JP7453554B2 - 三次元計測装置 - Google Patents
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Description
計測対象物(W)に対して所定のパターンを投影する投影部(20)と、
前記所定のパターンが投影された前記計測対象物を撮像する撮像部(30)と、
前記撮像部の撮像結果から前記計測対象物の三次元形状を計測する計測部(40)と、
を備える三次元計測装置(10)であって、
前記所定のパターンは、第1の方向(X)にて輝度が周期的に変化して前記第1の方向に直交する第2の方向(Y)にて輝度が変化しない縞パターンであり、
前記投影部は、当該投影部及び前記撮像部が所定の移動方向(F)に移動する際に、前記第2の方向が前記所定の移動方向に一致するように前記所定のパターンを投影し、
前記計測部は、前記所定の移動方向への移動時に前記撮像部により時間をずらして撮像された複数の撮像画像を合成した合成画像を利用して位相シフト法により前記計測対象物の三次元形状を計測することを特徴とする。
なお、上記各括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。
以下、本発明の三次元計測装置を具現化した第1実施形態について、図面を参照して説明する。
本実施形態に係る三次元計測装置10は、位相シフト法により計測対象物の三次元形状を計測する装置である。より具体的には、図1に示すように、三次元計測装置10は、ロボット1が有するロボットアーム2に取り付けられて、ロボットアーム2に取り付けられたハンド3で把持すべきワークWを計測対象物として、そのワークWの位置姿勢(三次元形状)をRGB位相シフト法によって計測し、その計測結果をロボット制御装置4に出力するように構成されている。このため、三次元計測装置10は、ハンド3でワークWを把持する際のロボットアーム2の動作に応じて、そのワークWに対して相対的に移動することになる。
(1)三次元計測装置10は、RGB位相シフト法によってワークWなどの計測対象物の三次元形状を計測するように構成されることに限らず、例えば、従来の位相シフト法や空間コード化法等直線状のパターンを使用する計測方法によって計測対象物の三次元形状を計測するように構成されてもよい。このような構成でも、計測対象物に対して上記Y方向がハンド移動方向Fに一致するように縞パターンを投影し、各撮像画像から生成された輝度データをずれ量ΔYに応じて補正して平均化することで、従来の位相シフト法や空間コード化法等直線状のパターンを使用する計測方法に利用する平均輝度データを精度良く生成することができる。
2…ロボットアーム
3…ハンド
4…ロボット制御装置
10…三次元計測装置
20…投影部
30…撮像部
40…計測部(輝度データ生成部,ずれ量算出部,平均輝度データ生成部)
F…ハンド移動方向(所定の移動方向)
W…ワーク(計測対象物)
ΔY…ずれ量
Claims (3)
- 計測対象物に対して所定のパターンを投影する投影部と、
前記所定のパターンが投影された前記計測対象物を撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像結果から前記計測対象物の三次元形状を計測する計測部と、
を備える三次元計測装置であって、
前記所定のパターンは、第1の方向にて輝度が周期的に変化して前記第1の方向に直交する第2の方向にて輝度が変化しない縞パターンであり、
前記投影部は、当該投影部及び前記撮像部が所定の移動方向に移動する際に、前記第2の方向が前記所定の移動方向に一致するように前記所定のパターンを投影し、
前記計測部は、前記所定の移動方向への移動時に前記撮像部により時間をずらして撮像された複数の撮像画像を合成した合成画像を利用して位相シフト法により前記計測対象物の三次元形状を計測することを特徴とする三次元計測装置。 - 前記計測部は、
前記所定の移動方向への移動時に前記撮像部により時間をずらして撮像された複数の撮像画像ごとに画素単位で輝度値を取得してなる輝度データを生成する輝度データ生成部と、
前記計測対象物を基準とする前記複数の撮像画像間での前記所定の移動方向に沿うずれ量を算出するずれ量算出部と、
前記輝度データ生成部により撮像画像ごとに生成された複数の前記輝度データを、前記ずれ量算出部より算出された前記ずれ量に応じて前記計測対象物の位置が一致するように補正した後に、画素単位で輝度値を平均化することで平均輝度データを生成する平均輝度データ生成部と、
を備え、
前記平均輝度データ生成部により生成された前記平均輝度データを前記合成画像として利用して位相シフト法により前記計測対象物の三次元形状を計測することを特徴とする請求項1に記載の三次元計測装置。 - 前記所定の移動方向は、前記計測対象物が載置された平面に沿う方向であることを特徴とする請求項1又は2に記載の三次元計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2021050500A JP7453554B2 (ja) | 2021-03-24 | 2021-03-24 | 三次元計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2021050500A JP7453554B2 (ja) | 2021-03-24 | 2021-03-24 | 三次元計測装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022148711A JP2022148711A (ja) | 2022-10-06 |
| JP7453554B2 true JP7453554B2 (ja) | 2024-03-21 |
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ID=83463360
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2021050500A Active JP7453554B2 (ja) | 2021-03-24 | 2021-03-24 | 三次元計測装置 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP7453554B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004198263A (ja) | 2002-12-18 | 2004-07-15 | Ckd Corp | 外観検査装置及び三次元計測装置 |
| JP2012518791A (ja) | 2009-02-23 | 2012-08-16 | ディメンジョナル フォトニクス インターナショナル,インコーポレイテッド | コヒーレント照明イメージング・システムにおけるスペックル雑音の低減 |
| JP2018161700A (ja) | 2017-03-24 | 2018-10-18 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、システム、情報処理方法、製造方法 |
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2021
- 2021-03-24 JP JP2021050500A patent/JP7453554B2/ja active Active
Patent Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
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| JP2012518791A (ja) | 2009-02-23 | 2012-08-16 | ディメンジョナル フォトニクス インターナショナル,インコーポレイテッド | コヒーレント照明イメージング・システムにおけるスペックル雑音の低減 |
| JP2018161700A (ja) | 2017-03-24 | 2018-10-18 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、システム、情報処理方法、製造方法 |
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| JP2022148711A (ja) | 2022-10-06 |
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