされていない(異物または正規の部品とは異なる部品がクランプされた)状態、または、正規の部品が正常な姿勢でクランプされていない状態であると判定される。
Acquisition of the clamp state in S5 is performed according to the flowchart of FIG. 11.
In S31, the head 16 is moved and the first camera 19 captures an image of the pair of probes 37, and in S32, the distance D between the pair of marks Ma and Mb is obtained based on the captured image. Then, in S33, it is determined whether the distance D is smaller than the set distance Dth, and in S34, it is determined whether the distance D is between the set ranges Da to Db. If the determination in S33 is NO and the determination in S34 is YES, flag 1 is set in S35, and it is determined that the genuine part s is clamped in a normal posture by the pair of probes 37. Ru. On the other hand, if the determination in S33 is YES, flag 2 is set in S36, and it is determined that the regular part s is not clamped. For example, it is determined that clamping of part s has failed. If the determinations in S33 and S34 are NO, flag 3 is set in S37, indicating that the regular part is not clamped (a foreign object or a part different from the regular part is clamped), or that the regular part is not clamped. It is determined that the parts are in a normal position and not clamped.

そして、S6において、フラグ1がセットされているか否かが判定される。判定がYESである場合には、S7以降が実行され、判定がNOである場合、すなわち、フラグ2またはフラグ3がセットされている場合には、S12において、その旨がディスプレイ116を介して報知され、その後、S9~11が実行される。 Then, in S6, it is determined whether flag 1 is set. If the determination is YES, S7 and subsequent steps are executed, and if the determination is NO, that is, if flag 2 or flag 3 is set, that fact is notified via the display 116 in S12. After that, S9 to S11 are executed.

このように、本実施例においては、実装機において予め設けられていた第1カメラ19が利用されるため、コストアップを抑制しつつ、部品sのクランプ状態を取得することができる。また、部品sの形状、色彩等に基づくのではなく一対の測定子37の間の距離に基づくため、作業者のデータ入力作業を軽減し、正確に部品sのクランプ状態を取得することができる。 In this manner, in this embodiment, the first camera 19 that is previously installed in the mounting machine is used, so it is possible to obtain the clamping state of the component s while suppressing cost increases. In addition, since it is not based on the shape, color, etc. of the part s, but on the distance between the pair of probes 37, the data input work of the operator is reduced, and the clamping state of the part s can be accurately obtained. .

さらに、部品sのR(抵抗)が0Ωである場合、電気的特性の測定値に基づいて部品sのクランプ状態を取得することが困難である。それに対して、本実施例においては、電気的特性の測定値に基づくのではなく一対の測定子37の間の距離に基づくため、抵抗が0Ωの部品sであっても、一対の測定子37によりクランプされた状態にあるか否かを良好に取得することができる。
また、S4の実行後、すなわち、測定のための保持台32の作動等が終了した後に、クランプ状態が取得される。保持台32の後退により、一対の測定子37による部品sのクランプ状態が変わる場合があるが、本実施例においては、保持台32の後退後に、クランプ状態が取得されるため、測定状態における一対の測定子37による部品sのクランプ状態を正確に取得することができる。
Furthermore, if R (resistance) of the component s is 0Ω, it is difficult to obtain the clamp state of the component s based on the measured value of the electrical characteristics. In contrast, in this embodiment, the distance between the pair of probes 37 is not based on the measured value of the electrical characteristics, so even if the component s has a resistance of 0Ω, the pair of probes 37 It is possible to satisfactorily obtain whether or not the object is in a clamped state.
Further, the clamp state is acquired after the execution of S4, that is, after the operation of the holding table 32 for measurement, etc. is completed. The clamping state of the component s by the pair of probes 37 may change due to the retraction of the holding table 32. However, in this embodiment, the clamping state is acquired after the holding table 32 is retracted. The clamping state of the component s by the probe 37 can be accurately obtained.

