JP7533158B2 - IC module and information medium - Google Patents
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Description
本発明は、カード、パスポートなどICチップを搭載した媒体において、局所的な圧力によるICチップの破壊を防ぐことができるICモジュールおよびそれを搭載した情報媒体に関する。 The present invention relates to an IC module that can prevent damage to an IC chip caused by localized pressure in media equipped with an IC chip, such as cards and passports, and to an information medium equipped with the IC module.
ICカードに内蔵されているICチップ部分のモールドやリードフレームが外部からの局所的な圧力などで破壊されるのを保護するために、接着剤を介してSUSなどの金属製の補強材を設けてICモジュールとした構造が広く採用されている。 To protect the mold and lead frame of the IC chip built into the IC card from damage caused by localized pressure from the outside, a commonly used structure is the IC module, which uses a metal reinforcing material such as SUS bonded with adhesive.
この様な構造とした場合、接着剤部分を柔らかい材料(ウレタン樹脂、ポリエチレン樹脂、シリコン樹脂等)で構成すると、補強材側から衝撃が加わった際に接着剤部分が潰れやすくなり、厚みが十分でないと結果的に衝撃がICチップに直接伝わってしまいやすく、ICチップが破損しやすいという問題点があった。 In this type of structure, if the adhesive portion is made of a soft material (urethane resin, polyethylene resin, silicone resin, etc.), the adhesive portion will be easily crushed when an impact is applied from the reinforcing material side, and if the thickness is insufficient, the impact will be easily transmitted directly to the IC chip, causing the IC chip to be easily damaged.
一方、接着剤部分を硬い材料(金属、セラミック、エポキシ樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリアミド樹脂等)で構成すると、衝撃が加わった際に衝撃を逃がす手段が無いため、やはり衝撃がICチップに直接伝わってしまいやすく、ICチップが破損しやすいという問題点があった。 On the other hand, if the adhesive portion is made of a hard material (metal, ceramic, epoxy resin, polyvinyl chloride resin, polyamide resin, etc.), there is no means to dissipate the shock when it is applied, so the shock is still likely to be transmitted directly to the IC chip, causing the IC chip to be easily damaged.
また、接着剤部分を繊維(ガラス、アラミド、ケブラー等)と接着剤で構成することも行われるが、その場合は接着面が平滑であるため、SUSなどの補強材全面と接触してしまい、補強材に局所的に加わった衝撃や曲げの撓みが接着剤部分の他の部分に伝わりやすく、衝撃がICチップに直接伝わってしまいやすいことは変わりがなかった。 The adhesive part may also be made of fibers (glass, aramid, Kevlar, etc.) and adhesive, but in that case the adhesive surface is smooth and comes into contact with the entire surface of the reinforcing material, such as SUS, so any impact or bending deflection applied locally to the reinforcing material is likely to be transmitted to other parts of the adhesive part, and the impact is likely to be transmitted directly to the IC chip.
また特許文献1には、補強材もしくはICチップの中央部の接着剤を弾性率の高いものとし、周縁部の接着剤を弾性率の低いものとしたICカードが開示されており、強度の均一化が図れることで曲げ応力や衝撃力に強いICカードが得られるとしている。しかしこの場合、2種類の接着剤を用意しなければならず、その塗分けもばらつきが出やすく、強度の均一化が難しいという問題があった。また接着剤層が一定の厚みを持つ平坦な層となっているため、補強材と全面で接していることから、補強材に局所的に加わった衝撃や曲げの撓みが接着剤層の他の部分に伝わりやすく、ICチップにダメージが伝わりやすいという問題があった。 Patent Document 1 also discloses an IC card in which the adhesive in the center of the reinforcing material or IC chip has a high elasticity and the adhesive in the periphery has a low elasticity, and claims that by achieving uniform strength, an IC card that is resistant to bending stress and impact forces can be obtained. However, in this case, two types of adhesive must be prepared, and there is a tendency for the coating to vary, making it difficult to uniformize the strength. In addition, because the adhesive layer is a flat layer with a constant thickness and is in contact with the reinforcing material over its entire surface, there is a problem that impacts or bending deflections applied locally to the reinforcing material are easily transmitted to other parts of the adhesive layer, and damage is easily transmitted to the IC chip.
本発明は、補強材側から局所的な衝撃が加わった場合でも、衝撃がICチップに直接伝わりにくく、衝撃によりICチップが破壊されるのを防ぐことができるICモジュールおよび情報媒体を提供することを課題とする。 The objective of the present invention is to provide an IC module and information medium that can prevent the IC chip from being destroyed by impact, even if a localized impact is applied from the reinforcing material side, by preventing the impact from being directly transmitted to the IC chip.
