JP7401768B2 - ガス分析方法及びガス分析装置 - Google Patents
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Description
先ず、本実施形態にかかるガス分析装置の構成について説明する。図1は、ガス分析装置の構成の概略を示す説明図である。
次に、以上の実施形態のガス分析装置10を用いて、測定チャンバ20の内部の被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出(分析)する方法、すなわちCT画像の再構成計算アルゴリズムについて説明する。
先ず、レーザ入光部11からレーザ受光部12に向けてレーザ光を照射して、測定チャンバ20の内部の被測定ガス中にレーザ光を通過させ、レーザ受光部12で受光したレーザ光の強度を測定する。レーザ受光部12a~12pにおける測定結果は、算出部13に出力される。
次に、算出部13において、被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出する工程について説明する。この算出工程は、次の第1工程~第4工程に分かれている。
第1工程では、被測定ガスの温度と濃度の推定値を、測定チャンバ20の内部空間内で離散的に推定する。図1に示したようにレーザ入光部11とレーザ受光部12のレーザ光経路は、被測定ガス内で二次元メッシュになる。そして第1工程では、図2に示すようにレーザ光経路が二次元メッシュで表現された測定面において、温度分布T(x,y)及び濃度分布n(x,y)を離散格子状に推定する(図2中の白丸に対応)。
第2工程では、第1工程で離散的に推定された推定値の格子間を、双三次畳込補間法(BCI法:Bicubic Convolution Interpolation)を用いて補間する。具体的には、下記式(1)を用いて推定値を補間する。図2に示すように対象点(図2中の黒丸に対応)の近傍4×4=16点(図2中の白丸に対応)との距離から、各近傍点の値を三次式補完することにより、対象点の値を算出する。
第3工程では、第1工程で推定された推定値から算出されるレーザ光強度と、測定工程で測定されたレーザ光強度の測定値との誤差を最小化するように、推定値を補正する繰返最適化の計算を行う。そして、離散格子状に推定された温度分布T(x,y)及び濃度分布n(x,y)の推定値について、測定値に最も近い値を選択することができる。
第4工程では、第3工程で補正された推定値の空間内の点数を段階的に増加させ、推定値の格子間隔を段階的に狭めていく。例えば図3に示すように推定値の空間内の格子間隔を1/2ずつ狭めていく。これにより、被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出することができる。
11(11a~11p) レーザ入光部
12(12a~12p) レーザ受光部
13 算出部
20 測定チャンバ
Claims (10)
- 500℃~2000℃の範囲の被測定ガスを内部に含む測定チャンバにおいて、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を分析するガス分析方法であって、
レーザ入光部からレーザ受光部に向けてレーザ光を照射して、前記被測定ガス中に前記レーザ光を通過させ、前記レーザ受光部で受光した前記レーザ光の強度を測定する測定工程と、
前記レーザ受光部におけるレーザ光強度の測定値に基づいて、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出する算出工程と、を有し、
前記レーザ入光部と前記レーザ受光部の対が複数設けられ、
前記算出工程は、
前記被測定ガスの温度と濃度の推定値を、前記測定チャンバの内部空間内で離散的に推定する第1工程と、
前記第1工程で離散的に推定された前記推定値の空間補間を三次以下の多項式補間式で行う第2工程と、
前記第1工程で推定された前記推定値から算出されるレーザ光強度と、前記測定工程で測定された前記レーザ光強度の測定値との誤差を最小化するように、前記推定値を補正する繰返最適化の計算を行う第3工程と、
前記第3工程で補正された前記推定値の空間内の点数を段階的に増加させ、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出する第4工程と、を有することを特徴とする、ガス分析方法。 - 前記レーザ入光部と前記レーザ受光部の対が8つ以上設けられ、
前記レーザ入光部とレーザ受光部の間のレーザ光経路が、前記被測定ガス内で二次元メッシュ状になるよう構成されたことを特徴とする、請求項1に記載のガス分析方法。 - 前記第2工程において、前記三次以下の多項式補間式として、双三次畳込補間法を利用することを特徴とする、請求項1又は2に記載のガス分析方法。
- 前記第3工程において、前記繰返最適化の手順として、最小自乗法を利用することを特徴とする、請求項1~3のいずれか一項に記載のガス分析方法。
- 前記第4工程において、前記推定値の空間内の点数を段階的に増加させていく手順として、前記推定値の空間内の格子間隔を逐次的に2分割していくことを特徴とする、請求項1~4のいずれか一項に記載のガス分析方法。
- 500℃~2000℃の範囲の被測定ガスを内部に含む測定チャンバにおいて、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を分析するガス分析装置であって、
前記被測定ガス中にレーザ光を入光するレーザ入光部と、
前記被測定ガス中を通過したレーザ光を受光するレーザ受光部と、
前記レーザ受光部におけるレーザ光強度の測定値に基づいて、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出する算出部と、を有し、
前記レーザ入光部と前記レーザ受光部の対が複数設けられ、
前記算出部は、
前記被測定ガスの温度と濃度の推定値を、前記測定チャンバの内部空間内で離散的に推定する第1工程と、
前記第1工程で離散的に推定された前記推定値の空間補間を三次以下の多項式補間式で行う第2工程と、
前記第1工程で推定された前記推定値から算出されるレーザ光強度と、前記レーザ受光部における前記レーザ光強度の測定値との誤差を最小化するように、前記推定値を補正する繰返最適化の計算を行う第3工程と、
前記第3工程で補正された前記推定値の空間内の点数を段階的に増加させ、前記被測定ガスの温度と濃度の空間内分布を算出する第4工程と、を行うことを特徴とする、ガス分析装置。 - 前記レーザ入光部と前記レーザ受光部の対が8つ以上設けられ、
前記レーザ入光部とレーザ受光部の間のレーザ光経路が、前記被測定ガス内で二次元メッシュ状になるよう構成されたことを特徴とする、請求項6に記載のガス分析装置。 - 前記算出部は、前記第2工程において、前記三次以下の多項式補間式として、双三次畳込補間法を利用することを特徴とする、請求項6又は7に記載のガス分析装置。
- 前記算出部は、前記第3工程において、前記繰返最適化の手順として、最小自乗法を利用することを特徴とする、請求項6~8のいずれか一項に記載のガス分析装置。
- 前記算出部は、前記第4工程において、前記推定値の空間内の点数を段階的に増加させていく手順として、前記推定値の空間内の格子間隔を逐次的に2分割していくことを特徴とする、請求項6~9のいずれか一項に記載のガス分析装置。
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| JP2020056417A JP7401768B2 (ja) | 2020-03-26 | 2020-03-26 | ガス分析方法及びガス分析装置 |
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