以上、本実施例においては、制御装置100の図10のフローチャートで表される電気的特性取得プログラムのS5,6,12を記憶する部分、実行する部分等によりクランプ状態取得装置が構成され、第1カメラ19、制御装置100のS31,32を記憶する部分、実行する部分等により距離取得装置が構成される。また、制御装置100の図10のフローチャートで表される電気的特性取得プログラムのS4,10,11を記憶する部分、実行する部分等により保持台移動制御装置が構成され、S31を記憶する部分、実行する部分等により作業装置制御装置が構成される。 As described above, in this embodiment, the clamp state acquisition device is configured by the part that stores and executes S5, 6, 12 of the electrical characteristic acquisition program shown in the flowchart of FIG. 10 of the control device 100. 1 camera 19, a part for storing S31 and S32 of the control device 100, a part for executing S32, and the like constitute a distance acquisition device. Further, a holding table movement control device is constituted by a part that stores and executes S4, 10, and 11 of the electrical characteristic acquisition program shown in the flowchart of FIG. 10 of the control device 100, and a part that stores S31, A work equipment control device is configured by the parts to be executed.

なお、上記実施例においては、図10のLCR測定プログラムのS4の後に、すなわち、保持台32が部品sから離間した後に、クランプ状態が取得されるようにされていたが、S3の後、すなわち、保持台32が部品sから離間する前に、クランプ状態が取得されるようにすることもできる。 In the above embodiment, the clamp state is acquired after S4 of the LCR measurement program in FIG. 10, that is, after the holding table 32 is separated from the component s, but after S3, , the clamping state may be acquired before the holding base 32 is separated from the component s.

また、一対の測定子37の間の距離は、図13,14に示すように、距離取得装置としての距離センサ150によって測定することもできる。距離センサ150は、本体152と、基端部において本体152に伸縮可能に保持された検出ロッド154とを含む。検出ロッド154は、本体152にスプリング156により先端部が本体152から離間する方向に付勢された状態で保持され、検出ロッド154の本体152に対する突出量が磁気的、光学的または機械的に検出部158により検出される。本体152は、可動子保持体166と固定子保持体165との一方(例えば、可動子保持体166)に設けられ、検出ロッド154の先端が、他方(例えば、固定子保持体165)に絶縁体160を介して常時接触した状態にある。
一対の測定子37の間の距離が変化すると、検出ロッド154の本体152に対する突出量が変化する。距離センサ150において、本体152に対する検出ロッド154の突出量が測定されることにより、一対の測定子37の間の距離が取得される。
Further, the distance between the pair of probes 37 can also be measured by a distance sensor 150 as a distance acquisition device, as shown in FIGS. 13 and 14. Distance sensor 150 includes a main body 152 and a detection rod 154 extendably held by main body 152 at its base end. The detection rod 154 is held by the main body 152 with its tip end biased in a direction away from the main body 152 by a spring 156, and the amount of protrusion of the detection rod 154 with respect to the main body 152 is detected magnetically, optically, or mechanically. 158. The main body 152 is provided on one of the movable element holder 166 and the stator holder 165 (e.g., the movable element holder 166), and the tip of the detection rod 154 is insulated from the other (e.g., the stator holder 165). They are in constant contact via the body 160.
When the distance between the pair of probes 37 changes, the amount of protrusion of the detection rod 154 relative to the main body 152 changes. In the distance sensor 150, the distance between the pair of probes 37 is obtained by measuring the amount of protrusion of the detection rod 154 with respect to the main body 152.

さらに、距離センサは、電磁波等を利用した無接点式のものとすることができる。例えば、距離センサは、可動子保持体166と固定子保持体165とのいずれか一方に設けられた照射部と受信部とを含み、照射部から電磁波を照射した時点から、電磁波が他方に当たって反射して受信部において受信した時点までの時間等に基づいて、可動子保持体166と固定子保持体165との間の距離を取得するものとすることができる。 Furthermore, the distance sensor can be of a non-contact type that uses electromagnetic waves or the like. For example, the distance sensor includes an irradiation section and a reception section provided on either one of the movable element holder 166 and the stator holder 165, and from the time when the irradiation section emits electromagnetic waves, the electromagnetic waves hit the other and are reflected. The distance between the movable element holder 166 and the stator holder 165 can be acquired based on the time up to the time when the signal is received by the receiving section.

また、一対の測定子37の各々にマークMa,Mbを設けることは不可欠ではなく、例えば、撮像画像に基づいて、一対の対向面34f、36fの間の距離を取得することも可能である。 Further, it is not essential to provide the marks Ma and Mb on each of the pair of tracing stylus 37, and for example, it is also possible to obtain the distance between the pair of opposing surfaces 34f and 36f based on the captured image.