上記課題を解決するため、本発明は、
ICチップが封入されたIC部、中間層、補強材が順次積層されたICモジュールであっ
て、
前記中間層は、前記IC部側、前記補強材側のうちの少なくとも一方の側に、凸部が複数形成され、
前記凸部の頂部で対向する部材と接触しており、
前記凸部は、前記頂部が前記ICチップの直上とならない部位に形成されていることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention provides
An IC module in which an IC part in which an IC chip is encapsulated, an intermediate layer, and a reinforcing material are laminated in this order,
The intermediate layer has a plurality of protrusions formed on at least one of the IC portion side and the reinforcing material side,
The top of the protrusion is in contact with an opposing member,
The convex portion is characterized in that the top portion is formed at a position that is not directly above the IC chip.
上記ICモジュールにおいて、前記凸部は、千鳥状の配置パターンで形成されていて良い。 In the above IC module, the protrusions may be formed in a staggered arrangement pattern.
上記ICモジュールにおいて、前記凸部は、ICチップの部位を中心として放射状の配置パターンで形成されていて良い。 In the above IC module, the protrusions may be formed in a radial arrangement pattern centered on the IC chip.
上記ICモジュールにおいて、前記凸部は、ランダムな配置パターンで形成されていて良い。 In the above IC module, the protrusions may be formed in a random arrangement pattern.
上記ICモジュールにおいて、前記頂部は、滑らかな曲面状であって良い。 In the above IC module, the top may be smoothly curved.
上記ICモジュールにおいて、前記中間層の前記凸部の間の空隙に、前記中間層の材料よりも弾性率の低い接着剤が前記空隙を充填しない態様で含まれていても良い。 In the IC module, the gaps between the protrusions of the intermediate layer may be filled with an adhesive having a lower elastic modulus than the material of the intermediate layer in a manner that does not fill the gaps.
本発明の別側面は、上記のいずれかのICモジュールが搭載された情報媒体である。 Another aspect of the present invention is an information medium equipped with any of the above IC modules.
本発明の情報媒体によれば、補強材側から局所的な衝撃が加わったとき、衝撃が複数の凸部の頂点に分散して加わり、またICチップの直上に凸部の頂点が来ない様に設けることでICチップに直接衝撃が伝わらないようにすることが出来るため、ICチップの破壊を防ぐことができる。 According to the information medium of the present invention, when a localized impact is applied from the reinforcing material side, the impact is distributed to the apexes of multiple protrusions, and by arranging the apexes of the protrusions so that they are not directly above the IC chip, it is possible to prevent the impact from being transmitted directly to the IC chip, thereby preventing damage to the IC chip.
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。なお本発明は以下に説明する実施形態に限定されるものではない。また以下に示す実施形態では、発明を実施するために技術的に好ましい限定がなされているが、この限定は本発明の必須要件ではない。 The following describes in detail the embodiments of the present invention with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments described below. In addition, the embodiments described below have technically preferable limitations for implementing the invention, but these limitations are not essential requirements for the present invention.
図1は、本発明のICモジュールの一形態の断面模式図である。また図2はその層構成の説明図である。ICモジュール1は、IC部4、中間層3、補強材2が順次積層されて構成されている。IC部4は、ICチップ5がモールド樹脂中に埋設されたモールド部、ICチップ5と電気的に接続しているリードフレーム、バンプ、ワイヤボンディングなどを含んでいる。 Figure 1 is a schematic cross-sectional view of one embodiment of the IC module of the present invention. Figure 2 is an explanatory diagram of the layer structure. The IC module 1 is constructed by sequentially stacking an IC section 4, an intermediate layer 3, and a reinforcing material 2. The IC section 4 includes a molded section in which an IC chip 5 is embedded in a molding resin, a lead frame electrically connected to the IC chip 5, bumps, wire bonding, etc.
中間層3は、補強材2に向かって同じ高さの複数の凸部6が突出した形状であり、その頂部を接触点6aとして対向する部材、図1の例では補強材2と接触している。なおここで言う接触点は、数学的な意味での点に限らず、ある程度の面積を持つ領域状のものも含むものである。凸部6の形状は特に限定されないが、図2に示すような半球状に突出した形状で良く、その頂部は滑らかな曲面状となっていると好ましい。凸部6を平面視したときのその基部の形状は、凸部6が半球状であれば円形となるが、それ以外にも矩形、三角形、六角形などの多角形状、楕円形など任意の形状をとり得る。また頂部までの高さが同一であれば基部の大きさは適宜設定し得るもので、凸部6の基部を全て同一の大きさおよび形状としても、異なる大きさや形状のものが混在する態様としても良い。 The intermediate layer 3 has a shape in which multiple convex portions 6 of the same height protrude toward the reinforcing material 2, and the tops of the convex portions 6a are in contact with the opposing member, which is the reinforcing material 2 in the example of FIG. 1. The contact points mentioned here are not limited to points in the mathematical sense, but also include area-like ones with a certain area. The shape of the convex portions 6 is not particularly limited, but may be a hemispherical protruding shape as shown in FIG. 2, and it is preferable that the tops have a smooth curved surface. The shape of the base of the convex portions 6 when viewed in a plane is circular if the convex portions 6 are hemispherical, but can also be any other shape such as a polygonal shape such as a rectangle, a triangle, or a hexagon, or an ellipse. In addition, the size of the base can be set appropriately as long as the height to the top is the same, and the bases of the convex portions 6 may all be the same size and shape, or may be a mixture of different sizes and shapes.
また凸部6の配置は、図3(a)に例示した千鳥状、図3(b)に例示した放射状、図3(c)に例示したランダム配置、図3(d)に例示した形状や大きさが異なるものを混在させた配置、図3(e)に例示したハニカムの壁部分を凸部とした形状、などとすることができるが、これらに限定されない。なお凸部6は、接触点6aがIC部4中に埋設されたICチップ5の直上となる部位5´に来ないような位置に設ける。 The arrangement of the protrusions 6 may be, but is not limited to, a staggered arrangement as shown in FIG. 3(a), a radial arrangement as shown in FIG. 3(b), a random arrangement as shown in FIG. 3(c), an arrangement in which different shapes and sizes are mixed as shown in FIG. 3(d), or a shape in which the walls of a honeycomb are protrusions as shown in FIG. 3(e). The protrusions 6 are provided in a position such that the contact point 6a is not located at the portion 5' directly above the IC chip 5 embedded in the IC portion 4.
上記の配置の態様を具体的に例示するならば、
千鳥状:凸部6のピッチが1000μmで形状が半球形をなし、直線的に配列された凸部6が配列方向と直交する方向に半ピッチずれた状態(市松模様状とも言える)で配置されている。
ランダム配置:凸部を成す形状が半球形で、それが全方位にランダムに配置されている。放射状:凸部を成す形状が半球形(アスペクト比2:1)で、中心から放射状に移動するにしたがって疎から密に線形的に密度が変化していく。
などとすることができる。
Specific examples of the above arrangement are as follows:
Staggered: the pitch of the protrusions 6 is 1000 μm, the shape is hemispherical, and the protrusions 6 are linearly arranged with a half-pitch shift in the direction perpendicular to the arrangement direction (this can also be called a checkerboard pattern).
Random arrangement: The convex parts are hemispherical in shape and are arranged randomly in all directions. Radial arrangement: The convex parts are hemispherical in shape (aspect ratio 2:1), and the density changes linearly from sparse to dense as you move radially from the center.
etc.
中間層3を形成する材料としては、弾性率が高い材料が好ましく、例えば金属、セラミック、カーボンファイバー、ガラス繊維、アラミド繊維、エポキシ系、ポリ塩化ビニル系、ポリアミド系、シアノアクリレート系等などが挙げられるが、これに限定されない。 The material for forming the intermediate layer 3 is preferably a material with a high elastic modulus, and examples thereof include, but are not limited to, metal, ceramic, carbon fiber, glass fiber, aramid fiber, epoxy, polyvinyl chloride, polyamide, cyanoacrylate, etc.
補強材2は、中間層3の凸部6上に積層され、接触点6aで凸部6の頂部と接触している。すなわち補強材2と中間層3は全面では接触しておらず、凸部6の頂部に対向する部位を接触点6aとして部分的に接触している。補強材2は落下や外部からの打撃などの衝撃からICチップを保護するために設けられ、従ってその材料としては強度と弾性を有するものが好ましく、SUSなどの金属、セラミック、カーボンファイバー、ガラス繊維、アラミド繊維、エポキシ系、ポリ塩化ビニル系、ポリアミド系、シアノアクリレート系等などの弾性率が高い材料が例示できるが、これに限定されない。 The reinforcing material 2 is layered on the convex portion 6 of the intermediate layer 3, and is in contact with the top of the convex portion 6 at the contact point 6a. In other words, the reinforcing material 2 and the intermediate layer 3 are not in contact over the entire surface, but are in partial contact at the portion facing the top of the convex portion 6, which is the contact point 6a. The reinforcing material 2 is provided to protect the IC chip from shocks such as dropping or external impacts, and therefore is preferably made of a material that has strength and elasticity, and examples of materials with a high elastic modulus include, but are not limited to, metals such as SUS, ceramics, carbon fiber, glass fiber, aramid fiber, epoxy, polyvinyl chloride, polyamide, cyanoacrylate, etc.