さらに、本開示に係るクランプ状態取得装置は、電気的特性を測定する測定装置に限らず、広く一対のクランプ部材により対象物をクランプして作業を施す作業装置、測定装置、治具等に適用することができる等、本開示は、前記実施形態に記載の態様の他、当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を施した形態で実施することができる。 Furthermore, the clamp state acquisition device according to the present disclosure is applicable not only to measurement devices that measure electrical characteristics, but also to a wide range of work devices, measurement devices, jigs, etc. that perform work by clamping an object with a pair of clamp members. In addition to the aspects described in the embodiments described above, the present disclosure can be implemented with various changes and improvements based on the knowledge of those skilled in the art.

19:第1カメラ 10:測定装置 32:保持台 34:固定子 36:可動子 34f,36f:対向面 40:保持台移動装置 41:可動子移動装置 42:LCR測定部 44:部品載置部 55:固定子保持体 56:可動子保持体 100:制御装置 150:距離センサ 19: First camera 10: Measuring device 32: Holding table 34: Stator 36: Mover 34f, 36f: Opposing surface 40: Holding table moving device 41: Mover moving device 42: LCR measuring section 44: Component placement section 55: Stator holder 56: Mover holder 100: Control device 150: Distance sensor

Claims (7)

部品供給装置によって供給された電子部品をピックアップして回路基板に装着する実装機であって、
前記電子部品を一対の測定子によってクランプすることにより、前記電子部品の電気的特性を測定する測定装置と、
前記部品供給装置によって供給された前記電子部品を保持する部品保持具と撮像装置とを有するヘッドと、前記ヘッドを移動させるヘッド移動装置とを備えた作業装置と、
前記作業装置を制御する作業装置制御装置と
を含み、
前記測定装置が、前記一対の測定子の間の距離を取得する距離取得装置と、前記距離取得装置によって取得された前記一対の測定子の間の距離に基づいて、前記一対の測定子による前記電子部品のクランプ状態を取得するクランプ状態取得装置とを含み、
前記作業装置制御装置が、前記ヘッド移動装置を制御することにより、前記部品供給装置によって供給された前記電子部品を前記ヘッドの前記部品保持具に保持させ、前記部品保持具に保持させた前記電子部品を前記測定装置に載置させた後に、前記ヘッドを前記測定装置の前記一対の測定子を前記撮像装置により撮像可能な位置へ移動させて、前記撮像装置に前記一対の測定子を撮像させるものであり、
前記距離取得装置が、前記撮像装置の前記一対の測定子の撮像により得られた撮像画像に基づいて、前記一対の測定子の間の距離を取得するものである実装機。
A mounting machine that picks up electronic components supplied by a component supply device and mounts them on a circuit board,
a measuring device that measures the electrical characteristics of the electronic component by clamping the electronic component with a pair of probes;
a working device comprising: a head having a component holder that holds the electronic component supplied by the component supply device; and an imaging device; and a head moving device that moves the head;
a work equipment control device that controls the work equipment;
The measurement device includes a distance acquisition device that acquires the distance between the pair of measurement elements, and a distance acquisition device that acquires the distance between the pair of measurement elements, and a distance acquisition device that acquires the distance between the pair of measurement elements based on the distance between the pair of measurement elements acquired by the distance acquisition device. and a clamp state acquisition device that acquires the clamp state of the electronic component,
The working device control device controls the head moving device to cause the component holder of the head to hold the electronic component supplied by the component supply device, and to cause the electronic component held by the component holder to hold the electronic component supplied by the component supply device. After placing the component on the measuring device, the head is moved to a position where the pair of probes of the measuring device can be imaged by the imaging device, and the imaging device is caused to image the pair of probes. It is a thing,
The mounting machine, wherein the distance acquisition device acquires the distance between the pair of probes based on a captured image obtained by imaging the pair of probes of the imaging device.
前記距離取得装置が、前記一対の測定子の各々にマークを設け、前記撮像画像に基づいて一対の前記マークの間の距離を取得するマーク間距離取得部を含み、そのマーク間距離取得部によって取得された前記一対のマークの間の距離に基づいて前記一対の測定子の間の距離を取得するものである請求項1に記載の実装機。 The distance acquisition device includes an inter-mark distance acquisition unit that provides a mark on each of the pair of measuring stylus and acquires the distance between the pair of marks based on the captured image, and the inter-mark distance acquisition unit The mounting machine according to claim 1, wherein the distance between the pair of probes is obtained based on the obtained distance between the pair of marks. 前記一対の測定子の各々が、それぞれ、互いに対向する対向面を備え、一対の前記対向面により対象物としての前記電子部品をクランプするものであり、