上記の様な構成のICモジュール1に、例えば補強材2側から局所的な衝撃が加わると、図4に示す様に衝撃が加わった部位およびその近傍で補強材2は変形し、その変形による応力が中間層3に伝わる。その際、応力は接触点6aから凸部6へ、そしてIC部4へと伝わってゆくが、凸部6は接触点6aがICチップ5の直上とならないように形成されているため、凸部6に伝わった衝撃はICチップ5に伝わりにくく、ICチップ5の破壊を防ぐことができる。 When a localized impact is applied to the IC module 1 configured as described above, for example from the reinforcing material 2 side, the reinforcing material 2 deforms at the site of the impact and in its vicinity as shown in Figure 4, and the stress caused by this deformation is transmitted to the intermediate layer 3. At that time, the stress is transmitted from the contact point 6a to the protrusion 6 and then to the IC part 4, but since the protrusion 6 is formed so that the contact point 6a is not directly above the IC chip 5, the impact transmitted to the protrusion 6 is unlikely to be transmitted to the IC chip 5, and damage to the IC chip 5 can be prevented.
補強材2と中間層3は典型的には接着剤で接着されるが、その際に、図5に示す様に接着剤7が接触点6aの近傍だけでなく、補強材2と中間層3の間の凸部6以外の空隙部分にはみ出して、空隙部分を充填しないが部分的に埋める様な態様となることがある。ICモジュール1aの様に空隙部分に接着剤7が空隙部分を充填しない態様で含まれていても、中間層3より弾性率が低い接着剤7を用いることで、弾性率が高い中間層3に衝撃が伝搬するため、衝撃がICチップ5に伝わりにくくなる効果が同様に得られる。 The reinforcing material 2 and the intermediate layer 3 are typically bonded with an adhesive, but in this case, as shown in FIG. 5, the adhesive 7 may overflow not only near the contact point 6a but also into the gap other than the protruding portion 6 between the reinforcing material 2 and the intermediate layer 3, resulting in a state in which the gap is not filled but is partially filled. Even if the adhesive 7 is included in the gap in a manner that does not fill the gap as in IC module 1a, by using an adhesive 7 with a lower elastic modulus than the intermediate layer 3, the impact is propagated to the intermediate layer 3 with a higher elastic modulus, and the effect of making it difficult for the impact to be transmitted to the IC chip 5 can be similarly obtained.
図6は本発明のICモジュールの別形態の断面模式図である。本実施形態においては、中間層3はIC部4側の表面に凸部6が形成されている。この様な形状のICモジュール1bの補強材2に衝撃が加わった場合、補強材2の変形は中間層3に伝わり、さらに凸部6に伝わるが、凸部6は接触点6aがICチップ5の直上に来ないように形成されているため、凸部6から更に下層側のIC部4からICチップ5に伝わる衝撃を小さくでき、ICチップ5の破損を防ぐことができる。 Figure 6 is a schematic cross-sectional view of another embodiment of the IC module of the present invention. In this embodiment, the intermediate layer 3 has a convex portion 6 formed on the surface on the IC section 4 side. When an impact is applied to the reinforcing material 2 of an IC module 1b having such a shape, the deformation of the reinforcing material 2 is transmitted to the intermediate layer 3 and then to the convex portion 6. However, since the convex portion 6 is formed so that the contact point 6a is not directly above the IC chip 5, the impact transmitted from the convex portion 6 to the IC section 4 on the lower layer side to the IC chip 5 can be reduced, and damage to the IC chip 5 can be prevented.
図7は凸部の別形状の例を示す模式図である。凸部6bは中央部に貫通孔が設けられており、半ループ状(半ドーナツ状)の形態である。貫通孔があることで衝撃が加わった際に変形が起こりやすく、衝撃を吸収しやすい。 Figure 7 is a schematic diagram showing an example of a different shape of the protrusion. The protrusion 6b has a through hole in the center and is in a half-loop (half-doughnut) shape. The presence of the through hole makes it easier for deformation to occur when an impact is applied, and makes it easier to absorb the impact.
以上説明した様な凸部は、中間層の両面、すなわちIC部側、補強材側の両面に設けても良いことは言うまでもない。 It goes without saying that the convex portions as described above may be provided on both sides of the intermediate layer, i.e., on both the IC part side and the reinforcing material side.