前記距離取得装置が、前記一対の測定子の間の距離として前記一対の対向面の間の距離を取得するものである請求項1または2に記載の実装機。
Each of the pair of probes is provided with opposing surfaces facing each other, and the electronic component as a target is clamped by the pair of opposing surfaces,
The mounting machine according to claim 1 or 2, wherein the distance acquisition device acquires the distance between the pair of opposing surfaces as the distance between the pair of probes.
前記クランプ状態取得装置が、前記距離取得装置によって取得された前記距離が設定距離以下である場合には、前記一対の測定子により対象物としての前記電子部品がクランプされていない状態であると取得するものである請求項1ないし3のいずれか1つに記載の実装機。 When the distance acquired by the distance acquisition device is less than or equal to a set distance, the clamp state acquisition device acquires that the electronic component as a target object is not clamped by the pair of probes. The mounting machine according to any one of claims 1 to 3. 前記クランプ状態取得装置が、前記距離取得装置によって取得された前記距離が対象物としての前記電子部品で決まる設定範囲から外れた場合に、前記一対の測定子によって前記対象物とは異なる物がクランプされた状態にあると取得するものである請求項1ないし4のいずれか1つに記載の実装機。 When the distance acquired by the distance acquisition device is out of a setting range determined by the electronic component as the target object , the clamp state acquisition device is configured to clamp an object different from the target object using the pair of probes. The mounting machine according to any one of claims 1 to 4, wherein the mounting machine is acquired when the mounting machine is in a state where the mounting machine is in a state where 当該測定装置が、
対象物としての前記電子部品を保持可能な保持台と、
前記保持台を移動させる保持台移動装置と、
前記保持台移動装置を制御することにより、前記対象物が保持された前記保持台上において前記一対の測定子が互いに接近した後に、前記保持台を前記対象物から遠ざける保持台移動制御装置と
を含み、
前記距離取得装置が、前記対象物が保持された前記保持台上で前記一対の測定子が互いに接近した場合と、前記保持台移動装置により前記保持台が前記対象物から遠ざけられた場合との少なくとも一方において、前記距離を取得するものである請求項1ないし5のいずれか1つに記載の実装機。
The measuring device is
a holding stand capable of holding the electronic component as a target object ;
a holding table moving device that moves the holding table;
a holding table movement control device that controls the holding table moving device to move the holding table away from the object after the pair of probes approach each other on the holding table on which the object is held; including,
The distance acquisition device detects two cases: a case where the pair of probes approaches each other on the holding table on which the object is held, and a case where the holding table is moved away from the object by the holding table moving device. The mounting machine according to any one of claims 1 to 5, wherein the distance is acquired in at least one of the mounting machines.
互いに接近・離間可能であって、対象物をクランプして前記対象物の電気的特性を測定可能な一対の測定子と、
前記一対の測定子の間の距離を取得する距離取得装置と、
その距離取得装置によって取得された距離に基づいて、前記一対の測定子による前記対象物のクランプ状態を取得するクランプ状態取得装置と
を含み、
前記一対の測定子が、固定子と前記固定子に対して接近・離間可能な可動子とを含み、
前記距離取得装置が、前記一対の測定子を撮像する撮像装置を含み、前記撮像装置による撮像画像に基づいて、前記一対の測定子の間の距離を取得するものである測定装置。
a pair of probes that can approach and separate from each other and that can clamp an object and measure the electrical characteristics of the object;
a distance acquisition device that acquires the distance between the pair of probes;
a clamp state acquisition device that acquires a clamp state of the object by the pair of probes based on the distance acquired by the distance acquisition device;
The pair of measurement elements includes a stator and a movable element that can approach and move away from the stator,
A measuring device, wherein the distance acquisition device includes an imaging device that images the pair of measuring elements, and acquires a distance between the pair of measuring elements based on an image captured by the imaging device.
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