図8は本発明の情報媒体の一形態の断面模式図である。本実施形態はICカード10の形態を例示したものである。本発明のICモジュール1を搭載したインレット8を表裏のシート材11a、11bの間に挿入し、接着剤9を充填してカード状に成形したものである。インレット8にはICモジュール1と電気的に接続する電極(図示せず)やアンテナパターン12が形成されている。カードの形態としたときに前述のようなICチップの破損を防ぐ効果が同様に得られる。本発明の情報媒体は、カードの形態に限らず、パスポートなどの冊子の形態、ICタグ、ICラベルなどの種々の形態をとり得る。 Figure 8 is a schematic cross-sectional view of one form of the information medium of the present invention. This embodiment illustrates the form of an IC card 10. An inlet 8 carrying an IC module 1 of the present invention is inserted between front and back sheet materials 11a, 11b, filled with adhesive 9, and formed into a card shape. An electrode (not shown) that electrically connects to the IC module 1 and an antenna pattern 12 are formed on the inlet 8. When made into a card form, the effect of preventing damage to the IC chip as described above can be similarly obtained. The information medium of the present invention is not limited to the form of a card, and can take various forms such as a booklet such as a passport, an IC tag, or an IC label.
補強材、中間層をIC部のリードフレームが設けられた側に貼り付け、点状の衝撃を加え、その後、搭載したICチップとの通信が正常に行えるか通信検査を行った。
<構造>
ICモジュールはレーザーかしめによりインレットに実装した。
<材料>
補強材:SUS304-H 四角型 6mm角
接着剤:スリーボンド製、刷毛付き瞬間接着剤 1743F
中間層:ガラスクロス粘着テープ(日東電工製 No.973UL-S 厚み130μm)
インレット:東洋アルミ製
モールド部のモールド樹脂はエポキシ樹脂。
The reinforcing material and intermediate layer were attached to the side of the IC portion where the lead frame was provided, and a point-like impact was applied. Thereafter, a communication test was performed to check whether communication with the mounted IC chip was normal.
<Structure>
The IC module was mounted in the inlet by laser crimping.
<Ingredients>
Reinforcement: SUS304-H, square, 6 mm square Adhesive: Threebond, instant adhesive with brush 1743F
Intermediate layer: Glass cloth adhesive tape (Nitto Denko No. 973UL-S, thickness 130 μm)
Inlet: The molding resin of the Toyo Aluminum molded part is epoxy resin.
<テストとその結果>
(1)インレットにレーザーかしめにより実装したICモジュールのリードフレーム側に、モールド樹脂と同じ形、大きさのガラスクロス粘着テープを貼り付ける。
(2)補強材の縁付近に瞬問接着剤を付け、ガラスクロス表面に貼り付ける。
(3)ICチップの中央部の法線上に圧力1.96×106Paとなる点状衝撃を加えた。
(4)その後、通信検査を行ったところ、通信が問題なく行え、ICチップが破壊されていないことが確認できた。
<Tests and their results>
(1) A glass cloth adhesive tape of the same shape and size as the molding resin is attached to the lead frame side of the IC module mounted in the inlet by laser crimping.
(2) Apply instant adhesive near the edge of the reinforcing material and attach it to the surface of the glass cloth.
(3) A point impact with a pressure of 1.96×10 6 Pa was applied to the center of the IC chip on the normal line.
(4) After that, a communication test was conducted and it was confirmed that communication was performed without any problems and that the IC chip was not destroyed.
1・・・ICモジュール
2・・・補強材
3・・・中間層
4・・・IC部
5・・・ICチップ
6、6b・・・凸部
6a・・・接触点
7・・・接着剤
8・・・インレット
9・・・接着剤
10・・・情報媒体(ICカード)
11a、11b・・・シート材
1 IC module 2 Reinforcement material 3 Intermediate layer 4 IC portion 5 IC chip 6, 6b Convex portion 6a Contact point 7 Adhesive 8 Inlet 9 Adhesive 10 Information medium (IC card)
11a, 11b...sheet material
Claims (7)
前記中間層は、前記IC部側、前記補強材側のうちの少なくとも一方の側に凸部が複数形成され、
前記凸部の頂部で対向する部材と接触しており、
前記凸部は、前記頂部が前記ICチップの直上とならない部位に形成されていることを特徴とするICモジュール。 An IC module in which an IC part in which an IC chip is encapsulated, an intermediate layer, and a reinforcing material are laminated in this order,
the intermediate layer has a plurality of convex portions formed on at least one of the IC portion side and the reinforcing material side,
The top of the protrusion is in contact with an opposing member,
The IC module is characterized in that the top of the convex portion is formed at a position not directly above the IC chip.
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